JPH09138200A - Method for determining surface defect of strip material - Google Patents
Method for determining surface defect of strip materialInfo
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- JPH09138200A JPH09138200A JP7295154A JP29515495A JPH09138200A JP H09138200 A JPH09138200 A JP H09138200A JP 7295154 A JP7295154 A JP 7295154A JP 29515495 A JP29515495 A JP 29515495A JP H09138200 A JPH09138200 A JP H09138200A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、冷延鋼板、アルミ
ニウム等の帯状被検査体の表面に発生した表面欠陥の判
定を行う表面欠陥判定方法において、いったん装置が判
定した欠陥の等級を、より人の目視検査イメージに適合
するように再判定する方法、及び広範囲にわたって存在
することの多い鋼板の汚れ等による欠陥誤判定をなくす
方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface defect judging method for judging a surface defect generated on the surface of a strip-shaped inspected object such as a cold-rolled steel plate, aluminum or the like. The present invention relates to a method of re-determination so as to match a human visual inspection image, and a method of eliminating erroneous determination of defects due to stains and the like on steel plates that are often present over a wide range.
【0002】[0002]
【従来技術】鋼板等の帯状体を製造する場合、製品の品
質を保証するために表面欠陥の検査を行い、たとえば表
面欠陥の種類や等級の判別を行っている。このような表
面欠陥の検査を行うための装置としては、図6に示す構
成の光学式検査装置が知られている。2. Description of the Related Art When manufacturing strips such as steel plates, surface defects are inspected in order to guarantee the quality of the products, and for example, the type and grade of surface defects are determined. As an apparatus for inspecting such surface defects, an optical inspection apparatus having a configuration shown in FIG. 6 is known.
【0003】上記検査装置は、光源としてのレーザ発信
器10と、レーザ発信器10からのレーザ光を鋼板(帯
状体)11の幅方向に走査するための回転ミラー12
と、鋼板11の表面で反射されたレーザ光を一点に集光
させるための集光レンズ14と、集光レンズ14で集光
された反射レーザ光を空間フィルタ(マスク)16を介
して受光する光電変換器18とを備えている。The inspection apparatus includes a laser transmitter 10 as a light source and a rotary mirror 12 for scanning a laser beam from the laser transmitter 10 in the width direction of a steel plate (strip) 11.
And a condenser lens 14 for condensing the laser light reflected on the surface of the steel plate 11 at one point, and receives the reflected laser light condensed by the condenser lens 14 via a spatial filter (mask) 16. And a photoelectric converter 18.
【0004】また、上記検査装置は、上記光電変換器1
8からの出力信号に対して画像処理及び所定の前処理を
行う制御部20と、制御部20から出力された信号処理
から欠陥信号の特徴パラメータを抽出し、抽出した特徴
パラメータと予め設定されている欠陥の種類毎の特徴パ
ラメータとを比較して欠陥の種類及び等級判定を行うと
共に、判定した欠陥信号の編集を行う演算処理部22と
を備えており、処理演算部22からタイプライタ24へ
編集後の欠陥情報を出力することにより、検査結果を印
字し、展開表を作成するようになされている。[0004] Further, the above-mentioned inspection apparatus comprises the above-mentioned photoelectric converter 1
A control unit 20 for performing image processing and predetermined pre-processing on the output signal from the control unit 8; extracting a characteristic parameter of the defect signal from the signal processing output from the control unit 20; And an arithmetic processing unit 22 for comparing the characteristic parameters for each type of defect to determine the type and class of the defect and for editing the determined defect signal. By outputting the edited defect information, the inspection result is printed and a development table is created.
【0005】上記検査装置では、鋼板11を矢印方向に
走行させながらレーザ光を走査し、その時の反射光を前
記光電変換器18で受光するとともに、前記制御部20
において、図7に一例を示すプロフィル法に従って上記
光電変換器18からの出力信号に対する処理を行う。In the above inspection apparatus, the steel plate 11 scans the laser beam while traveling in the direction of the arrow, and the reflected light at that time is received by the photoelectric converter 18 and the control unit 20
In FIG. 7, the output signal from the photoelectric converter 18 is processed according to the profile method shown in FIG.
