JPH11232628A - 磁気ディスク用ガラス基板 - Google Patents
磁気ディスク用ガラス基板Info
- Publication number
- JPH11232628A JPH11232628A JP36798897A JP36798897A JPH11232628A JP H11232628 A JPH11232628 A JP H11232628A JP 36798897 A JP36798897 A JP 36798897A JP 36798897 A JP36798897 A JP 36798897A JP H11232628 A JPH11232628 A JP H11232628A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mgo
- weight
- glass substrate
- magnetic disk
- sio
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Glass Compositions (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明の磁気ディスク用ガラス基板は、磁気
ヘッドの低浮上化を達成すると共に、ディスク基板の回
転安定性を与えるものである。 【構成】 非晶質性でヤング率が8500kg/mm2
以上である。そして、これは、SiO2 −Al2 O3 −
MgO系非晶質体の成分からなるものであるほうがよ
く、さらに、成分がSiO2 :50〜70重量%、Mg
O:5〜25重量%、ZrO2 :1〜10重量%、アル
カリ成分(ここで、アルカリ成分とは、K2O、Na2
O、Li2 Oのうち少なくとも1種以上を含む。):5
〜15重量%、Al2 O3 :5〜30重量%からなり、
且つ(Al2 O3 /MgO)≧0.7又は(SiO2 /
(Al2 O3 +MgO))≧2.0の少なくとも一方を
満たすものであるほうがよい。
ヘッドの低浮上化を達成すると共に、ディスク基板の回
転安定性を与えるものである。 【構成】 非晶質性でヤング率が8500kg/mm2
以上である。そして、これは、SiO2 −Al2 O3 −
MgO系非晶質体の成分からなるものであるほうがよ
く、さらに、成分がSiO2 :50〜70重量%、Mg
O:5〜25重量%、ZrO2 :1〜10重量%、アル
カリ成分(ここで、アルカリ成分とは、K2O、Na2
O、Li2 Oのうち少なくとも1種以上を含む。):5
〜15重量%、Al2 O3 :5〜30重量%からなり、
且つ(Al2 O3 /MgO)≧0.7又は(SiO2 /
(Al2 O3 +MgO))≧2.0の少なくとも一方を
満たすものであるほうがよい。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気記録媒体用のガラ
スディスク基板に関するものである。
スディスク基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気記録媒体用のディスク基板
は、アルミ製基板やカーボン製基板、ポリカーボネート
基板などにより提供されてきたが、近年ハードディスク
の記憶容量の増大化に伴い、表面平滑性が優れることか
ら、この要求に答えられる可能性を持ち、しかも低コス
トが期待できることにより、ガラス製基板が注目されて
いる。研磨技術の発展に伴い、ガラス製基板の表面平滑
性は、結晶粒界が存在しないため、理論的には限りなく
表面粗さを低下させることが可能であるからである。つ
まり、ディスク基板上に凹凸が減少し、磁気記録媒体部
分と読み取りヘッドの距離(フライングハイトとい
う。)を低下させる事が可能となり、それにより記録密
度はアップし、記録容量の増加につながっている。しか
し、さらなる記憶容量増加のためには、ディスク基板の
高速回転化とフライングハイトの現状以上の低下が考え
