JPS61129626A - エレクトロクロミツク装置 - Google Patents
エレクトロクロミツク装置Info
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- JPS61129626A JPS61129626A JP59250515A JP25051584A JPS61129626A JP S61129626 A JPS61129626 A JP S61129626A JP 59250515 A JP59250515 A JP 59250515A JP 25051584 A JP25051584 A JP 25051584A JP S61129626 A JPS61129626 A JP S61129626A
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- Japan
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- lead wire
- electrode
- substrates
- wire attachment
- substrate
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- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はエレクトロクロミック(以下r ECJと略記
する)装置に関するものである。
する)装置に関するものである。
[従来の技術]
電界を加えるとイオン交換反応が起り発消色現象を程す
るEC物質を用いた表示装置、調光窓、調光鏡等のEC
装置が用いられている。通常、第2図にその断面図を示
すように、EC装置は、相対向する二枚の基板1,2間
に電解質3を挟持して構成される。二枚の基板1,2に
は、表面に電極4,5が形成され、端面には該電極4,
5〜外部より電圧を印e”b t h 1,1−ド線6
,7.Qllヶける帯状のリード線取付部8.8が形成
される。
るEC物質を用いた表示装置、調光窓、調光鏡等のEC
装置が用いられている。通常、第2図にその断面図を示
すように、EC装置は、相対向する二枚の基板1,2間
に電解質3を挟持して構成される。二枚の基板1,2に
は、表面に電極4,5が形成され、端面には該電極4,
5〜外部より電圧を印e”b t h 1,1−ド線6
,7.Qllヶける帯状のリード線取付部8.8が形成
される。
また二枚の基板1,2のうち少くとも一枚の基板上には
EC物質層!Oが形成される。なお、二枚の基板1.2
の端部はシール材11.12で封止され、更に該基板1
.2の端面が被覆される形で周辺封止材13.14で封
止される。
EC物質層!Oが形成される。なお、二枚の基板1.2
の端部はシール材11.12で封止され、更に該基板1
.2の端面が被覆される形で周辺封止材13.14で封
止される。
C発明が解決しようとする問題点コ
従来のEC装置では、第2図からも明らかなように、電
極4.5とリード線取付部8.9とが線接触であり、か
つ、電極4.5としては通常酸化インジウム−酸化錫(
I TO)等の透明導電性薄膜が使用されるためその膜
厚は例えば約2000人程度と極めて薄く、リード線取
付部8.9との接触面積はごく小さなものであった。そ
のため、電極4,5とリード線取付部8,8との十分な
接触がl。
極4.5とリード線取付部8.9とが線接触であり、か
つ、電極4.5としては通常酸化インジウム−酸化錫(
I TO)等の透明導電性薄膜が使用されるためその膜
厚は例えば約2000人程度と極めて薄く、リード線取
付部8.9との接触面積はごく小さなものであった。そ
のため、電極4,5とリード線取付部8,8との十分な
接触がl。
得られず、場所によっては点接触となったり断線状態と
なってしまう所があり、電気的接続の上で十分な@頼性
が得られなかった。
なってしまう所があり、電気的接続の上で十分な@頼性
が得られなかった。
従来のEC装置は、基板1.2としてはガラスを用いる
のが通常であり、しか−伯灰型のガラス板(例えば尺角
サイズ)をそのまま洗浄後前述のITO薄膜(更には酸
化タングステン等のEC物質層10)を真空蒸着し、そ
の後所定の大きさく例えばlOcmX 10cm角)に
切断して、リード線取付部8.8及びリード線6,7を
端面に形成するようにしていた。
のが通常であり、しか−伯灰型のガラス板(例えば尺角
サイズ)をそのまま洗浄後前述のITO薄膜(更には酸
化タングステン等のEC物質層10)を真空蒸着し、そ
の後所定の大きさく例えばlOcmX 10cm角)に
切断して、リード線取付部8.8及びリード線6,7を
端面に形成するようにしていた。
そのため、この様にして電極4,5(及びEC物質層1
0)を形成した基板1.2を相対向させシール材11.
12で封止しセルを形成するまでの工程で作業者の手指
の脂等による汚れが付着し易く、生産の歩上りが悪かっ
た。
0)を形成した基板1.2を相対向させシール材11.
