KR20060047464A - 표시 패널의 구동 방법 - Google Patents
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Abstract
소비 전력을 절감하면서도, 화상의 패턴에 구애받지 않고 양호한 휘도 레벨에서 화상 표시를 행하는 것이 가능한 표시 패널의 구동 방법을 제공한다. 이 구동 방법에서, 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여 각 서브필드에 할당되는 화소 셀의 발광 횟수가 변경된다.
Description
도1a는은 1화면내의 평균 휘도가 낮고 휘도 차가 적은 화상을 나타낸 도면,
도1b는 1화면내의 평균 휘도가 낮고 휘도 차가 큰 화상의 일례를 나타낸 도면,
도2는 본 발명의 구동 방법에 따라 플라즈마 표시 패널을 구동하는 플라즈마 펴시 장치의 개략적인 구성을 나타낸 도면,
도3은 화소 구동 데이터 생성 회로에 의해 사용되는 데이터 변환 테이블과, 1필드 내에서의 발광 구동 패턴을 함께 나타낸 도면,
도4는 서브필드법에 기초한 발광 구동 시퀀스의 일례를 나타낸 도면,
도5는 서스테인 방전 횟수 설정 처리 플로우챠트를 나타낸 도면,
도6은 서스테인 방전 횟수 설정 처리의 다른 플로우챠트를 나타낸 도면, 및
도7a 내지 7d는 피크 휘도 레벨에 따라 서브필드의 수를 변경할 수 있는 발광 구동 시퀀스를 나타낸 도면들이다.
본 발명은 화상 표시를 행하는 표시 패널의 구동 방법에 관한 것이다.
근년, 표시 장치의 대화면화에 따라, 박형 표시 장치가 요구되고, 각종의 박형 표시 장치가 실용화되어 있다. 교류 방전형의 플라즈마 디스플레이 패널(이하, "PDP"라 함)은 박형 표시 장치의 하나로서 주목받고 있다. PDP는 복수의 열 전극, 및 이들 열 전극과 직교하게 배열되는 복수의 행 전극을 포함한다. 각 행 전극 쌍들은 1주사 라인(또는 표시 라인)을 형성한다. PDP에는 방전 공간이 형성되어 있다. 각 행 전극 및 열 전극은, 방전 공간으로부터 그 전극들이 봉입되도록 유전체 층으로 피복된다. 1쌍의 행 전극과 하나의 열 전극의 각 교차부에 화소로서 작용하게 되는 화소 셀이 형성된다.
PDP에 대해 중간조 휘도 표시를 행하는 화상을 생성하도록 구동하기 위해, 서브필드법(또는 서브프레임법)이 종종 사용된다. 서브필드법에 따르면, 1필드의 표시 기간을 복수의 서브필드로 분할하고, 각 서브필드 마다 화소 셀 각각을 발광 구동하도록 한다. 각 서브필드는 그 서브필드의 가중치를 가지며, 그 가중치에 기초하여 발광 횟수(또는 발광 기간)이 할당되어 있다. 예컨대, 입력 영상 신호에 기초하는 각 화소의 화소 데이터가 8비트 데이터인 경우에는, 1필드의 기간을 8개의 서브필드로 분할한다. 각 서브필드에서, 동시에 리셋 행정, 화소 데이터 기입 행정, 및 발광 유지 행정을 순차적으로 실행한다.
동시의 리셋 행정에서, 상기 PDP의 모든 화소 셀은 일제히 방전(리셋 방전)되어 모든 화소 셀내에 벽 전하를 형성한다. 화소 데이터 기입 행정에서는, 연관된 서브필드에 대응하는 화소 데이터 비트의 논리 레벨에 따라, 각 화소 셀에 대해 선택적으로 방전(선택 소거 방전)을 야기하게 한다. 이 때, 선택 소거 방전이 야기된 화소 셀 내에서는 벽 전하가 소멸하고, 이들 화소 셀은 비발광 조건으로 설정된다. 한편, 선택 소거 방전이 야기되지 않은 다른 화소 셀 내에는 벽 전하가 잔류하기 때문에, 이들 화소 셀은 발광 조건으로 설정되게 된다. 발광 유지 행정에서는, 상기 발광 조건으로 설정된 화소 셀만을, 연관된 서브필드에 할당되어 있는 횟수(발광 기간)만큼 반복하여 방전(유지 방전)하게 한다. 그 결과, 8개의 서브필드 각각의 발광 유지 행정에서 야기된 유지 방전 합계 횟수에 따라, 중간 휘도가 시각된다. 예컨대, 8개의 서브필드 각각에, 1:2:4:8:16:32:64:128의 비율로 유지 방전 횟수를 할당하면, 1필드 표시 기간 내에 서 8개의 서브필드들의 조합을 이용하여 256(=28) 중간 휘도 또는 256 계조를 표현할 수 있다.
그러나, 계조 구동이 사용되고 고휘도인 영상을 나타내는 영상 신호가 공급되면, 단위 표시 기간(1필드 표시 기간)에서 야기되는 유지 방전 횟수가 증가되고 , 전력 소비가 증대한다.
따라서, 입력 영상 신호에 구애받지 않고, 소비 전력을 소정치 이내로 제한시키도록 하는 소비 전력 제어 방법이 일본 공개 특허 공보 제2003-216094호에 제안되어 있다(예컨대, 일본 공개 특허 공보 제2003-216094호의 도8 참조). 이 제어 방법에서, PDP가 설치되어 있는 장소의 조도를 고려하고 입력 영상 신호의 평균 휘 도 레벨에 기초하여, 각 서브필드에 할당될 유지 방전 횟수를 변경한다.
