JPH0642220Y2 - 電子部品測定電極機構 - Google Patents
電子部品測定電極機構Info
- Publication number
- JPH0642220Y2 JPH0642220Y2 JP2641088U JP2641088U JPH0642220Y2 JP H0642220 Y2 JPH0642220 Y2 JP H0642220Y2 JP 2641088 U JP2641088 U JP 2641088U JP 2641088 U JP2641088 U JP 2641088U JP H0642220 Y2 JPH0642220 Y2 JP H0642220Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measuring
- conductive contact
- contact piece
- measuring electrode
- circuit box
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 本考案は電子部品測定電極機構に関するものである。従
来、電子部品の自動測定機構において、搬送シュートで
移送される電子部品に測定電極を接触する場合、測定接
触片を内蔵した絶縁保持器を電子部品に対抗配置し、測
定接触片からの電気信号を測定機本体に送るように構成
している。しかしながら、前記絶縁性保持器、測定機本
体等の構成がビス止めや半田付けなど固定的であり、電
子部品と測定接触片との異常干渉や、接触片、絶縁性保
持器などの各部に異常が発生した場合、点検のための分
解や分離が厄介である。又、異常復旧後、配線、組立作
業が煩雑となるなどの欠点があった。本考案は前記せる
従来機構の欠点を解消し、構造簡単にして、保守、点検
の容易な電子部品測定電極機構の提供を目的とするもの
であり、あわせて、本機構を用いた測定装置の稼動率の
向上を図るものである。
来、電子部品の自動測定機構において、搬送シュートで
移送される電子部品に測定電極を接触する場合、測定接
触片を内蔵した絶縁保持器を電子部品に対抗配置し、測
定接触片からの電気信号を測定機本体に送るように構成
している。しかしながら、前記絶縁性保持器、測定機本
体等の構成がビス止めや半田付けなど固定的であり、電
子部品と測定接触片との異常干渉や、接触片、絶縁性保
持器などの各部に異常が発生した場合、点検のための分
解や分離が厄介である。又、異常復旧後、配線、組立作
業が煩雑となるなどの欠点があった。本考案は前記せる
従来機構の欠点を解消し、構造簡単にして、保守、点検
の容易な電子部品測定電極機構の提供を目的とするもの
であり、あわせて、本機構を用いた測定装置の稼動率の
向上を図るものである。
第1図は本考案の実施例を示す側面構造図である。1は
被測定物である電子部品であり、2の搬送テーブルによ
って、導電性接触片3の下方に順次、移送される。導電
性接触片3は絶縁性保持器4に内蔵され、内蔵スプリン
グにより、電子部品1への電気的接触をよくするため下
方に加圧される。又、導電性接触片3は絶縁性保持器4
の上部に設けた接続ブロック5にフレキシブルに接続さ
れている。絶縁性保持器4は必要に応じ、複数個をユニ
ットベース6内に固定配置される。7は測定回路箱8か
ら外部に導出した導電接触ピンであって、接続ブロック
5と接触し、測定電気信号の通電を可能にする。測定回
路箱8にはリレー、回路部品等、被測定物である電子部
品3と近接して配置する必要のある測定回路部分を内設
する。測定回路箱8はコネクタ9により、表示部等を含
む測定機本体に接続される。更に、ユニットベース6は
支点10により、全体ベース11に取り付けられ、支点10を
中心に点線Cの矢印方向に回転が可能であり、回転後の
絶縁保持器、及びユニットベースを夫々4′及び6′に
図示している。測定回路箱8は固定板12に取り付けら
れ、固定板12は上下スライド機構13により、点線aの矢
印方向に上下移動が可能であり、移動後の測定回路箱を
8′に図示している。又、8′の位置に測定回路箱を保
持できる保持機構14を設けている。なお、搬送テーブル
2は下方位置2′に下降させることができる。以上のよ
うな構成において電子部品1の測定動作中、電子部品1
と導電接触片3との間に異常干渉や、接触不良を生じた
場合、まず、測定回路箱8を8′の位置に移動させ、保
持機構14で保持させ、搬送テーブル2を2′の位置に下
降させる。次いで、絶縁保持器4を固定したユニットベ
ース6を6′の位置に回転し保持する。このような状態
に各部分を移動操作することにより、異常現象や破損状
況の点検が容易となり、又、修理、部品交換等の作業を
簡単になし得る。更に、絶縁保持器4のユニットベース
6からの着脱や、測定回路箱8の固定板12からの着脱を
容易にし、緊急時の対処として、修理や、部分交換でな
く、4又は8自体の交換も容易になし得るものである。
第1図の実施例において、各部の構造変形、要部以外の
除去や置換、その他の付加等は要旨の範囲で本考案に包
含されるものである。以上のごとく、本考案により、異
常、不良、破損等の状態に対し、保守、点検、取り換え
等の作業を容易にする。構造簡単な電子部品測定電極機
構を提供することができ、測定装置の稼動率や測定品質
の向上など、産業上、利用効果の大なるものである。
被測定物である電子部品であり、2の搬送テーブルによ
って、導電性接触片3の下方に順次、移送される。導電
性接触片3は絶縁性保持器4に内蔵され、内蔵スプリン
グにより、電子部品1への電気的接触をよくするため下
方に加圧される。又、導電性接触片3は絶縁性保持器4
の上部に設けた接続ブロック5にフレキシブルに接続さ
れている。絶縁性保持器4は必要に応じ、複数個をユニ
ットベース6内に固定配置される。7は測定回路箱8か
ら外部に導出した導電接触ピンであって、接続ブロック
5と接触し、測定電気信号の通電を可能にする。測定回
路箱8にはリレー、回路部品等、被測定物である電子部
品3と近接して配置する必要のある測定回路部分を内設
する。測定回路箱8はコネクタ9により、表示部等を含
む測定機本体に接続される。更に、ユニットベース6は
支点10により、全体ベース11に取り付けられ、支点10を
中心に点線Cの矢印方向に回転が可能であり、回転後の
絶縁保持器、及びユニットベースを夫々4′及び6′に
図示している。測定回路箱8は固定板12に取り付けら
れ、固定板12は上下スライド機構13により、点線aの矢
印方向に上下移動が可能であり、移動後の測定回路箱を
8′に図示している。又、8′の位置に測定回路箱を保
持できる保持機構14を設けている。なお、搬送テーブル
2は下方位置2′に下降させることができる。以上のよ
うな構成において電子部品1の測定動作中、電子部品1
と導電接触片3との間に異常干渉や、接触不良を生じた
場合、まず、測定回路箱8を8′の位置に移動させ、保
持機構14で保持させ、搬送テーブル2を2′の位置に下
降させる。次いで、絶縁保持器4を固定したユニットベ
ース6を6′の位置に回転し保持する。このような状態
に各部分を移動操作することにより、異常現象や破損状
況の点検が容易となり、又、修理、部品交換等の作業を
簡単になし得る。更に、絶縁保持器4のユニットベース
6からの着脱や、測定回路箱8の固定板12からの着脱を
容易にし、緊急時の対処として、修理や、部分交換でな
く、4又は8自体の交換も容易になし得るものである。
第1図の実施例において、各部の構造変形、要部以外の
除去や置換、その他の付加等は要旨の範囲で本考案に包
含されるものである。以上のごとく、本考案により、異
常、不良、破損等の状態に対し、保守、点検、取り換え
等の作業を容易にする。構造簡単な電子部品測定電極機
構を提供することができ、測定装置の稼動率や測定品質
の向上など、産業上、利用効果の大なるものである。
第1図は本考案の実施例による側面構造図であり、1は
電子部品、2は搬送テーブル、2′は移動後の2、3は
導電性接触片、4は絶縁性保持器、4′は移動後の4、
5は接続ブロック、6はユニットベース、6′は稼動後
の6、7は導電接触ピン、8は測定回路箱、8′は移動
後の8、9はコネクタ、10は支点、11は全体ベース、12
は固定板、13はスライド機構、14は保持機構、a、b、
cは夫々移動方向である。
電子部品、2は搬送テーブル、2′は移動後の2、3は
導電性接触片、4は絶縁性保持器、4′は移動後の4、
5は接続ブロック、6はユニットベース、6′は稼動後
の6、7は導電接触ピン、8は測定回路箱、8′は移動
後の8、9はコネクタ、10は支点、11は全体ベース、12
は固定板、13はスライド機構、14は保持機構、a、b、
cは夫々移動方向である。
Claims (1)
- 【請求項1】導電性接触片を内蔵した絶縁性保持器をユ
ニットベースに着脱容易に装着し、該導電性接触片の接
触部と導電接触するようにした測定回路箱を該絶縁性保
持器の上方に配設し、又、前記ユニットベースに支点を
設けて、該絶縁性保持器を上方に回動せしむるようにな
し、かつ、前記回動時に該測定回路箱を上方に移動させ
るように構成したことを特徴とする電子部品測定電極機
構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2641088U JPH0642220Y2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 電子部品測定電極機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2641088U JPH0642220Y2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 電子部品測定電極機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01132982U JPH01132982U (ja) | 1989-09-11 |
JPH0642220Y2 true JPH0642220Y2 (ja) | 1994-11-02 |
Family
ID=31248007
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2641088U Expired - Lifetime JPH0642220Y2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 電子部品測定電極機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0642220Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2587280Y2 (ja) * | 1992-04-01 | 1998-12-16 | 株式会社ダイトー | Icハンドラーのテストヘッド構造 |
-
1988
- 1988-02-29 JP JP2641088U patent/JPH0642220Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01132982U (ja) | 1989-09-11 |
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