JPH09232692A - 半導体レーザ装置 - Google Patents
半導体レーザ装置Info
- Publication number
- JPH09232692A JPH09232692A JP9018753A JP1875397A JPH09232692A JP H09232692 A JPH09232692 A JP H09232692A JP 9018753 A JP9018753 A JP 9018753A JP 1875397 A JP1875397 A JP 1875397A JP H09232692 A JPH09232692 A JP H09232692A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- optical fiber
- laser
- semiconductor
- mode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y20/00—Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/34—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
- H01S5/343—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/34313—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer having only As as V-compound, e.g. AlGaAs, InGaAs
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S2301/00—Functional characteristics
- H01S2301/18—Semiconductor lasers with special structural design for influencing the near- or far-field
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S2302/00—Amplification / lasing wavelength
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/2004—Confining in the direction perpendicular to the layer structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/2054—Methods of obtaining the confinement
- H01S5/2081—Methods of obtaining the confinement using special etching techniques
- H01S5/209—Methods of obtaining the confinement using special etching techniques special etch stop layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/3211—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures characterised by special cladding layers, e.g. details on band-discontinuities
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Geometry (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Lasers (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 低ビーム発散の半導体レーザを提供する。
【解決手段】 基板上に半導体層構造体と、この半導体
層構造体に電流を流す接点とを有する半導体レーザ(7
9)を有する装置において、前記半導体層構造体は、第
1導電型の少なくとも1つの層と第2導電型の少なくと
も1つの層と、前記第1導電型の層と第2導電型の層と
の間に活性領域とを有し、前記下部クラッド層と上部ク
ラッド層の各々は、少なくとも1つのモード整形層(1
3,17)を有する。本発明の半導体層構造体はAlを
含有せず、4元のIII/V属半導体材料を含有しな
い。
層構造体に電流を流す接点とを有する半導体レーザ(7
9)を有する装置において、前記半導体層構造体は、第
1導電型の少なくとも1つの層と第2導電型の少なくと
も1つの層と、前記第1導電型の層と第2導電型の層と
の間に活性領域とを有し、前記下部クラッド層と上部ク
ラッド層の各々は、少なくとも1つのモード整形層(1
3,17)を有する。本発明の半導体層構造体はAlを
含有せず、4元のIII/V属半導体材料を含有しな
い。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザに関
する。
する。
【0002】
