KR20070073976A - 피시험 디바이스에서의 전압을 센싱하기 위한 파라미터측정 유닛의 사용 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 디바이스 테스트에 사용하기 위한 회로로써,상기 디바이스에 포싱된 전압을 인가하는 제1측정 유닛; 및디스에이블되는 기능부를 가진 제2측정유닛을 포함하고, 상기 제2측정 유닛은 상기 디바이스로부터 센싱된 전압을 수신하기 위한 센스 경로를 포함하고, 상기 센스 경로는 상기 제2측정 유닛을 통해 상기 제1측정 유닛에 연결되고, 상기 제1측정 유닛은 상기 센싱된 전압을 기초로 상기 포싱된 전압을 조절하는 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트에 사용하기 위한 회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제1측정 유닛은 상기 제2측정 유닛과 실질적으로 동일하고, 상기 제2측정유닛의 디스에이블되는 기능부는 상기 디바이스에 포싱된 전압을 인가할 수 있는 능력을 포함하는 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트에 사용하기 위한 회로.
- 제 2 항에 있어서, 상기 제2측정 유닛은 상기 기능부를 디스에이블하기 위한 3상태인 드라이버를 포함하는 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트에 사용하기 위한 회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 센스 경로는 실질적으로 전압 강하가 일어나지 않 는 고임피던스 경로를 포함하는 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트에 사용하기 위한 회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제1측정 유닛은상기 포싱된 전압을 제공하기 위한 드라이버; 및상기 포싱된 전압이 상기 디바이스에 인가되는 출력 경로를 포함하고, 상기 출력 경로는 전압 강하를 발생시키는 임피던스를 가지고, 상기 제1측정 유닛은 상기 전압 강하를 실질적으로 보상하기 위해 상기 포싱된 전압을 조절하는 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트에 사용하기 위한 회로.
- 제 5 항에 있어서, 상기 제1측정 유닛의 상기 출력 경로는 상기 제2측정 유닛의 센스 경로와 일치하는 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트에 사용하기 위한 회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제1측정 유닛은상기 포싱된 전압을 제공하기 위한 드라이버; 및상기 드라이브와 상기 디바이스 사이의 전압 강하를 센싱하기 위한 피드백 경로를 포함하는 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트에 사용하기 위한 회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 센스 경로는 상기 제2측정 유닛을 통한 회로 경로를 포함하는 것을 특징으로 하는 디바이스 테스트에 사용하기 위한 회로.
- 디바이스를 테스트하는 방법으로써,상기 디바이스에 제1전압을 인가하는 단계;상기 디바이스에서 제2전압을 센싱하는 단계; 및상기 제2전압에 따라 상기 제1전압을 조절하는 단계를 포함하고, 상기 제2전압은 상기 제1전압과 상기 제1전압을 상기 디바이스에 인가한 결과 발생된 전압 강하 사이의 차이와 일치하고, 인가하는 단계 및 센싱하는 단계는, 실질적으로 동일하게 설계된 제1디바이스 및 제2디바이스를 사용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 디바이스를 테스트하는 방법.
- 제 9 항에 있어서, 상기 제1디바이스 및 상기 제2디바이스는 각각 제1 및 제2파라미터 측정 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 디바이스를 테스트하는 방법.
- 제 10 항에 있어서, 상기 제2전압을 센싱하는 단계는 상기 제2전압을 센싱하기 위한 센스 경로로써 역할하도록 제2파라미터 측정 유닛을 구성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디바이스를 테스트하는 방법.
- 제 11 항에 있어서, 상기 제2파라미터 측정 유닛은 회로 경로 사이의 연결 을 유효하게 하기 위해 상기 제2파라미터 측정 유닛 내의 회로를 컨트롤함으로써 구성되는 것을 특징으로 하는 디바이스를 테스트하는 방법.
- 제 9 항에 있어서, 상기 제2전압은 디바이스의 핀에서의 전입을 포함하는 것을 특징으로 하는 디바이스를 테스트하는 방법.
- 피시험 디바이스와 함께 사용하기 위한 자동 테스트 장치로서,피시험 디바이스에 인가되는 전압을 조절하기 위해 사용되는 복수의 파라미터 측정 유닛으로서,상기 피시험 디바이스에 전압을 포싱하도록 구성된 제1파라미터 측정 유닛; 및상기 제1파라미터 측정 유닛에 대한 센스 경로를 제공하도록 구성된 제2파라미터 측정 유닛을 포함하고, 상기 제2파라미터 측정 유닛은 상기 제1파라미터 측정 유닛과 실질적으로 동일한 구조를 가지는 복수의 파라미터 측정 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스와 함께 사용하기 위한 자동 테스트 장치.
- 제 14 항에 있어서, 복수의 파라미터 측정 유닛은상기 피시험 디바이스에 전압을 포싱하도록 구성된 제3파라미터 측정 유닛; 및상기 제3파라미터 측정 유닛에 대한 센스 경로를 제공하도록 구성된 제4파라미터 측정 유닛을 더 포함하고, 상기 제4파라미터 측정 유닛은 상기 제3파라미터 측정 유닛, 상기 제2파라미터 측정 유닛, 및 상기 제1파라미터 측정 유닛과 실질적으로 동일한 구조를 가진 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스와 함께 사용하기 위한 자동 테스트 장치.
- 제 14 항에 있어서, 상기 제1 및 제2파라미터 측정 유닛은 하드웨어로만 구현된 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스와 함께 사용하기 위한 자동 테스트 장치.
- 제 14 항에 있어서, 상기 제1 및 제2파라미터 측정 유닛은 하드웨어와 소프트웨어의 조합을 사용하여 구현된 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스와 함께 사용하기 위한 자동 테스트 장치.
- 제 14 항에 있어서, 상기 제2파라미터 측정 유닛은 상기 피시험 디바이스에 전압을 포싱하기 위한 기능부를 디스에이블하기 위해 3상태인 것을 특징으로 하는 피시험 디바이스와 함께 사용하기 위한 자동 테스트 장치.
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