JPS6014287B2 - 光電型エンコ−ダのスケ−ル - Google Patents
光電型エンコ−ダのスケ−ルInfo
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- JPS6014287B2 JPS6014287B2 JP56084082A JP8408281A JPS6014287B2 JP S6014287 B2 JPS6014287 B2 JP S6014287B2 JP 56084082 A JP56084082 A JP 56084082A JP 8408281 A JP8408281 A JP 8408281A JP S6014287 B2 JPS6014287 B2 JP S6014287B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/347—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
- G01D5/34707—Scales; Discs, e.g. fixation, fabrication, compensation
- G01D5/34715—Scale reading or illumination devices
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、2つの光学格子を相対移動させて得た光の
明暗から物理量を検知するようにした光電型ェソコーダ
のスケールの改良に関する。
明暗から物理量を検知するようにした光電型ェソコーダ
のスケールの改良に関する。
従来の光電型ェンコーダは、光源からしンズを適して一
方の光学格子に光線を照射し、この光学格子を通過した
光線が他方の光学格子を通過して反対側に配置されたレ
ンズを介して受光器に至るようにされている。従って、
光源からの光は、2つの光学格子を通過しなければなら
ずまた途中において複雑な回折光が混じり、さらに格子
の基材たるガラス表面での反射、屈折、さらにはガラス
内部での吸収により減衰し、その結果受光器によって得
られる信号はノイズを含みかつ、微弱とならざるを得な
かった。
方の光学格子に光線を照射し、この光学格子を通過した
光線が他方の光学格子を通過して反対側に配置されたレ
ンズを介して受光器に至るようにされている。従って、
光源からの光は、2つの光学格子を通過しなければなら
ずまた途中において複雑な回折光が混じり、さらに格子
の基材たるガラス表面での反射、屈折、さらにはガラス
内部での吸収により減衰し、その結果受光器によって得
られる信号はノイズを含みかつ、微弱とならざるを得な
かった。
さらに光源、レンズ、受光器を配置するために、必然的
にェンコーダが大型とならざるを得なかつた。また2つ
の光学格子の間に斜めに光線を入射させるようにした反
射型の光電型ェンコーダがあるが、これも回折、散乱、
反射等による光の損失が大きいとともに、光源および受
光器の取付を斜めにしなければならないために構造が複
雑であり、また小型化が十分でなかった。
にェンコーダが大型とならざるを得なかつた。また2つ
の光学格子の間に斜めに光線を入射させるようにした反
射型の光電型ェンコーダがあるが、これも回折、散乱、
反射等による光の損失が大きいとともに、光源および受
光器の取付を斜めにしなければならないために構造が複
雑であり、また小型化が十分でなかった。
上記従来の問題点を解消するために、本出願人によって
、一方の光学格子に、半導体基体にこれと相反する導電
型の細帯状の半導体層を一定ピッチに配設し、これに他
方の光学格子を透過した光線を照射するようにし、前記
半導体基体と半導体層から出力を得るようにしたものが
提案されている。
、一方の光学格子に、半導体基体にこれと相反する導電
型の細帯状の半導体層を一定ピッチに配設し、これに他
方の光学格子を透過した光線を照射するようにし、前記
半導体基体と半導体層から出力を得るようにしたものが
提案されている。
この提案は、受光側のレンズを省略したこと、光源から
の光線が一方の光学格子のみを通過するようにされたこ
と、第2の光学格子と受光器の間隔が零になったことに
おいて、小型化および効率が向上されている。
の光線が一方の光学格子のみを通過するようにされたこ
