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JPH11153512A - 光ファイバ遅延時間差測定方法 - Google Patents

光ファイバ遅延時間差測定方法

Info

Publication number
JPH11153512A
JPH11153512A JP32178197A JP32178197A JPH11153512A JP H11153512 A JPH11153512 A JP H11153512A JP 32178197 A JP32178197 A JP 32178197A JP 32178197 A JP32178197 A JP 32178197A JP H11153512 A JPH11153512 A JP H11153512A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
delay time
time difference
intensity
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP32178197A
Other languages
English (en)
Inventor
Masateru Tadakuma
昌輝 忠隈
Osamu Aso
修 麻生
Haruki Ogoshi
春喜 大越
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
Priority to JP32178197A priority Critical patent/JPH11153512A/ja
Publication of JPH11153512A publication Critical patent/JPH11153512A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光源の不安定動作に伴って測定精度が変化
し、またパルス法で測定精度を高めると高速の測定機器
が必要となる。 【解決手段】 強度変調光を2以上に分岐して光路長の
異なる2以上の分岐経路1の各々に伝搬可能であり、こ
れら分岐経路1に伝搬させた2以上の強度変調光の合成
光強度を観測可能とした測定系において、前記各分岐経
路1に光ファイバ2を挿入した状態と挿入しない状態の
夫々で強度変調光の合成光強度を極小値にする強度変調
光の変調周波数fを見い出し、これら変調周波数fから
光ファイバ2を挿入した状態と光ファイバ2を挿入しな
い状態の夫々について分岐経路1間の遅延時間差を導出
し、光ファイバ2を挿入した状態での分岐経路1間の遅
延時間差と被測定光ファイバ2を挿入しない状態での分
岐経路1間の遅延時間差との差から各分岐経路1に挿入
された光ファイバ2間の遅延時間差を導出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明の光ファイバの遅延時
間差測定方法は例えば通信装置やコンピュータ間の信号
伝送に使用される光ファイバアレイ、光ファイバの評価
に利用できるものであり、伝搬光の遅延時間差(スキュ
ー:skew)を評価するためのものである。
【0002】
【従来の技術】近年、情報の大容量伝送・高速処理の観
点から光並列伝送が注目されている。コンピュータの論
理LSIの高集積・高性能化及びそれらの高密度実装技
術による大規模化、大容量交換システム等の情報処理の
進歩に伴い、通信装置、コンピュータシステム間の配線
技術の性能向上のために、光ファイバを使用した光イン
タコネクトが期待されている。この技術によれば、従来
用いられてきた同軸ケーブルの束を光ファイバアレイ
(複数本の光ファイバで構成される)に置き換えること
により、高速かつ高密度配線を軽量かつ細径で実現する
ことができる。光インターコネクトの基本方式は電気/
光変換アレイ(E/O )及び光/電気変換アレイ(O/E )
と光ファイバアレイ(Fiber array )を用いた多チャン
ネル並列同期伝送方式であり、各チャンネルにおいて同
一時刻に入力された電気信号が電気信号の出力側におい
てほぼ同時に出力される(遅延時間差(スキュー)が同
一である)心要がある。この遅延時間差は送信部での発
光時、受信部での受光時、電気回路、及び伝送用の光フ
