KR100597286B1 - 현상장치 및 그 방법 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 37
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 104
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 40
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 36
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 15
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 12
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 abstract description 38
- 238000009826 distribution Methods 0.000 abstract description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 36
- 230000008569 process Effects 0.000 description 13
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 12
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 9
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 9
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 7
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 4
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 4
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 4
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 4
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 3
- 238000005273 aeration Methods 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
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- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/26—Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
- G03F7/30—Imagewise removal using liquid means
- G03F7/3021—Imagewise removal using liquid means from a wafer supported on a rotating chuck
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
Claims (17)
- 기판의 표면을 향하는 기류가 형성된 분위기 내에서, 상기 기판 표면에 현상액을 액고임하여 현상을 행하는 현상장치에 있어서,상기 기판을 유지하기 위한 기판 유지부와,기판에 현상액을 공급하기 위한 공급부와,상기 기판 유지부에 유지된 기판의 표면 측에, 기판과 대향하도록 설치되어, 제 1의 통기공이 형성된 제 1의 정류판과,상기 제 1의 정류판과 상대적으로 면 방향에 이동 가능하도록, 이 제 1의 정류판과 대향하도록 설치되어, 제 2의 통기공이 형성된 제 2의 정류판과,상기 제 1의 정류판과 제 2의 정류판을 상대적으로 면 방향에 이동시켜, 제 1의 통기공과, 제 2의 정류판의 제 2의 통기공이 형성되지 않은 영역을 면방향에 직교하는 방향으로 겹치는 것에 의해 제 1의 통기공의 크기를 조정해, 기판표면에 닿는 바람의 풍량을 제어하는 풍량조절 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 풍량조절수단은 상기 제 1의 통기공의 크기를, 기판상에 현상액을 액고임한 상태 그대로 기판표면의 현상을 행할 때에는, 기판표면에 현상액의 액고임을 행할 때보다도 작게 하고, 상기 현상시에 기판표면에 닿는 바람의 풍량을 상기 현 상액의 액고임 때보다도 적게 하는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 풍량조절수단은 상기 기판표면의 현상을 행할 때에는, 제 1의 통기공의 크기를, 기판의 둘레가장자리 영역보다도 중앙근방영역 측을 크게 하여, 기판표면의 중앙근방영역에 닿는 바람의 풍량을 둘레가장자리 영역보다도 많게 하는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 풍량조절수단은 상기 제 1의 정류판과 제 2의 정류판을 상대적으로 한 방향으로 슬라이드 시키는 것으로, 상기 제 1의 정류판과 제 2의 정류판을 상대적으로 면 방향으로 이동시키는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 풍량조절수단은 상기 제 1의 정류판과 제 2의 정류판을 상대적으로 회전시키는 것으로, 상기 제 1의 정류판과 제 2의 정류판을 상대적으로 면 방향에 이동시키는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 1의 면 및 제 2의 면을 가진 기판의, 상기 제 1의 면에 소정의 액을 공급하는 장치에 있어서,상기 기판의 제 2의 면을 유지하는 기판 유지부와,상기 유지된 기판의 제 1의 면에 상기 액을 공급하는 액 공급부와,상기 기판유지부의 위쪽에 배치되어, 상기 기판 유지부 및 그 주위로 향한 기체를 공급하는 기체 공급부와,상기 기판 유지부와 상기 기체 공급부와의 사이에 배치되어, 상기 기체 공급부로부터 공급된 기체의 차폐량을 제어하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 6 항에 있어서,상기 제어부는,상기 기판과 대향하도록 설치되어, 제 1의 통기공이 형성된 제 1의 정류판과,상기 제 1의 정류판과 상대적으로 면 방향으로 이동 가능하도록, 이 제 1의 정류판과 대향하도록 설치되어, 제 2의 통기공이 형성된 제 2의 정류판을 구비하는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 6 항에 있어서,상기 제어부는,사각형을 형성하도록 나열되어, 회전 가능한 복수의 판상부재와,상기 각 판상부재를 회전하는 회전구동부를 구비하는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 8 항에 있어서,상기 회전구동부는 상기 각 판상부재마다 설치되어진 복수의 회전구동기구를 구비하는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 8 항에 있어서,상기 회전구동부는,상기 각 판상부재를 연결하는 연결부재와,상기 연결부재를 매개로 상기 각 판상부재를 일괄하여 회전하는 회전구동기구를 구비하는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 1의 면 및 제 2의 면을 가진 기판의, 상기 제 1의 면에 소정의 액을 공급하는 장치에 있어서,처리 케이스와,상기 처리 케이스 내에 배치되어, 상부의 개구를 가진 컵과,상기 컵 내에 배치되어, 상기 기판의 제 2의 면을 유지하는 기판 유지부와,상기 유지된 기판의 제 1의 면에 상기 액을 공급하는 액 공급부와,상기 처리 케이스의 상부에 배치되어, 상기 처리 케이스 내의 하방으로 향한 기체를 공급하는 기체 공급부와,상기 기판유지부와 상기 기체 공급부와의 사이에 배치되어, 상기 기체 공급부로부터 공급된 기체의 차폐량을 제어하는 제어부와,상기 처리 케이스의 하부에 배치되어, 상기 처리 케이스 내로부터 기체를 배기하는 제 1의 기체 배기부와,상기 컵의 하부에 배치되어, 상기 컵 내에서 기체를 배기하는 제 2의 기체 배기부를 구비하는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 11 항에 있어서,상기 소정의 액이 상기 기판의 제 1의 면에 공급된 후, 정지상태가 필요한 현상액인 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 정지상태일 때, 상기 제 2의 기체 배기부에 의한 배기를 정지시키는 수단을 가진 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 정지상태일 때, 상기 처리 케이스의 측부로부터 기체를 배기하는 제 3의 기체 배기부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 현상장치.
