KR102372027B1 - 컨트라스트를 활용한 카메라 모듈의 이물 검출 장치 및 방법 - Google Patents
컨트라스트를 활용한 카메라 모듈의 이물 검출 장치 및 방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 컨트라스트를 활용한 이물 검출 방법의 순서도,
도 3은 이물 검출 과정에 따른 이미지들(입력 이미지, 평균 이미지, 컨트라스트 이미지, 출력 이미지)을 나타낸 도면,
도 4는 이진화 처리 과정을 위한 이미지 분할 및 히스토그램을 나타낸 도면,
도 5는 제1 히스토그램에서의 이진화 처리 과정을 설명하기 위한 도면,
도 6은 모폴로지 연산 과정을 나타낸 도면.
120: 컨트라스트 이미지 생성부 130: 이미지 처리부
131: 이진화 처리 모듈 133: 노이즈 제거 모듈
140: 출력부
Claims (12)
- 카메라 모듈의 이물을 검출하는 이물 검출 장치로서,
상기 카메라 모듈을 이용하여 촬영한 입력 이미지를 획득하고 평균화하는 이미지 획득부;
평균 이미지에 대해 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행하여 컨트라스트 이미지를 생성하는 컨트라스트 이미지 생성부;
상기 컨트라스트 이미지에 대해 소정의 이미지 프로세싱 알고리즘을 적용하여 이물을 부각시키는 이미지 처리부; 및
상기 이미지 처리부를 거친 이미지를 디스플레이를 통해 출력하는 출력부를 포함하되,
상기 컨트라스트 이미지 생성부는 상기 평균 이미지의 밝기값 중 최소값과 최대값 사이의 유효 범위를 절대 최소값과 절대 최대값 사이의 최대 범위로 밝기값 변경하여 컨트라스트를 확장시켜 상기 컨트라스트 이미지를 생성하고,
상기 컨트라스트 이미지 생성부는 상기 최소값과 상기 최대값의 편차량에 대한 기울기를 이용하여 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행하며,
상기 컨트라스트 이미지의 각 픽셀의 변경된 밝기값 P는 하기 수학식과 같이 계산되는 것을 특징으로 하는 이물 검출 장치,
여기서, Y는 상기 평균 이미지의 해당 픽셀의 RGB 채널의 픽셀값으로 이고,
가중치 이며,
기울기 임.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서,
상기 이미지 처리부는 상기 컨트라스트 이미지를 미리 설정된 수량의 조각 이미지로 분할하고, 상기 조각 이미지별로 픽셀들의 밝기값의 범위 형태를 분석하여 상기 조각 이미지마다 개별화된 이진화 처리를 수행하는 이진화 처리 모듈을 포함하는 이물 검출 장치.
- 제5항에 있어서,
상기 이진화 처리 모듈은 상기 조각 이미지마다 밝기값에 대한 히스토그램을 구하고, 상기 히스토그램에서 빈도의 상승과 하락이 변화되는 지점 중에서 최소값을 기준으로 해당 조각 이미지에 대한 임계값을 설정하며, 상기 임계값보다 낮은 빈도량에 대해서는 배제 처리하는 것을 특징으로 하는 이물 검출 장치.
- 제5항에 있어서,
상기 이미지 처리부는 모폴로지 침식 연산을 통해 이진화 처리된 상기 컨트라스트 이미지에서 노이즈를 제거하는 노이즈 제거 모듈을 더 포함하는 이물 검출 장치.
- 이물 검출 장치에서 수행되는 카메라 모듈의 이물을 검출하는 방법으로서,
상기 카메라 모듈을 이용하여 촬영한 입력 이미지를 획득하고 평균화하는 단계;
평균 이미지에 대해 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행하여 컨트라스트 이미지를 생성하는 단계;
상기 컨트라스트 이미지에 대해 소정의 이미지 프로세싱 알고리즘을 적용하여 이물을 부각시키는 단계; 및
상기 이물이 부각된 이미지를 디스플레이를 통해 출력하는 단계를 포함하되,
상기 컨트라스트 이미지를 생성하는 단계는 상기 평균 이미지의 밝기값 중 최소값과 최대값 사이의 유효 범위를 절대 최소값과 절대 최대값 사이의 최대 범위로 밝기값 변경하여 컨트라스트를 확장시켜 상기 컨트라스트 이미지를 생성하고,
상기 컨트라스트 이미지를 생성하는 단계는 상기 최소값과 상기 최대값의 편차량에 대한 기울기를 이용하여 컨트라스트 스트레칭 연산을 수행하며,
상기 컨트라스트 이미지의 각 픽셀의 변경된 밝기값 P는 하기 수학식과 같이 계산되는 것을 특징으로 하는 이물 검출 방법,
여기서, Y는 상기 평균 이미지의 해당 픽셀의 RGB 채널의 픽셀값으로 이고,
가중치 이며,
기울기 임.
- 삭제
- 삭제
- 제8항에 있어서,
상기 이물 부각 단계는,
상기 컨트라스트 이미지를 미리 설정된 수량의 조각 이미지로 분할하는 단계와;
상기 조각 이미지별로 픽셀들의 밝기값의 범위 형태를 분석하여 상기 조각 이미지마다 개별화된 이진화 처리를 수행하는 단계를 포함하는 이물 검출 방법.
- 제11항에 있어서,
상기 이물 부각 단계는, 모폴로지 침식 연산을 통해 이진화 처리된 상기 컨트라스트 이미지에서 노이즈를 제거하는 단계를 더 포함하는 이물 검출 방법.
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Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2007263852A (ja) * | 2006-03-29 | 2007-10-11 | Dainippon Printing Co Ltd | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、及び欠陥検出処理プログラム |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100605226B1 (ko) | 2004-06-10 | 2006-07-31 | 주식회사 팬택앤큐리텔 | 디지털 카메라 모듈의 이물질 검출 장치 및 방법 |
KR101076478B1 (ko) * | 2004-11-25 | 2011-10-25 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 스트레칭 기법을 활용한 평판 디스플레이 패널의 화상결함 검사 방법 및 기록매체 |
JP5544344B2 (ja) * | 2011-09-26 | 2014-07-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 欠陥観察方法及び欠陥観察装置 |
KR20130124659A (ko) * | 2012-05-07 | 2013-11-15 | 순천대학교 산학협력단 | 객체 분리 시스템 및 방법 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007263852A (ja) * | 2006-03-29 | 2007-10-11 | Dainippon Printing Co Ltd | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、及び欠陥検出処理プログラム |
Non-Patent Citations (1)
Title |
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개선된 영상 처리기법을 이용한 콘크리트 표면 균열 추출 및 분석", 한국지능정보시스템학회, 2007.05.* |
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