JPS63313874A - 太陽電池用基板 - Google Patents
太陽電池用基板Info
- Publication number
- JPS63313874A JPS63313874A JP63122152A JP12215288A JPS63313874A JP S63313874 A JPS63313874 A JP S63313874A JP 63122152 A JP63122152 A JP 63122152A JP 12215288 A JP12215288 A JP 12215288A JP S63313874 A JPS63313874 A JP S63313874A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transparent conductive
- conductive film
- solar cell
- height
- diameter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 40
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 16
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 3
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 3
- 239000005368 silicate glass Substances 0.000 description 3
- HUAUNKAZQWMVFY-UHFFFAOYSA-M sodium;oxocalcium;hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+].[Ca]=O HUAUNKAZQWMVFY-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 2
- 239000005354 aluminosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 2
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 2
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003085 diluting agent Substances 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 238000002386 leaching Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 230000001603 reducing effect Effects 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/036—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
- H01L31/0392—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate
- H01L31/03921—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate including only elements of Group IV of the Periodic Table
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0236—Special surface textures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0236—Special surface textures
- H01L31/02366—Special surface textures of the substrate or of a layer on the substrate, e.g. textured ITO/glass substrate or superstrate, textured polymer layer on glass substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1884—Manufacture of transparent electrodes, e.g. TCO, ITO
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24355—Continuous and nonuniform or irregular surface on layer or component [e.g., roofing, etc.]
- Y10T428/24364—Continuous and nonuniform or irregular surface on layer or component [e.g., roofing, etc.] with transparent or protective coating
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24628—Nonplanar uniform thickness material
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、アモルファス・シリコン太陽電池に使用され
る光電変換効率の良好な太陽電池用基板に関するもので
ある。
る光電変換効率の良好な太陽電池用基板に関するもので
ある。
[従来の技術]
第2図の様に、透明絶縁性基板1面に形成された透明電
導膜2上にp型a−3i層3、j型a−3i層4および
n型a−3i層5からなるa−3i半導体層6とアルミ
ニウム電極7とを順次積層したアモルファス太陽電池8
が低コストで製造可能な光電変換装置の一つとして使用
されている。かかるアモルファス太陽電池8は、光9が
透明絶縁性基板1側から入射し、主としてl型a−3i
層4内で吸収されて透明電導膜2とアルミニウム電極7
どの間で起電力が発生し、導線10を通して電力が取り
出される。
導膜2上にp型a−3i層3、j型a−3i層4および
n型a−3i層5からなるa−3i半導体層6とアルミ
ニウム電極7とを順次積層したアモルファス太陽電池8
が低コストで製造可能な光電変換装置の一つとして使用
されている。かかるアモルファス太陽電池8は、光9が
透明絶縁性基板1側から入射し、主としてl型a−3i
層4内で吸収されて透明電導膜2とアルミニウム電極7
どの間で起電力が発生し、導線10を通して電力が取り
出される。
アモルファス・シリコン太陽電池においては、光電変換
効率の向上が最も重要な課題である。光電変換効率を高
める方法として、透明電導膜の表面を凹凸化する方法が
知られている。
効率の向上が最も重要な課題である。光電変換効率を高
める方法として、透明電導膜の表面を凹凸化する方法が
知られている。
この凹凸化により、入射光が透明電導膜とa−3i半導
体層との界面で散乱され、この光学的な散乱効果により
