JPS63244694A - 分布帰還形半導体レ−ザ - Google Patents
分布帰還形半導体レ−ザInfo
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- JPS63244694A JPS63244694A JP62078763A JP7876387A JPS63244694A JP S63244694 A JPS63244694 A JP S63244694A JP 62078763 A JP62078763 A JP 62078763A JP 7876387 A JP7876387 A JP 7876387A JP S63244694 A JPS63244694 A JP S63244694A
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
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- H01S5/1243—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts by other means than a jump in the grating period, e.g. bent waveguides
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は、分布帰還形半導体レーザに関し、特にm−m
モードで発振させるためのλ/4位相シフト構造に関す
る。
モードで発振させるためのλ/4位相シフト構造に関す
る。
(発明の概要)
本発明は、分布帰還形半導体レーザにおいて、導波路方
向における回折格子の実効的なガイド層厚を変化させる
ことによって、導波光の位相を変化させるようにしたも
のである。
向における回折格子の実効的なガイド層厚を変化させる
ことによって、導波光の位相を変化させるようにしたも
のである。
(従来の技術〕
分布帰還形半導体レーザは、単−縦モード発振が得られ
易いことから長距離で大容量の光ファイバー通信に用い
る光源として期待されている。
易いことから長距離で大容量の光ファイバー通信に用い
る光源として期待されている。
分布帰還形半導体レーザ(以下DFBレーザという)は
、例えば第8図に示すように1の導電形例えばp形のG
aAsよりなる半導体基板(1)に、例えばAlGa^
8よりなるクラッド層偉)と、GaAsよりなる活性層
(3)と、さらにこれの上に他の導電形例えばn形のJ
klGaAsよりなるガイド層(4が順次形成され、カ
イト層(4には回折格子(5)が形成される。このガイ
ド層(5)上にこれと同導電形の例えばn形の^lGa
Asよりなるクラ・ド層(6)と・n形のGaAaより
りるキャップ層(ηが形成され、キャンプ層(9上から
プロトン、ポロン等のイオンが打ち込まれて高抵抗の電
流制限領域(8)がキャップ層(ηの中央部をストライ
プ状に残して両側に選択形成されてなる。(9)及び(
10)はキャップ層(71と半導体基板(1)の裏面に
オーミンクに設けられた対の対向電極である。
、例えば第8図に示すように1の導電形例えばp形のG
aAsよりなる半導体基板(1)に、例えばAlGa^
8よりなるクラッド層偉)と、GaAsよりなる活性層
(3)と、さらにこれの上に他の導電形例えばn形のJ
klGaAsよりなるガイド層(4が順次形成され、カ
イト層(4には回折格子(5)が形成される。このガイ
ド層(5)上にこれと同導電形の例えばn形の^lGa
Asよりなるクラ・ド層(6)と・n形のGaAaより
りるキャップ層(ηが形成され、キャンプ層(9上から
プロトン、ポロン等のイオンが打ち込まれて高抵抗の電
流制限領域(8)がキャップ層(ηの中央部をストライ
プ状に残して両側に選択形成されてなる。(9)及び(
10)はキャップ層(71と半導体基板(1)の裏面に
オーミンクに設けられた対の対向電極である。
ところで、均一な回折格子を有する分布帰還形半導体レ
ーザは、原理的に利得の等しい2つの縦モードが存在し
、2モードで発振する可能性があり、実際2モード発振
、モードホッピングを生じる事が少なくない、この欠点
を回避し、単−縦モード発振を実現する方法としてλ/
4位相シフト構造のDFBレーザが提案されており、様
々な方法でこの実現が行われている0例えば第9図では
回折格子(5)を導波路の中央部分において直接λ/4
位相シフトさせている。第1O図A及びBは均一な回折
格子(5)を形成するも平面的にみて先導波ストライプ
幅を中央部で変化(wt≠w2)させる方法である。又
第11図は回折格子(5]において中央部の回折格子を
除去して平坦領域(11)とし、この平坦領域(11)
で実効的な位相シフトをさせる方法である。
ーザは、原理的に利得の等しい2つの縦モードが存在し
、2モードで発振する可能性があり、実際2モード発振
、モードホッピングを生じる事が少なくない、この欠点
