JPH023262A - リードフレーム組立体とその加工方法 - Google Patents
リードフレーム組立体とその加工方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、リード付き半導体チップ支持体のためのリ
ードフレームとその加工技術とに関する。特にこの発明
は、封入に先立って完全に非破壊的な方法で組立品の完
全かつ綿密な試験が可能であるような、リードフレーム
の設計と加工方法とに関する。
ードフレームとその加工技術とに関する。特にこの発明
は、封入に先立って完全に非破壊的な方法で組立品の完
全かつ綿密な試験が可能であるような、リードフレーム
の設計と加工方法とに関する。
[従来の技術]
半導体パッケージを生産するために用いられる装鐙にお
いて、チップはチップ台座上に取り付けられ、チップ台
座の接触域からパッケージの中の同様の領域又はパッケ
ージの中のチップへ接続が行われる。パッケージの外部
接続線は、プリント配線板に取り付けられるリードの形
を取る0面取り付は技術の利用により、プリント配線板
上で空間を交互に占有する寸法についてパッケージを小
さくすることができる。
いて、チップはチップ台座上に取り付けられ、チップ台
座の接触域からパッケージの中の同様の領域又はパッケ
ージの中のチップへ接続が行われる。パッケージの外部
接続線は、プリント配線板に取り付けられるリードの形
を取る0面取り付は技術の利用により、プリント配線板
上で空間を交互に占有する寸法についてパッケージを小
さくすることができる。
現在の加工工程は一般的に、つながったリードフレーム
がそれぞれ少なくとも一つのチップ位置を有するような
帯の形でリードフレーム組立体を取り扱う、つながった
リードフレームは1組み立てられたリード付き半導体パ
ッケージを作るために種々の自動化された段階又は加工
工程を施される連続した帯を供給するように、リール上
に巻き付けられている。かかるパッケージは気密型であ
るか、又は主として市販用途に用いられる非気密型(プ
ラスチックパッケージ)である。例えばアメリカ合衆国
特許第4214364号明細書は、受動的及び能動的の
電気及び電子デバイスの気密型及び非気密型パッケージ
加工を記述し、この加工は帯状の従来のリードフレーム
を用いる半導体デバイスに特に適している。
がそれぞれ少なくとも一つのチップ位置を有するような
帯の形でリードフレーム組立体を取り扱う、つながった
リードフレームは1組み立てられたリード付き半導体パ
ッケージを作るために種々の自動化された段階又は加工
工程を施される連続した帯を供給するように、リール上
に巻き付けられている。かかるパッケージは気密型であ
るか、又は主として市販用途に用いられる非気密型(プ
ラスチックパッケージ)である。例えばアメリカ合衆国
特許第4214364号明細書は、受動的及び能動的の
電気及び電子デバイスの気密型及び非気密型パッケージ
加工を記述し、この加工は帯状の従来のリードフレーム
を用いる半導体デバイスに特に適している。
従来の製品とパッケージ加工技術との主な欠点は、封入
に先立って組み立てられたパッケージを試験できないこ
とである。封入の後に内部のチップ又は接続を再加工す
るためにパッケージを開放することは経済上実際的でな
い。モールドパッケージの場合には封入の開放は全く実
際的でない、それ故にパッケージされた半導体回路の生
産歩留まりは、欠陥のある組立体の再加工ができないた
めに低下する。多数のチップを内蔵するパッケージでは
、失敗の機会はチップとこれに施される作業の数が増す
につれて増す。従ってチップ又はパッケージの再加工の
機会を見逃すことは、比較的複雑なチップ組立体に関し
ては相対的歩留まり自体と投資の絶対額との両観点から
不利である。
に先立って組み立てられたパッケージを試験できないこ
とである。封入の後に内部のチップ又は接続を再加工す
るためにパッケージを開放することは経済上実際的でな
い。モールドパッケージの場合には封入の開放は全く実
際的でない、それ故にパッケージされた半導体回路の生
産歩留まりは、欠陥のある組立体の再加工ができないた
めに低下する。多数のチップを内蔵するパッケージでは
、失敗の機会はチップとこれに施される作業の数が増す
につれて増す。従ってチップ又はパッケージの再加工の
機会を見逃すことは、比較的複雑なチップ組立体に関し
ては相対的歩留まり自体と投資の絶対額との両観点から
不利である。
複雑なチップ組立体の一つの主要な適用例は、非常に多
くのデバイスが表示マトリックスのための配列方式で用
