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KR102587268B1 - Method for manufacturing processed circuit boards, multilayer circuit boards and circuit boards with coverlay films, and films with adhesive layers - Google Patents

Method for manufacturing processed circuit boards, multilayer circuit boards and circuit boards with coverlay films, and films with adhesive layers Download PDF

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KR102587268B1
KR102587268B1 KR1020207006411A KR20207006411A KR102587268B1 KR 102587268 B1 KR102587268 B1 KR 102587268B1 KR 1020207006411 A KR1020207006411 A KR 1020207006411A KR 20207006411 A KR20207006411 A KR 20207006411A KR 102587268 B1 KR102587268 B1 KR 102587268B1
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circuit board
adhesive layer
film
layer
adhesive
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Inventor
도모야 호소다
와타루 가사이
아츠미 야마베
Original Assignee
에이지씨 가부시키가이샤
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Publication date
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Abstract

처리 회로 기판의 제조 방법과 접착제층이 형성된 필름의 제공.
테트라플루오로에틸렌계 폴리머를 함유하는 폴리머층과 상기 폴리머층의 표면에 형성된 도체 회로를 갖는 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 플라즈마 처리하여 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판을 얻고, 이어서, 그 상기 회로 기판의 플라즈마 처리면과 접착제층을 갖는 기판의 접착제층을 260 ℃ 미만에서 열압착시키는 처리 회로 기판의 제조 방법과, 테트라플루오로에틸렌계 폴리머의 필름과 열경화성 접착제층이 이 순서로 적층되고, 프레스 온도 160 ℃, 프레스 압력 4 ㎫, 프레스 시간 90 분간의 조건에서 상기 열경화성 접착제층을 경화시켰을 때, 상기 필름과 경화 후의 상기 열경화성 접착제층의 계면의 박리 강도가 5 N/㎝ 이상인 접착제층이 형성된 필름.
Providing a method of manufacturing a processed circuit board and a film on which an adhesive layer is formed.
The surface of the conductor circuit side of a circuit board having a polymer layer containing a tetrafluoroethylene-based polymer and a conductor circuit formed on the surface of the polymer layer is plasma treated to obtain a circuit board having a plasma-treated surface, and then the circuit is obtained. A method of manufacturing a treated circuit board in which the plasma treated surface of a substrate and the adhesive layer of a substrate having an adhesive layer are heat-compressed at less than 260° C., and a film of a tetrafluoroethylene-based polymer and a thermosetting adhesive layer are laminated in this order, and then pressed. When the thermosetting adhesive layer is cured under the conditions of a temperature of 160 ° C., a press pressure of 4 MPa, and a press time of 90 minutes, the peel strength of the interface between the film and the cured thermosetting adhesive layer is 5 N / cm or more. A film in which an adhesive layer is formed. .

Description

처리 회로 기판, 다층 회로 기판 및 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 제조 방법, 그리고 접착제층이 형성된 필름Method for manufacturing processed circuit boards, multilayer circuit boards and circuit boards with coverlay films, and films with adhesive layers

본 발명은, 처리 회로 기판, 다층 회로 기판 및 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 제조 방법, 그리고 접착제층이 형성된 필름에 관한 것이다.The present invention relates to a method of manufacturing a processed circuit board, a multilayer circuit board and a circuit board with a coverlay film, and a film with an adhesive layer.

전자 기기, 전기 기기의 소형화, 고기능화에 수반하여, 도체 회로가 다층화된 다층 회로 기판이나 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 수요가 증가하고 있다. 이들 회로 기판의 제조에는, 폴리이미드 필름의 표면에 도체 회로가 형성된 오리지널의 회로 기판과, 열경화성 접착제층을 갖는 기판 (접착제 시트 (본딩 시트) 또는 커버레이 필름) 을 열압착시키는 수법이 채용되고 있다.With the miniaturization and increased functionality of electronic devices and electric devices, the demand for multilayer circuit boards with multilayered conductor circuits and circuit boards with coverlay films is increasing. In the manufacture of these circuit boards, a method of thermocompression bonding an original circuit board with a conductor circuit formed on the surface of a polyimide film and a substrate (adhesive sheet (bonding sheet) or coverlay film) having a thermosetting adhesive layer is adopted. .

또한 최근에는, 이들 회로 기판에는, 고주대역의 주파수에 대응하는 전기 특성 (저유전율 등) 과, 땜납 리플로에 견딜 수 있는 내열성의 구비가 요구된다. 그러나, 종래의 폴리이미드 필름은, 전기 특성이 불충분하다.Additionally, in recent years, these circuit boards are required to have electrical properties (low dielectric constant, etc.) corresponding to frequencies in the high frequency range and heat resistance that can withstand solder reflow. However, conventional polyimide films have insufficient electrical properties.

그래서, 특허문헌 1 에는, 오리지널의 회로 기판의 절연 재료층, 접착제 시트 또는 커버레이 필름으로서 액정 폴리머 필름을 사용한 다층 회로 기판이 제안되어 있다.Therefore, Patent Document 1 proposes a multilayer circuit board using a liquid crystal polymer film as an insulating material layer, adhesive sheet, or coverlay film of the original circuit board.

특허문헌 2 에는, 폴리이미드 필름과, 폴리이미드 필름의 표면에 형성된, 접착성기를 갖는 융점 280 ∼ 320 ℃ 의 불소 폴리머의 층과, 그 층의 표면에 형성된 금속박을 갖는 플렉시블 금속 적층판, 그것을 사용한 플렉시블 프린트 기판이 제안되어 있다.Patent Document 2 discloses a flexible metal laminate having a polyimide film, a layer of fluoropolymer having an adhesive group and a melting point of 280 to 320°C formed on the surface of the polyimide film, and metal foil formed on the surface of the layer, and a flexible metal laminate using the same. A printed board is proposed.

특허문헌 3, 4, 5 및 6 에는, 전기 특성이 우수하고, 회로 기판의 전송 손실이 저감되는 커버레이 필름으로서, 폴리이미드 필름과 불소 폴리머를 함유하는 접착제층을 갖는 커버레이 필름이 제안되어 있다.Patent Documents 3, 4, 5, and 6 propose a coverlay film having an adhesive layer containing a polyimide film and a fluoropolymer as a coverlay film that has excellent electrical properties and reduces transmission loss of a circuit board. .

일본 공개특허공보 2014-042043호Japanese Patent Publication No. 2014-042043 국제공개 제2015/080260호International Publication No. 2015/080260 일본 공개특허공보 2014-032980호Japanese Patent Publication No. 2014-032980 일본 공개특허공보 2014-197611호Japanese Patent Publication No. 2014-197611 일본 공개특허공보 2015-133480호Japanese Patent Publication No. 2015-133480 일본 공개특허공보 2015-176921호Japanese Patent Publication No. 2015-176921

내열성의 액정 폴리머는, 그 융점이, 예를 들어 270 ℃ 이상으로 높기 때문에, 이들 회로 기판의 제조시에는, 오리지널의 회로 기판과 접착성의 기판을 270 ℃ 이상의 고온에서 열압착시킬 필요가 있다.Since the heat-resistant liquid crystal polymer has a high melting point, for example, 270°C or higher, when manufacturing these circuit boards, it is necessary to heat-compress the original circuit board and the adhesive substrate at a high temperature of 270°C or higher.

그 때문에, 액정 폴리머 필름을 사용한 경우, 열경화성 접착제를 접착제층 성분으로 하는 접착성의 기판에 사용되는 통상적인 프레스 장치는, 그 열압착의 설정 온도가, 예를 들어 220 ℃ 미만으로 낮기 때문에 대응할 수 없어, 고온의 열압착에 대응한 프레스 장치가 새로 필요해진다. 또, 270 ℃ 이상의 고온에서 열압착시키면, 액정 폴리머 필름이 용융되어, 도체 회로의 위치가 어긋나는 경우도 있다.Therefore, when a liquid crystal polymer film is used, a typical press device used for adhesive substrates using a thermosetting adhesive as an adhesive layer component cannot respond because the set temperature for thermocompression is low, for example, less than 220°C. , a new press device that supports high-temperature thermocompression is needed. In addition, when thermocompression is performed at a high temperature of 270°C or higher, the liquid crystal polymer film may melt and the position of the conductor circuit may be misaligned.

특허문헌 2 의 플렉시블 프린트 기판과 접착성의 기판을 열압착시킬 때에도, 불소 폴리머의 융점 이상의 고온 (예를 들어 280 ℃ 이상) 이 필요해져, 액정 폴리머를 사용한 경우와 동일한 문제가 발생한다.Even when thermocompression bonding the flexible printed circuit board and the adhesive substrate of Patent Document 2, a high temperature higher than the melting point of the fluoropolymer (for example, 280°C or higher) is required, causing the same problems as when using a liquid crystal polymer.

비교적 낮은 온도에서, 오리지널의 회로 기판과 접착성 기판을 열압착시켜, 다층 회로 기판이나 커버레이 필름이 형성된 회로 기판을 제조하는 방법이 요구되고 있다.There is a need for a method of manufacturing a multilayer circuit board or a circuit board with a coverlay film by thermocompressing an original circuit board and an adhesive board at a relatively low temperature.

커버레이 필름 등의 접착성의 기판에 관해서도, 비교적 낮은 온도의 열압착에서의 접착성과 전기 특성을 구비하는 기판이 요구되고 있다. 요컨대, 특허문헌 3, 4, 5 및 6 의, 불소 폴리머를 함유하는 접착제층을 갖는 커버레이 필름에 있어서도, 접착성을 발현시키기 위해, 열압착에 있어서의 불소 폴리머의 융점 이상의 고온 가열이 필요하여, 통상적인 프레스 장치로는 대응할 수 없어, 고온 열압착이 가능한 특수한 프레스 장치가 필요해진다.Regarding adhesive substrates such as coverlay films, there is a demand for substrates that have adhesive properties and electrical properties when thermally compressed at a relatively low temperature. In short, even in the coverlay films of Patent Documents 3, 4, 5, and 6, which have an adhesive layer containing a fluoropolymer, high temperature heating above the melting point of the fluoropolymer during thermal compression is required to develop adhesiveness. , ordinary press equipment cannot handle this, and a special press equipment capable of high-temperature thermocompression is required.

본 발명은, 비교적 낮은 온도에서 접착성의 기판과 회로 기판을 열압착시켜, 다층 회로 기판이나 커버레이 필름이 형성된 회로 기판 등을 제조할 수 있는 방법과, 전기 특성 및 비교적 낮은 온도에서의 열압착에서도 접착성을 충분히 발현시키는 접착성의 기판의 제공을 목적으로 한다.The present invention provides a method for manufacturing a multilayer circuit board or a circuit board with a coverlay film by thermo-compressing an adhesive substrate and a circuit board at a relatively low temperature, and also provides a method for producing a multi-layer circuit board or a circuit board with a coverlay film, etc., and the electrical properties and thermal compression at a relatively low temperature. The purpose is to provide an adhesive substrate that sufficiently exhibits adhesive properties.

본 발명은, 하기의 양태를 갖는다.The present invention has the following aspects.

(1) 테트라플루오로에틸렌계 폴리머를 함유하는 폴리머층과 상기 폴리머층의 표면에 형성된 도체 회로를 갖는 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 플라즈마 처리하여 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판을 얻고, 이어서, 그 회로 기판의 플라즈마 처리면과 접착제층을 갖는 기판의 접착제층을 260 ℃ 미만에서 열압착시켜 처리 회로 기판을 제조하는 것을 특징으로 하는, 처리 회로 기판의 제조 방법.(1) Plasma treating the surface on the conductor circuit side of a circuit board having a polymer layer containing a tetrafluoroethylene polymer and a conductor circuit formed on the surface of the polymer layer to obtain a circuit board having a plasma-treated surface, and then: A method of manufacturing a treated circuit board, characterized in that the treated circuit board is manufactured by thermally compressing the plasma treated surface of the circuit board and the adhesive layer of the substrate having the adhesive layer at less than 260°C.

(2) 상기 처리 회로 기판에 있어서의 열압착면의 박리 강도가 5 N/㎝ 이상인 상기 (1) 의 제조 방법.(2) The manufacturing method of (1) above, wherein the peeling strength of the heat-compressed surface of the processed circuit board is 5 N/cm or more.

(3) 상기 접착제층을 갖는 기판이 접착제층이 형성된 커버레이 필름이고, 상기 처리 회로 기판이 커버레이 필름이 형성된 회로 기판이거나, 또는 상기 접착제층을 갖는 기판이 접착제 시트이고 상기 처리 회로 기판이 접착층이 형성된 회로 기판인 상기 (1) 또는 (2) 의 제조 방법.(3) The substrate having the adhesive layer is a coverlay film with an adhesive layer formed thereon, and the processed circuit board is a circuit board with a coverlay film formed thereon, or the substrate having the adhesive layer is an adhesive sheet and the processed circuit board is an adhesive layer. The manufacturing method of (1) or (2) above, wherein the circuit board is formed.

(4) 상기 플라즈마 처리에 의해, 상기 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판의 상기 폴리머층의 노출면의 습윤 장력을 30 mN/m 이상으로 하는 상기 (1) ∼ (3) 의 제조 방법.(4) The manufacturing method of (1) to (3) above, wherein the wetting tension of the exposed surface of the polymer layer of the circuit board having the plasma treated surface is set to 30 mN/m or more by the plasma treatment.

(5) 상기 테트라플루오로에틸렌계 폴리머가, 카르보닐기 함유기, 하이드록시기, 에폭시기, 아미드기, 아미노기 및 이소시아네이트기로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종의 관능기를 갖는 상기 (1) ∼ (4) 의 제조 방법.(5) The tetrafluoroethylene-based polymer has at least one functional group selected from the group consisting of a carbonyl group-containing group, a hydroxy group, an epoxy group, an amide group, an amino group, and an isocyanate group. Manufacturing method.

(6) 상기 테트라플루오로에틸렌계 폴리머의 융점이 260 ℃ 이상인 상기 (1) ∼ (5) 의 제조 방법.(6) The production method of (1) to (5) above, wherein the melting point of the tetrafluoroethylene polymer is 260°C or higher.

(7) 상기 접착제층이, 고무 변성 에폭시 수지 및 경화제를 함유하는 열경화성 접착제층인 상기 (1) ∼ (6) 의 제조 방법.(7) The manufacturing method of (1) to (6) above, wherein the adhesive layer is a thermosetting adhesive layer containing a rubber-modified epoxy resin and a curing agent.

(8) 상기 접착제층을 갖는 기판이, 프레스 온도 160 ℃, 프레스 압력 4 ㎫, 프레스 시간 90 분간의 조건에서, 상기 회로 기판의 플라즈마 처리면과 상기 접착제층을 갖는 기판의 접착제층을 열압착시켰을 때, 상기 처리 회로 기판에 있어서의 열압착면의 박리 강도가 5 N/㎝ 이상이 되는 기판인 상기 (1) ∼ (7) 의 제조 방법.(8) For the substrate having the adhesive layer, the adhesive layer of the substrate having the adhesive layer is heat-compressed with the plasma treated surface of the circuit board under the conditions of a press temperature of 160°C, a press pressure of 4 MPa, and a press time of 90 minutes. The manufacturing method of (1) to (7) above, wherein the processed circuit board is a substrate in which the peeling strength of the heat-compressed surface is 5 N/cm or more.

(9) 테트라플루오로에틸렌계 폴리머를 함유하는 폴리머층과 그 폴리머층의 표면에 형성된 도체 회로를 갖는 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 플라즈마 처리하여 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판을 얻고, 이어서, 복수의 상기 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판의 플라즈마 처리면을 각각 대향시키고, 각각의 플라즈마 처리면의 사이에 접착제 시트를 배치하고, 260 ℃ 미만에서 열압착시켜 복수층의 도체 회로를 갖는 다층 회로 기판을 제조하는 것을 특징으로 하는, 다층 회로 기판의 제조 방법.(9) Plasma treating the surface on the conductor circuit side of a circuit board having a polymer layer containing a tetrafluoroethylene polymer and a conductor circuit formed on the surface of the polymer layer to obtain a circuit board having a plasma-treated surface, followed by: The plasma treated surfaces of the circuit board having the plurality of plasma treated surfaces are opposed to each other, an adhesive sheet is placed between the respective plasma treated surfaces, and heat-compressed at less than 260° C. to form a multilayer circuit board having a plurality of layers of conductor circuits. A method of manufacturing a multilayer circuit board, characterized in that manufacturing a.

(10) 테트라플루오로에틸렌계 폴리머를 함유하는 폴리머층과 상기 폴리머층의 표면에 형성된 도체 회로를 갖는 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 플라즈마 처리하여 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판을 얻고, 이어서, 그 회로 기판의 플라즈마 처리면과 접착제층이 형성된 커버레이 필름의 접착제층을 260 ℃ 미만에서 열압착시켜 커버레이 필름이 형성된 회로 기판을 제조하는 것을 특징으로 하는, 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 제조 방법.(10) Plasma treating the surface on the conductor circuit side of a circuit board having a polymer layer containing a tetrafluoroethylene polymer and a conductor circuit formed on the surface of the polymer layer to obtain a circuit board having a plasma-treated surface, followed by: Manufacture of a circuit board with a coverlay film, characterized in that a circuit board with a coverlay film is manufactured by thermally compressing the plasma treated surface of the circuit board and the adhesive layer of the coverlay film on which the adhesive layer is formed at less than 260 ° C. method.

(11) 테트라플루오로에틸렌계 폴리머의 필름과 열경화성 접착제층이 이 순서로 적층되고, 프레스 온도 160 ℃, 프레스 압력 4 ㎫, 프레스 시간 90 분간의 조건에서 상기 열경화성 접착제층을 경화시켰을 때, 상기 필름과 경화 후의 상기 열경화성 접착제층의 계면의 박리 강도가 5 N/㎝ 이상인 것을 특징으로 하는, 접착제층이 형성된 필름.(11) When a tetrafluoroethylene-based polymer film and a thermosetting adhesive layer are laminated in this order and the thermosetting adhesive layer is cured under the conditions of a press temperature of 160 ° C., a press pressure of 4 MPa, and a press time of 90 minutes, the film A film with an adhesive layer, characterized in that the peel strength of the interface of the thermosetting adhesive layer after overcuring is 5 N/cm or more.

(12) 상기 테트라플루오로에틸렌계 폴리머가, 카르보닐기 함유기, 하이드록시기, 에폭시기, 아미드기, 아미노기 및 이소시아네이트기로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종의 관능기를 갖는 상기 (11) 의 접착제층이 형성된 필름.(12) The adhesive layer of (11) above is formed, wherein the tetrafluoroethylene polymer has at least one functional group selected from the group consisting of a carbonyl group-containing group, a hydroxy group, an epoxy group, an amide group, an amino group, and an isocyanate group. film.

(13) 상기 테트라플루오로에틸렌계 폴리머의 융점이, 260 ℃ 이상인 상기 (11) 또는 (12) 의 접착제층이 형성된 필름.(13) The film with the adhesive layer of (11) or (12) above, wherein the melting point of the tetrafluoroethylene polymer is 260°C or higher.

(14) 상기 열경화성 접착제층이, 고무 변성 에폭시 수지 및 경화제를 함유하는 열경화성 접착제층인 상기 (11) ∼ (13) 의 접착제층이 형성된 필름.(14) The film with the adhesive layer of any of the above (11) to (13), wherein the thermosetting adhesive layer is a thermosetting adhesive layer containing a rubber-modified epoxy resin and a curing agent.

