JPH087383A - 磁界変調型光磁気記録装置 - Google Patents
磁界変調型光磁気記録装置Info
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- JPH087383A JPH087383A JP13986394A JP13986394A JPH087383A JP H087383 A JPH087383 A JP H087383A JP 13986394 A JP13986394 A JP 13986394A JP 13986394 A JP13986394 A JP 13986394A JP H087383 A JPH087383 A JP H087383A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 種々の要因による記録磁区の大きさの変動を
容易に抑制し、微小記録磁区を高精度に記録し、消え残
りのない良好な高密度オーバライトを可能とする。 【構成】 磁界変調型光磁気記録装置において、光変調
法あるいは参照磁区法により試し書き制御を行う手段3
8を有し、記録磁界や記録光強度、それらの印加タイミ
ングを制御した。
容易に抑制し、微小記録磁区を高精度に記録し、消え残
りのない良好な高密度オーバライトを可能とする。 【構成】 磁界変調型光磁気記録装置において、光変調
法あるいは参照磁区法により試し書き制御を行う手段3
8を有し、記録磁界や記録光強度、それらの印加タイミ
ングを制御した。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,光磁気記録装置、特に
磁界変調型の光磁気記録装置に関する。
磁界変調型の光磁気記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の磁界変調型光磁気記録の構成例を
図4に示す。オーバライト方式の1つの構成例を示した
ものである。図4において、レーザ13から発せられた
レーザ光は、レンズ91でコリメートされ、ビームスプ
リッタ10を経て、さらに、レンズ92で集光され光磁
気記録媒体8に光スポットを形成する。レーザ光は光磁
気記録媒体8上に連続的あるいは一定周期で繰返しパル
ス状に照射し、レーザ光によってキュリー温度の付近ま
で加熱されて保磁力が小さくなっている光磁気記録媒体
8の一部分に、記録情報に応じて高速変調された磁界
を、高透磁率コア18を有する浮上型磁気ヘッド16よ
り印加する。この浮上型磁気ヘッド16は、支持バネ1
7によって光ヘッド62に接続されており、常に光スポ
ットの真上に位置するように調整されている。こうして
光磁気記録媒体8の磁化は印加された磁界の方向に揃え
られ記録磁区が形成される。すなわち、印加磁界が上向
きの時には上向きの磁化の磁区が形成され、印加磁界が
下向きの時には下向きの磁化の磁区が形成される。この
時の記録周波数としては10〜20MHzの高速変調が
可能であり、レーザ光は連続的あるいは繰返しパルス状
に照射しているため、以前に記録された情報に関係なく
記録磁区が形成され、高速オーバライトが実現できる。
ここで、この浮上型磁気ヘッド16は光磁気記録媒体8
の回転によって生じる空気流による浮力と支持バネ(ジ
ンバル)17の力が釣り合う点で安定に保持されてい
る。この方法については例えば特開昭63−21754
8において提案されている。
図4に示す。オーバライト方式の1つの構成例を示した
ものである。図4において、レーザ13から発せられた
レーザ光は、レンズ91でコリメートされ、ビームスプ
リッタ10を経て、さらに、レンズ92で集光され光磁
気記録媒体8に光スポットを形成する。レーザ光は光磁
気記録媒体8上に連続的あるいは一定周期で繰返しパル
ス状に照射し、レーザ光によってキュリー温度の付近ま
で加熱されて保磁力が小さくなっている光磁気記録媒体
8の一部分に、記録情報に応じて高速変調された磁界
を、高透磁率コア18を有する浮上型磁気ヘッド16よ
り印加する。この浮上型磁気ヘッド16は、支持バネ1
7によって光ヘッド62に接続されており、常に光スポ
ットの真上に位置するように調整されている。こうして
光磁気記録媒体8の磁化は印加された磁界の方向に揃え
られ記録磁区が形成される。すなわち、印加磁界が上向
きの時には上向きの磁化の磁区が形成され、印加磁界が
下向きの時には下向きの磁化の磁区が形成される。この
時の記録周波数としては10〜20MHzの高速変調が
可能であり、レーザ光は連続的あるいは繰返しパルス状
に照射しているため、以前に記録された情報に関係なく
記録磁区が形成され、高速オーバライトが実現できる。
ここで、この浮上型磁気ヘッド16は光磁気記録媒体8
の回転によって生じる空気流による浮力と支持バネ(ジ
ンバル)17の力が釣り合う点で安定に保持されてい
る。この方法については例えば特開昭63−21754
8において提案されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来例に
おいては、記録時媒体や周辺温度が異なると最適な記録
光強度が異なるため、光磁気記録媒体上に形成される記
録磁区の大きさが異なり、消えのこりなくオーバライト
を行うことが困難であった。