이와 같은 저소비전력 제어를 실시하면, 1화면 내에서의 휘도 변화가 적고 또한 그 평균 휘도가 낮은 화상을 나타내는 영상 신호가 공급되는 경우에는, 원하는 휘도 보다 어두운 화상이 종종 시각되어 버린다. 이를 도1a 및 1b를 참조하여 설명한다.
첨부 도면들 중 도1(a)에 나타낸 화상은 도1(b)에 나타낸 화상과 동일한 평균 휘도를 가진다. 도1a의 화상은 1화면(예컨대, 전체 회색 화상) 내에서 균일한 휘도(예컨대, 20%의 최대 휘도)를 가진다. 도1b의 화상은 그의 20% 영역(백색 영역)에 최대 휘도를 그리고 80% 영역(흑색 영역)에 최소 영역을 가진다.
상기한 저소비전력 제어를 상기 화상들에 적용하면, 도1(a)에 도시된 바와 같은 화상을 표시하는 경우에 모든 화소에 대해 유지 방전 횟수를 감소시킬 수 있고, 도1(b)에 도시된 바와 같은 화상을 표시하는 경우에는 모든 화소의 20%에 대해 유지 방전 횟수를 감소시킬 수 있게 된다. 그 결과, 도1(a)에서와 같이 1화면 내에서의 휘도 차가 적은 화상은, 도1(b)와 같이 1화면 내에서의 휘도 차가 큰 화상에 비해, 어두운 화상이 시각되게 된다.
본 발명의 목적은, 소비 전력을 절감하면서도, 화상의 패턴에 구애받지 않고 양호한 휘도 레벨에서 화상 표시를 행하는 것이 가능한 표시 패널의 구동 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 양태에 따르면, 개선된 표시 패널의 구동 방법이 제공된다. 상기 표시 패널은 복수의 화소 셀을 포함한다. 입력 영상 신호의 각 필드는 복수의 서브필드로 분할되고 화소 셀들은 각 서브필드에 대해 발광하도록 야기된다. 각 서브필드에는 화소 셀을 발광하게 하는 발광 횟수(발광 기간)가 할당되어 있다. 상기 표시 패널의 구동 방법은, 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨을 검출하는 피크 휘도 레벨 검출 단계, 상기 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여 각 서브필드에 할당되는 상기 발광 횟수를 변경하는 발광 횟수 변경 단계, 및 상기 서브필드 중에, 연관된 서브필드에 할당되어 있는 상기 발광 횟수 만큼 상기 화소 셀을 발광시키는 서스테인 펄스를 상기 표시 패널에 인가하는 서스테인 단계를 포함한다. 이 구동 방법에서는 표시 패널의 소비 전력을 절감하면서도, 화상의 패턴에 구애받지 않고 양호한 휘도 레벨에서 화상을 표시하게 된다.
본 발명의 제2 양태에 따르면, 다른 표시 패널 구동 방법이 제공된다. 입력 영상 신호의 각 필드는 복수의 서브필드로 분할된다. 표시 패널은 각 서브필드에 대해 구동된다. 표시 패널은 복수의 화소 셀들을 가진다. 상기 표시 패널 구동 방법은, 입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨을 검출하는 평균 휘도 검출 단계 및 상기 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨을 검출하는 피크 휘도 검출 단계를 포함한다. 또한, 상기 표시 패널 구동 방법은 입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨 및 피크 휘도 레벨에 기초하여 상기 화소 셀을 발광하게 하는 발광 횟수를 각 서브필드에 할당하는 발광 횟수 설정 단계를 포함한다. 또한, 상기 표시 패널 구동 방법은 상기 서브필드 중에서, 연관된 서브필드에 할당되는 발광 횟수 만큼 상기 화소 셀을 발광시키는 서스테인 펄스를 상기 표시 패널에 인가하는 단계를 포함한다. 상기 구동 방법에서도 소비 전력을 절감하면서도, 화상의 패턴에 구애받지 않고 양호한 휘도 레벨에서 화상을 표시하게 된다.
본 발명의 이들 목적, 양태 및 장점은 첨부 도면들을 참조하여 이해할 때 이하의 상세한 설명과 특허 청구의 범위로부터 당업자에게 명백하게 될 것이다.
이하, 첨부 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들에 대해 설명한다.
실시예1
도2를 참조하여 플라즈마 표시 장치(20)의 일반적인 구성에 대해 설명한다. 플라즈마 표시 장치(20)는 본 발명의 구동 방법에 따라 플라즈마 표시 패널(PDP)(10)을 구동한다. 플라즈마 표시 패널(10)은 표시 패널의 일례이다.
도2에서, 플라즈마 표시 장치(20)는 PDP(10) 및 PDP(10)를 구동하는 구동부로 구성된다.
PDP(10)는 전면 투명 기판(도시 안됨)을 포함한다. 전면 기판 상에, n개의 행 전극 Ⅹ1∼Ⅹn 및 n개의 행 전극 Y1∼Yn이 번갈아 배열된다. 또한, PDP(10)는 배면 기판(도시 안됨)을 포함한다. 배면 기판 상에, m개의 열 전극 D1∼Dm이 어드레스 전극으로서 제공된다. 열 전극 D는 행 전극(Ⅹ,Y)에 대해 수직하게 연장한다. PDP(10)에 있어서, 서로 인접하는 한 쌍의 행 전극(Ⅹ,Y)은 PDP(10)의 1표시 라인을 구성한다. 전면 기판과 배면 기판 사이에는, 방전 가스가 봉입되어 있는 방전 공간이 형성되어 있고, 이 방전 공간을 포함하는 각 행전극대와 열전극의 각 교차부에 화소로서 작용하는 화소 셀이 구성되는 구조로 되어 있다.
