JPH07131089A

JPH07131089A - レーザパワーモニタ回路

Info

Publication number: JPH07131089A
Application number: JP5278393A
Authority: JP
Inventors: Shunji Hoshino; 俊二星野; Naoto Inaba; 直人稲葉
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1993-11-08
Filing date: 1993-11-08
Publication date: 1995-05-19
Also published as: EP0652615A2; US5438582A; EP0652615A3

Abstract

(57)【要約】【目的】レーザのパワーを正確にモニタする。【構成】所定のパワーレベルにたいして補正されたパ
ワーレベルで出力されたレーザのパワーをモニタするレ
ーザパワーモニタ回路において、補正の量に対応した逆
補正をかける逆補正回路を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスク装置等
に用いられるレーザのパワーをモニタするレーザパワー
モニタ回路に関する。

【０００２】

【従来の技術】現在、光記録はレーザビームの熱的性質
を利用して記録を行っている。光磁気ディスクの記録再
生は、レーザから出射されたレーザ光を約１μｍに絞っ
て垂直磁化膜面上に照射し、記録再生を行う。記録は、
キュリー点書き込みという方法で行われる。レーザ光
は、記録する情報により強度変調を行いながら照射す
る。光スポット（レーザ光）が当たった部分は加熱され
る。記録膜の温度がキュリー点（光ディスクに用いられ
る材料等できまる温度）を越える（高くなる）と、その
部分の記録膜は非磁性になる。レーザ光を照射する際に
は外部に磁界を加えながら加熱する。光ディスクが回転
して光スポットの位置から外れると記録膜の温度は下が
る。記録膜の温度が下がると、温度がキュリー点より更
に下がった時点で印加されている外部磁界の方向に記録
膜は磁化される。このように磁化の方向を変えることで
記録が行われる。

【０００３】光ディスク（光記録媒体）には、情報を記
録するためのトラックが渦巻き状または同心円状に形成
されている。このトラックは、１周を１本のトラックと
して何万本も形成されている。このトラック上に０と１
に相当する２種の情報単位が形成され、情報が記録され
る。一般には、光磁気ディスクのトラックの磁化は、記
録前に強力な外部磁場を印加することによって、一方向
（例えば、上向き）に揃えられる。その上でトラックに
逆方向（例えば、下向き）の磁化を有するマークを形成
する。記録の情報は、このマークの有無、位置、マーク
の前端（前エッジ）位置、後端（後ろエッジ）位置、マ
ーク長等によって表現される。特にマークのエッジ位置
が情報を表す方法はマーク長記録と呼ばれる。尚、マー
クは、過去にピット又はビットと呼ばれたことがある
が、最近はマークと呼ぶ。

【０００４】このようなマークは、上記のように熱を利
用して形成される。この時のレーザのパワーは、図１４
に示すようになる。マーク形成時のレーザのパワーレベ
ルがライトパワー（Ｐw ）であり、マークを形成しない
時のレーザのパワーレベルがペデスタルパワー（Ｐped
）である。しかし、マークの形成は、記録膜の温度が
キュリー点より高くなければ形成されない。つまり、レ
ーザのパワーレベルがライトパワーになっていても、記
録膜の温度がキュリー点より高くなければマークは形成
されないため、マークの前エッジの部分でマークがなか
なか形成されない（細くなったり、短くなったりす
る。）。また、逆に、マークの後ろエッジの部分では、
記録膜の温度がすぐにキュリー点より下がらないため、
マークの形成がすぐには終わらない（太くなったり、長
くなったりする。）。このため、適正な形にマークを形
成することができない。

【０００５】そこで、レーザのパワーを図１５のように
して、エッジ強調による記録補正が行われている。マー
クの前エッジを形成する部分でレーザのパワーをライト
パワーより高くして、マークの後ろエッジを形成する部
分でペデスタルパワーより低くする。このようにして、
適正な形にマークを形成する。このとき、マークの前エ
ッジの強調の時のレーザのパワーの量（ライトパワーよ
り多く発光されている量）をオーバーシュート量とい
い、マークの後ろエッジの強調時のレーザのパワーの量
（ペデスタルパワーより小さく発光されている量）をア
ンダーシュート量という。このオーバーシュート量及び
アンダーシュート量をまとめて記録補正量という。この
記録補正量は、エッジ強調量Ｉ₁、Ｉ₂と時定数τでき
まる。