られるが、現状のガラス材料を用いたディスク基板で
は、安定したディスクの高速回転化が不可能であった。
回転時のディスク基板の振動によりヘッドの突き上げが
発生し、読み取りエラーが起こるためである。そのた
め、より磁気ヘッドの低浮上化を達成することができる
ようにする一方で、現ディスク用のガラス基板の有利性
を損なわずにこの読み取りエラーを回避することが求め
られていた。
は、アルミ製基板やカーボン製基板、ポリカーボネート
基板などにより提供されてきたが、近年ハードディスク
の記憶容量の増大化に伴い、表面平滑性が優れることか
ら、この要求に答えられる可能性を持ち、しかも低コス
トが期待できることにより、ガラス製基板が注目されて
いる。研磨技術の発展に伴い、ガラス製基板の表面平滑
性は、結晶粒界が存在しないため、理論的には限りなく
表面粗さを低下させることが可能であるからである。つ
まり、ディスク基板上に凹凸が減少し、磁気記録媒体部
分と読み取りヘッドの距離(フライングハイトとい
う。)を低下させる事が可能となり、それにより記録密
度はアップし、記録容量の増加につながっている。しか
し、さらなる記憶容量増加のためには、ディスク基板の
高速回転化とフライングハイトの現状以上の低下が考え
られるが、現状のガラス材料を用いたディスク基板で
は、安定したディスクの高速回転化が不可能であった。
回転時のディスク基板の振動によりヘッドの突き上げが
発生し、読み取りエラーが起こるためである。そのた
め、より磁気ヘッドの低浮上化を達成することができる
ようにする一方で、現ディスク用のガラス基板の有利性
を損なわずにこの読み取りエラーを回避することが求め
られていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記した従来
の問題点を解決して、磁気ヘッドの低浮上化を達成する
と共に、ディスク基板の回転安定性を与えるものであ
る。
の問題点を解決して、磁気ヘッドの低浮上化を達成する
と共に、ディスク基板の回転安定性を与えるものであ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになされた本発明の磁気ディスク用ガラス基板は、非
晶質性でヤング率が8500kg/mm2 以上であるこ
とを特徴とするものである。そして、これは、SiO2
−Al2 O3 −MgO系非晶質体の成分からなることを
特徴とし、特には、非晶質体の成分がSiO2 :50〜
70重量%、MgO:5〜25重量%、ZrO2 :1〜
10重量%、アルカリ成分(ここで、アルカリ成分と
は、K2 O、Na2 O、Li2 Oのうち少なくとも1種
以上を含む。):5〜15重量%、Al2 O3 :5〜3
0重量%からなり、且つ(Al2 O3 /MgO)≧0.
7又は(SiO2 /(Al2 O3 +MgO))≧2.0
の少なくとも一方を満たすものであるほうがよい。付加
成分としてSc、Y、La、Ce、Nd、Eu、Sm、
Prの酸化物を少なくとも1種以上含む原料粉末を0.
1〜10重量%で置換したものである。
めになされた本発明の磁気ディスク用ガラス基板は、非
晶質性でヤング率が8500kg/mm2 以上であるこ
とを特徴とするものである。そして、これは、SiO2
−Al2 O3 −MgO系非晶質体の成分からなることを
特徴とし、特には、非晶質体の成分がSiO2 :50〜
70重量%、MgO:5〜25重量%、ZrO2 :1〜
10重量%、アルカリ成分(ここで、アルカリ成分と
は、K2 O、Na2 O、Li2 Oのうち少なくとも1種
以上を含む。):5〜15重量%、Al2 O3 :5〜3
0重量%からなり、且つ(Al2 O3 /MgO)≧0.
7又は(SiO2 /(Al2 O3 +MgO))≧2.0
の少なくとも一方を満たすものであるほうがよい。付加
成分としてSc、Y、La、Ce、Nd、Eu、Sm、
Prの酸化物を少なくとも1種以上含む原料粉末を0.