、入射光の表面反射損失の低減、a−3i半導体層内で
の多重反射屈折による光路長の増大によるi型a−3i
層内での光の吸収量の増大が得られ、i型a−3i層内
での光閉じ込め効果によりアモルファス・シリコン太陽
電池の長波長光に対する収集効率が向上し、短絡電流密
度を増大することができ、発電効率が高くなり、光電変
換効率が向上される。
体層との界面で散乱され、この光学的な散乱効果により
、入射光の表面反射損失の低減、a−3i半導体層内で
の多重反射屈折による光路長の増大によるi型a−3i
層内での光の吸収量の増大が得られ、i型a−3i層内
での光閉じ込め効果によりアモルファス・シリコン太陽
電池の長波長光に対する収集効率が向上し、短絡電流密
度を増大することができ、発電効率が高くなり、光電変
換効率が向上される。
この様な凹凸化の具体的な方法として、特開昭58−E
17755号においては、透明電導膜の表面の平均粒径
を0.1 μm−2,5μmとすること、又特開昭59
−201470号においては、透明電導膜を平均粒径0
.1 μm−0,9μmの結晶粒からなる様にすること
、又特開昭59−103384号においては、透明電導
膜を構成する微結晶の平均粒径を300Å以上とするこ
と、又特開昭6[]−175465号においては透明電
導膜を形成する太陽電池基板として、基板面にヘイズ率
が1%以上であり、直径が300〜5000人、高さが
200〜3000人の多数の凸部を持つ酸化珪素被膜を
形成することが提案されている。
17755号においては、透明電導膜の表面の平均粒径
を0.1 μm−2,5μmとすること、又特開昭59
−201470号においては、透明電導膜を平均粒径0
.1 μm−0,9μmの結晶粒からなる様にすること
、又特開昭59−103384号においては、透明電導
膜を構成する微結晶の平均粒径を300Å以上とするこ
と、又特開昭6[]−175465号においては透明電
導膜を形成する太陽電池基板として、基板面にヘイズ率
が1%以上であり、直径が300〜5000人、高さが
200〜3000人の多数の凸部を持つ酸化珪素被膜を
形成することが提案されている。
しかしながら、上記した様な形状、構造の太陽電池用基
板では、光電変換効率を高めること彎 ができるが、更に高効率化を図る上では不充分であり、
更に高い光電変換効率が得られる最適形状の凹凸が求め
られていた。
板では、光電変換効率を高めること彎 ができるが、更に高効率化を図る上では不充分であり、
更に高い光電変換効率が得られる最適形状の凹凸が求め
られていた。
[発明が解決しようとする課題]
本発明は、更に一層高い光電変換効率が得られる最適凹
凸面を有する太陽電池用基板を提供することを目的とす
るものである。
凸面を有する太陽電池用基板を提供することを目的とす
るものである。
[課題を解決するための手段1
本発明は、前述の目的に基づき研究の結果発明されたも
のであり、ガラス基板上に多数の凸部を有する透明電導
膜が形成された太陽電池用基板であって、上記凸部は0
.1μm〜0.3μmの直径と0.6以上の高さ/直径
の比を有することを特徴とする太陽電池用基板を提供す
るものである。
のであり、ガラス基板上に多数の凸部を有する透明電導
膜が形成された太陽電池用基板であって、上記凸部は0
.1μm〜0.3μmの直径と0.6以上の高さ/直径
の比を有することを特徴とする太陽電池用基板を提供す
るものである。
以下、本発明を更に詳細に説明する。
本発明において使用されるガラス基板としては、ソーダ
ライムシリケートガラス、アルミノシリケートガラス、
硼珪酸塩ガラス、リジウムアルミノシリケートガラス、
石英ガラス、その他の各種ガラスからなる350〜80
0μmの波長域において高い透過率、例えば80%以上
の透過率を有し、絶縁性で、かつ化学的、物理的耐久性
が高く、かつ光学的特性の良好な透明性ガラス板が使用
できる。なお、ソーダライムシリケートガラスなどのナ
トリウムを含有するガラスからなるガラス基板、又は低
アルカリ含有のガラスからなるガラス基板の場合には、
ガラス表面からナトリウムが溶出してその上面に形成さ
れる透明電導膜に悪影響を及ぼさない様に、例えばヘイ
ズが発生しない様に、酸化ケイ素膜、酸化アルミニウム
膜、酸化ジルコニウム膜などのアルカリバリヤーコート
をガラス基板面に施してもよい。ガラス基板の厚さは特
に限定されないが、光の透過率の低下、重量の極端な上
昇、強度低下、取扱いの不便さが起らない様に、0.6
mm〜6mmが適当である。
ライムシリケートガラス、アルミノシリケートガラス、
硼珪酸塩ガラス、リジウムアルミノシリケートガラス、
石英ガラス、その他の各種ガラスからなる350〜80
0μmの波長域において高い透過率、例えば80%以上
の透過率を有し、絶縁性で、かつ化学的、物理的耐久性
が高く、かつ光学的特性の良好な透明性ガラス板が使用
できる。なお、ソーダライムシリケートガラスなどのナ
トリウムを含有するガラスからなるガラス基板、又は低
アルカリ含有のガラスからなるガラス基板の場合には、
ガラス表面からナトリウムが溶出してその上面に形成さ
れる透明電導膜に悪影響を及ぼさない様に、例えばヘイ
ズが発生しない様に、酸化ケイ素膜、酸化アルミニウム
膜、酸化ジルコニウム膜などのアルカリバリヤーコート
をガラス基板面に施してもよい。ガラス基板の厚さは特
に限定されないが、光の透過率の低下、重量の極端な上
昇、強度低下、取扱いの不便さが起らない様に、0.6
mm〜6mmが適当である。
ガラス基板上に形成される透明電導膜としては、酸化錫
、フッ素が酸化錫に対し0.1〜5重量%ドープされた
酸化錫、アンチモンが酸化錫に対し0.1〜30重量%
ドープされた酸化錫、錫が酸化インジウム対し0.5〜
30重量%ドープされた酸化インジウムなどの電気伝導
性の良好な透明性金属酸化物からなるものが適当である
。
、フッ素が酸化錫に対し0.1〜5重量%ドープされた
酸化錫、アンチモンが酸化錫に対し0.1〜30重量%
ドープされた酸化錫、錫が酸化インジウム対し0.5〜
30重量%ドープされた酸化インジウムなどの電気伝導
性の良好な透明性金属酸化物からなるものが適当である
。
中でも、フッ素がドープされた酸化錫からなる透明電導
膜は、シート抵抗30Ω/口以下の低抵抗が容易に得ら
れ、又プラズマCVD法によりa−3i層を形成する時
に曝される還元性の高い水素プラズマに対して高い耐性
を有し、かつ所定の表面凹凸が容易に得られやすいので
太陽電池用基板として最適である。
膜は、シート抵抗30Ω/口以下の低抵抗が容易に得ら
れ、又プラズマCVD法によりa−3i層を形成する時
に曝される還元性の高い水素プラズマに対して高い耐性
を有し、かつ所定の表面凹凸が容易に得られやすいので
太陽電池用基板として最適である。
本発明の透明電導膜において、第1図の様に、透明電導
膜22の表面は全体に渡って凹凸面となっており、多数
の凸部24を有している。そして、かかる凸部24の直
径りは0.1〜0.3μmであり、かつ凸部24の高さ
/直径の比(H/D)は0.6以上、好ましくは0.7
〜1.2となっている。かかる凸部24の高さは0.1
〜0.6μm、特に、0.25μm以下であることが好
ましい。又、多数の凸部24は、互いにあまり距離をお
いて形成されていると十分な光散乱効果が得られないた
め、0.1〜0.5μmのピッチPを持って形成されて
いることが好ましい。
膜22の表面は全体に渡って凹凸面となっており、多数
