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KR102729112B1 - Batch transfer head and its processing method - Google Patents

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Publication number
KR102729112B1
KR102729112B1 KR1020217036599A KR20217036599A KR102729112B1 KR 102729112 B1 KR102729112 B1 KR 102729112B1 KR 1020217036599 A KR1020217036599 A KR 1020217036599A KR 20217036599 A KR20217036599 A KR 20217036599A KR 102729112 B1 KR102729112 B1 KR 102729112B1
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KR
South Korea
Prior art keywords
rigid suction
substrate
suction head
elastic substrate
batch transfer
Prior art date
Application number
KR1020217036599A
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Korean (ko)
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KR20210143324A (en
Inventor
루보 싱
Original Assignee
청두 비스타 옵토일렉트로닉스 씨오., 엘티디.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from CN201910354430.6A external-priority patent/CN111863690B/en
Application filed by 청두 비스타 옵토일렉트로닉스 씨오., 엘티디. filed Critical 청두 비스타 옵토일렉트로닉스 씨오., 엘티디.
Publication of KR20210143324A publication Critical patent/KR20210143324A/en
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Publication of KR102729112B1 publication Critical patent/KR102729112B1/en

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    • H01L33/0095Post-treatment of devices, e.g. annealing, recrystallisation or short-circuit elimination

Abstract

본 출원은 일괄 이송헤드 및 이의 가공방법을 제공한다. 상기 일괄 이송헤드는 탄성 기재 및 강성 흡착헤드 그룹을 포함하되, 상기 강성 흡착헤드 그룹은 복수의 강성 흡착헤드를 포함하고, 상기 강성 흡착헤드 그룹은 상기 탄성 기재 상에 배치되어, 상기 탄성 기재의 변형을 통해 상기 강성 흡착헤드 그룹에 포함된 각 강성 흡착헤드의 위치를 조절하여, 대응하는 이송대상 칩과 부착할 수 있도록 함으로써, 이송대상 칩의 가공 공정 편차로 인한 부실 부착 또는 미부착의 발생을 감소시키고, 강성 흡입헤드 그룹이 흡착할 수 있는 이송대상 칩의 수량을 증가시켜 이송 효율을 향상시킬 수 있다.The present application provides a batch transfer head and a processing method thereof. The batch transfer head includes an elastic substrate and a rigid suction head group, wherein the rigid suction head group includes a plurality of rigid suction heads, and the rigid suction head group is arranged on the elastic substrate, so that the position of each rigid suction head included in the rigid suction head group is adjusted through deformation of the elastic substrate, so as to enable attachment to a corresponding target chip to be transferred, thereby reducing the occurrence of poor attachment or non-attachment of the target chip due to deviation in the processing of the target chip to be transferred, and increasing the number of target chips to be transferred that can be absorbed by the rigid suction head group, thereby improving the transfer efficiency.

Description

일괄 이송헤드 및 이의 가공방법Batch transfer head and its processing method

관련 출원Related Applications

본 출원은 2019년 4월 29일에 출원한, 출원번호가 201910354430.6이고, 명칭이 "일괄 이송헤드 및 이의 가공방법"인 중국특허출원의 우선권을 주장하며, 여기서 모든 내용은 참고용으로 원용된다.This application claims the benefit of Chinese patent application filed on April 29, 2019, with application number 201910354430.6, entitled “Batch transfer head and processing method thereof”, the entire contents of which are incorporated herein by reference.

기술 분야Technical field

본 출원은 디스플레이 기술 분야에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 일괄 이송헤드 및 이의 가공방법에 관한 것이다.The present application relates to the field of display technology, and more specifically, to a batch transfer head and a processing method thereof.

Micro-LED는 현재의 디스플레이 기술에 비하여 긴 수명, 높은 신뢰성, 높은 휘도, 낮은 전력소모 등의 기술적 특징을 갖고 있어, 자동차, 웨어러블, 옥내외 초대형 스크린 등 분야에 폭넓게 적용될 것으로 기대되고 있으며, 현재 디스플레이 기술 발전에 있어서 핫이슈 및 최첨단으로 대두되고 있다. 현재, Micro-LED 디스플레이 패널의 LED 칩을 가공할 때, 일반적으로 하나의 캐리어보드 상에 일괄로 형성한 다음, 상기 캐리어보드 상의 LED 칩을 일괄로 이송한다. LED 칩의 이송 과정에서 LED 칩의 1회 이송수량은 LED 칩의 이송 효율과 디스플레이 패널의 가공 효율 및 비용에 매우 중요한 영향을 미친다. Micro-LED has technological features such as long life, high reliability, high brightness, and low power consumption compared to the current display technology, and is expected to be widely applied in fields such as automobiles, wearables, and indoor/outdoor ultra-large screens, and is currently emerging as a hot issue and cutting-edge in the development of display technology. Currently, when processing LED chips of a Micro-LED display panel, they are generally formed in batches on a carrier board, and then the LED chips on the carrier board are transferred in batches. During the LED chip transfer process, the number of LED chips transferred at one time has a very important influence on the transfer efficiency of the LED chips and the processing efficiency and cost of the display panel.

일괄 이송하는 수량을 증가시키기 위해, 본 출원은 일괄(batch) 이송헤드 및 이의 가공방법을 제공한다.In order to increase the quantity transferred in batches, the present application provides a batch transfer head and a method for processing the same.