ァイバで発生するが、装置間光インターコネクトでは光
ファイバによる伝送距離が数十m〜数百mと長くなるこ
ともあるため、光ファイバのスキューはシステムの性能
を決定する上で大きなウエイトを占める。一般に光イン
ターコネクトを使用したシステム全体のスキューを考慮
すると、伝送用の光ファイバに許容される信号のチャン
ネル間の遅延時間差は1ps/m 程度が目安とされている。
【0003】このようなことから光インタコネクト技術
で使用される多心光ファイバアレイにはスキューの小さ
いものが必要となり、このためには精度の高いスキュー
の評価方法が必要となる。多心光ファイバアレイのスキ
ューを評価する方法として、従来は、位相法、パルス法
(又は伝搬法とも呼ばれる)がある。
【0004】前記の位相法は正弦波変調した光を被測定
用光ファイバに伝搬させてその正弦波波形と基準となる
正弦波波形との位相角度差から光ファイバの遅延時間差
を測定する方法である。図8はこのための測定系であ
り、信号発生器Aで発生した正弦波電気信号を光源(E
/O変換器)Bに印加して被測定用光ファイバCに正弦
波変調光を伝搬させ、その伝搬光を受光器(O/E変換
器)Eを介して位相電圧計Fで観測し、同時に光源Bの
手前で分岐した信号発生器Aの正弦波電気信号(基準信
号となる)を位相電圧計Fで観測することにより、基準
信号に対する伝搬光の位相角度差を計測するものであ
る。この計測を複数の被測定用光ファイバCに対して順
次行うことにより、被測定用光ファイバ間の遅延時間差
(スキュー)を求めることができる。
【0005】前記のパルス法は光のパルスを被測定用光
ファイバに伝搬させてそのパルスと他の参照パルス(ト
リガ電気信号)とを同一時間軸上で対比してその位置関
係から光ファイバの遅延時間差を直接測定する方法であ
る。図9はこのための測定系であり、パルス発生器Hで
発生した信号を、光源(E/O変換器)Bと光オシロス
コープ(サンプリングオシロスコープ)Gとに出力し、
光源Bで発生されて被測定用の光ファイバCを伝搬した
光パルスと、パルス発生器Hからのトリガ電気信号とを
光オシロスコープ(サンプリングオシロスコープ)Gで
比較観測することにより、両者の時間軸上での位置情報
から光ファイバCを伝搬してきた光の遅延時間を測定す
る。さらに光ファイバCを他のものと交換して同様にし
てトリガ信号に対する遅延時間を測定し、先に測定した
光ファイバCと後に測定した光ファイバCとの遅延時間
差を、共通の基準であるトリガ信号を参考に導出するも
のである。
【0006】前記パルス法においては、J.lightwave.te
ch.,1994,Vol.12,No.2,p260 に図10の測定系を用いた
測定方法が報告されている。これはパルス信号発生器H
からのパルス電気信号を光源Bにおいて電気/光変換
し、その光パルス信号を光アイソレータKを通して光カ
プラJに入力し、そこで分岐された光信号を基準信号と
して参照ファイバIに伝搬させる方法である。参照ファ
イバIを伝搬した光パルスは被測定用の光ファイバCを
伝搬してきた光パルスとカプラJで合波されて受光部
(サンプリングオシロスコープ)Gでその合成波形が観
測される。このとき参照ファイバIとして測定対象の多
心光ファイバ中の1本を用いることにより、その参照フ
ァイバIに対する他の被測定光ファイバの遅延時間差を
導出することができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の位相法は測定誤
差要因をいくつか含むが、その一つに光源Bの不安定性
に伴うものがある。これは特に短波長領域(850nm )で
使用されるGIマルチモードファイバにおいて顕著とな
る。多数の伝搬モードを持つマルチモードファイバは単
一の伝搬モードしか持たないシングルモードファイバと
異なり、レーザ光源の発振横モードに不安定性がある
と、光ファイバ内での伝搬モードが変化してモード光の
伝送時間に変動が生じ、この結果、位相電圧計Fで観測
される波形の時間軸上の位置に変化が生じてしまう。こ
のため測定対象ファイバを順次他のものと交換して測定
している間にも測定値が変動してしまい、ファイバ間の
正確な遅延時間差を得ることができないという問題を持
つ。
【0008】パルス法も光源Bの不安定動作により、被
測定光ファイバCを伝搬した後にオシロスコープGで観
