JPH0727082U - コネクタ及びその検査装置 - Google Patents
コネクタ及びその検査装置Info
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- JPH0727082U JPH0727082U JP6181693U JP6181693U JPH0727082U JP H0727082 U JPH0727082 U JP H0727082U JP 6181693 U JP6181693 U JP 6181693U JP 6181693 U JP6181693 U JP 6181693U JP H0727082 U JPH0727082 U JP H0727082U
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 端子金具の装着不良を高信頼性で検査でき、
しかもランスに損傷を与えることを防止できるコネクタ
検査装置を提供する。 【構成】 コネクタハウジング11のランス14には、
正規位置に挿入された端子金具13に接触する部分から
コネクタハウジング11の前面開口部に臨む先端面部分
にかけて端子金具13の装着不良検出用の導電部16が
形成されている。検査装置20にはコネクタホルダ22
が設けられ、ここに保持されたコネクタ10のランス1
4に向かって延びるランス接触ピン28がランス方向に
移動可能に設けられている。このランス接触ピン28は
ワイヤハーネスの導通検査回路に接続されている。端子
金具13が正規位置にあれば、端子金具13とランス接
触ピン28とは導電部16を介して導通し、正規位置に
なければ導電部16が端子金具13に接触しないため、
導通が得られない。
しかもランスに損傷を与えることを防止できるコネクタ
検査装置を提供する。 【構成】 コネクタハウジング11のランス14には、
正規位置に挿入された端子金具13に接触する部分から
コネクタハウジング11の前面開口部に臨む先端面部分
にかけて端子金具13の装着不良検出用の導電部16が
形成されている。検査装置20にはコネクタホルダ22
が設けられ、ここに保持されたコネクタ10のランス1
4に向かって延びるランス接触ピン28がランス方向に
移動可能に設けられている。このランス接触ピン28は
ワイヤハーネスの導通検査回路に接続されている。端子
金具13が正規位置にあれば、端子金具13とランス接
触ピン28とは導電部16を介して導通し、正規位置に
なければ導電部16が端子金具13に接触しないため、
導通が得られない。
Description
【0001】
本考案はコネクタハウジング内に挿入した端子金具の装着不良を検出するため のコネクタ検査装置に関する。
【0002】
コネクタは、一般にプラスチック製のコネクタハウジング内に、電線の先端に 圧着した端子金具を装着して構成され、その端子金具はコネクタハウジングに一 体に設けたランス(弾性係止爪)によって抜け止め状態にされる。端子金具をコ ネクタハウジング内に挿入すると、ランスはいったん撓み用の空間に向かって撓 み、端子金具がランスと係合する正規の位置(以下「正規位置」という)まで挿 入されると、弾性的に復元して端子金具と係合するようになり、もって端子金具 の抜け止めが行われる。この種の抜け止め構造を採用した場合、端子金具がラン スを撓ませるところまで挿入されると、ある程度の摩擦力が端子金具に作用する ため、端子金具は疑似的な抜け止め状態となってしまい、端子金具の挿入作業を 行っている作業者は完全挿入に至ったと勘違いして作業を途中で止めてしまうこ とがある。
【0003】 しかし、端子金具がコネクタハウジングのランスと完全係合する「正規位置」 まで完全に挿入されていないと、使用中に端子金具の抜けが発生する可能性があ るため、端子の装着不良は事前にチェックして修正する必要がある。 そこで、従来、端子金具の装着不良を検出するための各種のコネクタ検査装置 が開発されており、その一例として実公昭62−47093号公報に記載された ものがある。これは、コネクタを所定の位置に保持するコネクタホルダを有する と共に、このコネクタホルダに保持されたコネクタのランスに対向してランス接 触ピンを突出状に設けた構成で、各ランス接触ピンはランスの撓み空間に向かっ て延びており、端子金具が装着不良状態にあるときに撓み空間内に位置するラン スの先端に接触するようになっている。この構成によれば、コネクタホルダにコ ネクタをセットしようとしたとき、万一、端子金具に装着不良があってランスが 撓み空間内に位置しているときには、ランス接触ピンがランスの先端に当たって コネクタのセットができなくなるため、その装着不良を発見できるのである。
【0004】
