JPS62222542A - マグネトロンの検査方法およびその装置 - Google Patents
マグネトロンの検査方法およびその装置Info
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- JPS62222542A JPS62222542A JP6513286A JP6513286A JPS62222542A JP S62222542 A JPS62222542 A JP S62222542A JP 6513286 A JP6513286 A JP 6513286A JP 6513286 A JP6513286 A JP 6513286A JP S62222542 A JPS62222542 A JP S62222542A
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Landscapes
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は、電子レンジ用マグネトロンの検査方法およ
びその実施に用いる検査装置に係わシ、とくにマグネト
ロン陽極ベインとその中心軸部に配置されるフィラメン
ト陰極との同心度の良否を検査する方法およびそれに使
用する装置に関する。
びその実施に用いる検査装置に係わシ、とくにマグネト
ロン陽極ベインとその中心軸部に配置されるフィラメン
ト陰極との同心度の良否を検査する方法およびそれに使
用する装置に関する。
(従来の技術)
電子レンジ用マグネトロンは第2図にその一部を示すよ
うに、陽極円筒(図示せず)の内側に10枚乃至14枚
という偶数枚の板状陽極ベイン11が放射状に固定され
、これら陽極ベインがつくる共振空胴の中心軸2部にフ
ィラメント陰極l2が配置されている。陽極ベインには
一対のストラップリング13が接合されて1つ置きに高
周波的に同電位とされる。フィラメント陰極12は、直
熱コイルからなシ、その両端部が一対のエンドハラ)7
4.15に電気的に接合されている。各エンドハントは
、一対の支持体16.17に固定されて図示しない絶縁
ステムに保持されている0両者の間の相互作用空間Sに
は、軸2にほぼ平行な直流磁束が印加される。
うに、陽極円筒(図示せず)の内側に10枚乃至14枚
という偶数枚の板状陽極ベイン11が放射状に固定され
、これら陽極ベインがつくる共振空胴の中心軸2部にフ
ィラメント陰極l2が配置されている。陽極ベインには
一対のストラップリング13が接合されて1つ置きに高
周波的に同電位とされる。フィラメント陰極12は、直
熱コイルからなシ、その両端部が一対のエンドハラ)7
4.15に電気的に接合されている。各エンドハントは
、一対の支持体16.17に固定されて図示しない絶縁
ステムに保持されている0両者の間の相互作用空間Sに
は、軸2にほぼ平行な直流磁束が印加される。
(発明が解決しようとする問題点)
このようなマグネトロンにおいては、陽極ベインがつく
る共撮空胴の中心軸2とフィラメント陰極の軸0とが実
質的に一致して同心度が良好でないと、発振に寄与しな
い電流が増加し発振効率が低下する。また両者の同心度
が極端に悪いものは、当然のことながら陽極ベインと陰
極との間で異常放電が生じたシする。この陽極ベインと
陰極との同心度の良否判定は、組立の途中の直視できる
段階では判別可能であるが、その後あるいはマグネトロ
ン完成後に何らかの機械的衝零などで同心度が変化した
場合には容易に検知できないという不都合がある。
る共撮空胴の中心軸2とフィラメント陰極の軸0とが実
質的に一致して同心度が良好でないと、発振に寄与しな
い電流が増加し発振効率が低下する。また両者の同心度
が極端に悪いものは、当然のことながら陽極ベインと陰
極との間で異常放電が生じたシする。この陽極ベインと
陰極との同心度の良否判定は、組立の途中の直視できる
段階では判別可能であるが、その後あるいはマグネトロ
ン完成後に何らかの機械的衝零などで同心度が変化した
場合には容易に検知できないという不都合がある。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
この発明は、陽極円筒の内側に複数の陽極ベインが配置
され、その中心部にフィラメント陰極が配置されてなる
完成されたマグネトロンに、所定定格電圧の80チ以下
の所定陽極電圧を印加し、その時の陽極電流を検出して
