JPH11344457A - Smell sensor - Google Patents
Smell sensorInfo
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- JPH11344457A JPH11344457A JP15132598A JP15132598A JPH11344457A JP H11344457 A JPH11344457 A JP H11344457A JP 15132598 A JP15132598 A JP 15132598A JP 15132598 A JP15132598 A JP 15132598A JP H11344457 A JPH11344457 A JP H11344457A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、臭いガスに感応
して、その存在を検出する臭いセンサに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an odor sensor which detects an odor gas and detects its presence.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の臭いセンサにおいては有機物より
なる感応膜を用いた臭いセンサがあり、これは高い選択
性がある点で優れている。しかし、一度使うと感度がな
くなり使い捨てのものであり、繰り返し使用することが
できない。繰り返し使用できるものとしては金属酸化物
を用いた臭いセンサがある。即ち、図3に示すように、
耐熱性の絶縁基板11上に一対の電極12,13が設け
られ、これら電極12,13間に渡って臭いガスに感応
する金属酸化物からなる感応部14が形成される。この
絶縁基板11の反対側にヒータ15が設けられている。2. Description of the Related Art Conventional odor sensors include an odor sensor using a sensitive film made of an organic substance, which is excellent in that it has high selectivity. However, once used, it loses sensitivity and is disposable and cannot be used repeatedly. An odor sensor using a metal oxide can be used repeatedly. That is, as shown in FIG.
A pair of electrodes 12 and 13 are provided on a heat-resistant insulating substrate 11, and a sensitive portion 14 made of a metal oxide sensitive to odorous gas is formed between the electrodes 12 and 13. A heater 15 is provided on the opposite side of the insulating substrate 11.
【0003】感応部14に臭いガスが吸着すると電極1
2,13間の電気抵抗が変化し、臭いガスを検出するこ
とができる。この検出感度を高めるために、感応部14
の温度を例えば150℃程度に上げていた方がよい。そ
の点でヒータ15を常時ある程度加熱しておくとよい。
また一度感応部14に臭いガスが吸着した後にこれを消
去するには、感応部14が例えば400℃になる程度
に、ヒータ15をかなり高い温度に加熱することによっ
て、その吸着したガスを感応部14から放出することが
できる。このためヒータ15によってそのような高温に
感応部14を上げることにより繰り返し使用することが
可能となる。When an odor gas is adsorbed on the sensitive part 14, the electrode 1
The electric resistance between 2 and 13 changes, and odorous gas can be detected. In order to increase the detection sensitivity, the sensitive unit 14
Is preferably raised to, for example, about 150 ° C. At this point, it is preferable to always heat the heater 15 to some extent.
In order to erase the odor gas once it has been adsorbed on the sensitive part 14, the heater 15 is heated to a considerably high temperature so that the sensitive part 14 becomes, for example, 400 ° C. 14 can be released. Therefore, it is possible to use the heater 15 repeatedly by raising the sensitive portion 14 to such a high temperature by the heater 15.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】図3に示した従来の臭
いセンサにおいては、検出感度を上げるために感応部1
4の温度を加熱する場合においても、絶縁基板11を含
む全体を例えば150℃に常時加熱する必要があり、消
費電力が大きかった。また、感応部14を再生するた
め、つまり吸着した臭いガスを放散させるためには、感
応部14を400℃にも高温にする必要があり、この素
子全体をかなり高い温度に上げることになり、大きな消
費電力を必要とし、ヒータ15自体も比較的大容量、か
つ、大形のものとなり、さらに、臭いセンサが出火の原
因となる恐れもあった。In the conventional odor sensor shown in FIG. 3, in order to increase the detection sensitivity, the sensitive portion 1
Even in the case of heating the temperature of No. 4, it was necessary to constantly heat the whole including the insulating substrate 11 to, for example, 150 ° C., and the power consumption was large. Further, in order to regenerate the sensitive part 14, that is, to diffuse the adsorbed odor gas, it is necessary to raise the temperature of the sensitive part 14 to 400 ° C. A large power consumption is required, the heater 15 itself has a relatively large capacity and a large size, and the odor sensor may cause a fire.