평균 휘도 검출 회로(1)는, 입력 영상 신호에 기초하여 각 필드(프레임) 마다의 평균 휘도 레벨을 산출하고, 이 평균 휘도 레벨을 나타내는 평균 휘도 신호 AK를 구동 제어 회로(2)에 공급한다
피크 휘도 검출 회로(3)는, 입력 영상 신호에 기초하여 각 필드(프레임) 마다의 최대 휘도 레벨을 검출하고, 그 최대 휘도 레벨을 나타내는 피크 휘도 신호 PK를 구동 제어 회로(2)에 공급한다.
화소 구동 데이터 생성 회로(4)는, 먼저, 입력 영상 신호에 대해 오차 확산 및 디더 처리 등의 다계조화 처리를 행한다. 오차 확산 처리에서는, 입력 영상 신호를 각 화소에 대해 예컨대 8비트의 화소 데이터로 변환하고, 그의 상위 6비트 분을 표시 데이터, 나머지의 하위 2비트 분을 오차 데이터로서 간주한다. 주변 화소 각각에 대응하는 화소 데이터의 각각의 오차 데이터는 가중되어 가산되며, 그 결과를 상기 표시 데이터에 반영시킨다. 이 동작에 의해, 원 화소에서의 하위 2비트 분의 휘도가 주변 화소에 의해 의사적으로 표현되고, 따라서 6비트 분의 표시 데이터에 의해 8비트 분의 화소 데이터와 동등의 휘도 계조 표현이 가능하게 된다.그리고, 이 오차 확산 처리에 의해 얻어진 6비트의 오차 확산 처리 화소 데이터에 대해 디더 처리를 행한다. 디더 처리에서는, 서로 인접하는 복수의 화소를 1화소 단위로 간주하여, 이 1화소 단위 내의 각 화소에 대응하는 상기 오차 확산 처리 화소 데이터에 각각, 서로 다른 계수치로 이루어지는 디더 계수를 각각 할당하여 가산한다. 이러한 디더 계수의 가산에 의하면, 1화소 단위로 바라본 경우에, 디더 계수 가산 화소 데이터의 상위 4비트에 의해 8비트에 상당하는 휘도를 표현하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 상기 디더 계수 가산 화소 데이터의 상위 4비트분을 추출하고, 이것을 다계조화 화소 데이터 PDs라 한다. 다음에, 화소 구동 데이터 생성 회로(4)는, 상기 4비트의 다계조화 화소 데이터 PDs를 도3에 나타낸 바와 같은 데이터 변환 테이블에 따라 8비트의 화소 구동 데이터 GD로 변환하고, 이 화소 구동 데이터 GD를 메모리(5)에 공급한다.
메모리(5)는, 화소 구동 데이터 GD를 순차적으로 기입하고, 1필드(1프레임)분의 데이터의 기입이 완료되면, 메모리(5)는 상기 1필드분의 화소 구동 데이터 GD를 아래에 나타낸 바와 같이 화소 구동 데이터 비트 DB1:DB8로서 간주한다.
1필드 분의 화소 구동 데이터 GD는 각 비트 디지트로 분리된다.
DB1: 화소 구동 데이터 GD의 제1 비트
DB2: 화소 구동 데이터 GD의 제2 비트
DB3: 화소 구동 데이터 GD의 제3 비트
DB4: 화소 구동 데이터 GD의 제4 비트
DB5: 화소 구동 데이터 GD의 제5 비트
DB6: 화소 구동 데이터 GD의 제6 비트
DB7: 화소 구동 데이터 GD의 제7 비트
DB8: 화소 구동 데이터 GD의 제8 비트
메모리는 대응하는 서브필드 SF1∼SF8(도4 참조)에서 각 데이터 비트 DB1∼ DB8을 독출하여, 열 전극 구동 회로(6)에 공급한다.
구동 제어 회로(2)는, 서브필드법(서브 프레임법)을 채용한 도4에 나타낸 바와 같은 발광 구동 시퀀스에 따라 PDP(1O)를 구동하도록 각종 제어 신호를 열 전극 구동 회로(6), 행 전극 Y구동 회로(7) 및 행 전극 Ⅹ구동 회로(8) 각각에 공급한다.
도4에 나타낸 발광 구동 시퀀스에서는, 1필드(1프레임)의 표시 기간 내의 서브필드 SF1∼SF8 각각 마다, 어드레스 행정 W 및 서스테인 행정 Ⅰ를 각각 실행한다. 또한, 제1 서브필드 SF1에 한해서, 어드레스 행정 W 전에, 리셋 행정 R을 실행한다.
상기 리셋 행정 R에서는, 행 전극 Y구동 회로(7) 및 행 전극 Ⅹ구동 회로(8) 각각이, PDP(1O)의 모든 행 전극 Y1∼Yn 및 행 전극Ⅹ1∼Ⅹn 각각에 대해 동시에 리셋 펄스를 인가한다. 상기 리셋 펄스의 인가에 따라, PDP(1O)의 모든 화소 셀 내에 리셋 방전이 야기되고, 모든 화소 셀은 서스테인 방전 발광(후술됨)이 가능한 점등 모드(발광 모드) 상태로 초기화된다.
서브필드 SF1∼SF8 각각의 어드레스 행정 W에서는, 행 전극 Y구동 회로(7)가 행 전극 Y1∼Yn 각각에 대해 순차적으로 주사 펄스를 인가한다. 또한, 열 전극 구동 회로(6)는 각각의 화소 구동 데이터 비트 DB를 연관된 화소 구동 데이터 비트 DB의 논리 레벨에 따른 전압을 가지는 화소 데이터 펄스로 변환하고, m개의 화소 데이터 펄스를 상기 주사 펄스의 인가 타이밍에 동기하여 각각 1표시 라인에 대해 동시에 열 전극 D1∼Dm에 인가한다. 예컨대, 화소 구동 데이터 비트 DB가 논리 레벨 1인 경우에는, 고전압의 화소 데이터 펄스가 열 전극에 인가되고, 화소 셀은 상기 점등 모드로부터 소등 모드(비발광 모드)로 시프트된다. 한편, 화소 구동 데이터 DB가 논리 레벨 0인 경우에는, 그 화소 구동 데이터 비트에 대응하는 화소 셀에 대해 저전압의 화소 데이터 펄스가 인가되고, 상기 화소 셀은 현재의 상태(점등 모드 또는 소등 모드)를 유지한다.
서브필드 SF1∼SF8 각각의 서스테인 행정 Ⅰ에서는, 행 전극 Y구동 회로(7) 및 행 전극 Ⅹ구동 회로(8)가, 구동 제어 회로(2)에서 설정(후술됨)된 각 서브필드 마다의 발광 횟수(발광 기간)(T)만큼, 서스테인 펄스를 각 행 전극 Y1∼Yn 및 행 전
극 Ⅹ1∼Ⅹn에 대해 각각 반복하여 인가한다. 즉, 도4에 나타낸 바와 같이, 서브필드 SF1의 서스테인 행정Ⅰ에서는 발광 횟수 T1, SF2의 서스테인 행정Ⅰ에서는 발광 횟수T2,‥·, SF8의 서스테인 행정 Ⅰ에서는 발광 횟수 T8로 나타내지는 수(기간)만큼 반복하여 서스테인 펄스를 각 행 전극 Y1∼Yn 및 행 전극 Ⅹ1∼Ⅹn에 대해 인가한다. 그러면, 서스테인 펄스가 인가될 때마다, 상기한 바와 같은 점등 모드 상태로 설정 되어 있는 화소 셀만이 서스테인 방전하고, 그 방전에 동반하는 발광 상태가 유지된다.
상기 발광 구동에서, 8개의 서브필드 SF1∼SF8 중에서 화소 셀을 소등 모드 상태로부터 점등 모드 상태로 변화시킬 수 있는 기회는, 제1 서브필드 SF1의 리셋 행정 R뿐이다. 따라서, 도3에 나타낸 바와 같은 9가지의 화소 구동 데이터 GD에 따르면, 서브필드 SF1의 리셋 행정 R에서 점등 모드로 초기화된 화소 셀은, 8개의 SF1∼SF8 중의 어느하나의 서브필드(흑색 동그라미로 나타냄)의 어드레스 행정 W에 서 소등 모드로 설정될때까지, 점등 모드를 유지한다. 따라서, 이 기간 동안에 존재하는 서브필드 각각(백색 동그라미로 나타냄)의 서스테인 행정Ⅰ에서, 연관된 서브필드에 할당된 횟수(또는 기간)만큼 연속으로 화소 셀이 발광하게 된다. 그 결과, 1필드를 통해 서브필드 SF1∼SF8 각각의 서스테인 행정Ⅰ에서 실행된 발광의 합계 횟수에 대응하는 중간 휘도가 시각된다. 즉, 도3에 나타낸 바와 같은 9가지 타입의 화소 구동 데이터 GD에 따라, 서로 다른 중간 휘도를 9단계로 표현할 수 있는 제1∼제9 계조 구동을 실행할 수 있다.
이제, 구동 제어 회로(2)에 의해 실행되는, 각 서브필드 마다의 발광 횟수(발광 계속 기간)의 설정 동작에 대해 설명한다.
구동 제어 회로(2)는, 1필드(1프레임)분의 입력 영상 신호가 공급될 때마다, 도5에 나타낸 제어(즉, 서스테인 횟수 설정 처리)를 실행한다.
먼저, 구동 제어 회로(2)는, 평균 휘도 검출 회로(1)로부터 공급된 평균 휘도 신호 AK에 의해 나타내진, 각 필드 마다의 평균 휘도 레벨에, 소정 계수 t를 승산함에 의해 발광 횟수에 대한 계수 Q를 구한다(단계 S1). 다음, 구동 제어 회로 (2)는, 서브필드 SF1∼SF8에 대한 휘도 가중치를 나타내는 휘도 계수 F1∼F8의 각각에, 상기 발광 횟수의 계수 Q를 승산함에 의해 서브필드 SF1∼SF8 각각의 서스테인 행정Ⅰ에서의 발광 횟수 T1∼T8을 결정한다(단계 S2).
예컨대, 서브필드 SF1∼SF8 각각의 휘도 가중치를 나타내는 휘도 계수 F1∼F8은 다음의 값을 가진다.
F1:1
F2:6
F3:16
F4:24
F5:35
F6:46
F7:57
F8:70
단계 S1 및 S2의 실행에 의해, 각 필드(프레임) 마다의 입력 영상 신호의 평 균 휘도 레벨에 따라 서브필드 SF1∼SF8 각각의 서스테인 행정Ⅰ에서의 발광 횟수 T1∼T8이 결정된다.
다음, 구동 제어 회로(2)는, 피크 휘도 검출 회로(3)로부터 공급된 피크 휘도 신호 PK에 기초하여, 8개의 서브필드 SF1∼SF8 중에서 모든 화소 셀이 소등 모드 상태로 되는 서브필드를 검출하고, 그 서브필드의 수를 소등 서브필드수 EN으로서 결정한다(단계 S3). 예컨대, 도3 및 도4에 나타낸 구동 형태에 의해 표현할 수 있는 최대의 휘도 레벨을 "255"라 할 때, 피크 휘도 신호 PK에 의해 나타내지는 피크 휘도 레벨이 "82"인 경우, 모든 화소 셀에 대해 도3에 나타낸 제9 계조, 제8 계조, 제7 계조 등의 비교적 고휘도의 계조를 담당하는 구동이 실행되지 않는다. 즉, 서브필드 SF6, SF7 및 SF8에서 모든 화소 셀이 소등 모드로 설정되기 때문에, 소등 서브필드수 EN은 "3"이 된다.
다음, 구동 제어 회로(2)는, 소등 서브필드수 EN이 "0"인지 아닌지를 판정한다(단계 S4). 단계 S4에서, 소등 서브필드수 EN이 "0"으로 판정된 경우, 구동 제어 회로(2)는, 이 서스테인 발광 횟수 설정 처리를 종료하고, 도3 및 도4에 나타낸 바 와 같은 구동 제어 실행으로 이행한다. 즉, 단계 S2에서 얻어진 발광 횟수 T(T1∼T8)는, 연관된 서브필드 SF(SF1∼SF8)의 서스테인 행정Ⅰ에서 실행될 서스테인 방전 횟수(기간)로서 이용된다.
단계 S4에서, 소등 서브필드 수 EN이 "0"이 아닌 것으로 판정된 경우, 구동 제어 회로(2)는 소정의 조정치(즉, 발광 횟수 변경량) CV를 소등 서브필드 수 EN으로 나누고, 그 결과를 발광 횟수 감소량 KO로 한다(단계 S5). 다음, 구동 제어 회로(2)는 상기 소정의 조정치(발광 횟수 변경량) CV를 전체 서브필드수 "8"로부터 소등 서브필드수 EN을 감산하여 얻어진 값으로 나누고, 그 결과를 발광 횟수 증가량 K1로 한다(단계 S6). 다음, 구동 제어 회로(2)는 서브필드 지정치 r의 초기치로서 "1"을 설정한다(단계 S7). 다음, 구동 제어 회로(2)는 상기 단계 S2에서 얻어진 발광 횟수 T1∼T8 중에서, 상기 서브필드 지정치 r에 기초하여 발광 횟수 T(r)을 선택하고, 이 발광 횟수 T(r)에 상기 발광 횟수 증가량 K1을 가산한 결과를 새로운 발광 횟수 T(r)로서 설정한다(단계 S8). 예컨대, 서브필드 지정치 r이 "1"인 경우에는, 상기 단계 S2에서 얻어진 발광 횟수 T1에 발광 횟수 증가량 K1을 가산한 결 과를 새로운 발광 횟수 T1로서 설정한다. 단계 S8의 실행 후, 구동 제어 회로(2)는, 상기 서브필드 지정치 r에 "1"을 가산한 값을 새로운 서브필드 지정치 r로서 설정한다(단계 S9). 다음, 구동 제어 회로(2)는, 상기 서브필드 지정치 r이, 전체 서브필드 수 "8"로부터 소등 서브필드 수 EN을 감산하여 얻어진 값보다 큰지 아닌지를 판정한다(단계 S1O). 단계 S1O에서의 답이 아니오인 경우, 구동 제어 회로(2)는 단계 S8로 복귀하여 상기한 동작을 반복한다. 단계 S1O에서의 답이 예인 경우, 구동 제어 회로(2)는 단계 S11로 진행한다. 즉, 구동 제어 회로(2)는 단계 S2에서 얻어진 발광 횟수 T1∼T8 중에서 상기 서브필드 지정치 r에 의해 나타내진 발광 횟수 T(r)을 선택하고, 이 발광 횟수 T(r)로부터 상기 발광 횟수 감소량 KO를 감산한 결과를 새로운 발광 횟수 T(r)로서 설정한다(단계 S11). 다음, 구동 제어 회로(2)는, 서브필드 지정치 r에 "1"을 가산한 값을 새로운 서브필드 지정치 r로서 설정한다(단계 S12). 다음, 구동 제어 회로(2)는, 상기 서브필드 지정치 r이 전체 서브필드 수 "8"보다 큰지 아닌지를 판정한다(단계 S13). 단계 S13에서, 서브필드 지정치 r이 전체 서브필드 수 "8"보다 크지 않다고 판정된 경우, 구동 제어 회로(2)는 단 계 S11로 복귀하여 상기한 동작을 반복하여 실행한다. 한편, 단계 S13에서, 서브필드 지정치 r이 전체 서브필드 수 "8"보다 크다고 판정된 경우, 구동 제어 회로(2)는 이 서스테인 방전 횟수 설정 처리를 종료하고, 도3 및 도4에 나타낸 바와 같은 구동 제어 실행으로 이행한다. 즉, 상기 단계 S2에서 얻어진 발광 횟수 T1∼T8에 대해 단계 S3∼S13에서의 발광 횟수 변경 처리를 실행하여 얻어진 새로운 발광 횟수 T1∼T8이, 서브필드 SF1∼SF8 각각의 서스테인 행정Ⅰ에서 실행될 서스테인 방전의 횟수(기간)로서 설정된다.
