JPH0732772B2 - 超音波診断用プローブ支持装置 - Google Patents
超音波診断用プローブ支持装置Info
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- JPH0732772B2 JPH0732772B2 JP63327771A JP32777188A JPH0732772B2 JP H0732772 B2 JPH0732772 B2 JP H0732772B2 JP 63327771 A JP63327771 A JP 63327771A JP 32777188 A JP32777188 A JP 32777188A JP H0732772 B2 JPH0732772 B2 JP H0732772B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は超音波診断装置に用いるプローブの支持装置
に関し、特に頭部、心臓部、腹部などの超音波断層像を
特定の臓器，腫瘍、血流などについてその三次元的生体
内位置関係を明確にしながら記録診断するためのプロー
ブ支持装置に関する。
に関し、特に頭部、心臓部、腹部などの超音波断層像を
特定の臓器，腫瘍、血流などについてその三次元的生体
内位置関係を明確にしながら記録診断するためのプロー
ブ支持装置に関する。
超音波診断装置は生体の軟質組織の断層像を得て診断に
使用するものであって、人体の頭部から足先まで広く適
用することができるものであり、検査する部位に手動で
プローブを当てて断層像を得、記録診断に供されてい
る。
使用するものであって、人体の頭部から足先まで広く適
用することができるものであり、検査する部位に手動で
プローブを当てて断層像を得、記録診断に供されてい
る。
〔発明が解決しようとする課題〕 被検査部位付近にプローブを当て、手動でプローブを移
動させながら順次断層像を得て、これを実時間で観察す
るときは、検者が持つ解剖学的予備知識によって検者の
頭の中で生体組織の三次元的構成を想像することは可能
である。しなしながら、記録した断層像を後刻再検討す
るような場合には、断層像が被検体のどの部分の像かを
正確に知ることはできず、記録した複数の断層像から生
体の三次元的な構成を知ることは不可能であった。この
ため、得られた超音波断層像を、例えばＸ線CT像、核磁
気共鳴断層像装置（MRI）、ラジオアイソトープ画像装
置（RI）等による切断面位置が比較的明確な断層像との
詳細な対応関係を得ることが極めて困難であった。
動させながら順次断層像を得て、これを実時間で観察す
るときは、検者が持つ解剖学的予備知識によって検者の
頭の中で生体組織の三次元的構成を想像することは可能
である。しなしながら、記録した断層像を後刻再検討す
るような場合には、断層像が被検体のどの部分の像かを
正確に知ることはできず、記録した複数の断層像から生
体の三次元的な構成を知ることは不可能であった。この
ため、得られた超音波断層像を、例えばＸ線CT像、核磁
気共鳴断層像装置（MRI）、ラジオアイソトープ画像装
置（RI）等による切断面位置が比較的明確な断層像との
詳細な対応関係を得ることが極めて困難であった。
また、超音波断層像で描出される被検体の領域は限られ
たものであって、例えば腹部をその身長の方向に沿った
断層像で観察することはできなかった。この解決策とし
て、プローブを断層面と直交する方向に機械的に移動さ
せつつ複数の断層像を得て、これをメモリに記憶させ、
記憶させた画信号に基づいて任意方向の断層像を再構築
する試みが知られている（一例として特開昭56−70757
号公報参照）。しかしながら、このようにプローブの位
置を機械的に設定する方法によるときは生体組織に対す
る超音波ビームの照射方向が固定されるから、骨のよう
に超音波を強く反射する部分があると照射した超音波が
回折して充分な画質、分解能のある画像が得られない。
たものであって、例えば腹部をその身長の方向に沿った
断層像で観察することはできなかった。この解決策とし
て、プローブを断層面と直交する方向に機械的に移動さ
せつつ複数の断層像を得て、これをメモリに記憶させ、
記憶させた画信号に基づいて任意方向の断層像を再構築
する試みが知られている（一例として特開昭56−70757
号公報参照）。しかしながら、このようにプローブの位
置を機械的に設定する方法によるときは生体組織に対す
