JPS63132444A - Wafer handling device - Google Patents
Wafer handling deviceInfo
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- JPS63132444A JPS63132444A JP61279453A JP27945386A JPS63132444A JP S63132444 A JPS63132444 A JP S63132444A JP 61279453 A JP61279453 A JP 61279453A JP 27945386 A JP27945386 A JP 27945386A JP S63132444 A JPS63132444 A JP S63132444A
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えばイオン注入装置等のようにイオンビ
ームを用いてウェハを処理するイオン処理装置に用いら
れて、ホルダーに対して処理前後のウェハを入れ替える
ウェハハンドリング装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention is used in an ion processing apparatus that processes a wafer using an ion beam, such as an ion implantation apparatus, and is used to attach a holder to a holder before and after processing. The present invention relates to a wafer handling device that replaces wafers.
第4図は従来のウェハハンドリング装置の一例を示す概
略平面図であり、第5図は第4図の!v!V−Vに沿う
概略部分断面図である。FIG. 4 is a schematic plan view showing an example of a conventional wafer handling device, and FIG. 5 is the same as that of FIG. 4! v! It is a schematic partial sectional view along VV.
真空に排気される処理室2内に、矢印Bのように回転さ
せられる回転軸8に結合されたものであってウェハ14
を保持可能であり、ウェハ14の処理のための起立状態
とウェハ4の入れ替えのための図示のような水平状態と
にされるホルダー(プラテンとも呼ぶ)10が設けられ
ている。ホルダーlOは、ベース10aおよびそれとの
間でウェハ14を挟持するウェハ押え10bを有し、そ
の中央部には第1のウェハ昇降手段を構成する昇降ビン
12が配置されている。ウェハ押え10bおよび昇降ビ
ン12は、界降捧13によって互いに所定の関係で上下
させられる。The wafer 14 is connected to a rotating shaft 8 that is rotated in the direction of arrow B in a processing chamber 2 that is evacuated.
A holder (also called a platen) 10 is provided, which can hold a wafer 14 in an upright state for processing the wafer 14 and in a horizontal state as shown in the figure for exchanging the wafer 4. The holder IO has a base 10a and a wafer presser 10b that holds the wafer 14 therebetween, and a lifting bin 12 constituting a first wafer lifting means is arranged in the center thereof. The wafer holder 10b and the lifting bin 12 are moved up and down in a predetermined relationship with each other by the field support 13.
処理室2にはゲート弁22を介して真空予備室24が隣
接されており、処理室2−・の例えば大気側からのウェ
ハ14の搬出入はこの真空予備室24を介して行われる
。そして処理室2内であってゲート弁22から少し入っ
た所に、ウェハ14を乗せて上下させる第2のウェハ昇
降手段を構成する昇降ビン20が設けられている。A vacuum preparatory chamber 24 is adjacent to the processing chamber 2 via a gate valve 22, and wafers 14 are carried in and out of the processing chamber 2, for example, from the atmosphere side through the vacuum preparatory chamber 24. A lifting bin 20 is provided within the processing chamber 2 a little further from the gate valve 22, and constitutes a second wafer lifting means for placing the wafer 14 and moving it up and down.
また、処理室2内であってホルダー10と昇降ビン20
との間には、両端部にウェハ14をそれぞれR置可能で
あり、回転軸18によって例えば矢印Cのように往復回
転させられる2本一体形の移載アーム16が設けられて
いる。Also, inside the processing chamber 2, a holder 10 and an elevating bin 20 are provided.
Two integral transfer arms 16 are provided between the transfer arm 16 and the transfer arm 16, each of which can place a wafer 14 at each end thereof, and which is rotated reciprocally as shown by an arrow C by a rotation shaft 18, for example.
更に、処理室2内であってホルダー10のイオンビーム
4から見て上流側には、イオンビーム4のビーム電流測
定用のファラデーケージ6が設けられている。Further, a Faraday cage 6 for measuring the beam current of the ion beam 4 is provided in the processing chamber 2 on the upstream side of the holder 10 when viewed from the ion beam 4 .
上記ウェハハンドリング装置の動作例を説明すると、前
提条件として、水平状態にあるホルダー10には処理済
みのウェハ14が保持されており、昇降ビン20上には
未処理のウェハ14が載置されており、移載アーム16
が図示のような中間位置にあるものとする。To explain an example of the operation of the above-mentioned wafer handling device, as a prerequisite, the holder 10 in a horizontal state holds a processed wafer 14, and the unprocessed wafer 14 is placed on the lifting bin 20. Cage, transfer arm 16
is assumed to be at an intermediate position as shown.
