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JPH09113249A - Ultrasonic flaw detecting method - Google Patents

Ultrasonic flaw detecting method

Info

Publication number
JPH09113249A
JPH09113249A JP7268148A JP26814895A JPH09113249A JP H09113249 A JPH09113249 A JP H09113249A JP 7268148 A JP7268148 A JP 7268148A JP 26814895 A JP26814895 A JP 26814895A JP H09113249 A JPH09113249 A JP H09113249A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
defect
time
dimension
waveform
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7268148A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinji Noguchi
新二 野口
Muneaki Shibayama
宗昭 芝山
Masazumi Iwata
正純 岩田
Masayuki Matsuura
正幸 松浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shikoku Research Institute Inc
Shikoku Electric Power Co Inc
Original Assignee
Shikoku Research Institute Inc
Shikoku Electric Power Co Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shikoku Research Institute Inc, Shikoku Electric Power Co Inc filed Critical Shikoku Research Institute Inc
Priority to JP7268148A priority Critical patent/JPH09113249A/en
Publication of JPH09113249A publication Critical patent/JPH09113249A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/07Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/028Material parameters
    • G01N2291/02854Length, thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To measure the dimension of a defect, etc., even when the dimension is small at the time of measuring the dimension by using an ultrasonic flaw detecting method. SOLUTION: An ultrasonic flaw detecting device 21 is provided with a point convergent-type probe 22 which transits and receives ultrasonic waves and a CRT display 23 which displays the relation between the magnitude of received ultrasonic wave energy and required reflecting time in a waveform. The probe 22 performs ultrasonic flow detection on a plate 24 by scanning the plate 24 in the direction along the incident and reflecting direction of the ultrasonic waves while the probe 22 obliquely transmits the ultrasonic waves toward the other surface 26 of the plate 24 from one surface of the plate 24. The time interval between the time when the magnitude of the received ultrasonic wave energy becomes the maximum and the time when the magnitude of the received ultrasonic wave energy to the maximum magnitude becomes a preset ratio which is determined by taking the results of preliminary experiments into consideration against the time when the magnitude of the energy becomes the maximum is found from a waveform which is received by means of the probe 22 and displayed on the display 23 and the depth of a defect 27 is calculated based on the time interval and the ultrasonic wave transmitting angle from the probe 22.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、超音波を用いて
固体の裏面に形成された欠陥等の深さ寸法を測定する,
超音波探傷方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention uses ultrasonic waves to measure the depth dimension of defects and the like formed on the back surface of a solid.
The present invention relates to an ultrasonic flaw detection method.

【0002】[0002]

【従来の技術】固体の一面から超音波を入射させ、その
反射波から固体の裏面に開口する欠陥等の有無を検査す
る,超音波探傷方法が従来から存在している。
2. Description of the Related Art An ultrasonic flaw detection method has been conventionally used in which an ultrasonic wave is incident from one surface of a solid body and the reflected wave thereof is inspected for the presence of a defect or the like opened on the back surface of the solid body.

【0003】ところで、近時、直径2mm程度の狭い範囲
に集束する超音波の発射,受信を可能とした点集束型探
触子が開発され、このような点集束型探触子を用いるこ
とによって欠陥等の深さ寸法の測定が試みられている。
By the way, recently, a point-focusing type probe capable of emitting and receiving ultrasonic waves focused in a narrow range of about 2 mm in diameter has been developed. By using such a point-focusing type probe, Attempts have been made to measure the depth dimension of defects and the like.

【0004】このような点集束型探触子(以下において
は、単に探触子という)を用いての欠陥の深さ寸法の測
定は、例えば、図8に示すように行なわれる。
Measurement of the depth dimension of a defect using such a point-focusing type probe (hereinafter, simply referred to as a probe) is performed as shown in FIG. 8, for example.

【0005】図9において、1は固体としての板材であ
り、その板材1の表面2側には点集束型探触子3が配置
され、板材1の裏面4側には裏面4側に開口したクラッ
ク状の欠陥5が存在している。
In FIG. 9, 1 is a plate material as a solid, a point focusing probe 3 is arranged on the front surface 2 side of the plate material 1, and the back surface 4 side of the plate material 1 is opened to the back surface 4 side. There are crack-like defects 5.

【0006】そして、前記探触子3は、所定の超音波を
角度θ(例えば、図では左向き45度)で斜め方向に送
信し、同方向からの反射波(エコー)を受信するように
なっている。
Then, the probe 3 transmits a predetermined ultrasonic wave in an oblique direction at an angle θ (for example, 45 degrees leftward in the figure) and receives a reflected wave (echo) from the same direction. ing.

【0007】なお、図において、aは探触子3から発射
された音波が集束する領域を示す。また、以下におい
て、欠陥5の開口部をコーナー5aといい、欠陥5の上
端部を端部5bということとする。
In the figure, a indicates a region where the sound waves emitted from the probe 3 are focused. In addition, hereinafter, the opening of the defect 5 is referred to as a corner 5a, and the upper end of the defect 5 is referred to as an end 5b.

