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KR20020041302A - 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물 및 그것을 이용한표시 장치 - Google Patents

포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물 및 그것을 이용한표시 장치 Download PDF

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KR20020041302A
KR20020041302A KR1020010073741A KR20010073741A KR20020041302A KR 20020041302 A KR20020041302 A KR 20020041302A KR 1020010073741 A KR1020010073741 A KR 1020010073741A KR 20010073741 A KR20010073741 A KR 20010073741A KR 20020041302 A KR20020041302 A KR 20020041302A
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KR
South Korea
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group
formula
precursor composition
compound
photosensitive resin
Prior art date
Application number
KR1020010073741A
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English (en)
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KR100788537B1 (ko
Inventor
미쯔히또 수와
가즈또 미요시
마사오 도미까와
Original Assignee
히라이 가쯔히꼬
도레이 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 히라이 가쯔히꼬, 도레이 가부시끼가이샤 filed Critical 히라이 가쯔히꼬
Publication of KR20020041302A publication Critical patent/KR20020041302A/ko
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Publication of KR100788537B1 publication Critical patent/KR100788537B1/ko

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Abstract

본 발명은
알칼리 현상이 가능한 포지티브형의 감광성 수지 전구체 조성물을 제공한다.
(a) 중합체 주쇄 말단에 카르복실기, 페놀성 산기, 술폰산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 폴리아미드산 에스테르 및(또는) 폴리아미드산,
(b) 페놀성 수산기를 갖는 화합물, 및
(c) 에스테르화된 퀴논디아지드 화합물을 함유하는 것을 특징으로 하는 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물로 이루어진다.

Description

포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물 및 그것을 이용한 표시 장치{Positive Type Photosensitive Resin Precursor Composition and Display Device Using the Same}
본 발명은 반도체 소자의 표면 보호막 및 층간 절연막, 유기전계발광소자의 절연층 등에 적합하고 자외선에 노광한 부분이 알칼리 수용액에 용해되는 포지티브형 감광성 폴리이미드 전구체 조성물에 관한 것이다.
노광한 부분이 알칼리 현상에 의해 용해되는 포지티브형 내열성 수지 전구체 조성물로는, 폴리아미드산에 나프토퀴논디아지드를 첨가한 것, 수산기를 갖는 가용성 폴리이미드에 나프토퀴논디아지드를 첨가한 것, 수산기를 갖는 폴리아미드에 나프토퀴논디아지드를 첨가한 것 등이 알려져 있다.
그러나, 통상의 폴리아미드산에 나프토퀴논디아지드를 첨가한 조성물은 나프토퀴논디아지드의 알칼리에 대한 용해 저해 효과보다 폴리아미드산 카르복실기의 용해성이 더 높기 때문에, 대부분의 경우 희망하는 패턴을 얻지 못하는 문제점이 있었다. 그래서, 폴리아미드산의 알칼리 용해성을 조절하기 위해 폴리아미드산의 카르복실기를 에스테르기로 보호한 폴리아미드산 유도체가 개발되었다.
그러나 이 폴리아미드산 유도체에 나프토퀴논디아지드를 첨가한 조성물도 나프토퀴논디아지드의 알칼리에 대한 용해 저해 효과가 매우 커져, 대부분의 경우 희망하는 패턴을 얻을 수 있지만 단시간에 현상할 수 없거나 (이하, "저감도"라고 함) 및 미세 패턴을 해상하지 못하는 (이하 "저해상도"라고 함) 등의 문제점을 초래했다.
즉, 본 발명은
(a) 중합체 주쇄 말단에 카르복실기, 페놀성 수산기, 술폰산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 폴리아미드산 에스테르 및(또는) 폴리아미드산,
(b) 페놀성 수산기를 갖는 화합물, 및
(c) 에스테르화된 퀴논디아지드 화합물
을 함유하는 것을 특징으로 하는 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물이다.
본 발명은 알칼리 가용성기를 갖는 말단 봉지제를 사용하여 합성한 폴리이미드 전구체에 페놀성 수산기를 갖는 화합물과 나프토퀴논디아지드 화합물을 첨가함으로써 얻을 수 있는 수지 조성물이, 노광 전에는 알칼리 현상액에 거의 용해되지 않고 노광하면 쉽게 알칼리 현상액에 용해되기 때문에 현상에 의한 막감소가 적고, 단시간에 현상할 수 있고 (이하 "고감도"라고 함), 또한 미세 패턴을 해상할 수 있는(이하, "고해상도"라고 함) 점에 착안하여 발명에 이른 것이다.
본 발명에서 폴리아미드산 에스테르는 가열 또는 적당한 촉매에 의해 이미드환 구조를 갖는 중합체가 될 수 있다. 이미드환 구조가 되면 내열성, 내용제성이 비약적으로 향상된다.
식 중, R1은 4가의 유기기, R2는 2에서 4가의 유기기, R3은 수소 원자 및(또는) 탄소수 1에서 20까지의 유기기, R4는 2가의 유기기, X는 카르복실기, 페놀성 수산기, 술폰산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 2에서 8가의 유기기를 나타내고, Y는 카르복실기, 페놀성 수산기, 술폰산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 2에서 8가의 유기기를 나타내고, n은 10에서 100,000까지의 정수,m은 0에서 10까지의 정수를 나타낸다.
상기 화학식 1, 화학식 2, 화학식 3, 화학식 4의 R1은 산 이무수물 구조 성분을 나타내고, 이 산 이무수물은 방향족환 또는 지방족환을 함유하는 4가의 유기기이고, 그 중에서도 탄소 원자수 5 내지 40의 유기기가 바람직하다.
산 이무수물로서 구체적으로는 피로멜리트산 이무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 이무수물, 2,3,3',4'-비페닐테트라카르복실산 이무수물, 2,2',3,3'-비페닐테트라카르복실산 이무수물, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 이무수물, 2,2',3,3' -벤조페논테트라카르복실산 이무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)프로판 이무수물, 2,2-비스(2,3-디카르복시페닐)프로판 이무수물, 1,1-비스(3,4-디카르복시페닐)에탄 이무수물, 1,1-비스(2,3-디카르복시페닐)에탄 이무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)메탄 이무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)메탄 이무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)술폰 이무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)에테르 이무수물, 1,2,5,6-나프탈렌테트라카르복실산 이무수물, 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르복실산 이무수물, 2,3,5,6-피리딘테트라카르복실산 이무수물, 3,4,9,10-페릴렌테트라카르복실산 이무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)헥사플루오로프로판 이무수물 등의 방향족 테트라 카르복실산 이무수물 또는 부탄테트라카르복실산 이무수물, 1,2,3,4-시클로펜탄테트라카르복실산 이무수물 등의 지방족 테트라카르복실산 이무수물 등을 들 수 있다. 이들 중에서 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 이무수물, 2,3,3',4'-비페닐테트라카르복실산 이무수물, 2,2',3,3'-비페닐테트라카르복실산 이무수물, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 이무수물, 2,2',3,3'-벤조페논테트라카르복실산 이무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)프로판 이무수물, 2,2-비스(2,3-디카르복시페닐)프로판 이무수물, 1,1-비스(3,4-디카르복시페닐)에탄 이무수물, 1,1-비스(2,3-디카르복시페닐)에탄 이무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)메탄 이무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)메탄 이무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)술폰 이무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)에테르 이무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)헥사플루오로프로판 이무수물이 바람직하다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합시켜 사용된다.
상기 화학식 1, 화학식 2, 화학식 3, 화학식 4의 R2는, 디아민 구조 성분을 표시하고 이 디아민에서는 방향족환 또는 지방족환을 함유하는 2 내지 4가의 유기기를 나타내고 그 중에서도 탄소 원자수 5 내지 40의 유기기가 바람직하다.
디아민의 구체적인 예로는 3,4'-디아미노디페닐에테르, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,4'-디아미노디페닐 메탄, 4,4'-디아미노디페닐 메탄, 3,4'-디아미노디페닐술폰, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 3,4'-디아미노디페닐술피드, 4,4'-디아미노디페닐술피드, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 벤지딘, m-페닐렌디아민, P-페닐렌디아민, 1,5-나프탈렌디아민, 2,6-나프탈렌디아민, 비스(4-아미노페녹시페닐)술폰, 비스(3-아미노페녹시페닐)술폰, 비스(4-아미노페녹시)비페닐, 비스{4-(4-아미노페녹시)페닐}에테르, 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2'-디에틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디에틸-4,4'-디아미노비페닐,2,2',3,3'-테트라메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3',4,4'-테트라메틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2'-디(트리플루오로메틸)-4,4'-디아미노비페닐, 또는 이러한 방향족환에 알킬기나 할로겐 원자로 치환한 화합물 또는 지방족의 시클로헥실디아민, 메틸렌비스시클로헥실아민 등을 들 수 있다.
이 중에서 3,4'-디아미노디페닐에테르, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐 메탄, 3,4'-디아미노디페닐술폰, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 3,4'-디아미노디페닐술피드, 4,4'디아미노디페닐술피드, m-페닐렌디아민, P-페닐렌디아민, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠 등이 바람직하다. 특히 바람직하게는 3,4'-디아미노디페닐에테르, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 3,4'-디아미노디페닐술폰, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠이다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합시켜 사용된다.
화학식 1, 화학식 2, 화학식 3, 화학식 4의 R3은, 수소 원자 및(또는) 탄소수 1 내지 20의 유기기를 표시한다. 얻어지는 포지티브형 감광성 수지 전구체 용액의 안정성이라는 관점에서 본다면 R3는 유기기가 바람직하지만, 알칼리 수용액에 대한 용해성의 관점에서 본다면 수소가 바람직하다. 본 발명에서는 수소 원자와 알킬기를 혼재시킬 수 있다. 이 R3의 수소와 유기기의 양을 제어함으로써 알칼리 수용액에 대한 용해 속도가 변화되기 때문에, 이 조정에 의해 적절한 용해 속도를 갖는 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물을 얻을 수 있다. 바람직한 범위는, R3의 10 % 내지 90 %가 수소 원자이다. 또한, R3의 탄소수가 20을 넘으면 알칼리 수용액에 용해되지 않게 된다. 이상에서, R3은 탄소수 1 내지 16까지의 탄화 수소기를 1개 이상 함유하고 나머지는 수소 원자인 것이 보다 바람직하다.
화학식 1, 화학식 2의 구조 성분인 -NH-(R4)m-X는, 하기 화학식 8로 표시되는 것이 바람직하고, 말단 봉지제인 1급 모노아민에서 유래되는 성분이다. X는 카르복실기, 페놀성 수산기, 술폰산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 2에서 8가의 유기기가 바람직하고, 더욱 바람직하게는 카르복실기, 페놀성 수산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 2에서 8가의 유기기가 바람직하다.
