KR20040057182A - 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프 - Google Patents
수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20040057182A KR20040057182A KR1020020083639A KR20020083639A KR20040057182A KR 20040057182 A KR20040057182 A KR 20040057182A KR 1020020083639 A KR1020020083639 A KR 1020020083639A KR 20020083639 A KR20020083639 A KR 20020083639A KR 20040057182 A KR20040057182 A KR 20040057182A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- mass
- electrode
- comb
- horizontal
- excitation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 133
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 50
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 43
- 210000001520 comb Anatomy 0.000 claims abstract description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 244000126211 Hericium coralloides Species 0.000 claims description 17
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 17
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 12
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 7
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000005534 acoustic noise Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 2
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 2
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 2
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000012958 reprocessing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/56—Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Gyroscopes (AREA)
Abstract
Description
Claims (38)
- X축 및 Y축에 의한 평면과 실질적으로 평행한 평면구조를 갖는 기판(105);상기 기판에 고정되는 복수의 고정패드를 포함하는 고정부(110);상기 고정부의 각 고정패드 각각에 일단이 연결된 복수의 외부 탄성체를 포함하는 외부 탄성부재(120);실질적으로 사각형상으로 이루어지며, 상기 외부 탄성부재의 복수의 외부 탄성체의 각 타단에 연결되어 상기 기판으로부터 일정간격 떠 있으며, 그 외측에 형성된 빗살구조의 진동 전극 핑거를 갖는 외부 프레임부(130);상기 외부 프레임부의 빗살구조의 진동 전극 핑거에 설정간격 이격되어 서로 맞물려 빗살구조로 형성된 복수의 감지전극을 포함하는 감지 전극부(140);상기 외부 프레임의 내측에 연결된 복수의 내부 탄성체를 포함하는 내부 탄성부재(150);상기 내부 탄성부재의 복수의 내부 탄성체에 연결되며, 빗살구조의 가진코움을 각각 갖는 한쌍의 제1,제2 내부 질량체를 포함하는 내부 질량부(160); 및상기 내부 질량부의 각 내부 질량체의 가진코움 각각에 설정간격 이격되어 맞물려 있는 빗살구조의 코움가진기를 갖는 제1,제2 가진 전극을 포함하는 가진전극부(170)을 구비함을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제1항에 있어서, 상기 외부 탄성부재(120)는상기 외부 프레임부(130)의 각 변의 외측 중앙에 각각 연결되는 제1-제4 외부 탄성체(121-124)를 포함하고,상기 각 탄성체들은 실질적으로 동일한 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제1항에 있어서, 상기 외부 프레임부(130)는서로 이격된 X축 방향의 2개의 변과, 서로 이격된 Y축 방향의 2개의 변을 포함하는 사각형상으로 이루어지고,상기 외부 프레임부(130)의 진동 전극 핑거는상기 X축 방향의 2개의 각 변의 외측 일부에 Y축 방향으로 배열된 빗살구조인 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제1항에 있어서, 상기 감지 전극부(140)는상기 기판에 고정된 감지 전극패드;상기 감지 패드에서 X축 방향으로 연장되는 감지 전극빔;상기 감지빔에 X축 방향으로 배열되고, 상기 외부 프레임부의 빗살구조의 진동전극에 설정간격 이격되어 서로 맞물려 빗살구조로 형성된 복수의 감지전극 핑거(sense electrode fingers)를 포함하고,상기 감지전극 핑거와 상기 외부 프레임의 진동 전극과의 이격거리에 따른 커패시턴스를 