【従来の技術】半導体レーザは、コンパクトディスクプ
レイヤから光ファイバ通信システムに至るまでの様々な
商業的分野で用いられている。半導体レーザは、楕円状
断面の出力ビームを有し、少なくとも一方向に通常横断
方向(即ち半導体レーザの軸方向と層方向の両方に直交
する方向)にかなり拡散している。このビームの拡散
は、レーザ出力ビームを光ファイバのコアに結合するよ
うな応用分野においては、不利な点であり、そのため大
きな結合損失が生じてしまう。
レイヤから光ファイバ通信システムに至るまでの様々な
商業的分野で用いられている。半導体レーザは、楕円状
断面の出力ビームを有し、少なくとも一方向に通常横断
方向(即ち半導体レーザの軸方向と層方向の両方に直交
する方向)にかなり拡散している。このビームの拡散
は、レーザ出力ビームを光ファイバのコアに結合するよ
うな応用分野においては、不利な点であり、そのため大
きな結合損失が生じてしまう。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】したがって本発明の目
的は、ビーム発散が少ないの半導体レーザを提供するこ
とである。
的は、ビーム発散が少ないの半導体レーザを提供するこ
とである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体レーザ装
置は、請求項1に記載したような構成を有している。本
発明の半導体層構造体はAlを含有せず、4元のIII
/V属半導体材料を含有しない。例えば、本発明による
半導体レーザは、エルビウムドープの光ファイバ(ED
FA)用の980nmのポンプレーザである。本発明の
半導体レーザは、スプレッドインデックス(Spread-Ind
ex(SPIN))レーザと称する。
置は、請求項1に記載したような構成を有している。本
発明の半導体層構造体はAlを含有せず、4元のIII
/V属半導体材料を含有しない。例えば、本発明による
半導体レーザは、エルビウムドープの光ファイバ(ED
FA)用の980nmのポンプレーザである。本発明の
半導体レーザは、スプレッドインデックス(Spread-Ind
ex(SPIN))レーザと称する。
【0005】
【発明の実施の形態】本発明のSPINレーザの半導体
層構造体を表1に示す。図1には、本発明の層構造体の
導電バンドエッジを示す。このような表現方法は、従来
公知のもので説明の必要はないと考える。
層構造体を表1に示す。図1には、本発明の層構造体の
導電バンドエッジを示す。このような表現方法は、従来
公知のもので説明の必要はないと考える。
【0006】 表 1 材料 ドーピング 層厚 GaAsキャップ層 p++ − InGaP p 1.3μm GaAsモード整形層 p 75nm InGaP p 0.3μm GaAsエッチストップ層 p 2nm InGaP p 0.2μm GaAs/InGaAs活性層 アンドープ 3×20nm/2×7nm InGaP n 0.5μm GaAsモード整形層 n 75nm InGaP n 1.3μm GaAs基板 n+ −
【0007】図1においてn+ GaAs基板11の上に
下部クラッド層の下側部分120と下部クラッド層の上
側部分121が形成されている。アンドープ活性領域1
4は2個の歪んだ7nm厚のInGaAs量子井戸と、
20nm厚のGaAsバリア層とを含む。このアンドー
プ活性領域14の上に(pInGaP)上部クラッド層
の各部分150,151,152が形成され、さらにそ
の上にp++GaAsキャップ層18が形成される。選択
的層として2nmpGaAsのエッチストップ層16
は、従来のようなエッチングされたメサの深さを規定す
るよう機能する。モード整形層13が下部クラッド層の
下側部分120と下部クラッド層の上側部分121の間
に形成され75nm厚のnGaAsであり、モード整形
層17が上部クラッド層の各部分151と152の間に
形成され75nm厚のpGaAsで、それぞれはアンド
ープ活性領域14から0.5μmだけ離れて形成されて
いる。別の構成例としてモード整形層13,17は、G
aAsP層でもよい。
下部クラッド層の下側部分120と下部クラッド層の上
側部分121が形成されている。アンドープ活性領域1
4は2個の歪んだ7nm厚のInGaAs量子井戸と、
20nm厚のGaAsバリア層とを含む。このアンドー
プ活性領域14の上に(pInGaP)上部クラッド層
の各部分150,151,152が形成され、さらにそ
の上にp++GaAsキャップ層18が形成される。選択
的層として2nmpGaAsのエッチストップ層16
は、従来のようなエッチングされたメサの深さを規定す
るよう機能する。モード整形層13が下部クラッド層の
下側部分120と下部クラッド層の上側部分121の間
に形成され75nm厚のnGaAsであり、モード整形
層17が上部クラッド層の各部分151と152の間に
形成され75nm厚のpGaAsで、それぞれはアンド
ープ活性領域14から0.5μmだけ離れて形成されて
いる。別の構成例としてモード整形層13,17は、G
aAsP層でもよい。
【0008】この本発明の半導体層構造体は、従来の成
長技術(例、MOCVD)により成長され、従来の方法
により処理してストライプ形状層を形成する。一般的に
メサの幅は3μmである。接点を従来法により具備させ
る。
長技術(例、MOCVD)により成長され、従来の方法