본 출원의 실시예의 제1 측면에 따른 일괄 이송헤드는, 탄성 기재(substrate base) 및 강성 흡착헤드 그룹을 포함하되, 상기 강성 흡착헤드 그룹은 복수의 강성 흡착헤드를 포함하고, 상기 강성 흡착헤드 그룹은 상기 탄성 기재 상에 배치되어, 상기 탄성 기재의 변형에 의해 상기 강성 흡착헤드 그룹에 포함된 각 강성 흡착헤드의 위치가 조절된다.A batch transfer head according to a first aspect of an embodiment of the present application comprises an elastic substrate base and a rigid suction head group, wherein the rigid suction head group comprises a plurality of rigid suction heads, and the rigid suction head group is arranged on the elastic substrate, such that the position of each rigid suction head included in the rigid suction head group is adjusted by deformation of the elastic substrate.

본 출원의 실시예의 제2 측면에 따른 일괄 이송헤드의 가공방법은,A method for processing a batch transfer head according to the second aspect of the embodiment of the present application is as follows:

지지 기재를 획득하는 단계;Step of obtaining supporting materials;

상기 지지 기재 상에 복수의 강성 흡착헤드를 포함하는 강성 흡착헤드 그룹을 형성하는 단계;A step of forming a rigid suction head group including a plurality of rigid suction heads on the above-mentioned supporting substrate;

상기 지지 기재로부터 떨어져 있는 상기 강성 흡착헤드 그룹의 일측에 탄성 기재를 형성하는 단계;A step of forming an elastic substrate on one side of the rigid suction head group that is separated from the support substrate;

상기 지지 기재로부터 떨어져 있는 상기 탄성 기재의 일측에 기판을 형성하는 단계; 및A step of forming a substrate on one side of the elastic substrate that is away from the support substrate; and

상기 지지 기재를 제거하여 상기 일괄 이송헤드를 얻는 단계를 포함한다.A step of removing the above-mentioned support material to obtain the above-mentioned batch transfer head is included.

본 출원은 탄성 기재의 변형을 통해 강성 흡착헤드 그룹의 각 강성 흡착헤드의 위치를 조절하여, 대응하는 이송대상 칩과 부착할 수 있도록 함으로써, 이송대상 칩의 가공 공정 편차로 인한 부실 부착 또는 미부착의 발생을 감소시키고, 강성 흡입헤드 그룹이 흡착할 수 있는 이송대상 칩의 수량을 증가시켜 이송 효율을 향상시킬 수 있다. The present application adjusts the position of each rigid suction head of a rigid suction head group by deformation of an elastic substrate so that it can be attached to a corresponding target chip for transfer, thereby reducing the occurrence of poor attachment or non-attachment due to deviation in the processing of the target chip for transfer, and increasing the number of target chips that can be absorbed by the rigid suction head group, thereby improving the transfer efficiency.

도1은 본 출원의 예시적인 일 실시예에 따른 일괄 이송헤드의 구조를 제시하는 도면이다.
도2는 도1의 예시적인 실시예에 강화층이 추가된 다른 일괄 이송헤드의 구조를 제시하는 도면이다.
도3은 도1의 예시적인 실시예에 버퍼층이 추가된 또 다른 일괄 이송헤드의 구조를 제시하는 도면이다.
도4는 본 출원의 예시적인 일 실시예에 따른 일괄 이송헤드의 가공방법의 흐름도이다.
도5는 본 출원의 예시적인 일 실시예에 따른 일괄 이송헤드의 제1 가공상태를 제시하는 도면이다.
도6은 본 출원의 예시적인 일 실시예에 따른 일괄 이송헤드의 제2 가공상태를 제시하는 도면이다.
도7은 본 출원의 예시적인 일 실시예에 따른 일괄 이송헤드의 제3 가공상태를 제시하는 도면이다.
도8은 본 출원의 예시적인 일 실시예에 따른 일괄 이송헤드의 제4 가공상태를 제시하는 도면이다.
도9는 본 출원의 예시적인 일 실시예에 따른 일괄 이송헤드의 제5 가공상태를 제시하는 도면이다.
Figure 1 is a drawing showing the structure of a batch transfer head according to an exemplary embodiment of the present application.
Figure 2 is a drawing showing the structure of another batch transfer head with a reinforcement layer added to the exemplary embodiment of Figure 1.
FIG. 3 is a drawing showing the structure of another batch transfer head with a buffer layer added to the exemplary embodiment of FIG. 1.
Figure 4 is a flow chart of a processing method of a batch transfer head according to an exemplary embodiment of the present application.
FIG. 5 is a drawing showing a first processing state of a batch transfer head according to an exemplary embodiment of the present application.
FIG. 6 is a drawing showing a second processing state of a batch transfer head according to an exemplary embodiment of the present application.
FIG. 7 is a drawing showing a third processing state of a batch transfer head according to an exemplary embodiment of the present application.
FIG. 8 is a drawing showing a fourth processing state of a batch transfer head according to an exemplary embodiment of the present application.
FIG. 9 is a drawing showing a fifth processing state of a batch transfer head according to an exemplary embodiment of the present application.

이하에서, 본 출원의 목적, 기술적 방안 및 장점을 보다 명확히 하기 위해, 실시예 및 첨부된 도면을 참조하여 본 출원에 대해 더 상세하게 설명하고자 한다. 본 명세서에 기술된 구체적인 실시예들은 단지 본 출원을 설명하기 위한 것일 뿐이며, 본 출원을 제한하는 것이 아님을 이해해야 한다.Hereinafter, in order to more clearly explain the purpose, technical solution and advantages of the present application, the present application will be described in more detail with reference to examples and the attached drawings. It should be understood that the specific examples described in this specification are only for the purpose of explaining the present application and are not intended to limit the present application.

