JPS59141008A - ねじ部検査装置 - Google Patents
ねじ部検査装置Info
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- JPS59141008A JPS59141008A JP58012952A JP1295283A JPS59141008A JP S59141008 A JPS59141008 A JP S59141008A JP 58012952 A JP58012952 A JP 58012952A JP 1295283 A JP1295283 A JP 1295283A JP S59141008 A JPS59141008 A JP S59141008A
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- screw
- threaded portion
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
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- G—PHYSICS
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2425—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures of screw-threads
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、ねじ部におけるビビリの如き欠陥の有無を
、ねじの外径や種類にかかわらず非接触で迅速に自動的
に検出するだめのねじ部検査装置に関するものである。
、ねじの外径や種類にかかわらず非接触で迅速に自動的
に検出するだめのねじ部検査装置に関するものである。
例えばパイプねし部におけるビビリの如き欠陥の有無は
、従来検査員の目視に頼っていたため、次のような問題
があった。
、従来検査員の目視に頼っていたため、次のような問題
があった。
（１）検査規準が検査員の個人差によって異なるため適
確な検査が望めない。
確な検査が望めない。
（２）検査は注意力を要する単純作業のため、検査員の
疲労度が大きく、長時間にわたり検査作業を継続するこ
とができない。
疲労度が大きく、長時間にわたり検査作業を継続するこ
とができない。
（３）正確な検査を行なうためには、多大な時間を要す
る。
る。
以上のような問題を解決するため、ねじ部検査の自動化
が各方面で研究されておシ、例えば、特開昭５５−７０
７０２号、特開昭５４−１３９７５３号および特開昭５
４−１５０１６３号の如き装置が提案されている。
が各方面で研究されておシ、例えば、特開昭５５−７０
７０２号、特開昭５４−１３９７５３号および特開昭５
４−１５０１６３号の如き装置が提案されている。
特開昭５５−７０７０２号の装置は、ねじ山のフランク
部表面に、これと直交する方向から光ビームを照射する
と、正常ねじでは光ビームがねじ表面で入射光と１８０
°方向を変換して平行に正反射されるのに対して、ねじ
山が正常に刻設されていないねじの場合、正反射光の方
向は、入射光の方向と大きく異なることからねじ山に光
ビームを照射する光源と反射光を受光する受光体を一体
化し、ねじフランク部表面に、これと直交する方向から
光ビームを照射して、ねじ部表面で照射光ビームと逆方
向に反射された光ビームを受光体で受光し、反射光がな
い場合には、ねじ山が正常に刻設されていないとしてね
し山の形状不良を検出するものである。
部表面に、これと直交する方向から光ビームを照射する
と、正常ねじでは光ビームがねじ表面で入射光と１８０
°方向を変換して平行に正反射されるのに対して、ねじ
山が正常に刻設されていないねじの場合、正反射光の方
向は、入射光の方向と大きく異なることからねじ山に光
ビームを照射する光源と反射光を受光する受光体を一体
化し、ねじフランク部表面に、これと直交する方向から
光ビームを照射して、ねじ部表面で照射光ビームと逆方
向に反射された光ビームを受光体で受光し、反射光がな
い場合には、ねじ山が正常に刻設されていないとしてね
し山の形状不良を検出するものである。
しかるに、上記装置には次のような問題がある。
（１） この装置は、光ビームが照射されるねじ部分
に限って、スポット的にその形状不良を検出するもので
あるから、ねじ部を全面にわたって検査するだめには、
全てのねじ山を倣って形状不良を検出する必要があシ、
多大の時間を要する。
に限って、スポット的にその形状不良を検出するもので
あるから、ねじ部を全面にわたって検査するだめには、
全てのねじ山を倣って形状不良を検出する必要があシ、
多大の時間を要する。
（２）検出器の光軸の方向をねじ山フランク部に対して
直交する角度に設定することが前提になっているから、
