JP2001266347A - 光学的情報記録再生方法および光学的情報記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 クロスイレーズの影響を小さくし、情報をエ
ラーなく再生できるテスト記録方法を提供する。 【解決手段】 オフトラック量印加部１１３にてオフト
ラック量を変化させて、複数のトラックにテスト信号発
生部１０３からのテスト信号を記録する。先に記録した
トラックのビットエラーレートをＢＥＲ測定部１１２で
測定し、ビットエラーレートが最小となるオフトラック
量を最適なオフトラック量としてオフトラック量設定部
１１３に設定して実際の情報信号を記録する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光学的に情報を記
録・再生する光学的情報記録媒体の記録再生方法および
記録再生装置に関するもので、特にテスト記録の方法に
関連するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、光学的に情報を記録する媒体とし
て、光ディスク、光カード、光テープなどが提案・開発
されている。その中でも光ディスクは、大容量かつ高密
度に情報を記録・再生できる媒体として注目されてい
る。

【０００３】書き換え型光ディスクの一つの方式に相変
化型光ディスクがある。相変化型光ディスクに用いる記
録膜は、レーザ光による加熱条件および冷却条件によっ
てアモルファス状態と結晶状態のいずれかの状態にな
り、かつ２つの状態に可逆性がある。また、アモルファ
ス状態と結晶状態では記録膜の光学定数（すなわち、屈
折率と消衰係数）が異なる。相変化型光ディスクでは、
情報信号に応じて選択的に２つの状態を記録膜に形成
し、この結果生じる光学的変化（すなわち、透過率また
は反射率の変化）を利用して情報信号の記録・再生を行
う。上記の２つの状態を得るために、以下のような方法
で情報信号を記録する。

【０００４】まず、光ヘッドにより集束させたレーザ光
を光ディスクのトラック上をトレースさせるトラッキン
グ動作を行う。トラッキング動作は、光ディスクに形成
されているトラック形状に基づく反射回折光から得られ
る電気信号（これをトラッキングエラー信号と呼ぶ）を
用いて、レーザ光がトラックの中央を通るようにサーボ
制御するものである。ただし、トラック形状の非対称性
やビームスポット形状の非対称性のために、トラッキン
グエラー信号に意図的に電気的オフセットを加えてサー
ボ制御することがある。このオフセットによりトラック
上のトレース位置をずらすことをオフトラックといい、
このオフセット量をオフトラック量と呼ぶ。

【０００５】そして記録膜の温度を融点以上に上昇させ
るパワー（このパワーレベルを記録パワーと呼ぶ）で光
ディスクの記録膜にパルス状に照射すると（このパルス
を記録パルスと呼ぶ）、レーザ光の通過とともに溶融部
分は急速に冷却されてアモルファス状態の記録マークに
なる。また、記録膜の温度を結晶化温度以上融点以下の
温度まで上昇させる程度の強度のレーザ光（このパワー
レベルを消去パワーと呼ぶ）を集束して照射すると、照
射部の記録膜は結晶状態になる。

【０００６】さらに記録マークの前端エッジおよび後端
エッジの両方の位置に情報を記録するマークエッジ記録
の場合には、記録マークの歪みを小さくし形成されるエ
ッジの位置を正確にするために、一つのマークを形成す
るのに複数個の記録パルスを用いる。これはマルチパル
ス記録と呼ばれる。マルチパルス記録では、一つのマー
クを形成するための記録パルス列は、先頭のパルスであ
るファーストパルス、最後尾のパルスであるラストパル
ス、およびその間のパルス列であるサブパルスで構成さ
れる。最短マークおよび最短マークの長さに近いマーク
ではサブパルスやラストパルスはファーストパルスと重
なり、単一の記録パルスで記録することがある。

【０００７】また記録マークを精密に形成するために、
ファーストパルスとサブパルスの間、サブパルス同士の
間、サブパルスとラストパルスの間のパワーレベルは記
録パワーとも消去パワーとも異なったレベルにする場合
がある。このパワーレベルをサブパルス間パワーと呼
ぶ。また、サブパルス列のデューティ（パルス幅とパル
ス幅の間の長さとの比）は、記録再生装置の回路構成の
容易さから通常は50％とするが、このデューティを50％
から異ならせる場合もある。

【０００８】また、光ディスクは交換可能な記録媒体で
あるので、光ディスクの記録再生装置は異なる複数の媒
体に対して安定に記録再生する必要がある。しかし、同
一の条件で製造された光ディスクでも、製造時のばらつ
きや経時変化によりディスクの熱的特性が異なると、記
録マーク自身の形成状態や記録マーク間の熱干渉の影響
が異なってくる。従って、光ディスクによって記録パル
スの最適なエッジ位置が異なる可能性が生ずる。

【０００９】このような記録パルスの最適なエッジ位置
の変動に影響されずに情報信号を安定に記録再生する方
法の例には特開平４−１３７２２４号公報がある。これ
は、情報信号を記録するのに先立って特定のデータパタ
ーン（これをテスト信号という）によるテスト記録を行
った後に再生し、その再生信号を測定して記録マークの
エッジ位置を求めることにより記録パルスの最適なエッ
ジ位置を制御するものである。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
光ディスクの高密度化が強く要求されており、それに伴
ってトラックピッチも狭めることが求められている。こ
のような場合、従来の方法では記録したトラックに隣接
したトラックの記録マークの一部を消去する、いわゆる
クロスイレーズが生じていた。

【００１１】特にトラックピッチを可能な限り小さくす
ると、記録時にレーザ光の集束スポットがトラック中央
からわずかにずれただけでもクロスイレーズが生じやす
くなる。また、記録マークを精密に形成するためにサブ
パルス間パワーやサブパルスデューティを調整しても、
ディスクの熱的特性によっては記録マークが半径方向に
太く形成されてクロスイレーズが生じていた。

【００１２】この結果、隣接したトラックに記録されて
いた記録マークのエッジ位置が本来の位置からずれて再
生され、情報再生時にエラーが生じるという課題を有し
ていた。

【００１３】本発明はこの従来の課題を解決するもの
で、クロスイレーズを最小にして情報をエラーなく再生
できるテスト記録方法を提供することを目的とする。

【００１４】また、本発明はクロスイレーズが生じた場
合に起こる記録マークのエッジ位置のずれをなくし、情
報をエラーなく再生できるテスト記録方法を提供するこ
とを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る第１の光学的情報記録再生方法は、書
き換え可能な光学的情報記録媒体上に情報信号を記録す
る前に、前記光学的情報記録媒体上のテストトラックに
テスト記録する光学的情報記録再生方法であって、所定
のオフトラック量でオフトラックさせて、テストトラッ
クにテスト信号を記録するステップ（ａ−１）と、前記
ステップ（ａ−１）の後に、前記オフトラック量でオフ
トラックさせて、前記テストトラックの少なくとも一方
の隣のトラックに前記テスト信号を記録するステップ
（ａ−２）と、前記テストトラックの再生信号の品質を
測定するステップ（ａ−３）と、前記再生信号の品質に
基づいて、最適な前記オフトラック量を決定するステッ
プ（ａ−４）とを備えることを特徴とする。

【００１６】この方法により、クロスイレーズの影響の
最も少ないオフトラック量で実際の情報信号を記録する
ことができ、より精密な情報信号の記録が可能になると
いう効果が得られる。

【００１７】また、本発明に係る第２の光学的情報記録
再生方法は、書き換え可能な光学的情報記録媒体上に情
報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体上のテ
ストトラックにテスト記録する光学的情報記録再生方法
であって、前記テストトラックに所定の記録波形のパラ
メータでテスト信号を記録するステップ（ｂ−１）と、
ステップ（ｂ−１）の後に、前記テストトラックの少な
くとも一方の隣のトラックに前記所定の記録波形のパラ
メータで前記テスト信号を記録するステップ（ｂ−２）
と、前記テストトラックの再生信号の品質を測定するス
テップ（ｂ−３）と、前記再生信号の品質に基づいて、
最適な前記記録波形のパラメータを決定するステップ
（ｂ−４）とを備えることを特徴とする。

【００１８】この方法により、クロスイレーズの影響が
少なくかつ最適な記録波形のパラメータで実際の情報信
号を記録することができ、より精密な情報信号の記録が
可能になるという効果が得られる。

【００１９】また、本発明に係る第２の光学的情報記録
再生方法については、ステップ（ｂ−１）は、第１のオ
フトラック量ＯＴ１でオフトラックさせて前記テストト
ラックに所定の記録波形のパラメータでテスト信号を記
録し、ステップ（ｂ−２）は第２のオフトラック量ＯＴ
２でオフトラックさせて、前記テストトラックの少なく
とも一方の隣のトラックに前記所定の記録波形のパラメ
ータで前記テスト信号を記録し、前記第１のオフトラッ
ク量ＯＴ１について、前記テストトラックの中央から前
記少なくとも一方のトラック方向へのずれ量を正方向と
定義し、前記第２のオフトラック量ＯＴ２について、前
記少なくとも一方のトラックから前記テストトラックの
中央方向へのずれ量を正方向と定義した場合、ＯＴ１＋
ＯＴ２＞０であることがより好ましい。

【００２０】この方法により、クロスイレーズの生じや
すい条件でテスト記録を行うので、実際の情報記録時に
ディスクの偏心等に起因してオフトラックが生じても、
精密な情報信号の記録が維持できる。

【００２１】また、本発明に係る第３の光学的情報記録
再生方法は、書き換え可能な光学的情報記録媒体上に、
情報信号をマークおよびスペースの長さとして記録し、
前記マークは２種類以上の間でパワーを切り換えた少な
くとも一つ以上の記録パルス列で記録するものであり、
前記光学的情報記録媒体上に情報信号を記録する前に前
記光学的情報記録媒体上のテストトラックにテスト記録
する光学的情報記録再生方法であって、一定のファース
トパルスエッジ位置およびラストパルスエッジ位置でテ
ストトラックにテスト信号を記録するステップ（ｅ−
１）と、前記ステップ（ｅ−１）の後に、前記一定のフ
ァーストパルスエッジ位置およびラストパルスエッジ位
置で前記テストトラックの少なくとも一方の隣のトラッ
クに前記テスト信号を記録するステップ（ｅ−２）と、
前記テストトラックの再生信号の品質を測定するステッ
プ（ｅ−３）と、前記再生信号の品質に基づいて、ファ
ーストパルスエッジ位置およびラストパルスエッジ位置
を決定するステップ（ｅ−４）とを備えることを特徴と
する。

【００２２】この方法により、クロスイレーズの影響を
含めた状態でファーストパルスエッジ位置およびラスト
パルスエッジ位置を調整するので、クロスイレーズが生
じた場合に起こる記録マークのエッジ位置のずれを補償
した状態で記録される。その結果、情報をエラーなく再
生でき、より精密な情報信号の記録が可能になるという
効果が得られる。

【００２３】また、本発明に係る第３の光学的情報記録
再生方法については、前記情報信号の記録は前記光学的
情報記録媒体のトラックに対し連続的に行い、前記情報
信号の最後に少なくとも１周以上のダミーの情報信号を
記録することが、いずれのトラックに対してもクロスイ
レーズの状態を同一にしておくことが可能な点でより好
ましい。

【００２４】また、本発明に係る第１の光学的情報記録
再生装置は、書き換え可能な光学的情報記録媒体上に情
報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体上のテ
ストトラックにテスト記録する光学的情報記録再生装置
であって、情報信号を変調して記録データ信号とする変
調手段と、テスト信号を記録データ信号として生成する
テスト信号発生手段と、前記記録データ信号を所定個数
および所定幅の記録パルスに変換する記録信号生成手段
と、前記記録パルスに基づきレーザを駆動し前記光学的
情報記録媒体にテスト信号または情報信号のいずれかを
記録する記録手段と、前記テスト信号および前記情報信
号の記録再生時にトラッキングを制御するトラッキング
サーボ制御手段と、前記トラッキングサーボ制御手段に
所定のオフトラック量を印加するオフトラック量印加手
段と、前記テストトラックに記録された前記テスト信号
を再生し、再生した前記テスト信号の測定結果に基づき
最適なオフトラック量を決定するオフトラック量決定手
段とを備え、前記オフトラック量印加手段が所定のオフ
トラック量でオフトラックさせて、前記記録手段がテス
トトラックにテスト信号を記録し、前記オフトラック量
印加手段が前記所定のオフトラック量でオフトラックさ
せて、前記記録手段が前記テストトラックの少なくとも
一方の隣のトラックに前記テスト信号を記録した後、前
記オフトラック量決定手段が前記テストトラックに記録
された前記テスト信号を再生するものであることを特徴
とする。

【００２５】この装置により、クロスイレーズの影響の
最も少ないオフトラック量で実際の情報信号を記録する
ことができ、より精密な情報信号の記録が可能になると
いう効果が得られる。

【００２６】また、本発明に係る第２の光学的情報記録
再生装置は、書き換え可能な光学的情報記録媒体上に情
報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体上のテ
ストトラックにテスト記録する光学的情報記録再生装置
であって、情報信号を変調して記録データ信号とする変
調手段と、テスト信号を記録データ信号として生成する
テスト信号発生手段と、前記記録データ信号を所定個数
および所定幅の記録パルスに変換する記録信号生成手段
と、前記記録パルスに基づき所定の記録波形のパラメー
タでレーザを駆動し前記光学的情報記録媒体にテスト信
号または情報信号のいずれかを記録する記録手段と、前
記テストトラックに記録された前記テスト信号を再生
し、再生した前記テスト信号の測定結果に基づき最適な
記録波形のパラメータを決定する記録波形決定手段とを
備え、前記記録手段がテストトラックに前記テスト信号
を記録し、前記記録手段が前記テストトラックの少なく
とも一方の隣のトラックに前記所定の記録波形のパラメ
ータで前記テスト信号を記録した後、前記記録波形決定
手段が前記テストトラックに記録された前記テスト信号
を再生するものであることを特徴とする。

【００２７】この装置により、クロスイレーズの影響が
少なくかつ最適な記録波形のパラメータで実際の情報信
号を記録することができ、より精密な情報信号の記録が
可能になるという効果が得られる。

【００２８】また、本発明に係る第２の光学的情報記録
再生装置については、前記テスト信号および前記情報信
号の記録再生時にトラッキングを制御するトラッキング
サーボ制御手段と、前記トラッキングサーボ制御手段に
所定のオフトラック量を印加するオフトラック量制御手
段とを備え、前記オフトラック量印加手段は第１のオフ
トラック量ＯＴ１でオフトラックさせて、前記記録手段
がテストトラックに前記テスト信号を記録した後、前記
オフトラック量印加手段は第２のオフトラック量ＯＴ２
でオフトラックさせて、前記記録手段は前記テストトラ
ックの少なくとも一方の隣のトラックに前記所定の記録
波形のパラメータで前記テスト信号を記録するものであ
って、前記第１のオフトラック量ＯＴ１について、前記
テストトラックの中央から前記少なくとも一方のトラッ
ク方向へのずれ量を正方向と定義し、前記第２のオフト
ラック量ＯＴ２について、前記少なくとも一方のトラッ
クから前記テストトラックの中央方向へのずれ量を正方
向と定義した場合、ＯＴ１＋ＯＴ２＞０であることがよ
り好ましい。

【００２９】この装置により、クロスイレーズの生じや
すい条件でテスト記録を行うので、実際の情報記録時に
ディスクの偏心等に起因してオフトラックが生じても、
精密な情報信号の記録が維持できる。

【００３０】また、本発明に係る第３の光学的情報記録
再生装置は、書き換え可能な光学的情報記録媒体上に情
報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体上のテ
ストトラックにテスト記録する光学的情報記録再生装置
であって、情報信号を変調して記録データ信号とする変
調手段と、テスト信号を記録データ信号として生成する
テスト信号発生手段と、前記記録データ信号を所定個数
および所定幅の記録パルスに変換する記録信号生成手段
と、前記記録パルスのファーストパルスエッジ位置およ
びラストパルスエッジ位置を調整する記録パルスエッジ
調整手段と、調整された前記ファーストパルスエッジ位
置および前記ラストパルスエッジ位置に基づいてレーザ
を駆動し前記光学的情報記録媒体にテスト信号または情
報信号のいずれかを記録する記録手段と、前記テストト
ラックに記録された前記テスト信号を再生し、再生した
前記テスト信号の測定結果に基づき最適な前記ファース
トパルスエッジ位置および前記ラストパルスエッジ位置
を決定する記録波形決定手段とを備え、前記記録手段が
テストトラックに前記テスト信号を記録し、前記記録手
段が前記テストトラックの少なくとも一方の隣のトラッ
クに前記テスト信号を記録した後、前記記録波形決定手
段がテストトラックに記録された前記テスト信号を再生
するものであることを特徴とする。

【００３１】この装置により、クロスイレーズの影響を
含めた状態でファーストパルスエッジ位置およびラスト
パルスエッジ位置を調整するので、クロスイレーズが生
じた場合に起こる記録マークのエッジ位置のずれを補償
した状態で記録される。その結果、情報をエラーなく再
生でき、より精密な情報信号の記録が可能になるという
効果が得られる。

【００３２】

【発明の実施の形態】以下、実施の形態を用いて本発明
をさらに具体的に説明する。

【００３３】（実施の形態１）本実施形態は、最適なオ
フトラック量を求める目的で行うテスト記録に関する形
態である。図１は本発明の実施の形態１に係る記録再生
装置の概略構成を示すブロック図である。本実施形態に
係る記録再生装置の基本的な構成について、図１を用い
て説明する。

【００３４】本記録再生装置は光ディスク１０１を回転
させるスピンドルモーター１０９と、レーザ光源(図示
せず)を備えて光ディスク１０１の所望の箇所にレーザ
光を集束させる光ヘッド１０７とを備えている。この記
録再生装置全体の動作は、システム制御回路１０２によ
って制御される。

【００３５】上記記録再生装置は、記録再生時に光ヘッ
ド１０７に対してトラッキング制御を行うトラッキング
サーボ制御部１０８と、そのトラッキングサーボ制御部
に対し所定のオフトラック量を与え、光ヘッド１０７に
対してオフトラック動作をさせるオフトラック量印加部
１１３とを備えている。

【００３６】上記記録再生装置は、記録情報を所定の変
調則に従って変調し２値化された記録データ信号とする
変調部１０４を備え、テスト記録時に各種のテスト信号
を記録データ信号として生成するテスト信号発生部１０
３を備えている。また、記録データ信号に応じて記録パ
ルスを発生させる記録信号生成部１０５とを備えてい
る。また、記録手段として、記録パルスに基づき光ヘッ
ド１０７内のレーザ光源を駆動させる電流を変調するた
めのレーザ駆動部１０６が設けられている。

【００３７】また、上記記録再生装置は、オフトラック
量決定手段として、光ディスク１０１からの反射光に基
づく再生信号の波形処理（イコライジングなど）を行う
再生信号処理部１１０と、波形処理された信号から再生
情報を復調するための復調部１１１、再生信号のＢＥＲ
（ビットエラーレートともいう）を測定するＢＥＲ測定
部とを備えている。そして測定したＢＥＲ値に基づき、
最適なオフトラック量の決定はシステム制御回路１０２
でなされる。

【００３８】次に、図２〜図４を用いて図１に示す記録
再生装置の動作について説明する。

【００３９】図２は本発明の実施の形態１の動作を示す
フローチャートである。図３は本実施形態にてトラック
に記録された記録マークの状態を示す図である。本実施
形態ではグルーブトラックに情報信号を記録している。

【００４０】テスト記録時には、まず光ヘッド１０７が
光ディスク１０１上のテストトラックにシークし（ステ
ップ２０１）、システム制御部１０２がオフトラック量
印加部１１３に対してオフトラック量の初期値を設定
し、その設定値に基づいてトラッキングサーボ制御部１
０８が光ヘッド１０７に対しオフトラック動作をさせる
（ステップ２０２）。この初期値は、例えばオフトラッ
ク量の可変範囲の最小値とする。

【００４１】そしてテスト信号発生部１０３から、オフ
トラック量決定用のテスト信号を記録データ信号として
送出する。ここで、テスト信号は例えばランダム信号と
する。この記録データ信号を記録信号生成部１０５で記
録パルスに変換し、レーザ駆動回路１０６でレーザの駆
動電流を変調してテストトラックへ記録する（ステップ
２０３）。このときのテストトラックへの記録状態は図
３（ａ）のようになり、トラック中央からオフトラック
量ＯＴだけずれた位置に記録マークが形成される。

【００４２】次にテストトラックの隣のトラックに移動
して（ステップ２０４）同様にテスト信号を記録する
（ステップ２０５）。このときのトラックへの記録状態
は図３（ｂ）のようになり、この場合もオフトラック量
ＯＴだけずれた位置に記録マークが形成される。もう一
つの隣のトラックに移動して（ステップ２０６）同様に
テスト信号を記録する（ステップ２０７）。このときの
トラックへの記録状態は図３（ｃ）のようになり、オフ
トラック量ＯＴだけずれた位置に記録マークが形成され
る。これら隣接トラックの記録により、中央のテストト
ラックはクロスイレーズの影響を受ける。その後、その
テストトラックに戻る（ステップ２０８）。

【００４３】テスト信号の記録後は、光ヘッド１０９で
テストトラックを再生し、再生信号処理部１１０により
再生信号に対しイコライズと２値化をする。そして復調
部１１１で再生情報を復調し、ＢＥＲ測定部１１２にて
元のテスト信号の情報と比較して再生信号のビットエラ
ーレートを求める（ステップ２０９）。このビットエラ
ーレートの測定値は、システム制御回路１０２内のメモ
リに蓄積しておく（ステップ２１０）。オフトラック量
を段階的に増加させて（ステップ２１２）、上記２０３
〜２１０までのステップをオフトラック量の調整範囲内
で繰り返す（ステップ２１１）。

【００４４】そしてシステム制御部１０２にて各オフト
ラック量に対するビットエラーレートの値を比較する
（ステップ２１３）。図４にオフトラック量とビットエ
ラーレートとの関係を表すグラフを示す。ここでビット
エラーレートが最小となるオフトラック量を最適オフト
ラック量としてトラッキングサーボ制御部１０８に対し
て設定し（ステップ２１４）、テスト記録を終了する。
なお、最適オフトラック量はＢＥＲが一定のしきい値Ｂ
ＥＲth以下となるオフトラック量ＯＴminとＯＴmaxの中
点の値としても求めてもよい。

【００４５】以上の方法により、クロスイレーズの影響
の最も少ないオフトラック量で実際の情報信号を記録す
ることができる。

【００４６】以上述べたように本実施形態に係る光学的
情報記録再生方法は、オフトラック量を変化させて複数
のトラックにテスト信号を記録し、先に記録したトラッ
クのビットエラーレートの測定値を元にして最適なオフ
トラック量を求め、実際の情報信号を記録するので、ク
ロスイレーズの影響を最小にして情報信号を記録するこ
とができ、より精密な情報信号の記録が可能になるとい
う点で優れた効果が得られる。

【００４７】なお、本実施形態ではトラックがグルーブ
のみである場合について述べたが、ランドとグルーブの
両方のトラックについてそれぞれ最適なオフトラック量
を求める場合についても適用できる。この場合のテスト
トラックおよび隣接したトラックへの記録状態を図３
（ｃ）に対応する状態で示すと、テストトラックがグル
ーブの場合は図５、ランドの場合は図６のようになる。
それぞれ、グルーブではＯＴG、ランドではＯＴLだけオ
フトラック量を与えている。

【００４８】このような場合には、グルーブとランドと
で独立にオフトラック量を設定して上記のテスト記録を
行い、ＢＥＲを測定して、それぞれについて最適なオフ
トラック量を決定することになる。図７はグルーブおよ
びランドのオフトラック量とＢＥＲとの関係を示した等
高線図である。図７（ａ）はテストトラックがグルーブ
の場合、（ｂ）はランドの場合をそれぞれ示している。

【００４９】また、図８（ａ）はランドとグルーブでオ
フトラック量を同極性方向に変化させた場合、（ｂ）は
逆極性方向に変化させた場合のトラックへの記録状態を
示している。

【００５０】グルーブとランドとではトラッキングの極
性を反転させるため、オフトラック量の極性は逆にな
る。例えばグルーブでオフトラック量の極性が正でディ
スクの外周方向へオフトラックする場合、ランドではオ
フトラック量の極性が正で内周方向へオフトラックする
ことになる。従って、グルーブおよびランドのオフトラ
ック量を同極性方向に増加または減少させると、グルー
ブの記録マークとランドの記録マークが互いに接近する
ため、クロスイレーズが顕著に生じてＢＥＲが悪化す
る。

【００５１】一方、それぞれのオフトラック量を逆極性
方向に変化させると、グルーブの記録マークとランドの
記録マークはおおよそ一定間隔を保ったままオフトラッ
クするので、クロスイレーズによるＢＥＲの悪化は小さ
い。ただし、ランドとグルーブとの間のいわゆる溝壁付
近までオフトラックすると、マークの形成が不安定にな
るためにＢＥＲは悪化する。

【００５２】このようにして、ランドとグルーブの両方
のトラックに情報信号を記録するときには、テストトラ
ックの測定結果に基づいて求めた図７（ａ）および
（ｂ）の関係を用いて、ランドとグルーブとのいずれの
テストトラックでもＢＥＲが小さくなる点に対応するオ
フトラック量を最適オフトラック量として決定すること
になる。そうすれば、ランドとグルーブのいずれについ
てもクロスイレーズの影響を最小にして情報信号を記録
することができ、より精密な情報信号の記録が可能にな
るという点で優れた効果が得られる。

【００５３】なお本実施形態については、求めた最適な
オフトラック量を光ディスクの所定の領域または記録再
生装置内に備える記憶部に記憶させておくことが好まし
い。また、テスト記録時には上記のオフトラック量を光
ディスクの所定の領域または記録再生装置内に備える記
憶部から読み出して初期値とすることが好ましい。この
形態により、光ディスクまたは記録再生装置固有の初期
値からテスト記録をスタートさせることができるので、
より早く最適値を求めることができ、テスト記録をより
短い時間で終了させることができる。

【００５４】また本発明の各実施形態については、一定
数のセクタごとまたは一定数のトラックごとにオフトラ
ック量を段階的に変化させて一度に記録し、隣接するト
ラックに対し同様にしてオフトラック量を一度に記録し
てから、元のトラックに戻って上記の各パラメータごと
のＢＥＲを一度に測定するものであっても良い。この形
態では、テスト記録に要する時間をより短くすることが
できるのでより好ましい。

【００５５】（実施の形態２）本実施形態は、最適な記
録パワーを求める目的で行うテスト記録に関する形態で
ある。図９は本発明の実施の形態２に係る記録再生装置
の概略構成を示すブロック図である。

【００５６】図９の構成で、実施の形態１における図１
と異なるのは、レーザ駆動部に対して記録パワーを設定
する記録パワー設定部９０２を設けている点と、記録再
生装置全体を制御するとともに、記録パワー設定部９０
２を制御し最適記録パワーを決定するシステム制御部９
０１を設けている点である。

【００５７】次に、図１０〜図１１を用いて図９に示す
記録再生装置の動作について説明する。図１０は本発明
の実施の形態２の動作を示すフローチャートである。図
１１は本実施形態でのトラックへの記録状態を示す図で
ある。

【００５８】テスト記録時には、まず光ヘッド１０７が
光ディスク１０１上のテストトラックにシークし（ステ
ップ１００１）、システム制御部９０１が記録パワー設
定部９０２における記録パワーの初期値と、オフトラッ
ク量印加部１１３におけるテストトラックでのオフトラ
ック量を決定する（ステップ１００２）。記録パワーの
初期値は、例えば記録パワーの可変範囲の最小値とす
る。テストトラックでのオフトラック量は本実施形態で
はＯＴ１とする。ここでＯＴ１は、図１１（ａ）に示す
ようにテストトラックの中央からのずれ量を表し、後で
テスト信号を記録する隣のトラックへの方向を正と定義
する。

【００５９】図１２は、記録パルス列と、光ディスク１
０１上のトラック１２０４に形成される記録マーク１２
０５の例を示している。記録パルス列はファーストパル
ス１２０１、サブパルス列１２０２、ラストパルス１２
０３からなり、本実施形態では各パルスのピーク値であ
る記録パワーのレベルを変化させている。

【００６０】そしてテスト信号発生部１０３から、記録
パワー決定用のテスト信号を記録データ信号として送出
する。ここで、テスト信号は例えばランダム信号とす
る。この記録データ信号を記録信号生成部１０５で記録
パルスに変換し、レーザ駆動回路１０６でレーザの駆動
電流を変調してテストトラックへ記録する（ステップ１
００３）。このときのテストトラックへの記録状態は図
１１（ａ）のようになる。

【００６１】次にテストトラックの隣のトラックに移動
して（ステップ１００４）、オフトラック量印加部１１
３におけるオフトラック量をＯＴ２に設定して（ステッ
プ１００５）同様にテスト信号を記録する（ステップ１
００６）。このときのトラックへの記録状態は図１１
（ｂ）に示すようになる。ここでＯＴ２は、図１１
（ｂ）に示すようにテストトラックの隣のトラックの中
央からのずれ量を表し、テストトラックへの方向を正と
定義する。

【００６２】このときのオフトラック量は元のテストト
ラックに近づける方向とする。すなわち、ＯＴ１＋ＯＴ
２＞０となるようにすることがより好ましい。これは、
クロスイレーズの生じやすい条件でテスト記録を行うこ
とになるので、実際の情報記録時にディスクの偏心等に
起因してオフトラックが生じても、精密な情報信号の記
録が維持できる利点があるためである。

【００６３】そして元のテストトラックに戻り（ステッ
プ１００７）オフトラック量を初期値に戻す（ステップ
１００８）。

【００６４】テスト信号の記録後は、光ヘッド１０７で
該当のトラックを再生し、再生信号処理部１１０により
再生信号に対しイコライズと２値化をする。そして復調
部１１１で再生情報を復調し、ＢＥＲ測定部１１２にて
元のテスト信号の情報と比較して再生信号のビットエラ
ーレートを求める（ステップ１００９）。このビットエ
ラーレートの測定値は、システム制御回路９０１内のメ
モリに蓄積しておく（ステップ１０１０）。記録パワー
を段階的に増加させて（ステップ１０１２）、上記１０
０３〜１０１０までのステップを記録パワーの調整範囲
内で繰り返す（ステップ１０１１）。

【００６５】そしてシステム制御部９０１にて各記録パ
ワーに対するビットエラーレートの値を比較する（ステ
ップ１０１３）。図１３に記録パワーとビットエラーレ
ートとの関係を表すグラフを示す。また、図１３のグラ
フでの（ａ）（ｂ）（ｃ）それぞれの記録パワーにおい
て記録トラック上に形成される記録マークの形状を図１
４に示す。（ａ）では記録パワーが低く形成されるマー
クが細いために隣接トラックからの影響は小さいが、記
録マーク自身のジッタが悪くなり、結果的にビットエラ
ーレートは悪くなる。（ｃ）では記録パワーが高く記録
マークが太いために記録マーク自身のジッタは良いがク
ロスイレーズの影響が大きいので隣接トラックに記録し
た後にはジッタが悪くなり、ビットエラーレートも悪化
する。（ｂ）は記録マーク自身のジッタと隣接トラック
からのクロスイレーズの影響とのバランスが取れた点
で、最もビットエラーレートが良好な値になる。

【００６６】このビットエラーレートが最小となる記録
パワーを最適記録パワーとして記録パワー設定部９０２
に対して設定し（ステップ１０１４）、テスト記録を終
了する。

【００６７】以上の方法により、クロスイレーズの影響
の最も少ない記録パワーで実際の情報信号を記録するこ
とができる。なお、最適記録パワーはＢＥＲが一定のし
きい値ＢＥＲth以下となる記録パワーＰｐminとＰｐmax
の中点の値としても求めてもよい。

【００６８】以上述べたように本実施形態に係る光学的
情報記録再生方法は、記録パワーを変化させ、クロスイ
レーズの影響が大きくなるオフトラック量にして複数の
トラックにテスト信号を記録し、先に記録したトラック
のビットエラーレートが最小となる記録パワーを最適な
記録パワーとして実際の情報信号を記録するので、クロ
スイレーズの影響を最小にして情報信号を記録すること
ができ、より精密な情報信号の記録が可能になるという
点で優れた効果が得られる。

【００６９】また、テストトラックと隣のトラックでの
オフトラックを互いに接近する方向にして記録すること
により、クロスイレーズの生じやすい条件でテスト記録
を行うことになるので、実際の情報記録時にディスクの
偏心等に起因してオフトラックが生じても、精密な情報
信号の記録が維持できるという点で優れた効果が得られ
る。

【００７０】なお、本実施形態では最適な記録パワーを
決定したが、図１５に示すように消去パワー設定部１５
０２を設ければ、最適な消去パワーを決定することも可
能である。

【００７１】また、図１６に示すような記録パルス列で
記録する場合、図１７のようにサブパルス間パワー設定
部１７０２を設ければ、最適なサブパルス間パワーを決
定することもできる。ここでサブパルス間パワーは、フ
ァーストパルス１６０１とサブパルス１６０２の間、サ
ブパルス１６０２同士の間、およびサブパルス１６０２
とラストパルス１６０３の間のパワーレベルを表す。

【００７２】また、図１８に示すような記録パルス列で
記録する場合、図１９のようにサブパルスデューティ設
定部１９０２を設ければ、最適なサブパルスデューティ
を決定することも可能である。ここでサブパルスデュー
ティは、サブパルス１８０２のパルス幅とパルス間との
比を表している。

【００７３】なお本実施形態については、求めた最適な
記録パワー、消去パワー、サブパルス間パワー、サブパ
ルスデューティのいずれかを光ディスクの所定の領域ま
たは記録再生装置内に備える記憶部に記憶させておくこ
とが好ましい。また、テスト記録時には上記の記録パワ
ー、消去パワー、サブパルス間パワー、サブパルスデュ
ーティのいずれかを光ディスクの所定の領域または記録
再生装置内に備える記憶部から読み出して初期値とする
ことが好ましい。この形態により、光ディスクまたは記
録再生装置固有の初期値からテスト記録をスタートさせ
ることができるので、より早く最適値を求めることがで
き、テスト記録をより短い時間で終了させることができ
る。

【００７４】また本発明の各実施形態については、一定
数のセクタごとまたは一定数のトラックごとに記録パワ
ー、消去パワー、サブパルス間パワー、サブパルスデュ
ーティのいずれかを段階的に変化させて一度に記録し、
隣接するトラックに対し同様にしてオフトラック量、記
録パワー、消去パワー、サブパルス間パワー、サブパル
スデューティのいずれかを一度に記録してから、元のト
ラックに戻って上記の各パラメータごとのＢＥＲを一度
に測定するものであっても良い。この形態では、テスト
記録に要する時間をより短くすることができるのでより
好ましい。

【００７５】（実施の形態３）本実施形態は、クロスイ
レーズの影響を含めた状態で記録パルスの各エッジ位置
を決定する目的で行う、テスト記録に関する形態であ
る。図２０は本発明の実施の形態３に係る記録再生装置
の概略構成を示すブロック図である。

【００７６】図２０の構成で、実施の形態１における図
１と異なるのは、記録信号生成部１０５からの記録パル
スに対してファーストパルスエッジ位置およびラストパ
ルスエッジ位置を調整する記録パルスエッジ位置調整部
２００２を設けている点である。この記録パルスエッジ
調整部２００２は、ファーストパルスおよびラストパル
スそのものの位置を変化させてエッジ位置を調整する手
段であってもよいし、ファーストパルスの前端エッジ位
置およびラストパルスの後端エッジ位置を変化させて
（この場合、それぞれファーストパルスの幅およびラス
トパルスの幅が変化する）エッジ位置を調整する手段で
あってもよい。

【００７７】また、再生信号の前後端エッジのタイミン
グを検出するエッジタイミング検出部２００３を設けて
いる点である。さらに、記録再生装置全体を制御すると
ともに、記録パルスエッジ位置調整部２００２を制御し
最適な各エッジ位置を決定するシステム制御部２００１
を設けている点である。

【００７８】次に、図２１および図２２を用いて図２０
に示す記録再生装置の動作について説明する。図２１は
本実施形態の動作を示すフローチャートである。図２２
は本実施形態の一部分の例である、前スペース長５Ｔ−
自己マーク長３Ｔの組み合わせ（すなわちマーク−スペ
ースの組み合わせテーブルの一要素）での前端パルスエ
ッジ位置の補正量を求める動作を説明する図である。こ
こでＴはチャネルクロック周期を表す。

【００７９】図２２において、（ａ）は記録パルスエッ
ジ位置決定用テスト信号（記録データ信号）波形、
（ｂ）はレーザを駆動する記録パルス波形、（ｃ）は上
記記録パルスエッジ位置決定用テスト信号が記録された
後のトラックの状態、（ｄ）は隣接するトラックにも記
録パルスエッジ位置決定用テスト信号が記録された後の
元のトラックの状態、（ｅ）はその元のトラックを再生
したときの再生信号波形、（ｆ）は再生信号の２値化信
号波形である。

【００８０】テスト記録時には、まず、システム制御部
２００１の命令に基づいて光ヘッド１０７が光ディスク
１０１上の所定のテストトラックにシークする（ステッ
プ２１０１）。システム制御回路２００１はファースト
パルスエッジ位置およびラストパルスエッジ位置の初期
値（すなわち、記録再生装置があらかじめ備える値）を
記録パルスエッジ調整回路２００２に設定する（ステッ
プ２１０２）。

【００８１】テスト信号発生部１０３からの記録パルス
エッジ位置決定用テスト信号を記録信号生成回路１０５
へ送出する。記録パルスエッジ位置決定用テストパター
ン信号は組み合わせテーブル上の各要素の調整に対応し
た特定の周期を有する記録データ信号である。この信号
波形が図２２（ａ）に相当する。

【００８２】記録信号生成部１０５は、この記録データ
信号を記録パルス列に変換する。レーザ駆動部１０６
は、記録パルスエッジ調整部２００２を経た、図２２
（ｂ）のような記録パルス列に基づいてレーザの駆動電
流を変調することにより、テスト記録をテストトラック
へ行う（ステップ２１０３）。記録後、テストトラック
の状態は図２２（ｃ）に示すようになり、トラック２２
０２には記録マーク２２０３が記録される。

【００８３】そして、テストトラックの次のトラックに
移動して（ステップ２１０４）同様にテスト信号を記録
し、（ステップ２１０５）、元のテストトラックに戻る
（ステップ２１０６）。隣接記録後のテストトラックの
状態は図２２（ｄ）に示すようになる。クロスイレーズ
のために記録マーク２２０４は一部が削られた状態にな
っている。

【００８４】記録パルスエッジ位置決定用テストパター
ン信号の記録後は、光ヘッド１０７でテストトラックを
再生する。再生信号の波形は図２２（ｅ）に示すように
なり、記録マーク２２０４が削られた状態になっている
ため、再生信号では見かけ上、記録マークの前端エッジ
が後に、後端エッジが前にシフトした波形となってい
る。再生信号処理部１１０が、再生信号のイコライズと
２値化とを行う。２値化後の波形は図２２（ｆ）に示す
ようになる。そしてエッジタイミング検出部２００３
が、２値化信号をスライスし、信号反転間隔を検出し
て、記録マークエッジ間隔を測定する（ステップ２１０
７）。

【００８５】図２２に示す例では、同図（ｆ）に示す２
値化信号の立ち上がりタイミングの間隔ｘを測定する。
測定された記録マークエッジ間隔は、システム制御回路
２００１内のエッジ間隔蓄積メモリに蓄積される。シス
テム制御回路２００１が、このメモリに蓄積されている
マークエッジ間隔の測定値の平均を算出する（ステップ
２１０８）。

【００８６】マークエッジ間隔の平均値と記録パルスエ
ッジ位置決定用テスト信号のエッジ間隔（すなわち、記
録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号の信号反
転間隔）との差分（すなわちマークエッジのずれ量）を
求める（ステップ２１０９）。図２１の例では、理想的
な信号反転間隔時間である１５Ｔとｘとの差分を算出す
る。そしてその差分が一定値より小さいか否かを判断す
る（ステップ２１１０）。この場合の一定値には、例え
ば記録パルスエッジ調整部２００２におけるファースト
パルスエッジ位置またはラストパルスエッジ位置の調整
単位時間（すなわち、調整ステップ）を用いる。

【００８７】差分が一定値より大きい場合には、上記の
差分をもとにファーストパルスエッジ位置またはラスト
パルスエッジ位置を決定し、その決定したエッジ位置を
記録パルスエッジ調整部２００２に設定する（ステップ
２１１１）。図２２の例では、３Ｔの記録パルス２２０
１のファーストエッジ位置を決定する（なお、この例で
は３Ｔの記録パルスはファーストパルスとラストパルス
を重ねて単一のパルスで記録する形態となっている）。
そして再度ステップ２１０３からの工程を繰り返す。

【００８８】差分が一定値より小さい場合には、記録パ
ルスエッジ調整部２００２で設定しているファーストパ
ルスエッジ位置またはラストパルスエッジ位置が、所望
の位置に最も近いことに相当する。したがって、システ
ム制御回路２００１は設定中のエッジ位置（図２１の例
では前スペース長５Ｔ−自己マーク長３Ｔの組み合わせ
テーブルでのファーストパルスエッジ位置の要素）をエ
ッジ位置情報としてシステム制御回路２００１内のテー
ブル登録メモリに登録し（ステップ２１１２）、この組
み合わせテーブルの要素に対するテスト記録を終了す
る。

【００８９】そして次の組み合わせテーブルの要素に対
応する記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号
に切り替えて（ステップ２１１３）、再度ステップ２１
０２からの工程を繰り返す。すべての組み合わせテーブ
ルの要素に対してステップ２１０２からステップ２０１
３までを繰り返したか否かを判断し（ステップ２１１
４）、すべての要素についてエッジ位置の設定と登録が
終了した後テスト記録を終了する。

【００９０】以降、実際に情報信号を記録するときに
は、変調部１０４を経た情報信号に基づいて、記録パル
スを生成する。そして記録パルスエッジ調整部２００２
で設定されたファーストパルスエッジ位置およびラスト
パルスエッジ位置に従って記録を行う。

【００９１】また、ディスクへの情報の記録はディスク
上のデータ記録領域の最内周または最外周から連続的に
行う。そうすれば、情報を再生するトラックは常に次の
トラックからのクロスイレーズの影響を受けた状態で再
生されることになる。しかしながら本実施形態では、テ
スト記録においてすでにクロスイレーズ影響を含めた状
態でファーストパルスのエッジ位置およびラストパルス
のエッジ位置を補償しているので、トラックには理想的
なエッジ位置で記録マークを形成することができ、その
結果エラーなく情報を再生することができる。

【００９２】また本実施形態では、クロスイレーズの影
響も含めて記録パルスの各エッジ位置を設定している。
そのため、情報の記録を連続的に行った場合、最後のト
ラックはクロスイレーズの影響を含んでいないため、記
録マークのエッジ位置が最適な位置からずれてしまう。
この課題に対しては以下のようにすれば対処できる。す
なわち実際に情報を記録するときに、情報信号の最後に
少なくとも１周以上のダミーの情報信号を記録すれば、
情報を記録した最後のトラックについてもクロスイレー
ズされる。したがって、最後のトラックに対してもクロ
スイレーズの状態を同一にしておくことができ、エラー
なく再生できる点でより好ましい形態となる。

【００９３】以上述べたように本実施形態に係る光学的
情報記録再生方法は、クロスイレーズの影響を含めた状
態で、ファーストパルスエッジ位置およびラストパルス
エッジ位置を調整するので、クロスイレーズが生じた場
合に起こる記録マークのエッジ位置のずれを補償した状
態で記録される。その結果、情報をエラーなく再生で
き、より精密な情報信号の記録が可能になるという点で
優れた効果が得られる。

【００９４】なお本実施形態については、求めた最適な
ファーストパルスエッジ位置およびラストパルスエッジ
位置のいずれかを光ディスクの所定の領域または記録再
生装置内に備える記憶部に記憶させておくことが好まし
い。また、テスト記録時には上記のファーストパルスエ
ッジ位置およびラストパルスエッジ位置のいずれかを光
ディスクの所定の領域または記録再生装置内に備える記
憶部から読み出して初期値とすることが好ましい。この
形態により、光ディスクまたは記録再生装置固有の初期
値からテスト記録をスタートさせることができるので、
より早く最適値を求めることができ、テスト記録をより
短い時間で終了させることができる。

【００９５】また本発明の各実施形態については、一定
数のセクタごとまたは一定数のトラックごとにファース
トパルスエッジ位置およびラストパルスエッジ位置のい
ずれかを段階的に変化させて一度に記録し、隣接するト
ラックに対し同様にしてファーストパルスエッジ位置お
よびラストパルスエッジ位置のいずれかを一度に記録し
てから、元のトラックに戻って上記の各パラメータごと
のＢＥＲを一度に測定するものであっても良い。この形
態では、テスト記録に要する時間をより短くすることが
できるのでより好ましい。

【００９６】なお本発明の実施の形態１、２について
は、クロスイレーズされた後のトラックのビットエラー
レートをＢＥＲ測定部で測定するものとしたが、ＢＥＲ
測定部の代わりにジッタ測定部を設け、テストトラック
のジッタを測定するものとしても良い。また、テスト信
号としてランダムパターンの代わりに単一周期信号を用
い、ＢＥＲ測定部の代わりに再生信号振幅測定部を設け
てテストトラックの再生信号振幅を測定するものとして
も良い。再生信号の品質が測定できるものであれば、い
ずれの手段であっても良い。

【００９７】また、本実施形態においては、記録マーク
のエッジ間隔の測定をエッジタイミング検出回路で行
い、測定したエッジ間隔の蓄積および平均値の算出をシ
ステム制御回路にて行ったが、これらの処理を、例えば
タイムインターバルアナライザ等の、本記録再生装置の
外部の測定器にて行ってもよい。

【００９８】なお、本発明の実施の形態１については、
再生信号品質を測定するトラックの両側のトラックにテ
スト記録するものとしたが、片側のトラックであっても
よい。

【００９９】同様に本発明の実施の形態２、３について
は片側にテスト記録したが、両側であっても良い。ただ
し、実施の形態３では、ディスクへの情報の記録をディ
スク上のデータ記録領域の最内周または最外周から連続
的に行う場合には片側（すなわち次）のトラックのみに
テスト記録する方が、実際の情報の記録と同様の状態で
テスト記録できるのでより好ましい。

【０１００】また本発明の各実施形態については、求め
た最適なオフトラック量、記録パワー、サブパルス間パ
ワー、サブパルスデューティ、ファーストパルスエッジ
位置およびラストパルスエッジ位置のいずれかを光ディ
スクの所定の領域または記録再生装置内に備える記憶部
に記憶させておくことが好ましい。また、テスト記録時
には上記のオフトラック量、記録パワー、サブパルス間
パワー、サブパルスデューティ、ファーストパルスエッ
ジ位置およびラストパルスエッジ位置のいずれかを光デ
ィスクの所定の領域または記録再生装置内に備える記憶
部から読み出して初期値とすることが好ましい。この形
態により、光ディスクまたは記録再生装置固有の初期値
からテスト記録をスタートさせることができるので、よ
り早く最適値を求めることができ、テスト記録をより短
い時間で終了させることができる。

【０１０１】また、上記の各実施形態においてはテスト
信号を発生させるためにテスト信号生成回路を設けた
が、システム制御回路から特定の情報信号を発生させて
変調した信号をテスト信号としても良い。これにより、
テスト信号生成回路を別途設ける必要がなくなるので、
装置の小型化を図れる。さらに、このテスト信号にエラ
ー訂正符号の付加やインターリーブ処理が行われたもの
でもよい。

【０１０２】また、上記の光ディスクは相変化材料、光
磁気材料や色素材料等、記録マークと非マーク部（スペ
ース部）で光学的特性の異なる媒体であればいずれも上
記の方法を適用することができる。

【０１０３】また、上記の変調方式、各パルスの長さ・
位置、テストパターン信号の周期等は本実施形態で示し
たものに限るわけではなく、記録条件や媒体に応じて適
切なものを設定することが可能なことは言うまでもな
い。

【０１０４】

【発明の効果】以上述べたように、本発明の光学的情報
記録方法によれば、オフトラック量を変化させて複数の
トラックにテスト信号を記録し、先に記録したトラック
のビットエラーレートが最小となるオフトラック量を最
適なオフトラック量として実際の情報信号を記録するの
で、クロスイレーズの影響を最小にして情報信号を記録
することができ、より精密な情報信号の記録が可能にな
る。

【０１０５】また本発明の光学的情報記録方法によれ
ば、記録パワーを変化させ、クロスイレーズの影響が大
きくなるオフトラック量にして複数のトラックにテスト
信号を記録し、先に記録したトラックのビットエラーレ
ートが最小となる記録パワーを最適な記録パワーとして
実際の情報信号を記録するので、クロスイレーズの影響
を最小にして情報信号を記録することができ、より精密
な情報信号の記録が可能になる。

【０１０６】また本発明の光学的情報記録方法によれ
ば、サブパルス間パワーを変化させて複数のトラックに
テスト信号を記録し、先に記録したトラックのビットエ
ラーレートが最小となるサブパルス間パワーを最適なオ
フトラック量と実際の情報信号を記録するので、クロス
イレーズの影響を最小にして情報信号を記録することが
でき、より精密な情報信号の記録が可能になる。

【０１０７】また本発明の光学的情報記録方法によれ
ば、サブパルスデューティを変化させて複数のトラック
にテスト信号を記録し、先に記録したトラックのビット
エラーレートが最小となるサブパルスデューティを最適
なオフトラック量と実際の情報信号を記録するので、ク
ロスイレーズの影響を最小にして情報信号を記録するこ
とができ、より精密な情報信号の記録が可能になる。

【０１０８】さらに本発明の光学的情報記録方法によれ
ば、クロスイレーズの影響を含めた状態でファーストパ
ルスエッジ位置およびラストパルスエッジ位置を調整す
るので、クロスイレーズが生じた場合に起こる記録マー
クのエッジ位置のずれを補償した状態で記録される。そ
の結果、情報をエラーなく再生でき、より精密な情報信
号の記録が可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１に係る記録再生装置の構
成を示すブロック図

【図２】前記実施の形態１に係る記録再生装置の動作を
説明するフローチャート

【図３】前記実施の形態１に係るトラックへの記録状態
を示す図

【図４】前記実施の形態１に係るオフトラック量とビッ
トエラーレートとの関係を示す図

【図５】前記第１の別の実施形態に係るトラックへの記
録状態を示す図

【図６】前記第１の別の実施形態に係るトラックへの記
録状態を示す図

【図７】前記第１の別の実施形態に係るオフトラック量
とビットエラーレートとの関係を示す図

【図８】前記第１の別の実施形態に係るトラックへの記
録状態を示す図

【図９】本発明の実施の形態２に係る記録再生装置の構
成を示すブロック図

【図１０】前記実施の形態２に係る記録再生装置の動作
を説明するフローチャート

【図１１】前記実施の形態２に係るトラックへの記録状
態を示す図

【図１２】前記実施の形態２において、 （ａ）記録データ信号として送出したテスト信号の波形
の一部を説明する図 （ｂ）記録データ信号で記録した後のトラック上におけ
る記録マークの状態を示す図

【図１３】前記実施の形態２に係る記録パワーとビット
エラーレートとの関係を示す図

【図１４】前記実施の形態２において、記録パワーと記
録マーク形状との関係を示す図

【図１５】前記第２の別の実施形態に係る記録再生装置
の構成を示すブロック図

【図１６】前記第２の別の実施形態において、 （ａ）記録データ信号として送出したテスト信号の波形
の一部を説明する図 （ｂ）記録データ信号で記録した後のトラック上におけ
る記録マークの状態を示す図

【図１７】前記第２の別の実施形態に係る記録再生装置
の構成を示すブロック図

【図１８】前記第２の別の実施形態において、 （ａ）記録データ信号として送出したテスト信号の波形
の一部を説明する図 （ｂ）記録データ信号で記録した後のトラック上におけ
る記録マークの状態を示す図

【図１９】前記第２の別の実施形態に係る記録再生装置
の構成を示すブロック図

【図２０】本発明の実施の形態３に係る記録再生装置の
構成を示すブロック図

【図２１】前記実施の形態３に係る記録再生装置の動作
を説明するフローチャート

【図２２】前記実施の形態３において、ファーストパル
スエッジ位置を補正する一例を示す説明図 （ａ）記録パルスエッジ位置決定用テスト信号（記録デ
ータ信号）波形を示す図 （ｂ）レーザを駆動する記録パルス波形を示す図 （ｃ）上記記録パルスエッジ位置決定用テスト信号が記
録された後のトラックの状態を示す図 （ｄ）隣接するトラックにも記録パルスエッジ位置決定
用テスト信号が記録された後の元のトラックの状態を示
す図 （ｅ）元のトラックを再生したときの再生信号波形を示
す図 （ｆ）再生信号の２値化信号波形を示す図

【符号の説明】

１０１ 光ディスク １０２，９０１，１５０１，１７０１，１９０１，２０
０１ システム制御回路 １０３ テスト信号発生部 １０４ 変調部 １０５ 記録信号生成部 １０６ レーザ駆動回路 １０７ 光ヘッド １０８ トラッキングサーボ制御部 １０９ スピンドルモーター １１０ 再生信号処理部 １１１ 復調部 １１２ ＢＥＲ測定部 １１３ オフトラック量印加設定部 ９０２ 記録パワー設定部 ６０１，１２０１，１６０１，１８０１ ファーストパ
ルス ６０２，１２０２，１６０２，１８０２ サブパルス ６０３，１２０３，１６０３，１８０３ ラストパルス ８０１，１２０４，１６０４，１８０４，２２０２ ト
ラック ３０２，５０２，８０２，１１０２，１２０５，１４０
２，１６０５，１８０５，２２０３ 記録マーク ３０１，５０１，１１０１，１４０１，２２０２ テス
トトラック ３０３，５０３，１１０３，１４０３，２２０５ 隣接
トラック １５０２ 消去パワー設定部 １７０２ サブパルス間パワー設定部 １９０２ サブパルスデューティ設定部 ２００２ 記録パルスエッジ調整回路 ２００３ エッジタイミング検出部 ２２０１ ３Ｔ記録パルス ２２０４ クロスイレーズされた記録マーク

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秋山 哲也 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB05 CC06 EE07 FF02 FF45 JJ12 5D118 AA18 BA01 BB05 BF03 CA13 CB01 CD11