を回避し、単−縦モード発振を実現する方法としてλ/
4位相シフト構造のDFBレーザが提案されており、様
々な方法でこの実現が行われている0例えば第9図では
回折格子(5)を導波路の中央部分において直接λ/4
位相シフトさせている。第1O図A及びBは均一な回折
格子(5)を形成するも平面的にみて先導波ストライプ
幅を中央部で変化(wt≠w2)させる方法である。又
第11図は回折格子(5]において中央部の回折格子を
除去して平坦領域(11)とし、この平坦領域(11)
で実効的な位相シフトをさせる方法である。
〔発明が解決しようとする問題点3
774位相シフトを実現するための上述の各方法におい
て、第9図の方法は回折格子の形成工程が複雑化し回折
格子の形成が困難であること1回折格子非形成領域ある
いは回折格子乱れ領域が存在すること等の問題点を有し
ている。しかし、λ/4位相シフトの回折格子が形成で
きさえすれば他には何の問題も無い。
て、第9図の方法は回折格子の形成工程が複雑化し回折
格子の形成が困難であること1回折格子非形成領域ある
いは回折格子乱れ領域が存在すること等の問題点を有し
ている。しかし、λ/4位相シフトの回折格子が形成で
きさえすれば他には何の問題も無い。
第1O図A及びBの方法は、X(水平)方向及びy(垂
直)方向の横モード(a)及び(b)(第8図参照)で
みたとき、第12図Bに示すようにX方向のモード分布
を変化させ(実線が幅W1の回折格子領域(13)のモ
ード分布、点線が幅W2の位相シフト領域(12)のモ
ード分布)、これで生じる回折格子領域(13)と位相
シフト領域(12)との有効屈折率差ΔNを用い実効的
な位相シフトを得るもので、本質的に屈折率導波型のD
FBレーザのみに通用可能な技術である。なお、y方向
のモード分布は第12図Aに示すようにほとんど変化が
無い。
直)方向の横モード(a)及び(b)(第8図参照)で
みたとき、第12図Bに示すようにX方向のモード分布
を変化させ(実線が幅W1の回折格子領域(13)のモ
ード分布、点線が幅W2の位相シフト領域(12)のモ
ード分布)、これで生じる回折格子領域(13)と位相
シフト領域(12)との有効屈折率差ΔNを用い実効的
な位相シフトを得るもので、本質的に屈折率導波型のD
FBレーザのみに通用可能な技術である。なお、y方向
のモード分布は第12図Aに示すようにほとんど変化が
無い。
第11図の方法は、第13図Aに示すようにy方向のモ
ード分布を変化させ(実線が回折格子領域(13)のモ
ード分布9点線が位相シフト領域(12)のモード分布
)、これで生じる有効屈折率差ΔNを用い実効的な位相
シフトを得ている。しかし、回折格子が形成されない平
坦な位相シフト領域が存在するためにカンブリングが弱
くなる。そしてこの方法を一般的な屈折率導波型の構造
(埋め込み型、csp型、リッジ型、リブ型等)に通用
させると、結果的に第13図Bに示すようにX方向のモ
ード分布も変化を生じ、横モードが全体的に位相シフト
領域((12)の境界部で大きく変化するため反射など
の損失が生ずる。特に第14図に示すリブ構造のDFB
レーザに通用した場合には、位相シフト領域(12)に
おいて両側の平坦部(14)との商さの差が付けにく(
なる為、位相シフト領域(12)では導波機構が屈折率
導波型から利得導波型に変化するため、ここでの光散乱
損失が生じやすくなる。
ード分布を変化させ(実線が回折格子領域(13)のモ
ード分布9点線が位相シフト領域(12)のモード分布
)、これで生じる有効屈折率差ΔNを用い実効的な位相
シフトを得ている。しかし、回折格子が形成されない平
坦な位相シフト領域が存在するためにカンブリングが弱
くなる。そしてこの方法を一般的な屈折率導波型の構造
(埋め込み型、csp型、リッジ型、リブ型等)に通用
させると、結果的に第13図Bに示すようにX方向のモ
ード分布も変化を生じ、横モードが全体的に位相シフト
領域((12)の境界部で大きく変化するため反射など
の損失が生ずる。特に第14図に示すリブ構造のDFB
レーザに通用した場合には、位相シフト領域(12)に
おいて両側の平坦部(14)との商さの差が付けにく(
なる為、位相シフト領域(12)では導波機構が屈折率
導波型から利得導波型に変化するため、ここでの光散乱
損失が生じやすくなる。
また、この方法では回折格子領域(13)と位相シフト
領域(12)間の実効的なガイド層の厚み差りは回折格
子(5)のピッチが決まれば必然的に決まってしまい、
従って実効的屈折率差ΔNも決まってしまう、従ってΔ
Nxjl−λ/4であることから、位相シフト領域の長
さβを自由に選ぶことができない。
領域(12)間の実効的なガイド層の厚み差りは回折格
子(5)のピッチが決まれば必然的に決まってしまい、
従って実効的屈折率差ΔNも決まってしまう、従ってΔ
Nxjl−λ/4であることから、位相シフト領域の長
さβを自由に選ぶことができない。
