JPH11118438A - 3次元形状測定方法および装置 - Google Patents
3次元形状測定方法および装置Info
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- JPH11118438A JPH11118438A JP9281701A JP28170197A JPH11118438A JP H11118438 A JPH11118438 A JP H11118438A JP 9281701 A JP9281701 A JP 9281701A JP 28170197 A JP28170197 A JP 28170197A JP H11118438 A JPH11118438 A JP H11118438A
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 撮像装置の光学条件や位置をあらかじめ測定
する必要なく、しかも自由な撮像位置から被測定物を撮
像することにより、自動的に被測定物の形状を得ること
のできる3次元形状測定方法および装置を提供するこ
と。 【解決手段】 撮像装置の光学条件と位置条件を検出す
る検出器を有し、撮像時の光学条件と位置条件を検出
し、3次元形状を測定する。このことにより、被測定物
を自由な位置から撮像しても、撮像時の光学条件と位置
条件を検出できるため、得られた画像と光学条件と位置
条件から、3次元形状を測定することができる。
する必要なく、しかも自由な撮像位置から被測定物を撮
像することにより、自動的に被測定物の形状を得ること
のできる3次元形状測定方法および装置を提供するこ
と。 【解決手段】 撮像装置の光学条件と位置条件を検出す
る検出器を有し、撮像時の光学条件と位置条件を検出
し、3次元形状を測定する。このことにより、被測定物
を自由な位置から撮像しても、撮像時の光学条件と位置
条件を検出できるため、得られた画像と光学条件と位置
条件から、3次元形状を測定することができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物の3次元
形状を非接触で測定する3次元形状測定方法および装置
に関するものである。
形状を非接触で測定する3次元形状測定方法および装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】被測定物の3次元形状を画像処理を用い
て非接触で測定する方法のうち、最も主流と目される方
法が三角測量の原理に基づく方法である。
て非接触で測定する方法のうち、最も主流と目される方
法が三角測量の原理に基づく方法である。
【0003】三角測量の原理に基づく代表的な方法とし
ては、 縞パターンを被測定物に投影し、得られたパターンの
影と基準パターンとを重ね合わせたことにより得られる
モアレ縞を用いて形状を測定するモアレトポグラフィ法 被測定物を異なる2点から観測した画像間の相関を検
出することにより形状を計測するステレオ法 規則的なパターンを被測定物に投影し、パターンの変
形を測定することにより形状を測定するパターン投影法
がある。
ては、 縞パターンを被測定物に投影し、得られたパターンの
影と基準パターンとを重ね合わせたことにより得られる
モアレ縞を用いて形状を測定するモアレトポグラフィ法 被測定物を異なる2点から観測した画像間の相関を検
出することにより形状を計測するステレオ法 規則的なパターンを被測定物に投影し、パターンの変
形を測定することにより形状を測定するパターン投影法
がある。
【0004】また、一方ソフト処理により3次元形状を
得る方法としては、 デジタルカメラなどで撮像した複数枚の画像に対して
画像間の相関付けを手動で行い3次元形状を得るモデラ
ーソフトがある。
得る方法としては、 デジタルカメラなどで撮像した複数枚の画像に対して
画像間の相関付けを手動で行い3次元形状を得るモデラ
ーソフトがある。
【0005】以下、の従来のステレオ法について簡単
に説明する。図10が従来のステレオ法による3次元形
状測定装置の概略図である。また、図4(a)、(b)
がステレオ法で用いる2枚の撮像画像である。図11
が、ステレオ法の測定原理を示した図である。
に説明する。図10が従来のステレオ法による3次元形
状測定装置の概略図である。また、図4(a)、(b)
がステレオ法で用いる2枚の撮像画像である。図11
が、ステレオ法の測定原理を示した図である。
【0006】図10において、1が被測定物である。4
1が撮像系であり、2つの撮像装置41aと41bを有
している。40が、ケーブルである。42が計算機であ
る。撮像装置41a、41bにより撮像された画像はケ
ーブル40を通り、計算機42に入力される。計算機4
2では得られた画像を処理して、被測定物と撮像装置間
の距離や被測定物の形状を演算する。
1が撮像系であり、2つの撮像装置41aと41bを有
している。40が、ケーブルである。42が計算機であ
る。撮像装置41a、41bにより撮像された画像はケ
ーブル40を通り、計算機42に入力される。計算機4
2では得られた画像を処理して、被測定物と撮像装置間
の距離や被測定物の形状を演算する。
【0007】撮像装置の有する2つの撮像系41a、4
1bにより得られる2枚の画像は、異なる視点から被測
定物を観測するため、視点の違いに応じて異なる画像が
得られる。
1bにより得られる2枚の画像は、異なる視点から被測
定物を観測するため、視点の違いに応じて異なる画像が
得られる。
【0008】図4の(a)が撮像装置41aにより撮像
した画像、撮像画像aであり、図4の(b)が撮像装置
41aにより撮像した画像、撮像画像bである。
した画像、撮像画像aであり、図4の(b)が撮像装置
41aにより撮像した画像、撮像画像bである。
【0009】これらは、異なる2つの視点から撮像した
画像であり、視点に応じて被測定物の画像内での位置が
異なる事が分かる。そこで、これらの2枚の画像から被
測定物上の特定の点の画像上での位置の相関を検出する
事により、被測定物の形状を測定する事ができる。
画像であり、視点に応じて被測定物の画像内での位置が
異なる事が分かる。そこで、これらの2枚の画像から被
測定物上の特定の点の画像上での位置の相関を検出する
事により、被測定物の形状を測定する事ができる。
【0010】以下、図11を用いて幾何学的に測定原理
について説明する。図11において、1が被測定物であ
る。41a、41bが被測定物1が視野内に入るように
それぞれ設置された撮像装置である。それぞれレンズユ
ニット31、33と、結像面にCCD32、34を有し
ている。N0、N1は、それぞれのレンズの主点を示し
ている。XY座標系の原点は、N0とし、X軸は撮像装
置41aの光軸と平行とし、xyの矢印で示した方向を
正とする。また、主点N0、N1とCCD32、34間
の距離すなわち焦点距離はそれぞれf1、f2とする。
また、2つの撮像系の光軸のなす角はθとする。
について説明する。図11において、1が被測定物であ
る。41a、41bが被測定物1が視野内に入るように
それぞれ設置された撮像装置である。それぞれレンズユ
ニット31、33と、結像面にCCD32、34を有し
ている。N0、N1は、それぞれのレンズの主点を示し
ている。XY座標系の原点は、N0とし、X軸は撮像装
置41aの光軸と平行とし、xyの矢印で示した方向を
正とする。また、主点N0、N1とCCD32、34間
の距離すなわち焦点距離はそれぞれf1、f2とする。
また、2つの撮像系の光軸のなす角はθとする。
【0011】ここで、被測定物の上の点、P(Xp、Y
p)は、撮像装置41a、41bによりそれぞれ撮像さ
れ、CCD上のA(Xa、Ya)、B(Xb、Yb)に
結像する。これらA、B点は、CCD上から画像へ写像
されるため、図4の撮像画像aにおいては、AがAi
(Xai、Yai)に、Bは、撮像画像bのBi(Xb
i、Ybi)に対応する。なお、画像上の座標系と空間
上の座標系とは異なり、図4の画像のY方向は、図11
における紙面に垂直な方向に対応する。
p)は、撮像装置41a、41bによりそれぞれ撮像さ
れ、CCD上のA(Xa、Ya)、B(Xb、Yb)に