【0008】このような探触子3は板材1の表面2側で
矢印方向に走査されるが、前記探触子3で受信されたエ
コーは、横軸方向に反射時間をとり,その反射所要時間
に応じてエコーを配列して形成された波形がCRT画面
に表示されるようになっている。なお、反射所要時間は
距離との間に一義的な関係を有するものであるので以下
においては路程ということとする。
The probe 3 as described above is scanned in the direction of the arrow on the surface 2 side of the plate member 1. The echo received by the probe 3 takes a reflection time in the horizontal axis direction, and the reflection required. A waveform formed by arranging echoes according to time is displayed on the CRT screen. In addition, since the required reflection time has a unique relationship with the distance, it is hereinafter referred to as a road length.

【0009】このようなCRT画面においては、前記探
触子3からの超音波の中心線Oがコーナー5aに一致し
た状態でのエコー6(以下、コーナーエコーという)
や、その超音波の中心線Oが端部5bに一致した状態に
おけるエコー7(以下、端部エコーという)を含んで波
形が表示される。
In such a CRT screen, an echo 6 (hereinafter referred to as a corner echo) in a state where the center line O of the ultrasonic wave from the probe 3 coincides with the corner 5a.
Alternatively, the waveform is displayed including the echo 7 in the state where the center line O of the ultrasonic wave coincides with the end 5b (hereinafter, referred to as end echo).

【0010】ここで、欠陥5のコーナーエコー6を含む
波形はコーナー波形11といい、端部エコー7を含む波
形は端部波形12ということとする。
Here, the waveform including the corner echo 6 of the defect 5 is called a corner waveform 11 and the waveform including the end echo 7 is called an end waveform 12.

【0011】そして、このCRT画面に表示された前記
コーナー5aからのエコー6は、コーナー波形11中で
路程LCの位置に表示され、コーナーエコー6の音波エ
ネルギが大きいので、CRT画面上にそのエコー高さが
大きく表示される。
The echo 6 from the corner 5a displayed on the CRT screen is displayed at the position of the road length LC in the corner waveform 11 and the sonic energy of the corner echo 6 is large. Therefore, the echo on the CRT screen is displayed. The height is displayed large.

【0012】また、CRT画面に表示された前記端部5
bからのエコー7は、端部波形12中で路程Ltoの位置
に表示され、前記コーナーエコー6より小さなエコー高
さに表示される。
Also, the end portion 5 displayed on the CRT screen.
The echo 7 from b is displayed at the position of the path Lto in the end waveform 12 and is displayed at an echo height smaller than that of the corner echo 6.

【0013】そして、これらのコーナーエコー6と端部
エコー7とがそれぞれ含まれるコーナー波形11と端部
波形12とは分離した状態で表示されているので、各波
形11,12中から、コーナーエコー6と端部エコー7
とをCRT画面上で識別して把握することができ、路程
差Wは路程LCから路程Ltoを差し引くことにより得る
ことができる。
Since the corner waveform 11 and the end waveform 12 including the corner echo 6 and the end echo 7, respectively, are displayed in a separated state, the corner echo from each of the waveforms 11 and 12 is displayed. 6 and end echo 7
Can be identified and grasped on the CRT screen, and the road difference W can be obtained by subtracting the road distance Lto from the road distance LC.

【0014】したがって、欠陥5の深さ寸法dは、図9
を参照して路程差W×sinθにより算出することができ
るものである。
Therefore, the depth dimension d of the defect 5 is as shown in FIG.
Can be calculated by the road difference W × sin θ.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
方法で欠陥等の寸法を測定する場合、その欠陥5の深さ
寸法dが小さくなると、両エコー6,7の路程差Wが小
さくなり、前記コーナー波形11と端部波形12とが図
10あるいは図12に示すように合体するので、路程差
Wを測定することが困難で前記の方法による欠陥等の寸
法の測定が不可能となる。
By the way, when the dimension of a defect or the like is measured by such a method, if the depth dimension d of the defect 5 becomes smaller, the path difference W between the echoes 6 and 7 becomes smaller, Since the corner waveform 11 and the end waveform 12 are combined as shown in FIG. 10 or FIG. 12, it is difficult to measure the road difference W, and it becomes impossible to measure the dimension such as a defect by the above method.

【0016】これは、図11あるいは図13に示すよう
に、欠陥等の寸法が小さくなることにより、前記探触子
3からの超音波が、欠陥5のコーナー5aと端部5bと
の両方において同時に反射し、コーナーエコー6と端部
エコー7とを同時に発生させる事態が生じるからであ
る。
This is because, as shown in FIG. 11 or FIG. 13, the size of a defect or the like is reduced, so that the ultrasonic wave from the probe 3 is present at both the corner 5a and the end 5b of the defect 5. This is because there is a situation in which the corner echo 6 and the end echo 7 are simultaneously generated by the simultaneous reflection.