1〜10重量%で置換したものである。
【0005】
【発明実施の形態】本発明者は特にヤング率に注目し、
それが特定以上であれば、磁気ヘッドのさらなる低浮上
化が図れることを見い出したことにより、本発明を成し
得たものである。すなわち、ヤング率が8500kg/
mm2 以上であるのは、従来のヤング率8000〜85
00kg/mm2 であると、現状ディスク回転時に回転
たわみが生じ、ヘッドと基板が衝突し、読み取りエラー
を生じさせる可能性があるからである。さらには、90
00kg/mm2 以上であればよりよい。基板は、非晶
質体であれば特に限定されるものではないが、最も好適
な組成としては、SiO2 −Al2 O3 −MgO系のも
のが用いられる。なお、ここにおいて示すSiO2 −A
l2 O3 −MgO系というのは、3成分のみからなるこ
とを意味するものではなく、他成分が加えられる場合も
当然に含むものである。
それが特定以上であれば、磁気ヘッドのさらなる低浮上
化が図れることを見い出したことにより、本発明を成し
得たものである。すなわち、ヤング率が8500kg/
mm2 以上であるのは、従来のヤング率8000〜85
00kg/mm2 であると、現状ディスク回転時に回転
たわみが生じ、ヘッドと基板が衝突し、読み取りエラー
を生じさせる可能性があるからである。さらには、90
00kg/mm2 以上であればよりよい。基板は、非晶
質体であれば特に限定されるものではないが、最も好適
な組成としては、SiO2 −Al2 O3 −MgO系のも
のが用いられる。なお、ここにおいて示すSiO2 −A
l2 O3 −MgO系というのは、3成分のみからなるこ
とを意味するものではなく、他成分が加えられる場合も
当然に含むものである。
【0006】最も好ましい組成範囲は、SiO2 :50
〜70重量%、MgO:5〜25重量%、ZrO2 :1
〜10重量%、アルカリ成分(ここで、アルカリ成分と
は、K2 O、Na2 O、Li2 Oのうち少なくとも1種
以上を含む。):5〜15重量%、Al2 O3 :5〜3
0重量%からなり、且つ(Al2 O3 /MgO)≧0.
7及び/又は(SiO2 /(Al2 O3 +MgO))≧
2.0を満たすものである。このうち、非晶質体の成分
がSiO2 :50〜70重量%、MgO:5〜25重量
%、ZrO2 :1〜10重量%、アルカリ成分:5〜1
5重量%、Al2 O3 :5〜30重量%からなる理由
は、SiO2 が、50重量%以下であると、ガラス化し
にくく耐化学性が悪化するからであり、逆に70重量%
を超えると、溶融温度の上昇で生産性が悪いからであ
る。Al2 O3 も同様に5重量%以下では、ガラス化し
にくく耐化学性が悪化するからであり、逆に30重量%
を超えると、溶融温度の上昇で生産性が悪いからであ
る。MgOが5重量%以下であると、一般的に作業温度
域が狭く、成形性が悪くなる。25重量%以上では、ガ
ラスの失透性が高くなる。ZrO2 が1重量%以下で
は、耐化学性が悪化し、10重量%以上では、失透性が
高く、溶融温度も上昇する。アルカリ成分は、K2 O、
Na2 O、Li2 Oのうち少なくとも1種以上を含めば
よいが、5重量%以下では、溶融性が悪く泡切れも悪い
からであり、15重量%以上では、耐化学性が悪化する
からである。この他、Sc、Y、La、Ce、Nd、E
u、Sm、Prの酸化物を加えるとより、よいが、この
成分は、0.1〜10重量%の範囲内に限られる。0.
1重量%以下では、剛性アップの効果が少なく、逆に1
0重量%以上では、ガラス化しにくく、また、コスト高
になってしまうからである。
〜70重量%、MgO:5〜25重量%、ZrO2 :1
〜10重量%、アルカリ成分(ここで、アルカリ成分と
は、K2 O、Na2 O、Li2 Oのうち少なくとも1種
以上を含む。):5〜15重量%、Al2 O3 :5〜3
0重量%からなり、且つ(Al2 O3 /MgO)≧0.
7及び/又は(SiO2 /(Al2 O3 +MgO))≧
2.0を満たすものである。このうち、非晶質体の成分
がSiO2 :50〜70重量%、MgO:5〜25重量
%、ZrO2 :1〜10重量%、アルカリ成分:5〜1
5重量%、Al2 O3 :5〜30重量%からなる理由
は、SiO2 が、50重量%以下であると、ガラス化し
にくく耐化学性が悪化するからであり、逆に70重量%
を超えると、溶融温度の上昇で生産性が悪いからであ
る。Al2 O3 も同様に5重量%以下では、ガラス化し
にくく耐化学性が悪化するからであり、逆に30重量%
を超えると、溶融温度の上昇で生産性が悪いからであ
る。MgOが5重量%以下であると、一般的に作業温度
域が狭く、成形性が悪くなる。25重量%以上では、ガ
ラスの失透性が高くなる。ZrO2 が1重量%以下で
は、耐化学性が悪化し、10重量%以上では、失透性が
高く、溶融温度も上昇する。アルカリ成分は、K2 O、
Na2 O、Li2 Oのうち少なくとも1種以上を含めば
よいが、5重量%以下では、溶融性が悪く泡切れも悪い
からであり、15重量%以上では、耐化学性が悪化する
からである。この他、Sc、Y、La、Ce、Nd、E
u、Sm、Prの酸化物を加えるとより、よいが、この
成分は、0.1〜10重量%の範囲内に限られる。0.