12で封止しセルを形成するまでの工程で作業者の手指
の脂等による汚れが付着し易く、生産の歩上りが悪かっ
た。
また、基板1,2の端面に形成するリード線取付部8.
8は通常ガラス用半田が用いられるが、該ガラス用半田
を基板1.2の端面に溶着する際超音波振動を加えなが
ら溶着するので、この超音波振動によりガラス用半田の
微粉末が飛散し、電極4,5とEC物質層10の表面に
付着する現象が見られた。このガラス用半田の微粉末は
、いったん付着すると除去しにくく、例えば高圧窒素ガ
スの噴射等の方法によっても際会4るのは容易でなくセ
ルの劣化の原因となっていた。
8は通常ガラス用半田が用いられるが、該ガラス用半田
を基板1.2の端面に溶着する際超音波振動を加えなが
ら溶着するので、この超音波振動によりガラス用半田の
微粉末が飛散し、電極4,5とEC物質層10の表面に
付着する現象が見られた。このガラス用半田の微粉末は
、いったん付着すると除去しにくく、例えば高圧窒素ガ
スの噴射等の方法によっても際会4るのは容易でなくセ
ルの劣化の原因となっていた。
更に第3II!iに示すように、ガラス用半田を基板1
5の端面に溶着してリード線取付部17を形成する場合
には、該ガラス用半田が基板15の上下にはみ出し、は
み出し部17a 、 17bが出来、該基板15を対向
基板とセル化した場合に、基板間のセルギャップは通常
約504m程度で極めて狭いために、該はみ出し部17
aが対向電極と接触し、ショートする場合があった。
5の端面に溶着してリード線取付部17を形成する場合
には、該ガラス用半田が基板15の上下にはみ出し、は
み出し部17a 、 17bが出来、該基板15を対向
基板とセル化した場合に、基板間のセルギャップは通常
約504m程度で極めて狭いために、該はみ出し部17
aが対向電極と接触し、ショートする場合があった。
周辺封止剤13.14は、エポキシ系接着剤等が用いら
れるが、基板1.2を相対向させシール材11.12で
封止後該基板1.2の端面に塗布していたので、第2図
からも明らかなように、セルの端面から盛り上って形成
され、熱による膨張収縮や振動により剥離し易く、封止
の信頼性が悪かった。
れるが、基板1.2を相対向させシール材11.12で
封止後該基板1.2の端面に塗布していたので、第2図
からも明らかなように、セルの端面から盛り上って形成
され、熱による膨張収縮や振動により剥離し易く、封止
の信頼性が悪かった。
本発明は、従来のEC装置の如上の欠点を解消するため
になされたもので、電極とリード線取付部の電気的接続
の信頼性が高く、生産の小止りが向上し、セルの劣化が
少く、対向電極どうしのシ=1− ト等の事故の発生の
ない、セルのシールの完全なEC装置を提供することを
目的とする。
になされたもので、電極とリード線取付部の電気的接続
の信頼性が高く、生産の小止りが向上し、セルの劣化が
少く、対向電極どうしのシ=1− ト等の事故の発生の
ない、セルのシールの完全なEC装置を提供することを
目的とする。
c問題点を解決するための手段]
本発明のEC装置は、相対向する二枚の基板間に電解質
が挟持されて成り、該二枚の基板は電極と該電極へ外部
より電圧を印加するリード線取付部とを有し、少くとも
一枚の基板の電極上にはエレクトロクロミー、り物質層
が形成されているエレクトロクロミック装置において、
該二枚の基板には、所定の角度でテーパーをつけた該基
板の端面に固着されたリード線取付部の所定部分を被覆
して電極が形成されていることを特徴とする。
が挟持されて成り、該二枚の基板は電極と該電極へ外部
より電圧を印加するリード線取付部とを有し、少くとも
一枚の基板の電極上にはエレクトロクロミー、り物質層
が形成されているエレクトロクロミック装置において、
該二枚の基板には、所定の角度でテーパーをつけた該基
板の端面に固着されたリード線取付部の所定部分を被覆
して電極が形成されていることを特徴とする。
本発明になるEC装置の代表的構成例の断面図を第1図
に示す、以下、第1図の代表的構成例を参照しながら本