により処理してストライプ形状層を形成する。一般的に
メサの幅は3μmである。接点を従来法により具備させ
る。
【0009】この層構造体は、波長λ(例980nm)
のレーザ放射用の導波路として機能する。特にアンドー
プ活性領域14の有効屈折率は、隣接する層(121と
150)の両方の屈折率よりも大きい。このアンドープ
活性領域14は導波路のコアとして機能し、下部クラッ
ド層の上側部分121,下部クラッド層の下側部分12
0は下部クラッド層として、上部クラッド層の各部分1
50,151,152は上部クラッド層として機能す
る。
のレーザ放射用の導波路として機能する。特にアンドー
プ活性領域14の有効屈折率は、隣接する層(121と
150)の両方の屈折率よりも大きい。このアンドープ
活性領域14は導波路のコアとして機能し、下部クラッ
ド層の上側部分121,下部クラッド層の下側部分12
0は下部クラッド層として、上部クラッド層の各部分1
50,151,152は上部クラッド層として機能す
る。
【0010】モード整形層13,17が存在しない場合
には、基本レーザモードは、図2に示すようにコア領域
にその中心を有する1個のピークを有する。同図は、バ
ンドギャップエネルギと上部表面からの深さとの関係を
示し、特徴点24と26は、それぞれアンドープ活性領
域14,エッチストップ層16に対応する。モード整形
層13,17を具備することにより基本モードの形状を
含めてレーザモードの形状が変化する。これを図3に示
す。同図は、正規化した電界振幅プロファイルとバンド
ギャップエネルギとの関係を示し、両者とも上部表面か
らの深さの関数である。特徴点33,37は、それぞれ
モード整形層13,17に対応する。
には、基本レーザモードは、図2に示すようにコア領域
にその中心を有する1個のピークを有する。同図は、バ
ンドギャップエネルギと上部表面からの深さとの関係を
示し、特徴点24と26は、それぞれアンドープ活性領
域14,エッチストップ層16に対応する。モード整形
層13,17を具備することにより基本モードの形状を
含めてレーザモードの形状が変化する。これを図3に示
す。同図は、正規化した電界振幅プロファイルとバンド
ギャップエネルギとの関係を示し、両者とも上部表面か
らの深さの関数である。特徴点33,37は、それぞれ
モード整形層13,17に対応する。
【0011】本発明のSPINレーザは、3つのモード
を有するが、第3次モードは、ゲイン領域とオーバラッ
プし、無視することができる。基本モードは、活性領域
にそのピークを有し、そしてモード整形層に2個の次の
ピークを有する。基本モードの計算上の活性領域閉じ込
め係数は2.37%である。2次モードは、活性領域に
そのピークを有し、計算上の閉じ込め係数は2.21%
である。
を有するが、第3次モードは、ゲイン領域とオーバラッ
プし、無視することができる。基本モードは、活性領域
にそのピークを有し、そしてモード整形層に2個の次の
ピークを有する。基本モードの計算上の活性領域閉じ込
め係数は2.37%である。2次モードは、活性領域に
そのピークを有し、計算上の閉じ込め係数は2.21%
である。
【0012】モード整形層の厚さと活性領域からのそれ
ぞれの距離とそれぞれの屈折率は、基本モードをクラッ
ド層に拡散させることに加えて、基本モードが2次モー
ドよりも活性領域でより高い閉じ込め係数を有し、その
結果全ての電流値に対し、レーザ発振動作を支配するよ
う選択される。当業者は容易にモード整形層の厚さと、
活性領域からの距離と屈折率をコンピュータシミュレー
ションにより市販されている様々なプログラムを用いて
計算決定できる。
ぞれの距離とそれぞれの屈折率は、基本モードをクラッ
ド層に拡散させることに加えて、基本モードが2次モー
ドよりも活性領域でより高い閉じ込め係数を有し、その
結果全ての電流値に対し、レーザ発振動作を支配するよ
う選択される。当業者は容易にモード整形層の厚さと、
活性領域からの距離と屈折率をコンピュータシミュレー
ションにより市販されている様々なプログラムを用いて
計算決定できる。
【0013】適切な大きさと適切な場所に形成されたモ
ード整形層は、モード整形層を有さないレーザに比較し
て横方向(基本)モードを拡散させ、その結果より広い
ビームスポット(放射面でより低いパワー密度)と、よ
り狭いファーフィールドが発生する。
ード整形層は、モード整形層を有さないレーザに比較し
て横方向(基本)モードを拡散させ、その結果より広い
ビームスポット(放射面でより低いパワー密度)と、よ
り狭いファーフィールドが発生する。
【0014】図4は、何種類かの駆動電流値に対し、強
度とファーフィールドの側面方向角(far-field latera
l angle) の関係を示す。測定されたFWHM(半値全
幅)の側面方向のファーフィールドアングルは26゜で
あった。これに対し、モード整形層を具備しないレーザ
のFWHMの側面方向のファーフィールドアングルは3
4゜である。横方向のファーフィールドアングルは10
゜で、これは3μmメサ幅に対応する。本発明のレーザ
は、29mAのしきい値電流と0.78W/Aの傾斜効
率を有する。
度とファーフィールドの側面方向角(far-field latera
l angle) の関係を示す。測定されたFWHM(半値全
幅)の側面方向のファーフィールドアングルは26゜で