母材の鼻曲り等に起因したねじ部の位置変動により、ね
じ山フランク部がこの設定角度から外れたときは、正常
のねじ山を不良として誤検出するおそれがある。
直交する角度に設定することが前提になっているから、
母材の鼻曲り等に起因したねじ部の位置変動により、ね
じ山フランク部がこの設定角度から外れたときは、正常
のねじ山を不良として誤検出するおそれがある。
（３） また角ねじのようにフランクが急峻なねじで
は、照射光ビームが手前に隣接するねじ山に遮られるお
それがあるために、検査の可能なねじの種類は照射光ビ
ームが手前に隣接するねし山に遮られない程度のフラン
クの傾斜がゆるやがなものに限られる。
は、照射光ビームが手前に隣接するねじ山に遮られるお
それがあるために、検査の可能なねじの種類は照射光ビ
ームが手前に隣接するねし山に遮られない程度のフラン
クの傾斜がゆるやがなものに限られる。
特開昭５４＝１３９７５３号は、ねじ画成形不良特にね
じ山高さ不良を検出する装置に関するものでねじ軸心方
向に対して４５°の傾斜で投光する投光器と、これを受
光する受光器とからなる光電検出器を、正常なねじ部品
のねじ山部のなチ包絡線間の幅に一致させて、ねじをは
さんで２式配置し、ねじ部移動方向に対して手前の光電
検出器を第１検出部、後方の光電検出器を第２検出部と
なして、ねじ部を移動するとき、第１検出部と第２検出
部とが正常ねじ部の前部と後部との包絡線間隔で配置さ
れているために、正常ねしでは、第１検出部の投光器か
ら投光された光はねじ部後方の包絡線により遮られるの
に対して、ねじ出処径が所定の寸法に達しないねじでは
これが遮られず受光器に到達することから、この時の第
１検出器の受光器の出力により、ねじ山形不良を検出す
るものである。
じ山高さ不良を検出する装置に関するものでねじ軸心方
向に対して４５°の傾斜で投光する投光器と、これを受
光する受光器とからなる光電検出器を、正常なねじ部品
のねじ山部のなチ包絡線間の幅に一致させて、ねじをは
さんで２式配置し、ねじ部移動方向に対して手前の光電
検出器を第１検出部、後方の光電検出器を第２検出部と
なして、ねじ部を移動するとき、第１検出部と第２検出
部とが正常ねじ部の前部と後部との包絡線間隔で配置さ
れているために、正常ねしでは、第１検出部の投光器か
ら投光された光はねじ部後方の包絡線により遮られるの
に対して、ねじ出処径が所定の寸法に達しないねじでは
これが遮られず受光器に到達することから、この時の第
１検出器の受光器の出力により、ねじ山形不良を検出す
るものである。
しかるに、上記装置には次のような問題がある。
（１）検出部の投光器と受光器とを結ぶ直線と、ねじ山
部のなす包絡線とが交わる位置のねじ部に限ってねし画
成形不良を検出するものであるから、ねじ部全面にわた
ってねじ画成形不良を検出するためには多大な時間を要
する。
部のなす包絡線とが交わる位置のねじ部に限ってねし画
成形不良を検出するものであるから、ねじ部全面にわた
ってねじ画成形不良を検出するためには多大な時間を要
する。
（２）光電検出器によりねじ出処径をねじ部の直径方向
に検出することが前提になっているから、母材の鼻曲り
等に起因して検出方向がねじ部面径方向から外れること
があり、ねじ出処径が所定寸法に達しないねじを正常ね
じとして誤検出するおそれがある。
に検出することが前提になっているから、母材の鼻曲り
等に起因して検出方向がねじ部面径方向から外れること
があり、ねじ出処径が所定寸法に達しないねじを正常ね
じとして誤検出するおそれがある。
（３）テーパーねじの様にねじ出処径がねじ部位置によ
って変動する種類のねじを検査するためには。
って変動する種類のねじを検査するためには。
検出位置の設定を厳密に行なう必要があり、検査に多大
の手間と時間を要する。
の手間と時間を要する。
（４）検出対象が所定のねじ出処径寸法に達しないねじ
に限られ、所定のねじ出処径寸法を超えるねじ画成形不
良品の検出に適用するのは困難である。
に限られ、所定のねじ出処径寸法を超えるねじ画成形不
良品の検出に適用するのは困難である。
特開昭５４−１５０１６３号は、ボルト、管継手等のね
じ部材のねじ部仕上り状態端部のパリの有無等の外観形
状を、自動的に検査するねじ部材の自動検査装置に関す
るもので、ねじ谷部に光が入射しない角度から光を照明
し、その被照明面をねじ軸心に直交する角度から光電変
換装置を用いて撮像し、ねじ軸心に沿った輝度分布の電
気信号を得る。この時ねじ部が正常である場合には、ね
じ谷部からの反射がないため、その部分の輝度は低く、
ねじ山部に相当する極大点のみを有するパターンとなる
。これに対して、ねじ傷不良、チャック不良等ねじ山に
傷がある場合は、極大点間隔がピッチに相当する基準間
隔と等しくなくなり、規定より短かくなるために欠陥が
検出される。
じ部材のねじ部仕上り状態端部のパリの有無等の外観形
