KR102696811B1 - 인쇄회로기판 전기검사장치 및 전기검사방법 - Google Patents
인쇄회로기판 전기검사장치 및 전기검사방법 Download PDFInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 36
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 149
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 27
- 238000010330 laser marking Methods 0.000 claims description 26
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 22
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 6
- 239000000306 component Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000008358 core component Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
- G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Description
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 전기검사장치의 구성 중 셔틀모듈의 사시도이다.
도 3은 도 2에서의 클램프유닛의 평면도이다.
도 4 내지 도 7은 클램프유닛에 의하여 수행되는 인쇄회로기판의 평탄화 프로세스를 설명하기 위한 평면도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 전기검사방법을 시계열적으로 도시한 플로우차트이다.
도 9는 도 8 중 인쇄회로기판을 고정 및 평탄화하는 단계를 시계열적으로 도시한 플로우차트이다.
도 10은 도 9 중 인쇄회로기판을 클램핑 및 평탄화하는 단계를 시계열적으로 도시한 플로우차트이다.
도 11은 도 10 중 검사모듈의 검사결과 상기 인쇄회로기판이 불량인 것으로 판정될 경우 제2 픽업모듈이 전기검사가 완료된 인쇄회로기판을 페일 스태커 중 적어도 하나에 전달하는 단계를 시계열적으로 도시한 플로우차트이다.
100: 스태커모듈
210: 제1 픽업모듈
220: 제2 픽업모듈
300: 셔틀모듈
310: 안착유닛
320: 클램프유닛
330: 이송레일
340: 정반
350: 제1 클램프부
360: 제2 클램프부
400: 검사모듈
500: 레이저 마킹모듈
510: 레이저 마킹 테이블
520: 흡진유닛
Claims (13)
- 인쇄회로기판이 적재되도록 구성되고, 로드 스태커, 패스 스태커, 재검용 스태커 및 페일 스태커 중 적어도 하나를 포함하는 스태커모듈;
상기 스태커모듈에 적재된 인쇄회로기판을 픽업하는 제1 픽업모듈;
상기 제1 픽업모듈로부터 상기 인쇄회로기판을 전달받고, 상기 인쇄회로기판을 고정 안착시킨 상태로 이동 가능하도록 형성되는 셔틀모듈;
상기 셔틀모듈에 안착된 상기 인쇄회로기판의 전기검사를 수행하는 검사모듈; 및
상기 검사모듈에 의하여 전기검사가 완료된 상기 인쇄회로기판을 픽업하여 상기 스태커모듈로 전달하는 제2 픽업모듈;
을 포함하고,
상기 셔틀모듈은, 상기 인쇄회로기판을 안착하는 안착유닛;과, 상기 안착유닛에 안착된 인쇄회로기판을 고정하는 클램프유닛; 및 상기 클램프유닛의 상기 검사모듈로의 이동을 가이드하는 이송레일;을 포함하고,
상기 클램프유닛은, 상기 인쇄회로기판의 일측을 클램핑하는 제1 클램프부;와, 상기 제1 클램프부와 대향되도록 배치되어 상기 인쇄회로기판의 타측을 클램핑하는 제2 클램프부;를 포함하고, 상기 제1 클램프부 및 제2 클램프부 중 적어도 하나는 X축 방향으로 이동 가능하도록 형성되고,
상기 제1 클램프부는 미리 설정된 간격으로 순차적으로 이격하여 배치된 제1 클램프, 제2 클램프 및 제3 클램프를 포함하고, 상기 제2 클램프부는 상기 제1 클램프, 제2 클램프 및 제3 클램프와 각각 대응되는 제4 클램프, 제5 클램프 및 제6 클램프를 포함하고,
상기 제1 클램프 내지 제6 클램프는 상호 독립적으로 구동하는 인쇄회로기판 전기검사장치.
- 청구항 1에 있어서,
상기 제1 픽업모듈은 상기 로드 스태커에 적재된 인쇄회로기판을 상기 셔틀모듈로 전달하고,
상기 제2 픽업모듈은 검사가 완료된 인쇄회로기판을 상기 패스 스태커, 재검용 스태커 및 페일 스태커 중 적어도 하나로 전달하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 전기검사장치.
