[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JPS62224952A - 熱伝導性基板 - Google Patents

熱伝導性基板

Info

Publication number
JPS62224952A
JPS62224952A JP6709386A JP6709386A JPS62224952A JP S62224952 A JPS62224952 A JP S62224952A JP 6709386 A JP6709386 A JP 6709386A JP 6709386 A JP6709386 A JP 6709386A JP S62224952 A JPS62224952 A JP S62224952A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
aln substrate
thickness
calcined
rmax
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6709386A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0770644B2 (ja
Inventor
Nobuo Iwase
岩瀬 暢男
Kazuo Anzai
安斎 和雄
Takashi Takahashi
孝 高橋
Yasuyuki Sugiura
杉浦 康之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP61067093A priority Critical patent/JPH0770644B2/ja
Publication of JPS62224952A publication Critical patent/JPS62224952A/ja
Publication of JPH0770644B2 publication Critical patent/JPH0770644B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3731Ceramic materials or glass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
    • H01L23/15Ceramic or glass substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は個別半導体用ヒートシンクとして有用な高熱伝
導性基板に関づる。
(従来の技術) 半導体で発生し熱を敢熱りるため個別半導体用ヒートシ
ンク等に高熱伝力性基板が使用されている。従来、高熱
伝>$ 141 p板としてはBcO基板が一般的であ
ったが、高価であることや毒性のためAλN基板が検問
されている。
このAAN基板には半導体チップを半田付すし、ワイヤ
をボンディングするため、メタライズ層を形成する必要
がある。このメタライズ層の形成は通常、研磨したAI
N基板にMOまたは、Wを主体とするメタライズペース
l〜を塗布し、焼成して行っていた。
(発明が解決しJ、うとJる問題点) ところでこのメタライズ層を形成したAf!、N基板で
はAAN基板とメタライズ層間の接合強度が弱く、また
歩留が低いという問題点があった。
本発明はこのような問題を解消するためなされたもので
、へβN基板とメタライズ層との接合強度が大きく、そ
のばらつきが小さく、また歩留も良好な高熱伝導性基板
を提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明の高熱伝導性基板は、焼成されたAAN基板の表
面を2〜20μm1好ましくは5〜15μmの表面粗さ
(Rmax)にホーニング加工し、その上にメタライズ
層を形成してなることを特徴としている。
この高熱伝導性基板は、表面粗さ(Rmax)を2〜2
0μmとするホーニング加工によりAlN基板にメタラ
イズ層を形成する際アンカー効果による大ぎい接合強度
が得られる。AぶN基板の表面粗さ(Rmax)が2μ
mより小さいとアンカー効果がうすれて接合強度が低下
し、また20μmを越えると導体回路の断線やショート
の原因となる。なおAlN基板の成形法としてシート成
形法を用いた場合には生産性が向上し製造コストを低減
させることができる。
(実施例) 次に本発明の実施例について説明する。
窒化アルミニウム粉末に3重量%の酸化イツトリウムを
加え、粉砕混合し、バインダを添加してドクターブレー
ド法によりシート成形した。(qられたグリーンシート
を50aX50mmなど適当な大きさに切断し、窒素雰
囲気中で1800℃、2時間加熱して焼成した。得られ
たAlN基板の表面粗さ(Rmax)は、2〜5μmで
あった。
このようにして得られたApN基板1を図に示すように
ホーニング加工して表面粗さ(Rmax)を5〜15μ
mにして、その後MOを主体とする導体ペーストを印刷
、乾燥し、真空炉で焼成して厚さ10μmのメタライズ
層2を形成した。次にダイヤモンドソーにより2BgX
 2+nmに切断して小形にし、厚さ2μmのNiめつ
き3と厚さ1.5μmのAUめつき4を施した。
このようにして得られた高熱伝導性基板のAlN基板と
メタライズ層との接合強度は4 kt / mi以上で
あり、ホーニング加工をしないで胡麻したΔf!、N基
板にメタライズ層を形成したものに比べて平均値でも5
0%以上アップした。またこの実施例ではシー1〜成形
法により成形したので生産性が向上し、1時間あたり2
mmX 2mmのものを約1000個生産することがで
きた。
一方従来のプレス成形による方法では、1時間あたりた
かだか100個しか生産できなかった。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の高熱伝導性基板において
は、AIN基板表面をホーニング加工して表面粗さ(R
max)を2〜20μmとしているので、アンカー効果
によりメタライズ層との接合強度が向上する。従って本
発明の高熱伝導性基板は個別半導体用ヒートシンク等と
して有用である。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の高熱伝導性基板を模式的に示す断面図で
ある。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)焼成されたAlN基板の表面を2〜20μmの表
    面粗さ(Rmax)に加工し、その上にメタライズ層を
    形成してなることを特徴とする熱伝導性基板。
  2. (2)加工はホーニング加工である特許請求の範囲第1
    項記載の熱伝導性基板。
  3. (3)メタライズ層上にはNiめつきおよびAuめっき
    が施こされている特許請求の範囲第1項記載の熱伝導性
    基板。
  4. (4)AlN基板はシート成形法により成形されたもの
    である特許請求の範囲第1項記載の熱伝導性基板。
JP61067093A 1986-03-27 1986-03-27 熱伝導性基板 Expired - Lifetime JPH0770644B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61067093A JPH0770644B2 (ja) 1986-03-27 1986-03-27 熱伝導性基板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61067093A JPH0770644B2 (ja) 1986-03-27 1986-03-27 熱伝導性基板

