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JPH1069639A - ランド・グルーブ記録を行う場合のテスト記録方法及び該方法を用いた光学的情報記録再生装置 - Google Patents

ランド・グルーブ記録を行う場合のテスト記録方法及び該方法を用いた光学的情報記録再生装置

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JPH1069639A
JPH1069639A JP9138585A JP13858597A JPH1069639A JP H1069639 A JPH1069639 A JP H1069639A JP 9138585 A JP9138585 A JP 9138585A JP 13858597 A JP13858597 A JP 13858597A JP H1069639 A JPH1069639 A JP H1069639A
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recording
power
track
optimum
erasing
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Application number
JP9138585A
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Takaaki Ashinuma
孝昭 芦沼
Akira Miyashita
朗 宮下
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Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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    • G11B7/00718—Groove and land recording, i.e. user data recorded both in the grooves and on the lands

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 消去パワーについては考慮されておらず、隣
接トラックの情報の破壊や再生信号の劣化、データの損
失などを招く問題があった。 【解決手段】 記録媒体のランドとグルーブに記録され
た情報を消去するにあたり、光源の光出力の最適パワー
を決定するテスト記録方法において、記録媒体の所定ト
ラックに所定の信号を記録するステップと、信号が記録
されたトラックを複数の異なる消去パワーで消去するス
テップと、信号が記録されたトラックを再生して再生信
号を検出するステップと、再生信号と複数の異なる消去
パワーに基づいて最適な消去パワーを設定するステップ
とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光記録媒体に対し
光源の最適パワーを決定するテスト記録方法、特にラン
ド・グルーブ記録を行う場合のテスト記録方法及びそれ
を用いた光学的情報記録再生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、光ディスクの記録密度を向上する
技術として、単一チャネル周波数のＣＡＶ方式から複数
のチャネル周波数を持ったＣＡＶ（ＺＣＡＶ）方式に、
マークポジション記録からマークエッジ記録へと移行し
てきている。また、レーザの短波長化や高能率符号化な
ども高密度化のための技術として研究がなされている。
特に、最近においては、ディスク上にランドとグルーブ
を等間隔で形成し、その両方に記録を行い、隣接トラッ
クからのクロストークはランドとグルーブのそれぞれに
対する光路差によって生じる干渉を利用して抑圧すると
いうランド・グルーブ記録が注目されている。ランド・
グルーブ記録に関しては、例えば特開昭６３−５７８５
９号公報、特開平５−２８２８０５号公報、特開平２−
１７７０２７号公報などに開示されている。
【０００３】一方、ディスクとドライブ装置の互換性を
とり、情報を良好に記録するために種々のテスト記録方
法も提案され、実用化に至っている。このようなテスト
記録は、情報の記録前に、記録パワーを変化させながら
ディスクに試し記録を行い、その再生信号を評価して記
録に最適な記録パワーを決定するというものである。最
適パワーを決定する方法としては、例えばエラーレート
が最小になる記録パワーを検出する方法、再生信号振幅
が最大になる記録パワーを検出する方法、あるいは再生
信号のアシンメトリーが０となる記録パワーを検出する
方法などが知られている。また、記録を行ったトラック
の隣接トラックのクロストーク量を検出し、検出された
クロストーク量が所定値以下になるように最適パワーを
決定する方法も提案されている（特開平７−２２０２８
０号公報）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来は最適な
記録パワーの設定は行っていたが、最適な消去パワーの
設定については、何等考慮されていなかった。因に、消
去パワーの設定が不適切であると、隣接トラックの情報
の破壊を引き起し、再生信号の劣化、データの損失を招
いてしまうという問題があった。
【０００５】そこで、本発明は、上記従来の事情に鑑
み、ランド・グルーブ記録に適したテスト記録方法及び
それを用いた光学的情報記録再生装置を提供することを
目的としたものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、記録媒
体のランドとグルーブに記録された情報を消去するにあ
たり、光源の光出力の最適パワーを決定するテスト記録
方法おいて、前記媒体の所定トラックに所定の信号を記
録するステップと、前記信号が記録されたトラックに隣
接するトラックを、複数の異なる消去パワーで消去する
ステップと、前記信号が記録されたトラックを再生して
再生信号を検出するステップと、前記再生信号と前記複
数の異なる消去パワーに基づいて、最適な消去パワーを
設定するステップとを備えることにより達成される。
【０００７】また、本発明の目的は、記録媒体のランド
とグルーブに記録された情報を消去するにあたり、光源
の光出力の最適パワーを決定するテスト記録を実行する
光学的情報記録再生装置おいて、前記媒体の所定トラッ
クに所定の信号を記録する手段と、前記信号が記録され
たトラックに隣接するトラックを、複数の異なる消去パ
ワーで消去する手段と、前記信号が記録されたトラック
を再生して再生信号を検出する手段と、前記再生信号と
前記複数の異なる消去パワーに基づいて、最適な消去パ
ワーを設定する手段とを備えることにより達成される。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の光学
的情報記録再生装置の一実施形態を示したブロック図で
ある。図１において、１は情報記録媒体であるところの
光ディスクであり、ランドとグルーブが等間隔に形成さ
れたランド・グルーブ記録用のディスクである。光ディ
スク１はスピンドルモータ２の駆動によって所定の速度
で回転する。光ディスク１の下部には、光ビームを照射
してディスク１のランドとグルーブに情報を記録、再生
する光学ユニット３が設けられている。光学ユニット３
は光源の半導体レーザ、そのレーザビームを微小光スポ
ットに絞り込む対物レンズ、ディスク１からの反射光を
受光する光センサなど種々の光学素子から構成されてい
る。光学ユニット３は光学ユニット駆動系４の駆動によ
りディスク１の半径方向に移動でき、ディスク１の所望
のトラックにアクセスできるように構成されている。
【０００９】レーザドライバー５はコントローラ１０の
制御に基づいて光学ユニット３内の半導体レーザを駆動
するレーザ駆動回路である。情報の記録時は、レーザド
ライバー５は、半導体レーザの光出力を変調し、それを
ディスク１に照射することで情報の記録を行う。また、
情報の再生時は、半導体レーザの光出力を一定の低いパ
ワーに制御する。プリアンプ６は光学ユニット３の光セ
ンサの出力信号を電流−電圧変換して再生信号を出力す
るためのアンプである。光ディスク１のトラックは複数
のセクタに分割され、各々のセクタはプリフォーマット
されたＩＤ部とデータの記録を行うＭＯ部からなってい
るが、いずれも再生用ビームの反射光を受光する光学ユ
ニット３内の光センサの出力信号をもとに再生される。
光学ユニット３内の光センサで受光された反射光はプリ
アンプ６で電流−電圧変換され、再生信号としてデータ
再生回路９に出力される。
【００１０】データ再生回路９は再生信号を用いて所定
の信号処理を行い、ディスク１上のデータをコントロー
ラ１０が識別できる形に変換し、再生データを生成する
ための回路である。コントローラ１０は、そのうちＩＤ
部の再生データから光学ユニット３の光スポットの位置
情報を得て、レーザスポットがディスク１のどの位置を
走査しているのかを認識することができる。また、コン
トローラ１０は得られた位置情報をもとに光学ユニット