(15) 커버레이 필름 또는 층간 절연 필름인 상기 (11) ∼ (14) 의 접착제층이 형성된 필름.(15) A film formed with the adhesive layer of the above (11) to (14), which is a coverlay film or an interlayer insulation film.

본 발명의 제조 방법에 의하면, 비교적 낮은 온도에서 회로 기판과 접착성의 기판을 열압착시켜, 다층 회로 기판이나 커버레이 필름이 형성된 회로 기판 등의 처리 회로 기판을 제조할 수 있다.According to the manufacturing method of the present invention, a circuit board and an adhesive substrate are thermocompressed at a relatively low temperature, and a processed circuit board such as a multilayer circuit board or a circuit board with a coverlay film can be manufactured.

본 발명에 의하면, 비교적 낮은 온도에서, 전기 특성이 우수하고, 충분한 접착성을 발현시키는, 커버레이 필름이나 층간 절연 필름으로서 유용한 접착제층이 형성된 필름이 얻어진다.According to the present invention, a film with an adhesive layer useful as a coverlay film or an interlayer insulating film, which has excellent electrical properties and exhibits sufficient adhesiveness at a relatively low temperature, is obtained.

도 1 은, 다층 회로 기판의 일례를 나타내는 단면도이다.
도 2 는, 다층 회로 기판의 다른 예를 나타내는 단면도이다.
도 3 은, 다층 회로 기판의 다른 예를 나타내는 단면도이다.
도 4 는, 도 1 의 다층 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.
도 5 는, 도 2 의 다층 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.
도 6 은, 도 3 의 다층 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.
도 7 은, 접착 필름을 커버레이 필름으로 하는 일례를 나타낸 단면도이다.
도 8 은, 접착 필름을 층간 절연 필름으로 하는 일례를 나타낸 단면도이다.
도 9 는, 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 일례를 나타내는 단면도이다.
도 10 은, 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 다른 예를 나타내는 단면도이다.
도 11 은, 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 다른 예를 나타내는 단면도이다.
도 12 는, 커버레이 필름이 형성된 다층 회로 기판의 일례를 나타내는 단면도이다.
도 13 은, 커버레이 필름이 형성된 다층 회로 기판의 다른 예를 나타내는 단면도이다.
도 14 는, 도 9 의 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.
도 15 는, 도 10 의 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.
도 16 은, 도 11 의 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.
도 17 은, 도 12 의 다층 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.
도 18 은, 도 13 의 다층 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.
1 is a cross-sectional view showing an example of a multilayer circuit board.
Figure 2 is a cross-sectional view showing another example of a multilayer circuit board.
Figure 3 is a cross-sectional view showing another example of a multilayer circuit board.
FIG. 4 is a cross-sectional view showing the manufacturing of the multilayer circuit board of FIG. 1.
FIG. 5 is a cross-sectional view showing the manufacturing of the multilayer circuit board of FIG. 2.
FIG. 6 is a cross-sectional view showing the manufacturing of the multilayer circuit board of FIG. 3.
Figure 7 is a cross-sectional view showing an example of using an adhesive film as a coverlay film.
Fig. 8 is a cross-sectional view showing an example of using an adhesive film as an interlayer insulating film.
Figure 9 is a cross-sectional view showing an example of a circuit board on which a coverlay film is formed.
Figure 10 is a cross-sectional view showing another example of a circuit board on which a coverlay film is formed.
Figure 11 is a cross-sectional view showing another example of a circuit board on which a coverlay film is formed.
Fig. 12 is a cross-sectional view showing an example of a multilayer circuit board on which a coverlay film is formed.
Figure 13 is a cross-sectional view showing another example of a multilayer circuit board on which a coverlay film is formed.
FIG. 14 is a cross-sectional view showing the manufacturing of the circuit board of FIG. 9.
FIG. 15 is a cross-sectional view showing manufacturing the circuit board of FIG. 10.
FIG. 16 is a cross-sectional view showing manufacturing the circuit board of FIG. 11.
FIG. 17 is a cross-sectional view showing the manufacturing of the multilayer circuit board of FIG. 12.
FIG. 18 is a cross-sectional view showing the manufacturing of the multilayer circuit board of FIG. 13.

이하의 용어의 정의는, 본 명세서 및 특허청구범위에 걸쳐서 적용된다.The definitions of terms below apply throughout this specification and claims.

「열압착의 온도」는, 프레스 장치에 있어서의 열반 (熱盤) 의 설정 온도이다.“Thermal compression temperature” is the set temperature of the hot plate in the press device.

「융점」은, 시차 주사 열량 측정 (DSC) 법으로 측정한 융해 피크의 최대값에 대응하는 온도이다.“Melting point” is the temperature corresponding to the maximum value of the melting peak measured by differential scanning calorimetry (DSC).

「습윤 장력」은, JIS K 6768 : 1999 (대응 국제 규격 ISO 8296 : 1987) 에 따라서 측정되는 값이다. 습윤 장력의 측정에 있어서는, 시험편 상에, 습윤 장력이 이미 알려진 시험액에 담근 면봉을 재빠르게 문질러 발라, 6 ㎠ 의 액막을 형성하고, 도포 2 초 후의 액막의 상태를 관찰하여, 찢어짐이 발생하고 있지 않으면, 젖어 있는 것으로 한다. 액막의 찢어짐이 일어나지 않는 최대의 습윤 장력이, 그 시험편의 습윤 장력이 된다. 또한, JIS K 6768 : 1999 에서 규정되어 있는 시험액의 습윤 장력의 하한은 22.6 mN/m 이다.“Wetting tension” is a value measured according to JIS K 6768:1999 (corresponding international standard ISO 8296:1987). In the measurement of wetting tension, a cotton swab dipped in a test liquid whose wetting tension is already known is quickly rubbed on the test piece to form a liquid film of 6 cm2, and the state of the liquid film is observed 2 seconds after application to determine whether tearing has occurred. If not, do it as wet. The maximum wetting tension at which tearing of the liquid film does not occur becomes the wetting tension of the test piece. Additionally, the lower limit of the wetting tension of the test liquid specified in JIS K 6768:1999 is 22.6 mN/m.

「처리 회로 기판의 박리 강도」는, 다음과 같이 하여 측정된 값이다. 처리 회로 기판을 길이 150 ㎜, 폭 10 ㎜ 로 잘라내어, 평가 샘플을 제조한다. 평가 샘플의 길이 방향의 일단으로부터 50 ㎜ 의 위치까지 폴리머층 및 도체 회로와 접착층 사이를 박리한다. 인장 시험기를 사용하여 인장 속도 50 ㎜/분으로 90°가 되도록 박리하고, 측정 거리 20 ㎜ 에서 80 ㎜ 까지의 평균 하중을 박리 강도 (N/㎝) 한다.“Peel strength of processed circuit board” is a value measured as follows. The processed circuit board is cut to 150 mm in length and 10 mm in width to prepare an evaluation sample. The polymer layer, the conductor circuit, and the adhesive layer are separated to a position of 50 mm from one end in the longitudinal direction of the evaluation sample. Using a tensile tester, the strip is peeled at an angle of 90° at a tensile speed of 50 mm/min, and the average load over a measurement distance of 20 mm to 80 mm is determined as the peel strength (N/cm).

「접착제층이 형성된 필름의 박리 강도」는, 다음과 같이 하여 측정된 값이다. 열경화 후의 접착제층이 형성된 필름을 길이 150 ㎜, 폭 10 ㎜ 로 잘라내어, 평가 샘플을 제조한다. 평가 샘플의 길이 방향의 일단으로부터 50 ㎜ 의 위치까지 폴리머층과 열경화 후의 열경화성 접착층 사이를 박리한다. 인장 시험기를 사용하여 인장 속도 50 ㎜/분으로 90°가 되도록 박리하고, 측정 거리 20 ㎜ 에서 80 ㎜ 까지의 평균 하중을 박리 강도 (N/㎝) 로 한다.“Peel strength of film with adhesive layer” is a value measured as follows. The film with the adhesive layer after heat curing is cut into a length of 150 mm and a width of 10 mm to prepare an evaluation sample. The polymer layer and the thermosetting adhesive layer after heat curing are separated to a position of 50 mm from one end in the longitudinal direction of the evaluation sample. Using a tensile tester, it is peeled at an angle of 90° at a tensile speed of 50 mm/min, and the average load from the measurement distance of 20 mm to 80 mm is taken as the peel strength (N/cm).

「용융 성형 가능한 폴리머」란, 하중 49 N 의 조건하, 수지의 융점보다 20 ℃ 이상 높은 온도에 있어서, 용융 흐름 속도가 0.1 ∼ 1000 g/10 분이 되는 온도가 존재하는 폴리머를 의미한다.“Melt-mouldable polymer” means a polymer that has a melt flow rate of 0.1 to 1000 g/10 min at a temperature 20°C or more higher than the melting point of the resin under the condition of a load of 49 N.

「용융 흐름 속도」는, JIS K 7210-1 : 2014 (대응 국제 규격 ISO 1133-1 : 2011) 에 규정되는 멜트 매스 플로 레이트 (MFR) 이다.“Mel flow rate” is the melt mass flow rate (MFR) specified in JIS K 7210-1:2014 (corresponding international standard ISO 1133-1:2011).

「10 점 평균 조도 (RzJIS)」는, JIS B 0601 : 2013 의 부속서 JA 에서 규정되는 값이다.“10-point average illuminance (Rz JIS )” is a value specified in Annex JA of JIS B 0601:2013.

「단위」는, 단량체 1 분자가 중합되어 직접 형성되는 원자단과, 그 원자단의 일부를 화학 변환시켜 얻어지는 원자단의 총칭이다. 단량체에 기초한 단위를 간단히「단위」로도 기재한다.“Unit” is a general term for an atomic group formed directly by polymerizing one molecule of a monomer and an atomic group obtained by chemically converting a part of the atomic group. Units based on monomers are also simply described as “units.”

「압력」의 값은, 특별히 언급이 없는 한,「절대압」을 나타낸다.The value of “pressure” represents “absolute pressure” unless otherwise specified.

도 1 ∼ 도 18 은 모두 모식적 도면으로서, 그것들에 있어서의 치수비는, 설명의 편의상, 실제의 것과는 상이하다.1 to 18 are all schematic drawings, and the dimensional ratios in them are different from the actual ones for convenience of explanation.

본 발명에 있어서의 처리 회로 기판은, 테트라플루오로에틸렌계 폴리머 (이하, F 폴리머로도 기재한다) 를 함유하는 폴리머층 (이하, F 층으로도 기재한다) 과 F 층의 표면에 형성된 도체 회로를 갖는 회로 기판 (이하, 오리지널의 회로 기판으로도 기재한다) 의 도체 회로측의 표면을 플라즈마 처리하여 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판을 얻고, 추가로 상기 회로 기판의 플라즈마 처리면과 접착제층을 갖는 기판 (이하, 접착성 기판으로도 기재한다) 의 접착제층을 260 ℃ 미만에서 열압착시켜 얻어진다.The processed circuit board in the present invention includes a polymer layer (hereinafter also referred to as F layer) containing a tetrafluoroethylene-based polymer (hereinafter also referred to as F polymer) and a conductor circuit formed on the surface of the F layer. The surface of the conductor circuit side of a circuit board (hereinafter also referred to as an original circuit board) is plasma treated to obtain a circuit board having a plasma treated surface, and further having the plasma treated surface of the circuit board and an adhesive layer. It is obtained by thermocompression bonding the adhesive layer of a substrate (hereinafter also referred to as an adhesive substrate) at less than 260°C.

처리 회로 기판은, F 층과, F 층의 표면에 형성된 도체 회로와, 상기 도체 회로의 표면 및 상기 도체 회로가 형성된 부분 이외의 F 층의 표면에 접하는 접착층 (이하, 접착층으로도 기재한다) 을 갖는다. 접착층은, 열압착에 의해 접착성 기판으로 형성되는 층이며, 구체적으로는, 후술하는 접착제 시트나 접착제층이 형성된 커버레이 필름의 접착제층에서 유래하는 층이다.The processed circuit board includes an F layer, a conductor circuit formed on the surface of the F layer, and an adhesive layer (hereinafter also referred to as an adhesive layer) in contact with the surface of the conductor circuit and the surface of the F layer other than the portion where the conductor circuit is formed. have The adhesive layer is a layer formed from an adhesive substrate by thermocompression, and is specifically a layer derived from the adhesive layer of the adhesive sheet described later or the coverlay film on which the adhesive layer is formed.

처리 회로 기판은, 접착성 기판이 접착제층이 형성된 커버레이 필름이고 처리 회로 기판이 커버레이 필름이 형성된 회로 기판이거나, 또는 접착성 기판이 접착제 시트이고 처리 회로 기판이 접착층이 형성된 회로 기판인 것이 바람직하다.The processed circuit board is preferably one in which the adhesive substrate is a coverlay film with an adhesive layer and the processed circuit board is a circuit board with a coverlay film, or the adhesive substrate is an adhesive sheet and the processed circuit board is a circuit board with an adhesive layer. do.

후자의 처리 회로 기판에 있어서는, 처리 회로 기판의 표면에 접하는 커버레이층을 추가로 갖고 있어도 된다. 커버레이층은, 도체 회로를 보호하는 층이며, 구체적으로는, 후술하는 접착제층이 형성된 커버레이 필름으로 형성되는 커버레이층을 들 수 있다.In the latter processed circuit board, it may additionally have a coverlay layer in contact with the surface of the processed circuit board. The coverlay layer is a layer that protects the conductor circuit, and specifically, a coverlay layer formed from a coverlay film provided with an adhesive layer described later can be mentioned.

처리 회로 기판은, F 층의 도체 회로가 형성된 측과는 반대측의 표면에 접하는 내열성 기재층을 갖고 있어도 된다.The processed circuit board may have a heat-resistant base material layer in contact with the surface opposite to the side on which the conductor circuit of the F layer is formed.

처리 회로 기판은, F 층을 2 층 이상 가져도 되고, 내열성 기재층을 2 층 이상 가져도 되고, 커버레이층을 2 층 이상 가져도 된다.The processed circuit board may have two or more F layers, may have two or more heat-resistant base layers, and may have two or more coverlay layers.

처리 회로 기판에는, 스루홀, 비아홀 등이 형성되어 있어도 된다.Through holes, via holes, etc. may be formed in the processing circuit board.

처리 회로 기판에 있어서의 열압착면의 박리 강도는, 5 N/㎝ 이상이 바람직하고, 8 N/㎝ 이상이 보다 바람직하고, 10 N/㎝ 이상이 특히 바람직하다. 박리 강도가 상기 범위의 하한값 이상이면, F 층과 접착층의 접착성이 우수하다. 박리 강도는 높으면 높을수록 좋고, 상한값은 한정되지 않는다. 또한, 열압착면이란, F 층 및 도체 회로와 접착층의 계면이다.The peel strength of the heat-compressed surface of the processed circuit board is preferably 5 N/cm or more, more preferably 8 N/cm or more, and especially preferably 10 N/cm or more. If the peel strength is more than the lower limit of the above range, the adhesion between the F layer and the adhesive layer is excellent. The higher the peel strength, the better, and the upper limit is not limited. In addition, the thermal compression surface is the interface between the F layer and the conductor circuit and the adhesive layer.

내열성 기재층은, 내열성 기재를 함유하는 층이며, 단층 구조여도 되고, 다층 구조여도 된다.The heat-resistant base material layer is a layer containing a heat-resistant base material, and may have a single-layer structure or a multi-layer structure.

내열성 기재로는, 폴리이미드 (방향족 폴리이미드 등), 폴리아릴레이트, 폴리술폰, 폴리알릴술폰 (폴리에테르술폰 등), 방향족 폴리아미드, 방향족 폴리에테르아미드, 폴리페닐렌술파이드, 폴리알릴에테르케톤, 폴리아미드이미드, 액정 폴리에스테르, 섬유 강화 기재를 들 수 있다.Heat-resistant substrates include polyimide (aromatic polyimide, etc.), polyarylate, polysulfone, polyallyl sulfone (polyether sulfone, etc.), aromatic polyamide, aromatic polyetheramide, polyphenylene sulfide, polyallyl ether ketone, Examples include polyamide-imide, liquid crystal polyester, and fiber-reinforced substrates.

섬유 강화 기재는, 매트릭스 수지 (에폭시 수지 등의 열경화성 수지의 경화물, 내열성 수지 등) 와 매트릭스 수지에 매설된 강화 섬유 (유리 섬유, 카본 섬유, 아라미드 섬유, 폴리벤조옥사졸 섬유, 폴리아릴레이트 섬유 등. 직포여도 되고, 부직포여도 된다.) 를 갖는 기재이다.The fiber-reinforced base material consists of a matrix resin (cured product of thermosetting resin such as epoxy resin, heat-resistant resin, etc.) and reinforcing fibers (glass fiber, carbon fiber, aramid fiber, polybenzoxazole fiber, polyarylate fiber) embedded in the matrix resin. etc. It may be a woven fabric or a non-woven fabric.).

내열성 기재층의 두께는, 통상적으로 5 ∼ 150 ㎛ 이며, 7.5 ∼ 100 ㎛ 가 바람직하고, 12 ∼ 75 ㎛ 가 보다 바람직하다.The thickness of the heat-resistant base material layer is usually 5 to 150 μm, preferably 7.5 to 100 μm, and more preferably 12 to 75 μm.

본 발명에 있어서의 도체 회로로는, 금속박과 F 층과 필요에 따라 내열성 기재층을 갖는 금속 피복 적층판의 금속박을 에칭 등에 의해 가공한 소정의 회로 패턴이 형성된 도체 회로, 상기 금속 피복 적층판의 금속박을 후술하는 SAP 법 또는 MSAP 법에 의해 가공한 소정의 회로 패턴이 형성된 전해 구리 도금의 도체 회로 등을 들 수 있다.The conductor circuit in the present invention includes a conductor circuit in which a predetermined circuit pattern is formed by processing the metal foil of a metal clad laminate having a metal foil, an F layer, and optionally a heat-resistant base layer by etching, etc., and the metal foil of the metal clad laminate. Examples include a conductor circuit of electrolytic copper plating with a predetermined circuit pattern processed by the SAP method or MSAP method described later.

금속박의 재질로는, 구리, 구리 합금, 스테인리스강, 니켈, 니켈 합금 (42 합금도 포함한다), 알루미늄, 알루미늄 합금 등을 들 수 있다. 전자 기기에 사용되는 통상적인 회로 기판에 있어서는, 압연 동박, 전해 동박 등의 동박이 다용되고 있으며, 본 발명에 있어서의 금속박도 동박이 바람직하다.Materials of the metal foil include copper, copper alloy, stainless steel, nickel, nickel alloy (including 42 alloy), aluminum, aluminum alloy, and the like. In typical circuit boards used in electronic devices, copper foil such as rolled copper foil and electrolytic copper foil is widely used, and copper foil is also preferred for the metal foil in the present invention.

금속박의 표면에는, 방청층 (크로메이트 등의 산화물 피막 등), 내열층 등이 형성되어 있어도 된다. 금속박의 표면에는, 접착층과의 접착성을 높이기 위한 표면 처리 (커플링제 처리 등) 가 실시되어 있어도 된다.A rust-prevention layer (oxide film such as chromate, etc.), a heat-resistant layer, etc. may be formed on the surface of the metal foil. The surface of the metal foil may be subjected to surface treatment (coupling agent treatment, etc.) to increase adhesiveness with the adhesive layer.