の凸部24を有している。そして、かかる凸部24の直
径りは0.1〜0.3μmであり、かつ凸部24の高さ
/直径の比(H/D)は0.6以上、好ましくは0.7
〜1.2となっている。かかる凸部24の高さは0.1
〜0.6μm、特に、0.25μm以下であることが好
ましい。又、多数の凸部24は、互いにあまり距離をお
いて形成されていると十分な光散乱効果が得られないた
め、0.1〜0.5μmのピッチPを持って形成されて
いることが好ましい。
又、凸部の形状は任意であるが、凸部の底面の形状が四
角形ないしそれ以上の多角形などのものが代表的な例と
して挙げられる。
角形ないしそれ以上の多角形などのものが代表的な例と
して挙げられる。
上記した凸部の高さは、あらかじめ触針式膜厚計により
膜厚t。を測定した後、これを研磨してヘイズ値が2%
以下となる時点での膜厚し、を測定し、j o j
+の値を凸部の高さとした。また、直径及びピッチはS
EM写真により実測し、求めたものである。
膜厚t。を測定した後、これを研磨してヘイズ値が2%
以下となる時点での膜厚し、を測定し、j o j
+の値を凸部の高さとした。また、直径及びピッチはS
EM写真により実測し、求めたものである。
なお、本発明においては、O1〜0.5μmの直径と0
.6以上の高さ/直径の比を有しない凸部が、本発明の
効果に影響を及ぼさない範囲において多少混在していて
も構わない。
.6以上の高さ/直径の比を有しない凸部が、本発明の
効果に影響を及ぼさない範囲において多少混在していて
も構わない。
又、上記した多数の凸部を有する透明電導膜のシート抵
抗値は30Ω/口以下、特に大型基板におけるオーム損
失、透過率の確保などの点から4〜10Ω/□とするる
のが太陽電池用基板として最適である。
抗値は30Ω/口以下、特に大型基板におけるオーム損
失、透過率の確保などの点から4〜10Ω/□とするる
のが太陽電池用基板として最適である。
また、本発明においてへイス率は前述の粒子形状と光学
的性質との関係から、又、光電変換効率の点から、8〜
30%とするのが最適である。
的性質との関係から、又、光電変換効率の点から、8〜
30%とするのが最適である。
本発明の透明電導膜は従来から利用されているコーティ
ング方法、例えば、CVD法、スプレー法、スパッタリ
ング法、真空蒸着法、イオンブレーティング法、浸漬法
など各種方法により作成できる。中でも上記した様な直
径、高さ、高さ/直径、ピッチを持った凸部が容易に、
かつコントロールされて得られる CVD法、スパッタ
リング法が最適である。
ング方法、例えば、CVD法、スプレー法、スパッタリ
ング法、真空蒸着法、イオンブレーティング法、浸漬法
など各種方法により作成できる。中でも上記した様な直
径、高さ、高さ/直径、ピッチを持った凸部が容易に、
かつコントロールされて得られる CVD法、スパッタ
リング法が最適である。
[作用]
本発明において、透明電導膜内に入射した光は、透明電
導膜とa−3iの界面をへて、a−3i層に入射される
。その際、電導膜表面が凹凸構造を有していると光は散
乱されてa−3i層内にとり込まれるため、Si層内で
のオプティカルパス(光路長)が長くなり光の吸収効率
が高まる。
導膜とa−3iの界面をへて、a−3i層に入射される
。その際、電導膜表面が凹凸構造を有していると光は散
乱されてa−3i層内にとり込まれるため、Si層内で
のオプティカルパス(光路長)が長くなり光の吸収効率
が高まる。
特に長波長領域ではシリコンの吸光係数が小さいため特
にこの効果が大きい。この長波長領域における光の散乱
性を高めるためには、ある程度以上の大きさの直径、高
さが必要となる。
にこの効果が大きい。この長波長領域における光の散乱
性を高めるためには、ある程度以上の大きさの直径、高
さが必要となる。
又、オプティカルパスをより長くとるためには、散乱す
る角度を大きくする事が望ましく、直径に対する高さの
比が大きい方が好ましいと考えられる。
る角度を大きくする事が望ましく、直径に対する高さの
比が大きい方が好ましいと考えられる。
本発明における透明電導膜は多数の凸部を有し、かかる
凸部は0.1〜0.3μmの直径と、0.6以上、好ま
しくは0.7〜1.2の高さ/直径の比を有している。
凸部は0.1〜0.3μmの直径と、0.6以上、好ま
しくは0.7〜1.2の高さ/直径の比を有している。
上述の様に、凸部の直径や高さ/直径の比がある程度大
きい方が光散乱効果が大きくなりシリコン層内でのオプ
ティカルパスが長くなるため好ましいが、直径が0.3
μmを超え、かつ/又は高さ/直径の比が1.2を超え
る場合には結果的に凸部の高さが大きくなりすぎ、透明
電導膜上にa−3i層を均一に積層することが困難とな
り、最悪の場合には、透明電導膜の凸部と背面電極とが
接してしまい短絡してしまう。従って、凸部の直径や高
さ/直径の比はa−3i層の膜厚やa−3i積層条件に
より制約を受ける。又、直径が0.3μmを超える凸部
を有する透明電導膜を形成する為には基板温度をかなり
高くする必要があり、例えば620℃程度以上にする必
要があり、かかる高温はガラス基板を変形させる恐れが
あり好ましくない。
きい方が光散乱効果が大きくなりシリコン層内でのオプ
ティカルパスが長くなるため好ましいが、直径が0.3
μmを超え、かつ/又は高さ/直径の比が1.2を超え
る場合には結果的に凸部の高さが大きくなりすぎ、透明
電導膜上にa−3i層を均一に積層することが困難とな
り、最悪の場合には、透明電導膜の凸部と背面電極とが
接してしまい短絡してしまう。従って、凸部の直径や高
さ/直径の比はa−3i層の膜厚やa−3i積層条件に
より制約を受ける。又、直径が0.3μmを超える凸部
を有する透明電導膜を形成する為には基板温度をかなり
高くする必要があり、例えば620℃程度以上にする必
要があり、かかる高温はガラス基板を変形させる恐れが
あり好ましくない。
以上のような理由で、本発明においては直径及び高さ/
直径は上記範囲が好ましい。
直径は上記範囲が好ましい。
一方、凸部の直径が0.1μm未満かつ/又は高さ/直
径の比が0.6未満であると、凸部が小さく、かつ/又
は鈍角三角形形状に、平らたくなってしまい、光が散乱
する角度が小さくなり、光路長の増大が図れず、充分な
光電変換効率が得られない。
径の比が0.6未満であると、凸部が小さく、かつ/又
は鈍角三角形形状に、平らたくなってしまい、光が散乱
する角度が小さくなり、光路長の増大が図れず、充分な
光電変換効率が得られない。
以下、本発明の詳細な説明する。
[実施例]
(1)透明電導膜の作成
太陽電池用基板の透明電導膜の表面性状と太陽電池の光
電変換効率の関係を調べるために、まず、SiO□膜(
膜厚800人)の形成されたソーダライムシリケートガ
ラス板(4インチ×3.5インチ×厚さ 1.Imm)
上に、下記の方法で、各々製膜条件を変え、表面性状の
異なる9種類の透明電導膜を作成した。
電変換効率の関係を調べるために、まず、SiO□膜(
膜厚800人)の形成されたソーダライムシリケートガ
ラス板(4インチ×3.5インチ×厚さ 1.Imm)
上に、下記の方法で、各々製膜条件を変え、表面性状の
異なる9種類の透明電導膜を作成した。
各々N2ガスに同伴させた、5nCI4. lIgo
。
。
CH,OH、l(F及び希釈用N2ガスを反応ガスとし
、加熱部及び冷却部を有し加熱部には反応ガスを導入す