【0005】この発明の目的は、電力消費が少なく小型
で再使用が可能な、つまり連続使用が可能な臭いセンサ
を提供することにある。An object of the present invention is to provide an odor sensor that consumes little power, is small and can be reused, that is, can be used continuously.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】この発明によれば、耐熱
性の絶縁基板上に一対の電極が形成され、これら電極間
に渡って金属酸化物半導体層が形成され、その金属酸化
物半導体層上に金属酸化物絶縁膜が形成され、さらにそ
の上に臭いガスに感応する金属酸化物膜が形成されてい
る。According to the present invention, a pair of electrodes are formed on a heat-resistant insulating substrate, a metal oxide semiconductor layer is formed between the electrodes, and the metal oxide semiconductor layer is formed. A metal oxide insulating film is formed thereon, and a metal oxide film sensitive to an odor gas is formed thereon.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】図1にこの発明の実施例を示す。
アルミナのような耐熱性の絶縁基板21上に間隔を持っ
て電極22,23が形成される。これら電極22,23
間に、金属酸化物半導体層24、例えば酸化ニッケル、
インジウム酸錫などが形成される。その半導体層24上
に酸化物絶縁膜25が形成される。酸化物絶縁膜として
は、例えば、チタン酸ニッケル、酸化アルミニウムが形
成され、これはいわゆるゲート絶縁膜を構成している。
その上に臭いガス感応性の金属酸化絶縁膜、つまり感応
膜26が形成される。この感応膜26は図3に示した従
来の素子中の感応部14と同様なものが使用でき、つま
り酸化錫、酸化インジウム、酸化亜鉛などが印刷技術に
より形成される。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention.
Electrodes 22 and 23 are formed on a heat-resistant insulating substrate 21 such as alumina at intervals. These electrodes 22, 23
In between, a metal oxide semiconductor layer 24, for example, nickel oxide,
For example, tin indium oxide is formed. An oxide insulating film 25 is formed on the semiconductor layer 24. As the oxide insulating film, for example, nickel titanate and aluminum oxide are formed, which constitute a so-called gate insulating film.
An odor gas-sensitive metal oxide insulating film, that is, a sensitive film 26 is formed thereon. As the sensitive film 26, the same as the sensitive portion 14 in the conventional device shown in FIG. 3 can be used, that is, tin oxide, indium oxide, zinc oxide, etc. are formed by a printing technique.
【0008】この実施例においては電極22,23、金
属酸化物半導体層24、金属酸化物絶縁膜25、金属酸
化物感応膜26からなる臭い検出素子28A〜28Gが
同一行程で、同一大きさ、形状、構造で複数形成され、
ただ感応膜26が互いに異なるガスに感応するように、
互いに異なった膜が使用されている。さらにこの例では
この感応膜として臭いガスに対する感度が他のものに比
べて十分低い参照膜29が形成された参照素子31が1
個構成されている。つまり検出素子28の7個と1個の
参照素子31とは同一絶縁基板21上に同時に形成さ
れ、ただ一番上の感応膜26、参照膜29の組成や膜厚
がそれぞれ互いに異ならされているだけであり、その他
の部分の構造、及び材質などは同じものが用いられてい
る。In this embodiment, the odor detecting elements 28A to 28G composed of the electrodes 22, 23, the metal oxide semiconductor layer 24, the metal oxide insulating film 25, and the metal oxide sensitive film 26 have the same process, the same size, Formed in multiple shapes and structures,
Just so that the sensitive film 26 is sensitive to different gases,
Different membranes are used. Further, in this example, the reference element 31 on which the reference film 29 having a sufficiently low sensitivity to the odorous gas as compared with the others is formed as one of the sensitive films.
Are configured. That is, seven of the detection elements 28 and one reference element 31 are formed simultaneously on the same insulating substrate 21, and only the composition and thickness of the uppermost sensitive film 26 and reference film 29 are different from each other. However, the same structure and material are used for the other parts.