発明のEC装置につき説明する。
に示す、以下、第1図の代表的構成例を参照しながら本
発明のEC装置につき説明する。
基板20.21はガラス又はプラスチック等から成ぢそ
の端面は、第4図、第5図に一部断面図を示すように、
所定の角度αでテーパーを付けられている。テーパー角
度αは10°ないL80’ 、好;I−L < ハ30
” ナイ1,80’ 、特ニ40”ないし50″ とす
ることが、取扱上あるいは■T。
の端面は、第4図、第5図に一部断面図を示すように、
所定の角度αでテーパーを付けられている。テーパー角
度αは10°ないL80’ 、好;I−L < ハ30
” ナイ1,80’ 、特ニ40”ないし50″ とす
ることが、取扱上あるいは■T。
等の電極の形成上望ましい、85図の高さDEは基板5
1の厚さに応じて任意にとることができる。
1の厚さに応じて任意にとることができる。
基板41.51の端部A、B、C,D、Eは次のような
理由により丸みを持たせて形成することが望ましい。
理由により丸みを持たせて形成することが望ましい。
即ち、 A、Cの部分では基板41.51の表面及び端
面のリード線取付部を被覆して形成される電極が鋭く折
曲せず電気的1機械的連続性が保たれる。
面のリード線取付部を被覆して形成される電極が鋭く折
曲せず電気的1機械的連続性が保たれる。
B、D、Eの部分では、第8図の一部断面図に示すよう
に、リード線取付部82を基板81の背面まで延長して
形成した場合に該リード線取付部82が鋭く折曲されず
電気的2機械的連続性が保たれる。
に、リード線取付部82を基板81の背面まで延長して
形成した場合に該リード線取付部82が鋭く折曲されず
電気的2機械的連続性が保たれる。
基板2o、21Jjl、ssの端部が貝殻状に欠損する
いわゆる「ハマカケ」現象を防ぐことができる。
いわゆる「ハマカケ」現象を防ぐことができる。
以上のような理由で端部A、B、C,D、Eは丸みを持
たせることが望ましいのである。
たせることが望ましいのである。
テーパーを形成された基板2G、21,41.51の端
面(第4図、第5図のイ9ロ面)の荒さは、凹凸差が1
5蒔ユ以下、好ましくは5ルm以下、特にlpm以下に
研磨することがリード線取付部22.23の固着上望ま
しい。
面(第4図、第5図のイ9ロ面)の荒さは、凹凸差が1
5蒔ユ以下、好ましくは5ルm以下、特にlpm以下に
研磨することがリード線取付部22.23の固着上望ま
しい。
基板20.21の端面にはリード線24.25を取り付
けるための帯状のリード線取付部22.23が固着され
る。 EC装置では、液晶表示装置等に比べて駆動電流
が大きくなるので、帯状の低抵抗導電体をリード線取付
部22.23として基板20.21の少くとも一端面全
体に固着して該端面の電位を同一に保たせるのである。
けるための帯状のリード線取付部22.23が固着され
る。 EC装置では、液晶表示装置等に比べて駆動電流
が大きくなるので、帯状の低抵抗導電体をリード線取付
部22.23として基板20.21の少くとも一端面全
体に固着して該端面の電位を同一に保たせるのである。
この様なリード線取付部22.23としては、前述のガ
ラス用半田の他金属蒸着膜や金属箔等が用いられ、ある
いは、例えば無電解メッキ法等のメッキ法によす金属を
前記端面に析場せて形成しても良いし、銀ペースト等の
導電性接着剤を該端面に塗布して形成しても良い。
ラス用半田の他金属蒸着膜や金属箔等が用いられ、ある
いは、例えば無電解メッキ法等のメッキ法によす金属を
前記端面に析場せて形成しても良いし、銀ペースト等の
導電性接着剤を該端面に塗布して形成しても良い。
ガラス用半田を用いる場合には、電極28.27として
ITO等の透明導電薄膜を蒸着する際の高温に耐えるた
めに、融点170℃以′上のものを用い、 200 ’
C以上のものを用いるのが特に好ましい。
ITO等の透明導電薄膜を蒸着する際の高温に耐えるた
めに、融点170℃以′上のものを用い、 200 ’
C以上のものを用いるのが特に好ましい。