状を、自動的に検査するねじ部材の自動検査装置に関す
るもので、ねじ谷部に光が入射しない角度から光を照明
し、その被照明面をねじ軸心に直交する角度から光電変
換装置を用いて撮像し、ねじ軸心に沿った輝度分布の電
気信号を得る。この時ねじ部が正常である場合には、ね
じ谷部からの反射がないため、その部分の輝度は低く、
ねじ山部に相当する極大点のみを有するパターンとなる
。これに対して、ねじ傷不良、チャック不良等ねじ山に
傷がある場合は、極大点間隔がピッチに相当する基準間
隔と等しくなくなり、規定より短かくなるために欠陥が
検出される。
しかるに、上記装置には次のような問題がある。
（１） ビビリねじ部では、ねじ山の形状不良によっ
てビビリねじ山における反射光を検出する可能性゛があ
り、これを正常ねじ山と誤認識するおそれがある。
てビビリねじ山における反射光を検出する可能性゛があ
り、これを正常ねじ山と誤認識するおそれがある。
伐）ねじ山部の反射輝度にのみ着目しているだめ、ねじ
谷部に発生したビビリを検出することは不可能である。
谷部に発生したビビリを検出することは不可能である。
（３）ねじ山頂における非常に微小な領域からの反射光
を観桜するため、ゴミの付着等の外乱要因によって正常
ねじ山をビビリねじ山として誤認識するおそれがある。
を観桜するため、ゴミの付着等の外乱要因によって正常
ねじ山をビビリねじ山として誤認識するおそれがある。
この発明は、上述のような観点から、ねじ部の外径や種
類に制限されることなく、まだねじ部に生ずる曲りなど
の外乱要因に影響されることなく、ねじ部の欠陥の有無
を迅速かつ適確に検査することができるねじ部検査装置
を提供するもので、ねじ部材をそのねじ軸心を中心とし
て一定方向に等速回転させるための回転装置と、回転す
る前記ねじ部材のねじ部表面に対して、ねじ軸心と直交
する方向から光を照射するだめの照明装置と、前記照明
装置により照射されて生じたねじ部のねじ軸心方向−次
元領域の輝度分布を、ねじ軸心と直交する方向から検出
するための光電変換装置と、前記光電変換装置により得
られた前記ねじ部の輝度分布から、ねじ部局方向におけ
る輝度変動の程度を演算して、輝度変動の太きいものを
欠陥として検出するだめの信号処理装置とからなること
に特徴を有するものである。
類に制限されることなく、まだねじ部に生ずる曲りなど
の外乱要因に影響されることなく、ねじ部の欠陥の有無
を迅速かつ適確に検査することができるねじ部検査装置
を提供するもので、ねじ部材をそのねじ軸心を中心とし
て一定方向に等速回転させるための回転装置と、回転す
る前記ねじ部材のねじ部表面に対して、ねじ軸心と直交
する方向から光を照射するだめの照明装置と、前記照明
装置により照射されて生じたねじ部のねじ軸心方向−次
元領域の輝度分布を、ねじ軸心と直交する方向から検出
するための光電変換装置と、前記光電変換装置により得
られた前記ねじ部の輝度分布から、ねじ部局方向におけ
る輝度変動の程度を演算して、輝度変動の太きいものを
欠陥として検出するだめの信号処理装置とからなること
に特徴を有するものである。
次に、この発明を図面に基いて説明する。
第１図はこの発明の原理を示す説明図である。
図面において、１はパイプ、２はパイプ１の管端に形成
されたねじ部である。パイプ１は回転装置３によって一
定方向に等速回転される。４はねじ部２０表面に対し、
照明中心軸ｔ２がねじ軸心右と直交する方向から光を照
射するだめの照明装置で、照明装置４はねじ部２におけ
る被照射面の周方向の幅が十分に広く、かつ、その軸心
方向に照明むらが生じない程度に被照射面の大きい拡散
照明の可能な照明面４ａを有する装置とする。５は照明
装置４によシ照射されて生じたねじ部２のねじ軸心ｔ１
方向−次元領域の輝度分布を検出するための光電変換装
置で、光電変換装置５はその光軸ｔ３がねじ軸心ｔＩと
直交する方向で、かつ照明中心軸Ｌ２と光軸ｔ、とが重
ならない程度に、照明装置４から離して位置されている
。６は光電変換装置５からの信号を処理するだめの信号
処理装置である。
されたねじ部である。パイプ１は回転装置３によって一
定方向に等速回転される。４はねじ部２０表面に対し、
照明中心軸ｔ２がねじ軸心右と直交する方向から光を照
射するだめの照明装置で、照明装置４はねじ部２におけ
る被照射面の周方向の幅が十分に広く、かつ、その軸心
方向に照明むらが生じない程度に被照射面の大きい拡散
照明の可能な照明面４ａを有する装置とする。５は照明
装置４によシ照射されて生じたねじ部２のねじ軸心ｔ１
方向−次元領域の輝度分布を検出するための光電変換装
置で、光電変換装置５はその光軸ｔ３がねじ軸心ｔＩと
直交する方向で、かつ照明中心軸Ｌ２と光軸ｔ、とが重
ならない程度に、照明装置４から離して位置されている
。６は光電変換装置５からの信号を処理するだめの信号
処理装置である。
回転装置３によって一定方向に等速回転するパイプ１の