【0006】即ち、先ず、走行する鋼板11は図7(A)
に示すような所定の大きさ、例えば縦250mmx横1
00mmの画像処理単位26に分画され、さらにこの画
像処理単位26は、図7(B) に示すような通常一辺2〜
5mm程度の大きさの画素の集合体として構成される。
そしてこれら各々の画素は、図7(A) の欠陥による各画
素の信号値と、同図(C) に示すようなあらかじめ設定さ
れたレベルr1〜r6との比較から、各々に対応したr1
〜r6のデジタル値を持ち、全体としてデジタルマップ
26Aを構成する。That is, first, the traveling steel plate 11 is shown in FIG.
Prescribed size, for example, 250mm length x 1 width
The image processing unit 26 is divided into 00 mm image processing units 26, and each of the image processing units 26 normally has a side 2 to 2 as shown in FIG.
It is configured as an aggregate of pixels having a size of about 5 mm.
Each of these pixels corresponded to each other by comparing the signal value of each pixel due to the defect of FIG. 7 (A) with preset levels r 1 to r 6 as shown in FIG. 7 (C). r 1
Has a digital value of ~r 6, constitutes a digital map 26A as a whole.
【0007】次いで、上記デジタルマップ26Aについ
て、r1〜r6以上の信号値を持つ画素個数を縦方向に積
算し、図7(D) に示すヒストグラムからなる表面欠陥の
プロフィルを作成する。そして、上記プロフィルから、
表面欠陥の特徴を表すパラメータとして幅W、長さH及
び面積Sを抽出する。Next, with respect to the digital map 26A, the number of pixels having signal values of r 1 to r 6 is integrated in the vertical direction to create a surface defect profile consisting of a histogram shown in FIG. 7D. And from the above profile,
A width W, a length H, and an area S are extracted as parameters representing the characteristics of the surface defect.
【0008】また、同様の処理を通して、鋼板11の全
体を分画した画像処理単位について、上記各パラメータ
を初めとして、ある基準以下の長さHの欠陥の数から点
状欠陥数NA、ある基準以上の長さHの欠陥の数から線
状欠陥数NB、鋼板端部からの欠陥発生位置PP、前記
第7図(C) に示した信号レベルの極性比率VI(r1,
r2,r3の信号をとる画素の総和を全欠陥画素数で割っ
たもの)等の種々のパラメータを抽出する。Further, through the same processing, for each image processing unit obtained by fractionating the entire steel sheet 11, the number of defects having a length H equal to or less than a certain reference, the number of point-like defects NA, a certain reference From the number of defects having the length H, the number of linear defects NB, the defect occurrence position PP from the end of the steel plate, and the signal level polarity ratio VI (r 1 , r 1 , shown in FIG. 7C)
Various parameters are extracted, such as the sum of the pixels taking the signals r 2 and r 3 divided by the total number of defective pixels.
【0009】このようにして求められた各種欠陥特徴パ
ラメータは、その後前記検査装置の演算処理部22にお
いて、予め用意された各欠陥種類判定ロジック内の判定
条件と比較され、欠陥種類の判定が行われる。また、信
号レベルr1〜r6から演算される欠陥レベルと、予め欠
陥の各種類毎に用意された欠陥等級判定のためのしきい
値との比較により、欠陥の等級が判定されることとな
る。The various defect characteristic parameters obtained in this way are then compared in the arithmetic processing section 22 of the inspection apparatus with the judgment conditions in each of the defect type judgment logics prepared in advance, and the defect type is judged. Will be Further, the defect class is determined by comparing the defect level calculated from the signal levels r 1 to r 6 with a threshold for defect class determination prepared in advance for each type of defect. Become.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来の検査装置では、検出欠陥の特徴パラメータと予め
用意された欠陥の種類判定ロジック及び等級判定しきい
値との比較にのみ基づいて、欠陥の種類及び等級の判定
を行っていた。As described above,
In the conventional inspection apparatus, the type and the grade of the defect are determined only based on the comparison between the characteristic parameter of the detected defect and the previously prepared defect type determination logic and the grade determination threshold value.