종래에는 Micro-LED 디스플레이 패널의 LED 칩을 가공할 때, 일반적으로 LED 칩을 하나의 캐리어보드 상에 일괄로 형성한 다음, 상기 캐리어보드 상의 LED 칩을 일괄로 이송한다. 상기 LED 칩이 일괄로 하나의 케리어보드에 형성되지만, 케리어보드의 형성 시의 공정 영향 및 각 LED 칩의 형성 시의 공정 영향으로 인해 케리어보드에 형성된 LED 칩의 높이가 일정하지 않으며, 이에 따라 LED 칩을 일괄로 이송할 때 각 프로브와 대응하는 LED 칩 사이에 부실 부착 또는 미부착이 발생하여 LED 칩을 신속하고 효율적으로 이송할 수 없게 된다. 따라서, LED 칩의 높이 차이를 상쇄시키고, 이송헤드와 각 LED 칩 사이의 부착강도를 향상시키고, 이송 효율 및 품질을 향상시키 것은 시급히 해결해야 할 기술적 문제로 제기되고 있다.Conventionally, when processing LED chips of a Micro-LED display panel, LED chips are generally formed in batches on a carrier board, and then the LED chips on the carrier board are transferred in batches. Although the LED chips are formed in batches on a carrier board, the heights of the LED chips formed on the carrier board are not constant due to the process influences during the formation of the carrier board and the process influences during the formation of each LED chip. Accordingly, when the LED chips are transferred in batches, poor attachment or non-attachment occurs between each probe and the corresponding LED chip, making it impossible to transfer the LED chips quickly and efficiently. Therefore, it is urgent to solve technical problems that need to be solved by compensating for the difference in the height of the LED chips, improving the attachment strength between the transfer head and each LED chip, and improving the transfer efficiency and quality.

이를 감안하여, 본 출원은 캐리어보드 상에 있는 이송대상 칩을 일괄로 이송할 수 있고, 이송대상 칩의 높이 차이로 인한 이송 실패 확률을 감소시킬 수 있는 일괄 이송헤드를 제공한다.In consideration of this, the present application provides a batch transfer head capable of batch transferring target chips on a carrier board and reducing the probability of transfer failure due to a difference in height of the target chips.

도1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 일괄 이송헤드(100)는 탄성 기재(110) 및 강성 흡착헤드 그룹(120)를 포함할 수 있다. 상기 강성 흡착헤드 그룹(120)은 복수의 강성 흡착헤드(121)를 포함할 수 있으며, 예를 들어, 도1에 도시된 바와 같이 상기 강성 흡착헤드 그룹(120)은 2개의 강성 흡착헤드(121)를 포함할 수 있다. 상기 강성 흡착헤드 그룹(120)에 포함된 각 강성 흡착헤드(121)는 모두 상기 탄성 기재(110) 상에 배치되어, 상기 일괄 이송헤드(100)가 캐리어보드에 작용하여 캐리어보드 상에 있는 이송대상 칩을 부착시킬 때, 이송대상 칩의 높이에 차이가 있을 경우, 일괄 이송헤드(100)의 탄성 기재(110)는 상이한 정도로 변형하게 됨으로써, 상기 탄성 기재(110)의 변형을 통해 강성 흡착헤드 그룹(120)의 각 강성 흡착헤드(121)의 위치를 조절하여, 대응하는 이송대상 칩과 부착할 수 있도록 하여, 이송대상 칩의 가공 공정 편차로 인한 부실 부착 또는 미부착의 발생을 감소시키고, 강성 흡입헤드 그룹(120)이 흡착할 수 있는 이송대상 칩의 수량을 증가시켜 이송 효율을 향상시킬 수 있다. 상기 탄성 기재(110)는 유기물질로 이루어질 수 있으며, 예를 들어 폴리디메틸실록산(polydimethylsiloxane), 실리콘 고무(silicone rubber), 폴리우레탄(polyurethane)으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상으로 이루어질 수 있고; 또한 상기 탄성 기재(110)는 변형가능한 다른 물질로 이루어질 수 있으며, 이에 대한 설명은 생략한다. Referring to FIG. 1, a batch transfer head (100) according to one embodiment of the present invention may include an elastic substrate (110) and a rigid suction head group (120). The rigid suction head group (120) may include a plurality of rigid suction heads (121), and for example, as shown in FIG. 1, the rigid suction head group (120) may include two rigid suction heads (121). Each rigid suction head (121) included in the rigid suction head group (120) is all arranged on the elastic substrate (110), so that when the batch transfer head (100) acts on the carrier board to attach a transfer target chip on the carrier board, if there is a difference in the height of the transfer target chip, the elastic substrate (110) of the batch transfer head (100) is deformed to a different degree, so that the position of each rigid suction head (121) of the rigid suction head group (120) is adjusted through the deformation of the elastic substrate (110) so that it can attach to the corresponding transfer target chip, thereby reducing the occurrence of poor attachment or non-attachment due to deviation in the processing of the transfer target chip, and increasing the number of transfer target chips that the rigid suction head group (120) can adsorb, thereby improving the transfer efficiency. The above elastic substrate (110) may be made of an organic material, and may be made of, for example, one or more selected from the group consisting of polydimethylsiloxane, silicone rubber, and polyurethane; furthermore, the above elastic substrate (110) may be made of another deformable material, and a description thereof will be omitted.