本発明は、上述の問題点を改善したλ/4位相シフト構
造を有するDFBレーザを提供するものである。
造を有するDFBレーザを提供するものである。
本発明いは、第1のクラッド層(2)と、活性層(3)
と、回折格子(5)が形成されたガイド層(4)と、第
2のクランドM(6)とを有し、導波路がスイライブ状
に形成されてなる分布帰還形半導体レーザにおいて、導
波路方向における上記回折格子(5)のガイド層厚を異
ならせて導波光の位相を変化させるように構成する。
と、回折格子(5)が形成されたガイド層(4)と、第
2のクランドM(6)とを有し、導波路がスイライブ状
に形成されてなる分布帰還形半導体レーザにおいて、導
波路方向における上記回折格子(5)のガイド層厚を異
ならせて導波光の位相を変化させるように構成する。
回折格子(5)の形成部のガイド層(4)の厚みが導波
路方向において異なることによって、y方向の横モード
分布に変化が与えられ、これによって生じ、る有効屈折
率差ΔNで実効的にλ/4位相シフトが実現し、単−縦
モードの発振が生ずる。
路方向において異なることによって、y方向の横モード
分布に変化が与えられ、これによって生じ、る有効屈折
率差ΔNで実効的にλ/4位相シフトが実現し、単−縦
モードの発振が生ずる。
本構成では、位相シフト領域(21)と他の回折格子領
域(22)とのガイド層(4)の実効的な厚み差りを任
意に制御することができるので、任意の屈折率差ΔNが
得られ希望する位相シフト領域長βを自由に設定できる
。
域(22)とのガイド層(4)の実効的な厚み差りを任
意に制御することができるので、任意の屈折率差ΔNが
得られ希望する位相シフト領域長βを自由に設定できる
。
また本構成は屈折率導波型及び利得導波型のいずれのD
FBレーザにも通用される0例えばリブ構造の屈折率導
波型DFBレーザに適用した場合には、第4図で示すよ
うに回折格子(5)鎧と両側の平坦部の段差の関係が位
相シフト領域(21)及び他の回折格子領域(22)共
に同じ関係が維持されるため、位相シフト領域(21)
において屈折率導波性にほとんど変化を与えず、X方向
の横モード変化がきわめて小さい。
FBレーザにも通用される0例えばリブ構造の屈折率導
波型DFBレーザに適用した場合には、第4図で示すよ
うに回折格子(5)鎧と両側の平坦部の段差の関係が位
相シフト領域(21)及び他の回折格子領域(22)共
に同じ関係が維持されるため、位相シフト領域(21)
において屈折率導波性にほとんど変化を与えず、X方向
の横モード変化がきわめて小さい。
C実施例〕
第1図乃至第3図を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明によるリブ型のDFBレーザの一例の路
線的拡大断面図、第2図はそのA−入線上の断面図、第
3図はその回折格子を示す要部の拡大断面図である。第
1図及び第2図において、第8図と対応する部分には同
一符号を付す。
線的拡大断面図、第2図はそのA−入線上の断面図、第
3図はその回折格子を示す要部の拡大断面図である。第
1図及び第2図において、第8図と対応する部分には同
一符号を付す。
この例においても、1の導電形の半導体基板(1)例え
ばn形のGaAs基板を用意し、その−主面上に同導電
形即ちn形の例えばAlGmAgよりなるクラッド層(
2)と、さらにこれの上に例えば真性GaAaよりなる
活性層(3)と他の導電形の例えばp形のAlGaAs
よりなるガイド層(4とを順次エピタキシャル成長し、
ガイド層(4)の表面に幅W1で均一なピッチを有する
回折格子(5)を形成する。この回折格子(5)は、第
3図に示すように導波路方向のほぼ中央の領域(以上位
相シフト領域という) (21)において長さ1にわ
たり且つ他の回折格子領域(22)との間で実効的なガ
イド層(4の厚みに!!hが生ずるように、即ち位相シ
フト領域(21)でのガイド層(4の実効的な厚さdz
が他の回折格子領域(22)での実効的な厚さdlより
小(dz <dx )となるように形成する。すなわち
、位相シフト領域(21)も均一なピッチの回折格子(
6)が存在するようになす、又、第4図で示すようにこ
の回折格子(5)の両側の表面は平坦な面として形成し
、位相シフト領域(21)に対応する平坦部(23a)
と他の回折格子領域(22)に対応する平坦部(23b
)とは段差を有して形成される。そして、このような回
折格子(5)を有し、その両側に平坦面を有するガイド
層(匂の全表面上にこれと同導電形を有し、このガイド
層(4)及び活性層(■に比してバンドギャップが大な
る例えばp形のAlGaAsよりなるクラッド層(6)
と、さらにこれの上にこれと同導電形の例えばp形のG
aAsよりなるキャップ層(力をエピタキシャル成長す
る。
ばn形のGaAs基板を用意し、その−主面上に同導電
形即ちn形の例えばAlGmAgよりなるクラッド層(
2)と、さらにこれの上に例えば真性GaAaよりなる
