JPH05161343A - Driving circuit for mos gate transistor - Google Patents
Driving circuit for mos gate transistorInfo
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- JPH05161343A JPH05161343A JP31456891A JP31456891A JPH05161343A JP H05161343 A JPH05161343 A JP H05161343A JP 31456891 A JP31456891 A JP 31456891A JP 31456891 A JP31456891 A JP 31456891A JP H05161343 A JPH05161343 A JP H05161343A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はIGBTやMOSFET
などのMOSゲートトランジスタの駆動回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to IGBTs and MOSFETs.
And a drive circuit for a MOS gate transistor.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のIGBT駆動回路を図4(a)に
示しその構成を説明する。正のゲート電源1と負のゲー
ト電源2およびトランジスタ3,4からなる増幅器で駆
動信号eg をパワー増幅してゲート信号VG を出力し、
ゲート抵抗5を介してIGBT6を駆動する。(IGB
T6と逆並列に接続されるダイオードは説明上不要なた
め省略してある)IGBT6はIGBT8と直列接続さ
れて直流電源11にブリッジ接続されている。2. Description of the Related Art A conventional IGBT drive circuit is shown in FIG. The amplifier composed of the positive gate power source 1, the negative gate power source 2 and the transistors 3 and 4 power-amplifies the drive signal e g to output the gate signal V G ,
The IGBT 6 is driven via the gate resistor 5. (IGB
The diode connected in anti-parallel with T6 is omitted because it is unnecessary for explanation.) The IGBT 6 is connected in series with the IGBT 8 and bridge-connected to the DC power supply 11.
【0003】ここで、IGBT8にはゲートバイアス電
源7により負バイアスを印加しオフ状態となり、IGB
T6もオフ状態で負荷10のインダクタンスにより電流
ILがダイオード9に流れているとする。この状態で、
次にIGBT6をオンした時の様子を図4(b)に示
す。Here, a negative bias is applied to the IGBT 8 from the gate bias power source 7 to turn it off, and the IGBT is turned off.
It is also assumed that the current I L is flowing in the diode 9 due to the inductance of the load 10 in the off state of T6 as well. In this state,
Next, FIG. 4B shows a state when the IGBT 6 is turned on.
【0004】時刻t1 においてゲート信号VG を負から
正に変化させるとゲート電圧VGEはゲート抵抗5とIG
BT6のゲート、エミッタ間容量CGEで決まる傾斜で立
上り、時刻t2 でIGBT6がオンを開始する。At time t 1 , when the gate signal V G is changed from negative to positive, the gate voltage V GE changes to the gate resistance 5 and the IG.
The gate rises at a slope determined by the gate-emitter capacitance C GE of BT6, and the IGBT 6 starts to turn on at time t 2 .
【0005】IGBT6のVCEが少し低下し、ダイオー
ド9の電流IL がIGBT6に移行するに従ってIC が
増加する。VCEが低下するとCGCのコンデンサ分の電荷
が放電しCGEを逆方向に充電するのでVGEの立上りがゆ
るやかになる。IC の斜線の部分はダイオード9のリカ
バリー電流で、IC が過ぎるとVCEは急速に低下を始
め、CGCの放電も急になるのでVGEの電位はほとんど変
化しないことになる。このためVCEの立下りが制限され
る。時刻t4 でダイオード9のリカバリー電流がゼロに
なる。時刻t3 〜t4 の間はダイオード9のリカバリー
電流が減少するのでダイオード9には (l0 は浮遊インダクタンス)なるサージ電圧が発生す
る。この間において、図4(b)に示すようにスイッチ
ング時の電力損失Pが発生する。V CE of the IGBT 6 is slightly lowered, and I C is increased as the current I L of the diode 9 shifts to the IGBT 6. When V CE decreases, the charge of the capacitor of C GC is discharged and C GE is charged in the opposite direction, so the rise of V GE becomes gentle. Shaded area of the I C is the recovery current of the diode 9, V CE Beyond is I C begins rapidly lowering the potential of the C GC V GE the discharge also becomes steep will be almost unchanged. This limits the fall of V CE . At time t 4 , the recovery current of the diode 9 becomes zero. Since the recovery current of the diode 9 decreases from time t 3 to t 4 , A surge voltage is generated ( 10 is stray inductance). During this period, a power loss P occurs during switching as shown in FIG. 4 (b).
