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JPS60171771A - 絶縁ゲ−ト半導体装置 - Google Patents

絶縁ゲ−ト半導体装置

Info

Publication number
JPS60171771A
JPS60171771A JP2708684A JP2708684A JPS60171771A JP S60171771 A JPS60171771 A JP S60171771A JP 2708684 A JP2708684 A JP 2708684A JP 2708684 A JP2708684 A JP 2708684A JP S60171771 A JPS60171771 A JP S60171771A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gate
insulated gate
semiconductor device
layer
resistors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2708684A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazutoshi Ashikawa
和俊 芦川
Tetsuo Iijima
哲郎 飯島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2708684A priority Critical patent/JPS60171771A/ja
Publication of JPS60171771A publication Critical patent/JPS60171771A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/7801DMOS transistors, i.e. MISFETs with a channel accommodating body or base region adjoining a drain drift region
    • H01L29/7802Vertical DMOS transistors, i.e. VDMOS transistors
    • H01L29/7803Vertical DMOS transistors, i.e. VDMOS transistors structurally associated with at least one other device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L27/0611Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration integrated circuits having a two-dimensional layout of components without a common active region
    • H01L27/0617Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration integrated circuits having a two-dimensional layout of components without a common active region comprising components of the field-effect type
    • H01L27/0629Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration integrated circuits having a two-dimensional layout of components without a common active region comprising components of the field-effect type in combination with diodes, or resistors, or capacitors
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    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • H01L29/0684Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions characterised by the shape, relative sizes or dispositions of the semiconductor regions or junctions between the regions
    • H01L29/0692Surface layout
    • H01L29/0696Surface layout of cellular field-effect devices, e.g. multicellular DMOS transistors or IGBTs

