JPH0399209A - Inspection apparatus for mounting board - Google Patents
Inspection apparatus for mounting boardInfo
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、プリント基板上に実装された部品の位置ずれ
等の実装不良を検査する実装基板検査装ずれ、欠品や浮
き等の不良の検査は人間による目視検査に頼っていた。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention is applicable to a mounting board inspection device for inspecting mounting defects such as misalignment of components mounted on a printed circuit board. It relied on human visual inspection.
ところが、製品の小型化や軽量化が進むにつれ、プリン
ト基板上の部品の小型化や高密度実装化もより一層進ん
でいる。このような状況の中で、人間が高い検査精度を
保ちつつ非常に細かな部品の実装状態を、しかも長時間
続けることが難しくなってきている。However, as products become smaller and lighter, components on printed circuit boards are also becoming smaller and more densely packaged. Under these circumstances, it is becoming difficult for humans to maintain high inspection accuracy while mounting very fine parts for long periods of time.
そこで最近、検査の自動化が強〈望1れている中で、ビ
デオカメラからの濃淡画像から部品の位置ズレ等を検査
する装置が提案されている。Recently, there has been a strong desire to automate inspections, and an apparatus has been proposed that inspects misalignment of parts from grayscale images from a video camera.
その従来の一般的な検査装置を第4図に示す。A conventional general inspection device is shown in FIG.
第4図において、401はプリント基板、402はプリ
ント基板401上に実装された部品、403はビデオカ
メラ、404Fi.ビデオカメラ403からの映像信号
をA/D変換して自己の画像メモリに格納する画像取込
回路、405は取シ込んだ画像から部品のエッジを検出
するエッジ検出回路、406はエッジ情報から部品のコ
ーナを検出するコーナ検出回路、407は各部品のコー
ナの基準座標値が格納されている基準データ格納メモリ
、4o8は検出されたコーナの座標と基準座標とから部
品のずれ量を計算するずれ量計算回路、409は部品の
許容ずれ量が格納されている許容ずれ量格納メモリ、4
10は算出されたずれ量と許容ずれ量を比較し、部品の
実装状態の良否を判定する比較判定回路である。In FIG. 4, 401 is a printed circuit board, 402 is a component mounted on the printed circuit board 401, 403 is a video camera, 404 Fi. An image capture circuit A/D converts the video signal from the video camera 403 and stores it in its own image memory; 405 is an edge detection circuit that detects the edge of the component from the captured image; 406 is the edge detection circuit for detecting the edge of the component from the edge information. 407 is a reference data storage memory in which the reference coordinate values of the corners of each component are stored; 4o8 is a shifter that calculates the amount of deviation of the component from the detected corner coordinates and the reference coordinates; A quantity calculation circuit 409 is an allowable deviation amount storage memory in which the allowable deviation amount of parts is stored.
Reference numeral 10 denotes a comparison/judgment circuit that compares the calculated deviation amount with the allowable deviation amount and judges whether the mounting state of the component is good or bad.
以下その動作を説明する。壕ず、プリント基板401上
に実装された部品402をビデオヵメラ403で撮像し
、その映録信号を画像取込回路404でA/D変換し自
己の画像メモリに取り込む。その画像を用いてエッジ検
出回路405で部品402のエッジを検出し、そのエッ
ジ情報からコーナ検出回路406で部品402のコーナ
の座標値を検出する。The operation will be explained below. A component 402 mounted on a printed circuit board 401 is imaged by a video camera 403, and the video signal is A/D converted by an image capture circuit 404 and captured into its own image memory. Using the image, an edge detection circuit 405 detects the edge of the component 402, and a corner detection circuit 406 detects the coordinate value of the corner of the component 402 from the edge information.
この検出された各コーナの座標値と基準データ格納メモ
リ407に格納されている部品の基準座標値とを比較し
て、ずれ量計算回路408で両者のずれ量を計算する。The detected coordinate values of each corner are compared with the reference coordinate values of the component stored in the reference data storage memory 407, and the deviation amount calculation circuit 408 calculates the amount of deviation between the two.