測される波形はオシロスコープGの掃引毎に時間的な位
置が異なって見えることがある。これも短波長領域(85
0nm )で使用されるGIマルチモード光ファイバにおい
て顕著となる。
【0009】図10の測定方法では、参照ファイバI及
び被測定ファイバCが同一テープのため、ファイバの温
度変動、振動等による影響はほぼ等しく、求める遅延時
間差としてはその影響が相殺されるという利点がある。
しかしこの方法を含め、パルス法では精度を良くするた
め、psオーダーのパルス幅の光を発生させる光源と、ps
のパルスを観測可能な高速のオシロスコープが必要とな
る。
【0010】測定精度の点において位相法では、変調す
る周波数での電気的な処理によりパルス法と同等精度の
測定値を得ることは比較的容易であるが、前記したよう
に光源の不安定性に伴う位相変動が測定値に誤差を与え
てしまう。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の光ファイバ遅延
時間差測定方法は図1〜図6に示すように、強度変調光
を2以上に分岐して光路長の異なる2以上の分岐経路1
の各々に伝搬可能であり、これら分岐経路1に伝搬させ
た2以上の強度変調光の合成光強度を観測可能とした測
定系において、前記各分岐経路1に光ファイバ2を挿入
した状態と挿入しない状態の夫々で強度変調光の合成光
強度を極小値にする強度変調光の変調周波数fを見い出
し、これら変調周波数fから光ファイバ2を挿入した状
態と光ファイバ2を挿入しない状態の夫々について分岐
経路1間の遅延時間差を導出し、光ファイバ2を挿入し
た状態での分岐経路1間の遅延時間差と被測定光ファイ
バ2を挿入しない状態での分岐経路1間の遅延時間差と
の差から各分岐経路1に挿入された光ファイバ2間の遅
延時間差を導出するようにしたことを特徴とするもので
ある。
【0012】
【発明の実施の形態1】図3は本件発明の光ファイバ遅
延時間差測定方法に基づいて構成した大型コンピュータ
光インタコネクト用多心GI光ファイバアレイの遅延差
測定系を示したものである。この測定系において3は正
弦波電気信号を発生する信号発生器、5は中心波長850n
m のレーザダイオードLDを使用した光源、1は光源5
の出力光が2つに分岐されて伝搬される分岐経路であ
り、各分岐経路1の途中には光ファイバ2をセットでき
るようにしてある(2本のうち1本は参照用ファイバ、
もう1本は被測定用ファイバであり、参照用ファイバに
対する被測定用ファイバのスキューを測定する)。続く
6は分岐経路3を伝搬した変調光を受光する受光器(O
/E変換器)、7はRFスペクトラムアナライザであ
る。前記各光ファイバ2はGIマルチモード光ファイバ
であり、12本がテープ状にまとめられて12心光ファ
イバテープ4を構成している。また10(10a、10
b)は光カプラ、11(11a、11b、11c、11
d)はFCコネクタ、12(12a、12b、12c、
12d)はMPOコネクタ、13(13a、13b)は
コネクタ変換器、14(14a、14b)は接続用光フ
ァイバである。
【0013】前記光源5は信号発生器3からの正弦波電
気信号により強度変調されて正弦波状の強度変調光を出
力する。
【0014】前記分岐経路1は光源5からの強度変調光
が2分されて伝搬される部分の導波路である。この分岐
経路1では、光源5の強度変調光が光カプラ10aで2
分配され、各々が雄雌のFCコネクタ11a、11bで
接続されたコネクタ変換器13aに出力されるようにし
てあり、この2つの出力が雄雌のMPOコネクタ12
a、12bを介して接続された12心光ファイバテープ
4の2つの光ファイバ(マルチモード光ファイバ)2に
出力されるようにしてある。また12心光ファイバテー
プ4の2つの光ファイバ2に伝搬された光が雄雌のMP
Oコネクタ12c、12dを介してコネクタ変換器13
bに出力されるようにしてあり、この2つの出力が雄雌
のMPOコネクタ11c、11dを介して光カプラ11
bに出力され、同光カプラ11bで合波されるようにし
てある。前記光カプラ10aの分岐出力は雄雌のFCコ
ネクタ11a、11bの繋ぎ替えによりコネクタ変換器
13aの12本ある導波路の何れにも出力でき、同コネ
クタ変換器13aと雄雌のMPOコネクタ12a、12
bを介して接続された12心光ファイバテープ4中の所
望の2本の光ファイバ2に強度変調光を伝搬させること