또한, 화학식 3, 화학식 4의 구조 성분인 -CO-(R4)m-Y는 화학식 9 또는 화학식 10으로 표시되는 것이 바람직하고, 이들은 말단 봉지제인 산무수물, 모노카르복실산, 모노산클로라이드 화합물, 모노활성 에스테르 화합물에서 선택되는 것에 유래하는 성분이다. Y는 카르복실기, 페놀성 수산기, 술폰산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 2에서 8가의 유기기가 바람직하고, 더욱 바람직하게는 카르복실기, 페놀성 수산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 2에서 8가의 유기기가 바람직하다. 또한 화학식 3 및 화학식 4를 구성하는 Y는 화학식 9로 표시되는 말단 봉지기만을, 또는 화학식 10으로 표시되는 말단 봉지기만을, 또는 화학식 9와 화학식 10을 모두 포함하는 것 중 어느 하나일 수 있다.
화학식 8, 화학식 9 및 화학식 10 중에서, R4는 -CR18R19-, -CH2O-, -CH2SO2-에서 선택되는 2가의 기를 표시하고, R18, R19는 수소 원자, 수산기, 탄소수 1에서 10까지의 탄화 수소기에서 선택되는 1가의 기를 나타낸다. R15는 수소 원자, 탄소수 1에서 10까지의 탄화 수소기에서 선택되는 1가의 기를 나타내고, 그 중에서도 수소 원자, 탄소수 1에서 4의 탄화 수소기가 바람직하고, 특히 바람직하게는 수소 원자, 메틸기, t-부틸기이다. R16, R17는 수소 원자, 탄소수 1에서 4까지의 탄화 수소기에서 선택되는 1가의 기, 또는 R16, R17이 직접 결합된 환 구조를 나타낸다 (예를 들면 나디이미드환 등). 또한 R13, R14는 수소 원자, 수산기, 카르복실기, 술폰산기, 티올기, 탄소수 1에서 10까지의 탄화 수소기에서 선택되어, 하나 이상은 수산기, 카르복실기, 술폰산기, 티올기를 나타내고, A1, B1, C1은 탄소 원자 또는 질소 원자이고, 각각 동일하거나 다를 수 있다. m은 O에서 10까지의 정수이고, 바람직하게는 O에서 4의 정수이고 1은 0 또는 1이고, 바람직하게는 0이고, p는 0 또는 1이고, 바람직하게는 0이고, q는 1 내지 3까지의 정수이고, 바람직하게는 1 및 2이고, r, s, t는 0 또는 1이다.
화학식 8에 있어서 1급 모노아민은 구체적으로는 5-아미노-8-히드록시퀴놀린, 4-아미노-8-히드록시퀴놀린, 1-히드록시-8-아미노나프탈렌, 1-히드록시-7-아미노나프탈렌, 1-히드록시-6-아미노나프탈렌, 1-히드록시-5-아미노나프탈렌, 1-히드록시-4-아미노나프탈렌, 1-히드록시-3-아미노나프탈렌, 1-히드록시-2-아미노나프탈렌, 1-아미노-7-히드록시나프탈렌, 2-히드록시-7-아미노나프탈렌, 2-히드록시-6-아미노나프탈렌, 2-히드록시-5-아미노나프탈렌, 2-히드록시-4-아미노나프탈렌, 2-히드록시-3-아미노나프탈렌, 1-아미노-2-히드록시나프탈렌, 1-카르복시-8-아미노나프탈렌, 1-카르복시-7-아미노나프탈렌, 1-카르복시-6-아미노나프탈렌, 1-카르복시-5-아미노나프탈렌, 1-카르복시-4-아미노나프탈렌, 1-카르복시-3-아미노나프탈렌, 1-카르복시-2-아미노나프탈렌, 1-아미노-7-카르복시나프탈렌, 2-카르복시-7-아미노나프탈렌, 2-카르복시-6-아미노나프탈렌, 2-카르복시-5-아미노나프탈렌, 2-카르복시-4-아미노나프탈렌, 2-카르복시-3-아미노나프탈렌, 1-아미노-2-카르복시나프탈렌, 2-아미노니코틴산, 4-아미노니코틴산, 5-아미노니코틴산, 6-아미노니코틴산, 4-아미노살리실산, 5-아미노살리실산, 6-아미노살리실산, 3-아미노-o-톨루인산, 아멜라이드, 2-아미노벤조산염, 3-아미노벤조산염, 4-아미노벤조산염, 2-아미노벤젠술폰산, 3-아미노벤젠술폰산, 4-아미노벤젠술폰산, 3-아미노-4,6-디히드록시피리미딘, 2-아미노페놀, 3-아미노페놀, 4-아미노페놀, 5-아미노-8-머캅토퀴놀린, 4-아미노-8-머캅토퀴놀린, 1-머캅토-8-아미노나프탈렌, 1-머캅토-7-아미노나프탈렌, 1-머캅토-6-아미노나프탈렌, 1-머캅토-5-아미노나프탈렌, 1-머캅토-4-아미노나프탈렌, 1-머캅토-3-아미노나프탈렌, 1-머캅토-2-아미노나프탈렌, 1-아미노-7-머캅토나프탈렌, 2-머캅토-7-아미노나프탈렌, 2-머캅토-6-아미노나프탈렌, 2-머캅토-5-아미노나프탈렌, 2-머캅토-4-아미노나프탈렌, 2-머캅토-3-아미노나프탈렌, 1-아미노-2-머캅토나프탈렌, 3-아미노-4,6-디머캅토피리미딘, 2-아미노티오페놀, 3-아미노티오페놀, 4-아미노티오페놀 등을 들 수 있다.
이들 중에서, 5-아미노-8-히드록시퀴놀린, 1-히드록시-7-아미노나프탈렌, 1-히드록시-6-아미노나프탈렌, 1-히드록시-5-아미노나프탈렌, 1-히드록시-4-아미노나프탈렌, 2-히드록시-7-아미노나프탈렌, 2-히드록시-6-아미노나프탈렌, 2-히드록시-5-아미노나프탈렌, 1-카르복시-7-아미노나프탈렌, 1-카르복시-6-아미노나프탈렌, 1-카르복시-5-아미노나프탈렌, 2-카르복시-7-아미노나프탈렌, 2-카르복시-6-아미노나프탈렌, 2-카르복시-5-아미노나프탈렌, 2-아미노벤조산염, 3-아미노벤조산염, 4-아미노벤조산염, 4-아미노살리실산, 5-아미노살리실산, 6-아미노살리실산, 2-아미노벤젠술폰산, 3-아미노벤젠술폰산, 4-아미노벤젠술폰산, 3-아미노-4,6-디히드록시피리미딘, 2-아미노페놀, 3-아미노페놀, 4-아미노페놀, 2-아미노티오페놀, 3-아미노티오페놀, 4-아미노티오페놀 등이 바람직하다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합시켜 사용된다.
화학식 9 및 화학식 10에 있어서 산무수물, 모노카르복실산, 모노산클로라이드 화합물, 모노활성에스테르 화합물의 구체예는, 무수프탈산, 무수말레인산, 나딕산, 시클로헥산디카르복실산 무수물, 3-히드록시프탈산 무수물 등의 산무수물, 2-카르복시페놀, 3-카르복시페놀, 4-카르복시페놀, 2-카르복시페놀, 3-카르복시티오페놀, 4-카르복시티오페놀, 1-히드록시-8-카르복시나프탈렌, 1-히드록시-7-카르복시나프탈렌, 1-히드록시-6-카르복시나프탈렌, 1-히드록시-5-카르복시나프탈렌, 1-히드록시-4-카르복시나프탈렌, 1-히드록시-3-카르복시나프탈렌, 1-히드록시-2-카르복시나프탈렌, 1-머캅토-8-카르복시나프탈렌, 1-머캅토-7-카르복시나프탈렌, 1-머캅토-6-카르복시나프탈렌, 1-머캅토-5-카르복시나프탈렌, 1-머캅토-4-카르복시나프탈렌, 1-머캅토-3-카르복시나프탈렌, 1-머캅토-2-카르복시나프탈렌, 2-카르복시벤젠술폰산, 3-카르복시벤젠술폰산, 4-카르복시벤젠술폰산 등의 모노카르복실산류 및 상기 카르복실기가 산클로라이드화된 모노산클로라이드 화합물 및 테레프탈산, 프탈산, 말레인산, 시클로헥산디카르복실산, 3-히드록시프탈산, 5-노르보넨-2,3-디카르복실산, 1,2-디카르복시나프탈렌, 1,3-디카르복시나프탈렌, 1,4-디카르복시나프탈렌, 1,5-디카르복시나프탈렌, 1,6-디카르복시나프탈렌, 1,7-디카르복시나프탈렌, 1,8-디카르복시나프탈렌, 2,3-디카르복시나프탈렌, 2,6-디카르복시나프탈렌, 2,7-디카르복시나프탈렌 등의 디카르복실산류의 모노카르복실기만이 산클로라이드화된 모노산클로라이드 화합물, 모노산클로라이드 화합물과 N-히드록시벤조트리아졸 또는 N-히드록시-5-노르보넨-2,3-디카르복시이미드와의 반응에 의해 얻어지는 활성 에스테르 화합물을 들 수 있다.
이들 중에서, 무수프탈산, 무수말레인산, 나딕산, 시클로헥산디카르복실산무수물, 3-히드록시프탈산무수물 등의 산무수물, 3-카르복시페놀, 4-카르복시페놀, 3-카르복시티오페놀, 4-카르복시티오페놀, 1-히드록시-7-카르복시나프탈렌, 1-히드록시-6-카르복시나프탈렌, 1-히드록시-5-카르복시나프탈렌, 1-머캅토-7-카르복시나프탈렌, 1-머캅토-6-카르복시나프탈렌, 1-머캅토-5-카르복시나프탈렌, 3-카르복시벤젠술폰산, 4-카르복시벤젠술폰산 등의 모노카르복실산류 및 이러한 카르복실기가 산클로라이드화된 모노산클로라이드 화합물 및 테레프탈산, 프탈산, 말레인산, 시클로헥산디카르복실산, 1,5-디카르복시나프탈렌, 1,6-디카르복시나프탈렌, 1,7-디카르복시나프탈렌, 2,6-디카르복시나프탈렌 등의 디카르복실산류의 모노카르복실기만이 산클로라이드화된 모노산클로라이드 화합물, 모노산클로라이드 화합물과 N-히드록시벤조트리아졸 또는 N-히드록시-5-노르보넨-2,3-디카르복시이미드와의 반응에 의해 얻어지는 활성 에스테르 화합물 등이 바람직하다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합시켜 사용된다.