금속박의 표면의 10 점 평균 조도 (RzJIS) 는, 0.2 ∼ 2.0 ㎛ 가 바람직하고, 0.3 ∼ 1.5 ㎛ 가 보다 바람직하다. 이 경우, 접착층과의 접착력과, 전기적 전송 손실의 저감을 밸런스시키기 쉽다.The 10-point average roughness (Rz JIS ) of the surface of the metal foil is preferably 0.2 to 2.0 μm, and more preferably 0.3 to 1.5 μm. In this case, it is easy to balance the adhesive force with the adhesive layer and the reduction of electrical transmission loss.

금속박의 두께는, 5 ∼ 75 ㎛ 가 바람직하다.The thickness of the metal foil is preferably 5 to 75 μm.

도체 회로는, 상기 금속 피복 적층판을, 세미 애디티브법 (SAP 법) 또는 모디파이드 세미 애디티브법 (MSAP 법) 에 의해 가공하여 형성하는 것이 바람직하다.The conductor circuit is preferably formed by processing the metal-clad laminate using a semi-additive method (SAP method) or a modified semi-additive method (MSAP method).

SAP 법의 제 1 형태로는, 하기의 공정을 갖는 방법을 들 수 있다.The first form of the SAP method includes a method having the following steps.

금속 피복 적층판의 금속박의 전부를 에칭에 의해 제거하는 공정,A process of removing all of the metal foil of a metal clad laminate by etching,

스루홀 및 비아홀 중 어느 일방 또는 양방을 형성하는 공정,A process of forming one or both through holes and via holes,

전체 표면 (스루홀 및 비아홀을 포함한다) 에 대해 디스미어 처리하는 공정,A process of desmearing the entire surface (including through holes and via holes),

전체 표면 (스루홀 및 비아홀을 포함한다) 에 대해 무전해 도금층을 형성하는 공정,A process of forming an electroless plating layer on the entire surface (including through holes and via holes),

무전해 도금층의 표면의 비회로 영역에 도금 레지스트를 형성하는 공정,A process of forming a plating resist in the non-circuit area of the surface of the electroless plating layer,

도금 레지스트를 형성한 후, 전해 도금에 의해 도체 회로를 형성하는 공정,A process of forming a conductor circuit by electrolytic plating after forming a plating resist,

도금 레지스트를 제거하는 공정,A process for removing plating resist,

도금 레지스트를 제거하여 노출된 무전해 도금층을 플래시 에칭에 의해 제거하는 공정.A process of removing the electroless plating layer exposed by removing the plating resist by flash etching.

SAP 법의 제 2 형태로는, 하기의 공정을 갖는 방법을 들 수 있다.A second form of the SAP method includes a method having the following steps.

금속 피복 적층판에 스루홀 및 비아홀 중 어느 일방 또는 양방을 형성하는 공정,A process of forming one or both through holes and via holes in a metal clad laminate,

전체 표면 (스루홀 및 비아홀을 포함한다) 에 대해 디스미어 처리하는 공정,A process of desmearing the entire surface (including through holes and via holes),

금속박의 전부를 에칭에 의해 제거하는 공정,A process of removing all of the metal foil by etching,

전체 표면 (스루홀 및 비아홀을 포함한다) 에 대해 무전해 도금층을 형성하는 공정,A process of forming an electroless plating layer on the entire surface (including through holes and via holes),

무전해 도금층의 표면의 비회로 영역에 도금 레지스트를 형성하는 공정,A process of forming a plating resist in the non-circuit area of the surface of the electroless plating layer,

도금 레지스트를 형성한 후, 전해 도금에 의해 도체 회로를 형성하는 공정,A process of forming a conductor circuit by electrolytic plating after forming a plating resist,

도금 레지스트를 제거하는 공정,A process for removing plating resist,

도금 레지스트를 제거하여 노출된 무전해 도금층을 플래시 에칭에 의해 제거하는 공정.A process of removing the electroless plating layer exposed by removing the plating resist by flash etching.

MSAP 법의 제 1 형태로는, 하기의 공정을 갖는 방법을 들 수 있다.The first form of the MSAP method includes a method having the following steps.

금속 피복 적층판에 스루홀 및 비아홀 중 어느 일방 또는 양방을 형성하는 공정,A process of forming one or both through holes and via holes in a metal clad laminate,

전체 표면 (스루홀 및 비아홀을 포함한다) 에 대해 디스미어 처리하는 공정,A process of desmearing the entire surface (including through holes and via holes),

전체 표면 (스루홀 및 비아홀을 포함한다) 에 대해 무전해 도금층을 형성하는 공정,A process of forming an electroless plating layer on the entire surface (including through holes and via holes),

무전해 도금층의 표면의 비회로 영역에 도금 레지스트를 형성하는 공정,A process of forming a plating resist in the non-circuit area of the surface of the electroless plating layer,

도금 레지스트를 형성한 후, 전해 도금에 의해 도체 회로를 형성하는 공정,A process of forming a conductor circuit by electrolytic plating after forming a plating resist,

도금 레지스트를 제거하는 공정,A process for removing plating resist,

도금 레지스트를 제거하여 노출된 무전해 도금층 및 금속박을 플래시 에칭에 의해 제거하는 공정.A process of removing the electroless plating layer and metal foil exposed by removing the plating resist by flash etching.

MSAP 법의 제 2 형태로는, 하기의 공정을 갖는 방법을 들 수 있다.A second form of the MSAP method includes a method having the following steps.

금속 피복 적층판의 금속박의 표면의 비회로 영역에 도금 레지스트를 형성하는 공정,A process of forming a plating resist in a non-circuit area on the surface of the metal foil of a metal clad laminate,

도금 레지스트를 형성한 후, 전해 도금에 의해 도체 회로를 형성하는 공정,A process of forming a conductor circuit by electrolytic plating after forming a plating resist,

도금 레지스트를 제거하는 공정,A process for removing plating resist,

도금 레지스트를 제거하여 노출된 금속박을 플래시 에칭 등에 의해 제거하는 공정.A process in which the metal foil exposed by removing the plating resist is removed by flash etching, etc.

본 발명에 있어서의 접착성 기판은, 접착제 시트 또는 접착제층이 형성된 커버레이 필름이 바람직하다. 또, 접착성 기판의 접착제층은, 열가소성이어도 되고 열경화성이어도 되며, 열경화성이 바람직하다. 요컨대, 접착성 기판은, 열경화성 접착제층을 갖는 기판이 바람직하다. 이 경우, 처리 회로 기판에 있어서의 접착층에는, 이것들의 접착 성분의 경화물 (열경화성 접착제의 경화물) 이 함유된다.The adhesive substrate in the present invention is preferably an adhesive sheet or a coverlay film provided with an adhesive layer. Additionally, the adhesive layer of the adhesive substrate may be thermoplastic or thermosetting, and thermosetting is preferred. In short, the adhesive substrate is preferably a substrate having a thermosetting adhesive layer. In this case, the adhesive layer in the processed circuit board contains the cured product of these adhesive components (cured product of the thermosetting adhesive).

접착제 시트는, 시트상의 접착제이며, 접착제만으로 이루어지는 시트여도 되고, 내열성 수지 필름의 양면에 접착제층이 형성되어 이루어지는 시트여도 된다. 접착제 시트에 있어서의 접착제가 열경화성 접착제인 경우, 열경화성 접착제는 반경화 상태의 반경화물이 바람직하다.The adhesive sheet is a sheet-shaped adhesive, and may be a sheet composed only of the adhesive, or may be a sheet in which an adhesive layer is formed on both sides of a heat-resistant resin film. When the adhesive in the adhesive sheet is a thermosetting adhesive, the thermosetting adhesive is preferably a semi-cured product in a semi-cured state.

접착제층이 형성된 커버레이 필름은, 커버레이층 (커버레이 필름) 과, 커버레이층의 편면에 형성된 접착제층을 갖는다. 접착제층이 형성된 커버레이 필름의 접착제층에 있어서의 접착제가 열경화성 접착제인 경우, 열경화성 접착제는 반경화 상태의 반경화물이 바람직하다.A coverlay film with an adhesive layer has a coverlay layer (coverlay film) and an adhesive layer formed on one side of the coverlay layer. When the adhesive in the adhesive layer of the coverlay film on which the adhesive layer is formed is a thermosetting adhesive, the thermosetting adhesive is preferably a semi-cured product in a semi-cured state.

커버레이층의 재질로는, 내열성 수지, F 폴리머 등을 들 수 있다.Materials of the coverlay layer include heat-resistant resin and F polymer.

커버레이층의 두께는, 12 ∼ 100 ㎛ 가 바람직하다. 접착성 기판의 접착제층의 두께는, 5 ∼ 50 ㎛ 가 바람직하다. 열경화성 접착제층은, 열경화성 수지를 함유하는 것이 바람직하다.The thickness of the coverlay layer is preferably 12 to 100 μm. The thickness of the adhesive layer of the adhesive substrate is preferably 5 to 50 μm. It is preferable that the thermosetting adhesive layer contains a thermosetting resin.

열경화성 수지로는, 에폭시 수지, 시아네이트에스테르 수지, 다관능성 말레이미드 수지, 불포화 폴리페닐렌에테르 수지, 벤조옥사진 수지, 비닐에스테르 수지 등을 들 수 있다. 열경화성 수지는, 2 종 이상을 병용해도 된다.Examples of thermosetting resins include epoxy resins, cyanate ester resins, multifunctional maleimide resins, unsaturated polyphenylene ether resins, benzoxazine resins, and vinyl ester resins. Two or more types of thermosetting resins may be used together.

열경화성 접착제층은, 통상적으로 경화제와 경화 촉진제를 함유한다.The thermosetting adhesive layer usually contains a curing agent and a curing accelerator.

경화제는, 열경화성 수지의 종류에 따라 적절히 선택된다. 예를 들어, 열경화성 수지가 에폭시 수지인 경우의 경화제로는, 아민계 경화제, 페놀계 경화제, 산 무수물계 경화제, 디시안디아미드, 저분자량 폴리페닐렌에테르 화합물을 들 수 있다. 경화제는 2 종 이상을 병용해도 된다.The curing agent is appropriately selected depending on the type of thermosetting resin. For example, when the thermosetting resin is an epoxy resin, examples of the curing agent include an amine-based curing agent, a phenol-based curing agent, an acid anhydride-based curing agent, dicyandiamide, and a low molecular weight polyphenylene ether compound. Two or more types of curing agents may be used in combination.

경화 촉진제로는, 이미다졸, 3 급 아민, 유기 포스핀, 금속 비누 등을 들 수 있다. 경화 촉진제는 2 종 이상을 병용해도 된다.Examples of the curing accelerator include imidazole, tertiary amine, organic phosphine, and metallic soap. Two or more types of curing accelerators may be used in combination.

열경화성 접착제층은, 필러, 열가소성 수지, 다른 첨가제를 추가로 함유하고 있어도 된다.The thermosetting adhesive layer may further contain fillers, thermoplastic resins, and other additives.

필러로는, 실리카, 금속 산화물 (산화알루미늄, 산화마그네슘, 산화티탄 등), 금속 수산화물 (수산화알루미늄, 수산화마그네슘 등), 황산바륨, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 질화붕소, 붕산알루미늄, 티탄산바륨, 티탄산스트론튬, 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산비스무트, 탤크, 클레이, 운모분 (粉), 경화 수지분, 고무 입자 (아크릴 고무 입자, 코어 쉘형 고무 입자, 가교 아크릴니트릴부타디엔 고무 입자, 가교 스티렌부타디엔 고무 입자 등) 를 들 수 있다. 필러는 2 종 이상을 병용해도 된다.Fillers include silica, metal oxides (aluminum oxide, magnesium oxide, titanium oxide, etc.), metal hydroxides (aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, etc.), barium sulfate, calcium carbonate, magnesium carbonate, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, titanic acid. Strontium, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, talc, clay, mica powder, cured resin powder, rubber particles (acrylic rubber particles, core-shell type rubber particles, cross-linked acrylonitrile-butadiene rubber particles, cross-linked styrene-butadiene rubber particles, etc. ) can be mentioned. Two or more types of fillers may be used together.

열가소성 수지로는, 아크릴 수지, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 카르보디이미드 수지를 들 수 있다.Examples of thermoplastic resins include acrylic resin, phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyphenylene ether resin, and carbodiimide resin.

다른 첨가제로는, 난연제, 난연 보조제, 레벨링제, 착색제 등을 들 수 있다.Other additives include flame retardants, flame retardant auxiliaries, leveling agents, colorants, etc.

본 발명에 있어서의 열경화성 접착제층은, 고무 변성 에폭시 수지 및 경화제를 함유하는 열경화성 접착제층이 바람직하다.The thermosetting adhesive layer in the present invention is preferably a thermosetting adhesive layer containing a rubber-modified epoxy resin and a curing agent.

고무 변성 에폭시 수지는, 에폭시기를 2 개 이상 갖고, 수지 구조에 고무 골격이 형성된 에폭시 수지이다. 고무 골격을 형성하는 고무로는, 폴리부티디엔, 아크릴로니트릴부타디엔 고무, 스티렌계 엘라스토머, 우레탄 고무, 아크릴 고무를 들 수 있다. 아크릴로니트릴부타디엔 고무는, 카르복실기 말단을 갖고 있어도 된다. 스티렌계 엘라스토머는 스티렌-부타디엔 블록 공중합체, 스티렌-에틸렌프로필렌 블록 공중합체, 스티렌-부타디엔-스티렌 블록 공중합체, 스티렌-이소프렌-스티렌 블록 공중합체, 스티렌-에틸렌부틸렌-스티렌 블록 공중합체, 스티렌-에틸렌프로필렌-스티렌 블록 공중합체를 들 수 있다. 우레탄 고무는 폴리카보네이트디올과 이소시아네이트의 공중합체를 들 수 있다. 아크릴 고무는 글리시딜(메트)아크릴레이트, 알킬(메트)아크릴레이트 및 방향족 비닐 화합물의 공중합체를 들 수 있다.A rubber-modified epoxy resin is an epoxy resin that has two or more epoxy groups and has a rubber skeleton formed in the resin structure. Rubbers that form the rubber skeleton include polybutadiene, acrylonitrile butadiene rubber, styrene-based elastomer, urethane rubber, and acrylic rubber. The acrylonitrile butadiene rubber may have a terminal carboxyl group. Styrene-based elastomers include styrene-butadiene block copolymer, styrene-ethylenepropylene block copolymer, styrene-butadiene-styrene block copolymer, styrene-isoprene-styrene block copolymer, styrene-ethylenebutylene-styrene block copolymer, and styrene- and ethylene propylene-styrene block copolymer. Urethane rubber includes copolymers of polycarbonate diol and isocyanate. Acrylic rubber includes copolymers of glycidyl (meth)acrylate, alkyl (meth)acrylate, and aromatic vinyl compounds.

고무 변성 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 200 ∼ 350 g/eq 가 바람직하다.The epoxy equivalent of the rubber-modified epoxy resin is preferably 200 to 350 g/eq.

고무 변성 에폭시 수지는, 글리시딜에테르형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지 또는 산화형 에폭시 수지가 바람직하다.The rubber-modified epoxy resin is preferably glycidyl ether type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, or oxidation type epoxy resin.

글리시딜에테르형 에폭시 수지는, 비스페놀 A 형 에폭시 수지, 비스페놀 F 형 에폭시 수지, 노볼락형 에폭시 수지 또는 알코올형 에폭시 수지가 바람직하다.The glycidyl ether type epoxy resin is preferably a bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, novolac type epoxy resin, or alcohol type epoxy resin.

글리시딜에스테르형 에폭시 수지는, 하이드로프탈산형 에폭시 수지 또는 다이머산형 에폭시 수지가 바람직하다.The glycidyl ester type epoxy resin is preferably a hydrophthalic acid type epoxy resin or a dimer acid type epoxy resin.

경화제는, 디시안디아미드, 방향족 디아민, 지방족 디아민, 페놀 노볼락 수지, 나프톨 노볼락 수지, 아미노트리아진 노볼락 수지, 또는 산 무수물이 바람직하다. 내열성의 관점에서, 아미노트리아진 노볼락 수지가 바람직하다.The curing agent is preferably dicyandiamide, aromatic diamine, aliphatic diamine, phenol novolak resin, naphthol novolak resin, aminotriazine novolak resin, or acid anhydride. From the viewpoint of heat resistance, aminotriazine novolak resin is preferred.

본 발명에 있어서의 F 층은, 테트라플루오로에틸렌 (이하, TFE 로도 기재한다) 에 기초한 단위 (이하, TFE 단위로도 기재한다) 를 갖는 테트라플루오로에틸렌계 폴리머 (F 폴리머) 를 함유하는 층이다.The F layer in the present invention is a layer containing a tetrafluoroethylene-based polymer (F polymer) having a unit (hereinafter also referred to as TFE unit) based on tetrafluoroethylene (hereinafter also referred to as TFE). am.

F 층은, 무기 필러, F 폴리머 이외의 수지, 첨가제 등을 함유하고 있어도 된다. F 층 중의 F 폴리머의 비율은, 90 질량% 이상이 보다 바람직하고, 그 상한값은 100 질량% 이다.The F layer may contain an inorganic filler, a resin other than the F polymer, additives, etc. The proportion of F polymer in the F layer is more preferably 90% by mass or more, and its upper limit is 100% by mass.

F 층의 두께는, 통상적으로 1 ∼ 1000 ㎛ 이며, 5 ∼ 500 ㎛ 가 바람직하고, 10 ∼ 500 ㎛ 가 보다 바람직하고, 10 ∼ 300 ㎛ 가 더욱 바람직하고, 10 ∼ 200 ㎛ 가 특히 바람직하다.The thickness of the F layer is usually 1 to 1000 μm, preferably 5 to 500 μm, more preferably 10 to 500 μm, further preferably 10 to 300 μm, and especially preferably 10 to 200 μm.

F 폴리머로는, 용융 성형 가능한 F 폴리머가 바람직하다. 상기 F 폴리머의 용융 흐름 속도는, 0.1 ∼ 1000 g/10 분이 바람직하고, 0.5 ∼ 100 g/10 분이 보다 바람직하고, 5 ∼ 20 g/10 분이 특히 바람직하다.As the F polymer, a melt-moldable F polymer is preferable. The melt flow rate of the F polymer is preferably 0.1 to 1000 g/10 min, more preferably 0.5 to 100 g/10 min, and particularly preferably 5 to 20 g/10 min.

F 폴리머의 융점은, 260 ℃ 이상이 바람직하고, 260 ∼ 325 ℃ 가 보다 바람직하고, 280 ∼ 320 ℃ 가 더욱 바람직하고, 280 ∼ 315 ℃ 가 특히 바람직하다. 이 경우, F 층의 내열성이 우수하여, 도체 회로 등을 형성할 때의 열압착에 있어서의 위치 어긋남을 억제하기 쉽다. 또, 범용적인 장치를 사용할 수 있다.The melting point of the F polymer is preferably 260°C or higher, more preferably 260 to 325°C, further preferably 280 to 320°C, and particularly preferably 280 to 315°C. In this case, the heat resistance of the F layer is excellent, and it is easy to suppress positional misalignment during thermal compression when forming a conductor circuit or the like. Additionally, a general-purpose device can be used.