ねじ部２は、照明装置４によってねじ軸心ｔ１と照明中
心軸ｔ２とが直交する方向から照明され、その結果得ら
れた被照明面上のねじ軸心方向−次元領域の輝度分布が
、光電変換装置５によってその光軸ｔ３がねじ軸心ｔ１
と直交する方向から、一定周期毎に検出される。
ねじ部２は、照明装置４によってねじ軸心ｔ１と照明中
心軸ｔ２とが直交する方向から照明され、その結果得ら
れた被照明面上のねじ軸心方向−次元領域の輝度分布が
、光電変換装置５によってその光軸ｔ３がねじ軸心ｔ１
と直交する方向から、一定周期毎に検出される。
第２図は上述した装置を使用し、パイプねじ部の正常部
と欠揶部であるビビリ部とを撮像して得られた反射輝度
分布とそのねじ部の形状である。
と欠揶部であるビビリ部とを撮像して得られた反射輝度
分布とそのねじ部の形状である。
第２図から明らかなように、正常ねし部では、ねじ山部
およびねじ谷部から常に一様の反射輝度が検出されるの
に対し、ビビリねじ部では、ねじ山部およびねじ谷部の
形状不良によって、ねじ山部およびねじ谷部からの反射
輝度がねじ軸心方向およびねじ周方向に大きく変動する
。一般にビビリは、ねじ周方向に一定周期で現れるから
、ねじ部表面の反射輝度パターンをねじ周方向に展開し
て示すと第３図のようになる。
およびねじ谷部から常に一様の反射輝度が検出されるの
に対し、ビビリねじ部では、ねじ山部およびねじ谷部の
形状不良によって、ねじ山部およびねじ谷部からの反射
輝度がねじ軸心方向およびねじ周方向に大きく変動する
。一般にビビリは、ねじ周方向に一定周期で現れるから
、ねじ部表面の反射輝度パターンをねじ周方向に展開し
て示すと第３図のようになる。
第３図に示す反射輝度パターンにおいて、７はねじのフ
ランク部、８はねじの山谷部で、正常ねじ部ではフラン
ク部７は暗部となって表われ、山谷部８は明部となって
表われる。一方、ビビリねじ部ではビビリ９がフランク
部７と交叉する方向に暗部となって表われる。
ランク部、８はねじの山谷部で、正常ねじ部ではフラン
ク部７は暗部となって表われ、山谷部８は明部となって
表われる。一方、ビビリねじ部ではビビリ９がフランク
部７と交叉する方向に暗部となって表われる。
この発明においては、第３図に示すねじ部表面における
反射輝度パターンのねじ周方向における反射輝度変動の
程度を、信号処理装置６を用いて評価することによりビ
ビリを自動的に検出しようとするものである。
反射輝度パターンのねじ周方向における反射輝度変動の
程度を、信号処理装置６を用いて評価することによりビ
ビリを自動的に検出しようとするものである。
この発明においては、ねじ部表面のねじ周方向における
反射輝度変動の程度を演算するのに先立つて、測定上外
乱となるねじ部軸心方向の反射輝度変動を除去し、ビビ
リに相当するパターンのみを抽出する前処理を行なう、
そのために、第５図の信号処理装置回路図に示す如く、
光電変換装置５によって得られるビデオ信号に対し、軸
心方向移動平均回路１０によって、ねじピッチの整数倍
に相当する平均幅の移動平均処理を施し、ねじ軸心方向
のねじ山部とねじ谷部とにピークを有する輝度変動成分
を除去する。
反射輝度変動の程度を演算するのに先立つて、測定上外
乱となるねじ部軸心方向の反射輝度変動を除去し、ビビ
リに相当するパターンのみを抽出する前処理を行なう、
そのために、第５図の信号処理装置回路図に示す如く、
光電変換装置５によって得られるビデオ信号に対し、軸
心方向移動平均回路１０によって、ねじピッチの整数倍
に相当する平均幅の移動平均処理を施し、ねじ軸心方向
のねじ山部とねじ谷部とにピークを有する輝度変動成分
を除去する。
このようにして、軸心方向移動平均回路１０により処理
された軸心方向移動平均処理信号は、ビビリに相当する
明暗パターンのみが抽出され、正常ねじ部ではねじの山
谷部およびフランク部にかかわらず、一様の明るさとな
って表わされる。第４図は、上記軸心方向移動平均処理
信号によシ抽出されたビビリ発生ねじ部表面の反射輝度
パターンを第３図と対比して示した図である。
された軸心方向移動平均処理信号は、ビビリに相当する
明暗パターンのみが抽出され、正常ねじ部ではねじの山
谷部およびフランク部にかかわらず、一様の明るさとな
って表わされる。第４図は、上記軸心方向移動平均処理
信号によシ抽出されたビビリ発生ねじ部表面の反射輝度
パターンを第３図と対比して示した図である。
第５図において、１１はメモリ、１２は輝度変動演算回
路であって、メモリ１１は上記軸心方向移動平均処理信
号の所定位置における信号値を順次記憶保持するもので
あり、メモリ１１により当該位置でのねじ周方向輝度変
動信号から、ねじ部軸心方向の輝度変動成分を除去した
周方向輝度変動信号が得られる。輝度変動演算回路１２
は上記周方向輝度変動信号に対して、信号値の変動の程
度を演算するものである。
路であって、メモリ１１は上記軸心方向移動平均処理信
