JPH0520840B2 - - Google Patents
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- JPH0520840B2 JPH0520840B2 JP60201902A JP20190285A JPH0520840B2 JP H0520840 B2 JPH0520840 B2 JP H0520840B2 JP 60201902 A JP60201902 A JP 60201902A JP 20190285 A JP20190285 A JP 20190285A JP H0520840 B2 JPH0520840 B2 JP H0520840B2
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- JP
- Japan
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- signal
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- precharge
- word line
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- 238000003708 edge detection Methods 0.000 claims description 24
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 9
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 4
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/08—Word line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, for word lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
A 産業上の利用分野
本発明はプリチヤージ回路に関し、更に詳細に
は、立下り縁検出回路を用いてプリチヤージ信号
を発生する自己タイミング制御式のプリチヤージ
回路に関する。
は、立下り縁検出回路を用いてプリチヤージ信号
を発生する自己タイミング制御式のプリチヤージ
回路に関する。
B 開示の概要
メモリ・アレイのための自己タイミング制御プ
リチヤージ回路について開示する。このプリチヤ
ージ回路は複数の立下り縁検出手段の出力に接続
された論理ゲート手段およびこの論理ゲート手段
の出力に接続されたプリチヤージ発生手段を有す
る。各立下り縁検出手段はシステム・メモリ・ア
レイの別々のワード線に接続される。プリチヤー
ジ発生手段は選択されたワード線のリセツト時に
付勢される関連する立下り縁検出手段からの出力
信号によりトリガされる。
リチヤージ回路について開示する。このプリチヤ
ージ回路は複数の立下り縁検出手段の出力に接続
された論理ゲート手段およびこの論理ゲート手段
の出力に接続されたプリチヤージ発生手段を有す
る。各立下り縁検出手段はシステム・メモリ・ア
レイの別々のワード線に接続される。プリチヤー
ジ発生手段は選択されたワード線のリセツト時に
付勢される関連する立下り縁検出手段からの出力
信号によりトリガされる。
C 従来の技術
メモリ・アレイのプリチヤージ回路として種々
のものが知られている。例えば米国特許第
4338679号明細書はアドレス・ビツトの状態変化
に応答して行駆動トランジスタのゲート端子をプ
リチヤージする行駆動回路を示している。特開昭
56−165983号公報はアドレス入力遷移検出回路に
おいてメモリ・サイクルの変化が検出されたとき
にフリツプ・フロツプをセツトし、このフリツ
プ・フロツプがセツト状態にあるときにビツト線
をプリチヤージする技術を示している。
のものが知られている。例えば米国特許第
4338679号明細書はアドレス・ビツトの状態変化
に応答して行駆動トランジスタのゲート端子をプ
リチヤージする行駆動回路を示している。特開昭
56−165983号公報はアドレス入力遷移検出回路に
おいてメモリ・サイクルの変化が検出されたとき
にフリツプ・フロツプをセツトし、このフリツ
プ・フロツプがセツト状態にあるときにビツト線
をプリチヤージする技術を示している。
しかしながら、これらの従来技術は、本発明の
如く新規な立下り縁検出手段を用いて高性能な
CMOS RAMのためのプリチヤージ信号を発生
する自己タイミング制御プリチヤージ回路につい
ては示していない。
如く新規な立下り縁検出手段を用いて高性能な
CMOS RAMのためのプリチヤージ信号を発生
する自己タイミング制御プリチヤージ回路につい
ては示していない。
D 発明が解決しようとする問題点
本発明の目的は新規な立下り縁検出技術を用い
てプリチヤージ信号を発生する自己タイミング制