その電流レベルが所定値以上の場合に不良と判定する陽
極ベイン−陰極間の同心度検査方法である。またこの検
査方法の実施に直接使用する検査装置は、被供試マグネ
トロンのフィラメント陰極に所定定格電圧を印加するよ
うに設けられたフィラメント電圧トランスと、マグネト
ロンの陽極−陰極間に電圧を印加するように設けられた
陽極電圧トランスと、この陽極電圧トランスの一次側に
接続され該トランスの一次電圧を切換えるように接続さ
れた電圧切換装置と、この電圧切換装置を制御する制御
器と、マグネトロン陽極電流を検出するように接続され
た陽極電流検出器と、この陽極電流レベルが所定設定値
よりも超過しているとき被供試マグネトロンの不良を表
示する良否表示器とを具備してなる陽極ベインとフィラ
メント陰極との同心度を検査するマグネトロン検査装置
である。
され、その中心部にフィラメント陰極が配置されてなる
完成されたマグネトロンに、所定定格電圧の80チ以下
の所定陽極電圧を印加し、その時の陽極電流を検出して
その電流レベルが所定値以上の場合に不良と判定する陽
極ベイン−陰極間の同心度検査方法である。またこの検
査方法の実施に直接使用する検査装置は、被供試マグネ
トロンのフィラメント陰極に所定定格電圧を印加するよ
うに設けられたフィラメント電圧トランスと、マグネト
ロンの陽極−陰極間に電圧を印加するように設けられた
陽極電圧トランスと、この陽極電圧トランスの一次側に
接続され該トランスの一次電圧を切換えるように接続さ
れた電圧切換装置と、この電圧切換装置を制御する制御
器と、マグネトロン陽極電流を検出するように接続され
た陽極電流検出器と、この陽極電流レベルが所定設定値
よりも超過しているとき被供試マグネトロンの不良を表
示する良否表示器とを具備してなる陽極ベインとフィラ
メント陰極との同心度を検査するマグネトロン検査装置
である。
(作用)
以上のようなこの発明の検査方法およびその装置の有用
性は、陽極ベインとフィラメント陰極との同心度の良否
が陽極電圧−陽極電流の特性、および発振効率の変化に
間接的にあられれることを利用して完成後に検査判別で
きることの知見にもとづいている。すなわち、第2図に
示すように陽極ベインと陰極との各中心軸2.0が一致
していて同心度が良好であれば、第3図に点線曲線Aで
示すようにマグネトロン本来の良好な陽極電圧−電流特
性が得られ、発振効率も良好となる。しかしながら両者
の軸2.0がずれ2偏心していると、発振に寄与しない
電流が増加し第3図に実線曲線Bで示すようになだらか
になり発振効率が低下してしまう。そこで陽極電圧を所
定定格値よりもおよそ80チ以下(30%以上)の所定
値に設定切換えてそのときの陽極電流の変化値を検出し
、同心度の良否を高精度に判定することができる。また
比較的簡単な構成であシ、しかも各基準値を電気的に設
定しておけば、自動的に良否判定することも可能である
。
性は、陽極ベインとフィラメント陰極との同心度の良否
が陽極電圧−陽極電流の特性、および発振効率の変化に
間接的にあられれることを利用して完成後に検査判別で
きることの知見にもとづいている。すなわち、第2図に
示すように陽極ベインと陰極との各中心軸2.0が一致
していて同心度が良好であれば、第3図に点線曲線Aで
示すようにマグネトロン本来の良好な陽極電圧−電流特
性が得られ、発振効率も良好となる。しかしながら両者
の軸2.0がずれ2偏心していると、発振に寄与しない
電流が増加し第3図に実線曲線Bで示すようになだらか
になり発振効率が低下してしまう。そこで陽極電圧を所
定定格値よりもおよそ80チ以下(30%以上)の所定
値に設定切換えてそのときの陽極電流の変化値を検出し
、同心度の良否を高精度に判定することができる。また
比較的簡単な構成であシ、しかも各基準値を電気的に設
定しておけば、自動的に良否判定することも可能である
。
(実施例)
以下図面を参照してその実施例を説明する。
なお同一部分は同一符号であられす。
第1図はこの発明に使用する検査装置の構成例の回路お
よびブロック図である。同図において符号2Iは検査装
置用の交流′電源、22は陽極電圧切換装置、23はそ
の分圧トランス、24は切換リレー、25はフィラメン
ト′電圧トランス、26は陽極電圧トランス(リーケー
ゾトランス)、27はその一次巻線、28は二次巻線、
C,Dは整流回路のコンデンサおよびダイオード、Mは