【０００６】また、データの記録をする際に、適正なレ
ーザのパワーレベルで記録がおこなわれるようにレーザ
のパワーをモニターして、レーザのパワーレベルを制御
していた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようにレーザのパワーをモニターしてレーザのパワーレ
ベルを制御しても、レーザ光のパワーが制御した値から
ずれるという問題点があった。これは、レーザのパワー
をモニターする位置が記録補正を行っている時にしてい
たため、正確にレーザ光のパワーが制御されていないた
めであった。

【０００８】これは、図５に示すように、マークの前エ
ッジの部分の記録補正を行っている時に、つまり、レー
ザのパワーレベルがライトパワーまで下がる前にモニタ
ーしているため（レーザのパワーレベルがライトパワー
より高いので）、ライトパワーが低くなってしまい、同
様に、マークの後ろエッジの部分の記録補正を行ってい
る時に測定する時は、ペデスタルパワーが高くなるとい
うことである。

【０００９】本発明は上記問題点を鑑みてなされたもの
であり、レーザのパワーを正確にモニタすることができ
るレーザパワーモニタ回路を提供することを目的とす
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明者らは、最初に、
このモニター位置を正確に制御するレーザパワーモニタ
回路を考えた。しかし、このレーザパワーモニタ回路で
は、モニター位置を正確に制御するための手段が複雑に
なり、回路が高価なものとなってしまうことに気が付い
た。

【００１１】そこで、本発明者らは、鋭意研究を進めて
いくうちに、レーザのパワーをモニターするときに、記
録補正のないレーザのパワーをモニターすることによ
り、どの位置でモニターしても正確なレーザのパワーレ
ベルの制御ができることを見出した。従って、レーザ光
の記録補正を無くすような逆補正回路をレーザパワーモ
ニタ回路に設けて、レーザ光の波形を矩形型に整形した
波形をモニターすることによって、モニターする位置を
正確に決めないでも、正確なレーザ光のパワーをモニタ
できることを見出し、本発明をなすに至った。

【００１２】即ち、本発明のレーザパワーモニタ回路
は、第１に『所定のパワーレベルに対して補正されたパ
ワーレベルで出力されたレーザのパワーをモニタするレ
ーザパワーモニタ回路において、前記補正の量に対応し
た逆補正をかける逆補正回路を設けたこと（請求項
１）』から構成する。また、第２に、『前記レーザのパ
ワーを該パワーに応じた電流に変換する光電変換部と、
前記光電変換部からの電流を電圧に変換する電流電圧変
換回路と、前記電流電圧変換回路からの電圧に前記補正
の量に対応した逆補正をかける逆補正回路と、から（請
求項２）』構成する。

【００１３】また、第３に、『前記逆補正回路の周波数
特性は前記補正の周波数特性とほぼ等しいこと（請求項
３）』から構成する。また、第４に、『前記逆補正回路
の周波数特性は前記補正と前記電流電圧回路と前記光電
変換部の周波数特性を合成した周波数特性とほぼ等しい
こと（請求項４）』から構成する。

【００１４】

【作用】従来のレーザパワーモニタ回路を用いて、記録
補正量に関わらずレーザパワーの検出及び制御が容易に
かつ高精度に行える。

【００１５】

【実施例】光磁気ディスク装置に用いられるレーザは、
最初にレーザのパワーをライトパワーとペデスタルパワ
ーの２つのレベルに対応したパワーで出力するように制
御される。このとき、光磁気ディスクに正確にマークが
形成されるようにレーザの出力に補正をして出力する。
このようにレーザのパワーを２種類のパワーレベルにし
て、このパワーレベルを補正して出力することは、レー
ザ駆動回路で行われる。この出力されたレーザのパワー
をモニターするためにレーザパワーモニタ回路が用いら
れる。しかし、このレーザのパワーのモニタは、ライト
パワーとペデスタルパワーが所定の値になっているかど
うかを調べるために行っているので、前記した補正の部
分のパワーレベルの変化を検出することは誤差になるた
め、この補正量に応じた逆補正を行う必要がある。この
逆補正を行うための逆補正回路を備えたレーザパワーモ
ニタ回路を具体的に示すものが、図１のレーザパワーモ
ニタ回路である。また、このレーザパワーモニタ回路に
よって検出されたレーザのパワーが所定のライトパワー
及びペデスタルパワーになっているかどうかを調べてこ
の誤差をライトパワー制御電圧（最大値制御電圧）及び
ペデスタルパワー制御電圧（最小値制御電圧）として、
レーザ駆動回路にフィードバックする。この誤差を調べ
てフィードバックすることはレーザパワー制御回路で行
われる。