【0017】この発明は、このような事情に基づいてな
されたもので、超音波探傷方法による欠陥等の寸法の測
定方法であって、その欠陥等の寸法が小さい場合におい
ても欠陥等の寸法を測定することができるものを提供す
ることを課題とするものである。
The present invention has been made under such circumstances, and is a method for measuring the size of a defect or the like by an ultrasonic flaw detection method. Even when the size of the defect or the like is small, the size of the defect or the like can be measured. It is an object to provide what can be measured.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために、請求項1記載の発明は、音波を発生しかつ受
信する点集束型探触子と、受信した音波エネルギの強さ
と反射所要時間との関係を波形で表示する表示器とを有
する超音波探傷装置であって、前記探触子は固体の一面
に押し当てられて、欠陥を含む裏面に向けて音波を斜め
方向に発信するとともに、その探触子の走査方向を音波
の入射方向に沿う方向とする超音波探傷方法において、
前記探触子により受信され,前記表示器に表示された波
形で、音波エネルギの大きさが最大となる時と、その波
形で、音波エネルギの大きさが前記最大時に対して、予
め行なわれた試験結果を考慮して設定された割合となる
時との時間間隔を求めることとし、前記時間間隔と前記
探触子からの音波の発信角度とに基づいて欠陥の寸法を
算出することを特徴とする超音波探傷方法である。
In order to solve such a problem, the invention according to claim 1 proposes a point-focusing type probe for generating and receiving a sound wave, and the strength and reflection of the received sound wave energy. An ultrasonic flaw detector having a display for displaying a relationship with a required time in a waveform, wherein the probe is pressed against one surface of a solid and transmits sound waves obliquely toward a back surface including a defect. In addition, in the ultrasonic flaw detection method in which the scanning direction of the probe is along the incident direction of the sound wave,
The waveform was received by the probe and displayed on the display when the magnitude of the sonic energy was maximum, and when the waveform was the maximum of the sonic energy, it was performed in advance. The time interval between the time and the ratio set in consideration of the test result is obtained, and the defect size is calculated based on the time interval and the transmission angle of the sound wave from the probe. This is an ultrasonic flaw detection method.

【0019】また、請求項2記載の発明は、前記割合
を、0.05〜0.3の範囲内に設定することを特徴と
する請求項第1項記載の超音波探傷方法である。
The invention according to claim 2 is the ultrasonic flaw detection method according to claim 1, wherein the ratio is set in a range of 0.05 to 0.3.

【0020】また、請求項3記載の発明は、前記表示器
に表示された波形が設定された割合時を複数位置に有す
るものである場合に、前記最大時位置より離間した位置
側の割合時を選択し、当該割合時との間で前記時間間隔
を求めることを特徴とする請求項1または2記載の超音
波探傷方法である。
Further, in a third aspect of the present invention, when the waveform displayed on the display has a set ratio time at a plurality of positions, the ratio time on the position side separated from the maximum position is set. 3. The ultrasonic flaw detection method according to claim 1 or 2, characterized in that the time interval is calculated with respect to the selected time.

【0021】また、請求項4記載の発明は、前記表示器
に表示された波形が設定された割合時を複数位置に有す
るものである場合に、前記最大時位置より離間した位置
側の割合時を選択して当該割合時との間での第1の時間
間隔を求めるとともに、前記最大時位置より近接した位
置側の割合時との間での第2の時間間隔を求め、これら
の第1および第2の時間間隔のそれぞれに基づき欠陥に
ついての第1の寸法と第2の寸法を算出し、探触子と欠
陥端部までの距離が探触子の有効集束範囲内である場合
には前記第1の寸法を当該欠陥の寸法とし、探触子と欠
陥端部までの距離が探触子の有効集束範囲外である場合
には前記第2の寸法を当該欠陥の寸法とすることを特徴
とする請求項1または2記載の超音波探傷方法である。
Further, in a fourth aspect of the invention, when the waveform displayed on the display device has set ratio times at a plurality of positions, the ratio time on the position side separated from the maximum position is set. Is selected to obtain a first time interval with respect to the ratio time, and a second time interval with respect to the ratio time on the position side closer to the maximum time position. And calculating the first dimension and the second dimension of the defect based on each of the second time interval, and when the distance between the probe and the defect end is within the effective focusing range of the probe. The first dimension is the dimension of the defect, and the second dimension is the dimension of the defect if the distance between the probe and the defect end is outside the effective focusing range of the probe. It is the ultrasonic flaw detection method according to claim 1 or 2.

【0022】また、請求項5記載の発明は、前記点集束
型探触子の集束範囲は、測定対象物の厚さより1mm小
さいものから測定対象物の厚さの2倍あるいは測定対象
物の厚さより5mm大きいものまでの範囲内のものと
し、また、その点集束型探触子のビーム幅は直径2.5
mm以下もののを用いることを特徴とする請求項1から
4までのいずれかに記載の超音波探傷方法である。
Further, according to a fifth aspect of the present invention, the focusing range of the point-focusing type probe is 1 mm smaller than the thickness of the measuring object to twice the thickness of the measuring object or the thickness of the measuring object. The beam width of the point-focusing type probe is 2.5 mm.
The ultrasonic flaw detection method according to any one of claims 1 to 4, wherein the ultrasonic flaw detection method has a thickness of less than or equal to mm.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下、図面に示す実施の形態によ
りこの発明を説明するが、まず、この超音波探傷方法に
用いる装置構成を図2により説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described below with reference to the embodiments shown in the drawings. First, the structure of an apparatus used in this ultrasonic flaw detection method will be described with reference to FIG.

【0024】図2において、21は超音波探傷装置を示
し、点集束型の探触子22と、その探触子22により受
信したエコーを表示するCRT表示器23とを有するも
のである。
In FIG. 2, reference numeral 21 denotes an ultrasonic flaw detector, which has a point-focusing type probe 22 and a CRT display 23 for displaying the echo received by the probe 22.