活性層(3)と他の導電形の例えばp形のAlGaAs
よりなるガイド層(4とを順次エピタキシャル成長し、
ガイド層(4)の表面に幅W1で均一なピッチを有する
回折格子(5)を形成する。この回折格子(5)は、第
3図に示すように導波路方向のほぼ中央の領域(以上位
相シフト領域という) (21)において長さ1にわ
たり且つ他の回折格子領域(22)との間で実効的なガ
イド層(4の厚みに!!hが生ずるように、即ち位相シ
フト領域(21)でのガイド層(4の実効的な厚さdz
が他の回折格子領域(22)での実効的な厚さdlより
小(dz <dx )となるように形成する。すなわち
、位相シフト領域(21)も均一なピッチの回折格子(
6)が存在するようになす、又、第4図で示すようにこ
の回折格子(5)の両側の表面は平坦な面として形成し
、位相シフト領域(21)に対応する平坦部(23a)
と他の回折格子領域(22)に対応する平坦部(23b
)とは段差を有して形成される。そして、このような回
折格子(5)を有し、その両側に平坦面を有するガイド
層(匂の全表面上にこれと同導電形を有し、このガイド
層(4)及び活性層(■に比してバンドギャップが大な
る例えばp形のAlGaAsよりなるクラッド層(6)
と、さらにこれの上にこれと同導電形の例えばp形のG
aAsよりなるキャップ層(力をエピタキシャル成長す
る。
そしてキャップ層(7)の表向から回折格子(5)が形
成された中央ストライプ部と対向する部分上をストライ
プ状に残し、他部に選択的にプロトンあるいはボロン等
のイオンの打ち込みを行って高比抵抗の電流制限領域(
8)を選択的に形成する。また、この場合においてもキ
ャップ層(9上及び基板(1)の裏面にそれぞれ電極り
9)及び(10)をオーミックに被着する。
成された中央ストライプ部と対向する部分上をストライ
プ状に残し、他部に選択的にプロトンあるいはボロン等
のイオンの打ち込みを行って高比抵抗の電流制限領域(
8)を選択的に形成する。また、この場合においてもキ
ャップ層(9上及び基板(1)の裏面にそれぞれ電極り
9)及び(10)をオーミックに被着する。
回折格子(5)の製作法としては、例えば第7図に示す
ように、予めガイド層(勾の位相シフト領域に対応する
部分(24)をエツチングして段差を投けておき(図A
)、この状態で全面に均一に回折格子(5)を形成する
(図B)方法、または先きに均一な回折格子(5)を形
成し、その後で位相シフト領域の部分を選択エツチング
する(この選択エツチングでも回折格子の形状はほとん
どなまらない)方法等がある。いずれの場合も簡単な工
程で回折格子(5)が製作される。
ように、予めガイド層(勾の位相シフト領域に対応する
部分(24)をエツチングして段差を投けておき(図A
)、この状態で全面に均一に回折格子(5)を形成する
(図B)方法、または先きに均一な回折格子(5)を形
成し、その後で位相シフト領域の部分を選択エツチング
する(この選択エツチングでも回折格子の形状はほとん
どなまらない)方法等がある。いずれの場合も簡単な工
程で回折格子(5)が製作される。
このような構成において、両電極(9)及び(10)間
に順方向電圧を印加することによって電流制限領域田)
によって中央ストライプ状に活性層(3)にストライプ
状の電流注入すなわちキリア注入領域が形成され、これ
の上のガイド層(41の回折格子(旬で選択された単−
縦モード発振が得られる。
に順方向電圧を印加することによって電流制限領域田)
によって中央ストライプ状に活性層(3)にストライプ
状の電流注入すなわちキリア注入領域が形成され、これ
の上のガイド層(41の回折格子(旬で選択された単−
縦モード発振が得られる。
すなわち、このような構成によれば、幅w1で導波路の
全長にわたって均一なピッチの回折格子を形成すると共
に、そのほぼ中央の部分、いわゆる位相シフト領域(2
1)においてガイド層(5)のズ如的な厚みを変えるこ
とにより、第5図Aに示すようにy方向の横モード分布
に変化を与えて(実線が回折格子領域(22)のモード
分布、点線が位相シフト領域(21)のモード分布)、
これによって生じる有効屈折率差ΔNで実効的なλ/4
位相シフトが生じる。そして、第4図に示すように位相
シフ+領域(21)とその両側の平坦部(23a)との
段差の関係は他の回折格子領域(22)とその−両側の
平坦部(23b)との段差の関係と同じであるため、位
相シフト領域(21)において屈折率導波性にほとんど
変化を与えない、したがって第5図Bに示すように一方
向のモード分布はほとんど変化せず横モード(X方向)
の導波を安定化することができる。また、位相シフト領
域(21)と他の回折格子領域(22)のガイド層(5
)の厚み差りは製造工程における簡単な制御で任意に選
定できるので、屈折率差ΔNを自由に選定でき、従って
位相シフト領域長lの最通化ができる0回折格子(5)
としでは均一なピッチの回折格子であるので製作は容易