おいては、記録時媒体や周辺温度が異なると最適な記録
光強度が異なるため、光磁気記録媒体上に形成される記
録磁区の大きさが異なり、消えのこりなくオーバライト
を行うことが困難であった。
【0004】本発明の目的は、上記問題点を解決し、消
え残りなくオーバライトを行い、かつ、記録磁区の大き
さを精密に制御して高密度記録を実現することの可能な
光磁気記録装置を提供することにある。
え残りなくオーバライトを行い、かつ、記録磁区の大き
さを精密に制御して高密度記録を実現することの可能な
光磁気記録装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明では以下の手段を用いた。
本発明では以下の手段を用いた。
【0006】(1)光磁気記録媒体に光を照射する光照
射手段と,前記光照射手段によって光が照射されている
領域に記録すべき情報に応じて変調磁界を印加する磁界
印加手段と、光磁気記録情報を再生する再生手段とを少
なくとも備えてなる光磁気記録装置において、少なくと
も情報の記録に先立ち記録条件を決定する試し書き制御
手段と、該試し書き制御手段によって決定された記録条
件で情報の記録を行う記録制御手段とを少なくとも設け
た。
射手段と,前記光照射手段によって光が照射されている
領域に記録すべき情報に応じて変調磁界を印加する磁界
印加手段と、光磁気記録情報を再生する再生手段とを少
なくとも備えてなる光磁気記録装置において、少なくと
も情報の記録に先立ち記録条件を決定する試し書き制御
手段と、該試し書き制御手段によって決定された記録条
件で情報の記録を行う記録制御手段とを少なくとも設け
た。
【0007】これにより、媒体や装置、周辺温度のバラ
ツキがあっても、常に最適な記録光強度で記録を行うこ
とが可能となるため、従来の問題点であった消え残りを
解消して高品質なオーバライトを行うことが可能にな
る。
ツキがあっても、常に最適な記録光強度で記録を行うこ
とが可能となるため、従来の問題点であった消え残りを
解消して高品質なオーバライトを行うことが可能にな
る。
【0008】(2)前記試し書き制御手段は、前記磁界
印加手段を利用して前記光磁気記録媒体上に略一定磁界
を印加しつつ、前記光照射手段を利用して種々の強度の
光を変調しながら照射して前記光磁気記録媒体上に試し
書き磁区を形成する試し書き磁区形成手段と、該試し書
き磁区部の再生情報を前記再生手段を利用して得、該再
生情報をもとに、記録時に照射する最適な光の強度を決
定する光強度決定手段と、該光強度を記憶する光強度記
憶手段とを、少なくとも有してなるものとした。
印加手段を利用して前記光磁気記録媒体上に略一定磁界
を印加しつつ、前記光照射手段を利用して種々の強度の
光を変調しながら照射して前記光磁気記録媒体上に試し
書き磁区を形成する試し書き磁区形成手段と、該試し書
き磁区部の再生情報を前記再生手段を利用して得、該再
生情報をもとに、記録時に照射する最適な光の強度を決
定する光強度決定手段と、該光強度を記憶する光強度記
憶手段とを、少なくとも有してなるものとした。
【0009】これにより、最適な光強度を決定すること
が容易になる。
が容易になる。
【0010】(3)前記試し書き制御手段は、前記磁界
印加手段を利用して前記光磁気記録媒体上に略一定磁界
を印加しつつ、前記光照射手段を利用して種々の強度の
光を変調しながら照射して前記光磁気記録媒体上に試し
書き磁区を形成するの光強度仮決定用磁区形成手段と、
該光強度仮決定用磁区部の再生情報を前記再生手段を利
用して得、該再生情報をもとに、記録時に照射する最適
な光強度を決定する光強度仮決定手段と、該光強度仮決
定手段によって決定された仮光強度強度を記憶する仮光
強度記憶手段とを少なくとも有し、該仮光強度の光を前
記光照射手段を利用して照射つつ、前記磁界印加手段を
利用して種々の強度の変調磁界を印加して磁界決定用磁
区を記録する磁界決定用磁区形成手段と、該磁界決定用
磁区部の再生情報を前記再生手段を利用して得、該再生
情報をもとに、記録時に印加する最適な磁界の強度を決
定する磁界強度決定手段と該磁界強度を記憶する磁界強
度記憶手段と、該強度の磁界を前記磁界印加手段を利用
して印加しつつ、前記光照射手段を利用して種々の強度
の光を変調しながら照射して光磁気記録媒体上に試し書
き磁区を形成する試し書き磁区形成手段と、該試し書き
磁区部の再生情報を前記再生手段によって得、該再生情
報をもとに、記録時に照射する最適な光の強度を決定す
る光強度決定手段と、該光強度を記憶する光強度記憶手
段とを、少なくとも有するものとした。
印加手段を利用して前記光磁気記録媒体上に略一定磁界
を印加しつつ、前記光照射手段を利用して種々の強度の
光を変調しながら照射して前記光磁気記録媒体上に試し
書き磁区を形成するの光強度仮決定用磁区形成手段と、
該光強度仮決定用磁区部の再生情報を前記再生手段を利
用して得、該再生情報をもとに、記録時に照射する最適
な光強度を決定する光強度仮決定手段と、該光強度仮決
定手段によって決定された仮光強度強度を記憶する仮光
強度記憶手段とを少なくとも有し、該仮光強度の光を前
記光照射手段を利用して照射つつ、前記磁界印加手段を
利用して種々の強度の変調磁界を印加して磁界決定用磁
区を記録する磁界決定用磁区形成手段と、該磁界決定用
