JPH0862155A - 物体観測装置 - Google Patents
物体観測装置Info
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- JPH0862155A JPH0862155A JP7207631A JP20763195A JPH0862155A JP H0862155 A JPH0862155 A JP H0862155A JP 7207631 A JP7207631 A JP 7207631A JP 20763195 A JP20763195 A JP 20763195A JP H0862155 A JPH0862155 A JP H0862155A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 対象物の観測対象部分の特徴を正確に反映し
た画像を得て精密な観測結果を得る。 【構成】 被検査物（キャップ）４の上方にテレビカメ
ラ５を配備し、撮像して得られた画像を処理して内壁面
の皺の有無を判別する。テレビカメラ５の周囲にはリン
グストロボ１３および拡散板４１が配備される。一方テ
レビカメラ５の広角レンズ１２の先端には遮光フード１
５が取り付けられると共に、この遮光フード１５と被検
査物４との間に遮光板１６が配備されている。リングス
トロボ１３からの照明光は、この遮光フード１５および
遮光板１６により、被検査物４の底内面のみに照射され
る。
た画像を得て精密な観測結果を得る。 【構成】 被検査物（キャップ）４の上方にテレビカメ
ラ５を配備し、撮像して得られた画像を処理して内壁面
の皺の有無を判別する。テレビカメラ５の周囲にはリン
グストロボ１３および拡散板４１が配備される。一方テ
レビカメラ５の広角レンズ１２の先端には遮光フード１
５が取り付けられると共に、この遮光フード１５と被検
査物４との間に遮光板１６が配備されている。リングス
トロボ１３からの照明光は、この遮光フード１５および
遮光板１６により、被検査物４の底内面のみに照射され
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、対象物を撮像して得
られる画像を用いて計測など所定の画像処理を実行する
物体観測装置に関連する。
られる画像を用いて計測など所定の画像処理を実行する
物体観測装置に関連する。
【０００２】
【従来の技術】図８は、瓶口に嵌めるキャップの外観を
示す。従来、この種のキャップは、金属板に絞り加工を
施して形成されるもので、この加工が適正に行われる
と、図８（１）に示すような内外壁面が平坦なキャップ
１となる。ところがプレス不良などにより、キャップ内
面の開口縁近傍に図８（２）に示すような縦皺２が周面
全体に形成される場合がある。このような縦皺２のある
キャップ１を瓶口に嵌めると、空気もれ等の原因を招来
するため、キャップ内面の検査を行ってこの種キャップ
１を不良品として除去する必要がある。
示す。従来、この種のキャップは、金属板に絞り加工を
施して形成されるもので、この加工が適正に行われる
と、図８（１）に示すような内外壁面が平坦なキャップ
１となる。ところがプレス不良などにより、キャップ内
面の開口縁近傍に図８（２）に示すような縦皺２が周面
全体に形成される場合がある。このような縦皺２のある
キャップ１を瓶口に嵌めると、空気もれ等の原因を招来
するため、キャップ内面の検査を行ってこの種キャップ
１を不良品として除去する必要がある。
【０００３】従来この種の検査は、作業員による目視検
査に依存しているが、検査箇所がキャップの内面である
ため、縦皺の存在有無を確実に判別することは容易でな
く、不良品の見落しによる検査精度の低下を招いてい
る。また人手による検査であるから、検査速度が遅く、
検査効率が低いばかりでなく、作業員の作業負担が大き
く、極度の疲労を招くなどの問題があった。
査に依存しているが、検査箇所がキャップの内面である
ため、縦皺の存在有無を確実に判別することは容易でな
く、不良品の見落しによる検査精度の低下を招いてい
る。また人手による検査であるから、検査速度が遅く、
検査効率が低いばかりでなく、作業員の作業負担が大き
く、極度の疲労を招くなどの問題があった。
【０００４】そこで、最近、この種検査を画像技術によ
って自動化することが提案されている（特開昭６２−８
２３４４号）。この装置は、拡散反射面を備えた環状の
照明装置によりキャップの内面に拡散光を照射し、その
反射光を撮像して得られた画像によりキャップ内面の不
良を判別するようにしている。
って自動化することが提案されている（特開昭６２−８
２３４４号）。この装置は、拡散反射面を備えた環状の
照明装置によりキャップの内面に拡散光を照射し、その
反射光を撮像して得られた画像によりキャップ内面の不
良を判別するようにしている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の装