そして、その算出された部品の基準値からのずれ量と、
許容ずれ量格納メモリ409に格納されているずれの許
容値とを比較判定回路410で比較し、部品のずれや欠
品等の実装状態の良否を判定している。Then, the calculated amount of deviation from the standard value of the part,
A comparison judgment circuit 410 compares the tolerance value of the deviation stored in the allowable deviation amount storage memory 409 to judge whether the mounting condition is good or bad, such as deviation of parts or missing parts.
発明が解決しようとする課題
しかし、上述したような検査方法では、ビデオカメラで
部品を撮像して、二次元的な情報を用いているため、例
えば部品が半田付け不良等の原因で全体的に浮き上がっ
て実装されていたり、ICの足が部分的に浮き上がって
いるような不良は検出できないという課題がある。Problems to be Solved by the Invention However, in the above-mentioned inspection method, parts are imaged with a video camera and two-dimensional information is used. There is a problem in that it is impossible to detect defects such as those where the IC is mounted in a raised position or where the legs of the IC are partially raised.
本発明は上記従来技術に鑑み、プリント基板上の二次元
的(平面的)な位置ずれの検査に加え、三次元的な部品
の浮き等の不良も簡便に高精度に検査できる実装基板検
査装置を提供するものである。In view of the above-mentioned prior art, the present invention is a mounted board inspection device that can not only inspect two-dimensional (planar) misalignment on a printed circuit board but also inspect three-dimensional defects such as floating parts easily and with high precision. It provides:
課題を解決するための手段
上記課題を解決するため本発明の技術的解決手段は、部
品が実装されたプリント基板を移動させる搬送手段と、
レーザ光源からのレーザ光をポリゴンミラーとfθレン
ズにより前記プリント基板上に走査させるレーザ光走査
手段と、前記レーザ光の走査により前記プリント基板上
から反射して得られる散乱光を、レーザ光の走査面に対
称な位置で前記プリント基板と前記fθレンズの間にそ
れぞれ反射ミラーを設け、前記rθレンズとポリゴンミ
ラーを介して反射させる散乱光反射手段と、前記散乱光
反射手段からの散乱光を前記1対の反射ミラーを介して
、それに対応した集光レンズおよび位置検出素子をそれ
ぞれ設けるとともに位置検出素子に集光し光電流信号を
それぞれに出力する光量検出手段と、前記光量検出手段
からの光電流信号により前記プリント基板およびプリン
ト基板上に実装された部品の輝度データLL . L2
−J.−よび高さデータH1,H2を演算する画像演算
手段と、前記画像演算手段からの輝度データおよび高さ
データとから輝度データL1.L2がLmin ≦Ll
≦Lmax , Lmin ≦L2 ≦Lmax (
但し、Lmin:任意の最低輝度レベル、Lmax :
任意の最高輝度レベルを示めす)の範囲内にあるときは
高さデータ(H1+H2)/2の平均値を出力し、輝度
データがLmin ≦L2 ≦LmaxかつLmin
’> Ll f,たはL1>Lmaxの場合は高さデー
タH2を出力し、輝度データがLmin ≦Ll (h
LmaxかつLmin ) L2 1たぱL 2 )
Lmax の場合は高さデータHlを出力し、Lmi
n ) Ll iたはL 1 ) Lmax カツLm
in >L21たはL 2 ) Lm ax の場
合は周辺画素の高さデータで置換して出力する補間演算
手段と、前記補間演算手段で演算された高さデータと予
め定めた基準高さデータとを比較し、前記プリント基板
上の部品の実装状態の良否を判定する判定処理手段とか
ら構或したものである。Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the technical solution of the present invention includes a transport means for moving a printed circuit board on which components are mounted;
a laser beam scanning means for scanning a laser beam from a laser light source onto the printed circuit board using a polygon mirror and an fθ lens; Reflecting mirrors are provided between the printed circuit board and the fθ lens at positions symmetrical to the plane, and scattered light reflecting means is configured to reflect the scattered light through the rθ lens and the polygon mirror, and the scattered light from the scattered light reflecting means is reflected by the scattered light reflecting means. A light amount detecting means that is provided with a corresponding condensing lens and a position detecting element through a pair of reflecting mirrors, and condenses the light onto the position detecting element and outputs a photocurrent signal to each of them, and a light amount detecting means that outputs the light from the light amount detecting means. Luminance data LL. of the printed circuit board and components mounted on the printed circuit board are determined by a current signal. L2
