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KR102061402B1 - Photosensitive film, photosensitive film laminate and cured product formed by using same - Google Patents

Photosensitive film, photosensitive film laminate and cured product formed by using same Download PDF

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KR102061402B1
KR102061402B1 KR1020180005875A KR20180005875A KR102061402B1 KR 102061402 B1 KR102061402 B1 KR 102061402B1 KR 1020180005875 A KR1020180005875 A KR 1020180005875A KR 20180005875 A KR20180005875 A KR 20180005875A KR 102061402 B1 KR102061402 B1 KR 102061402B1
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South Korea
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film
photosensitive film
photosensitive
group
resin
Prior art date
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Korean (ko)
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치히로 후나코시
가즈야 오카다
다로 기타무라
가즈야 사토
히데유키 이토
야스아키 아라이
노부히토 이토
Original Assignee
다이요 잉키 세이조 가부시키가이샤
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Abstract

다이 어태치재와의 밀착성이 우수하고, 또한 경화 피막의 외관 검사에 있어서도 수율을 개선할 수 있는 감광성 필름을 제공한다. 표면에 오목부를 갖는 면을 구비하고, 감광성 수지 조성물에 의해 형성되어 이루어지는 감광성 필름에 있어서, 상기 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수가 3.0×102개 이상인 것을 특징으로 한다.The photosensitive film which is excellent in adhesiveness with a die attach material and which can improve a yield also in the external appearance inspection of a cured film is provided. In the photosensitive film provided with the surface which has a recessed part in the surface, and formed with the photosensitive resin composition, the number of recessed parts per unit area 1mm <2> of the said surface is 3.0 * 10 <2> or more, It is characterized by the above-mentioned.

Description

감광성 필름, 감광성 필름 적층체 및 그들을 사용하여 형성된 경화물{PHOTOSENSITIVE FILM, PHOTOSENSITIVE FILM LAMINATE AND CURED PRODUCT FORMED BY USING SAME}Photosensitive film, photosensitive film laminated body, and hardened | cured material formed using them {PHOTOSENSITIVE FILM, PHOTOSENSITIVE FILM LAMINATE AND CURED PRODUCT FORMED BY USING SAME}

본 발명은, 감광성 필름, 감광성 필름 적층체 및 그들을 사용하여 형성된 경화물에 관한 것이다.This invention relates to the photosensitive film, the photosensitive film laminated body, and the hardened | cured material formed using these.

일반적으로, 전자 기기 등에 사용되는 프린트 배선판에 있어서, 프린트 배선판에 전자 부품을 실장할 때에는, 불필요한 부분에 땜납이 부착되는 것을 방지하기 위해서, 회로 패턴이 형성된 기판 상의 접속 구멍을 제외한 영역에 솔더 레지스트층이 형성되어 있다.In general, in a printed wiring board used for an electronic device or the like, when mounting an electronic component on a printed wiring board, in order to prevent solder from adhering to an unnecessary portion, a solder resist layer is provided in an area excluding a connection hole on a substrate on which a circuit pattern is formed. Is formed.

근년의 전자 기기의 경박단소화에 의한 프린트 배선판의 고정밀도, 고밀도화에 수반하여, 현재, 솔더 레지스트층은, 기판에 감광성 수지 조성물을 도포하고, 노광, 현상에 의해 패턴 형성한 후, 패턴 형성된 수지를 가열 내지 광 조사에 의해 본 경화시키는, 소위 포토 솔더 레지스트에 의해 형성되는 것이 주류로 되어 있다.With high precision and high density of printed wiring boards due to light and short size reduction of electronic devices in recent years, the solder resist layer is currently patterned resin after applying a photosensitive resin composition to a substrate, and forming a pattern by exposure and development. What is formed by the so-called photo solder resist which hardens this by heating or light irradiation is mainstream.

또한, 상기한 바와 같은 액상의 감광성 수지 조성물을 사용하지 않고, 감광성 필름을 구비하는, 소위 감광성 필름 적층체를 사용하여 솔더 레지스트층을 형성하는 것도 제안되어 있다. 감광성 필름 적층체를 사용함으로써, 웨트 코팅의 경우에 비해, 도포 후의 건조 공정을 불필요로 할 수 있다. 또한, 표면 평활성이나 표면 경도도 우수하다.Moreover, it is also proposed to form a soldering resist layer using what is called a photosensitive film laminated body provided with a photosensitive film, without using the liquid photosensitive resin composition as mentioned above. By using the photosensitive film laminated body, the drying process after application | coating can be unnecessary compared with the case of wet coating. Moreover, surface smoothness and surface hardness are also excellent.

솔더 레지스트가 형성된 기판은, 반도체 실장 공정으로 나아간다. 그 중에서도 와이어 본딩 사양에 사용되는 솔더 레지스트는, 다이 어태치 재료에 의해 반도체가 탑재되고, 와이어 본딩에 의해 접속되게 된다. 여기서, 솔더 레지스트로서, 표면 평활성이나 다이 어태치 재료와의 밀착성이 매우 중요한 팩터가 된다. 근년, 기판의 박판화에 따라, 사용되는 각종 재료에 있어서, 매우 고도의 스펙 정밀도의 향상이 요구되고 있다. 이러한 관점에서 솔더 레지스트도 전술한 바와 같은 필름 적층체가 사용되고, 표면 균일성이 요구된다. 동일하게 반도체를 탑재하는 다이 어태치 재료도 재료의 막 두께 균일성, 박막화가 요구되고 있다. 예를 들어, 일본 특허 공개 제2016-069625호 공보에서는, 박막 기판에 대응하는 드라이 필름 적층체가 제안되어 있다. 그러나, 전술한 스펙 정밀도의 향상과, 솔더 레지스트와 다이 어태치 재료의 밀착성과의 양립은 매우 곤란하였다.The board | substrate with which the soldering resist was formed advances to a semiconductor mounting process. Especially, the soldering resist used for the wire bonding specification is a semiconductor mounted by die attach material, and is connected by wire bonding. Here, as the solder resist, surface smoothness and adhesion with the die attach material are very important factors. In recent years, with the thinning of a board | substrate, the improvement of the very high specification precision is calculated | required in the various materials used. In view of this, the solder resist is also the film laminate as described above, and surface uniformity is required. Similarly, the die attach material on which the semiconductor is mounted is required to have a uniform film thickness and a thin film. For example, Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2016-069625 discloses a dry film laminate corresponding to a thin film substrate. However, the improvement of the above-mentioned specification precision and the adhesiveness of a soldering resist and a die attach material were very difficult.

한편, 솔더 레지스트는, 기판의 최외층에 사용되고 있으며, 또한 기판 제작 공정의 최종 단계에서 형성되기 때문에, 기판 제작 프로세스 중에 장치류의 사용 시나 반송 툴류 등에 의해 흠집이 생기는 경우가 있다(예를 들어, 일본 특허 공개 제2015-206992호 공보). 이 흠집이 반도체 탑재 공정 전의 외관 검사에서 NG 판정으로 되어, 생산 수율이 악화되는 경우가 있다. 특히 근년에는, 품질상 문제가 없는 미소한 흠집에 의해서도, 생산성을 떨어뜨리는 원인이 되기 때문에, 중요한 요구 항목의 하나이며, 새로운 개선 방법이 요구되고 있다.On the other hand, since a soldering resist is used for the outermost layer of a board | substrate and is formed in the last stage of a board | substrate manufacturing process, a scratch may arise at the time of use of apparatuses, conveyance tools, etc. during a board | substrate manufacturing process (for example, Japanese Patent Laid-Open No. 2015-206992. This flaw becomes NG determination by the external inspection before a semiconductor mounting process, and production yield may deteriorate. In particular, in recent years, even a small scratch which does not have a quality problem causes a loss of productivity, which is one of important requirements and a new improvement method is required.

따라서, 본 발명의 목적은, 다이 어태치재와의 밀착성이 우수하고, 또한 경화 피막의 외관 검사에 있어서도 수율을 개선할 수 있는 감광성 필름을 제공하는 것이다. 또한, 본 발명의 다른 목적은, 감광성 필름을 구비하는 감광성 필름 적층체 및 그것을 사용하여 형성된 경화물을 제공하는 것이다.Therefore, the objective of this invention is providing the photosensitive film which is excellent in adhesiveness with a die attach material, and can improve a yield also in the external inspection of a cured film. Moreover, another object of this invention is to provide the photosensitive film laminated body provided with the photosensitive film, and the hardened | cured material formed using the same.

본 발명자들은 이번에, 감광성 필름 적층체를 사용하여 형성한 층, 그 중에서도 솔더 레지스트층을 형성한 경우에, 특히 IC 패키지용 기판에 적용하면, IC 칩 실장 후의 다이 어태치재 형성 공정에 있어서, 솔더 레지스트층과의 밀착성이 나쁜 것의 원인이, 솔더 레지스트층의 표면 형태에 있음을 알아내었다. 그리고, 본 발명자들은, 표면에 특정한 오목부를 갖는 표면을 구비한 감광성 필름을 사용함으로써, 솔더 레지스트층의 표면에 적당한 오목부를 부여할 수 있고, 그 결과, 다이 어태치재와의 밀착성을 개선할 수 있다는 지견을 얻었다. 또한 본 발명자들은, 상기와 같은 특정한 오목부를 갖는 표면을 구비한 감광성 필름을 사용하여 형성한 솔더 레지스트층은 표면에 흠집이 난 경우에도 흠집을 시인하기 어려워지기 때문에, 외관 검사에 있어서 수율을 개선할 수 있다는 지견을 얻었다. 본 발명은 이러한 지견에 의한 것이다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM In the case where the layer formed using the photosensitive film laminated body and the soldering resist layer were formed especially in this, especially when it is applied to the board | substrate for IC packages, this invention solder-resist in the die attach material formation process after IC chip mounting. It was found that the cause of the poor adhesion with the layer lies in the surface form of the solder resist layer. And the present inventors can provide a suitable recessed part to the surface of a soldering resist layer by using the photosensitive film provided with the surface which has a specific recessed part in the surface, As a result, adhesiveness with a die attach material can be improved. Gained knowledge. Furthermore, the inventors of the present invention find that the solder resist layer formed by using a photosensitive film having a surface having a specific recess as described above makes it difficult to visually recognize a scratch even when the surface is scratched, thereby improving the yield in appearance inspection. I got the knowledge that I could. This invention is based on this knowledge.

[1] 본 발명의 제1 실시 형태에 의한 감광 필름은, 표면에 오목부를 갖는 면을 구비하고, 감광성 수지 조성물에 의해 형성되어 이루어지는 감광성 필름에 있어서, 상기 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수가 3.0×102개 이상인 것을 특징으로 하는 것이다.[1] The photosensitive film according to the first embodiment of the present invention includes a surface having a concave portion on its surface and is formed of a photosensitive resin composition, wherein the number of the concave portions per unit area of 1 mm 2 of the surface. Is 3.0 × 10 2 or more.

[2] 본 발명의 제2 실시 형태에 의한 감광 필름은, 상기 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수가 2.0×104개 이하인, [1]의 감광 필름이다.[2] The photosensitive film according to the second embodiment of the present invention is the photosensitive film of [1], wherein the number of recesses per unit area of 1 mm 2 of the surface is 2.0 × 10 4 or less.

[3] 본 발명의 제3 실시 형태에 의한 감광 필름은, 상기 표면의 산술 평균 표면 조도 Ra가 0.05㎛ 이상인, [1] 또는 [2]의 감광 필름이다.[3] The photosensitive film according to the third embodiment of the present invention is the photosensitive film of [1] or [2], in which arithmetic mean surface roughness Ra of the surface is 0.05 µm or more.

[4] 본 발명의 제4 실시 형태에 의한 감광 필름은, 상기 감광성 수지 조성물이 필러 및 가교 성분을 포함하는, [1]~[3] 중 어느 하나의 감광 필름이다.[4] The photosensitive film according to the fourth embodiment of the present invention is the photosensitive film according to any one of [1] to [3], in which the photosensitive resin composition contains a filler and a crosslinking component.

[5] 본 발명의 제5 실시 형태에 의한 감광성 필름 적층체는, [1]~[4] 중 어느 하나의 감광성 필름에 지지 필름이 적층되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 것이다.[5] The photosensitive film laminate according to the fifth embodiment of the present invention is characterized in that the supporting film is laminated on the photosensitive film of any one of [1] to [4].

[6] 본 발명의 제6 실시 형태에 의한 감광성 필름 적층체는, 표면에 오목부를 갖는 면을 구비하고, 감광성 수지 조성물에 의해 형성되어 이루어지는 감광성 필름에 있어서, 상기 표면에 오목부를 갖는 면측에 지지 필름이 적층되어 이루어지는, [6]의 감광성 필름 적층체이다.[6] The photosensitive film laminate according to the sixth embodiment of the present invention has a surface having a recess on its surface and is formed by a photosensitive resin composition, and is supported on the surface side having the recess on the surface. It is a photosensitive film laminated body of [6] by which film is laminated | stacked.

[7] 본 발명의 제7 실시 형태에 의한 경화물은, [1]~[4] 중 어느 하나의 감광성 필름, 또는 [5] 또는 [6]의 감광성 필름 적층체를 사용하여 형성된 것을 특징으로 하는 것이다.[7] The cured product according to the seventh embodiment of the present invention is formed by using the photosensitive film of any of [1] to [4] or the photosensitive film laminate of [5] or [6]. It is.

본 발명에 따르면, 다이 어태치재와의 밀착성이 우수하고, 또한 경화 피막의 외관 검사에 있어서도 수율을 개선할 수 있는 감광성 필름을 실현할 수 있다. 또한, 본 발명의 바람직한 형태에 의하면, 감광성 패턴의 형성, 특히 패턴의 고랑 붕괴의 억제에 우수한 감광성 필름을 실현할 수 있다. 특히 감광성 필름을 솔더 레지스트층의 형성에 사용한 경우에 특히 유효하다.According to this invention, the photosensitive film which is excellent in adhesiveness with a die attach material and which can improve a yield also in the external appearance inspection of a cured film can be implement | achieved. Moreover, according to the preferable aspect of this invention, the photosensitive film excellent in formation of the photosensitive pattern, especially suppression of the furrow collapse of a pattern can be implement | achieved. It is especially effective when the photosensitive film is used for formation of a soldering resist layer.

본 발명에 의한 감광성 필름에 대해서 설명한다. 감광성 필름은, 감광성 수지 조성물을 필름 형상으로 한 것이며, 지지 필름이나 보호 필름과 같은 다른 층이 적층되지 않은 것을 말한다. 또한, 본 발명에 있어서는, 작업성이나 감광성 필름의 표면을 후기하는 소정 형태로 형성할 때의 용이성을 고려하여, 감광성 필름의 한쪽 면에 지지 필름이 설치되어 있어도 되고, 또한 감광성 필름의 표면에 티끌 등이 부착되는 것을 방지함과 함께, 감광성 필름 적층체의 취급성을 고려하여, 지지 필름과는 반대면에는, 추가로 보호 필름이 설치되어 있어도 된다. 이하, 본 발명에 의한 감광성 필름 및 임의로 설치되는 그 밖의 층에 대하여 설명한다.The photosensitive film by this invention is demonstrated. The photosensitive film is made into the film form of the photosensitive resin composition, and says that the other layer, such as a support film and a protective film, is not laminated | stacked. In addition, in this invention, in consideration of the workability and the ease at the time of forming the surface of the photosensitive film later in the predetermined form, the support film may be provided in one surface of the photosensitive film, and it is dusty on the surface of the photosensitive film A protective film may be further provided in the surface opposite to a support film in consideration of preventing adhesion, etc., and the handleability of the photosensitive film laminated body. Hereinafter, the photosensitive film and other layers arbitrarily provided by this invention are demonstrated.

<감광성 필름><Photosensitive film>

본 발명에 의한 감광성 필름은, 표면에 오목부를 갖는 면을 구비하고, 감광성 수지 조성물에 의해 형성되어 이루어지는 것이며, 상기 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수가 3.0×102개 이상인 것을 특징으로 한다. 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수는, 대상이 되는 감광성 필름의 표면의 요철을, z축을 높이 방향으로 하여 삼차원 측정하고, 얻어진 z값의 집합체의 최댓값과 최솟값을 구하고, 그 최댓값과 최솟값으로부터 산출되는 평균값보다 0.2㎛ 낮은 Zs값을 역치로 하여 그 역치 이하의 z값을 갖는 영역을 오목부 영역으로 하며, 단위 면적 1mm2 중에 존재하는 오목부 영역의 수를 셈으로써 산출되는 값을 말하는 것으로 한다. 예를 들어, 상기에서 감광성 필름의 표면을 x-y축면으로 하여 높이 z를 측정하는 삼차원 측정에 있어서, 얻어진 z값의 집합체의 최댓값과 최솟값이 각각 3.00㎛와 1.00㎛인 경우, 평균값은 2.00㎛가 되고, 이보다 0.2㎛ 낮은 1.80㎛가 Zs값, 즉, 「역치」가 된다. 역치 1.80㎛보다도 낮은 값으로 연속되는, x-y축면에서의 집합을 하나의 오목부 영역으로 하고, 측정면 중에 점재하는 오목부 영역의 수를 셈으로써 오목부의 개수를 결정할 수 있다. 보다 상세한 측정 수순은 후술한다.The photosensitive film which concerns on this invention is provided with the surface which has a recessed part in the surface, and is formed of the photosensitive resin composition, The number of recessed parts per unit area 1mm <2> of the said surface is 3.0 * 10 <2> or more, It is characterized by the above-mentioned. . The number of recesses per unit area of 1 mm 2 is measured three-dimensionally by measuring the unevenness of the surface of the photosensitive film as a target with the z-axis in the height direction to obtain the maximum value and the minimum value of the aggregate of z values obtained, and are calculated from the maximum value and the minimum value. The value calculated by counting the number of recessed areas existing in a unit area of 1 mm 2 is assumed to be a recessed area, with a Zs value 0.2 µm lower than the average value as the threshold value. For example, in the three-dimensional measurement which measures height z using the surface of the photosensitive film as an xy-axis surface, when the maximum value and minimum value of the aggregate of z values obtained are 3.00 micrometer and 1.00 micrometer, respectively, the average value will be 2.00 micrometer 1.80 micrometers which is 0.2 micrometers lower than this turns into a Zs value, ie, a "threshold value." The number of recesses can be determined by counting the number of recessed regions interspersed in the measurement surface with the set on the xy-axis surface continuous to a value lower than the threshold value of 1.80 µm. More detailed measurement procedures will be described later.

본 발명에 있어서는, 상기와 같이 하여 산출된 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수가 3.0×102개 이상인 표면을 구비한 감광성 필름을 사용함으로써, 다이 어태치재와의 밀착성을 개선할 수 있는 것이다. 또한, 이러한 특정한 표면 형태를 갖는 감광성 필름을 사용하여 솔더 레지스트층 등을 형성한 경우에, 솔더 레지스트층의 표면 흠집 등의 유무를 검사하는 외관 검사에 있어서 수율을 개선할 수 있다. 이러한 예상 외의 효과가 발휘되는 이유는 반드시 명백하지는 않지만, 감광성 필름의 표면에 오목부를 형성하고, 그 오목부를 적당한 수로 함으로써, 감광성 필름의 표면에 적당한 연속면이 형성되고, 연속면과 오목부가 혼재하는 영역에 미소한 흠집이 형성되어도, 오목부에 의해 흠집의 반사가 완화되어 흠집이 보이기 어려워지는 것으로 추찰된다. 한편, 오목부에 의한 앵커 효과에 의해 다이 어태치재와의 접착력이 비약적으로 향상되는 것으로 추찰된다. 그러나, 어디까지나 추찰의 영역이며, 반드시 그렇지만은 않다.In this invention, adhesiveness with a die attach material can be improved by using the photosensitive film provided with the surface whose number of recesses per unit area 1mm <2> computed as mentioned above is 3.0 * 10 <2> or more. Moreover, when a soldering resist layer etc. are formed using the photosensitive film which has such a specific surface form, a yield can be improved in the external inspection which examines the presence or absence of the surface flaw of a soldering resist layer. The reason why such an unexpected effect is exerted is not necessarily clear, but by forming a recess on the surface of the photosensitive film and setting the recess to an appropriate number, a suitable continuous surface is formed on the surface of the photosensitive film, and the continuous surface and the recess are mixed. Even if minute scratches are formed in the region, it is inferred that the reflections of the scratches are alleviated by the recesses, making it difficult to see the scratches. On the other hand, it is inferred that the adhesive force with a die attach material is remarkably improved by the anchor effect by a recessed part. However, it is an area of speculation to the last, but it is not necessarily so.

감광성 필름 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수는 4.0×102개 이상인 것이 바람직하고, 5.0×102개 이상이 보다 바람직하다. 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수는, 그러한 표면의 형성이 가능하다면 상한은 특별히 없지만, 2.0×104개 이하로 함으로써, 다이 어태치재와의 밀착성이 우수하고, 경화 피막의 외관 검사에 있어서도 수율을 개선할 수 있는 점에 더하여, 또한 솔더 레지스트층의 감광성 패턴의 형성, 특히 패턴의 고랑 붕괴를 억제할 수 있다는 우수한 효과를 얻을 수 있다. 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수는, 보다 바람직하게는 1.5×104개 이하, 더욱 바람직하게는 1.0×104개 이하이다. 여기서, 패턴의 고랑 붕괴란, 예를 들어 감광성 필름을 사용하여 SRO(솔더 레지스트 개구부)를 형성한 경우에 있어서, 노광, 현상 후에 개구부의 고랑 위에 있는 감광성 필름에 포함되는 수지분이 붕괴하여 개구부의 내측으로 밀려나오는 현상을 의미한다. 본 발명에 있어서는, 상기한 바와 같은 특정한 표면 형태를 갖는 감광성 필름으로 함으로써, 예상 밖으로 패턴의 고랑 붕괴를 억제할 수 있는 것으로 판명되었다.It is preferable that it is 4.0 * 10 <2> or more, and, as for the number of recessed parts per unit area 1mm <2> of the photosensitive film surface, 5.0 * 10 <2> or more is more preferable. The number of recesses per unit area of 1 mm 2 is not particularly limited as long as such a surface can be formed. However, by setting the number of concave portions to 2.0 × 10 4 or less, the adhesiveness with the die attach material is excellent, and the yield is also obtained in the appearance inspection of the cured coating film. In addition to being able to improve, it is also possible to obtain an excellent effect of suppressing the formation of the photosensitive pattern of the solder resist layer, in particular, the collapse of the pattern. The number of recesses per unit area of 1 mm 2 is more preferably 1.5 × 10 4 or less, and still more preferably 1.0 × 10 4 or less. Here, in the case where the furrow collapse of the pattern is, for example, when forming an SRO (solder resist opening) using a photosensitive film, the resin powder contained in the photosensitive film on the groove of the opening collapses after exposure and development, and the inside of the opening is collapsed. It means the phenomenon of being pushed out. In this invention, it turned out that the sulcus collapse of a pattern can be suppressed unexpectedly by making it into the photosensitive film which has a specific surface form as mentioned above.

또한, 다이 어태치재와의 밀착성 및 외관 검사에 있어서의 수율 개선의 밸런스의 관점에서, 감광성 필름의 표면에 오목부를 갖는 면의 산술 평균 표면 조도 Ra는 0.05㎛ 이상인 것이 바람직하고, 0.06㎛ 이상인 것이 보다 바람직하고, 0.07㎛ 이상인 것이 더욱 바람직하다. 또한 상한을 설정할 경우, 5.0㎛ 이하인 것이 바람직하고, 3.0㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 1.0㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하다.Moreover, it is preferable that arithmetic mean surface roughness Ra of the surface which has a recessed part in the surface of the photosensitive film is 0.05 micrometer or more, and it is 0.06 micrometer or more from a viewpoint of the balance of the adhesiveness with a die attach material, and the yield improvement in an external appearance test. It is preferable and it is more preferable that it is 0.07 micrometer or more. Moreover, when setting an upper limit, it is preferable that it is 5.0 micrometers or less, It is more preferable that it is 3.0 micrometers or less, It is further more preferable that it is 1.0 micrometer or less.

또한, 감광성 필름 표면의 오목부는 균일해도 불균일해도 되지만, 다이 어태치재와의 밀착성 및 외관 검사에 있어서의 수율 개선의 밸런스의 관점에서, 불균일한 것이 바람직하다. 또한, 오목부의 깊이는 0.2㎛ 이상인 것이 바람직하다.Moreover, although the recessed part of the photosensitive film surface may be uniform or nonuniform, it is preferable from a viewpoint of the balance of the adhesiveness with a die attach material, and the yield improvement in an external appearance test. Moreover, it is preferable that the depth of a recessed part is 0.2 micrometer or more.

또한, 상술한 밸런스의 관점에서 감광성 필름의 소정의 오목부를 갖는 면의 산술 평균 표면 조도 Ra는 0.05㎛ 이상인 것이 바람직하고, 0.06㎛ 이상인 것이 보다 바람직하고, 0.07㎛ 이상인 것이 더욱 바람직하다. 또한 상한을 설정할 경우, 5.0㎛ 이하인 것이 바람직하고, 3.0㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 1.0㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하다.Moreover, it is preferable that arithmetic mean surface roughness Ra of the surface which has predetermined recessed part of the photosensitive film is 0.05 micrometer or more from a viewpoint of the above-mentioned balance, It is more preferable that it is 0.06 micrometer or more, It is still more preferable that it is 0.07 micrometer or more. Moreover, when setting an upper limit, it is preferable that it is 5.0 micrometers or less, It is more preferable that it is 3.0 micrometers or less, It is further more preferable that it is 1.0 micrometer or less.

본 발명에 있어서, 상기한 「단위 면적 1mm2당 오목부의 개수」 및 「산술 평균 표면 조도 Ra」는, JIS B0601-1994에 준거한 측정 장치에서 측정된 값을 의미한다. 이하, 구체적인 측정 방법에 대하여 설명해둔다. 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수 및 산술 평균 표면 조도 Ra는, 형상 측정 레이저 현미경(예를 들어, 가부시키가이샤 키엔스 제조 VK-X100)을 사용하여 측정할 수 있다. 형상 측정 레이저 현미경(동 VK-X100) 본체(제어부), 및 VK 관찰 애플리케이션(가부시키가이샤 키엔스 제조 VK-H1VX)을 기동시킨 후, x-y 스테이지 상에 측정하는 시료를 적재한다. 현미경부(가부시키가이샤 키엔스 제조 VK-X110)의 렌즈 리볼버를 돌려서 배율 10배의 대물 렌즈를 선택하고, VK 관찰 애플리케이션(동 VK-H1VX)의 화상 관찰 모드에서, 대략 핀트, 밝기를 조절한다. x-y 스테이지를 조작하여, 시료 표면의 거의 중앙부가 화면의 중심에 오도록 조절한다. 배율 10배의 대물 렌즈를 배율 100배로 바꾸고, VK 관찰 애플리케이션(동 VK-H1VX)의 화상 관찰 모드의 오토포커스 기능으로, 시료의 표면에 핀트를 맞춘다. VK 관찰 애플리케이션(동 VK-H1VX)의 형상 측정 탭의 간단 모드를 선택하고, 측정 개시 버튼을 눌러, 시료의 표면 형상의 측정을 행하여, 표면 화상 파일을 얻을 수 있다. VK 해석 애플리케이션(가부시키가이샤 키엔스 제조 VK-H1XA)을 기동하여, 얻어진 표면 화상 파일을 표시시킨 후, 기울기 보정을 행한다.In this invention, said "number of recessed parts per unit area 1mm <2>" and "arithmetic mean surface roughness Ra" mean the value measured by the measuring apparatus based on JISB0601-1994. Hereinafter, the specific measuring method is demonstrated. The number and the arithmetic mean surface roughness Ra of a recessed part per unit area 1mm <2> can be measured using a shape measuring laser microscope (for example, VK-X100 by Keyence Co., Ltd.). After starting a shape measurement laser microscope (VK-X100) main body (control part) and a VK observation application (VK-H1VX by Keyence Co., Ltd.), the sample to measure is mounted on an xy stage. The objective lens with a magnification of 10 times is selected by turning the lens revolver of the microscope section (VK-X110 manufactured by Keyence Co., Ltd.), and in the image observation mode of the VK observation application (the same VK-H1VX), approximately the focus and brightness are adjusted. By operating the xy stage, the center of the screen is adjusted to the center of the sample surface. The objective lens of 10 times magnification is changed to 100 times magnification, and the focus is set on the surface of the sample by the autofocus function of the image observation mode of VK observation application (the same VK-H1VX). By selecting the simple mode of the shape measurement tab of the VK observation application (the same VK-H1VX), pressing the measurement start button, the surface shape of the sample can be measured to obtain a surface image file. After starting a VK analysis application (VK-H1XA manufactured by Keyence Co., Ltd.) and displaying the obtained surface image file, the tilt correction is performed.