結像する。これらA、B点は、CCD上から画像へ写像
されるため、図4の撮像画像aにおいては、AがAi
(Xai、Yai)に、Bは、撮像画像bのBi(Xb
i、Ybi)に対応する。なお、画像上の座標系と空間
上の座標系とは異なり、図4の画像のY方向は、図11
における紙面に垂直な方向に対応する。
【0012】以上のような幾何学的関係をもとに形状測
定の方法について説明する。形状の測定は、主点N0を
原点とした時の、被測定物上の点の空間位置を求める事
により実施する。すなわち、図11においては、Pの座
標(Xp、Yp)を求めることを繰り返し行う事により
形状を測定する。
定の方法について説明する。形状の測定は、主点N0を
原点とした時の、被測定物上の点の空間位置を求める事
により実施する。すなわち、図11においては、Pの座
標(Xp、Yp)を求めることを繰り返し行う事により
形状を測定する。
【0013】まず、図4の(a)撮像画像a、(b)撮
像画像bにおけるAi点、Bi点の位置を捜索する。こ
のアルゴリズムがパターンマッチングと呼ばれるアルゴ
リズムである。この方法については、被測定物のエッジ
線やテクスチャの特徴点を用いて行うなど多くの方法が
提案されている。このパターンマッチングにより、図1
1のP点が図4の(a)、(b)のどの位置にあるかが
検出できる。
像画像bにおけるAi点、Bi点の位置を捜索する。こ
のアルゴリズムがパターンマッチングと呼ばれるアルゴ
リズムである。この方法については、被測定物のエッジ
線やテクスチャの特徴点を用いて行うなど多くの方法が
提案されている。このパターンマッチングにより、図1
1のP点が図4の(a)、(b)のどの位置にあるかが
検出できる。
【0014】次に、図4の(a)、(b)の画像は、図
11のCCD32、34上に結像した像の写像であるた
め、図4のAi(Xai、Yai)とBi(Xbi、Y
bi)は、図11の空間座標系での位置A(Xa、Y
a)、B(Xb、Yb)に変換することができる。
11のCCD32、34上に結像した像の写像であるた
め、図4のAi(Xai、Yai)とBi(Xbi、Y
bi)は、図11の空間座標系での位置A(Xa、Y
a)、B(Xb、Yb)に変換することができる。
【0015】まず、A(Xa、Ya)については、N0
が座標原点である為、下記の式(1)、(2)より求め
られる。
が座標原点である為、下記の式(1)、(2)より求め
られる。
【0016】 Xa=Xai・G (1) Ya=f1 (2) ここで、Gは、画像の拡大率である。また、B(Xb、
Yb)については、 α=tan-1(Xbi・G/f2) (3) とすると、 Xb=(f22+(Xbi・G)2)1/2・sin(α+θ)+Xn1 (4) Yb=−(f22+(Xbi・G)2)1/2 ・cos(α+θ)+Yn1 (5) と変換される。
Yb)については、 α=tan-1(Xbi・G/f2) (3) とすると、 Xb=(f22+(Xbi・G)2)1/2・sin(α+θ)+Xn1 (4) Yb=−(f22+(Xbi・G)2)1/2 ・cos(α+θ)+Yn1 (5) と変換される。
【0017】次に、 S=Ya/Xa (6) T=(Yb−Yn1)/(Xb−Xn1) (7) とすると、Xp、Ypはそれぞれ以下の式により求めら
れる。
れる。
【0018】 Xp=(Yn1−T・Xn1)/(S−T) (8) Yp=Xp・S (9) このようにして、被測定物1上の点Pの空間位置を求め
ることができる。
ることができる。
【0019】なお、本説明では簡単化の為に、2次元平
面内での幾何学的関係を利用したが、3次元での幾何学
的関係からも同様に被測定物上の点の位置が求められ、
結果として被測定物の3次元形状が測定できる。
面内での幾何学的関係を利用したが、3次元での幾何学
的関係からも同様に被測定物上の点の位置が求められ、
結果として被測定物の3次元形状が測定できる。
【0020】次に、のモデラソフトについて説明す
る。のステレオ法は、得られた複数の撮像画像から特
徴点を自動で検出することにより対応点を抽出し、3次
元形状を求める方法であった。そのため、人為的な作業
が発生しないため、ロボットなどの自立走行などに用い
られている。それに対してのモデラソフトは、主とし
て3次元のコンピュータグラフィックス用モデル作成に
用いられるもので、における特徴点の抽出と対応付け
を手動で行う方法である。単一のデジタルカメラで複数
方向から撮像した画像に対して、測定者が特徴点の位
置、対応づけ、カメラ位置の入力などを画像上で指示す
る事により、3次元形状を測定する。
る。のステレオ法は、得られた複数の撮像画像から特
徴点を自動で検出することにより対応点を抽出し、3次
元形状を求める方法であった。そのため、人為的な作業
が発生しないため、ロボットなどの自立走行などに用い
られている。それに対してのモデラソフトは、主とし
て3次元のコンピュータグラフィックス用モデル作成に
用いられるもので、における特徴点の抽出と対応付け
を手動で行う方法である。単一のデジタルカメラで複数
方向から撮像した画像に対して、測定者が特徴点の位
置、対応づけ、カメラ位置の入力などを画像上で指示す
る事により、3次元形状を測定する。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな3次元形状測定法には以下のような課題があった。
うな3次元形状測定法には以下のような課題があった。
【0022】のステレオ法においては、第一に、式
(1)〜式(9)からも明らかなように、3次元情報を
得るためには、撮像装置の焦点距離や位置が必要であ
る。したがって、測定装置を構築する上では、これらの
幾何学的パラメータを正確に得る事が必要であり、その
精度が形状の測定精度に直接影響する。そのため、光学
性能のほぼ同じ2つの撮像装置を用い、しかも2つの撮
像装置の相対値を固定にした、いわゆる1つの装置に2
つの撮像装置が組み込まれた2眼式の撮像装置が用いら
れることが多い。また2眼式でない場合でも、撮像装置
の幾何学的パラメータをあらかじめ正確に測定し、さら
にその状態で撮像装置を固定しておく必要があった。
(1)〜式(9)からも明らかなように、3次元情報を
得るためには、撮像装置の焦点距離や位置が必要であ
る。したがって、測定装置を構築する上では、これらの
幾何学的パラメータを正確に得る事が必要であり、その
精度が形状の測定精度に直接影響する。そのため、光学
性能のほぼ同じ2つの撮像装置を用い、しかも2つの撮
像装置の相対値を固定にした、いわゆる1つの装置に2
つの撮像装置が組み込まれた2眼式の撮像装置が用いら
れることが多い。また2眼式でない場合でも、撮像装置
の幾何学的パラメータをあらかじめ正確に測定し、さら
にその状態で撮像装置を固定しておく必要があった。
【0023】第二に、測定の原理から、被測定物上で複
数の撮像装置が同時に撮像できる面の測定は可能である
が、複数の撮像装置間の相対位置が固定であるため、例
えば球形に近い被測定物の全面の形状を1度の測定で得
ることはできない。
数の撮像装置が同時に撮像できる面の測定は可能である
が、複数の撮像装置間の相対位置が固定であるため、例
えば球形に近い被測定物の全面の形状を1度の測定で得
ることはできない。
【0024】第三に、測定物体があらかじめ撮像装置の
想定した位置に無い場合には、ピントやズームを調整す
る必要があるが、その場合には幾何学的パラメータを再
度測定する必要があった。
想定した位置に無い場合には、ピントやズームを調整す
る必要があるが、その場合には幾何学的パラメータを再
度測定する必要があった。
【0025】一方、のモデルソフトの場合、第一に、
複数の撮像画像に対しての対応を取るためには、測定者
が画像を確認し、対応点を入力したり、撮像装置の撮像
条件を入力するなどの作業が必ず必要であり、3次元形
状を自動で得ることはできなかった。
複数の撮像画像に対しての対応を取るためには、測定者
が画像を確認し、対応点を入力したり、撮像装置の撮像
条件を入力するなどの作業が必ず必要であり、3次元形
状を自動で得ることはできなかった。
【0026】第二に、被測定物を適当な方向から撮像し