と、第2の光学格子と受光器の間隔が零になったことに
おいて、小型化および効率が向上されている。
また前記提案に対して、前記半導体基体および半導体層
からなるスリット状の受光素子による出力の高周波特性
の改善策として、スリットの抵抗を解消もしくは減少さ
せるために、受光素子の全面を透明導電体材料で覆って
出力をまとめるようにしたものが提案されている。
からなるスリット状の受光素子による出力の高周波特性
の改善策として、スリットの抵抗を解消もしくは減少さ
せるために、受光素子の全面を透明導電体材料で覆って
出力をまとめるようにしたものが提案されている。
また連続平面状の半導体層の上に、不透明膿スリットを
設け、これによって、高周波特性を改善するとともに製
造を容易にしたものも提案されている。
設け、これによって、高周波特性を改善するとともに製
造を容易にしたものも提案されている。
さらに、前記半導体層および半導体層をMOS半導体と
し、前記不透明膜スリットをMOS半導体における金属
部により構成したものも提案されている。
し、前記不透明膜スリットをMOS半導体における金属
部により構成したものも提案されている。
しかしながら、これらの光電型ェンコーダのスケールは
小型化が十分でなく、また例えば、MOS半導体を利用
したスケールの場合、材料となるシリコン結晶体が高価
であるとともに長い製品を製造できないため、経済的、
技術的に困難な問題を有している。
小型化が十分でなく、また例えば、MOS半導体を利用
したスケールの場合、材料となるシリコン結晶体が高価
であるとともに長い製品を製造できないため、経済的、
技術的に困難な問題を有している。
これは、特にメインスケールに適用する場合に困難を伴
なう。また、一般に反射型のェンコーダは透過型のェン
コーダより小型であるが、反射型の場合、反射スケール
に照射するための光線は傾斜光として入射させなければ
ならず、このため回折、散乱、反射等による光の損失が
大きく、また発光部と受光部の取付が斜めになり、構造
が複雑となるという欠点がある。
なう。また、一般に反射型のェンコーダは透過型のェン
コーダより小型であるが、反射型の場合、反射スケール
に照射するための光線は傾斜光として入射させなければ
ならず、このため回折、散乱、反射等による光の損失が
大きく、また発光部と受光部の取付が斜めになり、構造
が複雑となるという欠点がある。
本発明は上記従来の問題点に鑑みてなされたものであっ
て、さらに小型化および部品点数を減少させるとともに
、反射型のものにおいても光源を傾斜して取り付ける必
要のない光電型ェンコーダのスケールを提供するを目的
とする。
て、さらに小型化および部品点数を減少させるとともに
、反射型のものにおいても光源を傾斜して取り付ける必
要のない光電型ェンコーダのスケールを提供するを目的
とする。
この目的は、2つの光学格子を相対移動させて得た光の
明暗から物理量を検知するようにした光電型ェンコーダ
のスケールにおいて、光透過性基材上に、光遮断性かつ
導電性材料からなる第1の信号導出材層と光を電気信号
に変換するPN半導体層と、光透過性かつ導電性材料か
らなる第2の信号導出材層と、とこの順で積層形成した
受光部を級帯状に一定ピッチで配設してなり、前記光透
過性基材方向からの光に対して、前記受光部を光遮断ス
リットとするとともに該受光部間を光透過スリットとし
て光学格子を形成することによって前記目的を達成する
ものである。
明暗から物理量を検知するようにした光電型ェンコーダ
のスケールにおいて、光透過性基材上に、光遮断性かつ
導電性材料からなる第1の信号導出材層と光を電気信号
に変換するPN半導体層と、光透過性かつ導電性材料か
らなる第2の信号導出材層と、とこの順で積層形成した
受光部を級帯状に一定ピッチで配設してなり、前記光透
過性基材方向からの光に対して、前記受光部を光遮断ス
リットとするとともに該受光部間を光透過スリットとし
て光学格子を形成することによって前記目的を達成する
ものである。
以下本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明にかかる光電型ェンコーダのスケールの
実施例を示す平面図、第2図は第1図のロー0線に沿う
拡大断面図である。