ところが、上記構成では、端子金具に装着不良がある状態で、コネクタをコネ クタホルダに無理矢理にセットするとランス接触ピンの先端がランスに強く当た り、プラスチック製のランスを変形させてしまうことがあった。万一、このよう な変形を生じさせると、コネクタは正常な場合と同様にコネクタホルダにセット されてしまうため、端子金具の装着不良を発見できなくなり、その上、ランスに 損傷を与えてコネクタを使用不能にしてしまう。このようなランスの損傷は、特 に、カム機構等を用いてランス接触ピンをコネクタハウジング内に強制的に進出 させるようにした装置では発生し易く、この点が検査の機械化の妨げになってい た。
【0005】 本考案は上記事情に鑑みてなされたもので、従って、端子金具の装着不良を確 実に発見できて信頼性が高い検査を行うことができるコネクタ及びその検査装置 を提供することを目的とする。
【0006】
上記目的を達成するため、請求項1の考案に係るコネクは、プラスチック製の コネクタハウジングに挿入した端子金具をそのコネクタハウジングに一体成形し たランスにて抜け止め状態とするものにおいて、前記ランスのうち正規位置に挿 入された端子金具に接触する部分に端子金具の装着不良検出用の導電部を形成し たところに特徴を有する。 上記導電部は、端子金具に接触する部分からコネクタハウジングの前面開口部 に臨む先端部分にかけて形成してもよい(請求項2の考案)。
【0007】 また、上記コネクタを検査するための検査装置は、コネクタのランス側に突出 して設けられてランスの前記導電部に接触可能なランス接触子を備えて構成すれ ばよい(請求項3の考案)。 更に、ランス接触子は、ワイヤハーネスの導通検査回路に接続してもよく(請 求項4の考案)、また、ランス接触子はその延長方向に移動可能に支持してスプ リングにてランス側に付勢する構成とすることが望ましい(請求項5の考案)。
【0008】
端子金具がコネクタハウジング内の正規位置まで挿入されていると、端子金具 はコネクタハウジングのランスの導電部に接触する。このため、この導電部と端 子金具とが電気的に導通されているか否かを検査すれば、端子金具の装着不良は 確実に検出できる。また、それには導電部の一部に電極等の接触子を軽く接触さ せれば済むから、ランスに損傷を与えるおそれもない。特に、請求項2の考案の ように、導電部を、端子金具に接触する部分からコネクタハウジングの前面開口 部に臨む先端部分にかけて形成したものでは、コネクタハウジングの前面開口部 を通して電極等の接触子をコネクタハウジング内に進入させることができるよう になる。
【0009】 請求項3のコネクタ検査装置では、上記構成のコネクタを検査するようになっ ており、コネクタの端子金具が正規位置に装着されていれば、ランス接触子がラ ンスの導電部に接触して端子金具との電気的導通が得られているか否か、すなわ ち端子金具が正規位置に装着されているか否かを簡単に検査できる。 上記ランス接触子をワイヤハーネスの導通検査回路に接続した請求項4のコネ クタ検査装置では、各端子金具がキャビティの正規位置まで挿入されているか否 かのみならず、それが間違ったキャビティに装着されていないかについても同時 に検査されることになる。 更に、ランス接触子をスプリングでランス側に付勢しておけば、ランス接触子 の先端がランスに当接したときに、そのスプリングを圧縮しながらランス接触子 が後退することになる。
【0010】
以上述べたように、本考案によれば、コネクタハウジングのランスに設けた導 電部に端子金具が接触しているか否かを電気的に検査すれば、コネクタの端子金 具の装着不良を簡単かつ確実に検査することができ、しかもコネクタハウジング のランスを損傷させることがないという優れた効果を奏する。 更に、請求項4のコネクタ検査装置によれば、各端子金具が正しいキャビティ に装着されているか否かについても同時に検査することができて合理的であり、 また請求項5の検査装置によれば、ランスに当接したランス接触子が自ずと後退 することになるから、ランスに過剰な圧力が作用することをより一層確実に防止 でき、ランスの損傷防止がより確実になる。
【0011】
<第1実施例> 以下、本考案の第1実施例について図1ないし図7を参照して説明する。 まず、本実施例の検査装置20を使用して検査されるコネクタ10の構造につ いて図4ないし図6を参照して説明する。 コネクタハウジング11はプラスチック製で、全体として長方形状をなすよう に成形され、内部に複数のキャビティ12(1個のみ図示)が形成されている。 各キャビティ12は前後に貫通する形状で、この中に端子金具13が後側(図1 左側)から挿入され、その端子金具13を抜け止め状態に固定するためにランス 14がコネクタハウジング11に一体に設けられている。
【0012】 ランス14は先端近くに係止部14aを有する弾性変形可能な片持ちの突片状 をなし、キャビティ12内にはランス14の上方への弾性変形を許容するための 撓み空間12aが型抜き空間を利用して形成されている。また、端子金具13は 、この実施例では図示しない相手方のコネクタの雄形端子金具と対をなす雌形を なしており、左端部に電線15が圧着された周知の構造である。図4に示した状 態から端子金具13がキャビティ12内に挿入されると、図6に示すように、ま ず端子金具13の先端がランス14に当接してこれを撓み空間12a側に弾性変 形させるようになり、端子金具13がキャビティ12の最奥部の「正規位置」ま で挿入されると、挿入途中に弾性変形していたランス14が端子金具13の係合 孔13aに遭遇して元位置に復元し、図6に示すように、その係合孔13aにラ ンス14の係止部14aが係合し、もってその端子金具13が抜け止め状態とな る。
