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JPS6015914A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

Info

Publication number
JPS6015914A
JPS6015914A JP12322083A JP12322083A JPS6015914A JP S6015914 A JPS6015914 A JP S6015914A JP 12322083 A JP12322083 A JP 12322083A JP 12322083 A JP12322083 A JP 12322083A JP S6015914 A JPS6015914 A JP S6015914A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
minute
pellet
informations
recesses
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12322083A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Michio Okamoto
道夫 岡本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP12322083A priority Critical patent/JPS6015914A/en
Publication of JPS6015914A publication Critical patent/JPS6015914A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable to attain automatic recognition and automatic production of a minute size semiconductor device by making informations of a large quantity to be held in a minute area by a method wherein dot type recesses and projections are formed at a part of the surface of an element chip to express a code according to the recesses and the projections thereof. CONSTITUTION:Element pellets 2 are formed reticulately in a semiconductor wafer 1 to form gate arrays, for example. The element pellet 2 thereof is constructed with bits 5 to indicate the kind of itself and other informations at a part of the surface formed with circuit elements 3 and electrode pads 5, etc. The bits 5 thereof consist of minute recess parts 6 formed in length and width, and arrangement of the minute recess parts 6 are differed to each other in accordance with contents of the respective informations.

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は半導体装置に関し1%に製品を自動認識して自
動生産を行なうのに好適な半導体装置に関するものであ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field] The present invention relates to a semiconductor device, and relates to a semiconductor device suitable for automatic production by automatically recognizing products within 1%.

〔背景技術〕[Background technology]

近年の半導体技術分野ではゲートアレイ(マスタースラ
イス)のように多品種少量生産の半導体装置が増える傾
向にある一方、生産性を向上するために生産工程の自動
化が図られている。このため、生産装置に多種類の機能
を・保有させて装置を汎用化し、これにより多品種の半
導体装置の生産を一つの装置で行ない得るようにした生
産装置が提案されている。しかしながら、この種の装置
を使用する場合にも、現在生産されている半導体装置の
種類が何であるかは、作業者が装置に入力しなければな
らず、したがって前述した多品種を一つのラインで装置
に供給する場合にはこれを自動生産することは不可能で
ある。
In recent years, in the field of semiconductor technology, there has been an increase in the number of high-mix, low-volume semiconductor devices such as gate arrays (master slices), while efforts are being made to automate production processes to improve productivity. For this reason, production equipment has been proposed in which the production equipment is provided with a wide variety of functions to make the equipment general-purpose, thereby making it possible to produce a wide variety of semiconductor devices with a single equipment. However, even when using this type of equipment, the operator must input into the equipment the types of semiconductor devices currently being produced. It is not possible to automatically produce this when supplying it to a device.

このような不具合を解消するために、半導体装置の一部
にバーコードを付し、このバーコードを装置に自動的に
読みとらせることにより半導体品種を自動認識させる試
みを先に本発明者は検討してきた。しかしながら、バー
コードは1周知のように幅寸法や長さ寸法が太ぎくて必
要とされる面積が太きいため、パッケージングの完成さ
れた半導体装置のようなものには適用できても半導体素
子ベレ・/トのような微小なものKはこれを適用するこ
とは困難であり、結局素子ペレットの組立にかかる生産
装置には実用化することができないという問題が生じて
いる。
In order to eliminate such problems, the present inventor first attempted to automatically recognize the semiconductor type by attaching a bar code to a part of the semiconductor device and having the device automatically read the bar code. I've been considering it. However, as is well known, barcodes are large in width and length and require a large area. It is difficult to apply this to minute objects such as pellets, and the problem arises that they cannot be put to practical use in production equipment for assembling element pellets.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的はパッケージングされたものはもとより素
子ペレットにおいても品種の自動認識が可能でかつその
自動生産を可能にした半導体装置を提供することにある
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a semiconductor device that can automatically recognize the type of a device pellet as well as a packaged device, and can automatically produce the semiconductor device.

また本発明の他の目的は微小スペースで品種を表示し得
る新規な識別衣およびそれに用いる自動認識装置を提供
することにある。
Another object of the present invention is to provide a novel identification garment capable of displaying the product type in a minute space and an automatic recognition device used therefor.

本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添伺図面からあきらかKなるであ
ろう。
The above and other objects and novel features of the present invention include:
It will be clear from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説、明すれば、下記のとおりである。
A brief summary of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち1表面の一部に点状の凹、凸を形成し。In other words, dot-like depressions and protrusions are formed on a part of one surface.