1重量%以下では、剛性アップの効果が少なく、逆に1
0重量%以上では、ガラス化しにくく、また、コスト高
になってしまうからである。
【0007】(実施例1)表1に示すような所定の組成
比(いずれも重量%表示)で、ガラス原料を粉末で混合
した。供給原料はそれぞれシリカ、アルミナ、マグネシ
ア、ジルコニア、炭酸ソーダ、亜鉛華、ホウ砂、硝曹、
炭酸カリウム、炭酸リシウム、またスカンジウム、イッ
トリウム、サマリウム、ランタン、セリウム、ネオジウ
ム、ユーロビウム、エルビウムは酸化物を使用した。そ
れぞれの組成について、(Al2 O3 /MgO)及び
(SiO2 /(Al2 O3 +MgO))の計算値を示し
た。その他の成分は、スカンジウム、イットリウム、サ
マリウム、ランタン、セリウム、ネオジウム、ユーロビ
ウム、エルビウムのいずれかであり、表中には例えば、
イットリウムが5重量%含む場合はY5、ランタンが5
重量%含む場合はLa5として示した。これらを溶融
し、ガラス化させた。それぞれについてヤング率を測定
した。その結果も合わせて表1に表示した。なお、表
中、“***”印は、成形時に失透したもの。
比(いずれも重量%表示)で、ガラス原料を粉末で混合
した。供給原料はそれぞれシリカ、アルミナ、マグネシ
ア、ジルコニア、炭酸ソーダ、亜鉛華、ホウ砂、硝曹、
炭酸カリウム、炭酸リシウム、またスカンジウム、イッ
トリウム、サマリウム、ランタン、セリウム、ネオジウ
ム、ユーロビウム、エルビウムは酸化物を使用した。そ
れぞれの組成について、(Al2 O3 /MgO)及び
(SiO2 /(Al2 O3 +MgO))の計算値を示し
た。その他の成分は、スカンジウム、イットリウム、サ
マリウム、ランタン、セリウム、ネオジウム、ユーロビ
ウム、エルビウムのいずれかであり、表中には例えば、
イットリウムが5重量%含む場合はY5、ランタンが5
重量%含む場合はLa5として示した。これらを溶融
し、ガラス化させた。それぞれについてヤング率を測定
した。その結果も合わせて表1に表示した。なお、表
中、“***”印は、成形時に失透したもの。
【0008】
【表1】
【0009】(実施例2)実施例1で用いたガラスによ
り、3インチ用のディスク基板を常法により作成し、そ
れぞれについてフライングハイトを測定した。それをヤ
ング率に対するフライングハイト値として表2に示す。
なお、ヤング率の低下に伴い、読み取りエラーの発生し
ないミニマムフライングハイトは低下した。また、比較
例としてアルミディスクも同様にフライングハイトを測
定した。
り、3インチ用のディスク基板を常法により作成し、そ
れぞれについてフライングハイトを測定した。それをヤ
ング率に対するフライングハイト値として表2に示す。
なお、ヤング率の低下に伴い、読み取りエラーの発生し
ないミニマムフライングハイトは低下した。また、比較
例としてアルミディスクも同様にフライングハイトを測
定した。
【0010】
【表2】
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の磁気ディ
スク用ガラス基板は、その組成物のヤング率に注目する
ことにより、磁気ヘッドの低浮上化を達成すると共に、
ディスク基板の回転安定性を与えるものである。よって
本発明は従来の問題点を一掃した磁気ディスク用ガラス
基板として極めて大きい意義がある。
スク用ガラス基板は、その組成物のヤング率に注目する
ことにより、磁気ヘッドの低浮上化を達成すると共に、
ディスク基板の回転安定性を与えるものである。よって
本発明は従来の問題点を一掃した磁気ディスク用ガラス
基板として極めて大きい意義がある。
Claims (4)
- 【請求項1】 ヤング率が8500kg/mm2 以上で
ある非晶質性磁気ディスク用ガラス基板。 - 【請求項2】 SiO2 −Al2 O3 −MgO系非晶質
体の成分からなることを特徴とする請求項1に記載の磁
気ディスク用ガラス基板。 - 【請求項3】 非晶質体の成分がSiO2 :50〜70
重量%、MgO:5〜25重量%、ZrO2 :1〜10
重量%、アルカリ成分(ここで、アルカリ成分とは、K
2 O、Na2 O、Li2 Oのうち少なくとも1種以上を
含む。):5〜15重量%、Al2 O3 :5〜30重量
%からなり、且つ(Al2 O3 /MgO)≧0.7又は
(SiO2 /(Al2 O3 +MgO))≧2.0の少な
くとも一方を満たすことを特徴とする請求項2に記載の
磁気ディスク用ガラス基板。 - 【請求項4】 Sc、Y、La、Ce、Nd、Eu、S
m、Prの酸化物を少なくとも1種以上含む原料粉末を
0.1〜10重量%で置換した請求項2又は3に記載の