た画像を用いる為、データが不足しているために、所望
の結果が得られない事がある。しかし、測定者の作業が
完了しなければ結果が得られず、再度撮像のやり直しま
たは追加が必要という課題があった。
た画像を用いる為、データが不足しているために、所望
の結果が得られない事がある。しかし、測定者の作業が
完了しなければ結果が得られず、再度撮像のやり直しま
たは追加が必要という課題があった。
【0027】本発明は、上記課題に鑑み、撮像装置の光
学条件や位置をあらかじめ測定する必要なく、しかも自
由な撮像位置から被測定物を撮像することにより、自動
的に被測定物の形状を得ることのできる3次元形状測定
方法および装置を提供することを目的とする。
学条件や位置をあらかじめ測定する必要なく、しかも自
由な撮像位置から被測定物を撮像することにより、自動
的に被測定物の形状を得ることのできる3次元形状測定
方法および装置を提供することを目的とする。
【0028】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の第1の発明の3次元形状測定方法は、ステ
レオ法における複数画像の撮像時に、同時に撮像装置の
空間上の位置と撮像方向を検出することを特徴とする。
に、本発明の第1の発明の3次元形状測定方法は、ステ
レオ法における複数画像の撮像時に、同時に撮像装置の
空間上の位置と撮像方向を検出することを特徴とする。
【0029】このことにより、撮像装置の空間上の位置
と撮像方向を検出できるため、撮像装置を自由な位置に
移動しながら被測定物を撮像する事により3次元形状を
得ることができる。したがって、測定対象が移動できな
いような場合においても、被測定物の全面の形状を得る
事が可能となる。
と撮像方向を検出できるため、撮像装置を自由な位置に
移動しながら被測定物を撮像する事により3次元形状を
得ることができる。したがって、測定対象が移動できな
いような場合においても、被測定物の全面の形状を得る
事が可能となる。
【0030】本発明の第2の発明の3次元形状測定方法
は、ステレオ法における複数画像の撮像装置が焦点可変
機能を有する場合に、撮像装置の空間上の位置と撮像方
向に加えて、撮像装置の焦点距離を検出する事を特徴と
する。
は、ステレオ法における複数画像の撮像装置が焦点可変
機能を有する場合に、撮像装置の空間上の位置と撮像方
向に加えて、撮像装置の焦点距離を検出する事を特徴と
する。
【0031】このことにより、本発明の第1の発明の3
次元形状測定方法の作用に加えて、撮像装置の焦点距離
が変わった場合においても、3次元形状の測定が可能で
ある。
次元形状測定方法の作用に加えて、撮像装置の焦点距離
が変わった場合においても、3次元形状の測定が可能で
ある。
【0032】本発明の第3の発明の3次元形状測定方法
は、ステレオ法における複数画像の撮像装置が倍率可変
のレンズを有する場合に、撮像装置の空間上の位置と撮
像方向と撮像倍率とを検出し、得られた撮像倍率に応じ
て撮像画像を幾何変換して得られた変換画像を用いて3
次元形状を測定することを特徴とする。
は、ステレオ法における複数画像の撮像装置が倍率可変
のレンズを有する場合に、撮像装置の空間上の位置と撮
像方向と撮像倍率とを検出し、得られた撮像倍率に応じ
て撮像画像を幾何変換して得られた変換画像を用いて3
次元形状を測定することを特徴とする。
【0033】このことにより、本発明の第1の発明の3
次元形状測定方法の作用に加えて、ズーム機能を有する
撮像装置を用いて、異なる拡大倍率により撮像した複数
の撮像画像においても、特徴点の対応が可能であり、3
次元形状を測定することができる。
次元形状測定方法の作用に加えて、ズーム機能を有する
撮像装置を用いて、異なる拡大倍率により撮像した複数
の撮像画像においても、特徴点の対応が可能であり、3
次元形状を測定することができる。
【0034】本発明の第4の発明の3次元形状測定方法
は、ステレオ法における複数画像の撮像時に得られた撮
像装置の空間上の位置と撮像方向から、3次元形状が測
定可能かどうかを判別することを特徴とする。
は、ステレオ法における複数画像の撮像時に得られた撮
像装置の空間上の位置と撮像方向から、3次元形状が測
定可能かどうかを判別することを特徴とする。
【0035】このことにより、3次元形状を測定する前
に、撮像装置の空間的位置と撮像方向から測定結果が得
られるかどうかを確認できるため、不要な計算をする必
要が無く、被測定物の形状を得るための測定時間を短縮
できる。
に、撮像装置の空間的位置と撮像方向から測定結果が得
られるかどうかを確認できるため、不要な計算をする必
要が無く、被測定物の形状を得るための測定時間を短縮
できる。
【0036】本発明の第5の発明の3次元形状測定方法
は、ステレオ法における複数画像の撮像時に得られた撮
像装置の空間上の位置と撮像方向から、3次元形状が測
定可能かどうかを判別し、判別結果を測定者に告知する
ことを特徴とする。
は、ステレオ法における複数画像の撮像時に得られた撮
像装置の空間上の位置と撮像方向から、3次元形状が測
定可能かどうかを判別し、判別結果を測定者に告知する
ことを特徴とする。
【0037】このことにより、3次元形状を測定する前
に、撮像装置の空間的位置と撮像方向から測定結果が得
られるかどうかを撮像装置側で確認できるため、測定者
が迅速に次の撮像に取りかかることができる。
に、撮像装置の空間的位置と撮像方向から測定結果が得
られるかどうかを撮像装置側で確認できるため、測定者
が迅速に次の撮像に取りかかることができる。
【0038】本発明の第6の発明の3次元形状測定装置
は、撮像倍率可変およびまたは自動焦点機能を有し、被
測定物を空間上の任意の複数位置から撮像し撮像画像を
得る撮像装置と、撮像装置の空間上の位置と撮像方向を
検出する位置検出器と撮像装置の撮像倍率およびまたは
焦点距離を検出する光学条件検出器と、撮像装置により
得られた複数の撮像画像と、位置検出機により得られた
撮像装置の空間上の位置と撮像方向と、光学条件検出器
により得られた撮像装置の撮像倍率およびまたは焦点距
離から、被測定物の3次元形状を計算する計算装置とを
具備することを特徴とする。
は、撮像倍率可変およびまたは自動焦点機能を有し、被
測定物を空間上の任意の複数位置から撮像し撮像画像を
得る撮像装置と、撮像装置の空間上の位置と撮像方向を
検出する位置検出器と撮像装置の撮像倍率およびまたは
焦点距離を検出する光学条件検出器と、撮像装置により
得られた複数の撮像画像と、位置検出機により得られた
撮像装置の空間上の位置と撮像方向と、光学条件検出器
により得られた撮像装置の撮像倍率およびまたは焦点距
離から、被測定物の3次元形状を計算する計算装置とを
具備することを特徴とする。
【0039】このことにより、撮像装置と位置検出器と
光学条件検出器と計算装置とを一体型として具備してい
るため、測定位置を選ばず自由な場所、例えば屋外等で
の測定が可能である。
光学条件検出器と計算装置とを一体型として具備してい
るため、測定位置を選ばず自由な場所、例えば屋外等で
の測定が可能である。
【0040】本発明の第7の発明の3次元形状測定装置
は、撮像倍率可変およびまたは自動焦点機能を有し、被
測定物を空間上の任意の複数位置から撮像し撮像画像を
得る撮像装置と、撮像装置に具備し、撮像装置の空間上
の位置と撮像方向を検出する位置検出器と撮像装置に具
備し、撮像装置の撮像倍率およびまたは焦点距離を検出
する光学条件検出器と、撮像装置により得られた複数の
撮像画像と、位置検出機により得られた撮像装置の空間
上の位置と撮像方向と、光学条件検出器により得られた
撮像装置の撮像倍率およびまたは焦点距離から、前記被
測定物の3次元形状を計算する計算装置と、撮像装置と
計算装置との間でデータを交信する無線交信機とを有す
ることを特徴とする。
は、撮像倍率可変およびまたは自動焦点機能を有し、被
測定物を空間上の任意の複数位置から撮像し撮像画像を
得る撮像装置と、撮像装置に具備し、撮像装置の空間上
の位置と撮像方向を検出する位置検出器と撮像装置に具
備し、撮像装置の撮像倍率およびまたは焦点距離を検出
する光学条件検出器と、撮像装置により得られた複数の