るためのノズル(幅4インチ)と、反応後のガスを排気
するための排気孔を有するベルト搬送式のCVD炉を用
いて以下の透明電導膜を作成した。
、加熱部及び冷却部を有し加熱部には反応ガスを導入す
るためのノズル(幅4インチ)と、反応後のガスを排気
するための排気孔を有するベルト搬送式のCVD炉を用
いて以下の透明電導膜を作成した。
ガス導入ノズルは、反応ガスその他のガスの吐出口とし
て5つのスリット状吐出口を有し、中央のスリットより
5nC14及び希釈用N2ガスが、これに隣接する2つ
のスリットより分離用のN2ガスが、また最外層の2つ
のスリットより 820. CH,DH、HF及び希釈
用N2ガスが、それぞれ吐出する構造をしている。また
吐出口とガラス基板との距離は調整可能な構造をしてい
る。
て5つのスリット状吐出口を有し、中央のスリットより
5nC14及び希釈用N2ガスが、これに隣接する2つ
のスリットより分離用のN2ガスが、また最外層の2つ
のスリットより 820. CH,DH、HF及び希釈
用N2ガスが、それぞれ吐出する構造をしている。また
吐出口とガラス基板との距離は調整可能な構造をしてい
る。
サンプルNo、 l
5iO□膜を800人の厚さでコーティングしたソーダ
ライムシリカガラス基板(4インチ×3.5インチ膜厚
さ1.1 mm)を前述のCVD炉の一端よりベルト搬
送速度0.20m/minで炉内に導入し、基板温度6
00℃まで加熱した後、前述のガス導入ノズルより反応
ガスを基板上に吹きつけて、基板のSiO□膜上にフッ
素のドープされた5n02膜を形成した。供給ガス導入
量は、中央スリットから5nC140,0251/mi
n 、 N21.6fl/min’、中央スリットに隣
接する分離スリットからN21.5n / m1n−最
外スリットからH,00,93j2 / min 、
HF O,0+5j2 / min %CHsOHO
,017A / min 、 N21.5j2 / m
inであった。
ライムシリカガラス基板(4インチ×3.5インチ膜厚
さ1.1 mm)を前述のCVD炉の一端よりベルト搬
送速度0.20m/minで炉内に導入し、基板温度6
00℃まで加熱した後、前述のガス導入ノズルより反応
ガスを基板上に吹きつけて、基板のSiO□膜上にフッ
素のドープされた5n02膜を形成した。供給ガス導入
量は、中央スリットから5nC140,0251/mi
n 、 N21.6fl/min’、中央スリットに隣
接する分離スリットからN21.5n / m1n−最
外スリットからH,00,93j2 / min 、
HF O,0+5j2 / min %CHsOHO
,017A / min 、 N21.5j2 / m
inであった。
さらに、サンプルNO12からN009までを、前述の
CVD炉を用いて、表1に示した作成条件により作成し
た。
CVD炉を用いて、表1に示した作成条件により作成し
た。
(2)表面性状の測定
■ 凸部の高さ
作成した基板上の透明電導膜の膜厚tOをあらかじめ触
針式膜厚計(Taly−3tep;Ta1lor−Ho
bson Co、、top of needle 12
.5 μmφ)により測定した後、0.5μmのダイア
モンドペーストを用い、500g/cm2の荷重下で研
磨を行なった。研磨の過程で、膜厚およびヘイズ値を測
定し、ヘイズ値が2%以下となる時点での膜厚t、と当
初の膜厚t。どの差(Lo−tel を凸部の高さとし
た。
針式膜厚計(Taly−3tep;Ta1lor−Ho
bson Co、、top of needle 12
.5 μmφ)により測定した後、0.5μmのダイア
モンドペーストを用い、500g/cm2の荷重下で研
磨を行なった。研磨の過程で、膜厚およびヘイズ値を測
定し、ヘイズ値が2%以下となる時点での膜厚t、と当
初の膜厚t。どの差(Lo−tel を凸部の高さとし
た。
■ 凸部の直径
作成した基板上の透明電導膜のSEM写真を撮影し、実
測した。
測した。
各サンプルの透明電導膜の表面性状を表2に示す。
(3)太陽電池としての特性
サンプルNo、 1〜9の各透明電導膜上にP−CVD
法により順次p型a−3i層(膜厚100人)、i型a
−Si層(膜厚4000人)、n型a−Si層(膜厚1
000人)からなるa−Si半導体層を形成し、次いで
、その表面にアルミニウム電極層(膜厚10000人)
を真空蒸着法により形成した。
法により順次p型a−3i層(膜厚100人)、i型a
−Si層(膜厚4000人)、n型a−Si層(膜厚1
000人)からなるa−Si半導体層を形成し、次いで
、その表面にアルミニウム電極層(膜厚10000人)
を真空蒸着法により形成した。
このようにして作成した各太陽電池の光電変換効率、短
絡電流、開放端電圧、フィルファクターの測定値を表2
に示す。
絡電流、開放端電圧、フィルファクターの測定値を表2
に示す。
A
[発明の効果]
上記した本発明の実施例(サンプル1〜7)及び比較例
(サンプル8.9)から明らかなように、本発明の太陽
電池用基板を用いると次の様な優れた効果が得られる。
(サンプル8.9)から明らかなように、本発明の太陽
電池用基板を用いると次の様な優れた効果が得られる。
(1’)光電変換効率 約0.5%の向上(2)短絡電
流密度 約1 mA/ cm”の向上
流密度 約1 mA/ cm”の向上
第1図は本発明の太陽電池用基板の透明電導膜の表面性
状を示すための部分的拡大図、第2図はアモルファスシ
リコン太陽電池の構成を示す断面図である。 l:透明絶縁性基板 2:透明電導膜3:p型a−3
i層 4:i型a−3i層5:n型a−3i層
6 : a−3i半導体層7:アルミニウム電極
8 : a−3i太陽電池9:入射光 l
O:導線 20ニガラス基体 22:透明電導膜24:透明
電導膜の凸部 D=凸部の直径H:凸部の高さ P
:凸部と凸部の間隔第1図 第2図
状を示すための部分的拡大図、第2図はアモルファスシ
リコン太陽電池の構成を示す断面図である。 l:透明絶縁性基板 2:透明電導膜3:p型a−3
i層 4:i型a−3i層5:n型a−3i層
6 : a−3i半導体層7:アルミニウム電極
8 : a−3i太陽電池9:入射光 l
O:導線 20ニガラス基体 22:透明電導膜24:透明
電導膜の凸部 D=凸部の直径H:凸部の高さ P
:凸部と凸部の間隔第1図 第2図
Claims (5)
- (1)ガラス基板上に多数の凸部を有する透明電導膜が
形成された太陽電池用基板であって、上記凸部は0.1
μm〜0.3μmの直径と0.6以上の高さ/直径の比
を有することを特徴とする太陽電池用基板。 - (2)凸部の高さ/直径の比が0.7〜1.2であるこ
とを特徴とする請求項1記載の太陽電池用基板。 - (3)透明電導膜が酸化錫、フッ素がドープされた酸化
、アンチモンがドープされた酸化錫、錫がドープされた
酸化インジウムのうち1種からなるものであることを特
徴とする請求項1記載の太陽電池用基板。 - (4)透明電導膜のシート抵抗が4〜10Ω/□である
ことを特徴とする請求項1記載の太陽電池用基板。 - (5)透明電導膜のヘイズ値が8〜30%であることを
特徴とする請求項1記載のの太陽電池用基板。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/052,991 US4808462A (en) | 1987-05-22 | 1987-05-22 | Solar cell substrate |