【0011】ところで、表面欠陥検査装置は目視検査代
替を目的としており、装置による金属帯製品の合否判定
においても、目視検査員同等の判定基準を必要とするこ
とから、装置の欠陥の等級判定結果がより検査員の目視
イメージになるべく適合するものでなければならない。
すなわち目視による検査においては、例えばある特定の
種類の欠陥に対しては、程度の軽い欠陥が被検査板のあ
る範囲において多数集中している場合、検査員はその程
度を重く判定し、逆に程度の軽い欠陥が単発的に発生し
ている場合においては、無害欠陥であると判定する。一
方、上記構成による従来の検査装置は、前記画像処理単
位毎に検査・演算処理を行っており、板全体を見渡す検
査員の目視イメージとはその判定結果が食い違ってしま
うという問題点があった。By the way, the surface defect inspection apparatus is intended for visual inspection substitution, and the judgment criteria equivalent to those of the visual inspector are required for the pass / fail judgment of metal strip products by the apparatus. Should match the visual image of the inspector as much as possible.
That is, in visual inspection, for example, for a certain type of defect, if a large number of light defects are concentrated in a certain range of the plate to be inspected, the inspector judges the degree to be heavy and, conversely, In the case where a slight defect is sporadically generated, it is determined to be a harmless defect. On the other hand, the conventional inspection apparatus having the above-mentioned configuration performs the inspection / arithmetic processing for each image processing unit, and there is a problem that the determination result is different from the visual image of the inspector looking over the entire plate. .
【0012】また、従来の表面欠陥装置はその原理上、
被検査体からのレーザの反射パターンを検出し演算処理
しているため、被検査体に広範囲にわたって分布するこ
との多い汚れあるいは、例えば鋼板製造プロセスにおけ
る酸洗ラインの酸による鋼板の変色などを欠陥と誤判定
するという問題点があった。Further, the conventional surface defect device has the following principle.
Since the laser reflection pattern from the inspected object is detected and processed, defects such as stains that are often distributed over a wide range on the inspected object or discoloration of the steel plate due to acid in the pickling line in the steel plate manufacturing process There was a problem that it was erroneously determined.
【0013】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたもので、目視検査員と同等イメージの欠陥判定が
行えるとともに、広範囲にわたって存在することの多い
鋼板の汚れ等による欠陥誤判定をなくす方法を提供する
ことを目的としている。The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and makes it possible to make a defect judgment of an image equivalent to that of a visual inspector, and to eliminate the erroneous judgment of a defect due to stains of a steel plate that often exist over a wide range. It is intended to provide a way.
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】上記課題の内、目視イメ
ージ同等の自動検査を実現する課題は、装置判定帯状被
検査体表面からの反射光を画像解析して、検査体の表面
欠陥の種類及び等級を判定する帯状被検査体の表面欠陥
判別方法において、予め設定された一定長さの区間内で
検出され、種類及び等級を判定された全欠陥に対し、そ
れらの欠陥の発生個数を種類及び等級別にカウントし、
そのカウントされた各々の欠陥の個数が予め設けられ
た、欠陥の種類及び等級毎の発生個数についてのしきい
値を越えたとき、当該欠陥について、欠陥の等級を重く
する機能を備えることによって解決される。[Means for Solving the Problems] Among the above-mentioned problems, the problem of realizing an automatic inspection equivalent to a visual image is to analyze the reflected light from the surface of an object to be inspected by a device, and analyze the type of surface defect of the object to be inspected. In the method of determining the surface defects of the strip-shaped inspected object that determines the grade and the grade, the number of occurrences of those defects is determined for all the defects that are detected within the preset fixed length section and for which the type and grade are determined. And count by grade,
When the counted number of defects exceeds a preset threshold for the number of defects and the number of defects generated for each class, the problem is solved by providing a function of increasing the class of defects. To be done.
【0015】また、上記課題は、帯状被検査体表面から
の反射光を画像解析して、該帯状被検査体の表面欠陥の
種類及び等級を判定する帯状体の表面欠陥判定方法にお
いて、予め設定された一定長さの区間内で検出され、種
類及び等級を判定された全欠陥に対し、それらの欠陥の
発生個数を種類及び等級別にカウントし、そのカウント
された各々の欠陥の個数が予め設けられた、欠陥の種類
及び等級毎の発生個数についてのしきい値を越えなかっ
たとき、当該欠陥について、欠陥の等級を軽くする機能
を備えることによって解決される。Further, the above-mentioned problem is set in advance in a method for determining a surface defect of a belt-like body by analyzing the reflected light from the surface of the belt-like body to be inspected and determining the type and grade of the surface defect of the belt-like body to be inspected. The number of occurrences of these defects is counted for each type and grade for all the defects that have been detected within the fixed length section and whose type and grade have been determined, and the number of each counted defect is set in advance. When the threshold value for the number of defects generated and the number of occurrences for each grade is not exceeded, the defect is solved by providing a function of reducing the grade of the defect.