あった。これに対し、モード整形層を具備しないレーザ
のFWHMの側面方向のファーフィールドアングルは3
4゜である。横方向のファーフィールドアングルは10
゜で、これは3μmメサ幅に対応する。本発明のレーザ
は、29mAのしきい値電流と0.78W/Aの傾斜効
率を有する。
【0015】あるビームスポットの楕円性に対しては、
結合ファイバは、光ファイバの開口数を適宜選択するこ
とにより最適化できる。最適な光ファイバの開口数(N
A)は、横断方向(transverse)の開口数と側面方向
(lateral) の開口数の幾何学的平均である。
結合ファイバは、光ファイバの開口数を適宜選択するこ
とにより最適化できる。最適な光ファイバの開口数(N
A)は、横断方向(transverse)の開口数と側面方向
(lateral) の開口数の幾何学的平均である。
【0016】図5は、本発明のスピンレーザのレーザ出
力パワー(λ=980nm)と、DC駆動電流との関係
を表すグラフである。
力パワー(λ=980nm)と、DC駆動電流との関係
を表すグラフである。
【0017】本発明のレーザの層構造は、Alを含有す
る半導体層は存在しない。このことは、Al酸化物を形
成するAlの公知の特徴の点から好ましい。さらに本発
明の層構造は、二元および三元の半導体III/V属材
料のみを含有する。これは特に活性領域と基板との間の
層に対しては、三元のIII/V属材料は、四元のII
I/V属材料に対し、より大きな伝熱性を有する(通常
4倍大きい)の観点から好ましいものである。このため
熱流通パスに四元の半導体材料が存在しない本発明のレ
ーザ構造は、熱の除去をより効率的に行うことができ、
その結果より高いパワーレベルでもって動作できる。
る半導体層は存在しない。このことは、Al酸化物を形
成するAlの公知の特徴の点から好ましい。さらに本発
明の層構造は、二元および三元の半導体III/V属材
料のみを含有する。これは特に活性領域と基板との間の
層に対しては、三元のIII/V属材料は、四元のII
I/V属材料に対し、より大きな伝熱性を有する(通常
4倍大きい)の観点から好ましいものである。このため
熱流通パスに四元の半導体材料が存在しない本発明のレ
ーザ構造は、熱の除去をより効率的に行うことができ、
その結果より高いパワーレベルでもって動作できる。
【0018】別の構成例としては、GaAsを層構造体
から取り除くことによりレーザの信頼性を改善すること
ができ、そしてInGaAsP層がGaAs層を置換す
るようなスピンレーザも可能である。
から取り除くことによりレーザの信頼性を改善すること
ができ、そしてInGaAsP層がGaAs層を置換す
るようなスピンレーザも可能である。
【0019】図6は、10゜の横断方向の発散を有し、
レーザビームをNA=0.4のレンズ付き光ファイバに
結合するためのレーザビームの結合効率と横方向のFW
HMの計算上のカーブで発散との関係を表すグラフであ
る。同図から分かるように理論的には、26゜の側面F
WHM発散に対しては、63%の結合効率がある。これ
は必ずしも最適ではない0.4NAのレンズ付き光ファ
イバに結合する、実験的に観測された結合効率値である
65%と極めて良く一致する。約0.3の最適なNAを
有する光ファイバを用いると、75%以上の結合効率が
得られると予測される。この値は、従来の個別の閉じ込
めヘテロ構造設計のレーザの結合効率よりも約2倍良
い。
レーザビームをNA=0.4のレンズ付き光ファイバに
結合するためのレーザビームの結合効率と横方向のFW
HMの計算上のカーブで発散との関係を表すグラフであ
る。同図から分かるように理論的には、26゜の側面F
WHM発散に対しては、63%の結合効率がある。これ
は必ずしも最適ではない0.4NAのレンズ付き光ファ
イバに結合する、実験的に観測された結合効率値である
65%と極めて良く一致する。約0.3の最適なNAを
有する光ファイバを用いると、75%以上の結合効率が
得られると予測される。この値は、従来の個別の閉じ込
めヘテロ構造設計のレーザの結合効率よりも約2倍良
い。
【0020】図7は、本発明による装置、即ち最適に増
幅された光ファイバ通信システム70を表す。この光フ
ァイバ通信システム70は、送信器71と受信機72と
伝送用光ファイバ73と稀土類ドープ(Erドープ)増
幅光ファイバ74とを有する。送信器71から信号放射
75が発振され、信号放射75が受信機72に受信され
る。その間にポンプレーザ79からのポンプ放射76が
カプラ78で稀土類ドープ増幅光ファイバ74と結合さ
れる。稀土類ドープ増幅光ファイバ74は伝送用光ファ
イバに溶融スプライス77の手段により信号を透過する
よう結合されたものである。従来のカプラ78は、ポン
プ放射76を稀土類ドープ増幅光ファイバ74に結合す
るよう機能し、ポンプレーザ79は、ポンプ放射76を
放出する。このポンプレーザ79は、本発明の低ビーム
発散のレーザである。
幅された光ファイバ通信システム70を表す。この光フ
ァイバ通信システム70は、送信器71と受信機72と
伝送用光ファイバ73と稀土類ドープ(Erドープ)増
幅光ファイバ74とを有する。送信器71から信号放射
75が発振され、信号放射75が受信機72に受信され
る。その間にポンプレーザ79からのポンプ放射76が
カプラ78で稀土類ドープ増幅光ファイバ74と結合さ
れる。稀土類ドープ増幅光ファイバ74は伝送用光ファ