置では、照明装置からの直接照明光がキャップの内面全
体に照射されるため、キャップ内壁面の凹凸は画像上で
輝度の差として現れにくくなり、検査精度が低下すると
いう問題がある。
置では、照明装置からの直接照明光がキャップの内面全
体に照射されるため、キャップ内壁面の凹凸は画像上で
輝度の差として現れにくくなり、検査精度が低下すると
いう問題がある。
【０００６】この発明は、上記問題を解消するためにな
されたものであって、照明光が対象物の観測対象部分を
直接照射しないように調整するとともに、撮像装置に対
して観測対象部分よりも遠方に位置する反射手段により
照明光を反射させて、その反射光を観測対象部分に照射
することにより、観測対象部分の特徴を正確に反映した
画像を得て精密な観測結果を得られる物体観測装置を提
供することを目的とする。
されたものであって、照明光が対象物の観測対象部分を
直接照射しないように調整するとともに、撮像装置に対
して観測対象部分よりも遠方に位置する反射手段により
照明光を反射させて、その反射光を観測対象部分に照射
することにより、観測対象部分の特徴を正確に反映した
画像を得て精密な観測結果を得られる物体観測装置を提
供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明の物体観測装置
は、対象物の観測対象部分を撮像する撮像手段と、光源
と、前記光源からの照明光を直接受けてその反射光を前
記観測対象部分に照射する反射手段と、前記反射手段か
らの照射光の下で撮像された前記観測対象部分の画像を
用いて所定の処理を実行する画像処理手段とを備えてい
る。第１の発明では、前記光源をその照明光が前記観測
対象部分に直接照射されないように配備すると共に、前
記反射手段を前記撮像手段に対して前記観測対象部分よ
りも遠方に位置するようにしている。
は、対象物の観測対象部分を撮像する撮像手段と、光源
と、前記光源からの照明光を直接受けてその反射光を前
記観測対象部分に照射する反射手段と、前記反射手段か
らの照射光の下で撮像された前記観測対象部分の画像を
用いて所定の処理を実行する画像処理手段とを備えてい
る。第１の発明では、前記光源をその照明光が前記観測
対象部分に直接照射されないように配備すると共に、前
記反射手段を前記撮像手段に対して前記観測対象部分よ
りも遠方に位置するようにしている。
【０００８】また第２の発明の物体観測装置では、前記
光源と対象物との間には、前記光源からの照明光が観測
対象部分に直接照射されないように照明光を遮蔽する遮
蔽手段が配備されており、前記反射手段は前記撮像手段
に対して前記観測対象部分よりも遠方に位置している。
光源と対象物との間には、前記光源からの照明光が観測
対象部分に直接照射されないように照明光を遮蔽する遮
蔽手段が配備されており、前記反射手段は前記撮像手段
に対して前記観測対象部分よりも遠方に位置している。
【０００９】
【作用】光源からの照明光は、対象物の観測対象部分に
直接照射されずに反射手段に照射される。この反射手段
は、撮像手段に対して観測対象部分よりも遠方に位置し
ており、その反射光は間接照明光として観測対象部分に
照射される。この間接照明光の下で観測対象部分を撮像
すれば、その特徴を正確に反映した画像を得ることがで
きる。
直接照射されずに反射手段に照射される。この反射手段
は、撮像手段に対して観測対象部分よりも遠方に位置し
ており、その反射光は間接照明光として観測対象部分に
照射される。この間接照明光の下で観測対象部分を撮像
すれば、その特徴を正確に反映した画像を得ることがで
きる。
【００１０】
【実施例】図１は、この発明の一実施例にかかるキャッ
プの内面の皺検査装置を示している。この装置例は瓶口
に嵌める金属製キャップを検査対象としているが、この
発明はこれに限らず、缶詰の容器などを検査対象とする
こともできる。図示例の装置は、搬送コンベヤ３で搬送
されてくる多数の被検査物４につき、所定の検査位置に
てキャップ内壁面の縦皺の有無を次々に高速検査するも
ので、テレビカメラ５，コントローラ６，ビデオモニタ
７，ライトペン８，物体検知センサ９，ストロボ照明装
置１０，ストロボ制御装置１１などから構成されてい
る。
プの内面の皺検査装置を示している。この装置例は瓶口
に嵌める金属製キャップを検査対象としているが、この
発明はこれに限らず、缶詰の容器などを検査対象とする
こともできる。図示例の装置は、搬送コンベヤ３で搬送
されてくる多数の被検査物４につき、所定の検査位置に
てキャップ内壁面の縦皺の有無を次々に高速検査するも
ので、テレビカメラ５，コントローラ６，ビデオモニタ
７，ライトペン８，物体検知センサ９，ストロボ照明装
置１０，ストロボ制御装置１１などから構成されてい
る。
【００１１】テレビカメラ５は例えば２次元ＣＣＤカメ
ラであって、被検査物４を撮像するためのもので、その
ビデオ信号ＶＤi はコントローラ６に与えられる。コン