駆動系４を制御し、光学ユニット３をディスク１の目的
の位置にアクセスする制御を行う。
【００１１】レベル検出回路７は再生信号の振幅レベル
を検出する回路であり、検出された振幅レベルはＡ／Ｄ
コンバータ８でコントローラ１０に取り込まれる。レベ
ル検出回路７はテスト記録時に用いられ、詳しく後述す
るように再生信号の振幅レベルをもとに半導体レーザの
最適記録パワーが決められる。コントローラ１０は本実
施形態の光学的情報記録再生装置の主制御回路であり、
レーザドライバー５や光学ユニット駆動系４など各部を
制御してディスク１に情報を記録したり、記録情報を再
生する。また、コントローラ１０は詳しく後述するよう
に各部を制御してディスク１にテスト記録を行い、最適
記録パワー、最適消去パワーなどを決定する。
【００１２】図２は図１の装置に使用されるテスト記録
方法の第１の実施形態を示したフローチャートである。
このテスト記録は、例えばディスク１が装置にセットさ
れたときに行うものとする。なお、第１の実施形態で
は、光ディスク１は光磁気ディスク、記録方式は光変調
方式、記録形態はマークポジション記録であるものとす
る。図２において、まず、ディスク１が装置にセットさ
れると、コントローラ１０はディスク１のテスト記録領
域のＮ−１，Ｎ，Ｎ＋１トラックを消去する（Ｓ１）。
図３にこのテスト記録領域を示している。本実施形態で
は、図３のテスト記録領域のうちＮトラック（グルー
ブ）及びＮ＋１トラック（ランド）を用いるのである
が、Ｎ−１トラックからのクロストークの影響を除去す
るため、Ｎ−１トラックも消去する。
【００１３】また、図３のテスト記録領域のトラックの
うちＮ＋２トラックは直接テスト記録に使用しないが、
テスト記録時に他の領域のデータが破壊される恐れがあ
るので、Ｎ＋１トラックの隣接トラックであるＮ＋２ト
ラックを緩衝領域として確保している。Ｓ１の消去を行
うには、図１のバイアスマグネット（図示せず）を駆動
し、バイアスマグネットからディスク１に消去方向の磁
界を印加する。この磁界を印加しながら光学ユニット３
から記録パワーに準じる所定消去パワーの光ビームを照
射し、ディスク１のＮ−１，Ｎ，Ｎ＋１トラックにトレ
ースする。このときの消去パワーとしては、隣接トラッ
クに対するクロスライトは問題にならないので、テスト
記録領域のトラックを確実に消去できるように高めのパ
ワーに設定するのが望ましい。
【００１４】消去を終了すると、コントローラ１０は図
３のテスト記録領域にテスト記録を開始する。具体的に
説明すると、まず、コントローラ１０は記録パワーＰW
の初期値をＰ0 に設定し、記録パワー及び記録するセク
タを指示するｋの値を０に設定する（Ｓ２）。次いで、
コントローラ１０はＮ＋１トラックのＭ＋２・ｋセクタ
にＰW ＝Ｐ0 ＋ｋ・ΔＰの記録パワーで所定の信号パタ
ーンを記録する（Ｓ３）。この場合、ｋ＝０であるの
で、Ｎ＋１トラックのＭセクタにＰW ＝Ｐ0 の記録パワ
ーで記録する。Ｍセクタの記録を終了すると、コントロ
ーラ１０はｋに１を加算し、次に記録する記録パワーを
ＰW ＝Ｐ0 ＋ΔＰとする（Ｓ４）。次いでｋ＝１０であ
るかどうかを判定し（Ｓ５）、このときはｋ＝１である
ので、再びＳ３に戻ってＭ＋２・ｋセクタにＰW ＝Ｐ0
＋ΔＰの記録パワーで所定の信号パターンを記録する。
この場合は、ｋ＝１であるので、Ｍ＋１セクタを飛ばし
てＭ＋２セクタに記録を行う。
【００１５】このようにＳ３〜Ｓ５の処理を繰り返し行
い、ＭセクタからＭ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…という
ように１セクタおきに、かつセクタごとに記録パワーを
ΔＰづつ増加しながら記録を行う。図４（ａ）にこのと
きの記録パワー（レーザパワー）を示している。記録パ
ワーは前述のようにΔＰづつ段階的に増加し、最後のセ
クタで最大となる。ここで、本実施形態では、Ｓ５でｋ
＝１０になったところで記録を終了し、ｋの終値を９と
しているが、ｋ＝０の場合の記録パワーの最小値Ｐ0 は
クロスライトを生じるパワーよりも十分に小さく、ｋ＝
９の場合の記録パワーの最大値（Ｐ0 ＋９・ΔＰ0 ）は
確実にクロスライトを生じるパワーに設定している。
【００１６】また、記録を行う場合は、図１のバイアス
マグネット（図示せず）からディスク１に消去方向とは
逆方向の記録用磁界を印加しながら、光学ユニット３か
ら前述のような記録パワーの光ビームを照射することで
記録を行う。図４（ｂ）に以上のテスト記録によって記
録されたＮ＋１トラック上のピットを示している。図４
（ｂ）においては、記録パワーの増加に伴い、徐々にピ
ットの形状が大きくなり、隣接トラックへのクロスライ
トを生じていることがわかる。なお、本実施形態では、
１セクタおきにテスト記録を行うことで、半導体レーザ
のパワー変更に要する時間を確保している。
【００１７】記録を終了すると、コントローラ１０は先
に記録したＮ＋１トラックの隣のＮトラックに再生用ビ
ームをトレースしてその再生信号レベルを検出する。具
体的には、まずコントローラ１０はｋ＝０とする（Ｓ
６）。次いで、ＮトラックのＭ＋２・ｋセクタを再生
し、その再生レベルを検出する（Ｓ７）。この場合は、
ｋ＝０であるので、ＮトラックのＭセクタが再生され、
レベル検出回路７で再生レベルを検出してＡ／Ｄコンバ
ータ８でコントローラ１０に取り込まれる。コントロー
ラ１０は，得られた再生レベルをセクタ番号と対応させ
て記憶しておく。但し、Ｎトラックには記録がなされて
いるわけではないので，データとしては認識されない。
ＮトラックのＭセクタは図３のようにＮ＋１トラックの
Ｍセクタに隣接しているので、検出された再生レベルは
Ｎ＋１トラックからのクロストーク成分を含んでいる。
次いで、コントローラ１０はｋ＝ｋ＋１とした後（Ｓ
８）、ｋ＝１０であるかどうかを判定する（Ｓ９）、こ
のときは、ｋ＝１であるので、Ｓ７に戻ってｋ＝１で指
示されるＮトラックのＭ＋２セクタを再生する。Ｎトラ
ックのＭ＋２セクタは同様に先のＮ＋１トラックにテス
ト記録されたＭ＋２セクタに隣接している。再生された
レベルはレベル検出回路７で検出され、Ａ／Ｄコンバー
タ８でコントローラ１０に取り込まれる。得られた再生
レベルは同様にセクタ番号と対応させてメモリに記憶さ
せておく。
【００１８】コントローラ１０はＳ７〜Ｓ９を繰り返し
行い、ＮトラックをＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セ
クタ…というように１セクタおきに再生していく。即
ち、Ｎ＋１トラックのテスト記録されたセクタに隣接す
るセクタを順次再生し、得られた再生レベルをセクタ番
号と対応させてメモリに記憶していく。図４（ｄ）にＮ
トラックの再生信号を示している。再生信号の振幅レベ
ルはＮ＋１トラックのピットの大きさ、即ちテスト記録
時のレーザパワーの大きさに応じて高くなっている。ま
た、図４（ｅ）はレベル検出回路７の出力信号を示して
いる。レベル検出回路７はピークホールド特性を持って
いて、図４（ｄ）の再生信号のピーク値をホールドし、
図４（ｅ）のような信号を再生レベルとして検出する。
本実施形態では、このようにピークホールド特性を持た
せることにより、テスト記録時の変調パターンに依存す
ることなく、高感度で再生信号のレベルを検出できるよ
うにしている。但し、ノイズなどによる誤検知も考えら
れるので、例えば所定のセクタの再生期間内に再生信号
の複数のレベルデータをサンプリングし、それらを平均
化するなどノイズの影響を除去するのが望ましい。
【００１９】仮に、レベル検出回路７を平均値検波器で
構成した場合、その時定数を大きくすることでノイズの
影響を低減できるが、感度は低下するので、感度を高め
るためにはテスト記録時の変調信号のパターンは密度の
高いパターンを用いるのが望ましい。ところで、テスト
記録に用いる変調信号は、コントローラ１０内にテスト
記録用の信号生成器を設けて生成してもよいが、通常の
記録に用いる変調則で生成される信号パターンを用いて
もよい。このようにすると、構成を簡単化することがで
きるが、精度をよくするためには、信号パターンは単一
周期信号であるのが望ましい。特に、レベル検出回路７
を前述のように平均値検波器で構成した場合、その出力
は信号パターンに直接依存するため、本来の隣接トラッ
クのクロスライト量を検出するには、信号パターンは単
一周期信号であるのが最も好ましい。また、通常のデー
タの記録時は、１セクタ分のデータの後部にエラー訂正
用のＥＣＣが付加されるので、テスト記録時はこのＥＣ
Ｃ部を避けてレベルデータの取り込みを行うか、ＥＣＣ
を付加しない記録モードを用いるかといった工夫が必要
である。
【００２０】図２に戻る。コントローラ１０はＳ９でｋ
＝１０になると、Ｎトラックの再生を終了する。そし
て、それまでに得られたＮ＋１トラックのｋ個のセクタ
に対する記録パワーと、Ｎトラックを再生した場合のｋ
個のセクタの再生レベルの関係に基づいて半導体レーザ
の最適記録パワーを決定する（Ｓ１０）。図５にＮ＋１
トラックの記録パワーとＮトラックの再生信号レベルの
関係を示している。図５においては、記録パワーがＰTH
までは再生信号レベルは徐々に増加している。これは、