【0016】前述したように、目視による検査において
は、例えばある特定の種類の欠陥に対しては、程度の軽
い欠陥が被検査板のある範囲において多数集中している
場合、検査員はその程度を重く判定し、逆に程度の軽い
欠陥が単発的に発生している場合においては、無害欠陥
であると判定するので、上記のような機能を備えること
により、より目視検査に近い判定ができる。As described above, in the visual inspection, when a large number of light defects are concentrated in a certain range of the plate to be inspected with respect to a certain type of defect, the inspector determines the degree. Is determined to be a harmless defect, and conversely, when a slight defect of a small degree occurs, it is determined to be a harmless defect. Therefore, by providing the function as described above, a determination closer to a visual inspection can be performed. .
【0017】また、上記課題の内、比較的広範囲にわた
る被検査体の汚れ等による欠陥の誤判定の課題は、帯状
被検査体表面からの反射光を画像解析して、帯状被検査
体の表面欠陥の種類及び等級を判定する帯状体の表面欠
陥判定方法において、予め設定された一定長さの区間内
で検出され、種類及び等級を判定された全欠陥の個数が
予め設けられたしきい値を超えたときに、欠陥の種類を
変更する機能を備えることによって解決される。Further, among the above-mentioned problems, the problem of erroneous determination of a defect due to dirt or the like on the object to be inspected over a relatively wide range is to analyze the reflected light from the surface of the object to be inspected, and to analyze the surface of the object to be inspected. In the surface defect determination method of the band-shaped body for determining the type and grade of the defect, the number of all the defects detected within the preset fixed length section, and the type and the grade of which are determined, is a threshold value set in advance. It is solved by providing a function of changing the type of defect when the value exceeds.
【0018】板汚れや変色は、被検査体の広範囲に亘っ
て現れ、これに対して検査装置は、多くの欠陥が多数存
在するように判定する。逆に、板汚れや変色以外の欠陥
は、多数が被検査体の広い範囲に亘って現れることがな
い。よって、欠陥が所定数以上広範囲に亘って検出され
た場合には、当該欠陥が多数存在するのでなく板汚れや
変色が存在すると判断して、欠陥の種類を変更する。Plate stains and discolorations appear over a wide range of the object to be inspected, whereas the inspection apparatus determines that many defects are present. On the contrary, many defects other than plate stains and discoloration do not appear over a wide range of the inspected object. Therefore, when defects are detected in a wide range of a predetermined number or more, it is determined that there are not many defects but plate stains or discoloration, and the defect type is changed.
【0019】[0019]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の例
を、図面に基づいて説明する。欠陥の等級は、軽いもの
から順にA,B,C,D,E級とする。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. The grades of defects are A, B, C, D, and E in order from the lightest one.
【0020】図1は、本発明による一実施形態である帯
状被検査体の表面欠陥判定方法に適用される鋼板のマク
ロ判定処理(欠陥の等級や種類を再判定することをマク
ロ判定処理と称する)基本構成を示すブロック図であ
る。FIG. 1 is a macro judgment process of a steel plate applied to a surface defect judgment method for a strip-shaped object to be inspected according to an embodiment of the present invention (re-decision of defect grade and type is called macro judgment process. ) A block diagram showing a basic configuration.
【0021】本実施例には、前記第7図に示した光学式
検査装置と実質的に同一の機能と、マクロ判定処理機能
とを併せ持つ検査装置が適用される。In this embodiment, an inspection apparatus having a function substantially the same as the optical inspection apparatus shown in FIG. 7 and a macro judgment processing function is applied.