ができるようになっている。また雄雌のFCコネクタ1
1c、11dの繋ぎ替えにより前記2本の光ファイバ2
に伝搬させた強度変調光を光カプラ10bに入力させて
合波させることができるようになっている。
【0015】前記分岐経路1において、光カプラ10a
とFCコネクタ11aとを繋ぐ接続用光ファイバ14a
は、一方を長く、他方をそれより短くしてあり、カプラ
10aで2分された後の光路長に格差を設けてある。例
えばファイバ長で25cmの差を設けるようにする。この光
路長の格差は受光器6側の接続用光ファイバ14bに対
して設けてもよい。
【0016】図3の12心ファイバテープ4はその両端
が、各々MPOコネクタ12a、12bと着脱自在とな
っており、同12心光ファイバテープ4の光ファイバ2
を分岐経路1の途中に着脱自在に挿入できるようになっ
ている。この12心光ファイバテープ4の両端はカッタ
ーで切り揃えてあり、光ファイバ2間のファイバ長差は
所定の範囲内に収められている。
【0017】前記構成の測定系において、RFスペクト
ラムアナライザ7で観測される合成信号について考察す
ると、前記合成信号I(f) は数1で表わされる。
【0018】
【数1】
【0019】ここでf は変調信号周波数、Tsは基準光の
伝澱時間、Tmは被測定光の伝搬時間、k は被測定信号の
基準信号に対する振幅比である。
【0020】数1においてκ=1とした場合、即ち被測定
信号と基準信号の板幅が等しいとき、 合成信号の振幅比
は、
【0021】
【数2】
【0022】となる。数2において合成信号の振幅が0
になる条件は、
【0023】
【数3】 (q=1,2,......)
【0024】である。ここで実際の測定においてはq=1
を用いるため、 数3の条件は以下のようになる。
【0025】
【数4】
【0026】従って、変調周波数f を変化させ、 RFス
ペクトラムアナライザ7で検出される合成信号の強度が
0になる変調周波数を調べると、2つの分岐経路1を伝
播する強度変調光間の遅延時間差△τを求めることがで
きる。実際の測定において信号強度が0となる周波数を
調べる際、△τが1ps のオーダーである場合、f は0.5T
Hzとなり、THz オーダーの周波数掃引が必要になってし
まうが、先に説明した様に、接続用光ファイバ14aの
一方を他方に対してδL だけ長くしておくと、この線路
長差もふくめ、 信号強度零が観測される条件fmは数5の
ようになる。
【0027】
【数5】 ここでn はファイバ屈折率、c は光速度である。
【0028】数5においてn=1.45、δL=0.25m としたと
き、△τ=0では、 信号強度零となる周波数fmは413.8MHz
となる。また、コネクタ接続部分のスキューも含めて、
検出されるスキュー値の幅を±100ps 程度であるとする
と、掃引する周波数域は397.36〜431.66MHz と34.3MHz
となる。
【0029】ここまでの計測で観測される遅延時間差に
は12心光ファイバテープ4の両端に接続されたコネク
タ変換器13a、13b等の光ファイバテープ4以外の
部分での光路長差δL に基づくスキューが含まれたもの
となるため、次に12心ファィバテープ4自身のスキュ
ーを算出すべく、図3において分岐経路1に光ファイバ
テープ4を接続せず、送信側と受信側のコネクタ変換器
13a、13bとをダイレクトに接続し、この状態で信
号強度零となる周波数f0(6) を求める。
【0030】
【数6】
【0031】数5と数6とより被測定用の12心光ファ
イバテープ4の真のスキュー値△τを数7から求めるこ
とができる。
【0032】
【数7】
【0033】図10に本発明の測定方法でRFスペクト
ラムアナライザ7で観測される合成信号の周波数特性の
例を示す。実際の測定においては合波する2つの光強度
にわずかに差があることにより、数3を満たす条件にお
いて合成信号の強度が零とはならないが、強度が極小値
となる周波数を見い出すことにより数7を用いてスキュ
ーを算出することができる。
【0034】
【発明の他の実施の形態】図4のように被測定用の12
心光ファイバテープ4の一方の端から基準光及び被測定
光となる強度変調光を入射させ、同ファイバテープ4の
他方端で反射した信号を光カプラ10aで合波、分岐し
て強度変調光の合成信号をRFスペクトラムアナライザ