「단위 면적 1mm2당 오목부의 개수」의 측정에서는, 시료의 표면 형상의 측정에 있어서의 관찰 측정 범위(면적)는 15073㎛2로 한다. 예를 들어, 해석 애플리케이션(동 VK-H1XA)을 사용할 수 있다. 표시 화면에 있는 계측 해석 메뉴로부터 [체적·면적]을 선택하고, [체적·면적] 윈도우를 표시시킨다. [체적·면적] 윈도우의 [표시 화상] 박스로부터 [높이]를 선택한 후, [역치] 버튼을 눌러, [역치 영역 설정 다이얼로그] 박스를 표시시킨다. 표시된 [상한] 박스의 값과 [하한] 박스의 값을 더하여 2로 나눈 값 Ave.(㎛)를 산출하고, 그 Ave.(㎛)로부터 0.2㎛를 뺀 Zs값(㎛) 이하의 부분을 「오목부」로 한다. [하한] 박스의 값은 변경하지 않고, [상한] 박스에 Zs값(㎛)을 입력하고, OK 버튼을 누른 후에, 화상 표시 영역 내에서 ROI 묘화색의 색으로 변한 개소의 개수 C(개)를 세고, 이 개수 C(개)로부터, 단위 면적 1mm2당 개수 D(개/mm2)(D=C×66.34)를 산출한 값으로 한다. 또한, 상기 ROI 묘화색의 색으로 변한 개소 중, 화상 표시 영역의 경계 부분에서 끊어져버려 1개로서 인식할 수 없는 것에 대해서는, 0.5개로서 계상하는 것으로 한다.In the measurement of "the number of recesses per unit area 1mm <2> , the observation measurement range (area) in the measurement of the surface shape of a sample shall be 15073 micrometer <2> . For example, an analysis application (VK-H1XA) can be used. Select [Volume and Area] from the measurement analysis menu on the display screen to display the [Volume and Area] window. After selecting [Height] from the [Display image] box in the [Volume / area] window, press the [Threshold] button to display the [Threshold area setting dialog] box. The value of the displayed upper limit box and the lower limit box were added to calculate the value Ave. (µm) divided by 2, and the portion below the Zs value (µm) obtained by subtracting 0.2 µm from the Ave. Concave portion. Without changing the value of the [Lower limit] box, enter the Zs value (µm) in the [Upper limit] box, and after pressing the OK button, the number of places C (colors) changed to the ROI drawing color in the image display area. It is set as the value which computed the number D (piece / mm <2> ) (D = C * 66.34) per unit area of 1 mm <2> from this number C (piece). In addition, what is broken in the boundary part of an image display area and cannot be recognized as one among the places which turned into the color of the said ROI drawing color is counted as 0.5 piece.

또한, 「산술 평균 표면 조도 Ra」의 측정에서는, 대물 렌즈를 50배로 전환하여 시료의 표면 형상의 측정에 있어서의 관찰 측정 범위(가로)는 270㎛로 한다. 선 조도 윈도우를 표시시키고, 파라미터 설정 영역에서, JIS B0601-1994를 선택한 후, 측정 라인 버튼으로부터 수평선을 선택하여, 표면 화상 내의 임의의 장소에 수평선을 표시시키고, OK 버튼을 누름으로써, 산술 평균 표면 조도 Ra1의 수치를 얻는다. 또한, 표면 화상 내의 다른 4군데에 수평선을 표시시켜, 각각의 산술 평균 표면 조도 Ra1의 수치를 얻는다. 얻어진 5개 수치의 평균값 Raave .를 산출하여, 이러한 값을 시료 표면의 산술 평균 표면 조도 Ra값으로 한다. 또한, 감광성 필름 적층체 중의 감광성 필름을 측정하는 경우, 지지 필름을 박리하여 감광성 필름 표면을 노출시킨 후, 5분 이내에 「단위 면적 1mm2당 오목부의 개수」와 「산술 평균 표면 조도 Ra」의 측정을 행하는 것으로 한다.In addition, in the measurement of "arithmetic mean surface roughness Ra", the objective lens is switched 50 times, and the observation measurement range (width) in the measurement of the surface shape of a sample is 270 micrometers. Display the line roughness window, select JIS B0601-1994 in the parameter setting area, select the horizontal line from the measurement line button, display the horizontal line anywhere in the surface image, and press the OK button to Obtain the value of roughness Ra 1 . In addition, horizontal lines are displayed in four different places in the surface image to obtain numerical values of the arithmetic mean surface roughness Ra 1 . Average value of the five obtained values Ra ave . Is calculated and this value is used as the arithmetic mean surface roughness Ra value of the sample surface. In addition, when measuring the photosensitive film in the photosensitive film laminated body, after peeling a support film and exposing the photosensitive film surface, the measurement of "the number of recessed parts per unit area 1mm <2>and" arithmetic mean surface roughness Ra "within 5 minutes. Shall be performed.

감광성 필름의 표면 형태를, 상기한 단위 면적 1mm2당 특정한 오목부 개수 및 특정한 산술 평균 표면 조도 Ra의 범위로 하기 위해서는, 공지 관용의 방법을 적용할 수 있지만, 그 중에서도, 그러한 표면 형태로 형성하는 것의 용이성의 관점에서, 후기하는 지지 필름을 사용하여 감광성 필름을 형성하는 것이 바람직하다. 즉, 본 발명의 감광성 필름에 지지 필름이 적층되어 이루어지는 감광성 필름 적층체인 경우, 상기한 특정한 오목부 개수를 갖는 표면을 갖고, 또한 원한다면 특정한 산술 평균 표면 조도 Ra를 갖는 감광성 필름의 표면은, 지지 필름과 접하는 면인 것이 바람직하다. 또한, 감광성 필름은 솔더 레지스트층 형성용인 것이 바람직하다.In order to make the surface shape of the photosensitive film into the range of the specific number of recesses and the specific arithmetic mean surface roughness Ra per unit area of 1 mm 2 described above, a known and conventional method can be applied, but in particular, the surface shape of the photosensitive film It is preferable to form a photosensitive film using the support film mentioned later from a viewpoint of the ease of thing. That is, in the case of the photosensitive film laminated body by which a support film is laminated | stacked on the photosensitive film of this invention, the surface of the photosensitive film which has the surface which has the above-mentioned specific number of recessed parts, and also has a specific arithmetic mean surface roughness Ra if desired is a support film. It is preferable that it is a surface which contacts. Moreover, it is preferable that the photosensitive film is for soldering resist layer formation.

상기한 단위 면적 1mm2당 오목부 개수가 3.0×102개 이상인 표면을 구비한 감광성 필름, 더 바람직한 실시 형태인, 추가로 당해 표면의 산술 평균 표면 조도 Ra가 0.05㎛ 이상인 감광성 필름은 노광, 현상됨으로써 패터닝되어, 회로 기판 상에 설치된 경화 피막이 된다. 경화 피막으로서는, 솔더 레지스트층인 것이 바람직하다. 이러한 감광성 필름은 감광성 수지 조성물을 사용하여 형성할 수 있고, 감광성 수지 조성물은 종래 공지된 솔더 레지스트 잉크 등을 제한없이 사용할 수 있지만, 이하, 본 발명에 의한 감광성 필름에 바람직하게 사용할 수 있는 감광성 수지 조성물의 일례를 설명한다.A photosensitive film having a surface having a concave portion number of 3.0 × 10 2 or more per unit area of 1 mm 2 as described above, and in a more preferred embodiment, the photosensitive film having arithmetic mean surface roughness Ra of the surface of 0.05 µm or more is exposed and developed. It becomes patterned by this and becomes the hardened film provided on the circuit board. As a hardened film, it is preferable that it is a soldering resist layer. Such a photosensitive film can be formed using a photosensitive resin composition, and the photosensitive resin composition can use a conventionally well-known solder resist ink etc. without limitation, Hereinafter, the photosensitive resin composition which can be preferably used for the photosensitive film by this invention. An example will be described.

본 발명에 있어서, 감광성 수지 조성물은 가교 성분 및 필러를 포함하는 것이 바람직하다. 또한, 광중합 개시제를 포함하는 것이 보다 바람직하다. 가교 성분은 카르복실기 함유 감광성 수지나 감광성 단량체가 바람직하고, 추가로 가열하는 경우, 열에 의해 가교되는 성분을 포함하는 것이 바람직하다. 이하, 각 성분에 대하여 설명한다.In this invention, it is preferable that the photosensitive resin composition contains a crosslinking component and a filler. Moreover, it is more preferable to contain a photoinitiator. A carboxyl group-containing photosensitive resin and a photosensitive monomer are preferable, and when a crosslinking component heats further, it is preferable to include the component bridge | crosslinked by heat. Hereinafter, each component is demonstrated.

[가교 성분][Crosslinking Ingredients]

가교 성분은 가교되는 성분이라면 특별히 제한은 되지 않고, 공지 관용의 것을 사용할 수 있다. 특히 카르복실기 함유 감광성 수지나 감광성 단량체가 바람직하고, 추가로 가열하는 경우, 열에 의해 가교되는 성분(이하, 열가교 성분)을 포함하는 것이 바람직하다.The crosslinking component is not particularly limited as long as it is a component to be crosslinked, and known conventional ones can be used. In particular, a carboxyl group-containing photosensitive resin or a photosensitive monomer is preferable, and when further heated, it is preferable to include a component (hereinafter, thermally crosslinked component) crosslinked by heat.

카르복실기 함유 감광성 수지는, 광 조사에 의해 중합 내지 가교되어 경화되는 성분이며, 카르복실기가 포함됨으로써 알칼리 현상성으로 할 수 있다. 또한, 광경화성이나 내현상성의 관점에서, 카르복실기 외에, 분자 내에 에틸렌성 불포화 결합을 갖는 것이 바람직하다. 에틸렌성 불포화 이중 결합으로서는, 아크릴산 또는 메타아크릴산 또는 그들의 유도체 유래의 것이 바람직하다.The carboxyl group-containing photosensitive resin is a component which is polymerized or crosslinked and cured by light irradiation, and can be made alkali developable by containing a carboxyl group. In addition, it is preferable to have an ethylenically unsaturated bond in a molecule other than a carboxyl group from a viewpoint of photocurability and developability. As ethylenically unsaturated double bond, the thing derived from acrylic acid or methacrylic acid, or derivatives thereof is preferable.

또한, 카르복실기 함유 감광성 수지로서, 에폭시 수지를 출발 원료로서 사용하지 않은 카르복실기 함유 감광성 수지를 사용하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지를 출발 원료로서 사용하지 않은 카르복실기 함유 감광성 수지는, 할로겐화물 이온 함유량이 매우 적어, 절연 신뢰성의 열화를 억제할 수 있다. 카르복실기 함유 감광성 수지의 구체예로서는, 이하에 열거하는 화합물(올리고머 또는 중합체 중 어느 것이어도 됨)을 들 수 있다.Moreover, as carboxyl group-containing photosensitive resin, it is preferable to use carboxyl group-containing photosensitive resin which did not use an epoxy resin as a starting material. The carboxyl group-containing photosensitive resin which does not use an epoxy resin as a starting material has very low halide ion content, and can suppress deterioration of insulation reliability. As a specific example of carboxyl group-containing photosensitive resin, the compound (any of an oligomer or a polymer) enumerated below is mentioned.

(1) 2관능 또는 그 이상의 다관능 (고형) 에폭시 수지에 (메타)아크릴산을 반응시켜, 측쇄에 존재하는 수산기에 무수 프탈산, 테트라히드로 무수 프탈산, 헥사히드로 무수 프탈산 등의 2염기산 무수물을 부가시킨 카르복실기 함유 감광성 수지,(1) (meth) acrylic acid is made to react with bifunctional or more than polyfunctional (solid) epoxy resin, and bibasic acid anhydrides, such as phthalic anhydride, tetrahydro phthalic anhydride, hexahydro phthalic anhydride, are added to the hydroxyl group which exists in a side chain. Carboxyl group-containing photosensitive resin

(2) 2관능 (고형) 에폭시 수지의 수산기를, 추가로 에피클로로히드린으로 에폭시화한 다관능 에폭시 수지에, (메타)아크릴산을 반응시켜, 발생한 수산기에 2염기산 무수물을 부가시킨 카르복실기 함유 감광성 수지,(2) Containing the carboxyl group in which the hydroxyl group of the bifunctional (solid) epoxy resin was further epoxidized with epichlorohydrin, (meth) acrylic acid was reacted to add the dibasic anhydride to the generated hydroxyl group. Photosensitive resin,

(3) 1 분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 화합물에, 1 분자 중에 적어도 1개의 알코올성 수산기와 1개의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과, (메타)아크릴산 등의 불포화기 함유 모노카르복실산을 반응시켜, 얻어진 반응 생성물의 알코올성 수산기에 대하여, 무수 말레산, 테트라히드로 무수 프탈산, 무수 트리멜리트산, 무수 피로멜리트산, 아디프산 등의 다염기산 무수물을 반응시켜 얻어지는 카르복실기 함유 감광성 수지,(3) A compound having at least one alcoholic hydroxyl group and one phenolic hydroxyl group in one molecule, and an unsaturated group-containing monocarboxylic acid such as (meth) acrylic acid is reacted with an epoxy compound having two or more epoxy groups in one molecule. The carboxyl group-containing photosensitive resin obtained by making polybasic acid anhydrides, such as maleic anhydride, tetrahydro phthalic anhydride, trimellitic anhydride, a pyromellitic anhydride, adipic acid, react with the alcoholic hydroxyl group of the obtained reaction product,

(4) 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 노볼락형 페놀 수지, 폴리-p-히드록시스티렌, 나프톨과 알데히드류의 축합물, 디히드록시나프탈렌과 알데히드류와의 축합물 등의 1 분자 중에 2개 이상의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과, 에틸렌옥사이드, 프로필렌옥사이드 등의 알킬렌옥사이드를 반응시켜 얻어지는 반응 생성물에, (메타)아크릴산 등의 불포화기 함유 모노카르복실산을 반응시켜, 얻어지는 반응 생성물에 다염기산 무수물을 반응시켜 얻어지는 카르복실기 함유 감광성 수지,(4) In one molecule such as bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, novolac phenol resin, poly-p-hydroxystyrene, a condensate of naphthol and aldehydes, and a condensate of dihydroxynaphthalene and aldehydes To a reaction product obtained by reacting a compound having two or more phenolic hydroxyl groups with an alkylene oxide such as ethylene oxide and propylene oxide, and an unsaturated group-containing monocarboxylic acid such as (meth) acrylic acid Carboxyl group-containing photosensitive resin obtained by making polybasic acid anhydride react,

(5) 1 분자 중에 2개 이상의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과 에틸렌카보네이트, 프로필렌카보네이트 등의 환상 카보네이트 화합물을 반응시켜 얻어지는 반응 생성물에, 불포화기 함유 모노카르복실산을 반응시켜, 얻어지는 반응 생성물에 다염기산 무수물을 반응시켜 얻어지는 카르복실기 함유 감광성 수지,(5) Polybasic acid to the reaction product obtained by making unsaturated group containing monocarboxylic acid react with the reaction product obtained by making the compound which has two or more phenolic hydroxyl groups in 1 molecule, and cyclic carbonate compounds, such as ethylene carbonate and a propylene carbonate, react. Carboxyl group-containing photosensitive resin obtained by making anhydride react,

(6) 지방족 디이소시아네이트, 분지 지방족 디이소시아네이트, 지환식 디이소시아네이트, 방향족 디이소시아네이트 등의 디이소시아네이트 화합물과, 폴리카보네이트계 폴리올, 폴리에테르계 폴리올, 폴리에스테르계 폴리올, 폴리올레핀계 폴리올, 아크릴계 폴리올, 비스페놀 A계 알킬렌옥사이드 부가체 디올, 페놀성 히드록실기 및 알코올성 히드록실기를 갖는 화합물 등의 디올 화합물의 중부가 반응에 의한 우레탄 수지의 말단에, 산 무수물을 반응시켜 이루어지는 말단 카르복실기 함유 우레탄 수지,(6) diisocyanate compounds such as aliphatic diisocyanate, branched aliphatic diisocyanate, alicyclic diisocyanate and aromatic diisocyanate, polycarbonate polyol, polyether polyol, polyester polyol, polyolefin polyol, acrylic polyol, bisphenol Terminal carboxyl group-containing urethane resin which makes acid anhydride react with the terminal of the urethane resin by polyaddition reaction of diol compounds, such as A type alkylene oxide adduct diol, a compound which has a phenolic hydroxyl group, and alcoholic hydroxyl group,

(7) 디이소시아네이트와, 디메틸올프로피온산, 디메틸올부티르산 등의 카르복실기 함유 디알코올 화합물과, 디올 화합물과의 중부가 반응에 의한 카르복실기 함유 우레탄 수지의 합성 중에, 히드록시알킬(메타)아크릴레이트 등의 분자 중에 1개 수산기와 1개 이상의 (메타)아크릴로일기를 갖는 화합물을 첨가하여, 말단 (메타)아크릴화한 카르복실기 함유 우레탄 수지,(7) During synthesis of carboxyl group-containing urethane resin by polyaddition reaction of diisocyanate, carboxyl group-containing dialcohol compounds such as dimethylolpropionic acid and dimethylolbutyric acid and diol compound, such as hydroxyalkyl (meth) acrylate The carboxyl group-containing urethane resin which added the compound which has one hydroxyl group and one or more (meth) acryloyl groups in a molecule | numerator, and terminal (meth) acrylated,

(8) 디이소시아네이트와, 카르복실기 함유 디알코올 화합물과, 디올 화합물과의 중부가 반응에 의한 카르복실기 함유 우레탄 수지의 합성 중에, 이소포론디이소시아네이트와 펜타에리트리톨트리아크릴레이트의 등몰 반응물 등, 분자 중에 1개의 이소시아네이트기와 1개 이상의 (메타)아크릴로일기를 갖는 화합물을 첨가하여, 말단 (메타)아크릴화한 카르복실기 함유 우레탄 수지,(8) During synthesis of the carboxyl group-containing urethane resin by the polyaddition reaction of a diisocyanate, a carboxyl group-containing dialcohol compound, and a diol compound, 1 in a molecule | numerator, such as equimolar reactants of isophorone diisocyanate and pentaerythritol triacrylate Carboxyl group-containing urethane resin which added the compound which has one isocyanate group and 1 or more (meth) acryloyl group, and was terminal (meth) acrylated,

(9) 다관능 옥세탄 수지에, 아디프산, 프탈산, 헥사히드로프탈산 등의 디카르복실산을 반응시켜, 발생한 1급의 수산기에, 2염기산 무수물을 부가시킨 카르복실기 함유 폴리에스테르 수지에, 추가로 글리시딜(메타)아크릴레이트, α-메틸글리시딜(메타)아크릴레이트 등의 1 분자 중에 1개의 에폭시기와 1개 이상의 (메타)아크릴로일기를 갖는 화합물을 부가하여 이루어지는 카르복실기 함유 감광성 수지,(9) To carboxyl group-containing polyester resin which made dibasic acid, such as adipic acid, phthalic acid, and hexahydrophthalic acid, react with polyfunctional oxetane resin, and added dibasic acid anhydride to the produced | generated primary hydroxyl group, Carboxyl group-containing photosensitive property which adds the compound which has one epoxy group and one or more (meth) acryloyl groups in 1 molecule, such as glycidyl (meth) acrylate and (alpha) -methyl glycidyl (meth) acrylate, Suzy,

(10) 상술한 (1)~(9) 중 어느 카르복실기 함유 감광성 수지에, 1 분자 중에 환상 에테르기와 (메타)아크릴로일기를 갖는 화합물을 부가시킨 카르복실기 함유 감광성 수지,(10) The carboxyl group-containing photosensitive resin which added the compound which has a cyclic ether group and a (meth) acryloyl group in 1 molecule to carboxyl group-containing photosensitive resin in any one of (1)-(9) mentioned above,

(11) (메타)아크릴산 등의 불포화 카르복실산과, 스티렌, α-메틸스티렌, 저급 알킬(메타)아크릴레이트, 이소부틸렌 등의 불포화기 함유 화합물과의 공중합에 의해 얻어지는 카르복실기 함유 수지에 대하여, 3,4-에폭시시클로헥실메타크릴레이트 등의 1 분자 중에 환상 에테르기와 (메타)아크릴로일기를 갖는 화합물을 반응시킨 카르복실기 함유 감광성 수지 등을 들 수 있다. 또한, 여기에서 (메타)아크릴레이트란, 아크릴레이트, 메타크릴레이트 및 그들의 혼합물을 총칭하는 용어로, 이하 다른 유사한 표현에 대해서도 동일하다.(11) About carboxyl group-containing resin obtained by copolymerization of unsaturated carboxylic acids, such as (meth) acrylic acid, and unsaturated group containing compounds, such as styrene, (alpha) -methylstyrene, lower alkyl (meth) acrylate, and isobutylene, Carboxyl group containing photosensitive resin etc. which made the compound which has a cyclic ether group and a (meth) acryloyl group react in 1 molecule, such as 3, 4- epoxycyclohexyl methacrylate, are mentioned. In addition, the term (meth) acrylate here is generic terms for acrylate, methacrylate, and mixtures thereof, and the same applies to other similar expressions below.

상기한 카르복실기 함유 감광성 수지 중에서도, 상술한 바와 같이, 에폭시 수지를 출발 원료로서 사용하지 않은 카르복실기 함유 감광성 수지나 에폭시 수지 이외의 수지를 합성함으로써 얻어지는 카르복실기 함유 감광성 수지를 적합하게 사용할 수 있다. 따라서, 상술한 카르복실기 함유 감광성 수지의 구체예 중, (4)~(8) 및 (11) 중 어느 1종 이상의 카르복실기 함유 감광성 수지를 적합하게 사용할 수 있고, (4)~(8)에 예시한 수지를 특히 적합하게 사용할 수 있다. 반도체 패키지용 솔더 레지스트에 요구되는 특성, 즉, PCT 내성, HAST 내성, 냉열 충격 내성을 가질 수 있다.Among the carboxyl group-containing photosensitive resins described above, carboxyl group-containing photosensitive resins obtained by synthesizing resins other than carboxyl group-containing photosensitive resins and epoxy resins which do not use epoxy resins as starting materials can be suitably used. Therefore, in the specific example of the carboxyl group-containing photosensitive resin mentioned above, any 1 or more types of carboxyl group-containing photosensitive resin in (4)-(8) and (11) can be used suitably, and it is illustrated in (4)-(8). Resin can be used especially suitably. It may have characteristics required for solder resists for semiconductor packages, that is, PCT resistance, HAST resistance, and cold shock resistance.

이와 같이, 에폭시 수지를 출발 원료로서 사용하지 않음으로써, 염소 이온 불순물량을 예를 들어 100ppm 이하로 매우 적게 억제할 수 있다. 본 발명에 있어서 적합하게 사용되는 카르복실기 함유 감광성 수지의 염소 이온 불순물 함유량은 0~100ppm, 보다 바람직하게는 0~50ppm, 더욱 바람직하게는 0~30ppm이다.Thus, by not using an epoxy resin as a starting material, the amount of chlorine ion impurities can be suppressed very little to 100 ppm or less, for example. Chlorine ion impurity content of the carboxyl group-containing photosensitive resin used suitably in this invention is 0-100 ppm, More preferably, it is 0-50 ppm, More preferably, it is 0-30 ppm.

또한, 에폭시 수지를 출발 원료로서 사용하지 않음으로써, 수산기를 포함하지 않는(또는, 수산기의 양이 저감된) 수지를 용이하게 얻을 수 있다. 일반적으로 수산기의 존재는 수소 결합에 의한 밀착성의 향상 등 우수한 특징도 갖고 있지만, 현저하게 내습성을 저하시키는 것으로 알려져 있고, 수산기를 포함하지 않는 카르복실기 함유 감광성 수지로 함으로써, 내습성을 향상시키는 것이 가능해진다.In addition, by not using an epoxy resin as a starting material, resin which does not contain a hydroxyl group (or the quantity of hydroxyl group was reduced) can be obtained easily. In general, the presence of a hydroxyl group also has excellent characteristics such as improvement in adhesion due to hydrogen bonding, but it is known to significantly lower moisture resistance, and it is possible to improve moisture resistance by using a carboxyl group-containing photosensitive resin containing no hydroxyl group. Become.

또한, 포스겐을 출발 원료로서 사용하지 않은 이소시아네이트 화합물, 에피할로히드린을 사용하지 않은 원료로부터 합성되고, 염소 이온 불순물량이 0~30ppm인 카르복실기 함유 우레탄 수지도 적합하게 사용된다. 이러한 우레탄 수지에 있어서, 수산기와 이소시아네이트기의 당량을 맞춤으로써, 수산기를 포함하지 않는 수지를 용이하게 합성할 수 있다.Moreover, the carboxyl group-containing urethane resin which is synthesize | combined from the isocyanate compound which does not use phosgene as a starting material, and the raw material which does not use epihalohydrin, and the amount of chlorine ion impurities is 0-30 ppm is also used suitably. In such a urethane resin, the resin which does not contain a hydroxyl group can be synthesize | combined easily by matching the equivalent of a hydroxyl group and an isocyanate group.

또한, 우레탄 수지의 합성 시에, 디올 화합물로서 에폭시아크릴레이트 변성 원료를 사용할 수도 있다. 염소 이온 불순물은 들어가버리지만, 염소 이온 불순물량을 컨트롤할 수 있다는 점에서 사용하는 것은 가능하다.In addition, an epoxy acrylate modified raw material can also be used as a diol compound at the time of the synthesis | combination of a urethane resin. Although chlorine ion impurity enters, it can be used from the point which can control the amount of chlorine ion impurity.

상기와 같은 카르복실기 함유 감광성 수지는, 백본·중합체의 측쇄에 다수의 카르복실기를 갖기 때문에, 알칼리 수용액에 의한 현상이 가능하다.Since the said carboxyl group-containing photosensitive resin has many carboxyl groups in the side chain of a backbone polymer, image development by aqueous alkali solution is possible.

카르복실기 함유 감광성 수지의 산가는 40~150mgKOH/g인 것이 바람직하다. 카르복실기 함유 감광성 수지의 산가를 40mgKOH/g 이상으로 함으로써, 알칼리 현상이 양호해진다. 또한, 산가를 150mgKOH/g 이하로 함으로써, 정상적인 레지스트 패턴의 묘화를 쉽게 할 수 있다. 보다 바람직하게는, 50~130mgKOH/g이다.It is preferable that the acid value of carboxyl group-containing photosensitive resin is 40-150 mgKOH / g. Alkali image development becomes favorable by making the acid value of carboxyl group-containing photosensitive resin into 40 mgKOH / g or more. In addition, by setting the acid value to 150 mgKOH / g or less, it is possible to easily draw a normal resist pattern. More preferably, it is 50-130 mgKOH / g.

카르복실기 함유 감광성 수지의 중량 평균 분자량은, 수지 골격에 따라서 상이하지만, 일반적으로 2,000~150,000인 것이 바람직하다. 중량 평균 분자량을 2,000 이상으로 함으로써, 지촉 건조 성능이나 해상도를 향상시킬 수 있다. 또한, 중량 평균 분자량을 150,000 이하로 함으로써, 현상성이나 저장 안정성을 향상시킬 수 있다. 보다 바람직하게는, 5,000~100,000이다.Although the weight average molecular weight of carboxyl group-containing photosensitive resin changes with resin skeleton, it is preferable that it is generally 2,000-150,000. By setting the weight average molecular weight to 2,000 or more, the touch drying performance and the resolution can be improved. Moreover, developability and storage stability can be improved by making a weight average molecular weight 150,000 or less. More preferably, it is 5,000-100,000.

카르복실기 함유 감광성 수지의 배합량은, 고형분 환산으로 전체 조성물 중에, 20~60질량%인 것이 바람직하다. 20질량% 이상으로 함으로써 도막 강도를 향상시킬 수 있다. 또한 60질량% 이하로 함으로써 점성이 적당해져 가공성이 향상된다. 보다 바람직하게는, 30~50질량%이다.It is preferable that the compounding quantity of carboxyl group-containing photosensitive resin is 20-60 mass% in total composition in solid content conversion. By setting it as 20 mass% or more, coating film strength can be improved. Moreover, when it is 60 mass% or less, viscosity becomes moderate and workability improves. More preferably, it is 30-50 mass%.

감광성 단량체로서 사용되는 화합물로서는, 예를 들어 관용 공지된 폴리에스테르(메타)아크릴레이트, 폴리에테르(메타)아크릴레이트, 우레탄(메타)아크릴레이트, 카보네이트(메타)아크릴레이트, 에폭시(메타)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 구체적으로는, 2-히드록시에틸아크릴레이트, 2-히드록시프로필아크릴레이트 등의 히드록시알킬아크릴레이트류; 에틸렌글리콜, 메톡시테트라에틸렌글리콜, 폴리에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜 등의 글리콜의 디아크릴레이트류; N,N-디메틸아크릴아미드, N-메틸올아크릴아미드, N,N-디메틸아미노프로필아크릴아미드 등의 아크릴아미드류; N,N-디메틸아미노에틸아크릴레이트, N,N-디메틸아미노프로필아크릴레이트 등의 아미노알킬아크릴레이트류; 헥산디올, 트리메틸올프로판, 펜타에리트리톨, 디펜타에리트리톨, 트리스-히드록시에틸이소시아누레이트 등의 다가 알코올 또는 이들의 에틸렌옥사이드 부가물, 프로필렌옥사이드 부가물, 또는 ε-카프로락톤 부가물 등의 다가 아크릴레이트류; 페녹시아크릴레이트, 비스페놀 A 디아크릴레이트, 및 이들 페놀류의 에틸렌옥사이드 부가물 또는 프로필렌옥사이드 부가물 등의 다가 아크릴레이트류; 글리세린디글리시딜에테르, 글리세린트리글리시딜에테르, 트리메틸올프로판트리글리시딜에테르, 트리글리시딜이소시아누레이트 등의 글리시딜에테르의 다가 아크릴레이트류; 상기에 한정되지 않고, 폴리에테르폴리올, 폴리카보네이트디올, 수산기 말단 폴리부타디엔, 폴리에스테르폴리올 등의 폴리올을 직접 아크릴레이트화, 또는 디이소시아네이트를 통해 우레탄아크릴레이트화한 아크릴레이트류 및 멜라민아크릴레이트, 및 상기 아크릴레이트에 대응하는 각 메타크릴레이트류 중 적어도 어느 1종으로부터 적절히 선택하여 사용할 수 있다.As a compound used as a photosensitive monomer, the conventionally well-known polyester (meth) acrylate, polyether (meth) acrylate, urethane (meth) acrylate, carbonate (meth) acrylate, and epoxy (meth) acrylate Etc. can be mentioned. Specifically, hydroxyalkyl acrylates, such as 2-hydroxyethyl acrylate and 2-hydroxypropyl acrylate; Diacrylates of glycols such as ethylene glycol, methoxy tetraethylene glycol, polyethylene glycol and propylene glycol; Acrylamides such as N, N-dimethylacrylamide, N-methylolacrylamide and N, N-dimethylaminopropylacrylamide; Aminoalkyl acrylates such as N, N-dimethylaminoethyl acrylate and N, N-dimethylaminopropyl acrylate; Polyhydric alcohols such as hexanediol, trimethylolpropane, pentaerythritol, dipentaerythritol, tris-hydroxyethyl isocyanurate or ethylene oxide adducts thereof, propylene oxide adducts, ε-caprolactone adducts and the like Polyhydric acrylates; Polyhydric acrylates, such as phenoxy acrylate, bisphenol A diacrylate, and ethylene oxide adduct or propylene oxide adduct of these phenols; Polyhydric acrylates of glycidyl ethers such as glycerin diglycidyl ether, glycerin triglycidyl ether, trimethylolpropane triglycidyl ether and triglycidyl isocyanurate; Not limited to the above, acrylates and melamine acrylates in which polyols such as polyether polyol, polycarbonate diol, hydroxyl terminal polybutadiene and polyester polyol are directly acrylated or urethane acrylated through diisocyanate, and It can select suitably from at least 1 sort (s) of each methacrylate corresponding to the said acrylate, and can use.