この凹、凸によりコードを表示し得るよう構成すること
により、微小な面積内に多量の情報を保有でき、これに
より素子ペレット等の微/J%寸法の半導体装置の自動
認識および自動生産を可能にし、生産性の向上を達成す
るものである。
By configuring the code to be displayed using these concavities and convexities, a large amount of information can be stored in a small area, which enables automatic recognition and automatic production of micro/J% sized semiconductor devices such as element pellets. The aim is to achieve improvements in productivity.

〔実施例〕〔Example〕

第1図および第2図は本発明の一実施例を示し。 1 and 2 show one embodiment of the present invention.

本発明を半導体素子ペレットに適用した例である。This is an example in which the present invention is applied to a semiconductor element pellet.

すなわち、第1図は1枚の半導体ウェー・・1に桝目状
に素子ペレット2を形成したものであり、例えばゲート
アレイを形成している。そして、この素子ペレット2は
回路素子3や電極パッド4等を形成した表面の一部に自
身の品種やその他の情報を示すビット5を構成している
。このビット5は、第2図に示すように縦、横に形成し
1こ微小凹部6からなり、各情報内容に応じて微小凹部
6の配列を相違させている。
That is, FIG. 1 shows a semiconductor wafer 1 in which element pellets 2 are formed in a grid pattern, forming, for example, a gate array. The element pellet 2 has a bit 5 indicating its own type and other information on a part of the surface on which the circuit element 3, electrode pad 4, etc. are formed. As shown in FIG. 2, this bit 5 is formed vertically and horizontally and consists of one minute recess 6, and the arrangement of the minute recesses 6 is varied depending on the content of each piece of information.

第3図は前記ビット5の形成およびその読み取りを行な
うための装置を示す。図示のように、この装置はレーザ
発生器10およびレンズ系11からなるレーザビーム発
生部12を有し、プリズム13にて反射させたレーザ光
14を結像レンズ系15にて書き込み位置16上の素子
ペレソ)2Aの表面に結像させろことができる。この結
像レンズ系15はアクチュエータ17によってX、Y方
向に走査して前記結像位置を微小に変化でき、この走査
とレーザビーム発生部12とのタイミング動作によって
所要の位置にレーザエネルギを利用してペレット表面に
凹部6を焼成し、所定の配列の凹部6からなるビット5
を形成できる。
FIG. 3 shows a device for forming said bit 5 and reading it. As shown in the figure, this device has a laser beam generating section 12 consisting of a laser generator 10 and a lens system 11, and a laser beam 14 reflected by a prism 13 is directed onto a writing position 16 by an imaging lens system 15. It is possible to form an image on the surface of the element 2A. This imaging lens system 15 can be scanned in the X and Y directions by an actuator 17 to minutely change the imaging position, and by this scanning and the timing operation of the laser beam generating section 12, laser energy can be used to locate the desired position. A bit 5 consisting of recesses 6 in a predetermined arrangement is formed by baking recesses 6 on the pellet surface.
can be formed.

一方、前記レーザビーム発生部12の前方には2個の半
透過プリズム18.19を配列し、一方のプリズム19
には対物レンズ20を対向配置することにより認Flt
fc (読み取り)位置21に設定されたベレット2B
表1mのピット5にレーザビームを投射する。他方のプ
リズム18にはレンズ22およびCCDのような光検出
器23を配設し、前記ビット5の反射光を受けてピット
50ノくターン(凹部6の配列)をその反射光の相違に
基ついて検出する。この光検出器23は制御回路24に
接続され、またこの制御回路24には前記レーザ発生器
10やアクチェエータ17を接続して相互に信号を交換
している。更に、この制御回路24は自動認識部25を
介して次工程の制御回路26に信号を送出するように構
成している。
On the other hand, two semi-transparent prisms 18 and 19 are arranged in front of the laser beam generating section 12, and one of the prisms 19
By arranging the objective lens 20 facing each other, the recognition Flt
Beret 2B set to fc (read) position 21
A laser beam is projected onto pit 5 of table 1m. The other prism 18 is provided with a lens 22 and a photodetector 23 such as a CCD, which receives the reflected light from the bit 5 and determines 50 pits (the arrangement of the recesses 6) based on the difference in the reflected light. detection. This photodetector 23 is connected to a control circuit 24, and the laser generator 10 and actuator 17 are connected to this control circuit 24 to exchange signals with each other. Furthermore, this control circuit 24 is configured to send a signal to a control circuit 26 for the next process via an automatic recognition section 25.