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】ターンオン時のスイッ
チング損失を減少させるにはt2 〜t3 間を短縮するこ
と、同様にt3 〜t5 間を短縮することが必要である。To reduce the switching losses at turn-on [0008] possible to shorten the t 2 ~t 3, it is necessary to shorten the t 3 ~t 5 as well.
【0007】ゲート抵抗5の抵抗値を小さくすれば上記
ターンオン時間を短縮することはできるがダイオード9
の端子間に生じる電圧VD が大きくなり、また、振動電
圧になるという不都合が生じる。この様子を図5(b)
に示す。なお、図5(a)はゲート抵抗が通常の適当な
場合を比較のために示したものである。The turn-on time can be shortened by decreasing the resistance value of the gate resistor 5, but the diode 9
The voltage V D generated between the terminals becomes large, and it becomes an oscillating voltage. This state is shown in FIG.
Shown in. Note that FIG. 5A shows a case where the gate resistance is usually appropriate for comparison.
【0008】ターンオンを早くするとIC の変化率di
c/dtが増加し、ダイオード9のdi/dtが増加す
るとIC のピーク電流(ダイオードのリカバリーピーク
電流)が増加する、と同時にt3 〜t4 間も短かくなり
t3 〜t4 間のdi/dtが大きくなりダイオード9の
電圧VD のサージ電圧が高くなると同時に振動を開始す
る。このためダイオード9、IGBT8の電圧マージン
が不足する。またこの電圧振動によりゲートの増幅回路
が誤動作する不具合が発生する。そこで従来はターンオ
ン時のスイッチング損失が増加するがダイオードのサー
ジ電圧が発生しない範囲にゲート抵抗5を選んで使用し
ていた。If the turn-on is accelerated, the rate of change of I C di
c / dt increases, the di / dt of the diode 9 increases I C of the peak current (recovery peak current of the diode) is increased, at the same time also between t 3 ~t 4 Nari short t 3 ~t 4 between At the same time that the surge voltage of the voltage V D of the diode 9 increases and the vibration starts. Therefore, the voltage margin of the diode 9 and the IGBT 8 is insufficient. In addition, this voltage oscillation causes a malfunction of the gate amplifier circuit. Therefore, conventionally, the gate resistance 5 is selected and used in a range in which switching loss at turn-on increases but a surge voltage of the diode does not occur.
【0009】本発明は、上述した不具合をなくしてター
ンオン時の損失を低減する。即ちダイオードのサージ電
圧を抑えたままスイッチング損失を減少させるMOSゲ
ートトランジスタの駆動回路を提供することを目的とす
る。The present invention eliminates the above-mentioned problems and reduces the loss at turn-on. That is, an object of the present invention is to provide a drive circuit for a MOS gate transistor that reduces switching loss while suppressing the surge voltage of the diode.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】上記目的を達するため、
本発明は、IGBTあるいはMOSFET等のMOSゲ
ートトランジスタをオン・オフスイッチング制御する装
置において、スイッチング指令信号の変化率を所定変化
率内に制限する変化率制限手段と、変化率が制限された
信号を電力増幅する増幅手段を設け、低インピーダンス
のゲート抵抗を介してMOSゲートトランジスタを制御
する。[Means for Solving the Problems] To achieve the above object,
The present invention relates to a device for ON / OFF switching control of a MOS gate transistor such as an IGBT or a MOSFET, and a change rate limiting means for limiting the change rate of a switching command signal within a predetermined change rate and a signal with a limited change rate. An amplification means for power amplification is provided, and the MOS gate transistor is controlled via the low impedance gate resistor.
【0011】[0011]
【作用】変化率制限手段によりゲート信号VG に傾斜を
持たせてあるのでMOSゲートトランジスタのターンオ
ン時のdi/dtは増加せず、コレクタ電流IC がピー
クを過ぎてコレクターエミッタ間電圧VCEが急速に低下
を開始し、ゲート・エミッタ間容量CGEが逆充電されて
もゲート抵抗のインピーダンスが小さいのでゲート電圧
VGEは上昇を続け、VCEが急速に低下してターンオン時
間が短縮し、スイッチング損失が減少する。Since the gate signal V G is inclined by the rate-of-change limiting means, di / dt at the turn-on of the MOS gate transistor does not increase, and the collector current I C passes the peak and the collector-emitter voltage V CE. Rapidly starts to decrease, and even if the gate-emitter capacitance C GE is reversely charged, the impedance of the gate resistance is small, so the gate voltage V GE continues to increase, V CE rapidly decreases, and the turn-on time shortens. , Switching loss is reduced.
【0012】[0012]
【実施例】本発明のMOSゲートトランジスタの駆動回
路による実施例の構成を図1(a)に示す。図1(a)
において、変化率制限回路20は駆動信号eg がステッ
プ状に入力されたとき、変化率を制限して出力するもの
である。増幅器21は変化率制御回路20の出力信号を
パワー増幅するもので、従来より小さい抵抗値のゲート
抵抗5を介してIGBT6を駆動するものである。他は
従来と同様であり、図4と同符号を付して説明を省略す
る。図1(b)(c)は図1(a)を具体化した例であ
る。先ず、図1(b)について詳述する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1A shows the configuration of an embodiment of a MOS gate transistor drive circuit according to the present invention. Figure 1 (a)
In, the change rate limiting circuit 20 limits and outputs the change rate when the drive signal e g is input stepwise. The amplifier 21 power-amplifies the output signal of the change rate control circuit 20, and drives the IGBT 6 via the gate resistor 5 having a resistance value smaller than that of the conventional one. Others are the same as the conventional ones, and the same reference numerals as those in FIG. 1B and 1C are examples in which FIG. 1A is embodied. First, FIG. 1B will be described in detail.
【0013】図1(b)において、駆動信号eg はトラ
ンジスタ22,23からなる増幅器でパワー増幅され抵
抗24、コンデンサ25、抵抗26からなる一次遅れ回
路で変化率が制限されトランジスタ3,4の増幅器でパ
ワー増幅される。(eg の内部インピーダンスが低い場
合はトランジスタ22,23の増幅回路は省略すること
ができる)In FIG. 1B, the drive signal e g is power-amplified by an amplifier composed of transistors 22 and 23, and its rate of change is limited by a first-order lag circuit composed of a resistor 24, a capacitor 25, and a resistor 26. The power is amplified by the amplifier. ( If the internal impedance of e g is low, the amplifier circuits of the transistors 22 and 23 can be omitted.)
【0014】上記構成において、時刻t1 に駆動信号e
g が負から正に切換りステップ状にオン信号が加えられ
た場合の各部の状態を図2に示す。このeg はトランジ
スタ22,23によりパワー増幅されて抵抗24の一端
に加えられ、トランジスタ3,4のゲート電圧は、抵抗
24、コンデンサ25、抵抗26で決まる一次遅れとス
テップ状の波形を加算した波形となり、トランジスタ
3,4の出力電圧、すなわちゲート電圧VG は図2に示
すように緩やかに正側に増大する。ゲート抵抗5は低イ
ンピーダンスとしてあるのでIGBT6のゲート・エミ
ッタ電圧VGEはVG に近い波形となる。In the above structure, the drive signal e is generated at time t 1.
FIG. 2 shows the state of each part when g is switched from negative to positive and a step-like ON signal is applied. This e g is power-amplified by the transistors 22 and 23 and added to one end of the resistor 24, and the gate voltage of the transistors 3 and 4 is obtained by adding a first-order delay determined by the resistor 24, the capacitor 25, and the resistor 26 and a step-like waveform. The waveform becomes a waveform, and the output voltage of the transistors 3 and 4, that is, the gate voltage V G gradually increases to the positive side as shown in FIG. Since the gate resistance 5 has low impedance, the gate-emitter voltage V GE of the IGBT 6 has a waveform close to V G.
【0015】時刻t2 においてIGBT6はオンを開始
しVCEが低下し始めると同時に電流IC が上昇を開始す
る。このIC の増加率はIGBT6のインピーダンス減
少率と主回路の浮遊インダクタンスにより決定されるの
で、浮遊インダクタンスが一定な場合はゲート電圧VGE
の変化率により影響を受ける。即ちVGEの立上り速度を
早くするとIC の立上りも早くなる。At time t 2 , the IGBT 6 starts to turn on and V CE starts to drop, and at the same time, the current I C starts to rise. The increase rate of I C is determined by the impedance decrease rate of the IGBT 6 and the stray inductance of the main circuit. Therefore, when the stray inductance is constant, the gate voltage V GE
Affected by the rate of change of. That is, the faster the rising speed of V GE, the faster the rising of I C.
【0016】時刻t3 においてダイオードのリカバリー
電流がピークに達するとCCEは急速に低下し図4(a)
のCGCが急速に放電しVGEを低下させようとするが、ゲ
ート抵抗5は低インピーダンスのためVGEはVG に近い
波形となりIGBT6のオン抵抗は急速に低下する。こ
のため時刻t3 とt4 の間が短縮され、スイッチング損
失Pは著しく減少する。When the diode recovery current reaches a peak at time t 3 , C CE rapidly decreases, and FIG.
Although the C GC is to try to decrease rapidly discharged V GE, the on-resistance of the gate resistor 5 V GE for low impedance has a waveform close to V G IGBT 6 rapidly decrease. Therefore, the time period between t 3 and t 4 is shortened, and the switching loss P is significantly reduced.
【0017】t2 〜t3 間は短縮されないので立上り時
のdIc/dtは従来と変らず、ダイオードのリカバリ
ー電流も増加しないのでダイオードのリカバリー時のサ
ージ電圧も増加しない。Since the period between t 2 and t 3 is not shortened, dIc / dt at the time of rising is the same as the conventional one, and the recovery current of the diode does not increase, so that the surge voltage at the time of diode recovery does not increase.
【0018】時刻t7 以降はターンオフ波形であるが、
この場合は特にVGEの変化率が高いことによって著しく
悪影響を与えることはないが、ゲート電流が増加するこ
とやターンオフ時のVCEのサージが増加するなど考慮す
る点があるので、VG の立下りにも傾斜を設ける方が使
い易い。After time t 7, the turn-off waveform is
Although this is not adversely affected greatly by particularly high rate of change of V GE case, since there is a point to consider surge of V CE when it and turn-off gate current increases increases, the V G It is easier to use a slope for the fall.
【0019】本実施例によれば、ゲート信号VG に傾斜
を持たせ、ゲート抵抗を低インピーダンスにすることに
よりIGBTを電圧源に近いゲート信号で駆動すること
によりダイオードのdi/dtを制限しダイオードのリ
カバリー時のサージ電圧を抑制すると同時に、IGBT
のコレクタ電圧VCEの立下りが急速になってもゲート電
圧VGEへの影響を軽減することにより、ターンオン時の
スイッチングロスを著しく減少させ、IGBTの温度上
昇を下げることにより高効率、高信頼性を確保できる。
また、図1(b)は図3(a)のように変形し、ダイオ
ード35を抵抗26に並列接続することによりターンオ
ン時の遅れを短縮することも可能である。また、図1
(b)は図3(c)に示すダイオード36、抵抗37を
接続することにより立上りの変化率と立下りの変化率を
変えることもできる。また、図1(c)に示すように、
演算増幅器30、抵抗27,28、コンデンサ29を使
用した変化率一定のゲート信号を作っても作用は同じで
ある。According to the present embodiment, the gate signal V G is provided with a slope and the gate resistance is set to a low impedance to drive the IGBT with a gate signal close to the voltage source, thereby limiting the di / dt of the diode. Suppresses the surge voltage at the time of diode recovery, and at the same time the IGBT
Even if the collector voltage V CE of the IC falls rapidly, the effect on the gate voltage V GE is reduced, thereby significantly reducing the switching loss at turn-on, and reducing the temperature rise of the IGBT, resulting in high efficiency and high reliability. You can secure the sex.
Further, FIG. 1B can be modified as shown in FIG. 3A, and by connecting the diode 35 in parallel with the resistor 26, it is possible to shorten the delay at turn-on. Also, FIG.
In (b), the rate of change of rising and the rate of change of falling can be changed by connecting the diode 36 and the resistor 37 shown in FIG. 3 (c). In addition, as shown in FIG.
Even if a gate signal with a constant rate of change is created using the operational amplifier 30, the resistors 27 and 28, and the capacitor 29, the same effect is obtained.
【0020】なお、図1(c)は図3(b)に示すよう
に一次遅れ回路にすることにより図1(b)と同等な動
作とすることができる。図3(b)はコンデンサ29に
直列に抵抗を挿入するなどの変形も説明するまでもな
い。なおIGBTで説明したがMOSゲートのトランジ
スタにはすべてに適用できる。It should be noted that the operation of FIG. 1C can be made equivalent to that of FIG. 1B by using a first-order delay circuit as shown in FIG. 3B. It is needless to say that FIG. 3B does not describe a modification such as inserting a resistor in series with the capacitor 29. Although the description has been made on the IGBT, it can be applied to all MOS gate transistors.
【0021】[0021]
【発明の効果】以上説明した如く、本発明によれば、ゲ
ート信号に傾斜を持たせ、ゲート抵抗を低く選定しMO
Sゲートトランジスタを電圧源に近いゲート信号で駆動
することにより、トランジスタのゲート、コレクタ間の
容量がゲート電圧に負帰還することによるターンオン遅
れを減少させ、ターンオン時のスイッチング損失を減少
させると同時に、ターンオン時の立上りの変化率を抑制
することによりダイオードのリカバリーのサージ電圧を
抑制し、ノイズの発生を減少させ高効率で信頼性の高い
MOSゲートトランジスタの駆動回路を提供することが
できる。As described above, according to the present invention, the gate signal is inclined and the gate resistance is selected to be low.
By driving the S gate transistor with a gate signal close to the voltage source, the turn-on delay due to the negative feedback of the gate-collector capacitance of the transistor to the gate voltage is reduced, and at the same time the switching loss at turn-on is reduced. By suppressing the rate of change of rising at the time of turn-on, it is possible to suppress the surge voltage for recovery of the diode, reduce the generation of noise, and provide a highly efficient and highly reliable MOS gate transistor drive circuit.
【図1】本発明のMOSゲートトランジスタの駆動回路
による実施例。FIG. 1 is an embodiment of a MOS gate transistor drive circuit according to the present invention.
【図2】上記実施例の動作を説明するための波形図。FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the above embodiment.
【図3】本発明の他の実施例。FIG. 3 is another embodiment of the present invention.
【図4】従来のMOSゲートトランジスタの駆動回路と
その動作波形図。FIG. 4 is a conventional MOS gate transistor drive circuit and its operation waveform diagram.
【図5】ダイオードのリカバリー時の問題を説明するた
めの波形図。FIG. 5 is a waveform diagram for explaining a problem during diode recovery.
1,2…ゲート電源、3,4…トランジスタ、5…ゲー
ト抵抗、6…IGBT、7…ゲートバイアス電源、8…
IGBT、9…ダイオード、10…負荷、11…直流電
源、20…変化率制限回路、21…増幅器、22,23
…トランジスタ、24,26…抵抗、25…コンデン
サ、27,28…抵抗、29…コンデンサ、30…演算
増幅器、35,36…ダイオード1, 2 ... Gate power supply, 3, 4 ... Transistor, 5 ... Gate resistance, 6 ... IGBT, 7 ... Gate bias power supply, 8 ...
IGBT, 9 ... Diode, 10 ... Load, 11 ... DC power supply, 20 ... Change rate limiting circuit, 21 ... Amplifier, 22, 23
... transistors, 24, 26 ... resistors, 25 ... capacitors, 27, 28 ... resistors, 29 ... capacitors, 30 ... operational amplifiers, 35, 36 ... diodes
Claims (1)
Sゲートトランジスタをオン・オフスイッチング制御す
る装置において、スイッチング指令信号の変化率を所定
変化率内に制限する変化率制限手段と、変化率が制限さ
れた信号を電力増幅する増幅手段を設け、低インピーダ
ンスのゲート抵抗を介してMOSゲートトランジスタを
制御することを特徴とするMOSゲートトランジスタの
駆動回路。1. An MO such as an IGBT or a MOSFET.
An apparatus for controlling on / off switching of an S gate transistor is provided with a change rate limiting means for limiting a change rate of a switching command signal within a predetermined change rate and an amplifying means for power-amplifying a signal with a limited change rate. A drive circuit for a MOS gate transistor, wherein the MOS gate transistor is controlled via an impedance gate resistance.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31456891A JPH05161343A (en) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | Driving circuit for mos gate transistor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31456891A JPH05161343A (en) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | Driving circuit for mos gate transistor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05161343A true JPH05161343A (en) | 1993-06-25 |
Family
ID=18054849
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31456891A Pending JPH05161343A (en) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | Driving circuit for mos gate transistor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05161343A (en) |
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