KR100989123B1 - 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치 - Google Patents
박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100989123B1 KR100989123B1 KR1020080101195A KR20080101195A KR100989123B1 KR 100989123 B1 KR100989123 B1 KR 100989123B1 KR 1020080101195 A KR1020080101195 A KR 1020080101195A KR 20080101195 A KR20080101195 A KR 20080101195A KR 100989123 B1 KR100989123 B1 KR 100989123B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- layer
- substrate
- semiconductor layer
- gate electrode
- forming
- Prior art date
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 21
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 90
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 41
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 34
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 33
- 239000004927 clay Substances 0.000 claims abstract description 23
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 21
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 claims abstract description 7
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims abstract description 4
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 15
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 claims description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 4
- 238000002508 contact lithography Methods 0.000 claims description 4
- -1 amine compound Chemical class 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 3
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 6
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 5
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/60—Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
- H10D30/67—Thin-film transistors [TFT]
- H10D30/6758—Thin-film transistors [TFT] characterised by the insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
- H10D86/411—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs characterised by materials, geometry or structure of the substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
- H10D86/451—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs characterised by the compositions or shapes of the interlayer dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
- H10D86/60—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs wherein the TFTs are in active matrices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/844—Encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/121—Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
- H10K59/1213—Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements the pixel elements being TFTs
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/87—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K59/873—Encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/124—Insulating layers formed between TFT elements and OLED elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
Description
Claims (15)
- 기판;상기 기판 상에 위치하는 보호막;상기 보호막 상에 위치하는 버퍼층;상기 버퍼층 상에 위치하는 반도체층;상기 반도체층 상에 위치하는 게이트 전극;상기 반도체층과 상기 게이트 전극을 절연시키는 게이트 절연막; 및상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 일부가 연결되는 소스/드레인 전극을 포함하며, 상기 보호막은 아민을 포함하는 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
- 제 1항에 있어서,상기 보호막은 고분자 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
- 제 1항에 있어서,상기 보호막은 유기암모늄염을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
- 제 1항에 있어서,상기 클레이는 쪼개진 판상구조인 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
- 제 1항에 있어서,상기 기판은 유리기판 또는 플라스틱기판인 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
- 기판을 형성하고,상기 기판 전면에 걸쳐 보호막을 형성하고,상기 보호막 상에 버퍼층을 형성하고,상기 버퍼층상에 반도체층을 형성하고,상기 기판전면에 걸쳐 게이트 절연막을 형성하고,상기 게이트 절연막 상에 상기 반도체층에 대응되는 게이트 전극을 형성하고,상기 기판 전면에 걸쳐 층간 절연막을 형성하고,상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 전기적으로 연결되는 소오스/드레인 전극을 형성하는 것을 포함하며, 상기 보호막은 아민을 포함하는 클레이로 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
- 제 6항에 있어서,상기 보호막은 클레이에 유기아민화합물을 반응시켜 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
- 제 6항에 있어서,상기 보호막은 접촉식 프린팅, 비접촉식 프린팅, 바코팅, 스핀코팅 중 어느 하나를 사용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