감지하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제3항에 있어서, 상기 내부 탄성부재(150)의 복수의 내부 탄성체는상기 외부 프레임부(130)의 변중 Y축 방향의 두 변 각각의 양 단부에서 내측으로 연장되는 제1-4 내부 탄성체(151-154); 및상기 외부 프레임부(130)의 변중 Y축 방향의 두 변 각각의 중앙에서 내측으로 연장되는 제5,제6 내부 탄성체(155,156) 을 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제5항에 있어서, 상기 제1-제4 내부 탄성체(151-154) 각각은상기 외부 프레임부(130)의 Y축 방향의 두 변 내측에 X축 방향으로 연결되는 외측 연결부;상기 내부 질량부(160)의 외측에 연결되어 Y축 방향으로 연결되는 내측 연결부;상기 내측 연결부의 단부에서 X축 방향으로 연장되는 연장부;상기 외측 연결부와 연장부를 연결하기 위한 절곡형상의 연결부 를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제6항에 있어서, 상기 외측 연결부는 연장부의 길이보다 길고,상기 연장부는 내측 연결부의 길이보다 긴 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제5항에 있어서, 상기 제5, 제6 내부 탄성체(155,156) 각각은상기 외부 프레임부(130)의 변중 Y축 방향의 두 변 각각의 중앙 내측에 형성된 바디부; 및상기 바디부에서 각각 그 일단이 연결되고, 상기 한쌍의 내부 질량체중 서로 다른 내부 질량체에 그 타단이 각각 연결되는 한쌍의 암부를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제8항에 있어서, 상기 각 암부는상기 바디부에 연결되어 X축 방향으로의 길이를 갖는 외측 연결부;상기 내부 질량부(160)의 외측에 연결되어 X축 방향의 길이를 갖는 내측 연결부;상기 내측 연결부의 단부에 연결되어 X축 방향으로의 길이를 갖는 연장부;및상기 외측 연결부와 연장부를 연결하기 위한 절곡형상의 연결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제9항에 있어서, 상기 외측 연결부는 연장부의 길이보다 길고,상기 연장부는 내측 연결부의 길이보다 긴 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제8항에 있어서, 상기 제5,제6 내부 탄성체의 한쌍의 암부는동일한 폭 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제8항에 있어서, 상기 제5,제6 내부 탄성체는상기 바디부와 한쌍의 암부에 의해 π형상으로 이루어진 것을 특징으로 하는수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제5항에 있어서, 상기 제1 내부 질량체(161)는상기 내부 탄성부재(150)의 제5 및 제6 내부 탄성체(155,156) 각각의 하나의 암부에 각 일단이 연결되고, 상기 제1 및 제2 내부 탄성체에 각 타단이 연결되며, 서로 이격된 Y축 방향의 2개의 질량체 프레임;상기 2개의 질량체 프레임 사이에서 X축 방향으로 연장되는 프레임 가진빔;상기 프레임 가진빔을 따라 X축 방향으로 반복 배열된 빗살구조의 가진코움;상기 2개의 질량체 프레임을 X축 방향으로 서로 연결하며, 상기 프레임 가진빔과 일정간격 이격되어 설치되는 프레임 감지빔;및상기 프레임 가진빔에 X축 방향으로 반복 배열된 피드백 코움 을 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제13항에 있어서, 상기 제2 내부 질량체(162)는상기 내부 탄성부재(150)의 제5 및 제6 내부 탄성체(155,156) 각각의 다른 하나의 암부에 각 일단이 연결되고, 상기 제3 및 제4 내부 탄성체에 각 타단이 연결되며, 서로 이격된 Y축 방향의 2개의 질량체 프레임;상기 2개의 질량체 프레임 사이에서 X축 방향으로 연장되는 프레임 가진빔;상기 프레임 가진빔에 X축 방향으로 반복 배열된 가진코움;상기 2개의 질량체 프레임을 X축 방향으로 서로 연결하며, 상기 프레임 가진빔과 일정간격 이격되어 설치되는 프레임 감지빔; 및상기 프레임 가진빔에 X축 방향으로 반복 배열된 피드백 코움 을 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제13항 또는 제14항에 있어서, 상기 한쌍의 내부 질량체들은실질적으로 서로 동일한 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제13항 또는 제14항에 있어서, 상기 가진 전극부(170)의 제1 가진 전극은상기 기판에 고정되고, 상기 제1 질량체의 양측의 질량체 프레임 사이에 설치되는 가진 전극 패드;상기 가진 전극 패드에서 상기 프레임 가진 빔과 일정 간격 이격되어 X축 방향으로 일정 길이를 갖도록 연장되는 가진 전극 빔; 및상기 가진 전극 빔의 길이방향에 따라 반복 배열되는 빗살구조의 코움 가진기를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제13항 또는 제14항에 있어서, 상기 가진 전극부(170)의 제2 가진 전극은상기 기판에 고정되고, 상기 제2 질량체의 양측의 질량체 프레임 사이에 설치되는 가진 전극 패드;상기 가진 전극 패드에서 상기 프레임 가진 빔과 일정 간격 이격되어 X축 방향으로 일정 길이를 갖도록 연장되는 가진 전극 빔; 및상기 가진 전극 빔의 길이방향에 따라 반복 배열되는 빗살구조의 코움 가진기를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제1항에 