화학식 8로 표시되는 성분 (화학식 1, 화학식 2의 구조 성분인 -NH-(R4)m-X)의 도입 비율은 그 원래 성분인 말단 봉지제의 1급 모노아민 성분으로 환산하면전체 아민 성분에 대하여, 0.1 내지 60 몰%의 범위가 바람직하고, 특히 바람직하게는 5 내지 50 몰% 이다.
화학식 9 또는 화학식 10으로 표시되는 성분(화학식 3, 화학식 4 의 구조 성분인 -CO-(R4)m-Y)의 도입 비율은 그 원래 성분인 말단 봉지제의 산무수물, 모노카르복실산, 모노산클로라이드 화합물, 모노활성 에스테르 화합물 성분으로 환산하면 디아민 성분에 대하여 0.1 내지 60 몰%의 범위가 바람직하고, 특히 바람직하게는 5 내지 55 몰% 이다.
화학식 1 및 화학식 2, 또는 화학식 3 및 화학식 4의 n은 본 발명 중합체의 구조 단위 반복수를 표시하고, 10 내지 100,000의 범위인 것이 바람직하다.
또한, 기판과의 접착성을 향상시키기 위해 내열성을 저하시키지 않는 범위에서 R1, R2에 실록산 구조를 갖는 지방족의 기를 공중합할 수도 있다. 구체적으로는 디아민 성분으로, 비스(3-아미노프로필)테트라메틸디실록산, 비스(p-아미노-페닐)옥타메틸펜타실록산 등을 1 내지 10 몰% 공중합한 것 등을 들 수 있다.
본 발명의 포지티브형 감광성 수지 조성물은 화학식 1 및(또는) 화학식 2, 또는 화학식 3 및(또는) 화학식 4로 표시되는 구조 단위만으로 이루어질 수 있고 다른 구조 단위와의 공중합체 또는 블레드체일 수도 있다. 그 때, 화학식 1 및(또는) 화학식 2, 또는 화학식 3 및(또는) 화학식 4으로 표시되는 구조 단위를 50 몰% 이상 함유하고 있는 것이 바람직하다. 공중합 또는 블레드에 이용되는 구조 단위의 종류 및 양은 최종 가열 처리에 의해 얻어지는 폴리이미드계 중합체의 내열성을손상시키지 않는 범위에서 선택하는 것이 바람직하다.
본 발명의 내열성 수지 전구체는 디아민의 일부를 모노아민인 말단 봉지제로 치환하거나 산 이무수물을, 모노카르복실산, 산무수물, 모노산클로라이드 화합물, 모노활성 에스테르 화합물인 말단 봉지제로 치환하고 공지된 방법을 이용하여 합성된다. 예를 들면, 저온에서 테트라카르복실산 이무수물과 디아민 화합물(일부를 모노아민인 말단 봉지제로 치환)을 반응시키는 방법, 저온에서 테트라카르복실산 이무수물(일부를 산무수물 또는 모노산클로라이드 화합물 또는 모노 활성 에스테르 화합물인 말단 봉지제로 치환)과 디아민 화합물을 반응시키는 방법, 테트라카르복실산 이무수물과 알코올에 의해 디에스테르를 얻고 그 후 디아민(일부를 모노아민인 말단 봉지제로 치환)과 축합제의 존재하에서 반응시키는 방법, 테트라카르복실산 이무수물과 알코올에 의해 디에스테르를 얻고 그 후 남은 디카르복실산을 산클로라이드화하여 디아민(일부를 모노아민인 말단 봉지제로 치환)과 반응시키는 방법 등을 이용하여 합성할 수 있다.
또한, 중합체 중에 도입된 본 발명에서 사용되는 말단 봉지제는, 이하의 방법으로 쉽게 검출할 수 있다. 예를 들면, 말단 봉지제가 도입된 중합체를, 산성 용액에 용해하여 중합체 구성 단위인 아민 성분과 산무수 성분으로 분해하고, 이것을 가스크로마토그래피(GC) 또는 NMR 측정함으로써, 본 발명에 사용된 말단 봉지제를 쉽게 검출할 수 있다. 이와는 별도로, 말단 봉지제가 도입된 중합체 성분을 직접 열 분해 가스크로마토그래피(PGC)나 적외 스펙트럼 및 C13 NMR 스펙트럼 측정으로도 쉽게 검출이 가능하다.
본 발명에서 사용되는 페놀성 수산기를 갖는 화합물로는, 예를 들면, Bis-Z, BisOC-Z, BisOPP-Z, BisP-CP, Bis26X-Z, BisOTBP-Z, BisOCHP-Z, BisOCR-CP, BisP-MZ, BisP-EZ, Bis26X-CP, BisP-PZ, BisP-IPZ, BisCR-IPZ, BisOCP-IPZ, BisOIPP-CP, Bis26X-IPZ, BisOTBP-CP, TekP-4HBPA(테트라키스 P-DO-BPA), TrisP-HAP, TrisP-PA, BisOFP-Z, BisRS-2P, BisPG-26X, BisRS-3P, BisOC-OCHP, BisPC-OCHP, Bis25X-OCHP, Bis26X-OCHP, BisOCHP-OC, Bis236T-OCHP, 메틸렌트리스-FR-CR, BisRS-26X, BisRS-OCHP (이상 상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품), BIR-OC, BIP-BlOC-F, TEP-BIP-A(이상 상품명, 아사히유끼자이고교(주)제품)를 들 수 있다.
또한, 페놀성 수산기를 갖는 화합물은 화학식 5로 표시되는 화합물이 바람직하다.
화학식 5에서 R5내지 R8은 수소 원자, 수산기, 탄소수 1에서 20까지의 알킬기, 탄소수 4에서 20까지의 지환식기를 나타내고, α는 0에서 5까지의 정수를 나타내고 바람직하게는 R7및 R8이 탄소수 4에서 20까지의 지환식기를 나타낸다.
화학식 5로 표시되는 것으로서, BisPC-PCHP, BisRS-PEP, BisTBC-PC, Bis24X-PC, Bis35X-PC, 메틸렌비스-p-CR, o,o'-BPF, oo-BisOC-F, oo-Bis25X-F, MB-PIPP,BisMHQ-F, Bis24X-F (이상 상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품), BIHQ-PC, BI2MR-PC, BI4MC-PC, BIR-34X, BIR-PAP, BIPC-PC, BIR-PC, BlR-PTBP, BIR-PCHP, 4PC, BIR-BlPC-F (이상 상품명, 아사히유끼자이고교(주)제품)를 들 수 있다.
또한, 페놀성 수산기를 갖는 화합물은 화학식 6으로 표시되는 유기기를 함유하는 열 가교성 화합물이 바람직하다.
화학식 6에서 R9는 수소 원자, 탄소수 1에서 20까지의 알킬기, 탄소수 4에서 20까지의 지환식기 또는 R10CO 기를 나타내고 R10은 탄소수 1에서 20까지의 알킬기를 나타내고 또한 바람직하게는 R9가 탄소수 1에서 20까지의 알킬기, 탄소수 4에서 20까지의 지환식기를 나타낸다.
화학식 6으로 표시되는 기를 함유하는 열 가교성 화합물로서는, 예를 들면 상기 유기기를 1개 갖는 것으로 ML-26X, ML-24X, ML-236TMP, 4-메틸올3M6C, ML-MC, ML-TBC (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 등, 2개 갖는 것으로 DM-BI25X-F (상품명, 아사히유끼자이고교(주)제품), DML-MBPC, DML-MBOC, 디메틸올-Bis-C, 디메틸올-BisOC-P, DML-BisOC-Z, DML-BisOCHP-Z, DML-MB25, DML-MTrisPC, DML-B is25X-34XL, DML-Bis25X-PCHP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품)를 들 수 있다. 3개 갖는 것으로 TriML-P, TriML-35XL, TriML-TrisCR-HAP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주) 제품) 등, 4개 갖는 것으로 TM-BIP-A (상품명, 아사히유끼자이고교(주)제품), TML-BP, TML-HQ, TML-pp-BPF, TML-BPA, TMOM-BP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 등, 6개 갖는 것으로 HML-TPPHBA, HML-TPHAP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품)을 들 수 있다.
또한, 화학식 6으로 표시되는 유기기를 함유하는 열 가교성 화합물로 화학식 7로 표시되는 화합물이 바람직하다.
화학식 7에서 R9는 상기와 동일하고, R11및 R12는 수소 원자, 탄소수 1에서 20까지의 알킬기, 탄소수 4에서 20까지의 지환식기 또는 R13'COO 기를 나타내고, R13'은 탄소수 1에서 20까지의 알킬기를 나타낸다.
화학식 7로 표시되는 화합물로는, 46DMOC, 46DMOIPP, 46DMOEP, 46 DMOCHP (상품명, 아사히유끼자이고교(주)제품), DML-OCHP, DML-PC, DML-PCHP, DML-PTBP, DML-34X, DML-EP, DML-POP, DML-OC, DML-PFP, DML-PSBP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품), 2,6-디메톡시메틸-4-t-부틸페놀, 2,6-디메톡시메틸-p-크레졸, 2, 6-디아세톡시메틸-p-크레졸 등을 들 수 있다.
이 중에서, 바람직하게는 Bis-Z, BisP-EZ, TekP-4HBPA, TrisP-HAP, TrisP-PA, BisOCHP-Z, BisP-MZ, BisP-PZ, BisP-IPZ, BisOCP-IPZ, BisP-CP, BisRS-2P, BisRS-3P, BisP-OCHP, 메틸렌트리스-FR-CR, BisRS-26X, 화학식 5로 표시되는 것으로는, BisPC-PCHP, BisTBC-PC, Bis35X-PC, 메틸렌비스-p-CR, o,o'-BPF, MB-PlPP, BisMHQ-F, Bis24X-F (이상, 상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품), BI2MR-PC, BI4MC-PC, BlR-PAP, BlPC-PC, BIR-PC, BIR-PTBP, BIR-PCHP, 4PC, BIR-BIPC-F (이상, 상품명, 아사히유끼자이고교(주)제품) 및 화학식 6으로 표시되는 기를 함유하는 열 가교성 화합물로는, 상기 유기기를 2개 갖는 것으로 DML-MBPC, DML-MBOC, 디메틸올-BisOC-P, DML-MTrisPC 및 화학식 7로 표시되는 화합물로는 46DMOC, 46DMOEP, 46DMOCHP, DML-OCHP, DML-PC, DML-PCHP, DML-PTBP, DML-34X, DML-EP, DML-POP, DML-PFP, DML-PSBP, 2,6-디메톡시메틸-4-t-부틸페놀, 2,6-디메톡시메틸-p-크레졸, 2,6-디아세톡시메틸-p-크레졸 등, 3개 갖는 것으로는 TriML-P, TriML-35XL 등, 4개 갖는 것으로는 TM-BIP-A, TML-BP, TML-HQ, TML-pp-BPF, TML-BPA, TMOM-BP 등, 6개 갖는 것으로는 HML-TPPHBA, HML-TPHAP를 들 수 있다.
이 중에서 특히 바람직하게는 Bis-Z, TekP-4HBPA, TrisP-HAP, TrisP-PA, 화학식 5로 표시되는 것으로는 Bis PC-PCHP, BisTBC-PC, BI2MR-PC, BI4MC-PC, BIR-PAP, BIPC-PC, BIR-PC, BIR-PTBP, BIR-PCHP, 4PC, BIR-BIPC-F 및 화학식 6으로 표시되는 기를 함유하는 열 가교성 화합물로는 상기 유기기를 2개 갖는 것으로 DML-MBPC, DML-MBOC 및 화학식 7로 표시되는 화합물로는 DML-OCHP, DML-PC, DML-PCHP, DML-PTBP, DML-POP, 2,6-디메톡시메틸-4-t-부틸페놀, 2,6-디메톡시메틸-p-크레졸, 2,6-디아세톡시메틸-p-크레졸 등을 들 수 있다.
이 중에서 더욱 바람직하게는 화학식 5로 표시되는 것으로 BisPC-PCHP, BIR-PCHP, BIPC-PC 및 화학식 7로 표시되는 화합물로는 DML-OCHP, DML-PC, DML-PCHP, DML-PTBP, DML-POP, 2,6-디메톡시메틸-4-t-부틸페놀, 2,6-디메톡시메틸-p-크레졸, 2,6-디아세톡시메틸-p-크레졸 등을 들 수 있다.
이 페놀성 수산기를 갖는 화합물을 첨가함으로써 얻어지는 수지 조성물은 노광 전에는 알칼리 현상액에 거의 용해되지 않고, 노광하면 쉽게 알칼리 현상액에 용해되기 때문에 현상에 의한 막감소가 적고, 단시간에 현상이 쉬워진다.
이러한 페놀성 수산기를 갖는 화합물의 첨가량으로는 중합체 100 중량부에 대해, 바람직하게는 1에서 50 중량부, 더욱 바람직하게는, 3에서 40 중량부 범위이다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합시켜 사용된다.
본 발명에 첨가되는 (c) 에스테르화된 퀴논디아지드 화합물로는, 페놀성 수산기를 갖는 화합물에 나프토퀴논디아지드의 술폰산이 에스테르를 통해 결합한 화합물이 바람직하다. 여기서 사용되는 페놀성 수산기를 갖는 화합물은 (b)의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과 동일하거나 다를 수 있다. 이러한 화합물로는, 바람직하게는 Bis-Z, BisP-EZ, TekP-4HBPA, TrisP-HAP, TrisP-PA, BisOCHP-Z, BisP-MZ, BisP-PZ, BisP-IPZ, BisOCP-IPZ, BisP-CP, BisRS-2P, BisRS-3P, BisP-OCHP, 메틸렌트리스-FR-CR, BisRS-26X(이상 상품명, 혼슈가가꾸고교 (주)제품), BIR-OC, BIP-PC, BIR-PC, BIR-PTBP, BIR-PCHP, BIP-BIOC-F, 4PC, BIR-BIPC-F, TEP-BIP-A (이상, 상품명 아사히유끼자이고교(주)제품), 나프톨, 테트라히드록시벤조페논, 몰식자산메틸에스테르, 비스페놀 A, 메틸렌비스페놀, BisP-AP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품)등의 화합물에 4-나프토퀴논디아지드술폰산 또는 5-나프토퀴논디아지드술폰산을 에스테르 결합을 통해 도입한 것을 예시할 수 있지만, 이 이외의 화합물을 사용하는 것도 가능하다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합시켜 사용된다.
또한, 본 발명에서 사용되는 나프토퀴논디아지드 화합물의 분자량이 1000보다 커지면, 그 후의 열 처리에 있어서 나프토퀴논디아지드 화합물이 충분한 열 분해가 되지 않기 때문에, 얻어지는 막의 내열성이 저하하거나, 기계 특성 저하, 접착성 저하 등의 문제가 발생될 가능성이 있다. 이러한 관점에서 본다면, 바람직한 나프토퀴논디아지드 화합물의 분자량은 300에서 1,000이다. 더욱 바람직하게는, 350에서 800이다. 이러한 나프토퀴논디아지드 화합물의 첨가량으로는 중합체 100 중량부에 대해 바람직하게는 1에서 50 중량부이다.
또한, 필요에 따라 상기 감광성 내열성 전구체 조성물과 기판과의 도포성을 향상시킬 목적으로 계면 활성제, 젖산 에틸이나 프로필렌글리콜 모노메틸에테르아세테이트 등의 에스테르류, 에탄올 등의 알코올류, 시클로헥사논, 메틸이소부틸케톤등의 케톤류, 테트라히드로푸란, 디옥산 등의 에테르류를 혼합할 수도 있다. 또한, 이산화규소, 이산화 티탄 등의 무기 입자, 또는 폴리이미드의 분말 등을 첨가하는 것도 가능하다.
또한, 실리콘 웨이퍼 등의 기판과의 접착성을 높이기 위해, 실란 커플링제, 티탄 킬레이트제 등을 감광성 내열성 수지 전구체 조성물의 와니스에 0.5에서 10 중량% 첨가하거나, 기판을 이러한 화학 약품으로 사전 처리하는 것도 가능하다.
와니스에 첨가할 경우, 메틸메타크릴옥시디메톡시실란, 3-아미노프로필트리메톡시실란 등의 실란 커플링제, 티탄 킬레이트제, 알루미늄 킬레이트제를 와니스 중의 중합체에 대해 0.5에서 10 중량% 첨가한다.
기판을 처리할 경우, 상술한 커플링제를 이소프로판올, 에탄올, 메탄올, 물, 테트라히드로푸란, 프로필렌글리콜 모노메틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜 모노메틸에테르, 젖산에틸, 아디핀산디에틸 등의 용매에 0.5에서 20 중량% 용해시킨 용액을 스핀 코트, 침지, 스프레이 도포, 증기 처리 등으로 표면 처리를 한다. 경우에 따라서 그 후 50 ℃에서 300 ℃까지의 온도를 올려서 기판과 상기 커플링제와의 반응을 진행시킨다.
다음으로 본 발명의 감광성 내열성 전구체 조성물을 이용하여 내열성 수지 패턴을 형성하는 방법에 대해 설명한다.
감광성 내열성 전구체 조성물을 기판상에 도포한다. 기판으로는 실리콘 웨이퍼, 세라믹스류, 갈륨비소, 소다 유리, 석영 유리 등이 사용되지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 도포 방법으로는 스피너를 이용한 회전 도포, 스프레이 도포, 롤코팅 등의 방법이 있다. 또한, 도포막 두께는 도포방법, 조성물의 고형분 농도, 점도 등에 의해 다르지만 통상 건조 후의 막 두께가 0.1에서 10 ㎛이 되도록 도포한다.
다음으로 감광성 내열성 전구체 조성물을 도포한 기판을 건조하여, 감광성 내열성 전구체 조성물 피막을 얻는다. 건조는 오븐, 핫 플레이트, 적외선 등을 사용하여 50 ℃에서 180 ℃의 범위로 1분에서 여러 시간 하는 것이 바람직하다.
다음에, 이 감광성 내열성 전구체 조성물 피막상에 원하는 패턴을 갖는 마스크를 통해 화학선을 조사하여 노광한다. 노광에 사용되는 화학선으로는 자외선, 가시광선, 전자선, X선 등이 있지만, 본 발명에서는 수은등의 i선(365 nm), h 선(405 nm), g선(436 nm)을 사용하는 것이 바람직하다.
내열성 수지의 패턴을 형성하기 위해서는 노광 후, 현상액을 사용하여 노광부를 제거함으로써 달성된다. 현상액으로는 테트라메틸암모늄의 수용액, 디에탄올아민, 디에틸아미노에탄올, 수산화나트륨, 수산화칼륨, 탄산나트륨, 탄산칼륨, 트리에틸아민, 디에틸아민, 메틸아민, 디메틸아민, 아세트산디메틸아미노에틸, 디메틸아미노에탄올, 디메틸아미노에틸메타크릴레이트, 시클로헥실아민, 에틸렌디아민, 헥사메틸렌디아민 등의 알칼리성을 나타내는 화합물 수용액이 바람직하다. 또한 경우에 따라서 이러한 알칼리 수용액에 N-메틸-2-피롤리돈, N,N-디메틸포름아미드, N,N-디메틸아세트아미드, 디메틸술폭시드, γ-부티로락톤, 디메틸아크릴아미드 등의 극성용매, 메탄올, 에탄올, 이소프로판올 등의 알코올류, 젖산에틸, 프로필렌글리콜 모노메틸에테르아세테이트 등의 에스테르류, 시클로펜타논, 시클로헥사논, 이소부틸케톤, 메틸이소부틸케톤 등의 케톤류 등을 단독 또는 수종을 조합시킨 것을 첨가할 수도 있다. 현상 후에는 물로 린스 처리를 한다. 여기에서도 에탄올, 이소프로필 알코올 등의 알코올류, 젖산에틸, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 등의 에스테르류 등을 물에 첨가하여 린스 처리를 할 수도 있다.
현상 후, 180 ℃에서 500 ℃의 온도를 가하면 내열성 수지 피막으로 변환된다. 이 가열 처리는 온도를 선택하여 단계적으로 승온시키거나, 온도 범위를 선택하여 연속적으로 승온하면서 5분에서 5시간 실시한다. 일례로서는, 130 ℃, 200 ℃, 350 ℃에서 각 30분씩 열 처리하거나 실온에서 250 ℃까지 2 시간 또는 400 ℃까지 2 시간 직선적으로 승온하는 등의 방법을 들 수 있다.
본 발명에 의한 감광성 내열성 전구체 조성물에 의해 형성한 내열성 수지 피막은, 반도체의 패시베이션막, 반도체 소자의 보호막, 유기전계발광소자 등을 탑재한 표시 장치에 있어서의 절연층 등의 용도로 사용된다.
또한 본 발명의 조성물을 이용하여 표시 장치에 형성되는 절연층은, 기판상에 형성된 제1 전극과, 상기 제1 전극에 대향하여 설치된 제2 전극을 포함하는 표시 장치에 관한 것으로, 구체적으로 예를 들면, LCD, ECD, ELD, 유기전계발광소자를 이용한 표시 장치(유기전계발광 장치) 등이 해당된다. 유기전계발광 장치란, 기판상에 형성된 제1 전극과, 제1 전극상에 형성된 적어도 유기 화합물로 이루어지는 발광층을 포함하는 박막층과, 박막층상에 형성된 제2 전극을 포함하는 유기전계 발광 소자로 이루어지는 표시 장치이다.