【００１６】図１は、本発明の実施例によるレーザパワ
ーモニタ回路の回路図である。レーザは、図３に示すレ
ーザ駆動回路によって駆動する。このレーザ駆動回路
は、図４に示されるようなレーザの発光をすることがで
きる。記録補正時のマークの前エッジ、後ろエッジの強
調度は、次式で表される。エッジ強調度＝Ｒ３２／Ｒ３１、時定数τ＝Ｌ／Ｒ
３２エッジ強調度はＲ３２／Ｒ３１、時定数τはＬ／Ｒ３２
で固定される。また、エッジ強調量Ｉは以下の式で表さ
れる。

【００１７】（エッジ強調量Ｉ）＝Ｒ３２（Ｐw −Ｐped ）／Ｒ３１つまり、記録補正量はライトパワーとペデスタルパワー
を変化させることで決まる。このライトパワーの制御は
最大値制御電圧で行い、ペデスタルパワーの制御は最小
値制御電圧で行う。記録媒体にマークを形成する場合、
レーザのパワーレベルをライトパワーに設定するのは、
最大値制御電圧を所定の電圧値とすることで行い、マー
ク間のレーザのパワーレベルをペデスタルパワーに設定
するのは、最小値制御電圧を所定の電圧値とすることで
行う。マーク形成時のレーザ発光タイミングは、極正が
互いに反転している記録信号と反転記録信号とを差動ト
ランジスタにそれぞれ入力して行う。設定されたライト
パワー、ペデスタルパワーに相当する電流及びタイミン
グで半導体レーザＬＤを駆動する。

【００１８】次に、このレーザ駆動回路の動作について
説明する。このレーザ駆動回路は、反転記録信号と記録
信号との信号の極性が互いに反転している（片方に高レ
ベルの信号が入力されるとき、他方には低レベルの信号
が入力される。）ので２種類の動作がある。尚、この入
力信号は２値信号であればよく、本実施例のように極性
が互いに反転している信号ではなくてもよい。

【００１９】まず、反転記録信号が低レベル信号の時Ｔ
Ｒ３１はオフとなり、このとき記録信号は高レベル信号
なのでＴＲ３２はオンとなる。このためＴＲ３２に電流
が流れる。この電流は、最大値制御電圧の電圧で決ま
る。最大値制御電圧の電圧を電圧電流変換回路１１で電
流に変換して定電流源１２を制御する。定電流源１２に
流れる電流によってＴＲ３２側に流れる電流が制御され
る。この時ａｃ間を流れる電流をＩ’とする。定常状態
の時はＲ２とＬは平行であるためａとｂとの間はショー
トしている。つまり、ａとｃとの間でＩ’Ｒ３１の電圧
降下がある。また、ＴＲ３３、ＴＲ３４のベースとエミ
ッタの間でも電圧降下がある。このようにして、ｄ点の
電位が決まり、ＬＤに流れる電流が決定される。この電
流の大きさに応じてＬＤは発光する。尚、ＬＤに流れる
最大電流は、定電流源１４によって制御される。また、
定常状態では無いとき、つまり、ＴＲ３２がオフからオ
ンになったときは、ａとｂとの間ではＩ’（Ｒ３１＋Ｒ
３２）の電圧降下がある。そのため、ａとｃとの間で定
常時よりも電圧降下があり、ｃ点の電位が低いため、Ｌ
Ｄの発光を大きくすることができる。そして、時定数Ｌ
／Ｒ２で上記の定常状態の発光に戻る。このようにし
て、レーザの発光（パワーレベル）をペデスタルパワー
からライトパワーにするときに、最初に定常状態（ライ
トパワー）よりも大きな発光（レーザのパワーレベル）
にして、後にその発光（パワーレベル）よりも少ない発
光にすることが、簡単な構成の回路で実現することがで
きる。