-J. - and image calculation means for calculating height data H1, H2; and brightness data L1. from the brightness data and height data from the image calculation means. L2 is Lmin ≦Ll
≦Lmax, Lmin ≦L2 ≦Lmax (
However, Lmin: any minimum brightness level, Lmax:
indicates an arbitrary maximum brightness level), the average value of height data (H1+H2)/2 is output, and the brightness data is within the range of Lmin ≦L2 ≦Lmax and Lmin
'> Ll f, or when L1>Lmax, height data H2 is output, and luminance data is Lmin ≦Ll (h
Lmax and Lmin) L2 1 tapa L2)
In the case of Lmax, output the height data Hl, and output the height data Hl.
n) Lli or L1) Lmax cutlet Lm
in>L21 or L2) Lmax, an interpolation calculation means that replaces and outputs the height data of surrounding pixels, and a combination of the height data calculated by the interpolation calculation means and predetermined reference height data. and a determination processing means for comparing the values and determining whether the mounting state of the components on the printed circuit board is good or bad.
作 用
本発明は、部品が実装されたプリント基板をレーザ光で
全面走査し、プリント基板から反射して得られる散乱光
を反射ミラーで位置検出手段に導き、プリント基板上の
高さの凹凸に従って変化する位置検出素子上の散乱光の
集光位置を光電流信号で検出し、その光電流信号から画
障演算処理手段によりプリント基板上に実装された部品
の輝度データおよび高さデータを演算する。金属部や半
田面からの直接光などは高さデータが正しく演算されな
いために、輝度データを用いてその高さデータが正しい
かどうかを判断し、不正高さデータの場合はその周辺画
素の高さデータで置換し出力する。その実測高さデータ
と基準高さデータを比較することにより、プリント基板
上の二次元的(平面的)な位置ずれの検査に加え、三次
元的な部品の浮き等の不良も簡便に高精度に検査できる
ものである。Function The present invention scans the entire surface of a printed circuit board on which components are mounted using a laser beam, guides the scattered light obtained by reflection from the printed circuit board to a position detection means using a reflecting mirror, and scans the entire surface of a printed circuit board on which components are mounted according to the height irregularities on the printed circuit board. The condensing position of the scattered light on the changing position detection element is detected by a photocurrent signal, and the brightness data and height data of the component mounted on the printed circuit board are calculated from the photocurrent signal by the image fault calculation processing means. . Since the height data is not calculated correctly for direct light from metal parts or solder surfaces, brightness data is used to determine whether the height data is correct, and if the height data is incorrect, the height of the surrounding pixels is calculated. Replace with the data and output. By comparing the measured height data with the reference height data, you can easily and accurately inspect two-dimensional (planar) positional deviations on printed circuit boards, as well as three-dimensional defects such as floating parts. can be inspected.
実施例
以下、第1図を参照しながら本発明の一実施例について
説明する。EXAMPLE Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to FIG.
第1図は、本発明の実装基板検査装置の一実施例を示す
ブロック図である。第1図において、101はプリント
基板、102はプリント基板101上に実装されている
部品、103はプリント基板101を移動させる搬送手
段、104はその移動方向を示す矢印である。105は
レーザ光源、106はレーザ光源105からのレーザ光
、107はポリゴンミラー108レーザ光をポリゴンミ
ラ−107に導〈ための反射鏡、109はfθレンズで
ある。110 . 111は反射ミラー 112 .