【0013】 さて、上記ランス14の表面のうち、正規位置に挿入された端子金具13に接 触する部分である係止部14aの先方下面部から、コネクタハウジング11の前 面開口部に臨む先端面部分にかけてのL形領域に導電部16が層状に形成されて いる。導電部16は、この実施例では導電性塗料を塗布して形成したものである 。
【0014】 次に、上記コネクタ10を検査するための検査装置20について説明する。 検査装置20はコネクタハウジング11を上下から挟む寸法で対向する2枚の 基板21を有し、これを利用してコネクタホルダ22が構成されている。下側の 基板21の左端部は下向きに屈曲して下端に取付部23が形成されると共に、そ の屈曲部にロック爪24がガイド部材25に案内されて上下動可能に保持されて いる。このロック爪24の上端部はコネクタ挿入側(図中左側)に斜面部24a が形成されると共に圧縮スプリング24bにて常時上方に付勢されている。上記 コネクタホルダ22にコネクタ10を図中左側から挿入すると、ロック爪24の 斜面部24aに従ってロック爪24が下方に押し下げられながらコネクタ10が 進入し、完全挿入された状態でロック爪24が上方に復元してコネクタ10の抜 け止めが行われる。また、ロック爪24に取り付けたロック解除部26を引き下 げると、ロック爪24が引き下げられてコネクタ10を抜き出すことができるよ うになる。
【0015】 さて、上記基板21間にはチェッカホルダ27が設けられ、ここにコネクタ1 0のコネクタハウジング11に設けられている各ランス14の先端部に対応して ランス接触ピン28が設けられている。これは、導電性を有すると共に、スプリ ング30にて常時先方側に付勢されており、コネクタホルダ22に装着されたコ ネクタハウジング11のランス14の先端面に接触するようになっている。この ランス接触ピン28はリード線31を介してワイヤハーネスの導通検査回路32 に接続されており、1つの端子金具13についての電気的接続関係を示すと図7 のようになる。ここで、導通検査回路32は、ワイヤハーネスとして組み上げら れた状態において各電線の両端にある端子金具13がコネクタハウジング11の 正しいキャビティ12内に挿入されているか否かを検査するもので、内部に導通 検査用の電源を備え、ワイヤハーネスの両端にある2つのコネクタ10の所定の 端子金具13間に電流が流れるか否かに基づき検査を行う周知の構成である。
【0016】 次に、本実施例の作用を説明する。 予め、各電線15の先端に圧着された端子金具13がコネクタハウジング11 の所定のキャビティ12に挿入され、併せて、多数の電線15をテーピング等に よって束ねてワイヤハーネスとして組み上げられた状態で次のように端子金具1 3の装着不良検査及び導通検査が行われる。ここで、検査すべきワイヤハーネス は所定の検査板上に載せられ、そのコネクタ10が前記コネクタ検査装置20の コネクタホルダ22にセットされる(図1参照)。すると、検査装置20のラン ス接触ピン28の先端がコネクタハウジング11のランス14の先端面部に接触 し、そこに形成されている導電部16と電気的に導通する。 このとき、図1に示すもののように、コネクタ10の端子金具13がコネクタ ハウジング11のランス14と係合する「正規位置」にあれば、ランス14の導 電部16と端子金具13とは接触して電気的に導通している。従って、ランス接 触ピン28はその導電部16を介して端子金具13と電気的に導通することにな り、結局、導通検査回路32によってこの端子金具13が「正規位置」にあり、 しかも、所定のキャビティ12内に装着されていることが確認される。
【0017】 ところが、図2に示すもののように端子金具13がランス14と係合する「正 規位置」には至らず、半挿入状態にあるときには、ランス14の係止部14aの 先端が端子金具13に接触し、ランス14の導電部16は端子金具13から離れ て電気的に絶縁された状態にある。この結果、ランス接触ピン28が導電部16 に接触しても、ランス接触ピン28と端子金具13との間の導通は得られなくな るため、導通検査回路32によってこの端子金具13部分において異常があるこ とが検出される。
【0018】 また、図3に示すもののように端子金具13がキャビティ12内に全く挿入不 足の状態にあったときには、ランス14はランス撓み空間12a側に撓んでいな いからランス接触ピン28の先端がランス14の導電部16と接触するが、導電 部16は端子金具13と接触していないため、ランス接触ピン28と端子金具1 3との間の導通は得られない。従って、この場合にも、導通検査回路32によっ てこの端子金具13部分において異常があることが検出される。
【0019】 なお、図1に示すもののように端子金具13が正規位置に挿入されていても、 その端子金具13がコネクタハウジング11の誤ったキャビティ12に挿入され ているときには、ワイヤハーネス全体としての導通がとれないから、導通検査回 路32にて異常が検出される。
【0020】 ところで、上述のようにランス接触ピン28がランス14の導電部16と接触 する際には、ある程度の圧力がランス14に作用するが、その圧力はランス接触 ピン28と導電部16との電気的導通が得られる程度に確保すれば足りるから、 僅かな圧力で済み、ランス14に損傷を与えることは全くない。また、特に本実 施例のように、ランス接触ピン28を移動可能に構成してスプリング30にて先 方に付勢する構成としてあるから、ランス接触ピン28がランス14に当接した ときにスプリング30が圧縮されてランス接触ピン28がランス14から逃げる ように後退するから、ランス14に過剰な圧力が作用することを確実に防止する ことができる。
【0021】 このように本実施例によれば、ランス14の導電部16と端子金具13との電 気的導通に基づいて端子金具13の装着不良を検出する構成であるから、従来の 検査装置に比べて端子金具13の装着不良を確実に検出でき、検査の信頼性が高 くなる。しかも、ランス接触ピン28とランス14との接触圧は小さな値で済む から、ランス14に過剰が圧力が作用することはなく、ランス14の損傷に至る ことを確実に防止することができる。 更に、特に本実施例では、各ランス接触ピン28をワイヤハーネスの導通検査 回路32に接続する構成としているから、コネクタ10を検査装置20のコネク タホルダ22にセットするという1つの作業によって、各端子金具13が「正規 位置」にあるか否かの確認と、各端子金具13が所定のキャビティ12に装着さ れているか否かの確認とを同時に行うことができ、検査作業が合理的となって能 率化できる。
【0022】 <第2実施例> 図8は本考案の第2実施例を示したものである。前記第1実施例との基本的な 相違は、コネクタ検査装置20をコネクタ10側に向けて機械的に移動させる構 成としたところにある。その他の構成は第1実施例と同様であるから、重複説明 を省略するために同一部分に同一符号を付し、異なるところのみを詳述する。 ランス接触ピン28群を保持するホルダ40は基板41上を図中左右方向に移 動可能に設けられ、基板41に軸42aを中心に回動可能に設けたカムハンドル 42を回動操作することにより移動するようになっている。ここに設けたランス 接触ピン28は前記第1実施例と同一の構成である。
【0023】 一方、基板41の図中左端部にはコネクタホルダ43が固定して設けられてい る。これは、U字形の支持ブロック44とこれに着脱可能に取り付けたやはりU 字形をなすバックプレート45とからなり、両者間に上方が開放するコネクタ固 定溝46が形成されている。このコネクタ固定溝46には、コネクタハウジング 11の外面から突出する突条(図示せず)が上方から嵌め込まれ、もって両突条 を上下に案内してコネクタハウジング11を支持ブロック44間に挟んだ位置決 め状態に保持することができ、その状態でコネクタハウジング11は左右方向に 移動不能となる。
【0024】 この構成では、まず、コネクタ10を摘み、これをコネクタホルダ43に上か ら嵌め込むようにしてセットする。そして、カムハンドル42を矢印方向に回動 操作してホルダ40を図中左側に進出させると、ランス接触ピン28がコネクタ 10側に進出し、前記実施例と同様にランス接触ピン28の先端がランス14の 導電部16に接触するから、第1実施例と同様に端子金具13の装着チェック及 び接続チェックが行われ、前記実施例と同様な作用効果が得られる。
【0025】 なお、本考案は、上記各実施例に限定されるものではなく、例えば次のような 変形が可能である。
【0026】 (イ)前記各実施例では、ランスの導電部を導電塗料の塗布により形成したが 、これに限らず、金属の蒸着、スパッタリング、電気メッキ、化学メッキ、或い は金属箔のホットスタンプ等によって形成しても良い。また、必ずしも導電部を 層状に形成するに限らず、例えば図9及び図10に示すように、プラスチック製 のコネクタハウジング50に一体成形したランス51の先端に導電性材料にて形 成した導電ピース52を連結して構成してもよい。この場合の連結構造としては 、ランス51の先端面に連結用スリット51aを形成しておき、導電ピース52 に設けた連結突部52aをスリット51aに圧入して固定してもよく、また、こ れに併せて接着、溶着、加締め加工を利用しても良い。また、図示はしないが、 プラスチック製のランスの先端部に導電筒を嵌合してこれを導電部として利用し ても良く、上記いずれの方法で形成した導電部であっても、ランスに形成されて 正規位置に挿入された端子金具に接触するものであれば、本考案の導電部の概念 に含まれることは勿論である。
【0027】 (ロ)ランス接触子は必要に応じてスプリング30にて付勢すればよく、本考 案では必須ではない。また、ランス接触子を先端側に付勢するとしても、上記実 施例のコイルスプリング30に限らず、板バネやゴム(導電ゴムを含む)を利用 することができる。
