JPS5950322A - 異常診断方式 - Google Patents
異常診断方式Info
- Publication number
- JPS5950322A JPS5950322A JP57160372A JP16037282A JPS5950322A JP S5950322 A JPS5950322 A JP S5950322A JP 57160372 A JP57160372 A JP 57160372A JP 16037282 A JP16037282 A JP 16037282A JP S5950322 A JPS5950322 A JP S5950322A
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- JP
- Japan
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- instrument
- signal
- scanning
- thermogram
- abnormality
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 title claims abstract description 15
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 238000001757 thermogravimetry curve Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 239000003550 marker Substances 0.000 abstract description 7
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 abstract description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 abstract 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/48—Thermography; Techniques using wholly visual means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、例えばＨし器を構成する電子部品の異常状
態を発熱の有無によって診断する異常診断方式に関する
。
態を発熱の有無によって診断する異常診断方式に関する
。
現在、原子カシラントの社会的に置かれた環境では、故
障や事故により一旦プラントが停止すると原因調査や再
発防止対策などの処理ン完了させなければ再起動できな
い情勢にあり、これを避けるためにプラントを制御する
計器類の潜在的故障ビ早期に発見し、処理することによ
り、顕在化故障乞未然に防止する必要がある。
障や事故により一旦プラントが停止すると原因調査や再
発防止対策などの処理ン完了させなければ再起動できな
い情勢にあり、これを避けるためにプラントを制御する
計器類の潜在的故障ビ早期に発見し、処理することによ
り、顕在化故障乞未然に防止する必要がある。
上記制御用の計器はほとんど電子部品で構成されており
、この計器の点検には計器に対して計測用の基準信号ン
供給し、このときの計器出力が正常値となるように調整
して行なわれる。
、この計器の点検には計器に対して計測用の基準信号ン
供給し、このときの計器出力が正常値となるように調整
して行なわれる。
しかし、このような方法では各部品の劣化状態を把握で
きず、潜在的故障を発見することは不可能である。また
、各計器の部品一点毎に電気的に点検することは、その
部品数が膨大であり、また複雑な配保路を着脱しなけれ
ばならないため、極めて困難である。
きず、潜在的故障を発見することは不可能である。また
、各計器の部品一点毎に電気的に点検することは、その
部品数が膨大であり、また複雑な配保路を着脱しなけれ
ばならないため、極めて困難である。
この発明は上記欠点全改善し、計器ン構成する各電子部
品の劣化状態ビ診１１ｒＬ、潜在的故障を早期に発見す
ることのでさる異常診断方式を提供１−ることＺ目的と
する。
品の劣化状態ビ診１１ｒＬ、潜在的故障を早期に発見す
ることのでさる異常診断方式を提供１−ることＺ目的と
する。
すなわち、この発明における異常診断方式は平面状に広
がった対象物から放射される赤外線ンスキャニングしな
がら平面状のサーモグラムを得るに際し、スキャニング
の始点に列状の発熱体ン配設しその像をもって基準点と
し、通常時に得られる対象物のサーモグラムＺアナログ
処理して記憶し、別途得られるサーモグラムのアナログ
処理値と比較し、対象物各部の発熱異常の有無を診断す
るようにしたものである。
がった対象物から放射される赤外線ンスキャニングしな
がら平面状のサーモグラムを得るに際し、スキャニング
の始点に列状の発熱体ン配設しその像をもって基準点と
し、通常時に得られる対象物のサーモグラムＺアナログ
処理して記憶し、別途得られるサーモグラムのアナログ
処理値と比較し、対象物各部の発熱異常の有無を診断す
るようにしたものである。
以下、図面についてこの発明の一実施例を説明する５、
第１図はその構成２示１−もので、被診断計器１ノの電
子部品χ取り付けた平面状の基板１２じ発熱基線とする
スキャニング同期マーカ１３を配設する。このスキャニ
ング同期マーカ１３は診断部分の端に配設される列状の
発熱体で、この発熱体の発する赤外線ンサー七グラム（
サーモ像）パターン信号の基点とするものである。
第１図はその構成２示１−もので、被診断計器１ノの電
子部品χ取り付けた平面状の基板１２じ発熱基線とする
スキャニング同期マーカ１３を配設する。このスキャニ
ング同期マーカ１３は診断部分の端に配設される列状の
発熱体で、この発熱体の発する赤外線ンサー七グラム（
サーモ像）パターン信号の基点とするものである。
このスキャニング同期マーカ１３ン配設した基板１２部