いられる表示用パッケージの場合である。一般にまた特
に前記の例では、まだリードフレーム帯の中にあり従っ
て欠陥のある組立体が封入に先立って再加工できる間に
、組み立てられたパッケージを試験することができれば
非常に有利でありかつ経済的に有益である。かかる試験
はまた、パッケージと延性の大きい材料から成る小さい
リードとに対する損傷を低減又は排除するような方法で
実施されるべきである。
くのデバイスが表示マトリックスのための配列方式で用
いられる表示用パッケージの場合である。一般にまた特
に前記の例では、まだリードフレーム帯の中にあり従っ
て欠陥のある組立体が封入に先立って再加工できる間に
、組み立てられたパッケージを試験することができれば
非常に有利でありかつ経済的に有益である。かかる試験
はまた、パッケージと延性の大きい材料から成る小さい
リードとに対する損傷を低減又は排除するような方法で
実施されるべきである。
[発明が解決しようとする課題]
個々のリードフレームのリードがリードフレーム帯から
電気的に絶縁され、一方間時にリードフレーム帯により
機械的に支持されるようになっているリードフレーム組
立体を用いることが、この発明の特徴である6 リード
フレーム帯から機械的に支えることにより、リードフレ
ームは試験中に通常の探触力に耐え、個々のリードに大
きい変形を生じることなく信頼性のある電気的接続を保
証することができる。
電気的に絶縁され、一方間時にリードフレーム帯により
機械的に支持されるようになっているリードフレーム組
立体を用いることが、この発明の特徴である6 リード
フレーム帯から機械的に支えることにより、リードフレ
ームは試験中に通常の探触力に耐え、個々のリードに大
きい変形を生じることなく信頼性のある電気的接続を保
証することができる。
この発明の一つの目的は、従来のプローブの物理的接触
に耐えるように各小リードの両端で機械的な支持を行う
ために、射出成形技術を利用することである。
に耐えるように各小リードの両端で機械的な支持を行う
ために、射出成形技術を利用することである。
この発明の別の目的は、リードフレーム組立体に絶縁性
支持部材を提供し、そしてその後にリードフレームのリ
ードが電気的に絶縁されるように金属の支持構造部を除
去することである。
支持部材を提供し、そしてその後にリードフレームのリ
ードが電気的に絶縁されるように金属の支持構造部を除
去することである。
この発明の更に別の目的は、低コストのパッケージ及び
組み立て技術を主な特徴とする従来の加工工程と矛盾す
ることなく、再加工の完全な経済的利益が実現されるた
めに最小数の作業を行うという、この発明の付随的な特
徴と利点とを提供することである。
組み立て技術を主な特徴とする従来の加工工程と矛盾す
ることなく、再加工の完全な経済的利益が実現されるた
めに最小数の作業を行うという、この発明の付随的な特
徴と利点とを提供することである。
[課題を解決するための手段]
この目的はこの発明の基づき請求項1、請求項8及び請
求項13に記載の手段により達成される。
求項13に記載の手段により達成される。
この発明は、自動加工環境の中における繰り返し試験の
連続的な作業が可能となるように、リードフレーム組立
体の形状と、機械的な支持が与えられ同時に電気的な絶
縁が与えられるような関連性のある工程とを採用する。
連続的な作業が可能となるように、リードフレーム組立
体の形状と、機械的な支持が与えられ同時に電気的な絶
縁が与えられるような関連性のある工程とを採用する。
そして試験に不合格な組立体が修復のために再加工され
る。これらの修復された組立体は、再試験に合格した後
に当初に試験作業に合格した組立体と同様な方法で封入
される。
る。これらの修復された組立体は、再試験に合格した後
に当初に試験作業に合格した組立体と同様な方法で封入
される。
[実施例]
次にこの発明に基づくリードフレーム組立体の複数の実
施例を示す図面により、この発明の詳細な説明する。
施例を示す図面により、この発明の詳細な説明する。
第1図は一般的に半導体パッケージ組立体の加工に用い
られる技術の現状を示す。基本的に、連続する打ち抜か
れたリードフレームの形の金属製のリードフレーム帯1
1が、第1のリールlOから第2のリール12に向かっ
て巻かれる。第1のリール10は、加工のためのリード
フレーム供給源として働くために反時計方向に回転する
。一般的な加工段階として、リードフレーム帯11上に
パッケージを形成するために成形装置14で射出成形が