- 기판의 표면을 현상하는 방법에 있어서,상기 기판 표면으로 향하는 기류가 형성된 분위기 내에서, 상기 기판 표면에 현상액을 액고임하는 공정과,기판상에 현상액을 액고임한 상태 그대로, 기판 표면에 바람이 닿지 않도록 하면서 기판 표면을 현상하는 공정을 구비하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 기판의 표면을 현상하는 방법에 있어서,상기 기판 표면으로 향하는 기류가 형성된 분위기 내에서, 상기 기판 표면에 현상액을 액고임하는 공정과,기판상에 현상액을 액고임한 상태 그대로, 기판 표면에 바람이 닿는 영역을 조정하면서 기판 표면을 현상하는 공정을 구비하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 16 항에 있어서,상기 기판 표면을 현상하는 공정은, 기판 표면에 닿는 바람의 풍량을, 둘레가장자리 영역보다도 중앙근방 영역측을 많이 하는 것을 특징으로 하는 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP228671 | 1999-08-12 | ||
JP22867199 | 1999-08-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010050036A KR20010050036A (ko) | 2001-06-15 |
KR100597286B1 true KR100597286B1 (ko) | 2006-07-04 |
Family
ID=16879999
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000046281A Expired - Fee Related KR100597286B1 (ko) | 1999-08-12 | 2000-08-10 | 현상장치 및 그 방법 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6312171B1 (ko) |
KR (1) | KR100597286B1 (ko) |
TW (1) | TW573209B (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101417291B1 (ko) | 2011-06-21 | 2014-07-08 | 가부시끼가이샤 도시바 | 히터 유닛, 팬 필터 유닛 및 기판 처리 장치 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4245743B2 (ja) * | 1999-08-24 | 2009-04-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | エッジリンス装置およびエッジリンス方法 |
KR100517547B1 (ko) * | 2001-06-27 | 2005-09-28 | 삼성전자주식회사 | 포토레지스트 도포 장비 및 이 장비를 사용한포토레지스트 도포 방법 |
JP3910054B2 (ja) * | 2001-12-10 | 2007-04-25 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
JP3874261B2 (ja) * | 2002-04-10 | 2007-01-31 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
US20040244963A1 (en) * | 2003-06-05 | 2004-12-09 | Nikon Corporation | Heat pipe with temperature control |
US20050051196A1 (en) * | 2003-09-08 | 2005-03-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd., | Developer dispensing apparatus with adjustable knife ring |
US7288864B2 (en) * | 2004-03-31 | 2007-10-30 | Nikon Corporation | System and method for cooling motors of a lithographic tool |
US7371022B2 (en) | 2004-12-22 | 2008-05-13 | Sokudo Co., Ltd. | Developer endpoint detection in a track lithography system |
US7699021B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-04-20 | Sokudo Co., Ltd. | Cluster tool substrate throughput optimization |
US7798764B2 (en) | 2005-12-22 | 2010-09-21 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing sequence in a cartesian robot cluster tool |
JP4727712B2 (ja) * | 2008-12-04 | 2011-07-20 | エスペック株式会社 | 通気装置 |
JP6373803B2 (ja) * | 2015-06-23 | 2018-08-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法および記憶媒体 |
KR102478750B1 (ko) * | 2015-11-16 | 2022-12-19 | 주식회사 케이씨텍 | 기판 처리장치 |
KR101940686B1 (ko) * | 2017-01-17 | 2019-01-22 | 무진전자 주식회사 | 웨이퍼 처리 장치 |
KR102032923B1 (ko) * | 2019-01-07 | 2019-10-16 | 무진전자 주식회사 | 웨이퍼 처리 장치 |
CN113083628A (zh) * | 2021-02-28 | 2021-07-09 | 深圳市兴荣昌电子有限公司 | 一种显示器基板生产用均胶机及其均胶方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5143552A (en) | 1988-03-09 | 1992-09-01 | Tokyo Electron Limited | Coating equipment |
JP3192250B2 (ja) * | 1992-11-25 | 2001-07-23 | 株式会社東芝 | 半導体基板の現像方法 |
JPH07269932A (ja) * | 1994-03-30 | 1995-10-20 | Nec Kansai Ltd | 給排気ダクト用ダンパ |
US5625433A (en) | 1994-09-29 | 1997-04-29 | Tokyo Electron Limited | Apparatus and method for developing resist coated on a substrate |
TW317644B (ko) | 1996-01-26 | 1997-10-11 | Tokyo Electron Co Ltd |
-
2000
- 2000-08-09 US US09/635,196 patent/US6312171B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-08-10 KR KR1020000046281A patent/KR100597286B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2000-08-10 TW TW89116101A patent/TW573209B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101417291B1 (ko) | 2011-06-21 | 2014-07-08 | 가부시끼가이샤 도시바 | 히터 유닛, 팬 필터 유닛 및 기판 처리 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW573209B (en) | 2004-01-21 |
US6312171B1 (en) | 2001-11-06 |
KR20010050036A (ko) | 2001-06-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20000810 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20050221 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20000810 Comment text: Patent Application |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20060424 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20060628 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20060628 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090623 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100625 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110527 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120611 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130531 Year of fee payment: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130531 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140603 Year of fee payment: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20140603 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150601 Year of fee payment: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20150601 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160527 Year of fee payment: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160527 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170530 Year of fee payment: 12 |
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PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170530 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
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LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
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