【0009】この実施例では、電極23は共通電極とさ
れ、従って互いに近づいている素子、この例では4つの
素子の電極23は共通に形成される。電極22はそれぞ
れ独立しており、この電極22と電極23の間に電圧が
印加されて、感応膜26、参照膜31がそれぞれゲート
電極として作用し、絶縁膜25はゲート絶縁膜として作
用し、金属酸化物半導体層24の絶縁膜25の境界近く
においてチャネルが構成され、いわゆるMIS型の半導
体素子と同様の構造とされている。In this embodiment, the electrode 23 is a common electrode, so that the electrodes 23 of the elements approaching each other, in this example, four elements, are formed in common. The electrodes 22 are independent from each other, a voltage is applied between the electrodes 22 and 23, the sensitive film 26 and the reference film 31 each act as a gate electrode, and the insulating film 25 acts as a gate insulating film. A channel is formed near the boundary of the insulating film 25 of the metal oxide semiconductor layer 24, and has a structure similar to that of a so-called MIS type semiconductor element.
【0010】半導体層24の製作方法としては、溶液
法、スパッタ法、CVD法などを用いることができる
が、半導体層領域のみを選択的に成膜できる溶液法が製
作し易い。この場合、写真製版技術を用いて、半導体膜
の不要な部分をマスクして、半導体層を塗布し、その後
マスク部を除去することで、必要な部分に半導体層24
を製作することができる。この半導体層24の膜厚は、
数十nm〜1μmであり、一例として100nmの膜が
用いられる。As a method of manufacturing the semiconductor layer 24, a solution method, a sputtering method, a CVD method, or the like can be used. However, a solution method capable of selectively forming a film only in the semiconductor layer region is easily manufactured. In this case, an unnecessary portion of the semiconductor film is masked using a photoengraving technique, a semiconductor layer is applied, and then the mask portion is removed.
Can be manufactured. The thickness of the semiconductor layer 24 is
A film having a thickness of several tens nm to 1 μm, for example, 100 nm is used.
【0011】絶縁膜25の製作方法も同様に溶液法、ス
パッタ法、CVD法などを用いることができるが、膜特
性が優れるスパッタ法で製作するのが好ましい。この場
合予め、成膜する部分をくりぬいたステンレスマスクを
基板上に重ねてから、スパッタすることにより、必要な
部分にのみスパッタ膜を形成することで必要な部分にの
みに絶縁膜25を得る。この膜厚は薄い方が応答性がよ
くなるが、反面ピンホールなどによる絶縁特性の低下が
起こるため、数nm〜100nm程度の厚さであり、一
例として20nmの膜が用いられる。The insulating film 25 can be similarly manufactured by a solution method, a sputtering method, a CVD method, or the like, but is preferably manufactured by a sputtering method having excellent film characteristics. In this case, a stainless steel mask in which a portion to be formed is cut out is superimposed on the substrate in advance, and then a sputter film is formed only on a necessary portion by sputtering, thereby obtaining an insulating film 25 only on a necessary portion. The thinner the film, the better the responsiveness, but on the other hand, the insulation properties are reduced due to pinholes and the like, so that the thickness is about several nm to 100 nm, for example, a 20 nm film is used.
【0012】感応膜26の製造方法も同様に溶液法、ス
パッタ法、CVD法などを用いることができる。製造設
備コストがもっとも低い溶液法で製作の場合は、写真製
版技術を用いて、半導体膜の不要な部分をマスクして感
応膜材料を塗布し、マスク部を除去することで、必要な
部分に感応膜26を得る。この膜厚は、測定対象のガス
濃度により、数nm〜数μm程度変化させる。膜厚が薄
いほど低濃度での応答特性が優れるが、反面高濃度では
飽和してしまうため、濃度を測定することができない。
例えばある感応膜に15nmの厚さの酸化錫を用い、他
の感応膜にはより高濃度のガスが測定できるように厚さ
を800nmとして用いられることもある。The method for manufacturing the sensitive film 26 can be a solution method, a sputtering method, a CVD method, or the like. In the case of manufacturing by the solution method with the lowest manufacturing equipment cost, the unnecessary parts of the semiconductor film are masked using a photoengraving technique, the sensitive film material is applied, and the mask part is removed, and the necessary parts are removed. The sensitive film 26 is obtained. This film thickness is changed by several nm to several μm depending on the concentration of the gas to be measured. The thinner the film thickness, the better the response characteristics at low concentrations, but on the other hand, it saturates at high concentrations, so that the concentration cannot be measured.
For example, there is a case where tin oxide having a thickness of 15 nm is used for one sensitive film, and a thickness of 800 nm is used for another sensitive film so that a higher concentration gas can be measured.