【0022】まず図1において、制御部20、演算処理
部22は、図6に示したものと同じであり、制御部20
の前にも、図6に示した光学系が接続されている。そし
て、これらにより、特開平4ー110758号公報に示
されるように、演算処理部22において欠陥特徴パラメ
ータの抽出が行われ、欠陥の種類と等級が判定される。First, in FIG. 1, the control unit 20 and the arithmetic processing unit 22 are the same as those shown in FIG.
Before that, the optical system shown in FIG. 6 is also connected. Then, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-110758, a defect feature parameter is extracted in the arithmetic processing unit 22 and the type and grade of the defect are determined.
【0023】次いで、欠陥判定結果と欠陥発生位置情報
とが、マクロ処理部1へ出力される。このマクロ処理部
1は、欠陥発生個数積算部2において、予め設定された
一定長さの区間内での発生欠陥個数を欠陥の種類・等級
毎に積算し、欠陥発生個数設定部3に予め用意されたし
きい値との比較を演算処理部4で行うことで、設定に応
じて欠陥の種類及び等級を再判定し、出力する。そし
て、一定距離だけ被検体が走行した後、発生欠陥積算値
がリセットされ、また次の一定区間の欠陥発生個数を積
算する。Then, the defect determination result and the defect occurrence position information are output to the macro processing unit 1. The macro processing unit 1 accumulates the number of defects generated within a section of a preset fixed length for each defect type / grade in a defect occurrence number accumulating unit 2 and prepares the defect occurrence number setting unit 3 in advance. The arithmetic processing unit 4 compares the threshold value with the threshold value, thereby re-determining and outputting the defect type and grade according to the setting. Then, after the subject has traveled for a certain distance, the integrated value of the generated defects is reset, and the number of generated defects in the next certain section is integrated.
【0024】次に、本実施例の帯状体のマクロ判定処理
による表面欠陥判定方法について、鋼板の連続処理ライ
ンに実際に適用した場合の具体例を説明する。Next, a concrete example of the surface defect judgment method by the macro judgment processing of the strip according to the present embodiment when it is actually applied to the continuous processing line of the steel sheet will be described.
【0025】その具体的手順は次の通りである。 (1) まず、図2に示すように、鋼板を幅方向に等分割
し、それぞれ1W〜6Wとし、鋼板進行方向に250m
m毎に分割し、斜線で表される部分を画像処理単位とす
る。The specific procedure is as follows. (1) First, as shown in FIG. 2, a steel plate is equally divided in the width direction to each have a width of 1 W to 6 W, and 250 m in the steel plate traveling direction.
The image is divided for each m, and a portion represented by oblique lines is set as an image processing unit.
【0026】(2) 検査開始位置からあらかじめ設定され
た一定長さの区間、例えば1mにおいて、欠陥の種類及
び等級毎に、また全欠陥に対し、その発生個数をカウン
トする。ただし、この場合、一定区間内の画像処理単位
の個数が24個であるので、一定区間長内でカウントさ
れる最大欠陥個数は、24個である。(2) The number of occurrences of each defect is counted for each defect type and grade, and for all defects in a predetermined length section, for example, 1 m from the inspection start position. However, in this case, since the number of image processing units in a certain section is 24, the maximum number of defects counted in a certain section length is 24.
【0027】(3) 板1m内における上記集計値を使用
し、予め設定されたマクロ処理アルゴリズムにより、欠
陥の種類及び等級を再判定する。(3) The type and grade of defects are re-determined by a preset macro processing algorithm using the above aggregated values in the plate 1 m.
【0028】上記、(2) において例えば1m区間内のマ
クロ処理前の、装置による欠陥判定結果が図3(a) であ
ったときに、上記(3) のマクロ処理アルゴリズムが例え
ば図3(b) で設定されている場合には、マクロ処理後の
判定結果は、図3(c) に示すようになる。即ち、ガウジ
Aについては、その個数が6個であり設定個数(しきい
値)の5を越えているので、等級を1等級上げ、ガウジ
AをガウジBに変更する。In the above (2), when the defect judgment result by the apparatus before the macro processing within the 1 m section is, for example, FIG. 3 (a), the macro processing algorithm of the above (3) is processed as shown in FIG. 3 (b). ), The determination result after macro processing is as shown in FIG. 3 (c). That is, the number of gouges A is six, which exceeds the set number (threshold) of 5, so the grade is increased by one grade and gouge A is changed to gouge B.