있어서, 상기 마이크로 자이로스코프는상기 한쌍의 내부 질량체 사이에 형성되고, 상기 내부 질량체의 피드백 코움(feedback combs)과의 이격거리에 따른 커패시턴스를 감지하는 피드백 전극부(180); 를 더 구비한 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제18항에 있어서, 상기 피드백 전극부(180)는상기 기판에 고정되는 피드백 전극패드;상기 피드백 전극패드의 Y축 상의 양단부에서 X축 방향으로 연장된 피드백 전극빔; 및상기 피드백 전극빔에 X축 방향으로 연속 배열되고, 상기 한쌍의 내부 질량체의 피드백코움(feedback combs) 각각에 설정간격 이격되어 맞물려 있는 빗살구조의 코움감지기(comb sensor) 를 포함한 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 실질적으로 수직인 X축 및 Y축에 의한 수평방향으로의 평면구조를 갖는 기판(205);상기 기판에 고정되는 복수의 고정패드를 포함하는 고정부(210);상기 고정부의 각 고정패드 각각에 일단이 연결된 복수의 외부 탄성체를 포함하는 외부 탄성부재(220);실질적으로 원형상으로 이루어지며, 상기 외부 탄성부재의 복수의 외부 탄성체의 각 타단에 연결되어 상기 기판으로부터 일정간격 떠 있으며, 그 외측에 형성된 빗살구조의 가진 전극 핑거를 갖는 가긴 전극을 포함하는 외부 프레임부(230);상기 외부 프레임부의 빗살구조의 가진 전극 핑거에 설정간격 이격되어 서로 맞물려 빗살구조로 형성된 가진 전극 핑거를 갖는 가진 전극부(240);상기 외부 프레임의 내측에 연결된 복수의 내부 탄성체를 포함하는 내부 탄성부재(250);상기 내부 탄성부재의 복수의 내부 탄성체에 연결되며, 빗살구조의 진동 전극 핑거를 각각 갖는 한쌍의 제1,제2 내부 질량체를 포함하는 내부 질량부(260); 및상기 내부 질량부의 각 내부 질량체의 진동 전극 핑거에 설정간격 이격되어 맞물려 있는 빗살구조의 감지 전극 핑거를 포함하는 제1,제2 감지전극을 포함하는 감지 전극부(270)을 구비함을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제20항에 있어서, 상기 외부 탄성부재(220)는상기 외부 프레임부(230)를 균형적으로 탄성 지지하도록 배열된 제1-제3 외부 탄성체(221-223)를 포함하고,상기 각 탄성체들은 실질적으로 동일한 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제20항에 있어서, 상기 외부 프레임부(230)의 가진전극은그 외측의 설정위치에 프레임에 실질적으로 수직하는 방향으로 일정 길이를갖도록 형성된 가진 전극빔;상기 복수의 전극빔(231) 각각의 길이방향에 따라 배열된 빗살구조의 가진 전극 핑거를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제20항에 있어서, 상기 가진 전극부(240)는상기 기판에 고정된 가진 전극 패드;상기 가진 전극 패드로부터 상기 외부 프레임부(230)의 가진 전극 빔과 일정간격 이격되면서 연장되고, 일정 길이를 갖는 가진 전극 빔; 및상기 가진 전극 빔에서 배열되고, 상기 외부 프레임부의 빗살구조의 가진 전극 핑거(driven electrode fingers)에 설정간격 이격되어 서로 맞물려 빗살구조로 형성된 가진 전극 핑거를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제22항에 있어서, 상기 내부 탄성부재(250)의 복수의 내부 탄성체는상기 외부 프레임부(230)의 내측면중 Y축상에서 서로 마주보는 내측면 각각에서 내측으로 연장되는 제1,제2 내부 탄성체(251,252); 및상기 외부 프레임부(230)의 내측면중 X축상에서 서로 마주보는 내측면 각각에서 내측으로 연장되는 제3,제4 내부 탄성체(253,254); 을 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제22항에 있어서, 상기 제1,제2 내부 탄성체(251,252) 각각은서로 대칭구조로 이루어진 한쌍의 탄성체를 포함하고,상기 한쌍의 탄성체 각각은상기 외부 프레임부(230)의 내측에 Y축 방향으로 연결된 외측 연결부;상기 내부 질량부(260)의 외측에 Y축 방향으로 연결된 내측 연결부;X축 방향으로의 일정 길이를 갖고, 상기 외측 연결부와 내측 연결부를 연결하는 상호 연결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제25항에 있어서, 상기 상호 연결부는상기 외측 및 내측 연결부의 길이보다 긴 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프
- 제22항에 있어서, 상기 제3,제4 내부 탄성체(253,254) 각각은상기 외부 프레임부(230)의 내측면중 X축상에서 서로 마주보는 내측면에 각각 형성된 바디부;상기 각 바디부에서 X축 방향의 일정 길이를 갖도록 각각 연장되어 상기 한쌍의 내부 질량부 각각으로 연결되는 한쌍의 암부; 로 이루어진 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제27항에 있어서, 상기 제3,제4 내부 탄성체의 한쌍의 암부는동일한 폭 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제27항에 있어서, 상기 제3,제4 내부 탄성체 각각은상기 바디부와 한쌍의 암부에 의해 π형상으로 이루어진 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제20항에 있어서, 상기 한쌍의 