JPH02159548A - イオン濃度分析装置 - Google Patents
イオン濃度分析装置Info
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- JPH02159548A JPH02159548A JP63313235A JP31323588A JPH02159548A JP H02159548 A JPH02159548 A JP H02159548A JP 63313235 A JP63313235 A JP 63313235A JP 31323588 A JP31323588 A JP 31323588A JP H02159548 A JPH02159548 A JP H02159548A
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
〔産業上の利用分野〕
本発明は、イオン電極と比較電極とからなる一対のイオ
ン選択性電極を用いて溶液中のイオンtH度を分析する
イオン濃度分析装置に係り、特に装置に不具合が発生す
ると警報信号を出力する異常検知手段を備えたイオン濃
度分析装置に関する。
ン選択性電極を用いて溶液中のイオンtH度を分析する
イオン濃度分析装置に係り、特に装置に不具合が発生す
ると警報信号を出力する異常検知手段を備えたイオン濃
度分析装置に関する。
一般に、溶液中の特定イオン(例えば、Na” K”
Ca”、cl−、NO3−等)のイオン濃度を分析
する装置として、溶液中に挿入したイオン電極と比較電
極との間に生じる電位差を利用してイオン濃度を求める
フローセル形のイオン濃度分析装置が知られている。
Ca”、cl−、NO3−等)のイオン濃度を分析
する装置として、溶液中に挿入したイオン電極と比較電
極との間に生じる電位差を利用してイオン濃度を求める
フローセル形のイオン濃度分析装置が知られている。
このようなイオン濃度分析装置は第3図に示すように、
イオン電極1と比較電極2とを気密に取付けた測定セル
(フローセル)3が設置され、このΔ−1定セル3内に
は試料液容器4から試料液、第1の校正液容器5から予
めイオン濃度の設定されている低濃度(C1)の校正液
、さらに第2の校正液容器6から予めイオン濃度の設定
されている高濃度(C2)の校正液がそれぞれ配管7を
通して供給され、またn1定セル3内のハ1定後の液体
は排液配管8を介して排液容器9へ送り出す構成となっ
ている。なお、供給配管7にはn1定セル3内へ校正液
または試料液を供給するためのポンプ10が接続される
と共に、試料液容器4または第1の校正液容器5若しく
は第2の校正液容器6のいずれかの切換えを行なう第1
の三方向電磁弁11と、第1の校正液容器5または第2
の校正液容器6のいずれかの切換えを行なう第2の三方
向電磁弁12が付設されている。一方、測定セル3には
イオン電極1と比較電極2との間に生じる電位差(以下
、「電極電位」と称する)を検出する電位差計13が電
気的に接続され、さらにこの電位差計13には演算処理
部と記憶部とを有し所定の演算を実行し後述するイオン
濃度測定信号を出力する演算処理手段14が接続されて
いる。なお、4シ1定セル3.配管7.8および容器4
〜6等はプラスチック材料で形成されており、配管7と
各種の容器4〜6との接合部は気密に接合されている。
イオン電極1と比較電極2とを気密に取付けた測定セル
(フローセル)3が設置され、このΔ−1定セル3内に
は試料液容器4から試料液、第1の校正液容器5から予
めイオン濃度の設定されている低濃度(C1)の校正液
、さらに第2の校正液容器6から予めイオン濃度の設定
されている高濃度(C2)の校正液がそれぞれ配管7を
通して供給され、またn1定セル3内のハ1定後の液体
は排液配管8を介して排液容器9へ送り出す構成となっ
ている。なお、供給配管7にはn1定セル3内へ校正液
または試料液を供給するためのポンプ10が接続される
と共に、試料液容器4または第1の校正液容器5若しく
は第2の校正液容器6のいずれかの切換えを行なう第1
の三方向電磁弁11と、第1の校正液容器5または第2
の校正液容器6のいずれかの切換えを行なう第2の三方
向電磁弁12が付設されている。一方、測定セル3には
イオン電極1と比較電極2との間に生じる電位差(以下
、「電極電位」と称する)を検出する電位差計13が電
気的に接続され、さらにこの電位差計13には演算処理
部と記憶部とを有し所定の演算を実行し後述するイオン
濃度測定信号を出力する演算処理手段14が接続されて
いる。なお、4シ1定セル3.配管7.8および容器4
〜6等はプラスチック材料で形成されており、配管7と
各種の容器4〜6との接合部は気密に接合されている。