- 청구항 2에 있어서,
상기 제2 픽업모듈로부터 전달받은 불량판정을 받은 인쇄회로기판을 상기 페일 스태커로 전달하기 전에 레이저 마킹을 수행하는 레이저 마킹모듈;을 더 포함하고,
상기 레이저 마킹모듈은, 상기 불량판정을 받은 인쇄회로기판을 안착하는 레이저 마킹 테이블; 상기 인쇄회로기판에 불량표식을 마킹하는 레이저 마킹유닛; 및 상기 레이저 마킹유닛의 마킹과정에서 발생하는 분진을 제거하는 흡진유닛;을 포함하고,
상기 제2 픽업모듈은 불량표식이 마킹된 상기 인쇄회로기판을 상기 페일 스태커로 전달하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 전기검사장치.
- 삭제
- 청구항 1에 있어서, 상기 셔틀모듈은,
상기 이송레일 하부에 배치되어 상기 이송레일을 지지하는 정반;
을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 전기검사장치.
- 삭제
- 삭제
- 청구항 1에 있어서,
상기 제2 클램프 및 제5 클램프는 각각 상기 제1 클램프부 및 제2 클램프부에 고정 설치되고,
상기 제1 클램프 및 제3 클램프는 상기 제1 클램프부 내에서 미리 설정된 거리만큼 이동 가능하도록 구성되고,
상기 제4 클램프 및 제6 클램프는 상기 제2 클램프부 내에서 미리 설정된 거리만큼 이동 가능하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 전기검사장치.
- 제1 픽업모듈이 로드 스태커에 적재된 인쇄회로기판을 픽업하여 셔틀모듈로 전달하는 단계;
상기 셔틀모듈이 상기 인쇄회로기판을 고정 및 평탄화하는 단계;
검사모듈이 상기 셔틀모듈로부터 전달받은 인쇄회로기판의 전기검사를 수행하는 단계; 및
상기 검사모듈의 검사결과에 기초하여 제2 픽업모듈이 전기검사가 완료된 인쇄회로기판을 패스 스태커, 재검용 스태커 및 페일 스태커 중 적어도 하나에 전달하는 단계;
를 포함하되,
상기 셔틀모듈은 상기 인쇄회로기판을 안착하는 안착유닛;과, 상기 안착유닛에 안착된 인쇄회로기판을 고정하는 클램프유닛;과, 상기 안착유닛의 상기 검사모듈로의 이동을 가이드하는 이송레일;을 포함하고,
상기 클램프유닛은, 상기 인쇄회로기판의 일측을 클램핑하는 제1 클램프부;와, 상기 제1 클램프부와 대향되도록 배치되어 상기 인쇄회로기판의 타측을 클램핑하는 제2 클램프부;를 포함하고,
상기 제1 클램프부 및 제2 클램프부 중 적어도 하나는 X축 방향으로 이동 가능하도록 형성되고,
상기 제1 클램프부는 미리 설정된 간격으로 순차적으로 이격하여 배치된 제1 클램프, 제2 클램프 및 제3 클램프를 포함하고, 상기 제2 클램프부는 상기 제1 클램프, 제2 클램프 및 제3 클램프와 각각 대응되는 제4 클램프, 제5 클램프 및 제6 클램프를 포함하되, 상기 제1 클램프 내지 제6 클램프는 상호 독립적으로 구동하는 인쇄회로기판 전기검사방법.
- 청구항 9에 있어서,
상기 인쇄회로기판을 고정 및 평탄화하는 단계는,
상기 제1 픽업모듈에 의하여 전달된 인쇄회로기판을 상기 안착유닛에 안착하는 단계;
상기 인쇄회로기판의 수평위치가 상기 클램프유닛에 대응될 수 있도록 상기 안착유닛이 상기 인쇄회로기판을 상부 방향으로 이동시키는 단계;
상기 클램프유닛이 상기 인쇄회로기판을 클램핑 및 평탄화하는 단계;
제1 카메라가 상기 인쇄회로기판의 피두셜 마크(Fiducial Mark)를 확인하여 상기 인쇄회로기판 내의 패드의 위치를 파악하는 단계; 및
상기 이송레일을 통하여 상기 클램프유닛을 상기 검사모듈로 이동시키는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 전기검사방법.
