JPH03191615A - 出力回路 - Google Patents
出力回路Info
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- JPH03191615A JPH03191615A JP1332096A JP33209689A JPH03191615A JP H03191615 A JPH03191615 A JP H03191615A JP 1332096 A JP1332096 A JP 1332096A JP 33209689 A JP33209689 A JP 33209689A JP H03191615 A JPH03191615 A JP H03191615A
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- Japan
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- electrode
- transistor
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 24
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路で実現される出力回路に関し、
特にレベル変換回路を含む出力回路に関する。
特にレベル変換回路を含む出力回路に関する。
従来の出力回路について図面を参照して説明する。
第4図は従来の半導体集積回路で実現された出力回路の
一例を示す回路図である。
一例を示す回路図である。
第4図に示すように従来の出力回路は入力端子1をCM
OSレベルECLレベル変換回路2の入力端3に接続し
、CMOSレベルECLレベル変換回路2の出力端4を
NPN型トランジスタ6のベース電極に接続し、NPN
型トランジスタ6のコレクタ電極を正電源5に接続し、
NPN型トランジスタ6のエミッタ電極を出力端子10
と抵抗素子7aの一端とに接続し、抵抗素子7aの他端
を負電源9に接続して構成されていた。
OSレベルECLレベル変換回路2の入力端3に接続し
、CMOSレベルECLレベル変換回路2の出力端4を
NPN型トランジスタ6のベース電極に接続し、NPN
型トランジスタ6のコレクタ電極を正電源5に接続し、
NPN型トランジスタ6のエミッタ電極を出力端子10
と抵抗素子7aの一端とに接続し、抵抗素子7aの他端
を負電源9に接続して構成されていた。
第2図にCMOSレベルECLレベル変換回路2の一例
を示す、CMOSレベルECLレベル変換回路2の動作
は、第2図が示すように正電源25の電圧をVDD、負
電源3oの電圧を0、出力端子4のハイレベルとローレ
ベルの電位差をVSBとすると、入力端子3の電圧が0
からVDDに変化すると出力端4はVDDから(VDD
−VSB)に変化し、入力端3の電圧がVDDからOに
変化すると出力端は(VDD−VSB)からVDDに変
化するようになっている。
を示す、CMOSレベルECLレベル変換回路2の動作
は、第2図が示すように正電源25の電圧をVDD、負
電源3oの電圧を0、出力端子4のハイレベルとローレ
ベルの電位差をVSBとすると、入力端子3の電圧が0
からVDDに変化すると出力端4はVDDから(VDD
−VSB)に変化し、入力端3の電圧がVDDからOに
変化すると出力端は(VDD−VSB)からVDDに変
化するようになっている。
上述の従来の出力回路は、出力端子1oの電位が立ち上
がる時は、NPN型トランジスタ6のエミッタ電極から
出力端子10に流れ込む電流によって負荷を駆動し、出
力端子10の電位が立ち下がる時は、出力端子10から
抵抗素子7aに電流が流れることにより負荷に蓄積され
た電荷を放電するようになっていた。
がる時は、NPN型トランジスタ6のエミッタ電極から
出力端子10に流れ込む電流によって負荷を駆動し、出
力端子10の電位が立ち下がる時は、出力端子10から
抵抗素子7aに電流が流れることにより負荷に蓄積され
た電荷を放電するようになっていた。
上述した従来の出力回路は、高速動作をさせるために第
4図の中の抵抗素子7aの抵抗値を小さくしなければな
らないので、定常電流が大きくなり消費電力が大きくな
るという欠点がある。
4図の中の抵抗素子7aの抵抗値を小さくしなければな
らないので、定常電流が大きくなり消費電力が大きくな
るという欠点がある。
本発明の出力回路は、入力信号用の入力端子を前記入力
信号が論理値で“Onから“1”に変化する時点から予
め設定した一定期間だけ“1″を出力してそれ以外は“
O”を出力する立ち上がり検出回路の入力端とレベル変
換回路の入力端とに接続し、前記レベル変換回路の逆相
出力端子をNPN型トランジスタのベース電極に接続し
、前記NPN型トランジスタのコレクタ電極を正電源に
接続し、前記NPN型トランジスタのエミッタ電極を出
力端子と抵抗素子の一方の端子とNチャネル型MOSト
ランジスタのドレイン電極とに接続し、前記抵抗素子の
他方の端子と前記Nチャネル型MOSトランジスタのソ
ース電極とを負電源に接続し、前記立ち上がり検出回路