【0013】感応膜26に感応する臭いガスが吸着され
ると、対応する素子28の電極22,23間の抵抗値が
変化し、つまりこれら電極22,23間を流れる電流値
が変化して、その臭いガスを検出することができる。吸
着した臭いガスを放出し、くりかえし、つまり連続使用
するためには、例えば図2Aに示すように電極22,2
3間に電圧をパルス状に印加し、このパルス電圧が印加
されている間電流が流れ、その各素子28,31はチャ
ネル部分が局部的に加熱されて、感応膜26および参照
膜29の温度が図2Bに示すようにほぼ400℃程度に
上昇する。そしてパルス電圧の印加が停止すると温度が
150℃程度まで下がるが、再びパルス電圧が印加され
ると再び温度が上昇するような状態になる。このような
状態で使用し、この電圧パルスが印加されてない間の温
度が150℃程度の感度が高い状態において臭いガスの
到来の検出を行う。臭いガスがきていない状態において
は電極22,23の間にはこの温度と同様な波形で変化
する電流が図2Cに示すように流れる。When the odorous gas sensitive to the sensitive film 26 is adsorbed, the resistance value between the electrodes 22 and 23 of the corresponding element 28 changes, that is, the current value flowing between these electrodes 22 and 23 changes, The odorous gas can be detected. In order to release the adsorbed odor gas and repeat it, that is, to continuously use it, for example, as shown in FIG.
A voltage is applied in the form of a pulse between the electrodes 3 and a current flows while the pulse voltage is being applied. In each of the elements 28 and 31, the channel portion is locally heated, and the temperature of the sensitive film 26 and the reference film 29 is increased. Rises to about 400 ° C. as shown in FIG. 2B. When the application of the pulse voltage is stopped, the temperature drops to about 150 ° C., but when the pulse voltage is applied again, the temperature rises again. It is used in such a state, and the arrival of the odorous gas is detected in a state where the temperature is about 150 ° C. and the sensitivity is high while the voltage pulse is not applied. When no odorous gas is present, a current varying with a waveform similar to this temperature flows between the electrodes 22 and 23 as shown in FIG. 2C.
【0014】各素子の臭いガスが到来していない状態に
おいて、かつ、測定温度、(この例においては150℃
程度)における流れる電流をI0 とし、臭いガスが到来
したときの電流をIとし、そのI/I0 を測定するもの
とする。例えばあるガスAが到来すると、図2D〜Fに
示すように二つの検出素子28A,Bと参照素子31に
おけるこの値はそれぞれ上昇するが、検出素子28Aの
検出電流が大きく変化し、検出素子28Bの変化はこれ
より小であり、参照素子31の検出電流の変化はわずか
である。In the state where the odor gas of each element has not arrived, and at the measurement temperature (in this example, 150 ° C.)
The current flowing in the degree) and I 0, a current when the smell gas has arrived and I, shall be measured its I / I 0. For example, when a certain gas A arrives, as shown in FIGS. 2D to 2F, the values of the two detection elements 28A and B and the reference element 31 respectively increase, but the detection current of the detection element 28A greatly changes, and the detection element 28B Is smaller than this, and the change in the detection current of the reference element 31 is slight.
【0015】一方別のガスBが到来すると検出素子28
Aの方の電流上昇は少なく、検出素子28Bの方の電流
が大きく変化し、参照素子31に対する電流変化は臭い
ガスAと同程度である。例えば第1検出素子28の感応
膜は酸化錫であり、第2検出素子28の感応膜は酸化亜
鉛である。このようにして各種の臭いガスを検出するこ
とが可能となる。On the other hand, when another gas B arrives, the detecting element 28
The current rise in A is small, the current in the detection element 28B changes greatly, and the change in current with respect to the reference element 31 is about the same as that of the odor gas A. For example, the sensitive film of the first detecting element 28 is tin oxide, and the sensitive film of the second detecting element 28 is zinc oxide. In this way, various odorous gases can be detected.