撮像画像と、位置検出機により得られた撮像装置の空間
上の位置と撮像方向と、光学条件検出器により得られた
撮像装置の撮像倍率およびまたは焦点距離から、前記被
測定物の3次元形状を計算する計算装置と、撮像装置と
計算装置との間でデータを交信する無線交信機とを有す
ることを特徴とする。
【0041】このことにより、位置検出器と光学条件検
出器とを具備する撮像装置と、計算装置とが独立型の装
置であるため、測定者は軽量な撮像装置のみを移動しな
がら測定を実施できる。また、撮像装置と計算装置との
データのやりとりを、無線交信機にて実施するため、測
定位置の自由度は失われない。
出器とを具備する撮像装置と、計算装置とが独立型の装
置であるため、測定者は軽量な撮像装置のみを移動しな
がら測定を実施できる。また、撮像装置と計算装置との
データのやりとりを、無線交信機にて実施するため、測
定位置の自由度は失われない。
【0042】本発明の第8の発明の3次元形状測定装置
は、本発明の第6および第7の3次元形状測定装置にお
ける計算装置が、撮像装置の複数の空間上の位置と撮像
方向から、3次元形状の測定の可否を判別する判別機能
を有することを特徴とする。
は、本発明の第6および第7の3次元形状測定装置にお
ける計算装置が、撮像装置の複数の空間上の位置と撮像
方向から、3次元形状の測定の可否を判別する判別機能
を有することを特徴とする。
【0043】このことにより、計算機が判別機能を有す
るため、形状測定の演算を行う前に、測定結果を得られ
るかどうかの確認を行うため、無駄な演算を実施する事
がない。
るため、形状測定の演算を行う前に、測定結果を得られ
るかどうかの確認を行うため、無駄な演算を実施する事
がない。
【0044】本発明の第9の発明の3次元形状測定装置
は、本発明の第6および第7の3次元形状測定装置にお
ける計算装置が、撮像装置の複数の空間上の位置と撮像
方向から、3次元形状の測定の可否を判定する判定機
と、判定機より得られた判定結果を表示する表示装置を
有することを特徴とする。
は、本発明の第6および第7の3次元形状測定装置にお
ける計算装置が、撮像装置の複数の空間上の位置と撮像
方向から、3次元形状の測定の可否を判定する判定機
と、判定機より得られた判定結果を表示する表示装置を
有することを特徴とする。
【0045】このことにより、計算機が判別機能を有
し、判定結果を撮像装置が具備する表示装置にて迅速に
確認できるため、結果に応じて撮像位置の修正を即座に
図ることができる。
し、判定結果を撮像装置が具備する表示装置にて迅速に
確認できるため、結果に応じて撮像位置の修正を即座に
図ることができる。
【0046】本発明の第10の発明の3次元形状測定装
置は、本発明の第6および第7の3次元形状測定装置に
おける計算装置が、撮像装置の複数の空間上の位置と撮
像方向から、3次元形状の測定の可否を判定する判定機
と、判定機より得られた判定結果により音を変化させる
音源を有することを特徴とする。
置は、本発明の第6および第7の3次元形状測定装置に
おける計算装置が、撮像装置の複数の空間上の位置と撮
像方向から、3次元形状の測定の可否を判定する判定機
と、判定機より得られた判定結果により音を変化させる
音源を有することを特徴とする。
【0047】このことにより、計算機が判別機能を有
し、判定結果を撮像装置に具備した音源が発する音にて
確認できるため、測定者は撮像装置のファインダーから
目を離す事なく、即座に撮像位置の修正を実施できる。
し、判定結果を撮像装置に具備した音源が発する音にて
確認できるため、測定者は撮像装置のファインダーから
目を離す事なく、即座に撮像位置の修正を実施できる。
【0048】
【発明の実施の形態】以下、本発明の第1の実施形態に
ついて、図面を参照しながら説明する。
ついて、図面を参照しながら説明する。
【0049】図1が、第1の実施形態における3次元形
状測定装置を示した概略図である。1が被測定物、2が
3次元形状測定機であり、3のレンズユニット、4の表
示装置、5の位置検出器、6のスピーカ、7のシャッタ
ボタンなどが一体となっている。なお、点線は3次元形
状測定機2の移動後の位置を示している。
状測定装置を示した概略図である。1が被測定物、2が
3次元形状測定機であり、3のレンズユニット、4の表
示装置、5の位置検出器、6のスピーカ、7のシャッタ
ボタンなどが一体となっている。なお、点線は3次元形
状測定機2の移動後の位置を示している。
【0050】図2が、第1の実施形態における3次元形
状測定装置の内部構成を示した構成図である。
状測定装置の内部構成を示した構成図である。
【0051】図1と同一番号については説明を省略す
る。5aが、位置検出器5に内蔵されたジャイロセン
サ、5bが、位置センサである。8が光学条件検出器で
あり、フォーカスセンサ8aとズームセンサ8bを内蔵
している。9はCCDである。10はA/D変換器であ
り、CCD9から得られた信号をA/D変換する。11
がメモリであり、A/D変換器10で変換された画像
や、位置検出器5、光学条件検出器8などのデータを一
時蓄積する。12がCPUであり、プログラムに応じて
データの処理を行う。13が記憶装置であり、CPU1
2による計算結果のデータを蓄積する。
る。5aが、位置検出器5に内蔵されたジャイロセン
サ、5bが、位置センサである。8が光学条件検出器で
あり、フォーカスセンサ8aとズームセンサ8bを内蔵
している。9はCCDである。10はA/D変換器であ
り、CCD9から得られた信号をA/D変換する。11
がメモリであり、A/D変換器10で変換された画像
や、位置検出器5、光学条件検出器8などのデータを一
時蓄積する。12がCPUであり、プログラムに応じて
データの処理を行う。13が記憶装置であり、CPU1
2による計算結果のデータを蓄積する。
【0052】図3が、3次元測定を行うための処理手順
を示したフローチャートである。図4は、複数の撮像画
像の例を示した模式図である。
を示したフローチャートである。図4は、複数の撮像画
像の例を示した模式図である。
【0053】従来例で示したように、図4(a)が、撮
像画像aであり、図4(b)は、撮像画像aを得た時と
は異なる方向から撮像して得られた撮像画像bを示す。
像画像aであり、図4(b)は、撮像画像aを得た時と
は異なる方向から撮像して得られた撮像画像bを示す。
【0054】図5が、撮像時にズーム倍率が変化した時
に得られる画像である。図5(a)が撮像画像aであ
り、図5(b)が撮像画像b、図5(c)が、撮像画像
bの点線部を拡大処理した画像である。
に得られる画像である。図5(a)が撮像画像aであ
り、図5(b)が撮像画像b、図5(c)が、撮像画像
bの点線部を拡大処理した画像である。
【0055】図6が、撮像装置の位置関係を示した図で
ある。図6(a)が測定可能時の位置関係、図6
(b)、図6(c)が、測定不可能時を示している。
ある。図6(a)が測定可能時の位置関係、図6
(b)、図6(c)が、測定不可能時を示している。
【0056】以下、図1、図2、図3、図4、図5、図
6とさらに、測定原理の説明の為、図11も用いて本実
施形態の3次元形状測定装置の動作を説明する。
6とさらに、測定原理の説明の為、図11も用いて本実
施形態の3次元形状測定装置の動作を説明する。
【0057】測定手順を、図3に示したフローチャート
に従って説明する。まず初めに14の測定スタート、3
次元形状測定機設定を実施する。図2の3次元形状測定
装置2を被測定物1が撮像できる位置に設定する。続い
て、15の撮像画像の取得を行う。図2のシャッターボ
タン7をONすることによりトリガーがかかり、被測定
物1の像がレンズユニット3を通してCCD9上に結像
する。CCD9により光電変換された画像は、A/D変
換器10によりデジタル信号に変換され、23のメモリ
記憶を実施し、図3の16aの撮像画像aとして、図2
のメモリ11に記憶する。記憶された撮像画像aを図4
の(a)に示した。
に従って説明する。まず初めに14の測定スタート、3
次元形状測定機設定を実施する。図2の3次元形状測定
装置2を被測定物1が撮像できる位置に設定する。続い
て、15の撮像画像の取得を行う。図2のシャッターボ