イバに溶融スプライス77の手段により信号を透過する
よう結合されたものである。従来のカプラ78は、ポン
プ放射76を稀土類ドープ増幅光ファイバ74に結合す
るよう機能し、ポンプレーザ79は、ポンプ放射76を
放出する。このポンプレーザ79は、本発明の低ビーム
発散のレーザである。
【0021】
【発明の効果】以上本発明によれば、低ビーム発散の半
導体レーザを提供できる。
導体レーザを提供できる。
【図1】本発明のSPINレーザの層構造の導電バンド
エッジと横断方向との関係を表す図
エッジと横断方向との関係を表す図
【図2】従来技術に係る半導体レーザのバンドギャップ
エネルギプロファイルと電界分布を表す図
エネルギプロファイルと電界分布を表す図
【図3】本発明に係るSPINレーザのバンドギャップ
エネルギプロファイルと電界分布を表す図
エネルギプロファイルと電界分布を表す図
【図4】様々な駆動電流値に対する強度対遠方フィール
ド角(far field angle) との関係を表すグラフ
ド角(far field angle) との関係を表すグラフ
【図5】本発明のSPINレーザの出力パワー対駆動電
流の関係を表すグラフ
流の関係を表すグラフ
【図6】レーザビームの結合効率と横方向発散の計算カ
ーブを表す図
ーブを表す図
【図7】本発明による光ファイバ通信システムを表す図
10 本発明の層構造体 11 n+ GaAs基板 13,17 モード整形層 14 アンドープ活性領域 16 エッチストップ層 18 p++GaAsキャップ層 70 光ファイバ通信システム 71 送信器 72 受信機 73 伝送用光ファイバ 74 稀土類ドープ(Erドープ)増幅光ファイバ 75 信号放射 76 ポンプ放射 77 溶融スプライス 78 カプラ 79 ポンプレーザ 120 下部クラッド層の下側部分 121 下部クラッド層の上側部分 150,151,152 (pInGaP)上部クラッ
ド層の各部分
ド層の各部分
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 596077259 600 Mountain Avenue, Murray Hill, New Je rsey 07974−0636U.S.A. (72)発明者 ダリューシュ ヴァクショーリ アメリカ合衆国、07928 ニュージャージ ー、チャサム タウンシップ、キャンター バリー ロード 66
Claims (10)
- 【請求項1】 基板(11)上に半導体層構造体と、こ
の半導体層構造体に電流を流す接点とを有する半導体レ
ーザ(79)を有する装置(70)において、 前記半導体層構造体は、第1導電型の少なくとも1つの
層と第2導電型の少なくとも1つの層と、前記第1導電
型の層と第2導電型の層との間に活性領域とを有し、 前記半導体層構造体は、波長λのレーザ放射用の導波路
を形成し、 前記導波路は、下部クラッド層(120,121)と、
上部クラッド層(150,151,152)と、前記下
部クラッド層と上部クラッド層の間のコア領域(14)
とを有し、 前記コア領域(14)は、前記活性領域の少なくとも一
部を含み、波長λにおけるコア領域の有効屈折率は、前
記下部クラッド層と上部クラッド層の少なくとも一部の
有効屈折率よりも大きく、 前記下部クラッド層と上部クラッド層の各々は、少なく
とも1つのモード整形層(13,17)を有し、 波長λにおけるモード整形層(13,17)の屈折率
は、クラッド層の前記モード整形層に隣接する部分の屈
折率よりも大きく、 モード整形層とコア領域とのスペースおよびモード整形
層の屈折率は、レーザモードの直径が増加し、かつ横断
方向のレーザモードが安定するよう選択されることを特
徴とする半導体レーザ装置。 - 【請求項2】 前記半導体層構造体は、III/V属の
半導体層構造体であることを特徴とする請求項1の装
置。 - 【請求項3】 前記III/V属半導体層構造体は、ア
ルミ含有半導体層を含まないことを特徴とする請求項2
の装置。 - 【請求項4】 前記III/V属半導体層構造体は、前
記活性領域と前記基板との間に4元のIII/V属半導
体層を含まないことを特徴とする請求項2の装置。 - 【請求項5】 前記モード整形層(13,17)は、G
aAs,GaAsPからなるグループから選択された材
料から形成されることを特徴とする請求項2の装置。 - 【請求項6】 前記半導体レーザ(79)は、メサ型の
レーザで、 前記モード整形層(13,17)の1つは、メサエッチ
ングに際し、エッチストップ層として機能することを特
徴とする請求項5の装置。 - 【請求項7】 前記半導体レーザの出力放射を受光する
光ファイバをさらに有することを特徴とする請求項2の
装置。 - 【請求項8】 前記光ファイバの開口数(NA)は、
0.3であることを特徴とする請求項7の装置。 - 【請求項9】 前記装置は、稀土類ドープの増幅光ファ
イバと、ポンプ放射を前記増幅光ファイバに結合する手
段とを有する光ファイバ増幅器で、 前記結合手段は、光ファイバを有し、 前記レーザは、ポンプ放射を提供することを特徴とする
請求項7の装置。 - 【請求項10】 前記装置は、送信器と受信機と、前記
送信器と受信機とを接続する光ファイバ伝送パスとを有
する光ファイバ通信システムであり、 前記光ファイバ伝送パスは、光ファイバ増幅器を有する