磁気ディスク用ガラス基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36798897A JPH11232628A (ja) | 1997-12-12 | 1997-12-27 | 磁気ディスク用ガラス基板 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9-362929 | 1997-12-12 | ||
JP36292997 | 1997-12-12 | ||
JP36798897A JPH11232628A (ja) | 1997-12-12 | 1997-12-27 | 磁気ディスク用ガラス基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11232628A true JPH11232628A (ja) | 1999-08-27 |
Family
ID=26581437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP36798897A Pending JPH11232628A (ja) | 1997-12-12 | 1997-12-27 | 磁気ディスク用ガラス基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11232628A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002255585A (ja) * | 2001-03-01 | 2002-09-11 | Hitachi Ltd | 情報記録ディスク用ガラス基板及びそのガラス基板を用いた情報記録ディスク |
US8168313B2 (en) | 2009-04-02 | 2012-05-01 | Asahi Glass Company, Limited | Glass for information recording medium substrate, glass substrate for information recording medium and magnetic disk |
JP2017526607A (ja) * | 2014-09-09 | 2017-09-14 | ピーピージー・インダストリーズ・オハイオ・インコーポレイテッドPPG Industries Ohio,Inc. | ガラス組成物、線維化可能ガラス組成物、およびそれらから形成されるガラス繊維 |
-
1997
- 1997-12-27 JP JP36798897A patent/JPH11232628A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002255585A (ja) * | 2001-03-01 | 2002-09-11 | Hitachi Ltd | 情報記録ディスク用ガラス基板及びそのガラス基板を用いた情報記録ディスク |
US8168313B2 (en) | 2009-04-02 | 2012-05-01 | Asahi Glass Company, Limited | Glass for information recording medium substrate, glass substrate for information recording medium and magnetic disk |
JP2017526607A (ja) * | 2014-09-09 | 2017-09-14 | ピーピージー・インダストリーズ・オハイオ・インコーポレイテッドPPG Industries Ohio,Inc. | ガラス組成物、線維化可能ガラス組成物、およびそれらから形成されるガラス繊維 |
US10870602B2 (en) | 2014-09-09 | 2020-12-22 | Electric Glass Fiber America, LLC | Glass compositions, fiberizable glass compositions, and glass fibers made therefrom |
US11905199B2 (en) | 2014-09-09 | 2024-02-20 | Electric Glass Fiber America, LLC | Glass compositions, fiberizable glass compositions, and glass fibers made therefrom |
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