タン7をONすることによりトリガーがかかり、被測定
物1の像がレンズユニット3を通してCCD9上に結像
する。CCD9により光電変換された画像は、A/D変
換器10によりデジタル信号に変換され、23のメモリ
記憶を実施し、図3の16aの撮像画像aとして、図2
のメモリ11に記憶する。記憶された撮像画像aを図4
の(a)に示した。
【0058】次に、図3の15の撮像画像の取得と同時
に、17の光学条件の検出を行う。光学条件の検出17
は、図2の光学条件検出器8により実施する。光学条件
検出機8に内蔵されたフォーカスセンサ8aとズームセ
ンサ8bにより、撮像画像の取得15と同時に、レンズ
ユニット3のフォーカス値とズーム値の検出を行う。例
えば、フォーカス合わせやズーム変更は、レンズユニッ
ト3に内蔵されたモータ(図示せず)の回転により行う
ため、モータの回転位置によってフォーカス値とズーム
値を検出できる。また、レンズユニット3が、自動焦点
機能を有する場合には、自動焦点機能におけるサーボ制
御値を用いてフォーカス値を得ても良い。以上のように
して得られたフォーカス値とズーム値を図3の18aの
光学条件aとして、23のメモリ記憶を実施し、図2の
メモリ11に記憶する。
に、17の光学条件の検出を行う。光学条件の検出17
は、図2の光学条件検出器8により実施する。光学条件
検出機8に内蔵されたフォーカスセンサ8aとズームセ
ンサ8bにより、撮像画像の取得15と同時に、レンズ
ユニット3のフォーカス値とズーム値の検出を行う。例
えば、フォーカス合わせやズーム変更は、レンズユニッ
ト3に内蔵されたモータ(図示せず)の回転により行う
ため、モータの回転位置によってフォーカス値とズーム
値を検出できる。また、レンズユニット3が、自動焦点
機能を有する場合には、自動焦点機能におけるサーボ制
御値を用いてフォーカス値を得ても良い。以上のように
して得られたフォーカス値とズーム値を図3の18aの
光学条件aとして、23のメモリ記憶を実施し、図2の
メモリ11に記憶する。
【0059】さらに、図3の15の撮像画像の取得と同
時に、19の基準位置設定を実施する。基準位置設定
は、図2の位置検出器5に内蔵されたジャイロセンサ5
aと位置センサ5bにより行う。レンズ系の撮像方向を
感知するジャイロセンサ5aによりレンズユニット3の
光軸方向を検出しメモリ11に記憶する。また、位置セ
ンサ5bをリセットし、空間位置の基準点(座標原点)
として、23のメモリ記憶を実施し、メモリ11に記憶
する。記憶した位置条件を図3の20aの位置条件aと
する。
時に、19の基準位置設定を実施する。基準位置設定
は、図2の位置検出器5に内蔵されたジャイロセンサ5
aと位置センサ5bにより行う。レンズ系の撮像方向を
感知するジャイロセンサ5aによりレンズユニット3の
光軸方向を検出しメモリ11に記憶する。また、位置セ
ンサ5bをリセットし、空間位置の基準点(座標原点)
として、23のメモリ記憶を実施し、メモリ11に記憶
する。記憶した位置条件を図3の20aの位置条件aと
する。
【0060】次に測定者は、図3の21の撮像位置変更
を行う。変更後も撮像位置が被測定物1が撮像範囲に入
るように設置する。図1の点線で示したのが撮像位置変
更後の3次元形状測定装置の位置を示している。
を行う。変更後も撮像位置が被測定物1が撮像範囲に入
るように設置する。図1の点線で示したのが撮像位置変
更後の3次元形状測定装置の位置を示している。
【0061】撮像位置変更後、再度、撮像画像の取得1
5、光学条件の検出17を行い、図2のメモリ11に、
16bの撮像画像b、18bの光学条件bを記憶する。
図4の(b)が撮像画像bである。
5、光学条件の検出17を行い、図2のメモリ11に、
16bの撮像画像b、18bの光学条件bを記憶する。
図4の(b)が撮像画像bである。
【0062】さらに、相対位置の検出22を行う。図2
の位置検出器5に内蔵されたジャイロセンサ5aによ
り、レンズユニット3の光軸方向を検出し、さらに、位
置センサ5bを用いて、19の基準位置設定時の空間上
位置に対する相対位置を検出する。
の位置検出器5に内蔵されたジャイロセンサ5aによ
り、レンズユニット3の光軸方向を検出し、さらに、位
置センサ5bを用いて、19の基準位置設定時の空間上
位置に対する相対位置を検出する。
【0063】このようにして得られた20bの位置条件
bを、同様にメモリ11に記憶する。
bを、同様にメモリ11に記憶する。
【0064】次に測定可否判別処理24を行う。測定可
否判別処理24については、図6を用いて説明する。
否判別処理24については、図6を用いて説明する。
【0065】図6の31、33がそれぞれ、撮像画像a
(図3の16a)と撮像画像b(図3の16b)を撮像
する時のレンズユニットの位置を示す。32、34は、
CCDの位置を示している。θは、光軸間の角度を示し
ている。
(図3の16a)と撮像画像b(図3の16b)を撮像
する時のレンズユニットの位置を示す。32、34は、
CCDの位置を示している。θは、光軸間の角度を示し
ている。
【0066】また、斜線部は合焦領域を示している。す
なわち、たとえばレンズユニット31を通してCCD3
2に像をぼけなく結像させるためには、対象物を斜線部
内に置く必要があることを示している。なお、黒塗り領
域は、撮像画像aを得るときと、撮像画像bを得るとき
の合焦領域の重なる領域を示している。
なわち、たとえばレンズユニット31を通してCCD3
2に像をぼけなく結像させるためには、対象物を斜線部
内に置く必要があることを示している。なお、黒塗り領
域は、撮像画像aを得るときと、撮像画像bを得るとき
の合焦領域の重なる領域を示している。
【0067】ここで、図3の18aの光学条件aと18
bの光学条件bから、CPU12により、レンズユニッ
ト3の焦点深度と作動距離から合焦領域を求める。CP
U12による計算ではなく、メモリ11にあらかじめ登
録してあるレンズユニット3の性能表から求めても良
い。
bの光学条件bから、CPU12により、レンズユニッ
ト3の焦点深度と作動距離から合焦領域を求める。CP
U12による計算ではなく、メモリ11にあらかじめ登
録してあるレンズユニット3の性能表から求めても良
い。
【0068】次に、それぞれの撮像時に得られた合焦領
域の重なり方を評価する。図6の(a)においては、斜
線領域が重なり合っており、この領域に被測定物を置け
ばそれぞれの撮像装置において、共通の位置を撮像で
き、かつ焦点の合った画像が得られる。したがって、撮
像可能領域の重なった部分(黒塗り領域)が3次元形状
測定可能領域と判断できる。一方、図6の(b)におい
ては、撮像可能領域の重なりが少ない為、測定領域が狭
くなる。
域の重なり方を評価する。図6の(a)においては、斜
線領域が重なり合っており、この領域に被測定物を置け
ばそれぞれの撮像装置において、共通の位置を撮像で
き、かつ焦点の合った画像が得られる。したがって、撮
像可能領域の重なった部分(黒塗り領域)が3次元形状
測定可能領域と判断できる。一方、図6の(b)におい
ては、撮像可能領域の重なりが少ない為、測定領域が狭
くなる。
【0069】したがって、第一の判断基準として、合焦
領域の重なる領域の大きさを求め、得られた領域が指定
量以下であれば、測定不可能とする。例えば、重なり領
域が撮像領域の20%以下であればNGとする。
領域の重なる領域の大きさを求め、得られた領域が指定
量以下であれば、測定不可能とする。例えば、重なり領
域が撮像領域の20%以下であればNGとする。
【0070】ところが一方、図6の(c)のように、光
軸のなす角が180度の場合でも、合焦領域の重なり領
域は大きい。そこで、第2の判断基準として、光学条件
a、光学条件bから得られる光軸間の角度θを演算し、
角度が一定以上であれば測定不可能とする。たとえば、
60度以上を測定不可能とするのが望ましい。
軸のなす角が180度の場合でも、合焦領域の重なり領
域は大きい。そこで、第2の判断基準として、光学条件
a、光学条件bから得られる光軸間の角度θを演算し、
角度が一定以上であれば測定不可能とする。たとえば、
60度以上を測定不可能とするのが望ましい。