【００２０】次に、反転記録信号に高レベルの信号が入
力されたときは、ＴＲ３１がオンになり、記録信号には
低レベルの信号が入力されるため、ＴＲ３２はオフにな
る。定常状態では、ＴＲ３２がオフなのでａとｃとの間
では電流が流れず、ＴＲ３３のベースの電位は最小値制
御電圧の値になる。また、ＴＲ３３、ＴＲ３４のベース
とエミッタの間で電圧降下がある。このようにしてｄ点
での電位が決まり、ＬＤに流れる電流が決定される。こ
の電流の大きさに応じてＬＤは発光する。尚、ＬＤに流
れる最大電流は、定電流源１４によって制御される。ま
た、定常状態ではないとき、つまり、ＴＲ３１がオフか
らオンになりＴＲ３２がオンからオフになるときは、ａ
とｃとの間でＩ’（Ｒ３１＋Ｒ３２）の電圧降下がある
ためＴＲ３３のベースでの電位は定常状態の時の電位に
比べて高い電位となり、ＬＤの発光を小さくすることが
できく。そして、ペデスタルパワーの定常状態の電位に
時定数Ｌ／Ｒ２で近づいていく。このようにして、レー
ザの発光（パワーレベル）をライトパワーからペデスタ
ルパワーにする時に、ペデスタルパワーよりも小さい発
光（パワーレベル）にした後、その発光（パワーレベ
ル）よりも大きい発光にすることが簡単な構成の回路で
実現することができる。

【００２１】設定したライトパワーの制御は、ライトパ
ワー設定電圧とレーザの発光時のパワーレベルを検出す
るレーザパワーモニター回路からのパワーモニタ信号電
圧の差を検出し、その値をサンプル／ホールド回路にて
所定のライトパワーサンプルタイミング信号にてサンプ
ル及びホールドされる。ホールドされた誤差電圧値をル
ープフィルタ回路にてライトパワー制御電圧（最大値制
御電圧）としてレーザ駆動回路（図３）に出力するとと
もに、閉ループ制御を行い所定のライトパワー設定電圧
またはライトパワーの光量に整定させる。設定したペデ
スタルパワーの制御はペデスタルパワー設定電圧とレー
ザの発光時のパワーレベルを検出するレーザパワーモニ
ター回路からのパワーモニター信号電圧の差を検出し、
その値をサンプル／ホールド回路にて所定のペデスタル
パワーサンプルタイミング信号にてサンプル及びホール
ドする。ホールドされた誤差電圧値をループフィルタ回
路にてペデスタルパワー制御電圧（最小値制御電圧）と
してレーザ駆動回路（図３）に出力するとともに、閉ル
ープ制御を行い所定のペデスタルパワー設定電圧または
ペデスタルパワーの光量に整定させる。

【００２２】しかしながら記録補正時のレーザ発光波形
は、図５に示すように上記レーザパワー制御回路にて所
定のタイミングにて誤差検出を行った場合、図５に示す
ようにライトパワーの設定Ｐw （図５）と比較して記録
補正量の分光量が少なく発光し、ペデスタルパワーの設
定Ｐped （図５）と比較して記録補正量の分光量が多く
発光してしまい、正確なレーザパワーの制御が出来な
い。結果としてペデスタルパワー、ライトパワーの差に
応じたマーク前後各エッジのオーバシュート、アンダー
シュート量の設定が正しく行えず記録補正量の設定が正
しく出来ない。