【0028】 (ハ)導電部は必ずしもランスの先端面部にかけて形成するに限らず、例えば 各ランスからコネクタハウジングの外面部にかけて形成してコネクタ検査装置は コネクタハウジングの外面部の導電部と導通をとるようにしてもよく、要するに 、ランスのうち正規位置に挿入された端子金具に接触する部分に形成されて端子 金具の装着不良を検出できるようにした全ての導電部が、本考案にいう「導電部 」の概念に含まれる。
【図1】本考案の第1実施例に係るコネクタ及びその検
査装置を示す断面図
査装置を示す断面図
【図2】端子金具が装着不良となっているコネクタを検
査する様子を示す断面図
査する様子を示す断面図
【図3】同上
【図4】コネクタの拡大断面図
【図5】図4とは異なる状態のコネクタの拡大断面図
【図6】図4とは異なる状態のコネクタの拡大断面図
【図7】導通検査回路との関係を示す回路図
【図8】本考案の第2実施例を示す検査装置の断面図
【図9】本考案のコネクタの異なる実施例を示す分解断
面図
面図
【図10】本考案のコネクタの異なる実施例を示す断面
図
図
10…コネクタ 11…コネクタハウジング 13…端子金具 14…ランス 16…導電部 20…コネクタ検査装置 22…コネクタホルダ 28…ランス接触ピン(ランス接触子) 32…導通検査回路
Claims (5)
- 【請求項1】 プラスチック製のコネクタハウジングに
挿入した端子金具をそのコネクタハウジングに一体成形
したランスにて抜け止め状態とするものにおいて、前記
ランスのうち正規位置に挿入された前記端子金具に接触
する部分に前記端子金具の装着不良検出用の導電部を形
成したことを特徴とするコネクタ。 - 【請求項2】 プラスチック製のコネクタハウジングに
挿入した端子金具をそのコネクタハウジングに一体成形
したランスにて抜け止め状態とするものにおいて、前記
ランスのうち正規位置に挿入された前記端子金具に接触
する部分からコネクタハウジングの前面開口部に臨む先
端部分にかけて前記端子金具の装着不良検出用の導電部
を形成したことを特徴とするコネクタ。 - 【請求項3】 プラスチック製のコネクタハウジングに
挿入した端子金具をそのコネクタハウジングに一体成形
したランスにて抜け止め状態とするものであって、前記
ランスのうち前記端子金具に接触する部分に前記端子金
具の装着不良を検出するための導電部を形成したコネク
タを検査するものにおいて、前記コネクタの前記ランス
側に突出して設けられて前記ランスの前記導電部に接触
可能なランス接触子を備えてなるコネクタ検査装置。 - 【請求項4】 前記ランス接触子は、ワイヤハーネスの
導通検査回路に接続されていることを特徴とする請求項
3記載のコネクタ検査装置。 - 【請求項5】 前記ランス接触子はその延長方向に移動
可能に支持され、スプリングにてランス側に付勢されて
いることを特徴とする請求項3ないし5のいずれかに記
載のコネクタ検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6181693U JPH0727082U (ja) | 1993-10-21 | 1993-10-21 | コネクタ及びその検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6181693U JPH0727082U (ja) | 1993-10-21 | 1993-10-21 | コネクタ及びその検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0727082U true JPH0727082U (ja) | 1995-05-19 |
Family
ID=13181993
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6181693U Pending JPH0727082U (ja) | 1993-10-21 | 1993-10-21 | コネクタ及びその検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0727082U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020177816A (ja) * | 2019-04-18 | 2020-10-29 | 矢崎総業株式会社 | コネクタ |
-
1993
- 1993-10-21 JP JP6181693U patent/JPH0727082U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020177816A (ja) * | 2019-04-18 | 2020-10-29 | 矢崎総業株式会社 | コネクタ |
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