ことを特徴とする請求項9の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US60242796A | 1996-02-16 | 1996-02-16 | |
US602427 | 1996-02-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09232692A true JPH09232692A (ja) | 1997-09-05 |
Family
ID=24411311
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9018753A Pending JPH09232692A (ja) | 1996-02-16 | 1997-01-31 | 半導体レーザ装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5815521A (ja) |
EP (1) | EP0790685B1 (ja) |
JP (1) | JPH09232692A (ja) |
DE (1) | DE69705559T2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004509478A (ja) * | 2000-09-20 | 2004-03-25 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 半導体レーザ |
WO2004027950A1 (ja) * | 2002-09-20 | 2004-04-01 | Mitsubishi Chemical Corporation | 半導体レーザ |
WO2005074081A1 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Nec Corporation | 半導体レーザ |
JP2007059488A (ja) * | 2005-08-22 | 2007-03-08 | Rohm Co Ltd | 半導体レーザ |
JP2010118508A (ja) * | 2008-11-13 | 2010-05-27 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ装置 |
US7792170B2 (en) | 2002-09-20 | 2010-09-07 | Mitsubishi Chemical Corporation | Semiconductor laser |
JP2010541214A (ja) * | 2007-09-24 | 2010-12-24 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | ビーム放射デバイスの製造方法およびビーム放射デバイス |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7251381B2 (en) | 2002-04-03 | 2007-07-31 | The Australian National University | Single-mode optical device |
US6993053B2 (en) | 2002-04-03 | 2006-01-31 | The Australian National University | Thin clad diode laser |
AUPS150702A0 (en) | 2002-04-03 | 2002-05-09 | Australian National University, The | A low divergence diode laser |
US6724795B2 (en) * | 2002-05-10 | 2004-04-20 | Bookham Technology, Plc | Semiconductor laser |
JP4615179B2 (ja) * | 2002-06-27 | 2011-01-19 | 古河電気工業株式会社 | 半導体レーザ装置、半導体レーザモジュールおよび光ファイバ増幅器 |
GB2406968B (en) * | 2003-10-11 | 2006-12-06 | Intense Photonics Ltd | Control of output beam divergence in a semiconductor waveguide device |
TWI290402B (en) * | 2003-10-24 | 2007-11-21 | Ind Tech Res Inst | Edge-emitting laser with circular beam |
US20050281298A1 (en) * | 2004-04-02 | 2005-12-22 | K2 Optronics | Analog external cavity laser |
US7057803B2 (en) * | 2004-06-30 | 2006-06-06 | Finisar Corporation | Linear optical amplifier using coupled waveguide induced feedback |