は赤外線カメラ１４で撮影する。この赤外線カメラ１４
は基板１２の各電子部品から発生する熱に対応する赤外
線を、ミラーでスキャニングしながら赤外線センサで受
光検出するもので、診断部分の発熱部品の絶対温度に比
例した放射エネルギーである赤外線を検出し、これ乞ア
ナログ信号に変換して出力する。そし−モグラム・ぞタ
ーン信号として比較演算装置１６に供給するとともに、
信号切替器１７の選択に対応してビデオレコーダ１８お
よびディスプレイ装置１９に供給とする。
は赤外線カメラ１４で撮影する。この赤外線カメラ１４
は基板１２の各電子部品から発生する熱に対応する赤外
線を、ミラーでスキャニングしながら赤外線センサで受
光検出するもので、診断部分の発熱部品の絶対温度に比
例した放射エネルギーである赤外線を検出し、これ乞ア
ナログ信号に変換して出力する。そし−モグラム・ぞタ
ーン信号として比較演算装置１６に供給するとともに、
信号切替器１７の選択に対応してビデオレコーダ１８お
よびディスプレイ装置１９に供給とする。
上記比較演算装置１６には、予め各診断計器の通常時に
おけるサーモグラム標準パターン信号が記憶され°Ｃい
る記憶装置２０から、被診断計器１１の型式に合致する
標準・母ターン信号乞供給する。この標準・ぐターン信
号は比較演算装置１６において赤外線カメラ１４からの
破除［ｒ計器１１のサーモグラム・やターン信号と比較
演算するもので、破除…■計器１１の異常の有無！診断
する。丁なわち、標準・ぐターン信号に対し被診断計器
１）の・母ターン信号のうち定めた範囲外にある部分ン
異常部分と判断し、その診断結果を記録装置２ノに記録
させると共に信号切替器１７を介してビデオレコーダ１
８或いはディスグレイ装置１９に供給し、収録・表示さ
せるようにしている。
おけるサーモグラム標準パターン信号が記憶され°Ｃい
る記憶装置２０から、被診断計器１１の型式に合致する
標準・母ターン信号乞供給する。この標準・ぐターン信
号は比較演算装置１６において赤外線カメラ１４からの
破除［ｒ計器１１のサーモグラム・やターン信号と比較
演算するもので、破除…■計器１１の異常の有無！診断
する。丁なわち、標準・ぐターン信号に対し被診断計器
１）の・母ターン信号のうち定めた範囲外にある部分ン
異常部分と判断し、その診断結果を記録装置２ノに記録
させると共に信号切替器１７を介してビデオレコーダ１
８或いはディスグレイ装置１９に供給し、収録・表示さ
せるようにしている。
このビデオレコーダ１８は赤外線カメラ１４で捕えた破
除…「計器１１のサーモグラム収録及び比較演算装置１
６の診断結果ン収録するための装置であり、またディス
プレイ装置１９は被診断計器１１のサーモグラムのＬｔ
＋Ｉ向表示及び比較演算結果１６の診断結果をｉ［！１
１面表示させるための装置である。上記ビデオレコーダ
１６の再生信号は信号切替器１７によってディスプレイ
装置１９或いはＡ／Ｔ）変換器１５を介して比較演算装
置１６へ供給可能とされる。
除…「計器１１のサーモグラム収録及び比較演算装置１
６の診断結果ン収録するための装置であり、またディス
プレイ装置１９は被診断計器１１のサーモグラムのＬｔ
＋Ｉ向表示及び比較演算結果１６の診断結果をｉ［！１
１面表示させるための装置である。上記ビデオレコーダ
１６の再生信号は信号切替器１７によってディスプレイ
装置１９或いはＡ／Ｔ）変換器１５を介して比較演算装
置１６へ供給可能とされる。
すなわち、上−記装置を用いて被診断計器１ノを診断す
るには、まず赤外線カメラ１４を動作状態にある被診断
計器１１の基板１２に対応して設置し、基板１２上の各
電子部品から放射される赤外線をスキャニングして赤外
線センサで受光し被診断計器１１のサーモグラムパター
ン信号ン得る。そしてこの・母ターン伯′号ｔ゛比較ｉ
ａ算装ｆｌｘ６（＝入力し、記１．は装置２θからのサ
ーモグラム標準パターン信号と比較する。
るには、まず赤外線カメラ１４を動作状態にある被診断
計器１１の基板１２に対応して設置し、基板１２上の各
電子部品から放射される赤外線をスキャニングして赤外
線センサで受光し被診断計器１１のサーモグラムパター
ン信号ン得る。そしてこの・母ターン伯′号ｔ゛比較ｉ
ａ算装ｆｌｘ６（＝入力し、記１．は装置２θからのサ
ーモグラム標準パターン信号と比較する。
第２図はその一例乞示すものでＡ図はイ票準パターン信
号、Ｂ図は被診断計器１）の・やターン信号を示してい
る。両信号の左側の棒状信号がスキャニング同期マーカ
１３（二よる基点信号であり、この尽点信号で同期を合
わせ両信号を比較すると、右から３番目の位置に対応す
る電）部品が異常であることがわかる。
号、Ｂ図は被診断計器１）の・やターン信号を示してい
る。両信号の左側の棒状信号がスキャニング同期マーカ
１３（二よる基点信号であり、この尽点信号で同期を合
わせ両信号を比較すると、右から３番目の位置に対応す
る電）部品が異常であることがわかる。
この比較演算結果はゾリンタ等の記録装置２１に記録さ
れると共に、ビデオレコーダ１８に収録され、アイスプ
レイ装置１９に画面表示される。
れると共に、ビデオレコーダ１８に収録され、アイスプ
レイ装置１９に画面表示される。
したがって、破除断計Ｂｚｘの基板１２にスキャニング
同１す」マーカ１３乞配設し、赤外線カメラ１４で走査
検知することにより、走査毎に一定位置（二基点信号が
得られ、これにまり比敗演算時の同期合わせが容昌とな
る。そして同１ｉｊ１合わせン行なった標準）やターン
信号と被診断計器１ノの・やターン信号と７比較すれば
どの電子部品が異常であるかを判別することかできる。
同１す」マーカ１３乞配設し、赤外線カメラ１４で走査
検知することにより、走査毎に一定位置（二基点信号が
得られ、これにまり比敗演算時の同期合わせが容昌とな
る。そして同１ｉｊ１合わせン行なった標準）やターン
信号と被診断計器１ノの・やターン信号と７比較すれば
どの電子部品が異常であるかを判別することかできる。
以」二のようにこの発明によれば、異常診断方式ン平面