탄성 기재(110)의 두께는 동일 평면에 배치된 일괄 이송대상인 복수의 소자 간의 높이 차이에 따라 설정될 수 있다. 예를 들어, 상기 탄성 기재(110)의 두께는 동일 평면에 배치된 일괄 이송대상인 복수의 소자 간의 높이 차이보다 클 수 있고, 또는 상기 탄성 기재(110)의 두께 방향에서의 탄성변형량은 동일 평면에 배치된 일괄 이송대상인 복수의 소자 간의 높이 차이보다 클 수 있다. 상기 복수의 소자는 하나의 케리어보드 상에 형성된 복수의 LED 칩일 수 있다.The thickness of the elastic substrate (110) may be set according to the height difference between the plurality of elements that are batch transport targets arranged on the same plane. For example, the thickness of the elastic substrate (110) may be greater than the height difference between the plurality of elements that are batch transport targets arranged on the same plane, or the elastic deformation amount in the thickness direction of the elastic substrate (110) may be greater than the height difference between the plurality of elements that are batch transport targets arranged on the same plane. The plurality of elements may be a plurality of LED chips formed on one carrier board.

상기 일괄 이송헤드(100)는 기판(130)을 더 포함할 수 있고, 탄성 기재(110)는 상기 기판(130) 상에 배치될 수 있으며, 탄성 기재(110)는 기판(130)과 강성 흡착헤드 그룹(120) 사이에 위치하여, 상기 기판(130)으로 탄성 기재(110)를 지지함으로써, 탄성 기재(110)가 변형될 때 강성 흡착헤드 그룹(120)으로부터 멀어지는 일측을 향해 확장되어 상이한 높이의 이송대상 칩과 매칭되지 못하는 것을 피한다. 상기 기판(130)은 강성 기판일 수 있으며, 예를 들어 유리 기판, 무기 물질로 이루어진 기판, 또는 금속 물질로 이루어진 기판을 포함할 수 있다.The above-described batch transfer head (100) may further include a substrate (130), and an elastic substrate (110) may be disposed on the substrate (130), and the elastic substrate (110) is positioned between the substrate (130) and the rigid suction head group (120), so as to support the elastic substrate (110) with the substrate (130), thereby preventing the elastic substrate (110) from expanding toward a side away from the rigid suction head group (120) when deformed, thereby not matching with target chips of different heights. The substrate (130) may be a rigid substrate, and may include, for example, a glass substrate, a substrate made of an inorganic material, or a substrate made of a metal material.

강성 흡착헤드 그룹(120)에 포함된 각 강성 흡착헤드(121)는 서로 이격된 제1 전극(1211) 및 제2 전극(1212)을 포함할 수 있고, 상기 제1 전극(1211) 및 제2 전극(1212)은 이송대상 칩을 흡착하도록 상호 작용하여 전하를 생성할 수 있다. Each rigid suction head (121) included in the rigid suction head group (120) may include a first electrode (1211) and a second electrode (1212) spaced apart from each other, and the first electrode (1211) and the second electrode (1212) may interact to generate charges so as to suction a chip to be transferred.

일괄 이송헤드(100)는 절연층(140)을 더 포함할 수 있고, 상기 절연층(140)은 제1 전극(1211) 및 제2 전극(1212)을 덮을 수 있고, 상기 제1 전극(1211) 및 제2 전극(1212)은 절연층(140)과 탄성 기재(110) 사이에 위치한다.The batch transfer head (100) may further include an insulating layer (140), and the insulating layer (140) may cover the first electrode (1211) and the second electrode (1212), and the first electrode (1211) and the second electrode (1212) are positioned between the insulating layer (140) and the elastic substrate (110).

제1 전극(1211)과 제2 전극(1212) 사이에는 간극이 있어, 제1 전극(1211)과 제2 전극(1212) 중 어느 하나에 양전압을 인가하고 다른 하나에 음전압을 인가하면, 제1 전극(1211)과 제2 전극(1212) 사이 및 절연층(140) 상에는 전하가 유도 생성되어 대응하는 이송대상 칩을 흡착할 수 있다. 제1 전극(1211) 및 제2 전극(1212)을 형성하는 방법은, 전체 금속층을 미리 증착한 후, 금속층을 패터닝하여 각 강성 흡착헤드(121)에 포함된 제1 전극(1211) 및 제2 전극(1212)을 얻는 것을 포함할 수 있다.There is a gap between the first electrode (1211) and the second electrode (1212), so that when a positive voltage is applied to one of the first electrode (1211) and the second electrode (1212) and a negative voltage is applied to the other, charges are induced and generated between the first electrode (1211) and the second electrode (1212) and on the insulating layer (140), so that the corresponding target chip to be transferred can be adsorbed. A method for forming the first electrode (1211) and the second electrode (1212) may include depositing an entire metal layer in advance and then patterning the metal layer to obtain the first electrode (1211) and the second electrode (1212) included in each rigid adsorption head (121).