御式プリチヤージ回路を提供することである。
てプリチヤージ信号を発生する自己タイミング制
御式プリチヤージ回路を提供することである。
他の目的はDC電力が小さく、タイミング・ス
キムーの問題がなく、自己クロツク回路を含む、
CMOS RAMのための改善されたプリチヤージ
回路を提供することである。
キムーの問題がなく、自己クロツク回路を含む、
CMOS RAMのための改善されたプリチヤージ
回路を提供することである。
E 問題点を解決するための手段
本発明は、“それぞれ別々のメモリ・アレイ・
ワード線に接続され、関連するワード線信号の高
レベルから低レベルへのリセツト動作に応答して
出力レベル変化を発生する複数の立下り縁検出手
段と、上記複数の立下り縁検出手段の出力に接続
され、任意の立下り縁検出手段の上記出力レベル
変化に応答して、出力レベル変化を発生する論理
ゲート手段と、上記論理ゲート手段の出力に接続
され、この論理ゲート手段の上記出力レベル変化
に応答して、プリチヤージ・クロツク出力信号を
発生するプリチヤージ発生手段と、を有するプリ
チヤージ・クロツク信号発生回路。”を提供する
ものである。
ワード線に接続され、関連するワード線信号の高
レベルから低レベルへのリセツト動作に応答して
出力レベル変化を発生する複数の立下り縁検出手
段と、上記複数の立下り縁検出手段の出力に接続
され、任意の立下り縁検出手段の上記出力レベル
変化に応答して、出力レベル変化を発生する論理
ゲート手段と、上記論理ゲート手段の出力に接続
され、この論理ゲート手段の上記出力レベル変化
に応答して、プリチヤージ・クロツク出力信号を
発生するプリチヤージ発生手段と、を有するプリ
チヤージ・クロツク信号発生回路。”を提供する
ものである。
本発明によるプリチヤーズ回路に1つの利点
は、立下り縁検出手段を用いることにより、ワー
ド線のリセツトの前のプリチヤージ信号が発生す
ることがなくなるということである。また消費
DC電力が小さく、また、別個のタイミング・チ
エーンを用いたときに起こりうるタイミング・ス
キユーの問題も完全に解決される。
は、立下り縁検出手段を用いることにより、ワー
ド線のリセツトの前のプリチヤージ信号が発生す
ることがなくなるということである。また消費
DC電力が小さく、また、別個のタイミング・チ
エーンを用いたときに起こりうるタイミング・ス
キユーの問題も完全に解決される。
F 実施例
第1図は本発明の自己タイミング制御プリチヤ
ージ回路の概念を示している。この回路は複数の
立下り縁(エツジ)検出手段10の出力に接続さ
れた論理ゲート手段12及びプリチヤージ発生手
段14を有する。各立下り縁検出手段10はシス
テム・メモリ・アレイの別々のワード線16
WL、WL+1……WL+Nに接続される。動作
において、立下り縁検出手段10はこれを接続さ
れた選択されたワード線16がリセツトするとき
に付勢されてリード線37に信号を発生し、論理
ゲート手段12はリード線37の信号によりトリ
ガされて線19に信号を発生し、プリチヤージ発
生手段14は線19の信号によつてトリガされ
る。
ージ回路の概念を示している。この回路は複数の
立下り縁(エツジ)検出手段10の出力に接続さ
れた論理ゲート手段12及びプリチヤージ発生手
段14を有する。各立下り縁検出手段10はシス
テム・メモリ・アレイの別々のワード線16
WL、WL+1……WL+Nに接続される。動作
において、立下り縁検出手段10はこれを接続さ
れた選択されたワード線16がリセツトするとき
に付勢されてリード線37に信号を発生し、論理
ゲート手段12はリード線37の信号によりトリ
ガされて線19に信号を発生し、プリチヤージ発
生手段14は線19の信号によつてトリガされ
る。
第2図は立下り縁検出手段10の回路を示して
いる。斜線を含むように示されているトランジス
タ装置25,27,29,34,36はPチヤン
ネルのMOS FET装置であり、これに対しトラ
ンジスタ装置17,23,31,33,35はN
チヤンネルMOS FET装置である。リセツト信
号φ2はリード線20,21に印加される。サイ
クルの開始時にリード線22のワード線入力は低
で、リード線20,21のリセツト信号φ2は高
である。ノード24,26は高で、ノード28は
低である。ノード30,32は低レベルにプリチ
ヤージされる。検出回路はリセツト信号φ2が低
レベルになることによつて開始し、このときNチ
ヤンネルMOS FET17,23はオフになる。
リード線22のワード線入力が高レベルになる
と、ノード24が低レベルになり、結果としてノ
ード28が高レベルになり、PチヤンネルFET
34がオンになる。したがつてノード30が高レ
ベルに引き上げられ、ノード26が低になる。ノ
ード26が低になると、PチヤンネルFET36
がオンになり、ノード32および出力リード線3
7(検出回路の出力)を低レベルに保つ。
いる。斜線を含むように示されているトランジス
タ装置25,27,29,34,36はPチヤン