号の所定位置における信号値を順次記憶保持するもので
あり、メモリ１１により当該位置でのねじ周方向輝度変
動信号から、ねじ部軸心方向の輝度変動成分を除去した
周方向輝度変動信号が得られる。輝度変動演算回路１２
は上記周方向輝度変動信号に対して、信号値の変動の程
度を演算するものである。
輝度変動演算回路１２は、第５図に示す如く、周方向移
動平均回路１３、差信号演算回路１４、自乗演算回路１
５および判定回路１６からなっている。メモリ１１によ
り得られた周方向輝度変動信号は、周方向移動平均回路
１３によって、ビビリによる周方向輝度変動が除去可能
な程度に移動平均処理が施される。次いで、これにより
得られた周方向移動平均処理信号と、前記周方向輝度変
動信号との差が、差信号演算回路１４によシ演算され、
更に自乗平均回路１５によシ前記差信号との自乗平均値
が演算される。この自乗平均値は、判定回路１６により
所定の値と比較演算され、前記所定の値を超えた場合に
は、ビビリとして判定しこれを検出する。
動平均回路１３、差信号演算回路１４、自乗演算回路１
５および判定回路１６からなっている。メモリ１１によ
り得られた周方向輝度変動信号は、周方向移動平均回路
１３によって、ビビリによる周方向輝度変動が除去可能
な程度に移動平均処理が施される。次いで、これにより
得られた周方向移動平均処理信号と、前記周方向輝度変
動信号との差が、差信号演算回路１４によシ演算され、
更に自乗平均回路１５によシ前記差信号との自乗平均値
が演算される。この自乗平均値は、判定回路１６により
所定の値と比較演算され、前記所定の値を超えた場合に
は、ビビリとして判定しこれを検出する。
第６図は、上述した輝度変動演算回路１２によるビビリ
判定経過を示しだもので、同図（ロ）はねじ部の軸心方
向移動平均処理画像を示す図、同図（Ｂ）はメモリ１１
により同図囚に示す正常部周方向輝度変化１７を処理し
た周方向輝度変動信号を示す図、同図（Ｂ′）は同図（
５）に示すビビリ部周方向輝度変化１８を処理した周方
向輝度変動信号を示す図、同図（０および（Ｃ′）は前
記（Ｂ）および（Ｂ′）の周方向輝度変動信号を、周方
向移動平均回路１３により処理した後の周方向移動平均
処理信号を示す図、同図（２）および（Ｄ′）は、差信
号演算回路１４によす演算されだ差信号を示す図で、上
記差信号を自乗平均演算処理した後、判定回路１６によ
シ正常部とビビリ部とに判定される。
判定経過を示しだもので、同図（ロ）はねじ部の軸心方
向移動平均処理画像を示す図、同図（Ｂ）はメモリ１１
により同図囚に示す正常部周方向輝度変化１７を処理し
た周方向輝度変動信号を示す図、同図（Ｂ′）は同図（
５）に示すビビリ部周方向輝度変化１８を処理した周方
向輝度変動信号を示す図、同図（０および（Ｃ′）は前
記（Ｂ）および（Ｂ′）の周方向輝度変動信号を、周方
向移動平均回路１３により処理した後の周方向移動平均
処理信号を示す図、同図（２）および（Ｄ′）は、差信
号演算回路１４によす演算されだ差信号を示す図で、上
記差信号を自乗平均演算処理した後、判定回路１６によ
シ正常部とビビリ部とに判定される。
この発明においては、上述した信号処理において、軸心
方向移動平均処理信号に対して検出位置を複数個所指定
することが可能であり、この場合には、各指定位置に応
じて上述したメモリ以下の処理回路群を並列に構成し、
同様の信号処理を施すことにより各指定位置におけるビ
ビリの有無の判定結果を得ることができる。
方向移動平均処理信号に対して検出位置を複数個所指定
することが可能であり、この場合には、各指定位置に応
じて上述したメモリ以下の処理回路群を並列に構成し、
同様の信号処理を施すことにより各指定位置におけるビ
ビリの有無の判定結果を得ることができる。
以上述べたように、この発明によれば、ねじの外径や種
類に制限されることなく、またねじ部に生ずる曲りなど
の外乱要因に影響されることなくねじ部のビビリの有無
を適確に検出することができ、しかもねじを１回転する
間にその全面にわたる検査が可能であるから、検査に要
する時間は短くて済む等、工業上多くの優れた効果がも
たらされる。
類に制限されることなく、またねじ部に生ずる曲りなど
の外乱要因に影響されることなくねじ部のビビリの有無
を適確に検出することができ、しかもねじを１回転する
間にその全面にわたる検査が可能であるから、検査に要
する時間は短くて済む等、工業上多くの優れた効果がも
たらされる。
第１図はこの発明の原理を示す説明図、第２図はこの発
明によシ得られた反射輝度分布とねじ部の形状を示す図
、第３図はねじ部の反射輝度バター／をねじ部局方向に
展開して示す図、第４図は軸心方向移動平均処理信号に
より抽出されたねじ部の反射輝度パターンを示す図、第
′５図は信号処理装置回路図、第６図は輝度変動演算回
路によるビビリ判定経過を示す図である。図面において
、１・・・パイプ、 ２・・・ねじ部、３・・