以上のように構成されたイオン濃度分析装置を用いて、
試料液のイオン濃度を分析する場合、第1の三方向電磁
弁11を校正液容器5,6側に切換え、第2の三方向電
磁弁12を低濃度の校正液が入っている第1の校正液容
器5側に切換えた後、ポンプ10を動作させて測定セル
3内に低濃度の校正液を導入する。このとき電位差計1
3は2つの電極1,2の出力から電極電位E1を測定す
ると、演算処理手段14ではその電極・電位E1を取込
んで記憶部に記憶する。この電極電位E1の記憶後、測
定セル3内の低濃度の校正液を排液配管8を介して排液
容器9内に排出する。次に、第2の三方向電磁弁12を
高濃度の校正液が入っている第2の校正液容器6側に切
換え、ポンプ10を動作させて高濃度の校正液を711
1定セル3内に導入する。このとき、前記同様に演算処
理手段14は電位差計13で測定された電極電位E2を
取込んで記憶部に記憶する。そして、電極電位E2の記
憶後、同様に測定セル3内の高濃度の校正液を排出する
。演算処理手段14では、記憶部に記憶した電極電位E
1およびE2と各校正液のイオン濃度C1およびC2と
に基づいた演算処理を行って、第4図に示す検量線Aを
算出し、この検量線Aの式を記憶部に記憶する。最後に
第1の三方向電磁弁11を試料液容器4側に切換え、ポ
ンプ10を動作させて試料液を測定セル3内に導入する
。ここで、演算処理手段14は電位差計13で測定され
た電極電位E3を取込んだ後、記憶部に記憶されている
検JatiAの式に代入して試料液のイオン濃度C3を
求める演算処理を行い、得られたイオン濃度測定信号を
記憶あるいは外部へ出力する。
試料液のイオン濃度を分析する場合、第1の三方向電磁
弁11を校正液容器5,6側に切換え、第2の三方向電
磁弁12を低濃度の校正液が入っている第1の校正液容
器5側に切換えた後、ポンプ10を動作させて測定セル
3内に低濃度の校正液を導入する。このとき電位差計1
3は2つの電極1,2の出力から電極電位E1を測定す
ると、演算処理手段14ではその電極・電位E1を取込
んで記憶部に記憶する。この電極電位E1の記憶後、測
定セル3内の低濃度の校正液を排液配管8を介して排液
容器9内に排出する。次に、第2の三方向電磁弁12を
高濃度の校正液が入っている第2の校正液容器6側に切
換え、ポンプ10を動作させて高濃度の校正液を711
1定セル3内に導入する。このとき、前記同様に演算処
理手段14は電位差計13で測定された電極電位E2を
取込んで記憶部に記憶する。そして、電極電位E2の記
憶後、同様に測定セル3内の高濃度の校正液を排出する
。演算処理手段14では、記憶部に記憶した電極電位E
1およびE2と各校正液のイオン濃度C1およびC2と
に基づいた演算処理を行って、第4図に示す検量線Aを
算出し、この検量線Aの式を記憶部に記憶する。最後に
第1の三方向電磁弁11を試料液容器4側に切換え、ポ
ンプ10を動作させて試料液を測定セル3内に導入する
。ここで、演算処理手段14は電位差計13で測定され
た電極電位E3を取込んだ後、記憶部に記憶されている
検JatiAの式に代入して試料液のイオン濃度C3を
求める演算処理を行い、得られたイオン濃度測定信号を
記憶あるいは外部へ出力する。
このように上記イオン濃度分析装置は、測定セル3中へ
イオン濃度の異なる校正液を自動的に順次送り込み、そ
れぞれの校正液の電極電位El。
イオン濃度の異なる校正液を自動的に順次送り込み、そ
れぞれの校正液の電極電位El。
E2から検量線Aの式を比較的短時間のうちに自動的に
設定し、試料液の電極電位E3を検量線Aの式に代入し
て試料液のイオン濃度を求めるようにしている。
設定し、試料液の電極電位E3を検量線Aの式に代入し
て試料液のイオン濃度を求めるようにしている。
ところで、上記イオン濃度分析装置に、例えば供給配管
7.排液配管8または三方向電磁弁11゜12に詰まり
が生じたり、供給配管7の各部の接続部から溶液が漏れ
出したり、あるいはポンプ10が正常に動作しなくなる
と、測定セル3内へi1?1定に必要な量の校正液、試
料液が送り込まれなくなったり、′A−1定セル3から
校正液、試料液が排出されずに留まり後から4P1定セ
ル3内に送り込まれてくる校正液または試料液と混合し
てしまい、正確な電極電位El、E2.E3の測定がで
きなくなり、誤ったイオン濃度n1定信号が出力されて
、誤ったイオン濃度分析が行われることになる。
7.排液配管8または三方向電磁弁11゜12に詰まり
が生じたり、供給配管7の各部の接続部から溶液が漏れ
出したり、あるいはポンプ10が正常に動作しなくなる
と、測定セル3内へi1?1定に必要な量の校正液、試
料液が送り込まれなくなったり、′A−1定セル3から