【0071】以上のようにして得られた、図3の測定可
否判別処理24の結果がNG、すなわち測定不可能とな
った場合には、ブザー音発生26として、図2の6のス
ピーカを鳴らすか、または、表示27として、表示装置
4に結果を表示して、測定者(図示せず)に測定不可能
であることを知らせる。測定者は、撮像位置変更21に
戻り、再度撮像位置を変更してその後の処理を実施す
る。
否判別処理24の結果がNG、すなわち測定不可能とな
った場合には、ブザー音発生26として、図2の6のス
ピーカを鳴らすか、または、表示27として、表示装置
4に結果を表示して、測定者(図示せず)に測定不可能
であることを知らせる。測定者は、撮像位置変更21に
戻り、再度撮像位置を変更してその後の処理を実施す
る。
【0072】判別結果がOKすなわち測定可能となった
場合には、25の3次元形状演算を行う。図2のCPU
12がメモリ11に記憶している16aの撮像画像a、
16bの撮像画像b、18aの位置条件a、18bの位
置条件b、20aの光学条件a、20bの光学条件bを
呼び出し、3次元形状測定を実行する。3次元形状測定
の演算は、従来例の説明で示した方法と同様の方法で行
う。
場合には、25の3次元形状演算を行う。図2のCPU
12がメモリ11に記憶している16aの撮像画像a、
16bの撮像画像b、18aの位置条件a、18bの位
置条件b、20aの光学条件a、20bの光学条件bを
呼び出し、3次元形状測定を実行する。3次元形状測定
の演算は、従来例の説明で示した方法と同様の方法で行
う。
【0073】以下、従来の技術で示した式(1)〜
(7)を用いて説明する。 Xa=Xai×G (1) Ya=f1 (2) のうち、式(1)のGはあらかじめ装置固有の値である
ため、メモリ11に記憶されている。従来例で示したよ
うに、式(1)のXaiは、図4の撮像画像aと撮像画
像bの相関を取ることにより得られる。また、f1は、
光学条件a(20a)から得ることができる。
(7)を用いて説明する。 Xa=Xai×G (1) Ya=f1 (2) のうち、式(1)のGはあらかじめ装置固有の値である
ため、メモリ11に記憶されている。従来例で示したよ
うに、式(1)のXaiは、図4の撮像画像aと撮像画
像bの相関を取ることにより得られる。また、f1は、
光学条件a(20a)から得ることができる。
【0074】次に、 α=tan-1(Xbi・G/f2) (3) については、XbiはXaiと同様に得ることができ
る。またf2についでは、光学条件b(20b)より求
めることができる。
る。またf2についでは、光学条件b(20b)より求
めることができる。
【0075】さらに、 Xb=(f22+(Xbi・G)2)1/2・sin(α+θ)+Xn1 (4) Yb=−(f22+(Xbi・G)2)1/2・cos(α+θ)+Yn1 (5) については、θ、Xn1、Yn1は、位置条件a(18
a)と位置条件b(18b)から得ることができる。し
たがって、 S=Ya/Xa (6) T=(Yb−Yn1)/(Xb−Xn1) (7) とすると、Xp、Ypはそれぞれ以下の式により求めら
れる。
a)と位置条件b(18b)から得ることができる。し
たがって、 S=Ya/Xa (6) T=(Yb−Yn1)/(Xb−Xn1) (7) とすると、Xp、Ypはそれぞれ以下の式により求めら
れる。
【0076】 Xp=(Yn1−T・Xn1)/(S−T) (8) Yp=Xp・S (9) このように、16aの撮像画像a、16bの撮像画像
b、18aの位置条件a、18bの位置条件b、20a
の光学条件a、20bの光学条件bを用いて、空間上の
位置を検出する事が可能である。このような計算を繰り
返し行うことにより、被測定物体1の3次元形状を得る
ことができる。
b、18aの位置条件a、18bの位置条件b、20a
の光学条件a、20bの光学条件bを用いて、空間上の
位置を検出する事が可能である。このような計算を繰り
返し行うことにより、被測定物体1の3次元形状を得る
ことができる。
【0077】ただし、ズームすなわち画角が変化した場
合には、以下の問題が発生する。すなわち、画角が変化
すると、図5の(a)の撮像画像a、(b)の撮像画像
bのように、複数の画像間で被測定物の大きさが異なる
為、2枚の画像間でパターンマッチングを行うことが困
難となる。そこで、18aの光学条件aと18bの光学
条件bとを比較し、倍率が一定になるように画像を縮小
または拡大して得られた画像を用いてパターンマッチン
グを行う。図5の(c)が、図5の(b)の画像の一部
(点線内)を拡大し、図5の(a)と同倍率にした画像
の例である。
合には、以下の問題が発生する。すなわち、画角が変化
すると、図5の(a)の撮像画像a、(b)の撮像画像
bのように、複数の画像間で被測定物の大きさが異なる
為、2枚の画像間でパターンマッチングを行うことが困
難となる。そこで、18aの光学条件aと18bの光学
条件bとを比較し、倍率が一定になるように画像を縮小
または拡大して得られた画像を用いてパターンマッチン
グを行う。図5の(c)が、図5の(b)の画像の一部
(点線内)を拡大し、図5の(a)と同倍率にした画像
の例である。
【0078】最後に、以上のようにして得られた3次元
形状を、図3の28の記憶として、記憶装置13に記憶
するか、または表示29として、図2の表示装置4に表
示して測定完了30となる。
形状を、図3の28の記憶として、記憶装置13に記憶
するか、または表示29として、図2の表示装置4に表
示して測定完了30となる。
【0079】表示方法としては、結果として得られた3
次元形状をワイヤーフレームとして再構成したり、テク
スチャをマッピングしたり、また距離を画像の輝度に変
換した距離画像に変換して表示することが望ましい。
次元形状をワイヤーフレームとして再構成したり、テク
スチャをマッピングしたり、また距離を画像の輝度に変
換した距離画像に変換して表示することが望ましい。
【0080】なお、本実施形態では、撮像回数を2回の
場合について示したが、撮像回数が2回以上であれば何
回でもよい。特に、図1の被測定物1のような形状のよ
うに、一方の視点からの撮像では被測定物の全面の形状
を得られない場合には、複数回の撮像を実施して、得ら
れた3次元形状データを合成することも可能であるのは
言うまでもない。
場合について示したが、撮像回数が2回以上であれば何
回でもよい。特に、図1の被測定物1のような形状のよ
うに、一方の視点からの撮像では被測定物の全面の形状
を得られない場合には、複数回の撮像を実施して、得ら
れた3次元形状データを合成することも可能であるのは
言うまでもない。
【0081】以下本発明の第2の実施形態について、図
面を参照しながら説明する。図7が、第2の実施形態に
おける3次元形状測定装置を示した概略図である。第1
の実施形態と共通のものについては、説明を省略する。
面を参照しながら説明する。図7が、第2の実施形態に
おける3次元形状測定装置を示した概略図である。第1
の実施形態と共通のものについては、説明を省略する。
【0082】2aが撮像装置である。37が計算機であ
り、3次元形状の計算と測定可否判別を行う。35が、
2aの撮像装置に装備されている無線交信機1である。
36が、計算機37に装備されている無線交信機2であ
る。35の無線交信機1と36の無線交信機2の間で、
撮像画像などのデータを交信する事ができる。38が、
ディスプレイであり、計算機37での計算結果を表示す
る。
り、3次元形状の計算と測定可否判別を行う。35が、
2aの撮像装置に装備されている無線交信機1である。
36が、計算機37に装備されている無線交信機2であ
る。35の無線交信機1と36の無線交信機2の間で、
撮像画像などのデータを交信する事ができる。38が、
ディスプレイであり、計算機37での計算結果を表示す
る。
【0083】図8が、第2の実施形態における3次元形
状測定装置の内部構成を示した構成図である。図2およ
び図7と同様の番号を付したものについては、同様の機
能を有するため説明を省略する。
状測定装置の内部構成を示した構成図である。図2およ
び図7と同様の番号を付したものについては、同様の機