EP2015412B1 (en) * | 2007-07-06 | 2022-03-09 | Lumentum Operations LLC | Semiconductor laser with narrow beam divergence. |
DE102007061458A1 (de) | 2007-11-30 | 2009-06-04 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines strahlungsemittierenden Bauelements und strahlungsemittierendes Bauelement |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5451391A (en) * | 1977-09-30 | 1979-04-23 | Toshiba Corp | Photo coupler |
NZ197816A (en) * | 1980-08-18 | 1985-05-31 | Post Office | Fibre optics link suitable for data transmission within digital exchange |
JPH0212885A (ja) * | 1988-06-29 | 1990-01-17 | Nec Corp | 半導体レーザ及びその出射ビームの垂直放射角の制御方法 |
US5084880A (en) * | 1990-07-02 | 1992-01-28 | The United States Of America As Represented By The Sectretary Of The Navy | Erbium-doped fluorozirconate fiber laser pumped by a diode laser source |
US5088099A (en) * | 1990-12-20 | 1992-02-11 | At&T Bell Laboratories | Apparatus comprising a laser adapted for emission of single mode radiation having low transverse divergence |
JPH04303986A (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-27 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ装置 |
JPH05275798A (ja) * | 1992-03-25 | 1993-10-22 | Eastman Kodak Japan Kk | レーザダイオード |
JPH06318754A (ja) * | 1993-05-10 | 1994-11-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ファイバ増幅器および光信号伝送システム |
JPH0750445A (ja) * | 1993-06-02 | 1995-02-21 | Rohm Co Ltd | 半導体レーザの製法 |
US5491711A (en) * | 1993-11-04 | 1996-02-13 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Semiconductor laser device |
US5457562A (en) * | 1994-05-20 | 1995-10-10 | Ericsson Raynet Corporation | Narrowcast optical communication networks and methods |
US5432809A (en) * | 1994-06-15 | 1995-07-11 | Motorola, Inc. | VCSEL with Al-free cavity region |
-
1997
- 1997-01-31 JP JP9018753A patent/JPH09232692A/ja active Pending
- 1997-02-04 DE DE69705559T patent/DE69705559T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-02-04 EP EP97300675A patent/EP0790685B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-08-07 US US08/906,655 patent/US5815521A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004509478A (ja) * | 2000-09-20 | 2004-03-25 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 半導体レーザ |
WO2004027950A1 (ja) * | 2002-09-20 | 2004-04-01 | Mitsubishi Chemical Corporation | 半導体レーザ |
US7792170B2 (en) | 2002-09-20 | 2010-09-07 | Mitsubishi Chemical Corporation | Semiconductor laser |