크레졸노볼락형 에폭시 수지 등의 다관능 에폭시 수지에, 아크릴산을 반응시킨 에폭시아크릴레이트 수지나, 추가로 그 에폭시아크릴레이트 수지의 수산기에, 펜타에리트리톨트리아크릴레이트 등의 히드록시아크릴레이트와 이소포론디이소시아네이트 등의 디이소시아네이트의 하프 우레탄 화합물을 반응시킨 에폭시우레탄아크릴레이트 화합물 등을 감광성 단량체로서 사용해도 된다. 이러한 에폭시아크릴레이트계 수지는 지촉 건조성을 저하시키지 않고, 광경화성을 향상시킬 수 있다.Hydroxyacrylates, such as pentaerythritol triacrylate, and isophorone to the epoxy acrylate resin which made acrylic acid react with polyfunctional epoxy resins, such as a cresol novolak-type epoxy resin, and the hydroxyl group of this epoxy acrylate resin further You may use the epoxyurethane acrylate compound which made the half urethane compound of diisocyanate, such as diisocyanate react, as a photosensitive monomer. Such epoxy acrylate-based resin can improve photocurability without deteriorating the touch dryness.

감광성 단량체로서 사용되는 분자 중에 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물의 배합량은, 조성물 중에 카르복실기 함유 수지를 포함하는 경우, 고형분 환산으로 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여, 바람직하게는 5~100질량부, 보다 바람직하게는 5~70질량부의 비율이다. 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물의 배합량을 5질량부 이상으로 함으로써, 광경화성 수지 조성물의 광경화성이 향상된다. 또한, 배합량을 100질량부 이하로 함으로써, 도막 경도를 향상시킬 수 있다. 여기에서 말하는, 카르복실기 함유 수지란, 카르복실기 함유 감광성 수지 및 카르복실기 비감광성 수지 중 어느 것을 포함하는 것이다. 즉, 조성물 중에 어느 것이 단독으로 배합되어 있는 경우에는 단독, 모두 배합되어 있는 경우에는 그 합계를 말한다(이후의 단락에 있어서 동일함).The compounding quantity of the compound which has an ethylenically unsaturated group in the molecule | numerator used as a photosensitive monomer, when containing carboxyl group-containing resin in a composition, it is 5-100 mass parts with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin in solid content conversion, Preferably it is more preferable. Preferably it is the ratio of 5-70 mass parts. By setting the compounding quantity of the compound which has an ethylenically unsaturated group into 5 mass parts or more, the photocurability of a photocurable resin composition improves. Moreover, coating film hardness can be improved by making compounding quantity 100 mass parts or less. The carboxyl group-containing resin as used herein includes any of carboxyl group-containing photosensitive resin and carboxyl group non-photosensitive resin. That is, when either is mix | blended individually in a composition, when it mix | blends individually, it says the sum total (it is the same in the following paragraph).

감광성 단량체는, 특히 에틸렌성 불포화 이중 결합을 갖지 않은 카르복실기 함유 비감광성 수지를 사용한 경우, 조성물을 광경화성으로 하기 위해 분자 중에 1개 이상의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물(감광성 단량체)을 병용할 필요가 있기 때문에, 유효하다.The photosensitive monomer, in particular, when using a carboxyl group-containing non-photosensitive resin having no ethylenically unsaturated double bond, it is necessary to use a compound (photosensitive monomer) having at least one ethylenically unsaturated group in the molecule in order to make the composition photocurable. Because of that, it is valid.

열가교 성분으로서는, 열경화성 수지 등을 들 수 있다. 열경화성 수지로서는, 이소시아네이트 화합물, 블록 이소시아네이트 화합물, 아미노 수지, 말레이미드 화합물, 벤조옥사진 수지, 카르보디이미드 수지, 시클로카보네이트 화합물, 다관능 에폭시 화합물, 다관능 옥세탄 화합물, 에피술피드 수지 등의 공지 관용의 것을 사용할 수 있다. 이들 중에서도 바람직한 열가교 성분은, 1 분자 중에 복수의 환상 에테르기 및 환상 티오에테르기 중 적어도 어느 1종(이하, 환상(티오)에테르기라 약칭함)을 갖는 열가교 성분이다. 이들 환상(티오)에테르기를 갖는 열경화성 성분은, 시판되고 있는 종류가 많고, 그 구조에 따라서 다양한 특성을 부여할 수 있다.Thermosetting resin etc. are mentioned as a thermal crosslinking component. Examples of the thermosetting resin include known isocyanate compounds, blocked isocyanate compounds, amino resins, maleimide compounds, benzoxazine resins, carbodiimide resins, cyclocarbonate compounds, polyfunctional epoxy compounds, polyfunctional oxetane compounds, episulfide resins, and the like. Ordinary ones can be used. Among these, a preferable thermal crosslinking component is a thermal crosslinking component which has at least any 1 type (hereinafter abbreviated as cyclic (thio) ether group) of some cyclic ether group and cyclic thioether group in 1 molecule. There exist many types of thermosetting components which have these cyclic (thio) ether groups, and can provide various characteristics according to the structure.

분자 중에 복수의 환상(티오)에테르기를 갖는 열경화성 성분은, 분자 중에 3, 4 또는 5원환의 환상 에테르기 또는 환상 티오에테르기 중 어느 한쪽 또는 2종류의 기를 복수 갖는 화합물이며, 예를 들어 분자 중에 복수의 에폭시기를 갖는 화합물, 즉, 다관능 에폭시 화합물, 분자 중에 복수의 옥세타닐기를 갖는 화합물, 즉, 다관능 옥세탄 화합물, 분자 중에 복수의 티오에테르기를 갖는 화합물, 즉, 에피술피드 수지 등을 들 수 있다.The thermosetting component which has a some cyclic (thio) ether group in a molecule | numerator is a compound which has one or two types of groups of 3, 4 or 5 membered cyclic ether group or cyclic thioether group in a molecule | numerator, for example in a molecule | numerator A compound having a plurality of epoxy groups, that is, a polyfunctional epoxy compound, a compound having a plurality of oxetanyl groups in the molecule, that is, a polyfunctional oxetane compound, a compound having a plurality of thioether groups in the molecule, that is, an episulfide resin, etc. Can be mentioned.

다관능 에폭시 화합물로서는, 예를 들어 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조의 jER828, jER834, jER1001, jER1004, DIC 가부시끼가이샤 제조의 에피클론 840, 에피클론 840-S, 에피클론 850, 에피클론 1050, 에피클론 2055, 신닛테츠 스미킨 가부시끼가이샤 제조의 에포토토 YD-011, YD-013, YD-127, YD-128, 다우 케미컬사 제조의 D.E.R.317, D.E.R.331, D.E.R.661, D.E.R.664, 스미또모 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 제조의 스미에폭시 ESA-011, ESA-014, ELA-115, ELA-128, 아사히 가세이 고교 가부시끼가이샤 제조의 A.E.R.330, A.E.R.331, A.E.R.661, A.E.R.664 등(모두 상품명)의 비스페놀 A형 에폭시 수지; 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조의 jERYL903, DIC 가부시끼가이샤 제조의 에피클론 152, 에피클론 165, 신닛테츠 스미킨 가부시끼가이샤 제조의 에포토토 YDB-400, YDB-500, 다우 케미컬사 제조의 D.E.R.542, 스미또모 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 제조의 스미에폭시 ESB-400, ESB-700, 아사히 가세이 고교 가부시끼가이샤 제조의 A.E.R.711, A.E.R.714 등(모두 상품명)의 브롬화 에폭시 수지; 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조의 jER152, jER154, 다우 케미컬사 제조의 D.E.N.431, D.E.N.438, DIC 가부시끼가이샤 제조의 에피클론 N-730, 에피클론 N-770, 에피클론 N-865, 신닛테츠 스미킨 가부시끼가이샤 제조의 에포토토 YDCN-701, YDCN-704, 닛본 가야꾸 가부시끼가이샤 제조의 EPPN-201, EOCN-1025, EOCN-1020, EOCN-104S, RE-306, NC-3000H, 스미또모 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 제조의 스미에폭시 ESCN-195X, ESCN-220, 아사히 가세이 고교 가부시끼가이샤 제조의 A.E.R.ECN-235, ECN-299 등(모두 상품명)의 노볼락형 에폭시 수지; DIC 가부시끼가이샤 제조의 에피클론 830, 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조 jER807, 신닛테츠 스미킨 가부시끼가이샤 제조의 에포토토 YDF-170, YDF-175, YDF-2004 등(모두 상품명)의 비스페놀 F형 에폭시 수지; 신닛테츠 스미킨 가부시끼가이샤 제조의 에포토토 ST-2004, ST-2007, ST-3000(상품명) 등의 수첨 비스페놀 A형 에폭시 수지; 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조의 jER604, 신닛테츠 스미킨 가부시끼가이샤 제조의 에포토토 YH-434, 스미또모 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 제조의 스미에폭시 ELM-120 등(모두 상품명)의 글리시딜아민형 에폭시 수지; 가부시키가이샤 다이셀 제조의 셀록사이드 2021 등(상품명)의 지환식 에폭시 수지; 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조의 YL-933, 다우 케미컬사 제조의 T.E.N., EPPN-501, EPPN-502 등(모두 상품명)의 트리히드록시페닐메탄형 에폭시 수지; 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조의 YL-6056, YX-4000, YL-6121(모두 상품명) 등의 비크실레놀형 또는 비페놀형 에폭시 수지 또는 그들의 혼합물; 닛본 가야꾸 가부시끼가이샤 제조 EBPS-200, 아사히 덴까 고교 가부시끼가이샤 제조 EPX-30, DIC 가부시끼가이샤 제조의 EXA-1514(상품명) 등의 비스페놀 S형 에폭시 수지; 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조의 jER157S(상품명) 등의 비스페놀 A 노볼락형 에폭시 수지; 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조의 jERYL-931 등(상품명)의 테트라페닐올에탄형 에폭시 수지; 닛산 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 제조의 TEPIC 등(상품명)의 복소환식 에폭시 수지; 니혼 유시 가부시끼가이샤 제조 블렘머 DGT 등의 디글리시딜프탈레이트 수지; 신닛테츠 스미킨 가부시끼가이샤 제조 ZX-1063 등의 테트라글리시딜크실레노일에탄 수지; 신닛테츠 가가쿠 가부시끼가이샤 제조 ESN-190, ESN-360, DIC 가부시끼가이샤 제조 HP-4032, EXA-4750, EXA-4700 등의 나프탈렌기 함유 에폭시 수지; DIC 가부시끼가이샤 제조 HP-7200, HP-7200H 등의 디시클로펜타디엔 골격을 갖는 에폭시 수지, EXA-4816, EXA-4822, EXA-4850 시리즈의 유연 강인 에폭시 수지; 니혼 유시 가부시끼가이샤 제조 CP-50S, CP-50M 등의 글리시딜메타크릴레이트 공중합계 에폭시 수지; 또한 시클로헥실말레이미드와 글리시딜메타크릴레이트의 공중합 에폭시 수지 등을 들 수 있지만, 이들에 한정되는 것은 아니다. 이들 에폭시 수지는, 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Examples of the polyfunctional epoxy compound include jER828, jER834, jER1001, jER1004, and DIC Corp., Inc. Epiclo 840, Epiclone 840-S, Epiclone 850, Epiclone 1050, and Epiclone. 2055, Efototo YD-011, YD-013, YD-127, YD-128, DER317, DER331, DER661, DER664 manufactured by Shinnitetsu Sumikin Corporation Of Sumier epoxy ESA-011, ESA-014, ELA-115, ELA-128, ASA330, AER331, AER661, AER664 manufactured by Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd. Bisphenol A epoxy resin; JERYL903 manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, Epiclone 152, Epiclone 165, manufactured by DIC Corporation, Inc., Efototo YDB-400, YDB-500, manufactured by Shinnitetsu Sumikin Corporation, DER542, manufactured by Dow Chemical Co., Ltd. Brominated epoxy resins such as Sumitomo Kagaku Kogyo Co., Ltd. (Sumiepoxy ESB-400, ESB-700, Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd.) AER711, AER714 (all brand names); JER152, jER154 manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, DEN431, DEN438 manufactured by Dow Chemical Corporation, Epiclone N-730, Epiclone N-770, Epiclone N-865, Shinnitetsu Smykin manufactured by DIC Corporation Efototo YDCN-701, YDCN-704, Nippon Kayaku Co., Ltd. EPPN-201, EOCN-1025, EOCN-1020, EOCN-104S, RE-306, NC-3000H, Sumitomo Novolak-type epoxy resins, such as Sumerepoxy ESCN-195X, ESCN-220, and Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd. AERECN-235 and ECN-299 (all brand names) by Kagaku Kogyo Co., Ltd .; Bisphenol F type of epiclon 830 made by DIC Corporation, Mitsubishi Chemical Corporation, jER807, Shinnitetsu Sumikin Corporation, Efototo YDF-170, YDF-175, YDF-2004, etc. (all brand names) Epoxy resins; Hydrogenated bisphenol A type epoxy resins such as Efototo ST-2004, ST-2007, and ST-3000 (trade name) manufactured by Shinnitetsu Sumikin Corporation; Glycidyl amines such as jER604 manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, Efototo YH-434 manufactured by Shinnitetsu Sumikin Corporation, Inc., Sumitomo Chemical Co., Ltd., Sumiepoxy ELM-120 manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd. Type epoxy resins; Alicyclic epoxy resins such as Celoxide 2021 (trade name) manufactured by Daicel Corporation; Trihydroxyphenylmethane type epoxy resins, such as Mitsubishi Chemical Corporation YL-933 (made by Mitsubishi Chemical Corporation), T.E.N., EPPN-501, and EPPN-502 (all brand names) by Dow Chemical Company; Bixylenol type or biphenol type epoxy resins such as YL-6056, YX-4000, and YL-6121 (all trade names) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; or mixtures thereof; Bisphenol S type epoxy resins, such as Nippon Kayaku Co., Ltd. EBPS-200, Asahi Denka Kogyo Co., Ltd. EPX-30, and DIC Corporation EXA-1514 (brand name); Bisphenol A novolak-type epoxy resins, such as Mitsubishi Chemical Corporation jER157S (brand name); Tetraphenylolethane type epoxy resins such as jERYL-931 (trade name) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; Heterocyclic epoxy resins such as TEPIC manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd. (trade name); Diglycidyl phthalate resins such as Blemmer DGT manufactured by Nihon Yushi Co., Ltd .; Tetraglycidyl xylenoyl ethane resins such as Zintetsu Sumikin Chemical Co., Ltd. ZX-1063; Naphthalene group-containing epoxy resins such as ESN-190, ESN-360 manufactured by Shinnitetsu Chemical Co., Ltd., ESN-360 manufactured by DIC Corporation, and HP-4032, EXA-4750, EXA-4700; Epoxy resin which has dicyclopentadiene frame | skeleton, such as DIC Corporation HP-7200 and HP-7200H, and flexible steel of EXA-4816, EXA-4822, EXA-4850 series; Glycidyl methacrylate copolymer epoxy resins such as CP-50S and CP-50M manufactured by Nihon Yushi Co., Ltd .; Moreover, although the copolymerization epoxy resin of cyclohexyl maleimide and glycidyl methacrylate etc. are mentioned, It is not limited to these. These epoxy resins can be used individually or in combination of 2 or more types.

다관능 옥세탄 화합물로서는, 비스[(3-메틸-3-옥세타닐메톡시)메틸]에테르, 비스[(3-에틸-3-옥세타닐메톡시)메틸]에테르, 1,4-비스[(3-메틸-3-옥세타닐메톡시)메틸]벤젠, 1,4-비스[(3-에틸-3-옥세타닐메톡시)메틸]벤젠, (3-메틸-3-옥세타닐)메틸아크릴레이트, (3-에틸-3-옥세타닐)메틸아크릴레이트, (3-메틸-3-옥세타닐)메틸메타크릴레이트, (3-에틸-3-옥세타닐)메틸메타크릴레이트나 그들의 올리고머 또는 공중합체 등의 다관능 옥세탄류 외에도, 옥세탄알코올과 노볼락 수지, 폴리(p-히드록시스티렌), 카르도형 비스페놀류, 칼릭사렌류, 칼릭스 레조르신아렌류 또는 실세스퀴옥산 등의 수산기를 갖는 수지와의 에테르화물 등을 들 수 있다. 그 밖에, 옥세탄환을 갖는 불포화 단량체와 알킬(메타)아크릴레이트와의 공중합체 등도 들 수 있다.Examples of the polyfunctional oxetane compound include bis [(3-methyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] ether, bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] ether and 1,4-bis [( 3-methyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene, 1,4-bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene, (3-methyl-3-oxetanyl) methylacrylic Latex, (3-ethyl-3-oxetanyl) methylacrylate, (3-methyl-3-oxetanyl) methyl methacrylate, (3-ethyl-3-oxetanyl) methyl methacrylate or their In addition to polyfunctional oxetanes such as oligomers or copolymers, oxetane alcohols and novolac resins, poly (p-hydroxystyrenes), cardo type bisphenols, calixarylenes, calyx resorcinarylenes or silsesquioxanes And etherates with resins having hydroxyl groups such as these. In addition, the copolymer etc. of the unsaturated monomer which has an oxetane ring, and an alkyl (meth) acrylate are mentioned.

에피술피드 수지로서는, 예를 들어 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조의 YL7000(비스페놀 A형 에피술피드 수지) 등을 들 수 있다. 또한, 동일한 합성 방법을 사용하여, 노볼락형 에폭시 수지의 에폭시기의 산소 원자를 황 원자로 치환한 에피술피드 수지 등도 사용할 수 있다.As episulfide resin, Mitsubishi Chemical Co., Ltd. product YL7000 (bisphenol-A episulfide resin) etc. are mentioned, for example. Moreover, the episulfide resin etc. which substituted the oxygen atom of the epoxy group of the novolak-type epoxy resin by the sulfur atom can also be used using the same synthesis method.

분자 중에 복수의 환상(티오)에테르기를 갖는 열경화성 성분의 배합량은, 조성물 중에, 분자 중에 복수의 환상(티오)에테르기를 갖는 열경화성 성분을 포함하는 경우, 고형분 환산으로 카르복실기 함유 수지의 카르복실기 1당량에 대하여, 바람직하게는 0.3~2.5당량, 보다 바람직하게는 0.5~2.0당량이 되는 범위이다. 분자 중에 복수의 환상(티오)에테르기를 갖는 열경화성 성분의 배합량을 0.3당량 이상으로 함으로써, 경화 피막에 카르복실기가 잔존하지 않고, 내열성, 내알칼리성, 전기 절연성 등이 향상된다. 또한, 2.5당량 이하로 함으로써, 저분자량의 환상(티오)에테르기가 건조 도막에 잔존하지 않고, 경화 피막의 강도 등이 향상된다.When the compounding quantity of the thermosetting component which has a some cyclic (thio) ether group in a molecule | numerator contains the thermosetting component which has a some cyclic (thio) ether group in a molecule | numerator in a composition, with respect to 1 equivalent of the carboxyl group of carboxyl group-containing resin in solid content conversion Preferably it is 0.3-2.5 equivalent, More preferably, it is the range which becomes 0.5-2.0 equivalent. By making the compounding quantity of the thermosetting component which has a some cyclic (thio) ether group in a molecule into 0.3 equivalent or more, a carboxyl group does not remain in a hardened film, and heat resistance, alkali resistance, electrical insulation, etc. improve. Moreover, by setting it as 2.5 equivalent or less, the low molecular weight cyclic (thio) ether group does not remain in a dry coating film, but the intensity | strength of a cured film, etc. improve.

분자 중에 복수의 환상(티오)에테르기를 갖는 열경화성 성분을 사용하는 경우, 열경화 촉매를 배합하는 것이 바람직하다. 그러한 열경화 촉매로서는, 예를 들어 이미다졸, 2-메틸이미다졸, 2-에틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 4-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-(2-시아노에틸)-2-에틸-4-메틸이미다졸 등의 이미다졸 유도체; 디시안디아미드, 벤질디메틸아민, 4-(디메틸아미노)-N,N-디메틸벤질아민, 4-메톡시-N,N-디메틸벤질아민, 4-메틸-N,N-디메틸벤질아민 등의 아민 화합물, 아디프산디히드라지드, 세바스산디히드라지드 등의 히드라진 화합물; 트리페닐포스핀 등의 인 화합물 등을 들 수 있다. 또한, 시판되고 있는 것으로서는, 예를 들어 시꼬꾸 가세이 고교 가부시끼가이샤 제조의 2MZ-A, 2MZ-OK, 2PHZ, 2P4BHZ, 2P4MHZ(모두 이미다졸계 화합물의 상품명), 산아프로 가부시끼가이샤 제조의 U-CAT(등록 상표) 3503N, U-CAT3502T(모두 디메틸아민의 블록 이소시아네이트 화합물의 상품명), DBU, DBN, U-CATSA102, U-CAT5002(모두 이환식 아미딘 화합물 및 그의 염) 등을 들 수 있다. 특히, 이들에 한정되는 것은 아니고, 에폭시 수지나 옥세탄 화합물의 열경화 촉매, 또는 에폭시기 및/또는 옥세타닐기와 카르복실기의 반응을 촉진시키는 것이면 되고, 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용해도 상관없다. 또한, 구아나민, 아세토구아나민, 벤조구아나민, 멜라민, 2,4-디아미노-6-메타크릴로일옥시에틸-S-트리아진, 2-비닐-2,4-디아미노-S-트리아진, 2-비닐-4,6-디아미노-S-트리아진·이소시아누르산 부가물, 2,4-디아미노-6-메타크릴로일옥시에틸-S-트리아진·이소시아누르산 부가물 등의 S-트리아진 유도체를 사용할 수도 있고, 바람직하게는 이들 밀착성 부여제로서도 기능하는 화합물을 열경화 촉매와 병용한다.When using the thermosetting component which has a some cyclic (thio) ether group in a molecule | numerator, it is preferable to mix | blend a thermosetting catalyst. As such a thermosetting catalyst, for example, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 4-phenylimidazole Imidazole derivatives such as 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole and 1- (2-cyanoethyl) -2-ethyl-4-methylimidazole; Amines such as dicyandiamide, benzyldimethylamine, 4- (dimethylamino) -N, N-dimethylbenzylamine, 4-methoxy-N, N-dimethylbenzylamine, 4-methyl-N, N-dimethylbenzylamine Hydrazine compounds such as compounds, adipic dihydrazide and sebacic acid dihydrazide; Phosphorus compounds, such as a triphenylphosphine, etc. are mentioned. Moreover, as what is marketed, 2MZ-A, 2MZ-OK, 2PHZ, 2P4BHZ, 2P4MHZ (all are brand names of an imidazole type compound) by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., and San Afro Corporation are manufactured, for example. U-CAT (registered trademark) 3503N, U-CAT3502T (both trade names of block isocyanate compounds of dimethylamine), DBU, DBN, U-CATSA102, U-CAT5002 (both bicyclic amidine compounds and salts thereof) and the like. . In particular, it is not limited to these, What is necessary is just to accelerate reaction of the thermosetting catalyst of an epoxy resin or an oxetane compound, or an epoxy group and / or an oxetanyl group, and a carboxyl group, and may be used individually or in mixture of 2 or more types none. Also, guanamine, acetoguanamine, benzoguanamine, melamine, 2,4-diamino-6-methacryloyloxyethyl-S-triazine, 2-vinyl-2,4-diamino-S-tri Azine, 2-vinyl-4,6-diamino-S-triazine isocyanuric acid adduct, 2,4-diamino-6-methacryloyloxyethyl-S-triazine isocyanuric acid S-triazine derivatives, such as an adduct, can also be used, Preferably, the compound which functions also as these adhesive imparting agents is used together with a thermosetting catalyst.

열경화 촉매의 배합량은, 조성물 중에, 분자 중에 복수의 환상(티오)에테르기를 갖는 열경화성 성분을 포함하는 경우, 고형분 환산으로, 분자 중에 복수의 환상(티오)에테르기를 갖는 열경화성 성분 100질량부에 대하여, 바람직하게는 0.1~20질량부, 보다 바람직하게는 0.5~15.0질량부이다.When the compounding quantity of a thermosetting catalyst contains the thermosetting component which has several cyclic (thio) ether group in a molecule | numerator in a composition, it is solid content conversion with respect to 100 mass parts of thermosetting components which have several cyclic (thio) ether group in a molecule | numerator. Preferably it is 0.1-20 mass parts, More preferably, it is 0.5-15.0 mass parts.

아미노 수지로서는, 멜라민 유도체, 벤조구아나민 유도체 등의 아미노 수지를 들 수 있다. 예를 들어 메틸올멜라민 화합물, 메틸올벤조구아나민 화합물, 메틸올글리콜우릴 화합물 및 메틸올요소 화합물 등이 있다. 또한, 알콕시메틸화멜라민 화합물, 알콕시메틸화벤조구아나민 화합물, 알콕시메틸화글리콜우릴 화합물 및 알콕시메틸화요소 화합물은, 각각의 메틸올멜라민 화합물, 메틸올벤조구아나민 화합물, 메틸올글리콜우릴 화합물 및 메틸올요소 화합물의 메틸올기를 알콕시메틸기로 변환함으로써 얻어진다. 이 알콕시메틸기의 종류에 대해서는 특별히 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 메톡시메틸기, 에톡시메틸기, 프로폭시메틸기, 부톡시메틸기 등으로 할 수 있다. 특히 인체나 환경에 친화적인 포르말린 농도가 0.2% 이하인 멜라민 유도체가 바람직하다.As amino resin, amino resins, such as a melamine derivative and a benzoguanamine derivative, are mentioned. For example, a methylol melamine compound, a methylol benzoguanamine compound, a methylol glycoluril compound, a methylol urea compound, etc. are mentioned. Moreover, the alkoxy methylation melamine compound, the alkoxy methylation benzoguanamine compound, the alkoxy methylation glycoluril compound, and the alkoxy methylation urea compound are each methylol melamine compound, methylol benzoguanamine compound, methylol glycoluril compound, and methylol urea compound. It is obtained by converting the methylol group of to an alkoxy methyl group. It does not specifically limit about the kind of this alkoxy methyl group, For example, it can be set as a methoxymethyl group, an ethoxymethyl group, a propoxymethyl group, butoxymethyl group. Particularly preferred are melamine derivatives having a formalin concentration of 0.2% or less that is friendly to humans and the environment.

아미노 수지의 시판품으로서는, 예를 들어 사이멜 300, 동 301, 동 303, 동 370, 동 325, 동 327, 동 701, 동 266, 동 267, 동 238, 동 1141, 동 272, 동 202, 동 1156, 동 1158, 동 1123, 동 1170, 동 1174, 동 UFR65, 동 300(이상, 미츠이 사이아나미드 가부시끼가이샤 제조), 니칼락 Mx-750, 동 Mx-032, 동 Mx-270, 동 Mx-280, 동 Mx-290, 동 Mx-706, 동 Mx-708, 동 Mx-40, 동 Mx-31, 동 Ms-11, 동 Mw-30, 동 Mw-30HM, 동 Mw-390, 동 Mw-100LM, 동 Mw-750LM(이상, 가부시키가이샤 산와 케미컬 제조) 등을 들 수 있다.As a commercial item of an amino resin, Cymel 300, copper 301, copper 303, copper 370, copper 325, copper 327, copper 701, copper 266, copper 267, copper 238, copper 1141, copper 272, copper 202, copper 1156, copper 1158, copper 1123, copper 1170, copper 1174, copper UFR65, copper 300 (above, Mitsui Cycamide Co., Ltd.), Nikalak Mx-750, copper Mx-032, copper Mx-270, copper Mx -280, Mx-290, Mx-706, Mx-708, Mx-40, Mx-31, Ms-11, Mw-30, Mw-30HM, Mw-390, Mw -100LM, the copper Mw-750LM (above, Sanwa Chemical Co., Ltd.), etc. are mentioned.