である。また位相シフト領域(21)においても回折格
子(5)が設けられているので、カップリングすなわち
所定の波長の波長光に対する反射効果の低下が回避でき
る。
全長にわたって均一なピッチの回折格子を形成すると共
に、そのほぼ中央の部分、いわゆる位相シフト領域(2
1)においてガイド層(5)のズ如的な厚みを変えるこ
とにより、第5図Aに示すようにy方向の横モード分布
に変化を与えて(実線が回折格子領域(22)のモード
分布、点線が位相シフト領域(21)のモード分布)、
これによって生じる有効屈折率差ΔNで実効的なλ/4
位相シフトが生じる。そして、第4図に示すように位相
シフ+領域(21)とその両側の平坦部(23a)との
段差の関係は他の回折格子領域(22)とその−両側の
平坦部(23b)との段差の関係と同じであるため、位
相シフト領域(21)において屈折率導波性にほとんど
変化を与えない、したがって第5図Bに示すように一方
向のモード分布はほとんど変化せず横モード(X方向)
の導波を安定化することができる。また、位相シフト領
域(21)と他の回折格子領域(22)のガイド層(5
)の厚み差りは製造工程における簡単な制御で任意に選
定できるので、屈折率差ΔNを自由に選定でき、従って
位相シフト領域長lの最通化ができる0回折格子(5)
としでは均一なピッチの回折格子であるので製作は容易
である。また位相シフト領域(21)においても回折格
子(5)が設けられているので、カップリングすなわち
所定の波長の波長光に対する反射効果の低下が回避でき
る。
第6図は本発明の回折格子の他の例を示す。上例の第3
図ではλ/4位相シフトを行うための屈折率差を1回で
急激に付けるようにしたが、第6図に示すように位相シ
フト領域(21)においてガイド層の実効的な厚みを複
数段階、この例では2段階に分けて変化させ、2回(又
はその以上)にわたり、少しづつ屈折率差を付けるよう
にし、位相シフト領域(21)と他の回折格子領域(2
2)との境界部での不要な反射を減少させるように構成
することもできる。
図ではλ/4位相シフトを行うための屈折率差を1回で
急激に付けるようにしたが、第6図に示すように位相シ
フト領域(21)においてガイド層の実効的な厚みを複
数段階、この例では2段階に分けて変化させ、2回(又
はその以上)にわたり、少しづつ屈折率差を付けるよう
にし、位相シフト領域(21)と他の回折格子領域(2
2)との境界部での不要な反射を減少させるように構成
することもできる。
又、上例では屈折率導波型DFBレーザに通用したが、
利得導波型DFBレーザにも通用することができる。
利得導波型DFBレーザにも通用することができる。
本発明によれば、均一なピッチを有する回折格子部の実
効的なガイド層厚を導波路方向で異ならせることによっ
てλ/4位相シフトを実現することができ、単二縦モー
ド発振のDFBレーザを提供することができる。しかも
この場合、ガイド層厚を異ならせることによって生ずる
屈折率差ΔNを任意に選定できるので位昶シフト領域長
を自由に選定でき最適長に投定できる。また位相シフト
領域においても回折格子が設けられるめでカップリング
の劣化が回避される。また均一なピッチの1折格子を用
いるので回折格子の形成は容易である。さらに本発明は
屈折率導波型及び利得導波型のいずれのDFBレーザに
も通用でき、特にリブ構造の屈折率導波型DFBレーザ
に通用したときには横モード(X方向)の導波を安定化
することができる。
効的なガイド層厚を導波路方向で異ならせることによっ
てλ/4位相シフトを実現することができ、単二縦モー
ド発振のDFBレーザを提供することができる。しかも
この場合、ガイド層厚を異ならせることによって生ずる
屈折率差ΔNを任意に選定できるので位昶シフト領域長
を自由に選定でき最適長に投定できる。また位相シフト
領域においても回折格子が設けられるめでカップリング
の劣化が回避される。また均一なピッチの1折格子を用
いるので回折格子の形成は容易である。さらに本発明は
屈折率導波型及び利得導波型のいずれのDFBレーザに
も通用でき、特にリブ構造の屈折率導波型DFBレーザ
に通用したときには横モード(X方向)の導波を安定化
することができる。
tAt図は本発明による分布帰還型半導体レーザの一例
を示す路線的拡大断面図、第2図は第1図のA−A線上
の断面図、第゛3図は回折格子の一例を示す要部の拡大
断面図、第4図は回折格子の要部の斜視図、第5図A及
びBは第1図のレーザのy方向及びX方向の横モード分
布図、第6図は本発明に係る回折格子の他の例を示す要
部の拡大断面図、第7図は本発明に係る回折格子の製法
例を示す工程図、第8図は従来の分布帰還型半導体レー
ザの例を示す路線的拡大斜視図、第9図、第10図及び
第11図は夫々従来のλ/4位相シフトを行う回折格子
の例を示す構成図、第12図A及びBは第10図の場合
のy方向及びX方向の横モード分布図、・第13図A及
びBは第11図の場合のy方向及びX方向の横モード分
布図、第14図は第11図の回折格子をリブ構造に用い
た場合の斜視図である。 (2)はクラッド層、(3)は活性層、(勾はガイド層
、(5)は回折格子、(6)はクラッド層、(21)は
位相シフト領域、(22)は他の回折格子領域である。
を示す路線的拡大断面図、第2図は第1図のA−A線上
の断面図、第゛3図は回折格子の一例を示す要部の拡大
断面図、第4図は回折格子の要部の斜視図、第5図A及
びBは第1図のレーザのy方向及びX方向の横モード分
布図、第6図は本発明に係る回折格子の他の例を示す要
部の拡大断面図、第7図は本発明に係る回折格子の製法
例を示す工程図、第8図は従来の分布帰還型半導体レー
ザの例を示す路線的拡大斜視図、第9図、第10図及び
第11図は夫々従来のλ/4位相シフトを行う回折格子
の例を示す構成図、第12図A及びBは第10図の場合
のy方向及びX方向の横モード分布図、・第13図A及
びBは第11図の場合のy方向及びX方向の横モード分
布図、第14図は第11図の回折格子をリブ構造に用い
た場合の斜視図である。 (2)はクラッド層、(3)は活性層、(勾はガイド層
、(5)は回折格子、(6)はクラッド層、(21)は
位相シフト領域、(22)は他の回折格子領域である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 第1のクラッド層と活性層と回折格子が形成されたガイ
ド層と第2のクラッド層とを有し、導波路がストライプ
状に形成されてなる分布帰還形半導体レーザにおいて、 上記導波路方向における上記回折格子のガイド層厚を異
ならせることによって導波光の位相を変化させることを
特徴とする分布帰還形半導体レーザ。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62078763A JPS63244694A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 分布帰還形半導体レ−ザ |
KR88001304A KR960009303B1 (en) | 1987-03-30 | 1988-02-11 | Distributed feedback semiconductor laser |
US07/171,768 US4896331A (en) | 1987-03-30 | 1988-03-22 | Distributed feedback semiconductor laser |
DE8888105107T DE3875768T2 (de) | 1987-03-30 | 1988-03-29 | Halbleiterlaser mit verteilter rueckkopplung. |
CA000562757A CA1303195C (en) | 1987-03-30 | 1988-03-29 | Distributed feedback semiconductor laser |
EP88105107A EP0285104B1 (en) | 1987-03-30 | 1988-03-29 | Distributed feedback semiconductor laser |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62078763A JPS63244694A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 分布帰還形半導体レ−ザ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63244694A true JPS63244694A (ja) | 1988-10-12 |
Family
ID=13670940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62078763A Pending JPS63244694A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 分布帰還形半導体レ−ザ |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4896331A (ja) |
EP (1) | EP0285104B1 (ja) |
JP (1) | JPS63244694A (ja) |
KR (1) | KR960009303B1 (ja) |
CA (1) | CA1303195C (ja) |
DE (1) | DE3875768T2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02307287A (ja) * | 1989-05-22 | 1990-12-20 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザの製造方法 |