일 실시예에서, 절연층(140)은 전면(全面)에 배치될 수 있고, 즉, 강성 흡착헤드 그룹(120) 상의 복수 또는 전부의 강성 흡착헤드(121)는 하나의 절연층(140)을 공유함으로써, 절연층(140)에 대한 성형 공정 단계를 줄여 생산효율을 향상시킬 수 있다. 또한, 다른 실시예에서, 일괄 이송헤드(100)는 복수의 절연층을 포함할 수 있으며, 상기 복수의 절연층은 강성 흡착헤드 그룹(120)에 포함된 복수의 강성 흡착헤드(121)와 일대일 대응되고, 예를 들어, 복수의 절연층은 병렬로 이격 배치되며 각 절연층의 위치는 대응하는 강성 흡착헤드의 위치와 매칭됨으로써, 재료를 절약하고 생산 비용을 절감할 수 있다. 상기 절연층은 무기 절연물질로 이루어질 수 있으며, 예를 들어, 바람직하게는 질화규소 및 산화규소 중 하나 이상으로 이루어질 수 있다. 질화규소 및 산화규소는 성능이 안정적이고 저렴하며 쉽게 얻을 수 있다. 물론 다른 실시예에서, 다른 물질로 이루어질 수도 있다.In one embodiment, the insulating layer (140) may be arranged on the entire surface, that is, a plurality of or all of the rigid suction heads (121) on the rigid suction head group (120) share a single insulating layer (140), thereby reducing the molding process steps for the insulating layer (140) and improving production efficiency. In addition, in another embodiment, the batch transfer head (100) may include a plurality of insulating layers, wherein the plurality of insulating layers correspond one-to-one with the plurality of rigid suction heads (121) included in the rigid suction head group (120), for example, the plurality of insulating layers are spaced apart in parallel and the position of each insulating layer matches the position of the corresponding rigid suction head, thereby saving materials and reducing production costs. The insulating layer may be made of an inorganic insulating material, and may be made of, for example, preferably, one or more of silicon nitride and silicon oxide. Silicon nitride and silicon oxide have stable performance, are inexpensive, and can be easily obtained. Of course, in another embodiment, it may be made of other materials.

도2를 참조하면, 일괄 이송헤드(100)는 강화층(150)을 더 포함할 수 있고, 상기 강화층(150)은 강성 흡착헤드 그룹(120)에 포함된 각 강성 흡착헤드(121)에 대응하여 배치되며, 상기 강화층(150)은 탄성 기재(110)와 대응하는 강성 흡착헤드(121) 사이에 위치한다. 탄성 기재(110)가 강성 흡착헤드(121)에 직접 접촉하는 기술 방안에 비해, 강성 흡착헤드(121)에 직접 작용하는 힘은 강화층(150)에 의해 일부 완충될 수 있어, 강성 흡착헤드(121)에 포함된 금속 전극이 휘어지거나 파단될 확률을 감소시킨다. 여기서, 상기 강화층(150)은 포토레지스트, 산화규소 및 액상유리(spin-on glass, SOG)로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상으로 이루어질 수 있으며, 바람직하게는 포토레지스트로 이루어지고, 포토레지스트는 종류가 다양하며 선택의 폭이 넓고 성능이 우수하다. Referring to FIG. 2, the batch transfer head (100) may further include a reinforcing layer (150), and the reinforcing layer (150) is arranged corresponding to each rigid suction head (121) included in the rigid suction head group (120), and the reinforcing layer (150) is located between the elastic substrate (110) and the corresponding rigid suction head (121). Compared to a technical solution in which the elastic substrate (110) directly contacts the rigid suction head (121), a force directly applied to the rigid suction head (121) can be partially buffered by the reinforcing layer (150), thereby reducing the probability that the metal electrode included in the rigid suction head (121) will bend or break. Here, the reinforcing layer (150) may be formed of at least one selected from the group consisting of photoresist, silicon oxide, and spin-on glass (SOG), and is preferably formed of photoresist, and the photoresist is available in various types, has a wide range of choices, and has excellent performance.

도3을 참조하면, 일괄 이송헤드(100)는 탄성 기재(110)로부터 떨어져 있는 절연층(140)의 일측에 배치되는 버퍼층(170)을 더 포함할 수 있다. 일괄 이송헤드(100)는 상기 탄성 기재(110)의 변형을 통해 강성 흡착헤드 그룹(120)에 포함된 각 강성 흡착헤드(121)의 위치를 조절하여 대응하는 이송대상 칩에 부착할 수 있도록 하므로, 탄성 기재(110)가 압축될 때 칩은 흡착헤드로부터 압력을 받게 되는데, 버퍼층(170)은 압력의 영향으로부터 칩을 보호한다. 버퍼층은 탄성 물질로 이루어질 수 있다. 버퍼층(170)은 전면(全面)에 배치될 수 있고, 즉, 강성 흡착헤드 그룹(120) 상의 복수 또는 전부의 강성 흡착헤드(121)는 하나의 버퍼층(140)을 공유할 수 있다. 다른 실시예에서, 일괄 이송헤드(100)는 또한 복수의 버퍼층을 포함할 수 있으며, 상기 복수의 버퍼층은 강성 흡착헤드 그룹(120)에 포함된 복수의 강성 흡착헤드(121)와 일대일 대응될 수 있다. Referring to FIG. 3, the batch transfer head (100) may further include a buffer layer (170) arranged on one side of the insulating layer (140) that is separated from the elastic substrate (110). The batch transfer head (100) adjusts the position of each rigid suction head (121) included in the rigid suction head group (120) by deformation of the elastic substrate (110) so that it can be attached to a corresponding transfer target chip, so that when the elastic substrate (110) is compressed, the chip receives pressure from the suction head, and the buffer layer (170) protects the chip from the influence of the pressure. The buffer layer may be made of an elastic material. The buffer layer (170) may be arranged on the entire surface, that is, a plurality of or all of the rigid suction heads (121) on the rigid suction head group (120) may share one buffer layer (140). In another embodiment, the batch transfer head (100) may also include a plurality of buffer layers, wherein the plurality of buffer layers may correspond one-to-one with a plurality of rigid suction heads (121) included in the rigid suction head group (120).