の出力端を前記Nチャネル型MOSトランジスタのゲー
ト電極に接続して成っている。
信号が論理値で“Onから“1”に変化する時点から予
め設定した一定期間だけ“1″を出力してそれ以外は“
O”を出力する立ち上がり検出回路の入力端とレベル変
換回路の入力端とに接続し、前記レベル変換回路の逆相
出力端子をNPN型トランジスタのベース電極に接続し
、前記NPN型トランジスタのコレクタ電極を正電源に
接続し、前記NPN型トランジスタのエミッタ電極を出
力端子と抵抗素子の一方の端子とNチャネル型MOSト
ランジスタのドレイン電極とに接続し、前記抵抗素子の
他方の端子と前記Nチャネル型MOSトランジスタのソ
ース電極とを負電源に接続し、前記立ち上がり検出回路
の出力端を前記Nチャネル型MOSトランジスタのゲー
ト電極に接続して成っている。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の出力回路の一実施例を示す回路図、第
2図は第1図の中のCMOSレベルECLレベル変換回
路の一例を示す回路図、第3図は第1図の中の立ち上が
り検出回路の一例を示す回路図である。
2図は第1図の中のCMOSレベルECLレベル変換回
路の一例を示す回路図、第3図は第1図の中の立ち上が
り検出回路の一例を示す回路図である。
第1図において、本実施例の出力回路は、出力端子1を
立ち上がり検出回路11の入力端12とCMOSレベル
ECLレベル変換回路2の入力端3に接続し、CMOS
レベルECLレベル変換回路2の逆相出力端4をNPN
型トランジスタ6のベース電極に接続し、NPN型トラ
ンジスタ6のコレクタ電極を正電源5に接続し、NPN
型トランジスタ6のエミッタ電極を出力端子10と抵抗
素子7の一方の端子とNチャネル型MOSトランジスタ
8のドレイン電極に接続し、抵抗素子7の他方の端子と
Nチャネル型MoSトランジスタ8のソース電極を負電
源9に接続し、立ち上がり検出回路11の出力端13を
Nチャネル型MOSトランジスタ8のゲート電極に接続
して構成している。
立ち上がり検出回路11の入力端12とCMOSレベル
ECLレベル変換回路2の入力端3に接続し、CMOS
レベルECLレベル変換回路2の逆相出力端4をNPN
型トランジスタ6のベース電極に接続し、NPN型トラ
ンジスタ6のコレクタ電極を正電源5に接続し、NPN
型トランジスタ6のエミッタ電極を出力端子10と抵抗
素子7の一方の端子とNチャネル型MOSトランジスタ
8のドレイン電極に接続し、抵抗素子7の他方の端子と
Nチャネル型MoSトランジスタ8のソース電極を負電
源9に接続し、立ち上がり検出回路11の出力端13を
Nチャネル型MOSトランジスタ8のゲート電極に接続
して構成している。
次に、本実施例の動作について説明する。
ここで、負電源9の電位を0、正電源5の電位をVDD
にし、NPN型トランジスタ6のオン状態におけるエミ
ッタ電極とベース電極の電位差をVBEとし、CMOS
レベルECLレベル変換回路2の出力端子10のハイレ
ベルとローレベルとの電位差をVSBとし、この時CM
OSレベルECLレベル変換回路2は、CMOSレベル
ECLレベル変換回路2の入力端3がCMOSレベルで
VDDから0に変化すると逆相出力端4を、(VDD−
VSB)からVDDに変化させ、CMOSレベルECL
レベル変換回路2の入力端3がCMOSレベルでOから
VDDに変化すると逆相出力端子4をVDDから(VD
D−VSB)に変化させるものとして本実施例の説明を
行う。
にし、NPN型トランジスタ6のオン状態におけるエミ
ッタ電極とベース電極の電位差をVBEとし、CMOS
レベルECLレベル変換回路2の出力端子10のハイレ
ベルとローレベルとの電位差をVSBとし、この時CM
OSレベルECLレベル変換回路2は、CMOSレベル
ECLレベル変換回路2の入力端3がCMOSレベルで
VDDから0に変化すると逆相出力端4を、(VDD−
VSB)からVDDに変化させ、CMOSレベルECL
レベル変換回路2の入力端3がCMOSレベルでOから
VDDに変化すると逆相出力端子4をVDDから(VD
D−VSB)に変化させるものとして本実施例の説明を
行う。
尚立ち上がり検出回路11の回路の一例を第3図に示す
。
。
入力端−子1の電位がOがらVDDに変化すると、CM
OSレベルECLレベル変換回路2の逆相出力端4の電
位はVDDから(VDD−VSB)に変化し、立ち上が
り検出回路11は予め設定した一定期間論理値で°“1
”を出力するため、その間Nチャネル型MOSトランジ
スタ8はオン状態となるので出力端子10に付く負荷に
蓄積された電荷が抵抗素子7を通りNチャネル型MOS
トランジスタ8のソース電極がちドレイン電極を通って
負電源9に流れ込むことによって出力端子10の電位を
(VDD−VSB−VBE)に下げ、その後立ち上がり
検出回路11は論理値で°0°゛を出力するためNチャ
ネル型MOSトランジスタ8はオフ状態となり抵抗素子
7によって出力端子10の電位は保たれる。一方、入力
端子1の電位がVDDから0に変化すると、立ち上がり
検出回路11は論理値で“0°”のままなのでNチャネ