まず、昇降ビン12および20が共に上昇して各ウェハ
14をそれぞれ持ち上げる。勿論その場合はウェハ押え
lObも上昇する。そして、移載アーム16が反時計方
向に90度回転して停止し、昇降ビン12および20が
降下する。それによって各ウェハ14は移載アーム16
上に乗せられる。First, the lifting bins 12 and 20 rise together to lift each wafer 14, respectively. Of course, in that case, the wafer presser lOb also rises. Then, the transfer arm 16 rotates 90 degrees counterclockwise and stops, and the lifting bins 12 and 20 descend. Thereby, each wafer 14 is transferred to the transfer arm 16.
be placed on top.
次いで、移載アーム16が反時計方向に更に180度回
転して停止し、昇降ビン12及び20が共に上昇してウ
ェハ14をそれぞれ持ち上げる。The transfer arm 16 then rotates another 180 degrees counterclockwise and stops, and the lifting bins 12 and 20 rise together to lift the wafers 14, respectively.
その状態で移載アーム16が時計方向に90度回転して
第4図に示す中間位置に戻る。そして昇降ビン12およ
び20が共に降下する。またウェハ押え10bも昇降ビ
ン12と共に降下してウェハ14を挟持する。これによ
って、ウェハ14の入替えが終了し、ホルダー10には
未処理のウェハ14が保持され、昇降ビン20には処理
済みのウェハ14が載置された状態となる。In this state, the transfer arm 16 rotates 90 degrees clockwise and returns to the intermediate position shown in FIG. 4. The elevator bins 12 and 20 then descend together. Further, the wafer presser 10b also descends together with the lifting bin 12 to clamp the wafer 14. As a result, the replacement of the wafers 14 is completed, and the unprocessed wafers 14 are held in the holder 10, and the processed wafers 14 are placed in the lifting bin 20.
次いでホルダー10が約90度回転して起立状態になり
、ホルダ一部分上のウェハ14にイオンビーム4を照射
して処理、例えばイオン注入し、処理が終了するとホル
ダーlOは水平状態に戻る。Next, the holder 10 is rotated about 90 degrees to stand up, and the wafer 14 on a portion of the holder is irradiated with the ion beam 4 for processing, for example, ion implantation, and when the processing is completed, the holder 1O returns to the horizontal state.
その間の適当な時期に、昇降ビン20上の処理済みのウ
ェハ14が真空予備室24側へ搬出されると共に真空予
備室24側から次の未処理のウェハ14が昇降ビン20
上へ搬入される。そして以降必要に応じて、上記と同様
の動作が繰り返される。At an appropriate time in between, the processed wafer 14 on the lift bin 20 is carried out to the vacuum preliminary chamber 24 side, and the next unprocessed wafer 14 is transferred from the vacuum preliminary chamber 24 side to the lift bin 20.
It is carried upstairs. Thereafter, operations similar to those described above are repeated as necessary.
所が上記のようなウェハハンドリング装置においては、
移載アーム16が回転運動をするため、そのスペースを
確保する必要から処理室2が大形化するという問題があ
る。However, in the above-mentioned wafer handling equipment,
Since the transfer arm 16 rotates, there is a problem in that the processing chamber 2 becomes larger due to the need to secure a space for it.
そこでこの発明は、上記のような問題点を解決できるウ
ェハハンドリング装置を提供することを目的とする。Therefore, an object of the present invention is to provide a wafer handling device that can solve the above problems.
この発明のウェハハンドリング装置は、ウェハを処理の
ために保持可能なホルダーと、ホルダー上でウェハを上
下させて当該ホルダーに対するウェハの着脱を行う第1
のウェハ昇降手段と、ホルダーの手前側にあって供給さ
れたウェハを上下させる第2のウェハ昇降手段と、第1
および第2の直進機構と、第1の直進機構によって前後
させられて第2のウェハ昇降手段からウェハを受け取り
それを第1のウェハ昇降手段に渡すロードアームと、ロ
ードアームと上下関係にあり第2の直進機構によって前
後させられて第1のウェハ昇降手段からウェハを受け取
りそれを第2のウェハ昇降手段に渡すアンロードアーム
とを備えることを特徴とする。The wafer handling device of the present invention includes a holder that can hold a wafer for processing, and a first holder that attaches and detaches the wafer to and from the holder by moving the wafer up and down on the holder.