【0025】前記探触子22は、所定の超音波を角度θ
(例えば、図では左向き45度)で斜め方向に送信し、
同方向からの反射波(エコー)を受信するものである。
The probe 22 transmits a predetermined ultrasonic wave at an angle θ.
(For example, in the figure 45 degrees to the left) Send diagonally,
It receives a reflected wave (echo) from the same direction.

【0026】そして、この探触子22は、超音波のビー
ム径が2.2mm〜3.0mmの範囲で、かつ、その超
音波ビームの集束範囲は3.0mm〜26.0mmの範
囲の条件の範囲から選択したものである。
The probe 22 has a condition that the ultrasonic beam diameter is in the range of 2.2 mm to 3.0 mm and the ultrasonic beam focusing range is in the range of 3.0 mm to 26.0 mm. Is selected from the range.

【0027】なお、この探触子22は、クラウトクレマ
ー社製ポータブル型パルス反射式超音波探傷器(型式
USL−38)を用いて走査等の探傷操作が行なわれ
る。
The probe 22 is a portable pulse reflection type ultrasonic flaw detector (type
USL-38) is used to perform flaw detection operations such as scanning.

【0028】また、CRT表示器23は、横軸方向に反
射時間をとり、前記探触子22で受信されたエコーをそ
の反射所要時間に応じてエコーを配列した波形を画面に
表示するものであり、表示されたエコーによる波形は音
波エネルギの大きさに応じたエコー高さと反射所要時間
で示された路程とを座標として表示される。
The CRT display 23 takes a reflection time in the horizontal axis direction, and displays on the screen a waveform in which echoes received by the probe 22 are arrayed according to the reflection required time. The waveform of the displayed echo is displayed with the echo height corresponding to the magnitude of the sound wave energy and the path length indicated by the required reflection time as coordinates.

【0029】このような超音波探傷装置21は、裏面2
6側にクラック状の欠陥27が存在する板材24の表面
25上において、前記探触子22を矢印方向に走査して
前記CRT表示器23にエコーによる波形を表示させる
ように用いられる。
Such an ultrasonic flaw detector 21 has a back surface 2
The probe 22 is used to scan the probe 22 in the direction of the arrow on the surface 25 of the plate member 24 where the crack-like defect 27 exists on the 6 side to display a waveform by echo on the CRT display 23.

【0030】なお、前記探触子22の走査は、その探触
子22からの音波の発射方向に沿う向きに,すなわち音
波の発射方向と走査方向とが同一面内で同側側に向くよ
うに行なう。
The scanning of the probe 22 is performed in a direction along the emission direction of the sound wave from the probe 22, that is, so that the emission direction of the sound wave and the scanning direction are on the same side in the same plane. To do.

【0031】このようにして得られた前記CRT表示器
23の画面上の波形31は、例えば図1に示すようであ
る。
The waveform 31 on the screen of the CRT display 23 thus obtained is as shown in FIG. 1, for example.

【0032】なお、この波形31は、図1においてLt0
で示した直接波が端部エコーを生じさせている場合(以
下、第1の方法という)であり、1回反射波Lt1が端部
エコーを生じさせている場合(以下、第2の方法とい
う)については後述する。
The waveform 31 is Lt0 in FIG.
The case where the direct wave indicated by 1 produces an end echo (hereinafter referred to as the first method), and the one-time reflected wave Lt1 produces an end echo (hereinafter referred to as the second method). ) Will be described later.

【0033】この波形31は、欠陥27によるコーナー
波形11と端部波形12とが合体したものであり、この
波形31においては、エコー高さが最大値となるコーナ
ーエコー6の位置を把握することができるが,端部エコ
ーの位置をそのまま把握することはできず、そのため欠
陥5の寸法を算出するうえで必要な路程差Wを直接得る
ことができない。
This waveform 31 is a combination of the corner waveform 11 and the end waveform 12 due to the defect 27. In this waveform 31, the position of the corner echo 6 at which the echo height becomes the maximum value should be grasped. However, the position of the end echo cannot be grasped as it is, and therefore the path difference W necessary for calculating the size of the defect 5 cannot be directly obtained.

【0034】そこで、本願方法においては、次のような
予備実験を行い,その予備実験の結果を考慮してエコー
高さについてのコーナーエコー6に対する端部エコーの
割合に関する係数を定め、この係数により前記波形31
から端部エコーの位置を割り出すようにしている。
Therefore, in the method of the present application, the following preliminary experiment is carried out, the coefficient relating to the ratio of the end echo to the corner echo 6 with respect to the echo height is determined in consideration of the result of the preliminary experiment, and this coefficient is used. The waveform 31
The position of the end echo is calculated from.

【0035】すなわち、予備実験は、測定すべき欠陥2
7と概ね同程度と予想される既知の欠陥を板材の裏面に
形成し、このような板材の表面を前記探触子22を同様
に走査させ、これによりCRT表示器23の画面に得ら
れた波形を既知の欠陥の寸法に突合せ、これによってコ
ーナーエコーに対する端部エコーの割合に関する係数を
定めるものである。
That is, in the preliminary experiment, the defect 2 to be measured
The known defects, which are expected to be about the same degree as No. 7, were formed on the back surface of the plate material, and the surface of such a plate material was similarly scanned by the probe 22, which was obtained on the screen of the CRT display 23. The waveform is matched to a known defect size, which defines a factor for the ratio of end echo to corner echo.