実施例を示す平面図、第2図は第1図のロー0線に沿う
拡大断面図である。
この実施例は、例えばガラスよりなる光透過性基材1上
に、光遮断性かつ導電性材料、例えば金属膜からなる第
1の信号導出材層2と、光を電気信号に変換するPN半
導体層3と、光透過性かつ導電性材料例えばIQ03、
SN02、Siまたはこれらの混合物からなる透明膜の
第2の信号導出材層4と、をこの順で積層形成した受光
部5を細帯状に一定ピッチで配設してスケールSを形成
したものである。
に、光遮断性かつ導電性材料、例えば金属膜からなる第
1の信号導出材層2と、光を電気信号に変換するPN半
導体層3と、光透過性かつ導電性材料例えばIQ03、
SN02、Siまたはこれらの混合物からなる透明膜の
第2の信号導出材層4と、をこの順で積層形成した受光
部5を細帯状に一定ピッチで配設してスケールSを形成
したものである。
前記スケールSは第3図に示されるように、反射型メイ
ンスケールMに対して、その反射部6光受光部5が対面
するように配置され、反射型メインスケールMに向かっ
て、スケールSの背面からしンズ7を介して光源8から
の光線が入射するようにされている。
ンスケールMに対して、その反射部6光受光部5が対面
するように配置され、反射型メインスケールMに向かっ
て、スケールSの背面からしンズ7を介して光源8から
の光線が入射するようにされている。
メインスケールMの各反射部6の間は、光透過部もしく
は光吸収部からなる非反射部とされている。即ち、前記
受光部5の第1の信号導出材層2が光源8からの光線を
遮断する作用をなし、これによって受光部5は光遮断ス
リットとなり、また各受光部5間は光透過スリットの作
用をなし、光源8からの光線が光透過性基材1を通して
反射型メインスケールMに照射され得るようになってい
る。
は光吸収部からなる非反射部とされている。即ち、前記
受光部5の第1の信号導出材層2が光源8からの光線を
遮断する作用をなし、これによって受光部5は光遮断ス
リットとなり、また各受光部5間は光透過スリットの作
用をなし、光源8からの光線が光透過性基材1を通して
反射型メインスケールMに照射され得るようになってい
る。
また反射型メインスケールMの反射部6によって反射さ
れた光線は、受光部5の第2の信号導出材層4を通って
PN半導体層3に至り、ここで半導体の電気的出力に変
換される。
れた光線は、受光部5の第2の信号導出材層4を通って
PN半導体層3に至り、ここで半導体の電気的出力に変
換される。
PN半導体層3における電気出力は、出力端子9および
10から外部に取り出される。すなわち、前記スケール
Sはインデックススケールと、受光素子とが一体となっ
たィンデックセンサーの機能をなすようにされている。
10から外部に取り出される。すなわち、前記スケール
Sはインデックススケールと、受光素子とが一体となっ
たィンデックセンサーの機能をなすようにされている。
次に上記スケールSの製造方法を説明する。
まず光透過性基材1たるガラス基板を、真空蒸着装暦内
に装着し、5×10‐年orrの真空度の環境で、15
0〜20ぴ0に加熱し、タングステンボードからCrを
蒸発させ、ガラス基板上にCrを蒸着させて2000〜
3000Aの厚さの第1の信号導出材層2たるCr膜を
形成する。次に前記C頚莫を形成したガラス基板をプラ
ズマチャンバーに入れて300℃に加熱し、SiH41
0%を含むArガスを比ガスにより1ぴ鞠こ希釈したガ
スを前記プラズマチャンバーに導入し、0.1〜2br
rの圧力下で高周波グロー放電により、N型非品質シリ
コン(N−a一Si)膜11、およびP型非晶質シリコ
ン(P−a−Si)膜12を、前記第1の信号導出材層
2の上に糠層し、これによって約1ムの厚さのPN半導
体層を形成する。前記N型非晶質シリコン膜11は析出
初期に徴量のPH3を反応ガス中に混入することにより
、また、P型非晶質シリコン膜12は途中で前記PH3
をB2日6に切換えることによりそれぞれ析出させる。
ここで、PN半導体層3の形成は、熱分解法、スバッタ
蒸着法等の他の方法によってもよい。また半導体層形成
のときに、最初にPH3を入れてN型層を作り、次に不
純物を含まないi層(ィントリンシック層)を作り、さ
らにB2日6を入れてP層を作り、P−i−N構造を形