본 출원은 또한 일괄 이송헤드의 가공방법을 제공하며, 도4를 참조하면, 상기 가공방법은 301 단계 내지 305 단계를 포함할 수 있다.The present application also provides a method for processing a batch transfer head, and referring to FIG. 4, the method may include steps 301 to 305.

301 단계에서, 지지 기재(160)를 획득한다.At step 301, a support material (160) is obtained.

도5를 참조하면, 상기 지지 기재(160)는 캐리어(예를 들어, 유리 캐리어)(161), 캐리어(161) 상에 위치한 기재층(162), 및 기재층(162) 상에 형성된 포토레지스트 패턴층(163)을 포함할 수 있다. 상기 포토레지스트 패턴층(163)은, 강성 흡착헤드 그룹(120)의 복수의 강성 흡착헤드(121)에 대한 배열 방식을 사전에 계획하도록, 패터닝 공정에 의해 형성된 복수의 요함(凹陷)영역(1631)을 구비할 수 있다. 그 다음, 상기 요함영역(1631) 내에 강성 흡착헤드(121)가 배치될 수 있다. 상기 기재층(162)은 폴리이미드로 이루어질 수 있다. 상기 포토레지스트 패턴층(163)은 기재층(162) 상에 도포된 포토레지스트를 패터닝하여 형성된 것일 수 있고, 포토레지스트 패턴층(163)은 예를 들어 건식 또는 습식 세정을 통해 제거될 수 있다.Referring to FIG. 5, the support substrate (160) may include a carrier (e.g., a glass carrier) (161), a substrate layer (162) positioned on the carrier (161), and a photoresist pattern layer (163) formed on the substrate layer (162). The photoresist pattern layer (163) may have a plurality of recessed areas (1631) formed by a patterning process so as to plan in advance the arrangement method of a plurality of rigid suction heads (121) of the rigid suction head group (120). Then, the rigid suction heads (121) may be arranged within the recessed areas (1631). The substrate layer (162) may be made of polyimide. The above photoresist pattern layer (163) may be formed by patterning a photoresist applied on a substrate layer (162), and the photoresist pattern layer (163) may be removed, for example, through dry or wet cleaning.

302 단계에서, 지지 기재(160) 상에 강성 흡착헤드 그룹(120)을 형성한다.In step 302, a rigid adsorption head group (120) is formed on a support substrate (160).

강성 흡착헤드 그룹(120)을 형성하기 전에, 도6에 도시된 바와 같이, 포토레지스트 패턴층(163) 상에 먼저 절연층(140)을 형성할 수 있고, 상기 절연층(140)은 무기 물질을 이용하여 증착 공정을 통해 포토레지스트 패턴층(163) 상에 형성할 수 있다. 절연층(140)의 가공이 완료된 후, 지지 기재(160)로부터 떨어져 있는 절연층(140)의 일측에 금속층을 증착하고, 금속층을 패터닝하여 복수의 강성 흡착헤드(121)를 포함하는 강성 흡착헤드 그룹(120)을 얻을 수 있다. Before forming the rigid suction head group (120), as illustrated in FIG. 6, an insulating layer (140) may first be formed on the photoresist pattern layer (163), and the insulating layer (140) may be formed on the photoresist pattern layer (163) through a deposition process using an inorganic material. After the processing of the insulating layer (140) is completed, a metal layer may be deposited on one side of the insulating layer (140) that is away from the support substrate (160), and the metal layer may be patterned to obtain a rigid suction head group (120) including a plurality of rigid suction heads (121).

303 단계에서, 지지 기재(160)로부터 떨어져 있는 강성 흡착헤드 그룹(120)의 일측에 탄성 기재(110)를 형성한다. In step 303, an elastic substrate (110) is formed on one side of a rigid suction head group (120) that is separated from the support substrate (160).

도7을 참조하면, 탄성 기재(110)를 형성하기 전에, 강성 흡착헤드 그룹(120)을 기준으로 각 강성 흡착헤드(121)에 대응하는 강화층(150)을 형성할 수 있다. 상기 강화층(150)은 포토레지스트, 산화규소 및 액상유리(spin-on glass, SOG)로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상으로 이루어질 수 있다. 또한, 도7을 참조하면, 보강층(150)의 공정이 완료된 후, 보강층(150)을 기준으로 폴리디메틸실록산, 실리콘 고무 및 폴리우레탄으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상을 도포하여 탄성 기재(110)를 형성할 수 있다.Referring to FIG. 7, before forming the elastic substrate (110), a reinforcing layer (150) corresponding to each rigid suction head (121) can be formed based on the rigid suction head group (120). The reinforcing layer (150) can be formed of at least one selected from the group consisting of photoresist, silicon oxide, and spin-on glass (SOG). In addition, referring to FIG. 7, after the process of the reinforcing layer (150) is completed, at least one selected from the group consisting of polydimethylsiloxane, silicone rubber, and polyurethane can be applied based on the reinforcing layer (150) to form the elastic substrate (110).

304 단계에서, 상기 지지 기재(160)로부터 떨어져 있는 상기 탄성 기재(110)의 일측에 기판(130)을 형성한다.In step 304, a substrate (130) is formed on one side of the elastic substrate (110) that is away from the support substrate (160).

도8을 참조하면, 탄성 기재(110)를 형성한 후, 지지 기재(160)로부터 떨어져 있는 탄성 기재(110)의 일측에 기판(130)을 형성할 수 있다. Referring to FIG. 8, after forming an elastic substrate (110), a substrate (130) can be formed on one side of the elastic substrate (110) that is away from the support substrate (160).