WO2005074081A1 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Nec Corporation | 半導体レーザ |
JP2007059488A (ja) * | 2005-08-22 | 2007-03-08 | Rohm Co Ltd | 半導体レーザ |
JP2010541214A (ja) * | 2007-09-24 | 2010-12-24 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | ビーム放射デバイスの製造方法およびビーム放射デバイス |
KR101431306B1 (ko) * | 2007-09-24 | 2014-09-22 | 오스람 옵토 세미컨덕터스 게엠베하 | 복사 방출 소자의 제조 방법 및 복사 방출 소자 |
JP2010118508A (ja) * | 2008-11-13 | 2010-05-27 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0790685B1 (en) | 2001-07-11 |
DE69705559D1 (de) | 2001-08-16 |
DE69705559T2 (de) | 2002-05-23 |
US5815521A (en) | 1998-09-29 |
EP0790685A1 (en) | 1997-08-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH09232692A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
US6928223B2 (en) | Stab-coupled optical waveguide laser and amplifier | |
US5272711A (en) | High-power semiconductor laser diode | |
JPH04276682A (ja) | 半導体レーザとそれを有する装置とその製造方法 | |
CA2149156C (en) | Semiconductor laser having integrated waveguiding lens | |
JPH1073736A (ja) | 半導体光素子、ファイバ型光アンプおよび光伝送装置 | |
US20030112842A1 (en) | Semiconductor laser with a tapered ridge | |
JP3891223B2 (ja) | レーザーおよびそれに関連する改良 | |
US5311534A (en) | Semiconductor laser devices | |
JPH08330671A (ja) | 半導体光素子 | |
US5438585A (en) | Unstable resonator semiconductor laser | |
JP3468612B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
EP0481464A2 (en) | Optical device with an optical coupler for effecting light branching/combining by splitting wavefront of light | |
JPH08220358A (ja) | 導波路型光素子 | |
Shigihara et al. | High-power 980-nm ridge waveguide laser diodes including an asymmetrically expanded optical field normal to the active layer | |
US5394424A (en) | Semiconductor laser device | |
Vusirikala et al. | GaAs-AlGaAs QW diluted waveguide laser with low-loss, alignment-tolerant coupling to a single-mode fiber | |
US6845116B2 (en) | Narrow lateral waveguide laser | |
JP3268958B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JPH08236853A (ja) | 半導体レーザ | |
JP2765850B2 (ja) | 高出力半導体レーザ素子 | |
JP3639654B2 (ja) | 半導体レーザおよびその製造方法 | |
JPH05275801A (ja) | 歪量子井戸半導体レーザ | |
JP2001135887A (ja) | 光半導体装置及び光伝送システム | |
US20010053168A1 (en) | Asymmetric optical waveguide structure for reducing loss and enhancing power output in semiconductor lasers |