トローラ６はテレビカメラ５からのビデオ信号ＶＤi を
２値化して、皺検査に関する各種の演算や処理を実行す
る。ビデオモニタ７は被検査物４などの画像を表示する
他、メニューや計測・判定結果などの表示を行う。ライ
トペン８はメニューの選択などに用いられ、ビデオモニ
タ７との組み合わせで検査プログラムの設定を行う。物
体検知センサ９は光電スイッチ等であって、被検査物４
が検査位置に到達したのを検知する。ストロボ照明装置
１０は例えばリングストロボを光源とし、移動中の被検
査物４へストロボ照明を施して静止画化するためのもの
である。ストロボ制御装置１１はストロボ発光に関する
制御、例えばテレビカメラ５の受光禁止タイミングでの
発光禁止などの制御などを行うものである。
ラであって、被検査物４を撮像するためのもので、その
ビデオ信号ＶＤi はコントローラ６に与えられる。コン
トローラ６はテレビカメラ５からのビデオ信号ＶＤi を
２値化して、皺検査に関する各種の演算や処理を実行す
る。ビデオモニタ７は被検査物４などの画像を表示する
他、メニューや計測・判定結果などの表示を行う。ライ
トペン８はメニューの選択などに用いられ、ビデオモニ
タ７との組み合わせで検査プログラムの設定を行う。物
体検知センサ９は光電スイッチ等であって、被検査物４
が検査位置に到達したのを検知する。ストロボ照明装置
１０は例えばリングストロボを光源とし、移動中の被検
査物４へストロボ照明を施して静止画化するためのもの
である。ストロボ制御装置１１はストロボ発光に関する
制御、例えばテレビカメラ５の受光禁止タイミングでの
発光禁止などの制御などを行うものである。
【００１２】前記テレビカメラ５およびストロボ照明装
置１０は図示しない支柱に個別に高さ調節可能に取り付
けられ、被検査物４に対するそれぞれの高さを自在に調
整した後、ネジ等でその位置に固定できるようになって
いる。
置１０は図示しない支柱に個別に高さ調節可能に取り付
けられ、被検査物４に対するそれぞれの高さを自在に調
整した後、ネジ等でその位置に固定できるようになって
いる。
【００１３】図２は、テレビカメラ５とストロボ照明装
置１０との組立構造の一例を示しており、広角レンズ１
２が装着されたテレビカメラ５を中央にして、その周囲
を取り囲むようにストロボ照明装置１０が配備されてい
る。図示例のストロボ照明装置１０はリングストロボ１
３を光源としているが、例えばグラスファイバをリング
配置してフィラメントの光を各グラスファイバにて導く
ような構成のものであってもよい。前記リングストロボ
１３はハウジング１４内に収容され、ストロボ光源光の
照射方向には拡散板４１が配備されている。
置１０との組立構造の一例を示しており、広角レンズ１
２が装着されたテレビカメラ５を中央にして、その周囲
を取り囲むようにストロボ照明装置１０が配備されてい
る。図示例のストロボ照明装置１０はリングストロボ１
３を光源としているが、例えばグラスファイバをリング
配置してフィラメントの光を各グラスファイバにて導く
ような構成のものであってもよい。前記リングストロボ
１３はハウジング１４内に収容され、ストロボ光源光の
照射方向には拡散板４１が配備されている。
【００１４】またこのストロボ照明装置１０は、リング
ストロボ１３によるストロボ光源光の照射範囲を規制し
たり、このストロボ光源光が被検査物４の内壁面を直接
照射するのを規制したりするための構成として、テレビ
カメラ５の広角レンズ１２に取り付けた遮光フード１５
と、ストロボ照明装置１０の下方位置に配設された遮光
板１６とを含んでいる。
ストロボ１３によるストロボ光源光の照射範囲を規制し
たり、このストロボ光源光が被検査物４の内壁面を直接
照射するのを規制したりするための構成として、テレビ
カメラ５の広角レンズ１２に取り付けた遮光フード１５
と、ストロボ照明装置１０の下方位置に配設された遮光
板１６とを含んでいる。
【００１５】前記の遮光フード１５はリングストロボ１
３と被検査物４との間に位置させて、広角レンズ１２へ
の入射光を遮断すると共に、被検査物４の内壁面にスト
ロボ光源光が直接照射されるのを規制するためのもので
あって、広角レンズ１２への装着位置を前後調整するこ
とによりリングストロボ１３と被検査物４との間に遮光
フード１５の先端縁を進退可能となしている。なお遮光
フード１５はそれ専用のフードを用いても、またレンズ
フードを兼用してもよい。さらにこの遮光フード１５を
径方向に拡縮可能な構造に形成することにより、リング
ストロボ１３と被検査物４との間に遮光フード１５の先
端縁を進退させることもできる。
３と被検査物４との間に位置させて、広角レンズ１２へ
の入射光を遮断すると共に、被検査物４の内壁面にスト
ロボ光源光が直接照射されるのを規制するためのもので
あって、広角レンズ１２への装着位置を前後調整するこ
とによりリングストロボ１３と被検査物４との間に遮光
フード１５の先端縁を進退可能となしている。なお遮光