回転装置、 ４・・・照明装置、５・・・光電変
換装置、 ６・・・信号処理装置、７・・・フランク
部、 ８・・・山谷部、９・・・ビビリ、 １０・・・軸心方向移動平均回路、 １１・・・メモリ、 １２・・・輝度変動演算回路、
１３・・・周方向移動平均回路、 １４・・・差信号演算回路、 １５・・・自乗演算回路
、１６・・・判定回路、 １７・・・正常部周方向輝度変化、 １８・・・ビビリ部周方向輝度変化。 出願人 日本鋼管株式会社 代理人 潮 谷 奈津夫（他２名） 手続補正書（自発） １１８和５９年３ 月１４日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 ■ 事件の表示 特願昭５８− １２９５２ 月 ２、発明の名称 ねじ部検査装置 凸：茜 東京都千代田区丸の内−丁目１番２号１１ｇ
（ｆｆｌｆＦ） ”２）日本鋼管株式会社代表者 金
尾 實 ６ 補正の対象 図 面
明によシ得られた反射輝度分布とねじ部の形状を示す図
、第３図はねじ部の反射輝度バター／をねじ部局方向に
展開して示す図、第４図は軸心方向移動平均処理信号に
より抽出されたねじ部の反射輝度パターンを示す図、第
′５図は信号処理装置回路図、第６図は輝度変動演算回
路によるビビリ判定経過を示す図である。図面において
、１・・・パイプ、 ２・・・ねじ部、３・・
回転装置、 ４・・・照明装置、５・・・光電変
換装置、 ６・・・信号処理装置、７・・・フランク
部、 ８・・・山谷部、９・・・ビビリ、 １０・・・軸心方向移動平均回路、 １１・・・メモリ、 １２・・・輝度変動演算回路、
１３・・・周方向移動平均回路、 １４・・・差信号演算回路、 １５・・・自乗演算回路
、１６・・・判定回路、 １７・・・正常部周方向輝度変化、 １８・・・ビビリ部周方向輝度変化。 出願人 日本鋼管株式会社 代理人 潮 谷 奈津夫（他２名） 手続補正書（自発） １１８和５９年３ 月１４日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 ■ 事件の表示 特願昭５８− １２９５２ 月 ２、発明の名称 ねじ部検査装置 凸：茜 東京都千代田区丸の内−丁目１番２号１１ｇ
（ｆｆｌｆＦ） ”２）日本鋼管株式会社代表者 金
尾 實 ６ 補正の対象 図 面
Claims (1)
- ねじ部材をそのねじ軸心を中心として一定方向に等速回
転させるだめの回転装置と、回転する前記ねじ部材のね
じ部表面に対して、ねじ軸心と直交する方向から光を照
射するだめの照明装置と、前記照明装置により照射され
て生じたねじ部のねじ軸心方向−次元領域の輝度分布を
、ねじ軸心と直交する方向から検出するための光電変換
装置と、前記光電変換装置によシ得られた前記ねじ部の
輝度分布から、ねじ部周方向における輝度変動の程度を
演算して、輝度変動の大きいものを欠陥として検出する
だめの信号処理装置とからなることを特徴とするねじ部
検査装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58012952A JPS59141008A (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | ねじ部検査装置 |
| US06/567,949 US4544268A (en) | 1983-01-31 | 1984-01-04 | Method and apparatus for detecting flaw on threads of male screw |
| GB08401216A GB2136115B (en) | 1983-01-31 | 1984-01-17 | Detecting flaws on threads of male screws |
| DE19843402855 DE3402855A1 (de) | 1983-01-31 | 1984-01-27 | Verfahren und vorrichtung zur feststellung von fehlern an einem aussengewinde |
| FR8401388A FR2540245B1 (fr) | 1983-01-31 | 1984-01-30 | Procede et appareil de detection des defauts du filetage des vis |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58012952A JPS59141008A (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | ねじ部検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59141008A true JPS59141008A (ja) | 1984-08-13 |