a second wafer lifting means located on the front side of the holder for raising and lowering the supplied wafer; and a first wafer lifting means.
a second straightening mechanism; a load arm that is moved back and forth by the first straightening mechanism to receive the wafer from the second wafer lifting means and transfer it to the first wafer lifting means; The present invention is characterized in that it includes an unload arm that is moved back and forth by a second straight moving mechanism to receive a wafer from the first wafer elevating means and transfer it to the second wafer elevating means.
第1図はこの発明の一実施例に係るウェハハンドリング
装置を示す概略平面図であり、第2図は第1図の線■−
Hに沿う概略部分断面図であり、第3図は第1図のホル
ダ一部分をイオンビーム側から見た概略正面図である。FIG. 1 is a schematic plan view showing a wafer handling apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic plan view showing the line ■--
FIG. 3 is a schematic partial sectional view taken along line H, and FIG. 3 is a schematic front view of a portion of the holder shown in FIG. 1, viewed from the ion beam side.
第4図および第5図と同一または対応する部分には同一
符号を付し、以下においては従来例との相違点を主に説
明する。The same or corresponding parts as in FIGS. 4 and 5 are given the same reference numerals, and the differences from the conventional example will be mainly explained below.
この実施例においては、前述したような回転式の移載ア
ーム16の代わりに、第1の直進機構30によって矢印
りのように前後方向に直進運動をさせられるロードアー
ム26と、その下方に設けられていて第2の直進機構3
2(図に表れていない)によって矢印Eのように前後方
向に直進運動させられるアンロードアーム28を備えて
いる。In this embodiment, instead of the rotary transfer arm 16 as described above, a load arm 26 is installed below the load arm 26, which is caused to move linearly in the front and back direction as shown by the arrow by the first linear movement mechanism 30. The second straight-travel mechanism 3
2 (not shown), the unloading arm 28 is provided with an unloading arm 28 that can be moved linearly in the front and rear direction as shown by an arrow E.
ロードアーム26は、昇降ビン20上にある未処理のウ
ェハ14をホルダー10上に移載するものであり、その
一端部にはウェハ14を載置可能なウェハ載置部26a
を、他端部には直進機構30を構成するボールねじ30
aと螺合するスクリューナツト26Cを有しており、ウ
ェハ載置部26aには昇降ビン12や20と干渉しない
ように切欠き26bが設けられている。またウェハ載置
部26aの背面は第3図に示すように開口状になってお
り、前後いずれの側からもその上にウェハ14を位置さ
せることができる。The load arm 26 is for transferring unprocessed wafers 14 on the lifting bin 20 onto the holder 10, and has a wafer placement part 26a on one end of which the wafers 14 can be placed.
and a ball screw 30 constituting the linear movement mechanism 30 at the other end.
The wafer mounting portion 26a is provided with a notch 26b so as not to interfere with the lifting bins 12 and 20. Further, the back surface of the wafer placement section 26a has an opening shape as shown in FIG. 3, and the wafer 14 can be placed thereon from either the front or back sides.
直進機構30は、上記ボールねじ30aおよびそれを回
転駆動するモータ30bを備えており、その回転によっ
てロードアーム26を前後進させることができる。The linear movement mechanism 30 includes the ball screw 30a and a motor 30b that rotationally drives the ball screw 30a, and can move the load arm 26 back and forth by rotation of the ball screw 30a.
アンロードアーム28は、ホルダー10上の処理済みウ
ェハ14を昇降ビン20上に移載するものであり、上記
ロードアーム26と同様の構造を有する。また当該アン
ロードアーム28の前後進用の直進機構32も上記直進
機構30と同様の構造を有する。The unload arm 28 is for transferring the processed wafer 14 on the holder 10 onto the lifting bin 20, and has the same structure as the load arm 26 described above. Further, the linear movement mechanism 32 for forward and backward movement of the unload arm 28 has the same structure as the linear movement mechanism 30 described above.
また、イオンビーム4のビーム電流計測用のファラデー
ケージ6は、この例では一体形のものであり、ウェハ1
4の処理のために起立状態にあるホルダー10をカバー
できる位置に固定されている。Furthermore, the Faraday cage 6 for measuring the beam current of the ion beam 4 is of an integrated type in this example, and the wafer 1
It is fixed at a position where it can cover the holder 10 which is in an upright state for the process of step 4.