【0016】またこの種の素子、つまりMIS素子は一
般に周囲温度の影響を受けたり経年変化による表面の組
成変化などで性能が低下する、いわゆるドリフトが生じ
るが、この例では参照素子31を設けており、これにも
同様のドリフトが生じるため、参照素子と各検出素子と
の検出値の差をとることによりそのドリフトの影響を除
去することができる。同様に参照素子31を設けること
によっって、低温度時の雑ガス吸着及び水蒸気の影響を
極力おさえて、目的とする臭いガスの検出を有効に行う
ことができる。This kind of element, that is, a MIS element generally suffers from so-called drift in which the performance is deteriorated due to the influence of the ambient temperature or a change in the surface composition due to aging, etc. In this example, a reference element 31 is provided. Since the same drift occurs in this case, the influence of the drift can be eliminated by calculating the difference between the detection values of the reference element and each detection element. Similarly, by providing the reference element 31, it is possible to effectively detect a target odor gas while minimizing the influence of miscellaneous gas adsorption and water vapor at a low temperature.
【0017】本実施例では7つの検出素子28A〜28
Gに対して1つの参照素子31を用いてその比較を行っ
たが、検出素子28と参照素子31を1対1になるよう
に設けてその比較を行わせるようにすれば、さらに高精
度にドリフトの影響を除去できる。例えば、検出素子2
8Aが被検ガスAに感度が高いセンサ素子とし、それに
対して検出素子28Bを参照素子として用いて同じ被検
ガスAに対して感度が低いセンサ素子とする。同様に検
出素子28Dに被検ガスBに感度が高いセンサ素子と
し、それに対して検出素子28Eを参照素子として用い
て同じ被検ガスBに対して感度が低いセンサ素子とす
る。In this embodiment, seven detecting elements 28A to 28A
The comparison was performed using one reference element 31 with respect to G. However, if the detection element 28 and the reference element 31 are provided so as to be one-to-one and the comparison is performed, the accuracy can be further improved. The effect of drift can be eliminated. For example, detecting element 2
8A is a sensor element having a high sensitivity to the test gas A, while a sensor element having a low sensitivity to the same test gas A is used by using the detection element 28B as a reference element. Similarly, a sensor element having high sensitivity to the test gas B is used as the detection element 28D, and a sensor element having low sensitivity to the same test gas B is used by using the detection element 28E as a reference element.
【0018】また、本実施例では参照素子31の参照膜
29の感度は、他の感応膜26の感度に比べて低いもの
とされているが、逆に高くても良い。つまり、検出素子
と参照素子との差がとれる程度に感度が異なっていれば
良い。なお、参照膜の感度が十分低くされているという
表現はこのことを示している。Further, in the present embodiment, the sensitivity of the reference film 29 of the reference element 31 is lower than the sensitivity of the other sensitive films 26, but may be higher. That is, it is only necessary that the sensitivities differ to such an extent that the difference between the detection element and the reference element can be obtained. The expression that the sensitivity of the reference film is sufficiently low indicates this.
【0019】[0019]
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、吸
着ガスを放出させ、繰り返し、つまり連続的に使用が可
能であり、しかもその場合ゲート絶縁膜、つまり金属酸
化絶縁膜25は例えば、500Å程度の非常に薄い膜で
あり、従って電極22,23間にわずかの電流を流して
チャネル部分である金属酸化物半導体層24を局所的に
加熱すれば、感応膜26も加熱され、感度を上げること
ができるとともにまた吸着ガスを放出するために高温に
することも、少ない電力で行うことも可能であり、か
つ、全体としての構成も大きなヒータを必要とせず、小
さな形状とすることができる。As described above, according to the present invention, the adsorbed gas can be released and can be used repeatedly, that is, continuously, and in that case, the gate insulating film, that is, the metal oxide insulating film 25 can It is a very thin film of about 500 °. Therefore, if a small amount of current is passed between the electrodes 22 and 23 to locally heat the metal oxide semiconductor layer 24 which is a channel portion, the sensitive film 26 is also heated and the sensitivity is increased. In addition, the temperature can be raised to release the adsorbed gas, the temperature can be increased, and the operation can be performed with low power. Further, the overall configuration does not require a large heater and can be formed in a small shape. .
【0020】さらに参照素子を設けることにより、経年
変化に基づくドリフトの影響や水蒸気、非検出対象ガス
の影響を避けることができる。かつ、素子構成が簡単で
印刷技術の応用で制作することができ、量産性に富み、
安価に作ることができる。Further, by providing the reference element, it is possible to avoid the influence of drift due to aging and the influence of water vapor and a non-detection target gas. In addition, the element configuration is simple, it can be produced by applying printing technology, and it is rich in mass productivity,
It can be made cheaply.