| JPH025243B2 JPH025243B2 (ja) | 1990-02-01 |
Family
ID=11819607
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58012952A Granted JPS59141008A (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | ねじ部検査装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4544268A (ja) |
| JP (1) | JPS59141008A (ja) |
| DE (1) | DE3402855A1 (ja) |
| FR (1) | FR2540245B1 (ja) |
| GB (1) | GB2136115B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009244108A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Toyota Motor Corp | ねじを検査する方法と装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| FR2594534B1 (fr) * | 1986-02-17 | 1988-04-15 | Cables De Lyon Geoffroy Delore | Procede de mesure du pas de rainurage d'un jonc cylindrique a rainures helicoidales en translation, et appareil pour sa mise en oeuvre |
| US4706360A (en) * | 1986-05-13 | 1987-11-17 | Morton Thiokol, Inc. | Thread gage |
| US5083458A (en) * | 1989-09-15 | 1992-01-28 | General Electric Company | Method and apparatus for recording loaded running tooth contact patterns on large reduction gears |
| JP2751483B2 (ja) * | 1989-11-09 | 1998-05-18 | 日本精工株式会社 | 溝又は突条の精度測定方法及び精度測定装置並びに精度の評可方法 |
| JPH04122839A (ja) * | 1990-09-14 | 1992-04-23 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 表面検査方法 |
| US5521707A (en) * | 1991-08-21 | 1996-05-28 | Apeiron, Inc. | Laser scanning method and apparatus for rapid precision measurement of thread form |
| US5214856A (en) * | 1992-05-21 | 1993-06-01 | Morse Hemco Corporation | Screw thread measuring device |
| DE10359837A1 (de) * | 2003-12-19 | 2005-07-21 | Kamax-Werke Rudolf Kellermann Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen eines Gewindes eines Verbindungselements auf Beschädigungen |
| US20050174567A1 (en) * | 2004-02-09 | 2005-08-11 | Mectron Engineering Company | Crack detection system |
| JP2007010620A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Fanuc Ltd | ねじ部検査装置及びねじ部検査方法 |
| JP5288297B2 (ja) | 2011-12-27 | 2013-09-11 | 新日鐵住金株式会社 | ねじ付き管の端部形状測定方法 |
| DE102017114873B4 (de) * | 2017-07-04 | 2019-05-29 | Schenck Rotec Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum dreidimensionalen Erfassen einer dreidimensionalen Oberfläche eines Werkstücks |