校正液、試料液が排出されずに留まり後から4P1定セ
ル3内に送り込まれてくる校正液または試料液と混合し
てしまい、正確な電極電位El、E2.E3の測定がで
きなくなり、誤ったイオン濃度n1定信号が出力されて
、誤ったイオン濃度分析が行われることになる。
〔発明が解決しようとする疎通〕
そこで、上記のような異常が発生した場合は、できるだ
け速くその異常を発見し適当な処置を講じる必要がある
が、検量線は短時間のうちに次々と自動的に設定されて
いくため、作業者が1l)J定中に装置の異常および検
量線の信頼性を判断することは極めて困難であり、その
ため装置に異常が発生しても早期に発見することができ
ず、異常の発生に気付かないまま測定を行う可能性が高
かった。
け速くその異常を発見し適当な処置を講じる必要がある
が、検量線は短時間のうちに次々と自動的に設定されて
いくため、作業者が1l)J定中に装置の異常および検
量線の信頼性を判断することは極めて困難であり、その
ため装置に異常が発生しても早期に発見することができ
ず、異常の発生に気付かないまま測定を行う可能性が高
かった。
本発明は上記問題を除去するためになされたもので、常
時検量線の信頼性を監視し、装置に異常が発生したとき
それを速やかに検知し、常に信頼性の高い測定データを
取得し得るイオン濃度分析装置を提供することを目的と
する。
時検量線の信頼性を監視し、装置に異常が発生したとき
それを速やかに検知し、常に信頼性の高い測定データを
取得し得るイオン濃度分析装置を提供することを目的と
する。
[発明の構成]
〔課題を解決するための手段〕
本発明によるイオン濃度分析装置は上記目的を達成する
ために、予めイオン濃度が設定されている校正液2およ
びイオン濃度の1lIJ定対象である試料液が所定の順
序で導入される測定セルと、この測定セルに導入された
前記校正液および試料液のそれぞれのイオン濃度に応じ
た電位を発生する一対のイオン選択性電極と、この一対
のイオン選択性電極間に生じた電位に基づいて前記校正
液のイオン濃度とその校正液の電位との関係を示す検量
線を算出し、かつこの算出した検量線に基づいてこの検
量線の電位勾配よび前記試料液のイオン濃度を算出する
演算処理手段と、この演算処理手段により算出さIた前
記検量線の電位勾配と予め設定されている検量線の正常
勾配範囲とを比較し、前記er算処理手段で算出された
検量線の電位勾配が予め設定されている正常勾配範囲を
越えたときに警報信号を出力する異常検知手段とを備え
るものとした。
ために、予めイオン濃度が設定されている校正液2およ
びイオン濃度の1lIJ定対象である試料液が所定の順
序で導入される測定セルと、この測定セルに導入された
前記校正液および試料液のそれぞれのイオン濃度に応じ
た電位を発生する一対のイオン選択性電極と、この一対
のイオン選択性電極間に生じた電位に基づいて前記校正
液のイオン濃度とその校正液の電位との関係を示す検量
線を算出し、かつこの算出した検量線に基づいてこの検
量線の電位勾配よび前記試料液のイオン濃度を算出する
演算処理手段と、この演算処理手段により算出さIた前
記検量線の電位勾配と予め設定されている検量線の正常
勾配範囲とを比較し、前記er算処理手段で算出された
検量線の電位勾配が予め設定されている正常勾配範囲を
越えたときに警報信号を出力する異常検知手段とを備え
るものとした。
従って、本発明は以上のような手段を講じたことにより
、CI定セルに順次導入された校正液および試料液のイ
オン濃度に応じた電位をイオン選択性電極でそれぞれa
PI定し、この1lPI定された校正液の電位とその校
正液のイオン濃度に基づいて特定イオンのイオン濃度と
その濃度に応じた電位との関係を示す検量線の式が算出
され、かつこの算出1−だ検量線の式に上記試料液の電
位を代入し、試料液のイオン濃度分析結果を算出する。
、CI定セルに順次導入された校正液および試料液のイ
オン濃度に応じた電位をイオン選択性電極でそれぞれa
PI定し、この1lPI定された校正液の電位とその校
正液のイオン濃度に基づいて特定イオンのイオン濃度と
その濃度に応じた電位との関係を示す検量線の式が算出
され、かつこの算出1−だ検量線の式に上記試料液の電
位を代入し、試料液のイオン濃度分析結果を算出する。
また、演算処理手段で算出された検量線の傾きである電
位勾配の勾配値が異常検知手段に入力され、予め設定さ
れている電位勾配の正常勾配範囲と比較され、演算処理
手段から入力された検量線の勾配値が正常勾配範囲を越
えている場合には、装置に何らかの異常が発生1.てい
るとして警報信号を出力するものである。
位勾配の勾配値が異常検知手段に入力され、予め設定さ
れている電位勾配の正常勾配範囲と比較され、演算処理