ル型MO9トランジスタ8はオフ状態となり、CMOS
レベルECL変換回路2の逆相出力端4の電位は(VD
D−VSB)からVDDに変化し出力端子10を(VD
D−VBE)に立ち上げるが、この時はNチャネル型M
OSトランジスタ8はオフ状態のため、NPN型トラン
ジスタ5のエミッタ電流は出力端子10を通って負荷を
駆動し、また一部が抵抗素子7を通って負電源9に流れ
込む、そのため、入力端子1が論理値でII O11か
ら“1”に変化する時のみNチャネル型MOSトランジ
スタ8がオン状態となり出力端子10の論理値で1”か
ら“0″への変化を速め、それ以外のときはNチャネル
型MOSトランジスタ8がオフ状態のとなるため抵抗素
子7の抵抗値を大きくすることにより定常電流を小さく
することが出来るので、消費電力を少なくできる。
OSレベルECLレベル変換回路2の逆相出力端4の電
位はVDDから(VDD−VSB)に変化し、立ち上が
り検出回路11は予め設定した一定期間論理値で°“1
”を出力するため、その間Nチャネル型MOSトランジ
スタ8はオン状態となるので出力端子10に付く負荷に
蓄積された電荷が抵抗素子7を通りNチャネル型MOS
トランジスタ8のソース電極がちドレイン電極を通って
負電源9に流れ込むことによって出力端子10の電位を
(VDD−VSB−VBE)に下げ、その後立ち上がり
検出回路11は論理値で°0°゛を出力するためNチャ
ネル型MOSトランジスタ8はオフ状態となり抵抗素子
7によって出力端子10の電位は保たれる。一方、入力
端子1の電位がVDDから0に変化すると、立ち上がり
検出回路11は論理値で“0°”のままなのでNチャネ
ル型MO9トランジスタ8はオフ状態となり、CMOS
レベルECL変換回路2の逆相出力端4の電位は(VD
D−VSB)からVDDに変化し出力端子10を(VD
D−VBE)に立ち上げるが、この時はNチャネル型M
OSトランジスタ8はオフ状態のため、NPN型トラン
ジスタ5のエミッタ電流は出力端子10を通って負荷を
駆動し、また一部が抵抗素子7を通って負電源9に流れ
込む、そのため、入力端子1が論理値でII O11か
ら“1”に変化する時のみNチャネル型MOSトランジ
スタ8がオン状態となり出力端子10の論理値で1”か
ら“0″への変化を速め、それ以外のときはNチャネル
型MOSトランジスタ8がオフ状態のとなるため抵抗素
子7の抵抗値を大きくすることにより定常電流を小さく
することが出来るので、消費電力を少なくできる。
以上説明したように本発明は、入力信号用の入力端子を
入力信号が論理値で“0パから“1°゛に変化する時か
ら予め設定した一定期間だけ“1°′を出力してそれ以
外は“0”を出力する立ち上がり検出回路の入力端とレ
ベル変換回路の入力端とに接続し、レベル変換回路の逆
相出力端をNPN型トランジスタのベース電極に接続し
、NPN型トランジスタのコレクタ電極を正電源に接続
し、NPN型トランジスタのエミッタ電極を出力端子と
抵抗素子の一方の端子とNチャネル型MOSトランジス
タのドレイン電極とに接続し、抵抗素子の他方の端子と
Nチャネル型MOSトランジスタのソース電極とを負電
源に接続し、立ち上がり検出回路の出力端をNチャネル
型MOSトランジスタのゲートを極に接続して構成する
ことによって、入力信号が論理値で“0゛から“1”に
変化する時のみNチャネル型MOSトランジスタがオン
状態となり出力端子の論理値で°“1”から““0”へ
の変化を速め、それ以外のときはNチャネル型MO5ト
ランジスタがオフ状態となるため抵抗素子の抵抗値を大
きくすることにより定常電流を小さくすることができる
ので、従来より消費電力を小さくすることができる効果
がある。
入力信号が論理値で“0パから“1°゛に変化する時か
ら予め設定した一定期間だけ“1°′を出力してそれ以
外は“0”を出力する立ち上がり検出回路の入力端とレ
ベル変換回路の入力端とに接続し、レベル変換回路の逆
相出力端をNPN型トランジスタのベース電極に接続し
、NPN型トランジスタのコレクタ電極を正電源に接続
し、NPN型トランジスタのエミッタ電極を出力端子と
抵抗素子の一方の端子とNチャネル型MOSトランジス
タのドレイン電極とに接続し、抵抗素子の他方の端子と
Nチャネル型MOSトランジスタのソース電極とを負電
源に接続し、立ち上がり検出回路の出力端をNチャネル
型MOSトランジスタのゲートを極に接続して構成する
ことによって、入力信号が論理値で“0゛から“1”に
変化する時のみNチャネル型MOSトランジスタがオン
状態となり出力端子の論理値で°“1”から““0”へ
の変化を速め、それ以外のときはNチャネル型MO5ト
ランジスタがオフ状態となるため抵抗素子の抵抗値を大
きくすることにより定常電流を小さくすることができる
ので、従来より消費電力を小さくすることができる効果
がある。
第1図は本発明の出力回路の一実施例を示す回路図、第
2図は第1図の中のCMOSレベルECLレベル変換回
路の一例を示す回路図、第3図は第1図の中の立ち上が
り検出回路の一例を示す回路図、第4図は従来の出力回
路の一例を示す回路図である。 1・・・入力端子、2・・・CMOSレベルECLレベ