제1,제2 내부 질량체(261,262)는상기 외부 프레임부(230)의 내측에, Y축상에서 일정간격 서로 이격되어 배열되고, X축을 중심으로 서로 대칭 구조의 반원 형상으로 이루어진 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제30항에 있어서, 상기 제1 내부 질량체(261)는Y축상의 일측에 설치되어 내부공간을 포함하고, 상기 외부 프레임부(230)의 내측면과 일정 간격 이격되면서 나란한 방향으로 이루어진 반원 프레임과, 상기 제2 내부 질량체와 일정 간격 이격되면서 X축 방향으로 형성된 선형 프레임을 포함하는 질량체 프레임;상기 질량체 프레임에 형성되어 내부 공간으로 일정 길이를 갖는 질량체빔; 및상기 질량체빔의 길이 방향에 따라 배열되고, 상기 질량체 프레임의 반원 프레임에 나란한 방향으로 일정 길이를 갖는 빗살구조의 질량체 핑거; 를 포함함을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제31항에 있어서, 상기 제2 내부 질량체(262)는Y축상의 다른 일측에 설치되어 내부공간을 포함하고, 상기 외부 프레임부(230)의 내측면과 일정 간격 이격되면서 나란한 방향으로 이루어진 반원 프레임과, 상기 제1 내부 질량체의 선형 프레임과 일정 간격 이격되면서 X축 방향으로 형성된 선형 프레임을 포함하는 질량체 프레임;상기 질량체 프레임에 형성되어 내부 공간으로 일정 길이를 갖는 질량체빔; 및상기 질량체빔의 길이 방향에 따라 배열되고, 상기 질량체 프레임의 반원 프레임에 나란한 방향으로 일정 길이를 갖는 빗살구조의 질량체 핑거; 를 포함함을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제31항 또는 제32항에 있어서, 상기 한쌍의 내부 질량체들(261,262)은실질적으로 서로 동일한 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제20항에 있어서, 상기 감지 전극부(270)의 제1 감지전극(271)은상기 제1 내부 질량체(261)의 내부공간에 각각 배치되고, 상기 기판에 고정되는 감지 전극 패드;상기 감지전극 패드에서 상기 제1 질량체의 질량체빔 사이로 연장되는 감지 전극 빔;상기 감지 전극 빔에서 상기 제1 질량체의 질량체 핑거 사이로 연장되는 감지 전극 핑거; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제20항에 있어서, 상기 감지 전극부(270)의 제2 감지전극(272)은상기 제2 내부 질량체(262)의 내부공간에 각각 배치되고, 상기 기판에 고정되는 감지 전극 패드;상기 감지전극 패드에서 상기 제2 질량체의 질량체빔 사이로 연장되는 감지 전극 빔;상기 감지 전극 빔에서 상기 제2 질량체의 질량체 핑거 사이로 연장되는 감지 전극 핑거; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제20항에 있어서, 상기 외부 프레임부(230)는그 외측에 형성된 빗살구조의 피드백 전극(driven electrodes)을 포함하고,상기 피드백 전극은상기 외부 프레임부의 외측의 설정위치에 프레임에 실질적으로 수직하는 방향으로 일정 길이를 갖도록 형성된 피드백 전극빔;상기 피드백 전극빔의 길이방향에 따라 배열된 빗살구조의 피드백 전극 핑거; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제36항에 있어서, 상기 마이크로 자이로스코프는상기 외부 프레임의 피드백 전극 핑거와의 이격거리에 따라 커패시턴스를 감지하는 피드백 전극부(280); 를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
- 제37항에 있어서, 상기 피드백 전극부(280)는상기 기판에 고정된 피드백 전극 패드;상기 피드백 전극 패드로부터 상기 외부 프레임부(230)의 피드백 전극 빔과 일정간격 이격되면서 연장되고, 일정 길이를 갖는 피드백 전극 빔; 및상기 피드백 전극 빔에서 배열되고, 상기 외부 프레임부의 빗살구조의 피드백 전극 핑거(driven electrode fingers)에 설정간격 이격되어 서로 맞물려 빗살구조로 형성된 피드백 전극 핑거; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2002-0083639A KR100476562B1 (ko) | 2002-12-24 | 2002-12-24 | 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프 |
US10/610,624 US7004024B1 (en) | 2002-12-24 | 2003-07-02 | Horizontal and tuning fork vibratory microgyroscope |
JP2003270263A JP2004205492A (ja) | 2002-12-24 | 2003-07-02 | 水平型及び音叉型振動式マイクロジャイロスコープ |
DE10335783A DE10335783B4 (de) | 2002-12-24 | 2003-08-05 | Horizontales Vibrationsmikrogyroskop vom Stimmgabeltyp |
US10/888,591 US6918298B2 (en) | 2002-12-24 | 2004-07-12 | Horizontal and tuning fork vibratory microgyroscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2002-0083639A KR100476562B1 (ko) | 2002-12-24 | 2002-12-24 | 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040057182A true KR20040057182A (ko) | 2004-07-02 |