이소시아네이트 화합물로서는, 분자 중에 복수의 이소시아네이트기를 갖는 폴리이소시아네이트 화합물을 사용할 수 있다. 폴리이소시아네이트 화합물로서는, 예를 들어 방향족 폴리이소시아네이트, 지방족 폴리이소시아네이트 또는 지환식 폴리이소시아네이트가 사용된다. 방향족 폴리이소시아네이트의 구체예로서는, 4,4'-디페닐메탄디이소시아네이트, 2,4-톨릴렌디이소시아네이트, 2,6-톨릴렌디이소시아네이트, 나프탈렌-1,5-디이소시아네이트, o-크실릴렌디이소시아네이트, m-크실릴렌디이소시아네이트 및 2,4-톨릴렌 이량체를 들 수 있다. 지방족 폴리이소시아네이트의 구체예로서는, 테트라메틸렌디이소시아네이트, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 메틸렌디이소시아네이트, 트리메틸헥사메틸렌디이소시아네이트, 4,4-메틸렌비스(시클로헥실이소시아네이트) 및 이소포론디이소시아네이트를 들 수 있다. 지환식 폴리이소시아네이트의 구체예로서는 비시클로헵탄트리이소시아네이트를 들 수 있다. 그리고 앞서 예시된 이소시아네이트 화합물의 어덕트체, 뷰렛체 및 이소시아누레이트체를 들 수 있다.As an isocyanate compound, the polyisocyanate compound which has several isocyanate group in a molecule | numerator can be used. As a polyisocyanate compound, aromatic polyisocyanate, aliphatic polyisocyanate, or alicyclic polyisocyanate is used, for example. Specific examples of the aromatic polyisocyanate include 4,4'-diphenylmethane diisocyanate, 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, naphthalene-1,5-diisocyanate, o-xylylene diisocyanate, m-xylylene diisocyanate and 2,4-tolylene dimer are mentioned. Specific examples of the aliphatic polyisocyanate include tetramethylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, methylene diisocyanate, trimethylhexamethylene diisocyanate, 4,4-methylenebis (cyclohexyl isocyanate) and isophorone diisocyanate. Specific examples of the alicyclic polyisocyanate include bicycloheptane triisocyanate. And adducts, biurets and isocyanurates of the isocyanate compounds exemplified above.

블록 이소시아네이트 화합물에 포함되는 블록화 이소시아네이트기는, 이소시아네이트기가 블록제와의 반응에 의해 보호되어 일시적으로 불활성화된 기이다. 소정 온도로 가열되었을 때에 그 블록제가 해리되어 이소시아네이트기가 생성된다.The blocked isocyanate group contained in the blocked isocyanate compound is a group in which an isocyanate group is protected by a reaction with a blocking agent and is temporarily inactivated. When heated to a predetermined temperature, the blocking agent dissociates to form an isocyanate group.

블록 이소시아네이트 화합물로서는, 이소시아네이트 화합물과 이소시아네이트 블록제와의 부가 반응 생성물이 사용된다. 블록제와 반응할 수 있는 이소시아네이트 화합물로서는, 이소시아누레이트형, 뷰렛형, 어덕트형 등을 들 수 있다. 블록 이소시아네이트 화합물을 합성하기 위해 사용되는 이소시아네이트 화합물로서는, 예를 들어 방향족 폴리이소시아네이트, 지방족 폴리이소시아네이트 또는 지환식 폴리이소시아네이트를 들 수 있다. 방향족 폴리이소시아네이트, 지방족 폴리이소시아네이트, 지환식 폴리이소시아네이트의 구체예로서는, 앞서 예시한 화합물을 들 수 있다.As a block isocyanate compound, the addition reaction product of an isocyanate compound and an isocyanate blocking agent is used. As an isocyanate compound which can react with a blocking agent, an isocyanurate type, a biuret type, an adduct type, etc. are mentioned. As an isocyanate compound used for synthesize | combining a block isocyanate compound, aromatic polyisocyanate, aliphatic polyisocyanate, or alicyclic polyisocyanate is mentioned, for example. Specific examples of the aromatic polyisocyanate, aliphatic polyisocyanate and alicyclic polyisocyanate include the compounds exemplified above.

이소시아네이트 블록제로서는, 예를 들어 페놀, 크레졸, 크실레놀, 클로로페놀 및 에틸페놀 등의 페놀계 블록제; ε-카프로락탐, δ-발레로락탐, γ-부티로락탐 및 β-프로피오락탐 등의 락탐계 블록제; 아세토아세트산에틸 및 아세틸아세톤 등의 활성 메틸렌계 블록제; 메탄올, 에탄올, 프로판올, 부탄올, 아밀알코올, 에틸렌글리콜모노메틸에테르, 에틸렌글리콜모노에틸에테르, 에틸렌글리콜모노부틸에테르, 디에틸렌글리콜모노메틸에테르, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 벤질에테르, 글리콜산메틸, 글리콜산부틸, 디아세톤알코올, 락트산메틸 및 락트산에틸 등의 알코올계 블록제; 포름알데히독심, 아세트알독심, 아세톡심, 메틸에틸케톡심, 디아세틸모노옥심, 시클로헥산옥심 등의 옥심계 블록제; 부틸메르캅탄, 헥실메르캅탄, t-부틸메르캅탄, 티오페놀, 메틸티오페놀, 에틸티오페놀 등의 메르캅탄계 블록제; 아세트산아미드, 벤즈아미드 등의 산아미드계 블록제; 숙신산이미드 및 말레산이미드 등의 이미드계 블록제; 크실리딘, 아닐린, 부틸아민, 디부틸아민 등의 아민계 블록제; 이미다졸, 2-에틸이미다졸 등의 이미다졸계 블록제; 메틸렌이민 및 프로필렌이민 등의 이민계 블록제 등을 들 수 있다.As an isocyanate blocking agent, For example, phenol type blocking agents, such as phenol, cresol, xylenol, chlorophenol, and ethyl phenol; lactam block agents such as ε-caprolactam, δ-valerolactam, γ-butyrolactam, and β-propiolactam; Active methylene blockers such as ethyl acetoacetate and acetylacetone; Methanol, ethanol, propanol, butanol, amyl alcohol, ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monomethyl ether, benzyl ether, methyl glycolate, glycol Alcohol blocking agents such as butyl acid, diacetone alcohol, methyl lactate and ethyl lactate; Oxime block agents, such as formaldehyde doxime, acetaldehyde, acetoxime, methyl ethyl ketoxime, diacetyl monooxime and cyclohexane oxime; Mercaptan-based blocking agents such as butyl mercaptan, hexyl mercaptan, t-butyl mercaptan, thiophenol, methylthiophenol and ethylthiophenol; Acid amide block agents such as acetic amide and benzamide; Imide block agents such as succinic acid imide and maleic acid imide; Amine blocking agents such as xyldine, aniline, butylamine and dibutylamine; Imidazole blockers such as imidazole and 2-ethylimidazole; And imine-based blocking agents such as methyleneimine and propyleneimine.

블록 이소시아네이트 화합물은 시판되는 것이어도 되고, 예를 들어 스미듈 BL-3175, BL-4165, BL-1100, BL-1265, 데스모듈 TPLS-2957, TPLS-2062, TPLS-2078, TPLS-2117, 데스모삼 2170, 데스모삼 2265(이상, 스미토모 바이엘 우레탄 가부시끼가이샤 제조, 상품명), 코로네이트 2512, 코로네이트 2513, 코로네이트 2520(이상, 도소 가부시끼가이샤 제조, 상품명), B-830, B-815, B-846, B-870, B-874, B-882(이상, 미쓰이 다께다 케미컬 가부시끼가이샤 제조, 상품명), TPA-B80E, 17B-60PX, E402-B80T(이상, 아사히 가세이 케미컬즈 가부시끼가이샤 제조, 상품명) 등을 들 수 있다. 또한, 스미듈 BL-3175, BL-4265는 블록제로서 메틸에틸옥심을 사용하여 얻어지는 것이다.A block isocyanate compound may be commercially available, for example, smidule BL-3175, BL-4165, BL-1100, BL-1265, death module TPLS-2957, TPLS-2062, TPLS-2078, TPLS-2117, death Moss 2170, Des Moss 2265 (above, Sumitomo Bayer urethane Co., Ltd. make, brand name), coronate 2512, coronate 2513, coronate 2520 (above, Tosoh Co., Ltd., brand name), B-830, B-815 , B-846, B-870, B-874, B-882 (above, Mitsui Chemical Co., Ltd., brand name), TPA-B80E, 17B-60PX, E402-B80T (above, Asahi Kasei Chemicals Co., Ltd. Shigisa Co., Ltd. brand name) etc. are mentioned. In addition, the smead BL-3175 and BL-4265 are obtained using methyl ethyl oxime as a blocking agent.

감광성 수지 조성물에는, 수산기나 카르복실기와 이소시아네이트기와의 경화 반응을 촉진시키기 위해 우레탄화 촉매를 배합해도 된다. 우레탄화 촉매로서는, 주석계 촉매, 금속 염화물, 금속 아세틸아세토네이트염, 금속 황산염, 아민 화합물 및 아민염 중 적어도 어느 1종으로부터 선택되는 우레탄화 촉매를 사용하는 것이 바람직하다.You may mix | blend a urethanization catalyst with the photosensitive resin composition in order to accelerate hardening reaction of a hydroxyl group, a carboxyl group, and an isocyanate group. As the urethane-forming catalyst, it is preferable to use a urethane-forming catalyst selected from at least one of tin-based catalysts, metal chlorides, metal acetylacetonate salts, metal sulfates, amine compounds and amine salts.

주석계 촉매로서는, 예를 들어 스태너스 옥토에이트, 디부틸주석디라우레이트 등의 유기 주석 화합물, 무기 주석 화합물 등을 들 수 있다. 또한, 금속 염화물로서는, Cr, Mn, Co, Ni, Fe, Cu 및 Al로 이루어지는 군에서 선택되는 금속 염화물이며, 예를 들어 염화제2코발트, 염화제1니켈, 염화제2철 등을 들 수 있다. 또한, 금속 아세틸아세토네이트염은, Cr, Mn, Co, Ni, Fe, Cu 및 Al로 이루어지는 군에서 선택되는 금속의 아세틸아세토네이트염이며, 예를 들어 코발트아세틸아세토네이트, 니켈아세틸아세토네이트, 철아세틸아세토네이트 등을 들 수 있다. 또한, 금속 황산염으로서는, Cr, Mn, Co, Ni, Fe, Cu 및 Al로 이루어지는 군에서 선택되는 금속의 황산염이며, 예를 들어 황산구리 등을 들 수 있다.As a tin type catalyst, organic tin compounds, such as a stannous octoate and dibutyltin dilaurate, an inorganic tin compound, etc. are mentioned, for example. Moreover, as a metal chloride, it is a metal chloride selected from the group which consists of Cr, Mn, Co, Ni, Fe, Cu, and Al, For example, a cobalt chloride, a nickel nickel chloride, ferric chloride, etc. are mentioned. have. In addition, the metal acetylacetonate salt is an acetylacetonate salt of a metal selected from the group consisting of Cr, Mn, Co, Ni, Fe, Cu, and Al. For example, cobaltacetylacetonate, nickel acetylacetonate, iron Acetylacetonate, and the like. Moreover, as a metal sulfate, it is a sulfate of the metal chosen from the group which consists of Cr, Mn, Co, Ni, Fe, Cu, and Al, for example, copper sulfate etc. are mentioned.

아민 화합물로서는, 예를 들어 종래 공지된 트리에틸렌디아민, N,N,N',N'-테트라메틸-1,6-헥산디아민, 비스(2-디메틸아미노에틸)에테르, N,N,N',N",N"-펜타메틸디에틸렌트리아민, N-메틸모르폴린, N-에틸모르폴린, N,N-디메틸에탄올아민, 디모르폴리노디에틸에테르, N-메틸이미다졸, 디메틸아미노피리딘, 트리아진, N'-(2-히드록시에틸)-N,N,N'-트리메틸비스(2-아미노에틸)에테르, N,N-디메틸헥사놀아민, N,N-디메틸아미노에톡시에탄올, N,N,N'-트리메틸-N'-(2-히드록시에틸)에틸렌디아민, N-(2-히드록시에틸)-N,N',N",N"-테트라메틸디에틸렌트리아민, N-(2-히드록시프로필)-N,N',N",N"-테트라메틸디에틸렌트리아민, N,N,N'-트리메틸-N'-(2-히드록시에틸)프로판디아민, N-메틸-N'-(2-히드록시에틸) 피페라진, 비스(N,N-디메틸아미노프로필)아민, 비스(N,N-디메틸아미노프로필)이소프로판올아민, 2-아미노퀴누클리딘, 3-아미노퀴누클리딘, 4-아미노퀴누클리딘, 2-퀴누클리딘올, 3-퀴누클리딘올, 4-퀴누클리딘올, 1-(2'-히드록시프로필)이미다졸, 1-(2'-히드록시프로필)-2-메틸이미다졸, 1-(2'-히드록시에틸)이미다졸, 1-(2'-히드록시에틸)-2-메틸이미다졸, 1-(2'-히드록시프로필)-2-메틸이미다졸, 1-(3'-아미노프로필)이미다졸, 1-(3'-아미노프로필)-2-메틸이미다졸, 1-(3'-히드록시프로필)이미다졸, 1-(3'-히드록시프로필)-2-메틸이미다졸, N,N-디메틸아미노프로필-N'-(2-히드록시에틸)아민, N,N-디메틸아미노프로필-N',N'-비스(2-히드록시에틸)아민, N,N-디메틸아미노프로필-N',N'-비스(2-히드록시프로필)아민, N,N-디메틸아미노에틸-N',N'-비스(2-히드록시에틸)아민, N,N-디메틸아미노에틸-N',N'-비스(2-히드록시프로필)아민, 멜라민 및 벤조구아나민 중 적어도 어느 1종 등을 들 수 있다.Examples of the amine compound include conventionally known triethylenediamine, N, N, N ', N'-tetramethyl-1,6-hexanediamine, bis (2-dimethylaminoethyl) ether, N, N, N' , N ", N" -pentamethyldiethylenetriamine, N-methylmorpholine, N-ethylmorpholine, N, N-dimethylethanolamine, dimorpholino diethyl ether, N-methylimidazole, dimethylamino Pyridine, triazine, N '-(2-hydroxyethyl) -N, N, N'-trimethylbis (2-aminoethyl) ether, N, N-dimethylhexanamine, N, N-dimethylaminoethoxy Ethanol, N, N, N'-trimethyl-N '-(2-hydroxyethyl) ethylenediamine, N- (2-hydroxyethyl) -N, N', N ", N" -tetramethyldiethylenetri Amine, N- (2-hydroxypropyl) -N, N ', N ", N" -tetramethyldiethylenetriamine, N, N, N'-trimethyl-N'-(2-hydroxyethyl) propane Diamine, N-methyl-N '-(2-hydroxyethyl) piperazine, bis (N, N-dimethylaminopropyl) amine, bis (N, N-dimethylaminopropyl) isopropanol Min, 2-aminoquinuclidin, 3-aminoquinuclidin, 4-aminoquinuclidin, 2-quinuclidinol, 3-quinuclidinol, 4-quinuclidinol, 1- (2'-hydroxypropyl ) Imidazole, 1- (2'-hydroxypropyl) -2-methylimidazole, 1- (2'-hydroxyethyl) imidazole, 1- (2'-hydroxyethyl) -2-methyl Midazole, 1- (2'-hydroxypropyl) -2-methylimidazole, 1- (3'-aminopropyl) imidazole, 1- (3'-aminopropyl) -2-methylimidazole, 1- (3'-hydroxypropyl) imidazole, 1- (3'-hydroxypropyl) -2-methylimidazole, N, N-dimethylaminopropyl-N '-(2-hydroxyethyl) amine , N, N-dimethylaminopropyl-N ', N'-bis (2-hydroxyethyl) amine, N, N-dimethylaminopropyl-N', N'-bis (2-hydroxypropyl) amine, N , N-dimethylaminoethyl-N ', N'-bis (2-hydroxyethyl) amine, N, N-dimethylaminoethyl-N', N'-bis (2-hydroxypropyl) amine, melamine and benzo At least one kind of guanamine, etc. can be mentioned have.

아민염으로서는, 예를 들어 DBU(1,8-디아자-비시클로[5.4.0]운데센-7) 등의 유기산염계의 아민염 등을 들 수 있다.As an amine salt, organic acid salt amine salts, such as DBU (1,8- diaza-bicyclo [5.4.0] undecene-7), etc. are mentioned, for example.

[필러][filler]

필러로서는, 공지 관용의 무기 또는 유기 필러를 사용할 수 있지만, 특히 황산바륨, 구상 실리카, 산화티타늄, 노이부르크 규토 입자 및 탈크가 바람직하게 사용된다. 또한, 난연성을 부여할 목적으로, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 베마이트 등도 사용할 수 있다. 또한, 1개 이상의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물이나 상기 다관능 에폭시 수지에 나노실리카를 분산시킨 Hanse-Chemie사 제조의 NANOCRYL(상품명) XP 0396, XP 0596, XP 0733, XP 0746, XP 0765, XP 0768, XP 0953, XP 0954, XP 1045(모두 제품 그레이드명)나, Hanse-Chemie사 제조의 NANOPOX(상품명) XP 0516, XP 0525, XP 0314(모두 제품 그레이드명)도 사용할 수 있다. 이들을 단독으로 또는 2종 이상 배합할 수 있다. 필러를 포함함으로써, 얻어지는 경화물의 물리적 강도 등을 높일 수 있다.As the filler, known conventional inorganic or organic fillers can be used, but barium sulfate, spherical silica, titanium oxide, Neuburg silica particles and talc are particularly preferably used. Moreover, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, boehmite, etc. can also be used for the purpose of providing flame retardance. Further, NANOCRYL (trade name) manufactured by Hanse-Chemie, Inc., in which nanosilica is dispersed in a compound having one or more ethylenically unsaturated groups or the polyfunctional epoxy resin, XP 0396, XP 0596, XP 0733, XP 0746, XP 0765, XP 0768 , XP 0953, XP 0954, XP 1045 (all product grade names), or NANOPOX (brand name) XP 0516, XP 0525, XP 0314 (all product grade names) manufactured by Hanse-Chemie. These may be used alone or in combination of two or more thereof. By including a filler, the physical strength etc. of the hardened | cured material obtained can be raised.

필러의 배합량은, 조성물 중에 카르복실기 함유 수지를 포함하는 경우, 고형분 환산으로 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여, 바람직하게는 500질량부 이하, 보다 바람직하게는 0.1~300질량부, 특히 바람직하게는 0.1~150질량부이다. 필러의 배합량이 500질량부 이하인 경우, 광경화성 열경화성 수지 조성물의 점도가 너무 높아지지 않아, 인쇄성이 좋고, 경화물이 취화되기 어렵다.When the compounding quantity of a filler contains carboxyl group-containing resin in a composition, it is 500 mass parts or less with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin in solid content conversion, More preferably, it is 0.1-300 mass parts, Especially preferably, it is 0.1 150 mass parts. When the compounding quantity of a filler is 500 mass parts or less, the viscosity of a photocurable thermosetting resin composition does not become high too much, printability is good and hardened | cured material is hard to embrittle.

[광중합 개시제][Photopolymerization Initiator]

본 발명에 있어서, 상기한 카르복실기 함유 감광성 수지를 광중합시키기 위해 사용되는 광중합 개시제로서는, 공지된 것을 사용할 수 있지만, 그 중에서도, 옥심에스테르기를 갖는 옥심에스테르계 광중합 개시제, α-아미노아세토페논계 광중합 개시제, 아실포스핀옥사이드계 광중합 개시제가 바람직하다. 광중합 개시제는 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 병용하여 사용해도 된다.In this invention, although a well-known thing can be used as a photoinitiator used for photopolymerizing the said carboxyl group-containing photosensitive resin, The oxime ester type photoinitiator which has an oxime ester group, the (alpha)-amino acetophenone type photoinitiator, Acylphosphine oxide type photoinitiators are preferable. A photoinitiator may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

옥심에스테르계 광중합 개시제로서는, 시판품으로서, BASF 재팬사 제조의 CGI-325, 이르가큐어(등록 상표) OXE01, 이르가큐어 OXE02, 가부시키가이샤 아데카 제조 N-1919, 아데카 아클즈(등록 상표) NCI-831 등을 들 수 있다.As an oxime ester-type photoinitiator, it is a commercial item, CGI-325 by the BASF Japan company, Irgacure (registered trademark) OXE01, Irgacure OXE02, Adeka Corporation N-1919, Adeka Ackles (registered trademark). NCI-831 and the like.

또한, 분자 내에 2개의 옥심에스테르기를 갖는 광중합 개시제도 적합하게 사용할 수 있고, 구체적으로는, 하기 일반식 (I)로 표시되는 카르바졸 구조를 갖는 옥심에스테르 화합물을 들 수 있다.Moreover, the photoinitiator which has two oxime ester groups in a molecule | numerator can also be used suitably, Specifically, the oxime ester compound which has a carbazole structure represented by following General formula (I) is mentioned.

Figure 112018005509327-pat00001
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(식 중, X1은, 수소 원자, 탄소수 1~17의 알킬기, 탄소수 1~8의 알콕시기, 페닐기, 페닐기(탄소수 1~17의 알킬기, 탄소수 1~8의 알콕시기, 아미노기, 탄소수 1~8의 알킬기를 갖는 알킬아미노기 또는 디알킬아미노기에 의해 치환되어 있음), 나프틸기(탄소수 1~17의 알킬기, 탄소수 1~8의 알콕시기, 아미노기, 탄소수 1~8의 알킬기를 갖는 알킬아미노기 또는 디알킬아미노기에 의해 치환되어 있음)를 나타내고, Y1, Z는 각각, 수소 원자, 탄소수 1~17의 알킬기, 탄소수 1~8의 알콕시기, 할로겐기, 페닐기, 페닐기(탄소수 1~17의 알킬기, 탄소수 1~8의 알콕시기, 아미노기, 탄소수 1~8의 알킬기를 갖는 알킬아미노기 또는 디알킬아미노기에 의해 치환되어 있음), 나프틸기(탄소수 1~17의 알킬기, 탄소수 1~8의 알콕시기, 아미노기, 탄소수 1~8의 알킬기를 갖는 알킬아미노기 또는 디알킬아미노기에 의해 치환되어 있음), 안트릴기, 피리딜기, 벤조푸릴기, 벤조티에닐기를 나타내고, Ar은, 탄소수 1~10의 알킬렌, 비닐렌, 페닐렌, 비페닐렌, 피리딜렌, 나프틸렌, 티오펜, 안트릴렌, 티에닐렌, 푸릴렌, 2,5-피롤-디일, 4,4'-스틸벤-디일, 4,2'-스티렌-디일을 나타내고, n은 0 또는 1의 정수이다)(In formula, X <1> is a hydrogen atom, a C1-C17 alkyl group, a C1-C8 alkoxy group, a phenyl group, a phenyl group (C1-C17 alkyl group, a C1-C8 alkoxy group, an amino group, C1-C1-C1). Substituted with an alkylamino or dialkylamino group having an alkyl group of 8), a naphthyl group (an alkyl group having 1 to 17 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, an amino group, an alkylamino group having an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms or di Y 1 , Z each represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 17 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, a halogen group, a phenyl group, a phenyl group (an alkyl group having 1 to 17 carbon atoms, Substituted by an alkylamino group having 1 to 8 carbon atoms, an amino group, an alkylamino group having 1 to 8 carbon atoms or a dialkylamino group), a naphthyl group (an alkyl group having 1 to 17 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, an amino group) Or an alkylamino group having an alkyl group of 1 to 8 carbon atoms or di Substituted with a chelamino group), an anthryl group, a pyridyl group, a benzofuryl group, a benzothienyl group, and Ar represents an alkylene, vinylene, phenylene, biphenylene, pyridylene, Naphthylene, thiophene, anthylene, thienylene, furylene, 2,5-pyrrole-diyl, 4,4'-stilbene-diyl, 4,2'-styrene-diyl, n is 0 or 1 Is an integer of)

특히, 상기 식 중, X1, Y1이 각각, 메틸기 또는 에틸기이며, Z가 메틸 또는 페닐이며, n이 0이며, Ar이 페닐렌, 나프틸렌, 티오펜 또는 티에닐렌인 옥심에스테르계 광중합 개시제가 바람직하다.In particular, an oxime ester photoinitiator wherein X 1 , Y 1 are each a methyl group or an ethyl group, Z is methyl or phenyl, n is 0, and Ar is phenylene, naphthylene, thiophene or thienylene. Is preferred.

바람직한 카르바졸옥심에스테르 화합물로서, 하기 일반식 (II)로 표시될 수 수 있는 화합물을 들 수도 있다.As a preferable carbazole oxime ester compound, the compound which can be represented by the following general formula (II) is also mentioned.

Figure 112018005509327-pat00002
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(식 중, R3은, 탄소 원자수 1~4의 알킬기, 또는 니트로기, 할로겐 원자 또는 탄소 원자수 1~4의 알킬기로 치환되어 있어도 되는 페닐기를 나타낸다.(In formula, R <3> represents the phenyl group which may be substituted by the C1-C4 alkyl group, or a nitro group, a halogen atom, or a C1-C4 alkyl group.

R4는, 탄소 원자수 1~4의 알킬기, 탄소 원자수 1~4의 알콕시기, 또는 탄소 원자수 1~4의 알킬기 또는 알콕시기로 치환되어 있어도 되는 페닐기를 나타낸다.R <4> represents the phenyl group which may be substituted by the C1-C4 alkyl group, the C1-C4 alkoxy group, or the C1-C4 alkyl group or the alkoxy group.

R5는, 산소 원자 또는 황 원자로 연결되어 있어도 되고, 페닐기로 치환되어 있어도 되는 탄소 원자수 1~20의 알킬기, 탄소 원자수 1~4의 알콕시기로 치환되어 있어도 되는 벤질기를 나타낸다.R <5> represents the benzyl group which may be connected by the oxygen atom or the sulfur atom, and may be substituted by the C1-C20 alkyl group and the C1-C4 alkoxy group which may be substituted by the phenyl group.

R6은, 니트로기, 또는 X2-C(=O)-로 표시되는 아실기를 나타낸다.R 6 represents a nitro group or an acyl group represented by X 2 -C (═O)-.

X2는, 탄소 원자수 1~4의 알킬기로 치환되어 있어도 되는 아릴기, 티에닐기, 모르폴리노기, 티오페닐기, 또는 하기 식 (III)으로 표시되는 구조를 나타낸다.)X 2 represents a structure represented by an aryl group, thienyl group, morpholino group, thiophenyl group, or the following formula (III), which may be substituted with an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.)

Figure 112018005509327-pat00003
Figure 112018005509327-pat00003

그 밖에, 일본 특허 공개 제2004-359639호 공보, 일본 특허 공개 제2005-097141호 공보, 일본 특허 공개 제2005-220097호 공보, 일본 특허 공개 제2006-160634호 공보, 일본 특허 공개 제2008-094770호 공보, 일본 특허 공표 제2008-509967호 공보, 일본 특허 공표 제2009-040762호 공보, 일본 특허 공개 제2011-80036호 공보에 기재된 카르바졸옥심에스테르 화합물 등을 들 수 있다.In addition, Japanese Patent Laid-Open No. 2004-359639, Japanese Patent Laid-Open No. 2005-097141, Japanese Patent Laid-Open No. 2005-220097, Japanese Patent Laid-Open No. 2006-160634, and Japanese Patent Laid-Open No. 2008-094770 The carbazole oxime ester compound etc. which were described in Unexamined-Japanese-Patent No. 2008-509967, Unexamined-Japanese-Patent No. 2009-040762, and Unexamined-Japanese-Patent No. 2011-80036 are mentioned.

옥심에스테르계 광중합 개시제를 사용하는 경우의 배합량은, 조성물 중에 카르복실기 함유 수지를 포함하는 경우, 고형분 환산으로 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여, 0.01~5질량부로 하는 것이 바람직하다. 0.01질량부 이상으로 함으로써, 구리 상에서의 광경화성이 보다 확실해지고, 내약품성 등의 도막 특성이 향상된다. 또한, 5질량부 이하로 함으로써, 도막 표면에서의 광흡수가 억제되고, 심부의 경화성도 향상되는 경향이 있다. 보다 바람직하게는, 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여 0.5~3질량부이다.When the compounding quantity in the case of using an oxime ester system photoinitiator contains carboxyl group-containing resin in a composition, it is preferable to set it as 0.01-5 mass parts with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin in solid content conversion. By setting it as 0.01 mass part or more, photocurability on copper becomes more certain, and coating-film characteristics, such as chemical-resistance, improve. Moreover, when it is 5 mass parts or less, there exists a tendency for the light absorption in the coating film surface to be suppressed and the hardenability of a core part improves. More preferably, it is 0.5-3 mass parts with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin.

α-아미노아세토페논계 광중합 개시제로서는, 구체적으로는, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로파논-1,2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부탄-1-온, 2-(디메틸아미노)-2-[(4-메틸페닐)메틸]-1-[4-(4-모르폴리닐)페닐]-1-부타논, N,N-디메틸아미노아세토페논 등을 들 수 있다. 시판품으로서는, IGM Resins사 제조 Omnirad(옴니라드) 907, Omnirad(옴니라드) 369, Omnirad(옴니라드) 379 등을 들 수 있다.Specific examples of the α-aminoacetophenone-based photopolymerization initiator include 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropanone-1,2-benzyl-2-dimethylamino-1 -(4-morpholinophenyl) -butan-1-one, 2- (dimethylamino) -2-[(4-methylphenyl) methyl] -1- [4- (4-morpholinyl) phenyl] -1 -Butanone, N, N-dimethylaminoacetophenone, etc. are mentioned. Examples of commercially available products include Omnirad 907, Omnirad 369, Omnirad 379, and the like, manufactured by IGM Resins.