る超音波ビームの照射方向が固定されるから、骨のよう
に超音波を強く反射する部分があると照射した超音波が
回折して充分な画質、分解能のある画像が得られない。
以上のとおり、従来の装置では被検体に対するプローブ
の走査面の位置や傾角を正確に知ることができず、ま
た、被検体に対してプローブの位置を機械的に設定する
ときは、走査面が固定されてしまうという欠点があっ
た。
の走査面の位置や傾角を正確に知ることができず、ま
た、被検体に対してプローブの位置を機械的に設定する
ときは、走査面が固定されてしまうという欠点があっ
た。
この発明は上記課題を解決するため、プローブの走査面
を被検体の任意の位置、傾角に手動で設定し、断層像面
を決定できると共に、解剖学的特徴点に対して得られた
位置、傾角の異なる複数の断層像の相対的位置をも決定
することができるようにしたものであって、超音波プロ
ーブの走査面を被検体の任意の位置に任意の角度で設定
できる複数の可動部材から構成されるプローブ支持手段
と、被検体に超音波プローブを設定したときプローブ支
持手段を構成する各可動部材の変位量を検出する検出手
段と、超音波プローブを被検体に設定して所望の断層像
が得られたとき、前記検出手段の検出信号に基づき超音
波プローブの走査面位置と傾角を算出して断層像面を決
定し、この面を基準面とする基準座標系を設定し、以降
設定される超音波プローブの走査面位置と傾角から算出
される断層像面を前記基準座標系により表示する座標変
換手段を含む走査面信号処理手段とを備えたことを特徴
とする。
を被検体の任意の位置、傾角に手動で設定し、断層像面
を決定できると共に、解剖学的特徴点に対して得られた
位置、傾角の異なる複数の断層像の相対的位置をも決定
することができるようにしたものであって、超音波プロ
ーブの走査面を被検体の任意の位置に任意の角度で設定
できる複数の可動部材から構成されるプローブ支持手段
と、被検体に超音波プローブを設定したときプローブ支
持手段を構成する各可動部材の変位量を検出する検出手
段と、超音波プローブを被検体に設定して所望の断層像
が得られたとき、前記検出手段の検出信号に基づき超音
波プローブの走査面位置と傾角を算出して断層像面を決
定し、この面を基準面とする基準座標系を設定し、以降
設定される超音波プローブの走査面位置と傾角から算出
される断層像面を前記基準座標系により表示する座標変
換手段を含む走査面信号処理手段とを備えたことを特徴
とする。
超音波プローブの走査面を被検体の任意の位置に任意の
傾角で設定できると共に、プローブ支持手段の変位量か
ら走査面の位置、傾角を算出し、断層像面を決定するこ
とができる。更に、予備的に撮影した１つの断層像面を
基準面として基準座標系を設定し、以降撮影される断層
像面を基準座標系により表示することにより、基準とし
た断層像面との相対位置を知ることができる。
傾角で設定できると共に、プローブ支持手段の変位量か
ら走査面の位置、傾角を算出し、断層像面を決定するこ
とができる。更に、予備的に撮影した１つの断層像面を
基準面として基準座標系を設定し、以降撮影される断層
像面を基準座標系により表示することにより、基準とし
た断層像面との相対位置を知ることができる。
以下、この発明の実施例について説明する。
第１図はこの発明のプローブ支持装置の全体構成を示す
図、１は検査台、２は被検者、３は被検者を検査台に固
定する押え具であり、被検部位に応じて適当な構造のも
のを使用する。４はプローブ支持アームで一端が検査台
１に取付けられ、その先端にはプローブ５が取付けられ
る。６は被検者に対するプローブの走査面の位置、傾角
をプローブ支持アーム３を構成する各腕の回転角と腕の
長さとから算出する走査面信号処理装置であって、マイ
クロプロセツサから構成される。なお、７は公知の超音
波診断装置、８は表示記録装置である。また、プローブ
５は公知の機械走査型、あるいは電子走査型のものが使
用でき、セクタスキヤン型、リニアスキヤン型いづれも
使用できる。
図、１は検査台、２は被検者、３は被検者を検査台に固
定する押え具であり、被検部位に応じて適当な構造のも
のを使用する。４はプローブ支持アームで一端が検査台
１に取付けられ、その先端にはプローブ５が取付けられ
る。６は被検者に対するプローブの走査面の位置、傾角
をプローブ支持アーム３を構成する各腕の回転角と腕の
長さとから算出する走査面信号処理装置であって、マイ