F 폴리머의 불소 함유량은, 70 ∼ 78 질량% 가 바람직하다. 또한, 불소 함유량은, F 폴리머의 총 질량에 대한 불소 원자의 합계 질량의 비율이며, 19F-NMR 에 의해 구해진다.The fluorine content of the F polymer is preferably 70 to 78 mass%. In addition, the fluorine content is the ratio of the total mass of fluorine atoms to the total mass of the F polymer, and is determined by 19 F-NMR.

F 폴리머는, 카르보닐기 함유기, 하이드록시기, 에폭시기, 아미드기, 아미노기 및 이소시아네이트기로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종의 관능기 (이하, 관능기로도 기재한다) 를 갖고 있어도 되고, 관능기를 갖고 있지 않아도 된다. F 층과 다른 층 (접착층, 도체 회로, 내열성 기재층 등. 이하 동일.) 의 접착성이 더욱 우수한 점에서, 관능기를 갖는 F 폴리머가 바람직하다.The F polymer may have at least one functional group (hereinafter also referred to as a functional group) selected from the group consisting of a carbonyl group-containing group, a hydroxy group, an epoxy group, an amide group, an amino group, and an isocyanate group, or it may not have a functional group. do. An F polymer having a functional group is preferred because it has superior adhesion between the F layer and other layers (adhesive layer, conductor circuit, heat-resistant base layer, etc., the same applies hereinafter).

관능기를 갖는 F 폴리머로는, 관능기를 갖는 단량체에 기초한 단위 또는 관능기를 갖는 말단기를 갖는 F 폴리머를 들 수 있다. 구체적으로는, 관능기를 갖는 TFE 와 PAVE 의 코폴리머, 관능기를 갖는 TFE 와 HFP 의 코폴리머, 관능기를 갖는 에틸렌과 TFE 의 코폴리머 등을 들 수 있다.Examples of the F polymer having a functional group include units based on monomers having a functional group or F polymers having a terminal group having a functional group. Specifically, a copolymer of TFE and PAVE having a functional group, a copolymer of TFE and HFP having a functional group, a copolymer of ethylene and TFE having a functional group, etc.

F 폴리머 중의 관능기의 종류는, 2 종 이상이어도 된다.There may be two or more types of functional groups in the F polymer.

관능기로는, F 층과 다른 층의 접착성이 더욱 우수한 점에서, 카르보닐기 함유기가 바람직하다. 카르보닐기 함유기로는, 케토기, 카보네이트기, 카르복시기, 할로포르밀기, 알콕시카르보닐기, 산 무수물 잔기를 예시할 수 있다. 또한,「산 무수물 잔기」란, -C(=O)-O-C(=O)- 로 나타내는 기를 의미한다.As the functional group, a carbonyl group-containing group is preferred because the adhesion between the F layer and other layers is more excellent. Examples of the carbonyl group-containing group include a keto group, carbonate group, carboxyl group, haloformyl group, alkoxycarbonyl group, and acid anhydride residue. Additionally, “acid anhydride residue” means a group represented by -C(=O)-O-C(=O)-.

케토기는, 탄소수 2 ∼ 8 의 알킬렌기 중의 탄소 원자 사이에 포함되는 것이 바람직하다. 또한, 상기 알킬렌기의 탄소수는, 케토기의 탄소 원자를 포함하지 않는 탄소수이다.The keto group is preferably contained between carbon atoms in an alkylene group having 2 to 8 carbon atoms. In addition, the carbon number of the alkylene group is the carbon number that does not include the carbon atom of the keto group.

할로포르밀기는, -C(=O)F, -C(=O)Cl, -C(=O)Br, -C(=O)I 를 예시할 수 있고, -C(=O)F 가 바람직하다.Haloformyl groups include -C(=O)F, -C(=O)Cl, -C(=O)Br, -C(=O)I, and -C(=O)F. desirable.

알콕시카르보닐기에 있어서의 알콕시기는, 탄소수 1 ∼ 8 의 알콕시기가 바람직하고, 메톡시기 또는 에톡시기가 특히 바람직하다.The alkoxy group in the alkoxycarbonyl group is preferably an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, and a methoxy group or an ethoxy group is particularly preferable.

카르보닐기 함유기로는, 산 무수물 잔기 또는 카르복시기가 바람직하다.The carbonyl group-containing group is preferably an acid anhydride residue or a carboxyl group.

F 폴리머 중의 관능기의 함유량은, F 폴리머의 주사슬 탄소수 1 × 106 개에 대하여 10 ∼ 60000 개가 바람직하고, 300 ∼ 5000 개가 특히 바람직하다. 이 경우, F 층과 다른 층의 접착성, 특히 저온 접착성이 우수하다.The content of functional groups in the F polymer is preferably 10 to 60,000, and particularly preferably 300 to 5,000, per 1 × 10 6 main chain carbon number of the F polymer. In this case, the adhesion between the F layer and other layers is excellent, especially low-temperature adhesion.

접착성 관능기의 함유량은, 일본 공개특허공보 2007-314720호에 기재된 방법에 의해 측정할 수 있다.The content of the adhesive functional group can be measured by the method described in Japanese Patent Application Publication No. 2007-314720.

F 폴리머 중의 관능기는, F 층과 다른 층의 접착성의 관점에서, F 폴리머의 주사슬의 말단기 또는 F 폴리머의 주사슬의 펜던트기로서 존재하는 것이 바람직하고, F 폴리머의 주사슬의 펜던트기로서 존재하는 것이 특히 바람직하다. 이들 F 폴리머는, TFE 와 관능기를 갖는 단량체를 공중합시키는 방법이나, 관능기를 가져오는 연쇄 이동제나 중합 개시제를 사용하여 TFE 를 중합시키는 방법으로 제조할 수 있다.From the viewpoint of adhesiveness between the F layer and other layers, the functional group in the F polymer preferably exists as a terminal group of the main chain of the F polymer or a pendant group of the main chain of the F polymer, and as a pendant group of the main chain of the F polymer It is particularly desirable to be present. These F polymers can be produced by copolymerizing TFE with a monomer having a functional group, or by polymerizing TFE using a chain transfer agent or polymerization initiator that brings a functional group.

관능기를 갖는 모노머로는, 카르보닐기 함유기, 하이드록시기, 에폭시기, 아미드기, 아미노기, 또는 이소시아네이트기를 갖는 모노머가 바람직하고, 산 무수물 잔기 또는 카르복시기를 갖는 모노머가 특히 바람직하다. 이러한 모노머로는, 말레산, 이타콘산, 시트라콘산, 운데실렌산, 무수 이타콘산 (이하,「IAH」로도 기재한다), 무수 시트라콘산 (이하, CAH 로도 기재한다), 5-노르보르넨-2,3-디카르복실산 무수물 (이하, NAH 로도 기재한다), 무수 말레산, 하이드록시알킬비닐에테르, 에폭시알킬비닐에테르를 예시할 수 있다.As the monomer having a functional group, a monomer having a carbonyl group-containing group, a hydroxy group, an epoxy group, an amide group, an amino group, or an isocyanate group is preferable, and a monomer having an acid anhydride residue or a carboxyl group is particularly preferable. These monomers include maleic acid, itaconic acid, citraconic acid, undecylenic acid, itaconic anhydride (hereinafter also referred to as “IAH”), citraconic anhydride (hereinafter also referred to as CAH), and 5-norbor. Examples include nene-2,3-dicarboxylic anhydride (hereinafter also referred to as NAH), maleic anhydride, hydroxyalkyl vinyl ether, and epoxyalkyl vinyl ether.

관능기를 가져오는 연쇄 이동제로는, 아세트산, 무수 아세트산, 아세트산메틸, 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜을 예시할 수 있다.Examples of chain transfer agents that bring about functional groups include acetic acid, acetic anhydride, methyl acetate, ethylene glycol, and propylene glycol.

관능기를 가져오는 중합 개시제로는, 디-n-프로필퍼옥시디카보네이트, 디이소프로필퍼옥시카보네이트, tert-부틸퍼옥시이소프로필카보네이트, 비스(4-tert-부틸시클로헥실)퍼옥시디카보네이트, 디-2-에틸헥실퍼옥시디카보네이트를 예시할 수 있다.Polymerization initiators bringing functional groups include di-n-propylperoxydicarbonate, diisopropylperoxycarbonate, tert-butylperoxyisopropylcarbonate, bis(4-tert-butylcyclohexyl)peroxydicarbonate, and di- 2-ethylhexylperoxydicarbonate can be exemplified.

관능기가 주사슬의 펜던트기로서 존재하는 F 폴리머로는, 그 접착성의 관점에서, TFE 단위와, 산 무수물 잔기를 갖는 모노머에 기초한 단위와, TFE 이외의 플루오로올레핀에 기초한 단위를 갖는 F 폴리머를 예시할 수 있다.Examples of F polymers in which a functional group exists as a pendant group of the main chain include, from the viewpoint of adhesiveness, F polymers having a TFE unit, a unit based on a monomer having an acid anhydride residue, and a unit based on a fluoroolefin other than TFE. It can be exemplified.

상기 모노머는, IAH, CAH, NAH, 또는 무수 말레산이 바람직하고, IAH, CAH 또는 NAH 가 보다 바람직하고, IAH 또는 NAH 가 특히 바람직하다. 이 경우, F 층과 다른 층의 접착성이 우수하다.The monomer is preferably IAH, CAH, NAH, or maleic anhydride, more preferably IAH, CAH, or NAH, and particularly preferably IAH or NAH. In this case, the adhesion between the F layer and other layers is excellent.

또한, 상기 F 폴리머에는, 산 무수물 잔기의 일부가 가수 분해되어 형성되는 1,2-디카르복실산 잔기가 함유되는 경우도 있다. 이 경우, 1,2-디카르복실산 단위의 함유량은, 산 무수물 잔기를 갖는 모노머에 기초한 단위의 함유량에 포함되는 것으로 한다.Additionally, the F polymer may contain a 1,2-dicarboxylic acid residue formed by hydrolysis of a part of the acid anhydride residue. In this case, the content of the 1,2-dicarboxylic acid unit is included in the content of the unit based on the monomer having an acid anhydride residue.

TFE 이외의 플루오로올레핀으로는, 불화비닐, 불화비닐리덴, 트리플루오로에틸렌, 헥사플루오로프로필렌 (이하, HFP 로도 기재한다), 헥사플루오로이소부틸렌, 퍼플루오로(알킬비닐에테르) (이하, PAVE 로도 기재한다), 관능기를 갖는 플루오로비닐에테르, 플루오로(디비닐에테르), 폴리플루오로(알킬에틸렌) (이하, FAE 로도 기재한다), 고리 구조를 갖는 플루오로 모노머를 들 수 있으며, F 폴리머의 성형성, F 층의 내굴곡성 등이 우수한 점에서, HFP, PAVE, FAE 가 바람직하다.Fluoroolefins other than TFE include vinyl fluoride, vinylidene fluoride, trifluoroethylene, hexafluoropropylene (hereinafter also referred to as HFP), hexafluoroisobutylene, and perfluoro(alkyl vinyl ether) ( Hereinafter also referred to as PAVE), fluorovinyl ether, fluoro(divinyl ether), polyfluoro(alkylethylene) (hereinafter also referred to as FAE) having a functional group, and fluoro monomer having a ring structure. HFP, PAVE, and FAE are preferred because of the excellent moldability of the F polymer and bending resistance of the F layer.

PAVE 로는, CF2=CFOCF3, CF2=CFOCF2CF3, CF2=CFOCF2CF2CF3 (이하, PPVE 로도 기재한다), CF2=CFOCF2CF2CF2CF3, CF2=CFO(CF2)6F 를 예시할 수 있다.In PAVE, CF 2 =CFOCF 3 , CF 2 =CFOCF 2 CF 3 , CF 2 =CFOCF 2 CF 2 CF 3 (hereinafter also referred to as PPVE), CF 2 =CFOCF 2 CF 2 CF 2 CF 3 , CF 2 = CFO(CF 2 ) 6 F can be exemplified.

FAE 로는, CH2=CF(CF2)2F, CH2=CF(CF2)4F, CH2=CF(CF2)6F, CH2=CF(CF2)2H, CH2=CF(CF2)4H, CH2=CF(CF2)6H, CH2=CH(CF2)2F (이하, PFEE 로도 기재한다), CH2=CH(CF2)4F (이하, PFBE 로도 기재한다), CH2=CH(CF2)6F, CH2=CH(CF2)2H, CH2=CH(CF2)4H, CH2=CH(CF2)6H 를 예시할 수 있다.In FAE, CH 2 =CF(CF 2 ) 2 F, CH 2 =CF(CF 2 ) 4 F, CH 2 =CF(CF 2 ) 6 F, CH 2 =CF(CF 2 ) 2 H, CH 2 = CF(CF 2 ) 4 H, CH 2 =CF(CF 2 ) 6 H, CH 2 =CH(CF 2 ) 2 F (hereinafter also referred to as PFEE), CH 2 =CH(CF 2 ) 4 F (hereinafter referred to as PFEE) , PFBE), CH 2 =CH(CF 2 ) 6 F, CH 2 =CH(CF 2 ) 2 H, CH 2 =CH(CF 2 ) 4 H, CH 2 =CH(CF 2 ) 6 H can be exemplified.

고리 구조를 갖는 플루오로 모노머로는, 퍼플루오로(2,2-디메틸-1,3-디옥솔), 2,2,4-트리플루오로-5-트리플루오로메톡시-1,3-디옥솔, 퍼플루오로(2-메틸렌-4-메틸-1,3-디옥솔란) 을 예시할 수 있다.Fluoro monomers having a ring structure include perfluoro(2,2-dimethyl-1,3-dioxole), 2,2,4-trifluoro-5-trifluoromethoxy-1,3-di. Examples include oxol and perfluoro(2-methylene-4-methyl-1,3-dioxolane).

관능기를 갖는 플루오로비닐에테르로는, CF2=CFOCF2CF(CF3)OCF2CF2SO2F, CF2=CFOCF2CF2SO2F, CF2=CFOCF2CF(CF3)OCF2CF2SO3H, CF2=CFOCF2CF2SO3H, CF2=CFO(CF2)3COOCH3, CF2=CFO(CF2)3COOH 를 예시할 수 있다.Examples of fluorobinyl ethers having a functional group include CF 2 =CFOCF 2 CF(CF 3 )OCF 2 CF 2 SO 2 F, CF 2 =CFOCF 2 CF 2 SO 2 F, CF 2 =CFOCF 2 CF(CF 3 )OCF 2 CF 2 SO 3 H, CF 2 =CFOCF 2 CF 2 SO 3 H, CF 2 =CFO(CF 2 ) 3 COOCH 3 , CF 2 =CFO(CF 2 ) 3 COOH can be exemplified.

플루오로(디비닐에테르)로는, CF2=CFCF2CF2OCF=CF2, CF2=CFCF2OCF=CF2 를 예시할 수 있다.Examples of fluoro(divinyl ether) include CF 2 =CFCF 2 CF 2 OCF=CF 2 and CF 2 =CFCF 2 OCF=CF 2 .

F 폴리머는, 전술한 모노머 이외의 비불소 모노머에 기초한 단위를 추가로 갖고 있어도 된다.The F polymer may further have units based on non-fluorine monomers other than the monomers described above.

비불소 단량체로는, 에틸렌, 프로필렌, 1-부텐, 비닐에스테르 (아세트산비닐 등) 를 들 수 있다.Non-fluorine monomers include ethylene, propylene, 1-butene, and vinyl esters (vinyl acetate, etc.).

F 폴리머의 바람직한 구체예로는, TFE 와 NAH 와 PPVE 의 코폴리머, TFE 와 IAH 와 PPVE 의 코폴리머, TFE 와 CAH 와 PPVE 의 코폴리머, TFE 와 IAH 와 HFP 의 코폴리머, TFE 와 CAH 와 HFP 의 코폴리머, TFE 와 IAH 와 PFBE 와 에틸렌의 코폴리머, TFE 와 CAH 와 PFBE 와 에틸렌의 코폴리머, TFE 와 IAH 와 PFEE 와 에틸렌의 코폴리머, TFE 와 CAH 와 PFEE 와 에틸렌의 코폴리머, TFE 와 IAH 와 HFP 와 PFBE 와 에틸렌의 코폴리머를 예시할 수 있다.Preferred examples of F polymers include copolymers of TFE, NAH, and PPVE, copolymers of TFE, IAH, and PPVE, copolymers of TFE, CAH, and PPVE, copolymers of TFE, IAH, and HFP, and TFE, CAH, and HFP. Copolymers of TFE and IAH and PFBE and ethylene, copolymers of TFE and CAH and PFBE and ethylene, copolymers of TFE and IAH and PFEE and ethylene, copolymers of TFE and CAH and PFEE and ethylene, TFE and Examples include copolymers of IAH, HFP, PFBE, and ethylene.

F 폴리머는, 폴리머를 구성하는 전체 단위 중, TFE 단위를 50 ∼ 99.89 몰% (보다 바람직하게는 50 ∼ 98.9 몰%) 함유하는 것이 바람직하고, 관능기를 갖는 모노머에 기초한 단위를 0.01 ∼ 5 몰% (보다 바람직하게는 0.1 ∼ 2 몰%) 함유하는 것이 바람직하고, HFP, PAVE 또는 FAE 에 기초한 단위를 0.1 ∼ 49.99 몰% (보다 바람직하게는 1 ∼ 49.9 몰%) 함유하는 것이 바람직하다.The F polymer preferably contains 50 to 99.89 mol% (more preferably 50 to 98.9 mol%) of TFE units out of all units constituting the polymer, and 0.01 to 5 mol% of units based on monomers having functional groups. It is preferable to contain (more preferably 0.1 to 2 mol%), and it is preferable to contain 0.1 to 49.99 mol% (more preferably 1 to 49.9 mol%) of units based on HFP, PAVE or FAE.

이 경우, F 층의 내열성, 내약품성 및 고온 탄성률과, F 층 및 다른 층의 접착성과, F 폴리머의 성형성 및 내굴곡성이 우수하다.In this case, the heat resistance, chemical resistance, and high-temperature elastic modulus of the F layer, the adhesiveness of the F layer and other layers, and the moldability and bending resistance of the F polymer are excellent.

F 폴리머가 TFE 단위와 관능기를 갖는 모노머에 기초한 단위와 HFP, PAVE 또는 FAE 에 기초한 단위와 에틸렌에 기초한 단위를 함유하는 경우, 폴리머를 구성하는 전체 단위 중, TFE 단위를 25 ∼ 80 몰% (보다 바람직하게는 45 ∼ 63 몰%) 함유하는 것이 바람직하고, 관능기를 갖는 모노머에 기초한 단위를 0.01 ∼ 5 몰% (보다 바람직하게는 0.05 ∼ 1 몰%) 함유하는 것이 바람직하고, HFP, PAVE 또는 FAE 에 기초한 단위를 0.2 ∼ 20 몰% (보다 바람직하게는 0.5 ∼ 15 몰%) 함유하는 것이 바람직하고, 에틸렌에 기초한 단위를 20 ∼ 75 몰% (보다 바람직하게는 37 ∼ 55 몰%) 함유하는 것이 바람직하다.When the F polymer contains a TFE unit and a unit based on a monomer having a functional group, a unit based on HFP, PAVE or FAE, and a unit based on ethylene, the TFE unit is contained in an amount of 25 to 80 mol% (more than Preferably 45 to 63 mol%), and preferably 0.01 to 5 mol% (more preferably 0.05 to 1 mol%) of units based on monomers having functional groups, HFP, PAVE or FAE It is preferable to contain 0.2 to 20 mol% (more preferably 0.5 to 15 mol%) of units based on ethylene, and 20 to 75 mol% (more preferably 37 to 55 mol%) of ethylene-based units. desirable.