KR100476562B1 KR100476562B1 (ko) | 2005-03-17 |
Family
ID=32588925
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2002-0083639A Expired - Fee Related KR100476562B1 (ko) | 2002-12-24 | 2002-12-24 | 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7004024B1 (ko) |
JP (1) | JP2004205492A (ko) |
KR (1) | KR100476562B1 (ko) |
DE (1) | DE10335783B4 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108534769A (zh) * | 2012-09-28 | 2018-09-14 | 意法半导体股份有限公司 | 加速度和角速度谐振检测集成结构及相关mems传感器设备 |
CN115597572A (zh) * | 2022-09-16 | 2023-01-13 | 北京晨晶电子有限公司(Cn) | 石英音叉陀螺 |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100503472B1 (ko) * | 2003-03-06 | 2005-07-25 | 삼성전자주식회사 | 회전형 자이로스코프 |
KR100616641B1 (ko) | 2004-12-03 | 2006-08-28 | 삼성전기주식회사 | 튜닝포크형 진동식 mems 자이로스코프 |
US7545945B2 (en) * | 2005-08-05 | 2009-06-09 | The Research Foundation Of The State University Of New York | Comb sense microphone |
JP4887034B2 (ja) * | 2005-12-05 | 2012-02-29 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 慣性センサ |
US7992283B2 (en) * | 2006-01-31 | 2011-08-09 | The Research Foundation Of State University Of New York | Surface micromachined differential microphone |
JP2007218608A (ja) * | 2006-02-14 | 2007-08-30 | Denso Corp | 半導体力学量センサ |
US7617729B2 (en) | 2006-02-21 | 2009-11-17 | Physical Logic Ag | Accelerometer |
EP1832841B1 (en) * | 2006-03-10 | 2015-12-30 | STMicroelectronics Srl | Microelectromechanical integrated sensor structure with rotary driving motion |
JP4310325B2 (ja) * | 2006-05-24 | 2009-08-05 | 日立金属株式会社 | 角速度センサ |
US20090262074A1 (en) * | 2007-01-05 | 2009-10-22 | Invensense Inc. | Controlling and accessing content using motion processing on mobile devices |
US8952832B2 (en) | 2008-01-18 | 2015-02-10 | Invensense, Inc. | Interfacing application programs and motion sensors of a device |
US8047075B2 (en) | 2007-06-21 | 2011-11-01 | Invensense, Inc. | Vertically integrated 3-axis MEMS accelerometer with electronics |
US8020441B2 (en) * | 2008-02-05 | 2011-09-20 | Invensense, Inc. | Dual mode sensing for vibratory gyroscope |
US8508039B1 (en) | 2008-05-08 | 2013-08-13 | Invensense, Inc. | Wafer scale chip scale packaging of vertically integrated MEMS sensors with electronics |
US8250921B2 (en) | 2007-07-06 | 2012-08-28 | Invensense, Inc. | Integrated motion processing unit (MPU) with MEMS inertial sensing and embedded digital electronics |
US8462109B2 (en) | 2007-01-05 | 2013-06-11 | Invensense, Inc. | Controlling and accessing content using motion processing on mobile devices |
US7934423B2 (en) | 2007-12-10 | 2011-05-03 | Invensense, Inc. | Vertically integrated 3-axis MEMS angular accelerometer with integrated electronics |