能を有するため説明を省略する。
【0084】11aが、撮像装置2aに内蔵されたメモ
リ1であり、撮像画像や5の位置検出器から得られた位
置条件や、8の光学条件検出器から得られた光学条件を
一時記憶する。
リ1であり、撮像画像や5の位置検出器から得られた位
置条件や、8の光学条件検出器から得られた光学条件を
一時記憶する。
【0085】11bが、計算機37に内蔵されたメモリ
2であり、36の無線交信機2にて受信した撮像画像
や、5の位置検出器から得られた位置条件や、8の光学
条件検出器から得られた光学条件などを一時記憶する。
2であり、36の無線交信機2にて受信した撮像画像
や、5の位置検出器から得られた位置条件や、8の光学
条件検出器から得られた光学条件などを一時記憶する。
【0086】図9が、3次元測定を行うための処理手順
を示したフローチャートである。以下、図9に示した処
理手順に従い測定方法を説明する。
を示したフローチャートである。以下、図9に示した処
理手順に従い測定方法を説明する。
【0087】最初に14aの測定スタート、撮像装置設
定を実施する。図7の撮像装置2aを被測定物1が撮像
できる位置に設定する。続いて、15の撮像画像の取得
を行う。図8のシャッターボタン7をONすることによ
りトリガーがかかり、被測定物1の像がレンズユニット
3を通してCCD9上に結像する。CCD9により光電
変換された画像は、A/D変換器10によりデジタル信
号に変換し、23のメモリ記憶として、得られた撮像画
像aを11aのメモリ1に記憶する。
定を実施する。図7の撮像装置2aを被測定物1が撮像
できる位置に設定する。続いて、15の撮像画像の取得
を行う。図8のシャッターボタン7をONすることによ
りトリガーがかかり、被測定物1の像がレンズユニット
3を通してCCD9上に結像する。CCD9により光電
変換された画像は、A/D変換器10によりデジタル信
号に変換し、23のメモリ記憶として、得られた撮像画
像aを11aのメモリ1に記憶する。
【0088】次に、図9の15の撮像画像の取得と同時
に、17の光学条件の検出を行う。光学条件の検出は、
図8の光学条件検出器8により実施する。検出方法は、
第1の実施形態と同じである。得られた18aの光学条
件aを図8の11aのメモリ1に記憶する。
に、17の光学条件の検出を行う。光学条件の検出は、
図8の光学条件検出器8により実施する。検出方法は、
第1の実施形態と同じである。得られた18aの光学条
件aを図8の11aのメモリ1に記憶する。
【0089】さらに、図9の15の撮像画像の取得と同
時に、19の基準位置設定を実施する。基準位置設定1
9は、第1の実施形態と同様であるため説明を省略す
る。得られた20aの位置条件aを図8の11aのメモ
リ1に記憶する。
時に、19の基準位置設定を実施する。基準位置設定1
9は、第1の実施形態と同様であるため説明を省略す
る。得られた20aの位置条件aを図8の11aのメモ
リ1に記憶する。
【0090】次に測定者は、図9の撮像位置の変更21
を行う。例えば、図7の点線のような位置に移動する。
そして再度、被測定物1が撮像範囲に入るように設置
後、図9の15の撮像画像の取得、17の光学条件の検
出、22の相対位置検出を行い、それぞれ、16bの撮
像画像b、18bの光学条件b、20bの位置条件bを
メモリ記憶23を実施して図8の11aのメモリ1に記
憶する。なお、20aの位置条件aを空間位置の基準点
としたため、20bの位置条件bは、20aの位置条件
aを基準とした相対位置として得られる。
を行う。例えば、図7の点線のような位置に移動する。
そして再度、被測定物1が撮像範囲に入るように設置
後、図9の15の撮像画像の取得、17の光学条件の検
出、22の相対位置検出を行い、それぞれ、16bの撮
像画像b、18bの光学条件b、20bの位置条件bを
メモリ記憶23を実施して図8の11aのメモリ1に記
憶する。なお、20aの位置条件aを空間位置の基準点
としたため、20bの位置条件bは、20aの位置条件
aを基準とした相対位置として得られる。
【0091】次に、39の送受信を実施する。送受信3
9は、図8のメモリ11aに記憶された16aの撮像画
像a、18aの光学条件a、20aの位置条件aと、1
6bの撮像画像b、18bの光学条件b、20bの位置
条件bを、図8の無線交信機35から無線交信機36を
介して、図8の11bのメモリ2に送る。
9は、図8のメモリ11aに記憶された16aの撮像画
像a、18aの光学条件a、20aの位置条件aと、1
6bの撮像画像b、18bの光学条件b、20bの位置
条件bを、図8の無線交信機35から無線交信機36を
介して、図8の11bのメモリ2に送る。
【0092】続いて、24の測定可否判別処理を実施す
るが、処理方法は、第1の実施形態と同じであるため省
略する。結果として得られた可否判別結果が、測定NG
の場合には、無線交信機36を介して無線交信機35に
結果を送り、27の表示として、図8の表示装置4に結
果を表示するか、または、26のブザー音発生として、
図8のスピーカ6からブザー音を鳴らし、21の撮像位
置変更を行い、再度撮像画像の取得からやり直す。
るが、処理方法は、第1の実施形態と同じであるため省
略する。結果として得られた可否判別結果が、測定NG
の場合には、無線交信機36を介して無線交信機35に
結果を送り、27の表示として、図8の表示装置4に結
果を表示するか、または、26のブザー音発生として、
図8のスピーカ6からブザー音を鳴らし、21の撮像位
置変更を行い、再度撮像画像の取得からやり直す。
【0093】測定可否判別処理24の結果が測定OKの
場合には、25の3次元形状演算を実施する。3次元形
状演算の方法は、第1の実施形態と同じであるため省略
する。最後に28の記憶として、記憶装置13に記憶す
るか、または、29の表示として、ディスプレイ38に
結果を表示する。なお、無線交信機36と、無線交信機
35を介して、図8の表示装置4に結果を表示すること
も可能である。
場合には、25の3次元形状演算を実施する。3次元形
状演算の方法は、第1の実施形態と同じであるため省略
する。最後に28の記憶として、記憶装置13に記憶す
るか、または、29の表示として、ディスプレイ38に
結果を表示する。なお、無線交信機36と、無線交信機
35を介して、図8の表示装置4に結果を表示すること
も可能である。
【0094】
【発明の効果】以上のように、本発明の3次元形状測定
方法は、撮像装置の空間上の位置と撮像方向を検出でき
るため、撮像装置を自由な位置に移動しながら被測定物
を撮像する事により自動で3次元形状を得ることができ
る。
方法は、撮像装置の空間上の位置と撮像方向を検出でき
るため、撮像装置を自由な位置に移動しながら被測定物
を撮像する事により自動で3次元形状を得ることができ
る。
【図1】第1の実施形態における3次元形状測定装置を
示した概略図
示した概略図
【図2】第1の実施形態における3次元形状測定装置の
内部構成を示した構成図
内部構成を示した構成図
【図3】第1の実施形態における処理手順を示したフロ
ーチャート
ーチャート
【図4】複数の撮像画像の例を示した模式図
【図5】撮像時にズーム倍率が変化した時に得られる画
像を示した模式図
像を示した模式図
【図6】撮像装置の位置関係を示した概略図
【図7】第2の実施形態における3次元形状測定装置を
示した概略図
示した概略図
【図8】第2の実施形態における3次元形状測定装置の
内部構成を示した構成図
内部構成を示した構成図
【図9】第2の実施形態における処理手順を示したフロ
ーチャート
ーチャート
【図10】従来の3次元形状測定装置を示した概略図
【図11】ステレオ法の測定原理を説明するための概略
図
図
1 被測定物 2 3次元形状測定装置 3 レンズユニット 4 表示装置 5 位置検出器 6 スピーカ 7 シャッタボタン
Claims (10)
- 【請求項1】撮像装置により、空間上の任意の複数位置
から、被測定物の複数の撮像画像を得る撮像ステップ
と、 前記撮像ステップにおける前記撮像装置の前記空間上の
位置と撮像方向を検出する検出ステップと、 前記検出ステップで得られた撮像装置の空間上の位置と