US052991 | 1987-05-22 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63313874A true JPS63313874A (ja) | 1988-12-21 |
Family
ID=21981205
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63122152A Pending JPS63313874A (ja) | 1987-05-22 | 1988-05-20 | 太陽電池用基板 |
JP63505022A Expired - Lifetime JP2862174B2 (ja) | 1987-05-22 | 1988-05-20 | 太陽電池用基板 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63505022A Expired - Lifetime JP2862174B2 (ja) | 1987-05-22 | 1988-05-20 | 太陽電池用基板 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4808462A (ja) |
EP (1) | EP0360831A4 (ja) |
JP (2) | JPS63313874A (ja) |
WO (1) | WO1988009265A1 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999063600A1 (en) * | 1998-06-01 | 1999-12-09 | Kaneka Corporation | Silicon-base thin-film photoelectric device |
JP2005515955A (ja) * | 2001-11-28 | 2005-06-02 | サン−ゴバン グラス フランス | 電極を備えた透明基材 |
JP2007531301A (ja) * | 2004-04-01 | 2007-11-01 | ネーデルランド オルガニサティ フォール トウゲパストナチュールウェテンスカッペリューク オンデルツォイック ティーエヌオー | ポリマー光電子デバイスおよびその製造方法 |
JP2008153570A (ja) * | 2006-12-20 | 2008-07-03 | Sharp Corp | 太陽電池の基体およびその製造方法、太陽電池モジュール |
JP2009260270A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-11-05 | Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The | 太陽電池用基板及び太陽電池 |
JP2010526430A (ja) * | 2007-05-04 | 2010-07-29 | サン−ゴバン グラス フランス | 改良型電極層を備えた透明基材 |
JP2011014736A (ja) * | 2009-07-02 | 2011-01-20 | Kaneka Corp | 薄膜光電変換装置、及びその製造方法 |
US9260779B2 (en) | 2009-05-21 | 2016-02-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-transmitting conductive film, display device, electronic device, and manufacturing method of light-transmitting conductive film |
WO2018154915A1 (ja) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | Agc株式会社 | 不透視膜付き部材 |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3830174A1 (de) * | 1988-09-06 | 1990-03-15 | Geesthacht Gkss Forschung | Leitfaehige oberflaechenschicht |
US5078803A (en) * | 1989-09-22 | 1992-01-07 | Siemens Solar Industries L.P. | Solar cells incorporating transparent electrodes comprising hazy zinc oxide |
JP2974485B2 (ja) * | 1992-02-05 | 1999-11-10 | キヤノン株式会社 | 光起電力素子の製造法 |
DE4315959C2 (de) * | 1993-05-12 | 1997-09-11 | Max Planck Gesellschaft | Verfahren zur Herstellung einer strukturierten Schicht eines Halbleitermaterials sowie einer Dotierungsstruktur in einem Halbleitermaterial unter Einwirkung von Laserstrahlung |
US6387844B1 (en) | 1994-10-31 | 2002-05-14 | Akira Fujishima | Titanium dioxide photocatalyst |
JP2984595B2 (ja) * | 1996-03-01 | 1999-11-29 | キヤノン株式会社 | 光起電力素子 |
JPH10117006A (ja) * | 1996-08-23 | 1998-05-06 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 薄膜光電変換装置 |
US6140570A (en) * | 1997-10-29 | 2000-10-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Photovoltaic element having a back side transparent and electrically conductive layer with a light incident side surface region having a specific cross section and a module comprising said photovolatic element |
AUPP699798A0 (en) | 1998-11-06 | 1998-12-03 | Pacific Solar Pty Limited | Thin films with light trapping |
EP1054454A3 (en) * | 1999-05-18 | 2004-04-21 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Glass sheet with conductive film, method of manufacturing the same, and photoelectric conversion device using the same |