磁区部の再生情報を前記再生手段を利用して得、該再生
情報をもとに、記録時に印加する最適な磁界の強度を決
定する磁界強度決定手段と該磁界強度を記憶する磁界強
度記憶手段と、該強度の磁界を前記磁界印加手段を利用
して印加しつつ、前記光照射手段を利用して種々の強度
の光を変調しながら照射して光磁気記録媒体上に試し書
き磁区を形成する試し書き磁区形成手段と、該試し書き
磁区部の再生情報を前記再生手段によって得、該再生情
報をもとに、記録時に照射する最適な光の強度を決定す
る光強度決定手段と、該光強度を記憶する光強度記憶手
段とを、少なくとも有するものとした。
【0011】これにより、記録光の強度だけでなく、変
調磁界の強度も最適化することが可能となるため、消え
残りを解消すると共に、より高精度に記録磁区を形成す
ることができるため、高密度記録が可能となる。
調磁界の強度も最適化することが可能となるため、消え
残りを解消すると共に、より高精度に記録磁区を形成す
ることができるため、高密度記録が可能となる。
【0012】(4)前記記録制御手段は、前記光強度記
憶手段に記憶されている光強度の光を記録時に照射する
光強度制御手段を少なくとも有する様にした。
憶手段に記憶されている光強度の光を記録時に照射する
光強度制御手段を少なくとも有する様にした。
【0013】(5)さらに前記記録制御手段は、前記磁
界強度記憶手段に記憶されている強度の磁界を記録時に
変調印加磁界強度制御手段を少なくとも有するようにし
た。
界強度記憶手段に記憶されている強度の磁界を記録時に
変調印加磁界強度制御手段を少なくとも有するようにし
た。
【0014】これらにより、最適な記録条件で常に記録
を行うことがを可能になるため、従来の問題点であった
消え残りを解消して高品質なオーバライトを行うことが
可能になる。
を行うことがを可能になるため、従来の問題点であった
消え残りを解消して高品質なオーバライトを行うことが
可能になる。
【0015】(6)前記記録制御手段は、記録時に前記
光照射手段によって、記録クロックに同期した繰返しパ
ルス状の光を照射する機能を有する様にした。
光照射手段によって、記録クロックに同期した繰返しパ
ルス状の光を照射する機能を有する様にした。
【0016】これにより、より高速な変調をしてオーバ
ライトを行うことが容易になる。
ライトを行うことが容易になる。
【0017】
【作用】本発明では、光の強度を変調して記録した記録
磁区の再生信号を用いることにより、記録された磁区の
大きさを正確に把握し、最適な記録光強度を決定するこ
とができる。例えば図5(a)に示したような記録光パ
ルスを用いて、試し書き磁区41を記録した場合、光強
度が不足している場合には(b)に示したように試し書
き磁区が短くなるため、再生信号振幅の中心値を長い周
期の磁区と短い周期の磁区で比較した場合、短い周期の
磁区からの再生信号が小さくなる。一方、光強度が強過
ぎる場合には不足している場合は(c)に示したように
試し書き磁区41が長くなり特に周期の磁区からの再生
信号が大きくなる。従って、この短い周期の磁区からの
再生信号と長い周期の磁区からの再生信号を比較し、両
者の中心レベルが一致している光強度を調べることによ
り、いつも記録磁区の大きさを一定に保つことができ
る。このように光変調記録して試し書きを行う方法は、
記録磁区の長さが変化するため、磁界変調記録の場合と
比べて再生信号の相対比較による検出が可能となるた
め、検出が容易である。
磁区の再生信号を用いることにより、記録された磁区の
大きさを正確に把握し、最適な記録光強度を決定するこ
とができる。例えば図5(a)に示したような記録光パ
ルスを用いて、試し書き磁区41を記録した場合、光強
度が不足している場合には(b)に示したように試し書
き磁区が短くなるため、再生信号振幅の中心値を長い周
期の磁区と短い周期の磁区で比較した場合、短い周期の
磁区からの再生信号が小さくなる。一方、光強度が強過
ぎる場合には不足している場合は(c)に示したように
試し書き磁区41が長くなり特に周期の磁区からの再生
信号が大きくなる。従って、この短い周期の磁区からの
再生信号と長い周期の磁区からの再生信号を比較し、両
者の中心レベルが一致している光強度を調べることによ
り、いつも記録磁区の大きさを一定に保つことができ
る。このように光変調記録して試し書きを行う方法は、
記録磁区の長さが変化するため、磁界変調記録の場合と
比べて再生信号の相対比較による検出が可能となるた
め、検出が容易である。
【0018】
《実施例1》本発明の光磁気記録装置の構成例を、図1
に示す。本実施例では、光発生手段31として波長68
0nmの半導体レーザを用いた。半導体レーザの強度は
自動光強度制御機能を有する光強度制御手段36により
制御される。光発生手段31から発せられた光22は、
集光手段33により光磁気記録媒体12上に集光され
る。集光手段33は少なくとも1つのレンズからなる。
この例では、光記録媒体12上に集光する対物レンズ3
31の開口比を0.55とした。このため、光記録媒体
12上の光スポット21の直径は1.1μmである。光
スポットは走査手段32によって光記録媒体12上の任
意の位置(トラック43)に移動することができる。こ
の実施例では、走査手段32は、ディスク状光磁気記録