被供試マグネトロン、29は陽極電流検出器、Rはその
抵抗素子、30は電流レベル判定装置、31は良否表示
器、32は制御器をあられしている。
よびブロック図である。同図において符号2Iは検査装
置用の交流′電源、22は陽極電圧切換装置、23はそ
の分圧トランス、24は切換リレー、25はフィラメン
ト′電圧トランス、26は陽極電圧トランス(リーケー
ゾトランス)、27はその一次巻線、28は二次巻線、
C,Dは整流回路のコンデンサおよびダイオード、Mは
被供試マグネトロン、29は陽極電流検出器、Rはその
抵抗素子、30は電流レベル判定装置、31は良否表示
器、32は制御器をあられしている。
検査の手順は、陽極電圧切換装置22のリレー24を所
定定格陽極電圧が得られる100チの電圧に保ち、種々
の特性試験項目を測定する。このときのマグネトロン陽
極印加電圧ebは約4 kV、陽極電流Ibは約300
mAである。
定定格陽極電圧が得られる100チの電圧に保ち、種々
の特性試験項目を測定する。このときのマグネトロン陽
極印加電圧ebは約4 kV、陽極電流Ibは約300
mAである。
次に、陽極電圧が約3.2 kVすなわち約80%とな
るように、陽極電圧トランスの一次巻線をリレー24に
よシ分圧トランス23tlC設けた中間タラ7’ 23
aの方に切換える。これは制御器32により電気的に
制御できる。
るように、陽極電圧トランスの一次巻線をリレー24に
よシ分圧トランス23tlC設けた中間タラ7’ 23
aの方に切換える。これは制御器32により電気的に
制御できる。
一方、電流レベル判定装置30は、例えばディジタルメ
ータリレーによシ、陽極電圧を80チに切換えた状態に
おける陽極電流Ibが1.5 mA以上。
ータリレーによシ、陽極電圧を80チに切換えた状態に
おける陽極電流Ibが1.5 mA以上。
のとき異常を知らせるように設定されている。このとき
、その信号が良否表示器31に伝達され、良否をマグネ
トロン自身に記録しまたは報知するようになっている。
、その信号が良否表示器31に伝達され、良否をマグネ
トロン自身に記録しまたは報知するようになっている。
この良否判定の陽極電流の基準レベルは、同種のマグネ
トロンについて陽極ベインと陰極との同心度の許容レベ
ルと電流レベルとをあらかじめ対応させて比較しておき
、それに基いて設定することができる。またこれらの操
作は、電気的に自動制御されるように構成しておくこと
ができる。
トロンについて陽極ベインと陰極との同心度の許容レベ
ルと電流レベルとをあらかじめ対応させて比較しておき
、それに基いて設定することができる。またこれらの操
作は、電気的に自動制御されるように構成しておくこと
ができる。
なお陽極電圧は、定格値に対しておよそ30%以上、8
0%以下の範囲の任意の所定値に定めておけば、第3図
の特性比較から明らかなように比較的精度よい良否判定
が可能である。ただし陽極電圧を30俤程度に切換える
場合は、陽極電流の判定レベルを例えば1.0 mA以
上を不良と判断するなどの補正を行なう。
0%以下の範囲の任意の所定値に定めておけば、第3図
の特性比較から明らかなように比較的精度よい良否判定
が可能である。ただし陽極電圧を30俤程度に切換える
場合は、陽極電流の判定レベルを例えば1.0 mA以
上を不良と判断するなどの補正を行なう。
[発明の効果コ
以上説明したようにこの発明によれば、完成されたマグ
ネトロンの陽極ベインとフィラメント陰極との同心度の
良否を、電気的に高精度で良否判定することができる。
ネトロンの陽極ベインとフィラメント陰極との同心度の
良否を、電気的に高精度で良否判定することができる。
また検査装置は比較的簡単な構成であり、しかも各基準
値を電気的に設定しておけば、自動的に良否判定するこ
とも可能であシ、マグネトロンの大量生産、品質管理に
有効である。
値を電気的に設定しておけば、自動的に良否判定するこ
とも可能であシ、マグネトロンの大量生産、品質管理に
有効である。
第1図はこの発明の実施例の装置を示す回路図、第2図
は一般的なマグネトロンの要部を示す縦断面図、第3図
は陽極電圧−電流特性図である。 M・・・被供試マグネトロン、11・・・陽極ベイン、
12・・・フィラメント陰極、25・・・フィラメント
電圧トランス、26・・・陽極電圧トランスと、22・
・・陽極電圧切換装置、32・・・制御器、29・・・