이하, 실시예 및 기술을 들어 본 발명을 설명하지만, 본 발명은 이러한 예에 한정되는 것은 아니다. 또한, 실시예 중의 감광성 내열성 수지 전구체 조성물의 평가는 이하의 방법에 의해 행해진다.
<감광성 폴리이미드 전구체막 제작>
15.24 cm (6 인치) 실리콘웨이퍼 상에, 감광성 내열성 수지 전구체 조성물(이하 "와니스"라 함)를 프리베이킹 후의 막 두께가 1.5 ㎛가 되도록 도포하고 계속해서 핫 플레이트 (다이니폰스크린제조(주)제품 SCW-636)를 이용하여, 120 ℃에서 3분 프리베이킹함으로써, 감광성 폴리이미드 전구체 막을 얻었다.
<막 두께 측정 방법>
다이니폰스크린제조(주)제품 람다에이스 STM-602를 사용하여, 굴절율 1.64로 측정하였다.
<노광>
노광기 (캐논(주)제품 컨택트얼라이너 PLA50lF)에, 니콘 테스트 패턴을 셋트하고 자외선 강도 10 mW/cm2(365 nm 환산)에서 소정 시간, 자외선 전체 파장 노광하였다.
<현상>
수산화테트라메틸암모늄의 2.38 % 수용액으로 이루어지는 현상액을 사용하여, 23 ℃에서 60 초간 침지 현상을 실시하였다. 계속해서 물로 20초간 린스 처리 후, 건조시켰다.
<잔막율 산출>
잔막율은 이하의 식에 의해 산출하였다.
잔막율(%) = 현상 후의 막 두께÷프리베이킹 후의 막 두께 × 100
<감도 산출>
노광, 현상 후, 50 ㎛의 라인·앤드·스페이스 패턴(1L/1S)을 1 대 1 폭으로 형성하는 노광량 (이하, 이것을 "최적노광량"이라 함)을 구하였다.
<해상도 산출>
노광, 현상 후, 50 ㎛의 라인·앤드·스페이스 패턴(1L/1S)을 1 대 1 폭으로 형성하는 최적 노광량에서의 최소의 패턴 치수를 해상도로 하였다.
<합성예 1> 활성 에스테르 화합물 (a)의 합성
건조 질소 기류하에서 4-카르복시벤조산 클로라이드 18.5 g(0.1 몰)과 히드록시벤조트리아졸 13.5 g(0.1 몰)을 테트라히드로푸란(THF) 100 g에 용해시켜, -15℃로 냉각하였다. 여기에 THF 50 g에 용해시킨 트리에틸아민 10.0 g(0.1 몰)을 반응액 온도가 O ℃를 넘지 않도록 적하하였다. 적하종료 후, 25 ℃에서 4시간 반응시켰다. 이 용액을 회전 증발기로 농축하여 활성 에스테르 화합물 (a)를 얻었다.
화합물 (a)
<합성예 2> 피로멜리트산 디에틸에스테르디클로라이드 용액 (b)의 합성
건조 질소 기류하에서 피로멜리트산 이무수물 17.4 g(0.08몰), 에틸알코올 36.9 g(0.8 몰)을 95 ℃에서 6시간 교반 반응시켰다. 잉여 에탄올을 감압하에서 증류제거하여, 피로멜리트산 디에틸에스테르를 얻었다. 이어서 염화티오닐을 95.17 g(0.8 몰), 테트라히드로푸란(THF) 70 g을 넣고 40 ℃에서 3 시간 반응시켰다. N-메틸피롤리돈 200 g을 첨가하고 감압에 의해 잉여 염화티오닐 및 THF를 제거하고 피로멜리트산 디에틸에스테르 디클로라이드 용액(b) 227.8 g(0.08 몰)을 얻었다.
<합성예 3>
3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 디에틸에스테르 디클로라이드 용액 (c)의 합성
건조 질소 기류하에서 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 이무수물 25.78 g (0.08 몰), 에탄올 36.90 g (0.8 몰)을 95 ℃에서 6시간 교반 반응시켰다. 잉여 에탄올을 감압하에서 증류제거하여, 3,3'4,4'-벤조페논테트라카르복실산 디에틸에스테르를 얻었다. 이어서 염화티오닐을 95.17 g (0.8 몰), 테트라드로푸란(THF)70 g을 넣고 40 ℃에서 3 시간 반응시켰다. 계속해서 N-메틸피롤리돈 200 g을 첨가하여, 감압에 의해 잉여 염화티오닐 및 THF를 제거하고, 3,3'4,4,-벤조페논테트라카르복실산 디에틸에스테르 디클로라이드 용액 (c) 233.15 g(0.08 몰)을 얻었다.
<합성예 4> 퀴논디아지드 화합물 (1)의 합성
건조 질소 기류하에서 TrisP-HAP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 21.23 g (0.05 몰)과 5-나프토퀴논디아지드술포닐산클로라이드 33.58 g (0.125 몰)을 1,4-디옥산 450 g에 용해시켜 실온으로 하였다. 여기에, 1,4-디옥산 50 g과 혼합시킨 트리에틸아민 12.65 g (0.125 몰)을 반응계가 35 ℃ 이상을 넘지 않도록 하여 적하하였다. 적하 후 30 ℃에서 2 시간 교반하였다. 트리에틸아민염을 여과하여, 여과액을 물에 투입시켰다. 그 후, 석출된 침전을 여과하여 모았다. 이 침전을 진공 건조기로 건조시켜 퀴논디아지드 화합물 (1)을 얻었다.
<합성예 5> 퀴논디아지드 화합물 (2)의 합성
건조 질소 기류하에서 TrisP-HAP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 15.31 g (0.05 몰)과 5-나프토퀴논디아지드술포닐산클로라이드 40.28 g (0.15 몰)을 1,4-디옥산 450 g에 용해시켜 실온으로 하였다. 여기에, 1,4-디옥산 50 g과 혼합시킨 트리에틸아민 15.18 g(0.15 몰)을 사용하여 합성예 4와 동일하게 하여 퀴논디아지드화합물 (2)를 얻었다.
<합성예 6> 퀴논디아지드 화합물 (3)의 합성
건조 질소 기류하에서 4-이소프로필페놀 6.81 g (0.05 몰)과 5-나프토퀴논디아지드술포닐산클로라이드 13.43 g (0.05 몰)을 1,4-디옥산 450 g에 용해시켜 실온으로 하였다. 여기에, 1,4-디옥산 50 g과 혼합시킨 트리에틸아민 5.06 g을 사용하여 합성예 4와 동일하게 하여 퀴논디아지드 화합물 (3)을 얻었다.
<합성예 7> 퀴논디아지드 화합물 (4)의 합성
건조 질소 기류하에서 비스페놀 (A) 11.41 g (0.05 몰)과 5-나프토퀴논디아지드술포닐산클로라이드 26.86 g(0.1 몰)을 1,4-디옥산 450 g에 용해시켜 실온으로 하였다. 여기에, 1,4-디옥산 50 g과 혼합시킨 트리에틸아민 10.12 g을 사용하여 합성예 4와 동일하게 하여 퀴논디아지드 화합물 (4)를 얻었다.
마찬가지로, 각 실시예, 비교예에 사용한 페놀성 수산기를 갖는 화합물을 하기에 표시하였다.
<실시예 1>
건조 질소 기류하에서 4,4'-디아미노디페닐에테르 10.89 g(0.054 몰), 1,3-비스(3-아미노프로필)테트라메틸디실록산 1.86 g (0.007 몰), 말단 봉지제로서 3-아미노페놀 (도쿄가세이고교(주)제품) 2.05 g(0.019 몰)을 N-메틸-2-피롤리돈 (NMP) 20 g에 용해시켰다. 여기에 비스(3,4-디카르복시페닐)에테르 이무수물 23.27 g(0.075 몰)을 NMP 15 g과 동시에 첨가하여, 20 ℃에서 1 시간 반응시키고 계속해서 50 ℃에서 4 시간 반응시켰다. 그 후, N,N-디메틸포름아미드 디메틸아세탈 15.19 g(0.127 몰)을 NMP 4 g으로 희석시킨 용액을 10 분간 적하하였다. 적하 후, 50 ℃에서 3 시간 교반하였다. 계속해서 NMP 123.9 g을 첨가하여 이것을 중합체 용액 (A)로 하였다.
얻어진 중합체 용액 (A)에 상기에 표시한 나프토퀴논디아지드 화합물 (1)을 7 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서 Bis-Z(상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품)4 g을 첨가하여 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (A)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기와 같이 실리콘 웨이퍼상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하고 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해 평가하였다.
<실시예 2>
건조 질소 기류하에서 4,4'-디아미노디페닐에테르 10.14 g (0.051 몰), 1,3-비스(3-아미노프로필)테트라메틸디실록산 1.86 g (0.0075 몰), 말단 봉지제로서의 1-카르복시-5-아미노나프탈렌(도쿄가세이고교(주)제품) 6.31 g (0.034 몰), 피리딘 11.93 g (0.151 몰)을 N-메틸-2-피롤리돈 (NMP) 50 g에 용해했다. 여기에, 피로멜리트산 디에틸에스테르 디클로라이드 용액 (b) 216.8 g(0.076 몰)을, 반응계가 10 ℃ 이상을 넘지 않도록 적하하였다. 적하 후, 실온에서 6시간 교반하였다. 반응 종료 후, 용액을 물 2 리터에 투입하여, 중합체의 고체 침전을 여과하여 모았다. 중합체 고체를 80 ℃의 진공 건조기에서 20 시간 건조하여, 이것을 중합체 고체 (B)로 하였다.
이와 같이 하여 얻은 중합체 고체 (B) 10 g을 계량하고 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (2) 2.9 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서의 BisRS-2P (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 2.4 g, 비닐트리메톡시실란 0.3 g을 감마부티로락톤 70 g에 용해시켜 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (B)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하고, 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 3>
건조 질소 기류하에서 4,4'-디아미노디페닐술폰 12.42 g (0.016 몰), 1,3-비스(3-아미노프로필)테트라메틸디실록산 1.39 g(0.0056 몰), 말단 봉지제로서의 활성 에스테르 화합물 (a) 5.38 g (0.019 몰), 피리딘 7.03 g (0.089 몰)을 N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 50 g에 용해시키고 실온에서 2 시간 반응시켰다. 여기에, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산디에틸에스테르디클로라이드용액 (c) 128.2 g (0.044 몰)을, 반응계가 10 ℃ 이상을 넘지 않도록 적하하였다. 적하 후, 실온에서 6시간 교반하였다. 반응 종료 후, 용액을 물 2 리터에 투입하여, 중합체의 고체 침전을 여과하여 모았다. 중합체 고체를 80 ℃의 진공 건조기로 20 시간 건조하여 이것을 중합체 고체 (C)로 하였다.