以上の構成によれば、通常では半導体ウェーハ1へ各素
子ペレット2を形成するのと同時に、エツチング技術を
利用して各ペレット2に所要凹部6配列のビット5を形
成する。そして、ターイシングにより各ペレットを分離
して夫々を個別に組立てる際に各ペレットを認識位置2
1に設定し、レーザビーム発生部12からのレーザビー
ムをプリズム18.19対物レンズ20を介してビット
5に投射する。同時にその反射光をプリズム18゜レン
ズ22を通して光検出器23に結像させる。
According to the above structure, normally, at the same time as forming each element pellet 2 on the semiconductor wafer 1, the bits 5 in the required arrangement of 6 concave portions are formed on each pellet 2 using etching technology. Then, when separating each pellet by tericing and assembling each pellet individually, each pellet is recognized at the position 2.
1, and the laser beam from the laser beam generator 12 is projected onto the bit 5 via the prism 18, 19 and objective lens 20. At the same time, the reflected light passes through a prism 18° lens 22 and forms an image on a photodetector 23.

光検出器23はビット5の各凹部6に対して走査的に光
反射率を検出し、その反射率の違いから凹部6の配列を
検出する。すると、制御回路24では、各凹部の有無を
2値化信号に変換し、これを1ピツトとするデジタル信
号として検出し、これからピット5に入れられた情報を
読み取り自動認識部25において品種等を認識する。し
たがって、この認識結果圧基づいて次工程の制御回路2
6に認識信号を送出すれば、そのベレット品種に応じた
組立作業を自動的に行なうことができる。これにより、
従来のバーコードと同様の作用を微小面積のピットで行
なうことができ、ベレットのような微小半導体装置の自
動認識と自動生産が可能にされる。
The photodetector 23 detects the light reflectance of each concave portion 6 of the bit 5 in a scanning manner, and detects the arrangement of the concave portions 6 from the difference in the reflectance. Then, the control circuit 24 converts the presence or absence of each recess into a binary signal, detects this as a digital signal representing one pit, and reads the information entered into the pit 5 from this, and the automatic recognition section 25 identifies the product type, etc. recognize. Therefore, based on this recognition result pressure, the control circuit 2 of the next process
If a recognition signal is sent to 6, assembly work can be automatically performed according to the type of pellet. This results in
The same function as a conventional barcode can be performed using pits with a minute area, and automatic recognition and automatic production of minute semiconductor devices such as pellets become possible.

更に前記実施例では、組立前或いは途中で新たな情報(
例えば検査情報)をピット5に加えたい場合には、ベレ
ット2を図示左側の書き込み位置16に設置し、ピント
スペースの余白部分にプリズム13と結像レンズ系15
およびアクチュエータ17にてレーザビームをスポット
投射する。これによりレーザビーム投射部は焼損されて
そこに新たに凹部が形成され、ピントの情報量が増大さ
れる。
Furthermore, in the above embodiment, new information (
For example, if you want to add inspection information (inspection information) to the pit 5, place the pellet 2 at the writing position 16 on the left side of the figure, and place the prism 13 and imaging lens system 15 in the margin of the focus space.
Then, the actuator 17 projects a laser beam as a spot. As a result, the laser beam projection section is burnt out, a new recess is formed there, and the amount of information about focus is increased.

ここで、アクチーエータ17によるX、 Y移動に代え
てベレットを支持するステージをX、 Y移動させても
よい。また、ピット5を構成する凹部6はベレット20
辺に沿って直線状に列設してもよい。
Here, instead of moving the actuator 17 in X and Y directions, the stage that supports the pellet may be moved in X and Y directions. Further, the recess 6 constituting the pit 5 is formed by a pellet 20.
They may be arranged in a straight line along the sides.

〔効 果〕〔effect〕

(1)半導体装置の表面に微小凹、凸の配列からなるピ
ットを形成し、この凹、凸の配列を光学的に検出してデ
ジタル化された情報を読み取ることができるので、素子
ベレットのような微小な半導体装置にも品種等の情報を
保持させることができ、かつこれを利用した自動認識と
自動生産を行なうことができる。
(1) By forming pits consisting of an array of minute concavities and convexities on the surface of a semiconductor device, and by optically detecting this concave and convex array, it is possible to read digitized information. Even small semiconductor devices can retain information such as product type, and automatic recognition and production can be performed using this information.

(21半導体装置の余白部にレーザビームを投射して凹
、凸を形成すればピットへの情報の追加を行なうことが
でき、半導体装置の自動認識、自動組立を有利に行なう
ことができる。
(21) By projecting a laser beam onto the margins of a semiconductor device to form concavities and convexities, information can be added to the pits, making it possible to advantageously perform automatic recognition and automatic assembly of the semiconductor device.