手段から入力された検量線の勾配値が正常勾配範囲を越
えている場合には、装置に何らかの異常が発生1.てい
るとして警報信号を出力するものである。
以下、本発明装置の一実施例について第1図および第2
図を参照して説明する。なお、本発明装置において第3
図と同一部分には同一の符号を付して詳しい説明は省略
する。すなわち、この装置は、第3図に示す如く液洪排
系、一部改良を加えたイオン濃度測定処理系および新た
に付加された異常検知手段20等で構成されている。
図を参照して説明する。なお、本発明装置において第3
図と同一部分には同一の符号を付して詳しい説明は省略
する。すなわち、この装置は、第3図に示す如く液洪排
系、一部改良を加えたイオン濃度測定処理系および新た
に付加された異常検知手段20等で構成されている。
前記液洪排系は、前述と同様に第1の校正液容器5、第
2の校正液容器6、試料液容器4から第1、第2の校正
液、試料液が三方向電磁弁12゜11、ポンプ10.供
給配管7を通って測定セル3に供給され、また測定セル
3内の測定後の液体は排液配管8を通して排液容器9へ
排出される構成となっている。
2の校正液容器6、試料液容器4から第1、第2の校正
液、試料液が三方向電磁弁12゜11、ポンプ10.供
給配管7を通って測定セル3に供給され、また測定セル
3内の測定後の液体は排液配管8を通して排液容器9へ
排出される構成となっている。
前記イオン濃度測定処理系は、測定セル3内のイオン電
極1および比較電極2の出力から、第1の校正液容器5
からの低濃度校正液、第2の校正液容器6からの高濃度
校正液、試料液容器4からの試料液について電極電位E
l、E2.E3をそれぞれ個別に測定する電位差計13
のほか、演算処理手段14′が設けられている。この演
算処理手段14′は電位差計13で測定された電1電位
E1.E2から検量線Aの式を算出し、この検量線Aの
式に基づいて電極電位E3のイオン濃度を算出し、さら
に校正液の電極電位から求めた検量線の電位勾配(電極
電位)/(イオン濃度)の勾配値を演算処理1.て求め
、異常検知手段20へ送出する機能を持っCいる。
極1および比較電極2の出力から、第1の校正液容器5
からの低濃度校正液、第2の校正液容器6からの高濃度
校正液、試料液容器4からの試料液について電極電位E
l、E2.E3をそれぞれ個別に測定する電位差計13
のほか、演算処理手段14′が設けられている。この演
算処理手段14′は電位差計13で測定された電1電位
E1.E2から検量線Aの式を算出し、この検量線Aの
式に基づいて電極電位E3のイオン濃度を算出し、さら
に校正液の電極電位から求めた検量線の電位勾配(電極
電位)/(イオン濃度)の勾配値を演算処理1.て求め
、異常検知手段20へ送出する機能を持っCいる。
前記異常検知手段20は、検量線の電位勾配の正常勾配
範囲を設定するための設定器21と、設定器21で設定
した正常勾配範囲と演算処理手段14′から入力される
検量線の勾配値とを比較する比較回路22と、この比較
回路22の比較結果に応じて警報信号を出力する警報回
路23とを備えている。
範囲を設定するための設定器21と、設定器21で設定
した正常勾配範囲と演算処理手段14′から入力される
検量線の勾配値とを比較する比較回路22と、この比較
回路22の比較結果に応じて警報信号を出力する警報回
路23とを備えている。
このように構成されたイオン濃度分析装置の動作につい
て説明する。低濃度(C1)および高濃度(C2)の校
正液を測定セル3に順次導入し、そのときの電極電位E
l、E2を電位差計13でそれぞれ11Pl定し、この
測定した校正液の電極電位El、E2を演算処理手段1
4′で取込み、第4図に示す検量線Aの式を算出して記
憶部に記憶する。しかる後、演算処理手段14′は電位
差計13で測定した試料液の電極電位E3を取込み、こ
の電極電位E3を既に記憶部に記憶している検量線Aの
式に代入して試料液のイオン濃度C3を求める演算処理
を行い、その演算処理結果としてイオン濃度測定信号を
出力する。また、演算処理手段14′は検量線Aの電位
勾配(E2−El)/ (C2−CI)を演算処理して
求め、この求めた勾配値を比較回路22に送出する。比
較回路22では、設定器21で予め設定した第2図に示
す斜線領域Bのような検量線の正常勾配範囲と演算処理
手段14′から入力された勾配値とを比較し、演算処理
回路13から入力された勾配値が第2図に示すAA線の
ように正常勾配範囲B内に入っていないとき異常信号を
出力する。警報回路23はその異常信号を受けて警報信
号を出力する。
て説明する。低濃度(C1)および高濃度(C2)の校
正液を測定セル3に順次導入し、そのときの電極電位E