【0029】また、マクロ処理前の装置判定結果が、図
4(a) であった場合には、マクロ処理アルゴリズム図3
(b) により図4(b) と再判定される。即ち、ガウジAの
個数が2であり、設定個数(しきい値)2以下であるの
で、等級を1等級下げ、ガウジAを無欠陥に変更する。If the device determination result before the macro processing is as shown in FIG. 4 (a), the macro processing algorithm shown in FIG.
By (b), the judgment is made again as shown in Fig. 4 (b). That is, since the number of gouges A is 2 and the set number (threshold value) is 2 or less, the grade is lowered by one grade and the gouges A are changed to defect-free.
【0030】これらの結果、より目視検査結果イメージ
に近い検査結果が得られる。同様に、マクロ処理前の装
置判定結果が、図5(a) であった場合には、全欠陥の個
数が20個を越えるので、マクロ処理アルゴリズム図3
(b) により、図5(b) と再判定される。これにより、鋼
板の広範囲にわたり付着するような汚れ、又は変色につ
いて、それらによる誤判定の問題が解消されることとな
る。As a result of these, an inspection result closer to the visual inspection result image can be obtained. Similarly, when the device determination result before the macro processing is as shown in FIG. 5A, the total number of defects exceeds 20, so that the macro processing algorithm shown in FIG.
By (b), the judgment is made again as shown in FIG. 5 (b). This eliminates the problem of misjudgment due to stains or discoloration that adheres to a wide area of the steel sheet.
【0031】[0031]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、予め設定
された一定長さの区間内で検出され種類及び等級を判定
された欠陥の発生個数を、種類及び等級別にカウント
し、そのカウントされた欠陥の個数を、予め設けられた
欠陥の種類及び等級毎の発生個数についてのしきい値と
比較することで、欠陥の等級を再判定しているので、よ
り検査員の目視イメージに等しい基準で、欠陥の等級を
判定できる。As described above, according to the present invention, the number of occurrences of defects which are detected in a section having a preset constant length and whose type and grade are determined are counted by type and grade, and the count is performed. The defect grade is re-determined by comparing the number of generated defects with a preset threshold for the number of defects and the number of defects generated for each grade, so it is more equivalent to the visual image of the inspector. The criteria can be used to judge the grade of defects.
【0032】また、予め設定された一定長さの区間内で
検出され種類及び等級を判定された欠陥の発生個数の総
和をカウントし、そのカウントされた欠陥の個数が予め
設けられたしきい値を超えたときに、板汚れと判定する
機能を備えたので、板汚れ及び変色などによる欠陥の誤
判定の問題を解消することができる。Further, the total number of defects generated, whose types and grades have been determined within a predetermined fixed length section, is counted, and the counted number of defects is set to a preset threshold value. When the value exceeds the limit, a function of determining plate stain is provided, so that the problem of erroneous determination of defects due to plate stain and discoloration can be solved.
【図1】 本発明の一実施形態に適用される鋼板のマク
ロ判定処理の基本構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a basic configuration of a steel plate macro determination process applied to an embodiment of the present invention.
【図2】 マクロ判定処理を鋼板に適用する場合の説明
図である。FIG. 2 is an explanatory diagram when a macro determination process is applied to a steel plate.
【図3】 マクロ判定処理の具体例を示す図である。 (a) マクロ処理前の欠陥判定結果 (b) マクロ処理アルゴリズム (c) マクロ処理後の欠陥再判定結果FIG. 3 is a diagram illustrating a specific example of macro determination processing. (a) Defect judgment result before macro processing (b) Macro processing algorithm (c) Defect re-judgment result after macro processing
【図4】 マクロ判定処理の具体例を示す図である。 (a) マクロ処理前の欠陥判定結果 (b) マクロ処理後の欠陥再判定結果FIG. 4 is a diagram showing a specific example of macro determination processing. (a) Defect determination result before macro processing (b) Defect re-determination result after macro processing
【図5】 マクロ判定処理の具体例を示す図である。 (a) マクロ処理前の欠陥判定結果 (b) マクロ処理後の欠陥再判定結果FIG. 5 is a diagram showing a specific example of macro determination processing. (a) Defect determination result before macro processing (b) Defect re-determination result after macro processing
【図6】 従来の表面欠陥検出に適用される光学式検査
装置の概略構成図である。FIG. 6 is a schematic configuration diagram of an optical inspection apparatus applied to conventional surface defect detection.