Claims (35)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】書き換え可能な光学的情報記録媒体上に情
   報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体上のテ
   ストトラックにテスト記録する光学的情報記録再生方法
   であって、 所定のオフトラック量でオフトラックさせて、テストト
   ラックにテスト信号を記録するステップ（ａ−１）と、 前記ステップ（ａ−１）の後に、前記オフトラック量で
   オフトラックさせて、前記テストトラックの少なくとも
   一方の隣のトラックに前記テスト信号を記録するステッ
   プ（ａ−２）と、 前記テストトラックの再生信号の品質を測定するステッ
   プ（ａ−３）と、 前記再生信号の品質に基づいて、最適な前記オフトラッ
   ク量を決定するステップ（ａ−４）とを備えることを特
   徴とする光学的情報記録再生方法。
2. 【請求項２】複数のセクタまたはトラックごとに前記オ
   フトラック量を変化させて前記テスト信号を記録し、 前記オフトラック量でオフトラックさせて、前記セクタ
   または前記トラックの少なくとも一方の隣のトラックに
   前記テスト信号を記録し、 前記セクタまたは前記トラックの再生信号の品質を測定
   し、 前記再生信号の品質に基づいて最適なオフトラック量と
   して決定することを特徴とする請求項１に記載の光学的
   情報記録再生方法。
3. 【請求項３】決定した前記最適なオフトラック量の値を
   前記光学的情報記録媒体の特定の領域に記録しておくこ
   とを特徴とする請求項１または２に記載の光学的情報記
   録再生方法。
4. 【請求項４】テスト記録を行うに先立って、前記オフト
   ラック量を前記光学的情報記録媒体の特定の領域から読
   み出して、前記テスト記録の初期値とすることを特徴と
   する請求項３に記載の光学的情報記録再生方法。
5. 【請求項５】書き換え可能な光学的情報記録媒体上に情
   報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体上のテ
   ストトラックにテスト記録する光学的情報記録再生装置
   であって、 情報信号を変調して記録データ信号とする変調手段と、 テスト信号を記録データ信号として生成するテスト信号
   発生手段と、 前記記録データ信号を所定個数および所定幅の記録パル
   スに変換する記録信号生成手段と、 前記記録パルスに基づきレーザを駆動し前記光学的情報
   記録媒体にテスト信号または情報信号のいずれかを記録
   する記録手段と、 前記テスト信号および前記情報信号の記録再生時にトラ
   ッキングを制御するトラッキングサーボ制御手段と、 前記トラッキングサーボ制御手段に所定のオフトラック
   量を印加するオフトラック量印加手段と、 前記テストトラックに記録された前記テスト信号を再生
   し、再生した前記テスト信号の測定結果に基づき最適な
   オフトラック量を決定するオフトラック量決定手段とを
   備え、 前記オフトラック量印加手段が所定のオフトラック量で
   オフトラックさせて、前記記録手段がテストトラックに
   テスト信号を記録し、 前記オフトラック量印加手段が前記所定のオフトラック
   量でオフトラックさせて、前記記録手段が前記テストト
   ラックの少なくとも一方の隣のトラックに前記テスト信
   号を記録した後、 前記オフトラック量決定手段が前記テストトラックに記
   録された前記テスト信号を再生するものであることを特
   徴とする光学的情報記録再生装置。
6. 【請求項６】決定した前記最適なオフトラック量の値を
   前記光学的情報記録装置の有する記憶手段に記憶させて
   おくことを特徴とする請求項５に記載の光学的情報記録
   再生装置。
7. 【請求項７】テスト記録を行うに先立って、前記オフト
   ラック量を前記光学的情報記録装置の有する記憶手段か
   ら読み出して、前記テスト記録の初期値とすることを特
   徴とする請求項６に記載の光学的情報記録再生装置。
8. 【請求項８】テスト記録を装置の調整時に行い、前記テ
   スト記録以降の装置の使用時には、テスト記録にて決定
   した前記最適なオフトラック量を前記光学的情報記録装
   置の有する記憶手段から読み出してオフトラック量を設
   定し、情報の記録再生を行うことを特徴とする請求項６
   に記載の光学的情報記録再生装置。
9. 【請求項９】書き換え可能な光学的情報記録媒体上に情
   報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体上のテ
   ストトラックにテスト記録する光学的情報記録再生方法
   であって、 前記テストトラックに所定の記録波形のパラメータでテ
   スト信号を記録するステップ（ｂ−１）と、 ステップ（ｂ−１）の後に、前記テストトラックの少な
   くとも一方の隣のトラックに前記所定の記録波形のパラ
   メータで前記テスト信号を記録するステップ（ｂ−２）
   と、 前記テストトラックの再生信号の品質を測定するステッ
   プ（ｂ−３）と、 前記再生信号の品質に基づいて、最適な前記記録波形の
   パラメータを決定するステップ（ｂ−４）とを備えるこ
   とを特徴とする光学的情報記録再生方法。
10. 【請求項１０】ステップ（ｂ−１）は、第１のオフトラ
    ック量ＯＴ１でオフトラックさせて前記テストトラック
    に所定の記録波形のパラメータでテスト信号を記録し、 ステップ（ｂ−２）は第２のオフトラック量ＯＴ２でオ
    フトラックさせて、前記テストトラックの少なくとも一
    方の隣のトラックに前記所定の記録波形のパラメータで
    前記テスト信号を記録し、 前記第１のオフトラック量ＯＴ１について、前記テスト
    トラックの中央から前記少なくとも一方のトラック方向
    へのずれ量を正方向と定義し、 前記第２のオフトラック量ＯＴ２について、前記少なく
    とも一方のトラックから前記テストトラック方向へのず
    れ量を正方向と定義した場合、 ＯＴ１＋ＯＴ２＞０ であることを特徴とする請求項９に記載の光学的情報記
    録再生方法。
11. 【請求項１１】複数のセクタまたはトラックごとに前記
    記録波形のパラメータを変化させて前記テスト信号を記
    録し、 前記セクタまたは前記トラックの少なくとも一方の隣の
    トラックに前記記録波形のパラメータで前記テスト信号
    を記録し、 前記セクタまたは前記トラックの再生信号の品質を測定
    し、 前記再生信号の測定結果に基づき最適な記録波形のパラ
    メータを決定することを特徴とする請求項９または１０
    に記載の光学的情報記録再生方法。
12. 【請求項１２】情報信号をマークおよびスペースの長さ
    として記録し、前記マークは記録パワー、消去パワーの
    少なくとも２種類の間でパワーを切り換えた少なくとも
    一つ以上の記録パルス列で記録するものであり、 前記記録波形のパラメータは記録パワーであることを特
    徴とする請求項１０または１１に記載の光学的情報記録
    方法。
13. 【請求項１３】情報信号をマークおよびスペースの長さ
    として記録し、前記マークは記録パワー、消去パワーの
    少なくとも２種類の間でパワーを切り換えた少なくとも
    一つ以上の記録パルス列で記録するものであり、 前記記録波形のパラメータは消去パワーであることを特
    徴とする請求項１０または１１に記載の光学的情報記録
    方法。
14. 【請求項１４】情報信号をマークおよびスペースの長さ
    として記録し、前記マークは記録パワー、消去パワー、
    サブパルス間パワーの少なくとも３種類の間でパワーを
    切り換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列で記録す
    るものであり、 前記記録波形のパラメータはサブパルス間パワーである
    ことを特徴とする請求項９〜１１のいずれか１項に記載
    の光学的情報記録方法。
15. 【請求項１５】情報信号をマークおよびスペースの長さ
    として記録し、前記マークは記録パワー、消去パワーの
    少なくとも２種類の間でパワーを切り換えた少なくとも
    一つ以上の記録パルス列で記録するものであり、前記記
    録波形のパラメータはサブパルスデューティであること
    を特徴とする請求項９〜１１のいずれか１項に記載の光
    学的情報記録方法。
16. 【請求項１６】決定した前記最適な記録波形のパラメー
    タの値を前記光学的情報記録媒体の特定の領域に記録し
    ておくことを特徴とする請求項９〜１５のいずれか１項
    に記載の光学的情報記録再生方法。
17. 【請求項１７】テスト記録を行うに先立って、前記記録
    波形のパラメータの値を前記光学的情報記録媒体の特定
    の領域から読み出して、前記テスト記録の初期値とする
    ことを特徴とする請求項１６に記載の光学的情報記録再
    生方法。
18. 【請求項１８】書き換え可能な光学的情報記録媒体上に
    情報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体上の
    テストトラックにテスト記録する光学的情報記録再生装
    置であって、 情報信号を変調して記録データ信号とする変調手段と、 テスト信号を記録データ信号として生成するテスト信号
    発生手段と、 前記記録データ信号を所定個数および所定幅の記録パル
    スに変換する記録信号生成手段と、 前記記録パルスに基づき所定の記録波形のパラメータで
    レーザを駆動し前記光学的情報記録媒体にテスト信号ま
    たは情報信号のいずれかを記録する記録手段と、 前記テストトラックに記録された前記テスト信号を再生
    し、再生した前記テスト信号の測定結果に基づき最適な
    記録波形のパラメータを決定する記録波形決定手段とを
    備え、 前記記録手段がテストトラックに前記テスト信号を記録
    し、 前記記録手段が前記テストトラックの少なくとも一方の
    隣のトラックに前記所定の記録波形のパラメータで前記
    テスト信号を記録した後、 前記記録波形決定手段が前記テストトラックに記録され
    た前記テスト信号を再生するものであることを特徴とす
    る光学的情報記録再生装置。
19. 【請求項１９】前記テスト信号および前記情報信号の記
    録再生時にトラッキングを制御するトラッキングサーボ
    制御手段と、 前記トラッキングサーボ制御手段に所定のオフトラック
    量を印加するオフトラック量制御手段とを備え、 前記オフトラック量印加手段は第１のオフトラック量Ｏ
    Ｔ１でオフトラックさせて、前記記録手段がテストトラ
    ックに前記テスト信号を記録した後、 前記オフトラック量印加手段は第２のオフトラック量Ｏ
    Ｔ２でオフトラックさせて、前記記録手段は前記テスト
    トラックの少なくとも一方の隣のトラックに前記所定の
    記録波形のパラメータで前記テスト信号を記録するもの
    であって、 前記第１のオフトラック量ＯＴ１について、前記テスト
    トラックの中央から前記少なくとも一方のトラック方向
    へのずれ量を正方向と定義し、 前記第２のオフトラック量ＯＴ２について、前記少なく
    とも一方のトラックから前記テストトラックの中央方向
    へのずれ量を正方向と定義した場合、 ＯＴ１＋ＯＴ２＞０ であることを特徴とする請求項１８に記載の光学的情報
    記録再生装置。
20. 【請求項２０】情報信号をマークおよびスペースの長さ
    として記録し、前記マークは記録パワー、消去パワーの
    少なくとも２種類の間でパワーを切り換えた少なくとも
    一つ以上の記録パルス列で記録するものであり、 前記記録手段による記録時に所定の記録パワーを設定す
    る記録パワー設定手段を備え、 前記記録波形のパラメータが記録パワーであることを特
    徴とする請求項１９に記載の光学的情報記録再生装置。
21. 【請求項２１】情報信号をマークおよびスペースの長さ
    として記録し、前記マークは記録パワー、消去パワーの
    少なくとも２種類の間でパワーを切り換えた少なくとも
    一つ以上の記録パルス列で記録するものであり、 前記記録手段による記録時に所定の消去パワーを設定す
    る消去パワー設定手段を備え、 前記記録波形のパラメータが消去パワーであることを特
    徴とする請求項１９に記載の光学的情報記録再生装置。
22. 【請求項２２】情報信号をマークおよびスペースの長さ
    として記録し、前記マークは記録パワー、消去パワー、
    サブパルス間パワーの少なくとも３種類の間でパワーを
    切り換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列で記録す
    るものであり、 前記記録手段による記録時に所定のサブパルス間パワー
    を設定するサブパルス間パワー設定手段を備え、 前記記録波形のパラメータが消去パワーであることを特
    徴とする請求項１８または１９に記載の光学的情報記録
    再生装置。
23. 【請求項２３】情報信号をマークおよびスペースの長さ
    として記録し、前記マークは記録パワー、消去パワーの
    少なくとも２種類の間でパワーを切り換えた少なくとも
    一つ以上の記録パルス列で記録するものであり、 前記記録手段による記録時に所定のサブパルスデューテ
    ィを設定するサブパルスデューティ設定手段を備え、 前記記録波形のパラメータがサブパルスデューティであ
    ることを特徴とする請求項１８または１９に記載の光学
    的情報記録再生装置。
24. 【請求項２４】決定した前記最適なオフトラック量の値
    を前記光学的情報記録装置の有する記憶手段に記憶させ
    ておくことを特徴とする請求項１８〜２３のいずれか１
    項に記載の光学的情報記録再生装置。
25. 【請求項２５】テスト記録を行うに先立って、前記オフ
    トラック量を前記光学的情報記録装置の有する記憶手段
    から読み出して、前記テスト記録の初期値とすることを
    特徴とする請求項２４に記載の光学的情報記録再生装
    置。
26. 【請求項２６】書き換え可能な光学的情報記録媒体上
    に、情報信号をマークおよびスペースの長さとして記録
    し、前記マークは２種類以上の間でパワーを切り換えた
    少なくとも一つ以上の記録パルス列で記録するものであ
    り、 前記光学的情報記録媒体上に情報信号を記録する前に前
    記光学的情報記録媒体上のテストトラックにテスト記録
    する光学的情報記録再生方法であって、 一定のファーストパルスエッジ位置およびラストパルス
    エッジ位置でテストトラックにテスト信号を記録するス
    テップ（ｅ−１）と、 前記ステップ（ｅ−１）の後に、前記一定のファースト
    パルスエッジ位置およびラストパルスエッジ位置で前記
    テストトラックの少なくとも一方の隣のトラックに前記
    テスト信号を記録するステップ（ｅ−２）と、 前記テストトラックの再生信号の品質を測定するステッ
    プ（ｅ−３）と、 前記再生信号の品質に基づいて、ファーストパルスエッ
    ジ位置およびラストパルスエッジ位置を決定するステッ
    プ（ｅ−４）とを備えることを特徴とする光学的情報記
    録再生方法。
27. 【請求項２７】複数のセクタまたはトラックごとに前記
    ファーストパルスエッジ位置およびラストパルスエッジ
    位置を変化させて前記テスト信号を記録し、 前記ファーストパルスエッジ位置およびラストパルスエ
    ッジ位置で前記セクタまたは前記トラックの少なくとも
    一方の隣のトラックに前記テスト信号を記録し、 前記セクタまたは前記トラックの再生信号の品質を測定
    し、 前記再生信号の品質が最も良いファーストパルスエッジ
    位置およびラストパルスエッジ位置を最適なファースト
    パルスエッジ位置およびラストパルスエッジ位置として
    決定することを特徴とする請求項２６に記載の光学的情
    報記録再生方法。
28. 【請求項２８】決定した前記最適なファーストパルスエ
    ッジ位置およびラストパルスエッジ位置の値を前記光学
    的情報記録媒体の特定の領域に記録しておくことを特徴
    とする請求項２６または２７に記載の光学的情報記録再
    生方法。
29. 【請求項２９】テスト記録を行うに先立って、前記ファ
    ーストパルスエッジ位置およびラストパルスエッジ位置
    を前記光学的情報記録媒体の特定の領域から読み出し
    て、前記テスト記録の初期値とすることを特徴とする請
    求項２８に記載の光学的情報記録再生方法。
30. 【請求項３０】テスト信号の記録は前記テストトラック
    と前記テストトラックと次のトラックの２トラックで行
    い、 前記情報信号の記録は前記光学的情報記録媒体の最内周
    もしくは最外周よりトラックに対し連続的に行うことを
    特徴とする請求項２６または２７に記載の光学的情報記
    録再生方法。
31. 【請求項３１】前記情報信号の最後に少なくとも１周以
    上のダミーの情報信号を記録することを特徴とする請求
    項３０に記載の光学的情報記録方法。
32. 【請求項３２】書き換え可能な光学的情報記録媒体上に
    情報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体上の
    テストトラックにテスト記録する光学的情報記録再生装
    置であって、 情報信号を変調して記録データ信号とする変調手段と、 テスト信号を記録データ信号として生成するテスト信号
    発生手段と、 前記記録データ信号を所定個数および所定幅の記録パル
    スに変換する記録信号生成手段と、 前記記録パルスのファーストパルスエッジ位置およびラ
    ストパルスエッジ位置を調整する記録パルスエッジ調整
    手段と、 調整された前記ファーストパルスエッジ位置および前記
    ラストパルスエッジ位置に基づいてレーザを駆動し前記
    光学的情報記録媒体にテスト信号または情報信号のいず
    れかを記録する記録手段と、 前記テストトラックに記録された前記テスト信号を再生
    し、再生した前記テスト信号の測定結果に基づき最適な
    前記ファーストパルスエッジ位置および前記ラストパル
    スエッジ位置を決定する記録波形決定手段とを備え、 前記記録手段がテストトラックに前記テスト信号を記録
    し、 前記記録手段が前記テストトラックの少なくとも一方の
    隣のトラックに前記テスト信号を記録した後、 前記記録波形決定手段がテストトラックに記録された前
    記テスト信号を再生するものであることを特徴とする光
    学的情報記録再生装置。
33. 【請求項３３】決定した前記最適なファーストパルスエ
    ッジ位置およびラストパルスエッジ位置の値を前記光学
    的情報記録装置の有する記憶手段に記憶させておくこと
    を特徴とする請求項３２に記載の光学的情報記録再生装
    置。
34. 【請求項３４】テスト記録を行うに先立って、前記ファ
    ーストパルスエッジ位置およびラストパルスエッジ位置
    を前記光学的情報記録装置の有する記憶手段から読み出
    して、前記テスト記録の初期値とすることを特徴とする
    請求項３３に記載の光学的情報記録再生装置。
35. 【請求項３５】書き換え可能な光学的情報記録媒体上に
    情報信号を記録する光学的情報記録再生方法であって、 前記情報信号の記録は前記光学的情報記録媒体のトラッ
    クに対し連続的に行い、 前記情報信号の最後に少なくとも１周以上のダミーの情
    報信号を記録することを特徴とする光学的情報記録方
    法。