아실포스핀옥사이드계 광중합 개시제로서는, 구체적으로는 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드, 비스(2,4,6-트리메틸벤조일)-페닐포스핀옥사이드, 비스(2,6-디메톡시벤조일)-2,4,4-트리메틸-펜틸포스핀옥사이드 등을 들 수 있다. 시판품으로서는, IGM Resins사 제조 Omnirad(옴니라드) TPO, Omnirad(옴니라드) 819 등을 들 수 있다.As an acyl phosphine oxide type photoinitiator, 2,4,6- trimethyl benzoyl diphenyl phosphine oxide, bis (2,4,6- trimethyl benzoyl) -phenyl phosphine oxide, bis (2, 6- dimeth) specifically, Oxybenzoyl) -2,4,4-trimethyl-pentylphosphine oxide, and the like. Examples of commercially available products include Omnirad TPO, Omnirad 819, etc. manufactured by IGM Resins.

또한, 광중합 개시제로서는 Yueyang Kimoutain Sci-tech Co., Ltd. 제조의 JMT-784도 적합하게 사용할 수 있다.As the photopolymerization initiator, Yueyang Kimoutain Sci-tech Co., Ltd. JMT-784 of manufacture can also be used suitably.

옥심에스테르계 광중합 개시제 이외의 광중합 개시제를 사용하는 경우의 배합량은, 조성물 중에 카르복실기 함유 수지를 포함하는 경우, 고형분 환산으로 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여, 0.01~15질량부인 것이 바람직하다. 0.01질량부 이상으로 함으로써, 구리 상에서의 광경화성이 보다 확실해지고, 내약품성 등의 도막 특성이 향상된다. 또한, 15질량부 이하로 함으로써, 충분한 아웃 가스의 저감 효과가 얻어지고, 또한 경화 피막 표면에서의 광흡수가 억제되고, 심부의 경화성도 향상된다. 보다 바람직하게는 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여 0.5~10질량부이다.When using a photoinitiator other than an oxime ester system photoinitiator, when containing carboxyl group-containing resin in a composition, it is preferable that it is 0.01-15 mass parts with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin in solid content conversion. By setting it as 0.01 mass part or more, photocurability on copper becomes more certain, and coating-film characteristics, such as chemical-resistance, improve. Moreover, by setting it as 15 mass parts or less, the effect of reducing sufficient outgas is acquired, the light absorption in the surface of a cured film is suppressed, and the sclerosis | hardenability of a core part also improves. More preferably, it is 0.5-10 mass parts with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin.

상기한 광중합 개시제와 병용하여, 광개시 보조제 또는 증감제를 사용해도 된다. 광개시 보조제 또는 증감제로서는, 벤조인 화합물, 아세토페논 화합물, 안트라퀴논 화합물, 티옥산톤 화합물, 케탈 화합물, 벤조페논 화합물, 3급 아민 화합물 및 크산톤 화합물 등을 들 수 있다. 이들 화합물은, 광중합 개시제로서 사용할 수 있는 경우도 있지만, 광중합 개시제와 병용하여 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 광개시 보조제 또는 증감제는 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 병용해도 된다.You may use photoinitiator or a sensitizer in combination with said photoinitiator. As a photoinitiation adjuvant or a sensitizer, a benzoin compound, an acetophenone compound, an anthraquinone compound, a thioxanthone compound, a ketal compound, a benzophenone compound, a tertiary amine compound, a xanthone compound, etc. are mentioned. Although these compounds can be used as a photoinitiator, it is preferable to use together with a photoinitiator. In addition, a photoinitiation adjuvant or a sensitizer may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.

벤조인 화합물로서는, 예를 들어 벤조인, 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조인이소프로필에테르 등을 들 수 있다. 또한, 아세토페논 화합물로서는, 예를 들어 아세토페논, 2,2-디메톡시-2-페닐아세토페논, 2,2-디에톡시-2-페닐아세토페논, 1,1-디클로로아세토페논 등을 들 수 있다. 또한, 안트라퀴논 화합물로서는, 예를 들어 2-메틸안트라퀴논, 2-에틸안트라퀴논, 2-t-부틸안트라퀴논, 1-클로로안트라퀴논 등을 들 수 있다. 또한, 티옥산톤 화합물로서는, 예를 들어 2,4-디메틸티옥산톤, 2,4-디에틸티옥산톤, 2-클로로티옥산톤, 2,4-디이소프로필티옥산톤 등을 들 수 있다. 또한, 케탈 화합물로서는, 예를 들어 아세토페논디메틸케탈, 벤질디메틸케탈 등을 들 수 있다. 또한, 벤조페논 화합물로서는, 예를 들어 벤조페논, 4-벤조일디페닐술피드, 4-벤조일-4'-메틸디페닐술피드, 4-벤조일-4'-에틸디페닐술피드, 4-벤조일-4'-프로필디페닐술피드 등을 들 수 있다.As a benzoin compound, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, etc. are mentioned, for example. Moreover, as an acetophenone compound, acetophenone, 2, 2- dimethoxy- 2-phenylacetophenone, 2, 2- diethoxy 2-phenyl acetophenone, 1, 1- dichloro acetophenone, etc. are mentioned, for example. have. Moreover, as an anthraquinone compound, 2-methyl anthraquinone, 2-ethyl anthraquinone, 2-t- butyl anthraquinone, 1-chloro anthraquinone, etc. are mentioned, for example. Moreover, as a thioxanthone compound, 2, 4- dimethyl thioxanthone, 2, 4- diethyl thioxanthone, 2-chloro thioxanthone, 2, 4- diisopropyl thioxanthone, etc. are mentioned, for example. Can be. Moreover, as a ketal compound, acetophenone dimethyl ketal, benzyl dimethyl ketal, etc. are mentioned, for example. Moreover, as a benzophenone compound, for example, benzophenone, 4-benzoyl diphenyl sulfide, 4-benzoyl-4'-methyldiphenyl sulfide, 4-benzoyl-4'-ethyldiphenyl sulfide, 4-benzoyl -4'- propyl diphenyl sulfide etc. are mentioned.

3급 아민 화합물로서는, 예를 들어 에탄올아민 화합물, 디알킬아미노벤젠 구조를 갖는 화합물, 예를 들어 시판품으로는, 4,4'-디메틸아미노벤조페논(닛본 소다 가부시끼가이샤 제조 닛소큐어(등록 상표) MABP), 4,4'-디에틸아미노벤조페논(호도가야 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 제조 EAB) 등의 디알킬아미노벤조페논, 7-(디에틸아미노)-4-메틸-2H-1-벤조피란-2-온(7-(디에틸아미노)-4-메틸쿠마린) 등의 디알킬아미노기 함유 쿠마린 화합물, 4-디메틸아미노벤조산에틸(닛본 가야꾸 가부시끼가이샤 제조 카야큐어(등록 상표) EPA), 2-디메틸아미노벤조산에틸(인터내셔널 바이오-신세틱스사 제조 Quantacure DMB), 4-디메틸아미노벤조산(n-부톡시)에틸(인터내셔널 바이오-신세틱스사 제조 Quantacure BEA), p-디메틸아미노벤조산이소아밀에틸에스테르(닛본 가야꾸 가부시끼가이샤 제조 카야큐어 DMBI), 4-디메틸아미노벤조산2-에틸헥실(Van Dyk사 제조 Esolol 507) 등을 들 수 있다. 3급 아민 화합물로서는, 디알킬아미노벤젠 구조를 갖는 화합물이 바람직하고, 그 중에서도, 디알킬아미노벤조페논 화합물, 최대 흡수 파장이 350~450nm에 있는 디알킬아미노기 함유 쿠마린 화합물 및 케토쿠마린류가 특히 바람직하다.As the tertiary amine compound, for example, an ethanolamine compound or a compound having a dialkylaminobenzene structure, for example, a commercially available product, 4,4'-dimethylaminobenzophenone (Nisso Soda Co., Ltd. Dialkylaminobenzophenone, 7- (diethylamino) -4-methyl-2H-1-, such as MABP) and 4,4'-diethylaminobenzophenone (EAB made by Hodogaya Chemical Co., Ltd.). Dialkylamino group-containing coumarin compounds, such as benzopyran-2-one (7- (diethylamino) -4-methylcoumarin), and 4-dimethylaminobenzoate ethyl (Kayakyue Co., Ltd. make Kayacure (registered trademark) EPA ), Ethyl 2-dimethylaminobenzoate (Quantacure DMB manufactured by International Bio-Synthetics Co., Ltd.), 4-dimethylaminobenzoic acid (n-butoxy) ethyl (Quantacure BEA manufactured by International Bio-Synthetics Co., Ltd.), p-dimethylaminobenzoic acid Soy Mil Ethyl Ester (Nipbon Kayaku Kabuki Kaisha) Manufactured Kayacure DMBI), 4-dimethylaminobenzoic acid 2-ethylhexyl (Esolol 507 by Van Dyk), etc. are mentioned. As the tertiary amine compound, a compound having a dialkylaminobenzene structure is preferable, and in particular, a dialkylaminobenzophenone compound, a dialkylamino group-containing coumarin compound having a maximum absorption wavelength of 350 to 450 nm, and ketocoumarins are particularly preferred. desirable.

디알킬아미노벤조페논 화합물로서는, 4,4'-디에틸아미노벤조페논이 독성이 낮기 때문에 바람직하다. 디알킬아미노기 함유 쿠마린 화합물은, 최대 흡수 파장이 350~410nm로 자외선 영역에 있기 때문에, 착색이 적어, 무색 투명한 감광성 수지 조성물은 물론, 착색 안료를 사용하여, 착색 안료 자체의 색을 반영한 착색 감광성 필름을 얻는 것이 가능해진다. 특히, 7-(디에틸아미노)-4-메틸-2H-1-벤조피란-2-온이, 파장 400~410nm의 레이저광에 대하여 우수한 증감 효과를 나타내기 때문에 바람직하다.As the dialkylaminobenzophenone compound, 4,4'-diethylaminobenzophenone is preferable because of low toxicity. Since the dialkylamino group-containing coumarin compound has a maximum absorption wavelength in the ultraviolet region at 350 to 410 nm, there is little coloration, and a colored photosensitive film reflecting the color of the colored pigment itself using a color pigment as well as a colorless transparent photosensitive resin composition. It becomes possible to obtain. In particular, since 7- (diethylamino) -4-methyl-2H-1-benzopyran-2-one shows the outstanding sensitizing effect with respect to the laser beam of wavelength 400-410 nm, it is preferable.

이들 중, 티옥산톤 화합물 및 3급 아민 화합물이 바람직하다. 특히, 티옥산톤 화합물이 포함됨으로써, 심부 경화성을 향상시킬 수 있다.Among these, thioxanthone compounds and tertiary amine compounds are preferable. In particular, by including a thioxanthone compound, deep-hardening property can be improved.

광중합 개시제, 광개시 보조제 및 증감제의 총량은, 조성물 중에 카르복실기 함유 수지를 포함하는 경우, 고형분 환산으로 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여 35질량부 이하인 것이 바람직하다. 35질량부 이하로 함으로써, 이들의 광흡수가 억제되고, 심부의 경화성도 향상된다.When the total amount of a photoinitiator, a photoinitiation adjuvant, and a sensitizer contains carboxyl group-containing resin in a composition, it is preferable that it is 35 mass parts or less with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin in solid content conversion. By setting it as 35 mass parts or less, these light absorption is suppressed and the sclerosis | hardenability of a core part improves.

또한, 이들 광중합 개시제, 광개시 보조제 및 증감제는 특정한 파장을 흡수하기 때문에, 경우에 따라서는 감도가 낮아지고, 자외선 흡수제로서 기능하는 경우가 있다. 그러나, 이들은 조성물의 감도를 향상시키는 것만의 목적으로 사용되는 것은 아니다. 필요에 따라서 특정한 파장의 광을 흡수시켜, 표면의 광반응성을 높이고, 레지스트의 라인 형상 및 개구를 수직, 테이퍼 형상, 역테이퍼 형상으로 변화시킴과 함께, 라인 폭이나 개구 직경의 가공 정밀도를 향상시킬 수 있다.Moreover, since these photoinitiators, photoinitiation adjuvant, and a sensitizer absorb a specific wavelength, in some cases, a sensitivity becomes low and may function as an ultraviolet absorber. However, they are not used only for the purpose of improving the sensitivity of the composition. By absorbing light of a specific wavelength as needed, it improves the photoreactivity of the surface, changes the line shape and opening of the resist into vertical, tapered and inverse tapered shape, and improves the processing accuracy of the line width and the opening diameter. Can be.

본 발명에 의한 감광성 필름에 사용되는 감광성 수지 조성물은, 상기한 성분 이외에도, 블록 공중합체, 착색제, 엘라스토머, 열가소성 수지 등의 다른 성분이 포함되어 있어도 된다. 이하, 이들 성분에 대해서도 설명한다.The photosensitive resin composition used for the photosensitive film which concerns on this invention may contain other components, such as a block copolymer, a coloring agent, an elastomer, and a thermoplastic resin, in addition to the above-mentioned component. Hereinafter, these components are also demonstrated.

상기한 감광성 수지 조성물에는, 블록 공중합체를 적합하게 배합할 수 있다. 블록 공중합체란, 성질이 다른 2종류 이상의 중합체가, 공유 결합으로 연결되어 긴 연쇄가 된 분자 구조의 공중합체를 말한다. 20℃~30℃의 범위에서 고체인 것이 바람직하다. 이 범위 내에 있어서 고체이면 되고, 이 범위 밖의 온도에 있어서도 고체여도 된다. 상기 온도 범위에 있어서 고체임으로써, 감광성 필름으로 했을 때나 지지 필름에 도포하여 가건조시켰 때의 점착성이 우수하다.A block copolymer can be mix | blended suitably to said photosensitive resin composition. The block copolymer refers to a copolymer having a molecular structure in which two or more kinds of polymers having different properties are covalently linked to form a long chain. It is preferable that it is solid in the range of 20 degreeC-30 degreeC. Solid may be sufficient in this range, and solid may be sufficient even at the temperature outside this range. By being solid in the said temperature range, it is excellent in the adhesiveness at the time of making it into a photosensitive film, or apply | coating to a support film and making it temporarily dry.

블록 공중합체로서는 XYX 또는 XYX'형 블록 공중합체가 바람직하다. XYX 또는 XYX'형 블록 공중합체 중, 중앙의 Y가 소프트 블록이며 유리 전이점 Tg가 낮고, 바람직하게는 0℃ 미만이고, 그 양쪽 외측 X 내지 X'가 하드 블록이며 Tg가 높고, 바람직하게는 0℃ 이상인 중합체 단위에 의해 구성되어 있는 것이 바람직하다. 유리 전이점 Tg는 시차 주사 열량 측정(DSC)에 의해 측정된다.As a block copolymer, XYX or XYX 'type block copolymer is preferable. Among the XYX or XYX 'type block copolymers, the central Y is a soft block, the glass transition point Tg is low, preferably less than 0 ° C, and both outer X to X' are hard blocks, and the Tg is high, preferably It is preferable that it is comprised by the polymer unit which is 0 degreeC or more. The glass transition point Tg is measured by differential scanning calorimetry (DSC).

또한, XYX 또는 XYX'형 블록 공중합체 중, X 내지 X'의 Tg가 50℃ 이상인 중합체 단위를 포함하고, Y의 Tg가 -20℃ 이하인 중합체 단위를 포함하는 블록 공중합체가 더욱 바람직하다. 또한, XYX 또는 XYX'형 블록 공중합체 중, X 내지 X'가, 카르복실기 함유 수지와의 상용성이 높은 것이 바람직하고, Y가 카르복실기 함유 수지와의 상용성이 낮은 것이 바람직하다. 이와 같이, 양단의 블록이 매트릭스에 상용이며, 중앙의 블록이 매트릭스에 불상용인 블록 공중합체로 함으로써, 매트릭스 중에 있어서 특이적인 구조를 나타내기 쉬워진다고 생각된다.Moreover, the block copolymer which contains the polymer unit whose Tg of X-X 'is 50 degreeC or more among the XYX or XYX' type block copolymer, and contains the polymer unit whose Tg of Y is -20 degrees C or less is more preferable. Moreover, in XYX or XYX 'type block copolymer, it is preferable that X-X' has high compatibility with carboxyl group-containing resin, and it is preferable that Y has low compatibility with carboxyl group-containing resin. Thus, it is thought that the block copolymer of both ends is compatible with a matrix, and the center block becomes a block copolymer incompatible with a matrix, and it becomes easy to show a specific structure in a matrix.

또한, 블록 공중합체는 XYX 또는 XYX'형뿐만 아니라 하드 블록과 소프트 블록 성분이 각각 적어도 1종 이상 있으면 특별히 한정되지 않고 사용할 수 있다.The block copolymer can be used without particular limitation as long as it has at least one hard block and soft block component as well as the XYX or XYX 'type.

X 내지 X' 성분으로서는 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA), 폴리스티렌(PS) 등이 바람직하고, Y 성분으로서는 폴리n-부틸아크릴레이트(PBA), 폴리부타디엔(PB) 등이 바람직하다. 또한, X 내지 X' 성분의 일부에 스티렌 유닛, 수산기 함유 유닛, 카르복실기 함유 유닛, 에폭시 함유 유닛, N 치환 아크릴아미드 유닛 등으로 대표되는 상기 카르복실기 함유 수지와 상용성이 우수한 친수성 유닛을 도입하여, 더 상용성을 향상시키는 것이 가능해진다. 본 발명자들은, 이와 같이 하여 얻어진 블록 공중합체가 상기한 카르복실기 함유 수지와의 상용성이 특히 양호한 것, 그리고, 놀랍게도 냉열 충격 내성을 향상시킬 수 있고, 더욱 놀랍게도 엘라스토머를 첨가한 물(物)은 유리 전이 온도(Tg)가 내려가는 경향이 있음에 반해, 상기 블록 공중합체를 첨가한 물질은 Tg가 내려가지 않는 경향이 있음을 알아내었다.As the X to X 'component, polymethyl methacrylate (PMMA), polystyrene (PS) and the like are preferable, and as the Y component, polyn-butyl acrylate (PBA), polybutadiene (PB) and the like are preferable. In addition, a hydrophilic unit excellent in compatibility with the carboxyl group-containing resin represented by a styrene unit, a hydroxyl group-containing unit, a carboxyl group-containing unit, an epoxy-containing unit, an N-substituted acrylamide unit, or the like is introduced into a part of the X to X 'component. It becomes possible to improve compatibility. The inventors have found that the block copolymer obtained in this way has particularly good compatibility with the carboxyl group-containing resin, and surprisingly improves the cold shock resistance, and even more surprisingly, the water to which the elastomer is added is glass. While the transition temperature (Tg) tends to decrease, it has been found that the material to which the block copolymer is added tends not to lower Tg.

블록 공중합체의 제조 방법으로서는, 예를 들어, 일본 특허 출원 제2005-515281호, 일본 특허 출원 제2007-516326호에 기재된 방법을 들 수 있다. 블록 공중합체의 시판품으로서는, 아르케마사 제조의 리빙 중합을 사용하여 제조되는 아크릴계 트리블록 공중합체를 들 수 있다. 폴리스티렌-폴리부타디엔-폴리메틸메타크릴레이트로 대표되는 SBM 타입, 폴리메틸메타크릴레이트-폴리부틸아크릴레이트-폴리메틸메타크릴레이트로 대표되는 MAM 타입, 또한 카르복실산 변성이나 친수기 변성 처리된 MAM N 타입이나 MAM A 타입을 들 수 있다. SBM 타입으로서는 E41, E40, E21, E20 등을 들 수 있고, MAM 타입으로서는 M51, M52, M53, M22 등을 들 수 있고, MAM N 타입으로서는 52N, 22N, MAM A 타입으로서는 SM4032XM10 등을 들 수 있다. 또한, 가부시키가이샤 쿠라레 제조의 쿠라리티도 메타크릴산메틸과 아크릴산부틸로부터 유도되는 블록 공중합이다.As a manufacturing method of a block copolymer, the method of Unexamined-Japanese-Patent Application 2005-515281 and Unexamined-Japanese-Patent Application 2007-516326 is mentioned, for example. As a commercial item of a block copolymer, the acryl-type triblock copolymer manufactured using living polymerization by Arkema company is mentioned. SBM type represented by polystyrene-polybutadiene-polymethylmethacrylate, MAM type represented by polymethylmethacrylate-polybutylacrylate-polymethylmethacrylate, and MAM N treated with carboxylic acid modification or hydrophilic group modification Type or MAM A type. Examples of the SBM type include E41, E40, E21, and E20. Examples of the MAM type include M51, M52, M53, and M22. Examples of the MAM N type include 52N, 22N, and MAM A type, SM4032XM10. . In addition, Kuraray made by Kuraray Co., Ltd. is also a block copolymer derived from methyl methacrylate and butyl acrylate.

블록 공중합체로서는 3원 이상의 블록 공중합체가 바람직하고, 리빙 중합법에 의해 합성된 분자 구조가 정밀하게 컨트롤된 블록 공중합체가 본 발명의 효과를 얻는 데 보다 바람직하다. 이것은, 리빙 중합법에 의해 합성된 블록 공중합체는 분자량 분포가 좁고, 각각의 유닛의 특징이 명확해졌기 때문이라고 생각된다. 사용하는 블록 공중합체의 분자량 분포는 2.5 이하가 바람직하고, 더욱 바람직하게는 2.0 이하이다.As the block copolymer, a block copolymer of three or more members is preferable, and a block copolymer in which the molecular structure synthesized by the living polymerization method is precisely controlled is more preferable for obtaining the effect of the present invention. This is considered to be because the block copolymer synthesized by the living polymerization method has a narrow molecular weight distribution, and the characteristics of each unit become clear. 2.5 or less are preferable and, as for the molecular weight distribution of the block copolymer to be used, More preferably, it is 2.0 or less.

블록 공중합체의 중량 평균 분자량은 일반적으로 20,000~400,000, 나아가 30,000~300,000의 범위에 있는 것이 바람직하다. 중량 평균 분자량이 20,000 미만이면 목적으로 하는 강인성, 유연성의 효과가 얻어지지 않고, 점착성도 열악하다. 한편, 중량 평균 분자량이 400,000을 초과하면, 광경화성 수지 조성물의 점도가 높아져, 인쇄성, 현상성이 현저하게 나빠진다.It is preferable that the weight average molecular weight of a block copolymer generally exists in the range of 20,000-400,000, Furthermore, 30,000-300,000. If the weight average molecular weight is less than 20,000, the desired effects of toughness and flexibility are not obtained, and the adhesiveness is also poor. On the other hand, when a weight average molecular weight exceeds 400,000, the viscosity of a photocurable resin composition will become high and printability and developability will remarkably worsen.

블록 공중합체의 배합량은, 조성물 중에 카르복실기 함유 수지를 포함하는 경우, 고형분 환산으로 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여, 1~50질량부의 범위가 바람직하고, 보다 바람직하게는 5~35질량부이다. 1질량부 이상에서 그 효과를 기대할 수 있고, 50질량부 이하에서 광경화성 수지 조성물로서 현상성이나 도포성이 양호해진다.When the compounding quantity of a block copolymer contains carboxyl group-containing resin in a composition, 1-50 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin in solid content conversion, More preferably, it is 5-35 mass parts. The effect can be expected at 1 mass part or more, and developability and applicability | paintability become favorable as a photocurable resin composition at 50 mass parts or less.

감광성 수지 조성물에는, 착색제가 포함되어 있어도 된다. 착색제로서는, 적, 청, 녹, 황 등의 공지된 착색제를 사용할 수 있고, 안료, 염료, 색소 중 어느 것이어도 된다. 단, 환경 부하 저감 및 인체에 대한 영향의 관점에서 할로겐을 함유하지 않는 것이 바람직하다.The coloring agent may be contained in the photosensitive resin composition. As a coloring agent, well-known coloring agents, such as red, blue, green, and sulfur, can be used, and any of a pigment, dye, and a pigment may be sufficient. However, it is preferable not to contain a halogen from a viewpoint of environmental load reduction and an influence on a human body.

적색 착색제로서는 모노아조계, 디스아조계, 아조레이크계, 벤즈이미다졸론계, 페릴렌계, 디케토피롤로피롤계, 축합 아조계, 안트라퀴논계, 퀴나크리돈계 등이 있고, 구체적으로는 이하와 같은 컬러 인덱스(C.I.; 더 소사이어티 오브 다이어즈 앤드 컬러리스츠(The Society of Dyers and Colourists) 발행) 번호가 부여되어 있는 것을 들 수 있다.Examples of the red colorant include monoazo, disazo, azolake, benzimidazolone, perylene, diketopyrrolopyrrole, condensed azo, anthraquinone, quinacridone, and the like. The same color index (CI; issued by The Society of Dyers and Colourists) number is given.

모노아조계 적색 착색제로서는, Pigment Red 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 12, 14, 15, 16, 17, 21, 22, 23, 31, 32, 112, 114, 146, 147, 151, 170, 184, 187, 188, 193, 210, 245, 253, 258, 266, 267, 268, 269 등을 들 수 있다. 또한, 디스아조계 적색 착색제로서는, Pigment Red 37, 38, 41 등을 들 수 있다. 또한, 모노아조 레이크계 적색 착색제로서는, Pigment Red 48:1, 48:2, 48:3, 48:4, 49:1, 49:2, 50:1, 52:1, 52:2, 53:1, 53:2, 57:1, 58:4, 63:1, 63:2, 64:1, 68 등을 들 수 있다. 또한, 벤즈이미다졸론계 적색 착색제로서는, Pigment Red 171, 175, 176, 185, 208 등을 들 수 있다. 또한, 페릴렌계 적색 착색제로서는, Solvent Red 135, 179, Pigment Red 123, 149, 166, 178, 179, 190, 194, 224 등을 들 수 있다. 또한, 디케토피롤로피롤계 적색 착색제로서는, Pigment Red 254, 255, 264, 270, 272 등을 들 수 있다. 또한, 축합 아조계 적색 착색제로서는, Pigment Red 220, 144, 166, 214, 220, 221, 242 등을 들 수 있다. 또한, 안트라퀴논계 적색 착색제로서는, Pigment Red 168, 177, 216, Solvent Red 149, 150, 52, 207 등을 들 수 있다. 또한, 퀴나크리돈계 적색 착색제로서는, Pigment Red 122, 202, 206, 207, 209 등을 들 수 있다.As a mono azo red coloring agent, Pigment Red 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 12, 14, 15, 16, 17, 21, 22, 23, 31, 32, 112, 114, 146 , 147, 151, 170, 184, 187, 188, 193, 210, 245, 253, 258, 266, 267, 268, 269, and the like. Moreover, Pigment Red 37, 38, 41 etc. are mentioned as a disazo red coloring agent. Moreover, as a monoazo lake type red coloring agent, Pigment Red 48: 1, 48: 2, 48: 3, 48: 4, 49: 1, 49: 2, 50: 1, 52: 1, 52: 2, 53: 1, 53: 2, 57: 1, 58: 4, 63: 1, 63: 2, 64: 1, 68 and the like. Moreover, Pigment Red 171, 175, 176, 185, 208 etc. are mentioned as a benzimidazolone type red coloring agent. Examples of the perylene-based red colorant include Solvent Red 135, 179, Pigment Red 123, 149, 166, 178, 179, 190, 194, and 224. Moreover, Pigment Red 254, 255, 264, 270, 272 etc. are mentioned as a diketopyrrolopyrrole red coloring agent. Moreover, Pigment Red 220, 144, 166, 214, 220, 221, 242 etc. are mentioned as a condensation azo red coloring agent. Moreover, as an anthraquinone type red coloring agent, Pigment Red 168, 177, 216, Solvent Red 149, 150, 52, 207 etc. are mentioned. Examples of the quinacridone-based red colorant include Pigment Red 122, 202, 206, 207, and 209.

청색 착색제로서는 프탈로시아닌계, 안트라퀴논계가 있고, 안료계는 피그먼트(Pigment)로 분류되어 있는 화합물을 들 수 있고, 예를 들어 Pigment Blue 15, 15:1, 15:2, 15:3, 15:4, 15:6, 16, 60. 염료계로서는, Solvent Blue 35, 63, 68, 70, 83, 87, 94, 97, 122, 136, 67, 70 등을 사용할 수 있다. 상기 이외에도, 금속 치환 또는 비치환된 프탈로시아닌 화합물도 사용할 수 있다.Examples of the blue colorant include phthalocyanine-based and anthraquinone-based compounds, and pigment-based compounds include pigments classified as pigments. For example, Pigment Blue 15, 15: 1, 15: 2, 15: 3, 15 : 4, 15: 6, 16, 60. Solvent Blue 35, 63, 68, 70, 83, 87, 94, 97, 122, 136, 67, 70, or the like can be used. In addition to the above, a metal substituted or unsubstituted phthalocyanine compound can also be used.