ネルのMOS FET装置であり、これに対しトラ
ンジスタ装置17,23,31,33,35はN
チヤンネルMOS FET装置である。リセツト信
号φ2はリード線20,21に印加される。サイ
クルの開始時にリード線22のワード線入力は低
で、リード線20,21のリセツト信号φ2は高
である。ノード24,26は高で、ノード28は
低である。ノード30,32は低レベルにプリチ
ヤージされる。検出回路はリセツト信号φ2が低
レベルになることによつて開始し、このときNチ
ヤンネルMOS FET17,23はオフになる。
リード線22のワード線入力が高レベルになる
と、ノード24が低レベルになり、結果としてノ
ード28が高レベルになり、PチヤンネルFET
34がオンになる。したがつてノード30が高レ
ベルに引き上げられ、ノード26が低になる。ノ
ード26が低になると、PチヤンネルFET36
がオンになり、ノード32および出力リード線3
7(検出回路の出力)を低レベルに保つ。
リード線22のワード線入力が低レベルになる
と、ノード24が高レベルになつて、ノード28
が低レベルになり、PチヤンネルFET34がオ
フになつてノード30を高レベルに保つ。ノード
26が低レベルのままであり、Pチヤンネル
FET36がオンのままである。したがつてノー
ド32および出力リード線37の検出回路出力は
ノード24からFET36を介してVDDに充電され
る。サイクルの終了近くにリード線20,21の
リセツト信号φ2は高になり、ノード30,32
および出力リード線37が再び低レベルにプリチ
ヤージされ、回路は新しいサイクルに備える。
と、ノード24が高レベルになつて、ノード28
が低レベルになり、PチヤンネルFET34がオ
フになつてノード30を高レベルに保つ。ノード
26が低レベルのままであり、Pチヤンネル
FET36がオンのままである。したがつてノー
ド32および出力リード線37の検出回路出力は
ノード24からFET36を介してVDDに充電され
る。サイクルの終了近くにリード線20,21の
リセツト信号φ2は高になり、ノード30,32
および出力リード線37が再び低レベルにプリチ
ヤージされ、回路は新しいサイクルに備える。
第3図は立下り縁検出手段10の動作期間にお
ける第2図の回路の選択された点における電圧波
形を例示している。リード線22へのワード線入
力が降下すると、ノード32および出力リード線
37の検出回路出力が高レベルになる。内部ノー
ド24,28,30の典型的な電圧波形も示され
ている。ノード30は高電圧状態を記憶し、ノー
ド28が低レベルに放電するときわずかに電圧状
態が乱れるだけである。
ける第2図の回路の選択された点における電圧波
形を例示している。リード線22へのワード線入
力が降下すると、ノード32および出力リード線
37の検出回路出力が高レベルになる。内部ノー
ド24,28,30の典型的な電圧波形も示され
ている。ノード30は高電圧状態を記憶し、ノー
ド28が低レベルに放電するときわずかに電圧状
態が乱れるだけである。
第4図は立下り縁検出手段10、論理ゲート手
段12、およびプリチヤージ発生手段14を含む
完全なプリチヤージ・クロツク信号発生回路を示
している。第5図はリード線19の論理ゲート手
段の出力、リード線45のプリチヤージ・クロツ
ク出力、システム・チツプ選択否定信号、内
部チツプ選択信号CS2、およびリセツト信号φ
1のタイミングを示している。各ワード線WLに
第2図のような立下り縁検出手段10が設けら
れ、すべての立下り縁検出回路の出力37は
NOR回路を構成する論理ゲート手段12に与え
られる。リード線19論理ゲート手段信号および
内部チツプ選択信号CS2はプリチヤージ発生回
路14のNAND回路に与えられ、信号ノード4
3はノード43と出力リード線45の間に接続さ
れた2つのFET装置によつて反転される。
段12、およびプリチヤージ発生手段14を含む
完全なプリチヤージ・クロツク信号発生回路を示
している。第5図はリード線19の論理ゲート手
段の出力、リード線45のプリチヤージ・クロツ
ク出力、システム・チツプ選択否定信号、内
部チツプ選択信号CS2、およびリセツト信号φ
1のタイミングを示している。各ワード線WLに
第2図のような立下り縁検出手段10が設けら
れ、すべての立下り縁検出回路の出力37は
NOR回路を構成する論理ゲート手段12に与え
られる。リード線19論理ゲート手段信号および
内部チツプ選択信号CS2はプリチヤージ発生回
路14のNAND回路に与えられ、信号ノード4
3はノード43と出力リード線45の間に接続さ
れた2つのFET装置によつて反転される。
動作サイクルの開始時には、立下り縁検出手段
10のすべての出力37は低レベルである。リセ
ツト信号φ1は低レベルであり、これに対して相
補関係にあるリセツト信号φ2は高レベルであ
る。チツプ選択否定信号から誘導されるチツ
プ選択信号CS2は低レベルである。したがつて
論理ゲート手段12の出力19は高レベルであ
る。プリチヤージ発生回路14のノード41の信
号は低レベルであり、ノード43の信号は高レベ
ルである。プリチヤージ発生手段14の出力45
は低レベルである。
10のすべての出力37は低レベルである。リセ
ツト信号φ1は低レベルであり、これに対して相
補関係にあるリセツト信号φ2は高レベルであ
る。チツプ選択否定信号から誘導されるチツ
プ選択信号CS2は低レベルである。したがつて
論理ゲート手段12の出力19は高レベルであ
る。プリチヤージ発生回路14のノード41の信
号は低レベルであり、ノード43の信号は高レベ
ルである。プリチヤージ発生手段14の出力45
は低レベルである。
動作サイクルはシステム・チツプ選択否定信号
CSが低レベルになり、これから誘導される内部
チツプ選択信号CS2が高レベルになることによ
つてトリガされる、すなわち開始されるが、これ
によつて、ノード41が高レベルになり、またプ
リチヤージ・クロツク出力45は高レベルにな
る。有効なデータへのアクセスが完了した後、リ
セツト信号φ1は高レベルVDDになり、リセツト
信号φ2はグラウンド・レベルに放電する。これ
により、ノード41が高レベルに保たれる。
CSが低レベルになり、これから誘導される内部
チツプ選択信号CS2が高レベルになることによ
つてトリガされる、すなわち開始されるが、これ
によつて、ノード41が高レベルになり、またプ
リチヤージ・クロツク出力45は高レベルにな
る。有効なデータへのアクセスが完了した後、リ
セツト信号φ1は高レベルVDDになり、リセツト
信号φ2はグラウンド・レベルに放電する。これ
により、ノード41が高レベルに保たれる。
次にワード線アクセスがオンになり、選択され
たワード線(リード線22へ接続されている)が
高レベルになるが、このとき立下り縁検出手段1
0のすべての出力37は低レベルの状態にある。
選択されたワード線が低レベルになると、このワ
ードに接続された特定の立下り縁検出手段10が
このワード線の立下り縁に応答して出力リード線
37を高レベルにする。したがつて論理ゲート手
段12の出力19が低レベルになる。プリチヤー
ジ発生手段14のノード43が高レベルになり、
プリチヤージ・クロツク出力信号45は低レベル
になつて、プリチヤージ・サイクルを開始する。
その後プリチヤージ・サイクルの終了近くにリセ
ツト信号φ1は低レベルに放電し、その相補信号
φ2は高レベルになり、回路はプリチヤージされ
て次のサイクルに備える。
たワード線(リード線22へ接続されている)が
高レベルになるが、このとき立下り縁検出手段1
0のすべての出力37は低レベルの状態にある。
選択されたワード線が低レベルになると、このワ
ードに接続された特定の立下り縁検出手段10が
このワード線の立下り縁に応答して出力リード線
37を高レベルにする。したがつて論理ゲート手
段12の出力19が低レベルになる。プリチヤー
ジ発生手段14のノード43が高レベルになり、
プリチヤージ・クロツク出力信号45は低レベル
になつて、プリチヤージ・サイクルを開始する。
その後プリチヤージ・サイクルの終了近くにリセ
ツト信号φ1は低レベルに放電し、その相補信号
φ2は高レベルになり、回路はプリチヤージされ
て次のサイクルに備える。
内部チツプ選択信号CS2は選択されたワード
線がリセツトする前にリセツト信号φ1の高レベ
ルへの変化に基いて低レベルにされるが、ノード
19および41が高レベルに保たれるから、プリ
チヤージ発生手段14の出力45は選択されたワ
ード線がリセツトするまでは低レベルにならな
い。なお、PチヤンネルおよびNチヤンネルの導
電型を逆にするならば、これに対応して動作電圧
の高レベルおよび低レベルに逆にさるよう。
線がリセツトする前にリセツト信号φ1の高レベ
ルへの変化に基いて低レベルにされるが、ノード
19および41が高レベルに保たれるから、プリ
チヤージ発生手段14の出力45は選択されたワ
ード線がリセツトするまでは低レベルにならな
い。なお、PチヤンネルおよびNチヤンネルの導
電型を逆にするならば、これに対応して動作電圧
の高レベルおよび低レベルに逆にさるよう。
G 発明の効果
本発明によれば、タイミング・スキユーの問題
がなく、信頼性の高い自己タイミング制御プリチ
ヤージ発生回路を実現できる。
がなく、信頼性の高い自己タイミング制御プリチ
ヤージ発生回路を実現できる。
第1図は本発明のプリチヤージ回路構成を示す
図、第2図は立下り縁検出手段の回路図、第3図
は第2図の回路の動作波形図、第4図は本発明の
プリチヤージ回路の詳細図、および第5図は第4
図の回路の動作波形図である。
図、第2図は立下り縁検出手段の回路図、第3図
は第2図の回路の動作波形図、第4図は本発明の
プリチヤージ回路の詳細図、および第5図は第4
図の回路の動作波形図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 それぞれ別々のメモリ・アレイ・ワード線に
接続され、関連するワード線信号の高レベルから
低レベルへのリセツト動作に応答して低レベルか
ら高レベルへの出力レベル変化を出力ノードに発
生する複数の立下り縁検出手段と、 上記複数の立下り縁検出手段の上記出力ノード
に接続され、任意の立下り縁検出手段の上記出力
レベル変化に応答して、高レベルから低レベルへ
の出力レベル変化を発生する論理ゲート手段と、 上記論理ゲート手段の出力に接続され、この論
理ゲート手段の上記出力レベル変化に応答して、
プリチヤージ・クロツク出力信号を発生するプリ
チヤージ発生手段とを有し、 各上記立下り縁検出手段は、上記出力ノードと
信号の低レベルに対応する基準電圧との間に接続
された、制御信号に応答する第1のスイツチング
装置と、上記ワード線信号のリセツト動作に応答
して上記出力ノードを高レベルに結合する第2の
スイツチング装置とを含み、上記第1のスイツチ
ング装置は上記ワード線信号の上記リセツト動作
の前にオフされて上記出力ノードを低レベルに維
持し、プリチヤージ・サイクルの終了時にオンに
されて上記出力ノードを上記基準電圧に結合する
ことを特徴とする プリチヤージ・クロツク信号発生回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/696,624 US4638462A (en) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | Self-timed precharge circuit |
US696624 | 1985-01-31 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61175995A JPS61175995A (ja) | 1986-08-07 |
JPH0520840B2 true JPH0520840B2 (ja) | 1993-03-22 |
Family
ID=24797871
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60201902A Granted JPS61175995A (ja) | 1985-01-31 | 1985-09-13 | プリチヤ−ジ・クロツク信号発生回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4638462A (ja) |
EP (1) | EP0190823B1 (ja) |
JP (1) | JPS61175995A (ja) |
CA (1) | CA1230422A (ja) |
DE (1) | DE3681045D1 (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4926384A (en) * | 1988-01-25 | 1990-05-15 | Visic, Incorporated | Static ram with write recovery in selected portion of memory array |
US4878198A (en) * | 1988-01-25 | 1989-10-31 | Visic, Incorporated | Static ram with common data line equalization |
US5404327A (en) * | 1988-06-30 | 1995-04-04 | Texas Instruments Incorporated | Memory device with end of cycle precharge utilizing write signal and data transition detectors |
US4962326B1 (en) * | 1988-07-22 | 1993-11-16 | Micron Technology, Inc. | Reduced latchup in precharging i/o lines to sense amp signal levels |
JPH03503812A (ja) * | 1988-12-24 | 1991-08-22 | アルカテル・エヌ・ブイ | 2次元座標メモリ用非同期タイミング回路 |
US5018106A (en) * | 1989-04-27 | 1991-05-21 | Vlsi Technology, Inc. | Static random access memory with modulated loads |
CA1298359C (en) * | 1989-08-28 | 1992-03-31 | Marc P. Roy | High-speed dynamic cmos circuit |
JP2646032B2 (ja) * | 1989-10-14 | 1997-08-25 | 三菱電機株式会社 | Lifo方式の半導体記憶装置およびその制御方法 |
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