이 경우, F 층의 내약품성 및 내굴곡성과, F 층 및 접착층, 도체 회로, 내열성 기재층 등과의 접착성과, F 폴리머의 성형성이 보다 우수하다.In this case, the chemical resistance and bending resistance of the F layer, the adhesion between the F layer and the adhesive layer, the conductor circuit, the heat-resistant base layer, etc., and the moldability of the F polymer are superior.

관능기를 갖지 않는 불소 수지로는, TFE 와 PAVE 의 코폴리머, TFE 와 HFP 의 코폴리머, 에틸렌과 TFE 의 코폴리머, 불화비닐리덴의 호모폴리머, 클로로트리플루오로에틸렌의 호모폴리머, 에틸렌과 클로로트리플루오로에틸렌의 코폴리머 등을 들 수 있다.Fluororesins without functional groups include copolymers of TFE and PAVE, copolymers of TFE and HFP, copolymers of ethylene and TFE, homopolymers of vinylidene fluoride, homopolymers of chlorotrifluoroethylene, and ethylene and chlorotrimethylene. A copolymer of fluoroethylene, etc. can be mentioned.

본 발명의 제조 방법에 있어서는, F 층과 F 층의 표면에 형성된 도체 회로를 갖는 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 플라즈마 처리한다.In the manufacturing method of the present invention, the surface of the conductor circuit side of the circuit board having the F layer and the conductor circuit formed on the surface of the F layer is plasma treated.

플라즈마 처리로는, 대기압 플라즈마 처리, 진공 플라즈마 처리 등을 들 수 있으며, 진공 플라즈마 처리가 바람직하다.Plasma treatment includes atmospheric pressure plasma treatment, vacuum plasma treatment, etc., and vacuum plasma treatment is preferable.

진공 플라즈마 처리는, 감압 용기 내의 글로 방전에 의한 플라즈마 처리이며, 코로나 방전에 비해 인가 전압이 낮아, 소비 전력을 저감시킬 수 있다. 또, 저압에서의 처리이기 때문에, F 폴리머 표면의 산화 열화가 적고, 처리에 의한 오염 물질 (F 폴리머의 분해물인 저분자량체 등) 의 발생이 적기 때문에, WBL (Weak Boundary Layer) 의 발생을 억제할 수 있어, F 층과 접착층의 박리 강도를 더욱 향상시킬 수 있다.Vacuum plasma treatment is a plasma treatment using glow discharge in a pressure-reduced container, and the applied voltage is lower than that of corona discharge, so power consumption can be reduced. In addition, since the treatment is performed at low pressure, there is little oxidative deterioration of the F polymer surface, and the generation of contaminants (low molecular weight substances that are decomposition products of F polymer, etc.) due to the treatment is small, thereby suppressing the generation of WBL (Weak Boundary Layer). Therefore, the peel strength of the F layer and the adhesive layer can be further improved.

처리 가스로는, 헬륨 가스, 네온 가스, 아르곤 가스, 질소 가스, 산소 가스, 이산화탄소 가스, 메탄 가스, 사불화탄소 가스, 수소 가스 등을 들 수 있다. 처리 가스는 단독의 가스를 사용해도 되고, 혼합 가스를 사용해도 된다. 처리 가스는, 바람직한 습윤 장력을 갖는 플라즈마 처리면이 형성되는 관점에서, 아르곤 가스, 이산화탄소 가스, 질소 가스와 수소 가스의 혼합 가스, 아르곤 가스와 수소 가스의 혼합 가스가 바람직하다.Examples of the processing gas include helium gas, neon gas, argon gas, nitrogen gas, oxygen gas, carbon dioxide gas, methane gas, carbon tetrafluoride gas, and hydrogen gas. The processing gas may be either a single gas or a mixed gas. The treatment gas is preferably argon gas, carbon dioxide gas, a mixture of nitrogen gas and hydrogen gas, or a mixture of argon gas and hydrogen gas from the viewpoint of forming a plasma treatment surface with a desirable wetting tension.

가스 압력은, 0.1 ∼ 1330 ㎩ 가 바람직하고, 1 ∼ 266 ㎩ 가 보다 바람직하다.The gas pressure is preferably 0.1 to 1330 Pa, and more preferably 1 to 266 Pa.

플라즈마 처리에 있어서의 처리 가스와 처리 압력의 바람직한 조합으로는, 처리 가스가 질소 가스 또는 아르곤 가스와 수소 가스의 혼합 가스이거나 또는 이산화탄소 가스이며, 처리 압력이 1 ∼ 266 ㎩ 인 조합을 들 수 있다. 이 경우, 습윤 장력이 우수한 플라즈마 처리면을 특히 형성하기 쉬워, 박리 강도가 높은 처리 기판이 얻어지기 쉽다.A preferable combination of processing gas and processing pressure in plasma processing includes a combination in which the processing gas is nitrogen gas, a mixture of argon gas and hydrogen gas, or carbon dioxide gas, and the processing pressure is 1 to 266 Pa. In this case, it is particularly easy to form a plasma treated surface with excellent wetting tension, and it is easy to obtain a treated substrate with high peel strength.

상기 가스 압력하에 있어서 전극 간에, 예를 들어, 주파수 10 ㎑ ∼ 2 ㎓ 의 고주파로 10 W ∼ 100 ㎾ 의 전력을 부여하면, 글로 방전이 안정된다. 주파수 대역으로는, 고주파 이외에 저주파, 마이크로파, 직류 등도 사용할 수 있다.If, for example, a power of 10 W to 100 kW is applied between the electrodes under the gas pressure at a high frequency of 10 kHz to 2 GHz, the glow discharge becomes stable. As a frequency band, in addition to high frequency, low frequency, microwave, and direct current can also be used.

F 층의 노출면의 습윤 장력을 바람직한 범위로 하기 위해서는, 방전 전력을 10 ∼ 500 W 로 하고, 처리 시간을 10 ∼ 100 초로 하는 것이 바람직하다.In order to keep the wetting tension of the exposed surface of the F layer in a desirable range, it is desirable to set the discharge power to 10 to 500 W and the processing time to be 10 to 100 seconds.

진공 플라즈마 발생 장치로는, 내부 전극형이 바람직하다. 경우에 따라서는, 외부 전극형이어도 되고, 코일로 등의 용량 결합형 또는 유도 결합형이어도 된다.As a vacuum plasma generator, an internal electrode type is preferable. In some cases, it may be an external electrode type, or a capacitive coupling type such as Coilor or an inductive coupling type.

전극의 형상으로는, 평판상, 링상, 봉상, 실린더상 등을 들 수 있다. 처리 장치의 금속 내벽을 일방의 전극으로 하여 어스한 형상이어도 된다.The shape of the electrode includes a plate shape, a ring shape, a rod shape, a cylinder shape, etc. It may be of an earthed shape with the metal inner wall of the processing device serving as one electrode.

전극 간에 1000 V 이상의 전압을 인가하고, 안정적인 플라즈마 상태를 유지하기 위해서는, 입력 전극에 상당한 내전압을 가진 절연 피복을 실시하는 것이 바람직하다. 구리, 철, 알루미늄 등의 금속 노출의 전극의 경우, 아크 방전이 되기 쉽기 때문에, 전극의 표면에 법랑 코트, 유리 코트, 세라믹 코트 등을 실시하는 것이 바람직하다.In order to apply a voltage of 1000 V or more between electrodes and maintain a stable plasma state, it is desirable to apply an insulating coating with a significant withstand voltage to the input electrode. In the case of electrodes exposed to metal such as copper, iron, or aluminum, arc discharge is likely to occur, so it is desirable to apply an enamel coat, glass coat, ceramic coat, etc. to the surface of the electrode.

플라즈마 처리면에 있어서의 F 층의 노출면의 습윤 장력은, 30 mN/m 이상이 바람직하고, 30 ∼ 60 mN/m 이 보다 바람직하고, 30 ∼ 50 mN/m 이 더욱 바람직하다. 플라즈마 처리면에 있어서의 F 층의 노출면의 습윤 장력은, F 층의 표면에 있어서의 접착성기의 양이 많을수록 높아지는 경향이 있다. 습윤 장력이 상기 범위의 하한값 이상이면, 열압착의 온도를 낮게 해도 F 층과 접착층의 박리 강도가 더욱 향상된다. 습윤 장력이 상기 범위의 상한값 이하이면, 표면 처리에 의한 오염 물질이 적어, 오염 물질에 의한 밀착 저해를 억제할 수 있다.The wetting tension of the exposed surface of the F layer on the plasma treated surface is preferably 30 mN/m or more, more preferably 30 to 60 mN/m, and even more preferably 30 to 50 mN/m. The wetting tension of the exposed surface of the F layer on the plasma treated surface tends to increase as the amount of adhesive groups on the surface of the F layer increases. If the wet tension is more than the lower limit of the above range, the peel strength of the F layer and the adhesive layer is further improved even if the temperature of thermocompression is lowered. If the wetting tension is below the upper limit of the above range, there are few contaminants resulting from surface treatment, and interference with adhesion due to contaminants can be suppressed.

본 발명의 제조 방법에 있어서는, 추가로 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판의 플라즈마 처리면과 접착성 기판의 접착제층을 260 ℃ 미만에서 열압착시킨다. 예를 들어, 상기 플라즈마 처리면과 접착제 시트를 열압착시키거나, 상기 플라즈마 처리면과 커버레이 필름의 접착제층을 열압착시킨다.In the manufacturing method of the present invention, the plasma-treated surface of a circuit board having a plasma-treated surface and the adhesive layer of the adhesive substrate are thermocompressed at less than 260°C. For example, the plasma-treated surface and the adhesive sheet are heat-compressed, or the plasma-treated surface and the adhesive layer of the coverlay film are heat-compressed.

열압착의 온도는, 260 ℃ 미만이며, 220 ℃ 미만이 바람직하고, 200 ℃ 이하가 보다 바람직하다. 열압착의 온도가 260 ℃ 미만이면, 열압착에 있어서의 도체 회로 등의 위치가 잘 어긋나지 않고, 또, 종래의 접착성 기판을 대상으로 하는 프레스 장치를 사용할 수 있다.The temperature of thermocompression is less than 260°C, preferably less than 220°C, and more preferably 200°C or less. If the temperature of thermocompression is less than 260°C, the positions of conductor circuits, etc. during thermocompression are less likely to be misaligned, and a press device for conventional adhesive substrates can be used.

열압착의 온도는, F 층과 접착층의 박리 강도가 우수한 점에서, 120 ℃ 이상이 바람직하고, 140 ℃ 이상이 보다 바람직하고, 160 ℃ 이상이 더욱 바람직하다. 열압착의 압력은, 1 ∼ 8 ㎫ 가 바람직하고, 2 ∼ 6 ㎫ 가 보다 바람직하다. 열압착의 시간은, 30 ∼ 150 분간이 바람직하고, 60 ∼ 120 분간이 보다 바람직하다.The temperature of thermocompression is preferably 120°C or higher, more preferably 140°C or higher, and still more preferably 160°C or higher, since the peeling strength of the F layer and the adhesive layer is excellent. The pressure of thermocompression is preferably 1 to 8 MPa, and more preferably 2 to 6 MPa. The heat compression time is preferably 30 to 150 minutes, and more preferably 60 to 120 minutes.

본 발명의 제조 방법의 바람직한 제 1 양태로는, 오리지널의 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 플라즈마 처리하여 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판을 얻고, 복수의 상기 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판의 플라즈마 처리면을 각각 대향시키고, 각각의 플라즈마 처리면의 사이에 접착제 시트를 배치하고, 260 ℃ 미만에서 열압착시키는, 복수층의 도체 회로를 갖는 다층 회로 기판의 제조 방법을 들 수 있다.In a first preferred aspect of the manufacturing method of the present invention, the surface of the conductor circuit side of the original circuit board is plasma treated to obtain a circuit board having a plasma treated surface, and the circuit board having a plurality of the plasma treated surfaces is plasma treated. A method of manufacturing a multilayer circuit board having a plurality of layers of conductor circuits is provided, in which the surfaces are opposed to each other, an adhesive sheet is placed between the plasma treated surfaces, and heat-compressed at less than 260°C.

본 발명의 제조 방법의 바람직한 제 2 양태로는, 오리지널의 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 플라즈마 처리하여 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판을 얻고, 추가로 상기 회로 기판의 플라즈마 처리면과 접착제층이 형성된 커버레이 필름의 접착제층을 260 ℃ 미만에서 열압착시키는, 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 제조 방법을 들 수 있다.In a second preferred aspect of the manufacturing method of the present invention, the surface of the conductor circuit side of the original circuit board is plasma treated to obtain a circuit board having a plasma treated surface, and further, the plasma treated surface of the circuit board and an adhesive layer are A method of manufacturing a circuit board with a coverlay film is included, in which the adhesive layer of the formed coverlay film is heat-compressed at less than 260°C.

도 1 은, 다층 회로 기판의 일례를 나타내는 단면도이다. 다층 회로 기판 (1) 은, 내열성 기재층 (10) 과, 그 양면에 형성된 F 층 (12) 과, F 층 (12) 의 표면에 형성된 도체 회로 (14) 와, 도체 회로 (14) 의 표면 및 F 층 (12) 의 표면에 접하는 접착층 (16) 과, 접착층 (16) 에 접하는 커버레이층 (18) 을 갖는다.1 is a cross-sectional view showing an example of a multilayer circuit board. The multilayer circuit board 1 includes a heat-resistant base layer 10, an F layer 12 formed on both sides thereof, a conductor circuit 14 formed on the surface of the F layer 12, and a surface of the conductor circuit 14. and an adhesive layer (16) in contact with the surface of the F layer (12) and a coverlay layer (18) in contact with the adhesive layer (16).

도 2 는, 다층 회로 기판의 일례를 나타내는 단면도이다. 다층 회로 기판 (2) 은, 2 층의 내열성 기재층 (10) 과, 그 각 양면에 형성된 F 층 (12) 과, F 층 (12) 의 표면에 형성된 도체 회로 (14) 와, 양면이 도체 회로 (14) 의 표면 및 F 층 (12) 의 표면에 접하는 접착층 (16A) 과, 편면이 도체 회로 (14) 의 표면 및 F 층 (12) 의 표면에 접하는 접착층 (16B) 과, 접착층 (16B) 에 접하는 커버레이층 (18) 을 갖는다.Figure 2 is a cross-sectional view showing an example of a multilayer circuit board. The multilayer circuit board 2 includes a two-layer heat-resistant base layer 10, an F layer 12 formed on both sides of the layer, a conductor circuit 14 formed on the surface of the F layer 12, and both sides are conductors. An adhesive layer (16A) in contact with the surface of the circuit 14 and the surface of the F layer 12, an adhesive layer 16B on one side of which is in contact with the surface of the conductor circuit 14 and the surface of the F layer 12, and an adhesive layer 16B ) has a coverlay layer (18) in contact with it.

도 3 은, 다층 회로 기판의 일례를 나타내는 단면도이다. 다층 회로 기판 (3) 은, 2 층의 내열성 기재층 (10) 과, 그 각 편면에 형성된 F 층 (12) 과, F 층 (12) 의 표면에 형성된 도체 회로 (14) 와, 편방의 표면이 하측의 도체 회로 (14) 의 표면 및 F 층 (12) 의 표면에 접하고 타방의 표면이 상측의 내열성 기재층 (10) 에 접하는 접착층 (16A) 과, 편면이 상측의 도체 회로 (14) 의 표면 및 F 층 (12) 의 표면에 접하는 접착층 (16B) 과, 접착층 (16B) 에 접하는 커버레이층 (18) 을 갖는다.Figure 3 is a cross-sectional view showing an example of a multilayer circuit board. The multilayer circuit board 3 includes a two-layer heat-resistant base layer 10, an F layer 12 formed on each side, a conductor circuit 14 formed on the surface of the F layer 12, and a surface of one side. An adhesive layer (16A) that is in contact with the surface of the lower conductor circuit (14) and the surface of the F layer (12) and the other surface is in contact with the upper heat-resistant base layer (10), and one side of which is in contact with the upper conductor circuit (14). It has an adhesive layer 16B in contact with the surface and the surface of the F layer 12, and a coverlay layer 18 in contact with the adhesive layer 16B.

도 4 는, 도 1 의 다층 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.FIG. 4 is a cross-sectional view showing the manufacturing of the multilayer circuit board of FIG. 1.

회로 기판 (20) 은, 내열성 기재층 (10) 과, 그 양면에 형성된 F 층 (12) 과, F 층 (12) 의 표면에 형성된 도체 회로 (14) 를 갖는다. 회로 기판 (20) 의 양방의 표면은 플라즈마 처리가 되어 있다.The circuit board 20 has a heat-resistant base layer 10, an F layer 12 formed on both surfaces thereof, and a conductor circuit 14 formed on the surface of the F layer 12. Both surfaces of the circuit board 20 are plasma treated.

접착제층이 형성된 커버레이 필름 (22) 은, F 층으로 이루어지는 커버레이층 (18) 과, 커버레이층 (18) 의 편면에 형성된 접착제층 (26) 을 갖는다.The coverlay film 22 with an adhesive layer has a coverlay layer 18 made of an F layer, and an adhesive layer 26 formed on one side of the coverlay layer 18.

아래에서부터 순서대로, 접착제층이 형성된 커버레이 필름 (22), 회로 기판 (20), 접착제층이 형성된 커버레이 필름 (22) 을, 회로 기판 (20) 의 플라즈마 처리면에 접착제층 (26) 이 접하도록 중첩시켜 적층한 후, 이것들을 260 ℃ 미만에서 열압착시킨다.In order from the bottom, the coverlay film 22 with an adhesive layer, the circuit board 20, and the coverlay film 22 with an adhesive layer are placed on the plasma-treated surface of the circuit board 20 with the adhesive layer 26. After overlapping and stacking each other in contact, they are heat-compressed at less than 260°C.

도 5 는, 도 2 의 다층 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.FIG. 5 is a cross-sectional view showing the manufacturing of the multilayer circuit board of FIG. 2.

아래에서부터 순서대로, 접착제층이 형성된 커버레이 필름 (22), 회로 기판 (20), 접착제 시트 (24), 회로 기판 (20), 접착제층이 형성된 커버레이 필름 (22) 을, 회로 기판 (20) 의 플라즈마 처리면에 접착제층 (26) 이 접하도록 중첩시켜 적층한 후, 이것들을 260 ℃ 미만에서 열압착시킨다.In order from the bottom, the coverlay film 22 with an adhesive layer, the circuit board 20, the adhesive sheet 24, the circuit board 20, the coverlay film 22 with an adhesive layer, and the circuit board 20. ) is laminated so that the adhesive layer 26 is in contact with the plasma treated surface, and then these are heat-compressed at less than 260°C.

도 6 은, 도 3 의 다층 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.FIG. 6 is a cross-sectional view showing the manufacturing of the multilayer circuit board of FIG. 3.