【0036】なお、このような割合に関する係数を定め
る際には、前記のほか、予備実験の内容が測定対象との
間で、種々の条件(例えば、板厚,構造等)において相
違することが考えられるので、前記の割合に関する係数
を定める場合には前記のようにして算出された数値は条
件を加味して調整することとしてもよい。
When determining the coefficient relating to such a ratio, in addition to the above, the content of the preliminary experiment may differ from that of the object to be measured under various conditions (eg, plate thickness, structure, etc.). Since it is considered, the numerical value calculated as described above may be adjusted in consideration of the conditions when the coefficient relating to the above-mentioned ratio is determined.

【0037】図1に示した波形31について、このよう
にして定められた割合に関する係数が、0.1,0.
2,0.5の3種類であるとして、波形31から端部エ
コーの位置を求めると次のようである。
With respect to the waveform 31 shown in FIG. 1, the coefficient relating to the ratio thus determined is 0.1,0.
If the positions of the end echoes are obtained from the waveform 31, assuming that there are three types of 2 and 0.5, it is as follows.

【0038】すなわち、割合に関する係数が0.1であ
る場合には、端部エコーのエコー高さがコーナーエコー
6のエコー高さHに対して0.1Hの位置であるので、
図1においてW0.1がその場合の路程差である。
That is, when the coefficient relating to the ratio is 0.1, the echo height of the end echo is 0.1H with respect to the echo height H of the corner echo 6,
In FIG. 1, W0.1 is the road difference in that case.

【0039】同様に、割合に関する係数が0.2,0.
5の場合には、それぞれエコー高さが0.2H,0.5
Hの位置となり、その際の路程差はそれぞれW0.2,W
0.5である。
Similarly, the coefficient relating to the ratio is 0.2,0.
In case of 5, the echo heights are 0.2H and 0.5, respectively.
It becomes the position of H, and the road difference at that time is W0.2, W respectively
0.5.

【0040】そして、深さ0.5mm,1.0mm,
1.5mmの既知の欠陥につき、前記のようにして得ら
れる路程差W0.1,W0.2,W0.5のそれぞれを用いて路
程差W×sinθにより欠陥の深さdの本願方法による測
定値を算出した。
Then, depths of 0.5 mm, 1.0 mm,
For the known defect of 1.5 mm, the depth d of the defect is measured by the method of the present application by using the difference W0.1, W0.2, and W0.5 of the difference in path obtained as described above and the difference W × sinθ in the path. The value was calculated.

【0041】その結果は、図3に示すとおりであり、割
合に関する係数が0.1である場合が最も精度が高く、
係数が0.5である場合の精度が最も良くなかった。
The results are shown in FIG. 3, and the highest accuracy is obtained when the coefficient relating to the ratio is 0.1.
The accuracy was the worst when the coefficient was 0.5.

【0042】図1に示す,1回反射波Lt1が端部エコー
を生じさせている第2の方法の場合には、図4に示すよ
うな波形32がCRT表示器23に形成される。
In the case of the second method shown in FIG. 1 in which the once-reflected wave Lt1 causes the end echo, the waveform 32 as shown in FIG. 4 is formed on the CRT display 23.

【0043】この波形32においても、欠陥27による
コーナー波形11と端部波形12’とが合体したもので
あり、欠陥5の寸法を算出するうえで必要な路程差Wを
直接得ることができないことは、波形31の場合と同様
であるが、端部波形12’が1回反射波Lt1により形成
されたものである点でのみ相違する。
Also in this waveform 32, the corner waveform 11 and the end waveform 12 'due to the defect 27 are combined, and it is not possible to directly obtain the path difference W necessary for calculating the size of the defect 5. Is the same as the case of the waveform 31, except that the end waveform 12 'is formed by the once-reflected wave Lt1.

【0044】このような波形32についての端部エコー
の位置の把握に際しても、前記の第1の方法の場合と同
様に予備実験を行い,その予備実験の結果を考慮してエ
コー高さについてのコーナーエコー6に対する端部エコ
ーの割合に関する係数を定め、この係数により前記波形
31から端部エコーの位置の割り出しを行なう。
Also in grasping the position of the end echo for such a waveform 32, a preliminary experiment is conducted in the same manner as in the case of the first method, and the echo height is determined in consideration of the result of the preliminary experiment. A coefficient relating to the ratio of the end echo to the corner echo 6 is determined, and the position of the end echo is determined from the waveform 31 by this coefficient.

【0045】なお、この第2の方法による端部エコーの
位置はこの発明でいう最大時位置より離間した位置に該
当し、第1の方法による端部エコーの位置はこの発明で
いう最大時位置より近接した位置に該当するものであ
る。
The position of the end echo according to the second method corresponds to a position separated from the maximum time position according to the present invention, and the position of the end echo according to the first method corresponds to the maximum time position according to the present invention. It corresponds to a closer position.

【0046】この波形32についても、割合に関する係
数が0.1,0.2,0.5の3種類であるとして波形
32から路程差を求めると、図4中のW0.1,W0.2,W
0.5のようである。
Also for this waveform 32, if the road difference is obtained from the waveform 32 assuming that there are three types of coefficients relating to the ratio, 0.1, 0.2 and 0.5, W0.1 and W0.2 in FIG. 4 are obtained. , W
It seems to be 0.5.