媒体12を回転させるモータ321と、自動焦点制御と
自動トラッキングの機能を有する自動位置制御手段32
2を少なくとも有してなる。自動位置制御手段322は
光磁気記録媒体12からの反射光23を利用してフィー
ドバック制御を行っている。光スポット21からの反射
光は、この例では、集光手段33中に有する偏光ビーム
スプリッタによって、光検出手段34へ導かれる。光検
出手段34としては、偏光子などの偏光解析手段と、光
を電気信号に変化する光検出素子からなる。光検出手段
によって電気信号に変換された、再生信号は復調回路な
どよりなる再生手段37へと導かれ、記録情報が復調さ
れる。
に示す。本実施例では、光発生手段31として波長68
0nmの半導体レーザを用いた。半導体レーザの強度は
自動光強度制御機能を有する光強度制御手段36により
制御される。光発生手段31から発せられた光22は、
集光手段33により光磁気記録媒体12上に集光され
る。集光手段33は少なくとも1つのレンズからなる。
この例では、光記録媒体12上に集光する対物レンズ3
31の開口比を0.55とした。このため、光記録媒体
12上の光スポット21の直径は1.1μmである。光
スポットは走査手段32によって光記録媒体12上の任
意の位置(トラック43)に移動することができる。こ
の実施例では、走査手段32は、ディスク状光磁気記録
媒体12を回転させるモータ321と、自動焦点制御と
自動トラッキングの機能を有する自動位置制御手段32
2を少なくとも有してなる。自動位置制御手段322は
光磁気記録媒体12からの反射光23を利用してフィー
ドバック制御を行っている。光スポット21からの反射
光は、この例では、集光手段33中に有する偏光ビーム
スプリッタによって、光検出手段34へ導かれる。光検
出手段34としては、偏光子などの偏光解析手段と、光
を電気信号に変化する光検出素子からなる。光検出手段
によって電気信号に変換された、再生信号は復調回路な
どよりなる再生手段37へと導かれ、記録情報が復調さ
れる。
【0019】この実施例の装置によって記録を行う際に
は、光強度制御手段36よって、強度制御された、記録
光22が光磁気記録媒体12上に照射され、光スポット
21を形成させる。この時,光スポット21の光強度は
光磁気記録媒体22上で、記録磁区41を形成したい領
域の温度が光磁気記録媒体12のキュリー温度付近にな
るように強度制御する。この例では、記録磁区41の大
きさとして、約0.6μmの幅を狙っている。また、こ
の実施例では、TbFeCo系記録膜を有する光磁気記
録媒体12を用いた。この媒体12のキュリー温度は約
200℃であった。従って、光強度としては、光磁気記
録媒体12上の約0.6μm幅の領域の温度が200℃
を超える強度に制御した。この時の光強度は6.5mW
であった。このようにして、光磁気記録媒体12上の約
0.6μm幅の領域の温度がキュリー温度を超えている
ときに、その領域付近に浮上磁気ヘッド16により、変
調磁界を印加する。これにより、この約0.6μm幅の
領域に変調磁界の方向に磁化が揃った記録磁区が形成さ
れる。
は、光強度制御手段36よって、強度制御された、記録
光22が光磁気記録媒体12上に照射され、光スポット
21を形成させる。この時,光スポット21の光強度は
光磁気記録媒体22上で、記録磁区41を形成したい領
域の温度が光磁気記録媒体12のキュリー温度付近にな
るように強度制御する。この例では、記録磁区41の大
きさとして、約0.6μmの幅を狙っている。また、こ
の実施例では、TbFeCo系記録膜を有する光磁気記
録媒体12を用いた。この媒体12のキュリー温度は約
200℃であった。従って、光強度としては、光磁気記
録媒体12上の約0.6μm幅の領域の温度が200℃
を超える強度に制御した。この時の光強度は6.5mW
であった。このようにして、光磁気記録媒体12上の約
0.6μm幅の領域の温度がキュリー温度を超えている
ときに、その領域付近に浮上磁気ヘッド16により、変
調磁界を印加する。これにより、この約0.6μm幅の
領域に変調磁界の方向に磁化が揃った記録磁区が形成さ
れる。
【0020】ところが、この、0.6μm幅の磁区を記
録するのに必要な光強度は、装置の環境温度などによっ
て異なるため、光の強度を適当に制御ないと、図9の従
来例に示したように環境温度によって記録される磁区の
大きさが異なってしまう。記録磁区の大きさが温度によ
って変わると温度変動によって、消え残りが生じてしま
い、信号品質が低下してしまう。従って、この問題を解
決するために本発明では、試し書き制御手段5を設け
た。
録するのに必要な光強度は、装置の環境温度などによっ
て異なるため、光の強度を適当に制御ないと、図9の従
来例に示したように環境温度によって記録される磁区の
大きさが異なってしまう。記録磁区の大きさが温度によ
って変わると温度変動によって、消え残りが生じてしま
い、信号品質が低下してしまう。従って、この問題を解
決するために本発明では、試し書き制御手段5を設け
た。
【0021】図3に試し書き制御手段の構成例を示し
た。この例では、試し書き制御手段は試し書き磁区形成
手段、光強度決定手段、光強度記憶手段の少なくとも3
つのブロックからなる。試し書き磁区形成手段は、磁界
強度制御手段を利用して、光磁気記録媒体上に適当な強