状に広がった対象物から放射される赤外線ンスキャニン
グしながら平面状のサーモグラムを得るに際し、ソキャ
ニングの始点に列状の発熱体を配設しその像！もって基
準点とし、ｉｌ！１常時に得られる対象物のサーモグラ
ムのアナ整 ログ処理値と比較し、対象物各部の発貴異常の有フ１１
（を診断するようにしたことにより、従来至難とされて
いた計器内の電子部品の潜在故障や劣化が検知できるの
で、計器の異常早期発見が可能となる。これにより、計
器整備点検作業の能率向上、コスト低減が可能となり、
計測制御袋数の信頼性の向上、プラント設備などの稼動
率回上等を望むことができるようになる。
状に広がった対象物から放射される赤外線ンスキャニン
グしながら平面状のサーモグラムを得るに際し、ソキャ
ニングの始点に列状の発熱体を配設しその像！もって基
準点とし、ｉｌ！１常時に得られる対象物のサーモグラ
ムのアナ整 ログ処理値と比較し、対象物各部の発貴異常の有フ１１
（を診断するようにしたことにより、従来至難とされて
いた計器内の電子部品の潜在故障や劣化が検知できるの
で、計器の異常早期発見が可能となる。これにより、計
器整備点検作業の能率向上、コスト低減が可能となり、
計測制御袋数の信頼性の向上、プラント設備などの稼動
率回上等を望むことができるようになる。
この異常診断方式は平面的に勧測可能な形状で、且つ劣
化、故障等で部品の鈍熱が変化するものであれば応用可
能である。
化、故障等で部品の鈍熱が変化するものであれば応用可
能である。
第、１図はこの発明の一実施例に係る異常診断装置の構
成を示す図、第２図は上記装置２用いて標準・やターン
信号（Δ）と被診断装置の・やターン信号（均と乞比較
した例Ｚ示す図である。 １１・・・被診断Ｂ１器、１２・・・基板、１３・・・
スキャニング同期マーカ、１４・・・赤外線カメラ、１
５・・・Ａ／Ｄ変換器、１６・・・比較演算装置、）７
・・・信号切替器、１８・・・ビデオレコーダ、１９・
・・ディスプレイ装置、２０・・・記憶装置、２ノ・・
・記録装置。
成を示す図、第２図は上記装置２用いて標準・やターン
信号（Δ）と被診断装置の・やターン信号（均と乞比較
した例Ｚ示す図である。 １１・・・被診断Ｂ１器、１２・・・基板、１３・・・
スキャニング同期マーカ、１４・・・赤外線カメラ、１
５・・・Ａ／Ｄ変換器、１６・・・比較演算装置、）７
・・・信号切替器、１８・・・ビデオレコーダ、１９・
・・ディスプレイ装置、２０・・・記憶装置、２ノ・・
・記録装置。
Claims (1)
- 平面状に広がった対称物から放射される赤外線をスキャ
ニングしながら平面状のサーモグラム乞得るに際し、ス
キャニングの始点に列状の発熱体を配設しその像をもっ
て基準点とし、通常時に得られる対象物のサーモグラム
をアナログ処理して記憶し、別途得られるサーモグラム
のアナログ処理値と比較し、対象物各部の発熱異常の有
無乞診断するようにした異常診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57160372A JPS5950322A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 異常診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57160372A JPS5950322A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 異常診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5950322A true JPS5950322A (ja) | 1984-03-23 |
Family
ID=15713539
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57160372A Pending JPS5950322A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 異常診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5950322A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6284724U (ja) * | 1985-11-16 | 1987-05-29 | ||
| JPS62115638U (ja) * | 1986-01-13 | 1987-07-23 | ||
| JPH02150730A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-11 | Wakomu:Kk | 加熱処理装置 |
| JPH02234085A (ja) * | 1989-03-08 | 1990-09-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
-
1982
- 1982-09-14 JP JP57160372A patent/JPS5950322A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6284724U (ja) * | 1985-11-16 | 1987-05-29 | ||
| JPS62115638U (ja) * | 1986-01-13 | 1987-07-23 | ||
| JPH02150730A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-11 | Wakomu:Kk | 加熱処理装置 |
| JPH02234085A (ja) * | 1989-03-08 | 1990-09-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
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