ル変換回路、3・・・入力端、4・・・逆送出力端、5
・・・正電源、6・・・NPN型トランジスタ、7.7
a・・・抵抗素子、8・・・Nチャネル型MOSトラン
ジスタ、9・・・負電源、10・・・出力端子、11・
・・立ち上がり検出回路、12・・・入力端、13・・
・出力端、21.22.23.25.27・・・抵抗素
子、24・・・正電源、26・・・NPN型トランジス
タ、28・・・NPN型トランジスタ、29・・・定電
流源、30・・・負電源、31・・・リファレンス電圧
入力端子、111・・・遅延回路、112・・・インバ
ータ回路、113・・・AND回路。
2図は第1図の中のCMOSレベルECLレベル変換回
路の一例を示す回路図、第3図は第1図の中の立ち上が
り検出回路の一例を示す回路図、第4図は従来の出力回
路の一例を示す回路図である。 1・・・入力端子、2・・・CMOSレベルECLレベ
ル変換回路、3・・・入力端、4・・・逆送出力端、5
・・・正電源、6・・・NPN型トランジスタ、7.7
a・・・抵抗素子、8・・・Nチャネル型MOSトラン
ジスタ、9・・・負電源、10・・・出力端子、11・
・・立ち上がり検出回路、12・・・入力端、13・・
・出力端、21.22.23.25.27・・・抵抗素
子、24・・・正電源、26・・・NPN型トランジス
タ、28・・・NPN型トランジスタ、29・・・定電
流源、30・・・負電源、31・・・リファレンス電圧
入力端子、111・・・遅延回路、112・・・インバ
ータ回路、113・・・AND回路。
Claims (1)
- 入力信号用の入力端子を前記入力信号が論理値で“0”
から“1”に変化する時点から予め設定した一定期間だ
け“1”を出力してそれ以外は“0”を出力する立ち上
がり検出回路の入力端とレベル変換回路の入力端とに接
続し、前記レベル変換回路の逆相出力端子をNPN型ト
ランジスタのベース電極に接続し、前記NPN型トラン
ジスタのコレクタ電極を正電源に接続し、前記NPN型
トランジスタのエミッタ電極を出力端子と抵抗素子の一
方の端子とNチャネル型MOSトランジスタのドレイン
電極とに接続し、前記抵抗素子の他方の端子と前記Nチ
ャネル型MOSトランジスタのソース電極とを負電源に
接続し、前記立ち上がり検出回路の出力端を前記Nチャ
ネル型MOSトランジスタのゲート電極に接続して成る
ことを特徴とする出力回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1332096A JPH03191615A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 出力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1332096A JPH03191615A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 出力回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03191615A true JPH03191615A (ja) | 1991-08-21 |
Family
ID=18251101
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1332096A Pending JPH03191615A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 出力回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03191615A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6998733B2 (en) | 2002-05-07 | 2006-02-14 | Renesas Technology Corp. | Pulse current generation circuit |
JP2007081608A (ja) * | 2005-09-13 | 2007-03-29 | Nec Electronics Corp | 出力バッファ回路 |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP1332096A patent/JPH03191615A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6998733B2 (en) | 2002-05-07 | 2006-02-14 | Renesas Technology Corp. | Pulse current generation circuit |
JP2007081608A (ja) * | 2005-09-13 | 2007-03-29 | Nec Electronics Corp | 出力バッファ回路 |
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