JPS61151097A - 平滑面をもつダイヤモンド薄膜の製法 - Google Patents
平滑面をもつダイヤモンド薄膜の製法Info
- Publication number
- JPS61151097A JPS61151097A JP28180484A JP28180484A JPS61151097A JP S61151097 A JPS61151097 A JP S61151097A JP 28180484 A JP28180484 A JP 28180484A JP 28180484 A JP28180484 A JP 28180484A JP S61151097 A JPS61151097 A JP S61151097A
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- Japan
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- diamond
- base plate
- thin film
- diamond thin
- substrate
- Prior art date
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- Pending
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は平滑な面をもつダイヤモンド薄膜の製法に関す
る。
る。
平滑な面をもつダイヤモンドは、耐摩耗性!l@面、耐
摩耗性摺動面9例えばビデオディスクのヘッド等として
使用されている。
摩耗性摺動面9例えばビデオディスクのヘッド等として
使用されている。
従来、平滑なダイヤモンドの面ン得厚うと丁れば、希耀
の大きさの面が得られるダイヤモンド粒子を噴量研磨す
る。しかし、ダイヤモンドは最も硬い物質であり、研磨
は共摺が前提となり、長時間を要する。1また、大きな
面を得ようとすると。
の大きさの面が得られるダイヤモンド粒子を噴量研磨す
る。しかし、ダイヤモンドは最も硬い物質であり、研磨
は共摺が前提となり、長時間を要する。1また、大きな
面を得ようとすると。
それが得られるダイヤモンドは、それに見合う大ざさの
ものが必斐となり、極めて高1曲なものとなる。
ものが必斐となり、極めて高1曲なものとなる。
ところで、近時1例えば特開昭58−91100゜58
−110494.59−3098等に記載されているよ
うに、高融点の8i、Mo、Cu等の連載、サファイヤ
、石英、WC等の化合物を基板としてこの上にダイヤモ
ンドな析出成長させる方法が開発されている。丁なわち
、上記基板を鏡面とし、それにダイヤモンド砥粒によっ
て微細な湯をつける表面処理をした後、水素又は水素と
Ar等の不活性ガスで希釈した炭比水索ガスをプラズマ
中で接触させると、基板表面にダイヤモンド微粒子が析
出し、2〜5時間後に上記fiI1.粒子の東貧した楔
状のダイヤモンドが得られる。この薄膜ダイヤモンドは
、製法が比較的簡単で基板囲と同じ面積の膜が得られろ
が、成長面は、(111)面。
−110494.59−3098等に記載されているよ
うに、高融点の8i、Mo、Cu等の連載、サファイヤ
、石英、WC等の化合物を基板としてこの上にダイヤモ
ンドな析出成長させる方法が開発されている。丁なわち
、上記基板を鏡面とし、それにダイヤモンド砥粒によっ
て微細な湯をつける表面処理をした後、水素又は水素と
Ar等の不活性ガスで希釈した炭比水索ガスをプラズマ
中で接触させると、基板表面にダイヤモンド微粒子が析
出し、2〜5時間後に上記fiI1.粒子の東貧した楔
状のダイヤモンドが得られる。この薄膜ダイヤモンドは
、製法が比較的簡単で基板囲と同じ面積の膜が得られろ
が、成長面は、(111)面。
(1003面がランダムな方向に成長して形成されるの
で、その結果、成浅面には1〜5μmの゛凹凸が出来、
平rRなlは得られないっ 〔発明が解決しようとする間趙点〕 T−発明は上記の事情に鑑み、CVD法によるダイヤモ
ンドの合成によって、安圃に有望の面積の平滑なダイヤ
モンド面の得られる#云を提供することを目的とてる。
で、その結果、成浅面には1〜5μmの゛凹凸が出来、
平rRなlは得られないっ 〔発明が解決しようとする間趙点〕 T−発明は上記の事情に鑑み、CVD法によるダイヤモ
ンドの合成によって、安圃に有望の面積の平滑なダイヤ
モンド面の得られる#云を提供することを目的とてる。
不発明は、上記問題点を解決するためになされたもので
、その特徴は基板の鏡面を生か丁所にある。丁なカち、
深さ、1嶋が0.1μm以下の微小な傷をつげzsiミ
ラーウェハー基板面上にCvL)云によってダイヤモン
ドを析出させて、ダイヤモンドの薄膜を形成し、このダ
イヤモンドの薄膜が形成されている基板をフッ1iS水
素改等によって溶解する平滑な而をもつダイヤモ〉/ド
薄膜の製法にある、〔作用〕 不発明は、ダイヤモンド薄膜が形成された基板をフッ1
ヒ水素酸によって溶解するので、基板と接しているダイ
ヤモンド膜の面が露出し、この露出した面は、基板面と
同じ平滑面となる。
、その特徴は基板の鏡面を生か丁所にある。丁なカち、
深さ、1嶋が0.1μm以下の微小な傷をつげzsiミ
ラーウェハー基板面上にCvL)云によってダイヤモン
ドを析出させて、ダイヤモンドの薄膜を形成し、このダ
イヤモンドの薄膜が形成されている基板をフッ1iS水
素改等によって溶解する平滑な而をもつダイヤモ〉/ド
薄膜の製法にある、〔作用〕 不発明は、ダイヤモンド薄膜が形成された基板をフッ1
ヒ水素酸によって溶解するので、基板と接しているダイ
ヤモンド膜の面が露出し、この露出した面は、基板面と
同じ平滑面となる。
本発明に用いる基板は、CVD法ダイヤモンド合成に3
いて使用される上記高融点の逮属ノ戎いは化合物がいず
れも丈用出釆るが、特にSiは、ダイヤモンドと熱膨張
係数の差が小さいため、耐却時クラックの発生がなく、
