JPH10239279A - ガスクロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents
ガスクロマトグラフ質量分析装置Info
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- JPH10239279A JPH10239279A JP4575597A JP4575597A JPH10239279A JP H10239279 A JPH10239279 A JP H10239279A JP 4575597 A JP4575597 A JP 4575597A JP 4575597 A JP4575597 A JP 4575597A JP H10239279 A JPH10239279 A JP H10239279A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 例えば残留農薬の分析のような特定化合物の
検出、確認の分析では、従来GCで測定後、定量結果を
確認し、ターゲット化合物の濃度が一定値を越えたサン
プルについて再度、GC/MS(スキャン)で分析する
という手順がとられているが、再測定にあっては分析の
開始から終了までマススペクトルを採取している。この
ためサンプルに含まれる夾雑物に由来して、質量分析部
のイオン源等が汚染し易く、夾雑物のイオンにより検出
器が劣化しやすく、また測定データが膨大になってい
た。 【解決手段】GC/MSスキャンモードでの測定時に、
ターゲット化合物の溶出時間のみマススペクトルの測定
を行う装置を提供する。すなわち本発明のガスクロマト
グラフ質量分析装置は、マススペクトル測定時間を設定
するウインドウ設定部15と質量分析部の制御部81を
備えてなり、当該制御部がウインドウ設定部に設定され
た時間の間だけマススペクトルを測定するように質量分
析部8を制御することを特徴とする。
検出、確認の分析では、従来GCで測定後、定量結果を
確認し、ターゲット化合物の濃度が一定値を越えたサン
プルについて再度、GC/MS(スキャン)で分析する
という手順がとられているが、再測定にあっては分析の
開始から終了までマススペクトルを採取している。この
ためサンプルに含まれる夾雑物に由来して、質量分析部
のイオン源等が汚染し易く、夾雑物のイオンにより検出
器が劣化しやすく、また測定データが膨大になってい
た。 【解決手段】GC/MSスキャンモードでの測定時に、
ターゲット化合物の溶出時間のみマススペクトルの測定
を行う装置を提供する。すなわち本発明のガスクロマト
グラフ質量分析装置は、マススペクトル測定時間を設定
するウインドウ設定部15と質量分析部の制御部81を
備えてなり、当該制御部がウインドウ設定部に設定され
た時間の間だけマススペクトルを測定するように質量分
析部8を制御することを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はガスクロマトグラフ
質量分析装置(以下GC/MSという)を使って化合物
の定量と同定を行う分野に用いられ、特に環境中や食品
中の残留農薬分析に有効である。
質量分析装置(以下GC/MSという)を使って化合物
の定量と同定を行う分野に用いられ、特に環境中や食品
中の残留農薬分析に有効である。
【0002】
【従来技術】残留農薬の分析にあたっては、ガスクロマ
トグラフ(GC)を用いた一次スクリーニングと一次選
別された試料のGC/MSスキャンモードでの再測定に
よる確認同定が行われる。
トグラフ(GC)を用いた一次スクリーニングと一次選
別された試料のGC/MSスキャンモードでの再測定に
よる確認同定が行われる。
【0003】食品中の残留農薬の分析を例にとって以下
に説明する。GCを使った一次スクリーニングでは、ス
プリットレス注入法を用い、通常1μLのサンプルを注
入する。また、検出器として、感度が高い選択的な検出
器、例えばECDやFPDまたはMSの選択イオンモニ
タモード(SIM)を用いる。SIM(Selected IonMo
nitoring )法については、特開平8−129001号
や特開平8−129002号が参照できる。測定の結
果、農薬が検出され、しかもその濃度が基準値を越えた
場合、マススペクトルによる確認を行なう。
に説明する。GCを使った一次スクリーニングでは、ス