JP3227449B2 (ja) * | 1999-05-28 | 2001-11-12 | 日本板硝子株式会社 | 光電変換装置用基板とその製造方法、およびこれを用いた光電変換装置 |
JP4430194B2 (ja) * | 1999-05-31 | 2010-03-10 | 日本板硝子株式会社 | 透明積層体およびこれを用いたガラス物品 |
JP2001060708A (ja) * | 1999-06-18 | 2001-03-06 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 透明積層体およびこれを用いたガラス物品 |
JP2001060702A (ja) * | 1999-06-18 | 2001-03-06 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 光電変換装置用基板およびこれを用いた光電変換装置 |
DE19935046C2 (de) * | 1999-07-26 | 2001-07-12 | Schott Glas | Plasma-CVD-Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer mikrokristallinen Si:H-Schicht auf einem Substrat sowie deren Verwendung |
JP2001114534A (ja) | 1999-10-20 | 2001-04-24 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 金属酸化物膜付きガラス板およびその製造方法、ならびにこれを用いた複層ガラス |
JP4229606B2 (ja) * | 2000-11-21 | 2009-02-25 | 日本板硝子株式会社 | 光電変換装置用基体およびそれを備えた光電変換装置 |
JP2002260448A (ja) * | 2000-11-21 | 2002-09-13 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 導電膜、その製造方法、それを備えた基板および光電変換装置 |
US6750394B2 (en) | 2001-01-12 | 2004-06-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin-film solar cell and its manufacturing method |
JP2003060217A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-28 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 導電膜付きガラス板 |
WO2003036657A1 (fr) * | 2001-10-19 | 2003-05-01 | Asahi Glass Company, Limited | Substrat a couche d'oxyde conductrice transparente, son procede de production et element de conversion photoelectrique |
AUPR864501A0 (en) * | 2001-11-05 | 2001-11-29 | Cochlear Limited | Thin flexible conductors |
EP1462541B1 (en) | 2001-12-03 | 2015-03-04 | Nippon Sheet Glass Company, Limited | Method for forming thin film. |
EP1480276A1 (en) * | 2002-01-31 | 2004-11-24 | Nippon Sheet Glass Co.,Ltd. | Substrate for photoelectric conversion device |
WO2004102677A1 (ja) * | 2003-05-13 | 2004-11-25 | Asahi Glass Company, Limited | 太陽電池用透明導電性基板およびその製造方法 |
JP2005085468A (ja) * | 2003-09-04 | 2005-03-31 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 光電変換素子 |
JP2005169761A (ja) * | 2003-12-10 | 2005-06-30 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 酸化物膜付き基材、および酸化錫膜付き基材の製造方法 |
JP4195936B2 (ja) * | 2004-03-17 | 2008-12-17 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 拡散性の反射面を持つ反射型調光素子 |
JP4634129B2 (ja) | 2004-12-10 | 2011-02-16 | 三菱重工業株式会社 | 光散乱膜,及びそれを用いる光デバイス |
WO2007025062A2 (en) * | 2005-08-25 | 2007-03-01 | Wakonda Technologies, Inc. | Photovoltaic template |
JP2007288223A (ja) * | 2007-08-06 | 2007-11-01 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 光電変換装置および光電変換装置の製造方法 |
US8927392B2 (en) * | 2007-11-02 | 2015-01-06 | Siva Power, Inc. | Methods for forming crystalline thin-film photovoltaic structures |
US20090194160A1 (en) * | 2008-02-03 | 2009-08-06 | Alan Hap Chin | Thin-film photovoltaic devices and related manufacturing methods |
JPWO2010016468A1 (ja) | 2008-08-05 | 2012-01-26 | 旭硝子株式会社 | 透明導電膜基板およびこの基板を用いた太陽電池 |
US8236603B1 (en) | 2008-09-04 | 2012-08-07 | Solexant Corp. | Polycrystalline semiconductor layers and methods for forming the same |
TW201027768A (en) | 2008-10-29 | 2010-07-16 | Ulvac Inc | Manufacturing method of solar battery, etching device and CVD device |