7で観測するようにしても良い。この測定系では光信号
が被測定用の12心光ファイバテープ4中を往復するた
め、前記数6の計算で求められるスキューの値は真のス
キュー値の2倍となる。
【0035】正弦波信号を発生する信号発生器と信号強
度の検出器の2つの機能を合わせ持つネットワークアナ
ライザ15を使用すると、図5のよう送信部と受信部と
を一つにまとめて測定系を簡素化することもできる。図
5の16はE/O変換器であり、ネットワークアナライ
ザ15の正弦波信号を正弦波強度変調光に変換するもの
である。
【0036】以上説明の各測定系では基準信号光が伝搬
する光ファイバ2は測定対象となる多心ファイバテープ
4のうちの任意の1本の心線であり、これはファイバの
温度変動、振動の影響を考えた場合に望ましい方法であ
るが、図6のように多心光ファイバテープ4とは別の光
ファイバを用意し、この光ファイバに基準信号光を伝搬
させて光ファイバテープ4のスキューを測定するように
しても良い。
【0037】以上の実施形態では正弦波を光の強度変調
用の信号として用いる例を説明したが、他の周期性のあ
る各種信号を変調信号に用いることもできる。
【0038】
【発明の効果】本発明の測定方法によれば、スキュー測
定の際の時間軸上の基準となる基準信号も被測定用の光
ファイバテープ4内の光ファイバ2を使用して伝送する
ことができ、しかも基準信号もそうでない信号も起源を
同じくする分岐された2以上の強度変調光を用いるた
め、光源にモード変動が存在して発振周期にふらつきが
あったとしても、受光側における複数光の相対的な時間
差は変わらず、再現性の良い値を得ることができる。ま
た2以上の分岐経路1において分岐経路1毎に異なる光
路長差を与えることにより、周波数掃引する際の中心周
波数を任意に設定することができるため、高速のオシロ
スコープ等、高価な機器を必要とせず、遅延時間差の決
定が正確且つ容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光ファイバ遅延時間差測定方法におけ
る測定系の概要構成図。
【図2】本発明の光ファイバ遅延時間差測定方法におけ
る他の測定系の概要構成図。
【図3】本発明の光ファイバ遅延時間差測定方法におけ
る測定系の第1の実施形態を示した構成図。
【図4】本発明の光ファイバ遅延時間差測定方法におけ
る測定系の第2の実施形態を示した構成図。
【図5】本発明の光ファイバ遅延時間差測定方法におけ
る測定系の第3の実施形態を示した構成図。
【図6】本発明の光ファイバ遅延時間差測定方法におけ
る測定系の第4の実施形態を示した構成図。
【図7】本発明の光ファイバ遅延時間差測定方法におい
て受光器で観測される合成波形の説明図であり、分岐経
路に被測定用の光ファイバを挿入した状態とそうでない
状態を表わしたもの。
【図8】従来の位相法によるスキュー測定の一例を示し
た説明図。
【図9】従来のパルス法によるスキュー測定の一例を示
した説明図。
【図10】従来のパルス法によるスキュー測定の他の例
を示した説明図。
【符号の説明】
1 分岐経路 2 光ファイバ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】強度変調光を2以上に分岐して光路長の異
    なる2以上の分岐経路(1)の各々に伝搬可能であり、
    これら分岐経路(1)に伝搬させた2以上の強度変調光
    の合成光強度を観測可能とした測定系において、前記各
    分岐経路(1)に光ファイバ(2)を挿入した状態と挿
    入しない状態の夫々で強度変調光の合成光強度を極小値
    にする強度変調光の変調周波数fを見い出し、これら変
    調周波数fから光ファイバ(2)を挿入した状態と光フ
    ァイバ(2)を挿入しない状態の夫々について分岐経路
    (1)間の遅延時間差を導出し、光ファイバ(2)を挿
    入した状態での分岐経路(1)間の遅延時間差と被測定
    光ファイバ(2)を挿入しない状態での分岐経路(1)
    間の遅延時間差との差から各分岐経路(1)に挿入され
    た光ファイバ(2)間の遅延時間差を導出するようにし
    たことを特徴とする光ファイバ遅延時間差測定方法。
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