プリットレス注入法を用い、通常1μLのサンプルを注
入する。また、検出器として、感度が高い選択的な検出
器、例えばECDやFPDまたはMSの選択イオンモニ
タモード(SIM)を用いる。SIM(Selected IonMo
nitoring )法については、特開平8−129001号
や特開平8−129002号が参照できる。測定の結
果、農薬が検出され、しかもその濃度が基準値を越えた
場合、マススペクトルによる確認を行なう。
【0004】マススペクトルによる確認では、GC/M
Sを用いる。GCの注入法としてスプリットレス注入法
を、測定モードとしてスキャンモードを用いマススペク
トルを測定する。スキャンモードはGCを使った確認で
用いたSIMモードに比べ感度が低いため、濃度が低い
農薬を分析する場合は、サンプルを濃縮後に測定を行
う。その測定の結果得られたマススペクトルは予め標品
を測定して得られたマススペクトルと比較し、農薬が確
かに存在していることを確認する。
Sを用いる。GCの注入法としてスプリットレス注入法
を、測定モードとしてスキャンモードを用いマススペク
トルを測定する。スキャンモードはGCを使った確認で
用いたSIMモードに比べ感度が低いため、濃度が低い
農薬を分析する場合は、サンプルを濃縮後に測定を行
う。その測定の結果得られたマススペクトルは予め標品
を測定して得られたマススペクトルと比較し、農薬が確
かに存在していることを確認する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】前記確認分析におい
て、従来の方式では、スキャンモードで測定するときガ
スクロマトグラフ部から溶出するすべての成分ピークに
ついてマススペクトルを測定している。このためサンプ
ルに含まれる夾雑物に由来する悪影響が問題であった。
て、従来の方式では、スキャンモードで測定するときガ
スクロマトグラフ部から溶出するすべての成分ピークに
ついてマススペクトルを測定している。このためサンプ
ルに含まれる夾雑物に由来する悪影響が問題であった。
【0006】具体的には夾雑物から生成するイオンによ
り質量分析部のイオン源等が汚染し易く、夾雑物のイオ
ンにより検出器が劣化しやすく、また測定データが膨大
になっていた。
り質量分析部のイオン源等が汚染し易く、夾雑物のイオ
ンにより検出器が劣化しやすく、また測定データが膨大
になっていた。
【0007】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るためには本発明は、GC/MSスキャンモードでの測
定時に、ターゲット化合物の溶出時間のみマススペクト
ルの測定を行う装置を提供する。すなわち本発明のガス
クロマトグラフ質量分析装置は、マススペクトル測定を
開始する時刻WSと当該測定を終了する時刻WEを設定
するウインドウ設定装置と質量分析計の制御部を備えて
なり、時刻WSに当該ウインドウ設定装置からの信号を
受けて質量分析計の当該制御部がマススペクトルを測定
するように質量分析部を制御し、また時刻WEに当該ウ
インドウ設定装置からの信号を受けて質量分析計の当該
制御部がマススペクトル測定を終了するように質量分析
部を制御することを特徴とする。
るためには本発明は、GC/MSスキャンモードでの測
定時に、ターゲット化合物の溶出時間のみマススペクト
ルの測定を行う装置を提供する。すなわち本発明のガス
クロマトグラフ質量分析装置は、マススペクトル測定を
開始する時刻WSと当該測定を終了する時刻WEを設定
するウインドウ設定装置と質量分析計の制御部を備えて
なり、時刻WSに当該ウインドウ設定装置からの信号を
受けて質量分析計の当該制御部がマススペクトルを測定
するように質量分析部を制御し、また時刻WEに当該ウ
インドウ設定装置からの信号を受けて質量分析計の当該
制御部がマススペクトル測定を終了するように質量分析
部を制御することを特徴とする。
【0008】ウインドウ設定部は質量分析計がマススペ
クトルを測定する期間を定める。通常は、クロマトグラ
ム上でターゲット化合物のピークが立ち上がり始める時
刻をウインドウの開始時刻WSとし、ターゲット化合物
のピークが下がりきる時刻をウインドウの終了時刻WE
とする。このWSとWEの設定はキーボード、音声入力
装置のような入力装置から直接入力してもよく、またタ