l、E2を電位差計13でそれぞれ11Pl定し、この
測定した校正液の電極電位El、E2を演算処理手段1
4′で取込み、第4図に示す検量線Aの式を算出して記
憶部に記憶する。しかる後、演算処理手段14′は電位
差計13で測定した試料液の電極電位E3を取込み、こ
の電極電位E3を既に記憶部に記憶している検量線Aの
式に代入して試料液のイオン濃度C3を求める演算処理
を行い、その演算処理結果としてイオン濃度測定信号を
出力する。また、演算処理手段14′は検量線Aの電位
勾配(E2−El)/ (C2−CI)を演算処理して
求め、この求めた勾配値を比較回路22に送出する。比
較回路22では、設定器21で予め設定した第2図に示
す斜線領域Bのような検量線の正常勾配範囲と演算処理
手段14′から入力された勾配値とを比較し、演算処理
回路13から入力された勾配値が第2図に示すAA線の
ように正常勾配範囲B内に入っていないとき異常信号を
出力する。警報回路23はその異常信号を受けて警報信
号を出力する。
従って、以上のような本実施例の構成によれば、予め設
定した!!2im線の正常勾配範囲と実際に測定し演算
処理手段14′で算出された検m!Iの勾配値とを比較
し警報信号を出力するようにしたので、給液配管7.排
液配管9または第1および第2の三方向電磁弁11.1
2内での詰まりゃ、配管7゜8の接続部における液漏れ
、さらにはポンプ10の不動作等によって異常が発生す
ると、測定セル3において正常な電極電位のAI定が行
なわれなくなるので、自動的かつ速やかに異常の発生を
検知して、警報信号を出力できる。したがって、装置に
不具合が発生したとき速やかに作業者に知らせることが
でき、作業者はその警報に基づいて迅速に適切な処置を
講じることができ、常に信頼性の高い測定結果を得るこ
とができる。
定した!!2im線の正常勾配範囲と実際に測定し演算
処理手段14′で算出された検m!Iの勾配値とを比較
し警報信号を出力するようにしたので、給液配管7.排
液配管9または第1および第2の三方向電磁弁11.1
2内での詰まりゃ、配管7゜8の接続部における液漏れ
、さらにはポンプ10の不動作等によって異常が発生す
ると、測定セル3において正常な電極電位のAI定が行
なわれなくなるので、自動的かつ速やかに異常の発生を
検知して、警報信号を出力できる。したがって、装置に
不具合が発生したとき速やかに作業者に知らせることが
でき、作業者はその警報に基づいて迅速に適切な処置を
講じることができ、常に信頼性の高い測定結果を得るこ
とができる。
また、イオン電極1および比較電極2自体の劣化が電位
勾配の異常として現われるので、各電極1.2の交換時
期を知ることができる。
勾配の異常として現われるので、各電極1.2の交換時
期を知ることができる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能であ
る。
本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能であ
る。
[発明の効果]
以上詳記したように本発明によれば、装置に異常が発生
したとき速やかに検知することができ、作業者はその異
常発生に対し適切な措置を講じることができ、常に信頼
性の高い測定データを得ることのできるイオン濃度分析
装置を提供できる。
したとき速やかに検知することができ、作業者はその異
常発生に対し適切な措置を講じることができ、常に信頼
性の高い測定データを得ることのできるイオン濃度分析
装置を提供できる。
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は正常勾配
範囲を説明するための図、第3図は従来のイオン濃度分
析装置の構成図、第4図は検量線を示す図である。 1・・・イオン電極、2・・・比較電極、3・・・測定
セル、4・・・試料液容器、5・・・第1の校正液容器
、6・・・第2の校正液容器、13・・−電位差計、1
4′・・・演算処理手段、20・・・異常検知手段、2
1・・・設定器、22・・・比較回路、23・・・警報
回路。
範囲を説明するための図、第3図は従来のイオン濃度分
析装置の構成図、第4図は検量線を示す図である。 1・・・イオン電極、2・・・比較電極、3・・・測定
セル、4・・・試料液容器、5・・・第1の校正液容器
、6・・・第2の校正液容器、13・・−電位差計、1
4′・・・演算処理手段、20・・・異常検知手段、2
1・・・設定器、22・・・比較回路、23・・・警報
回路。
Claims (1)
- 予めイオン濃度が設定されている校正液およびイオン濃
度の測定対象である試料液が所定の順序で導入される測