- 기판을 형성하고,상기 기판 전면에 걸쳐 보호막을 형성하고,상기 보호막 상에 버퍼층을 형성하고,상기 버퍼층 상에 게이트 전극을 형성하고,상기 게이트 전극 상에 게이트 절연막을 형성하고,상기 게이트 전극 상에 대응되는 반도체층을 형성하고,상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 전기적으로 연결되는 소오스/드레인 전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
- 제 9항에 있어서,상기 보호막은 수용액 분산상태의 클레이에 유기아민화합물을 반응시켜 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
- 기판;상기 기판 상에 위치하는 보호막;상기 보호막 상에 위치하는 버퍼층;상기 버퍼층 상에 위치하는 반도체층;상기 반도체층 상에 위치하는 게이트 전극;상기 반도체층과 상기 게이트 전극을 절연시키는 게이트 절연막;상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 일부가 연결되는 소오스/드레인 전극;기판 전면에 걸쳐 위치하는 절연막; 및상기 소오스/드레인 전극과 전기적으로 연결되는 제 1 전극, 유기막층 및 제 2 전극을 포함하며, 상기 보호막은 아민을 포함하는 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
- 제 11항에 있어서,상기 보호막은 고분자 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
- 제 11항에 있어서,상기 보호막은 유기암모늄염을 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
- 제 11항에 있어서,상기 클레이는 쪼개진 판상구조인 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
- 제 11항에 있어서,상기 기판은 유리기판 또는 플라스틱 기판인 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080101195A KR100989123B1 (ko) | 2008-10-15 | 2008-10-15 | 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치 |
US12/393,473 US8026520B2 (en) | 2008-10-15 | 2009-02-26 | Thin film transistor, method of fabricating the same, and organic light emitting diode display device having the thin film transistor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080101195A KR100989123B1 (ko) | 2008-10-15 | 2008-10-15 | 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100042071A KR20100042071A (ko) | 2010-04-23 |
KR100989123B1 true KR100989123B1 (ko) | 2010-10-20 |
Family
ID=42098070
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080101195A KR100989123B1 (ko) | 2008-10-15 | 2008-10-15 | 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8026520B2 (ko) |
KR (1) | KR100989123B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101298034B1 (ko) | 2011-11-23 | 2013-08-20 | 주식회사 아이브이웍스 | 패시베이션층 형성 방법 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010027767A (ja) * | 2008-07-17 | 2010-02-04 | Seiko Epson Corp | 薄膜デバイス、薄膜デバイスの製造方法及び電子機器 |
KR101320173B1 (ko) | 2011-05-12 | 2013-10-22 | 삼성전기주식회사 | 유기 발광 다이오드 및 이의 제조방법 |
KR20180088099A (ko) | 2017-01-26 | 2018-08-03 | 삼성전자주식회사 | 전자 장치에 있어서 광 검출 장치 및 방법 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20050113040A (ko) * | 2004-05-28 | 2005-12-01 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 트랜지스터 및 그 제조방법과 박막 트랜지스터를포함하는 평판표시장치 |
KR20050113360A (ko) * | 2004-05-27 | 2005-12-02 | 삼성에스디아이 주식회사 | 이중 버퍼층 구조의 박막 트랜지스터와 그 제조방법 |
KR100759681B1 (ko) | 2006-03-29 | 2007-09-17 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 전계 발광표시장치 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11102867A (ja) * | 1997-07-16 | 1999-04-13 | Sony Corp | 半導体薄膜の形成方法およびプラスチック基板 |
JP2001021850A (ja) | 1999-07-06 | 2001-01-26 | Sony Corp | 固体変位素子、光学素子及び干渉フィルター |
KR20010095437A (ko) | 2000-03-30 | 2001-11-07 | 윤덕용 | 발광물질/점토 나노복합소재를 이용한 유기 전기 발광 소자 |
US7491764B2 (en) | 2001-06-13 | 2009-02-17 | Exxonmobil Chemical Patents Inc. | Low permeability nanocomposites |
JP2003133070A (ja) * | 2001-10-30 | 2003-05-09 | Seiko Epson Corp | 積層膜の製造方法、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、及び電子機器 |
JP2003142262A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-05-16 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、膜状部材、積層膜、低屈折率膜、多層積層膜、電子機器 |
JP2004004150A (ja) * | 2002-05-13 | 2004-01-08 | Sumitomo Chem Co Ltd | 積層位相差フィルム及びそれを用いた液晶表示装置 |
KR100894651B1 (ko) * | 2002-07-08 | 2009-04-24 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액티브 매트릭스형 유기 전계발광 표시패널 및 그의제조방법 |
US7072248B2 (en) * | 2002-09-09 | 2006-07-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Rapidly low temperature curable high gas barrier coating |
US7125916B2 (en) * | 2003-10-14 | 2006-10-24 | National Chung-Hsing University | Method for producing nanosilica plates |
KR20050073855A (ko) * | 2004-01-12 | 2005-07-18 | 삼성전자주식회사 | 플렉셔블 디스플레이 및 그 제조 방법 |
KR100553758B1 (ko) | 2004-02-02 | 2006-02-20 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 전계 발광 소자 |