ーゲット化合物の標準試料をガスクロマトグラフやGC
/MSで分析して、そのクロマトグラムから直接データ
を取り込み設定することもできる。更にはターゲット化
合物ピークの保持時間を取り込み、その保持時間に一定
値を乗じてウインドウの開始時刻WSと終了時刻WEを
設定することもできる。
クトルを測定する期間を定める。通常は、クロマトグラ
ム上でターゲット化合物のピークが立ち上がり始める時
刻をウインドウの開始時刻WSとし、ターゲット化合物
のピークが下がりきる時刻をウインドウの終了時刻WE
とする。このWSとWEの設定はキーボード、音声入力
装置のような入力装置から直接入力してもよく、またタ
ーゲット化合物の標準試料をガスクロマトグラフやGC
/MSで分析して、そのクロマトグラムから直接データ
を取り込み設定することもできる。更にはターゲット化
合物ピークの保持時間を取り込み、その保持時間に一定
値を乗じてウインドウの開始時刻WSと終了時刻WEを
設定することもできる。
【0009】本発明にかかるGC/MSを用いた分析に
あっては、試料注入と同時にタイマーをスタートする。
このタイマーはウインドウ設定装置中に設けてもよい
し、GCのコントローラあるいは質量分析計の制御部に
備えられたものを使用してもよい。タイマーが時刻WS
になった時点で、ウインドウ設定装置から質量分析計の
制御装置に信号を送りマススペクトル測定を開始する。
その後時刻WEでウインドウ設定装置から質量分析計の
制御装置に信号を送りマススペクトル測定を終了する。
あっては、試料注入と同時にタイマーをスタートする。
このタイマーはウインドウ設定装置中に設けてもよい
し、GCのコントローラあるいは質量分析計の制御部に
備えられたものを使用してもよい。タイマーが時刻WS
になった時点で、ウインドウ設定装置から質量分析計の
制御装置に信号を送りマススペクトル測定を開始する。
その後時刻WEでウインドウ設定装置から質量分析計の
制御装置に信号を送りマススペクトル測定を終了する。
【0010】
【発明の実施の形態】以下本発明の一実施例に従い本発
明を説明する。
明を説明する。
【0011】図1は本発明にかかるGC/MSの構成図
である。
である。
【0012】試料注入装置1はシリンジ2、試料瓶5を
セットしたターレット4、シリンジ2の動作ターレット
4の回転等の制御とともにシリンジ2のバレルの動作量
を制御することにより、PTV型気化室6へ注入する試
料量も制御するコントローラ3よりなっている。
セットしたターレット4、シリンジ2の動作ターレット
4の回転等の制御とともにシリンジ2のバレルの動作量
を制御することにより、PTV型気化室6へ注入する試
料量も制御するコントローラ3よりなっている。
【0013】ガスクロマトグラフィーカラム7は一端が
PTV型気化室6に、他端が質量分析計8に接続されて
おり、試料中の農薬等の成分が分離される。従来のスプ
リットレス注入装置を使用する場合は、最大注入量が通
常2μLに限られるが、本発明に使用するPTV(Prog
ram Temperature Vaporizer )型気化室(例えば特願平
7−205259号)は100μLオーダーでの試料注
入が可能である。
PTV型気化室6に、他端が質量分析計8に接続されて
おり、試料中の農薬等の成分が分離される。従来のスプ
リットレス注入装置を使用する場合は、最大注入量が通
常2μLに限られるが、本発明に使用するPTV(Prog
ram Temperature Vaporizer )型気化室(例えば特願平
7−205259号)は100μLオーダーでの試料注
入が可能である。
【0014】ガスクロマトグラフィーカラム7はキャピ
ラリー、ワイドボア、充てんカラム等ガスクロマトグラ
フィーで通常に使用されるいずれのカラムも使用可能で
あるが、キャピラリーカラムやワイドボアカラムが望ま
しい。
ラリー、ワイドボア、充てんカラム等ガスクロマトグラ
フィーで通常に使用されるいずれのカラムも使用可能で
あるが、キャピラリーカラムやワイドボアカラムが望ま
しい。
【0015】質量分析計8は磁場形、四極形いずれでも
よく、また、SIMモードとスキャンモードを切換えた
り、イオン化装置や検出感度等を制御する質量分析計の
制御部81が付いている。SIMモードでは特定のイオ
ン種を検出するので高感度検出が可能であるが、スキャ