【図1】Aはこの発明の実施例を示す平面図、Bはその
断面図である。FIG. 1A is a plan view showing an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a sectional view thereof.
【図2】Aは電極間に印加する電圧、Bは素子の温度、
Cは電極間に流れる電流、D、E、Fはそれぞれ第1、
第2検出素子、参照素子の各異なるガスに対する感度を
示す図。2A is a voltage applied between electrodes, B is a temperature of an element, FIG.
C is the current flowing between the electrodes, D, E and F are the first, respectively.
The figure which shows the sensitivity with respect to each different gas of a 2nd detection element and a reference element.
【図3】従来の臭いセンサを示す図。FIG. 3 is a diagram showing a conventional odor sensor.
Claims (3)
と、 その両電極間にまたがって形成された金属酸化物半導体
層と、 上記金属酸化物半導体層上に形成された金属酸化物絶縁
膜と、 その金属酸化物絶縁膜上に形成された臭いガス感応性金
属酸化物膜と、を具備する臭いセンサ。An insulating substrate; a pair of electrodes formed at intervals on the insulating substrate; a metal oxide semiconductor layer formed between the two electrodes; An odor sensor comprising: a metal oxide insulating film formed on a substrate; and an odor gas-sensitive metal oxide film formed on the metal oxide insulating film.
電極、上記金属酸化物半導体層、上記金属酸化物絶縁膜
と同一構造を有し、その金属酸化物絶縁膜上に、上記臭
いガス感応性金属酸化物膜と臭いガスに対する感応性が
異なる参照用金属膜が形成された参照素子を具備するこ
とを特徴とする請求項1記載の臭いセンサ。2. The odorous gas formed on the insulating substrate and having the same structure as the pair of electrodes, the metal oxide semiconductor layer, and the metal oxide insulating film. The odor sensor according to claim 1, further comprising a reference element on which a reference metal film having a different sensitivity to an odor gas from the responsive metal oxide film is formed.
上記金属酸化物半導体層と、上記金属酸化物絶縁膜と、
上記臭いガス感応性金属酸化物とよりなる複数の素子が
形成され、上記臭いガス感応性金属酸化物膜は互いに異
なる臭いガスに対し感応するように形成されていること
を特徴とする請求項1または2記載の臭いセンサ。3. The pair of electrodes on the insulating substrate,
The metal oxide semiconductor layer, the metal oxide insulating film,
A plurality of elements comprising the odor gas-sensitive metal oxide are formed, and the odor gas-sensitive metal oxide film is formed to be sensitive to different odor gases. Or the odor sensor according to 2.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15132598A JPH11344457A (en) | 1998-06-01 | 1998-06-01 | Smell sensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15132598A JPH11344457A (en) | 1998-06-01 | 1998-06-01 | Smell sensor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH11344457A true JPH11344457A (en) | 1999-12-14 |
Family
ID=15516152
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15132598A Pending JPH11344457A (en) | 1998-06-01 | 1998-06-01 | Smell sensor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11344457A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003324206A (en) * | 2002-04-30 | 2003-11-14 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | Photovoltaic cell for converting ultraviolet radiation to electric power, and method of manufacturing the same |
JP2007292780A (en) * | 2001-02-21 | 2007-11-08 | Embrapa-Empresa Brasileira De Pesquisa Agropecuaria | Sensor for analyzing mixture by wide area selectivity, and use of sensor in sensor system |
CN104764773A (en) * | 2015-04-20 | 2015-07-08 | 中国科学院电子学研究所 | Cantilever beam type metal oxide detector and manufacturing method thereof |
-
1998
- 1998-06-01 JP JP15132598A patent/JPH11344457A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007292780A (en) * | 2001-02-21 | 2007-11-08 | Embrapa-Empresa Brasileira De Pesquisa Agropecuaria | Sensor for analyzing mixture by wide area selectivity, and use of sensor in sensor system |
JP2003324206A (en) * | 2002-04-30 | 2003-11-14 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | Photovoltaic cell for converting ultraviolet radiation to electric power, and method of manufacturing the same |
CN104764773A (en) * | 2015-04-20 | 2015-07-08 | 中国科学院电子学研究所 | Cantilever beam type metal oxide detector and manufacturing method thereof |
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