【００２３】そこで、図１に示すレーザパワーモニタ回
路を用いると図６のように逆補正を行ったレーザのパワ
ーをモニタすることができる。図６に示すように、記録
補正時のマークの前エッジ及び後ろエッジのそれぞれオ
ーバーシュート、アンダーシュート量に対応した逆補正
回路を付加したレーザパワーモニタ回路の説明をする。
図６にて点線で表した部分は記録補正時のレーザの発光
波形を示している。逆補正回路を付加したレーザパワー
モニタ回路に上記電圧波形が入力すると、一点鎖線で表
した特性が付加されてその出力波形は図６の実線で表さ
れる波形となる。それを具体的に示したものが図１に示
されるレーザパワーモニタ回路である。レーザ光が、ピ
ンフォトダイオードＰＤに入るとその光量に比例した電
流がピンフォトダイオードＰＤに発生し、Ａｍｐ１にて
電流電圧変換される。次に逆補正回路を付加したＡｍｐ
２にて前述した図６の実線で示した電圧波形に補正され
てパワーモニタ信号を出力する。逆補正回路の周波数特
性は、図１に示した記録補正回路の周波数特性を決める
次式ｆ1 ＝（Ｒ３１//Ｒ３２）／Ｌ、ｆ2 ＝Ｒ３２／Ｌとそれぞれ等しい周波数になる定数を次式ｆ1 ＝１／Ｒ４×Ｃ１、ｆ2 ＝１／（Ｒ３//Ｒ４）×Ｃ１によって決定し、逆補正の周波数特性を得る。

【００２４】また、本発明のレーザパワーモニタ回路
は、図７に示されるレーザ駆動回路にも用いることがで
きる。図７は、本発明の実施例に用いられるレーザ駆動
回路の回路図である。このレーザ駆動回路は、図９に示
されるレーザ発光波形でレーザを駆動するものである。

【００２５】記録媒体にマークを形成する場合、レーザ
のパワーレベルをライトパワーＰwに設定し、マーク間
はペデスタルパワーＰped に設定する。レーザのパワー
は、Ｐw ＞Ｐped である。記録補正は、マークの前エッ
ジ及び後ろエッジ各々を強調することで行う。その場
合、前エッジのレーザのパワーレベルはライトパワーよ
り大きく、後ろエッジのレーザのパワーレベルはペデス
タルパワーより小さい。各エッジの強調量Ｉは前後のエ
ッジ共等しく、またその強調度は次式にて表される。

【００２６】エッジ強調度＝Ｉ／（Ｐw −Ｐped ）また、エッジを強調している時間をｔとし、ｔはＰw ま
たはＰped で発光している時間よりも短い。本実施例で
は、ライトパワーで発光している時間をＴとして、ｔ＝
Ｔ／４としている。この記録補正手段を付加したレーザ
駆動回路は、次のように構成されている。

【００２７】レーザーのパワーレベルをライトパワーに
制御するのは電流源Ｉ₁であり、ペデスタルパワーに制
御するのは電流源Ｉ₃である。記録補正時のマークの前
エッジ、後ろエッジの強調度は、マークの前エッジ及び
後ろエッジ各々を強調する量Ｉ（図９）に相当するレー
ザ駆動電流源がＩ₂であるため、電流源Ｉ₁、Ｉ₂、Ｉ
₃に流れる電流をそれぞれｉ₁、ｉ₂、ｉ₃とすると、
次式で表される。

【００２８】エッジ強調度＝ｉ₂／（ｉ₁−ｉ₃）つまり、レーザーのパワーレベルがペデスタルパワーか
らライトパワーに変わるときのエッジ強調量Ｉは、電流
源Ｉ₂によって制御され、逆に、ライトパワーからペデ
スタルパワーに変わるときのエッジ強調量Ｉも、電流源
Ｉ₂によって制御される。

【００２９】また、強調量Ｉは、Ａｍｐ７１にてライト
パワーレベルに相当するレーザ駆動電流とペデスタルパ
ワーレベルに相当するレーザ駆動電流の差分に対応して
レーザ駆動電流源Ｉ₂を制御することで行われる。強調
時間ｔ（図９）は、ライトパワー切り替えタイミング及
びペデスタルパワー切り替えタイミングの信号を制御し
て集積回路ＩＣ１、２に入力することで行い、これによ
って、トランジスタＴＲ２１、２２のオン、オフを行
う。