ンモードではマススペクトルを測定するのでSIMモー
ドに比較して感度が劣る。
よく、また、SIMモードとスキャンモードを切換えた
り、イオン化装置や検出感度等を制御する質量分析計の
制御部81が付いている。SIMモードでは特定のイオ
ン種を検出するので高感度検出が可能であるが、スキャ
ンモードではマススペクトルを測定するのでSIMモー
ドに比較して感度が劣る。
【0016】溶出時間帯記憶装置10はターゲット化合
物の保持時間と当該保持時間の許容幅を記憶する。この
保持時間はターゲット化合物の標準試料をGC/MSで
分析して、そのクロマトグラムから直接データを取り込
み設定することもできるし、あるいは、手動で保持時間
を入力することもできる。保持時間の許容幅は実試料分
析結果のクロマトグラムのピーク群からターゲット化合
物ピークを判定するためのものであり、保持時間に一定
値を乗ずる、許容幅を時間で設定する等により設定され
る。
物の保持時間と当該保持時間の許容幅を記憶する。この
保持時間はターゲット化合物の標準試料をGC/MSで
分析して、そのクロマトグラムから直接データを取り込
み設定することもできるし、あるいは、手動で保持時間
を入力することもできる。保持時間の許容幅は実試料分
析結果のクロマトグラムのピーク群からターゲット化合
物ピークを判定するためのものであり、保持時間に一定
値を乗ずる、許容幅を時間で設定する等により設定され
る。
【0017】信号記憶装置11は一次スクリーニングの
合否判定のための値を記憶する。当該値はクロマトグラ
ムのピークの最大信号値を使用するか、ピーク面積値を
使用することができる。さらに、ターゲット化合物の標
準試料をGC/MSで分析して、そのクロマトグラムか
ら直接データを取り込むこともできるし、あるいは、手
動で信号値を入力することもできる。
合否判定のための値を記憶する。当該値はクロマトグラ
ムのピークの最大信号値を使用するか、ピーク面積値を
使用することができる。さらに、ターゲット化合物の標
準試料をGC/MSで分析して、そのクロマトグラムか
ら直接データを取り込むこともできるし、あるいは、手
動で信号値を入力することもできる。
【0018】比較・制御装置12は一次スクリーニング
の合否判定を行う。すなわち、溶出時間帯記憶装置10
に記憶されている一定時間帯に質量分析計8の出力信号
と信号記憶装置11に記憶されている信号値または面積
値を比較し、出力信号または面積値が、信号値または面
積値を超えると再測定信号を発する。
の合否判定を行う。すなわち、溶出時間帯記憶装置10
に記憶されている一定時間帯に質量分析計8の出力信号
と信号記憶装置11に記憶されている信号値または面積
値を比較し、出力信号または面積値が、信号値または面
積値を超えると再測定信号を発する。
【0019】再測定信号は、回路13を伝ってコントロ
ーラ3に至り、ターレット4上の再測定試料をシリンジ
2の試料吸引位置に位置付け、かつ、試料注入量を増加
して再測定を行う。
ーラ3に至り、ターレット4上の再測定試料をシリンジ
2の試料吸引位置に位置付け、かつ、試料注入量を増加
して再測定を行う。
【0020】さらに比較・制御装置12からでた再測定
信号は、回路14を伝ってウインドウ設定装置15にい
たる。ウインドウ設定装置15は予め入力されたウイン
ドウ開始時刻WSとウインドウ終了時刻WEを記憶して
いる。試料の再測定がはじまるとウインドウ設定装置中
のタイマーが時刻ゼロからカウントを始め、時刻がウイ
ンドウ開始時刻WSに、制御部81に向けて信号が発せ
られ制御部は質量分析装置8によるマススペクトル測定
を開始する。
信号は、回路14を伝ってウインドウ設定装置15にい
たる。ウインドウ設定装置15は予め入力されたウイン
ドウ開始時刻WSとウインドウ終了時刻WEを記憶して
いる。試料の再測定がはじまるとウインドウ設定装置中
のタイマーが時刻ゼロからカウントを始め、時刻がウイ
ンドウ開始時刻WSに、制御部81に向けて信号が発せ
られ制御部は質量分析装置8によるマススペクトル測定
を開始する。
【0021】時刻が経過してタイマーの時刻が、予めウ
インドウ設定部に記憶されたウインドウ終了時刻WEに
到ると制御部81に向けて信号が発せられ制御部は質量
分析装置8によるマススペクトル測定を終了する。
インドウ設定部に記憶されたウインドウ終了時刻WEに