クロプロセツサから構成される。なお、７は公知の超音
波診断装置、８は表示記録装置である。また、プローブ
５は公知の機械走査型、あるいは電子走査型のものが使
用でき、セクタスキヤン型、リニアスキヤン型いづれも
使用できる。
次にプローブ支持アーム４の構成について説明する。こ
こではプローブ支持アーム４はプローブ５の先端部、即
ち走査面の原点を被検体の任意の位置に、任意の傾角を
もって設定できるよう、６自由度を持つ多関節アームを
示すが、操作性をより向上させるために更に自由度を増
した構成としてもよい。第２図はその構成を示すもの
で、腕11,13,15,17,とこれらの腕を回動自在に結合する
関節10,12,14,16,18,19から構成される。関節10はベッ
ト等への取付点Ｏに設けられており、取付点Ｏはプロー
ブ先端部位置、傾角を示す三次元の原始座標系の原点で
ある。腕11は関節10によりＺ軸の回りにXY平面Ｐ内を回
動自在に取付けられている。関節12は腕11の先端に設け
られ、関節11の回転軸に直交する回転軸を有し、腕13が
点Ｏと関節12の中心点Ａを結ぶ線OAとＺ軸を含む平面Ｑ
（平面Ｐに直交する面）内を回動自在に取付けられてい
る。関節14は腕13の先端に設けられ、関節12の回転軸に
直交する回転軸を有し、腕15が平面Ｑと直交する平面Ｒ
内を回動自在に取付けられている。
こではプローブ支持アーム４はプローブ５の先端部、即
ち走査面の原点を被検体の任意の位置に、任意の傾角を
もって設定できるよう、６自由度を持つ多関節アームを
示すが、操作性をより向上させるために更に自由度を増
した構成としてもよい。第２図はその構成を示すもの
で、腕11,13,15,17,とこれらの腕を回動自在に結合する
関節10,12,14,16,18,19から構成される。関節10はベッ
ト等への取付点Ｏに設けられており、取付点Ｏはプロー
ブ先端部位置、傾角を示す三次元の原始座標系の原点で
ある。腕11は関節10によりＺ軸の回りにXY平面Ｐ内を回
動自在に取付けられている。関節12は腕11の先端に設け
られ、関節11の回転軸に直交する回転軸を有し、腕13が
点Ｏと関節12の中心点Ａを結ぶ線OAとＺ軸を含む平面Ｑ
（平面Ｐに直交する面）内を回動自在に取付けられてい
る。関節14は腕13の先端に設けられ、関節12の回転軸に
直交する回転軸を有し、腕15が平面Ｑと直交する平面Ｒ
内を回動自在に取付けられている。
関節16は腕15の軸心の回りに回動自在な関節で、先端部
には腕15の軸心と直交する軸17の回動自在に支承する関
節18が取付けられる。軸17にはその軸方向と直交する延
長部17aが設けられ、延長部17aにその軸心の回りに回動
自在な関節19が設けられており、その一端はプローブ支
持部20が設けられている。
には腕15の軸心と直交する軸17の回動自在に支承する関
節18が取付けられる。軸17にはその軸方向と直交する延
長部17aが設けられ、延長部17aにその軸心の回りに回動
自在な関節19が設けられており、その一端はプローブ支
持部20が設けられている。
各関節10,12,14,16,18,19には図示されていないが、そ
れぞれの関節の回転角度を電気的に検出し、検出した角
度信号を後述する走査面信号処理装置に出力する角度検
出エンコーダE1〜E6が設けられている。
れぞれの関節の回転角度を電気的に検出し、検出した角
度信号を後述する走査面信号処理装置に出力する角度検
出エンコーダE1〜E6が設けられている。
以上の構成から明らかなように、関節16,18,及び19は点
Ｃで交差する３つの軸の回りに自在に回転できる関節を
構成し、点Ｃにおいてプローブを任意の傾角に設定する
ことができるものである。また、腕11,13,15及び関節1
0,12,14は点Ｃを原点Ｏに対して任意の位置に設定する
ことができるものである。
Ｃで交差する３つの軸の回りに自在に回転できる関節を
構成し、点Ｃにおいてプローブを任意の傾角に設定する
ことができるものである。また、腕11,13,15及び関節1
0,12,14は点Ｃを原点Ｏに対して任意の位置に設定する
ことができるものである。
なお、ここで、プローブの走査面の位置とは、プローブ
の先端部の走査面原点が三次元の座標空間内で占める位
置であり、傾角とは、同じく走査面の走査方向の中心線
が三次元座標軸であるＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸となす角を云
う。
の先端部の走査面原点が三次元の座標空間内で占める位
置であり、傾角とは、同じく走査面の走査方向の中心線
が三次元座標軸であるＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸となす角を云
う。
走査面信号処理装置について第３図を参照しつつ説明す
る。この装置はプローブ支持アーム先端に取付けたプロ
ーブの走査面の位置、傾角を算出するほか、被検体の解
剖学的特徴を示す断層像面を基準とした基準座標系を設
定したときは、先に算出した走査面の位置、傾角をこの
基準座標により表示するよう座標交換演算をおこなう。
このため、装置６を構成するマイクロプロセツサの入力
ポートにはプローブ支持アーム４の各関節10,12,14,16,
18,19に設けた角度検出エンコーダE1〜E6の出力信号が
入力されるほか、基準座標系の設定のための予備的断層
像の撮影であることを指示するスイツトSW1と、順次撮
影された予備的断層像を観察して所望の断層像が得られ
たとき、その断層像を基準座標系の基準面として基準座
標系の設定を指示するスイツチSW2が接続され、スイツ
チONにより指示信号が入力される。また、マイクロプロ
セツサの出力ポートからは設定されたプローブの走査面
の位置、傾角を示す信号が超音波診断装置に向けて出力
される。
る。この装置はプローブ支持アーム先端に取付けたプロ
ーブの走査面の位置、傾角を算出するほか、被検体の解
剖学的特徴を示す断層像面を基準とした基準座標系を設
定したときは、先に算出した走査面の位置、傾角をこの
基準座標により表示するよう座標交換演算をおこなう。
このため、装置６を構成するマイクロプロセツサの入力
ポートにはプローブ支持アーム４の各関節10,12,14,16,
18,19に設けた角度検出エンコーダE1〜E6の出力信号が
入力されるほか、基準座標系の設定のための予備的断層
像の撮影であることを指示するスイツトSW1と、順次撮
影された予備的断層像を観察して所望の断層像が得られ
たとき、その断層像を基準座標系の基準面として基準座
標系の設定を指示するスイツチSW2が接続され、スイツ
チONにより指示信号が入力される。また、マイクロプロ
セツサの出力ポートからは設定されたプローブの走査面
の位置、傾角を示す信号が超音波診断装置に向けて出力
される。
次に、その動作について第５図を参照しつつ説明する。
操作者が被検体の解剖学的特徴を示す断層像面を基準と
した基準座標系設定のため、スイツチSW1をONとする。
ついで超音波診断装置を作動させ、予備的に断層像の撮
影を開始する。所望の解剖学的特徴部分m0を示す断層像
P0が得られたとき、スイツチSW2をONとする。これによ
り、プローブ支持装置を組立てた際に任意に設定した三
次元の原始座標上で、プローブの走査面の位置と傾角が
角度検出エンコーダの出力及び支持アーム４を構成する
既知の腕11,13,15,17の長さとから算出される。なお、
プローブをプローブ支持装置に取付けるときは走査面を
原始座標系の基準面、例えばＸ−Ｙ軸平面に合わせるな
どして走査面の傾角を所定値に設定しておく。
操作者が被検体の解剖学的特徴を示す断層像面を基準と
した基準座標系設定のため、スイツチSW1をONとする。
ついで超音波診断装置を作動させ、予備的に断層像の撮
影を開始する。所望の解剖学的特徴部分m0を示す断層像
P0が得られたとき、スイツチSW2をONとする。これによ
り、プローブ支持装置を組立てた際に任意に設定した三
次元の原始座標上で、プローブの走査面の位置と傾角が
角度検出エンコーダの出力及び支持アーム４を構成する
既知の腕11,13,15,17の長さとから算出される。なお、
プローブをプローブ支持装置に取付けるときは走査面を
原始座標系の基準面、例えばＸ−Ｙ軸平面に合わせるな
どして走査面の傾角を所定値に設定しておく。
ついで、プローブ先端位置、即ち走査面をなす扇形面の
中心点S0を原点とし、走査面の走査方向中心線ｌをＸ
軸、原点を通り走査面上でＸ軸と直交する軸をＹ軸、原
点を通りＸ軸、Ｙ軸に直交する軸をＺ軸とし、Ｘ−Ｙ軸
平面を基準面（これは走査面と一致する）とする三次元
基準座標系を設定する（第１図、第５図参照）。原始座
標系を基準座標系に変換する座標交換パラメータを算出
して、以降設定したプローブの走査面の位置、傾角を基
準座標値に変換する処理に使用する。
中心点S0を原点とし、走査面の走査方向中心線ｌをＸ