さらに、半導体用として鏡面仕上げされたウェハーが容
易に入手田米る等の利点があり好ましい。
いて使用される上記高融点の逮属ノ戎いは化合物がいず
れも丈用出釆るが、特にSiは、ダイヤモンドと熱膨張
係数の差が小さいため、耐却時クラックの発生がなく、
さらに、半導体用として鏡面仕上げされたウェハーが容
易に入手田米る等の利点があり好ましい。
Siウェハー面、上にダイヤモンドを析出させるには1
m常、1−10μmのダイヤモンド砥粒で表面を研磨し
小さい傷をつける事がM幼であると言われている。
m常、1−10μmのダイヤモンド砥粒で表面を研磨し
小さい傷をつける事がM幼であると言われている。
しかしこの方法に工って作成し社材料のSi側をHFに
より溶解したσ〕ち長Itlを観察すると研磨時の傷が
原因の凹凸がレプリカ伏に残っているために、?tらか
な面とは言えない。したがつ【深(はないが、ダイヤモ
ンドの成長には有効な傷ぞつけることが必要である。そ
のためには1表面処理に工夫をする。平均粒径が1〜2
μ【n程度の細いダイヤモンド粒を水に分散させに液中
に8iミラーウェハーを入れ、全体に超音波振動を10
〜30分かける。この処理にエリ、高倍率のSEMでや
つと識別できる程度の微小な傷を全面につけることがで
きる。
より溶解したσ〕ち長Itlを観察すると研磨時の傷が
原因の凹凸がレプリカ伏に残っているために、?tらか
な面とは言えない。したがつ【深(はないが、ダイヤモ
ンドの成長には有効な傷ぞつけることが必要である。そ
のためには1表面処理に工夫をする。平均粒径が1〜2
μ【n程度の細いダイヤモンド粒を水に分散させに液中
に8iミラーウェハーを入れ、全体に超音波振動を10
〜30分かける。この処理にエリ、高倍率のSEMでや
つと識別できる程度の微小な傷を全面につけることがで
きる。
マタ、ダイヤモンドを析出する装置tこ条件は通富のC
vL)@によるダイヤモンド合成法のものがそのまま採
用される。
vL)@によるダイヤモンド合成法のものがそのまま採
用される。
合成条件はたとえば、原料ガスはC)1. /H。
:1vo1/99vol、基板温度850°C王刀:3
0Torr、マイクロ波励起で行なわれろ。5〜10時
間のダイヤモンド薄膜の成長後。
0Torr、マイクロ波励起で行なわれろ。5〜10時
間のダイヤモンド薄膜の成長後。
七〇基板−e )I Fによって溶解すると、基板と接
する面が基板のレプリかとなり平滑となるが、残留応力
σ)ためダイヤモンド膜は湾曲する。
する面が基板のレプリかとなり平滑となるが、残留応力
σ)ためダイヤモンド膜は湾曲する。
平滑かつ湾曲のないダイヤモンド面を得るには。
ダイヤモンド膜の成長面にH1I’水で浸されない。
面の平らな基材を)lfI”で浸されない接着材で艦看
した後、上記基板をHFで#解重れば工い。
した後、上記基板をHFで#解重れば工い。
次に実施例を示して不発明を説明する。
「実施例1」
1〜2μσ?ダイヤモンド砥粒g (2w t%]内で
20分間超音波振動された8 t ミラーウエノ飄−を
マイクロ波プラズマ空間に入れ、C1−1,/H。
20分間超音波振動された8 t ミラーウエノ飄−を
マイクロ波プラズマ空間に入れ、C1−1,/H。
が容量でl/99の反応ガスを3QTorrで5時間流
したところ、厚さ=4μmU)ダイヤモンド膜が得られ
た。このダイヤモンド膜の面にフッ素系貞脂を塗り、S
iC仮を貼り付けた後、1−1F水で基板を溶解して、
SMMで観察しても平滑なダイヤモンド面が得らrした
。
したところ、厚さ=4μmU)ダイヤモンド膜が得られ
た。このダイヤモンド膜の面にフッ素系貞脂を塗り、S
iC仮を貼り付けた後、1−1F水で基板を溶解して、
SMMで観察しても平滑なダイヤモンド面が得らrした
。
「実施例2」。
表面処理に2いて使用するダイヤモンド砥粒として、平
均粒径:2μmのものを用いて1通常法で研磨した以外
は全く同じにしてダイヤモンド平面をつくった。この面
には、1隔0.1〜0.2μmの凸条が残り、外観は平
滑面に見えるが、SEM的な平滑面とはならなかつz0
明らかに、研磨時の傷カレプリカとして残っていた。
均粒径:2μmのものを用いて1通常法で研磨した以外
は全く同じにしてダイヤモンド平面をつくった。この面
には、1隔0.1〜0.2μmの凸条が残り、外観は平
滑面に見えるが、SEM的な平滑面とはならなかつz0
明らかに、研磨時の傷カレプリカとして残っていた。
「実施例3」
ダイヤモンドの析出を20時間行なった外は、実施例1
と同じにしてダイヤモンド膜をつ(つた。
と同じにしてダイヤモンド膜をつ(つた。
これをそのままHF水で基板?溶解し、厚さ=20μm
のダイヤモンド膜を得な。この膜は残留応力によって少
し湾曲してい念が、ウェハー側の面は、’am鏡的平滑
面であつな。
のダイヤモンド膜を得な。この膜は残留応力によって少
し湾曲してい念が、ウェハー側の面は、’am鏡的平滑
面であつな。
本発明の平滑な面をもつダイヤモンド#膜の製法は、C
VD法により置られるダイヤモンド薄膜を使用している
ので、容易かつ安i+liに所望の面積のものが得られ
る浸れた方法である。
VD法により置られるダイヤモンド薄膜を使用している
ので、容易かつ安i+liに所望の面積のものが得られ
る浸れた方法である。
Claims (1)
- 深さ、幅が0.1μm以下の微小な傷をつけたSiミラ
ーウェハー基板面上にダイヤモンドを析出させてダイヤ
モンドの薄膜を形成し、このダイヤモンド薄膜が形成さ
れている基板を溶解除去することを特徴とする平滑面を