到ると制御部81に向けて信号が発せられ制御部は質量
分析装置8によるマススペクトル測定を終了する。
【0022】この再測定により、マススペクトルが得ら
れ、試料中のターゲット化合物の有無の確認が行われ
る。
れ、試料中のターゲット化合物の有無の確認が行われ
る。
【0023】次いて、本発明のGC/MSを使用した分
析手順を説明する。
析手順を説明する。
【0024】(1) ウインドウ設定装置15にWSとWE
を入力する。
を入力する。
【0025】(2) 前処理された複数の試料液をそれぞれ
試料瓶51、52、53に入れ、ターレット4にセット
する。
試料瓶51、52、53に入れ、ターレット4にセット
する。
【0026】(3) 試料瓶から1μLの試料液をPTV型
気化室6に注入し、質量分析計はSIMモードで測定す
る。
気化室6に注入し、質量分析計はSIMモードで測定す
る。
【0027】(4) 前記測定結果からターゲット化合物の
同定と定量を行う。
同定と定量を行う。
【0028】(5) 測定結果が予め設定された値を越えた
場合には再測定を行う。再測定は(2)と同一の試料瓶か
ら100μLをPTV型気化室6に注入して、再測定を
行う。
場合には再測定を行う。再測定は(2)と同一の試料瓶か
ら100μLをPTV型気化室6に注入して、再測定を
行う。
【0029】(6) 再測定にあってはウインドウ設定部に
記憶されたウインドウ開始時刻WSと終了時刻WEの間
で質量分析計はスキャンモードで測定しマススペクトル
を得る。
記憶されたウインドウ開始時刻WSと終了時刻WEの間
で質量分析計はスキャンモードで測定しマススペクトル
を得る。
【0030】(7) 次の試料瓶から1μLの試料液をPT
V型気化室6に注入し、質量分析計はSIMモードで測
定する。
V型気化室6に注入し、質量分析計はSIMモードで測
定する。
【0031】本発明の変形実施例として、ウインドウ設
定装置と溶出時間帯記憶装置を共用することができる。
すなわちスクリーニング分析においては、溶出時間帯記
憶装置に記憶された時間帯に溶出したピークがターゲッ
ト化合物と認識され、確認分析時においては、上述した
と同一時間帯であるところの、溶出時間帯記憶装置に記
憶された時間帯にのみマススペクトルが測定される。こ
れによって新たな装置を付加することなく本発明の実質
的な実施が可能な装置が提供される。
定装置と溶出時間帯記憶装置を共用することができる。
すなわちスクリーニング分析においては、溶出時間帯記
憶装置に記憶された時間帯に溶出したピークがターゲッ
ト化合物と認識され、確認分析時においては、上述した
と同一時間帯であるところの、溶出時間帯記憶装置に記
憶された時間帯にのみマススペクトルが測定される。こ
れによって新たな装置を付加することなく本発明の実質
的な実施が可能な装置が提供される。
【0032】
【発明の効果】本発明によれば、再測定にあってもター
ゲット化合物の溶出時間でのみスキャンモードによるマ
ススペクトルの測定が行われるので、試料に多量の夾雑
物が混入していても、イオン源等の汚染や検出器の劣化
を防ぐことが出来るとともに、測定データのデータ容量
を少なくすることができる。
ゲット化合物の溶出時間でのみスキャンモードによるマ
ススペクトルの測定が行われるので、試料に多量の夾雑
物が混入していても、イオン源等の汚染や検出器の劣化
を防ぐことが出来るとともに、測定データのデータ容量
を少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかるGC/MSの構成図である。
1 試料注入装置 2 シリンジ 3 コントローラ 4 ターレット 5 試料瓶 6 PTV型気化室 7 ガスクロマトグラフィーカラム 8 質量分析計 81 制御部 9 レコーダ 10 溶出時間帯記憶装置 11 信号記憶装置 12 比較・制御装置 13 回路 14 回路 15 ウインドウ設定装置
Claims (1)
- 【請求項1】 ガスクロマトグラフ質量分析装置におい
て、マススペクトル測定を開始する時刻WSと当該測定
を終了する時刻WEを設定するウインドウ設定装置と質
量分析計の制御部を備えてなり、時刻WSに当該ウイン
ドウ設定装置からの信号を受けて質量分析計の当該制御
部がマススペクトルを測定するように質量分析部を制御
し、また時刻WEに当該ウインドウ設定装置からの信号