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| JPS49106353A (ja) * | 1973-02-08 | 1974-10-08 | ||
| JPS54150163A (en) * | 1978-05-17 | 1979-11-26 | Nippon Kokan Tsugite Kk | Automatic tester for screw member |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3834822A (en) * | 1973-03-29 | 1974-09-10 | Gen Motors Corp | Method and apparatus for surface defect detection using detection of non-symmetrical patterns of non-specularly reflected light |
| US4226539A (en) * | 1976-12-24 | 1980-10-07 | Hitachi, Ltd. | Cylindrical body appearance inspection apparatus |
| JPS6050060B2 (ja) * | 1977-09-28 | 1985-11-06 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置の製造方法 |
| US4315688A (en) * | 1979-08-08 | 1982-02-16 | Diffracto Ltd. | Electro-optical sensor systems for thread and hole inspection |
| DE3306194A1 (de) * | 1982-02-25 | 1983-09-08 | Mitsubishi Denki K.K., Tokyo | Verfahren zur pruefung von schraubenoberflaechen auf fehler und vorrichtung zu seiner durchfuehrung |
-
1983
- 1983-01-31 JP JP58012952A patent/JPS59141008A/ja active Granted
-
1984
- 1984-01-04 US US06/567,949 patent/US4544268A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-01-17 GB GB08401216A patent/GB2136115B/en not_active Expired
- 1984-01-27 DE DE19843402855 patent/DE3402855A1/de active Granted
- 1984-01-30 FR FR8401388A patent/FR2540245B1/fr not_active Expired
Patent Citations (3)
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| JPS49106353A (ja) * | 1973-02-08 | 1974-10-08 | ||
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| JP2009244108A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Toyota Motor Corp | ねじを検査する方法と装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2540245A1 (fr) | 1984-08-03 |
| GB2136115B (en) | 1986-06-18 |
| DE3402855C2 (ja) | 1989-08-10 |
| US4544268A (en) | 1985-10-01 |
| GB8401216D0 (en) | 1984-02-22 |
| GB2136115A (en) | 1984-09-12 |
| FR2540245B1 (fr) | 1986-09-26 |
| JPH025243B2 (ja) | 1990-02-01 |
| DE3402855A1 (de) | 1984-08-02 |
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