이와 같이 하여 얻은 중합체 고체 (C) 10 g을 계량하고 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (3) 1.7 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서의 TrisP-PA(상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 1.7 g을 N-메틸-2-피롤리돈 70 g에 용해시켜 감광성폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (C)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이, 실리콘 웨이퍼상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하고, 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 4>
건조 질소 기류하에서 4,4'-디아미노디페닐 메탄 9.91 g(0.056 몰), 1,3-비스(3-아미노프로필)테트라메틸디실록산 1.39 g (0.0056 몰), 말단 봉지제로서의 3-히드록시프탈산무수물(도쿄가세이고교(주)제품) 3.12 g (0.019 몰)을 N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 50 g에 용해시켰다. 여기에 비스(3,4-디카르복시페닐)에테르 이무수물 13.65 g (0.044 몰)을 NMP 14 g과 동시에 첨가하여 20 ℃에서 1 시간 반응시키고, 이어서 50 ℃에서 4 시간 반응시켰다. 그 후, N,N-디메틸포름아미드 디메틸아세탈 16.09 g (0.135 몰)을 NMP 5 g에서 희석한 용액을 10분간 적하하였다. 적하 후, 50 ℃에서 3 시간 교반하였다. 계속해서 NMP 125 g을 첨가하여 이것을 중합체 용액 (D)로 하였다.
얻어진 중합체 용액 (D)에, 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (4) 8 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서의 BIR-PC (상품명, 아사히유끼자이고교(주)제품) 2.6 g을 용해시켜 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (D)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여, 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 5>
건조 질소 기류하에서 p-페닐렌디아민 5.41 g (0.016 몰), 1,3-비스(3-아미노프로필)테트라메틸디실록산 1.39 g(0.0056 몰), 피리딘 6.16 g (0.078 몰)을 N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 50 g에 용해시키고, 실온에서 2 시간 반응하였다. 여기에, 3,3'4,4'-벤조페논테트라카르복실산 디에틸에스테르 디클로라이드 용액(c) 113.66 g (0. 039 몰)을, 반응계가 10 ℃ 이상을 넘지 않도록 적하하였다. 적하 후, 실온에서 4시간 교반하였다. 이어서 말단 봉지제로서, 무수말레인산 2.72 g (0.0278 몰)을 첨가하고, 50 ℃에서 3 시간 교반 반응시켰다. 반응 종료 후, 용액을 물 2 리터에 투입하고, 중합체의 고체 침전을 여과하여 모았다. 중합체의 고체를 80 ℃의 진공 건조기로 20 시간 건조하여 이것을 중합체 고체 (E)로 하였다.
이와 같이 하여 얻어진 중합체 고체 (E) 10 g에 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물(2) 2 g, Bis-Z (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) l g을 NMP 70 g에 용해시켜 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (E)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하고, 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 6>
건조 질소 기류하에서 4,4'-디아미노디페닐에테르 10.0l g (O.05 몰), 1,3-비스(3-아미노프로필)테트라메틸디실록산 0.65 g (0.0026 몰), 말단 봉지제로서의4-카르복시벤조산클로라이드 5.35 g (0.029 몰), 피리딘 8.11 g (0.103 몰)을 N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 50 g에 용해시켰다. 여기에, 피로멜리트산 디에틸에스테르디클로라이드 용액 (b) 104.6 g (0.037 몰)을, 반응계가 10 ℃ 이상을 넘지 않도록 적하하였다. 적하 후, 실온에서 6시간 교반하였다. 반응 종료 후, 용액을 물 2 리터에 투입하고, 중합체의 고체 침전을 여과하여 모았다. 중합체의 고체를 80 ℃의 진공 건조기로 20 시간 건조하여 이것을 중합체의 고체 (F)로 하였다.
이와 같이 하여 얻은 중합체의 고체 (F) 10 g을 달아, 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (2) 2 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서 BIR-PC(상품명, 아사히유끼자이고교(주)제품) 2 g, 비닐트리메톡시실란 0.3 g을 감마부티로락톤 70 g에 용해시켜 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (F)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 7>
실시예 1에서 얻어진 중합체 용액 (A)에 상기에 나타낸 나프토퀴논 디아지드 화합물 (1) 7 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서의 BisPC-PCHP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 6.2 g을 첨가하여 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (G)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 8>
실시예 2에서 얻은 중합체의 고체 (B) l0 g을 계량하고 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (2) 2.9 g, 페놀 수산기를 갖는 화합물로서의 4 PC (상품명, 아사히유끼자이고교(주)제품) 3.5 g, 비닐트리메톡시실란 0.3 g을 감마 부티로락톤 70 g에 용해시켜 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (H)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 9>
실시예 3에서 얻은 중합체의 고체 (C) 10 g을 계량하고, 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (3) 1.7 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서의 BIR-PCHP (상품명, 아사히유끼자이고교(주)제품) 1.7 g을 N-메틸-2-피롤리돈 70 g에 용해시키고 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (I)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 10>
실시예 4에서 얻어진 중합체 용액 (D)에, 상기에 나타낸 나프톡시디아지드 화합물 (4) 8 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서의 DML-MBPC (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 2.1 g을 용해시켜 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (J)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 11>
실시예 1에서 얻어진 중합체 용액 (A)에 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (1) 7 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서의 DML-PC (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 2.5 g을 첨가하여 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (K)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 12>
실시예 2에서 얻은 중합체의 고체 (B) l0 g을 계량하고 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (2) 2.9 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서의 DML -PTBP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 1.6 g, 비닐트리메톡시실란 0.3 g을 감마부티로락톤 70 g에 용해시켜 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (L)을 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 13>
실시예 3에서 얻은 중합체의 고체 (C) 10 g을 계량하고 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (3) 1.7 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서의 2,6-디메톡시메틸-4-t-부틸페놀(혼슈가가꾸고교(주)제품) 1.0 g을 N-메틸-2-피롤리돈 70 g에 용해시켜 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (M)을 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 14>
실시예 1에서 얻어진 중합체 용액 (A)에 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (1) 7 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서의 2,6-디아세톡시메틸-p-크레졸 3.8 g을 첨가하여 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (N)을 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 15>
실시예 2에서 얻은 중합체의 고체 (B), 10 g을 계량하고 상기에 나타낸 나프토퀴논디아지드 화합물 (2) 2.9 g, 페놀성 수산기를 갖는 화합물로서 DML-PCHP (상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 1.2 g, BisPC-PCHP(상품명, 혼슈가가꾸고교(주)제품) 1.2 g, 비닐트리메톡시실란 0.3 g을 감마부티로락톤 70 g에 용해시켜 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (P)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<실시예 16>
두께 1.1 mm의 무알칼리 유리 표면에 스퍼터링 증착법에 의해 두께 130 nm의 ITO 투명 전극막이 형성된 유리 기판을 120×100 mm의 크기로 절단하였다. ITO 기판상에 포토레지스트를 도포하여, 통상의 포토리소그래피법에 의한 노광·현상에 의해 패터닝하였다. ITO의 불필요 부분을 에칭하여 제거한 후, 포토레지스트를 제거하는 것으로, ITO 막을 스트라이프 형상으로 패터닝하였다. 이 스트라이프 형상 제 1전극은 100 ㎛ 피치이다.
다음으로 NMP를 이용하여 실시예 1에서 얻어진 와니스 (A)의 농도를 조정하고 스핀코트법에 의해 제1 전극을 형성한 기판상에 도포하여, 핫 플레이트 상에서 120 ℃에서 3 분간 프리베이킹하였다. 이 막에 포토마스크를 통해 UV 노광한 후, 2.38 % TMAH 수용액으로 노광 부분만을 용해시키는 것으로 현상하고, 순수한 물로 린스하였다. 얻어진 폴리이미드 전구체 패턴을 크린오븐 중의 질소 분위기하에서 170 ℃에서 30 분, 320 ℃에서 60분 더 가열하여 경화하고 절연층을 제1 전극의 엣지를 덮도록 형성하였다. 절연층의 두께는 약 1 ㎛ 이었다.
다음으로 절연층을 형성한 기판을 이용하여 유기전계발광 장치를 제작하였다. 발광층을 포함하는 박막층은, 저항선 가열 방식에 의한 진공 증착법에 의해서 형성하였다. 기판 유효 영역 전체면에 증착하여 정공 수송층을 형성하고 섀도 마스크를 이용하여 발광층, 제2 전극의 알루미늄을 형성하였다.
얻어진 상기 기판을 증착기에서 꺼내고, 기판과 봉지용 유리판을 경화성 에폭시 수지를 이용하여 접합시킴으로써 봉지하였다. 이와 같이 하여 ITO 스트라이프 형상 제1 전극상에 패터닝된 발광층이 형성되어, 제1 전극과 직교하도록 스트라이프 형상 제2 전극이 배치된 단순 매트릭스형 컬러 유기전계발광 장치를 제작하였다. 본 표시 장치를 선 순차구동한 바, 양호한 표시 특성을 얻을 수 있었다. 절연층의 경계 부분에서 박막층이나 제2 전극이, 얇아지거나 단절되지 않았고 순조롭게 성막되었기 때문에, 발광 영역내에서의 휘도 얼룩짐이 없었고, 안정적인 발광을 얻을 수 있었다. 또한, 절연층의 단면은 테이퍼 형상으로 되어 있었다.
<실시예 17>
실시예 7에서 얻어진 와니스 (G)를 이용하여, 경화 조건을 230 ℃에서 30분으로 한 이외에는 실시예 16과 동일하게 하여, 단순 매트릭스형 컬러 유기전계발광 장치를 제작하였다. 본 표시 장치를 선 순차구동한 바, 휘도 얼룩짐이 없었고 양호한 표시 특성을 얻을 수 있었다.
<실시예 18>
실시예 8에서 얻어진 와니스 (H)를 이용하여, 경화 조건을 250 ℃에서 30분으로 한 이외에는 실시예 16과 동일하게 하여, 단순 매트릭스형 컬러 유기전계발광 장치를 제작하였다. 본 표시 장치를 선 순차구동한 바, 휘도 얼룩짐이 없었고 양호한 표시 특성을 얻을 수 있었다.
<실시예 19>
실시예 11에서 얻어진 와니스 (K)를 이용하여, 경화 조건을 230 ℃에서 30분으로 한 이외에는 실시예 16과 동일하게 하여, 단순 매트릭스형 컬러 유기전계발광 장치를 제작하였다. 본 표시 장치를 선 순차구동한 바, 휘도 얼룩짐이 없었고 양호한 표시 특성을 얻을 수 있었다.