成してP−i間に出釆る接合により光電力を得るように
してもよい。この場合は感度が向上する。次に、PN半
導体層3を形成した基材1を真空蒸着槽内に入れ、15
0ooに加熱し、アルミナつばに入れたln203を電
子ビーム叢着法により約1000Aの厚さのln203
膜を蒸着させ、これによって前記PN半導体層3の上に
第2の信号導出材層4を形成する。
に装着し、5×10‐年orrの真空度の環境で、15
0〜20ぴ0に加熱し、タングステンボードからCrを
蒸発させ、ガラス基板上にCrを蒸着させて2000〜
3000Aの厚さの第1の信号導出材層2たるCr膜を
形成する。次に前記C頚莫を形成したガラス基板をプラ
ズマチャンバーに入れて300℃に加熱し、SiH41
0%を含むArガスを比ガスにより1ぴ鞠こ希釈したガ
スを前記プラズマチャンバーに導入し、0.1〜2br
rの圧力下で高周波グロー放電により、N型非品質シリ
コン(N−a一Si)膜11、およびP型非晶質シリコ
ン(P−a−Si)膜12を、前記第1の信号導出材層
2の上に糠層し、これによって約1ムの厚さのPN半導
体層を形成する。前記N型非晶質シリコン膜11は析出
初期に徴量のPH3を反応ガス中に混入することにより
、また、P型非晶質シリコン膜12は途中で前記PH3
をB2日6に切換えることによりそれぞれ析出させる。
ここで、PN半導体層3の形成は、熱分解法、スバッタ
蒸着法等の他の方法によってもよい。また半導体層形成
のときに、最初にPH3を入れてN型層を作り、次に不
純物を含まないi層(ィントリンシック層)を作り、さ
らにB2日6を入れてP層を作り、P−i−N構造を形
成してP−i間に出釆る接合により光電力を得るように
してもよい。この場合は感度が向上する。次に、PN半
導体層3を形成した基材1を真空蒸着槽内に入れ、15
0ooに加熱し、アルミナつばに入れたln203を電
子ビーム叢着法により約1000Aの厚さのln203
膜を蒸着させ、これによって前記PN半導体層3の上に
第2の信号導出材層4を形成する。
次にスピン塗装法によりホトレジストを約2舷の厚さ‘
こ塗布し、乾燥させる。
こ塗布し、乾燥させる。
さらにマスクにより出力端子部9を遮光した後、紫外線
で露光して現像し、出力端子部9のホトレジストを除去
する。次いで、ケミカルエッチングあるいはプラズマエ
ッチング等の方法により、出力端子9部分の第2の信号
導出材層4およびPN半導体層3を除去し、第1の信号
導出材層2を露出させる。
で露光して現像し、出力端子部9のホトレジストを除去
する。次いで、ケミカルエッチングあるいはプラズマエ
ッチング等の方法により、出力端子9部分の第2の信号
導出材層4およびPN半導体層3を除去し、第1の信号
導出材層2を露出させる。
同様にして、受光部5の間の光透過スリットI3部分以
外の部分をホトレジストで覆い、該光透過スリット13
に該当する第1、2の信号導出材層2,4およびPN半
導体層3をプラズマエッチング等により除去し、光透過
性基材1を琢出させる。
外の部分をホトレジストで覆い、該光透過スリット13
に該当する第1、2の信号導出材層2,4およびPN半
導体層3をプラズマエッチング等により除去し、光透過
性基材1を琢出させる。
ここで光透過スリット13の幅は、受光部5の光透過性
基材1の表面からの高さの2倍以上とするのが明暗を検
知するのに都合がよい。
基材1の表面からの高さの2倍以上とするのが明暗を検
知するのに都合がよい。
次に第1の信号導出材層2および第2の信号導出材層4
から出力電流を取り出すための導線を前記出力端子9お
よび10に導電性接着材により取り付け、最後にPN半
導体層を保護するために全体に薄くシリコンワニスを塗
布乾燥して完成させる。
から出力電流を取り出すための導線を前記出力端子9お
よび10に導電性接着材により取り付け、最後にPN半
導体層を保護するために全体に薄くシリコンワニスを塗
布乾燥して完成させる。
次に本発明の他の実施例を第4図を参照して説明する。
ここで前記第1実施例と同一または同様の部分には同一
の符号を付することにより説明を省略する。この実施例
は、前記スケールSにおいて、前記光透過性基材1を介
して前記受光部5の反対側に光源14、およびこの光源
14からの光が前記光透過性基材1を通って反対側に照
射されるように反射する反射鏡15を設けたものである
。
の符号を付することにより説明を省略する。この実施例
は、前記スケールSにおいて、前記光透過性基材1を介
して前記受光部5の反対側に光源14、およびこの光源
14からの光が前記光透過性基材1を通って反対側に照
射されるように反射する反射鏡15を設けたものである
。
前記反射鏡15は、光透過性基材1の光源14側に一体
的に設けられた略半球状の透明樹脂16の外側に蒸着金
属膜等の光反射膜を設けることにより形成されたもので
ある。
的に設けられた略半球状の透明樹脂16の外側に蒸着金
属膜等の光反射膜を設けることにより形成されたもので
ある。
前記透明樹脂16は前記光透過性基材1と同一の屈折率
の透光性材料よりなり、光源14の周囲に充填され、こ
れにより光源14からの光が光透過性基材1に達する間
の光路における屈折率が改善されるようになっている。
の透光性材料よりなり、光源14の周囲に充填され、こ
れにより光源14からの光が光透過性基材1に達する間
の光路における屈折率が改善されるようになっている。
この実施例は、光源14をインデックススケールS自体
に取り付け、かつ透明樹脂16によって一体的にモール
ドされているので、単に2つのスケールを配設するのみ
でェンコーダを構成できるという効果がある。また光源
とインデックススケールSが一体的であるので振動によ
る故障あるいは謀畠葦が解消されるという利点を有する
。本発明は上記のように構成したので、スケールと受光
素子を一体とすることができ、従ってェンコーダを薄型
にできるとともに部品点数を減少できるという効果を有
する。また受光素子の背面から投光できるので、反射型
スケールにおいて、インデックススケールとメインスケ
ールを平行かつ接近でき、従って光の回折、散乱等によ
る光の損失を小さくできるという効果を有する。さらに
インデックススケールと受光素子を一体にすることによ
り、受光素子をメインスケールに設けた場合に比較して
小さくでき、製造が容易、かつ低コストとなる効果を有
する。
に取り付け、かつ透明樹脂16によって一体的にモール
ドされているので、単に2つのスケールを配設するのみ
でェンコーダを構成できるという効果がある。また光源
とインデックススケールSが一体的であるので振動によ
る故障あるいは謀畠葦が解消されるという利点を有する
。本発明は上記のように構成したので、スケールと受光
素子を一体とすることができ、従ってェンコーダを薄型
にできるとともに部品点数を減少できるという効果を有
する。また受光素子の背面から投光できるので、反射型
スケールにおいて、インデックススケールとメインスケ
ールを平行かつ接近でき、従って光の回折、散乱等によ
る光の損失を小さくできるという効果を有する。さらに
インデックススケールと受光素子を一体にすることによ
り、受光素子をメインスケールに設けた場合に比較して
小さくでき、製造が容易、かつ低コストとなる効果を有
する。
第1図は本発明にかかる光電型ェンコーダのスケールを
示す平面図、第2図は第1図のローロ線に沿う拡大断面
図、第3図は同実施例にかかる光電型ェンコーダの菱部
を示す略示側面図、第4図は同本発明の第2実施例を示
す略示側面図である。 S……スケール、M……メインスケール、1…・・・光
透過性基材、2…・・・第1の信号導出材層、3・・・
・・・PN半導体層、4…・・・第2の信号導出材層、
5・・・・・・受光部、11・・・・・・N型非晶質シ
リコン膜、12・・・・・・P型非晶質シリコン膜、1
3・・・・・・光透過スリット部。 兼′函 舟2図 多3図 第4図
示す平面図、第2図は第1図のローロ線に沿う拡大断面
図、第3図は同実施例にかかる光電型ェンコーダの菱部
を示す略示側面図、第4図は同本発明の第2実施例を示
す略示側面図である。 S……スケール、M……メインスケール、1…・・・光
透過性基材、2…・・・第1の信号導出材層、3・・・
・・・PN半導体層、4…・・・第2の信号導出材層、
5・・・・・・受光部、11・・・・・・N型非晶質シ
リコン膜、12・・・・・・P型非晶質シリコン膜、1
3・・・・・・光透過スリット部。 兼′函 舟2図 多3図 第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 2つの光学格子を相対移動させて得た光の明暗から