また、第6図に一部断面図を示すように。
リード線取付部62の上端面Fは基板61の表面より上
方に出なければ良いが、該リード線取付部62の上面に
電極2B、2?を蒸着する際に、該電極26.27の電
気的9機械的連続性を良くするためにリード線取付部6
2の上端面Fを荒さ400番ないし800番程度のやす
りで研磨し、第7図の一部断面図のG点の様に、基板7
1の表面とリード線取付部72の上端面とが連続面とな
るようにするのが望ましい。
方に出なければ良いが、該リード線取付部62の上面に
電極2B、2?を蒸着する際に、該電極26.27の電
気的9機械的連続性を良くするためにリード線取付部6
2の上端面Fを荒さ400番ないし800番程度のやす
りで研磨し、第7図の一部断面図のG点の様に、基板7
1の表面とリード線取付部72の上端面とが連続面とな
るようにするのが望ましい。
リード線取付部22,23.62は基板20,21.8
1の一端面のみに形成しても良いが、他端面あるいは他
の全ての端面にも形成すル願薄膜−の電極は抵抗値が概
して大きいために、信頼性、応答性の面で好ましい。
1の一端面のみに形成しても良いが、他端面あるいは他
の全ての端面にも形成すル願薄膜−の電極は抵抗値が概
して大きいために、信頼性、応答性の面で好ましい。
外部より電極28.27へ電圧を印加するリード線24
,25,73.83は銅、ニッケル等の金属細線が用い
られ、第7図、第8図の一部断面図に示すように、基板
20,21.71.81のテーパー面あるいは該基板7
1.81の背面のリード線取付部22,23,72.8
2へ固着される。
,25,73.83は銅、ニッケル等の金属細線が用い
られ、第7図、第8図の一部断面図に示すように、基板
20,21.71.81のテーパー面あるいは該基板7
1.81の背面のリード線取付部22,23,72.8
2へ固着される。
電極26.27は、金、銅、白金等の金属薄膜又はIT
O,@化錫等の透明導電膜が用いられる。導電ai28
.27は前記リード線取付部22.23の所定部分を被
覆するように基板20.21の表面に形成される。この
際、第9図の一部断面図に示すように、リード線取付部
92の先端部を基板81の表面より少し下げて形成し、
該リード線取付部92の上面を被覆するように電極θ3
を形成すれば、基板81の端面の電極93が盛り上がる
ことがなく、対向電極とのショートの心配がない。
O,@化錫等の透明導電膜が用いられる。導電ai28
.27は前記リード線取付部22.23の所定部分を被
覆するように基板20.21の表面に形成される。この
際、第9図の一部断面図に示すように、リード線取付部
92の先端部を基板81の表面より少し下げて形成し、
該リード線取付部92の上面を被覆するように電極θ3
を形成すれば、基板81の端面の電極93が盛り上がる
ことがなく、対向電極とのショートの心配がない。
電極28.27は、真空蒸着法により形成すれば良いし
、フォトマスクを用いたエラチンh副スクリーン印刷法
等の公知の方法を用いて形成しても良い。
、フォトマスクを用いたエラチンh副スクリーン印刷法
等の公知の方法を用いて形成しても良い。
EC物質M28は、電極2B又は27の上面に形成され
る。EC物質としては、酸化タングステンや酸化モリブ
デン等が用いられる。 EC物質層28は、真空蒸着法
や溶液を塗布し乾燥させる方法等により形成される。
る。EC物質としては、酸化タングステンや酸化モリブ
デン等が用いられる。 EC物質層28は、真空蒸着法
や溶液を塗布し乾燥させる方法等により形成される。
以上の様にして、リード線取付部22.’23.電極2
B、 2?、 EC物質層28の形成された基板20.
21は、電極26.27面を相対向して、端部をシール
材29.30で封止されセルが形成される。該シール材
29.30としては、エポキシ、シリコン、ウレタン、
酢酸ビニル等の樹脂や、フリット等が用いられあるいは
印刷法や形成シートを用いても良い。
B、 2?、 EC物質層28の形成された基板20.