US8141424B2 (en) | 2008-09-12 | 2012-03-27 | Invensense, Inc. | Low inertia frame for detecting coriolis acceleration |
US7796872B2 (en) * | 2007-01-05 | 2010-09-14 | Invensense, Inc. | Method and apparatus for producing a sharp image from a handheld device containing a gyroscope |
EP1959234A1 (en) * | 2007-02-13 | 2008-08-20 | STMicroelectronics S.r.l. | Microelectromechanical gyroscope with suppression of capacitive coupling spurious signals and control method of a microelectromechanical gyroscope |
US8042394B2 (en) * | 2007-09-11 | 2011-10-25 | Stmicroelectronics S.R.L. | High sensitivity microelectromechanical sensor with rotary driving motion |
US7677099B2 (en) | 2007-11-05 | 2010-03-16 | Invensense Inc. | Integrated microelectromechanical systems (MEMS) vibrating mass Z-axis rate sensor |
EP2435789B1 (en) * | 2009-05-27 | 2015-04-08 | King Abdullah University Of Science And Technology | Mems mass spring damper systems using an out-of-plane suspension scheme |
US8534127B2 (en) | 2009-09-11 | 2013-09-17 | Invensense, Inc. | Extension-mode angular velocity sensor |
US9097524B2 (en) | 2009-09-11 | 2015-08-04 | Invensense, Inc. | MEMS device with improved spring system |
JP5652117B2 (ja) * | 2010-10-21 | 2015-01-14 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量センサーおよび電子機器 |
WO2012120464A1 (en) * | 2011-03-08 | 2012-09-13 | Y-Sensors Ltd. | Planar coriolis gyroscope |
GB201120198D0 (en) | 2011-11-23 | 2012-01-04 | Cambridge Entpr Ltd | MEMS inertial sensor and method of inertial sensing |
TWI453371B (zh) | 2011-12-30 | 2014-09-21 | Ind Tech Res Inst | 一種具振盪模組的微機電系統裝置 |
CN103424110B (zh) * | 2012-05-15 | 2015-08-05 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 微型角速度传感器 |
KR101388814B1 (ko) * | 2012-09-11 | 2014-04-23 | 삼성전기주식회사 | 각속도 센서 |
US9181086B1 (en) | 2012-10-01 | 2015-11-10 | The Research Foundation For The State University Of New York | Hinged MEMS diaphragm and method of manufacture therof |
KR101366990B1 (ko) * | 2012-12-28 | 2014-02-24 | 삼성전기주식회사 | 각속도 센서 |
FR3013445B1 (fr) * | 2013-11-20 | 2015-11-20 | Sagem Defense Securite | Capteur a element sensible mobile ayant un fonctionnement mixte vibrant et pendulaire, et procedes de commande d'un tel capteur |
JP6370832B2 (ja) * | 2016-05-06 | 2018-08-08 | 矢崎総業株式会社 | 電圧センサ |
CN108008149A (zh) * | 2016-10-27 | 2018-05-08 | 南京理工大学 | 对应力不敏感的自校准硅微谐振式加速度计 |
DE102017217975A1 (de) * | 2017-10-10 | 2019-04-11 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanische Federstruktur |
CN110221098A (zh) * | 2018-03-01 | 2019-09-10 | 中国科学院微电子研究所 | 硅微谐振式加速度计及其自测试方法 |
CN109945850B (zh) * | 2019-04-02 | 2023-09-26 | 四川知微传感技术有限公司 | 一种mems陀螺仪 |
CN113390402A (zh) * | 2020-03-12 | 2021-09-14 | 北京微元时代科技有限公司 | 一种微机械音叉陀螺 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5349855A (en) * | 1992-04-07 | 1994-09-27 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Comb drive micromechanical tuning fork gyro |