定セルと、この測定セルに導入された前記校正液および
試料液のそれぞれのイオン濃度に応じた電位を発生する
一対のイオン選択性電極と、この一対のイオン選択性電
極間に生じた電位に基づいて前記校正液のイオン濃度と
その校正液の電位との関係を示す検量線を算出し、かつ
この算出した検量線に基づいてこの検量線の電位勾配お
よび前記試料液のイオン濃度を算出する演算処理手段と
、この演算処理手段により算出された前記検量線の電位
勾配と予め設定されている検量線の正常勾配範囲とを比
較し、前記演算処理手段で算出された検量線の電位勾配
が予め設定されている正常勾配範囲を越えたときに警報
信号を出力する異常検知手段とを具備したことを特徴と
するイオン濃度分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63313235A JPH02159548A (ja) | 1988-12-12 | 1988-12-12 | イオン濃度分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63313235A JPH02159548A (ja) | 1988-12-12 | 1988-12-12 | イオン濃度分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02159548A true JPH02159548A (ja) | 1990-06-19 |
Family
ID=18038739
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63313235A Pending JPH02159548A (ja) | 1988-12-12 | 1988-12-12 | イオン濃度分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02159548A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009060727A1 (ja) * | 2007-11-09 | 2009-05-14 | Olympus Corporation | 分析装置 |
WO2011034170A1 (ja) | 2009-09-18 | 2011-03-24 | 日立化成工業株式会社 | イオン選択性電極カートリッジ |
WO2011034169A1 (ja) * | 2009-09-18 | 2011-03-24 | 日立化成工業株式会社 | 自動分析装置 |
CN103675047A (zh) * | 2012-09-14 | 2014-03-26 | 株式会社百利达 | 生物传感器的校正方法 |
-
1988
- 1988-12-12 JP JP63313235A patent/JPH02159548A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009060727A1 (ja) * | 2007-11-09 | 2009-05-14 | Olympus Corporation | 分析装置 |
CN101855544A (zh) * | 2007-11-09 | 2010-10-06 | 贝克曼考尔特公司 | 分析装置 |
WO2011034170A1 (ja) | 2009-09-18 | 2011-03-24 | 日立化成工業株式会社 | イオン選択性電極カートリッジ |
WO2011034169A1 (ja) * | 2009-09-18 | 2011-03-24 | 日立化成工業株式会社 | 自動分析装置 |
CN102483385A (zh) * | 2009-09-18 | 2012-05-30 | 日立化成工业株式会社 | 离子选择性电极盒 |
JP5505420B2 (ja) * | 2009-09-18 | 2014-05-28 | 日立化成株式会社 | イオン選択性電極カートリッジ |
CN103675047A (zh) * | 2012-09-14 | 2014-03-26 | 株式会社百利达 | 生物传感器的校正方法 |
JP2014059184A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Tanita Corp | バイオセンサの校正方法 |
US8975080B2 (en) | 2012-09-14 | 2015-03-10 | Tanita Corporation | Biosensor calibration method |
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