회로 기판 (30) 은, 내열성 기재층 (10) 과, 그 편면에 형성된 F 층 (12) 과, F 층 (12) 의 표면에 형성된 도체 회로 (14) 를 갖는다. 회로 기판 (30) 의 도체 회로 (14) 측의 표면은 플라즈마 처리가 되어 있다.The circuit board 30 has a heat-resistant base layer 10, an F layer 12 formed on one side thereof, and a conductor circuit 14 formed on the surface of the F layer 12. The surface of the circuit board 30 on the conductor circuit 14 side is plasma treated.

아래에서부터 순서대로, 회로 기판 (30), 접착제 시트 (24), 회로 기판 (30), 접착제층이 형성된 커버레이 필름 (22) 을, 회로 기판 (30) 의 플라즈마 처리면에 접착제층 (26) 이 접하도록 중첩시켜 적층한 후, 이것들을 260 ℃ 미만에서 열압착시킨다.In order from the bottom, the circuit board 30, the adhesive sheet 24, the circuit board 30, and the coverlay film 22 with the adhesive layer formed thereon are placed on the plasma treated surface of the circuit board 30 to form the adhesive layer 26. After stacking them so that they are in contact with each other, they are heat-compressed at less than 260°C.

이상 설명한 본 발명의 제조 방법에 있어서는, 오리지널의 회로 기판의, 도체 회로가 형성된 측의 표면을 플라즈마 처리하고 있기 때문에, 260 ℃ 미만이어도, 오리지널의 회로 기판과 접착성 기판의 접착제층이 충분히 열압착된다. 그 결과, F 층과 접착층의 접착성이 우수하고, F 층 및 도체 회로의 박리 강도가, 예를 들어 5 N/㎝ 이상인 처리 회로 기판 (다층 회로 기판, 커버레이 필름이 형성된 회로 기판 등) 이 얻어진다.In the manufacturing method of the present invention described above, since the surface of the original circuit board on which the conductor circuit is formed is plasma treated, the adhesive layer of the original circuit board and the adhesive substrate is sufficiently heat-compressed even if the temperature is less than 260 ° C. do. As a result, a processed circuit board (multilayer circuit board, circuit board on which a coverlay film is formed, etc.) has excellent adhesion between the F layer and the adhesive layer, and the peel strength of the F layer and the conductor circuit is, for example, 5 N/cm or more. obtained.

본 발명의 접착제층이 형성된 필름 (이하, 접착 필름으로도 기재한다) 은, F 폴리머의 필름 (이하, F 필름으로도 기재한다) 과 열경화성 접착제층이 이 순서로 적층된 필름이다. 접착 필름의 열경화성 접착제층을, 프레스 온도 160 ℃, 프레스 압력 4 ㎫, 프레스 시간 90 분간의 조건에서 경화시켰을 때의, F 필름과 경화 후의 상기 열경화성 접착제층의 계면의 박리 강도는 5 N/㎝ 이상이다.The film with an adhesive layer of the present invention (hereinafter also referred to as an adhesive film) is a film in which an F polymer film (hereinafter also referred to as an F film) and a thermosetting adhesive layer are laminated in this order. When the thermosetting adhesive layer of the adhesive film is cured under the conditions of a press temperature of 160°C, a press pressure of 4 MPa, and a press time of 90 minutes, the peel strength of the interface between the F film and the thermosetting adhesive layer after curing is 5 N/cm or more. am.

접착 필름은, F 필름의 편면에만 열경화성 접착제층이 적층되어 있어도 되고, F 필름의 양면에 열경화성 접착제층이 적층되어 있어도 된다. F 필름의 편면에만 열경화성 접착제층이 적층된 F 필름은, 커버레이 필름으로서 유용하다. F 필름의 양면에 열경화성 접착제층이 적층된 F 필름은, 층간 절연 필름으로서 유용하다. 접착 필름이 F 필름의 양면에 열경화성 접착제층을 갖는 경우, 어느 열경화성 접착제층에 대해서도, F 필름과 경화 후의 열경화성 접착제층의 계면의 박리 강도는 5 N/㎝ 이상이다.The adhesive film may have a thermosetting adhesive layer laminated only on one side of the F film, or may have a thermosetting adhesive layer laminated on both sides of the F film. An F film in which a thermosetting adhesive layer is laminated only on one side of the F film is useful as a coverlay film. An F film in which a thermosetting adhesive layer is laminated on both sides of the F film is useful as an interlayer insulating film. When the adhesive film has a thermosetting adhesive layer on both sides of the F film, the peeling strength at the interface between the F film and the cured thermosetting adhesive layer is 5 N/cm or more for any thermosetting adhesive layer.

F 필름과 경화 후의 상기 열경화성 접착제층의 계면의 박리 강도는, 8 N/㎝ 이상이 바람직하고, 10 N/㎝ 이상이 보다 바람직하다. 상기 박리 강도가 상기 범위의 하한값 이상이면, F 필름과 경화 후의 열경화성 접착제층의 접착성이 우수하다. 상기 박리 강도는 높으면 높을수록 좋으며, 상한값은 한정되지 않는다.The peeling strength of the interface between the F film and the thermosetting adhesive layer after curing is preferably 8 N/cm or more, and more preferably 10 N/cm or more. If the peel strength is more than the lower limit of the above range, the adhesion between the F film and the thermosetting adhesive layer after curing is excellent. The higher the peel strength, the better, and the upper limit is not limited.

접착 필름에 있어서의 열경화성 접착제층은, 열경화성 접착제를 함유한다.The thermosetting adhesive layer in the adhesive film contains a thermosetting adhesive.

접착 필름에 있어서의 열경화성 접착제층의 두께는, 5 ∼ 50 ㎛ 가 바람직하다. 접착 필름이 F 필름의 양면에 열경화성 접착제층을 갖는 경우, 각각의 열경화성 접착제층의 두께는 상기 범위인 것이 바람직하다.The thickness of the thermosetting adhesive layer in the adhesive film is preferably 5 to 50 μm. When the adhesive film has thermosetting adhesive layers on both sides of the F film, the thickness of each thermosetting adhesive layer is preferably within the above range.

열경화성 접착제층은, 열경화성 수지를 함유하는 것이 바람직하다. 열경화성 접착제층은, 경화제와 경화 촉진제를 추가로 함유하는 것이 바람직하다.It is preferable that the thermosetting adhesive layer contains a thermosetting resin. It is preferable that the thermosetting adhesive layer further contains a curing agent and a curing accelerator.

접착 필름에 있어서의 열경화성 수지, 경화제 및 경화 촉진제의 종류는, 상기 서술한 본 발명의 처리 회로 기판의 제조 방법에 있어서의 그것들과 동일하고, 그 바람직한 범위도 동일하다.The types of thermosetting resin, curing agent, and curing accelerator in the adhesive film are the same as those in the manufacturing method of the processed circuit board of the present invention described above, and their preferable ranges are also the same.

접착 필름에 있어서의 F 필름은, 테트라플루오로에틸렌에 기초한 단위를 갖는 테트라플루오로에틸렌계 폴리머 (F 폴리머) 를 함유하는 필름이다.The F film in the adhesive film is a film containing a tetrafluoroethylene-based polymer (F polymer) having units based on tetrafluoroethylene.

F 필름은, 무기 필러, F 폴리머 이외의 수지, 첨가제 등을 함유하고 있어도 된다. F 필름 중의 F 폴리머의 비율은, 90 질량% 이상이 보다 바람직하다. F 폴리머의 비율의 상한값은 100 질량% 이다.The F film may contain an inorganic filler, a resin other than the F polymer, additives, etc. The proportion of F polymer in the F film is more preferably 90 mass% or more. The upper limit of the proportion of F polymer is 100% by mass.

F 필름의 두께는, 12 ∼ 100 ㎛ 가 바람직하다.The thickness of the F film is preferably 12 to 100 μm.

접착 필름에 있어서의 F 폴리머는, 상기 서술한 본 발명의 처리 회로 기판의 제조 방법에 있어서의 F 폴리머와 동일하고, 그 바람직한 범위도 동일하다.The F polymer in the adhesive film is the same as the F polymer in the process circuit board manufacturing method of the present invention described above, and its preferable range is also the same.

접착 필름의 제조 방법으로는, F 필름의 일방 또는 양방의 표면에 열경화성 접착제를 도포하는 방법, F 필름의 일방 또는 양방의 표면에 열경화성 접착제 시트를 적층하는 방법을 들 수 있다. 접착 필름을 커버레이 필름으로서 사용하는 경우에는, F 필름의 일방의 표면에 열경화성 접착제층을 형성한다. 접착 필름을 층간 절연 필름으로서 사용하는 경우에는, F 필름의 양방의 면에 열경화성 접착제층을 형성한다.Methods for producing the adhesive film include a method of applying a thermosetting adhesive to one or both surfaces of the F film, and a method of laminating a thermosetting adhesive sheet on one or both surfaces of the F film. When using an adhesive film as a coverlay film, a thermosetting adhesive layer is formed on one surface of the F film. When using an adhesive film as an interlayer insulating film, a thermosetting adhesive layer is formed on both surfaces of the F film.

열경화성 접착제의 도포 방법으로는, 다이 코트법, 스프레이법, 롤 코트법, 스핀 코트법, 그라비아 코트법, 마이크로 그라비아 코트법, 그라비아 오프셋법, 나이프 코트법, 키스 코트법, 바 코트법, 파운틴 메이어 바법, 슬롯 다이 코트법 등을 들 수 있다.Application methods for thermosetting adhesives include die coat method, spray method, roll coat method, spin coat method, gravure coat method, micro gravure coat method, gravure offset method, knife coat method, kiss coat method, bar coat method, and Fountain Mayor. Examples include the bar method and the slot die coat method.

F 필름과 열경화성 접착제 시트를 적층하는 방법으로는, 프레스, 롤 라미네이트, 더블 벨트 프레스 등을 들 수 있다.Methods for laminating F film and thermosetting adhesive sheet include press, roll laminate, double belt press, etc.

접착 필름의 제조에 있어서는, F 필름의 일방 또는 양방의 표면에 플라즈마 처리하고, F 필름의 플라즈마 처리된 측의 표면에 열경화성 접착제층을 형성하는 것이 바람직하다. 이로써, F 필름과 열경화성 접착제층의 접착성이 더욱 우수하다. 플라즈마 처리의 여러 조건은, 본 발명의 처리 회로 기판의 제조 방법에 있어서의 플라즈마 처리에서 기재한 내용과 동일하고, 그 바람직한 범위도 동일하다.In the production of an adhesive film, it is preferable to plasma treat one or both surfaces of the F film and form a thermosetting adhesive layer on the surface of the plasma treated side of the F film. As a result, the adhesion between the F film and the thermosetting adhesive layer is more excellent. Various conditions for plasma processing are the same as those described in the plasma processing in the process circuit board manufacturing method of the present invention, and their preferable ranges are also the same.

접착 필름에 있어서의 F 필름의 플라즈마 처리면의 습윤 장력은, 30 mN/m 이상이 바람직하고, 30 ∼ 60 mN/m 이 보다 바람직하고, 30 ∼ 50 mN/m 이 더욱 바람직하다. F 필름의 플라즈마 처리면의 습윤 장력은, F 필름의 표면에 있어서의 관능기의 양이 많을수록 높아지는 경향이 있다. 습윤 장력이 상기 범위의 하한값 이상이면, 열압착의 온도를 낮게 해도 F 필름과 열경화성 접착제층의 접착성이 더욱 우수하다. 습윤 장력이 상기 범위의 상한값 이하이면, 표면 처리에 의해 생성되는 오염 물질이 적어, 오염 물질에 의한 밀착 저해가 잘 일어나지 않는다.The wetting tension of the plasma-treated surface of the F film in the adhesive film is preferably 30 mN/m or more, more preferably 30 to 60 mN/m, and still more preferably 30 to 50 mN/m. The wetting tension of the plasma-treated surface of the F film tends to increase as the amount of functional groups on the surface of the F film increases. If the wet tension is more than the lower limit of the above range, the adhesion between the F film and the thermosetting adhesive layer is more excellent even if the temperature of thermocompression is lowered. If the wetting tension is below the upper limit of the above range, there are few contaminants generated by surface treatment, and adhesion inhibition due to contaminants does not occur easily.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 접착 필름은, F 필름과 열경화성 접착제층이 적층되어 있다. F 필름은 폴리이미드 필름에 비해 전기 특성이 우수하기 때문에, 고주파수 용도의 프린트 기판 재료로서 사용한 경우에 전송 손실을 저감시킬 수 있다. 또, 본 발명의 접착 필름은, 온도 160 ℃, 압력 4 ㎫ 및 시간 90 분간의 조건에서 열 프레스하여 열경화성 접착제층을 경화시켰을 때, F 필름과 경화 후의 열경화성 접착제층의 계면의 박리 강도가 5 N/㎝ 이상이다. 그 때문에, 본 발명의 접착 필름과 회로 기판은 비교적 저온 (260 ℃ 미만) 의 열압착이어도 강고하게 접착시킬 수 있다.As explained above, in the adhesive film of the present invention, an F film and a thermosetting adhesive layer are laminated. Since F film has superior electrical properties compared to polyimide film, transmission loss can be reduced when used as a printed board material for high frequency applications. In addition, the adhesive film of the present invention has a peel strength of 5 N at the interface between the F film and the cured thermosetting adhesive layer when the thermosetting adhesive layer is cured by heat pressing under the conditions of a temperature of 160°C, a pressure of 4 MPa, and a time of 90 minutes. It is more than /cm. Therefore, the adhesive film of the present invention and the circuit board can be firmly bonded even by thermocompression at a relatively low temperature (less than 260°C).

또한, 본 발명의 접착 필름에 있어서는, F 폴리머로서 관능기를 갖는 F 폴리머를 사용하면, F 필름과 경화 후의 열경화성 접착제층의 계면의 박리 강도를 5 N/㎝ 이상으로 조정하기 쉽다. 또, 플라즈마 처리에 의해 표면의 젖음성이 조정된 F 필름의 표면에 열경화성 접착제층을 형성하면, F 필름과 경화 후의 열경화성 접착제층의 계면의 박리 강도를 5 N/㎝ 이상으로 조정하기 쉽다.Furthermore, in the adhesive film of the present invention, if an F polymer having a functional group is used as the F polymer, the peel strength of the interface between the F film and the cured thermosetting adhesive layer is easy to adjust to 5 N/cm or more. Additionally, if a thermosetting adhesive layer is formed on the surface of the F film whose surface wettability has been adjusted by plasma treatment, the peeling strength of the interface between the F film and the cured thermosetting adhesive layer can be easily adjusted to 5 N/cm or more.

본 발명의 접착 필름은, 커버레이 필름 또는 층간 절연 필름으로서 사용하는 것이 바람직하고, 상기 서술한 본 발명의 처리 기판의 제조 방법에 있어서의 접착성 기재로서 사용하는 것이 특히 바람직하다.The adhesive film of the present invention is preferably used as a coverlay film or an interlayer insulating film, and is particularly preferably used as an adhesive substrate in the method for manufacturing a processed substrate of the present invention described above.

도 7 은, 접착 필름을 커버레이 필름으로서 사용하는 일례를 나타내는 단면도이다. 접착 필름 (10') 은, F 필름 (12') 과, F 필름 (12') 의 표면에 형성된 열경화성 접착제층 (14') 을 갖는다. F 필름 (12') 의 열경화성 접착제층 (14') 측의 표면은 플라즈마 처리되어 있다.Figure 7 is a cross-sectional view showing an example of using an adhesive film as a coverlay film. The adhesive film 10' has an F film 12' and a thermosetting adhesive layer 14' formed on the surface of the F film 12'. The surface of the F film 12' on the thermosetting adhesive layer 14' side is plasma treated.

도 8 은, 접착 필름을 층간 절연 필름으로서 사용하는 일례를 나타내는 단면도이다. 접착 필름 (11') 은, F 필름 (12') 과, 그 양면에 형성된 열경화성 접착제층 (14') 을 갖는다. F 필름 (12') 의 열경화성 접착제층 (14') 측의 표면은 플라즈마 처리되어 있다.Fig. 8 is a cross-sectional view showing an example of using an adhesive film as an interlayer insulating film. The adhesive film 11' has an F film 12' and thermosetting adhesive layers 14' formed on both surfaces thereof. The surface of the F film 12' on the thermosetting adhesive layer 14' side is plasma treated.

도 9 는, 접착 필름을 커버레이 필름으로 하는 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 일례를 나타내는 단면도이다. 커버레이 필름이 형성된 회로 기판 (1') 은, 절연층 (20') 과, 그 양면에 형성된 도체 회로 (22') 와, 도체 회로 (22') 의 표면 및 절연층 (20') 의 표면에 접하는 경화 후의 접착 필름 (10') 인 접착 필름 (10") 을 갖는다. 접착 필름 (10") 에서는, 접착 필름 (10') 의 열경화성 접착제층 (14') 이 열경화되어 형성된 접착층 (14") 이 도체 회로 (22') 의 표면 및 도체 회로 (22') 가 형성된 부분 이외의 절연층 (20') 의 표면에 접하고 있다.FIG. 9 is a cross-sectional view showing an example of a circuit board on which a coverlay film using an adhesive film as a coverlay film is formed. The circuit board 1' on which the coverlay film is formed includes an insulating layer 20', a conductor circuit 22' formed on both sides thereof, a surface of the conductor circuit 22', and a surface of the insulating layer 20'. It has an adhesive film 10", which is a cured adhesive film 10' in contact with the adhesive film 10". In the adhesive film 10", the adhesive layer 14 is formed by thermosetting the thermosetting adhesive layer 14' of the adhesive film 10'. ") It is in contact with the surface of the conductor circuit 22' and the surface of the insulating layer 20' other than the portion where the conductor circuit 22' is formed.

도 10 은, 접착 필름을 커버레이 필름으로 하는 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 다른 예를 나타내는 단면도이다. 커버레이 필름이 형성된 회로 기판 (2') 은, 2 개의 절연층 (20') 과, 그 양면에 형성된 도체 회로 (22') 와, 양면이 도체 회로 (22') 의 표면 및 절연층 (20') 의 표면에 접하는 접착층 (24") 과, 도체 회로 (22') 의 표면 및 절연층 (20') 의 표면에 접하는 접착 필름 (10") 을 갖는다.Fig. 10 is a cross-sectional view showing another example of a circuit board on which a coverlay film using an adhesive film as a coverlay film is formed. The circuit board 2' on which the coverlay film is formed includes two insulating layers 20', a conductor circuit 22' formed on both sides thereof, and both surfaces of the conductor circuit 22' and the insulating layer 20. '), an adhesive layer 24" in contact with the surface of the conductor circuit 22', and an adhesive film 10" in contact with the surface of the insulating layer 20'.

도 11 은, 접착 필름을 커버레이 필름으로 하는 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 다른 예를 나타내는 단면도이다. 커버레이 필름이 형성된 회로 기판 (3') 은, 2 개의 절연층 (20') 과, 그 편면에 형성된 도체 회로 (22') 와, 편방의 표면이 하측의 도체 회로 (22') 의 표면 및 절연층 (20') 의 표면에 접하고, 타방의 표면이 상측의 절연층 (20') 에 접하는 접착층 (24") 과, 상측의 도체 회로 (22') 의 표면 및 절연층 (20') 의 표면에 접하는 접착 필름 (10") 을 갖는다.FIG. 11 is a cross-sectional view showing another example of a circuit board on which a coverlay film using an adhesive film as a coverlay film is formed. The circuit board 3' on which the coverlay film was formed includes two insulating layers 20', a conductor circuit 22' formed on one side thereof, and the surface of one side being exposed to the surface of the lower conductor circuit 22' and The adhesive layer 24" is in contact with the surface of the insulating layer 20' and the other surface is in contact with the upper insulating layer 20', the surface of the upper conductor circuit 22' and the insulating layer 20'. It has an adhesive film (10") in contact with the surface.