【図7】 欠陥特徴パラメータを抽出する為のプロフィ
ル法を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing a profile method for extracting a defect feature parameter.
1 マクロ処理部 2 欠陥発生個数積算部 3 欠陥発生個数設定部 4 演算処理部 20 制御部 22 演算処理部 1 Macro processing unit 2 Defect occurrence number integration unit 3 Defect occurrence number setting unit 4 Arithmetic processing unit 20 Control unit 22 Arithmetic processing unit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 克俊 東京都千代田区丸の内一丁目1番2号 日 本鋼管株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Katsutoshi Ito 1-2-1, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Nihon Steel Pipe Co., Ltd.
Claims (3)
析して、帯状被検査体の表面欠陥の種類及び等級を判定
する帯状体の表面欠陥判定方法において、 予め設定された一定長さの区間内で検出され、種類及び
等級を判定された全欠陥に対し、それらの欠陥の発生個
数を種類及び等級別にカウントし、そのカウントされた
各々の欠陥の個数が予め設けられた、欠陥の種類及び等
級毎の発生個数についてのしきい値を越えたとき、当該
欠陥について、欠陥の等級を重くすることを特徴とする
帯状体の表面欠陥判定方法。1. A surface defect determination method for a belt-shaped body for determining the type and grade of a surface defect of the belt-shaped inspection body by image-analyzing reflected light from the surface of the belt-shaped inspection body, wherein a predetermined length is set. For all the defects detected in the section of which the types and grades have been determined, the number of occurrences of those defects is counted by type and grade, and the number of each counted defect is set in advance. A method for determining a surface defect of a band-shaped object, wherein when the threshold value for the number of occurrences for each type and grade is exceeded, the defect grade is increased for the defect.
析して、帯状被検査体の表面欠陥の種類及び等級を判定
する帯状体の表面欠陥判定方法において、 予め設定された一定長さの区間内で検出され、種類及び
等級を判定された全欠陥に対し、それらの欠陥の発生個
数を種類及び等級別にカウントし、そのカウントされた
各々の欠陥の個数が予め設けられた、欠陥の種類及び等
級毎の発生個数についてのしきい値を越えなかったと
き、当該欠陥について、欠陥の等級を軽くすることを特
徴とする帯状体の表面欠陥判定方法。2. A surface defect determination method for a belt-shaped body, wherein the type and grade of the surface defect of the belt-shaped body to be inspected is analyzed by image analysis of reflected light from the surface of the belt-shaped body to be inspected. For all the defects detected in the section of which the types and grades have been determined, the number of occurrences of those defects is counted by type and grade, and the number of each counted defect is set in advance. A method for determining a surface defect of a strip, which comprises reducing the defect grade of the defect when the threshold value for the number of occurrences for each type and grade is not exceeded.
析して、帯状被検査体の表面欠陥の種類及び等級を判定
する帯状体の表面欠陥判定方法において、 予め設定された一定長さの区間内で検出され、種類及び
等級を判定された全欠陥の個数が予め設けられたしきい
値を超えたときに、欠陥の種類を変更することを特徴と
する帯状体の表面欠陥判定方法。3. A surface defect determination method for a belt-shaped body, wherein the type and grade of the surface defect of the belt-shaped body to be inspected is analyzed by image analysis of reflected light from the surface of the belt-shaped body to be inspected. When the number of all the defects detected in the section of which the types and grades are determined exceeds a preset threshold value, the defect type is changed, and the surface defect determination method of the band-shaped body is characterized. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7295154A JPH09138200A (en) | 1995-11-14 | 1995-11-14 | Method for determining surface defect of strip material |
Applications Claiming Priority (1)
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JP7295154A JPH09138200A (en) | 1995-11-14 | 1995-11-14 | Method for determining surface defect of strip material |
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Publication Number | Publication Date |
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JPH09138200A true JPH09138200A (en) | 1997-05-27 |
Family
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Family Applications (1)
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Country | Link |
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JP (1) | JPH09138200A (en) |
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1995
- 1995-11-14 JP JP7295154A patent/JPH09138200A/en active Pending
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