尚、この実施例では、ホルダー10に関連して設けられ
た昇降ビン12は4本のビンから成るが、従来例のよう
に1本のビンであっても差し支えない。また、昇降棒1
3によって昇降ビン12と所定の関係で上下させられる
ウェハ押えlObは、第2図および第3図においては特
に必要無いので図示を省略している。In this embodiment, the elevating bin 12 provided in association with the holder 10 consists of four bins, but it may be one bin as in the conventional example. Also, lifting rod 1
The wafer presser lOb, which is moved up and down in a predetermined relationship with the lifting bin 12 by means of 3, is not shown in FIGS. 2 and 3 because it is not particularly necessary.
上記ウェハハンドリング装置の動作例を説明すると、前
提条件として、水平状態にあるホルダーIOに処理済み
のウェハ14が保持されており、昇降ビン20上には未
処理のウェハ14が載置されており、ロードアーム26
およびアンロードアーム28は図示のような中間位置に
あるものとする。To explain an example of the operation of the above-mentioned wafer handling device, as a prerequisite, a processed wafer 14 is held in the holder IO in a horizontal state, and an unprocessed wafer 14 is placed on the lifting bin 20. , load arm 26
It is assumed that the unloading arm 28 is in an intermediate position as shown.
まず、昇降ビン12および20が共に上昇して各ウェハ
14をそれぞれ持ち上げる。勿論その場合はウェハ押え
lobも上昇する。そして、第2図に2点鎖線で示すよ
うに、ロードアーム26が昇降ビン20上まで後退する
と共にアンロードアーム28がホルダー10上まで前進
しく第3図はこの状態を示す)、昇降ビン12および2
0が降下する。それによって各ウェハ14はロードアー
ム26およびアンロードアーム28上に載置される。First, the lifting bins 12 and 20 rise together to lift each wafer 14, respectively. Of course, in that case, the wafer holding lob also rises. Then, as shown by the two-dot chain line in FIG. 2, the load arm 26 retreats to above the lifting bin 20, and the unloading arm 28 advances to above the holder 10 (FIG. 3 shows this state), and the lifting bin 12 and 2
0 falls. Each wafer 14 is thereby placed on the load arm 26 and unload arm 28.
次いで、ロードアーム26がホルダー10上まで前進す
ると共にアンロードアーム28が昇降ビン20上まで後
退し、昇降ビン12および20が共に上昇してウェハ1
4をそれぞれ持ち上げる。Next, the load arm 26 advances to above the holder 10 and the unload arm 28 retreats to above the lifting bin 20, and the lifting bins 12 and 20 rise together to remove the wafer 1.
Pick up 4 each.
その状態で、ロードアーム26およびアンロードアー・
ム28が第2図の実線で示す中間位置まで戻る。そして
昇降ビン12および20が共に降下する。またウェハ押
え10bも昇降ビン12と共に降下してウェハ14を挟
持する。これによって、ウェハ14の入替えが終了し、
ホルダーIOには未処理のウェハ14が保持され、昇降
ビン20には処理済みのウェハ14が載置された状態に
なる。In this state, load arm 26 and unload door
28 returns to the intermediate position shown by the solid line in FIG. The elevator bins 12 and 20 then descend together. Further, the wafer presser 10b also descends together with the lifting bin 12 to clamp the wafer 14. This completes the replacement of the wafer 14,
Unprocessed wafers 14 are held in the holder IO, and processed wafers 14 are placed in the lifting bin 20.
次いでホルダー10が約90度回転して起立状態になり
、そしてホルダー10上のウェハ14にイオンビーム4
を照射して処理、例えばイオン注入し、処理が終了する
とホルダー10は水平状態に戻る。その間の適当な時期
に、昇降ビン20上の処理済みのウェハ14が真空予備
室24側へ搬出されると共に真空予備室24側から次の
未処理のウェハ14が昇降ビン20上へ搬入される。そ
して以降必要に応じて、上記と同様の動作が繰り返され
る。Next, the holder 10 is rotated approximately 90 degrees to stand up, and the ion beam 4 is applied to the wafer 14 on the holder 10.
When the process is completed, the holder 10 returns to the horizontal state. At an appropriate time in between, the processed wafer 14 on the lifting bin 20 is carried out to the vacuum preliminary chamber 24 side, and the next unprocessed wafer 14 is carried onto the lifting bin 20 from the vacuum preliminary chamber 24 side. . Thereafter, operations similar to those described above are repeated as necessary.
このように上記ウェハハンドリング装置においては、ウ
ェハ14移載用のアーム26および28は直進運動する
構造であるため、余分なスペースを少な(することがで
き、そのため処理室2の小形化を図ることができる。In this way, in the above-mentioned wafer handling apparatus, the arms 26 and 28 for transferring the wafer 14 are structured to move in a straight line, so that the extra space can be reduced, and the processing chamber 2 can therefore be made smaller. I can do it.
また、図示例のようにファラデーケージ6を用いる場合
、アーム26および28の移動に際してファラデーケー
ジ6が全く邪魔にならないため、それを例えば移動させ
たり切欠きを設ける必要も無いので都合が良い。Furthermore, when the Faraday cage 6 is used as in the illustrated example, the Faraday cage 6 does not get in the way at all when the arms 26 and 28 are moved, so there is no need to move it or provide a notch, which is convenient.
以上のようにこの発明によれば、ウェハの入替えを少な
いスペースで行うことができるので、処理室の小形化が
図れる。As described above, according to the present invention, wafers can be replaced in a small space, so that the processing chamber can be downsized.
第1図は、この発明の一実施例に係るウェハハンドリン
グ装置を示す概略平面図である。第2図は、第1図の線
■−■に沿う概略部分断面図である。第3図は、第1図
のホルダ一部分をイオンビーム側から見た概略正面図で
ある。第4図は、従来のウェハハンドリング装置の一例
を示す概略平面図である。第5図は、第4図の線■−■
に沿う概略部分断面図である。
2・・・処理室、4・・・イオンビーム、6・1.ファ
ラデーケージ、8・・・回転軸、10・、、ホルダー、
12.20・・・昇降ビン、14・・・ウェハ、26・
・・ ロードアーム、28・・・アンロードアーム、3
0.32・・・直進機構。FIG. 1 is a schematic plan view showing a wafer handling apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic partial sectional view taken along the line ■--■ in FIG. 1. FIG. 3 is a schematic front view of a portion of the holder shown in FIG. 1, viewed from the ion beam side. FIG. 4 is a schematic plan view showing an example of a conventional wafer handling device. Figure 5 shows the line ■-■ in Figure 4.
It is a schematic partial sectional view along. 2... Processing chamber, 4... Ion beam, 6.1. Faraday cage, 8...rotating shaft, 10..., holder,
12.20... Lifting bin, 14... Wafer, 26.
...Load arm, 28...Unload arm, 3
0.32... Straight forward mechanism.
Claims (1)
ルダー上でウェハを上下させて当該ホルダーに対するウ
ェハの着脱を行う第1のウェハ昇降手段と、ホルダーの
手前側にあって供給されたウェハを上下させる第2のウ
ェハ昇降手段と、第1および第2の直進機構と、第1の
直進機構によって前後させられて第2のウェハ昇降手段
からウェハを受け取りそれを第1のウェハ昇降手段に渡
すロードアームと、ロードアームと上下関係にあり第2
の直進機構によって前後させられて第1のウェハ昇降手
段からウェハを受け取りそれを第2のウェハ昇降手段に
渡すアンロードアームとを備えることを特徴とするウェ
ハハンドリング装置。(1) A holder that can hold a wafer for processing, a first wafer lifting means that moves the wafer up and down on the holder to attach and detach the wafer to and from the holder, and a holder that is located on the front side of the holder to hold the supplied wafer. a second wafer elevating means for raising and lowering the wafer; first and second linear mechanisms; The load arm that passes and the second
A wafer handling device comprising: an unload arm that is moved back and forth by a straightening mechanism to receive a wafer from a first wafer elevating means and transfer it to a second wafer elevating means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61279453A JPS63132444A (en) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Wafer handling device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61279453A JPS63132444A (en) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Wafer handling device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63132444A true JPS63132444A (en) | 1988-06-04 |
JPH0529143B2 JPH0529143B2 (en) | 1993-04-28 |
Family
ID=17611276
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61279453A Granted JPS63132444A (en) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Wafer handling device |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPS63132444A (en) |
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