황색 착색제로서는 모노아조계, 디스아조계, 축합 아조계, 벤즈이미다졸론계, 이소인돌리논계, 안트라퀴논계 등을 들 수 있고, 예를 들어 안트라퀴논계 황색 착색제로서는, Solvent Yellow 163, Pigment Yellow 24, 108, 193, 147, 199, 202 등을 들 수 있다. 이소인돌리논계 황색 착색제로서는, Pigment Yellow 110, 109, 139, 179, 185 등을 들 수 있다. 축합 아조계 황색 착색제로서는, Pigment Yellow 93, 94, 95, 128, 155, 166, 180 등을 들 수 있다. 벤즈이미다졸론계 황색 착색제로서는, Pigment Yellow 120, 151, 154, 156, 175, 181 등을 들 수 있다. 또한, 모노아조계 황색 착색제로서는, Pigment Yellow 1, 2, 3, 4, 5, 6, 9, 10, 12, 61, 62, 62:1, 65, 73, 74, 75, 97, 100, 104, 105, 111, 116, 167, 168, 169, 182, 183 등을 들 수 있다. 또한, 디스아조계 황색 착색제로서는, Pigment Yellow 12, 13, 14, 16, 17, 55, 63, 81, 83, 87, 126, 127, 152, 170, 172, 174, 176, 188, 198 등을 들 수 있다.Examples of the yellow colorant include monoazo, disazo, condensed azo, benzimidazolone, isoindolinone, anthraquinone, and the like. Examples of the anthraquinone yellow colorant include Solvent Yellow 163 and Pigment. Yellow 24, 108, 193, 147, 199, 202, etc. are mentioned. Pigment Yellow 110, 109, 139, 179, 185 etc. are mentioned as an isoindolinone type yellow coloring agent. Examples of the condensed azo yellow colorant include Pigment Yellow 93, 94, 95, 128, 155, 166, 180 and the like. Pigment Yellow 120, 151, 154, 156, 175, 181 etc. are mentioned as a benzimidazolone type yellow coloring agent. Moreover, as a monoazo yellow coloring agent, Pigment Yellow 1, 2, 3, 4, 5, 6, 9, 10, 12, 61, 62, 62: 1, 65, 73, 74, 75, 97, 100, 104 , 105, 111, 116, 167, 168, 169, 182, 183 and the like. In addition, as a disazo yellow colorant, Pigment Yellow 12, 13, 14, 16, 17, 55, 63, 81, 83, 87, 126, 127, 152, 170, 172, 174, 176, 188, 198, etc. Can be mentioned.

그 밖에, 보라색, 오렌지, 갈색, 흑색, 백색 등의 착색제를 첨가해도 된다. 구체적으로는, Pigment Black 1, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 18, 20, 25, 26, 28, 29, 30, 31, 32, Pigment Violet 19, 23, 29, 32, 36, 38, 42, Solvent Violet 13, 36, C.I. Pigment Orange 1, 5, 13, 14, 16, 17, 24, 34, 36, 38, 40, 43, 46, 49, 51, 61, 63, 64, 71, 73, Pigment Brown 23, 25, 산화티타늄, 카본 블랙 등을 들 수 있다.In addition, you may add coloring agents, such as purple, orange, brown, black, white. Specifically, Pigment Black 1, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 18, 20, 25, 26, 28, 29, 30, 31, 32, Pigment Violet 19, 23, 29, 32, 36, 38, 42, Solvent Violet 13, 36, CI Pigment Orange 1, 5, 13, 14, 16, 17, 24, 34, 36, 38, 40, 43, 46, 49, 51, 61, 63, 64, 71, 73, Pigment Brown 23, 25, titanium oxide And carbon black.

착색제의 배합량은 특별히 제한은 없지만, 조성물 중에 카르복실기 함유 수지를 포함하는 경우, 고형분 환산으로 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여, 바람직하게는 10질량부 이하, 보다 바람직하게는 0.1~7질량부이다. 단, 산화티타늄 등의 백색 착색제의 배합량은, 고형분 환산으로 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여, 바람직하게는 0.1~200질량부, 보다 바람직하게는 1~100질량부, 보다 바람직하게는 3~80질량부이다.Although the compounding quantity of a coloring agent does not have a restriction | limiting in particular, When a carboxyl group-containing resin is included in a composition, it is 10 mass parts or less with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin in solid content conversion, Preferably it is 0.1-7 mass parts. However, the compounding quantity of white coloring agents, such as titanium oxide, is 0.1-200 mass parts with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin in solid content conversion, More preferably, it is 1-100 mass parts, More preferably, it is 3-80 It is a mass part.

또한, 감광성 수지 조성물에는, 얻어지는 경화물에 대한 유연성의 부여, 경화물의 취성의 개선 등을 목적으로 엘라스토머를 배합할 수 있다. 엘라스토머로서는, 예를 들어 폴리에스테르계 엘라스토머, 폴리우레탄계 엘라스토머, 폴리에스테르우레탄계 엘라스토머, 폴리아미드계 엘라스토머, 폴리에스테르아미드계 엘라스토머, 아크릴계 엘라스토머, 올레핀계 엘라스토머를 들 수 있다. 또한, 각종 골격을 갖는 에폭시 수지의 일부 또는 전부의 에폭시기를 양쪽 말단 카르복실산 변성형 부타디엔-아크릴로니트릴 고무로 변성한 수지 등도 사용할 수 있다. 나아가 에폭시 함유 폴리부타디엔계 엘라스토머, 아크릴 함유 폴리부타디엔계 엘라스토머, 수산기 함유 폴리부타디엔계 엘라스토머, 수산기 함유 이소프렌계 엘라스토머 등도 사용할 수 있다. 엘라스토머는, 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종류 이상의 혼합물로서 사용해도 된다.Moreover, an elastomer can be mix | blended with the photosensitive resin composition for the purpose of providing the softness | flexibility with respect to the hardened | cured material obtained, improvement of the brittleness of hardened | cured material, etc. Examples of the elastomer include polyester elastomers, polyurethane elastomers, polyester urethane elastomers, polyamide elastomers, polyesteramide elastomers, acrylic elastomers, and olefin elastomers. Moreover, the resin etc. which modified | denatured some or all the epoxy groups of the epoxy resin which has various skeletons with both terminal carboxylic acid modified butadiene- acrylonitrile rubber can also be used. Furthermore, epoxy-containing polybutadiene-based elastomers, acrylic-containing polybutadiene-based elastomers, hydroxyl-containing polybutadiene-based elastomers, hydroxyl-containing isoprene-based elastomers, and the like can also be used. Elastomer may be used individually by 1 type, and may be used as two or more types of mixtures.

또한, 얻어지는 경화물의 가요성, 지촉 건조성의 향상을 목적으로 관용 공지된 바인더 중합체를 사용할 수 있다. 바인더 중합체로서는 셀룰로오스계, 폴리에스테르계, 페녹시 수지계 중합체가 바람직하다. 셀룰로오스계 중합체로서는 이스트만사 제조 셀룰로오스아세테이트부티레이트(CAB), 셀룰로오스아세테이트프로피오네이트(CAP) 시리즈를 들 수 있고, 폴리에스테르계 중합체로서는 도요보 가부시끼가이샤 제조 바이런 시리즈, 페녹시 수지계 중합체로서는 비스페놀 A, 비스페놀 F 및 그들의 수소 첨가 화합물의 페녹시 수지가 바람직하다.Moreover, a conventionally well-known binder polymer can be used for the purpose of improving the flexibility of the hardened | cured material obtained, and a touch-drying property. As a binder polymer, a cellulose type, a polyester type, and a phenoxy resin type polymer are preferable. Examples of the cellulose polymers include cellulose acetate butyrate (CAB) and cellulose acetate propionate (CAP) series manufactured by Eastman Co., Ltd .; and Byron series manufactured by Toyobo Kabushiki Kaisha Co., Ltd. and bisphenol A as phenoxy resin polymers as polyester polymers. Phenoxy resins of bisphenol F and their hydrogenated compounds are preferred.

바인더 중합체의 배합량은, 조성물 중에 카르복실기 함유 수지를 포함하는 경우, 고형분 환산으로 카르복실기 함유 수지 100질량부에 대하여, 바람직하게는 50질량부 이하, 보다 바람직하게는 1~30질량부, 특히 바람직하게는 5~30질량부이다. 바인더 중합체의 배합량이 50질량부 이하이면, 감광성 수지 조성물의 알칼리 현상성이 보다 우수하고, 현상 가능한 가사 시간이 길어진다.When the compounding quantity of a binder polymer contains carboxyl group-containing resin in a composition, it is 50 mass parts or less with respect to 100 mass parts of carboxyl group-containing resin in solid content conversion, More preferably, it is 1-30 mass parts, Especially preferably, It is 5-30 mass parts. When the compounding quantity of a binder polymer is 50 mass parts or less, alkali developability of the photosensitive resin composition is more excellent, and the pot life which can be developed becomes long.

또한, 감광성 수지 조성물에는, 필요에 따라서 추가로, 밀착 촉진제, 산화 방지제, 자외선 흡수제 등의 성분을 배합할 수 있다. 이들은, 전자 재료의 분야에 있어서 공지된 물(物)을 사용할 수 있다. 또한, 미분 실리카, 하이드로탈사이트, 유기 벤토나이트, 몬모릴로나이트 등의 공지 관용의 증점제, 실리콘계, 불소계, 고분자계 등의 소포제 및 레벨링제 중 적어도 어느 1종, 이미다졸계, 티아졸계, 트리아졸계 등의 실란 커플링제, 방청제, 형광 증백제 등과 같은 공지 관용의 첨가제류 중 적어도 어느 1종을 배합할 수 있다.Moreover, components, such as an adhesion promoter, antioxidant, and a ultraviolet absorber, can be mix | blended with the photosensitive resin composition further as needed. These can use water well-known in the field of an electronic material. In addition, at least one of known conventional thickeners such as finely divided silica, hydrotalcite, organic bentonite and montmorillonite, antifoaming agents and leveling agents such as silicone, fluorine and polymers, and silanes such as imidazole, thiazole and triazole At least any one of known conventional additives such as coupling agents, rust inhibitors, fluorescent brighteners and the like can be blended.

감광성 필름은, 지지 필름의 한쪽 면에, 상기한 감광성 수지 조성물을 도포하고, 건조시켜 형성할 수 있다. 감광성 수지 조성물의 도포성을 고려하여, 감광성 수지 조성물을 유기 용제로 희석하여 적절한 점도로 조정하고, 콤마 코터, 블레이드 코터, 립 코터, 로드 코터, 스퀴즈 코터, 리버스 코터, 트랜스퍼 롤 코터, 그라비아 코터, 스프레이 코터 등으로 지지 필름의 한쪽 면에 균일한 두께로 도포하고, 통상, 50~130℃의 온도에서 1~30분간 건조시켜 유기 용제를 휘발시켜, 지촉 건조성의 도막을 얻을 수 있다. 도포막 두께에 대해서는 특별히 제한은 없지만, 일반적으로, 건조 후의 막 두께로, 5~150㎛, 바람직하게는 10~60㎛의 범위에서 적절히 선택된다.The photosensitive film can apply | coat the above-mentioned photosensitive resin composition to one surface of a support film, and can dry and form it. In consideration of the applicability of the photosensitive resin composition, the photosensitive resin composition is diluted with an organic solvent and adjusted to an appropriate viscosity, and a comma coater, blade coater, lip coater, rod coater, squeeze coater, reverse coater, transfer roll coater, gravure coater, It is apply | coated to one surface of a support film with a spray coater etc. with uniform thickness, and it is usually dried for 1 to 30 minutes at the temperature of 50-130 degreeC, and an organic solvent can be volatilized and a dry contact coating film can be obtained. There is no restriction | limiting in particular about coating film thickness, Generally, it is a film thickness after drying, and is selected suitably in the range of 5-150 micrometers, Preferably it is 10-60 micrometers.

사용할 수 있는 유기 용제로서는, 특별히 제한은 없지만, 예를 들어 케톤류, 방향족 탄화수소류, 글리콜에테르류, 글리콜에테르아세테이트류, 에스테르류, 알코올류, 지방족 탄화수소, 석유계 용제 등을 들 수 있다. 보다 구체적으로는, 메틸에틸케톤, 시클로헥사논 등의 케톤류; 톨루엔, 크실렌, 테트라메틸벤젠 등의 방향족 탄화수소류; 셀로솔브, 메틸셀로솔브, 부틸셀로솔브, 카르비톨, 메틸카르비톨, 부틸카르비톨, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 디프로필렌글리콜모노메틸에테르, 디프로필렌글리콜디에틸에테르, 트리에틸렌글리콜모노에틸에테르 등의 글리콜에테르류; 아세트산에틸, 아세트산부틸, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 디프로필렌글리콜메틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜메틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜에틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜부틸에테르아세테이트 등의 에스테르류; 에탄올, 프로판올, 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜 등의 알코올류; 옥탄, 데칸 등의 지방족 탄화수소; 석유 에테르, 석유 나프타, 수소 첨가 석유 나프타, 솔벤트 나프타 등의 석유계 용제 등이다. 이러한 유기 용제는, 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상의 혼합물로서 사용해도 된다.Although there is no restriction | limiting in particular as an organic solvent which can be used, For example, ketones, aromatic hydrocarbons, glycol ethers, glycol ether acetates, ester, alcohol, aliphatic hydrocarbon, petroleum solvent, etc. are mentioned. More specifically, Ketones, such as methyl ethyl ketone and cyclohexanone; Aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene and tetramethylbenzene; Cellosolve, methyl cellosolve, butyl cellosolve, carbitol, methyl carbitol, butyl carbitol, propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol diethyl ether, triethylene glycol monoethyl ether Glycol ethers such as these; Esters such as ethyl acetate, butyl acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, dipropylene glycol methyl ether acetate, propylene glycol methyl ether acetate, propylene glycol ethyl ether acetate, and propylene glycol butyl ether acetate; Alcohols such as ethanol, propanol, ethylene glycol and propylene glycol; Aliphatic hydrocarbons such as octane and decane; Petroleum solvents such as petroleum ether, petroleum naphtha, hydrogenated petroleum naphtha, and solvent naphtha. These organic solvents may be used individually by 1 type, and may be used as 2 or more types of mixtures.

유기 용제의 휘발 건조는, 열풍 순환식 건조로, IR로, 핫 플레이트, 컨벡션 오븐 등(증기에 의한 공기 가열 방식의 열원을 구비한 것을 사용하여 건조기 내의 열풍을 향류 접촉시키는 방법 및 노즐로부터 지지체에 분사하는 방식)을 사용하여 행할 수 있다.The volatilization drying of the organic solvent is a hot air circulation drying furnace, an IR plate, a hot plate, a convection oven, or the like. Spraying method).

[감광성 필름 적층체][Photosensitive Film Laminate]

본 발명의 다른 실시 형태인 감광성 필름 적층체는, 상기 어느 감광성 필름에 지지 필름이 적층되어 있는 것을 말한다. 또한, 본 발명의 감광성 필름 적층체는, 추가로 보호 필름이 적층되어 이루어지는 것이 바람직하다. 이하, 상세에 대하여 설명한다.The photosensitive film laminated body which is another embodiment of this invention says that the support film is laminated | stacked on said any photosensitive film. Moreover, it is preferable that the protective film is further laminated | stacked in the photosensitive film laminated body of this invention. The details will be described below.

[지지 필름][Support film]

지지 필름은, 상기한 감광성 필름(즉, 감광성 수지 조성물을 포함하는 층, 이하, 「감광성 수지층」이라 약칭하는 경우가 있음)을 지지함과 함께, 감광성 필름의 노광, 현상 시에, 감광성 필름의 지지 필름과 접하는 측의 표면에 소정의 표면 형태를 부형하는 역할을 갖는 것이다. 본 발명에 있어서는, 감광성 필름과 접하는 면측의 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수가 3.0×102개 이상인 지지 필름을 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 감광성 필름과 접하는 면측의 표면의 산술 평균 표면 조도 Ra'가 0.05㎛ 이상인 지지 필름을 사용하는 것이 보다 바람직하다. 이러한 표면 형태를 갖는 지지 필름을 사용함으로써, 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수가 3.0×102개 이상인 감광성 필름을 형성하기 쉬워지고, 나아가 0.05㎛ 이상의 산술 평균 표면 조도 Ra를 갖는 감광성 필름을 형성하기 쉬워진다. 즉, 지지 필름의 소정의 표면 형태가 감광성 필름의 표면에 부형됨으로써, 후에 형성되는 경화 피막과 다이 어태치재와의 밀착성을 개선할 수 있으며, 나아가 외관 검사에 있어서 수율을 개선할 수 있는 감광성 필름을 형성하기 쉬워지는 점에서 유효하다. 지지 필름 표면의 단위 면적 1mm2 중의 돌출부의 수는 4.0×102개 이상인 것이 보다 바람직하고, 5.0×102개 이상인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 상한을 설정할 경우, 2.0×104개 이하가 바람직하고, 1.5×104개 이하가 보다 바람직하고, 1.0×104개 이하가 더욱 바람직하다. 또한, 지지 필름 표면의 돌출부는 균일해도 불균일해도 되지만, 불균일한 것이 바람직하다.A support film supports said photosensitive film (namely, the layer containing a photosensitive resin composition, hereafter abbreviated as "photosensitive resin layer"), and at the time of exposure and image development of a photosensitive film, a photosensitive film It has a role of shaping a predetermined surface shape on the surface of the side in contact with the supporting film. In this invention, it is preferable to use the support film whose number of protrusions per unit area 1mm <2> of the surface of the surface side which contact | connects a photosensitive film is 3.0 * 10 <2> or more. Moreover, it is more preferable to use the support film whose arithmetic mean surface roughness Ra 'of the surface of the surface side which contact | connects a photosensitive film is 0.05 micrometer or more. By using the support film which has such a surface form, it becomes easy to form the photosensitive film whose number of recessed parts per unit area 1mm <2> of 3.0 * 10 <2> or more, and further has a photosensitive film which has an arithmetic mean surface roughness Ra of 0.05 micrometer or more. It becomes easy to form. That is, the predetermined surface form of the support film is shaped on the surface of the photosensitive film, whereby the adhesion between the cured film formed later and the die attach material can be improved, and furthermore, the photosensitive film can be improved in appearance inspection. It is effective at the point which becomes easy to form. The number of the support protrusions of the unit area of 1mm 2 of the film surface is more preferably not less than 4.0 × 10 2 pieces, and 5.0 and more preferably 2 × 10 pieces or more. Moreover, when an upper limit is set, 2.0 * 10 <4> or less is preferable, 1.5 * 10 <4> or less is more preferable, 1.0 * 10 <4> or less is more preferable. Moreover, although the protrusion part of the support film surface may be uniform or nonuniform, it is preferable that it is nonuniform.

또한, 지지 필름의 산술 평균 표면 조도 Ra'의 범위는 0.06㎛ 이상인 것이 더욱 바람직하고, 0.07㎛ 이상인 것이 특히 바람직하다. 또한 상한을 설정할 경우, 5.0㎛ 이하인 것이 바람직하고, 3.0㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 1.0㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하다. 여기서, 지지 필름 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수란, 대상이 되는 지지 필름의 표면 요철을, z축을 높이 방향으로 하여 삼차원 측정하고, 얻어진 z값의 집합체의 최댓값과 최솟값을 구하여, 그 최댓값과 최솟값으로부터 산출되는 평균값보다 0.2㎛ 높은 Zs'값을 역치로 하고, 그 역치 이상의 z값을 갖는 영역을 돌출부 영역으로 하여, 단위 면적 1mm2 중에 존재하는 돌출부 영역의 수를 셈으로써 산출되는 값을 말하는 것으로 한다. 또한, 산술 평균 표면 조도 Ra'가 의미하는 바는, 전술한 [감광성 필름]에서 설명한 바와 같다. 구체적인 측정 방법에 대해서는, 전술한 바와 같다. 또한, 지지 필름 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수와 감광성 필름 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수는 반드시 일치하는 것은 아니고, 또한 동일하게, 지지 필름 표면의 산술 표면 조도 Ra'와 감광성 필름 표면의 산술 표면 조도 Ra도 반드시 일치하는 것은 아니지만, 지지 필름의 표면 형태를 적절히 조정함으로써, 감광성 필름 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수 및 산술 표면 조도 Ra를, 상기한 바와 같은 특정한 범위 내로 할 수 있다.Moreover, it is more preferable that the range of arithmetic mean surface roughness Ra 'of a support film is 0.06 micrometer or more, and it is especially preferable that it is 0.07 micrometer or more. Moreover, when setting an upper limit, it is preferable that it is 5.0 micrometers or less, It is more preferable that it is 3.0 micrometers or less, It is further more preferable that it is 1.0 micrometer or less. Here, the number of protrusions per unit area of 1 mm 2 of the surface of the supporting film is a three-dimensional measurement of the surface unevenness of the target supporting film with the z-axis as the height direction to obtain the maximum value and the minimum value of the aggregate of z values obtained, and the maximum value thereof. The value calculated by counting the number of protrusion areas existing in the unit area of 1 mm 2 and using the Zs' value 0.2 µm higher than the average value calculated from the minimum value as the threshold value, and the area having the z value equal to or more than that threshold value as the protrusion area. I say it. In addition, arithmetic mean surface roughness Ra 'means what was demonstrated by the above-mentioned [photosensitive film]. The specific measuring method is as described above. In addition, the number of protrusions per unit area of 1 mm 2 of the support film surface and the number of recesses per unit area of 1 mm 2 of the photosensitive film surface do not necessarily coincide with each other, and the arithmetic surface roughness Ra ′ and the photosensitive film of the support film surface are the same. Although the arithmetic surface roughness Ra of the surface does not necessarily coincide, by appropriately adjusting the surface shape of the support film, the number of recesses and the arithmetic surface roughness Ra per unit area of 1 mm 2 of the surface of the photosensitive film can be made within a specific range as described above. Can be.

지지 필름으로서는, 상기와 같은 표면 형태를 갖는 것이라면 특별히 제한없이 사용할 수 있고, 예를 들어 폴리에틸렌테레프탈레이트나 폴리에틸렌나프탈레이트 등의 폴리에스테르 필름, 폴리이미드 필름, 폴리아미드이미드 필름, 폴리프로필렌 필름, 폴리스티렌 필름 등의 열가소성 수지를 포함하는 필름을 적합하게 사용할 수 있지만, 이들 중에서도, 내열성, 기계적 강도, 취급성 등의 관점에서, 폴리에스테르 필름을 적합하게 사용할 수 있다. 지지 필름은 단층이어도 되고, 2층 이상이 적층되어 있어도 된다.As a support film, if it has the above-mentioned surface form, it can use without a restriction | limiting especially, For example, polyester films, such as a polyethylene terephthalate and a polyethylene naphthalate, a polyimide film, a polyamideimide film, a polypropylene film, a polystyrene film Although the film containing thermoplastic resins, such as these, can be used conveniently, Among these, a polyester film can be used suitably from a viewpoint of heat resistance, mechanical strength, handleability, etc. A single layer may be sufficient as a support film, and 2 or more layers may be laminated | stacked.

또한, 상기한 바와 같은 열가소성 수지 필름은, 강도를 향상시킬 목적으로, 1축 방향 또는 2축 방향으로 연신된 필름을 사용하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable to use the film extended | stretched to the uniaxial direction or the biaxial direction for the thermoplastic resin film as mentioned above in order to improve intensity | strength.

상기한 바와 같은 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수가 3.0×102개 이상이며, 나아가 산술 평균 표면 조도 Ra'가 0.05㎛ 이상인 지지 필름으로서, 열가소성 수지 필름을 사용하는 경우, 필름을 성막할 때의 수지 중에 필러를 첨가(혼련 처리)하거나, 매트 코팅(코팅 처리)하거나, 필름 표면을 샌드 블라스트 처리와 같은 블라스트 처리를 하거나, 또는 헤어라인 가공, 또는 케미컬 에칭 등에 의해, 표면을 상기한 바와 같은 소정 형태로 할 수 있다. 예를 들어, 수지 중에 필러를 첨가하는 경우에, 필러의 입경이나 첨가량을 조정함으로써, 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수나 산술 평균 표면 조도 Ra'를 제어할 수 있다. 또한, 지지 필름의 표면을 코팅 처리하는 경우에는, 코팅제의 종류나 양을 조정함으로써, 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수나 산술 평균 표면 조도 Ra'를 제어할 수 있다. 또한, 블라스트 처리하는 경우에는, 블라스트재나 블라스트압 등의 처리 조건을 조정함으로써, 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수나 산술 평균 표면 조도 Ra'를 제어할 수 있다. 이러한 표면 조도를 갖는 열가소성 수지 필름으로서, 시판되는 것을 사용해도 되고, 예를 들어 유니티카 가부시끼가이샤 제조 CM-25, 가부시키가이샤 기모토 제조 G50 등을 들 수 있지만, 이들에 한정되는 것은 아니다.When the number of protrusions per unit area 1 mm 2 of the surface as described above is 3.0 × 10 2 or more, and the arithmetic mean surface roughness Ra 'is 0.05 μm or more, when a thermoplastic resin film is used, a film is formed. The surface is prepared by adding a filler (kneading treatment), matte coating (coating treatment), blast treatment such as sand blast treatment, or hairline treatment, chemical etching, or the like in the resin at the time. It can be made in the same predetermined form. For example, when adding a filler in resin, the number of protrusions and arithmetic mean surface roughness Ra 'per unit area of 1 mm <2> can be controlled by adjusting the particle size and addition amount of a filler. In addition, when coating the surface of a support film, the number and arithmetic mean surface roughness Ra 'of a protrusion per unit area 1mm <2> can be controlled by adjusting the kind and quantity of a coating agent. In the case of blasting, the number of protrusions and the arithmetic mean surface roughness Ra 'per unit area of 1 mm 2 can be controlled by adjusting processing conditions such as blasting material and blast pressure. As a thermoplastic resin film which has such a surface roughness, you may use a commercially available thing, For example, Unitika Co., Ltd. CM-25, Kikimoto Co., Ltd. G50, etc. are mentioned, but it is not limited to these.

지지 필름의 감광성 수지층을 설치하는 면에는 이형 처리가 실시되어 있어도 된다. 예를 들어, 왁스류, 실리콘 왁스, 알키드계 수지, 우레탄계 수지, 멜라민계 수지, 실리콘계 수지 등의 이형제를 적당한 용제에 용해 또는 분산시켜 조제한 도공액을, 롤 코팅법, 스프레이 코팅법 등의 코팅법, 그라비아 인쇄법, 스크린 인쇄법 등의 공지된 수단에 의해, 지지 필름 표면에 도포, 건조시킴으로써, 이형 처리를 실시할 수 있다.The mold release process may be given to the surface in which the photosensitive resin layer of a support film is provided. For example, coating methods prepared by dissolving or dispersing release agents such as waxes, silicone waxes, alkyd resins, urethane resins, melamine resins, and silicone resins in a suitable solvent may be coated by a roll coating method or a spray coating method. A mold release process can be performed by apply | coating and drying to a support film surface by well-known means, such as the gravure printing method and the screen printing method.

지지 필름의 두께는, 특별히 제한되는 것은 아니지만 대략 10~150㎛의 범위에서 용도에 따라서 적절히 선택된다.Although the thickness in particular of a support film is not restrict | limited, It selects suitably according to a use in the range of about 10-150 micrometers.

또한, 본 발명에 의한 감광성 필름 적층체는, 상기 어느 감광성 필름의 표면에 오목부를 갖는 면측에 지지 필름이 적층되어 이루어지는 것이, 다이 어태치재와의 밀착성이 우수하고, 또한 외관 검사에 있어서 수율을 개선한다는 본 발명의 효과를 발휘하기 쉬워지는 점에서 바람직하다.Moreover, in the photosensitive film laminated body which concerns on this invention by which the support film is laminated | stacked on the surface side which has a recessed part in the surface of any one said photosensitive film, it is excellent in adhesiveness with a die attach material, and improves a yield in an external inspection. It is preferable at the point which becomes easy to exhibit the effect of this invention.

[보호 필름][Protective film]

본 발명에 의한 감광성 필름 적층체는, 상기한 감광성 수지층의 표면에 티끌 등이 부착되는 것을 방지함과 함께 취급성을 향상시킬 목적으로, 감광성 수지층의 지지 필름과는 반대면에 보호 필름이 설치되어 있어도 된다.The photosensitive film laminate according to the present invention has a protective film on the opposite side to the support film of the photosensitive resin layer for the purpose of preventing dust and the like from adhering to the surface of the photosensitive resin layer and improving the handleability. It may be installed.

보호 필름으로서는, 예를 들어 폴리에스테르 필름, 폴리에틸렌 필름, 폴리테트라플루오로에틸렌 필름, 폴리프로필렌 필름, 표면 처리한 종이 등을 사용할 수 있지만, 보호 필름과 감광성 수지층과의 접착력이, 지지 필름과 감광성 수지층과의 접착력보다도 작아지는 재료를 선정하는 것이 바람직하다. 또한, 감광성 필름 적층체의 사용 시에, 보호 필름을 박리하기 쉽게 하기 위해서, 보호 필름의 감광성 수지층과 접하는 면에 상기한 바와 같은 이형 처리를 실시해도 된다.As a protective film, a polyester film, a polyethylene film, a polytetrafluoroethylene film, a polypropylene film, the surface-treated paper etc. can be used, for example, The adhesive force of a protective film and the photosensitive resin layer has a support film and photosensitive It is preferable to select the material which becomes smaller than the adhesive force with a resin layer. In addition, when using a photosensitive film laminated body, in order to make it easy to peel a protective film, you may perform the mold release process as mentioned above to the surface which contact | connects the photosensitive resin layer of a protective film.

보호 필름의 두께는, 특별히 제한되는 것은 아니지만 대략 10~150㎛의 범위에서 용도에 따라서 적절히 선택된다.Although the thickness in particular of a protective film is not restrict | limited, It selects suitably according to a use in the range of about 10-150 micrometers.