JPH042188A (ja) * | 1990-04-19 | 1992-01-07 | Toshiba Corp | レーザ素子及びその製造方法 |
JPH06338658A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Nec Corp | 半導体微細形状の形成方法、InP回折格子の製造方法および分布帰還型レーザの製造方法 |
JP2007311522A (ja) * | 2006-05-18 | 2007-11-29 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5272714A (en) * | 1991-12-12 | 1993-12-21 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Distributed phase shift semiconductor laser |
DE4322164A1 (de) * | 1993-07-03 | 1995-01-12 | Ant Nachrichtentech | Optoelektronisches Bauelement mit Rückkopplungsgitter, mit axial quasi-kontinuierlich und nahezu beliebig variierbarem Gitterkopplungs-Koeffizienten, mit quasi-kontinuierlich axial verteilbarer Brechungsindex-Variation, sowie mit axial nahezu beliebig verteilbarer und variierbarer Phasenverschiebung |
DE4322163A1 (de) * | 1993-07-03 | 1995-01-12 | Ant Nachrichtentech | Auf DFB- oder DBR-Gitter basierendes optoelektronisches Bauelement mit quasi-kontinuierlich axial verteilbarer Brechungsindex-Variation, mit axial beliebig verteilbarer und variierbarer Phasenverschiebung, sowie mit axial quasi-kontinuierlich variierbarem Gitter-Kopplungskoeffizienten |
JP4786024B2 (ja) * | 2000-11-20 | 2011-10-05 | 三菱電機株式会社 | 分布帰還型レーザおよびその製造方法 |
US7649916B2 (en) | 2004-06-30 | 2010-01-19 | Finisar Corporation | Semiconductor laser with side mode suppression |
US8509582B2 (en) * | 2005-08-30 | 2013-08-13 | Rambus Delaware Llc | Reducing light leakage and improving contrast ratio performance in FTIR display devices |
DE102019102499A1 (de) * | 2019-01-31 | 2020-08-06 | Forschungsverbund Berlin E.V. | Vorrichtung zur Erzeugung von Laserstrahlung |
CN113937616B (zh) * | 2021-09-26 | 2023-03-07 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 半导体激光器阵列、半导体激光器单管及其制备方法 |
CN117498148A (zh) * | 2023-12-29 | 2024-02-02 | 江苏华兴激光科技有限公司 | 一种基于光栅结构相移的方法及dfb激光器 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPS5346712A (en) * | 1976-10-12 | 1978-04-26 | Hitachi Ltd | Magnetic memory device |
JPS5980984A (ja) * | 1982-11-01 | 1984-05-10 | Hitachi Ltd | 面発光分布帰還形半導体レ−ザ素子 |
US4775980A (en) * | 1983-12-14 | 1988-10-04 | Hitachi, Ltd. | Distributed-feedback semiconductor laser device |
JPH0666509B2 (ja) * | 1983-12-14 | 1994-08-24 | 株式会社日立製作所 | 分布帰還型半導体レ−ザ装置 |
JPS60152086A (ja) * | 1984-01-20 | 1985-08-10 | Hitachi Ltd | 半導体レ−ザ装置 |
US4751710A (en) * | 1984-07-26 | 1988-06-14 | Nec Corporation | Semiconductor laser device |
JPS6147685A (ja) * | 1984-08-15 | 1986-03-08 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 分布帰還形半導体レ−ザ |
JPS6189690A (ja) * | 1984-10-09 | 1986-05-07 | Fujitsu Ltd | 半導体レ−ザ |
JPS61216383A (ja) * | 1985-03-20 | 1986-09-26 | Nec Corp | 分布帰還型半導体レ−ザ |
JPS61220493A (ja) * | 1985-03-27 | 1986-09-30 | Nec Corp | 光増幅素子 |
JPS62189785A (ja) * | 1986-02-17 | 1987-08-19 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 分布ブラツグ反射器を有する半導体装置 |
US4740987A (en) * | 1986-06-30 | 1988-04-26 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Distributed-feedback laser having enhanced mode selectivity |
-
1987
- 1987-03-30 JP JP62078763A patent/JPS63244694A/ja active Pending
-
1988
- 1988-02-11 KR KR88001304A patent/KR960009303B1/ko active IP Right Grant
- 1988-03-22 US US07/171,768 patent/US4896331A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-03-29 DE DE8888105107T patent/DE3875768T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-03-29 CA CA000562757A patent/CA1303195C/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-29 EP EP88105107A patent/EP0285104B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02307287A (ja) * | 1989-05-22 | 1990-12-20 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザの製造方法 |
JPH042188A (ja) * | 1990-04-19 | 1992-01-07 | Toshiba Corp | レーザ素子及びその製造方法 |
JPH06338658A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Nec Corp | 半導体微細形状の形成方法、InP回折格子の製造方法および分布帰還型レーザの製造方法 |
JP2007311522A (ja) * | 2006-05-18 | 2007-11-29 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0285104A3 (en) | 1990-05-16 |
EP0285104A2 (en) | 1988-10-05 |
US4896331A (en) | 1990-01-23 |
DE3875768T2 (de) | 1993-05-27 |
KR880011965A (ko) | 1988-10-31 |
CA1303195C (en) | 1992-06-09 |
DE3875768D1 (de) | 1992-12-17 |
KR960009303B1 (en) | 1996-07-18 |
EP0285104B1 (en) | 1992-11-11 |
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