JPWO2010084758A1 (ja) | 2009-01-23 | 2012-07-19 | 株式会社アルバック | 太陽電池の製造方法及び太陽電池 |
US8415187B2 (en) * | 2009-01-28 | 2013-04-09 | Solexant Corporation | Large-grain crystalline thin-film structures and devices and methods for forming the same |
JP2011014884A (ja) * | 2009-06-05 | 2011-01-20 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置 |
US8558106B2 (en) * | 2009-10-20 | 2013-10-15 | Industrial Technology Research Institute | Solar cell device and method for fabricating the same |
US9085484B2 (en) | 2010-04-30 | 2015-07-21 | Corning Incorporated | Anti-glare surface treatment method and articles thereof |
US20110308585A1 (en) * | 2010-06-16 | 2011-12-22 | International Business Machines Corporation | Dual transparent conductive material layer for improved performance of photovoltaic devices |
CN102254961B (zh) * | 2011-05-28 | 2013-01-02 | 惠州市易晖太阳能科技有限公司 | 一种太阳能电池专用绒面导电玻璃及其制备方法与应用 |
JP5178904B1 (ja) * | 2011-11-25 | 2013-04-10 | 昭和シェル石油株式会社 | Czts系薄膜太陽電池及びその製造方法 |
JP6107950B2 (ja) * | 2013-06-12 | 2017-04-05 | 信越化学工業株式会社 | 太陽電池劣化抑制用の塗工液及びその薄膜、並びに太陽電池劣化抑制方法 |
KR101541414B1 (ko) | 2013-06-17 | 2015-08-03 | 한국에너지기술연구원 | 이중구조 투명전도막과 이를 이용한 태양전지 및 이들의 제조방법 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5857756A (ja) * | 1981-10-01 | 1983-04-06 | Agency Of Ind Science & Technol | 非晶質太陽電池 |
US4554727A (en) * | 1982-08-04 | 1985-11-26 | Exxon Research & Engineering Company | Method for making optically enhanced thin film photovoltaic device using lithography defined random surfaces |
US4532537A (en) * | 1982-09-27 | 1985-07-30 | Rca Corporation | Photodetector with enhanced light absorption |
US4497974A (en) * | 1982-11-22 | 1985-02-05 | Exxon Research & Engineering Co. | Realization of a thin film solar cell with a detached reflector |
JPH06105794B2 (ja) * | 1983-10-18 | 1994-12-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 炭化珪素半導体作製方法 |
US4599482A (en) * | 1983-03-07 | 1986-07-08 | Semiconductor Energy Lab. Co., Ltd. | Semiconductor photoelectric conversion device and method of making the same |
JPS6068663A (ja) * | 1983-09-26 | 1985-04-19 | Komatsu Denshi Kinzoku Kk | アモルフアスシリコン太陽電池 |
JPS6196775A (ja) * | 1984-10-17 | 1986-05-15 | Sanyo Electric Co Ltd | 光起電力装置 |
US4689438A (en) * | 1984-10-17 | 1987-08-25 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Photovoltaic device |
JPH0614554B2 (ja) * | 1985-03-22 | 1994-02-23 | 工業技術院長 | 薄膜太陽電池の製造方法 |
US4683160A (en) * | 1985-05-09 | 1987-07-28 | Exxon Research And Engineering Company | Solar cells with correlated roughness substrate |
US4732621A (en) * | 1985-06-17 | 1988-03-22 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method for producing a transparent conductive oxide layer and a photovoltaic device including such a layer |
JPS61288473A (ja) * | 1985-06-17 | 1986-12-18 | Sanyo Electric Co Ltd | 光起電力装置 |
JPS627716A (ja) * | 1985-07-02 | 1987-01-14 | Ricoh Co Ltd | 非水系樹脂分散液 |
-
1987
- 1987-05-22 US US07/052,991 patent/US4808462A/en not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-05-20 JP JP63122152A patent/JPS63313874A/ja active Pending
- 1988-05-20 EP EP19880905281 patent/EP0360831A4/en not_active Withdrawn