【００３０】次に、このレーザ駆動回路の動作について
説明する。レーザのパワーレベルがペデスタルパワーか
らライトパワーに変わるときは、記録データ信号−が高
レベル信号から低レベル信号に変わり、記録データ信号
＋が低レベル信号から高レベル信号に変わる。このよう
になると、ＴＲ７２がオンになり、ＬＤに電流源Ｉ₁に
よって電流ｉ₁が流れる。また、このとき同時にライト
パワー切替えタイミングの信号も高レベル信号がＩＣ１
に入力するためＩＣ１からＴＲ７４に出力される信号も
高レベル信号になる。従ってＴＲ７４がオンになり、Ｌ
Ｄには電流源Ｉ₂による電流ｉ₂も流れる。Ｔ／４の時
間が過ぎるとライトパワー切替えタイミングからの信号
が低レベル信号になるため、ＴＲ７４はオフになり、Ｌ
Ｄには電流ｉ₁だけが流れるようになる。ライトパワー
からペデスタルパワーにレーザのパワーレベルが変わる
ときは、記録データ信号＋が高レベル信号から低レベル
信号に変わり、記録データ信号−が低レベル信号から高
レベル信号に変わる。このためＴＲ７２はオフになり、
ＴＲ７６はオンになる。ＴＲ７６がオンになることによ
って、ＬＤには電流源Ｉ₃によって電流ｉ₃が流れる。
しかし、ペデスタルパワー切替えタイミングの信号も高
レベル信号でＩＣ２に入力されるため、ＩＣ２からＳＷ
１には高レベル信号が入力される。ＳＷ１は、高レベル
の信号が入力したときだけオンになるスイッチであるた
め、電流源Ｉ₃に流れる電流は、Ａｍｐ７２によって
（ｉ₃−ｉ₂）の電流が流れるようになり、ＬＤには電
流（ｉ₃−ｉ₂）が流れる。Ｔ／４の時間が過ぎると、
ペデスタルパワー切替えタイミングの信号が高レベル信
号から低レベル信号に変わり、ＳＷ１はオフになる。従
って、ＬＤには、電流ｉ₃が流れるようになる。

【００３１】また、記録媒体にマークを形成する場合、
レーザのパワーをライトパワーに設定するのは、ライト
パワー制御電圧を所定の電圧値とすることで行い、マー
ク間はペデスタルパワー制御電圧を所定の電圧値とする
ことで行う。設定されたライトパワー、ペデスタルパワ
ーに相当する電流及びタイミングで半導体レーザＬＤを
駆動する。

【００３２】このようなレーザのパワーの制御は、第１
の実施例と同様に図２のようなレーザパワー制御回路を
用いて行う。しかしながら記録補正時のレーザ発光波形
は、図２のレーザパワー制御回路にて図９に示す強調時
ｔの間に誤差検出を行った場合、図１０に示すように、
ライトパワーの設定するＰw と比較して記録補正量の分
光量が少なく発光し、ペデスタルパワーの設定するＰpe
d と比較して記録補正量の分光量が多く発光してしま
い、正確なレーザパワーの制御が出来ない。結果として
ペデスタルパワー、ライトパワーの差に応じたマーク前
後各エッジのオーバシュート、アンダーシュート量の設
定が正しく行えず記録補正量の設定が正しく出来ない。
よってペデスタルパワー、ライトパワーの誤差検出は強
調時間ｔ以降で行う必要がある。

【００３３】そこで、図１のパワーモニタ回路を用いる
と、図１１の太線でしめすようにフラットなレーザのパ
ワーをモニタすることができる。図６にて実線で表した
部分は記録補正時のレーザの発光波形を示している。こ
れに図１の逆補正回路を付加したレーザパワーモニタ回
路に上記電圧波形が入力すると、一点鎖線で表した特性
が付加されてその出力波形は図６の実線で表される波形
となる。レーザ光が、ピンフォトダイオードＰＤに入る
とその光量に比例した電流がピンフォトダイオードＰＤ
に発生し、Ａｍｐ１にて電流電圧変換される。その出力
波形は回路（ＰＤ含む）の帯域制限により点線で示した
ような波形となる。次に逆補正回路を付加したＡｍｐ２
にて前述した図６の太線で示した電圧波形に補正されて
パワーモニタ信号を出力する。逆補正回路の周波数特性
は、図１に示した記録補正回路の周波数特性及び上記電
流電圧変換回路（ＰＤ含む）の周波数特性を合成した特
性と等しくなるような周波数特性にすればよく、本実施
例では定数を次式ｆ1 ＝１／Ｒ４×Ｃ１、ｆ2 ＝１／（Ｒ３//Ｒ４）×Ｃ１によって決定し、図６に示した一点鎖線の波形のような
逆補正の周波数特性を得る。

【００３４】また、図７のレーザ駆動回路を図８のレー
ザ駆動回路にしても同様のレーザパワーモニタ回路を用
いて、正確なレーザのパワーをモニタすることができ
る。このことから、デジタルなレーザの波形であって
も、ＰＤや電流電圧変換回路の帯域の制限を利用するこ
とによって、逆補正をかけることができる。また、図１
２に示すようなレーザ発光波形に記録補正を行った場合
は、図１３に示すようにレーザのモニタ波形を成形して
やることで、同様に正確なレーザの制御を行うことがで
きる。

【００３５】また、他のレーザ駆動回路を用いても同様
にして周波数特性を合わせることによって逆補正を行う
ことができ、正確なレーザのパワーをモニタすることが
できる。

【００３６】

【発明の効果】本発明のレーザパワーモニタ回路は、記
録補正時のレーザパワーモニタ波形を逆補正回路にて整
形することによって、レーザパワー制御回路にてペデス
タルパワーレベル及びライトパワーレベルが記録補正量
に関わらず検出できるため、記録時のレーザパワー精度
を下げること無く記録補正動作ができる。

【００３７】また、記録補正時のレーザパワーモニタ波
形を逆補正回路にて整形することによって、レーザパワ
ー制御回路にてペデスタルパワーレベル及びライトパワ
ーレベルの検出が記録補正量に関わらず各発光期間可能
なため、制御回路における検出タイミング例えばサンプ
ルホールドタイミングの精度を低くでき、回路が安価な
ものとなる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例によるレーザパワーモニタ回路
を示す回路図である。

【図２】本発明の実施例によるレーザパワー制御回路を
示す回路図である。

【図３】本発明の実施例によるレーザ駆動回路を示す回
路図である。

【図４】本発明の実施例によるレーザ駆動回路を用いた
レーザの発光波形を示す図である。

【図５】本発明の実施例による記録補正時のレーザのパ
ワー制御を行った時のレーザ発光波形を示す図である。

【図６】本発明の実施例によるレーザパワーモニタ回路
を通したレーザのパワーを示す波形図である。

【図７】本発明の実施例によるレーザ駆動回路を示す回
路図である。

【図８】本発明の実施例によるレーザ駆動回路を示す回
路図である。

【図９】本発明の実施例によるレーザ駆動回路を用いた
レーザの発光波形を示す図である。

【図１０】本発明の実施例による記録補正時のレーザの
パワー制御を行った時のレーザ発光波形を示す図であ
る。

【図１１】本発明の実施例によるレーザパワーモニタ回
路を通したレーザのパワーを示す波形図である。

【図１２】本発明の実施例によるレーザの発光波形を示
す図である。

【図１３】本発明の実施例によるレーザパワーモニタ回
路を通したレーザのパワーを示す波形図である。

【図１４】従来のレーザの発光波形を示す図である。

【図１５】従来の記録補正を行ったレーザの発光波形を
示す図である。

【符号の説明】

Ｒ、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４・・・抵抗素子Ｃ、Ｃ１・・・コンデンサＡｍｐ１、Ａｍｐ２・・・アンプＰＤ・・・ピンフォトダイオード ▽・・・０Ｖ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】所定のパワーレベルに対して補正された
パワーレベルで出力されたレーザのパワーをモニタする
レーザパワーモニタ回路において、前記補正の量に対応した逆補正をかける逆補正回路を設
けたことを特徴とするレーザパワーモニタ回路。
【請求項２】前記レーザのパワーを該パワーに応じた
電流に変換する光電変換部と、前記光電変換部からの電流を電圧に変換する電流電圧変
換回路と、前記電流電圧変換回路からの電圧に前記補正の量に対応
した逆補正をかける逆補正回路と、からなることを特徴とする請求項１記載のレーザパワー
モニタ回路。
【請求項３】前記逆補正回路の周波数特性は前記補正
の周波数特性とほぼ等しいことを特徴とする請求項１ま
たは２記載のレーザパワーモニタ回路。
【請求項４】前記逆補正回路の周波数特性は前記補正
と前記電流電圧回路と前記光電変換部の周波数特性を合
成した周波数特性とほぼ等しいことを特徴とする請求項
２記載のレーザパワーモニタ回路。