図４（ｂ）のようにＮ＋１トラック上のピットが徐々に
大きくなり、それが再生時のクロストークによって検出
されたものである。
【００２１】一方、記録パワーがＰTHを超えると、再生
信号レベルは急激に増加していることがわかる。これ
は、Ｎトラックに対するクロスライトが始まり、Ｎトラ
ック上のクロスライト成分が再生レベルとして検出され
たことを表わしている。コントローラ１０は図５の記録
パワーと再生信号レベルの関係から算術演算によって変
曲点の記録パワーＰTHを求め、得られた記録パワーを最
適記録パワーとして決定する。コントローラ１０はレー
ザドライバー５を制御して半導体レーザの記録パワーを
最適記録パワーに設定し、以後そのディスクに対しては
得られた最適記録パワーでデータの記録を行う。以上で
一連のテスト記録を終了する。
【００２２】なお、最適記録パワーを決定する場合、変
曲点の記録パワーＰTHにマージンを見込んで、定数倍し
た値を最適記録パワーとしてもよいし、所定の再生信号
レベルとなるときの記録パワーを定数倍して最適記録パ
ワーとしてもよい。また、ディスク１の半径位置に応じ
て線速が変化する方式の装置の場合は、記録位置によっ
て線速が変わるので、当然記録半径位置に応じて最適記
録パワーを変える必要がある。このような場合は、所定
の半径位置で最適記録パワーを求め、それに基づいてデ
ィスク１の半径位置に対応する最適記録パワーを比例演
算によって算出してもよい。また、ディスク１の各半径
位置に応じたより正確な最適記録パワーを得るために
は、ディスク１の複数の半径位置で前述のようなテスト
記録を行って最適記録パワーを求め、得られた最適記録
パワーを用いて補間処理を行うことで、ディスク１の半
径位置とそれに応じた最適記録パワーをコントローラ１
０内にデータテーブルとして設けるのが望ましい。
【００２３】ところで、以上の説明は、前述のようにマ
ークポジション記録の場合のテスト記録方法であるが、
このようなマークポジション記録においてはクロスライ
トを考慮せずに最良の再生信号が得られるような記録を
行うという条件で最適記録パワーを決定すると、最適記
録パワーの選択の幅は比較的広いと考えてよい。これ
は、記録パワーを増減してもピットの大きさが円形に拡
がるだけで、情報の存在するピットの中心と次のピット
の中心との相対関係には大きな変化がないからである。
記録パワーの増減によって生ずる再生信号レベルの増減
は、Ｓ／Ｎとして再生信号の品位に影響を与えるが、一
般に必要とされるエラーレートを確保するだけならパワ
ーマージンは比較的広いのである。
【００２４】そこで、これと図４（ａ）のように単パル
ス状の変調波形で円形のピットを形成し、隣接トラック
のクロスライト成分からの最適記録パワーを決定する方
法と比較すると、本実施形態のようにクロスライトを考
慮して決定した最適記録パワーと前述のようなクロスラ
イトを無視してＳ／Ｎを最良とすることを目的に決定し
た最適記録のパワーとは明らかに前者の方が最適記録パ
ワーは低い値が得られる。つまり、本実施形態による方
法で決定した最適記録パワーでデータを記録すると、従
来の方式と比較してＳ／Ｎでは劣るが、前述のようにパ
ワーマージンは広いため、必要なエラーレートを満足す
ることは可能である。
【００２５】ここで、もし変調波形の制約をなくして、
円形ピットを形成することを条件とせずにクロスライト
を防止しようとすると、図６に示すように最密パターン
のデューティーが５０％となるピット形状がＳ／Ｎ的に
最良である。このようなピットを形成するには、レーザ
の変調方法に何らかの工夫が必要となるが、図６のよう
なピットを形成してＳ／Ｎを最良とすることを目的に得
られた最適記録パワーと本実施形態による方法で得られ
た最適記録パワーとは近い値をとる可能性がある。この
ような場合は、当然両者の結果のうち小さい記録パワー
を採用することが望ましい。従って、このように最適記
録パワーを異なる方法で求めた場合は、得られた最適記
録パワーのうち小さい記録パワーを最適値と決定するこ
とで、より良好なテスト記録を実現することができる。
【００２６】次に、通常の消去時のレーザパワーの決定
方法について説明する。消去パワーを決定する方法とし
ては、１つには前述の方法で得られた最適記録パワーに
１以下の所定値を乗算して消去パワーとする方法があ
る。この所定値は媒体の熱特性や線速等によって決定さ
れる。しかし、最適記録パワーはパルス点灯時の最適値
であり、また、パルス点灯波形（レーザ変調波形）には
相当量の機体差があることを考えると、簡単であるとい
う利点はあるものの、十分な精度が得られない可能性が
ある。但し、この方法が有効である理由の１つとして、
消去時は半導体レーザを連続点灯しているので、クロス
ライトと同意のクロスイレースを生じた場合でも、信号
帯域とは分離可能で、単にキャリアの低下を引き起こす
だけであることが挙げられる。つまり、クロスライトに
比べて被害が小さく、その分パワーマージンが見込める
のである。
【００２７】次に、もう１つの消去パワーを決定する方
法について説明する。これは、前述のような最適記録パ
ワーを求める方法に対して、レーザの変調波形が異なる
だけである。即ち、変調波形のパルス幅がディスク１上
での熱の流入と放出が等しくなるように、即ち飽和状態
に達する時間以上とするものである。この飽和状態にお
いては、ピットの半径方向への拡がりは連続点灯時と等
しくなっている。本願発明者らの光磁気ディスクを用い
た実験によれば、この幅はレーザビームの半径（１／ｅ
2 となる距離）の４倍以上とすれば、精度的に十分であ
ることを確認できた。
【００２８】具体的な方法としては、コントローラ１０
は図２の処理を行い、記録パワーと再生信号レベルの結
果に基づいて最適消去パワーを決定する。図７にこのと
きの各部の信号を示している。図７（ａ）はレーザパワ
ーで、前述のように段階に大きくなっている。また、こ
のときのレーザパワーのパルス幅は、前述の如くパルス
の後端においてディスク１上での熱の流入と放出が等し
くなるように設定されている。図７（ｂ）はこのような
レーザパワーで記録されたＮ＋１トラック上のピット、
図７（ｃ）はそれに隣接するＮトラックの様子を示して
いる。そして、図７（ｃ）のＮトラックを再生すると、
図７（ｄ）のような再生信号が得られ、更にレベル検出
回路７によって図７（ｅ）のような再生信号レベルが得
られる。
【００２９】コントローラ１０は、先の説明と全く同様
に記録パワーと再生レベルに基づいて最適消去パワーを
決定する。ここで、最適記録パワーと最適消去パワーを
短時間で得るためには、次のような手順でテスト記録を
行うのが好ましい。即ち、ディスク１に信号パターンを
記録する場合、同一記録パワーで変調波形（パルス幅）
が記録パワー評価用のものと消去パワー評価用のものと
を記録する。図８（ａ）にこのときのレーザパワーのプ
ロファイルを示している。各セクタの前半部に記録パワ
ーを得るための信号パターン、後半部に消去パワーを得
るための信号パターンを記録する。次に、Ｎトラックを
再生する場合は、各セクタの再生レベルを２つの信号パ
ターンに応じて独立して取り込み、メモリに記憶させて
おく。図８（ｂ）はレーザパワーに対するディスク位置
の関係を示しており、Ｍセクタ、Ｍ＋２セクタ…、には
前述のようにレーザパワーは同じで変調波形の異なる２
つの信号パターンが記録される。このようにすると、最
適記録パワーと最適消去パワーとを検出するテスト動作
が並行して行なわれるため、パワーの切り替え動作や所
望のセクタへのシーク動作が少なくなり、テスト動作に
かかる時間を短くできる。
【００３０】次に、以上の説明は、光磁気ディスクに光
変調方式でランド・グルーブ記録を行う場合のテスト記
録方法であるが、他の方式のテスト記録方法について説
明する。まず、光磁気ディスクに磁界変調方式でランド
・グルーブ記録を行う場合のテスト記録方法について説
明する。この方式の装置においては、情報を記録する場
合、図１のレーザドライバー５は半導体レーザを一定の
記録パワーで連続点灯し、一定強度の光ビームをディス
ク１のトラックに走査する。また、磁気ヘッド（図示せ
ず）から記録情報に応じて変調された磁界をディスク１
に印加し、光ビームの照射と変調磁界の印加によってデ
ータを記録する。このような記録方式では、記録と消去
は同時に行われるので（これをオーバーライトとい
う）、最適記録パワーと最適消去パワーの区別はない。
また、この記録方式は、特にマークエッジ記録に好適で
あるが、マークポジション記録、マークエッジ記録など
の記録方式の種類に拘わらず、単に半導体レーザの連続
点灯時にその熱効果が隣接トラックに及ばない最大のパ
ワーを検出することで、最適記録パワーを得ることがで
きる。
【００３１】光磁気ディスク、磁界変調方式におけるテ
スト記録は、光変調方式の場合と同様に図２のフローチ
ャートに従って行う。具体的に説明すると、まず、コン
トローラ１０は図２に示すようにＳ１でテスト記録領域
の消去を行う。消去を行う場合は、磁気ヘッド（図示せ
ず）に一定方向の電流を供給し（便宜的に消去方向の電
流という）、ディスク１に消去方向の磁界を印加する。
また、光学ユニット３内の半導体レーザを消去に充分な