305 단계에서, 도9를 참조하면, 지지 기재(160)를 제거하여 일괄 이송헤드(100)를 얻는다.At step 305, referring to FIG. 9, the support material (160) is removed to obtain a batch transfer head (100).

캐리어(161)는 레이저로 박리될 수 있고, 기재층(162)은 기계식 박리나 건식 또는 습식으로 제거될 수 있고, 포토레지스트 패턴층(163)은 건식 또는 습식으로 제거될 수 있고, 이에 따라 도9에 도시된 바와 같은 일괄 이송헤드(100)를 얻는다.The carrier (161) can be peeled off with a laser, the substrate layer (162) can be removed by mechanical peeling or dry or wet, and the photoresist pattern layer (163) can be removed dry or wet, thereby obtaining a batch transfer head (100) as shown in FIG. 9.

본 출원은 절연층(140), 강성 흡착헤드 그룹(120), 강화층(150), 탄성 기재(110) 및 기판(130)의 가공순서를 통해, 절연층(140), 강성 흡착헤드 그룹(120) 및 강화층(150)을 가공할 때 탄성 기재(110)에 대한 공정 온도 및 환경의 영향을 피할 수 있다. The present application can avoid the influence of process temperature and environment on the elastic substrate (110) when processing the insulating layer (140), the rigid adsorption head group (120), and the reinforcing layer (150) through the processing order of the insulating layer (140), the rigid adsorption head group (120), the reinforcing layer (150), the elastic substrate (110), and the substrate (130).

이상에서 설명된 실시예의 각 기술적 특징은 임의로 조합될 수 있고, 설명의 간략화를 위해, 상기 실시예에서 각 기술적 특징의 모든 가능한 조합은 서술되지 않았지만, 이들의 기술적 특징의 조합 간에 모순이 없는 한, 본 명세서의 기재 범위에 속하는 것으로 간주되어야 한다. Each technical feature of the embodiments described above may be arbitrarily combined, and for the sake of simplicity of explanation, not all possible combinations of each technical feature in the embodiments described above are described, but as long as there is no contradiction between combinations of these technical features, they should be considered to fall within the scope of the present specification.

전술한 상기 실시예는 단지 본 출원의 특정 실시예를 나타내며, 그에 대한 설명은 구체적이고 상세하지만, 본 출원의 범위를 제한하는 것으로 의도되지 않는다. 당업자는 본 발명의 사상을 벗어나지 않는 범위에서 다양한 변형 및 수정을 행할 수 있으며, 이들은 모두 본 발명의 청구범위에 속한다. 따라서, 본 출원의 범위는 첨부된 특허청구의 범위에 의해 결정된다.The above-described embodiments are merely specific examples of the present application, and while the description thereof is specific and detailed, it is not intended to limit the scope of the present application. Those skilled in the art will be able to make various modifications and variations without departing from the spirit of the present invention, and all of these fall within the scope of the claims of the present invention. Accordingly, the scope of the present application is determined by the scope of the appended claims.

Claims (18)