KR101045235B1 (ko) | 2004-05-24 | 2011-06-30 | 윤진산 | 층상 실리카계 클레이의 개질방법 |
KR20060104531A (ko) * | 2005-03-30 | 2006-10-09 | 삼성에스디아이 주식회사 | 발광표시장치의 제조방법 |
JP2007233185A (ja) * | 2006-03-02 | 2007-09-13 | Fujifilm Corp | 光学フィルム、反射防止フィルム、偏光板および画像表示装置 |
KR100797529B1 (ko) | 2006-07-27 | 2008-01-24 | 주식회사 대우일렉트로닉스 | 백색 오엘이디 소자 및 그 제조방법 |
JP4285527B2 (ja) * | 2006-10-30 | 2009-06-24 | 三菱マテリアル株式会社 | 切削ヘッド交換式工具およびそのアーバと切削ヘッドとの締結方法 |
KR20080039594A (ko) | 2006-11-01 | 2008-05-07 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치 |
-
2008
- 2008-10-15 KR KR1020080101195A patent/KR100989123B1/ko active IP Right Grant
-
2009
- 2009-02-26 US US12/393,473 patent/US8026520B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20050113360A (ko) * | 2004-05-27 | 2005-12-02 | 삼성에스디아이 주식회사 | 이중 버퍼층 구조의 박막 트랜지스터와 그 제조방법 |
KR20050113040A (ko) * | 2004-05-28 | 2005-12-01 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 트랜지스터 및 그 제조방법과 박막 트랜지스터를포함하는 평판표시장치 |
KR100759681B1 (ko) | 2006-03-29 | 2007-09-17 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 전계 발광표시장치 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101298034B1 (ko) | 2011-11-23 | 2013-08-20 | 주식회사 아이브이웍스 | 패시베이션층 형성 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100090224A1 (en) | 2010-04-15 |
US8026520B2 (en) | 2011-09-27 |
KR20100042071A (ko) | 2010-04-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7407881B2 (ja) | 表示装置 | |
JP2022003691A (ja) | 半導体装置 | |
JP2022000896A (ja) | 半導体装置 | |
JP5408842B2 (ja) | 発光装置およびその製造方法 | |
CN101523610B (zh) | 薄膜晶体管及其制造方法以及显示装置 | |
US9806285B2 (en) | Organic light-emitting diode display and manufacturing method thereof | |
TW201251000A (en) | Organic light emitting diode display and manufacturing method of the same | |
TW201103142A (en) | Organic light emitting display device and fabricating method thereof | |
TW201250859A (en) | Method of manufacturing semiconductor device | |
KR20140067926A (ko) | 어레이 기판, 어레이 기판 제조 방법 및 디스플레이 장치 | |
US10121883B2 (en) | Manufacturing method of top gate thin-film transistor | |
US9184224B2 (en) | Organic light-emitting diode display and manufacturing method thereof | |
US8860035B2 (en) | Organic light emitting diode display and manufacturing method thereof | |
US9190426B2 (en) | Display device and method of manufacturing the same | |
TW201207485A (en) | Flat panel display device and method of manufacturing the same | |
CN103451607B (zh) | 氧化物半导体溅射靶、用其制造的薄膜晶体管及其制造方法 | |
KR100989123B1 (ko) | 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치 | |
CN110571347A (zh) | 一种显示面板及其制备方法 | |
KR20180069974A (ko) | 트랜지스터 표시판 및 이를 포함하는 표시 장치 | |
WO2020118988A1 (zh) | 显示面板及其制作方法 | |
KR100855489B1 (ko) | 평판표시소자 및 그 제조방법 | |
CN1964063A (zh) | 适用于有机发光二极管显示器的多晶硅薄膜象素电极 | |
CN106992189A (zh) | 氧化物半导体tft基板结构及氧化物半导体tft基板的制作方法 | |
KR20080095540A (ko) | 박막 트랜지스터 및 그 제조방법, 이를 포함하는평판표시장치 | |
CN101997037B (zh) | 半导体结构及其制造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20081015 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20100907 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20101014 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20101014 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130930 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130930 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141001 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20141001 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150930 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20150930 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170928 Year of fee payment: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170928 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181001 Year of fee payment: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20181001 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20201005 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210927 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20230925 Start annual number: 14 End annual number: 14 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20240925 Start annual number: 15 End annual number: 15 |