(3)レーザビームを使用した読み取り装置の一部を利
用してピットの形成(情報書き込み)を行なうこともで
き、自動認識装置および生産装置全体の構成の容易化が
達成できる。
(3) It is also possible to form pits (write information) using a part of the reading device that uses a laser beam, and it is possible to simplify the configuration of the automatic recognition device and the entire production device.

(4) レーザビームを使用しているので、レーザ光の
細光束性を利用すれば通常の光を使用するよりも情報量
を多くできかつそれに用いるスペースを小さくすること
もできる。
(4) Since a laser beam is used, by utilizing the narrow luminous flux of the laser beam, the amount of information can be increased compared to using normal light, and the space used for it can also be reduced.

以上本発明者によってなされた発明を実施例にもとづき
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。たとえば1点状の凹部
の代りに相対的な凸部であってもよい。また、第1図の
ようにベレットの一つをピット5Aとして形成してウェ
ーッ・1単位の認識を行なうこともでき、更に第4図の
ようにパッケージの完了した半導体装置7のパッケージ
表面に同様のピッ)5Bを形成してもよい。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the above examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor. For example, a relative convex portion may be used instead of a one-point concave portion. Further, it is also possible to form one of the pellets as a pit 5A as shown in FIG. 1 to perform recognition of one wave unit, and furthermore, as shown in FIG. 5B may be formed.

更に、読み取り装置の構成は種々の変更が可能である。Furthermore, the configuration of the reading device can be modified in various ways.

〔利用分野〕[Application field]

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるゲートアレイ等の素
子ベレットに適用した場合について説明したが、それに
限定されるものではなく。
In the above description, the invention made by the present inventor is mainly applied to an element pellet such as a gate array, which is the background field of application of the invention, but the invention is not limited thereto.

トランジスタ、ダイオード等の種々の製品に適用するこ
とができる。
It can be applied to various products such as transistors and diodes.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明を適用した半導体ウェーハの全体図。 第2図は素子ベレットの拡大平面図。 第3図は読み取り装置(書き込み装置)の全体構成図。 第4図は他の実施例の要部斜視図である。 1・・・半導体ウェーハ、2,2A、2B・・・ベレッ
ト、5,5A、5B・・・ピント、6・・・凹部、7・
・・半導体装置、10・・・レーザ発生器、15・・・
結像レンズ系、16・・・書き込み位置、17・・・ア
クチュエータ、20・・・対物レンズ、21・・・認識
(読み取り)位置、22・・・レンズ、23山光検出器
、24山制御回路、25・・・自動認識部、26・・・
次工程の制御回路。 ”\ ・′1.)
FIG. 1 is an overall view of a semiconductor wafer to which the present invention is applied. FIG. 2 is an enlarged plan view of the element pellet. FIG. 3 is an overall configuration diagram of the reading device (writing device). FIG. 4 is a perspective view of essential parts of another embodiment. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Semiconductor wafer, 2, 2A, 2B... Bullet, 5, 5A, 5B... Focus, 6... Recessed part, 7...
...Semiconductor device, 10...Laser generator, 15...
Imaging lens system, 16... Writing position, 17... Actuator, 20... Objective lens, 21... Recognition (reading) position, 22... Lens, 23 peak photodetector, 24 peak control Circuit, 25... Automatic recognition section, 26...
Control circuit for the next process. ”\ ・′1.)

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、素子ペレットやパンケージ完成後の半導体装置の表
面一部に、その半導体装置の品種やその他の情報をコー
ド化した凹、凸からなるビットを形成したことを特徴と
する半導体装置。 2、 ビットは微小な点状の凹部な所要の配列に形成し
てなる特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。 3、ビットにレーザビームを投射し、その反対状態から
凹部の配列を検出し荀るように構成してなる特許請求の
範囲第1項又は第2項記載の半導体装置。
[Scope of Claims] 1. A bit consisting of concave and convex portions encoding the type and other information of the semiconductor device is formed on a part of the surface of the semiconductor device after completion of the element pellet or pancage. Semiconductor equipment. 2. The semiconductor device according to claim 1, wherein the bits are formed in a desired arrangement of minute dot-shaped recesses. 3. The semiconductor device according to claim 1 or 2, wherein the semiconductor device is configured to project a laser beam onto the bit and detect and observe the arrangement of the recesses from the opposite state.
JP12322083A 1983-07-08 1983-07-08 Semiconductor device Pending JPS6015914A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12322083A JPS6015914A (en) 1983-07-08 1983-07-08 Semiconductor device

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JP12322083A JPS6015914A (en) 1983-07-08 1983-07-08 Semiconductor device

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JP12322083A Pending JPS6015914A (en) 1983-07-08 1983-07-08 Semiconductor device

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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