パワーで連続点灯し、その光ビームをディスク１のテス
ト記録領域のトラックに走査する。消去を終了すると、
コントローラ１０はＳ２でＰW ＝Ｐ0 、ｋ＝０とした
後、Ｓ３〜Ｓ５の処理を繰り返し行い、先の説明と同様
に１セクタおきに記録パワーを増加しながら所定の信号
を記録していく。この信号は前述のように一定強度の光
ビームの照射と変調磁界の印加によって記録する。ま
た、このときの変調信号パターンは任意であるが、前述
のように信号生成器を設けてテスト記録用の信号パター
ンを作成してもよいし、通常の記録に用いる変調則で生
成される信号パターンを用いてもよい。また、レベル検
出回路７を平均値検波器で構成した場合は、信号パター
ンは単一周期であるのが望ましい。
【００３２】記録を終了すると、コントローラ１０はＳ
６でｋ＝０とした後、Ｓ７〜Ｓ９の処理を繰り返し行
い、Ｎ＋１トラックに隣接するＮトラックをＭセクタ、
Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セクタお
きに再生する。また、１つのセクタを再生するごとにレ
ベル検出回路７で再生信号のレベルを検出し、再生信号
レベルをＡ／Ｄコンバータ８で取り込んで、セクタ番号
と対応させてメモリに記憶させておく。所定のセクタの
再生を終了すると、コントローラ１０はＳ１０におい
て、図５で説明したように記録パワーと再生信号レベル
の関係に基づいて最適記録パワーを決定する。以上でテ
スト記録を終了する。なお、この場合は、前述のように
最適記録パワーと最適消去パワーの区別はないので、最
適消去パワーを求めるためのテスト記録は不要である。
【００３３】次に、相変化タイプの光ディスクを用いた
場合のテスト記録方法について説明する。相変化タイプ
の光ディスクの場合は、記録プロセスが光磁気ディスク
の場合と異なっているので、テスト記録方法もこれまで
説明した光磁気ディスクのテスト記録方法とは多少異な
っている。相変化タイプによる記録は、オーバーライト
が可能で、マークポジション記録方式であって、現在主
流になってきている。図９に相変化タイプの光ディスク
にデータを記録する場合のレーザ変調波形を示してい
る。図９において、ＰB は既に書き込まれたデータを消
去するためのバイアスパワー、ＰW は新たにデータを記
録するための記録パワーである。バイアスパワーＰB は
目的の領域を消去するという本来の目的のための条件を
満足することはもちろんのこと、隣接トラックのデータ
を消去しないという条件を満足する必要がある。この条
件を条件１という。
【００３４】記録パワーＰW は同様にデータを記録する
という条件に加えて、隣接トラックに不要な記録をしな
いという条件を満足する必要がある。この条件を条件２
という。また、記録パワーＰW は隣接トラックを消去し
ないという条件を満足する必要がある。これを条件３と
いう。通常の記録においては、条件２は条件３を満足す
れば自動的に満足することになる。条件２に基づいた最
適記録パワーＰW を得るためのテスト記録は第１の実施
形態のテスト記録方法をそのまま適用することができ
る。条件１、条件３に基づいた最適バイアスパワーＰ
B 、最適記録パワーＰW を得るためのテスト記録につい
ては、第４の実施形態で詳しく後述する。条件２は条件
３に比べて重要度が低く、またテスト記録に要する時間
は短いことが望ましいことを考慮すると、相変化タイプ
の光ディスクのテスト記録は、後述する第４の実施形態
のテスト記録方法を用いるのが望ましい。また、最近で
は、通常のランド記録ではあるが、相変化タイプの光デ
ィスクのマークエッジ記録も実現しつつあるので、相変
化光ディスクにマークポジション記録またはマークポジ
ション記録でランド・グルーブ記録を行う場合のテスト
記録方法については第４の実施形態で詳しく説明する。
【００３５】次に、本発明の第２の実施形態について説
明する。第１の実施形態では、Ｎ−１トラックに信号を
記録し、それに隣接するＮトラックを再生して再生レベ
ルを検出したが、本実施形態は図３のテスト記録領域の
Ｎ−１トラックに加えてＮ＋１トラックにも同じ信号を
記録し、その間のＮトラックを再生して再生信号レベル
を検出するという例である。図１０に本実施形態のテス
ト記録方法を示している。図１と併せて本実施形態のテ
スト記録方法を説明する。図１０において、まず、テス
ト記録に際し、コントローラ１０は各部を制御して光デ
ィスク１のテスト記録領域の消去を行う（Ｓ１）。本実
施形態では、前述のようにＮ＋１トラックにも記録する
ので、図３のテスト記録領域のＮ−１，Ｎ，Ｎ＋１の３
本のトラックを消去する。例えば、ディスク１が光磁気
ディスクで、光変調方式であれば前述のようにバイアス
マグネットから消去方向の磁界を印加し、光学ユニット
３から消去パワーの光ビームをトレースすることで消去
を行う。
【００３６】消去を終了すると、コントローラ１０は記
録パワーＰW を初期値のＰ0 に設定し、記録パワーと記
録するセクタを指示するｋの値を０に設定する（Ｓ
２）。次いで、コントローラ１０はＳ３〜Ｓ５の処理を
繰り返し行い、Ｎ＋１トラックに信号を記録する。即
ち、Ｎ＋１トラックのｋ＝０で指示されるＭ＋２・ｋセ
クタに記録パワーＰW で所定の信号を記録（Ｓ３）、ｋ
＝ｋ＋１とし、記録パワーをＰW ＝Ｐ0 ＋ｋ・ΔＰとし
て記録パワーをΔＰ0 だけ増加（Ｓ４）、ｋ＝１０であ
るか否かの判定（Ｓ５）を繰り返し行い、Ｎ＋１トラッ
クにＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というよ
うに１セクタおきに記録パワーＰW をΔＰ0 づつ増加し
つつ所定の信号を記録していく。
【００３７】Ｓ５でｋ＝１０になると、コントローラ１
０は再びＰW ＝Ｐ0 ，ｋ＝０とした後（Ｓ６）、Ｓ７〜
Ｓ９の処理を繰り返し行い、Ｎ−１トラックにＮ＋１ト
ラックと同様に信号を記録する。即ち、Ｎ−１トラック
にＭセクタ、Ｎ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というよう
に１セクタおきに記録パワーをΔＰ0 づつ増加しながら
信号を記録していく。これにより、Ｎ＋１とＮ−１トラ
ックの両方のトラックに１セクタおきに、かつ相対向す
るセクタ同志に同じ記録パワーで同じ信号が記録された
状態となる。
【００３８】Ｓ９でｋ＝１０になると、コントローラ１
０はｋ＝０とした後（Ｓ１０）、Ｓ１１〜Ｓ１３の処理
を繰り返し行い、Ｎトラックを再生する。この場合、Ｎ
トラックのＭトラック、Ｍ＋２トラック、Ｍ＋４トラッ
ク…というように１セクタおきに再生し、レベル検出回
路７で各々のセクタのＮ−１，Ｎ＋１トラックからのク
ロスライト成分を含む再生信号レベルを検出する。得ら
れた再生信号レベルはＡ／Ｄコンバータ８でコントロー
ラ１０に取り込まれ、セクタ番号と対応させてメモリに
格納される。Ｓ１３でｋ＝１０になり、Ｎトラックの全
てのセクタの再生を終了すると、コントローラ１０は記
録パワーと再生信号レベルの関係から最適記録パワーを
決定する（Ｓ１４）。最適記録パワーは、図５で説明し
たように変曲点の記録パワーＰTHを演算処理によって求
め、得られた記録パワーを最適記録パワーとして決定す
る。
【００３９】本実施形態では、Ｎ＋１トラックに加えて
Ｎ−１トラックに対しても同じ信号を記録するので、Ｎ
−１トラックに記録する分だけテスト記録に要する時間
は増加するが、再生トラックであるＮトラックは内側と
外側の両方の隣接トラックからのクロスライトの影響を
受けるため、より実際の使用状態に近い形でテスト記録
を行うことができ、第１の実施形態に比べてより最適な
記録パワーを得ることができる。なお、第２の実施形態
は、第１の実施形態と同様に、光磁気ディスクの光変調
方式のランド・グルーブ記録、光磁気ディスクの磁界変
調方式のランド・グルーブ記録などに使用することがで
きる。
【００４０】次に、本発明の第３の実施形態について説
明する。本実施形態は、Ｎ＋１トラックに信号を記録し
てＮトラックを再生する前にＮ＋１トラックを消去する
という例である。この消去する点のみが第１の実施形態
と異なっている。図１１に本実施形態のテスト記録方法
を示している。図１と併せて説明する。図１１におい
て、まず、コントローラ１０はテスト記録領域Ｎ−１，
Ｎ，Ｎ＋１トラックの消去を行う（Ｓ１）。次いで、コ
ントローラ１０は記録パワーＰW ＝Ｐ0 ，ｋ＝０に設定
した後（Ｓ２）、Ｓ３〜Ｓ５の処理を繰り返し行い、Ｎ
＋１トラックに所定の信号を記録する。Ｓ３〜Ｓ５の処
理は図２、図１０と全く同じで、Ｎ＋１トラックにＭセ
クタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セ
クタおきに記録パワーをΔＰ0 づつ増加しつつ所定の信
号を記録していく。
【００４１】Ｓ５でｋ＝１０になると、コントローラ１
０はｋ＝０とした後（Ｓ６）、Ｓ７〜Ｓ９の処理を繰り
返し行い、先に記録したＮ＋１トラックの消去を行う。
即ちｋの値で指示されるＭ＋２・ｋセクタを消去パワー
ＰE で消去（Ｓ７）、ｋ＝ｋ＋１（Ｓ８）、ｋ＝１０で
あるかどうかの判定（Ｓ９）を繰り返し行い、Ｎ＋１ト
ラックをＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…とい
うように順に消去していく。消去パワーＰE としては、
クロスイレースを生じるパワーよりも十分に小さいパワ
ーに設定するものとし、このとき当然Ｎ＋１トラックに
消し残りが発生するが、Ｎ＋１トラックのクロストーク
を低減するには十分な効果が得られる。また、消去時に
おいては、光変調方式、磁界変調方式などに応じてバイ
アスマグネットからディスク１に磁界を印加するものと
する。
【００４２】消去を終了すると、コントローラ１０はｋ
＝０とした後（Ｓ１０）、Ｓ１１〜Ｓ１３の処理を繰り
返し行い、Ｎ＋１トラックに隣接するＮトラックの再生
を行う。即ち、ＮトラックをＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、
Ｍ＋４セクタ…というように１セクタおきに再生し、各
々のセクタごとにレベル検出回路７で再生信号レベルを
検出する。そして、得られた再生信号レベルをＡ／Ｄコ
ンバータ８から取り込み、メモリに記憶させておく。Ｓ
１３でｋ＝１０になると、コントローラ１０は先の説明
と同様に、記録パワーと再生信号レベルの関係から最適
記録パワーを決定する（Ｓ１４）。
【００４３】本実施形態では、Ｎトラックを再生する前
に信号を記録したＮ＋１トラックを消去するので、Ｎト
ラックを再生するときにＮ＋１からのクロストーク成分
を低減することができる。この結果、検出精度が高くな
り、より最適な記録パワーを得ることができる。なお、
第３の実施形態においても、第１の実施形態と同様に光
磁気ディスクで光変調方式のランド・グルーブ記録、光
磁気ディスクで磁界変調方式のランド・グルーブ記録な
どに使用することができる。また、光磁気ディスクで光
変調方式の場合に最適消去パワーを得るためには前述の
ように最適記録パワーに１以下の所定値を乗算して求め
てもよいし、信号の記録の際にレーザ変調波形を変えて
同様の方法で決定してもよい。
【００４４】次に、本発明の第４の実施形態について説
明する。本実施形態は、相変化タイプの光ディスクにラ
ンド・グルーブ記録を行う場合のテスト記録方法、特に
マークポジション記録の場合に好適に使用することがで
きる。図１２は本実施形態のテスト記録方法の手順を示
したフローチャートである。なお、本実施形態の相変化
光ディスクを用いて情報の記録、再生を行う装置の構成
は図１と同じであるものとする。但し、図１の光ディス
ク１は相変化タイプのディスク、コントローラ１０は相
変化ディスクの記録原理に基づいた情報の記録及び記録
情報の再生を行うものとする。図１２において、テスト
記録に際し、まず、コントローラ１０は各部を制御して
Ｎ−１，Ｎ＋１トラックを消去し、Ｎトラックに所定の
記録条件で記録を行う（Ｓ１）。このときの記録は所定
のマーク長の連続パターンを記録するものとし、またＮ
トラックに記録する際の記録パワーとしては、通常の記
録の記録パワー乃至多少クロスライトの生じる可能性の
ある記録パワーまでの範囲内の記録パワーとする。
【００４５】Ｎトラックの記録を終了すると、コントロ
ーラ１０はレーザドライバー５を制御してバイアスパワ
ーＰB の初期値をＰ0 に設定し、バイアスパワー及び消
去すべきセクタを指示するｋの値を０に設定する（Ｓ
２）。次いで、コントローラ１０は前述のように予めＮ
トラックに所定の信号を記録した状態でそれに隣接する
Ｎ＋１トラックの消去を行う。即ち、Ｎ＋１トラックの
Ｍ＋２・ｋセクタをバイアスパワーＰB で消去する（Ｓ
３）。この場合、ｋ＝０であるので、Ｎ＋１トラックの
Ｍセクタをバイアスパワーの初期値Ｐ0 で消去する。次
いで、コントローラ１０はｋ＝ｋ＋１，ＰB ＝Ｐ0 ＋ｋ
・ΔＰ0 とし（Ｓ４），ｋ＝１０であるかどうかを判定
する（Ｓ５）。このときは、ｋ＝１であるので、再びＳ
３に戻って同様の処理を行う。
【００４６】即ち、コントローラ１０はＳ３〜Ｓ５の処
理を繰り返し行い、Ｎ＋１トラックのＭセクタに続い
て、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セク
タおきに消去し、かつセクタごとに消去パワーをΔＰ0
づつ増加していく。図１３（ａ）にこのときのレーザパ
ワーＰB を示している。消去パワーＰB は前述のように
セクタごとにΔＰ0 づつ増加されるので、消去パワーの
増加に伴い、図１３（ｂ）のようにＮ＋１トラック上の
消去ビームの照射範囲は次第に隣接トラックにまで広が
りをみせている。そのため、図１３（ｃ）のようにＮト
ラックに記録されたマークも消去パワーの増加に伴って
一部が消去されており、クロスイレースが生じている。
【００４７】Ｓ５でｋ＝１０になり、Ｎ＋１トラックの
消去を終了すると、コントローラ１０はｋ＝０とした後
（Ｓ６）、各部を制御してＮトラックのＭ＋２・ｋセク
タを再生し、再生信号のレベルを検出する（Ｓ７）。こ
のときはｋ＝０であるので、ＮトラックのＭセクタの再
生レベルを検出する。再生信号レベルはレベル検出回路
７で検出され、得られた再生レベルはＡ／Ｄコンバータ
８でコントローラ１０に取り込まれる。但し、本実施形
態では、レベル検出回路７は再生信号振幅のＰ−Ｐ値を
検出するものとする。コントローラ１０は再生レベルを
セクタ番号と対応させてメモリに記憶させておく。次い
で、コントローラ１０はｋ＝ｋ＋１とし（Ｓ８）、ｋ＝
１０であるかどうかを判定する（Ｓ９）。このときは、
ｋ＝１であるので、Ｓ７から同様の処理を行う。即ち、
コントローラ１０はＳ７〜Ｓ９の処理を繰り返し行い、
ＮトラックのＭセクタに続いてＭ＋２セクタ、Ｍ＋４セ
クタ…というようにＮトラックを１セクタおきに再生
し、セクタごとの再生レベルを検出していく。
【００４８】図１３（ｄ）にＮトラックの再生信号、図
１３（ｅ）にレベル検出回路７の検出レベルを示してい
る。本実施形態では、前述のようにレベル検出回路７は
再生信号の振幅（Ｐ−Ｐ値）を検出している。消去パワ
ーを増加していくと、前述のようにクロスイレースが生
じるのであるが、このクロスイレースの発生に伴い、図
１３（ｄ），（ｃ）に示すように再生信号の振幅も低下
し始めていることがわかる。Ｓ９でｋ＝１０となり、Ｎ
トラックの再生を終了すると、コントローラ１０は消去
パワーとＮトラックの各セクタで得られた再生信号振幅
に基づいて最適バイアスパワーＰB を決定する（Ｓ１
０）。
【００４９】図１４に消去レーザパワーとレベル検出回
路７で得られた再生信号振幅の関係を示している。再生
信号振幅は消去パワーが小さいときはほぼ一定である
が、所定の消去パワーになると、再生信号振幅は低下し
始める。つまり、クロスイレースが発生すると、Ｎトラ
ックのマークが消去されるので、クロスイレースが発生
し始めた時点から再生信号振幅は低下する。コントロー
ラ１０は図１４のように再生信号振幅が低下し始める直
前のレーザパワーを最適バイアスパワーＰB として決定
し、メモリに記憶させておく。
【００５０】コントローラ１０は、引き続いて最適記録
パワーＰW を決定する処理を行う。まず、コントローラ
１０は先の説明と同様にＮ−１，Ｎ＋１トラックを消去
し、Ｎトラックに所定の記録条件で記録を行う（Ｓ１
１）。Ｎトラックの記録条件としては、最適バイアスパ
ワーのときの記録と同様に所定の連続パターンで、通常
の記録の記録パワー乃至多少クロスライトを生じる可能
性のある記録パワーまでの範囲内の記録パワーとする。
次いで、コントローラ１０は記録パワーＰW の初期値を
Ｐ0 、ｋの値を０とした後（Ｓ１２）、前述のように予
めＮトラックに記録した状態で、それに隣接するＮ＋１
トラックに所定の信号を記録する。即ち、Ｎ＋１トラッ
クのＭ＋２・ｋセクタに記録パワーＰW （初期値Ｐ0 ）
で記録を行う（Ｓ１３）。このとき、ｋ＝０であるので
Ｍセクタに記録を行う。また、Ｎ＋１トラックに信号を
記録する場合は、Ｎトラックのマーク長よりも十分に長
いマーク長の信号を記録するものとする。
【００５１】本実施形態では、Ｎ＋１トラックにパルス
トレインと呼ばれる方法で記録を行い、ロングマークを
形成している。即ち、図１５（ａ）に示すようにレーザ
パワーＰW を所定の間隔でオン、オフすることによって
所定のマークを記録している。この場合は，相変化タイ
プの光ディスクのテスト記録であるので、図１５（ａ）
に示すようなレーザ変調波形、即ち、バイアスパワーＰ
B に記録パワーＰW を重畳した記録波形で記録を行って
いる。バイアスパワーＰB は、Ｓ１０で得られた最適バ
イアスパワーに設定している。
【００５２】図１２に戻る。コントローラ１０はＳ１３
でＮ＋１トラックのＭセクタの記録を終了すると、Ｓ１
４で記録パワーＰW ＝Ｐ0 ＋ｋ・ΔＰ0 ，ｋ＝ｋ＋１と
し（Ｓ１４）、ｋ＝１０であるかどうかを判定する（Ｓ
１５）。このときは、ｋ＝１であるのでＳ１３に戻って
同様の処理を行う。即ち、コントローラ１０はＳ１３〜
Ｓ１５の処理を繰り返し行い、Ｎ＋１トラックのＭセク
タに続いてＭ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように
１セクタおきに記録パワーをΔＰ0 づつ増加しながら所
定のマークを記録していく。
【００５３】図１５（ａ）にこのときの記録波形を示し
ており、バイアスパワーＰB は一定のままで記録パワー
ＰW をセクタごとに一定量増加しつつ記録を行う。図１
５（ｂ）はこのようにして記録されたＮ＋１トラック上
のマーク、図１５（ｃ）は予めＮトラックに記録された
マークを示している。記録パワーＰW の増加に伴い、図
１５（ｂ），（ｃ）のようにＮ＋１トラック上のマーク
が大きくなってＮトラック上のマークを消去するクロス
イレースが生じている。また、更に記録パワーＰW が増
加すると、Ｎトラック上にマークが記録され、クロスラ
イトを生じていることがわかる。
【００５４】コントローラ１０は、Ｓ１５でｋ＝１０と
なってＮ＋１トラックの記録を終了すると、Ｓ１６でｋ
＝０とした後、Ｓ１７〜Ｓ１９でＮトラックを再生す
る。即ち、Ｓ１７〜Ｓ１９の処理を繰り返し行い、Ｎト
ラックをＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…の順
に再生し、セクタごとにレベル検出回路７で再生信号振
幅を検出する。検出された再生信号振幅はＡ／Ｄコンバ
ータ８でコントローラ１０に取り込まれ、セクタ番号と
対応させてメモリに格納される。図１５（ｄ）はＮトラ
ックの再生信号、図１５（ｅ）はレベル検出回路７で検
出された再生信号振幅を示している。Ｎトラックの再生
信号は，図１５（ｄ）のようにクロスイレースによって
振幅が小さくなり、クロスライトが生じると直流成分を
含んで再生信号のＰ−Ｐ値は更に低下している。従っ
て、レベル検出回路７による再生信号振幅の検出レベル
も図１５（ｅ）のようにクロスイレースやクロスライト
に応じて低下している。なお、クロスイレースが始まる
パワーより低いパワーにおいてＰW の増加に伴い、クロ
ストーク量は微増するが、これは直流的なもので、再生
信号振幅には影響しない。
【００５５】コントローラ１０は、Ｓ１９でｋ＝１０と
なり、Ｎトラックの再生信号振幅の検出を終了すると、
Ｎ＋１トラックの記録パワーとＮトラックの再生信号振
幅に基づいて最適記録パワーＰW を設定する（Ｓ２
０）。図１４に以上のテスト動作によって得られた記録
パワーと再生信号振幅を示している。再生信号振幅は図
１４のように、ある記録パワーで低下し始めている。こ
れは、クロスイレースが発生したことを示しており、コ
ントローラ１０は再生信号振幅が低下し始める直前の記
録パワーを最適記録パワーとして決定する。得られた最
適記録パワーはメモリに記憶させておく。また、記録パ
ワーが更に大きくなると、再生信号振幅は破線で示すよ
うに急激に低下しているが、これはクロスライトが生じ
たことを示している。コントローラ１０はレーザドライ
バー５を制御して図９の記録波形のバイアスパワーＰ
B 、記録パワーＰW をそれぞれテスト記録で得られた最
適値に設定する。以上で相変化光ディスクのランド・グ
ルーブ記録のテスト記録を終了する。
【００５６】なお、図１４の再生信号振幅は、Ｎトラッ
クを再生したときの再生信号振幅であるが、これは隣接
トラック（Ｎ＋１トラック）にマークが記録されている
ときのレベル検出回路７の出力をサンプリングして示し
たものである。つまり、コントローラ１０は隣接トラッ
クにマークが記録されているタイミングでレベル検出回
路７の出力をサンプリングしている。この場合、記録マ
ークを極めて長くすれば、サンプリングのタイミングの
制御はバイアスパワーＰB のテスト記録と同様に容易で
ある。通常、バイアスパワーＰB のテスト記録において
は、ＰB が消去パワーを決定するパラメータであること
から、本質的にはベタ点灯もしくは極めて長いテスト用
マークを用い、テスト照射した部分の後端部をサンプリ
ングすれば、再生信号レベルは十分に安定していて、そ
の付近で多少サンプリングのタイミングがずれたとして
も、精度の問題は生じることはなく、サンプリングのタ
イミングの制御は容易である。
【００５７】一方、記録パワーＰW においては、ＰW が
マークを形成するためのパラメータであることから、機
能的には短いマークを形成することも可能であるが、例
えばテストマーク長が８Ｔで、チャネルクロック（Ｔ）
を２０ｎｓとすれば、少なくとも１６０ｎｓのサンプリ
ングタイムの精度を要するため、結構実現が難しくな
る。しかも、再生信号を取り込むためのＡ／Ｄコンバー
タも高速なものを必要とし、コスト面からも不利であ
る。そこで、図１２における記録パワーＰW のテスト記
録においては、前述のようにテストマークを極めて長い
ものを用いるようにすれば（例えば、１００Ｔ）、ＰB
のテスト記録と同様にマークの後端部をサンプリングす
るだけで、精度の問題は生じず、サンプリングのタイミ
ングの制御は容易である。
【００５８】また、Ｎ＋１トラックへのロングマークの
記録、非記録を適当なタイミングで交番させて行ない、
マークが存在するときと存在しないときと、交互にレベ
ル検出回路７の出力をサンプリングしてそれらの差分を
評価に用いてもよい。即ち、最適記録（消去）パワーを
再生信号レベルで評価する場合、先の説明のようにクロ
スイレースによって生じた再生信号振幅の低下量が所定
値となるポイントを見つけ、そのポイントのパワーを最
適値としている。つまり、ここで必要なのは、再生信号
レベルの絶対値ではなく、初期状態からの低下量、即ち
相対値である。そこで、前述のようにマークが存在する
ときと存在しないときで交互にサンプリングし、それを
差分すると、評価に必要な再生信号レベルの相対値が得
られる。この場合、基準となるレベル、即ちクロスイレ
ースなどを生じていない部分（初期状態）のレベルの取
り込みは、評価部分の取り込みと時間的にも位置的にも
近接していた方が低下量、即ち、両者の差分の検出精度
が向上することは明らかである。
【００５９】逆に、基準レベルの取り込みと評価部分の
取り込み位置が離れていると、例えばサーボのかかり具
合の変化によって両者の間に本質的な差分以外にサーボ
のかかり具合の差が混入してしまい、精度の点から望ま
しくない。従って、テスト記録部分と非テスト記録部分
を交番してサンプリングし、交番の度にその差分を取り
込むようにすれば、両者の取り込みのタイミングは近接
しているので、サーボの差の影響や回路の温度ドリフト
の影響、あるいは低速ノイズなども除去することが可能
である。また、バイアスパワーＰB のテスト記録におい
ても、消去区間と非消去区間を交互に形成して同様の処
理を行うようにすれば、高精度化は可能である。特に、
第４の実施形態では、図５と図１４の比較で明らかなよ
うにレーザパワーの最適値を検出する領域は再生レベル
の変化率が小さく、精度を得にくいので、前述のような
高精度化のための技術を用いるのが望ましい。
【００６０】次に、以上の説明は、相変化タイプの光デ
ィスクのマークポジション記録の場合に適用しうるテス
ト記録方法であるが、相変化光ディスクのマークエッジ
記録の場合のテスト記録方法について説明する。マーク
エッジ記録においては、図１６に示すような記録波形を
用いて記録する方法が提案されている。この記録方法で
は、ＰW の波形は先頭で１．５Ｔの点灯、それに続いて
１Ｔの周期でオン、オフするパルス点灯になっていて、
１Ｔ周期のパルス点灯の数をマークの長さに応じて変え
ることで、所望の長さのマークを記録するというもので
ある。また、記録波形の各パルス幅を記録すべきマーク
長に応じて調整することで、再生信号のジッターを低減
するものも提案されている。
【００６１】相変化光ディスクのマークエッジ記録の場
合の具体的なテスト記録方法としては、基本的にマーク
ポジション記録の場合のテスト記録と同じである。即
ち、図１２のフローチャートに従って最初に最適バイア
スパワーＰB を求め、その後最適記録パワーＰW を決定
する。最適バイアスパワーＰB のテスト記録においては
図１３で説明したようにＮトラックに所定の信号を記録
した状態でＮ＋１トラックをレーザパワーを変えながら
消去を行う。そして、Ｎトラックを再生して再生信号レ
ベルを検出し、図１４のように得られたレーザパワーと
再生信号振幅から最適バイアスパワーＰB を決定する。
従って、最適バイアスパワーのテスト記録はマークポジ
ション記録の場合のテスト記録と全く同じである。
【００６２】一方、最適記録パワーＰW のテスト記録に
おいては、図１２のフローチャートに従い、Ｎトラック
に所定の信号を記録した状態で、Ｎ＋１トラックに記録
パワーを変えながら所定の長さのマークを記録する。こ
のときの各部の信号を図１７に示している。Ｎ＋１トラ
ックにマークを記録する場合、図１７（ａ）のようにマ
ークエッジ記録の記録波形を用いて記録を行い、図１７
（ｂ）のようなマークを記録する。この点のみがマーク
ポジションのテスト記録と異なっている。つまり、マー
クポジション記録の場合、前述のとうりパワーマージン
が広いため、ロングマークを形成するためのパルストレ
イン記録の方法にある程度の自由度が許容されるが、マ
ークエッジ記録の場合、実動作に等しい記録波形を用い
るということである。後はマークポジション記録の場合
と同じで、図１７（ｄ）のようにＮトラックを再生し、
図１７（ｅ）のレベル検出回路７の出力を取り込んで、
記録パワーと再生信号振幅から最適記録パワーＰW を決
定する。
【００６３】なお、マークエッジ記録においては、マー
クのエッジ位置に情報を持つので、前述のテスト記録の
終了後に、更に次のようなマークのトラック方向の長さ
の調整を行うのが望ましい。即ち、マークエッジ記録は
図１６の記録波形を用いてマークを記録するのである
が、テスト記録終了後、図１６のＰB ，ＰW をテスト記
録で得られた最適バイアスパワーＰB 、最適記録パワー
ＰW に設定する。次に、この記録波形を用いてディスク
１に、例えば２Ｔや３Ｔマークを記録し、それを再生し
て、正確な２Ｔや３Ｔのマークの長さになるように図１
６の記録波形のパルス幅を調整する。こうすることによ
り、隣接トラックへの不要な記録（消去）の発生を防止
できるばかりでなく、マークエッジ位置の精度も確保で
き、エラーレートの低い情報の記録を実現することがで
きる。
【００６４】次に、光磁気ディスクに光変調マークエッ
ジ記録を行う場合の実施形態について説明する。図２３
は記録時のレーザの変調波形の一例を示している。光変
調エッジ記録には、記録の前に消去を必要とするタイプ
と直接上書きが可能なダイレクトオーバーライトタイプ
とがあるが、図中のＰ１からＰ３までの設定指針が異な
るだけで、いずれも同様の変調波形が用いられる。
【００６５】Ｐ１からＰ３までの各パワーレベルが持つ
意味を簡単に説明すると、Ｐ１は事前消去を必要とする
タイプにおいて、マークの先端と後端の形状を略対称に
するため予熱を加えるものである。つまり、媒体への加
熱開始時のパワー段差を加熱終了時のそれと比べて小さ
くすることにより、媒体上でのマークのエッジ部の温度
プロファイルを揃えることができる。一方、ダイレクト
オーバーライトタイプにおいてＰ１は媒体が持つ初期化
磁界層の働きと共働して、記録データの消去を行わせし
めるという意味を持つ。
【００６６】Ｐ２とＰ３についてはそれぞれのタイプで
異なることはなく、Ｐ２はマークを形成するのに必要な
パワーであり、Ｐ３はマークの先端から後端にわたって
熱平衡を保つべく、Ｐ２に対して微調整されたパワーで
ある。この微調整によってディスク径方向への幅が均一
なマークを形成することができる。通常、Ｐ０はリード
パワー以下の値に設定される。
【００６７】さて、事前消去を必要とするタイプにおい
て、その最適消去パワーを求める方法は、相変化ディス
クにおけるＰB を求める動作と同様で、図１２のフロー
チャートにそって行われる。もちろん、この時相変化デ
ィスクとは異なり、消去磁界の印加を必要とする。最適
記録パワーを求める動作は、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３の各パワ
ーを所定の比率を保ったまま変化させることにより、相
変化ディスクにおけるＰW を求める動作と同様に行われ
る。
【００６８】ダイレクトオーバーライトタイプにおいて
最適記録パワーを求める動作は次のようにして行われ
る。まずＰ１を、相変化ディスクにおけるＰB を求める
動作と同様にして求める。この時のレーザパワーのプロ
ファイルは図１３（ａ）と同じである。このようにして
求められたＰ１は隣接トラックにクロスイレースを生じ
させず、かつその条件において最大値であるから、目的
トラックの消去には十分な値となっている。
【００６９】次に、このようにして求めたＰ１は固定と
し、Ｐ２、Ｐ３を所定の比率を保ったまま変化させ、相
変化ディスクにおけるＰW を求める動作と同様に行われ
る。この時のレーザパワーの波形は図２３の通りである
が、プロファイルは図１７（ａ）に準じており、図中の
ＰB はＰ１であり、ＰW がＰ２、Ｐ３に相当するものと
なる。
【００７０】ところで、光磁気ディスクに対する光変調
マークエッジ記録方式においては、記録密度が高いこ
と、光変調で良好なマークエッジを形成することは困難
であることを理由に、十分な再生信号品質が得られる記
録パワーの許容幅は狭い。従って、本実施形態によるテ
スト記録方法と再生信号品質に着目した他のテスト方
法、例えばＳ／Ｎが最良になるように、または再生され
た信号のジッターを最小にするという指針で最適パワー
を求めるようなテスト方法を組み合わせて用いることが
望ましい。
【００７１】次に、本発明の第５の実施形態について説
明する。本実施形態は、光磁気ディスクや相変化光ディ
スクに前述のようなテスト記録を行う場合、ランドとグ
ルーブの両方で再生信号を評価して最適記録パワーなど
を得るという例である。即ち図３のテスト記録領域で
は、再生信号を評価するＮトラックはグルーブトラック
であるが、このＮトラックがグルーブトラックの場合と
ランドトラックの場合の両方でテスト記録を行うという
ものである。図１８は本実施形態のテスト記録方法を示
したフローチャートである。
【００７２】図１８において、テスト記録に際し、まず
コントローラ１０はランド部に対するテスト記録を行う
（Ｓ１）。これは、以上説明した全ての実施形態のテス
ト記録が含まれ、例えば光磁気ディスクのテスト記録で
あれば図２、図１０あるいは図１１のフローチャート、
相変化光ディスクであれば図１２のフローチャートのテ
スト記録を実行する。もちろん、この場合は、Ｎトラッ
クをランド部としてテスト記録を行う。得られた最適記
録パワー、最適消去パワーなどの結果をランドデータと
してメモリに記憶させておく。ランド部に対するテスト
記録を終了すると、コントローラ１０はグルーブ部に対
してテスト記録を行い、得られた結果をメモリに記憶さ
せておく（Ｓ２）。
【００７３】通常の記録動作においては、コントローラ
１０は記録要求があると（Ｓ３）、ランド部に対する記
録であるのかどうかを判断する（Ｓ４）。もし、ランド
部に対する記録であれば、コントローラ１０はＳ１で得
られたランドデータを用いて半導体レーザの光出力を設
定し、ランド部に対して記録を行う（Ｓ５）。一方、グ
ルーブ部に対する記録であった場合は、コントローラ１
０はＳ２で得られたグルーブデータを用いて半導体レー
ザの光出力を設定し、グルーブ部に対して記録を行う
（Ｓ６）。このように本実施形態では、ランド部とグル
ーブ部の両方に対してテスト記録を行い、ランド部とグ
ルーブ部に記録する場合、各々対応したテスト記録結果
を用いて記録するので、ディスクにランドとグルーブの
溝形状にアンバランスがあっても、ランドとグルーブに
各々最適パワーで情報を記録することができる。
【００７４】次に、本発明の第６の実施形態について説
明する。この実施形態は、テスト記録の結果から最適パ
ワー決定する場合、最適パワーを精度よく検出する方法
に関するものである。図５においては、最適記録パワー
を決定する場合、前述のように変曲点を見つけたり、所
定の再生レベルとの交点の記録パワーを最適記録パワー
にすると説明したが、この方法ではクロストークが多い
場合や再生系の利得が変化した場合などで十分な検出精
度を得られない可能性がある。本実施形態は、この点を
改良し、クロストークや再生系の利得の変化などによら
ず、最適パワーを高精度で決定するものである。
【００７５】本実施形態の具体的な最適パワーの決定方
法を図１９に示している。図１９の最適パワーの決定方
法は、以上の全ての実施形態の最適パワーの決定処理に
適用することができる。即ち、図２のＳ１０の最適記録
パワーの決定、図１０及び図１１のＳ１４の最適記録パ
ワーの決定、図１２のＳ１０の最適バイアスパワーの決
定、図１２のＳ２０の最適記録パワーの決定に、図１９
のフローチャートの処理を実行することによって最適パ
ワーを高精度で検出することが可能である。具体的な方
法を図１、図１９を参照して説明する。図１９におい
て、まず、コントローラ１０はｋの値を０とする（Ｓ
１）。このｋは図２などで説明したものと同じである。
【００７６】次いで、コントローラ１０はＭ＋２・ｋセ
クタの再生時のレベル検出回路７のレベル値と、Ｍ＋２
（ｋ＋１）セクタの再生時のレベル値との差分ΔＬを算
出する（Ｓ２）。例えば、図２のフローチャートのテス
ト記録を例にとると、Ｎ＋１トラックに記録パワーをセ
クタごとに所定量づつ増加しながら記録を行った後、Ｎ
トラックを再生して再生レベルを検出するのであるが、
このときに再生されるＭセクタのレベル値とその次のＭ
＋２セクタのレベル値との差分を算出する。続いて、得
られた差分ΔＬと予め決められた所定値を比較し（Ｓ
３）、ΔＬが所定値よりも小さければ（Ｓ３がＮｏ）、
ｋ＝ｋ＋１とした後（Ｓ４）、ｋ＝１０かどうかの判定
を行う（Ｓ５）。この場合は、ｋ＝１であるので、再び
Ｓ２に戻って同様の処理を行う。即ち、Ｓ２〜Ｓ５の処
理を繰り返し行い、ｋの値が１つづつ増加するごとにｋ
で指示されるセクタとその次のセクタの差分のレベル値
を順次算出していく。
【００７７】Ｓ３において、ΔＬが所定値よりも大きく
なると（Ｓ３がＹ）、コントローラ１０は詳しく後述す
るようにその直後のｋの値で指示されるＭ＋２・（ｋ＋
１）セクタの再生時のデータ（レベル値）とその次のＭ
＋２・（ｋ＋２）セクタの再生時のレベル値を用いて最
適値を算出する（Ｓ６）。図２０に記録パワーとレベル
検出回路７によるレベル値の関係を示している。再生信
号のレベル値は記録パワーの増加に伴って少しづつ増加
し、記録パワーＰ1 を越えるとレベル値の傾きは急激に
立ち上がっている。このＰ1 でΔＬが所定値よりも大き
くなり、Ｓ６で最適パワーの算出処理を行う。Ｓ６にお
いては、コントローラ１０はＰ1 を越えた直後のＡ，Ｂ
のレベル値を図２０のように補助線で示す直線で結び、
その延長線とレベル値が０の直線との交点における記録
パワーを求める演算処理を行い、得られた交点の記録パ
ワーＰthを最適パワーとして決定する。以上で最適パワ
ーの決定処理を終了する。
【００７８】また、図１２のテスト記録においては、図
１４で説明したように最適バイアスパワー、最適記録パ
ワーのいずれも記録（消去）パワーの増加に伴って再生
信号振幅は低下する。この場合の記録パワーと再生信号
振幅の関係を図２１に示している。このときの最適パワ
ーの決定に際しても、記録パワーＰ1 でΔＬが所定値よ
りも大きくなった直後においてＡ，Ｂを補助線で結び、
その延長線と再生信号振幅の最大値の直線との交点にお
ける記録（消去）パワーＰthを求めることで、最適パワ
ーを決定する。従って、この場合は、補助線の傾きの極
性が異なるだけで、同様の方法で最適パワーを得ること
ができる。
【００７９】本実施形態では、ΔＬが所定値を越えた後
の領域において２点の再生レベル値を直線で結び、その
延長線と再生信号のレベル値が０（または最大値）の直
線との交点の記録パワーを最適パワーとして決定するの
で、ΔＬが所定値を越えた後の再生信号のレベル値の傾
きが大きい領域ではクロスライトを生じており、クロス
トークよりも十分に大きなレベル値で評価するため、最
適パワーの決定に際しクロストークの影響を小さくする
ことができる。また、再生系の利得が変動し、再生信号
レベルが変化しても、前述のように再生信号レベルの相
対値に基づいて最適パワーを検出するので、再生系の利
得の変動の影響を受けることがなく、精度よく最適パワ
ーを検出することができる。
【００８０】なお、最適パワーの検出方法として、更に
図２０、図２１の補助線とクロストークの増加を示す直
線との交点におけるパワーを最適パワーとして決定して
もよい。即ち、図２２に示すようにΔＬが所定値以下で
あって、Ｐthに近接した評価点を２点以上選択した後、
それらの点を最小自乗法で直線近似し、得られた直線と
前述の直線との交点における記録パワーＰthを最適値と
して決定する。こうすることにより、Ｐthに達するまで
の区間でもクロストークの影響で再生レベルは緩やかに
変化しているが、このようなクロストークの影響も除去
できるため、更にクロストークの影響を低減して、より
正確に変曲点（最適値）を検出することができる。
【００８１】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、次の効果
がある。 （１）記録媒体の所定トラックに所定の信号を記録し、
信号の記録されたトラックの隣接トラックを複数の異な
る消去パワーで消去し、信号の記録されたトラックの再
生信号と複数の異なる消去パワーに基づいて最適消去パ
ワーを設定しているので、ランドとグルーブの両方に情
報を記録するランド・グルーブ記録において隣接トラッ
クを消去することがなく、正確に目的トラックのみを消
去することができる。 （２）相変化記録媒体においても同様に最適パワーが得
られ、ランド・グルーブ記録において好適なテスト記録
方法を提供することができる。また、光磁気記録媒体へ
のダイレクトオーバーライト時の多値変調方式において
も、それぞれの最適パワーが得られる。 （３）消去パワーを再生信号の振幅が低下し始める直前
のパワーに設定することにより、隣接トラックに既に書
き込まれている情報の劣化を生じることがなく、しか
も、消去すべき情報を完全に消去しうる最大消去パワー
に設定することができる。 （４）消去パワーを消去パワーの増加に伴って変化する
再生信号の振幅の変化率が所定値以上の領域で少なくと
も２点の再生信号振幅を結んだ直線と、再生信号の振幅
の略最大値の直線との交点におけるパワーに設定するこ
とにより、再生信号の振幅を直接検出するのではなく、
ある程度振幅が低下した状態での、再生信号振幅の相対
値に基づいて最適消去パワーを検出するので、再生系の
利得の変動や測定位置の違いなどによる振幅変動などの
影響を受けることがなく、精度良く最適消去パワーを設
定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光学的情報記録再生装置の一実施形態
を示したブロック図である。
【図２】本発明のテスト記録方法の第１の実施形態を示
したフローチャートである。
【図３】ディスクのテスト記録領域を示した説明図であ
る。
【図４】図２の実施形態のテスト記録の過程の各部の信
号を示した図である。
【図５】図２の実施形態のテスト記録で得られた記録パ
ワーとレベル検出回路出力の関係を示した図である。
【図６】Ｓ／Ｎが最良となるようにテスト記録を行う場
合のデューティー５０％のピットを示した図である。
【図７】光磁気ディスクのテスト記録において最適消去
パワーを得る場合の各部の信号を示した図である。
【図８】最適記録パワーと最適消去パワーのテスト記録
を同時に行う場合のレーザパワーとディスクの記録位置
を示した図である。
【図９】相変化光ディスクにマークポジション記録で記
録する場合のレーザ変調波形を示した図である。
【図１０】本発明の第２の実施形態のテスト記録方法を
示したフローチャートである。
【図１１】本発明の第３の実施形態のテスト記録方法を
示したフローチャートである。
【図１２】本発明の第４の実施形態のテスト記録方法を
示したフローチャートである。
【図１３】図１２の実施形態で最適バイアスパワーを得
る場合の各部の信号を示した図である。
【図１４】図１２の実施形態のテスト記録で最適バイア
スパワーと最適記録パワーを得る場合のレーザパワーと
再生信号振幅の関係を示した図である。
【図１５】図１２の実施形態において最適記録パワーを
得る場合の各部の信号を示した図である。
【図１６】相変化光ディスクのマークエッジ記録に用い
られるレーザ変調波形を示した図である。
【図１７】相変化光ディスクのマークエッジ記録のテス
ト記録において、最適記録パワーＰW を決定する場合の
各部の信号を示した図である。
【図１８】本発明の第５の実施形態を示したフローチャ
ートである。
【図１９】本発明の第６の実施形態を示したフローチャ
ートである。
【図２０】図１９の実施形態の最適パワーを検出する動
作を説明するための図である。
【図２１】図１９の実施形態の最適パワーを検出する動
作を説明するための図である。
【図２２】他の最適パワーを検出する方法を説明するた
めの図である。
【図２３】光磁気ディスクに対する光変調エッジ記録を
行う場合のレーザ変調波形を示す図である。
【符号の説明】
１ 光ディスク ２ スピンドルンモータ ３ 光学ユニット ４ 光学ユニット駆動系 ５ レーザドライバー ６ プリアンプ ７ レベル検出回路 ８ Ａ／Ｄコンバータ ９ データ再生回路 １０ コントローラ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 記録媒体のランドとグルーブに記録され
    た情報を消去するにあたり、光源の光出力の最適パワー
    を決定するテスト記録方法おいて、 前記媒体の所定トラックに所定の信号を記録するステッ
    プと、 前記信号が記録されたトラックに隣接するトラックを、
    複数の異なる消去パワーで消去するステップと、 前記信号が記録されたトラックを再生して再生信号を検
    出するステップと、 前記再生信号と前記複数の異なる消去パワーに基づい
    て、最適な消去パワーを設定するステップとを備えるこ
    とを特徴とするランド・グルーブ記録を行う場合のテス
    ト記録方法。
  2. 【請求項２】 前記消去パワーは、前記再生信号の振幅
    が低下し始める直前のパワーに設定されることを特徴と
    する請求項１に記載のランド・グルーブ記録を行う場合
    のテスト記録方法。
  3. 【請求項３】 前記消去パワーは、前記消去パワーの増
    加に伴って変化する再生信号の振幅の変化率が所定値以
    上の領域で少なくとも２点の再生信号振幅を結んだ直線
    と、再生信号の振幅の略最大値の直線との交点における
    パワーに設定されることを特徴とする請求項１に記載の
    ランド・グルーブ記録を行う場合のテスト記録方法。
  4. 【請求項４】 記録媒体のランドとグルーブに記録され
    た情報を消去するにあたり、光源の光出力の最適パワー
    を決定するテスト記録を実行する光学的情報記録再生装
    置おいて、 前記媒体の所定トラックに所定の信号を記録する手段
    と、 前記信号が記録されたトラックに隣接するトラックを、
    複数の異なる消去パワーで消去する手段と、 前記信号が記録されたトラックを再生して再生信号を検
    出する手段と、 前記再生信号と前記複数の異なる消去パワーに基づい
    て、最適な消去パワーを設定する手段とを備えることを
    特徴とする光学的情報記録再生装置。
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