撮像方向と、前記被測定物の任意の位置の、前記撮像ス
テップで得られた前記複数の撮像画像における位置を検
出し、対応点を検出することにより、 前記被測定物の3次元形状を測定する3次元形状測定方
法。 - 【請求項2】焦点距離可変機能を有する撮像装置によ
り、空間上の任意の複数位置から、被測定物の複数の撮
像画像を得る撮像ステップと、 前記撮像ステップにおける前記撮像装置の前記空間上の
位置と撮像方向と、前記撮像装置の焦点距離を検出する
検出ステップと、 前記検出ステップで得られた前記撮像装置の空間上の位
置と撮像方向と前記焦点距離と、前記被測定物の任意の
位置の前記撮像ステップで得られた前記複数の撮像画像
における位置を検出し、対応点を検出することにより、 前記被測定物の3次元形状を測定する3次元形状測定方
法。 - 【請求項3】撮像倍率可変のレンズを有する撮像装置に
より、空間上の任意の複数位置および撮像倍率にて、被
測定物の複数の撮像画像を得る撮像ステップと、 前記撮像ステップにおける前記撮像装置の前記空間上の
位置と撮像方向と撮像倍率とを検出する検出ステップ
と、 前記検出ステップで得られた前記撮像倍率に応じて前記
複数の撮像画像を幾何変換にて得られた複数の変換画像
を得る変換ステップと、 前記検出ステップで得られた撮像装置の空間上の位置と
撮像方向と、 前記被測定物の任意の位置の、前記変換ステップより得
られた前記複数の変換画像における位置を検出し、対応
点を検出することにより、 前記被測定物の3次元形状を測定する3次元形状測定方
法。 - 【請求項4】撮像装置の複数の空間上の位置と撮像方向
から、3次元形状の測定が可能かどうかを判別する判別
ステップを有することを特徴とする、請求項1および請
求項2および請求項3の3次元形状測定方法。 - 【請求項5】撮像装置の複数の空間上の位置と撮像方向
から、3次元形状の測定が可能かどうかを判別する判別
ステップと、 前記判別ステップの判別結果を測定者に告知する告知ス
テップとを有することを特徴とする、請求項1および請
求項2および請求項3の3次元形状測定方法。 - 【請求項6】撮像倍率可変およびまたは自動焦点機能を
有し、被測定物を空間上の任意の複数位置から撮像し撮
像画像を得る撮像装置と、 前記撮像装置の空間上の位置と撮像方向を検出する位置
検出器と、 前記撮像装置の撮像倍率およびまたは焦点距離を検出す
る光学条件検出器と、 前記撮像装置により得られた複数の撮像画像と、前記位
置検出機により得られた前記撮像装置の空間上の位置と
撮像方向と、前記光学条件検出器により得られた撮像装
置の撮像倍率およびまたは焦点距離から、前記被測定物
の3次元形状を計算する計算装置とを具備することを特
徴とする3次元形状測定装置。 - 【請求項7】撮像倍率可変およびまたは自動焦点機能を
有し、被測定物を空間上の任意の複数位置から撮像し撮
像画像を得る撮像装置と、 前記撮像装置に具備し、前記撮像装置の空間上の位置と
撮像方向を検出する位置検出器と、 前記撮像装置に具備し、前記撮像装置の撮像倍率および
または焦点距離を検出する光学条件検出器と、 前記撮像装置により得られた複数の撮像画像と、前記位
置検出機により得られた前記撮像装置の空間上の位置と
撮像方向と、前記光学条件検出器により得られた撮像装
置の撮像倍率およびまたは焦点距離から、前記被測定物
の3次元形状を計算する計算装置と、 前記撮像装置と前記計算装置との間でデータを交信する
無線交信機とを有することを特徴とする3次元形状測定
装置。 - 【請求項8】前記計算装置が、前記撮像装置の複数の空
間上の位置と撮像方向から、3次元形状の測定の可否を
判別する判別機能を有することを特徴とする請求項6お
よび請求項7の3次元形状測定装置。 - 【請求項9】前記計算装置に具備し、前記撮像装置の複
数の空間上の位置と撮像方向から、3次元形状の測定の
可否を判定する判定機と、 前記撮像装置に具備し、前記判定機より得られた判定結
果を表示する表示装置を有することを特徴とする請求項
6および請求項7の3次元形状測定装置。 - 【請求項10】前記計算装置に具備し、前記撮像装置の
複数の空間上の位置と撮像方向から、3次元形状の測定
の可否を判定する判定機と、 前記撮像装置およびまたは計算装置に具備し、前記判定
機より得られた判定結果により音を変化させる音源を有
することを特徴とする請求項6および請求項7の3次元
形状測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9281701A JPH11118438A (ja) | 1997-10-15 | 1997-10-15 | 3次元形状測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9281701A JPH11118438A (ja) | 1997-10-15 | 1997-10-15 | 3次元形状測定方法および装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11118438A true JPH11118438A (ja) | 1999-04-30 |
Family
ID=17642782
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9281701A Pending JPH11118438A (ja) | 1997-10-15 | 1997-10-15 | 3次元形状測定方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11118438A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001133226A (ja) * | 1999-11-01 | 2001-05-18 | Casio Comput Co Ltd | 撮影画像処理装置、撮影装置、および、記憶媒体 |
WO2003008348A1 (fr) * | 2001-07-19 | 2003-01-30 | Kawaso Electric Industrial Co., Ltd. | Procede de controle de la qualite de paraisons de verre et dispositif de controle de la qualite dans un procede de moulage d'articles en verre |
JP2003228701A (ja) * | 2002-02-05 | 2003-08-15 | Japan Science & Technology Corp | 跛行診断システム |
JP2005292027A (ja) * | 2004-04-02 | 2005-10-20 | Miyazaki Tlo:Kk | 三次元形状計測・復元処理装置および方法 |
JP2007303839A (ja) * | 2006-05-08 | 2007-11-22 | Konica Minolta Sensing Inc | 三次元形状測定システム |
JP2008076285A (ja) * | 2006-09-22 | 2008-04-03 | Ihi Corp | 写真計測システム |
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CN108692661A (zh) * | 2018-05-08 | 2018-10-23 | 深圳大学 | 基于惯性测量单元的便携式三维测量系统及其测量方法 |
WO2019087467A1 (ja) * | 2017-10-30 | 2019-05-09 | 株式会社日立ソリューションズ | 計測システム、計測装置、及び計測方法 |
-
1997
- 1997-10-15 JP JP9281701A patent/JPH11118438A/ja active Pending
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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