- 1988-05-20 JP JP63505022A patent/JP2862174B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1988-05-20 WO PCT/US1988/001675 patent/WO1988009265A1/en not_active Application Discontinuation
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999063600A1 (en) * | 1998-06-01 | 1999-12-09 | Kaneka Corporation | Silicon-base thin-film photoelectric device |
US6388301B1 (en) | 1998-06-01 | 2002-05-14 | Kaneka Corporation | Silicon-based thin-film photoelectric device |
JP2005515955A (ja) * | 2001-11-28 | 2005-06-02 | サン−ゴバン グラス フランス | 電極を備えた透明基材 |
JP2013136510A (ja) * | 2001-11-28 | 2013-07-11 | Saint-Gobain Glass France | 電極を備えた透明基材 |
JP2007531301A (ja) * | 2004-04-01 | 2007-11-01 | ネーデルランド オルガニサティ フォール トウゲパストナチュールウェテンスカッペリューク オンデルツォイック ティーエヌオー | ポリマー光電子デバイスおよびその製造方法 |
JP2008153570A (ja) * | 2006-12-20 | 2008-07-03 | Sharp Corp | 太陽電池の基体およびその製造方法、太陽電池モジュール |
JP2010526430A (ja) * | 2007-05-04 | 2010-07-29 | サン−ゴバン グラス フランス | 改良型電極層を備えた透明基材 |
JP2009260270A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-11-05 | Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The | 太陽電池用基板及び太陽電池 |
US9260779B2 (en) | 2009-05-21 | 2016-02-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-transmitting conductive film, display device, electronic device, and manufacturing method of light-transmitting conductive film |
JP2011014736A (ja) * | 2009-07-02 | 2011-01-20 | Kaneka Corp | 薄膜光電変換装置、及びその製造方法 |
WO2018154915A1 (ja) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | Agc株式会社 | 不透視膜付き部材 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02503615A (ja) | 1990-10-25 |
US4808462A (en) | 1989-02-28 |
EP0360831A1 (en) | 1990-04-04 |
EP0360831A4 (en) | 1990-11-28 |
JP2862174B2 (ja) | 1999-02-24 |
WO1988009265A1 (en) | 1988-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS63313874A (ja) | 太陽電池用基板 | |
US6444898B1 (en) | Transparent layered product and glass article using the same | |
US7179527B2 (en) | Substrate with transparent conductive oxide film, process for its production and photoelectric conversion element | |
EP1950813A1 (en) | Transparent conductive substrate for solar cell and process for producing the same | |
US6362414B1 (en) | Transparent layered product and glass article using the same | |
US7846562B2 (en) | Transparent substrate with transparent conductive film, method of manufacturing the same, and photoelectric conversion element including the substrate | |
WO2002043079A1 (fr) | Film électro-conducteur, procédé de production, substrat ainsi pourvu, et convertisseur photoélectrique | |
EP1929542A1 (en) | Light transmittance optimizing coated glass article for solar cell and method for making | |
US20120118362A1 (en) | Transparent conductive substrate for solar cell and solar cell | |
JP2022123516A (ja) | 太陽電池用ガラス基板及び太陽電池 | |
JP2005347490A (ja) | 透明導電性酸化物膜付き基体およびその製造方法ならびに光電変換素子 | |
WO2003017377A1 (fr) | Plaque de verre pourvue d'un film electro-conducteur | |
JP2615147B2 (ja) | 太陽電池用ガラス基板の製造方法 | |
JPH07131044A (ja) | 透明導電性基板 | |
JPH0742572B2 (ja) | 透明電導膜 | |
JP2003229584A (ja) | 光電変換装置用ガラス基板およびそれを用いた光電変換装置 | |
JP2017001924A (ja) | コーティング膜つきガラス板 | |
WO2013051519A1 (ja) | 薄膜太陽電池モジュール及び薄膜太陽電池モジュールの製造方法 | |
JP2014241311A (ja) | 薄膜太陽電池モジュール | |
JP2005190700A (ja) | 透明導電膜付き基板とその製造方法 | |
JPH11186580A (ja) | 光電変換素子 | |
JP2011223023A (ja) | 透明導電性酸化物膜付き基体およびその製造方法 |