상기한 바와 같이, 도5에 나타낸 서스테인 방전 횟수 설정 처리에서는, 먼저, 각 필드 마다의 입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨에 따라, 서브필드 SF1∼SF8 각각의 서스테인 행정Ⅰ에서 실행될 서스테인 방전 발광 횟수 T1∼T8을 설정한다(단계 S1 및 S2). 그리고, 단계 S3∼S13의 실행에 의해, 발광 횟수 T1∼T8의 전체 발광 횟수(T1+T2+T3+…+T8)를 유지한 채로, 각 필드 마다의 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 따라 발광 횟수 T1∼T8 각각의 값을 변경한다. 즉, 이 피크 휘도 레벨에 기초하여, 모든 화소 셀이 소등 모드 상태로 되는 서브필드의 수를 나타내는 소 등 서브필드 수 EN을 구한다(단계 S3). 여기에서, 모든 서브필드 SF1∼SF8 중에서, 휘도 가중치가 큰 순서대로 소등 서브필드 수 EN에 의해 나타내진 수의 서브필드를 선택하고, 연관된 서브필드에 할당된 발광 횟수 T로부터 발광 횟수 감소량 KO를 감산하여, 그 결과를 상기 서브필드에 대한 새로운 발광 횟수 T라 한다(단계 S11∼S13). 한편, 나머지의 서브필드 각각에 할당된 발광 횟수 T에 대해서는, 각각 발광 횟수 증가량 K1을 발광 횟수 T에 가산하여 그 결과를 새로운 발광 횟수 T라 한다(단계 S8∼S1O).
즉, 도5에 나타낸 서스테인 방전 횟수 설정 처리에 있어서는, 먼저, 입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨에 따라 각 서브필드에 할당될 발광 횟수를 설정한다. 그 후, 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여 모든 화소 셀이 소등 모드로 되는 서브필드들을 검출하고, 소등 모드로 될 서브필드에 할당된 발광 횟수를 감소시키는 동시에, 이 발광 횟수를 감소시킨 량만큼, 기타의 다른 서브필드에 할당되는 발광 횟수를 증가시키도록 하고 있다.
따라서, 화면 전체를 통해 저휘도이고 또한 휘도 차가 적은 화상을 나타내는 입력 영상 신호에 대해, 1필드 내에서의 총 발광 횟수를 증가시키지 않고, 상기 화상을 표시하도록 사용되는 서브필드 각각에 할당될 발광 횟수(기간)가 증가될 수 있다.
따라서, 입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨에 따라 각 서브필드에 발광 횟수를 할당하도록 소비 전력 제어를 실행하면, 상기한 바와 같이 저휘도이고 또한 휘도 차가
적은 화상을 표시할 때에도, 화상 전체의 시각 휘도를 높혀서 양호한 화상 표시를 실현할 수 있다
상기 실시예에 있어서는, 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여 모든 화소 셀이 소등 모드로 되는 서브필드들을 검출하고, 소등 모드로 되는 서브필드에 할당되는 발광 횟수를 감소시키고 있다. 이와 다르게, 상기 소등 모드로 되는 서브필드를 실행하지 않을 수 있다. 이 변경은 제2 실시예로서 이하에 설명한다.
실시예2
도6을 참조하여 제2 실시예에서 사용되는 플로우챠트애 대해 설명한다. 도6 은 서스테인 방전 횟수 결정의 다른 방식을 나타낸다. 제1 및 제2 실시예에서 동일 참조 부호 및 기호가 사용된다.
도6에서, 구동 제어 회로(2)는, 평균 휘도 검출 회로(1)로부터 공급된 평균 휘도 신호 AK에 의해 나타내지는 각 필드 마다의 평균 휘도 레벨에 소정 계수 t를 승산함에 의해 발광 횟수 계수 Q를 구한다(단계 S21). 다음, 구동 제어 회로(2)는, 서브필드 SF1∼SF8의 휘도 가중치를 나타내는 휘도 계수 F1∼F8 각각에, 발광 횟수 계수 Q를 승산함에 의해 서브필드 SF1∼SF8 각각의 서스테인 행정Ⅰ에서의 발광 횟수 T1∼T8을 구한다(단계 S22).
다음, 구동 제어 회로(2)는, 피크 휘도 검출 회로(3)로부터 공급된 피크 휘도 신호 PK에 기초하여, 서브필드 SF1∼SF8 중에서, 모든 화소 셀이 소등 모드 상태로 되는 서브필드를 검출하고, 그 수를 소등 서브필드 수 EN으로서 설정한다(단계 S23). 다음, 구동 제어 회로(2)는, 소등 서브필드 수 EN이 "0"인지 아닌지의 판정을 행한다(단계 S24). 단계 S24에서 소등 서브필드 수 EN이 "0"이라고 판정된 경우, 구동 제어 회로(2)는, 이 서스테인 횟수 설정 처리를 종료하고, 도7(a)에 나타 낸 바와 같은 발광 구동 시퀀스에 따른 구동 제어 실행으로 이행한다. 즉, 상기 단계 S2에서 얻어진 발광 횟수 T1∼T8이, 서브필드 SF1∼SF8 각각의 서스테인 행정Ⅰ에서 실행될 서스테인 방전 횟수(기간)으로서 설정된다. 또한, 도7(a)에 나타낸 발광 구동 시퀀스는 도4에 나타낸 발광 구동 시퀀스와 동일하다.
단계 S24에서, 소등 서브필드 수 EN이 "0"이 아닌 것으로 판정되면, 구동 제어 회로(2)는, 소정의 조정치(즉, 발광 횟수 변경량) CV를, 모든 서브필드 수 "8"로부터 소등 서브필드 수 EN을 감산하여 얻어진 값으로 나누고, 그 결과를 발광 횟수 증가량 K1로서 설정한다(단계 S25). 다음, 구동 제어 회로(2)는, 서브필드 지정치 r의 초기치로서 "1"을 설정한다(단계 S26). 다음, 구동 제어 회로(2)는, 상기 단계 S22에서 얻어진 발광 횟수 T1∼T8 중에서, 상기 서브필드 지정치 r에 의해 나타내지는 발광 횟수 T(r)을 선택하고, 이 발광 횟수 T(r)에 상기 발광 횟수 증가량 K1을 가산하고, 그 결과를 새로운 발광 횟수 T(r)로서 설정한다(단계 S27). 다음, 구동 제어 회로(2)는, 상기 서브필드 지정치 r에 "1"을 가산한 값을 새로운 서브필드 지정치 r로서 설정한다(단계 S28). 다음, 구동 제어 회로(2)는, 상기 서브필드 지정치 r이, 전체 서브필드 수 "8"로부터 소등 서브필드 수 EN을 감산하여 얻어진 값보다 큰지 아닌지를 판정한다(단계 S29). 단계 S29에서의 답이 아니오이면, 구동 제어 회로(2)는 단계 S27로 복귀하여, 상기한 동작을 반복한다. 한편, 단계 S29에서의 답이 예이면, 구동 제어 회로(2)는,이 서스테인 방전 횟수 설정 처리를 종료한다. 이 경우, 구동 제어 회로(2)는 변경된 구동 제어의 실행으로 이행한다. 특히, 도7(a)의 발광 구동 시퀀스는 서브필드 SF1∼SF8 중에서 하나 이상의 서브필드를 생략함에 의해 변경된다. 상기 소등 서브필드 수 EN에 대해, 휘도 가중치가 큰 서브필드들이 서브필드 SF1∼SF8로부터 감해진다.
구동 제어 회로(2)는, 예컨대 소등 서브필드 수 EN이 "1"을 나타내는 경우에, 도7(b)에 나타낸 발광 구동 시퀀스에 따라 PDP(1O)에 대한 구동 제어를 실행한다. 각 필드는 도7(b)에서 7개의 서브필드 SF1∼SF7를 가지며, 즉 도7(a)에서 하나의 서브필드가 생략되었다. 상기 단계 S22에서 얻어진 발광 횟수 T1∼T7에 대해 단계들 S27∼S29의 발광 횟수 변경 처리를 실행하여 새로운 발광 횟수 T1∼T7이 얻어지며, 서브필드 SF1∼SF7의 서스테인 행정Ⅰ에서 실행될 서스테인 방전 횟수(기간) 로서 설정된다. 소등 서브필드 수 EN이 "2"를 나타내는 경우, 구동 제어 회로(2)는, 각 필드에 6개의 서브필드 SF1∼SF6 만을 포함하는 도7(c)에 나타낸 발광 구동 시퀀스에 따라 PDP(1O)에 대한 구동 제어를 실행한다. 상기 단계 S22에서 얻어진 발광 횟수 T1∼T6에 대해 단계들 S27∼S29의 발광 횟수 변경 처리를 실행하여 새로운 발광 횟수 T1∼T6이 얻어지며, 서브필드 SF1∼SF6의 서스테인 행정Ⅰ에서 실행될 서스테인 방전 횟수(기간)로서 설정된다. 소등 서브필드 수 EN이 "3"을 나타내는 경우, 구동 제어 회로(2)는, 각 필드에 5개의 서브필드 SF1∼SF5 만을 포함하는 도7(d)에 나타낸 발광 구동 시퀀스에 따라 PDP(1O)에 대한 구동 제어를 실행한다. 상기 단계 S22에서 얻어진 발광 횟수 T1∼T5에 대해 단계들 S27∼S29의 발광 횟수 변경 처리를 실행하여 새로운 발광 횟수 T1∼T5가 얻어지며, 서브필드 SF1∼SF5의 서스테인 행정Ⅰ에서 실행될 서스테인 방전 횟수(기간)로서 설정된다.
이상과 같이, 도6에 나타낸 서스테인 방전 횟수 설정 처리에 있어서는, 입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨에 따라 각 서브필드에 할당될 발광 횟수를 설정한다. 그 후, 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여, 모든 화소 셀이 소등 모드로 되는 서브필드를 검출하고, 소등 모드로 되는 서브필드를 생략한 서브필드들에서만 계조구동을 실행한다. 이때, 소등 모드로 되는 서브필드에 할당된 발광량(횟수) 만큼, 각 서브필드에 할당될 발광 횟수를 증가시키도록 하고 있다. 따라서, 도1(a)에 나타낸 바와 같이 저휘도이고 또한 휘도 차가 적은 화상을 표현하는 입력 영상 신호에 대해 저소비전력 제어를 행하는 경우에도, 화상 전체의 시각 휘도를 높이는 양호한 화상을 표시할 수 있게 된다.