기판;
상기 기판 상에 배치되는 탄성 기재; 및
복수의 강성 흡착헤드를 포함하는 강성 흡착헤드 그룹으로서, 상기 탄성 기재 상에 배치되어, 상기 탄성 기재의 변형에 의해 상기 강성 흡착헤드 그룹 내의 각 강성 흡착헤드의 위치가 조절되는 강성 흡착헤드 그룹;
상기 탄성 기재로부터 떨어져 있는 상기 강성 흡착헤드 그룹의 일측에 배치되며, 상기 복수의 강성 흡착헤드와 일대일 대응하여 배치되는 버퍼층; 및
상기 강성 흡착헤드 그룹의 각 상기 강성 흡착헤드에 대응하여 상기 탄성 기재에 삽입되어 배치되며, 상기 탄성 기재와 대응하는 상기 강성 흡착헤드 사이에 위치하는 강화층을 포함하되,
상기 탄성 기재는 상기 기판과 상기 강성 흡착헤드 그룹 사이에 위치하며,
상기 강성 흡착헤드는 서로 분리되어 있는 금속으로 이루어진 제1 전극 및 제2 전극을 포함하고,
상기 탄성 기재와 상기 강화층은 상이한 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 일괄 이송헤드.
substrate;
An elastic substrate disposed on the substrate; and
A rigid suction head group including a plurality of rigid suction heads, wherein the rigid suction head group is arranged on the elastic substrate, and the position of each rigid suction head in the rigid suction head group is adjusted by deformation of the elastic substrate;
A buffer layer disposed on one side of the group of rigid suction heads away from the elastic substrate and arranged in one-to-one correspondence with the plurality of rigid suction heads; and
A reinforcing layer is inserted and placed in the elastic substrate corresponding to each of the rigid suction heads of the rigid suction head group, and is positioned between the elastic substrate and the corresponding rigid suction head,
The above elastic substrate is positioned between the substrate and the rigid suction head group,
The above rigid adsorption head comprises a first electrode and a second electrode made of metal which are separated from each other,
A batch transfer head, characterized in that the elastic substrate and the reinforcing layer are made of different materials.
삭제delete 제1항에 있어서,
각 상기 강성 흡착헤드의 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극은 이송대상 소자를 흡착하도록 상호 작용하여 전하를 생성할 수 있는 것을 특징으로 하는, 일괄 이송헤드.
In the first paragraph,
A batch transfer head, characterized in that the first electrode and the second electrode of each of the above rigid suction heads can interact to generate charges so as to suction a transfer target element.
제3항에 있어서,
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극을 덮는 절연층을 더 포함하고,
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극은 상기 절연층과 상기 탄성 기재 사이에 위치하며,
상기 제1 전극과 상기 제2 전극 중 하나에 양전압을 인가하고 다른 하나에 음전압을 인가하면, 상기 절연층 표면에 전하가 유도 생성되어 상기 이송대상 소자를 흡착하는 것을 특징으로 하는, 일괄 이송헤드.
In the third paragraph,
Further comprising an insulating layer covering the first electrode and the second electrode,
The first electrode and the second electrode are positioned between the insulating layer and the elastic substrate,
A batch transfer head characterized in that when a positive voltage is applied to one of the first electrode and the second electrode and a negative voltage is applied to the other, a charge is induced and generated on the surface of the insulating layer to adsorb the target transfer element.
제4항에 있어서,
상기 강성 흡착헤드 그룹 내의 전부의 강성 흡착헤드는 하나의 절연층을 공유하거나; 또는
상기 절연층은 질화규소 및 산화규소 중 하나 이상으로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 일괄 이송헤드.
In paragraph 4,
All of the rigid suction heads within the above rigid suction head group share one insulating layer; or
A batch transfer head, characterized in that the insulating layer is made of at least one of silicon nitride and silicon oxide.
제1항에 있어서,
상기 강화층은 포토레지스트, 산화규소 및 액상유리로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상으로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 일괄 이송헤드.
In the first paragraph,
A batch transfer head, characterized in that the reinforcing layer is made of at least one selected from the group consisting of photoresist, silicon oxide, and liquid glass.
제1항, 제3항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 탄성 기재는 폴리디메틸실록산, 실리콘 고무 및 폴리우레탄으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상으로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 일괄 이송헤드.
In any one of paragraphs 1, 3 to 6,
A batch transfer head, characterized in that the elastic substrate is made of at least one selected from the group consisting of polydimethylsiloxane, silicone rubber, and polyurethane.
제1항에 있어서,
상기 탄성 기재의 두께는 동일 평면에 배치된 일괄 이송대상인 복수의 소자 간의 높이 차이보다 크거나; 또는
상기 탄성 기재의 두께 방향에서의 탄성변형량은 동일 평면에 배치된 일괄 이송대상인 복수의 소자 간의 높이 차이보다 큰 것을 특징으로 하는, 일괄 이송헤드.
In the first paragraph,
The thickness of the elastic substrate is greater than the height difference between multiple elements that are batch transport targets arranged on the same plane; or
A batch transfer head, characterized in that the elastic deformation in the thickness direction of the elastic substrate is greater than the height difference between a plurality of elements that are batch transfer targets arranged on the same plane.
제1항에 따른 일괄 이송헤드의 가공방법으로서,
지지 기재를 획득하는 단계;
상기 지지 기재 상에 버퍼층을 형성하는 단계;
상기 지지 기재로부터 떨어져 있는 상기 버퍼층의 일측에 금속층을 증착하고, 금속층을 패터닝하여 복수의 강성 흡착헤드를 포함하는 강성 흡착헤드 그룹을 형성하는 단계;
상기 지지 기재로부터 떨어져 있는 상기 강성 흡착헤드 그룹의 일측에 각 강성 흡착헤드에 대응하는 강화층을 형성하는 단계;
상기 지지 기재로부터 떨어져 있는 상기 강성 흡착헤드 그룹의 일측에 탄성 기재를 형성하는 단계;
상기 지지 기재로부터 떨어져 있는 상기 탄성 기재의 일측에 기판을 형성하는 단계; 및
상기 지지 기재를 제거하여 일괄 이송헤드를 얻는 단계를 포함하되,
상기 강화층은 상기 탄성 기재와 대응하는 상기 강성 흡착헤드 사이에 위치하고, 상기 탄성 기재와 상기 강화층은 상이한 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 일괄 이송헤드의 가공방법.
A processing method of a batch transfer head according to Article 1,
Step of obtaining supporting materials;
A step of forming a buffer layer on the above supporting substrate;
A step of depositing a metal layer on one side of the buffer layer that is away from the support substrate and patterning the metal layer to form a rigid suction head group including a plurality of rigid suction heads;
A step of forming a reinforcing layer corresponding to each rigid suction head on one side of the rigid suction head group separated from the support substrate;
A step of forming an elastic substrate on one side of the rigid suction head group that is separated from the support substrate;
A step of forming a substrate on one side of the elastic substrate that is away from the support substrate; and
Including the step of removing the above support material to obtain a batch transfer head,
A method for processing a batch transfer head, wherein the reinforcing layer is positioned between the elastic substrate and the corresponding rigid suction head, and the elastic substrate and the reinforcing layer are made of different materials.
제9항에 있어서,
상기 지지 기재 상에 강성 흡착헤드 그룹을 형성하는 단계는,
상기 지지 기재 상에 절연층을 형성하는 단계; 및
상기 지지 기재로부터 떨어져 있는 상기 절연층의 일측에 상기 강성 흡착헤드 그룹을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 일괄 이송헤드의 가공방법.
In Article 9,
The step of forming a rigid adsorption head group on the above support substrate is:
A step of forming an insulating layer on the above supporting substrate; and
A method for processing a batch transfer head, characterized in that it comprises a step of forming the rigid suction head group on one side of the insulating layer away from the supporting substrate.
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