物理量を検知するようにした光電型エンコーダのスケー
ルにおいて、光透過性基材上に、光遮断性かつ導電性材
料からなる第1の信号導出材層と、光を電気信号に変換
するPN半導体層と、光透過性かつ導電性材料からなる
第2の信号導出材層と、をこの順で積層形成した受光部
を細帯状に一定ピツチで配設してなり、前記光透過性基
材方向からの光に対して、前記受光部を光遮断スリツト
とするとともに該受光部間を光透過スリツトとして光学
格子を形成したことを特徴とする光電型エンコーダのス
ケール。 2 前記受光部の光透過性基材表面からの高さを前記光
透過スリツトの幅の2分の1以下としたことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の光電型エンコーダのスケ
ール。 3 前記PN半導体層は非晶質半導体からなることを特
徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記載の光電
型エンコーダのスケール。 4 前記半導体層がP−i−N構造からなることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の光電型エンコーダの
スケール。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56084082A JPS6014287B2 (ja) | 1981-06-01 | 1981-06-01 | 光電型エンコ−ダのスケ−ル |
US06/380,818 US4499374A (en) | 1981-06-01 | 1982-05-21 | Photoelectrical encoder employing an optical grating |
GB8214930A GB2099993B (en) | 1981-06-01 | 1982-05-21 | Photoelectric displacement encoder |
DE19823220560 DE3220560A1 (de) | 1981-06-01 | 1982-06-01 | Fotoelektrischer kodierer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56084082A JPS6014287B2 (ja) | 1981-06-01 | 1981-06-01 | 光電型エンコ−ダのスケ−ル |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57198812A JPS57198812A (en) | 1982-12-06 |
JPS6014287B2 true JPS6014287B2 (ja) | 1985-04-12 |
Family
ID=13820561
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56084082A Expired JPS6014287B2 (ja) | 1981-06-01 | 1981-06-01 | 光電型エンコ−ダのスケ−ル |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6014287B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62150118A (ja) * | 1985-12-25 | 1987-07-04 | Mitsutoyo Mfg Corp | 光学式変位検出装置 |
JP2007076027A (ja) * | 2005-09-12 | 2007-03-29 | Seiko Epson Corp | 位置検出装置およびこの位置検出装置を備える液体吐出装置 |
-
1981
- 1981-06-01 JP JP56084082A patent/JPS6014287B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57198812A (en) | 1982-12-06 |
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