行われる。帯11は成形装置14を通過し一段ごとに前
進される。各機械サイクルの間に帯11の一区画が成形
装置14に入り、プラスチックが射出成形によりこの区
画に取り付けられる。
られる技術の現状を示す。基本的に、連続する打ち抜か
れたリードフレームの形の金属製のリードフレーム帯1
1が、第1のリールlOから第2のリール12に向かっ
て巻かれる。第1のリール10は、加工のためのリード
フレーム供給源として働くために反時計方向に回転する
。一般的な加工段階として、リードフレーム帯11上に
パッケージを形成するために成形装置14で射出成形が
行われる。帯11は成形装置14を通過し一段ごとに前
進される。各機械サイクルの間に帯11の一区画が成形
装置14に入り、プラスチックが射出成形によりこの区
画に取り付けられる。
射出成形加工の間に一つ又は複数のリードフレームを同
時に処理することができる。第2のリール12は同じく
反時計方向に回転することにより巻き取りリールとして
働く。
時に処理することができる。第2のリール12は同じく
反時計方向に回転することにより巻き取りリールとして
働く。
第2図は連続する打ち抜かれたリードフレーム帯11の
一区画を示す。リードフレーム帯は延性かつ導電性の金
属から作られるのが有利である。
一区画を示す。リードフレーム帯は延性かつ導電性の金
属から作られるのが有利である。
例えば適した金属はオリン(OLIN) l 51とし
て知られた銅合金である。アルミニウム超音波ワイヤポ
ンディングのために、金属は選択された領域を金めっき
されている。
て知られた銅合金である。アルミニウム超音波ワイヤポ
ンディングのために、金属は選択された領域を金めっき
されている。
リードフレームは支持部分12、位置決め部材24、第
1の複数の水平リード16、第1の複数の垂直リード1
8及び第2の複数の垂直り一部20を備える。支持部分
22、リード16.18.20及び位置決め部材24は
リードフレームの部分として一体にまとめて形成されて
いる。
1の複数の水平リード16、第1の複数の垂直リード1
8及び第2の複数の垂直り一部20を備える。支持部分
22、リード16.18.20及び位置決め部材24は
リードフレームの部分として一体にまとめて形成されて
いる。
支持部分22は位置決め孔26と支持耳28とを備える
。リード16.18.20の外側端部は、工程に従って
製作される集植回路(IC)パッケージの外部リードを
形成する。
。リード16.18.20の外側端部は、工程に従って
製作される集植回路(IC)パッケージの外部リードを
形成する。
第3図ないし第6図は、U字形のプラスチック部材30
がリード16.18.20と支持部分22との間の絶縁
性部材として働くようなリードフレームを示す、一つの
成形段階でプラスチック部材30が作られる。プラスチ
ック部材30は、支持部分22、支持耳28、位置決め
部材24の端部36及びリード16.18.20の端部
が協働するように、リード16.18.20に成形され
る。この協働はリードフレームの支持部分22の内部で
リード16.18.20を支持するのに役立ち、一方ま
たリード16.18.20をリードフレームから電気的
に絶縁する。
がリード16.18.20と支持部分22との間の絶縁
性部材として働くようなリードフレームを示す、一つの
成形段階でプラスチック部材30が作られる。プラスチ
ック部材30は、支持部分22、支持耳28、位置決め
部材24の端部36及びリード16.18.20の端部
が協働するように、リード16.18.20に成形され
る。この協働はリードフレームの支持部分22の内部で
リード16.18.20を支持するのに役立ち、一方ま
たリード16.18.20をリードフレームから電気的
に絶縁する。
この成形段階ではまた方形のプラスチック絶縁リング及
び/又は台座部材32が作られ、この部材はリード16
.18.20の間の機械的支持兼絶縁部材として働く。
び/又は台座部材32が作られ、この部材はリード16
.18.20の間の機械的支持兼絶縁部材として働く。
プラスチック部材32は、リード16.18.20が相
互に物理的な位置を維持し一方また相互に電気的に絶縁
されるように、リード16.18.20に成形される。
互に物理的な位置を維持し一方また相互に電気的に絶縁
されるように、リード16.18.20に成形される。
プラスチック部材32はまた半導体ICパッケージの一
部を形成するために役立つ。第3図及び第4図はまた。
部を形成するために役立つ。第3図及び第4図はまた。
指状部16上への成形材料のはみ出しを防ぐのに役立つ