【0047】そして、深さ0.5mm,1.0mm,
1.5mmの既知の欠陥につき、前記のようにして得ら
れる路程差W0.1,W0.2,W0.5のそれぞれを用いて算
出した測定値と各欠陥との相関関係は図5に示すとおり
である。
Then, depths of 0.5 mm, 1.0 mm,
FIG. 5 shows the correlation between each defect and the measured value calculated using each of the path differences W0.1, W0.2, and W0.5 obtained as described above for the known defect of 1.5 mm. It is as follows.

【0048】これらの第1の方法および第2の方法によ
る測定値からすると、割合に関する係数は、0.05〜
0.3の範囲内で設定することとすれば実用上精度の高
い測定値を得ることができる。
From the measurement values obtained by the first method and the second method, the coefficient relating to the ratio is 0.05 to
If it is set within the range of 0.3, it is possible to obtain a highly accurate measured value in practical use.

【0049】これらの第1の方法および第2の方法を用
いて各種の欠陥を測定し、その欠陥の実際寸法とこれら
の方法による測定値との相関関係は、図6に示すとおり
である。
Various kinds of defects are measured by using the first method and the second method, and the correlation between the actual size of the defect and the measured value by these methods is as shown in FIG.

【0050】とくに、ビーム路程Lt(Lt0,Lt1の両
方を含む)と探触子22の集束範囲Lminとについて、
Lt/Lmin<1の範囲では前記第2の方法が欠陥を精度
良く測定しており、Lt/Lmin≧1の範囲では逆に第1
の方法が精度良く測定していることがわかる。
Particularly, regarding the beam path length Lt (including both Lt0 and Lt1) and the focusing range Lmin of the probe 22,
In the range of Lt / Lmin <1, the second method accurately measures the defect, and in the range of Lt / Lmin ≧ 1, the first method is conversely the first method.
It can be seen that the method of (1) measures accurately.

【0051】このことは、本願方法により欠陥の測定を
行なう場合には、前記第1の方法と第2の方法とを適宜
に使い分けることにより測定精度を高めることが可能で
あることを意味するものである。
This means that when the defect is measured by the method of the present application, it is possible to improve the measurement accuracy by properly using the first method and the second method. Is.

【0052】しかしながら、ビーム路程Ltは欠陥の寸
法が既知でなければ算出されないので、次のような手順
で前記第1の方法と第2の方法とを併用することにより
良好な精度の測定が可能となる。
However, since the beam path length Lt cannot be calculated unless the dimension of the defect is known, it is possible to measure with good accuracy by using the first method and the second method together in the following procedure. Becomes

【0053】 測定対象の板厚から欠陥のコーナーま
でのビーム路程LCを計算し、ビーム集束範囲下限Lmin
がビーム路程LCより小さい探触子を用いる。
The beam path length LC from the plate thickness to be measured to the defect corner is calculated, and the beam focusing range lower limit Lmin is calculated.
Is smaller than the beam path LC.

【0054】 かかる探触子を用いてコーナーエコー
を得て第2の方法で端部エコーを得ることにより、第2
の方法による路程差から欠陥寸法を算出する。
The corner echo is obtained by using such a probe, and the end echo is obtained by the second method.
The defect size is calculated from the difference in road length by the method of.

【0055】これは、第1の方法で測定が困難な大きな
欠陥を見逃さないためである。
This is to avoid overlooking large defects that are difficult to measure by the first method.

【0056】 前記の測定値を用いて、第1の方法
による欠陥の端部までの路程を算出する。
The measured value is used to calculate the path length to the edge of the defect according to the first method.

【0057】そして、Lt/Lminを計算し、Lt/Lmin
<1の場合には、前記で得た測定値を欠陥の測定値と
する。
Then, Lt / Lmin is calculated, and Lt / Lmin
In the case of <1, the measured value obtained above is used as the measured value of the defect.

【0058】 逆に、Lt/Lmin≧1の場合には、第
1の方法により欠陥を測定し、これにより得られた測定
値を欠陥の測定値とする。
On the contrary, when Lt / Lmin ≧ 1, the defect is measured by the first method, and the measured value obtained by this is used as the measured value of the defect.

【0059】このような手順で前記図6と同様の測定物
を測定すると、図7に示す測定値のみが得られ、これら
の測定値は欠陥の実際の深さに対して±0.5mmの範
囲内であり、極めて良好な精度であることがわかる。
When a measurement object similar to that shown in FIG. 6 is measured in this procedure, only the measurement values shown in FIG. 7 are obtained, and these measurement values are ± 0.5 mm with respect to the actual depth of the defect. It is found that the value is within the range and the accuracy is extremely good.

【0060】なお、例えば、板厚が10mm以内の比較
的薄肉の板材について、本願方法により欠陥の寸法を良
好な精度で測定するためには、探触子22の集束範囲が
測定対象物の厚さより1mm小さいものから測定対象物
の厚さの2倍あるいは測定対象物の厚さより5mm大き
いものまでの範囲内のものを用い、さらに、その探触子
22のビーム幅が直径2.5mm以下もののを用いるこ
とが望ましい。
Note that, for example, in order to measure the dimension of a defect with good accuracy by the method of the present invention with respect to a relatively thin plate material having a plate thickness of 10 mm or less, the focusing range of the probe 22 is the thickness of the object to be measured. The diameter of the probe 22 is less than 2.5 mm and the beam width of the probe 22 is 2.5 mm or less. Is preferred.

【0061】[0061]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の発
明によれば、この種の超音波探傷方法において、探触子
により受信され,前記表示器に表示された波形で、音波
エネルギの大きさが最大となる時と、その波形で、音波
エネルギの大きさが前記最大時に対して、予め行なわれ
た試験結果を考慮して設定された割合となる時との時間
間隔を求めるので、コーナー波形と端部波形とが合体し
てコーナーエコー位置と端部エコー位置との区別が困難
な場合においても妥当な時間間隔を得ることができる。
As described above, according to the first aspect of the invention, in this type of ultrasonic flaw detection method, the sound wave energy of the waveform received by the probe and displayed on the display is displayed. Since the time interval between the time when the magnitude becomes the maximum and the time when the magnitude of the sound wave energy becomes the ratio set in consideration of the test result performed in advance with respect to the maximum time, is obtained, Even when the corner waveform and the end waveform are combined to make it difficult to distinguish between the corner echo position and the end echo position, a reasonable time interval can be obtained.

【0062】そのため、そのようにして得られた時間間
隔と探触子からの音波の既知の発信角度とに基づいて欠
陥の妥当な寸法を算出することが可能となる。
Therefore, it becomes possible to calculate an appropriate size of the defect based on the time interval thus obtained and the known transmission angle of the sound wave from the probe.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1の方法による波形説明図である。FIG. 1 is a waveform explanatory diagram according to a first method.

【図2】超音波探傷装置およびその使用状態の概略図で
ある。
FIG. 2 is a schematic view of an ultrasonic flaw detector and a usage state thereof.

【図3】第1の方法による測定値と欠陥の実際の深さの
相関関係図である。
FIG. 3 is a correlation diagram between a measured value by the first method and an actual depth of a defect.

【図4】第2の方法による波形説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of waveforms according to a second method.

【図5】第2の方法による測定値と欠陥の実際の深さと
の相関関係図である。
FIG. 5 is a correlation diagram between a measured value by the second method and an actual depth of a defect.

【図6】第1の方法と第2の方法とを混用して行なった
各種欠陥の測定値と実際の深さとの相関関係図である。
FIG. 6 is a correlation diagram between measured values of various defects and actual depths obtained by mixing the first method and the second method.

【図7】本願の提案する手順に従って第1の方法と第2
の方法とを使い分けた場合の各種欠陥の測定値と実際の
深さとの相関関係図である。
FIG. 7 shows a first method and a second method according to the procedure proposed by the present application.
FIG. 6 is a correlation diagram between measured values of various defects and actual depths when the above method is used properly.

【図8】超音波探傷方法を用いた従来の測定方法での波
形図面である。
FIG. 8 is a waveform diagram of a conventional measurement method using an ultrasonic flaw detection method.

【図9】超音波探傷方法を用いた従来の測定方法の説明
図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram of a conventional measurement method using an ultrasonic flaw detection method.

【図10】超音波探傷方法を用いた従来の測定方法にお
いて、小さな欠陥からの波形図面である。
FIG. 10 is a waveform diagram from a small defect in the conventional measurement method using the ultrasonic flaw detection method.

【図11】小さな欠陥に対して従来の測定方法を適用し
た場合の説明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram when a conventional measuring method is applied to a small defect.

【図12】超音波探傷方法を用いた従来の測定方法にお
いて、より小さな欠陥からの波形図面である。
FIG. 12 is a waveform diagram from a smaller defect in the conventional measurement method using the ultrasonic flaw detection method.

【図13】より小さな欠陥に対して従来の測定方法を適
用した場合の説明図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram when a conventional measurement method is applied to smaller defects.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 超音波探傷装置 22 点集束型探触子 23 CRT表示器 24 板材 25 表面 26 裏面 27 欠陥 31,32 波形 21 Ultrasonic Testing Equipment 22 Point Focusing Probe 23 CRT Display 24 Plate Material 25 Front Surface 26 Back Surface 27 Defects 31, 32 Waveform

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成7年10月27日[Submission date] October 27, 1995

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図1[Correction target item name] Fig. 1

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図1】 FIG.

【手続補正2】[Procedure amendment 2]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図2[Correction target item name] Figure 2

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図2】 [Fig. 2]

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図4[Correction target item name] Fig. 4

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図4】 FIG. 4

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図5[Correction target item name] Fig. 5

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図5】 [Figure 5]

【手続補正5】[Procedure Amendment 5]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図6[Correction target item name] Fig. 6

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図6】 FIG. 6

【手続補正6】[Procedure correction 6]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図8[Correction target item name] Fig. 8

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図8】 [Figure 8]

【手続補正7】[Procedure amendment 7]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図9[Correction target item name] Figure 9

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図9】 FIG. 9

【手続補正8】[Procedure amendment 8]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図10[Name of item to be corrected] Fig. 10

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図10】 FIG. 10

【手続補正9】[Procedure amendment 9]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図11[Correction target item name] FIG.

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図11】 FIG. 11

【手続補正10】[Procedure amendment 10]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図12[Correction target item name] FIG.