113は集光レンズ、114.115はレーザの走査方
向に対して対称に対で設けている位置検出素子、116
. 117は位置検出素子114,115からの位置
信号である。118はその位置信号116 . 117
である工1および■2から輝度データL1,L2および
高さデータH1,H2に変換演算をする画像演算処理手
段、119は画像演算処理手段118からの輝度データ
L1,L2および高さデータH1,H2から正しい高さ
データを演算する補間演算手段、120は補間演算手段
119からの高さデータを用いてプリント基板101上
の部品102の実装状態の良否を判定する判定演算手段
である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a mounted board inspection apparatus of the present invention. In FIG. 1, 101 is a printed circuit board, 102 is a component mounted on the printed circuit board 101, 103 is a transport means for moving the printed circuit board 101, and 104 is an arrow indicating the direction of movement thereof. 105 is a laser light source, 106 is a laser beam from the laser light source 105, 107 is a polygon mirror 108, a reflecting mirror for guiding the laser beam to the polygon mirror 107, and 109 is an fθ lens. 110. 111 is a reflecting mirror 112.
113 is a condenser lens; 114 and 115 are position detection elements provided in pairs symmetrically with respect to the laser scanning direction; 116;
.. 117 is a position signal from the position detection elements 114 and 115. 118 is the position signal 116 . 117
119 is the luminance data L1, L2 and the height data H1, H2 from the image arithmetic processing means 118; An interpolation calculation means 120 calculates correct height data from H2, and a determination calculation means 120 uses the height data from the interpolation calculation means 119 to determine whether the mounting state of the component 102 on the printed circuit board 101 is good or bad.
以下にその動作を説明する。The operation will be explained below.
渣ず、部品102が実装されているプリント基板101
を搬送手段103により移動方向104の方向に移動さ
せつつ、レーザ光源105からのレーザ光106を反射
鏡108を3個用いて、回転しているポリゴンミラ−1
07に導き、ポリゴンミラ−107とfθレンズ109
により、I−ザ光106をプリント基板101上に垂直
に照射する。これにより、プリント基板101上にレー
ザ光106を二次元的に全面走査する。Printed circuit board 101 on which components 102 are mounted
While moving the polygon mirror 1 in the moving direction 104 by the conveyance means 103, the laser beam 106 from the laser light source 105 is transferred to the rotating polygon mirror 1 using three reflecting mirrors 108.
07, polygon mirror 107 and fθ lens 109
Accordingly, the I-za light 106 is vertically irradiated onto the printed circuit board 101. Thereby, the laser beam 106 is two-dimensionally scanned over the entire surface of the printed circuit board 101.
レーザ光106の走査によりプリント基板101上から
反射してくる散乱光を、検査対象物でξるプリント基板
101とfθ レンズ109との間に設けた反射ミラー
110 . 111でそれぞれ反射させ、 fθレンズ
109とポリゴンミラ−107を介して、さらに集光レ
ンズ112 . 113を通して、位置検出素子114
. 115上に集光する。位置検出素子114.11
5からの位置信号116 . 117は、画像演算処理
手段118へ出力される。なお、本実施例では、位置検
出素子114 . 115としテPSD ( Posi
tion Sensi −tive Detector
:半導体位置検出素子)を用いており、PSDに入射す
る入射位置は、素子の両端電極に流れる電流が各電極間
との距離に反比例するものを用いている。Scattered light reflected from the printed circuit board 101 by the scanning of the laser beam 106 is reflected by a reflecting mirror 110 . 111, and are further reflected by a condenser lens 112 through an fθ lens 109 and a polygon mirror 107. Through 113, position sensing element 114
.. The light is focused on 115. Position detection element 114.11
position signal 116 from 5. 117 is output to the image calculation processing means 118. Note that in this embodiment, the position detection elements 114 . 115 Toshite PSD (Posi
tion Sensi-tive Detector
: a semiconductor position detection element) is used, and the incident position on the PSD is such that the current flowing through the electrodes at both ends of the element is inversely proportional to the distance between each electrode.