多数の成形空所34を示す(分かり易いように部分的に
示されている)。
多数の成形空所34を示す(分かり易いように部分的に
示されている)。
例として部材30.32のための適した材料はポリエー
テルイミドである。かかる材料はゼネラル エレクトリ
ック(General Electric)社から購入
できウルテム(ULTEM ) l O00として知ら
れている。
テルイミドである。かかる材料はゼネラル エレクトリ
ック(General Electric)社から購入
できウルテム(ULTEM ) l O00として知ら
れている。
部材30.32がリードフレームに成形された後に1位
置決め部材24がリード16.18.20及び支持フレ
ーム22から打ち抜いて取り去られる。第3図には位置
決め部材24の打ち抜いて取り去られる部分がハツチン
グにより示されている。続いてチップの形のデバイス又
は回路を台座に取り付け、電気的リードにワイヤポンデ
ィングすることができる。
置決め部材24がリード16.18.20及び支持フレ
ーム22から打ち抜いて取り去られる。第3図には位置
決め部材24の打ち抜いて取り去られる部分がハツチン
グにより示されている。続いてチップの形のデバイス又
は回路を台座に取り付け、電気的リードにワイヤポンデ
ィングすることができる。
更にパッケージ加工の前にリードフレームがまだ帯の状
態にある間に、回路全体が電気的リード16.18.2
0へ作動電圧を加えることにより試験される。リード1
6.18.20は部材30に介して支持部分22からま
た部材32を介して相互に電気的に絶縁されているので
、この配置を用いることによりかかる試験が可能かつ好
都合となる。部材30.32により提供される機械的な
支持により、試験作業中にリードフレームの延性の大き
い金属に変形を生じることなく接触クローブを任意の個
所でリードに押し付けることができる。
態にある間に、回路全体が電気的リード16.18.2
0へ作動電圧を加えることにより試験される。リード1
6.18.20は部材30に介して支持部分22からま
た部材32を介して相互に電気的に絶縁されているので
、この配置を用いることによりかかる試験が可能かつ好
都合となる。部材30.32により提供される機械的な
支持により、試験作業中にリードフレームの延性の大き
い金属に変形を生じることなく接触クローブを任意の個
所でリードに押し付けることができる。
試験及び再加工の後に回路は組立体としてパッケージと
なるように封入する準備が完了する。封入はトランスフ
ァ成形により行われる。表示用チップ又は光学的ドライ
バチップ(オプトアイソレータ)の場合には、対人材料
は第5図及び第6図に示すような透明な熱硬化性プラス
チック材料である。ほかの場合には不透明な熱硬化性プ
ラスチック材料を用いることができる。それ故にこの形
式のパッケージ加工方式は、種々の集積回路及びデバイ
スのチップが採用されるような種々の用途に適している
。
なるように封入する準備が完了する。封入はトランスフ
ァ成形により行われる。表示用チップ又は光学的ドライ
バチップ(オプトアイソレータ)の場合には、対人材料
は第5図及び第6図に示すような透明な熱硬化性プラス
チック材料である。ほかの場合には不透明な熱硬化性プ
ラスチック材料を用いることができる。それ故にこの形
式のパッケージ加工方式は、種々の集積回路及びデバイ
スのチップが採用されるような種々の用途に適している
。
第5図に示す破線38はリード16.18.20が切断
されるときの切断線を示す。切断作業の後にリードは第
6図に示すようにパッケージの下側にJ形に曲げられる
。この配置は、プリント配線板上に取り付ける表面とし
て非常に便利なポンディング域をパッケージの底部分上
に提供する。
されるときの切断線を示す。切断作業の後にリードは第
6図に示すようにパッケージの下側にJ形に曲げられる
。この配置は、プリント配線板上に取り付ける表面とし
て非常に便利なポンディング域をパッケージの底部分上
に提供する。
第7図ないし第15図は、前記の加工を行うことができ
るリードフレームの別の形式を示す。このリードフレー
ムは支持部分42、位置決め部材44、第1の複数の水
平リード46、第2の複数の水平リード47、第1の複
数の垂直リード48及び第2の複数の垂直リード50を
備える。支持部分42、リード46.47.48.50
及び位置決め部材44はリードフレームの部分とじて一
体となるように成形されている。支持部分42は位置決
め孔43と支持孔58とを備える。リード46.47.