도 12 는, 접착 필름을 커버레이 필름 및 층간 절연 필름으로 하는 커버레이 필름이 형성된 다층 회로 기판의 일례를 나타내는 단면도이다. 커버레이 필름이 형성된 다층 회로 기판 (4') 은, 2 개의 절연층 (20') 과, 그 각 양면에 형성된 도체 회로 (22') 와, 양면이 도체 회로 (22') 의 표면 및 절연층 (20') 의 표면에 접하는 경화 후의 접착 필름 (11') 인 접착 필름 (11") 과, 도체 회로 (22') 의 표면 및 절연층 (20') 의 표면에 접하는 접착 필름 (10") 을 갖는다.FIG. 12 is a cross-sectional view showing an example of a multilayer circuit board on which a coverlay film is formed in which the adhesive film is a coverlay film and an interlayer insulating film. The multilayer circuit board 4' on which the coverlay film is formed includes two insulating layers 20', conductor circuits 22' formed on both sides of the conductor circuits 22', and both surfaces of the conductor circuits 22' and the insulating layer. Adhesive film 11", which is the cured adhesive film 11', in contact with the surface of the conductor circuit 20', and adhesive film 10" in contact with the surface of the conductor circuit 22' and the surface of the insulating layer 20'. has

접착 필름 (10") 에서는, 접착 필름 (10') 의 열경화성 접착제층 (14') 이 열경화되어 형성된 접착층 (14") 이 도체 회로 (22') 의 표면 및 도체 회로 (22') 가 형성된 부분 이외의 절연층 (20') 의 표면에 접하고 있다.In the adhesive film 10", the adhesive layer 14" formed by thermosetting the thermosetting adhesive layer 14' of the adhesive film 10' is connected to the surface of the conductor circuit 22' and the surface on which the conductor circuit 22' is formed. It is in contact with the surface of the insulating layer 20' other than that portion.

접착 필름 (11") 의 양면에서는, 접착 필름 (11) 의 양면의 열경화성 접착제층 (14) 이 열경화되어 형성된 접착층 (14") 이 도체 회로 (22') 의 표면 및 절연층 (20') 의 각각의 표면에 접하고 있다.On both sides of the adhesive film 11", an adhesive layer 14" formed by thermosetting the thermosetting adhesive layer 14 on both sides of the adhesive film 11 is attached to the surface of the conductor circuit 22' and the insulating layer 20'. is in contact with each surface.

도 13 은, 접착 필름을 커버레이 필름 및 층간 절연 필름으로 하는 커버레이 필름이 형성된 다층 회로 기판의 다른 예를 나타내는 단면도이다. 커버레이 필름이 형성된 회로 기판 (5') 은, 2 개의 절연층 (20') 과, 그 각 편면에 형성된 도체 회로 (22') 와, 일방의 표면이 하측의 도체 회로 (22') 의 표면 및 절연층 (20') 의 표면에 접하고, 타방의 표면이 상측의 절연층 (20') 에 접하는 접착 필름 (11") 과, 상측의 도체 회로 (22') 의 표면 및 절연층 (20') 의 표면에 접하는 접착 필름 (10") 을 갖는다.Figure 13 is a cross-sectional view showing another example of a multilayer circuit board on which a coverlay film is formed in which the adhesive film is a coverlay film and an interlayer insulating film. The circuit board 5' on which the coverlay film was formed includes two insulating layers 20', a conductor circuit 22' formed on each side thereof, and one surface of which is the surface of the lower conductor circuit 22'. and an adhesive film 11" in contact with the surface of the insulating layer 20' and the other surface in contact with the upper insulating layer 20', and the surface of the upper conductor circuit 22' and the insulating layer 20'. ) has an adhesive film (10") in contact with the surface.

도 14 는, 도 9 의 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.FIG. 14 is a cross-sectional view showing the manufacturing of the circuit board of FIG. 9.

회로 기판 (30') 은, 절연층 (20') 과, 그 양면에 형성된 도체 회로 (22') 를 갖는다. 회로 기판 (30') 의 양면의 절연층 (20') 의 표면은 플라즈마 처리되어 있다. 아래에서부터 순서대로, 접착 필름 (10'), 회로 기판 (30'), 접착 필름 (10') 을, 회로 기판 (30') 의 플라즈마 처리면에 열경화성 접착제층 (14') 이 접하도록 중첩시켜 적층한 후, 이것들을 열압착시킨다.The circuit board 30' has an insulating layer 20' and conductor circuits 22' formed on both surfaces thereof. The surfaces of the insulating layer 20' on both sides of the circuit board 30' are plasma treated. In order from the bottom, the adhesive film 10', the circuit board 30', and the adhesive film 10' are overlapped so that the thermosetting adhesive layer 14' is in contact with the plasma treated surface of the circuit board 30'. After lamination, they are heat-compressed.

도 15 는, 도 10 의 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.FIG. 15 is a cross-sectional view showing manufacturing the circuit board of FIG. 10.

아래에서부터 순서대로, 접착 필름 (10'), 회로 기판 (30'), 접착제 시트 (24'), 회로 기판 (30'), 접착 필름 (10') 을, 회로 기판 (30') 의 플라즈마 처리면에 열경화성 접착제층 (14') 이 접하도록 중첩시켜 적층한 후, 이것들을 열압착시킨다.In order from the bottom, adhesive film 10', circuit board 30', adhesive sheet 24', circuit board 30', adhesive film 10', and plasma treatment of circuit board 30'. After stacking the thermosetting adhesive layer 14' in contact with the surface, these are heat-compressed.

도 16 은, 도 11 의 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.FIG. 16 is a cross-sectional view showing manufacturing the circuit board of FIG. 11.

회로 기판 (32') 은, 절연층 (20') 과, 그 편면에 형성된 도체 회로 (22') 를 갖는다. 회로 기판 (32') 의 절연층 (20') 의 도체 회로 (22') 가 형성된 측의 표면은, 플라즈마 처리되어 있다. 아래에서부터 순서대로, 회로 기판 (32'), 접착제 시트 (24'), 회로 기판 (32'), 접착 필름 (10') 을, 회로 기판 (32') 의 플라즈마 처리면에 열경화성 접착제층 (14') 이 접하도록 중첩시켜 적층한 후, 이것들을 열압착시킨다.The circuit board 32' has an insulating layer 20' and a conductor circuit 22' formed on one side thereof. The surface of the insulating layer 20' of the circuit board 32' on the side where the conductor circuit 22' is formed is plasma treated. In order from the bottom, the circuit board 32', adhesive sheet 24', circuit board 32', and adhesive film 10' are placed on the plasma treated surface of the circuit board 32'. ') are overlapped and laminated so that they are in contact, and then these are heat-compressed.

도 17 은, 도 12 의 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.FIG. 17 is a cross-sectional view showing manufacturing the circuit board of FIG. 12.

아래에서부터 순서대로, 접착 필름 (10'), 회로 기판 (30'), 접착 필름 (11'), 회로 기판 (30'), 접착 필름 (10') 을, 회로 기판 (30') 의 플라즈마 처리면에 열경화성 접착제층 (14') 이 접하도록 중첩시켜 적층한 후, 이것들을 열압착시킨다.In order from the bottom, adhesive film 10', circuit board 30', adhesive film 11', circuit board 30', adhesive film 10', plasma treatment of circuit board 30' After stacking the thermosetting adhesive layer 14' in contact with the surface, these are heat-compressed.

도 18 은, 도 13 의 회로 기판을 제조하는 모습을 나타내는 단면도이다.FIG. 18 is a cross-sectional view showing manufacturing the circuit board of FIG. 13.

아래에서부터 순서대로, 회로 기판 (32'), 접착 필름 (11'), 회로 기판 (32'), 접착 필름 (10') 을, 회로 기판 (32') 의 플라즈마 처리면에 열경화성 접착제층 (14') 이 접하도록 중첩시켜 적층한 후, 이것들을 열압착시킨다.In order from the bottom, the circuit board 32', the adhesive film 11', the circuit board 32', and the adhesive film 10' are placed on the plasma treated surface of the circuit board 32'. ') are overlapped and laminated so that they are in contact, and then these are heat-compressed.

또한, 회로 기판 (30' 및 32') 으로는, 상기 서술한 본 발명의 제조 방법에 있어서의 오리지널의 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 적어도 플라즈마 처리하여 얻어지는, 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판인 것이 바람직하다.Additionally, the circuit boards 30' and 32' are circuit boards having a plasma-treated surface obtained by plasma-treating at least the conductor circuit side surface of the original circuit board in the manufacturing method of the present invention described above. It is desirable.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 접착 필름은, 커버레이 필름, 층간 절연 필름 등으로서 전기 특성이 우수한, 고주파수 용도에 있어서도 전송 손실을 저감시킬 수 있고, 또 비교적 저온 사용 (260 ℃ 미만) 이 가능한 필름이다.As explained above, the adhesive film of the present invention is a film that has excellent electrical properties as a coverlay film, interlayer insulating film, etc., can reduce transmission loss even in high-frequency applications, and can be used at relatively low temperatures (less than 260°C). am.

실시예Example

이하, 실시예에 의해 본 발명을 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이것들에 한정하여 해석되지 않는다. 또한, 실시예 등에서 사용한 재료와 물성 및 평가 방법은 이하와 같다.Hereinafter, the present invention will be described in detail by way of examples, but the present invention should not be construed as being limited to these examples. In addition, the materials, physical properties, and evaluation methods used in the examples and the like are as follows.

(폴리머의 융점)(Melting point of polymer)

시차 주사 열량계 (세이코 인스트루먼츠사 제조, DSC-7020) 를 사용하여, 폴리머를 10 ℃/분의 속도로 승온시켰을 때의 융해 피크를 기록하고, 극대값에 대응하는 온도 (℃) 를 융점으로 하였다.Using a differential scanning calorimeter (DSC-7020, manufactured by Seiko Instruments), the melting peak was recorded when the polymer was heated at a rate of 10°C/min, and the temperature (°C) corresponding to the maximum value was taken as the melting point.

(폴리머의 용융 흐름 속도)(melt flow rate of polymer)

멜트 인덱서 (테크노 세븐사 제조) 를 사용하여, 372 ℃, 49 N 하중하에서, 직경 2 ㎜, 길이 8 ㎜ 의 노즐로부터 10 분간에 유출되는 폴리머의 질량 (g) 을 측정하여 용융 흐름 속도로 하였다.Using a melt indexer (manufactured by Techno Seven), the mass (g) of polymer flowing out from a nozzle with a diameter of 2 mm and a length of 8 mm in 10 minutes was measured at 372°C and under a load of 49 N, and was taken as the melt flow rate.

(습윤 장력)(wet tension)

플라즈마 처리 후의 폴리머층의 노출면의 습윤 장력은, 습윤 장력 시험용 혼합액 (와코 순약 공업사 제조) 을 사용하여, JIS K 6768 : 1999 에 따라서 구하였다.The wet tension of the exposed surface of the polymer layer after plasma treatment was determined according to JIS K 6768:1999 using a mixed liquid for wet tension test (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.).

(박리 강도)(Peel Strength)

대상물 (필름 또는 처리 회로 기판) 을 길이 150 ㎜, 폭 10 ㎜ 로 잘라내어, 평가 샘플을 제조하였다. 평가 샘플의 길이 방향의 일단으로부터 50 ㎜ 의 위치까지 폴리머층과 접착층의 사이를 박리하였다. 인장 시험기를 사용하여 인장 속도 50 ㎜/분으로 90°가 되도록 박리하고, 측정 거리 20 ㎜ 에서 80 ㎜ 까지의 평균 하중을 박리 강도 (N/㎝) 로 하였다.An object (film or processed circuit board) was cut to 150 mm in length and 10 mm in width to prepare an evaluation sample. The space between the polymer layer and the adhesive layer was peeled to a position of 50 mm from one end in the longitudinal direction of the evaluation sample. It was peeled at an angle of 90° at a tensile speed of 50 mm/min using a tensile tester, and the average load from a measurement distance of 20 mm to 80 mm was taken as the peel strength (N/cm).

<TFE 계 폴리머><TFE-based polymer>

폴리머 F1 : 국제공개 제2016/104297호의 단락 [0111] ∼ [0113] 의 기재에 따라서 제조한 폴리머 (각 단위의 비율 (몰비) : TFE 단위/NAH 단위/PPVE 단위 = 97.9/0.1/2.0, 접착성기의 함유량 : 폴리머의 주사슬 탄소수 1 × 106 개에 대하여 1000 개, 융점 : 305 ℃, 용융 흐름 속도 : 11.0 g/10 분, 불소 함유량 : 75 질량%).Polymer F1: Polymer prepared according to the description in paragraphs [0111] to [0113] of International Publication No. 2016/104297 (ratio (molar ratio) of each unit: TFE unit/NAH unit/PPVE unit = 97.9/0.1/2.0, adhesive Base content: 1000 per 1 × 10 6 carbon atoms in the polymer main chain, melting point: 305°C, melt flow rate: 11.0 g/10 min, fluorine content: 75 mass%).

폴리머 F2 : 시판되는 PFA (각 단위의 비율 (몰비) : TFE 단위/PPVE 단위 = 98.0/2.0, 융점 : 310 ℃, 용융 흐름 속도 : 11.0 g/10 분, 불소 함유량 : 75 질량%).Polymer F2: Commercially available PFA (ratio (molar ratio) of each unit: TFE unit/PPVE unit = 98.0/2.0, melting point: 310°C, melt flow rate: 11.0 g/10 min, fluorine content: 75 mass%).

<필름 F1><Film F1>

필름 F1 : 750 ㎜ 폭의 코트 행거 다이를 갖는 65 ㎜φ 단축 압출기를 사용하여, 다이 온도 340 ℃ 에서 폴리머 F1 을 필름상으로 압출 성형하여 얻어지는 필름 (두께 12 ㎛).Film F1: A film (thickness 12 μm) obtained by extruding polymer F1 into a film form at a die temperature of 340°C using a 65 mmϕ single screw extruder with a 750 mm wide coat hanger die.

<필름 F2><Film F2>

필름 F2 : 750 ㎜ 폭의 코트 행거 다이를 갖는 65 ㎜φ 단축 압출기를 사용하여, 다이 온도 340 ℃ 에서 폴리머 F2 를 필름상으로 압출 성형하여 얻어지는 필름 (두께 12 ㎛).Film F2: A film (thickness 12 μm) obtained by extruding polymer F2 into a film form at a die temperature of 340°C using a 65 mmϕ single screw extruder with a 750 mm wide coat hanger die.

<폴리이미드 필름><Polyimide film>

필름 PI : 도레이·듀폰사 제조의 캡톤 (상품명) 100EN (두께 : 25 ㎛).Film PI: Kapton (brand name) 100EN manufactured by Toray DuPont Co., Ltd. (thickness: 25 μm).

<동박><Copper foil>

동박 : 전해 동박 (후쿠다 금속박분 공업사 제조, CF-T4X-SV-12, 두께 : 12 ㎛, 표면의 산술 평균 조도 (RzJIS) : 1.1 ㎛).Copper foil: Electrolytic copper foil (CF-T4X-SV-12, manufactured by Fukuda Metal Foil Kogyo Co., Ltd., thickness: 12 μm, arithmetic average roughness of the surface (Rz JIS ): 1.1 μm).

<열경화성 접착제 시트><Thermosetting adhesive sheet>

접착제 시트 1 : 닛칸 공업사 제조의 NIKAFLEX (상품명) SAFG (두께 : 25 ㎛).Adhesive sheet 1: NIKAFLEX (brand name) SAFG (thickness: 25 μm) manufactured by Nikkan Kogyo Co., Ltd.

접착제 시트 11 : 아크릴로니트릴부타디엔 변성 에폭시 수지, 수산화알루미늄, 아크릴 고무, 아미노트리아진 노볼락 수지 (경화제) 및 이미다졸 (경화 촉진제) 을 함유하는, 접착제 시트 (두께 : 15 ㎛).Adhesive sheet 11: Adhesive sheet (thickness: 15 μm) containing acrylonitrile butadiene modified epoxy resin, aluminum hydroxide, acrylic rubber, aminotriazine novolak resin (curing agent) and imidazole (curing accelerator).

[예 1] 접착층이 형성된 필름의 제조예 및 평가예[Example 1] Manufacturing example and evaluation example of film with adhesive layer formed

[예 1-1][Example 1-1]

가스 압력 20 ㎩ 의 이산화탄소 가스 분위기하, 110 ㎑ 의 고주파 전압을 전극 간에 인가하고, 방전 전력 300 W, 60 초간의 조건에서 필름 F1 의 편면을 플라즈마 처리하였다. 필름 F1 의 플라즈마 처리면의 습윤 장력은 50 mN/m 이었다.In a carbon dioxide gas atmosphere with a gas pressure of 20 Pa, a high-frequency voltage of 110 kHz was applied between the electrodes, and one side of the film F1 was plasma treated under the conditions of a discharge power of 300 W and 60 seconds. The wetting tension of the plasma-treated surface of film F1 was 50 mN/m.

필름 F1 의 플라즈마 처리면에 접착제 시트 1 을 중첩시켜 적층하여, 열경화성의 접착층이 형성된 필름 Ad1 을 얻었다. 진공 프레스에 의해, 필름 Ad1 을 프레스 처리 (온도 160 ℃, 압력 4 ㎫, 시간 90 분) 하고, 처리 후의 필름 Ad1 에 있어서의 필름 F1 과 경화 후의 접착층의 계면의 박리 강도를 측정한 결과, 8 N/㎝ 였다.The adhesive sheet 1 was laminated on the plasma treated surface of the film F1 to obtain a film Ad1 with a thermosetting adhesive layer formed thereon. Film Ad1 was press-processed by a vacuum press (temperature: 160°C, pressure: 4 MPa, time: 90 minutes), and the peel strength of the interface between film F1 and the cured adhesive layer in the treated film Ad1 was measured, and the result was 8 N. It was /cm.

[예 1-2] ∼ [예 1-7][Example 1-2] ~ [Example 1-7]

필름의 종류와 플라즈마 처리 조건을 변경하는 것 이외에는, 예 1-1 과 동일하게 하여, 열경화성의 접착층이 형성된 필름 Ad2 ∼ Ad7 을 각각 얻었다.Except for changing the type of film and the plasma treatment conditions, the same procedure as in Example 1-1 was performed to obtain films Ad2 to Ad7 each having a thermosetting adhesive layer formed thereon.

각각의 접착층이 형성된 필름의 제조 조건과, 습윤 장력과, 박리 강도를, 정리하여 표 1 에 나타낸다.The manufacturing conditions, wet tension, and peel strength of each adhesive layer-formed film are summarized in Table 1.