軸、原点を通り走査面上でＸ軸と直交する軸をＹ軸、原
点を通りＸ軸、Ｙ軸に直交する軸をＺ軸とし、Ｘ−Ｙ軸
平面を基準面（これは走査面と一致する）とする三次元
基準座標系を設定する（第１図、第５図参照）。原始座
標系を基準座標系に変換する座標交換パラメータを算出
して、以降設定したプローブの走査面の位置、傾角を基
準座標値に変換する処理に使用する。
今、被検体の解剖学的特徴部分m0を示す断層像P0が得ら
れ、座標変換パラメータも算出されたので、スイツチSW
1をOFFとして診断用断層像の撮影に移る。被検体に対
し、所望の位置と傾角をもってプローブの先端位置をS1
に設定する。断層像P1を撮影すると、先に撮影した予備
的断層像P0上で見出した被検体の解剖学的特徴部分m0に
対応する特徴部分m1の像が見出されたとすると、解剖学
的特徴部分m0とm1との相対位置は断層像面P0とP1との関
係と同じであり、基準座標系でS1におけるプローブの走
査面の位置と傾角を求めることで解剖学的特徴部分m0と
m1との相対位置を知ることができる。
れ、座標変換パラメータも算出されたので、スイツチSW
1をOFFとして診断用断層像の撮影に移る。被検体に対
し、所望の位置と傾角をもってプローブの先端位置をS1
に設定する。断層像P1を撮影すると、先に撮影した予備
的断層像P0上で見出した被検体の解剖学的特徴部分m0に
対応する特徴部分m1の像が見出されたとすると、解剖学
的特徴部分m0とm1との相対位置は断層像面P0とP1との関
係と同じであり、基準座標系でS1におけるプローブの走
査面の位置と傾角を求めることで解剖学的特徴部分m0と
m1との相対位置を知ることができる。
解剖学的特徴を示す断層像面としては、例えば心臓であ
れば心尖方向から見た左室長軸像で、APRO面、肝であれ
ば矢状面断層像で胃体部、膵体部並びに左肝静脈の見え
る像、腎であれば、その縦断面像などがある。
れば心尖方向から見た左室長軸像で、APRO面、肝であれ
ば矢状面断層像で胃体部、膵体部並びに左肝静脈の見え
る像、腎であれば、その縦断面像などがある。
また、プローブの位置、傾角を変えながら断層像を連続
的に撮影するときは組織の内部の様子を連続的に観察す
ることができるが、このとき、走査面信号出力信号から
出力される基準座標上におけるプローブの走査面の位
置、傾角の変化、例えば位置がX,Y,Zのいづれかの方向
に0.5mm以上移動したとき、また角度で１゜以上変化し
たときに、その移動、変化を検出して自動的に断層像を
撮影するよう超音波診断装置を制御すると、観察が容易
になるばかりでなく、特定の組織、例えば腫瘍などの大
きさ、周辺組織との位置関係などを知ることができる。
的に撮影するときは組織の内部の様子を連続的に観察す
ることができるが、このとき、走査面信号出力信号から
出力される基準座標上におけるプローブの走査面の位
置、傾角の変化、例えば位置がX,Y,Zのいづれかの方向
に0.5mm以上移動したとき、また角度で１゜以上変化し
たときに、その移動、変化を検出して自動的に断層像を
撮影するよう超音波診断装置を制御すると、観察が容易
になるばかりでなく、特定の組織、例えば腫瘍などの大
きさ、周辺組織との位置関係などを知ることができる。
第４図は走査面信号処理装置における演算処理の概略を
示すフローチヤートである。
示すフローチヤートである。
初期設定（ステツプP1）の後、基準座標系を設定するた
めの予備的断層像の撮影か否かを判別する（ステツプP
2）。これらは外部に設けられた予備的断層像の撮影を
指示するスイツチSW1（第３図参照）のONを判定してお
こなう。予備的断層像の撮影であれば、所望の解剖学的
特徴を示す断層像が得られたとき操作されるスイツチSW
2（第３図参照）で指令される読込み指令に応じて角度
検出エンコーダE1〜E6の出力を読込む（ステツプP3）。
読込んだエンコーダ出力と既知の長さである支持アーム
を構成する腕の長さとから原始座標上でのプローブの走
査面の位置、傾角を決定する（ステツプP4）。基準座標
系を設定し（ステツプP5）、座標変換パラメータを算出
する（ステツプP6）。ステツプP2の判断で予備的断層像
の撮影でなければステツプP7に移り、診断のための断層
像の撮影か否かを判別する。断層像の撮影でないときは
ステツプP11に移るが、断層像の撮影処理であればプロ
ーブが被検体の所望位置、傾角に設定され、撮影開始信
