JPS62224952A - 熱伝導性基板 - Google Patents
熱伝導性基板Info
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- JPS62224952A JPS62224952A JP6709386A JP6709386A JPS62224952A JP S62224952 A JPS62224952 A JP S62224952A JP 6709386 A JP6709386 A JP 6709386A JP 6709386 A JP6709386 A JP 6709386A JP S62224952 A JPS62224952 A JP S62224952A
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3731—Ceramic materials or glass
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/15—Ceramic or glass substrates
-
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- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は個別半導体用ヒートシンクとして有用な高熱伝
導性基板に関づる。
導性基板に関づる。
(従来の技術)
半導体で発生し熱を敢熱りるため個別半導体用ヒートシ
ンク等に高熱伝力性基板が使用されている。従来、高熱
伝>$ 141 p板としてはBcO基板が一般的であ
ったが、高価であることや毒性のためAλN基板が検問
されている。
ンク等に高熱伝力性基板が使用されている。従来、高熱
伝>$ 141 p板としてはBcO基板が一般的であ
ったが、高価であることや毒性のためAλN基板が検問
されている。
このAAN基板には半導体チップを半田付すし、ワイヤ
をボンディングするため、メタライズ層を形成する必要
がある。このメタライズ層の形成は通常、研磨したAI
N基板にMOまたは、Wを主体とするメタライズペース
l〜を塗布し、焼成して行っていた。
をボンディングするため、メタライズ層を形成する必要
がある。このメタライズ層の形成は通常、研磨したAI
N基板にMOまたは、Wを主体とするメタライズペース
l〜を塗布し、焼成して行っていた。
(発明が解決しJ、うとJる問題点)
ところでこのメタライズ層を形成したAf!、N基板で
はAAN基板とメタライズ層間の接合強度が弱く、また
歩留が低いという問題点があった。
はAAN基板とメタライズ層間の接合強度が弱く、また
歩留が低いという問題点があった。
本発明はこのような問題を解消するためなされたもので
、へβN基板とメタライズ層との接合強度が大きく、そ
のばらつきが小さく、また歩留も良好な高熱伝導性基板
を提供することを目的とする。
、へβN基板とメタライズ層との接合強度が大きく、そ
のばらつきが小さく、また歩留も良好な高熱伝導性基板
を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明の高熱伝導性基板は、焼成されたAAN基板の表
面を2〜20μm1好ましくは5〜15μmの表面粗さ
(Rmax)にホーニング加工し、その上にメタライズ
層を形成してなることを特徴としている。
面を2〜20μm1好ましくは5〜15μmの表面粗さ
(Rmax)にホーニング加工し、その上にメタライズ
層を形成してなることを特徴としている。
この高熱伝導性基板は、表面粗さ(Rmax)を2〜2
0μmとするホーニング加工によりAlN基板にメタラ
イズ層を形成する際アンカー効果による大ぎい接合強度
が得られる。AぶN基板の表面粗さ(Rmax)が2μ
mより小さいとアンカー効果がうすれて接合強度が低下
し、また20μmを越えると導体回路の断線やショート
の原因となる。なおAlN基板の成形法としてシート成
形法を用いた場合には生産性が向上し製造コストを低減
させることができる。
0μmとするホーニング加工によりAlN基板にメタラ
イズ層を形成する際アンカー効果による大ぎい接合強度
が得られる。AぶN基板の表面粗さ(Rmax)が2μ
mより小さいとアンカー効果がうすれて接合強度が低下
し、また20μmを越えると導体回路の断線やショート
の原因となる。なおAlN基板の成形法としてシート成
形法を用いた場合には生産性が向上し製造コストを低減
させることができる。
(実施例)
次に本発明の実施例について説明する。
窒化アルミニウム粉末に3重量%の酸化イツトリウムを
加え、粉砕混合し、バインダを添加してドクターブレー
ド法によりシート成形した。(qられたグリーンシート
を50aX50mmなど適当な大きさに切断し、窒素雰
囲気中で1800℃、2時間加熱して焼成した。得られ
たAlN基板の表面粗さ(Rmax)は、2〜5μmで
あった。
加え、粉砕混合し、バインダを添加してドクターブレー
ド法によりシート成形した。(qられたグリーンシート
を50aX50mmなど適当な大きさに切断し、窒素雰
囲気中で1800℃、2時間加熱して焼成した。得られ
たAlN基板の表面粗さ(Rmax)は、2〜5μmで
あった。
このようにして得られたApN基板1を図に示すように
ホーニング加工して表面粗さ(Rmax)を5〜15μ
mにして、その後MOを主体とする導体ペーストを印刷
、乾燥し、真空炉で焼成して厚さ10μmのメタライズ
層2を形成した。次にダイヤモンドソーにより2BgX
2+nmに切断して小形にし、厚さ2μmのNiめつ
き3と厚さ1.5μmのAUめつき4を施した。
ホーニング加工して表面粗さ(Rmax)を5〜15μ
mにして、その後MOを主体とする導体ペーストを印刷
、乾燥し、真空炉で焼成して厚さ10μmのメタライズ
層2を形成した。次にダイヤモンドソーにより2BgX
2+nmに切断して小形にし、厚さ2μmのNiめつ
き3と厚さ1.5μmのAUめつき4を施した。
このようにして得られた高熱伝導性基板のAlN基板と
メタライズ層との接合強度は4 kt / mi以上で
あり、ホーニング加工をしないで胡麻したΔf!、N基
板にメタライズ層を形成したものに比べて平均値でも5
0%以上アップした。またこの実施例ではシー1〜成形
法により成形したので生産性が向上し、1時間あたり2
mmX 2mmのものを約1000個生産することがで
きた。
メタライズ層との接合強度は4 kt / mi以上で
あり、ホーニング加工をしないで胡麻したΔf!、N基
板にメタライズ層を形成したものに比べて平均値でも5
0%以上アップした。またこの実施例ではシー1〜成形
法により成形したので生産性が向上し、1時間あたり2
mmX 2mmのものを約1000個生産することがで