<실시예 20>
실시예 14에서 얻어진 와니스 (N)을 이용하여, 경화 조건을 280 ℃에서 60분으로 한 이외에는 실시예 16과 동일하게 하여, 단순 매트릭스형 컬러 유기전계발광 장치를 제작하였다. 본 표시 장치를 선 순차구동한 바, 휘도 얼룩짐이 없었고 양호한 표시 특성을 얻을 수 있었다.
<실시예 21>
실시예 15에서 얻어진 와니스 (P)를 이용하여, 경화 조건을 250 ℃에서 60분으로 한 이외에는 실시예 16과 동일하게 하여, 단순 매트릭스형 컬러 유기전계발광 장치를 제작하였다. 본 표시 장치를 선 순차구동한 바, 휘도 얼룩짐이 없었고 양호한 표시 특성을 얻을 수 있었다.
<비교예 1>
실시예 1의 4,4'-디아미노페닐에테르 10.89 g을 12.77 g (0.064 몰)로 변경하고, 말단 봉지제를 이용하지 않은 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 감광성폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (Q)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이, 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여, 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<비교예 2>
실시예 2의 말단 봉지제를 이용하지 않은 것 이외에는 실시예 2와 동일하게 하여 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (R)을 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이, 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여, 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<비교예 3>
실시예 3의 말단 봉지제 및 페놀성 수산기를 갖는 화합물 TrisP-PA를 이용하지 않은 것 이외에는 실시예 3과 동일하게 하여 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (S)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이, 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여, 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<비교예 4>
실시예 4의 말단 봉지제를 이용하지 않은 것 이외에는 실시예 4와 동일하게 하여 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (T)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이, 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여, 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<비교예 5>
실시예 7의 말단 봉지제를 이용하지 않은 것 이외에는 실시예 7과 동일하게 하여 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (U)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<비교예 6>
실시예 11의 말단 봉지제를 이용하지 않은 것 이외에는 실시예 11과 동일하게 하여, 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (V)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<비교예 7>
실시예 1의 페놀성 수산기를 갖는 화합물 Bis-Z를 이용하지 않은 것 이외는 실시예 1과 동일하게 하여, 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (W)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<비교예 8>
실시예 4의 페놀성 수산기를 갖는 화합물 BIR-PC을 이용하지 않은 것 이외는 실시예 4와 동일하게 하여, 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (X)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<비교예 9>
실시예 5의 페놀성 수산기를 갖는 화합물 Bis-Z를 이용하지 않은 것 이외는 실시예 5와 동일하게 하여 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (Y)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<비교예 10>
실시예 1의 페놀성 수산기를 갖는 화합물 Bis-Z를 멜라닌으로 변경하여 동량 첨가한 것 이외는 실시예 1과 동일하게 하여 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 와니스 (Z)를 얻었다. 얻어진 와니스를 이용하여 상기한 바와 같이 실리콘 웨이퍼상에 감광성 폴리이미드 전구체막을 제작, 노광, 현상하여 와니스의 감도, 잔막율, 해상도에 관해서 평가하였다.
<비교예 11>
비교예 1에서 얻어진 와니스 (Q)를 이용하여 경화 조건을 230 ℃에서 30분으로 한 것 이외는 실시예 16과 동일하게 하여 단순 매트릭스형 컬러 유기전계발광 장치를 제작하였다. 본 표시 장치를 선 순차구동한 바, 휘도 얼룩짐은 없었지만, 발광 표시부의 엣지부에 발광 얼룩짐이 있었고, 양호한 표시 특성을 얻을 수 없었다.
<비교예 12>
비교예 3에서 얻어진 와니스 (S)를 이용하여 경화 조건을 250 ℃에서 60분으로 한 것 이외에는 실시예 16과 동일하게 하여 단순 매트릭스형 컬러 유기전계발광 장치를 제작하였다. 본 표시 장치를 선 순차구동한 바, 휘도 얼룩짐은 없었지만, 발광 표시부의 엣지부에 발광 얼룩짐이 다수 이었고, 양호한 표시 특성을 얻을 수 없었다.
<비교예 13>
비교예 7에서 얻어진 와니스 (W)를 이용하여 경화 조건을 300 ℃에서 60분으로 한 것 이외는 실시예 16과 동일하게 하여 단순 매트릭스형 컬러 유기전계발광 장치를 제작하였다. 본 표시 장치를 선 순차구동한 바, 휘도 얼룩짐은 없었지만, 발광 표시부의 엣지부에 발광 얼룩짐이 다수 있었고, 양호한 표시 특성을 얻을 수 없었다.
<비교예 14>
비교예 8에서 얻어진 와니스 (X)를 이용하여 경화 조건을 200 ℃에서 60분으로 한 것 이외는 실시예 16과 동일하게 하여 단순 매트릭스형 컬러 유기전계발광 장치를 제작하였다. 본 표시 장치를 선 순차구동한 바, 휘도 얼룩짐은 없었지만, 발광 표시부의 엣지부에 발광 얼룩짐이 있었고, 양호한 표시 특성을 얻을 수 없었다.
실시예 1 내지 15, 비교예 1 내지 10의 평가 결과에 관해서는 표 1에 나타내었다.
와니스 말단봉지제 도입비율 (몰%) 페놀성수산기를 갖는 화합물 첨가제 감도(mJ/㎠) 잔막율(%) 해상도(㎛)
실시예 1실시예 2실시예 3실시예 4실시예 5실시예 6실시예 7실시예 8실시예 9실시예 10실시예 11실시예 12실시예 13실시예 14실시예 15 ABCDEFGHIJKLMNP 3-아미노페놀1-카르복시-5-아미노나프탈렌활성에스테르화합물(a)3-히드록시프탈산무수물무수 말레인산4-카르복시벤조산 클로라이드3-아미노페놀1-카르복시-5-아미노나프탈렌활성에스테르화합물(a)3-히드록시프탈산무수물3-아미노페놀1-카르복시-5-아미노나프탈렌활성에스테르화합물(a)3-아미노페놀1-카르복시-5-아미노나프탈렌 23.336.73535505523.336.7353523.336.73523.336.7 Bis-ZBisRS-2PTrisP-PABIR-PCBis-ZBIR-PCBisPC-PCHP4PCBIR-PCHPDML-MBPCDML-PCDML-PTBP2,6-디메톡시메틸-4-t-부틸페놀2,6-디아세톡시메틸-p-크레졸DML-PCHP/BisPC-PCHP 2161351621891621081059590707575707070 95919292.59593959594959291929294 325332322377662
비교예 1비교예 2비교예 3비교예 4비교예 5비교예 6비교예 7비교예 8비교예 9비교예 10 QRSTUVWXYZ 없음없음없음없음없음없음3-아미노페놀3-히드록시프탈산무수물무수말레인산아미노페놀 00000023.3355023.3 Bis-ZBisRS-2P없음BIR-PCBisPC-PCHPDML-PC없음없음없음없음 멜라민 648540972540750650450380450600 95919593949393929394 20304015403575808545
본 발명에 의하면 알칼리 수용액으로 현상할 수 있고, 해상도, 감도, 잔막율이 우수한 포지티브형의 감광성 수지 전구체 조성물을 얻을 수 있고, 얻어진 조성물은 특히 디스플레이의 절연층에 적합하게 이용할 수 있다.

Claims (14)

  1. (a) 중합체 주쇄 말단에 카르복실기, 페놀성 수산기, 술폰산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 폴리아미드산 에스테르 및(또는) 폴리아미드산,
    (b) 페놀성 수산기를 갖는 화합물, 및
    (c) 에스테르화된 퀴논디아지드 화합물을 함유하는 것을 특징으로 하는 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물.
  2. 제1항에 있어서, (a)성분의 폴리아미드산 에스테르 및(또는) 폴리아미드산이 화학식 1 및(또는) 화학식 2로 표시되는 구조 단위를 주성분으로 하는 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물.
    <화학식 1>
    <화학식 2>
    식 중, R1은 4가의 유기기이고, R2는 2에서 4가의 유기기이고, R3은 수소 원자 및(또는) 탄소수 1에서 20까지의 유기기이고, R4는 2가의 유기기이고, X는 카르복실기, 페놀성 수산기, 술폰산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 2에서 8가의 유기기를 나타내고, n은 10에서 100,000까지의 정수이고, m은 O에서 10까지의 정수를 나타낸다.
  3. 제1항에 있어서, (a)성분의 폴리아미드산 에스테르 및(또는) 폴리아미드산이 화학식 3 및(또는) 화학식 4로 표시되는 구조 단위를 주성분으로 하는 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물.
    <화학식 3>
    <화학식 4>
    식 중, R1은 4가의 유기기이고, R2는 2에서 4가의 유기기이고, R3은 수소 원자 및(또는) 탄소수 1에서 20까지의 유기기이고, R4는 2가의 유기기이고, Y는 카르복실기, 페놀성 수산기, 술폰산기, 티올기에서 선택되는 기를 하나 이상 갖는 2에서 8가의 유기기를 나타내고, n은 10에서 100,000까지의 정수이고, m은 O에서 10까지의 정수를 나타낸다.
  4. 제2항에 있어서, 화학식 1의 m이 0인 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물.
  5. 제2항에 있어서, 화학식 2의 m이 0인 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물.
  6. 제3항에 있어서, 화학식 3의 m이 0인 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물.
  7. 제3항에 있어서, 화학식 4의 m이 0인 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물.
  8. 제1항에 있어서, (b)성분의 페놀성 수산기를 갖는 화합물이 화학식 5로 표시되는 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물.
    <화학식 5>
    식 중, R5내지 R8은 수소 원자, 수산기, 탄소수 1에서 20까지의 알킬기, 탄소수 4에서 20까지의 지환식기를 나타내고, α는 0에서 5까지의 정수를 나타낸다.
  9. 제1항에 있어서, (b)성분의 페놀성 수산기를 갖는 화합물이 화학식 6으로 표시되는 유기기를 함유하는 열 가교성 화합물인 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물.
    <화학식 6>
    식 중, R9는 수소 원자, 탄소수 1에서 20까지의 알킬기, 탄소수 4에서 20까지의 지환식기 또는 R10CO 기를 나타내고, R10은 탄소수 1에서 20까지의 알킬기를 나타낸다.
  10. 제9항에 있어서, 화학식 6으로 표시되는 유기기를 함유하는 열 가교성 화합물이 화학식 7로 표시되는 것을 특징으로 하는 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물.
    <화학식 7>
    식 중, R9는 수소 원자, 탄소수 1에서 20까지의 알킬기, 탄소수 4에서 20까지의 지환식기 또는 R10CO 기를 나타내고, R11및 R12는 수소 원자, 탄소수 1에서 20까지의 알킬기, 탄소수 4에서 20까지의 지환식기 또는 R13'COO 기를 나타내고, R13'은 탄소수 1에서 20까지의 알킬기를 나타낸다.
  11. 기판 상에 형성된 제1전극,
    제1전극이 부분적으로 노출되도록 제1전극상에 형성된 절연층, 및
    제1전극에 대향하여 설치된 제2전극을 포함하며, 상기 절연층이 제1항 기재의 포지티브형 감광성 수지 전구체 조성물로 이루어지는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 절연층이 제1 전극의 엣지 부분을 덮도록 형성되는 표시 장치.
  13. 제11항에 있어서, 상기 절연층의 단면이, 절연층이 제1 전극을 노출시키도록 경계 부분에서 순 테이퍼 형상인 표시 장치.
  14. 제11항에 있어서, 표시 장치가 기판상에 형성된 제1 전극, 상기 제1 전극상에 형성된 적어도 유기 화합물로 이루어지는 발광층을 포함하는 박막층, 및 상기박막층상에 형성된 제2 전극을 포함하는 유기전계발광 소자로 이루어지는 표시 장치인 표시 장치.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100914064B1 (ko) * 2008-03-19 2009-08-28 제일모직주식회사 포지티브형 감광성 수지 조성물
KR20110009669A (ko) * 2008-05-07 2011-01-28 스미또모 베이크라이트 가부시키가이샤 포지티브형 감광성 수지 조성물, 경화막, 보호막 및 절연막, 및 이를 이용한 반도체 장치 및 표시체 장치
KR101012569B1 (ko) * 2002-08-05 2011-02-07 도레이 카부시키가이샤 감광성 수지 전구체 조성물
US8501375B2 (en) 2010-12-20 2013-08-06 Cheil Industries Inc. Positive photosensitive resin composition
US8697320B2 (en) 2010-12-15 2014-04-15 Cheil Industries Inc. Phenol compounds and positive photosensitive resin composition including the same
KR20140083791A (ko) * 2012-12-26 2014-07-04 제일모직주식회사 봉지용 조성물, 이를 포함하는 장벽층 및 이를 포함하는 봉지화된 장치
US9104106B2 (en) 2010-05-04 2015-08-11 Lg Chem, Ltd. Negative photoresist composition and patterning method for device

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4799740B2 (ja) * 2001-01-17 2011-10-26 日東電工株式会社 配線回路基板用樹脂組成物、配線回路基板用基材および配線回路基板
TW574620B (en) * 2001-02-26 2004-02-01 Toray Industries Precursor composition of positive photosensitive resin and display device using it
US7015256B2 (en) * 2002-01-28 2006-03-21 Jsr Corporation Composition for forming photosensitive dielectric material, and transfer film, dielectric material and electronic parts using the same
CN100480855C (zh) * 2002-05-29 2009-04-22 东丽株式会社 感光性树脂组合物和耐热性树脂膜的制造方法
JP4360168B2 (ja) * 2002-10-01 2009-11-11 東レ株式会社 ポジ型感光性樹脂組成物
US20040238846A1 (en) * 2003-05-30 2004-12-02 Georg Wittmann Organic electronic device
EP1630605B1 (en) * 2003-06-02 2017-10-11 Toray Industries, Inc. Photosensitive resin composition
TWI360565B (en) * 2003-07-09 2012-03-21 Toray Industries Photosensitive resin precursor composition
JP4591351B2 (ja) * 2003-07-28 2010-12-01 日産化学工業株式会社 ポジ型感光性樹脂組成物
TWI363249B (en) * 2003-10-15 2012-05-01 Fujifilm Electronic Materials Novel photosensitive resin compositions
JP2005309032A (ja) * 2004-04-21 2005-11-04 Toray Ind Inc ポジ型感光性樹脂組成物
EP1662319A3 (en) * 2004-11-24 2009-05-27 Toray Industries, Inc. Photosensitive resin composition
KR100787352B1 (ko) * 2005-02-23 2007-12-18 주식회사 하이닉스반도체 하드마스크용 조성물 및 이를 이용한 반도체 소자의 패턴형성 방법
US8092861B2 (en) * 2007-09-05 2012-01-10 United Microelectronics Corp. Method of fabricating an ultra dielectric constant (K) dielectric layer
KR100914063B1 (ko) * 2007-11-30 2009-08-28 제일모직주식회사 포지티브형 감광성 수지 조성물
KR101023089B1 (ko) * 2008-09-29 2011-03-24 제일모직주식회사 포지티브형 감광성 수지 조성물
WO2010041795A1 (en) * 2008-10-07 2010-04-15 Cheil Industries Inc. Positive photosensitive resin composition
KR101632965B1 (ko) * 2008-12-29 2016-06-24 삼성디스플레이 주식회사 포토레지스트 조성물 및 박막 트랜지스터 기판의 제조 방법
KR101333698B1 (ko) * 2009-11-10 2013-11-27 제일모직주식회사 포지티브형 감광성 수지 조성물
KR101333704B1 (ko) * 2009-12-29 2013-11-27 제일모직주식회사 포지티브형 감광성 수지 조성물
JP6048143B2 (ja) * 2010-03-15 2016-12-21 日産化学工業株式会社 ポリアミック酸エステルとポリアミック酸とを含有する液晶配向剤及び液晶配向膜
CN102893206B (zh) * 2010-03-15 2015-04-01 日产化学工业株式会社 包含对末端进行了修饰的聚酰胺酸酯的液晶取向剂及液晶取向膜
KR101400186B1 (ko) 2010-12-31 2014-05-27 제일모직 주식회사 포지티브형 감광성 수지 조성물, 이를 사용하여 제조된 감광성 수지막 및 상기 감광성 수지막을 포함하는 반도체 소자
KR101400192B1 (ko) 2010-12-31 2014-05-27 제일모직 주식회사 포지티브형 감광성 수지 조성물, 이를 사용하여 제조된 감광성 수지막 및 상기 감광성 수지막을 포함하는 반도체 소자
KR102058651B1 (ko) 2013-02-27 2019-12-24 삼성디스플레이 주식회사 포토레지스트 조성물 및 그를 이용한 표시 장치의 제조 방법
KR101700994B1 (ko) * 2013-07-01 2017-01-31 주식회사 엘지화학 광활성 물질의 분리방법
JP6638396B2 (ja) * 2013-10-23 2020-01-29 日産化学株式会社 液晶配向剤、液晶配向膜、及び液晶表示素子
US9477148B1 (en) 2015-05-26 2016-10-25 Industrial Technology Research Institute Polymer, method for preparing the same, and a photosensitive resin composition thereof
JP7008732B2 (ja) * 2018-01-29 2022-01-25 富士フイルム株式会社 感光性樹脂組成物、樹脂、硬化膜、積層体、硬化膜の製造方法、半導体デバイス
CN113467187B (zh) 2021-07-27 2022-05-10 吉林奥来德光电材料股份有限公司 树脂组合物、树脂膜及显示器件
CN117897453A (zh) * 2021-08-18 2024-04-16 日东电工株式会社 聚酰亚胺前体组合物、聚酰亚胺树脂、以及电路基板
CN114316263B (zh) * 2022-01-17 2023-02-03 深圳职业技术学院 交联型聚酰胺酸酯、其制备方法、包含其的聚酰亚胺组合物及聚酰亚胺树脂膜的制备方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69128187T2 (de) * 1990-09-28 1998-03-26 Toshiba Kawasaki Kk Fotoempfindliche Harzzusammensetzung zum Herstellen eines Polyimidfilmmusters und Verfahren zum Herstellen eines Polyimidfilmmusters
JP3064579B2 (ja) * 1991-01-17 2000-07-12 株式会社東芝 パターン形成方法
EP0512339B1 (de) * 1991-05-07 1997-10-15 Siemens Aktiengesellschaft Hochwärmebeständige Positivresists und Verfahren zur Herstellung hochwärmebeständiger Reliefstrukturen
KR0134753B1 (ko) * 1993-02-26 1998-04-18 사토 후미오 폴리아미드산 조성물
JP3460212B2 (ja) * 1994-08-12 2003-10-27 Jsr株式会社 感放射線性樹脂組成物
KR100500078B1 (ko) * 1996-02-26 2005-07-18 이데미쓰 고산 가부시키가이샤 유기 전자 발광 소자 및 그의 제조방법
JPH09319082A (ja) * 1996-05-27 1997-12-12 Hitachi Ltd ポジ型感光性樹脂組成物及びそれを用いた電子装置
JP4186250B2 (ja) * 1997-12-01 2008-11-26 東レ株式会社 感光性耐熱性樹脂前駆体組成物
US6376151B1 (en) * 1998-04-15 2002-04-23 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Positive resist composition
WO2000014604A1 (fr) * 1998-09-09 2000-03-16 Toray Industries, Inc. Composition-precurseur de resine photosensible positive et procede de fabrication correspondant
US6177225B1 (en) * 1998-10-01 2001-01-23 Arch Specialty Chemicals, Inc. Photosensitive resin compositions
JP3426531B2 (ja) * 1998-10-30 2003-07-14 日立化成デュポンマイクロシステムズ株式会社 感光性重合体組成物、レリーフパターンの製造法及び電子部品
CN1275094C (zh) * 1999-06-01 2006-09-13 东丽株式会社 感光性树脂母体组合物
JP4250841B2 (ja) * 1999-12-20 2009-04-08 日立化成デュポンマイクロシステムズ株式会社 ポジ型感光性樹脂組成物、パタ−ンの製造法および電子部品
TW574620B (en) * 2001-02-26 2004-02-01 Toray Industries Precursor composition of positive photosensitive resin and display device using it

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101012569B1 (ko) * 2002-08-05 2011-02-07 도레이 카부시키가이샤 감광성 수지 전구체 조성물
KR100914064B1 (ko) * 2008-03-19 2009-08-28 제일모직주식회사 포지티브형 감광성 수지 조성물
US8568954B2 (en) 2008-03-19 2013-10-29 Cheil Industries Inc. Positive photosensitive resin composition
KR20110009669A (ko) * 2008-05-07 2011-01-28 스미또모 베이크라이트 가부시키가이샤 포지티브형 감광성 수지 조성물, 경화막, 보호막 및 절연막, 및 이를 이용한 반도체 장치 및 표시체 장치
US9104106B2 (en) 2010-05-04 2015-08-11 Lg Chem, Ltd. Negative photoresist composition and patterning method for device
US8697320B2 (en) 2010-12-15 2014-04-15 Cheil Industries Inc. Phenol compounds and positive photosensitive resin composition including the same
US8501375B2 (en) 2010-12-20 2013-08-06 Cheil Industries Inc. Positive photosensitive resin composition
KR20140083791A (ko) * 2012-12-26 2014-07-04 제일모직주식회사 봉지용 조성물, 이를 포함하는 장벽층 및 이를 포함하는 봉지화된 장치

Also Published As

Publication number Publication date
JP4665333B2 (ja) 2011-04-06
EP1209523B1 (en) 2015-08-26
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