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図12】 FIG.

【手続補正11】[Procedure amendment 11]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図13[Correction target item name] FIG.

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図13】 FIG. 13

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩田 正純 香川県高松市屋島西町2109番地8 株式会 社四国総合研究所内 (72)発明者 松浦 正幸 香川県高松市内丸の内2番5号 四国電力 株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Masazumi Iwata 2109 Yashima Nishimachi, Takamatsu City, Kagawa Prefecture 8 Shikoku Research Institute, Inc. (72) Inventor Masayuki Matsuura 2-5 Marunouchi Takamatsu, Kagawa Prefecture Shikoku Electric Power Co., Inc. In the company

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 音波を発生しかつ受信する点集束型探触
子と、受信した音波エネルギの強さと反射所要時間との
関係を波形で表示する表示器とを有する超音波探傷装置
であって、前記探触子は固体の一面に押し当てられて、
欠陥を含む裏面に向けて音波を斜め方向に発信するとと
もに、その探触子の走査方向を音波の入射方向に沿う方
向とする超音波探傷方法において、 前記探触子により受信され,前記表示器に表示された波
形で、音波エネルギの大きさが最大となる時と、 その波形で、音波エネルギの大きさが前記最大時に対し
て、予め行なわれた試験結果を考慮して設定された割合
となる時との時間間隔を求めることとし、 前記時間間隔と前記探触子からの音波の発信角度とに基
づいて欠陥の寸法を算出することを特徴とする超音波探
傷方法。
1. An ultrasonic flaw detector comprising a point-focusing type probe for generating and receiving a sound wave, and a display for displaying the relationship between the intensity of the received sound wave energy and the required reflection time in a waveform. , The probe is pressed against a solid surface,
In an ultrasonic flaw detection method in which a sound wave is obliquely transmitted toward a back surface including a defect, and the scanning direction of the probe is a direction along the incident direction of the sound wave, the ultrasonic wave is received by the probe, and the display is When the magnitude of the sound wave energy is maximized in the waveform displayed in Fig. 3, and the proportion of the sound wave energy in the waveform is set in consideration of the result of the test conducted in advance with respect to the maximum time. The ultrasonic flaw detection method is characterized in that the time dimension of the defect is calculated, and the dimension of the defect is calculated based on the time interval and the transmission angle of the sound wave from the probe.
【請求項2】 前記割合を、0.05〜0.3の範囲内
に設定することを特徴とする請求項第1項記載の超音波
探傷方法。
2. The ultrasonic flaw detection method according to claim 1, wherein the ratio is set within a range of 0.05 to 0.3.
【請求項3】 前記表示器に表示された波形が設定され
た割合時を複数位置に有するものである場合に、前記最
大時位置より離間した位置側の割合時を選択し、当該割
合時との間で前記時間間隔を求めることを特徴とする請
求項1または2記載の超音波探傷方法。
3. When the waveform displayed on the display has a set ratio time at a plurality of positions, a ratio time on a position side separated from the maximum time position is selected and The ultrasonic flaw detection method according to claim 1 or 2, wherein the time interval is obtained between the two.
【請求項4】 前記表示器に表示された波形が設定され
た割合時を複数位置に有するものである場合に、前記最
大時位置より離間した位置側の割合時を選択して当該割
合時との間での第1の時間間隔を求めるとともに、前記
最大時位置より近接した位置側の割合時との間での第2
の時間間隔を求め、これらの第1および第2の時間間隔
のそれぞれに基づき欠陥についての第1の寸法と第2の
寸法を算出し、探触子と欠陥端部までの距離が探触子の
有効集束範囲内である場合には前記第1の寸法を当該欠
陥の寸法とし、探触子と欠陥端部までの距離が探触子の
有効集束範囲外である場合には前記第2の寸法を当該欠
陥の寸法とすることを特徴とする請求項1または2記載
の超音波探傷方法。
4. When the waveform displayed on the display device has a set ratio time at a plurality of positions, a ratio time on a position side apart from the maximum time position is selected to set the ratio time. Between the maximum time position and the second time interval between the maximum time position
Is calculated, and the first dimension and the second dimension of the defect are calculated based on each of the first and second time intervals, and the distance between the probe and the defect end is determined by the probe. If the distance between the probe and the defect end is outside the effective focusing range of the probe, the second dimension is set as the dimension of the defect. The ultrasonic flaw detection method according to claim 1 or 2, wherein the dimension is the dimension of the defect.
【請求項5】 前記点集束型探触子の集束範囲は、測定
対象物の厚さより1mm小さいものから測定対象物の厚
さの2倍あるいは測定対象物の厚さより5mm大きいも
のまでの範囲内のものとし、また、その点集束型探触子
のビーム幅は直径2.5mm以下もののを用いることを
特徴とする請求項1から4までのいずれかに記載の超音
波探傷方法。
5. The focusing range of the point-focusing type probe is within a range from 1 mm smaller than the thickness of the measuring object to twice the thickness of the measuring object or 5 mm larger than the thickness of the measuring object. 5. The ultrasonic flaw detection method according to claim 1, wherein the point-focusing type probe has a beam width of 2.5 mm or less.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2002214204A (en) * 2001-01-19 2002-07-31 Toshiba Corp Ultrasonic flaw detector and method using the same
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