48.50の外側端部は、工程に従って製作されるIC
パッケージの外部リードを形成する。
るリードフレームの別の形式を示す。このリードフレー
ムは支持部分42、位置決め部材44、第1の複数の水
平リード46、第2の複数の水平リード47、第1の複
数の垂直リード48及び第2の複数の垂直リード50を
備える。支持部分42、リード46.47.48.50
及び位置決め部材44はリードフレームの部分とじて一
体となるように成形されている。支持部分42は位置決
め孔43と支持孔58とを備える。リード46.47.
48.50の外側端部は、工程に従って製作されるIC
パッケージの外部リードを形成する。
この形式のリードフレームでは、方形の絶縁リング60
がリード46.47.48.50と支持部分42との間
の絶縁性部材として働く、一つの成形段階でプラスチッ
ク部材60が作られる。プラスチック部材60が支持部
分42、支持孔58及びリード46.47.48.50
の端部と協働するように、プラスチック部材60がリー
ド46.47.48.50に成形される。この協働はリ
ードフレームの支持部分42の内部でリードを支持する
のに役立ち、一方またリード46.47.48.50を
リードフレームから電気的に絶縁する。
がリード46.47.48.50と支持部分42との間
の絶縁性部材として働く、一つの成形段階でプラスチッ
ク部材60が作られる。プラスチック部材60が支持部
分42、支持孔58及びリード46.47.48.50
の端部と協働するように、プラスチック部材60がリー
ド46.47.48.50に成形される。この協働はリ
ードフレームの支持部分42の内部でリードを支持する
のに役立ち、一方またリード46.47.48.50を
リードフレームから電気的に絶縁する。
この成形段階ではまた、リード46.47.48.50
の間の絶縁性部材として働く方形のプラスチック絶縁リ
ング及び/又は台座部材62が作られる。プラスチック
部材62ちまた、リード46.47.48.50が相互
にこれらの物理的位置を維持し一方また相互に電気的に
絶縁されるように、リード46,47,4B、50に成
形される。このプラスチック部材62もまた半導体IC
パッケージの一部を形成するのに役立つ。
の間の絶縁性部材として働く方形のプラスチック絶縁リ
ング及び/又は台座部材62が作られる。プラスチック
部材62ちまた、リード46.47.48.50が相互
にこれらの物理的位置を維持し一方また相互に電気的に
絶縁されるように、リード46,47,4B、50に成
形される。このプラスチック部材62もまた半導体IC
パッケージの一部を形成するのに役立つ。
部材60.62がリードフレームに成形された後に、位
置決め部材44がリード46.47.48.50及び支
持フレーム42から打ち抜いて取り去られる。第8図に
は、位置決め部材44の打ち抜いて取り去られる部分が
ハツチング域により示されている。その後にICが取り
付けられ、リードフレームの第1の形態に対して説明さ
れたように試験され封入される。
置決め部材44がリード46.47.48.50及び支
持フレーム42から打ち抜いて取り去られる。第8図に
は、位置決め部材44の打ち抜いて取り去られる部分が
ハツチング域により示されている。その後にICが取り
付けられ、リードフレームの第1の形態に対して説明さ
れたように試験され封入される。
第10図ないし第15図は工CM入の別の形を示す、第
1O図及び第11図は、ICの周りに封入構造体を形成
するために協働するプラスチック部材62、MB2及び
台座66を示す、構造内部の空所67には空気を充填す
るか、又はシリコーンを充填することができる。i12
図及び第13図は、頂部カバー68と底カバー70とが
IC、プラスチック部材62及び台座66を封入するよ
うに形成された封入の別の形式を示す。
1O図及び第11図は、ICの周りに封入構造体を形成
するために協働するプラスチック部材62、MB2及び
台座66を示す、構造内部の空所67には空気を充填す
るか、又はシリコーンを充填することができる。i12
図及び第13図は、頂部カバー68と底カバー70とが
IC、プラスチック部材62及び台座66を封入するよ
うに形成された封入の別の形式を示す。
第14図及び第15図は、充填材料70がICを封入す
るためにプラスチック部材62及び台座66と協働する
封入の更に別の形式を示す。
るためにプラスチック部材62及び台座66と協働する
封入の更に別の形式を示す。
この発明の二つの実施例及び幾つかの変形例を図示説明