<경화물 및 프린트 배선판의 제조 방법><Method of manufacturing hardened and printed wiring board>

본 발명의 감광성 필름, 또는 감광성 필름 적층체를 사용하여 경화물이 형성된다. 이러한 경화물의 형성 방법 및 회로 패턴이 형성된 기판 상에 상기 경화물(경화 피막)을 구비한 프린트 배선판을 제조하는 방법을 설명한다. 일례로서, 보호 필름을 구비한 감광성 필름 적층체를 사용하여 프린트 배선판을 제조하는 방법을 설명한다. 우선, i) 상기한 감광성 필름 적층체로부터 보호 필름을 박리하여, 감광성 필름을 노출시키고, ii) 상기 회로 패턴이 형성된 기판 상에, 상기 감광성 필름 적층체의 감광성 필름을 접합시키고, iii) 상기 감광성 필름 적층체의 지지 필름 상으로부터 노광을 행하고, iv) 상기 감광성 필름 적층체로부터 지지 필름을 박리하고 현상을 행함으로써, 상기 기판 상에 패터닝된 감광성 필름을 형성하고, v) 상기 패터닝된 감광성 필름을 광 조사 내지 열에 의해 경화시켜, 경화 피막을 형성함으로써 프린트 배선판이 형성된다. 또한, 보호 필름이 설치되지 않은 감광성 필름 적층체를 사용하는 경우에는, 보호 필름의 박리 공정(i 공정)이 불필요한 것은 물론이다. 이하, 각 공정에 대하여 설명한다.Hardened | cured material is formed using the photosensitive film or photosensitive film laminated body of this invention. The formation method of such hardened | cured material and the method of manufacturing the printed wiring board provided with the said hardened | cured material (hardened film) on the board | substrate with which the circuit pattern was formed are demonstrated. As an example, the method to manufacture a printed wiring board using the photosensitive film laminated body provided with a protective film is demonstrated. First, i) peeling a protective film from said photosensitive film laminated body, exposing a photosensitive film, ii) bonding the photosensitive film of the said photosensitive film laminated body on the board | substrate with the said circuit pattern, iii) said photosensitive Exposing from the support film of the film laminate, and iv) peeling the support film from the photosensitive film laminate and performing development to form a patterned photosensitive film on the substrate, and v) forming the patterned photosensitive film. A printed wiring board is formed by hardening by light irradiation or a heat and forming a hardened film. In addition, when using the photosensitive film laminated body in which a protective film is not provided, of course, the peeling process (i process) of a protective film is unnecessary. Hereinafter, each process is demonstrated.

먼저, 감광성 필름 적층체로부터 보호 필름을 박리하여 감광성 수지층을 노출시키고, 회로 패턴이 형성된 기판 상에, 감광성 필름 적층체의 감광성 수지층을 접합시킨다. 회로 패턴이 형성된 기판으로서는, 미리 회로 형성된 프린트 배선판이나 플렉시블 프린트 배선판 외에도, 종이 페놀, 종이 에폭시, 유리천 에폭시, 유리 폴리이미드, 유리천/부직포 에폭시, 유리천/종이 에폭시, 합성 섬유 에폭시, 불소 수지·폴리에틸렌·폴리페닐렌에테르, 폴리페닐렌옥사이드·시아네이트에스테르 등을 사용한 고주파 회로용 동장 적층판 등의 재질을 사용한 것이며 모든 그레이드(FR-4 등)의 동장 적층판, 기타 폴리이미드 필름, PET 필름, 유리 기판, 세라믹 기판, 웨이퍼판 등을 들 수 있다.First, a protective film is peeled from a photosensitive film laminated body, a photosensitive resin layer is exposed, and the photosensitive resin layer of the photosensitive film laminated body is bonded on the board | substrate with a circuit pattern. As a board | substrate with a circuit pattern, in addition to the printed wiring board and flexible printed wiring board which were formed beforehand, paper phenol, paper epoxy, glass cloth epoxy, glass polyimide, glass cloth / nonwoven fabric epoxy, glass cloth / paper epoxy, synthetic fiber epoxy, fluororesin Copper clad laminates for high frequency circuits using polyethylene, polyphenylene ether, polyphenylene oxide, cyanate ester, etc. are used, and copper clad laminates of all grades (FR-4, etc.), other polyimide films, PET films, A glass substrate, a ceramic substrate, a wafer board, etc. are mentioned.

감광성 필름 적층체의 감광성 필름을 회로 기판 상에 접합시키기 위해서는, 진공 라미네이터 등을 사용하여, 가압 및 가열 하에서 접합시키는 것이 바람직하다. 이러한 진공 라미네이터를 사용함으로써, 회로 기판 표면에 요철이 있어도, 감광성 수지 조성물층이 회로 기판에 밀착되기 때문에, 기포의 혼입이 없고, 또한 기판 표면의 오목부의 구멍 매립성도 향상된다. 가압 조건은 0.1~2.0MPa 정도인 것이 바람직하고, 또한 가열 조건은 40~120℃인 것이 바람직하다.In order to bond the photosensitive film of the photosensitive film laminated body on a circuit board, it is preferable to bond together under pressure and heating using a vacuum laminator etc. By using such a vacuum laminator, even if there is an unevenness | corrugation on the circuit board surface, since the photosensitive resin composition layer is in close contact with a circuit board, there is no mixing of foam | bubble, and the hole filling property of the recessed part of a board | substrate surface also improves. It is preferable that pressurization conditions are about 0.1-2.0 Mpa, and it is preferable that heating conditions are 40-120 degreeC.

이어서, 감광성 필름 적층체의 지지 필름 상으로부터 노광(활성 에너지선의 조사)을 행한다. 이 공정에 의해, 노광된 감광성 수지층만이 경화된다. 노광 공정은 특별히 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 접촉식(또는 비접촉 방식)에 의해, 원하는 패턴을 형성한 포토마스크를 통해 선택적으로 활성 에너지선에 의해 노광해도 되지만, 직접 묘화 장치에 의해 원하는 패턴을 활성 에너지선에 의해 노광해도 된다.Next, exposure (irradiation of an active energy ray) is performed from the support film image of a photosensitive film laminated body. By this process, only the exposed photosensitive resin layer is cured. The exposure step is not particularly limited and, for example, may be selectively exposed by an active energy ray through a photomask in which a desired pattern is formed by contact (or non-contact method), but the desired pattern may be directly exposed by a drawing device. You may expose with an active energy ray.

활성 에너지선 조사에 사용되는 노광기로서는, 고압 수은등 램프, 초고압 수은등 램프, 메탈 할라이드 램프 등을 탑재하고, 350~450nm의 범위에서 자외선을 조사하는 장치이면 되고, 또한 직접 묘화 장치(예를 들어 컴퓨터로부터의 CAD 데이터에 의해 직접 레이저로 화상을 그리는 레이저 다이렉트 이미징 장치)도 사용할 수 있다. 직묘기(直描機)의 레이저 광원으로서는, 최대 파장이 350~410nm의 범위에 있는 레이저광을 사용한다면 가스 레이저, 고체 레이저 중 어느 것이어도 된다. 화상 형성을 위한 노광량은 막 두께 등에 따라 상이하지만, 일반적으로는 20~800mJ/cm2, 바람직하게는 20~600mJ/cm2의 범위 내로 할 수 있다.As an exposure machine used for active energy ray irradiation, it is sufficient to mount a high pressure mercury lamp lamp, an ultra high pressure mercury lamp lamp, a metal halide lamp, etc., and irradiate ultraviolet rays in the range of 350 to 450 nm, and also directly draw a device (for example, from a computer). Can also be used. As the laser light source of the weaving machine, any of a gas laser and a solid laser may be used as long as the laser light having a maximum wavelength in the range of 350 to 410 nm is used. Although the exposure amount for image formation changes with film thickness etc., it is generally 20-800mJ / cm <2> , Preferably it can be in the range of 20-600mJ / cm <2> .

노광 후, 감광성 필름 적층체로부터 지지 필름을 박리하고 현상을 행함으로써, 기판 상에 패터닝된 감광성 필름을 형성한다. 지지 필름을 박리했을 때, 노광되어 경화된 감광성 필름의 표면에, 지지 필름 표면의 형태가 부형된다. 또한, 특성을 손상시키지 않는 범위라면, 노광 전에 감광성 필름 적층체로부터 지지 필름을 박리하여, 노출된 감광성 필름을 노광 및 현상해도 된다.After exposure, the patterned photosensitive film is formed on a board | substrate by peeling a support film from a photosensitive film laminated body and developing. When peeling a support film, the form of a support film surface is shape | molded to the surface of the photosensitive film which was exposed and hardened | cured. Moreover, as long as it is a range which does not impair a characteristic, you may peel a support film from the photosensitive film laminated body before exposure, and may expose and develop the exposed photosensitive film.

현상 공정은 특별히 한정되는 것은 아니며, 디핑법, 샤워법, 스프레이법, 브러시법 등을 사용할 수 있다. 또한, 현상액으로서는, 수산화칼륨, 수산화나트륨, 탄산나트륨, 탄산칼륨, 인산나트륨, 규산나트륨, 암모니아, 아민류 등의 알칼리 수용액을 사용할 수 있다.The image development process is not specifically limited, A dipping method, a shower method, a spray method, the brush method, etc. can be used. Moreover, as a developing solution, aqueous alkali solution, such as potassium hydroxide, sodium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, sodium phosphate, sodium silicate, ammonia, amines, can be used.

이어서, 패터닝된 감광성 필름을, 활성 에너지선(광) 조사 내지 열에 의해 경화시켜, 경화물(경화 피막)을 형성한다. 이 공정은 본 경화 또는 추가 경화라 불리는 것이며, 감광성 필름 중의 미반응 단량체의 중합을 촉진시키고, 나아가, 카르복실기 함유 감광성 수지와 에폭시 수지를 열경화시켜, 잔존하는 카르복실기의 양을 저감시킬 수 있다. 활성 에너지선 조사는, 상기한 노광과 동일하게 하여 행할 수 있지만, 노광 시의 조사 에너지보다도 강한 조건에서 행하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 500~3000mJ/cm2로 할 수 있다. 또한, 열경화는, 100~200℃에서 20~90분간 정도의 가열 조건에서 행할 수 있다. 또한, 본 경화는, 광경화시킨 후에 열경화를 행하는 것이 바람직하다. 광경화를 먼저 행함으로써 가열경화 시에 있어서도 수지의 유동이 억제되어, 부형된 표면이 유지되는 경우가 있다.Next, the patterned photosensitive film is cured by active energy ray (light) irradiation or heat to form a cured product (cured film). This step is called main curing or further curing, promotes polymerization of unreacted monomers in the photosensitive film, and further thermosets the carboxyl group-containing photosensitive resin and epoxy resin to reduce the amount of remaining carboxyl groups. Although active energy ray irradiation can be performed similarly to above-mentioned exposure, it is preferable to carry out on conditions stronger than irradiation energy at the time of exposure. For example, it can be set as 500-3000mJ / cm <2> . In addition, thermosetting can be performed at the heating conditions of about 20 to 90 minutes at 100-200 degreeC. Moreover, it is preferable to perform thermosetting after this hardening by photocuring. By performing photocuring first, the flow of resin is also suppressed at the time of heat curing, and the shaped surface may be maintained.

상기와 같이 하여, 경화물의 표면에 적당한 요철 상태를 부여할 수 있다. 그 결과, 다이 어태치재와의 밀착성이 개선됨과 함께, 외관 검사에 있어서의 수율도 개선된다. 다이 어태치재는 공지 관용의 것을 사용할 수 있고, 특별히 제한되지 않는다. 따라서, 본 발명에 의한 감광성 필름 적층체는, 프린트 배선판용으로서 적합하게 사용할 수 있고, 솔더 레지스트층의 형성에 보다 적합하게 사용할 수 있으며, 특히, IC 패키지용 솔더 레지스트층의 형성에 적합하게 사용할 수 있다.As described above, an appropriate uneven state can be given to the surface of the cured product. As a result, while adhesiveness with a die attach material improves, the yield in an external appearance test also improves. The die attach material can use a well-known conventional thing, and is not specifically limited. Therefore, the photosensitive film laminated body which concerns on this invention can be used suitably for a printed wiring board, can be used more suitably for formation of a soldering resist layer, and especially can be used for formation of the soldering resist layer for IC packages. have.

실시예Example

다음으로 실시예를 들어, 본 발명을 더욱 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다.Next, although an Example is given and this invention is demonstrated in detail, this invention is not limited to these Examples.

<카르복실기 함유 감광성 수지의 조제><Preparation of carboxyl group-containing photosensitive resin>

온도계, 질소 도입 장치 겸 알킬렌옥사이드 도입 장치 및 교반 장치를 구비한 오토클레이브에, 노볼락형 크레졸 수지(쇼와 덴코 가부시끼가이샤 제조 쇼놀 CRG951, OH 당량: 119.4) 119.4g과, 수산화칼륨 1.19g과 톨루엔 119.4g을 투입하고, 교반하면서 계 내를 질소 치환하고, 가열 승온시켰다. 이어서, 프로필렌옥사이드 63.8g을 서서히 적하하고, 125~132℃, 0~4.8kg/cm2로 16시간 반응시켰다. 그 후, 실온까지 냉각시키고, 이 반응 용액에 89% 인산 1.56g을 첨가 혼합하여 수산화칼륨을 중화시켜, 불휘발분 62.1%, 수산기가가 182.2g/eq.인 노볼락형 크레졸 수지의 프로필렌옥사이드 반응 용액을 얻었다. 얻어진 노볼락형 크레졸 수지는, 페놀성 수산기 1당량당 알킬렌옥사이드가 평균 1.08몰 부가되어 있는 것이었다.In an autoclave equipped with a thermometer, a nitrogen introducing device, an alkylene oxide introducing device, and a stirring device, 119.4 g of novolac-type cresol resin (Shonol CRG951 manufactured by Showa Denko Co., Ltd., OH equivalent: 119.4) and 1.19 g of potassium hydroxide 119.4 g of toluene and toluene were added, the inside of the system was replaced with nitrogen while stirring, and the temperature was increased by heating. Next, 63.8 g of propylene oxide was slowly added dropwise and reacted at 125 to 132 ° C and 0 to 4.8 kg / cm 2 for 16 hours. Thereafter, the mixture was cooled to room temperature, and 1.56 g of 89% phosphoric acid was added to the reaction solution to neutralize potassium hydroxide. The propylene oxide reaction of a novolak-type cresol resin having a nonvolatile content of 62.1% and a hydroxyl value of 182.2 g / eq. A solution was obtained. In the obtained novolak-type cresol resin, an average of 1.08 mol of alkylene oxide was added per equivalent of phenolic hydroxyl group.

얻어진 노볼락형 크레졸 수지의 알킬렌옥사이드 반응 용액 293.0g과, 아크릴산 43.2g과, 메탄술폰산 11.53g과, 메틸하이드로퀴논 0.18g과 톨루엔 252.9g을, 교반기, 온도계 및 공기 흡입관을 구비한 반응기에 투입하고, 공기를 10ml/분의 속도로 불어넣어 교반하면서, 110℃에서 12시간 반응시켰다. 반응에 의해 생성된 물은, 톨루엔과의 공비 혼합물로서, 12.6g의 물이 유출되었다. 그 후, 실온까지 냉각시키고, 얻어진 반응 용액을 15% 수산화나트륨 수용액 35.35g으로 중화시키고, 이어서 수세하였다. 그 후, 증발기에서 톨루엔을 디에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트 118.1g으로 치환하면서 증류 제거하여, 노볼락형 아크릴레이트 수지 용액을 얻었다. 이어서, 얻어진 노볼락형 아크릴레이트 수지 용액 332.5g 및 트리페닐포스핀 1.22g을, 교반기, 온도계 및 공기 흡입관을 구비한 반응기에 투입하고, 공기를 10ml/분의 속도로 불어넣어 교반하면서, 테트라히드로프탈산 무수물 62.3g을 서서히 첨가하고, 95~101℃에서 6시간 반응시켜, 산가 88mgKOH/g의, 불휘발분 71%로서 카르복실기 함유 감광성 수지 바니시 1을 얻었다.293.0 g of the alkylene oxide reaction solution of the obtained novolak-type cresol resin, 43.2 g of acrylic acid, 11.53 g of methanesulfonic acid, 0.18 g of methylhydroquinone and 252.9 g of toluene were introduced into a reactor equipped with a stirrer, a thermometer, and an air suction tube. And it was made to react at 110 degreeC for 12 hours, blowing air and blowing at a rate of 10 ml / min. The water produced by the reaction was an azeotropic mixture with toluene, and 12.6 g of water flowed out. Thereafter, the mixture was cooled to room temperature, and the obtained reaction solution was neutralized with 35.35 g of an aqueous 15% sodium hydroxide solution, followed by washing with water. Thereafter, toluene was distilled off while replacing toluene with 118.1 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate in an evaporator to obtain a novolak-type acrylate resin solution. Subsequently, 332.5 g of the obtained novolak-type acrylate resin solution and 1.22 g of triphenylphosphine were introduced into a reactor equipped with a stirrer, a thermometer, and an air intake tube, and the air was blown at a rate of 10 ml / min, followed by stirring. 62.3 g of phthalic anhydride was added gradually, and it was made to react at 95-101 degreeC for 6 hours, and the carboxyl group-containing photosensitive resin varnish 1 was obtained as 71% of non volatile matters of 88 mgKOH / g of acid value.

<감광성 수지 조성물의 조제><Preparation of the photosensitive resin composition>

상기와 같이 하여 얻어진 카르복실기 함유 감광성 수지 바니시 1과, 아크릴레이트 화합물로서 감광성 단량체인 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트(닛본 가야꾸 가부시끼가이샤 제조 KAYARAD DPHA)와, 열경화성 성분인 에폭시 수지로서, 비스페놀 A형 에폭시 수지(DIC 가부시끼가이샤 제조 EPICLON840-S) 및 비페놀 노볼락형 에폭시 수지(닛본 가야꾸 가부시끼가이샤 제조 NC-3000H)와, 광중합 개시제로서 IGM Resins사 제조 Omnirad(옴니라드) TPO 또는 BASF 재팬사 제조 IRGACURE OXE02와, 필러로서 황산바륨(사까이 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 제조 B-30) 및/또는 구상 실리카(가부시키가이샤 애드마텍스제 애드마파인 SO-E2)와, 열경화 촉매로서 멜라민과, 착색제로서, 미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조 카본 블랙 M-50, 디옥사진 바이올렛 C.I. Pigment Violet 23, C.I. Pigment Yellow 147, C.I. Pigment Blue 15:3 및 C.I. Pigment Red 177로부터 선택되는 각 성분과, 유기 용제로서 디에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트를 하기 표 1에 나타내는 비율(질량부)로 배합하고, 교반기에서 예비 혼합한 후 3개 롤 밀로 혼련하여, 감광성 수지 조성물 1 및 2를 조제하였다.As carboxyl group-containing photosensitive resin varnish 1 obtained as mentioned above, dipentaerythritol hexaacrylate (KAYARAD DPHA by Nippon Kayaku Co., Ltd.) which is a photosensitive monomer as an acrylate compound, and an epoxy resin which is a thermosetting component, bisphenol A type Epoxy resin (EPICLON840-S manufactured by DIC Corporation) and biphenol novolac type epoxy resin (NC-3000H manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) and Omnirad (Omniard) TPO or BASF Japan manufactured by IGM Resins, Inc. as photopolymerization initiators. IRGACURE OXE02 by the company, barium sulfate (B-30 manufactured by Kakaku Kogyo Co., Ltd.) and / or spherical silica (Admafine SO-E2 by Admatex Co., Ltd.) and a thermosetting catalyst as a filler As melamine and colorant, Mitsubishi Chemical Co., Ltd. carbon black M-50, dioxazine violet CI Pigment Violet 23, C.I. Pigment Yellow 147, C.I. Pigment Blue 15: 3 and C.I. Each component selected from Pigment Red 177 and diethylene glycol monoethyl ether acetate as an organic solvent were blended in the ratio (mass part) shown in following Table 1, pre-mixed in a stirrer, and kneaded with three roll mills, and the photosensitive resin Compositions 1 and 2 were prepared.

Figure 112018005509327-pat00004
Figure 112018005509327-pat00004

<감광성 필름 적층체의 제작><Production of Photosensitive Film Laminate>

실시예 1Example 1

폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조 다이어포일 R310)의 편면에 샌드 블라스트 처리를 행하여, 필름 표면에 불균일한 돌출부를 형성한 두께 16㎛의 지지 필름을 준비하였다. 얻어진 지지 필름의 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수 및 산술 평균 표면 조도 Ra'의 측정을 이하와 같이 하여 측정한 결과, 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수는 8.0×102개이며, 산술 평균 표면 조도 Ra'는 0.13㎛였다.Sandblasting was performed on the single side | surface of the polyethylene terephthalate film (Dysfoil R310 by Mitsubishi Chemical Corporation), and the support film of thickness 16micrometer which provided the nonuniform protrusion part on the film surface was prepared. As a result of measuring the number of protrusions per unit area 1 mm 2 of the surface of the obtained support film and the arithmetic mean surface roughness Ra 'as follows, the number of protrusions per unit area 1 mm 2 of the surface was 8.0 × 10 2 , Arithmetic mean surface roughness Ra 'was 0.13 micrometer.

단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수와 산술 평균 표면 조도 Ra'의 측정에는, 형상 측정 레이저 현미경(가부시키가이샤 키엔스 제조 VK-X100)을 사용하였다. 형상 측정 레이저 현미경(동 VK-X100) 본체(제어부), 및 VK 관찰 애플리케이션(가부시키가이샤 키엔스 제조 VK-H1VX)을 기동시킨 후, x-y 스테이지 상에 측정하는 시료(지지 필름)를 상기 지지 필름의 돌출부를 갖는 표면을 상부로 하여 올려놓았다. 현미경부(가부시키가이샤 키엔스 제조 VK-X110)의 렌즈 리볼버를 돌려서 배율 10배의 대물 렌즈를 선택하고, VK 관찰 애플리케이션(동 VK-H1VX)의 화상 관찰 모드에서, 대략 핀트, 밝기를 조절하였다. x-y 스테이지를 조작하여, 시료 표면의 거의 중앙부가 화면의 중심에 오도록 조절하였다. 배율 10배의 대물 렌즈를 배율 100배로 바꾸고, VK 관찰 애플리케이션(동 VK-H1VX)의 화상 관찰 모드의 오토포커스 기능으로, 시료의 표면에 핀트를 맞추었다. VK 관찰 애플리케이션(동 VK-H1VX)의 형상 측정 탭의 간단 모드를 선택하고, 측정 개시 버튼을 눌러, 시료의 표면 형상의 측정을 행하여, 표면 화상 파일을 얻었다. VK 해석 애플리케이션(가부시키가이샤 키엔스 제조 VK-H1XA)을 기동하여, 얻어진 표면 화상 파일을 표시시킨 후, 기울기 보정을 행하였다.A shape measuring laser microscope (VK-X100, manufactured by Keyence, Inc.) was used for the measurement of the number of protrusions and the arithmetic mean surface roughness Ra 'per unit area of 1 mm 2 . After activating the shape measurement laser microscope (VK-X100) main body (control unit) and the VK observation application (VK-H1VX manufactured by Keyence Co., Ltd.), a sample (support film) to be measured on the xy stage of the support film was The surface with the protrusions was placed on top. The objective lens of 10x magnification was selected by rotating the lens revolver of the microscope part (VK-X110 by Kyens Co., Ltd.), and about the focus and brightness were adjusted in the image observation mode of VK observation application (the same VK-H1VX). The xy stage was operated to adjust the center of the screen to be almost the center of the sample surface. The objective lens of 10 times magnification was changed to 100 times magnification, and the focus was made to the surface of a sample by the autofocus function of the image observation mode of VK observation application (the same VK-H1VX). The simple mode of the shape measurement tab of a VK observation application (VK-H1VX) was selected, the measurement start button was pressed, the surface shape of a sample was measured, and the surface image file was obtained. After starting the VK analysis application (VK-H1XA manufactured by Keyence Co., Ltd.) and displaying the obtained surface image file, tilt correction was performed.

「단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수」의 측정에서는, 시료의 표면 형상의 측정에 있어서의 관찰 측정 범위(면적)를 15073㎛2로 하였다. 해석 애플리케이션(가부시키가이샤 키엔스 제조 VK-H1XA)을 사용하였다. 표시 화면에 있는 계측 해석 메뉴로부터 [체적·면적]을 선택하고, [체적·면적] 윈도우를 표시시켜, [체적·면적] 윈도우의 [표시 화상] 박스로부터 [높이]를 선택한 후, [역치] 버튼을 눌러, [역치 영역 설정 다이얼로그] 박스를 표시시켰다. [상한] 박스의 값과 [하한] 박스의 값을 더해서 2로 나눈 값 Ave.(㎛)를 산출하고, 그 Ave.(㎛)에 0.2㎛를 더한 Zs'값(㎛) 이상의 부분을 「돌출부」로 하였다. [하한] 박스의 값은 변경하지 않고, [상한] 박스에 Zs'값(㎛)을 입력하고, OK 버튼을 누른 후에, 화상 표시 영역 내에서 ROI 묘화색의 색으로 변한 개소의 개수 C(개)를 세고, 이 개수 C(개)로부터, 단위 면적 1mm2당 개수 D(개/mm2)(D=C×66.34)를 산출하였다. 또한, 상기 ROI 묘화색의 색으로 변한 개소 중, 화상 표시 영역 내에서 끊어져버려 1개로서 인식할 수 없는 것에 대해서는, 0.5개로서 계상하였다.In the measurement of "the number of protrusions per unit area 1mm <2> , the observation measurement range (area) in the measurement of the surface shape of a sample was 15073 micrometer <2> . An analysis application (VK-H1XA manufactured by Keyence Co., Ltd.) was used. Select [Volume / Area] from the Measurement Analysis menu on the display screen, display the [Volume / Area] window, select [Height] from the [Display image] box in the [Volume / Area] window, and then select [Threshold]. By pressing the button, the [Threshold area setting dialog] box was displayed. The value of the [upper limit] box and the value of the [lower limit] box were added to calculate the value Ave. (µm) divided by 2, and the portion equal to or greater than the Zs' value (µm) obtained by adding 0.2 µm to the Ave. Was made. Do not change the value of the [Lower limit] box, enter the Zs' value (µm) in the [Upper limit] box, press the OK button, and then change the number of points C (colors) in the image display area to the color of the ROI drawing color. ), And the number D (piece / mm 2 ) (D = C × 66.34) per unit area 1 mm 2 was calculated from the number C (piece). In addition, about the part which changed to the color of the said ROI drawing color, it cut in the image display area | region, and was not recognized as one, it counted as 0.5 piece.

또한, 「산술 평균 표면 조도 Ra'」의 측정에서는, 대물 렌즈를 50배로 전환하여 시료의 표면 형상의 측정에 있어서의 관찰 측정 범위(가로)는 270㎛로 하였다. 선 조도 윈도우를 표시시켜, 파라미터 설정 영역에서, JIS B0601-1994를 선택한 후, 측정 라인 버튼으로부터 수평선을 선택하여, 표면 화상 내의 임의의 장소에 수평선을 표시시키고, OK 버튼을 누름으로써, 표면의 산술 평균 표면 조도 Ra'의 수치를 얻었다. 또한 표면 화상 내의 다른 4군데에 수평선을 표시시켜, 산술 평균 표면 조도 Ra'의 수치를 얻었다. 얻어진 5개 수치의 평균값을 산출하고, 시료 표면의 산술 평균 표면 조도 Ra'값으로 하였다.In addition, in the measurement of "arithmetic mean surface roughness Ra '," the objective lens was switched 50 times and the observation measurement range (width) in the measurement of the surface shape of the sample was 270 µm. Display the line roughness window, select JIS B0601-1994 in the parameter setting area, select a horizontal line from the measurement line button, display a horizontal line at any place in the surface image, and press the OK button to perform the arithmetic of the surface. The numerical value of average surface roughness Ra 'was obtained. In addition, horizontal lines were displayed in four other places in the surface image, and a numerical value of the arithmetic mean surface roughness Ra 'was obtained. The average value of five obtained numerical values was computed, and it was set as the arithmetic mean surface roughness Ra 'value of a sample surface.

계속해서, 상기와 같이 하여 얻어진 감광성 수지 조성물 1에 메틸에틸케톤 300g을 가하여 희석하고, 교반기로 15분간 교반하여 도공액을 얻었다. 도공액을, 상기한 지지 필름의 샌드 블라스트 처리를 행한 면에 도포하고, 80℃의 온도에서 15분간 건조시켜, 두께 20㎛의 감광성 필름을 형성하였다. 계속해서, 감광성 필름 상에, 두께 18㎛의 폴리프로필렌 필름(후타무라 가가꾸 가부시끼가이샤 제조 OPP-FOA)을 접합시켜, 3층을 포함하는 감광성 필름 적층체를 제작하였다.Subsequently, 300 g of methyl ethyl ketone was added and diluted to the photosensitive resin composition 1 obtained as mentioned above, and it stirred for 15 minutes with the stirrer, and obtained the coating liquid. The coating solution was applied to the surface of the support film subjected to sand blasting, dried at a temperature of 80 ° C. for 15 minutes to form a photosensitive film having a thickness of 20 μm. Subsequently, a polypropylene film (OPP-FOA manufactured by Futamura Chemical Co., Ltd.) having a thickness of 18 µm was bonded on the photosensitive film to produce a photosensitive film laminate including three layers.