画像演算処理手段118では、それぞれの位置信号11
6 . 117である■lおよび工2よりプリント基板
lOlおよびプリント基板101上に実装された部品1
02の高さデータH1.H2$−よび輝度データL1,
I,2に変換する演算を行い、高さデータおよび輝度デ
ータを補間演算手段119に出力する。In the image calculation processing means 118, each position signal 11
6. Component 1 mounted on the printed circuit board lOl and the printed circuit board 101 from
02 height data H1. H2$- and luminance data L1,
A calculation is performed to convert it into I, 2, and the height data and luminance data are output to the interpolation calculation means 119.
補間演算手段119は、輝度データのレベルがある範囲
内にあるかどうかで高さデータが正しく演算されたどう
かを判定し、正しく演算された場合は高さデータH1,
H2の平均値を判定演算手段120に出力する。捷た、
正しく演算されなかった場合は、輝度データL1が範囲
外であれば高さデータH2を出力し、輝度データL2が
範囲外であれば高さデータHlを出力し、さらに輝度デ
ータL1とL2が両方とも範囲外であれば周辺の高さデ
ータで補関し、それを実測高さデータとし判定手段12
0に出力する。The interpolation calculation means 119 determines whether the height data has been calculated correctly based on whether the level of the luminance data is within a certain range, and if it has been calculated correctly, the height data H1,
The average value of H2 is output to the determination calculation means 120. I cut it,
If the calculation is not correct, if the brightness data L1 is outside the range, the height data H2 is output, if the brightness data L2 is outside the range, the height data Hl is output, and furthermore, if the brightness data L1 and L2 are both If both are outside the range, interpolate with surrounding height data and use it as actual measured height data. Judgment means 12
Output to 0.
判定演算手段120では、補間演算手段119で演算さ
れた実測高さデータとあらかじめ定めておいた基準高さ
データとを比較し、プリント基板101上の部品102
の実装状態を判定するものである。The determination calculation means 120 compares the measured height data calculated by the interpolation calculation means 119 with predetermined reference height data, and
This is to determine the implementation status of.
以上の動作を繰り返し、順次行うことによりプリント基
板101上全面について検査することができる。なお、
この一連の動作は、適当な信号により同期して行う必要
があるが、本実施例の場合ポリゴンミラ−107の回転
に合わせた同期信号を用いて同期を取った。By repeating and sequentially performing the above operations, the entire surface of the printed circuit board 101 can be inspected. In addition,
This series of operations must be performed in synchronization with an appropriate signal, and in this embodiment, synchronization was achieved using a synchronization signal synchronized with the rotation of the polygon mirror 107.
次に、画像演算処理手段118および補間演算手段11
9について、第2図および第3図を用いてさらに詳しく
説明する。Next, the image calculation processing means 118 and the interpolation calculation means 11
9 will be explained in more detail using FIGS. 2 and 3.
画像演算処理手段118ぱ、位置信号116 . 11
7である■1および工2をA/Dコンバータ201〜2
04でそれぞれデジタル信号に変換し、I1とI2を輝
度演算回路207 . 208で加算して輝度データ(
Ll)211および輝度データ(L2)212を演算す
る。Image calculation processing means 118, position signal 116. 11
7 ■1 and 2 are A/D converters 201-2
04, I1 and I2 are respectively converted into digital signals and sent to a brightness calculation circuit 207. 208 to add the luminance data (
Ll) 211 and luminance data (L2) 212 are calculated.
高さ演算回路205 . 206では、工1および輝度
データ(I1+I2)よシ下記第(1)式を用いて高さ
データ(Hl ) 209および高さデータ(H2 )
210をそれぞれ演算する。但し、Kは正規化するた
めの係数である。Height calculation circuit 205. In 206, the height data (Hl) 209 and the height data (H2) are calculated using the equation (1) below based on the process 1 and the brightness data (I1+I2).
210 are calculated respectively. However, K is a coefficient for normalization.
高さデータ=K”I1/(I1+I2) ・・・・・
・(1)補間演算手段119は、画障演算処理手段11
8からの輝度データL1,L2および高さデータH1,
H2より、輝度データのレベルが、ある範囲内( LM
AX ) L l ) LMINかつLMAX ) L
2 ) LMIN )にあるかどうかで高さデータが正
しく演算されたかどうかを輝度レベル判定回路214で
判定し、正しく演算された場合は高さデータH1,H2
の平均値を判定演算手段120に出力する。筐た、正し
く演算されなかった場合は、輝度データL1が範囲外で
あれば高さデータH2を出力し、輝度データL2が範囲
外であれば高さデータHlを出力し、さらに輝度データ
LlとL2が両方とも範囲外であれば周辺の高さデータ
で置換し、それを実測高さデータとし高さデータ補間回
路213から判定演算手段120に出力する。Height data = K”I1/(I1+I2) ・・・・・・
- (1) The interpolation calculation means 119 is the image fault calculation processing means 11
Luminance data L1, L2 and height data H1,
From H2, the level of luminance data is within a certain range (LM
AX) L l) LMIN and LMAX) L
2) The brightness level determination circuit 214 determines whether the height data is calculated correctly based on whether the height data is in LMIN), and if the height data is calculated correctly, the height data H1, H2
The average value of is output to the determination calculation means 120. If the calculation is not correct, if the luminance data L1 is out of range, the height data H2 is output, if the luminance data L2 is out of the range, the height data Hl is output, and then the luminance data Ll and If both L2 are outside the range, the data is replaced with surrounding height data, which is output as actual measured height data from the height data interpolation circuit 213 to the determination calculation means 120.
判定演算手段120では、補間演算手段119からの実
測高さデータHと基準高さデータ格納メモリ216から
の基準高さデータとを比較回路215で比較しその差分
を比較データとして判定回路217に出力する。判定回
路217では、比較回路215からの比較データを基に
その差分の大小によって都品の実装状態を判定するもの
である。In the determination calculation means 120, the actual height data H from the interpolation calculation means 119 and the reference height data from the reference height data storage memory 216 are compared in a comparison circuit 215, and the difference is outputted to the determination circuit 217 as comparison data. do. The determination circuit 217 determines the mounting state of the product based on the comparison data from the comparison circuit 215 based on the magnitude of the difference.
次に、補間演算回路119の周辺画素の高さデータを置
換する様子を第3図に示し以下に説明する。Next, how the interpolation calculation circuit 119 replaces the height data of peripheral pixels is shown in FIG. 3 and will be described below.
第3図(b).(C)は、第3図(a)に示すような断
面のある部品の輝度データL1,L2を示すが、般的に
金属面は輝度レベルが高く、半田面のフィレット部は直
接光がPSDセンチに戻らないために輝度レベルが低く
なる。このために、金属面や半田面では高さデータが正
しく演算されないことになる。そこで、任意の最低輝度
レベルLMINおよび最高輝度レベルL MAXを設定
し、斜線で示すように最低輝度レベル以下筐たは最高輝
度レベル以上の輝度データのときは、高さデータが正し
くないと判断する。輝度データL1およびL2とも正し
くないときは、第3図(d)の斜線で示す対象画素を周
辺画素の正しい高さデータで置換するようにしたもので
ある。また、輝度データLlあるいはL2のどちらかが
正しい場合は、同(d)のH1またはH2で示すように
、正しい高さデータを採用するようにし、検査精度の向
上を図ったものである。Figure 3(b). (C) shows the brightness data L1 and L2 of a component with a cross section as shown in Fig. 3 (a), but metal surfaces generally have a high brightness level, and the fillet part of the solder surface receives direct light from the PSD. The brightness level decreases because it does not return to centimeters. For this reason, height data will not be calculated correctly on metal surfaces or solder surfaces. Therefore, an arbitrary minimum brightness level L MIN and maximum brightness level L MAX are set, and when the brightness data is below the minimum brightness level or above the maximum brightness level, it is determined that the height data is incorrect, as shown by diagonal lines. . When both the luminance data L1 and L2 are incorrect, the target pixel indicated by diagonal lines in FIG. 3(d) is replaced with correct height data of surrounding pixels. Further, if either the luminance data Ll or L2 is correct, the correct height data is adopted as shown by H1 or H2 in FIG. 10(d), thereby improving inspection accuracy.
発明の効果
以上述べてきたように本発明の効果としては、プリント
基板上の部品の高さデータを測定し、基準高さデータと
比較し部品の実装状態を判定する際に、部品上の金属面
や半田面などは直接反射するために高さデータが不正デ
ータとなる。本発明では、2方向からの輝度データおよ
び高さデータを用いて、輝度データのレベルがある範囲
内にあるかどうかで高さデータが正しいかどうかを判断
し、この不正データを排除するのではなく周辺画素の正
しい高さデータで置換することにより信頼性の高い検査
を可能とし、人間の目視検査に頼ることな〈、筐た二次
元的な位置情報では検査できなかった三次元的な部品浮
き等の不良を検査できるようになシ、検査の自動化が推
進でき、その効果は大きい。Effects of the Invention As described above, the effect of the present invention is that when measuring the height data of a component on a printed circuit board and comparing it with reference height data to determine the mounting state of the component, metal on the component can be measured. Since surfaces such as surfaces and solder surfaces reflect directly, the height data will be incorrect. In the present invention, using brightness data and height data from two directions, it is determined whether the height data is correct based on whether the level of the brightness data is within a certain range, and this incorrect data is eliminated. By replacing the height data with the correct height data of surrounding pixels, it is possible to perform highly reliable inspections without relying on human visual inspection. It is possible to inspect defects such as floating, and the automation of inspection can be promoted, which has a large effect.
第1図は本発明の一実施例における基板検査装置のブロ
ック結線図、第2図は同要部の詳細ブロック結線図、第
3図は同要部における不正データを補間する様子を示し
た概念図、第4図は従来の基板検査装置のブロック結線
図である。
101・・・プリント基板、102・・・部品、103
・・・搬送手段、105・・・レーザ光源、107・・
・ポリゴンミラー109・・・fθレンズ、110.1
11・・・反射ミラー112 . 113・・・集光レ
ンズ、114 . 115・・・位置検出素子、118
・・画像演算処理手段、119・・・補間演算手段、1
20・・・判定処理手段。Fig. 1 is a block wiring diagram of a board inspection device according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a detailed block wiring diagram of the same main part, and Fig. 3 is a conceptual diagram showing how to interpolate incorrect data in the same main part. FIG. 4 is a block diagram of a conventional board inspection apparatus. 101... Printed circuit board, 102... Parts, 103
...Conveying means, 105...Laser light source, 107...
・Polygon mirror 109...fθ lens, 110.1
11...Reflection mirror 112. 113... Condensing lens, 114. 115...Position detection element, 118
...Image calculation processing means, 119...Interpolation calculation means, 1
20... Judgment processing means.
Claims (1)
と、レーザ光源からのレーザ光をポリゴンミラーとfθ
レンズにより前記プリント基板上に走査させるレーザ光
走査手段と、前記レーザ光の走査により前記プリント基
板上から反射して得られる散乱光を、レーザ光の走査面
に対称な位置で、前記プリント基板と前記fθレンズの
間にそれぞれ反射ミラーを設け、前記fθレンズとポリ
ゴンミラーを介して反射させる散乱光反射手段と、前記
散乱光反射手段からの散乱光を前記1対の反射ミラーを
介して、それに対応した集光レンズおよび位置検出素子
をそれぞれ設けるとともに位置検出素子に集光し光電流
信号をそれぞれに出力する光量検出手段と、前記光量検
出手段からの光電流信号により前記プリント基板および
プリント基板上に実装された部品の輝度データL_1,
L_2および高さデータH_1,H_2を演算する画像
演算手段と、前記画像演算手段からの輝度データおよび
高さデータとから輝度データL_1,L_2がLmin
≦L_1≦Lmax,Lmin≦L_2≦Lmax(但
し、Lmin:任意の最低輝度レベル、Lmax:任意
の最高輝度レベルを示めす)の範囲内にあるときは高さ
データ(H_1+H_2)/2の平均値を出力し、輝度
データがLmin≦L_2≦LmaxかつLmin>L
_1またはL_1>Lmaxの場合は高さデータH_2
を出力し、輝度データがLmin≦L_1≦Lmaxか
つLmin>L_2またはL_2>Lmaxの場合は高
さデータH_1を出力し、Lmin>L_1またはL_
1>LmaxかつLmin>L_2またはL_2>Lm
axの場合は周辺画素の高さデータで置換して出力する
補間演算手段と、前記補間演算手段で演算された高さデ
ータと予め定めた基準高さデータとを比較し、前記プリ
ント基板上の部品の実装状態の良否を判定する判定処理
手段とを具備する実装基板検査装置。A transportation means for moving a printed circuit board with components mounted thereon, and a polygon mirror and fθ for laser light from a laser light source.
a laser beam scanning means for scanning the printed circuit board with a lens; and scattering light obtained by being reflected from the printed circuit board by scanning the laser beam, at a position symmetrical to the scanning plane of the laser beam, and scanning the printed circuit board. Reflection mirrors are provided between the fθ lenses, and scattered light reflection means is configured to reflect the light through the fθ lens and the polygon mirror, and the scattered light from the scattered light reflection means is reflected through the pair of reflection mirrors. A light amount detection means is provided with a corresponding condensing lens and a position detection element, and focuses the light on the position detection element and outputs a photocurrent signal to each of them. Luminance data L_1 of components mounted on
An image calculation means for calculating L_2 and height data H_1, H_2, and brightness data L_1, L_2 are calculated from L_min from the brightness data and height data from the image calculation means.
If it is within the range of ≦L_1≦Lmax, Lmin≦L_2≦Lmax (where Lmin: an arbitrary minimum brightness level, Lmax: an arbitrary maximum brightness level), the average value of height data (H_1+H_2)/2 and the luminance data is Lmin≦L_2≦Lmax and Lmin>L
If _1 or L_1>Lmax, height data H_2
If the luminance data is Lmin≦L_1≦Lmax and Lmin>L_2 or L_2>Lmax, output the height data H_1, and if Lmin>L_1 or L_
1>Lmax and Lmin>L_2 or L_2>Lm
In the case of ax, an interpolation calculation means replaces and outputs the height data of peripheral pixels, and compares the height data calculated by the interpolation calculation means with predetermined reference height data, A mounting board inspection device comprising a determination processing means for determining whether the mounting state of a component is good or bad.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1236160A JPH0399209A (en) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | Inspection apparatus for mounting board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1236160A JPH0399209A (en) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | Inspection apparatus for mounting board |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0399209A true JPH0399209A (en) | 1991-04-24 |
Family
ID=16996658
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1236160A Pending JPH0399209A (en) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | Inspection apparatus for mounting board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0399209A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05304400A (en) * | 1992-04-27 | 1993-11-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Visual inspection device for packaged substrate |
JPH08271229A (en) * | 1995-03-29 | 1996-10-18 | Nec Corp | Solder height detection device |
CN108603751A (en) * | 2016-02-08 | 2018-09-28 | Ntn株式会社 | The manufacturing method of form measuring instrument and target object to be coated |
-
1989
- 1989-09-12 JP JP1236160A patent/JPH0399209A/en active Pending
Cited By (4)
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CN108603751B (en) * | 2016-02-08 | 2020-09-01 | Ntn株式会社 | Shape measuring device and method for producing target object to be coated |
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