したけれど、この発明の範囲から逸脱することなく種々
の他の変更及び変形を行うことができる。例えば、絶縁
性部材が種々のリードフレームの形態に適するように、
絶縁性部材の形を変更することができる。
したけれど、この発明の範囲から逸脱することなく種々
の他の変更及び変形を行うことができる。例えば、絶縁
性部材が種々のリードフレームの形態に適するように、
絶縁性部材の形を変更することができる。
第1図はリードフレーム帯の加工装置の配置図、第2図
はこの発明に基づくリードフレーム帯の一実施例の一区
画を示す平面図、第3図は第2図に示すリードフレーム
の成る組立段階を示す平面図、第4図は第3図に示すリ
ードフレームの切断線4−4による断面図、第5図は第
2図に示すリードフレームの別の組立段階を示すモ面図
、第6図は第5図に示すリードフレームの切断線6−6
による断面図、第7図はこの発明に基づ〈リードフレー
ム帯の別の実施例の一区画を示す平面図、第8図は第7
図に示すリードフレームの成る組立段階を示す平面図、
第9図は第8図に示すリードフレームの切断線9−9に
よる断面図、第10図、第12図及び第14図はそれぞ
れ第7図に示すリードフレームの異なる組立体の部分平
面図、第11図、第13図及び第15図はそれぞれ第1
0図の切断線11−11、第12図の切断線13−13
及び第14図の切断線15−15によるリードフレーム
組立体の断面図である。
はこの発明に基づくリードフレーム帯の一実施例の一区
画を示す平面図、第3図は第2図に示すリードフレーム
の成る組立段階を示す平面図、第4図は第3図に示すリ
ードフレームの切断線4−4による断面図、第5図は第
2図に示すリードフレームの別の組立段階を示すモ面図
、第6図は第5図に示すリードフレームの切断線6−6
による断面図、第7図はこの発明に基づ〈リードフレー
ム帯の別の実施例の一区画を示す平面図、第8図は第7
図に示すリードフレームの成る組立段階を示す平面図、
第9図は第8図に示すリードフレームの切断線9−9に
よる断面図、第10図、第12図及び第14図はそれぞ
れ第7図に示すリードフレームの異なる組立体の部分平
面図、第11図、第13図及び第15図はそれぞれ第1
0図の切断線11−11、第12図の切断線13−13
及び第14図の切断線15−15によるリードフレーム
組立体の断面図である。
11・・・リードフレーム帯
16.18.20.46.47.48.50・・・リー
ド 22.42・・・支持部分 24.44・・・位置決め部材 26.43・・・位置決め孔 28・・・支持耳 30.60・・・第1の絶縁性(プラスチック)部材3
2.62・・・第2の絶縁性(プラスチック)部材58
・・・支持孔 図面の浄書(内容に変更なし) 手 続 主車 正 書(方式) 発明の名称 リードフレーム組立体とその加工方法 3゜ 補正をする者 事件との関係 特許用別人 住 所 ドイツ連邦共和国ベルリン及ミュンヘン(番地
なし) 名 称 シーメンス、アクチェンゲゼルシャフト4゜
ド 22.42・・・支持部分 24.44・・・位置決め部材 26.43・・・位置決め孔 28・・・支持耳 30.60・・・第1の絶縁性(プラスチック)部材3
2.62・・・第2の絶縁性(プラスチック)部材58
・・・支持孔 図面の浄書(内容に変更なし) 手 続 主車 正 書(方式) 発明の名称 リードフレーム組立体とその加工方法 3゜ 補正をする者 事件との関係 特許用別人 住 所 ドイツ連邦共和国ベルリン及ミュンヘン(番地
なし) 名 称 シーメンス、アクチェンゲゼルシャフト4゜
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1) リードフレームが集積回路のためのリードを提供
するようになっているリードフレーム帯のリードフレー
ムの加工方法において、支持部分とこの支持部分に取り
付けられた位置決め部材に更に取り付けられた多数のリ
ードとを画成する少なくとも一つのリードフレームを画
成するリードフレーム帯を用意し、集積回路をリードに
取り付け、リードを支持部分へ結合するための第1の絶
縁性部材を供給し、リードを相互に結合するための第2
の絶縁性部材を供給し、リードが支持部分によって支え
られ一方支持部分からは電気的に絶縁されかつ相互に電
気的に絶縁されるように、絶縁性材料と支持部分とリー
ドとが協働するように位置決め部材を除去することから
成るリードフレーム組立体の加工方法。 2)集積回路の試験段階を更に含むことを特徴とする請
求項1記載の方法。 3)集積回路を封入しかつリードをリードフレームから