21は、電極26.27面を相対向して、端部をシール
材29.30で封止されセルが形成される。該シール材
29.30としては、エポキシ、シリコン、ウレタン、
酢酸ビニル等の樹脂や、フリット等が用いられあるいは
印刷法や形成シートを用いても良い。
前記セル中に挟持される電解質31としては、硫酸など
の酸あるいはプロピレンカーボネートやγ−ブチロラク
トンなどの有機溶媒中に過塩素酸リチウムや沃化ナトリ
ウム等のアルカリ金属i溶解した溶液、あるいはこれら
にゲル化剤を添加してゲル化したもの又はフィルム電解
質などが用いられる。
の酸あるいはプロピレンカーボネートやγ−ブチロラク
トンなどの有機溶媒中に過塩素酸リチウムや沃化ナトリ
ウム等のアルカリ金属i溶解した溶液、あるいはこれら
にゲル化剤を添加してゲル化したもの又はフィルム電解
質などが用いられる。
相対向する基板20.21のテーパーを付けられた端面
及び前記シール材29.30で形成されるV字形の凹溝
には、該シール材29.30の外側に、更に該V字形凹
溝を埋めるような形で周辺封止材32,33を固着して
も良い、該周辺封止材32,33としてはエポキシ系接
着剤やホットメルトブチル等の有機接着剤が用いられる
。
及び前記シール材29.30で形成されるV字形の凹溝
には、該シール材29.30の外側に、更に該V字形凹
溝を埋めるような形で周辺封止材32,33を固着して
も良い、該周辺封止材32,33としてはエポキシ系接
着剤やホットメルトブチル等の有機接着剤が用いられる
。
[作用]
基板20.21のテーパーを付けられた端面上に形成さ
れたリード線取付部22.23と該リード線取付部22
、23を被覆して形さされる電極26.27とは互い
に面接触している。従って、接触面潰が大きく、接触抵
抗も少なく、電気的2機械的接続の信頼性が高く、信号
伝達時間も短くなる。
れたリード線取付部22.23と該リード線取付部22
、23を被覆して形さされる電極26.27とは互い
に面接触している。従って、接触面潰が大きく、接触抵
抗も少なく、電気的2機械的接続の信頼性が高く、信号
伝達時間も短くなる。
周辺封止材32,33は、相対向する基板20.21の
テーパーを付けられた端面で形成されるV字形の凹溝内
にi駿込む形となるので接着面積が増加し、外力や熱変
動による界面の剥離現象が発生しない、また、周辺封止
材32,33は、電極27及びEC物質層28とも接着
面が形成されるので、基板1.2の端面及びリード線取
付部8,8と接着面を形成する従来のEC装置の周辺封
止材13.14に比べてより強い接着力が得らるる。
テーパーを付けられた端面で形成されるV字形の凹溝内
にi駿込む形となるので接着面積が増加し、外力や熱変
動による界面の剥離現象が発生しない、また、周辺封止
材32,33は、電極27及びEC物質層28とも接着
面が形成されるので、基板1.2の端面及びリード線取
付部8,8と接着面を形成する従来のEC装置の周辺封
止材13.14に比べてより強い接着力が得らるる。
[実施例]
X11」−
厚さ 1.1mmのガラス板を10cmX 10c■の
大きさに切断する。該切断したガラス板の四端面を荒さ
800番のベルトφサングーで 第10図に一部断面図
を示すように、45°の角度にテーパーを付けた。しか
る後、端部H,Zを同じベルト・サングーで軽く面取り
し、丸みをつけた。
大きさに切断する。該切断したガラス板の四端面を荒さ
800番のベルトφサングーで 第10図に一部断面図
を示すように、45°の角度にテーパーを付けた。しか
る後、端部H,Zを同じベルト・サングーで軽く面取り
し、丸みをつけた。
この様にしてテーパー加工したガラス基板を洗浄、乾燥
後、融点224℃のガラス用半田を四端面のテーパ一部
に融着した。その後、該ガラス用半田の上端面(H部分
)を更にベルト・サングーで研磨し、該端面とガラス基
板の表面が連続面となるようにした。
後、融点224℃のガラス用半田を四端面のテーパ一部
に融着した。その後、該ガラス用半田の上端面(H部分