度の磁界を印加しつつ、光強度制御手段を利用して、図
5(a)のように強度変調された光を照射する。この時
光の強度を段階的に変化差せながら照射する。こうして
光の強度に応じて、図5(b),(c),(d)のよう
な試し書き磁区41が形成される。次に、光強度決定手
段歯、このように記録された磁区を再生手段を用いて再
生し、短い周期の磁区からの再生信号と長い周期の磁区
からの再生信号を比較し、両者の中心レベルが一致して
いる光強度を調べることにより、最適な記録光強度(図
5(c))を決定する。この、最適な光強度を光強度記
憶手段(メモリ)により記憶する。
た。この例では、試し書き制御手段は試し書き磁区形成
手段、光強度決定手段、光強度記憶手段の少なくとも3
つのブロックからなる。試し書き磁区形成手段は、磁界
強度制御手段を利用して、光磁気記録媒体上に適当な強
度の磁界を印加しつつ、光強度制御手段を利用して、図
5(a)のように強度変調された光を照射する。この時
光の強度を段階的に変化差せながら照射する。こうして
光の強度に応じて、図5(b),(c),(d)のよう
な試し書き磁区41が形成される。次に、光強度決定手
段歯、このように記録された磁区を再生手段を用いて再
生し、短い周期の磁区からの再生信号と長い周期の磁区
からの再生信号を比較し、両者の中心レベルが一致して
いる光強度を調べることにより、最適な記録光強度(図
5(c))を決定する。この、最適な光強度を光強度記
憶手段(メモリ)により記憶する。
【0022】このような試し書き制御は、周辺温度の変
化や、記録媒体の交換に対応して、媒体交換時、その後
の一定時間(この例では10分)間隔で行った。また、
光磁気記録媒ないの子樹の位置に対応して、複数の場所
で試し書き制御を行った。従って、この例では、光強度
記憶手段によって、媒体内の位置に対応して複数の光強
度を同時に記憶している。
化や、記録媒体の交換に対応して、媒体交換時、その後
の一定時間(この例では10分)間隔で行った。また、
光磁気記録媒ないの子樹の位置に対応して、複数の場所
で試し書き制御を行った。従って、この例では、光強度
記憶手段によって、媒体内の位置に対応して複数の光強
度を同時に記憶している。
【0023】情報記録時には、前記の試し書き制御によ
って、光強度記憶手段に記憶された光強度になるよう
に、記録光の強度を制御し、繰返しパルス状の光に変調
して、記録情報に応じて変調磁界を照射して行った(図
6)。
って、光強度記憶手段に記憶された光強度になるよう
に、記録光の強度を制御し、繰返しパルス状の光に変調
して、記録情報に応じて変調磁界を照射して行った(図
6)。
【0024】このように試し書き制御により、記録光強
度を制御することにより、図9に示したように、環境温
度が変化しても記録磁区径が変化しなくなるため、常に
一定の磁区が記録でき、消えのこりなくオーバライトを
行うことが可能になると共に、高密度記録特性に優れ
る。
度を制御することにより、図9に示したように、環境温
度が変化しても記録磁区径が変化しなくなるため、常に
一定の磁区が記録でき、消えのこりなくオーバライトを
行うことが可能になると共に、高密度記録特性に優れ
る。
【0025】《実施例2》本実施例の全体的な構成は、
図1に示したもので、実施例1と同様である。本実施例
においては、試し書き制御手段として、図2にに示した
構成のものを用いた。
図1に示したもので、実施例1と同様である。本実施例
においては、試し書き制御手段として、図2にに示した
構成のものを用いた。
【0026】実施例1に加え、光強度仮決定用磁区形成
手段、光強度仮決定手段、仮光強度記憶手段、磁界決定
用磁区形成手段、磁界強度決定手段、磁界強度記憶手段
を少なくとも有し、計9つのブロックを少なくとも有し
てなる。
手段、光強度仮決定手段、仮光強度記憶手段、磁界決定
用磁区形成手段、磁界強度決定手段、磁界強度記憶手段
を少なくとも有し、計9つのブロックを少なくとも有し
てなる。
【0027】光強度仮決定用磁区形成手段とは、前記磁
界印加手段を利用して前記光磁気記録媒体上に略一定磁
界を印加しつつ、前記光照射手段を利用して種々の強度
の光を変調しながら照射して前記光磁気記録媒体上に光
強度仮決定用磁区形成し、次に、光強度仮決定手段は、
光強度仮決定用磁区部の再生情報を前記再生手段を利用
して得、該再生情報をもとに、記録時に照射する最適な
光強度を決定し、仮光強度強度を仮光強度記憶手段によ
って記憶する。
界印加手段を利用して前記光磁気記録媒体上に略一定磁
界を印加しつつ、前記光照射手段を利用して種々の強度
の光を変調しながら照射して前記光磁気記録媒体上に光
強度仮決定用磁区形成し、次に、光強度仮決定手段は、
光強度仮決定用磁区部の再生情報を前記再生手段を利用
して得、該再生情報をもとに、記録時に照射する最適な
光強度を決定し、仮光強度強度を仮光強度記憶手段によ
って記憶する。
【0028】次に、磁界決定用磁区形成手段は、仮光強
度の光を前記光照射手段を利用して照射つつ、前記磁界
印加手段を利用して種々の強度の変調磁界を印加して磁
界決定用磁区を形成し、、磁界強度決定手段は、該磁界
決定用磁区部の再生情報を前記再生手段を利用して得、
該再生情報をもとに、記録時に印加する最適な磁界の強
度を決定し、該磁界強度を記憶する磁界強度記憶手段に
よって記憶する。この後は、該磁界強度を用いて、実施
例1と同様に試し書き制御を行う。
度の光を前記光照射手段を利用して照射つつ、前記磁界
印加手段を利用して種々の強度の変調磁界を印加して磁
界決定用磁区を形成し、、磁界強度決定手段は、該磁界
決定用磁区部の再生情報を前記再生手段を利用して得、
該再生情報をもとに、記録時に印加する最適な磁界の強
度を決定し、該磁界強度を記憶する磁界強度記憶手段に
よって記憶する。この後は、該磁界強度を用いて、実施
例1と同様に試し書き制御を行う。
【0029】この例では、実施例1に加え、装置外から
の磁界や、媒体の磁界感度、さらには、装置内部の種々
の磁界発生源からの漏れ込み磁界による記録磁区径変動
をも補正できるため、より高密度な記録が高精度に行え
る。
の磁界や、媒体の磁界感度、さらには、装置内部の種々
の磁界発生源からの漏れ込み磁界による記録磁区径変動
をも補正できるため、より高密度な記録が高精度に行え
る。
【0030】《実施例3》本実施例では、実施例2の試
し書き制御の終了後に繰返し光パルスと変調磁界の位相
差を変化させて、その時のエラーレートの変化を検出す
ることにより、最適な位相差に補正する、位相差検出手
段を有している。位相差を変化させると図7のようにエ
ラー率は位相差が極端に大きくなったところで、急激に
悪化している。この例では、エラー率が1/105を超
える位相差を検出しその中央値を最適位相差として、決
定し、記憶し、その位相差で情報の記録を行う機能を有
している。
し書き制御の終了後に繰返し光パルスと変調磁界の位相
差を変化させて、その時のエラーレートの変化を検出す
ることにより、最適な位相差に補正する、位相差検出手
段を有している。位相差を変化させると図7のようにエ
ラー率は位相差が極端に大きくなったところで、急激に
悪化している。この例では、エラー率が1/105を超
える位相差を検出しその中央値を最適位相差として、決
定し、記憶し、その位相差で情報の記録を行う機能を有
している。
【0031】この、実施例を用いることにより、特に、
高速変調時の信頼性が飛躍的に向上する。
高速変調時の信頼性が飛躍的に向上する。
【0032】《実施例4》本実施例では、図1の構成の
装置で、基準磁区を予め記録してある光磁気記録媒体1
2を用い、該基準磁区の前記再生手段による再生信号
と、前記光照射手段を利用して種々の強度の光を照射し
つつ前記磁界印加手段を利用して前記光磁気記録媒体上
に変調磁界を印加して形成した磁区の前記再生手段によ
る再生信号の振幅あるいは位相差を図8のように比較
し、最適記録条件を決定する比較決定手段を有してい
る。
装置で、基準磁区を予め記録してある光磁気記録媒体1
2を用い、該基準磁区の前記再生手段による再生信号
と、前記光照射手段を利用して種々の強度の光を照射し
つつ前記磁界印加手段を利用して前記光磁気記録媒体上
に変調磁界を印加して形成した磁区の前記再生手段によ
る再生信号の振幅あるいは位相差を図8のように比較
し、最適記録条件を決定する比較決定手段を有してい
る。
【0033】この、実施例を用いることにより、比較的
簡単な構成の試し書き処理回路で、実施例1や2と同等
の効果を得ることができる。子の例でも、実施例3の位
相検出手段を併用することが高速記録の観点から望まし
い。
簡単な構成の試し書き処理回路で、実施例1や2と同等
の効果を得ることができる。子の例でも、実施例3の位
相検出手段を併用することが高速記録の観点から望まし
い。
【0034】
【発明の効果】試し書きにより記録条件を正確に制御す
ることにより、記録磁区の大きさを正確に制御できるた
め、従来の問題点であった消え残りを解消することがで
きる。このため、微小記録磁区でも高精度に記録でき、
消え残りのない良好な高密度オーバライトを行うことが
可能となる。
ることにより、記録磁区の大きさを正確に制御できるた
め、従来の問題点であった消え残りを解消することがで
きる。このため、微小記録磁区でも高精度に記録でき、
消え残りのない良好な高密度オーバライトを行うことが
可能となる。
【図1】本発明の光磁気記録装置の一実施例のブロック
図。
図。
【図2】本発明の光磁気記録装置の一実施例の一部分の
ブロック図。
ブロック図。
【図3】本発明の光磁気記録装置の一実施例の一部分の
ブロック図。
ブロック図。
【図4】従来の光磁気記録装置の例を示すブロック図。
【図5】本発明の光磁気記録装置の一実施例の作用を示
す説明図。
す説明図。
【図6】本発明の光磁気記録方法の一実施例の作用を示
す説明図。
す説明図。
【図7】本発明の光磁気記録装置の一実施例の作用を示
すグラフ図。
すグラフ図。
【図8】本発明の光磁気記録装置の一実施例の作用を示
す説明図。
す説明図。
【図9】本発明の光磁気記録方法の効果を示すグラフ
図。
図。
5…試し書き制御手段,511…試し書き磁区形成手
段,512…光強度決定手段,513…光強度記憶手
段,521…磁界決定用磁区形成手段,522…磁界強
度決定手段,523…磁界強度記憶手段,531…光強
度仮決定用磁区形成手段,532…光強度仮決定手段,
533…仮光強度記憶手段,6…記録制御手段,12…
光磁気記録媒体,91,92…レンズ、10…ビームス
プリッタ,13…レーザ,16…磁気ヘッド,17…支
持バネ,18…コア,21…光スポット,22…再生
光,23…反射光,31…光発生手段,32…走査手
段,321…ディスク回転手段,322…自動位置制御
手段,33…集光手段,34…光検出手段,35…再生
手段,36…光強度制御手段,37…磁界強度制御手
段,38…主制御手段,39…中央制御手段,41…記
録磁区,60バイアス磁界印加手段,53…バイアス磁
界強度制御手段,61…再生光検出部,62…光ヘッ
ド,65…漏れ込み,66…印加磁界。91,92…レ
ンズ。
段,512…光強度決定手段,513…光強度記憶手
段,521…磁界決定用磁区形成手段,522…磁界強
度決定手段,523…磁界強度記憶手段,531…光強
度仮決定用磁区形成手段,532…光強度仮決定手段,
533…仮光強度記憶手段,6…記録制御手段,12…
光磁気記録媒体,91,92…レンズ、10…ビームス
プリッタ,13…レーザ,16…磁気ヘッド,17…支
持バネ,18…コア,21…光スポット,22…再生
光,23…反射光,31…光発生手段,32…走査手
段,321…ディスク回転手段,322…自動位置制御
手段,33…集光手段,34…光検出手段,35…再生
手段,36…光強度制御手段,37…磁界強度制御手
段,38…主制御手段,39…中央制御手段,41…記
録磁区,60バイアス磁界印加手段,53…バイアス磁
界強度制御手段,61…再生光検出部,62…光ヘッ
ド,65…漏れ込み,66…印加磁界。91,92…レ
ンズ。
Claims (9)
- 【請求項1】光磁気記録媒体に光を照射する光照射手段
と,前記光照射手段によって光が照射されている領域に
記録すべき情報に応じて変調磁界を印加する磁界印加手
段と、光磁気記録情報を再生する再生手段とを少なくと
も備えてなる光磁気記録装置において、 少なくとも情報の記録に先立ち記録条件を決定する試し
書き制御手段と、該試し書き制御手段によって決定され
た記録条件で情報の記録を行う記録制御手段とを少なく
とも有してなることを特徴とする磁界変調型光磁気記録
装置。 - 【請求項2】請求項1に記載の光磁気記録装置におい
て、前記試し書き制御手段は、 前記磁界印加手段を利用して前記光磁気記録媒体上に略
一定磁界を印加しつつ、前記光照射手段を利用して種々
の強度の光を変調しながら照射して前記光磁気記録媒体
上に試し書き磁区を形成する試し書き磁区形成手段と、 該試し書き磁区部の再生情報を前記再生手段を利用して
得、該再生情報をもとに、記録時に照射する最適な光の
強度を決定する光強度決定手段と、 該光強度を記憶する光強度記憶手段とを、 少なくとも有してなることを特徴とする磁界変調型光磁
気記録装置。 - 【請求項3】請求項1または2に記載の光磁気記録装置
において、前記試し書き制御手段は、 前記磁界印加手段を利用して前記光磁気記録媒体上に略
一定磁界を印加しつつ、前記光照射手段を利用して種々
の強度の光を変調しながら照射して前記光磁気記録媒体
上に光強度仮決定用磁区を形成するの光強度仮決定用磁
区形成手段と、 該光強度仮決定用磁区部の再生情報を前記再生手段を利
用して得、該再生情報をもとに、記録時に照射する最適
な光強度を決定する光強度仮決定手段と、 該光強度仮決定手段によって決定された仮光強度を記憶
する仮光強度記憶手段とを少なくとも有し、 該仮光強度の光を前記光照射手段を利用して照射つつ、
前記磁界印加手段を利用して種々の強度の変調磁界を印
加して磁界決定用磁区を記録する磁界決定用磁区形成手
段と、 該磁界決定用磁区部の再生情報を前記再生手段を利用し
て得、該再生情報をもとに、記録時に印加する最適な磁
界の強度を決定する磁界強度決定手段と 該磁界強度を記憶する磁界強度記憶手段と、 該強度の磁界を前記磁界印加手段を利用して印加しつ
つ、前記光照射手段を利用して種々の強度の光を変調し
ながら照射して光磁気記録媒体上に試し書き磁区を形成
する試し書き磁区形成手段と、 該試し書き磁区部の再生情報を前記再生手段によって
得、該再生情報をもとに、記録時に照射する最適な光の
強度を決定する光強度決定手段と、 該光強度を記憶する光強度記憶手段とを、 少なくとも有してなることを特徴とする磁界変調型光磁
気記録装置。 - 【請求項4】請求項1〜3のうちいずれかに記載の光磁
気記録装置において、前記記録制御手段は、 前記光強度記憶手段に記憶されている光強度の光を記録
時に照射する光強度制御手段を少なくとも有してなるこ
とを特徴とする磁界変調型光磁気記録装置。 - 【請求項5】請求項3または4に記載の光磁気記録装置
において、前記記録制御手段は、 前記光強度記憶手段に記憶されている光強度の光を記録
時に照射する光強度制御手段と前記磁界強度記憶手段に
記憶されている強度の磁界を記録時に変調印加する磁界
強度制御手段を少なくとも有してなることを特徴とする
磁界変調型光磁気記録装置。 - 【請求項6】請求項1〜5のうちいずれかに記載の光磁
気記録装置において、前記記録制御手段は、記録時に前
記光照射手段によって、記録クロックに同期した繰返し
パルス状の光を照射するパルス光照射手段を少なくとも
有してなることを特徴とする磁界変調型光磁気記録装
置。 - 【請求項7】請求項6に記載の光磁気記録装置におい
て、前記試し書き制御手段は、記録時に前記光照射手段
によって、前記パルス光と前記変調磁界の位相差の最適
値を検出する位相決定手段を少なくとも有してなること
を特徴とする磁界変調型光磁気記録装置。 - 【請求項8】請求項6に記載の光磁気記録装置におい
て、前記試し書き制御手段は、記録時に前記光照射手段
によって、前記パルス光と前記変調磁界の位相差の最適
値を検出する位相決定手段を少なくとも有してなること
を特徴とする磁界変調型光磁気記録装置。 - 【請求項9】請求項1に記載の光磁気記録装置におい
て、前記試し書き制御手段は、 基準磁区を予め記録してある光磁気記録媒体を用い、該
基準磁区の前記再生手段による再生信号と、前記光照射
手段を利用して種々の強度の光を照射しつつ前記磁界印
加手段を利用して前記光磁気記録媒体上に変調磁界を印
加して形成した磁区の前記再生手段による再生信号とを
比較し、最適記録条件を決定する比較決定手段を少なく
とも有してなることを特徴とする磁界変調型光磁気記録
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13986394A JPH087383A (ja) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | 磁界変調型光磁気記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13986394A JPH087383A (ja) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | 磁界変調型光磁気記録装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH087383A true JPH087383A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15255304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13986394A Pending JPH087383A (ja) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | 磁界変調型光磁気記録装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH087383A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5986977A (en) * | 1996-06-28 | 1999-11-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for reading magnetic super resolution type magneto-optical recording medium |
-
1994
- 1994-06-22 JP JP13986394A patent/JPH087383A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5986977A (en) * | 1996-06-28 | 1999-11-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for reading magnetic super resolution type magneto-optical recording medium |
US6188649B1 (en) | 1996-06-28 | 2001-02-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for reading magnetic super resolution type magneto-optical recording medium |
US6222797B1 (en) | 1996-06-28 | 2001-04-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Position adjustment method of a magnetic head using magneto-optical recording medium, and optical recording medium |
US6269056B1 (en) | 1996-06-28 | 2001-07-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Recording method for a magneto-optical recording medium for position adjustment of a magnetic head |
US6307819B1 (en) | 1996-06-28 | 2001-10-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of reading magneto-optical recording medium |
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