切断することを更に含むことを特徴とする請求項2記載
の方法。 4)第1の絶縁性部材がほぼU字形の成形されたプラス
チック部材を形成するように成形されていることを特徴
とする請求項2記載の方法。 5)第2の絶縁性部材がほぼ方形の成形されたプラスチ
ック部材を形成するように成形されていることを特徴と
する請求項4記載の方 法。 6)第1の絶縁性部材がほぼ方形の成形されたプラスチ
ック部材を形成するように成形されていることを特徴と
する請求項2記載の方 法。 7)第2の絶縁性部材がほぼ方形の成形されたプラスチ
ック部材を形成するように成形されていることを特徴と
する請求項6記載の方 法。 8)リードフレームが集積回路のためのリードを提供す
るようになっているリードフレーム帯のリードフレーム
の加工方法において、支持部分とこの支持部分に取り付
けられた位置決め部材に更に取り付けられた多数のリー
ドとを画成する少なくとも一つのリードフレームを画成
するリードフレーム帯を用意し、 リードを支持部分へ結合するための第1のプラスチック
部材を供給し、リードを相互に結合するための第2のプ
ラスチック部材を供給し、リードが支持部分によって支
えられ一方支持部分からは電気的に絶縁されかつ相互に
電気的に絶縁されるように、絶縁性材料と支持部分とリ
ードとが協働するように位置決め部材を除去し、集積回
路をリードに取り付 け、集積回路を試験し、集積回路の試験の後に集積回路
を封入し、集積回路の封入の後にリードをリードフレー
ムから切断することから成るリードフレーム組立体の加
工方法。 9)第1のプラスチック部材がほぼU字形の成形部材を
形成するように成形されていることを特徴とする請求項
8記載の方法。 10)第2のプラスチック部材がほぼ方形の成形部材を
形成するように成形されていることを特徴とする請求項
9記載の方法。 11)第1のプラスチック部材がほぼ方形の成形部材を
形成するように成形されていることを特徴とする請求項
12記載の方法。 12)第2のプラスチック部材がほぼ方形の成形部材を
形成するように成形されていることを特徴とする請求項
11記載の方法。 13)試験中に回路を支持するためのリードフレーム組
立体において、回路と、この回路に接続するための多数
のリードと、支持部分 と、この支持部分に対しリードを電気的絶縁かつ支持す
るための第1の絶縁性部材と、 リードを相互に電気的絶縁かつ支持するための第2の絶
縁性部材とを備えることを特徴とするリードフレーム組
立体。 14)第1の絶縁性部材に係合するための支持耳を更に
備え、支持部分が位置決め孔を画成 し、第1の絶縁性部材がほぼU字形であり、第2の絶縁
性部材がほぼ方形であることを特徴とする請求項13記
載のリードフレーム組立体。 15)支持部分が第1の絶縁性部材に係合するための支
持孔と位置決め孔とを画成し、第1の絶縁性部材がほぼ
方形であり、第2の絶縁性部材がほぼ方形であることを
特徴とする請求項13記載のリードフレーム組立体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/138,887 US4859632A (en) | 1987-12-28 | 1987-12-28 | Method for manufacturing the same |
US138887 | 1987-12-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH023262A true JPH023262A (ja) | 1990-01-08 |
JP2696772B2 JP2696772B2 (ja) | 1998-01-14 |
Family
ID=22484103
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63332768A Expired - Fee Related JP2696772B2 (ja) | 1987-12-28 | 1988-12-28 | リードフレーム組立体とその加工方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4859632A (ja) |
EP (1) | EP0331814B1 (ja) |
JP (1) | JP2696772B2 (ja) |
DE (1) | DE3885268T2 (ja) |
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