)を更にベルト・サングーで研磨し、該端面とガラス基
板の表面が連続面となるようにした。
更に洗浄、乾燥後、該ガラス基板の表面とテーパ一部の
ガラス用半田層を被覆するようにITOと〔更に酸化タ
ングステン(WO3))を蒸着して電極(とEC物質層
)を形成した。
ガラス用半田層を被覆するようにITOと〔更に酸化タ
ングステン(WO3))を蒸着して電極(とEC物質層
)を形成した。
この様にした二枚のガラス基板を相対向させ、周辺をエ
ポキシ接着剤(スペーサを含む)で封止しセル状とした
。このセルに予め穿設した注入孔より該セル中にγ−ブ
チロラクトン溶液に沃化リチウムを1モル溶解した電解
質溶液を注入し、前記注入孔を封止した後前記ガラス用
半田層の端部に第8図に示す様な形で銅線をリード線と
して溶着した。
ポキシ接着剤(スペーサを含む)で封止しセル状とした
。このセルに予め穿設した注入孔より該セル中にγ−ブ
チロラクトン溶液に沃化リチウムを1モル溶解した電解
質溶液を注入し、前記注入孔を封止した後前記ガラス用
半田層の端部に第8図に示す様な形で銅線をリード線と
して溶着した。
最後にホットメルトブチルを前記相対向するガラス基板
の端面のテーパ一部で形成されるV字形の凹溝部を埋め
る様に塗布し、略第1図に示すような断面形状のEC装
置を得た。
の端面のテーパ一部で形成されるV字形の凹溝部を埋め
る様に塗布し、略第1図に示すような断面形状のEC装
置を得た。
夫亙胴ヱ
実施例1と同様にガラス基板の四端面をテーパー加工し
た。該ガラス基板を洗浄後テーパー部に無電解メッキ法
で銅(Cu)を固矛篠卆、低抵抗とするため、前記無電
解メッキ法で形成したCu層上に電解メッキ法で更にC
u層を厚く電着した。
た。該ガラス基板を洗浄後テーパー部に無電解メッキ法
で銅(Cu)を固矛篠卆、低抵抗とするため、前記無電
解メッキ法で形成したCu層上に電解メッキ法で更にC
u層を厚く電着した。
この様にしてリード線取付部を形成したガラス基板を洗
浄、乾燥後、該リード線取付部の大半を被覆するように
ガラス基板の表面と端面にITO(ざらにwo3 )を
蒸着し、該ガラス基板上に電極(とEC物質層)を形成
した。 。
浄、乾燥後、該リード線取付部の大半を被覆するように
ガラス基板の表面と端面にITO(ざらにwo3 )を
蒸着し、該ガラス基板上に電極(とEC物質層)を形成
した。 。
次に、該■TOを形成したガラス基板の表面の周辺部に
、2■幅でエチレン酢酸ビニル共重合樹脂を載置し堤を
形成し、この堤の内側に、γ−ブチロラクトンに1モル
の沃化リチウムとゲル化剤としてポリビニルブチラール
(50%)を溶解したゲル状電解質を塗布し、真空下に
おいて、もう一方のガラス基板(wo3を蒸着したもの
)を相対向させ、 100℃で両基板を熱圧着しセルを
形成した。該セルの端部の前記リード線取付部にCu線
を固着し、最後にエポキシ系接着剤を前記相対向するガ
ラス基板の端面のテーパ一部で形成されるV字形の凹溝
部を埋めるように塗布し、略第1図と同様の断面形状の
EC装置を得た。
、2■幅でエチレン酢酸ビニル共重合樹脂を載置し堤を
形成し、この堤の内側に、γ−ブチロラクトンに1モル
の沃化リチウムとゲル化剤としてポリビニルブチラール
(50%)を溶解したゲル状電解質を塗布し、真空下に
おいて、もう一方のガラス基板(wo3を蒸着したもの
)を相対向させ、 100℃で両基板を熱圧着しセルを
形成した。該セルの端部の前記リード線取付部にCu線
を固着し、最後にエポキシ系接着剤を前記相対向するガ
ラス基板の端面のテーパ一部で形成されるV字形の凹溝
部を埋めるように塗布し、略第1図と同様の断面形状の
EC装置を得た。
実施例3
実施例2の銅メッキの代りに、焼き付は用の銀ペースト
をテーパ一部に塗布し、焼成してリード線取付部を形成
した。該リード線取付部にリード線を接続するにはガラ
ス用ハンダを用いて半田付けした。その他は実施例2と
同様にして略第1図の断面形状状のEC装置を得た。
をテーパ一部に塗布し、焼成してリード線取付部を形成
した。該リード線取付部にリード線を接続するにはガラ