Figure 112020022974336-pct00001
Figure 112020022974336-pct00001

또한, 예 1-3 (비교예) 에서는, 플라즈마 처리 후의 필름 F1 과 접착제 시트 1 을 중첩시키고, 프레스 처리 조건을 온도 280 ℃, 압력 4 ㎫, 시간 30 분으로 하여 프레스 처리한 경우, 그 계면의 박리 강도는 0.2 N/㎝ 미만이었다. 이것은, 프레스 처리에 있어서의 온도가 280 ℃ 여서, 접착층이 열분해되었기 때문인 것으로 생각된다.Additionally, in Example 1-3 (comparative example), when the film F1 after plasma treatment and the adhesive sheet 1 were overlapped and subjected to press processing under the conditions of a temperature of 280°C, a pressure of 4 MPa, and a time of 30 minutes, the interface The peel strength was less than 0.2 N/cm. This is believed to be because the temperature during the press treatment was 280°C, and the adhesive layer was thermally decomposed.

[예 2] 처리 회로 기판의 제조예 및 평가예 (그 1)[Example 2] Manufacturing example and evaluation example of processed circuit board (Part 1)

[예 2-1][Example 2-1]

동박, 필름 F1, 필름 PI, 필름 F1, 동박의 순서로 중첩시켜 적층하고, 진공하, 320 ℃, 30 분간의 조건에서, 열 프레스하여 금속 피복 적층판을 얻었다.Copper foil, film F1, film PI, film F1, and copper foil were stacked in this order and heat pressed under vacuum at 320°C for 30 minutes to obtain a metal-clad laminate.

금속 피복 적층판의 편면을 마스킹하고, 에칭액 (선하야토사 제조, H-1000A, 염화 제 2 철 수용액) 에 침지시켜, 편면의 동박을 완전히 제거하였다.One side of the metal-clad laminate was masked and immersed in an etching solution (H-1000A, ferric chloride aqueous solution, manufactured by Sunhayato Co., Ltd.) to completely remove the copper foil on one side.

다음으로, 가스 압력 20 ㎩ 의 이산화탄소 가스 분위기하에서 110 ㎑ 의 고주파 전압을 전극 간에 인가하고, 방전 전력 300 W, 60 초간의 조건에서, 필름 F1 층의 노출면을 플라즈마 처리하여, 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판 1 을 얻었다. 플라즈마 처리면의 필름 F1 층의 노출면의 습윤 장력은 50 mN/m 이었다.Next, a high-frequency voltage of 110 kHz is applied between the electrodes in a carbon dioxide gas atmosphere with a gas pressure of 20 Pa, and the exposed surface of the film F1 layer is plasma treated under the conditions of a discharge power of 300 W for 60 seconds to obtain a plasma-treated surface. Circuit board 1 was obtained. The wetting tension of the exposed surface of the film F1 layer on the plasma treated surface was 50 mN/m.

2 장의 회로 기판 1 을 각각의 플라즈마 처리면이 대향하도록 배치하고, 그 사이에 접착제 시트 1 을 넣어 중첩시키고, 열 프레스 처리 (온도 160 ℃, 압력 4 ㎫, 열압착 90 분간) 하여 열압착시켜, 2 장의 회로 기판 1 이 접착제 시트 1 의 경화물을 개재하여 접착된 처리 회로 기판 1 을 얻었다. 필름 F1 과 경화 후의 접착층의 계면의 박리 강도를 측정한 결과, 8 N/㎝ 였다.Two circuit boards 1 are placed so that their respective plasma treated surfaces face each other, an adhesive sheet 1 is placed between them, they are overlapped, and heat press is applied (temperature 160°C, pressure 4 MPa, heat compression for 90 minutes) to bond them. Processed circuit board 1 was obtained by bonding two sheets of circuit board 1 through the cured product of adhesive sheet 1. The peel strength at the interface between film F1 and the cured adhesive layer was measured and found to be 8 N/cm.

[예 2-2] ∼ [예 2-7][Example 2-2] ~ [Example 2-7]

필름의 종류와 플라즈마 처리 조건을 변경하는 것 이외에는, 예 1-1 과 동일하게 하여, 처리 회로 기판 2 ∼ 4 를 각각 얻었다.Processed circuit boards 2 to 4 were obtained in the same manner as in Example 1-1, except that the type of film and the plasma treatment conditions were changed.

각각의 처리 회로 기판의 제조 조건과, 필름층의 습윤 장력과, 박리 강도를, 정리하여 표 2 에 나타낸다.The manufacturing conditions for each processed circuit board, the wet tension of the film layer, and the peel strength are summarized in Table 2.

Figure 112020022974336-pct00002
Figure 112020022974336-pct00002

또한, 예 2-3 (비교예) 에서는, 2 장의 회로 기판 1 을 각각의 플라즈마 처리면이 대향하도록 배치하고, 그 사이에 접착제 시트 1 을 넣어 중첩시키고, 열 프레스 처리 조건을 온도 280 ℃, 압력 4 ㎫, 시간 30 분으로 하여 프레스 처리한 경우, 그 계면의 박리 강도는 0.2 N/㎝ 미만이었다. 프레스 처리에 있어서의 온도가 280 ℃ 여서, 접착층이 열분해되었기 때문인 것으로 생각된다.Additionally, in Example 2-3 (comparative example), two circuit boards 1 were placed so that their respective plasma treated surfaces faced each other, and an adhesive sheet 1 was placed between them to overlap them, and the heat press treatment conditions were a temperature of 280° C. and a pressure of 280° C. When press processing was performed at 4 MPa for 30 minutes, the peeling strength of the interface was less than 0.2 N/cm. It is thought that this is because the temperature during the press treatment was 280°C, and the adhesive layer was thermally decomposed.

또한, 예 2 에 있어서는, TFE 계 폴리머층의 표면에 도체 회로를 형성하지 않고 평가하였지만, TFE 계 폴리머층의 표면에 도체 회로를 형성한 경우에도, 동일한 결과가 얻어진다.Additionally, in Example 2, the evaluation was performed without forming a conductor circuit on the surface of the TFE-based polymer layer, but the same results were obtained even when a conductor circuit was formed on the surface of the TFE-based polymer layer.

[예 3] 처리 회로 기판의 제조예 및 평가예 (그 2)[Example 3] Manufacturing example and evaluation example of processed circuit board (Part 2)

동박, 필름 F1, 필름 PI, 필름 F1, 동박의 순서로 중첩시켜 적층하고, 진공하, 320 ℃, 30 분간의 조건에서, 열 프레스하여 금속 피복 적층판을 얻었다.Copper foil, film F1, film PI, film F1, and copper foil were stacked in this order and heat pressed under vacuum at 320°C for 30 minutes to obtain a metal-clad laminate.

금속 피복 적층판의 편면을 마스킹하고, 에칭액 (선하야토사 제조, H-1000A, 염화 제 2 철 수용액) 에 침지시켜, 편면의 동박으로 도체 회로를 형성한다.One side of the metal-clad laminate is masked and immersed in an etching solution (H-1000A, ferric chloride aqueous solution, manufactured by Sunhayato Co., Ltd.) to form a conductor circuit with the copper foil on one side.

가스 압력 20 ㎩ 의 이산화탄소 가스 분위기하에서 110 ㎑ 의 고주파 전압을 전극 간에 인가하고, 방전 전력 300 W, 60 초간의 조건에서, 도체 회로측 (필름 F1 층의 노출면) 을 플라즈마 처리하여, 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판 11 을 얻는다.A high frequency voltage of 110 kHz is applied between the electrodes in a carbon dioxide gas atmosphere with a gas pressure of 20 Pa, and the conductor circuit side (exposed surface of the film F1 layer) is plasma treated under the conditions of a discharge power of 300 W and 60 seconds, and the plasma treated surface is formed. A circuit board 11 having is obtained.

2 장의 회로 기판 11 의 각각의 플라즈마 처리면이 대향하도록 배치하고, 그 사이에 접착제 시트 11 을 넣어 중첩시키고, 진공 프레스에 의해, 열 프레스 처리 (온도 160 ℃, 압력 4 ㎫, 열압착 90 분간) 하여 열압착시켜, 2 장의 회로 기판 11 이 접착제 시트 11 의 경화물을 개재하여 접착된 처리 회로 기판 11 을 얻었다. 필름 F1 과 경화 후의 접착층의 계면의 박리 강도를 측정한 결과, 9 N/㎝ 이다.Two circuit boards 11 are arranged so that their respective plasma-treated surfaces face each other, and an adhesive sheet 11 is placed between them to overlap them, and then subjected to heat press treatment using a vacuum press (temperature 160°C, pressure 4 MPa, heat compression for 90 minutes). This was heat-compressed to obtain a processed circuit board 11 in which two circuit boards 11 were bonded via the cured product of the adhesive sheet 11. The peel strength at the interface between film F1 and the cured adhesive layer was measured and found to be 9 N/cm.

또한, 아크릴로니트릴부타디엔 변성 에폭시 수지 대신에, 부타디엔 변성 에폭시 수지 고무, 스티렌계 엘라스토머 변성 에폭시 수지, 우레탄 변성 에폭시 수지 또는 아크릴 변성 에폭시 수지를 사용한 경우에도, 동일한 결과가 얻어진다.Additionally, the same results are obtained even when butadiene-modified epoxy resin rubber, styrene-based elastomer-modified epoxy resin, urethane-modified epoxy resin, or acrylic-modified epoxy resin is used instead of acrylonitrile-butadiene-modified epoxy resin.

본 발명의 제조 방법에 의해 얻어지는 처리 회로 기판은, 다층 회로 기판, 커버레이 필름이 형성된 회로 기판 등으로 하여, 소형화, 고기능화가 요구되는 전자 기기, 전기 기기의 회로 기판으로서 유용하다. 본 발명의 접착성 필름은, 다층 회로 기판, 커버레이 필름이 형성된 회로 기판 등의 제조에 사용되는, 커버레이 필름, 층간 절연 필름 등으로서 유용하다.The processed circuit board obtained by the manufacturing method of the present invention, such as a multilayer circuit board or a circuit board with a coverlay film, is useful as a circuit board for electronic devices and electric devices requiring miniaturization and high functionality. The adhesive film of the present invention is useful as a coverlay film, an interlayer insulating film, etc. used in the production of multilayer circuit boards, circuit boards with coverlay films, etc.

또한, 2017년 12월 19일에 출원된 일본 특허출원 2017-243191호 및 2018년 1월 18일에 출원된 일본 특허출원 2018-006324호의 명세서, 특허청구범위, 도면, 및 요약서의 전체 내용을 여기에 인용하고, 본 발명의 명세서의 개시로서 도입하는 것이다.In addition, the full contents of the specification, claims, drawings, and abstract of Japanese Patent Application No. 2017-243191 filed on December 19, 2017 and Japanese Patent Application No. 2018-006324 filed on January 18, 2018 are here. It is cited and introduced as a disclosure of the specification of the present invention.

1, 2, 3 : 다층 회로 기판
10 : 내열성 기재층
12 : F 층
14 : 도체 회로
16, 16A, 16B : 접착층
18 : 커버레이층
20, 30 : 회로 기판
22 : 접착제층이 형성된 커버레이 필름
24 : 접착제 시트
26 : 접착제층
1', 2', 3' : 커버레이 필름이 형성된 회로 기판
4', 5' : 커버레이 필름이 형성된 다층 회로 기판
10', 11' : 접착 필름
10", 11" : 경화 후의 접착 필름
12' : F 필름
14' : 열경화성 접착제층
14" : 열경화성 접착제층
20' : 절연층
22' : 도체 회로
24' : 접착제 시트
30', 32' : 회로 기판
1, 2, 3: Multilayer circuit board
10: Heat-resistant base layer
12: F floor
14: conductor circuit
16, 16A, 16B: Adhesive layer
18: Coverlay layer
20, 30: circuit board
22: Coverlay film with adhesive layer formed
24: Adhesive sheet
26: Adhesive layer
1', 2', 3': Circuit board with coverlay film formed
4', 5': Multilayer circuit board with coverlay film formed
10', 11': Adhesive film
10", 11": Adhesive film after curing
12': F film
14': thermosetting adhesive layer
14": Thermosetting adhesive layer
20': insulation layer
22': conductor circuit
24': adhesive sheet
30', 32': Circuit board

Claims (15)

테트라플루오로에틸렌계 폴리머를 함유하는 폴리머층과 상기 폴리머층의 표면에 표면의 10 점 평균 조도 (RzJIS) 가 2.0 ㎛ 이하인 금속박을 가공하여 형성된 도체 회로를 갖는 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 진공 플라즈마 처리하여 상기 폴리머층의 노출면의 습윤 장력이 30 mN/m 이상이고 50 mN/m 이하인 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판을 얻고, 이어서, 그 회로 기판의 플라즈마 처리면과 접착제층을 갖는 기판의 접착제층을 200 ℃ 미만에서 열압착시켜 처리 회로 기판을 제조하는 것을 특징으로 하는, 처리 회로 기판의 제조 방법.The surface of the conductor circuit side of a circuit board having a polymer layer containing a tetrafluoroethylene-based polymer and a conductor circuit formed on the surface of the polymer layer by processing a metal foil with a surface 10-point average roughness (Rz JIS ) of 2.0 μm or less. Vacuum plasma treatment is performed to obtain a circuit board having a plasma-treated surface where the wet tension of the exposed surface of the polymer layer is 30 mN/m or more and 50 mN/m or less, and then a substrate having a plasma-treated surface of the circuit board and an adhesive layer. A method of manufacturing a processed circuit board, characterized in that the adhesive layer is heat-compressed at less than 200° C. to manufacture the processed circuit board. 제 1 항에 있어서,
상기 처리 회로 기판에 있어서의 열압착면의 박리 강도가 5 N/㎝ 이상인, 처리 회로 기판의 제조 방법.
According to claim 1,
A method of manufacturing a processed circuit board, wherein the peeling strength of the heat-compressed surface of the processed circuit board is 5 N/cm or more.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 접착제층을 갖는 기판이 접착제층이 형성된 커버레이 필름이고, 상기 처리 회로 기판이 커버레이 필름이 형성된 회로 기판이거나, 또는 상기 접착제층을 갖는 기판이 접착제 시트이고 상기 처리 회로 기판이 접착층이 형성된 회로 기판인, 처리 회로 기판의 제조 방법.
The method of claim 1 or 2,
The substrate having the adhesive layer is a coverlay film with an adhesive layer formed thereon, and the processed circuit board is a circuit board with a coverlay film formed thereon, or the substrate having the adhesive layer is an adhesive sheet and the processed circuit board is a circuit board with an adhesive layer formed thereon. A method of manufacturing a processed circuit board, which is a substrate.
삭제delete 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 테트라플루오로에틸렌계 폴리머가, 카르보닐기 함유기, 하이드록시기, 에폭시기, 아미드기, 아미노기 및 이소시아네이트기로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종의 관능기를 갖는, 처리 회로 기판의 제조 방법.
The method of claim 1 or 2,
A method for manufacturing a processed circuit board, wherein the tetrafluoroethylene-based polymer has at least one functional group selected from the group consisting of a carbonyl group-containing group, a hydroxy group, an epoxy group, an amide group, an amino group, and an isocyanate group.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 테트라플루오로에틸렌계 폴리머의 융점이 260 ℃ 이상인, 처리 회로 기판의 제조 방법.
The method of claim 1 or 2,
A method of manufacturing a processed circuit board, wherein the tetrafluoroethylene-based polymer has a melting point of 260°C or higher.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 접착제층이, 고무 변성 에폭시 수지 및 경화제를 함유하는 열경화성 접착제층인, 처리 회로 기판의 제조 방법.
The method of claim 1 or 2,
A method of manufacturing a processed circuit board, wherein the adhesive layer is a thermosetting adhesive layer containing a rubber-modified epoxy resin and a curing agent.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 접착제층을 갖는 기판이, 프레스 온도 160 ℃, 프레스 압력 4 ㎫, 프레스 시간 90 분간의 조건에서, 상기 회로 기판의 플라즈마 처리면과 상기 접착제층을 갖는 기판의 접착제층을 열압착시켰을 때, 상기 처리 회로 기판에 있어서의 열압착면의 박리 강도가 5 N/㎝ 이상이 되는 기판인, 처리 회로 기판의 제조 방법.
The method of claim 1 or 2,
When the substrate having the adhesive layer is thermo-compressed with the plasma treated surface of the circuit board and the adhesive layer of the substrate having the adhesive layer under the conditions of a press temperature of 160° C., a press pressure of 4 MPa, and a press time of 90 minutes, A method of manufacturing a processed circuit board, which is a substrate in which the peel strength of the heat-compressed surface of the processed circuit board is 5 N/cm or more.
테트라플루오로에틸렌계 폴리머를 함유하는 폴리머층과 그 폴리머층의 표면에 표면의 10 점 평균 조도 (RzJIS) 가 2.0 ㎛ 이하인 금속박을 가공하여 형성된 도체 회로를 갖는 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 진공 플라즈마 처리하여 상기 폴리머층의 노출면의 습윤 장력이 30 mN/m 이상이고 50 mN/m 이하인 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판을 얻고, 이어서, 복수의 상기 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판의 플라즈마 처리면을 각각 대향시키고, 각각의 플라즈마 처리면의 사이에 접착제 시트를 배치하고, 200 ℃ 미만에서 열압착시켜 복수층의 도체 회로를 갖는 다층 회로 기판을 제조하는 것을 특징으로 하는, 다층 회로 기판의 제조 방법.The surface of the conductor circuit side of a circuit board having a polymer layer containing a tetrafluoroethylene-based polymer and a conductor circuit formed by processing a metal foil with a surface 10-point average roughness (Rz JIS ) of 2.0 μm or less on the surface of the polymer layer. Vacuum plasma treatment is performed to obtain a circuit board having a plasma treated surface where the wet tension of the exposed surface of the polymer layer is 30 mN/m or more and 50 mN/m or less, and then plasma treatment of the circuit board having a plurality of the plasma treated surfaces. Manufacture of a multilayer circuit board, characterized in that the surfaces are opposed to each other, an adhesive sheet is placed between the respective plasma treated surfaces, and heat-compressed at less than 200° C. to produce a multilayer circuit board having a plurality of layers of conductor circuits. method. 테트라플루오로에틸렌계 폴리머를 함유하는 폴리머층과 상기 폴리머층의 표면에 표면의 10 점 평균 조도 (RzJIS) 가 2.0 ㎛ 이하인 금속박을 가공하여 형성된 도체 회로를 갖는 회로 기판의 도체 회로측의 표면을 진공 플라즈마 처리하여 상기 폴리머층의 노출면의 습윤 장력이 30 mN/m 이상이고 50 mN/m 이하인 플라즈마 처리면을 갖는 회로 기판을 얻고, 이어서, 그 회로 기판의 플라즈마 처리면과 접착제층이 형성된 커버레이 필름의 접착제층을 200 ℃ 미만에서 열압착시켜 커버레이 필름이 형성된 회로 기판을 제조하는 것을 특징으로 하는, 커버레이 필름이 형성된 회로 기판의 제조 방법.The surface of the conductor circuit side of a circuit board having a polymer layer containing a tetrafluoroethylene-based polymer and a conductor circuit formed on the surface of the polymer layer by processing a metal foil with a surface 10-point average roughness (Rz JIS ) of 2.0 μm or less. Vacuum plasma treatment is performed to obtain a circuit board having a plasma-treated surface with a wet tension of the exposed surface of the polymer layer of 30 mN/m or more and 50 mN/m or less, and then a cover on which the plasma-treated surface of the circuit board and an adhesive layer are formed. A method of manufacturing a circuit board with a coverlay film, characterized in that the circuit board with the coverlay film is manufactured by heat-compressing the adhesive layer of the lay film at less than 200 ° C. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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