DE4414237A1 (de) * | 1994-04-23 | 1995-10-26 | Bosch Gmbh Robert | Mikromechanischer Schwinger eines Schwingungsgyrometers |
KR100327481B1 (ko) * | 1995-12-27 | 2002-06-24 | 윤종용 | 마이크로 자이로스코프 |
DE19641284C1 (de) * | 1996-10-07 | 1998-05-20 | Inst Mikro Und Informationstec | Drehratensensor mit entkoppelten orthogonalen Primär- und Sekundärschwingungen |
WO1998041819A1 (en) * | 1997-03-19 | 1998-09-24 | Autotrol Corporation | Elbow mounted turbine flowmeter |
US6044707A (en) * | 1997-06-20 | 2000-04-04 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha | Angular rate sensor |
JP3123503B2 (ja) * | 1998-03-16 | 2001-01-15 | 株式会社村田製作所 | 角速度センサ |
JP3882973B2 (ja) * | 1998-06-22 | 2007-02-21 | アイシン精機株式会社 | 角速度センサ |
JP4075022B2 (ja) * | 1998-06-24 | 2008-04-16 | アイシン精機株式会社 | 角速度センサ |
JP2000337884A (ja) * | 1999-03-25 | 2000-12-08 | Murata Mfg Co Ltd | 角速度センサ |
KR100363785B1 (ko) * | 1999-06-04 | 2002-12-11 | 삼성전기주식회사 | 마이크로 자이로스코프 |
US6450033B1 (en) * | 1999-07-22 | 2002-09-17 | Denso Corporation | Semiconductor physical quantity sensor |
JP2003509670A (ja) * | 1999-09-17 | 2003-03-11 | キオニックス インク | 電気分離式マイクロ機械ジャイロスコープ |
JP3554965B2 (ja) * | 1999-12-28 | 2004-08-18 | 株式会社村田製作所 | 角速度センサ |
WO2001079862A1 (en) * | 2000-04-14 | 2001-10-25 | Microsensors, Inc. | Z-axis micro-gyro |
DE10108196A1 (de) * | 2001-02-21 | 2002-10-24 | Bosch Gmbh Robert | Drehratensensor |
US6845669B2 (en) * | 2001-05-02 | 2005-01-25 | The Regents Of The University Of California | Non-resonant four degrees-of-freedom micromachined gyroscope |
US6513380B2 (en) * | 2001-06-19 | 2003-02-04 | Microsensors, Inc. | MEMS sensor with single central anchor and motion-limiting connection geometry |
KR100436367B1 (ko) * | 2001-12-14 | 2004-06-19 | 삼성전자주식회사 | 수직 진동 질량체를 갖는 멤스 자이로스코프 |
JP3870895B2 (ja) * | 2002-01-10 | 2007-01-24 | 株式会社村田製作所 | 角速度センサ |
-
2002
- 2002-12-24 KR KR10-2002-0083639A patent/KR100476562B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-07-02 JP JP2003270263A patent/JP2004205492A/ja active Pending
- 2003-07-02 US US10/610,624 patent/US7004024B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-08-05 DE DE10335783A patent/DE10335783B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-07-12 US US10/888,591 patent/US6918298B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108534769A (zh) * | 2012-09-28 | 2018-09-14 | 意法半导体股份有限公司 | 加速度和角速度谐振检测集成结构及相关mems传感器设备 |
CN115597572A (zh) * | 2022-09-16 | 2023-01-13 | 北京晨晶电子有限公司(Cn) | 石英音叉陀螺 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7004024B1 (en) | 2006-02-28 |
US20060053885A1 (en) | 2006-03-16 |
US20050109107A1 (en) | 2005-05-26 |
KR100476562B1 (ko) | 2005-03-17 |
DE10335783B4 (de) | 2005-09-15 |
US6918298B2 (en) | 2005-07-19 |
JP2004205492A (ja) | 2004-07-22 |
DE10335783A1 (de) | 2004-07-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100476562B1 (ko) | 수평형 및 튜닝 포크형 진동식 마이크로 자이로스코프 | |
KR100616641B1 (ko) | 튜닝포크형 진동식 mems 자이로스코프 | |
KR101166866B1 (ko) | 수평으로 배향된 구동 전극을 구비한 mems자이로스코프 | |
EP3428576B1 (en) | Angular rate sensor with in-phase motion suppression structure | |
JP5123455B2 (ja) | 微細組立式音叉ジャイロスコープおよび面外回転を検知するための関連する3軸慣性測定システム | |
KR101100021B1 (ko) | Z-축 각속도 센서 | |
US8176779B2 (en) | Vibrating micro-mechanical sensor of angular velocity | |
US6752017B2 (en) | Rotation speed sensor | |
EP1335187B1 (en) | Rotation-type decoupled microelectromechanical (MEMS) gyroscope | |
KR101828771B1 (ko) | 개선된 직교 보상을 갖는 자이로스코프 구조체 및 자이로스코프 | |
EP1098170B1 (en) | Microgyroscope with two resonant plates | |
JP6690663B2 (ja) | 角速度の微小機械センサ素子 | |
JPH11337345A (ja) | 振動するマイクロジャイロメータ | |
CN103185574A (zh) | 一种具有振荡模块的微机电系统装置 | |
JP2000346649A (ja) | マイクロジャイロスコープ | |
EP3270106B1 (en) | Vibration and shock robust gyroscope | |
KR102732166B1 (ko) | 마이크로 기계식 요 레이트 센서 및 그 제조 방법 | |
JP2000074673A (ja) | 複合運動センサ | |
EP2775258B1 (en) | Microelectromechanical gyroscope | |
KR100493149B1 (ko) | 대칭형 z축 마이크로자이로스코프 및 그 제조방법 | |
JP2012202799A (ja) | バイアス安定性に優れた振動型ジャイロ | |
KR100319920B1 (ko) | 비대칭 내부 비틀림 짐벌을 가진 측면 구동 방식의 짐벌형 자이로스코프 | |
JP2006071335A (ja) | 角速度センサおよびその駆動方法 | |
JP3873266B2 (ja) | 三次元角速度センサ | |
JPH11337344A (ja) | 角速度センサ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20021224 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20050225 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20050304 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20050307 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20080131 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090105 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20091228 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110110 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120116 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130111 Year of fee payment: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130111 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131224 Year of fee payment: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20131224 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150202 Year of fee payment: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20150202 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160111 Year of fee payment: 12 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160111 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170102 Year of fee payment: 13 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170102 Start annual number: 13 End annual number: 13 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20181215 |