Claims (11)
- 복수의 화소 셀이 형성되어 있는 표시 패널을, 각각 상기 화소 셀의 발광 횟수가 할당되어 있는 복수의 서브필드 각각에 대한 입력 영상 신호에 기초하여 구동하기 위한 표시 패널의 구동 방법으로서 :입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨을 검출하는 피크 휘도 검출 단계;상기 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여 각 서브필드에 할당된 발광 횟수를 변경하는 발광 횟수 변경 단계; 및연관된 서브필드 중에서, 그 연관된 서브필드에 할당된 발광 횟수 만큼 상기 화소 셀을 발광시키는 서스테인 펄스를 상기 표시 패널에 인가하는 서스테인 단계를 포함하는 표시 패널의 구동 방법
- 제1항에 있어서, 상기 발광 횟수 변경 단계는 :상기 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여 복수의 서브필드 중에서, 상기 화소 셀의 전부가 소등 상태로 되는 소등 서브필드를 검출하는 단계; 및상기 복수의 서브필드에서 상기 소등 서브필드에 할당되는 발광 횟수를 감소시키는 한편, 상기 소등 서브필드를 제외한 다른 서브필드에 할당되는 발광 횟수를 증가시키는 단계를 포함하는 표시 패널의 구동 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 소등 서브필드에 할당되는 발광 횟수의 감소는 상기 발광 횟수를 영으로 되게 하는 표시 패널의 구동 방법.
- 복수의 화소 셀이 형성되어 있는 표시 패널을, 입력 영상 신호의 각 필드를 구성하는 복수의 서브필드 각각에 대해 구동하는 표시 패널의 구동 방법으로서 :입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨을 검출하는 평균 휘도 검출 단계;상기 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨을 검출하는 피크 휘도 검출 단계;상기 평균 휘도 레벨 및 피크 휘도 레벨에 기초하여 상기 화소 셀의 발광 횟수를 각 서브필드에 할당하는 발광 횟수 설정 단계; 및연관된 서브필드 중에서, 그 연관된 서브필드에 할당되는 상기 발광 횟수 만큼 상기 화소 셀을 발광시키는 서스테인 펄스를 상기 표시 패널에 인가하는 서스테인 단계를 포함하는 표시 패널의 구동 방법.
- 제4항에 있어서, 상기 발광 횟수 설정 단계는 :상기 입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨에 기초하여 상기 서브필드 각각에 상기 발광 횟수의 할당을 행하는 단계;상기 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여 상기 복수의 서브필드 중에서, 상기 화소 셀의 전부가 소등 상태로 되는 소등 서브필드를 검출하는 단계; 및상기 복수의 서브필드에서 상기 소등 서브필드에 할당되는 상기 발광 횟수를 감소시키는 한편, 다른 서브필드들에 할당되는 발광 횟수를 증가시키는 단계를 포함하는 표시 패널의 구동 방법.
- 제4항에 있어서, 상기 발광 횟수 설정 단계는 :상기 입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨에 기초하여 상기 서브필드 각각에 상기 발광 횟수의 할당을 행하는 단계;상기 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여 상기 복수의 서브필드 중에서, 상기 화소 셀의 전부가 소등 상태로 되는 소등 서브필드를 검출하는 단계; 및상기 복수의 서브필드 중에서 상기 소등 서브필드 이외의 다른 서브필드에 할당되는 발광 횟수를, 상기 소등 서브필드에 할당되는 발광 횟수 만큼 증가시키는 단계를 포함하고, 상기 서스테인 단계에서는 상기 소등 서브필드 이외의 다른 서브필드에만 상기 서스테인 펄스를 인가하는 표시 패널의 구동 방법.
- 제5항에 있어서, 상기 소등 서브필드에 할당되는 발광 횟수의 감소는 상기 발광 횟수를 영으로 되게 하는 표시 패널의 구동 방법.
- 복수의 화소 셀이 형성되어 있는 표시 패널을, 입력 영상 신호의 각 필드를 구성하는 복수의 서브필드 각각에 대한 입력 영상 신호에 기초하여 구동하는 장치로서 :입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨을 검출하는 제1 수단입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨을 검출하는 제2 수단;상기 평균 휘도 레벨 및 피크 휘도 레벨에 기초하여 각 서브필드에 상기 화소 셀의 발광 횟수를 할당하는 제3 수단; 및연관된 서브필드 중에서, 그 연관된 서브필드에 할당된 발광 횟수 만큼 상기 화소 셀을 발광시키는 서스테인 펄스를 상기 표시 패널에 인가하는 제4 수단을 포함하는 표시 패널의 구동 장치.
- 제8항에 있어서, 상기 제3 수단은 :상기 입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨에 기초하여 상기 서브필드 각각에 상기 발광 횟수의 할당을 행하는 수단;상기 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여 상기 복수의 서브필드 중에서, 상기 화소 셀의 전부가 소등 상태로 되는 소등 서브필드를 검출하는 수단; 및상기 복수의 서브필드에서 상기 소등 서브필드에 할당되는 발광 횟수를 감소시키는 한편, 상기 소등 서브필드를 제외한 다른 서브필드에 할당되는 발광 횟수를 증가시키는 수단을 포함하는 표시 패널의 구동 장치.
- 제8항에 있어서, 상기 제3 수단은 :상기 입력 영상 신호의 평균 휘도 레벨에 기초하여 상기 서브필드 각각에 상기 발광 횟수의 할당을 행하는 수단;상기 입력 영상 신호의 피크 휘도 레벨에 기초하여 상기 복수의 서브필드 중에서, 상기 화소 셀의 전부가 소등 상태로 되는 소등 서브필드를 검출하는 수단; 및상기 복수의 서브필드 중에서 상기 소등 서브필드 이외의 다른 서브필드에 할당되는 발광 횟수를, 상기 소등 서브필드에 할당되는 발광 횟수 만큼 증가시키는 수단을 포함하고, 상기 제4 수단은 상기 소등 서브필드 이외의 다른 서브필드에만 상기 서스테인 펄스를 인가하는 표시 패널의 구동 장치.
- 제9항에 있어서, 상기 소등 서브필드에 할당되는 발광 횟수를 감소시키는 수단은 상기 발광 횟수를 영으로 되게 하는 표시 패널의 구동 장치.
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