フード１５はそれ専用のフードを用いても、またレンズ
フードを兼用してもよい。さらにこの遮光フード１５を
径方向に拡縮可能な構造に形成することにより、リング
ストロボ１３と被検査物４との間に遮光フード１５の先
端縁を進退させることもできる。
【００１６】遮光板１６は中央に円形孔１７を有する黒
色のベークライト板であって、ストロボ光源光が被検査
物４の外壁面に照射されるのを阻止するためのものであ
る。この実施例の場合、遮光板１６の上下位置調整で照
射範囲を調節しているが、例えば円形孔１７を拡縮可能
に形成して、照射範囲を調整してもよい。
色のベークライト板であって、ストロボ光源光が被検査
物４の外壁面に照射されるのを阻止するためのものであ
る。この実施例の場合、遮光板１６の上下位置調整で照
射範囲を調節しているが、例えば円形孔１７を拡縮可能
に形成して、照射範囲を調整してもよい。
【００１７】上記遮光フード１５および遮光板１６によ
り規制されたストロボ光源光は被検査物４の内側底部に
案内される。図示例の場合、この被検査物４の底内面に
は乳白色を呈する樹脂製のパッキン２０が装着されてお
り、ストロボ光源光はこのパッキン２０の表面で乱反射
されて間接照明光に生成されると共に、この間接照明光
が被検査物４の内壁面、特に縦皺の発生する開口縁近傍
に照射される。このような間接照明が最適に行われる
と、良品を撮像して得た２値画像は図４（１）に示す如
く、被検査物の像１８が白く現れ、その背景部分（図中
斜線で示す）が黒く現れると共に、不良品を撮像して得
た２値画像には図４（２）に示す如く、白い被検査物の
像１８の中に縦皺の明暗像１９が円陣に現れることにな
る。
り規制されたストロボ光源光は被検査物４の内側底部に
案内される。図示例の場合、この被検査物４の底内面に
は乳白色を呈する樹脂製のパッキン２０が装着されてお
り、ストロボ光源光はこのパッキン２０の表面で乱反射
されて間接照明光に生成されると共に、この間接照明光
が被検査物４の内壁面、特に縦皺の発生する開口縁近傍
に照射される。このような間接照明が最適に行われる
と、良品を撮像して得た２値画像は図４（１）に示す如
く、被検査物の像１８が白く現れ、その背景部分（図中
斜線で示す）が黒く現れると共に、不良品を撮像して得
た２値画像には図４（２）に示す如く、白い被検査物の
像１８の中に縦皺の明暗像１９が円陣に現れることにな
る。
【００１８】図３は、上記皺検査装置におけるコントロ
ーラ６の回路構成例を示している。図中、テレビカメラ
５は被検査物４を撮像してビデオ信号ＶＤi を出力し、
２値化部２３はこのビデオ信号ＶＤi を取り込み２値化
処理して２値画像を生成する。２値化しきい値制御部２
４はビデオ信号ＶＤi を２値化するためのしきい値を設
定して、前記２値化部２３の２値化処理を制御する。基
準パターン記憶用メモリ２５は良品サンプルを撮像して
得た２値画像を基準パターンとして登録するためのもの
であり、計測パターン記憶用メモリ２６は被検査物４を
撮像して得た２値画像を計測パターンとして記憶させる
ためのものである。ウィンドウ記憶用メモリ２７は後記
する観測ウィンドウや計測ウィンドウを記憶しておく部
分であり、メモリ制御部２８はこれら各メモリ１５〜１
７に対する画像データの読み書きを制御する。
ーラ６の回路構成例を示している。図中、テレビカメラ
５は被検査物４を撮像してビデオ信号ＶＤi を出力し、
２値化部２３はこのビデオ信号ＶＤi を取り込み２値化
処理して２値画像を生成する。２値化しきい値制御部２
４はビデオ信号ＶＤi を２値化するためのしきい値を設
定して、前記２値化部２３の２値化処理を制御する。基
準パターン記憶用メモリ２５は良品サンプルを撮像して
得た２値画像を基準パターンとして登録するためのもの
であり、計測パターン記憶用メモリ２６は被検査物４を
撮像して得た２値画像を計測パターンとして記憶させる
ためのものである。ウィンドウ記憶用メモリ２７は後記
する観測ウィンドウや計測ウィンドウを記憶しておく部
分であり、メモリ制御部２８はこれら各メモリ１５〜１
７に対する画像データの読み書きを制御する。
【００１９】前記観測ウィンドウは前記２値画像の観測
範囲を規定するためのもので、図４（１）中Ｗ1 で示す
如く、キャップの像１８を包含するに十分な大きさに形
成される。また計測ウィンドウはこの像１８における縦
皺の明暗像１９を観測するためのもので、図４（１）
（２）中Ｗ2 で示す如く、像１８と同心円上に像１８の
輪郭より若干小さな径をもつリング形状に形成される。
範囲を規定するためのもので、図４（１）中Ｗ1 で示す
如く、キャップの像１８を包含するに十分な大きさに形
成される。また計測ウィンドウはこの像１８における縦
皺の明暗像１９を観測するためのもので、図４（１）
（２）中Ｗ2 で示す如く、像１８と同心円上に像１８の
輪郭より若干小さな径をもつリング形状に形成される。
【００２０】つぎに演算処理部２９は２値画像の輪郭の
重心位置を求める演算や計測ウィンドウＷ2 内の黒画素
数を計数する演算などを演算制御部３０の制御の下に実
行する。また中央処理部３１はＲＯＭ３２のプログラム
を解読実行し、ＲＡＭ３３に対するデータの読み書きを
行いつつ、２値画像の重心位置のずれ量を判定したり、
黒画素数の計測結果から皺の有無を判定したりするな
ど、各種処理を実行する。なおアドレス制御部３４はＲ
ＯＭ３２やＲＡＭ３３のアドレスを生成して命令やデー
タの読み書きを制御する。さらに中央処理部３１は入出
力動作を制御するもので、計測同期入力インターフェイ
ス部３６を介して物体検知センサ９より検知信号を取り
込み、またストロボ制御インターフェイス部３７を介し
てストロボ発光のためのストロボトリガ信号を、判定出
力インターフェイス部３７を介して判定信号を、それぞ
れ出力する。
重心位置を求める演算や計測ウィンドウＷ2 内の黒画素
数を計数する演算などを演算制御部３０の制御の下に実
行する。また中央処理部３１はＲＯＭ３２のプログラム
を解読実行し、ＲＡＭ３３に対するデータの読み書きを
行いつつ、２値画像の重心位置のずれ量を判定したり、
黒画素数の計測結果から皺の有無を判定したりするな
ど、各種処理を実行する。なおアドレス制御部３４はＲ
ＯＭ３２やＲＡＭ３３のアドレスを生成して命令やデー
タの読み書きを制御する。さらに中央処理部３１は入出
力動作を制御するもので、計測同期入力インターフェイ
ス部３６を介して物体検知センサ９より検知信号を取り
込み、またストロボ制御インターフェイス部３７を介し
てストロボ発光のためのストロボトリガ信号を、判定出
力インターフェイス部３７を介して判定信号を、それぞ
れ出力する。
【００２１】表示合成部３８は表示画像指定部３９から
の指定に基づきテレビカメラ５から濃淡画像を取り込ん
だり、或いは各メモリ２５〜２７に格納された２値画像
やウィンドウを読み出したりすると共に、必要に応じて
画像の合成を行うものであり、その画像はビデオモニタ
インターフェイス部４０を介してビデオモニタ７へ送ら
れる。
の指定に基づきテレビカメラ５から濃淡画像を取り込ん
だり、或いは各メモリ２５〜２７に格納された２値画像
やウィンドウを読み出したりすると共に、必要に応じて
画像の合成を行うものであり、その画像はビデオモニタ
インターフェイス部４０を介してビデオモニタ７へ送ら
れる。
【００２２】つぎに上記装置例の動作を図５および図６
に示すフローチャートに基づき説明する。図５は上記装
置例における各種検査パラメータの設定手順を示してお
り、まず同図のステップ１（図中「ＳＴ１」で示す）に
おいて、テレビカメラ５により自然照明下で良品サンプ
ルを撮像して、この良品サンプルの濃淡画像をビデオモ
ニタ７に表示させた後、この画像を見ながらテレビカメ
ラ５のピントがキャップの開口縁近傍に合うようピント
調整を行う。
に示すフローチャートに基づき説明する。図５は上記装
置例における各種検査パラメータの設定手順を示してお
り、まず同図のステップ１（図中「ＳＴ１」で示す）に
おいて、テレビカメラ５により自然照明下で良品サンプ
ルを撮像して、この良品サンプルの濃淡画像をビデオモ
ニタ７に表示させた後、この画像を見ながらテレビカメ
ラ５のピントがキャップの開口縁近傍に合うようピント
調整を行う。
【００２３】つぎのステップ２では、表示画像指定部３
９により波形表示の指定を行って、ビデオモニタ７に前
記画像適所のビデオ信号波形を表示させた後、これを見
ながらテレビカメラ５の絞りを調節する。つきにステッ
プ３で、ストロボ照明装置１０による照明下で不良品サ
ンプルを撮像し、波形表示を見ながら、リングストロボ
１３や遮光フード１５の位置調節を行って、信号波形上
で撮像対象と背景とのレベル差が十分大きくなるように
設定する。つぎにステップ４で良品サンプルを撮像して
同様の微調節を行った後、続くステップ５で波形を観測
しつつ遮光板１９の位置調節を行う。
９により波形表示の指定を行って、ビデオモニタ７に前
記画像適所のビデオ信号波形を表示させた後、これを見
ながらテレビカメラ５の絞りを調節する。つきにステッ
プ３で、ストロボ照明装置１０による照明下で不良品サ
ンプルを撮像し、波形表示を見ながら、リングストロボ
１３や遮光フード１５の位置調節を行って、信号波形上
で撮像対象と背景とのレベル差が十分大きくなるように
設定する。つぎにステップ４で良品サンプルを撮像して
同様の微調節を行った後、続くステップ５で波形を観測
しつつ遮光板１９の位置調節を行う。
【００２４】つぎにステップ６で良品サンプルと不良品
サンプルとを交互に２値化部２３により２値化して、両
者の識別が容易に行えるように２値化レベルを調節した
後、つぎのステップ７で良品サンプルの２値画像を基準
パターンとして基準パターン記憶用メモリ２５に登録し
ておく。
サンプルとを交互に２値化部２３により２値化して、両
者の識別が容易に行えるように２値化レベルを調節した
後、つぎのステップ７で良品サンプルの２値画像を基準
パターンとして基準パターン記憶用メモリ２５に登録し
ておく。
【００２５】つぎにステップ８でこの基準パターンの検
査領域（縦皺の明暗像の現れる部分）に対し前記計測ウ
ィンドウＷ2 を設定した後、つぎのステップ９で計測ウ
ィンドウＷ2 内の黒画素数を演算処理部２９により計測
して、その計測値を許容値としてＲＡＭ３３にセットし
ておく。つぎにステップ１０で、不良品サンプルの２値
画像と他の良品サンプルの２値画像とにつき、計測ウィ
ンドウＷ2 内の黒画素数を演算処理部２９により計測し
て前記の許容値を微調整した後、続くステップ１１では
観測ウィンドウＷ1 を、ステップ１２では計測同期条件
やストロボ発光強度などを、それぞれ設定して検査パラ
メータの設定作業を完了する。
査領域（縦皺の明暗像の現れる部分）に対し前記計測ウ
ィンドウＷ2 を設定した後、つぎのステップ９で計測ウ
ィンドウＷ2 内の黒画素数を演算処理部２９により計測
して、その計測値を許容値としてＲＡＭ３３にセットし
ておく。つぎにステップ１０で、不良品サンプルの２値
画像と他の良品サンプルの２値画像とにつき、計測ウィ
ンドウＷ2 内の黒画素数を演算処理部２９により計測し
て前記の許容値を微調整した後、続くステップ１１では
観測ウィンドウＷ1 を、ステップ１２では計測同期条件
やストロボ発光強度などを、それぞれ設定して検査パラ
メータの設定作業を完了する。
【００２６】図６は上記装置例による被検査物４の皺検
査の手順を示しており、同図のステップ２１は被検査物
４が所定の検査位置に到達したか否かを判別している。
いま搬送コンベヤ３上の被検査物４が物体検知センサ９
で検知されると、その検知信号はコントローラ６の中央
処理部３１に与えられ、ステップ２１の判定は“ＹＥ
Ｓ”となる。つぎのステップ２２で中央処理部３１はス
トロボ発光禁止期間中か否かを判断しており、その判定
が“ＮＯ”のときは直ちにストロボトリガ信号をストロ
ボ制御装置１１に与え、またその判定が“ＹＥＳ”のと
きは前記禁止期間分の遅延動作を行った後（ステップ２
３）、ストロボトリガ信号をストロボ制御装置１１に与
えて、それぞれのタイミングでストロボ照明装置１０の
リングストロボ１３をストロボ発光させる（ステップ２
４）。
査の手順を示しており、同図のステップ２１は被検査物
４が所定の検査位置に到達したか否かを判別している。
いま搬送コンベヤ３上の被検査物４が物体検知センサ９
で検知されると、その検知信号はコントローラ６の中央
処理部３１に与えられ、ステップ２１の判定は“ＹＥ
Ｓ”となる。つぎのステップ２２で中央処理部３１はス
トロボ発光禁止期間中か否かを判断しており、その判定
が“ＮＯ”のときは直ちにストロボトリガ信号をストロ
ボ制御装置１１に与え、またその判定が“ＹＥＳ”のと
きは前記禁止期間分の遅延動作を行った後（ステップ２
３）、ストロボトリガ信号をストロボ制御装置１１に与
えて、それぞれのタイミングでストロボ照明装置１０の
リングストロボ１３をストロボ発光させる（ステップ２
４）。
【００２７】このときのストロボ光源光は拡散板４１で
拡散された後、その拡散光は遮光フード１５や遮光板１
６による規制作用を受けて被検査物４の内側へ導かれ、
被検査物４の内壁面に直接照射されることなく、底部上
のパッキン２０へ照射される。その結果、この照射光は
パッキン２０で乱反射されて間接照明光に生成され、こ
の間接照明光が被検査物４の内壁面に照射される。
拡散された後、その拡散光は遮光フード１５や遮光板１
６による規制作用を受けて被検査物４の内側へ導かれ、
被検査物４の内壁面に直接照射されることなく、底部上
のパッキン２０へ照射される。その結果、この照射光は
パッキン２０で乱反射されて間接照明光に生成され、こ
の間接照明光が被検査物４の内壁面に照射される。
【００２８】この間接照明光の下でテレビカメラ５は被
検査物４を撮像し、そのビデオ信号ＶＤi は２値化部２
３で２値化されて、その２値画像が計測パターンとして
計測パターン記憶用メモリ２６に格納される（ステップ
２５）。
検査物４を撮像し、そのビデオ信号ＶＤi は２値化部２
３で２値化されて、その２値画像が計測パターンとして
計測パターン記憶用メモリ２６に格納される（ステップ
２５）。
【００２９】つぎにステップ２６において、演算処理部
２９はこの計測パターンの輪郭を抽出した後、その輪郭
の重心を算出し、さらにつぎのステップ２７で、この重
心の基準パターンの輪郭の重心に対する位置ずれ量を算
出する。
２９はこの計測パターンの輪郭を抽出した後、その輪郭
の重心を算出し、さらにつぎのステップ２７で、この重
心の基準パターンの輪郭の重心に対する位置ずれ量を算
出する。
【００３０】図７は、計測パターンの重心Ｇと基準パタ
ーンの重心Ｇ0 とが位置ずれしている状態を示してい
る。同図中、（Ｘ，Ｙ）は計測パターンの重心Ｇの座標
を、また（Ｘ0 ，Ｙ0 ）は基準パターンの重心Ｇ0 の座
標を、それぞれ示しており、重心Ｇの重心Ｇ0 に対する
位置ずれ量ΔＸ，ΔＹは次式のとおりである。 ΔＸ＝Ｘ−Ｘ0 ・・・・ ΔＹ＝Ｙ−Ｙ0 ・・・・
ーンの重心Ｇ0 とが位置ずれしている状態を示してい
る。同図中、（Ｘ，Ｙ）は計測パターンの重心Ｇの座標
を、また（Ｘ0 ，Ｙ0 ）は基準パターンの重心Ｇ0 の座
標を、それぞれ示しており、重心Ｇの重心Ｇ0 に対する
位置ずれ量ΔＸ，ΔＹは次式のとおりである。 ΔＸ＝Ｘ−Ｘ0 ・・・・ ΔＹ＝Ｙ−Ｙ0 ・・・・
【００３１】つぎに演算処理部２９はこの重心の位置ず
れ量ΔＸ，ΔＹに基づき計測パターンの位置を補正した
後、この補正後の計測パターンにつき計測ウィンドウＷ
2 を設定して、ウィンドウ内の黒画素数を計測する（ス
テップ２８）。その計測値は中央処理部３１に与えら
れ、中央処理部３１はこの計数値が所定の許容値以内で
あるか否かを判定する（ステップ２９）。その結果、計
数値が許容値以内であるときは、被検査物４は良品であ
ると判断されるが、もし計数値が許容値を越えるとき
は、被検査物４は不良品であると判断され、ステップ３
０でその被検査物４は搬送ラインより除かれることにな
る。
れ量ΔＸ，ΔＹに基づき計測パターンの位置を補正した
後、この補正後の計測パターンにつき計測ウィンドウＷ
2 を設定して、ウィンドウ内の黒画素数を計測する（ス
テップ２８）。その計測値は中央処理部３１に与えら
れ、中央処理部３１はこの計数値が所定の許容値以内で
あるか否かを判定する（ステップ２９）。その結果、計
数値が許容値以内であるときは、被検査物４は良品であ
ると判断されるが、もし計数値が許容値を越えるとき
は、被検査物４は不良品であると判断され、ステップ３
０でその被検査物４は搬送ラインより除かれることにな
る。
【００３２】
【発明の効果】この発明は上記の如く、対象物の観測対
象部分に対し光源からの照明光が直接照射されないよう
にすると共に、撮像手段に対して観測対象部分よりも遠
方に位置する反射手段により照明光を反射させて、この
反射光を観測対象部分に照射するようにしたから、観測
対象部分を反射手段による間接照明光の下で撮像してそ
の特徴を正確に反映した画像を得ることができ、この画
像を用いて高精度の観測を行うことが可能となる。
象部分に対し光源からの照明光が直接照射されないよう
にすると共に、撮像手段に対して観測対象部分よりも遠
方に位置する反射手段により照明光を反射させて、この
反射光を観測対象部分に照射するようにしたから、観測
対象部分を反射手段による間接照明光の下で撮像してそ
の特徴を正確に反映した画像を得ることができ、この画
像を用いて高精度の観測を行うことが可能となる。
【図１】この発明の一実施例にかかる皺検査装置の概略
構成を示す外観図である。
構成を示す外観図である。
【図２】テレビカメラとストロボ照明装置との組立構造
を拡大して示す説明図である。
を拡大して示す説明図である。
【図３】コントローラの回路構成例を示すブロック図で
ある。
ある。
【図４】良品および不良品の２値画像を示す説明図であ
る。
る。
【図５】検査パラメータ設定の手順を示すフローチャー
トである。
トである。
【図６】皺検査の手順を示すフローチャートである。
【図７】重心の位置ずれ状態を示す説明図である。
【図８】良品および不良品のキャップの外観を示す斜面
図である。
図である。
１ キャップ ４ 被検査物 ６ コントローラ １３ ストロボ光源 １５ 遮光フード １６ 遮光板 ２０ パッキン
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 // Ｇ０６Ｔ 7/00
Claims (2)
- 【請求項１】 対象物の観測対象部分を撮像する撮像手
段と、 光源と、 前記光源からの照明光を直接受けてその反射光を前記観
測対象部分に照射する反射手段と、 前記反射手段からの照明光の下で撮像された前記観測対
象部分の画像を用いて所定の処理を実行する画像処理手
段とを備え、 前記光源はその照明光が前記観測対象部分に直接照射さ
れないように配備されると共に、前記反射手段は前記撮
像手段に対して前記観測対象部分よりも遠方に位置して
成る物体観測装置。 - 【請求項２】 対象物の観測対象部分を撮像する撮像手
段と、 光源と、 前記光源からの照明光を直接受けてその反射光を前記観
測対象部分に照射する反射手段と、 前記反射手段からの照明光の下で撮像された前記観測対
象部分の画像を用いて所定の処理を実行する画像処理手
段とを備え、 前記光源と対象物との間には、前記光源からの照明光が
観測対象部分に直接照射されないように照明光を遮蔽す
る遮蔽手段が配備されると共に、前記反射手段は前記撮
像手段に対して前記観測対象部分よりも遠方に位置して
成る物体観測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7207631A JPH0862155A (ja) | 1995-07-21 | 1995-07-21 | 物体観測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7207631A JPH0862155A (ja) | 1995-07-21 | 1995-07-21 | 物体観測装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62225984A Division JPH0823530B2 (ja) | 1987-09-09 | 1987-09-09 | 物体観測装置およびその装置を用いた円筒物の内壁面検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0862155A true JPH0862155A (ja) | 1996-03-08 |
Family
ID=16543000
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7207631A Pending JPH0862155A (ja) | 1995-07-21 | 1995-07-21 | 物体観測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0862155A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001027609A (ja) * | 1999-07-15 | 2001-01-30 | Kirin Techno-System Corp | 樹脂製キャップの照明撮像装置 |
| EP1983333A3 (de) * | 2007-04-19 | 2010-06-02 | Krones AG | Inspektionsvorrichtung zum Untersuchen von Behältnisverschlüssen |
| JP2011163954A (ja) * | 2010-02-10 | 2011-08-25 | Fujikura Ltd | 線材表面探傷装置 |
| JP2012052907A (ja) * | 2010-09-01 | 2012-03-15 | Q P Corp | 樹脂製キャップ内部品の検査装置および樹脂製キャップ内部品の検査方法 |
| JP2012078120A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-19 | Kirin Techno-System Co Ltd | 容器用キャップの検査装置 |
| CN109741357A (zh) * | 2018-12-19 | 2019-05-10 | 浙江大学 | 一种基于图像处理的油菜花序计数方法和装置 |
| CN110793968A (zh) * | 2018-08-02 | 2020-02-14 | 由田新技股份有限公司 | 辨识孔壁瑕疵的检测设备 |
| KR102360140B1 (ko) * | 2021-06-17 | 2022-02-08 | 박성수 | 부품검사용 비전 검사 장치 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6468644A (en) * | 1987-09-09 | 1989-03-14 | Omron Tateisi Electronics Co | Wrinkle inspecting device for internal wall surface of cap or the like |
-
1995
- 1995-07-21 JP JP7207631A patent/JPH0862155A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6468644A (en) * | 1987-09-09 | 1989-03-14 | Omron Tateisi Electronics Co | Wrinkle inspecting device for internal wall surface of cap or the like |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN110793968A (zh) * | 2018-08-02 | 2020-02-14 | 由田新技股份有限公司 | 辨识孔壁瑕疵的检测设备 |
| CN109741357A (zh) * | 2018-12-19 | 2019-05-10 | 浙江大学 | 一种基于图像处理的油菜花序计数方法和装置 |
| KR102360140B1 (ko) * | 2021-06-17 | 2022-02-08 | 박성수 | 부품검사용 비전 검사 장치 |
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