- 청구항 10에 있어서,
상기 클램프유닛이 상기 인쇄회로기판을 클램핑 및 평탄화하는 단계는,
상기 제1 클램프부 및 상기 제2 클램프부 중 적어도 하나가 X축 방향으로 이동하여 각각 상기 인쇄회로기판의 일측 및 타측과 접촉하는 단계;
상기 제2 클램프 및 제5 클램프가 상기 인쇄회로기판의 일측 및 타측을 클램핑하는 단계;
상기 제1 클램프 및 상기 제3 클램프가 상기 인쇄회로기판의 일측을 클램핑하고, 상기 제4 클램프 및 상기 제6 클램프가 상기 인쇄회로기판의 타측을 클램핑하는 단계;
상기 제1 클램프부 및 상기 제2 클램프부 중 적어도 하나가 X축 방향을 따라 상호 멀어지도록 이동하여 상기 인쇄회로기판의 X축 방향으로의 장력을 인가하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 전기검사방법.
- 청구항 11에 있어서,
상기 제2 클램프 및 제5 클램프는 각각 상기 제1 클램프부 및 제2 클램프부에 고정 설치되고, 상기 제1 클램프 및 제3 클램프는 상기 제1 클램프부 내에서 미리 설정된 거리만큼 이동하거나 또는 미리 설정된 각도만큼 회전 가능하도록 구성되고, 상기 제4 클램프 및 제6 클램프는 상기 제2 클램프부 내에서 미리 설정된 거리만큼 이동하거나 또는 미리 설정된 각도만큼 회전 가능하도록 구성되고,
상기 인쇄회로기판의 X축 방향으로의 장력을 인가하는 단계; 이후에는,
상기 제1 클램프 및 제3 클램프와, 상기 제4 클램프 및 제6 클램프를 상호 대향되는 방향으로 이동시켜 상기 인쇄회로기판의 엣지 영역에 X축 방향으로의 장력을 인가하는 단계;
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 전기검사방법.
- 청구항 12에 있어서, 상기 인쇄회로기판의 엣지 영역에 X축 방향으로의 장력을 인가하는 단계; 이후에는
상기 제1 클램프 및 제4 클램프와, 상기 제3 클램프 및 제6 클램프를 상호 대향되는 방향으로 이동시켜 상기 인쇄회로기판의 엣지 영역에 Y축 방향으로의 장력을 인가하는 단계;
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 전기검사방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220022181A KR102696811B1 (ko) | 2022-02-21 | 2022-02-21 | 인쇄회로기판 전기검사장치 및 전기검사방법 |
PCT/KR2023/000619 WO2023158108A1 (ko) | 2022-02-21 | 2023-01-13 | 인쇄회로기판 전기검사장치 및 전기검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220022181A KR102696811B1 (ko) | 2022-02-21 | 2022-02-21 | 인쇄회로기판 전기검사장치 및 전기검사방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20230125518A KR20230125518A (ko) | 2023-08-29 |
KR102696811B1 true KR102696811B1 (ko) | 2024-08-20 |
Family
ID=87578817
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020220022181A Active KR102696811B1 (ko) | 2022-02-21 | 2022-02-21 | 인쇄회로기판 전기검사장치 및 전기검사방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102696811B1 (ko) |
WO (1) | WO2023158108A1 (ko) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101554925B1 (ko) | 2014-10-20 | 2015-09-22 | 주식회사 메저닉스 | 인쇄회로기판 검사장치 |
KR101999651B1 (ko) * | 2018-05-09 | 2019-07-15 | 바이옵트로 주식회사 | 검사 장치 |
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JP4726606B2 (ja) | 2005-10-26 | 2011-07-20 | ヤマハファインテック株式会社 | プリント基板の電気検査装置、検査治具および検査治具の固定確認方法 |
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-
2022
- 2022-02-21 KR KR1020220022181A patent/KR102696811B1/ko active Active
-
2023
- 2023-01-13 WO PCT/KR2023/000619 patent/WO2023158108A1/ko active Application Filing
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2023158108A1 (ko) | 2023-08-24 |
KR20230125518A (ko) | 2023-08-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20220221 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20240202 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20240814 |
|
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20240814 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20240814 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration |