JPH0537338A - Output circuit - Google Patents
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- JPH0537338A JPH0537338A JP3193092A JP19309291A JPH0537338A JP H0537338 A JPH0537338 A JP H0537338A JP 3193092 A JP3193092 A JP 3193092A JP 19309291 A JP19309291 A JP 19309291A JP H0537338 A JPH0537338 A JP H0537338A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に関する
もので、特に内部の信号を集積回路外部に出力する出力
回路に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly to an output circuit for outputting an internal signal to the outside of the integrated circuit.
【0002】[0002]
【従来の技術】集積回路の出力には多数の論理ゲートが
接続されるために大きな電流駆動能力が要求される。集
積回路内部の論理ゲートは電流駆動能力が小さいので、
論理ゲートの出力信号は電流駆動能力を増大させるバッ
ファ回路を通して集積回路の出力端子に出している。2. Description of the Related Art A large current drive capability is required because a large number of logic gates are connected to the output of an integrated circuit. Since the logic gate inside the integrated circuit has a small current drive capability,
The output signal of the logic gate is output to the output terminal of the integrated circuit through a buffer circuit that increases the current drive capability.
【0003】論理ゲートを構成するMOSトランジスタ
のチャネル幅をW、チャネル長をLとするとW/Lの値
は小さいため論理ゲートのオン抵抗は大きい。また、バ
ッファ回路を構成するMOSトランジスタはW/Lの値
が大きいためゲート容量が大きい。このため、バッファ
回路のゲート入力容量をチャージ、ディスチャージする
時間がかかる。When the channel width of a MOS transistor forming a logic gate is W and the channel length is L, the value of W / L is small, and therefore the ON resistance of the logic gate is large. Further, the MOS transistor forming the buffer circuit has a large W / L value and thus has a large gate capacitance. Therefore, it takes time to charge and discharge the gate input capacitance of the buffer circuit.
【0004】このチャージ、ディスチャージ時間を短く
するため、論理ゲートよりW/Lの値が大きく、かつバ
ッファ回路よりはW/Lの値が小さいMOSトランジス
タを使ったプリバッファ回路が論理ゲートとバッファ回
路の間に設けられる。In order to shorten the charge / discharge time, a pre-buffer circuit using a MOS transistor having a larger W / L value than the logic gate and a smaller W / L value than the buffer circuit is a logic gate and a buffer circuit. It is provided between.
【0005】この場合、プリバッファ回路のMOSトラ
ンジスタはゲート容量がバッファ回路より小さいため
に、そのゲート容量がチャージ、ディスチャージされる
のに掛かる時間はバッファ回路のゲート容量がチャー
ジ、ディスチャージされるのに掛かる時間より短くな
る。さらに、バッファ回路を駆動するプリバッファ回路
のMOSトランジスタは論理ゲートに使用されているM
OSトランジスタよりオン抵抗が小さいため、バッファ
回路のゲート容量に対するチャージ、ディスチャージ時
間も短くなる。従って、プリバッファ回路を論理ゲート
とバッファ回路の間に設けることにより、論理ゲート出
力から集積回路出力までのAC特性が改善される。In this case, since the gate capacitance of the MOS transistor of the pre-buffer circuit is smaller than that of the buffer circuit, the gate capacitor of the buffer circuit is charged and discharged in the time required for the gate capacitance to be charged and discharged. It will be shorter than the time it takes. Further, the MOS transistor of the pre-buffer circuit that drives the buffer circuit is M which is used for the logic gate.
Since the on resistance is smaller than that of the OS transistor, the charge and discharge time for the gate capacitance of the buffer circuit is shortened. Therefore, by providing the pre-buffer circuit between the logic gate and the buffer circuit, the AC characteristics from the logic gate output to the integrated circuit output are improved.
【0006】従来、プリバッファ回路の出力の立上がり
時間、立ち下がり時間はプリバッファ回路の入力の立上
がり時間、立ち下がり時間とプリバッファ回路を構成す
るMOSトランジスタのオン抵抗とバッファ回路を構成
するMOSトランジスタのゲート容量により設定され
る。Conventionally, the rise time and fall time of the output of the pre-buffer circuit are the rise time and fall time of the input of the pre-buffer circuit and the ON resistance of the MOS transistor forming the pre-buffer circuit and the MOS transistor forming the buffer circuit. It is set by the gate capacitance of.
【0007】図5は集積回路内に設けられた従来の出力
回路を示したものであり、図6はその動作を示すタイミ
ングチャートである。プリバッファ回路10はPチャネル
MOSトランジスタ11とNチャネルMOSトランジスタ
12から構成される。トランジスタ11のソースは電源VD
Dに接続され、トランジスタ12のソースはアースされ
る。そして、トランジスタ11とトランジスタ12のドレイ
ンはノードb1に接続される。また、トランジスタ11とト
ランジスタ12のゲートはノードa1に接続され、ノードa1
には論理ゲート13の出力信号Saが入力される。FIG. 5 shows a conventional output circuit provided in an integrated circuit, and FIG. 6 is a timing chart showing its operation. The pre-buffer circuit 10 includes a P channel MOS transistor 11 and an N channel MOS transistor.
Composed of 12. The source of the transistor 11 is the power supply VD
Connected to D, the source of transistor 12 is grounded. The drains of the transistors 11 and 12 are connected to the node b1. Further, the gates of the transistors 11 and 12 are connected to the node a1, and the node a1
The output signal Sa of the logic gate 13 is input to.
【0008】バッファ回路14はPチャネルMOSトラン
ジスタ15とNチャネルMOSトランジスタ16から構成さ
れる。トランジスタ15のソースは電源VDDに接続さ
れ、トランジスタ16のソースはアースされる。トランジ
スタ15、16のドレインはノードZ1に接続され、ノードZ1
からは外部端子17が引き出される。そして、端子17に外
部負荷容量CLの一端が接続され、容量CLの他端はアース
される。そして、トランジスタ15とトランジスタ16のゲ
ートはノードb2に接続され、ノードb2はプリバッファ回
路10のノードb1と接続される。The buffer circuit 14 comprises a P channel MOS transistor 15 and an N channel MOS transistor 16. The source of the transistor 15 is connected to the power supply VDD, and the source of the transistor 16 is grounded. The drains of transistors 15 and 16 are connected to node Z1 and
The external terminal 17 is pulled out from. Then, one end of the external load capacitance CL is connected to the terminal 17, and the other end of the capacitance CL is grounded. The gates of the transistors 15 and 16 are connected to the node b2, and the node b2 is connected to the node b1 of the prebuffer circuit 10.
【0009】図6に示すように、論理ゲート13の出力信
号SaがGNDレベルから立上がり、プリバッファ回路10
のスレッシュホールド電圧Vth1を超えると、トランジス
タ11がオフし、トランジスタ12がオンになる。したがっ
て、バッファ回路14のゲート容量Cbに予めチャージされ
ていた電荷はトランジスタ12を通してディスチャージさ
れ、プリバッファ回路10の出力信号Sbの電位は電源電圧
VDDレベルからGNDレベルに向かって下がり始め
る。As shown in FIG. 6, the output signal Sa of the logic gate 13 rises from the GND level, and the prebuffer circuit 10
When the threshold voltage Vth1 is exceeded, the transistor 11 turns off and the transistor 12 turns on. Therefore, the charges previously charged in the gate capacitance Cb of the buffer circuit 14 are discharged through the transistor 12, and the potential of the output signal Sb of the prebuffer circuit 10 starts to drop from the power supply voltage VDD level toward the GND level.
【0010】そして、信号Sbの電位がバッファ回路14の
スレッシュホールド電圧Vth2よりも下がると、バッファ
回路14内のトランジスタ15がオンし、トランジスタ16は
オフになる。したがって、外部負荷容量CLがトランジス
タ15を通してチャージされ、バッファ回路14の出力信号
SZの電位はGNDレベルから電源電圧VDDレベルへ上
がり始める。When the potential of the signal Sb falls below the threshold voltage Vth2 of the buffer circuit 14, the transistor 15 in the buffer circuit 14 turns on and the transistor 16 turns off. Therefore, the external load capacitance CL is charged through the transistor 15 and the output signal of the buffer circuit 14 is
The potential of SZ starts to rise from the GND level to the power supply voltage VDD level.
【0011】信号Sbの立上がり時間、立ち下がり時間は
信号Saの立上がり時間、立ち下がり時間とバッファ回路
14のゲート容量CbとSaが立上がりのときはトランジスタ
12のソース−ドレイン間抵抗、Saが立ち下がりのときは
トランジスタ11のソース−ドレイン間抵抗とにより決ま
る。The rise time and fall time of the signal Sb are the rise time and fall time of the signal Sa and the buffer circuit.
When the gate capacitances Cb and Sa of 14 rise, the transistor
It is determined by the source-drain resistance of 12 and the source-drain resistance of the transistor 11 when Sa falls.
【0012】信号Sbの立上がり時間、立ち下がり時間が
短いとバッファ回路14の入力である信号Sbがバッファ回
路14のスレッシュホールド電圧Vth2に到達する時間が短
くなり、Vth2に到達してからも信号Sbの電圧変化が急な
ため、信号Sb立上がりのときはトランジスタ16、立ち下
がりのときはトランジスタ15のドレイン電流も急激に流
れる。If the rising time and the falling time of the signal Sb are short, the time for the signal Sb which is the input of the buffer circuit 14 to reach the threshold voltage Vth2 of the buffer circuit 14 becomes short, and the signal Sb even after reaching the threshold voltage Vth2. Since the voltage change of Sb is rapid, the drain current of the transistor 16 flows sharply when the signal Sb rises, and the drain current of the transistor 15 flows sharply when the signal Sb falls.
【0013】このため、バッファ回路14では短時間に大
電流が流れ、外部負荷容量CLの充放電電流Iは図6の波
形のようにラッシュカレントによるオーバーシュート現
象、アンダーシュート現象を生じる。この結果、電源電
圧VDDの変動を招き、電源電圧VDDおよびアースに
接続されている論理ゲートで誤動作やラッチアップ現象
が誘発されるという問題がある。Therefore, a large current flows in the buffer circuit 14 in a short time, and the charging / discharging current I of the external load capacitance CL causes an overshoot phenomenon and an undershoot phenomenon due to the rush current as shown in the waveform of FIG. As a result, there is a problem that the power supply voltage VDD fluctuates, and a malfunction or a latch-up phenomenon is induced in the logic gate connected to the power supply voltage VDD and the ground.
【0014】そこで、従来は図7に示す様に、プリバッ
ファ回路20に使用するMOSトランジスタ21、22のW/
Lの値を小さくし、信号Sbの立上がり時間、立ち下がり
時間が長くなるようにしている。なお、他の回路構成は
図6と同じである。Therefore, conventionally, as shown in FIG. 7, W / of MOS transistors 21 and 22 used in the pre-buffer circuit 20 is used.
The value of L is made small so that the rising time and the falling time of the signal Sb become long. The other circuit configuration is the same as that of FIG.
【0015】これにより、バッファ回路14のトランジス
タ15、16のオフ状態からオン状態への変化時間が長くな
り、図8に示したように信号SZの電圧変化も緩やかにな
る。このため、外部負荷容量CLの充放電電流Iにはラッ
シュカレントがなくなる。As a result, the change time of the transistors 15 and 16 of the buffer circuit 14 from the off state to the on state becomes long, and the voltage change of the signal SZ also becomes gentle as shown in FIG. Therefore, the charge / discharge current I of the external load capacitance CL has no rush current.
【0016】[0016]
【発明が解決しようとする課題】従来はプリバッファ回
路を構成するMOSトランジスタのW/Lの値を小さく
し、バッファ回路を構成するMOSトランジスタのオフ
状態からオン状態への変化時間を長くすることにより、
ラッシュカレントを防止していた。Conventionally, the W / L value of a MOS transistor forming a pre-buffer circuit is made small, and the change time of the MOS transistor forming a buffer circuit from an off state to an on state is lengthened. Due to
It was preventing rush current.
【0017】しかし、電源電圧が高くなるとプリバッフ
ァ回路出力の立上がり時間、立ち下がり時間が短くな
り、バッファ回路出力にラッシュカレントが増えるので
効果がなくなる。However, when the power supply voltage increases, the rise time and fall time of the pre-buffer circuit output are shortened, and the rush current increases in the buffer circuit output, which is ineffective.
【0018】また、バッファ回路内のトランジスタのオ
フ状態からオン状態に至る変化時間を長くすることは反
面、オン状態からオフ状態に至る変化時間も長くするこ
とになり、バッファ回路のPチャネルMOSトランジス
タ、NチャネルMOSトランジスタが同時にオン状態と
なる時間も長くなり、貫通電流が増加する。On the other hand, the change time from the OFF state to the ON state of the transistor in the buffer circuit is lengthened, but the change time from the ON state to the OFF state is also lengthened, and the P-channel MOS transistor of the buffer circuit is also increased. , N-channel MOS transistors are simultaneously turned on for a long time, and the through current increases.
【0019】本発明は上記のような事情を考慮してなさ
れたものであり、その目的は電源電圧が高い時でもバッ
ファ回路出力のラッシュカレント防止ができ、またバッ
ファ回路を流れる貫通電流を減らすことのできる出力回
路を提供することである。The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and an object thereof is to prevent the rush current of the buffer circuit output even when the power supply voltage is high, and to reduce the through current flowing through the buffer circuit. It is to provide an output circuit capable of
【0020】[0020]
【課題を解決するための手段】この発明の出力回路は、
ソース・ドレイン間が第1の電位供給端と第1のノード
との間に直列に挿入され、ゲートにクロック信号及び入
力信号のそれぞれが供給される第1チャネル型の第1、
第2のMOSトランジスタ及びソース・ドレイン間が第
2の電位供給端と上記第1のノードとの間に直列に挿入
され、ゲートに上記クロック信号及び上記入力信号のそ
れぞれが供給される第2チャネル型の第3、第4のMO
Sトランジスタとからなるプリバッファ回路と、ソース
・ドレイン間が上記の第1の電位供給端と第2のノード
との間に挿入され、ゲートに上記第1のノードの信号が
供給される第1チャネル型の第5のMOSトランジスタ
及びソース・ドレイン間が上記第2の電位供給端と上記
第2のノードとの間に挿入され、ゲートに上記第1のノ
ードの信号が供給される第2チャネル型の第6のMOS
トランジスタとからなるバッファ回路とを具備したこと
を特徴とする。The output circuit of the present invention comprises:
A first channel type first, in which a source and a drain are inserted in series between a first potential supply terminal and a first node, and a clock signal and an input signal are respectively supplied to a gate,
A second channel in which the second MOS transistor and the source / drain are inserted in series between the second potential supply terminal and the first node, and the gate is supplied with the clock signal and the input signal, respectively. Type 3rd and 4th MO
A pre-buffer circuit including an S-transistor and a source / drain are inserted between the first potential supply terminal and the second node, and a gate is supplied with the signal of the first node. A channel-type fifth MOS transistor and a second channel in which a source-drain gap is inserted between the second potential supply end and the second node, and a gate is supplied with the signal of the first node. Type sixth MOS
A buffer circuit including a transistor is provided.
【0021】さらにこの発明の出力回路は、ソース・ド
レイン間が第1の電位供給端と第1のノードとの間に挿
入され、ゲートに入力信号が供給される第1チャネル型
の第1のMOSトランジスタ及びソース・ドレイン間が
上記第1のノードと第2の電位供給端との間に直列に挿
入され、ゲートにクロック信号及び上記入力信号のそれ
ぞれが供給される第2チャネル型の第2、第3のMOS
トランジスタとからなる第1のプリバッファ回路と、ソ
ース・ドレイン間が上記第1の電位供給端と第2のノー
ドとの間に直列に挿入され、ゲートに上記クロック信号
及び上記入力信号のそれぞれが供給される第1チャネル
型の第4及び第5のMOSトランジスタ及びソース・ド
レイン間が上記第2のノードと上記第2の電位供給端と
の間に挿入され、ゲートに上記入力信号が供給される第
2チャネル型の第6のMOSトランジスタとからなる第
2のプリバッファ回路と、ソース・ドレイン間が上記の
第1の電位供給端と第3のノードとの間に挿入され、ゲ
ートに上記第1のノードの信号が供給される第1チャネ
ル型の第7のMOSトランジスタ及びソース・ドレイン
間が上記第2の電位供給端と上記第3のノードとの間に
挿入され、ゲートに上記第2のノードの信号が供給され
る第2チャネル型の第8のMOSトランジスタとからな
るバッファ回路とを具備したことを特徴とする。Further, in the output circuit of the present invention, the source-drain is inserted between the first potential supply terminal and the first node, and the input signal is supplied to the gate of the first channel type first circuit. A second channel-type second transistor in which a MOS transistor and a source / drain are inserted in series between the first node and a second potential supply terminal, and a clock signal and the input signal are respectively supplied to a gate. , The third MOS
A first pre-buffer circuit including a transistor and a source / drain are serially inserted between the first potential supply terminal and a second node, and the gate receives the clock signal and the input signal, respectively. The supplied first channel type fourth and fifth MOS transistors and the source-drain are inserted between the second node and the second potential supply terminal, and the gate is supplied with the input signal. A second pre-buffer circuit composed of a second channel type sixth MOS transistor, and a source / drain between the first potential supply terminal and the third node, and a gate above the The seventh MOS transistor of the first channel type to which the signal of the first node is supplied and the source-drain are inserted between the second potential supply terminal and the third node, and the gate is inserted. Characterized by comprising a buffer circuit comprising a eighth MOS transistor of the second channel type having a signal of the second node is supplied.
【0022】[0022]
【作用】この発明によれば、バッファ回路への入力信号
はクロック制御されるトランジスタの働きによりステッ
プ的に印加されるので、バッファ回路の出力信号に現れ
る電流の時間あたりの変化量が少なく電源変動を抑制で
きる。According to the present invention, since the input signal to the buffer circuit is applied stepwise by the action of the clock-controlled transistor, the amount of change per unit time of the current appearing in the output signal of the buffer circuit is small and the power supply fluctuation. Can be suppressed.
【0023】この発明によれば、プリバッファ回路を2
つ設けたことによりバッファ回路のPチャネルMOSト
ランジスタとNチャネルMOSトランジスタがオフから
オンする時期と、オフからオンする時期がずれるので、
Pチャネル、Nチャネルが同時にオンにならず、バッフ
ァ回路の電源からアースへの貫通電流の発生が防止され
る。According to the present invention, the pre-buffer circuit has two
By providing one, the timing when the P-channel MOS transistor and the N-channel MOS transistor of the buffer circuit are turned on from the time when they are turned off from the time when they are turned on,
The P-channel and N-channel are not turned on at the same time, which prevents the generation of a through current from the power supply of the buffer circuit to the ground.
【0024】[0024]
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明を実施例に
より説明する。図1は本発明の一実施例に係わる出力回
路の回路図で、プリバッファ回路30は出力の立上がり、
立ち下がり時間をコントロールするためのクロック信号
によって制御されるMOSトランジスタをPチャネル
側、Nチャネル側にそれぞれ備えている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram of an output circuit according to an embodiment of the present invention.
MOS transistors controlled by a clock signal for controlling the fall time are provided on the P-channel side and the N-channel side, respectively.
【0025】プリバッファ回路30は2つのPチャネルM
OSトランジスタ31、32と2つのNチャネルMOSトラ
ンジスタ33、34から構成されており、PチャネルMOS
トランジスタ31のソースは電源電圧VDDに接続され、
ドレインはPチャネルMOSトランジスタ32のソースに
接続される。また、トランジスタ32のドレインはノード
b3に接続される。The prebuffer circuit 30 includes two P-channel M
It is composed of OS transistors 31, 32 and two N-channel MOS transistors 33, 34, and is a P-channel MOS transistor.
The source of the transistor 31 is connected to the power supply voltage VDD,
The drain is connected to the source of the P-channel MOS transistor 32. Also, the drain of the transistor 32 is a node
Connected to b3.
【0026】NチャネルMOSトランジスタ33のドレイ
ンはノードb3に接続され、ソースはNチャネルMOSト
ランジスタ34のドレインに接続される。また、トランジ
スタ34のソースはアースされる。The drain of N channel MOS transistor 33 is connected to node b3, and the source is connected to the drain of N channel MOS transistor 34. The source of the transistor 34 is grounded.
【0027】上記トランジスタ31と34の各ゲートにはク
ロック信号Φが入力される。上記トランジスタ32と33の
ゲートは共にノードa2に接続され、ノードa2には論理ゲ
ート13の出力信号Saが入力される。The clock signal Φ is input to the gates of the transistors 31 and 34. The gates of the transistors 32 and 33 are both connected to the node a2, and the output signal Sa of the logic gate 13 is input to the node a2.
【0028】バッファ回路14はPチャネルMOSトラン
ジスタ15とNチャネルMOSトランジスタ16から構成さ
れる。トランジスタ15のソースは電源VDDに接続さ
れ、ドレインはノードZ1に接続される。また、トランジ
スタ16のドレインはノードZ1に接続され、ソースはアー
スされる。ノードZ1から引き出された外部端子17に外部
負荷容量CLの一端が接続され、容量CLの他端はアースさ
れる。そして、トランジスタ15、16のゲートは共にノー
ドb1に接続され、ノードb1はノードb3と接続される。The buffer circuit 14 comprises a P channel MOS transistor 15 and an N channel MOS transistor 16. The source of the transistor 15 is connected to the power supply VDD, and the drain is connected to the node Z1. The drain of the transistor 16 is connected to the node Z1 and the source is grounded. One end of the external load capacitance CL is connected to the external terminal 17 drawn out from the node Z1, and the other end of the capacitance CL is grounded. The gates of the transistors 15 and 16 are both connected to the node b1, and the node b1 is connected to the node b3.
【0029】次に、上記実施例回路の動作を図2のタイ
ミングチャートを用いて説明する。まず、信号Saの電位
がGNDレベルから立上がり、プリバッファ回路30のス
レッシュホールド電圧Vth5に達すると、PチャネルMO
Sトランジスタ32がオフし、NチャネルMOSトランジ
スタ33がオンする。Next, the operation of the circuit of the above embodiment will be described with reference to the timing chart of FIG. First, when the potential of the signal Sa rises from the GND level and reaches the threshold voltage Vth5 of the pre-buffer circuit 30, the P-channel MO
The S transistor 32 turns off and the N channel MOS transistor 33 turns on.
【0030】NチャネルMOSトランジスタ34はゲート
に加えられているクロック信号ΦがVDDレベルのとき
オン、GNDレベルのときはオフとなり、クロック信号
Φに合わせてオン、オフを繰り返している。The N-channel MOS transistor 34 is turned on when the clock signal Φ applied to the gate is at the VDD level and turned off when it is at the GND level, and is repeatedly turned on and off in accordance with the clock signal Φ.
【0031】NチャネルMOSトランジスタ34がオンの
時だけ、バッファ回路14のゲート容量Cbにチャージされ
ていた電荷がNチャネルMOSトランジスタ33、34を通
してディスチャージされるので、ノードb3に現れる信号
Sbの電位はVDDレベルからステップ的に下がる。Only when the N-channel MOS transistor 34 is on, the charge charged in the gate capacitance Cb of the buffer circuit 14 is discharged through the N-channel MOS transistors 33 and 34, so that the signal appearing at the node b3.
The potential of Sb drops stepwise from the VDD level.
【0032】信号Sbの電位が立ち下がりバッファ回路14
のスレッシュホールド電圧Vth6に達すると、Pチャネル
MOSトランジスタ15がオン、NチャネルMOSトラン
ジスタ16がオフする。したがって、外部負荷容量CLにP
チャネルMOSトランジスタ15を通して電源電圧VDD
が加えられ、容量CLがチャージされる。The potential of the signal Sb falls and the buffer circuit 14
When the threshold voltage Vth6 is reached, the P-channel MOS transistor 15 turns on and the N-channel MOS transistor 16 turns off. Therefore, P is added to the external load capacitance CL.
Power supply voltage VDD through channel MOS transistor 15
Is added and the capacitance CL is charged.
【0033】ノードZ1に現れる信号SZの電圧は電源電圧
VDDによるチャージ電流Iによって外部負荷容量CLが
チャージされるにしたがいGNDレベルから立ち上がっ
ていく。この時、PチャネルMOSトランジスタ15のゲ
ートに加わる信号Sbの電位はステップ的に下がるのでP
チャネルMOSトランジスタ15はのオン抵抗は順次下が
る。したがって、PチャネルMOSトランジスタ15を流
れるチャージ電流Iは急激に流れることなく、ラッシュ
カレントが生じない。The voltage of the signal SZ appearing at the node Z1 rises from the GND level as the external load capacitance CL is charged by the charge current I generated by the power supply voltage VDD. At this time, the potential of the signal Sb applied to the gate of the P-channel MOS transistor 15 decreases stepwise, so P
The on resistance of the channel MOS transistor 15 gradually decreases. Therefore, the charge current I flowing through the P-channel MOS transistor 15 does not suddenly flow and no rush current occurs.
【0034】また、電源電圧VDDが高くなっても、バ
ッファ回路14の入力に加えられる信号Sbの立ち下がり時
間はトランジスタ33がオン状態でもクロック信号ΦがG
NDレベルの間は信号Sbの電位は変化しないため、極端
に短くなることはない。したがって、バッファ回路14か
ら出力されるチャージ電流Iが急激に流れることはな
く、電源電圧VDDが大きく変動することがないので、
電源を共用する他の素子の誤動作の誘発を防止できる。Further, even when the power supply voltage VDD becomes high, the clock signal Φ remains at the G level even when the transistor 33 is in the on-state even when the signal Sb applied to the input of the buffer circuit 14 falls.
Since the potential of the signal Sb does not change during the ND level, it does not become extremely short. Therefore, the charge current I output from the buffer circuit 14 does not suddenly flow, and the power supply voltage VDD does not greatly change.
It is possible to prevent the malfunction of other elements sharing the power supply.
【0035】次に、信号Saの電位がVDDレベルから立
ち下がりプリバッファ回路30のスレッシュホールド電圧
Vth5に達すると、トランジスタ32がオン、トランジスタ
33がオフになる。トランジスタ31はゲートに加えられて
いるクロック信号ΦがVDDレベルのときオフ、GND
レベルのときはオンとなり、クロック信号Φによりオ
ン、オフを繰り返している。Next, the potential of the signal Sa falls from the VDD level and the threshold voltage of the pre-buffer circuit 30.
When Vth5 is reached, the transistor 32 turns on and the transistor
33 turns off. The transistor 31 is turned off when the clock signal Φ applied to the gate is at the VDD level, GND
When it is at the level, it is turned on and repeatedly turned on and off by the clock signal Φ.
【0036】トランジスタ31がオンの時だけ、バッファ
回路14のゲート容量Cbにトランジスタ31、32を通して電
源電圧VDDによるチャージが行われるので、ノードb3
に現れる信号Sbの電位はGNDレベルからステップ的に
上がる。Since the gate capacitance Cb of the buffer circuit 14 is charged by the power supply voltage VDD through the transistors 31 and 32 only when the transistor 31 is on, the node b3
The potential of the signal Sb appearing at the stepwise rises from the GND level.
【0037】信号Sbの電位がGNDレベルから立上が
り、バッファ回路14のスレッシュホールド電圧Vth6に達
すると、NチャネルMOSトランジスタ16がオン、Pチ
ャネルMOSトランジスタ15がオフする。したがって、
外部負荷容量CLに予めチャージされていた電荷はトラン
ジスタ16を通じてディスチャージされ、ノードZ1に現れ
る信号SZの電位はVDDレベルから立ち下がっていく。When the potential of the signal Sb rises from the GND level and reaches the threshold voltage Vth6 of the buffer circuit 14, the N channel MOS transistor 16 turns on and the P channel MOS transistor 15 turns off. Therefore,
The charges previously charged in the external load capacitance CL are discharged through the transistor 16, and the potential of the signal SZ appearing at the node Z1 falls from the VDD level.
【0038】この時、トランジスタ16のゲートに加わる
信号Sbの電位はステップ的に上がるのでトランジスタ16
のオン抵抗は順次下がる。したがって、トランジスタ16
を流れるディスチャージ電流Iは急激に流れることな
く、ラッシュカレントが生じない。At this time, since the potential of the signal Sb applied to the gate of the transistor 16 rises stepwise, the transistor 16
ON resistance of is gradually decreased. Therefore, the transistor 16
The discharge current I flowing through does not flow rapidly, and no rush current occurs.
【0039】また、電源電圧VDDが高くなっても、バ
ッファ回路14の入力に加えられる信号Sbの立上がり時間
はトランジスタ32がオン状態でもクロック信号ΦがVD
Dレベルの間は信号Sbの電位が変化しないため、極端に
短くなることはない。したがって、バッファ回路14がシ
ンクするディスチャージ電流Iが急激に流れることはな
く、電源電圧VDDが大きく変動することがないので、
電源を共用する他の素子の誤動作の誘発を防止できる。Even if the power supply voltage VDD rises, the rise time of the signal Sb applied to the input of the buffer circuit 14 is such that the clock signal Φ is VD even when the transistor 32 is in the ON state.
Since the potential of the signal Sb does not change during the D level, it does not become extremely short. Therefore, the discharge current I that the buffer circuit 14 sinks does not suddenly flow, and the power supply voltage VDD does not greatly change.
It is possible to prevent the malfunction of other elements sharing the power supply.
【0040】次に、第2の実施例を図3を参照して説明
する。この第2の実施例ではPチャネル側プリバッファ
回路40とNチャネル側プリバッファ回路50の2つのプリ
バッファ回路が設けられている。Next, a second embodiment will be described with reference to FIG. In this second embodiment, two prebuffer circuits, that is, a P channel side prebuffer circuit 40 and an N channel side prebuffer circuit 50 are provided.
【0041】Pチャネル側プリバッファ回路40は1個の
PチャネルMOSトランジスタ41と2個のNチャネルM
OSトランジスタ42、43から構成されている。トランジ
スタ41のドレインはノードp1に接続され、ソースは電源
VDDに接続される。トランジスタ42のドレインはノー
ドp1に接続され、ソースはトランジスタ43のドレインに
接続される。また、トランジスタ43のソースはアースさ
れる。The P-channel side pre-buffer circuit 40 includes one P-channel MOS transistor 41 and two N-channel M transistors.
It is composed of OS transistors 42 and 43. The drain of the transistor 41 is connected to the node p1 and the source is connected to the power supply VDD. The drain of the transistor 42 is connected to the node p1 and the source is connected to the drain of the transistor 43. The source of the transistor 43 is grounded.
【0042】そして、上記のトランジスタ41、42のゲー
トは共にノードa3に接続され、ノードa3には論理ゲート
13の出力信号Saが入力される。また、トランジスタ43の
ゲートにはクロック信号Φが入力される。The gates of the transistors 41 and 42 are both connected to the node a3, and the node a3 has a logic gate.
The 13 output signals Sa are input. The clock signal Φ is input to the gate of the transistor 43.
【0043】Nチャネル側プリバッファ回路50は2個の
PチャネルMOSトランジスタ51、52と1個のNチャネ
ルMOSトランジスタ53から構成されている。トランジ
スタ51のドレインはトランジスタ52のソースに接続さ
れ、ソースは電源VDDに接続される。トランジスタ52
のドレインはノードn1に接続され、ノードn1にはトラン
ジスタ53のドレインが接続される。また、トランジスタ
53のソースはアースされる。The N-channel side pre-buffer circuit 50 is composed of two P-channel MOS transistors 51 and 52 and one N-channel MOS transistor 53. The drain of the transistor 51 is connected to the source of the transistor 52, and the source is connected to the power supply VDD. Transistor 52
Is connected to the node n1, and the drain of the transistor 53 is connected to the node n1. Also transistors
The 53 source is grounded.
【0044】そして、トランジスタ52、53のゲートは共
にノードa4に接続され、ノードa4には論理ゲート13の出
力信号Saが入力される。また、トランジスタ51のゲート
にクロック信号Φが入力される。The gates of the transistors 52 and 53 are both connected to the node a4, and the output signal Sa of the logic gate 13 is input to the node a4. Further, the clock signal Φ is input to the gate of the transistor 51.
【0045】バッファ回路60はPチャネルMOSトラン
ジスタ61とNチャネルMOSトランジスタ62から構成さ
れる。トランジスタ61のソースは電源VDDに接続さ
れ、ドレインはノードZ2に接続される。トランジスタ62
のドレインはノードZ2に接続され、ソースはアースされ
る。また、ノードZ2は外部端子17と接続され、端子17に
は外部負荷容量CLの一端が接続され、容量CLの他端はア
ースされる。The buffer circuit 60 comprises a P channel MOS transistor 61 and an N channel MOS transistor 62. The source of the transistor 61 is connected to the power supply VDD and the drain is connected to the node Z2. Transistor 62
Has its drain connected to node Z2 and its source grounded. The node Z2 is connected to the external terminal 17, one end of the external load capacitance CL is connected to the terminal 17, and the other end of the capacitance CL is grounded.
【0046】PチャネルMOSトランジスタ61のゲート
はPチャネル側のプリバッファ回路40のノードp1と接続
される。NチャネルMOSトランジスタ62のゲートはN
チャネル側のプリバッファ回路50のノードn1と接続され
る。The gate of the P-channel MOS transistor 61 is connected to the node p1 of the pre-buffer circuit 40 on the P-channel side. The gate of the N-channel MOS transistor 62 is N
It is connected to the node n1 of the pre-buffer circuit 50 on the channel side.
【0047】次に、上記第2の実施例の回路の動作を図
4に示したタイミングチャートを用いて説明する。ま
ず、信号Saが電源電圧VDDレベルから立ち下がりプリ
バッファ回路40のスレッシュホールド電圧Vth7に達する
とトランジスタ41がオンし、トランジスタ42がオフにな
る。Next, the operation of the circuit of the second embodiment will be described with reference to the timing chart shown in FIG. First, when the signal Sa falls from the power supply voltage VDD level and reaches the threshold voltage Vth7 of the pre-buffer circuit 40, the transistor 41 is turned on and the transistor 42 is turned off.
【0048】このトランジスタ41を通して、電源VDD
によりバッファ回路60のトランジスタ61のゲートがチャ
ージされるにしたがって、ノードp1に現れる信号SpはG
NDレベルから立ち上がる。信号Spの電位がトランジス
タ61のスレッシュホールド電圧Vth8を超えると、オンし
ていたトランジスタ61はオフになる。Through this transistor 41, the power supply VDD
As the gate of the transistor 61 of the buffer circuit 60 is charged by, the signal Sp appearing at the node p1 becomes G
Stand up from the ND level. When the potential of the signal Sp exceeds the threshold voltage Vth8 of the transistor 61, the transistor 61 that was on turns off.
【0049】一方、信号Saが電源電位VDDから立ち下
がり、プリバッファ回路50のスレッシュホールド電圧Vt
h7に達すると、トランジスタ52はオンし、トランジスタ
53はオフする。また、トランジスタ51はゲートに加えら
れているクロック信号ΦがGNDレベルのときオンにな
る。On the other hand, the signal Sa falls from the power supply potential VDD, and the threshold voltage Vt of the prebuffer circuit 50 is increased.
When h7 is reached, transistor 52 turns on and transistor 52
53 turns off. Further, the transistor 51 is turned on when the clock signal Φ applied to the gate is at the GND level.
【0050】クロック信号ΦがGNDレベルでトランジ
スタ51と52が共にオンのとき電源VDDによって、バッ
ファ回路60のトランジスタ62のゲートがチャージされ、
ノードn1に現れる信号Snの電位が上がる。この電位の上
がり方はクロック信号Φによりトランジスタ51がオン、
オフを繰り返すため、ステップ状になる。When the clock signal Φ is at the GND level and the transistors 51 and 52 are both on, the power supply VDD charges the gate of the transistor 62 of the buffer circuit 60,
The potential of the signal Sn appearing at the node n1 rises. Transistor 51 is turned on by clock signal Φ,
Because it turns off repeatedly, it becomes a step.
【0051】信号Snの電位が立上がり、トランジスタ62
のスレッシュホールドvth9を超えるとトランジスタ62が
オンする。このトランジスタ62のチャネルを通して外部
負荷容量CLに予めチャージされていた電荷がディスチャ
ージされるため、ノードZ2に現れる信号SZの電位は下が
る。The potential of the signal Sn rises, and the transistor 62
When the threshold value vth9 is exceeded, the transistor 62 is turned on. Since the electric charge previously charged in the external load capacitance CL is discharged through the channel of the transistor 62, the potential of the signal SZ appearing at the node Z2 decreases.
【0052】信号Snはステップ状に電位を上げるため、
信号Snによって制御されるトランジスタ62のオン抵抗は
順次低くなる。このため、トランジスタ62を通るディス
チャージ電流Iは急激に流れないので、ラッシュカレン
トが発生することはない。Since the signal Sn raises the potential stepwise,
The on resistance of the transistor 62 controlled by the signal Sn gradually decreases. For this reason, the discharge current I passing through the transistor 62 does not suddenly flow, so that no rush current occurs.
【0053】また、信号Snの電位はステップ状に立ち上
がるため信号Spに比べスレッシュホールド電圧に達する
時刻が遅い。従って、信号Spが先にスレッシュホールド
電圧Vth8を超えPチャネルMOSトランジスタ61がオフ
になった時は、信号Snはスレッシュホールド電圧Vth9に
達しないためトランジスタ62はまだオフのままである。Since the potential of the signal Sn rises stepwise, the time when it reaches the threshold voltage is later than that of the signal Sp. Therefore, when the signal Sp first exceeds the threshold voltage Vth8 and the P-channel MOS transistor 61 is turned off, the signal Sn does not reach the threshold voltage Vth9 and the transistor 62 is still off.
【0054】したがって、バッファ回路60は入力信号S
p、Snが立上がりを開始してから終了するまでの間に、
トランジスタ61とトランジスタ62が同時にオン状態にな
ることはない。このため、バッファ回路60の電源VDD
からアースへの貫通電流は流れない。Therefore, the buffer circuit 60 receives the input signal S
From the start of p and Sn to the end,
The transistors 61 and 62 are never turned on at the same time. Therefore, the power supply VDD of the buffer circuit 60
No through current flows from the ground to the ground.
【0055】次に、信号Saの電位がGNDレベルから立
ち上がり、プリバッファ回路40のスレッシュホールド電
圧Vth7に達するとPチャネル側プリバッファ回路40では
トランジスタ41がオフ、トランジスタ42がオンになる。
また、トランジスタ43はゲートに加えらるクロック信号
ΦがVDDレベルのときオンになる。Next, when the potential of the signal Sa rises from the GND level and reaches the threshold voltage Vth7 of the pre-buffer circuit 40, the transistor 41 in the P-channel side pre-buffer circuit 40 turns off and the transistor 42 turns on.
Further, the transistor 43 is turned on when the clock signal Φ applied to the gate is at VDD level.
【0056】クロック信号ΦがVDDレベルでトランジ
スタ42と43が共にオン状態のときトランジスタ61のゲー
トに予めチャージされていた電荷がトランジスタ42、43
を通してディスチャージされる。このため、ノードp1に
現れる信号Spの電位はクロック信号Φに合わせてステッ
プ状に立ち下がり、トランジスタ61のスレッシュホール
ド電圧Vth8に達するとトランジスタ61はオン状態にな
る。When the clock signal Φ is at the VDD level and the transistors 42 and 43 are both in the ON state, the charges previously charged in the gate of the transistor 61 are the transistors 42 and 43.
Will be discharged through. Therefore, the potential of the signal Sp appearing at the node p1 falls stepwise in accordance with the clock signal Φ, and when the threshold voltage Vth8 of the transistor 61 is reached, the transistor 61 is turned on.
【0057】一方、信号Saの電位がGNDレベルから立
ち上がりプリバッファ回路50のスレッシュホールド電圧
Vth7に達すると、Nチャネル側プリバッファ回路50では
トランジスタ52はオフ、トランジスタ53はオンになる。
このため、トランジスタ62のゲートに予めチャージされ
ていた電荷がトランジスタ53を通してディスチャージさ
れる。したがって、ノードn1に現れる信号Snの電位はV
DDレベルから立ち下がり、信号Snがトランジスタ62の
スレッシュホールド電圧Vth9に達するとトランジスタ62
はオフになる。On the other hand, the potential of the signal Sa rises from the GND level and the threshold voltage of the prebuffer circuit 50.
When reaching Vth7, in the N-channel side pre-buffer circuit 50, the transistor 52 is turned off and the transistor 53 is turned on.
Therefore, the charge previously charged in the gate of the transistor 62 is discharged through the transistor 53. Therefore, the potential of the signal Sn appearing at the node n1 is V
When the signal Sn reaches the threshold voltage Vth9 of the transistor 62 after falling from the DD level, the transistor 62
Turns off.
【0058】トランジスタ62がオフ状態で、トランジス
タ61がオン状態になると電源VDDによるチャージ電流
Iによって外部負荷容量CLがチャージされ、ノードZ2に
現れる信号SZの電位はGNDレベルから立ち上がる。When the transistor 62 is off and the transistor 61 is on, the charge current I from the power supply VDD charges the external load capacitance CL, and the potential of the signal SZ appearing at the node Z2 rises from the GND level.
【0059】信号Spはクロック信号Φによりステップ状
に電位を下げるため、信号Spによって制御されるトラン
ジスタ61のオン抵抗は順次低くなる。このため、トラン
ジスタ61を通るチャージ電流Iは急激に流れることはな
く、ラッシュカレントが発生することはない。Since the signal Sp is stepwise lowered by the clock signal Φ, the on-resistance of the transistor 61 controlled by the signal Sp gradually decreases. Therefore, the charge current I passing through the transistor 61 does not suddenly flow, and the rush current does not occur.
【0060】また、信号Spの電位はステップ状に立ち下
がるため信号Snに比べスレッシュホールド電圧に達する
時刻が遅い。このため、信号Snの電位が先にスレッシュ
ホールド電圧Vth9を超えトランジスタ62がオフになった
時は、信号Spの電位はスレッシュホールド電圧Vth8に達
しないためトランジスタ61はまだオフのままである。Further, since the potential of the signal Sp falls in a stepwise manner, the time to reach the threshold voltage is later than that of the signal Sn. Therefore, when the potential of the signal Sn first exceeds the threshold voltage Vth9 and the transistor 62 is turned off, the potential of the signal Sp does not reach the threshold voltage Vth8, and the transistor 61 is still off.
【0061】したがって、バッファ回路60は入力が立ち
下がりを開始してから終了するまでに、トランジスタ61
とトランジスタ62が同時にオン状態になることはなく、
バッファ回路60の電源VDDからアースへの貫通電流は
流れない。Therefore, the buffer circuit 60 has the transistor 61 between the start and the end of the falling of the input.
And the transistor 62 are not turned on at the same time,
No through current flows from the power supply VDD of the buffer circuit 60 to the ground.
【0062】[0062]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、プ
リバッファ回路によるバッファ回路への入力信号の電位
をクロック信号を用いてステップ的に変化させるため、
バッファ回路のオン抵抗もステップ的に低くなり、電源
電圧が上昇してもバッファ回路の出力に現れるラッシュ
カレント増加を抑制し電源変動を抑える効果がある。As described above, according to the present invention, since the potential of the input signal to the buffer circuit by the prebuffer circuit is changed stepwise by using the clock signal,
The ON resistance of the buffer circuit also decreases stepwise, and even if the power supply voltage rises, the increase in rush current appearing in the output of the buffer circuit is suppressed, and the power supply fluctuation is suppressed.
【図1】本発明の一実施例に係わる出力回路の回路図。FIG. 1 is a circuit diagram of an output circuit according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の実施例回路の動作を示すタイミングチャ
ート。FIG. 2 is a timing chart showing the operation of the embodiment circuit shown in FIG.
【図3】本発明の第2の実施例に係わる出力回路の回路
図。FIG. 3 is a circuit diagram of an output circuit according to a second embodiment of the present invention.
【図4】図3の実施例回路の動作を示すタイミングチャ
ート。FIG. 4 is a timing chart showing the operation of the embodiment circuit shown in FIG.
【図5】従来の出力回路の回路図。FIG. 5 is a circuit diagram of a conventional output circuit.
【図6】図5の従来回路の動作を示すタイミングチャー
ト。6 is a timing chart showing the operation of the conventional circuit of FIG.
【図7】従来の出力回路の回路図。FIG. 7 is a circuit diagram of a conventional output circuit.
【図8】図7の従来回路の動作を示すタイミングチャー
ト。8 is a timing chart showing the operation of the conventional circuit of FIG.
10,20,30,40,50…プリバッファ回路、13…論理ゲー
ト、14,60…バッファ回路、17…外部端子。10, 20, 30, 40, 50 ... Pre-buffer circuit, 13 ... Logic gate, 14, 60 ... Buffer circuit, 17 ... External terminal.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H03K 19/096 B 6959−5J ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location H03K 19/096 B 6959-5J
Claims (2)
と第1のノードとの間に直列に挿入され、ゲートにクロ
ック信号及び入力信号のそれぞれが供給される第1チャ
ネル型の第1、第2のMOSトランジスタ及びソース・
ドレイン間が第2の電位供給端と上記第1のノードとの
間に直列に挿入され、ゲートに上記クロック信号及び上
記入力信号のそれぞれが供給される第2チャネル型の第
3、第4のMOSトランジスタとからなるプリバッファ
回路と、 ソース・ドレイン間が上記の第1の電位供給端と第2の
ノードとの間に挿入され、ゲートに上記第1のノードの
信号が供給される第1チャネル型の第5のMOSトラン
ジスタ及びソース・ドレイン間が上記第2の電位供給端
と上記第2のノードとの間に挿入され、ゲートに上記第
1のノードの信号が供給される第2チャネル型の第6の
MOSトランジスタとからなるバッファ回路とを具備し
たことを特徴とする出力回路。1. A first channel-type first device in which a source / drain is inserted in series between a first potential supply terminal and a first node, and a gate is supplied with a clock signal and an input signal, respectively. , The second MOS transistor and the source
A second channel type third and fourth drains are inserted in series between the second potential supply terminal and the first node, and the gate is supplied with the clock signal and the input signal, respectively. A pre-buffer circuit including a MOS transistor and a source-drain are inserted between the first potential supply terminal and the second node, and a gate is supplied with the signal of the first node. A channel-type fifth MOS transistor and a second channel in which a source-drain gap is inserted between the second potential supply end and the second node, and a gate is supplied with the signal of the first node. A sixth type MOS transistor and a buffer circuit including the sixth type MOS transistor.
と第1のノードとの間に挿入され、ゲートに入力信号が
供給される第1チャネル型の第1のMOSトランジスタ
及びソース・ドレイン間が上記第1のノードと第2の電
位供給端との間に直列に挿入され、ゲートにクロック信
号及び上記入力信号のそれぞれが供給される第2チャネ
ル型の第2、第3のMOSトランジスタとからなる第1
のプリバッファ回路と、 ソース・ドレイン間が上記第1の電位供給端と第2のノ
ードとの間に直列に挿入され、ゲートに上記クロック信
号及び上記入力信号のそれぞれが供給される第1チャネ
ル型の第4及び第5のMOSトランジスタ及びソース・
ドレイン間が上記第2のノードと上記第2の電位供給端
との間に挿入され、ゲートに上記入力信号が供給される
第2チャネル型の第6のMOSトランジスタとからなる
第2のプリバッファ回路と、 ソース・ドレイン間が上記の第1の電位供給端と第3の
ノードとの間に挿入され、ゲートに上記第1のノードの
信号が供給される第1チャネル型の第7のMOSトラン
ジスタ及びソース・ドレイン間が上記第2の電位供給端
と上記第3のノードとの間に挿入され、ゲートに上記第
2のノードの信号が供給される第2チャネル型の第8の
MOSトランジスタとからなるバッファ回路とを具備し
たことを特徴とする出力回路。2. A first channel-type first MOS transistor and a source / drain in which a source / drain is inserted between a first potential supply end and a first node, and an input signal is supplied to a gate. Second channel type second and third MOS transistors in which a space is inserted in series between the first node and the second potential supply terminal and a gate is supplied with the clock signal and the input signal, respectively. The first consisting of
Channel of the pre-buffer circuit and the source / drain thereof are inserted in series between the first potential supply terminal and the second node, and the gate is supplied with the clock signal and the input signal, respectively. Type fourth and fifth MOS transistors and sources
A second pre-buffer including a second channel type sixth MOS transistor having a drain inserted between the second node and the second potential supply terminal and having the gate supplied with the input signal. A seventh MOS of a first channel type in which a circuit and a source / drain are inserted between the first potential supply terminal and the third node, and the signal of the first node is supplied to the gate. A second channel type eighth MOS transistor in which a transistor and a source / drain are inserted between the second potential supply terminal and the third node, and a signal of the second node is supplied to a gate. And a buffer circuit comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3193092A JPH0537338A (en) | 1991-08-01 | 1991-08-01 | Output circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3193092A JPH0537338A (en) | 1991-08-01 | 1991-08-01 | Output circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0537338A true JPH0537338A (en) | 1993-02-12 |
Family
ID=16302100
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3193092A Withdrawn JPH0537338A (en) | 1991-08-01 | 1991-08-01 | Output circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH0537338A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100959900B1 (en) * | 2003-04-01 | 2010-05-26 | 페어차일드코리아반도체 주식회사 | Output stage circuit |
CN114882929A (en) * | 2021-02-05 | 2022-08-09 | 旺宏电子股份有限公司 | Operation method of storage device |
-
1991
- 1991-08-01 JP JP3193092A patent/JPH0537338A/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100959900B1 (en) * | 2003-04-01 | 2010-05-26 | 페어차일드코리아반도체 주식회사 | Output stage circuit |
CN114882929A (en) * | 2021-02-05 | 2022-08-09 | 旺宏电子股份有限公司 | Operation method of storage device |
CN114882929B (en) * | 2021-02-05 | 2024-07-09 | 旺宏电子股份有限公司 | Method for operating a memory device |
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