きた。
一方従来のプレス成形による方法では、1時間あたりた
かだか100個しか生産できなかった。
かだか100個しか生産できなかった。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の高熱伝導性基板において
は、AIN基板表面をホーニング加工して表面粗さ(R
max)を2〜20μmとしているので、アンカー効果
によりメタライズ層との接合強度が向上する。従って本
発明の高熱伝導性基板は個別半導体用ヒートシンク等と
して有用である。
は、AIN基板表面をホーニング加工して表面粗さ(R
max)を2〜20μmとしているので、アンカー効果
によりメタライズ層との接合強度が向上する。従って本
発明の高熱伝導性基板は個別半導体用ヒートシンク等と
して有用である。
図面は本発明の高熱伝導性基板を模式的に示す断面図で
ある。
ある。
Claims (4)
- (1)焼成されたAlN基板の表面を2〜20μmの表
面粗さ(Rmax)に加工し、その上にメタライズ層を
形成してなることを特徴とする熱伝導性基板。 - (2)加工はホーニング加工である特許請求の範囲第1
項記載の熱伝導性基板。 - (3)メタライズ層上にはNiめつきおよびAuめっき
が施こされている特許請求の範囲第1項記載の熱伝導性
基板。 - (4)AlN基板はシート成形法により成形されたもの
である特許請求の範囲第1項記載の熱伝導性基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61067093A JPH0770644B2 (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 熱伝導性基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61067093A JPH0770644B2 (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 熱伝導性基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62224952A true JPS62224952A (ja) | 1987-10-02 |
JPH0770644B2 JPH0770644B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=13334923
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61067093A Expired - Lifetime JPH0770644B2 (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 熱伝導性基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0770644B2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01218089A (ja) * | 1988-02-26 | 1989-08-31 | Toshiba Corp | 表面導電性セラミックス基板の製造方法 |
JPH01273381A (ja) * | 1988-04-25 | 1989-11-01 | Tokin Corp | 窒化アルミニウム基板の製造方法 |
JPH02122318U (ja) * | 1989-03-17 | 1990-10-05 | ||
JP2003037224A (ja) * | 2001-07-23 | 2003-02-07 | Ibiden Co Ltd | モジュール用基板 |
JP2003037231A (ja) * | 2001-07-23 | 2003-02-07 | Ibiden Co Ltd | モジュール用基板 |
JP2003060136A (ja) * | 2001-08-08 | 2003-02-28 | Ibiden Co Ltd | モジュール用基板 |
JP2003060137A (ja) * | 2001-08-08 | 2003-02-28 | Ibiden Co Ltd | モジュール用基板 |
US6884972B2 (en) | 1999-12-09 | 2005-04-26 | Ibiden Co., Ltd. | Ceramic plate for a semiconductor producing/inspecting apparatus |
JP2011222551A (ja) * | 2010-04-02 | 2011-11-04 | Kyocera Corp | 絶縁放熱基板 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6010696A (ja) * | 1983-06-30 | 1985-01-19 | 日本碍子株式会社 | 薄膜用セラミツク回路基板の製造法 |
JPS617647A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-14 | Toshiba Corp | 回路基板 |
-
1986
- 1986-03-27 JP JP61067093A patent/JPH0770644B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6010696A (ja) * | 1983-06-30 | 1985-01-19 | 日本碍子株式会社 | 薄膜用セラミツク回路基板の製造法 |
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JP2003060136A (ja) * | 2001-08-08 | 2003-02-28 | Ibiden Co Ltd | モジュール用基板 |
JP2003060137A (ja) * | 2001-08-08 | 2003-02-28 | Ibiden Co Ltd | モジュール用基板 |
JP4737885B2 (ja) * | 2001-08-08 | 2011-08-03 | イビデン株式会社 | モジュール用基板 |
JP2011222551A (ja) * | 2010-04-02 | 2011-11-04 | Kyocera Corp | 絶縁放熱基板 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0770644B2 (ja) | 1995-07-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |