JPS63253598A - Rom device - Google Patents
Rom deviceInfo
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- JPS63253598A JPS63253598A JP62088052A JP8805287A JPS63253598A JP S63253598 A JPS63253598 A JP S63253598A JP 62088052 A JP62088052 A JP 62088052A JP 8805287 A JP8805287 A JP 8805287A JP S63253598 A JPS63253598 A JP S63253598A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電流センス型のセンスアンプを圧用したROM
装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a ROM using a current sense type sense amplifier.
Regarding equipment.
一般にROM装置は、非同期で使用される場合、いつ参
照されてもよいようにしておく必要がある。Generally, when a ROM device is used asynchronously, it needs to be able to be referenced at any time.
一般の電流センス型のセンスアンプを使用したROMの
一例を第6図に示す。FIG. 6 shows an example of a ROM using a general current sense type sense amplifier.
従来のROM装置は、このようなROMを待機状態とす
るときには、第6図において待機要求端子18をハイレ
ベルとし、また、動作状態とするときには常に待機要求
端子18をロウレベルとするようにしている。In the conventional ROM device, when the ROM is placed in a standby state, the standby request terminal 18 is set to a high level in FIG. 6, and when the ROM is placed in an operating state, the standby request terminal 18 is always set to a low level. .
動作状態においては、NチャンネルMOSトランジスタ
11は、ゲート端子の入力がa点からの負帰還の形にな
っておりa点とゲート端子のレベルがつりあった状態に
落ちついている。このときのレベルが中間であるため、
PチャンネルMOSトランジスタ12を通して電流が流
れる。また、PチャンネルMOSトランジスタ13のゲ
ート端子も中間レベルとなり、NチャネルMOSトラン
ジスタ14を通して電流が流れる。さらに、NORゲー
ト15の入力となるa点が中間レベルのため、このNO
Rゲート15の内部でも電流が流れる。In the operating state, the input to the gate terminal of the N-channel MOS transistor 11 is in the form of negative feedback from the point a, and the levels at the point a and the gate terminal are balanced. Since the level at this time is intermediate,
Current flows through P-channel MOS transistor 12. Further, the gate terminal of P-channel MOS transistor 13 also becomes an intermediate level, and current flows through N-channel MOS transistor 14. Furthermore, since point a, which is the input to the NOR gate 15, is at an intermediate level, this NOR
A current also flows inside the R gate 15.
上述した従来の電流センス型のセンスアンプを使用した
ROM装置は、待機状態とすることは可能であったが(
例えば、第6図の待機要求端子18にハイレベルを入力
することによる。)、非同期で動作させた場合に参照さ
れたときだけ動作状態とすることが困難であるため、い
つ参照されてもよいように常に動作状態である必要があ
り、結果として常に電流が流れることになって消費電流
が大きくなるという欠点がある。Although the ROM device using the conventional current sense type sense amplifier described above could be put into a standby state (
For example, by inputting a high level to the standby request terminal 18 in FIG. ), it is difficult to make it active only when it is referenced when operating asynchronously, so it must be in the active state at all times so that it can be referenced at any time, and as a result, current always flows. This has the disadvantage that current consumption increases.
本発明の目的は以上の欠点を解決し消費電流を低減する
ことができるROM装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a ROM device that can solve the above-mentioned drawbacks and reduce current consumption.
本発明のROM装置は、前回参照された際のアドレス信
号を保持するアドレス保持回路と、アドレス保持回路に
よって保持されている前回参照時のアドレス信号と現在
のアドレス信号を比較して不一致を検出する不一致検出
回路と、不一致検出回路が不一致を検出したとき発生す
る不一致信号の変化から二段階に遅延したワンパルスを
発生する遅延パルス発生回路と、遅延パルス発生回路に
よって発生された一段目の遅延パルスをクロック入力と
してROMの出力データを保持する出力データ保持回路
とを設け、遅延パルス発生回路によって発生された二段
目の遅延パルスをアドレス保持回路のクロックとし、か
つ外部からの待機要求がなく上記部一致信号が発生した
ときにのみROMを動作状態になるように構成している
。The ROM device of the present invention has an address holding circuit that holds an address signal from the previous reference, and detects a mismatch by comparing the address signal held by the address holding circuit from the previous reference with the current address signal. A mismatch detection circuit, a delayed pulse generation circuit that generates a single pulse delayed in two stages from a change in the mismatch signal generated when the mismatch detection circuit detects a mismatch, and a delayed pulse generation circuit that generates a first stage delayed pulse generated by the delayed pulse generation circuit. An output data holding circuit that holds the output data of the ROM as a clock input is provided, and the second stage delay pulse generated by the delayed pulse generation circuit is used as the clock for the address holding circuit, and the above part is operated without an external standby request. The ROM is configured to be activated only when a match signal is generated.
以下本発明の詳細を、その実施例につき図面を参照して
説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The details of the present invention will be explained below with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.
本実施例は、アドレス保持回路1.不一致検出回路2.
遅延パルス発生回路6.出力データ保持回路7.ROM
8.NANDゲート3およびインバータ5から構成され
る。In this embodiment, address holding circuit 1. Mismatch detection circuit 2.
Delayed pulse generation circuit 6. Output data holding circuit 7. ROM
8. It is composed of a NAND gate 3 and an inverter 5.
アドレス保持回路1は、第2図に詳細を示すように、ア
ドレス信号の数に等しいだけのD型フリップフロップ2
4から成り、クロック入力端子に後述の遅延パルス47
が加えられるとアドレス入力信号21を取込み保持し、
その保持内容をアドレス信号22とする。As shown in detail in FIG. 2, the address holding circuit 1 includes D-type flip-flops 2 equal to the number of address signals.
4, and a delay pulse 47, which will be described later, is connected to the clock input terminal.
When is applied, the address input signal 21 is captured and held,
The held content is assumed to be the address signal 22.
不一致検出回路2は、第3図に詳細を示すように、アド
レス信号の数に等しいだけの排他的論理和回路34と一
つの論理和回路35から成り、アドレス信号22と、ア
ドレス入力信号31とを比較し、一致していればロウレ
ベル、不一致ならばハイレベルを不一致信号33とする
。アドレス信号22とアドレス入力信号31は、アドレ
ス保持回路1によって保持されている前回参照時のアド
レス信号(以下、前回のアドレス信号という。)と現在
のアドレス入力信号である。As shown in detail in FIG. 3, the mismatch detection circuit 2 consists of exclusive OR circuits 34 and one OR circuit 35, the number of which is equal to the number of address signals. are compared, and if they match, the low level is set, and if they do not match, the high level is set as the mismatch signal 33. The address signal 22 and the address input signal 31 are the address signal at the previous reference held by the address holding circuit 1 (hereinafter referred to as the previous address signal) and the current address input signal.
遅延パルス発生回路4は、不一致信号のロウレベルから
ハイレベルへの変化から二段階に遅延した一定長のパル
スを発生し、第4図にその詳細は示すように、2つの遅
延回路42および45と、2つのワンパルス発生回路4
3および46とから成る。The delayed pulse generating circuit 4 generates a fixed length pulse delayed in two steps from the change of the mismatch signal from low level to high level, and as shown in detail in FIG. , two one-pulse generating circuits 4
3 and 46.
不一致信号33は遅延回路42によって遅らせ、遅延回
路42の出力のロウレベルからハイレベルへの変化から
ワンパルス発生回路43によってワンパルスを発生し、
そのパルスを一段目の遅延パルス44として出力する。The mismatch signal 33 is delayed by a delay circuit 42, and a one-pulse generation circuit 43 generates one pulse from the change of the output of the delay circuit 42 from low level to high level,
The pulse is output as the first stage delayed pulse 44.
また、遅延回路42によって遅らされた不一致信号33
を遅延回路45によってさらに遅らせ、遅延回路45の
出力のロウレベルからハイレベルへの変化からワンパル
ス発生回路46によってワンパルスを発生し、そのパル
スを二段目の遅延パルス47として出力する。この遅延
パルス47はアドレス保持回路1のクロック入力端子に
クロックとして供給される。Also, the mismatch signal 33 delayed by the delay circuit 42
is further delayed by a delay circuit 45, and a one-pulse generation circuit 46 generates one pulse from the change of the output of the delay circuit 45 from low level to high level, and this pulse is output as a second-stage delayed pulse 47. This delayed pulse 47 is supplied to the clock input terminal of the address holding circuit 1 as a clock.
出力データ保持回路7は、遅延パルス発生回路6によっ
て発生された遅延パルス44をクロック入力としてRO
M8の出力データを保持し、その詳細は第5図に示すよ
うに、ROM8の読出しビット長に等しい数だけのD形
フリップフロップ54から成る。クロック入力端子に遅
延パルス44が加えられると入力データ51を取込み保
持し、その保持内容を出力データ52とする。The output data holding circuit 7 receives the delayed pulse 44 generated by the delayed pulse generating circuit 6 as a clock input and outputs the RO.
It holds the output data of M8, and as shown in FIG. When a delay pulse 44 is applied to the clock input terminal, input data 51 is taken in and held, and the held contents are used as output data 52.
ROM5自体は第6図と同一である。外部から与えられ
た前回のアドレス信号22と現在のアドレス入力信号3
1が一致している場合、不一致検出回路2からの不一致
信号33はロウレベルとなり、NANDゲート3の出力
はハイレベルとなる。NANDゲート3の出力はROM
8の待機要求端子18に接続されており、ROM8は待
機状態となり、消費電流を低減することができる。The ROM 5 itself is the same as that shown in FIG. Previous address signal 22 given externally and current address input signal 3
1 match, the mismatch signal 33 from the mismatch detection circuit 2 becomes low level, and the output of the NAND gate 3 becomes high level. The output of NAND gate 3 is ROM
The ROM 8 is connected to the standby request terminal 18 of the ROM 8, and the ROM 8 enters a standby state, thereby reducing current consumption.
また、外部からの待機要求があったときも、外部からの
待機要求信号入力端子4がハイレベル、インバータ5の
出力がロウレベル、NANDゲート3の出力がハイレベ
ルとなり、ROM8は待機状態となる。Also, when there is a standby request from the outside, the standby request signal input terminal 4 from the outside is at a high level, the output of the inverter 5 is at a low level, and the output of the NAND gate 3 is at a high level, and the ROM 8 is placed in a standby state.
外部からの待機要求がなく、なおかつ前回のアドレス信
号と現在のアドレス信号が一致していない場合、すなわ
ちアドレス信号が変化した場合、外部からの待機要求信
号入力端子4がロウレベル、インバータ5の出力がハイ
レベル、不一致信号33がハイレベル、NANDゲート
3の出力がロウレベルとなり、ROM8は動作状態とな
る。When there is no standby request from the outside and the previous address signal and the current address signal do not match, that is, when the address signal changes, the standby request signal input terminal 4 from the outside goes low level and the output of the inverter 5 goes low. The mismatch signal 33 becomes high level, the output of the NAND gate 3 becomes low level, and the ROM 8 becomes operational.
このとき、不一致信号33がロウレベルからハイレベル
へ変化することで遅延パルス発生回路6によって発生さ
れた一段目の遅延パルス44により出力データ保持回路
7は新たなアドレス信号に対応するROIVI8の出力
データを保持する。At this time, when the mismatch signal 33 changes from low level to high level, the first stage delay pulse 44 generated by the delay pulse generation circuit 6 causes the output data holding circuit 7 to store the output data of the ROIVI 8 corresponding to the new address signal. Hold.
さらに、遅延パルス発生回路6によって発生された二段
目の遅延パルス47によりアドレス保持回路1は現在の
アドレスを新たに取込み保持する。この時点でアドレス
保持回路1の保持するアドレス信号22と現在のアドレ
ス信号は一致するので、不一致信号33がロウレベル、
NANDゲート3の出力がハイレベルとなり、ROM8
は再び待機状態となる。Furthermore, the second stage delay pulse 47 generated by the delay pulse generation circuit 6 causes the address holding circuit 1 to newly take in and hold the current address. At this point, the address signal 22 held by the address holding circuit 1 matches the current address signal, so the mismatch signal 33 is at low level.
The output of NAND gate 3 becomes high level, and ROM8
is again in a standby state.
以上の説明で明かな如く、本発明のROM装置によれば
、アドレス信号に変化があるときのみROMを動作状態
とし、アドレス信号に変化がないときはROMを待機状
態とすることにより、ROMで常時消費されていた電流
を断って消費電流低減の効果を得ることができる。As is clear from the above explanation, according to the ROM device of the present invention, the ROM is put into the operating state only when there is a change in the address signal, and the ROM is put into the standby state when there is no change in the address signal. The effect of reducing current consumption can be obtained by cutting off the current that is constantly consumed.
特に、カスタムLSIのように顧客が独自にROM及び
他の回路を接続して使用する場合、特別な配慮を必要と
せずにROMを使用しないときの消費電流を低減できる
という非常に大きな効果を得ることができる。In particular, when a customer connects and uses their own ROM and other circuits, such as in a custom LSI, it is possible to reduce the current consumption when the ROM is not used without requiring special consideration, which is a very significant effect. be able to.
第1図は本発明の一実施例のROM装置の構成を示すブ
ロック図、第2図、第3図、第4図、第5図は本実施例
におけるそれぞれアドレス保持回路、不一致検出回路、
遅延パルス発生回路、出力データ保持回路の詳細回路図
および第6図は一般の電流センス型センスアンプを使用
したROM装置の回路例である。
1・・・アドレス保持回路、2・・・不一致検出回路、
3・・・NANDゲート、5・・・インバータ、6・・
・遅延パルス発生回路、7・・・出力データ保持回路、
8・・・ROM、11.14−NチャンネルMOSトラ
ンジスタ、12,13.17・・・PチャンネルMOS
トランジスタ、15・・・NORゲート、16・・・R
OMセル、42.45・・・遅延回路、43.46・・
・ワンパルス発生回路。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a ROM device according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2, 3, 4, and 5 are respectively an address holding circuit, a mismatch detection circuit, and
A detailed circuit diagram of a delayed pulse generation circuit and an output data holding circuit, and FIG. 6 are circuit examples of a ROM device using a general current sense type sense amplifier. 1... Address holding circuit, 2... Mismatch detection circuit,
3...NAND gate, 5...Inverter, 6...
・Delayed pulse generation circuit, 7...output data holding circuit,
8...ROM, 11.14-N channel MOS transistor, 12,13.17...P channel MOS
Transistor, 15...NOR gate, 16...R
OM cell, 42.45...Delay circuit, 43.46...
・One pulse generation circuit.
Claims (1)
おいて、 前回参照された際のアドレス信号を保持するアドレス保
持回路と、 該アドレス保持回路によって保持されている前回参照時
のアドレス信号と現在のアドレス信号を比較して不一致
を検出する不一致検出回路と、該不一致検出回路が前記
不一致を検出したとき発生する不一致信号の変化から二
段階に遅延したワンパルスを発生する遅延パルス発生回
路と、該遅延パルス発生回路によって発生された一段目
の遅延パルスをクロック入力としてROMの出力データ
を保持する出力データ保持回路とを設け、 前記遅延パルス発生回路によって発生された二段目の遅
延パルスを前記アドレス保持回路のクロックとし、かつ
外部からの待機要求がなく前記不一致信号が発生したと
きにのみ前記ROMを動作状態になるように構成したこ
とを特徴とするROM装置。[Claims] In a ROM device using a current sense type sense amplifier, there is provided an address holding circuit that holds an address signal from the previous reference, and an address signal held by the address holding circuit from the previous reference. a mismatch detection circuit that detects a mismatch by comparing the current address signal with the current address signal; and a delayed pulse generation circuit that generates a one-pulse delayed by two stages from a change in the mismatch signal that occurs when the mismatch detection circuit detects the mismatch. and an output data holding circuit that uses the first stage delay pulse generated by the delay pulse generation circuit as a clock input and holds the output data of the ROM, and the second stage delay pulse generated by the delay pulse generation circuit is A ROM device characterized in that the ROM is configured to be used as a clock for the address holding circuit and to enter an operating state only when the mismatch signal is generated without an external standby request.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62088052A JPS63253598A (en) | 1987-04-10 | 1987-04-10 | Rom device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62088052A JPS63253598A (en) | 1987-04-10 | 1987-04-10 | Rom device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63253598A true JPS63253598A (en) | 1988-10-20 |
Family
ID=13932064
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62088052A Pending JPS63253598A (en) | 1987-04-10 | 1987-04-10 | Rom device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63253598A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH043397A (en) * | 1990-04-19 | 1992-01-08 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Memory integrated circuit |
JPH04214292A (en) * | 1990-12-12 | 1992-08-05 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Semiconductor memory circuit |
WO2008132971A1 (en) * | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Nec Corporation | Semiconductor memory |
-
1987
- 1987-04-10 JP JP62088052A patent/JPS63253598A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH043397A (en) * | 1990-04-19 | 1992-01-08 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Memory integrated circuit |
JPH04214292A (en) * | 1990-12-12 | 1992-08-05 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Semiconductor memory circuit |
WO2008132971A1 (en) * | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Nec Corporation | Semiconductor memory |
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