<시험 기판의 제작><Production of Test Board>

회로 형성된 기판(500mm×600mm×0.4mmt) 표면을 맥크 가부시끼가이샤 제조의 CZ8101에 의한 화학 연마하고, 기판의 화학 연마된 표면에, 상기와 같이 하여 얻어진 감광성 필름 적층체로부터 폴리프로필렌 필름을 박리하여 노출된 감광성 필름의 노출면을 접합시키고, 계속해서, 진공 라미네이터(메이키 세이사쿠쇼 제조 MVLP-500)를 사용하여 가압도: 0.8Mpa, 70℃, 1분, 진공도: 133.3Pa의 조건에서 가열 라미네이트하여, 기판과 감광성 필름을 밀착시켰다.The surface of the circuit-formed substrate (500 mm x 600 mm x 0.4 mmt) was chemically polished by CZ8101 manufactured by Mack Corporation, and the polypropylene film was peeled off from the photosensitive film laminate obtained as described above on the chemically polished surface of the substrate. The exposed surface of the exposed photosensitive film was bonded and then heated under the conditions of a pressure of 0.8 Mpa, 70 ° C., 1 minute, and a vacuum of 133.3 Pa using a vacuum laminator (MVLP-500 manufactured by MEI Seisakusho). It laminated and stuck the board | substrate and the photosensitive film.

이어서, 쇼트 아크형 고압 수은등이 탑재된 평행광 노광 장치를 사용하여, 노광 마스크를 통해, 감광성 필름에 접하는 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 상으로부터 흠집의 시인성 및 다이 어태치재와의 밀착성에 대해서는 솔리드 노광을, 패턴의 고랑 붕괴에 대해서는 SRO 80㎛가 되도록 설계한 네거티브 패턴을 사용하여 노광을 각각 행한 후, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름을 박리하여 감광성 필름을 노출시켰다. 또한, 노광량은, 감광성 필름에 접하는 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 상에서 Stouffer 41단을 사용하여 노광했을 때에 7단이 되는 노광량으로 하였다. 그 후, 노출된 감광성 필름의 노출 표면에 대하여, 1중량% Na2CO3 수용액을 사용하여, 30℃, 스프레이압 2kg/cm2의 조건에서 60초간 현상을 행하여, 패터닝하였다. 계속해서, 고압 수은등을 구비한 UV 컨베이어 노에서 1J/cm2의 노광량으로 패터닝된 감광성 필름에 조사한 후, 160℃에서 60분 가열하여 추가 경화시켜 경화 피막을 형성하여, 기판 상에 경화 피막이 형성된 시험 기판 1을 제작하였다.Subsequently, using a parallel light exposure apparatus equipped with a short arc type high pressure mercury lamp, a solid exposure was applied to the visibility of the scratches and the adhesion to the die attach material from the polyethylene terephthalate film on the photosensitive film through an exposure mask. About the furrow collapse, after exposing using the negative pattern designed so that it might become SRO 80 micrometers, the polyethylene terephthalate film was peeled off and the photosensitive film was exposed. In addition, exposure amount was made into the exposure amount which becomes 7 steps, when it exposes using 41 steps of Stouffers on the polyethylene terephthalate film which contact | connects the photosensitive film. Thereafter, the exposed surface of the exposed photosensitive film was developed for 60 seconds under conditions of 30 ° C. and a spray pressure of 2 kg / cm 2 using a 1% by weight Na 2 CO 3 aqueous solution, and then patterned. Subsequently, after irradiating the photosensitive film patterned at the exposure amount of 1 J / cm <2> in the UV conveyor furnace equipped with a high pressure mercury lamp, it heated at 160 degreeC for 60 minutes, and further hardened | cured to form a hardened film, and the test in which the hardened film was formed on the board | substrate. Substrate 1 was produced.

실시예 2Example 2

실시예 1에 있어서, 감광성 수지 조성물 1 대신에, 감광성 수지 조성물 2를 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 시험 기판 2를 제작하였다.In Example 1, the test board 2 was produced like Example 1 except having used the photosensitive resin composition 2 instead of the photosensitive resin composition 1.

실시예 3Example 3

실시예 1에 있어서, 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수가 8.0×102개이며, 산술 평균 표면 조도 Ra'가 0.13㎛인 표면을 편면에 갖는 두께 16㎛의 지지 필름 대신에, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름의 편면에 코팅 처리를 행하고, 필름 표면에 불균일한 돌출부를 형성한 두께 125㎛의 지지 필름(가부시키가이샤 기모토 제조 G-50)을 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 시험 기판 3을 제작하였다. 지지 필름의 코팅 처리를 행한 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수 및 산술 평균 표면 조도 Ra'의 측정을 상기와 동일하게 하여 측정한 결과, 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수는 1.3×103개이며, 산술 평균 표면 조도 Ra'는 0.19㎛였다.In Example 1, polyethylene tere instead of the support film of thickness 16micrometer which has the surface where the number of protrusions per unit area 1mm <2> of surfaces is 8.0x10 <2> , and whose arithmetic mean surface roughness Ra 'is 0.13micrometer on one side. The test board | substrate was carried out similarly to Example 1 except having used the 125-micrometer-thick support film (G-50 by Kikimoto Co., Ltd.) which coated the single side | surface of a phthalate film, and formed the nonuniform protrusion part on the film surface. 3 was produced. As a result of measuring the number of protrusions per unit area 1mm 2 and the arithmetic mean surface roughness Ra 'of the surface subjected to coating of the supporting film in the same manner as described above, the number of protrusions per unit area 1mm 2 of the surface was 1.3 × 10. It was three pieces and the arithmetic mean surface roughness Ra 'was 0.19 micrometer.

실시예 4Example 4

실시예 3에 있어서, 감광성 수지 조성물 1 대신에, 감광성 수지 조성물 2를 사용한 것 이외에는, 실시예 3과 동일하게 하여 시험 기판 4를 제작하였다.In Example 3, the test board 4 was produced like Example 3 except having used the photosensitive resin composition 2 instead of the photosensitive resin composition 1.

실시예 5Example 5

실시예 1에 있어서, 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수가 8.0×102개이며, 산술 평균 표면 조도 Ra'가 0.13㎛인 표면을 편면에 갖는 두께 16㎛의 지지 필름 대신에, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름의 편면에 코팅 처리를 행하여, 필름 표면에 불균일한 돌출부를 형성한 두께 25㎛의 지지 필름(유니티카 가부시끼가이샤 제조 CM-25)을 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 시험 기판 5를 제작하였다. 지지 필름의 코팅 처리를 행한 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수 및 산술 평균 표면 조도 Ra'의 측정을 상기와 동일하게 하여 측정한 결과, 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수는 4.5×103개이며, 산술 평균 표면 조도 Ra'는 0.48㎛였다.In Example 1, polyethylene tere instead of the support film of thickness 16micrometer which has the surface where the number of protrusions per unit area 1mm <2> of surfaces is 8.0x10 <2> , and whose arithmetic mean surface roughness Ra 'is 0.13micrometer on one side. The test board | substrate was carried out similarly to Example 1 except having used the 25-micrometer-thick support film (CM-25 by Unitika Co., Ltd.) which formed the coating process on the single side | surface of a phthalate film, and formed the nonuniform protrusion part on the film surface. 5 was produced. As a result of measuring the number of protrusions per unit area 1mm 2 and the arithmetic mean surface roughness Ra 'of the surface subjected to coating of the support film in the same manner as described above, the number of protrusions per unit area 1mm 2 of the surface was 4.5 × 10. It was three pieces and the arithmetic mean surface roughness Ra 'was 0.48 micrometer.

실시예 6Example 6

실시예 5에 있어서, 감광성 수지 조성물 1 대신에, 감광성 수지 조성물 2를 사용한 것 이외에는, 실시예 5와 동일하게 하여 시험 기판 6을 제작하였다.In Example 5, the test board 6 was produced like Example 5 except having used the photosensitive resin composition 2 instead of the photosensitive resin composition 1.

실시예 7Example 7

실시예 1에 있어서, 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수가 8.0×102개이며, 산술 평균 표면 조도 Ra'가 0.13㎛인 표면을 편면에 갖는 두께 16㎛의 지지 필름 대신에, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(도요보 가부시끼가이샤 제조 E5041)의 편면에 샌드 블라스트 처리를 행하여, 필름 표면에 불균일한 돌출부를 형성한 두께 25㎛의 지지 필름을 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 시험 기판 7을 제작하였다. 지지 필름의 샌드 블라스트 처리를 행한 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수 및 산술 평균 표면 조도 Ra'의 측정을 상기와 동일하게 하여 측정한 결과, 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수는 1.7×104개이며, 산술 평균 표면 조도 Ra'는 5.00㎛였다.In Example 1, polyethylene tere instead of the support film of thickness 16micrometer which has the surface where the number of protrusions per unit area 1mm <2> of surfaces is 8.0x10 <2> , and whose arithmetic mean surface roughness Ra 'is 0.13micrometer on one side. The test substrate 7 was carried out in the same manner as in Example 1, except that sand blasting was performed on one surface of the phthalate film (E5041 manufactured by Toyobo Co., Ltd.) and a support film having a thickness of 25 μm in which uneven protrusions were formed on the film surface was used. Was produced. The number of protrusions per unit area 1 mm 2 of the surface subjected to sand blasting of the support film and the measurement of arithmetic mean surface roughness Ra 'were measured in the same manner as described above. As a result, the number of protrusions per unit area of 1 mm 2 of the surface was 1.7 ×. It was 10 4 pieces, and the arithmetic mean surface roughness Ra 'was 5.00 micrometers.

실시예 8Example 8

실시예 7에 있어서, 감광성 수지 조성물 1 대신에, 감광성 수지 조성물 2를 사용한 것 이외에는, 실시예 7과 동일하게 하여 시험 기판 8을 제작하였다.In Example 7, the test board 8 was produced like Example 7 except having used the photosensitive resin composition 2 instead of the photosensitive resin composition 1.

비교예 1Comparative Example 1

실시예 1에 있어서, 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수가 8.0×102개이며, 산술 평균 표면 조도 Ra'가 0.13㎛인 표면을 편면에 갖는 두께 16㎛의 지지 필름 대신에, 두께 25㎛의 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(도요보 가부시끼가이샤 제조 E5041)을 지지 필름으로서 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 시험 기판 9를 제작하였다. 지지 필름의 표면 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수 및 산술 평균 표면 조도 Ra'의 측정을 상기와 동일하게 하여 측정한 결과, 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수는 0개이며, 산술 평균 표면 조도 Ra'는 0.02㎛였다.In Example 1, the thickness 25 instead of the support film of thickness 16micrometer which has the surface where the number of protrusions per unit area 1mm <2> of surfaces is 8.0x10 <2> , and whose arithmetic mean surface roughness Ra 'is 0.13micrometer on one side. A test substrate 9 was produced in the same manner as in Example 1 except that a micrometer polyethylene terephthalate film (Toyobo Corporation E5041) was used as the support film. The number of protrusions per surface unit area 1 mm 2 of the support film and the measurement of arithmetic mean surface roughness Ra 'were measured in the same manner as described above. As a result, the number of protrusions per unit area 1 mm 2 of the surface was 0, and the arithmetic mean surface roughness was 0. Ra 'was 0.02 micrometer.

비교예 2Comparative Example 2

비교예 1에 있어서, 감광성 수지 조성물 1 대신에, 감광성 수지 조성물 2를 사용한 것 이외에는, 비교예 1과 동일하게 하여 시험 기판 10을 제작하였다.In the comparative example 1, the test board 10 was produced like the comparative example 1 except having used the photosensitive resin composition 2 instead of the photosensitive resin composition 1.

<흠집의 시인성 평가><Evaluation of visibility of scratches>

상기와 같이 하여 제작한 실시예 1~8 및 비교예 1~2의 각 시험 기판의 노광 영역에 있어서의 경화 피막의 표면에, 경도 2H의 연필 심을, 각도 45°, 하중 4.9N을 가한 상태에서 눌러, 1초간에 1mm의 속도로 1cm 이동시키고, 장소를 바꾸어 총 3회 행하였다. 경화 피막의 표면 상의 흠집의 시인성을 눈으로 평가하였다. 평가 기준은 이하와 같이 하였다.In the state which applied the pencil core of hardness 2H, the angle of 45 degrees, and the load 4.9N were applied to the surface of the cured film in the exposure area | region of each test board | substrate of Examples 1-8 and Comparative Examples 1-2 produced as mentioned above. It pressed, it moved 1 cm by the speed | rate of 1 mm in 1 second, and changed place and performed it three times in total. The visibility of the scratches on the surface of the cured film was visually evaluated. Evaluation criteria were as follows.

◎: 노광 영역에 있어서의 경화 피막의 표면 상에 흠집이 3회 모두 확인되지 않는다(Double-circle): A scratch is not recognized all three times on the surface of the cured film in an exposure area.

○: 노광 영역에 있어서의 경화 피막의 표면 상에 흠집이 1~2회 확인된다(Circle): Scratches are confirmed 1-2 times on the surface of the cured film in an exposure area.

×: 노광 영역에 있어서의 경화 피막의 표면 상에 흠집이 3회 모두 확인된다X: All the scratches are confirmed 3 times on the surface of the cured film in an exposure area.

또한, 각 시험 기판을 제작 후, 5분 이내에 상기 내용에 기초하여, 시험 및 평가를 행하였다. 평가 결과는 하기 표 2에 나타내는 바와 같았다.In addition, test and evaluation were performed based on the said content within 5 minutes after each test board | substrate was produced. The evaluation results were as shown in Table 2 below.

<다이 어태치재의 제작><Production of die attach materials>

에폭시 수지로서 트리스히드록시페닐메탄형 에폭시 수지(닛본 가야꾸 가부시끼가이샤 제조 EPPN-502H) 80부와, 비스페놀 F형 에폭시 수지(닛본 가야꾸 가부시끼가이샤 제조 RE-303S-L) 15부와, 가요성 에폭시 수지(미쓰비시 케미컬 가부시끼가이샤 제조 YX7105) 5부에, 메틸에틸케톤 50부를 첨가하고 가열 용융시켜, 수지 바니시 A를 얻었다. 얻어진 수지 바니시 A의 150부에 대하여, 경화 촉매로서 이미다졸 화합물(시꼬꾸 가세이 고교 가부시끼가이샤 제조 2E4MZ) 3부, 필러로서 용융 실리카(덴카 가부시끼가이샤 제조 FB-3SDX) 150부, 실란 커플링제(신에쯔 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 제조 KBE-402) 1부를 첨가하고, 교반기로 예비 혼합한 후 3개 롤 밀에서 혼련하여, 수지 바니시 B를 얻었다. 얻어진 수지 바니시 B를 기재 필름에 도포하고, 80℃의 온도에서 15분간 건조시켜, 두께 45㎛의 다이 어태치재를 제작하였다.80 parts of trishydroxyphenylmethane type epoxy resins (EPPN-502H manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 15 parts of bisphenol F type epoxy resin (RE-303S-L manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 50 parts of methyl ethyl ketones were added to 5 parts of flexible epoxy resins (YX7105 by Mitsubishi Chemical Corporation), and it heated and melted and obtained resin varnish A. 3 parts of imidazole compounds (2E4MZ by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) as a hardening catalyst with respect to 150 parts of obtained resin varnish A, 150 parts of fused silica (FB-3SDX by Tenka Corporation), a silane coupling agent as a filler (1 part of Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. KBE-402) was added, it pre-mixed with the stirrer, and it knead | mixed in three roll mills and obtained resin varnish B. Obtained resin varnish B was apply | coated to the base film, it dried at the temperature of 80 degreeC for 15 minutes, and the die attach material of thickness 45micrometer was produced.

<다이 어태치재와의 밀착성 평가><Evaluation of adhesion with die attach material>

상기와 같이 하여 제작한 다이 어태치재를 소정의 사이즈(세로 5mm×가로 5mm×두께 0.045mm)로 잘라내고, 실리콘 칩(세로 5mm×가로 5mm×두께 0.725mm, 산화막 코팅)에 70℃에서 부착시키고, 열 압착 시험기를 사용하여, 실시예 1~8 및 비교예 1~2의 각 시험 기판의 경화 피막의 표면에, 실리콘 칩, 다이 어태치재, 경화 피막의 순서로 압착시켰다(압착 조건: 260℃, 10초간, 1.0MPa). 이어서, 175℃에서 120분 가열하여 다이 어태치재를 완전 경화시켰다. 그 후, 85℃, 상대 습도 85%의 항온 항습기(에스펙 가부시끼가이샤 제조 PR-2KP)에 72시간 방치하고, 취출 후, 접착력 측정 장치(노도손·어드밴스트 테크놀러지 가부시끼가이샤 제조, 만능형 본드 테스터 4000Plus)를 사용하여, 샘플을 세팅하는 스테이지의 온도를 260℃로 하고, 기판으로부터의 툴 높이 0.05mm, 툴 속도 0.05mm/초의 조건에서 접착력을 측정하였다. 시험편은 각 10개씩 제작하고, 평가 기준은 이하와 같이 하였다.The die attach material produced as described above was cut into a predetermined size (5 mm × 5 mm × 0.045 mm in thickness) and attached to a silicon chip (5 mm × 5 mm × 0.725 mm in thickness, oxide film coating) at 70 ° C. Using the thermal compression tester, the surfaces of the cured films of the test substrates of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 and 2 were pressed in the order of silicon chips, die attach materials, and cured films (compression conditions: 260 ° C). , For 10 seconds, 1.0 MPa). Subsequently, the die attach material was completely cured by heating at 175 ° C. for 120 minutes. Subsequently, it was left to stand in a constant temperature / humidity device (PR-2KP made by EPSP Co., Ltd.) of 85 degreeC and a relative humidity of 85% for 72 hours, and after taking out, the adhesion force measuring device (Nordson Advanced Technology Co., Ltd. product, universal type) Using the bond tester 4000Plus), the temperature of the stage for setting the sample was 260 ° C, and the adhesive force was measured under the conditions of a tool height of 0.05 mm and a tool speed of 0.05 mm / second from the substrate. Ten test pieces were produced, and evaluation criteria were as follows.

○: 시험편 10개 모두에서 접착력이 3MPa 이상(Circle): Adhesive force is 3 MPa or more in all 10 test pieces.

×: 시험편 10개 중, 접착력이 3MPa 미만인 시험편이 1개 이상 발생X: 1 or more test pieces whose adhesive force is less than 3 Mpa generate | occur | produced among 10 test pieces

또한, 각 시험 기판을 제작 후, 5분 이내에 상기 내용에 기초하여, 시험 및 평가를 행하였다. 측정 결과는, 하기 표 2에 나타내는 바와 같다.In addition, test and evaluation were performed based on the said content within 5 minutes after each test board | substrate was produced. The measurement results are as shown in Table 2 below.

<감광성 필름의 표면 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수 및 산술 평균 표면 조도 Ra의 측정><Measurement of number of recesses and arithmetic mean surface roughness Ra per 1 mm 2 of surface unit area of photosensitive film>

회로 형성된 기판(150mm×95mm×0.8mmt) 표면을 맥크 가부시끼가이샤 제조의 CZ8101에 의한 화학 연마하고, 기판의 화학 연마된 표면에, 실시예 1~8 및 비교예 1~2에 사용된 각 감광성 필름 적층체로부터 폴리프로필렌 필름을 박리하여 노출된 감광성 필름(140mm×90mm)의 노출면을 접합시키고, 계속해서, 진공 라미네이터(메이키 세이사쿠쇼 제조 MVLP-500)를 사용하여 가압도: 0.8Mpa, 70℃, 1분, 진공도: 133.3Pa의 조건에서 가열 라미네이트하여, 기판과 감광성 필름을 밀착시켰다. 그 후, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름을 기판에 대하여 90°로 박리하여 감광성 필름을 노출시켰다. 노출 후, 5분 이내에 감광성 필름 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수와 산술 평균 표면 조도 Ra의 측정을 이하와 같이 행하였다.The surface of the circuit-formed board | substrate (150 mm x 95 mm x 0.8 mmt) was chemically polished by CZ8101 manufactured by Mack Industries, Ltd., and each photosensitive material used in Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 2 on the chemically polished surface of the substrate. The polypropylene film was peeled from the film laminate, and the exposed surface of the exposed photosensitive film (140 mm x 90 mm) was bonded to each other, and the pressure was then 0.8 Mpa using a vacuum laminator (MVLP-500 manufactured by MEI Seisakusho). , 70 ° C, 1 minute, and vacuum lamination under the conditions of 133.3 Pa to adhere the substrate and the photosensitive film. Thereafter, the polyethylene terephthalate film was peeled off at 90 ° to the substrate to expose the photosensitive film. Within 5 minutes after the exposure, the number of recesses and the arithmetic mean surface roughness Ra of the unit area of 1 mm 2 of the surface of the photosensitive film were measured as follows.

감광성 필름 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수는, 지지 필름 표면의 단위 면적 1mm2당 돌출부의 개수 측정과 동일한 장치를 사용하고, 시료를 지지 필름 대신에, 노출된 감광성 필름을 접합시킨 기판(감광성 필름 표면을 상부로 함)으로 한 것 이외에는 상기와 동일하게 하여 측정을 행하였다. 감광성 필름 표면의 「단위 면적 1mm2당 오목부의 개수」의 측정에서는, 시료의 표면 형상의 측정에 있어서의 관찰 측정 범위(면적)를 15073㎛2로 하였다. 해석 애플리케이션(동 VK-H1XA)을 사용하였다. 표시 화면에 있는 계측 해석 메뉴로부터 [체적·면적]을 선택하여, [체적·면적] 윈도우를 표시시키고, [체적·면적] 윈도우의 [표시 화상] 박스로부터 [높이]를 선택한 후, [역치] 버튼을 눌러, [역치 영역 설정 다이얼로그] 박스를 표시시켰다. [상한] 박스의 값과 [하한] 박스의 값을 더하여 2로 나눈 값 Ave.(㎛)를 산출하고, 그 Ave.(㎛)로부터 0.2㎛를 뺀 값 Zs(㎛) 이하의 부분을 「오목부」로 하였다. [하한] 박스의 값은 변경하지 않고, [상한] 박스에 Zs(㎛)의 값을 입력하고, OK 버튼을 누른 후에, 화상 표시 영역의 경계 부분에서 ROI 묘화색의 색으로 변한 개소의 개수 C(개)를 세고, 이 개수 C(개)로부터, 단위 면적 1mm2당 개수 D(개/mm2)(D=C×66.34)를 산출하였다. 또한, 상기 ROI 묘화색의 색으로 변한 개소 중, 화상 표시 영역 내에서 끊어져버려 1개로서 인식할 수 없는 것에 대해서는, 0.5개로 하여 계상하였다. 또한, 감광성 필름 표면의 「산술 평균 표면 조도 Ra」는, 시료를 지지 필름 대신에, 노출된 감광성 필름을 접합시킨 기판(감광성 필름 표면을 상부로 함)으로 한 것 이외에는 상기와 동일하게 하여 측정을 행하였다. 측정한 각 감광성 필름 표면의 「단위 면적 1mm2당 오목부의 개수」 및 「산술 평균 표면 조도 Ra」는, 표 2에 나타내는 바와 같았다. 또한, 실시예의 어느 것에 있어서도, 확인된 오목부는 불균일하였다.The number of recesses per unit area 1 mm 2 of the photosensitive film surface is the same as that for measuring the number of protrusions per unit area 1 mm 2 of the support film surface, and the substrate is bonded to the exposed photosensitive film instead of the support film. Measurement was performed similarly to the above except having made photosensitive film surface into the upper part). In the measurement of "the number of recesses per unit area 1mm <2> of the photosensitive film surface, the observation measurement range (area) in the measurement of the surface shape of a sample was 15073 micrometer <2> . An analysis application (VK-H1XA) was used. Select [Volume / Area] from the Measurement Analysis menu on the display screen to display the [Volume / Area] window, select [Height] from the [Display image] box in the [Volume / Area] window, and then select [Threshold]. By pressing the button, the [Threshold area setting dialog] box was displayed. The value of the [Upper limit] box and the value of the [Lower limit] box are added to calculate the value Ave. (µm) divided by 2, and the portion equal to or smaller than the value Zs (µm) obtained by subtracting 0.2 µm from the Ave. Wealth ”. Do not change the value of the [Lower limit] box, enter the value of Zs (µm) in the [Upper limit] box, press the OK button, and then change the number C of the areas that changed to the color of the ROI drawing color at the boundary of the image display area. (dogs) for counting, was calculated from the number C (one), the number of unit area of 1mm 2 D (dog / mm 2) per (D = C × 66.34). In addition, about the part which turned into the color of the said ROI drawing color, it cut | disconnected in the image display area and was not able to recognize it as one, and it counted as 0.5 piece. In addition, "arithmetic mean surface roughness Ra" of the photosensitive film surface was measured similarly to the above except having made into the board | substrate (photosensitive film surface being upper part) which bonded the sample to the exposed photosensitive film instead of the support film, and measured it. It was done. The "number of recesses per unit area 1mm <2>and" arithmetic mean surface roughness Ra "of each measured photosensitive film surface were as showing in Table 2. Moreover, also in any of the Example, the confirmed recessed part was nonuniform.

<패턴의 고랑 붕괴><Furrow collapse of pattern>

상기와 같이 하여 제작한 각 시험 기판을 사용하고, 10개의 개구부의 고랑을 1000배의 주사형 전자 현미경(SEM)에서 관찰하였다. 평가 기준은 이와 같이 하였다.Using each test substrate produced as described above, the furrows of the ten openings were observed by a 1000-time scanning electron microscope (SEM). Evaluation criteria were made in this way.

◎: 10개의 개구부 모두, 고랑 형성이 양호하다(Double-circle): A groove formation is favorable for all ten opening parts.

○: 개구부가 테이퍼 형상으로 되어 있지만, 고랑의 상부에 감광성 필름에 포함되는 수지분의 밀려남이, 10개 개구부 중 어느 것에서도 관찰되지 않는다(Circle): Although an opening part becomes a taper shape, the push of the resin powder contained in a photosensitive film in the upper part of a furrow is not observed in any of ten opening parts.

×: 고랑의 상부에 감광성 필름에 포함되는 수지분의 밀려남이, 1개 이상의 개구부에서 관찰된다X: Extrusion of the resin powder contained in the photosensitive film in the upper part of a furrow is observed in one or more opening parts.

평가 결과는, 하기 표 2에 나타내는 바와 같다.The evaluation results are as shown in Table 2 below.

Figure 112018005509327-pat00005
Figure 112018005509327-pat00005

Claims (7)

감광성 필름에 지지 필름이 적층되어 이루어지는 감광성 필름 적층체이고, 상기 감광성 필름은 표면에 오목부를 갖는 면을 구비하고, 감광성 수지 조성물에 의해 형성되어 이루어지고, 상기 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수가 3.0×102개 이상이고,
상기 감광성 필름의 표면에 오목부를 갖는 면측에 상기 지지 필름이 적층되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 감광성 필름 적층체.
It is a photosensitive film laminated body by which a support film is laminated | stacked on the photosensitive film, The said photosensitive film is provided with the surface which has a recessed part in the surface, and is formed by the photosensitive resin composition, and the number of recessed parts per unit area of 1 mm <2> of the said surface is carried out. Is at least 3.0 × 10 2 ,
The said support film is laminated | stacked on the surface side which has a recessed part in the surface of the said photosensitive film, The photosensitive film laminated body characterized by the above-mentioned.
제1항에 있어서, 상기 표면의 단위 면적 1mm2당 오목부의 개수가 2.0×104개 이하인, 감광성 필름 적층체.The photosensitive film laminated body of Claim 1 whose number of recessed parts per unit area 1mm <2> of the said surface is 2.0 * 10 <4> or less. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 표면의 산술 평균 표면 조도 Ra가 0.05㎛ 이상인, 감광성 필름 적층체.The photosensitive film laminated body of Claim 1 or 2 whose arithmetic mean surface roughness Ra of the said surface is 0.05 micrometer or more. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 감광성 수지 조성물이 필러 및 가교 성분을 포함하는, 감광성 필름 적층체.The photosensitive film laminated body of Claim 1 or 2 in which the said photosensitive resin composition contains a filler and a crosslinking component. 제1항 또는 제2항에 기재된 감광성 필름 적층체를 사용하여 형성된 것을 특징으로 하는 경화물.It was formed using the photosensitive film laminated body of Claim 1 or 2, The hardened | cured material characterized by the above-mentioned. 삭제delete 삭제delete
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004022852A (en) * 2002-06-18 2004-01-22 Cmk Corp Method of forming minute circuit

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010078820A (en) * 2008-09-25 2010-04-08 Fujifilm Corp Method for producing photosensitive film, photosensitive film, photosensitive laminate, permanent pattern forming method and printed circuit board
JP2014122276A (en) * 2012-12-21 2014-07-03 Shin Etsu Chem Co Ltd Adamantane skeleton-containing compound, silicone skeleton-containing polymer compound, negative resist material, photocurable dry film, pattern formation method and coating for protection of electric/electronic component
WO2014204173A1 (en) * 2013-06-17 2014-12-24 주식회사 엘지화학 Photocurable and thermosetting resin composition and dry film solder resist
KR101734425B1 (en) * 2013-09-24 2017-05-11 주식회사 엘지화학 Preparation method for dry film solder resist and film laminate used therein
CN106233205B (en) * 2014-04-25 2020-06-23 日立化成株式会社 Photosensitive element, laminate, permanent mask resist, method for producing same, and method for producing semiconductor package
KR101799094B1 (en) * 2015-03-27 2017-11-17 주식회사 엘지화학 Photo-curable and thermo-curable resin composition and dry film solder resist

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004022852A (en) * 2002-06-18 2004-01-22 Cmk Corp Method of forming minute circuit

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