陽極電流検出器、3)・・・良否表示器。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
は一般的なマグネトロンの要部を示す縦断面図、第3図
は陽極電圧−電流特性図である。 M・・・被供試マグネトロン、11・・・陽極ベイン、
12・・・フィラメント陰極、25・・・フィラメント
電圧トランス、26・・・陽極電圧トランスと、22・
・・陽極電圧切換装置、32・・・制御器、29・・・
陽極電流検出器、3)・・・良否表示器。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
Claims (2)
- (1)陽極円筒の内側に複数の陽極ベインが配置され、
その中心部にフィラメント陰極が配置されてなるマグネ
トロンの、前記陽極ベインとフィラメント陰極との同心
度の良否検査方法において、完成されたマグネトロンに
所定定格電圧のおよそ80%以下の所定陽極電圧を印加
し、その時の陽極電流を検出してその電流レベルが所定
値以上の場合に不良と判定するマグネトロンの検査方法
。 - (2)被供試マグネトロンのフィラメント陰極に所定電
圧を印加するように設けられたフィラメント電圧トラン
スと、マグネトロンの陽極−陰極間に電圧を印加するよ
うに設けられた陽極電圧トランスと、この陽極電圧トラ
ンスの一次側に接続され該トランスの一次電圧を切換え
るように接続された陽極電圧切換装置と、この電圧切換
装置を制御する制御器と、前記マグネトロンの陽極電流
を検出するように接続された陽極電流検出器と、この陽
極電流レベルが所定設定値よりも超過しているとき被供
試マグネトロンの不良を表示する良否表示器とを具備し
てなる陽極ベインとフィラメント陰極との同心度を検査
するマグネトロン検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6513286A JPS62222542A (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | マグネトロンの検査方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6513286A JPS62222542A (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | マグネトロンの検査方法およびその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62222542A true JPS62222542A (ja) | 1987-09-30 |
Family
ID=13278040
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6513286A Pending JPS62222542A (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | マグネトロンの検査方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62222542A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009099494A (ja) * | 2007-10-19 | 2009-05-07 | Micro Denshi Kk | 寿命判定機能を有するマグネトロンの駆動装置 |
CN115291068A (zh) * | 2022-08-10 | 2022-11-04 | 中山市美格电子科技有限公司 | 一种id检测方法 |
-
1986
- 1986-03-24 JP JP6513286A patent/JPS62222542A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009099494A (ja) * | 2007-10-19 | 2009-05-07 | Micro Denshi Kk | 寿命判定機能を有するマグネトロンの駆動装置 |
CN115291068A (zh) * | 2022-08-10 | 2022-11-04 | 中山市美格电子科技有限公司 | 一种id检测方法 |
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