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62224952A true JPS62224952A (ja) 1987-10-02
JPH0770644B2 JPH0770644B2 (ja) 1995-07-31

Family

ID=13334923

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61067093A Expired - Lifetime JPH0770644B2 (ja) 1986-03-27 1986-03-27 熱伝導性基板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0770644B2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01218089A (ja) * 1988-02-26 1989-08-31 Toshiba Corp 表面導電性セラミックス基板の製造方法
JPH01273381A (ja) * 1988-04-25 1989-11-01 Tokin Corp 窒化アルミニウム基板の製造方法
JPH02122318U (ja) * 1989-03-17 1990-10-05
JP2003037224A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
JP2003037231A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
JP2003060136A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
JP2003060137A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
US6884972B2 (en) 1999-12-09 2005-04-26 Ibiden Co., Ltd. Ceramic plate for a semiconductor producing/inspecting apparatus
JP2011222551A (ja) * 2010-04-02 2011-11-04 Kyocera Corp 絶縁放熱基板

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6010696A (ja) * 1983-06-30 1985-01-19 日本碍子株式会社 薄膜用セラミツク回路基板の製造法
JPS617647A (ja) * 1984-06-21 1986-01-14 Toshiba Corp 回路基板

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6010696A (ja) * 1983-06-30 1985-01-19 日本碍子株式会社 薄膜用セラミツク回路基板の製造法
JPS617647A (ja) * 1984-06-21 1986-01-14 Toshiba Corp 回路基板

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01218089A (ja) * 1988-02-26 1989-08-31 Toshiba Corp 表面導電性セラミックス基板の製造方法
JPH01273381A (ja) * 1988-04-25 1989-11-01 Tokin Corp 窒化アルミニウム基板の製造方法
JPH02122318U (ja) * 1989-03-17 1990-10-05
US6884972B2 (en) 1999-12-09 2005-04-26 Ibiden Co., Ltd. Ceramic plate for a semiconductor producing/inspecting apparatus
JP2003037224A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
JP2003037231A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
JP2003060136A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
JP2003060137A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Ibiden Co Ltd モジュール用基板
JP4737885B2 (ja) * 2001-08-08 2011-08-03 イビデン株式会社 モジュール用基板
JP2011222551A (ja) * 2010-04-02 2011-11-04 Kyocera Corp 絶縁放熱基板

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0770644B2 (ja) 1995-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5654586A (en) Power semiconductor component having a buffer layer
US20170151755A1 (en) Metal-on-ceramic substrates
JPS62224952A (ja) 熱伝導性基板
JPH06296084A (ja) 高熱伝導体及びこれを備えた配線基板とこれらの製造方法
US5312698A (en) Aluminum nitride substrate and method for producing same
JP3408298B2 (ja) 高熱伝導性窒化けい素メタライズ基板,その製造方法および窒化けい素モジュール
JPH05347469A (ja) セラミックス回路基板
JPH1067586A (ja) パワーモジュール用回路基板およびその製造方法
KR930005894B1 (ko) 금속화층이 형성된 질화알루미늄 소결체 및 이의 제조방법
JPH0359036B2 (ja)
JPH0272655A (ja) 実装部品
JPS6184037A (ja) 窒化アルミニウム系セラミツクス基板
JP2861357B2 (ja) 窒化アルミニウム―銅接合方法
US3702787A (en) Method of forming ohmic contact for semiconducting devices
JP3239549B2 (ja) 半導体用セラミックス放熱体およびその製造方法
JP4515562B2 (ja) セラミックス回路基板の製造方法
JP3271342B2 (ja) 窒化アルミニウム燒結体の製造方法
JP2001308519A (ja) 窒化アルミニウム回路基板
JP3307862B2 (ja) セラミック基板
JP3197617B2 (ja) GaAs半導体素子用基板
JPH029766A (ja) セラミックス基板
JPH04144967A (ja) 窒化アルミニウム焼結体およびその製造方法
JPH0790413A (ja) 複合材料
JPH06151637A (ja) リード付き窒化アルミニウム絶縁放熱板
JPH0255271A (ja) 窒化アルミニウム基板と金属板との接合構造

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term