を受けて質量分析計の当該制御部がマススペクトル測定
を終了するように質量分析部を制御することを特徴とす
るガスクロマトグラフ質量分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4575597A JPH10239279A (ja) | 1997-02-28 | 1997-02-28 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4575597A JPH10239279A (ja) | 1997-02-28 | 1997-02-28 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10239279A true JPH10239279A (ja) | 1998-09-11 |
Family
ID=12728125
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4575597A Withdrawn JPH10239279A (ja) | 1997-02-28 | 1997-02-28 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10239279A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004275023A (ja) * | 2003-03-13 | 2004-10-07 | Si Seiko Co Ltd | 残留農薬除去システム |
JP2009518631A (ja) * | 2005-12-07 | 2009-05-07 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョン | 質量分析計を用いた複合基質の自動分析 |
JP2011505672A (ja) * | 2007-12-04 | 2011-02-24 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析計を使用して物質を分析するためのシステムおよび方法 |
JP2011514642A (ja) * | 2008-03-20 | 2011-05-06 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析計を用いて物質を分析するシステムおよび方法 |
CN105486796A (zh) * | 2015-12-28 | 2016-04-13 | 中国检验检疫科学研究院 | 一种瓜果类水果中544种农药残留lc-q-tof/ms侦测技术 |
CN105628840A (zh) * | 2015-12-28 | 2016-06-01 | 中国检验检疫科学研究院 | 一种仁果类水果中708种农药残留gc-q-tof/ms侦测技术 |
-
1997
- 1997-02-28 JP JP4575597A patent/JPH10239279A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004275023A (ja) * | 2003-03-13 | 2004-10-07 | Si Seiko Co Ltd | 残留農薬除去システム |
JP2009518631A (ja) * | 2005-12-07 | 2009-05-07 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョン | 質量分析計を用いた複合基質の自動分析 |
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CN105628840A (zh) * | 2015-12-28 | 2016-06-01 | 中国检验检疫科学研究院 | 一种仁果类水果中708种农药残留gc-q-tof/ms侦测技术 |
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---|---|---|---|
A761 | Written withdrawal of application |
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