ス用ハンダを用いて半田付けした。その他は実施例2と
同様にして略第1図の断面形状状のEC装置を得た。
[発明の効果]
本発明のEC装置においては、二枚の基板の端面にテー
パーを付け、該テーパ一部に固着されたリード線取付部
の所定部分を被覆して電極を形成するようにしたので、
該電極とリード線取付部とは面接触となって大きな接触
面積が得られ、該接触部の電気的9機械的高信頼度が得
られ、また、接触抵抗も小さくなるので、電気的応答特
性も高速となる。
パーを付け、該テーパ一部に固着されたリード線取付部
の所定部分を被覆して電極を形成するようにしたので、
該電極とリード線取付部とは面接触となって大きな接触
面積が得られ、該接触部の電気的9機械的高信頼度が得
られ、また、接触抵抗も小さくなるので、電気的応答特
性も高速となる。
更に、電極の形成工程がテーパ一部にリード線取付1を
固着した後になるので、該リード線取付部としてガラス
用半田を用い、該ガラス用半田層の形成の際超音波振動
を加えて、ガラス用半田の微粉末が基板表面に付着した
としても、洗浄により該微粉末を容易に除去でき、セル
が劣化せず生産の歩止りは従来の歩止りに比して2〜3
割良好となる。
固着した後になるので、該リード線取付部としてガラス
用半田を用い、該ガラス用半田層の形成の際超音波振動
を加えて、ガラス用半田の微粉末が基板表面に付着した
としても、洗浄により該微粉末を容易に除去でき、セル
が劣化せず生産の歩止りは従来の歩止りに比して2〜3
割良好となる。
また、電極あるいはF−C物質層を基板上に形成した後
直ちにセル化できるので0作業者の手指の脂等の汚れが
電極面あるいはEC物質面に付着することがなく、この
面からもEC装置としての品質上の信頼性、生産の歩止
りが向上する。
直ちにセル化できるので0作業者の手指の脂等の汚れが
電極面あるいはEC物質面に付着することがなく、この
面からもEC装置としての品質上の信頼性、生産の歩止
りが向上する。
周辺封止材は、相対向する二枚の基板の端面のテーパ一
部で形成されるV字形の凹溝へ埋め込んで形成するので
、塗布が容易であると同時に、シール面積が増加しシー
ルの信頼性が向上する。また、電極面やEC物質層との
接触面積も増大し、かつ、前述したように作業者の取扱
い時の手指の脂等の汚れの付着も防げるので、周辺封止
剤の界面接着力が増加し、熱変動や振動による周辺部d
の剥離が見られない。
部で形成されるV字形の凹溝へ埋め込んで形成するので
、塗布が容易であると同時に、シール面積が増加しシー
ルの信頼性が向上する。また、電極面やEC物質層との
接触面積も増大し、かつ、前述したように作業者の取扱
い時の手指の脂等の汚れの付着も防げるので、周辺封止
剤の界面接着力が増加し、熱変動や振動による周辺部d
の剥離が見られない。
以上の如く本発明のEC装置は、電極とリード線の電気
的1機械的接続の信頼性が高く、生産の歩止りが良く、
セルの劣化も少く、対向電極同士のショート等の事故も
なく、シールも完全なものである。
的1機械的接続の信頼性が高く、生産の歩止りが良く、
セルの劣化も少く、対向電極同士のショート等の事故も
なく、シールも完全なものである。
第1図は本発明のEC装置の代表的構成例を示す断面図
、第2図は従来のEC装置の一例を示す断面図、第3図
は従来のEC装置の一例の一部断面図、第4図ないし第
9図は本発明の各種構成例の一部断面図、第10図は本
発明の一実施例の一部断面図である。 1.2,15,20,21,41,51,81,71,
81.91−−−一基板、3.3L−−−一電解質、
4,5.18.2B、27.93−−−一電極、8.7
,24,25,73.83−−−− リード線、 8
,9.1?。 22.23,82,72,82.92−−−−リード線
取付部、10.28−−−−EC:物質層、 11,1
2,29.30−−−−シール材、 13 、14.3
2.33−−−一周辺封止材。 −−−p: tQ Q”; ;2、lrl 、Ikπ曝
yJ−III 染 3 目 峯61X!
、第2図は従来のEC装置の一例を示す断面図、第3図
は従来のEC装置の一例の一部断面図、第4図ないし第
9図は本発明の各種構成例の一部断面図、第10図は本
発明の一実施例の一部断面図である。 1.2,15,20,21,41,51,81,71,
81.91−−−一基板、3.3L−−−一電解質、
4,5.18.2B、27.93−−−一電極、8.7
,24,25,73.83−−−− リード線、 8
,9.1?。 22.23,82,72,82.92−−−−リード線
取付部、10.28−−−−EC:物質層、 11,1
2,29.30−−−−シール材、 13 、14.3
2.33−−−一周辺封止材。 −−−p: tQ Q”; ;2、lrl 、Ikπ曝
yJ−III 染 3 目 峯61X!
Claims (6)
- (1)相対向する二枚の基板間に電解質が挟持されて成
り、該二枚の基板は電極と該電極へ外部より電圧を印加
するリード線取付部とを有し、少くとも一枚の基板の電
極上にはエレ クトロクロミック物質層が形成されているエレクトロク
ロミック装置において、該二枚の基板には、所定の角度
でテーパーをつけた該基板の端面に固着されたリード線
取付部の所定部分を被覆して電極が形成されていること
を特徴とするエレクトロクロミック装置。 - (2)リード線取付部は半田層である特許請求の範囲第
1項記載のエレクトロクロミック装 置。 - (3)リード線取付部は金属蒸着膜又は金属箔により形
成される特許請求の範囲第1項記載のエレクトロクロミ
ック装置。 - (4)リード取付部はメッキ性により析出された金属層
である特許請求の範囲第1項記載のエレクトロクロミッ
ク装置。 - (5)リード線取付部は導電性接着剤層である特許請求
の範囲第1項記載のエレクトロクロ ミック装置。 - (6)電極は透明導電膜である特許請求の範囲第1項記
載のエレクトロクロミック装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59250515A JPS61129626A (ja) | 1984-11-29 | 1984-11-29 | エレクトロクロミツク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59250515A JPS61129626A (ja) | 1984-11-29 | 1984-11-29 | エレクトロクロミツク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61129626A true JPS61129626A (ja) | 1986-06-17 |
Family
ID=17209035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59250515A Pending JPS61129626A (ja) | 1984-11-29 | 1984-11-29 | エレクトロクロミツク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61129626A (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61270735A (ja) * | 1985-05-27 | 1986-12-01 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 同一基板の端面に上下電極の各取出し電極部を設けたエレクトロクロミック素子 |
JPS62188736U (ja) * | 1986-05-20 | 1987-12-01 | ||
JPS6444425A (en) * | 1987-07-24 | 1989-02-16 | Alpine Polyvision Inc | Light modulator |
DE4007991A1 (de) * | 1989-03-13 | 1990-09-20 | Nikon Corp | Elektrochromes bauelement |
JPH0318516U (ja) * | 1989-07-04 | 1991-02-22 | ||
US6829074B2 (en) | 2001-10-05 | 2004-12-07 | Murakami Corporation | Liquid type electrochromic element |
JP2007227113A (ja) * | 2006-02-23 | 2007-09-06 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 電気化学反応セル高密度集積用の多孔質支持体、それから構成される電気化学反応セルスタック及び電気化学反応システム |
JP2011103005A (ja) * | 2002-09-30 | 2011-05-26 | Gentex Corp | 基板間に位置オフセットのないエレクトロクロミック装置 |
WO2014171470A1 (ja) * | 2013-04-19 | 2014-10-23 | 本田技研工業株式会社 | 調光パネル構造体 |
WO2017104466A1 (ja) * | 2015-12-15 | 2017-06-22 | 株式会社リコー | エレクトロクロミック装置 |
JP2022025243A (ja) * | 2020-07-29 | 2022-02-10 | 株式会社リコー | エレクトロクロミック素子、エレクトロクロミック調光素子、及びエレクトロクロミック装置 |
-
1984
- 1984-11-29 JP JP59250515A patent/JPS61129626A/ja active Pending
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61270735A (ja) * | 1985-05-27 | 1986-12-01 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 同一基板の端面に上下電極の各取出し電極部を設けたエレクトロクロミック素子 |
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JP2022025243A (ja) * | 2020-07-29 | 2022-02-10 | 株式会社リコー | エレクトロクロミック素子、エレクトロクロミック調光素子、及びエレクトロクロミック装置 |
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