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明はパワーMO8PHT(絶縁ゲート電界効果トラ
ンジスタ)における発振防止技術lこ関する。
〔背景技術〕
パワーMO8FETは複数個のチップを並列接続されて
使用されることが多く、その場合発振を起しやすいこと
がわかってきた。一般的には第1図に示すように数個乃
至数10個のパワーMO8FBTQIQI・・・を並列
に接続して電源回路として使用する場合下記の理由で発
振し易くなる〇発振が起る条件は、回路を構成する配線
のL(インダクタンス) 、M08FWTのC(容量成
′□夛)及びR(配線抵抗)#こより構成される信号の
入力インピーダースが下式: %式% で表される。(ただしωは角周波数)ここでωL=Xと
なると、几は負性抵抗として働き発振が超る。
そこで発振を防止するためには#¥2図に示すように個
々のMOSFETのゲートに直列抵抗R1几!・・・を
入れることにより共振周波数を変えればよいがこれまで
は、MO8FET素子の外付けとして取付けていた。
しかしこのような発振防止手段では、パワーMO8FE
Tを並列回路に組む際にいちいち外付け抵抗を接続しな
くてはならず工数もかかり不便であり、適正な抵抗値の
抵抗を選ばなければならず、又、接続個所で故障を起し
易く、スペースも多くとることになるという問題点が発
生することが発明者によりあきらかとされた。
〔発明の目的〕
本発明は上記した問題を解決したものであって、その目
的は外付は抵抗なしに使用することができ、並列接続し
ても発振することのないパワーMO8半導体装置を提供
することにある。
〔発明の概要〕
本願lこおいて開示される発明のうち代表的なものの概
要を簡単に説明すれば下記のとおりである。
すなわち、第2図に示すように複数のパワーMO8FE
T素子Q、、Q、が−っの半導体基体(チップ)1上に
形成され皿子接続されたものにおいて、各素子のゲー1
.G、、G、、・・・、Gnとチップの外部接続用端子
(ゲート用ポンディングパッド)SBP吉の間に素子の
ゲートと同じ材料であるポリシリコンからなる発振防止
用の抵抗几8.凡!。
・・・、几。を設けたものであって、これにより、外付
は抵抗を使用することなく有効に発振防止ができ、その
ままパワー用MO8FETとして1重用でき、前記目的
を達成できる。
〔実hfJx例〕
第3図は本発明の一実施例を示すものであって、一つの
半導体チップ上に複数の縦形nチャネルMO8FETを
形成したパワーMO8半導体装置の平面図である。第4
図は第3図における人−A′視拡大断面図である。
】はn型Si半導体基板でその裏面(下面側)にn+型
型数散層2介して基板に配設される複数のMOSFET
の共通のドレイン電極■が形成される。
3はチャネル部となるp型拡散層、4はソース(S)と
なるn++拡散、5はゲート絶縁膜、6゜はゲート電極
となるポリシリコン層である。これらソース・ドレイン
及びゲート電極とで複数個の縦形nチャネルMO8FB
Tのセルが第3図に示すように縦横に配列して形成され
、各ソースのコンタクト部7にオーミツクコンタクトす
る共通のアルミニウム11L%Bがセルの上を覆って形
成され、その一部はポンディングパッドとなるソース端
子・SBPで接続される。一方、ポ1Jsi層からなる
ゲート電極は厚いフィールド酸化膜8上でアルミニウム
ゲート配線Gに接続され、第3図に示すように複数のゲ
ート配線G、、G、、G、、G、がポンディングパッド
となる一つのゲート端子GBPに接イ売される。
−g4図に示されるp型拡散層9は、高耐圧を得るため
に設けられている拡散層で、フィールドリミッティング
、リングと呼ばれる。つまり、ドレイン領域であるn−
型拡散層1に拡がる空乏層の端部での曲率を大きくして
、その端部での電界集中を緩和することにより、高耐圧
を得るものである。また、このp型拡散層9は、チップ
周縁にわたって設けられている。10は、ソース1に極
と、p型拡散層9とをオーミック接続をとるために設け
られた高濃度p+型型数散層ある。これにより、ソース
電極とp型拡散層は、同電位となりn−型層1に拡がる
空乏層をチップ周縁にまで拡がらセる。
このアルミニウム配線G、、G、・・・とゲート端子G
BP との接続部GXにおいて、第5図に部分拡大図で
示すようにポリシリコン層から成る抵抗几1.R1・・
・が介挿される。第6図は第5図のB−B’断面図であ
る。このポリSi層抵抗R3゜■を宜・・・はゲートと
なるボIJ S i l、j 6と同時に形成されパタ
ーニングされたものである。
ここで注目すべきは、複数のMOSFETが一つの基板
(チップ)上に並列接続され、各ゲート電極が同じ+、
g板上で抵抗を介して共通のゲート端子に接続される構
造を有することである。それにより、以下に述べるよう
な、優れた効果が得られる。すなわち、前記(11式か
ら入力インピーダンスの負性抵抗外が減少し、共4辰周
波数を変化させ、外付抵抗を使用することなく並列回路
の発振を防止できるということである。さらに、ゲート
配線に介挿する抵抗はゲート材料であるポリシリコンを
使用することにより、プロセスを変更したり、工程数を
増やすことなく実現でき、また抵抗の値はポリシリコン
のパターンの幅及び畏さによって任意に設定できるとい
う効果をも有している。
この発明の借造では周波数特性は若干低下するが、実際
に使用する場合には抵抗を付けて使用しており、従来と
性能的には変化がなく問題とはならない。
[効果〕 以北実施例で述べた本発明によれば、下記の効果が得ら
れる。
(1)チップーヒの各ゲート電極と外部ゲート端子間に
抵抗を設けたことにより、負性抵抗が減少し、共振周波
数が変化することより発振を防止することが出来る。
+21 [1)より、数個のチップを並列接続して使用
しても、発振することがないため、外付抵抗を使用する
必要がなく、実装時の工数の低減が図れる。
(3)(2)より、大幅なコストの低減が図れる。
(4)チップ上の各ゲート1!極と外部ゲート端子間を
つなぐ抵抗を、ゲート材料であるポリシリコンで形成す
るため、プロセス変更や、工程数の増加がなく、ゲート
のマスクパターンを変えるだけで実現できる。
(5+ 141より抵抗の値を任意に形成できる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例にもとづき
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
〔利用分野〕
本発明はパワーMO8F E T、特にMOS F F
!Tのセルが並列に接続して用いられる場合に適用でき
る。
本発明はモジュール化したパワーMO8FETに応用し
た場合特に有効である。
【図面の簡単な説明】
fg1図は複数個のMOSFETを並列接続する場合の
従来の形態を示す回路図である。 第2図は一つの基板上に複数のMOSFETを並列接続
した本発明の例を示す回路図である0第3図は本発明の
一実施例を示し、パワーMO8FETの平面図である。 第4図は@3図における。 1・・・半導体基体(ドレイン)、2・・・n+型型溝
導体層3・・p型拡散層、4・・・n+型型数散層ソー
ス)、5・・・ゲート絶R’i螺、6・・・ポリシリコ
ンゲート、7・・・セル(コンタクト部)、8・・・酸
化膜。 代理人 弁理士 高 橋 明 夫(′’ ン+−l 第 1 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、一つの半導体基体の一主面に複数の絶縁ゲート電界
    効果トランジスタが形成され、同じ基体上で上記絶縁ゲ
    ーXi界効果トランジスタの各絶縁ゲートと共通の外部
    接続用端子との間に発振防止用の抵抗が介挿されている
    ことを特徴とする絶縁ゲート半導体装置。 2 上記の発振防止用の抵抗は上記絶縁ゲート電界効果
    トランジスタの絶縁ゲートの形成に使用される材料であ
    るポリシリコンからなっている特許請求の範囲#I1項
    に記載の絶縁ゲート半導体装置。
JP2708684A 1984-02-17 1984-02-17 絶縁ゲ−ト半導体装置 Pending JPS60171771A (ja)

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