もつダイヤモンド薄膜の製法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28180484A JPS61151097A (ja) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | 平滑面をもつダイヤモンド薄膜の製法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28180484A JPS61151097A (ja) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | 平滑面をもつダイヤモンド薄膜の製法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61151097A true JPS61151097A (ja) | 1986-07-09 |
Family
ID=17644210
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28180484A Pending JPS61151097A (ja) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | 平滑面をもつダイヤモンド薄膜の製法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61151097A (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4984534A (en) * | 1987-04-22 | 1991-01-15 | Idemitsu Petrochemical Co., Ltd. | Method for synthesis of diamond |
US5094915A (en) * | 1990-05-16 | 1992-03-10 | The Ohio State University | Laser-excited synthesis of carbon films from carbon monoxide-containing gas mixtures |
US5114745A (en) * | 1989-05-31 | 1992-05-19 | Jones Barbara L | Method of producing a thin carbide layer on a carbon substrate, growing a diamond or diamond-like film on the carbide layer, and removing the carbon substrate |
US5130111A (en) * | 1989-08-25 | 1992-07-14 | Wayne State University, Board Of Governors | Synthetic diamond articles and their method of manufacture |
US5180571A (en) * | 1990-05-30 | 1993-01-19 | Idemitsu Petrochemical Company Limited | Process for the preparation of diamond |
US5314652A (en) * | 1992-11-10 | 1994-05-24 | Norton Company | Method for making free-standing diamond film |
US5527559A (en) * | 1994-07-18 | 1996-06-18 | Saint Gobain/Norton Industrial Ceramics Corp. | Method of depositing a diamond film on a graphite substrate |
JP2007526974A (ja) * | 2004-03-05 | 2007-09-20 | ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド | 低摩擦コーティングを備えた弁 |
WO2009101695A1 (ja) * | 2008-02-14 | 2009-08-20 | Shimadzu Corporation | 流路切換バルブ |
WO2018012529A1 (ja) * | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 並木精密宝石株式会社 | 単結晶ダイヤモンド基板 |
WO2018150541A1 (ja) * | 2017-02-17 | 2018-08-23 | 三菱重工コンプレッサ株式会社 | 圧縮機モジュール |
-
1984
- 1984-12-25 JP JP28180484A patent/JPS61151097A/ja active Pending
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP4768709B2 (ja) * | 2004-03-05 | 2011-09-07 | ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン | 低摩擦コーティングを備えた弁 |
WO2009101695A1 (ja) * | 2008-02-14 | 2009-08-20 | Shimadzu Corporation | 流路切換バルブ |
JPWO2009101695A1 (ja) * | 2008-02-14 | 2011-06-02 | 株式会社島津製作所 | 流路切換バルブ |
WO2018012529A1 (ja) * | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 並木精密宝石株式会社 | 単結晶ダイヤモンド基板 |
JPWO2018012529A1 (ja) * | 2016-07-14 | 2019-05-09 | アダマンド並木精密宝石株式会社 | 単結晶ダイヤモンド基板 |
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