号が診断装置から出力されたとき、エンコーダの出力を
読込む（ステップP8）。
めの予備的断層像の撮影か否かを判別する（ステツプP
2）。これらは外部に設けられた予備的断層像の撮影を
指示するスイツチSW1（第３図参照）のONを判定してお
こなう。予備的断層像の撮影であれば、所望の解剖学的
特徴を示す断層像が得られたとき操作されるスイツチSW
2（第３図参照）で指令される読込み指令に応じて角度
検出エンコーダE1〜E6の出力を読込む（ステツプP3）。
読込んだエンコーダ出力と既知の長さである支持アーム
を構成する腕の長さとから原始座標上でのプローブの走
査面の位置、傾角を決定する（ステツプP4）。基準座標
系を設定し（ステツプP5）、座標変換パラメータを算出
する（ステツプP6）。ステツプP2の判断で予備的断層像
の撮影でなければステツプP7に移り、診断のための断層
像の撮影か否かを判別する。断層像の撮影でないときは
ステツプP11に移るが、断層像の撮影処理であればプロ
ーブが被検体の所望位置、傾角に設定され、撮影開始信
号が診断装置から出力されたとき、エンコーダの出力を
読込む（ステップP8）。
ステツプP5で設定した基準座標系上におけるプローブの
走査面の位置、傾角をステツプP6で算出した座標変換パ
ラメータに基づいて算出し（ステツプP9）、走査面信号
を出力する（ステツP10）。作業終了を判定し（ステツ
プP11）、終了でないきはステツプP2に戻り、終了のと
きは終了処理をして停止する。
走査面の位置、傾角をステツプP6で算出した座標変換パ
ラメータに基づいて算出し（ステツプP9）、走査面信号
を出力する（ステツP10）。作業終了を判定し（ステツ
プP11）、終了でないきはステツプP2に戻り、終了のと
きは終了処理をして停止する。
なお、上記実施例においてはプローブ支持アームは多関
節アームを用いたが、これに代えて直交する摺動部材と
回転部材を組合せることによっても全く同様の機能をも
つ支持体を構成でき、必要に応じて任意に設計し得る事
項である。
節アームを用いたが、これに代えて直交する摺動部材と
回転部材を組合せることによっても全く同様の機能をも
つ支持体を構成でき、必要に応じて任意に設計し得る事
項である。
以上説明したように、この発明によれば超音波診断をお
こなうに当り、被検体に対してプローブの走査面の位置
や傾角を任意に設定できると共に、予備的に撮影した断
層像上に表わされた被検体の解剖学的特徴を示す断層像
面を基準として診断時のプローブの位置方向を決定でき
るから、撮影された断層像が被検体のどの部分である
か、どの方向から撮影したか、更に断層像面の間隔から
特定の部位の大きさなどを正確に知ることができる。ま
た、撮影された断層像と他の診断装置、例えばＸ線CT,M
RI,RI等で得た断層像との位置を照合することが容易と
なる。
こなうに当り、被検体に対してプローブの走査面の位置
や傾角を任意に設定できると共に、予備的に撮影した断
層像上に表わされた被検体の解剖学的特徴を示す断層像
面を基準として診断時のプローブの位置方向を決定でき
るから、撮影された断層像が被検体のどの部分である
か、どの方向から撮影したか、更に断層像面の間隔から
特定の部位の大きさなどを正確に知ることができる。ま
た、撮影された断層像と他の診断装置、例えばＸ線CT,M
RI,RI等で得た断層像との位置を照合することが容易と
なる。
第１図は本発明のプローブ支持装置の全体構成を示す
図、第２図は支持アームの構成を示す図、第３図は走査
面信号処理装置とその周辺装置との関係を示すブロツク
図、第４図は走査面信号処理装置における信号処理の概
略を示すフローチヤート、第５図は基準となる予備的断
層像面と診断用断層像面との関係を説明する図である。 1:検査台、2:被検者、3:押え具、4:プローブ支持アー
ム、5:プローブ、6:走査面信号処理装置。
図、第２図は支持アームの構成を示す図、第３図は走査
面信号処理装置とその周辺装置との関係を示すブロツク
図、第４図は走査面信号処理装置における信号処理の概
略を示すフローチヤート、第５図は基準となる予備的断
層像面と診断用断層像面との関係を説明する図である。 1:検査台、2:被検者、3:押え具、4:プローブ支持アー
ム、5:プローブ、6:走査面信号処理装置。
Claims (1)
- 【請求項１】超音波プローブの走査面を被検体の任意の
位置に任意の角度で設定できる複数の可動部材から構成
されるプローブ支持手段と、 被検体に超音波プローブを設定したときプローブ支持手
段を構成する各可動部材の変位量を検出する検出手段
と、 超音波プローブを被検体に設定して所望の断層像が得ら
れたとき、前記検出手段の検出信号に基づき超音波プロ
ーブの走査面位置と傾角を算出して断層像面を決定し、
この面を基準面とする基準座標系を設定し、以降設定さ
れる超音波プローブの走査面位置と傾角から算出される
断層像面を前記基準座標系により表示する座標変換手段
を含む走査面信号処理手段と を備えたことを特徴とする超音波診断用プローブ支持装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63327771A JPH0732772B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 超音波診断用プローブ支持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63327771A JPH0732772B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 超音波診断用プローブ支持装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02172452A JPH02172452A (ja) | 1990-07-04 |
| JPH0732772B2 true JPH0732772B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=18202801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63327771A Expired - Fee Related JPH0732772B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 超音波診断用プローブ支持装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0732772B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018511435A (ja) * | 2015-04-21 | 2018-04-26 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 患者モニタリング装置のための調節可能アーム |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5620666B2 (ja) * | 2008-10-16 | 2014-11-05 | 株式会社東芝 | 超音波診断装置、超音波画像処理装置 |
| FR2972132B1 (fr) | 2011-03-02 | 2014-05-09 | Gen Electric | Dispositif d'assistance a la manipulation d'un instrument ou outil |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5490881U (ja) * | 1977-12-12 | 1979-06-27 | ||
| JPS57160444A (en) * | 1981-03-26 | 1982-10-02 | Aloka Co Ltd | Scanner of ultrasonic probe |
-
1988
- 1988-12-27 JP JP63327771A patent/JPH0732772B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018511435A (ja) * | 2015-04-21 | 2018-04-26 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 患者モニタリング装置のための調節可能アーム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02172452A (ja) | 1990-07-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |