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JPH04318395A - Memory cell circuit - Google Patents

Memory cell circuit

Info

Publication number
JPH04318395A
JPH04318395A JP4023234A JP2323492A JPH04318395A JP H04318395 A JPH04318395 A JP H04318395A JP 4023234 A JP4023234 A JP 4023234A JP 2323492 A JP2323492 A JP 2323492A JP H04318395 A JPH04318395 A JP H04318395A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
node
transistor
terminal
terminals
transistors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4023234A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Arthur Doller Jack
ジヤツク・アーサー・ドーラー
Walter S Klara
ウオルター・スタンレイ・クララ
Michell Marcy Frank
フランク・マイケル・マーシー
Clark Banker Dennis
デニス・クラーク・バンカー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JPH04318395A publication Critical patent/JPH04318395A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

PURPOSE: To provide a memory cell circuit having plural access ports for writing/reading, which are suitable for a memory having the array of cells arranged in rows and columns. CONSTITUTION: In the pertinent memory, first word lines 20 which address- designate first ports in the respective cells of the pertinent row and second word lines 24 which address-designate second ports are arranged in the respective rows. First bit lines 22L and 22R which are connected with the first ports in the respective cells of the pertinent column and second bit lines 26L and 26R connected to the second ports are arranged in the respective columns. The respective cells contain four bipolar transistors 68, 70, 72 and 74 and the transistors 68, 70, 72 and 74 are connected with two central nodes 110 and 112. In one execution example, the collector terminals 88, 90, 94 and 98 of all the bipolar transistors are connected to power terminals.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明はメモリセル回路に関し、
特にランダムアクセスメモリに好適なバイポーラトラン
ジスタからなるメモリセルについて、FET(電界効果
トランジスタ)により構成されたセル読出し及び書込み
用の複数のポートを有するセルの構成に適用して好適な
ものである。
[Field of Industrial Application] The present invention relates to a memory cell circuit.
In particular, the present invention is suitable for application to a memory cell made of a bipolar transistor suitable for a random access memory, and a cell structure having a plurality of ports for cell reading and writing made of FETs (field effect transistors).

【0002】0002

【従来の技術】デイジタルコンピユータ又はデータ処理
装置のためのランダムアクセスメモリのようなメモリは
、一般に行(ロウ)及び列(カラム)に配列されている
メモリセルのアレイから構成されており、ワードライン
上の信号及びビツトライン上の信号によつてアドレス指
定される。セルのカラムのビツトラインは共通ポートと
して動作し、カラム内の各セルは、読出し又は書込みの
ために共通ポートを介してアクセスされる。例えばセル
の記憶素子は双安定フリツプフロツプを有し、記憶デー
タを読み出す際にはフリツプフロツプの状態を検出し、
かつ新しいデータを書き込む際にはその状態を変更する
が、この検出及び変更はそれぞれ電圧を検出しかつ共通
ポート端子に電流を供給することによつてなされる。
BACKGROUND OF THE INVENTION Memories, such as random access memories for digital computers or data processing equipment, generally consist of an array of memory cells arranged in rows and columns, with word lines signal on the bit line and the signal on the bit line. The bit lines of a column of cells act as a common port, and each cell within a column is accessed through the common port for reading or writing. For example, the memory element of a cell has a bistable flip-flop, and when reading out stored data, the state of the flip-flop is detected,
And when writing new data, the state is changed, and this detection and change are done by detecting voltage and supplying current to the common port terminal, respectively.

【0003】コンピユータ並びにその他のデータ及び信
号処理装置に対する要求の増大に応えるためには、半導
体回路チツプ上に構成されるメモリセルの密度を増大さ
せることによつてメモリの物理的寸法を減少させ、すな
わち所与の物理的寸法内に一段と大きな記憶容量を構築
するのが有利である。またメモリの動作上の応答すなわ
ち性能を向上させることにより新しいデータの書込み及
び以前に格納したデータの読出しに際して一段と速くメ
モリのセルにアクセスできるようにすることが有利であ
る。メモリの寸法の減少は、メモリセルアレイ内の信号
伝播距離を減少させることができるので、性能に貢献す
る。またバイポーラトランジスタのように一段と高速動
作する素子を使用し、各セルにアクセスするための複数
のポートを用意して複数ポートアレイとすることによつ
ても性能は改善される。
In order to meet the increasing demands on computers and other data and signal processing devices, the physical size of memory has been reduced by increasing the density of memory cells constructed on semiconductor circuit chips; Thus, it is advantageous to build greater storage capacity within a given physical dimension. It would also be advantageous to improve the operational response or performance of a memory so that cells of the memory can be accessed more quickly for writing new data and reading previously stored data. Reducing memory dimensions contributes to performance because signal propagation distance within the memory cell array can be reduced. Performance can also be improved by using devices that operate at higher speeds, such as bipolar transistors, and by providing multiple ports to access each cell, creating a multi-port array.

【0004】FETの物理的構造が占める空間はバイポ
ーラトランジスタの物理的寸法よりも小さいので、メモ
リの物理的寸法を減少させるためにはFETを使用する
ことが好ましい。しかしながらバイポーラトランジスタ
は一段と速い応答動作をする。従つてトランジスタの両
方の形式の利点を得るためには、回路内にバイポーラト
ランジスタ及びFETの双方を用いてメモリセルを構成
するのが有利であり、双方の形式を用いたこうした回路
をBiFET回路と呼ぶ。
It is preferable to use FETs to reduce the physical size of a memory because the physical structure of a FET occupies less space than the physical size of a bipolar transistor. However, bipolar transistors have a much faster response. Therefore, in order to obtain the benefits of both types of transistors, it is advantageous to construct memory cells using both bipolar transistors and FETs in the circuit, and such circuits using both types are referred to as BiFET circuits. call.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】現在利用できるメモリ
回路はBiFET構造の双方の特徴及び各セルのための
複数のポートを組合わせてはおらず、その結果上記の性
能が得られないという問題点をもつている。しかもメモ
リチツプ内のドープされた半導体領域の面積が大きい場
合には、チツプのセルを相互接続しているチツプ内配線
の金属面から放射されるアルフア粒子の汚染を受け易い
ので、極めて大きな物理的寸法を有するセルアレイにお
いてはこの問題が一層困難となる。アルフア粒子汚染は
個々のセルの動作を妨害し、メモリから誤りデータを出
力する原因となる。
The problem is that currently available memory circuits do not combine both features of the BiFET structure and multiple ports for each cell, resulting in the inability to achieve the performance described above. I have it too. Furthermore, the large area of the doped semiconductor regions within a memory chip is susceptible to contamination by alpha particles emitted from the metal surfaces of the intrachip interconnects that interconnect the chip's cells, resulting in extremely large physical dimensions. This problem becomes even more difficult in cell arrays with Alpha particle contamination disrupts the operation of individual cells and causes erroneous data to be output from the memory.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、第1、第2、第3及び第4バイポ
ーラトランジスタと、第1ノード及び第2ノードと、第
1、第2、第3及び第4電界効果トランジスタ(FET
)とを設け、第1及び第2トランジスタ68、68Aは
相互に接続されることによりフリツプフロツプ92、9
2Aを形成し、第3及び第4トランジスタ72、72A
はフリツプフロツプのトランジスタへの電流を調整する
ことにより、フリツプフロツプ92、92Aの動作状態
を安定化させ、各トランジスタはベース端子及び2つの
末端端子を有し、末端端子のうちの一方はエミツタ端子
でありかつ末端端子の他方はコレクタ端子であり、第1
ノード110は第2トランジスタのベース端子86を第
1トランジスタ及び第4トランジスタの末端端子88、
106に接続し、第2ノード112は第1トランジスタ
のベース端子84を第2トランジスタ及び第3トランジ
スタの末端端子90、102に接続し、第1及び第2F
ET76、78はそれぞれ第1ノード110及び第2ノ
ード112に接続されることにより、メモリセルにアク
セスする第1ポート76、78を形成し、第3及び第4
FET80、82はそれぞれ第1ノード110及び第2
ノード112に接続されることにより、メモリセルにア
クセスする第2ポート80、82を形成するようにする
[Means for Solving the Problems] In order to solve the problems, the present invention provides first, second, third, and fourth bipolar transistors, a first node, a second node, a first, second, and Third and fourth field effect transistors (FETs)
), and the first and second transistors 68, 68A are connected to each other to form flip-flops 92, 9.
2A, and the third and fourth transistors 72, 72A
stabilizes the operating state of the flip-flop 92, 92A by adjusting the current to the transistors of the flip-flop, each transistor having a base terminal and two terminal terminals, one of the terminal terminals being an emitter terminal. and the other of the terminal terminals is a collector terminal, and the first terminal is a collector terminal.
Node 110 connects the base terminal 86 of the second transistor to the terminal terminals 88 of the first and fourth transistors.
106, and a second node 112 connects the base terminal 84 of the first transistor to the terminal terminals 90, 102 of the second and third transistors, and
ETs 76, 78 are connected to a first node 110 and a second node 112, respectively, thereby forming first ports 76, 78 for accessing the memory cells;
FETs 80 and 82 are connected to the first node 110 and the second node, respectively.
It is connected to node 112 to form a second port 80, 82 for accessing the memory cell.

【0007】[0007]

【作用】ロウ及びカラム状に配列されているメモリセル
のアレイから構成されるメモリであつて、各メモリセル
がバイポーラトランジスタ及び電界効果トランジスタの
双方を使用している半導体回路を含むと共に、書込み及
び読出しに際してそこからアクセスされる複数のポート
を含むようになされたメモリによつて上述の問題点が克
服され、他の利益がもたらされる。
Operation: A memory consisting of an array of memory cells arranged in rows and columns, each memory cell containing a semiconductor circuit using both bipolar transistors and field effect transistors, and in which write and A memory designed to include multiple ports from which it is accessed for reading overcomes the above-mentioned problems and provides other benefits.

【0008】本発明によれば、セルはフリツプフロツプ
として接続されている2つのバイポーラNPNトランジ
スタ及びフリツプフロツプとして接続されている2つの
バイポーラPNPトランジスタを含み、この2つのフリ
ツプフロツプは相互に接続されることにより論理状態の
確立に協力するようになされている。また各フリツプフ
ロツプの2つのトランジスタは他方のフリツプフロツプ
の2つのトランジスタのための電流ステアリングトラン
ジスタとして動作する。N形FETの第1のペアは2つ
のフリツプフロツプトランジスタのコレクタ端子に接続
されることによりメモリセルの第1ポートを形成し、N
形FETの第2のペアは2つのフリツプフロツプトラン
ジスタのコレクタ端子に接続されることによりメモリセ
ルの第2ポートを形成する。アレイの各カラム内におい
てビツトラインの第1ペア及び第2ペアはそれぞれ第1
ポート、第2ポートに接続されることにより、メモリセ
ルへの同時アクセスに備える。当該メモリを使用するコ
ンピユータは、同時アクセスの一例として、メモリの同
一セルからのデータ読出しを必要とする複数のタスクを
同時に実行することができる。メモリの各ロウには、ロ
ウの各セルの第1ポート及び第2ポートをアドレス指定
するための第1ワードライン及び第2ワードラインが設
けられる。当該ワードラインはロウ内の各セルのそれぞ
れのポートのFETのゲート端子に接続される。
According to the invention, the cell includes two bipolar NPN transistors connected as a flip-flop and two bipolar PNP transistors connected as a flip-flop, the two flip-flops being interconnected to form a logic It is designed to cooperate in establishing the state. Also, the two transistors of each flip-flop act as current steering transistors for the two transistors of the other flip-flop. A first pair of N type FETs is connected to the collector terminals of the two flip-flop transistors to form the first port of the memory cell;
A second pair of FETs is connected to the collector terminals of the two flip-flop transistors to form a second port of the memory cell. Within each column of the array, the first and second pairs of bit lines are
port, and the second port to provide for simultaneous access to the memory cells. A computer using such memory can simultaneously perform multiple tasks that require reading data from the same cell of the memory, as an example of simultaneous access. Each row of the memory is provided with a first word line and a second word line for addressing a first port and a second port of each cell in the row. The word line is connected to the gate terminal of the FET of each port of each cell in the row.

【0009】バイポーラトランジスタの構成において、
ベース−エミツタ接合とは異なるベース−コレクタ接合
が使用されており、しかも、この接続の所望の特性を引
き出すのに最適な構成を有している点に注意すべきであ
る。通常、トランジスタは順方向モードにより動作され
、NPNトランジスタにおいては電流がコレクタ領域か
らエミツタ領域に流れ、PNPトランジスタにおいては
エミツタ領域からコレクタ領域に流れる。しかしながら
バイポーラトランジスタは逆方向モードで動作すること
もでき、その場合の電流は逆方向に流れる。逆方向モー
ドにおいては、順方向モードの動作に比較して電流利得
が低下すると共に接合電圧降下の大きさが変化する。 しかしながら当該電圧レベルはフリツプフロツプのよう
な論理回路の動作には好適である。本発明の一実施例に
おいて逆方向モードを使用しているので、ここでは逆方
向モードが重要である。
In the configuration of a bipolar transistor,
It should be noted that a base-collector junction, which is different from a base-emitter junction, is used, yet has an optimal configuration to bring out the desired properties of this connection. Typically, transistors are operated in a forward mode, with current flowing from the collector region to the emitter region in an NPN transistor and from the emitter region to the collector region in a PNP transistor. However, bipolar transistors can also operate in reverse mode, in which case the current flows in the opposite direction. In the reverse mode, the current gain decreases and the magnitude of the junction voltage drop changes compared to the forward mode of operation. However, this voltage level is suitable for the operation of logic circuits such as flip-flops. Reverse mode is important here because it is used in one embodiment of the invention.

【0010】セルの第2実施例においては、上述の実施
例の場合と同様に2つのバイポーラNPNトランジスタ
及び2つのバイポーラPNPトランジスタとが相互接続
されることにより2つの協働するフリツプフロツプを形
成するが、各トランジスタのコレクタ端子及びエミツタ
端子の回路位置が入れ換わつている。当該4つのトラン
ジスタは逆方向モードで動作する。これはチツプ内の金
属面から発生するアルフア粒子放射が存在する場合に有
益である。アルフア粒子はトランジスタのベース−コレ
クタ接合内に伝播し、瞬時に電流シヤント経路を与えて
、突然にベース−コレクタ接合間電圧に瞬時変化を生じ
させる。この電圧変化は逆の論理状態にセルを反転させ
る。これは当該セル内に記憶されているデータを破壊す
る。第2実施例の構成は電源端子とコンタクトするセル
の4つのバイポーラトランジスタすべてのコレクタ端子
を配置する。従つてベース−コレクタ接合のシヤント電
流経路はいずれも当該接合間の電圧の小さな変化以上の
電圧変化を生ずることはなく、シヤント電流経路は逆方
向モードにおいてベース−エミツタ接合として動作する
。当該電圧変化はセルの論理状態を反転させるには小さ
過ぎる。従つてこの実施例はセルのアレイが大きな物理
的寸法を有する場合でさえも満足なメモリ動作を提供す
る。第2実施例の構成要素の配列は、メモリセルの4つ
のバイポーラトランジスタのエミツタ端子が電源端子に
コンタクトする第1実施例における構成要素の配列とは
対照的である。
In a second embodiment of the cell, two bipolar NPN transistors and two bipolar PNP transistors are interconnected to form two cooperating flip-flops, as in the previous embodiments. , the circuit positions of the collector terminal and emitter terminal of each transistor are swapped. The four transistors operate in reverse mode. This is beneficial in the presence of alpha particle radiation originating from metal surfaces within the chip. The alpha particles propagate into the base-collector junction of the transistor, providing an instantaneous current shunt path that suddenly causes an instantaneous change in the base-collector junction voltage. This voltage change flips the cell to the opposite logic state. This destroys the data stored within that cell. The configuration of the second embodiment places the collector terminals of all four bipolar transistors of the cell in contact with the power supply terminal. Therefore, none of the base-collector junction shunt current paths causes more than a small change in the voltage across the junction, and the shunt current paths operate as base-emitter junctions in the reverse mode. The voltage change is too small to reverse the logic state of the cell. This embodiment therefore provides satisfactory memory operation even when the array of cells has large physical dimensions. The arrangement of the components in the second embodiment is in contrast to the arrangement of the components in the first embodiment, in which the emitter terminals of the four bipolar transistors of the memory cell contact the power supply terminals.

【0011】[0011]

【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0012】図1はロウ16及びカラム18に配列され
たメモリセル14のアレイ12を有するメモリシステム
10を示す。本発明の特徴に従つて各メモリセル14に
は後述するようにセルの読出し又は書込みのためにセル
をアクセスする複数のポートが設けられており、本発明
の好適な実施例においては、各セル14には2つのポー
トがある。ワードラインの第1セツト20及び一対のビ
ツトラインの第1セツト22は、セル14の第1ポート
を介してアレイ12の各セル14をアドレス指定し、セ
ル14にアクセスするために設けられている。ワードラ
インの第2セツト24及び一対のビツトラインの第2セ
ツト26はセル14の第2ポートを経由してアレイ12
の各セル14をアドレス指定しセル14にアクセスする
ために設けられている。メモリシステム10の中には、
各カラム18ごとに配置されたカラムアクセス回路28
が含まれており、このカラムアクセス回路28は一対又
は二対のビツトライン22及び26を介してカラム18
の指定されたセル14と相互に作用する。各カラムアク
セス回路28はカラムアドレスラインの第1セツト30
の1つ及びカラムアドレスラインの第2セツト32の1
つによつて作動状態となり、これによりそれぞれビツト
ラインの第1ペア22L、22R及びビツトラインの第
2ペア26L、26Rを動作させる。
FIG. 1 shows a memory system 10 having an array 12 of memory cells 14 arranged in rows 16 and columns 18. In accordance with a feature of the present invention, each memory cell 14 is provided with a plurality of ports for accessing the cell for reading or writing to the cell, as described below; 14 has two ports. A first set of word lines 20 and a first set of bit lines 22 are provided for addressing and accessing each cell 14 of array 12 via a first port of cell 14. A second set of word lines 24 and a second set of bit lines 26 are connected to array 12 via a second port of cell 14.
are provided for addressing and accessing each cell 14 of the cell 14 . In the memory system 10,
Column access circuit 28 arranged for each column 18
The column access circuit 28 accesses the column 18 via one or two pairs of bit lines 22 and 26.
interacts with the designated cell 14 of. Each column access circuit 28 has a first set 30 of column address lines.
and one of the second set 32 of column address lines.
The first pair of bit lines 22L, 22R and the second pair of bit lines 26L, 26R are activated, respectively.

【0013】システム10はメモリコントローラ34を
含み、メモリコントローラ34はワードラインのセツト
20及び24の一方又は両方のワードラインにロウアド
レスを出力すると共に、カラムアドレスライン30及び
32の一方又は両方にカラムアドレスを出力することに
より、メモリセル14のうちの特定のセルをアドレス指
定して当該アドレス指定されたセル14の一方のポート
又は両方のポートを指定する。参照を容易にするにはこ
れ以降のビツトライン22及びビツトライン26を同一
のものとみなすことにより、カラム18のメモリセル1
4の右側にある右ビツトライン22R及び26Rからカ
ラム18のメモリセル14の左側にある左ビツトライン
22L及び26Lを区別するのが便利になる。いずれか
1つのカラム18のセル14からのデータ読出しは、対
応するカラムアクセス回路28から出力され、その際ビ
ツトライン22を介して得られたデータは出力データラ
イン36に沿つて出力され、ビツトライン26を介して
得られたデータは出力データライン38に沿つて出力さ
れる。ワードライン20は端子40を介してメモリセル
14と接続し、カラム18の左ビツトライン22Lは端
子42を介してセル14に接続し、カラム18の右ビツ
トライン22Rは端子44を介してセル14に接続する
。ワードライン24は端子46を介してメモリセル14
と接続し、カラム18の左ビツトライン26Lは端子4
8を介してセル14に接続し、カラム18の右ビツトラ
イン26Rは端子50を介してセル14に接続する。 またコントローラ34は入力データラインの第1セツト
52の1つを介して各カラムアクセス回路28に入力デ
ータ信号を送ることによりビツトラインの第1ペア22
を作動状態にし、入力データラインの第2セツト54の
1つを介して各カラムアクセス回路28に入力データ信
号を送ることによりアクセス回路28に接続されている
ビツトラインの第2セツト26を作動状態にするように
なされている。
System 10 includes a memory controller 34 that outputs a row address on one or both word lines of word line sets 20 and 24 and a column address on one or both of column address lines 30 and 32. By outputting an address, a particular cell of the memory cells 14 is addressed and one or both ports of the addressed cell 14 are designated. For ease of reference, subsequent bit lines 22 and 26 may be considered to be the same.
It is convenient to distinguish the left bit lines 22L and 26L on the left side of the memory cells 14 of column 18 from the right bit lines 22R and 26R on the right side of column 18. Data read from the cells 14 of any one column 18 is output from the corresponding column access circuit 28, with the data obtained via the bit line 22 being output along the output data line 36. The obtained data is output along output data line 38. Word line 20 connects to memory cell 14 via terminal 40, left bit line 22L of column 18 connects to cell 14 via terminal 42, and right bit line 22R of column 18 connects to cell 14 via terminal 44. do. Word line 24 connects memory cell 14 via terminal 46.
and the left bit line 26L of column 18 is connected to terminal 4.
The right bit line 26R of column 18 is connected to cell 14 via terminal 50. The controller 34 also connects the first pair of bit lines 52 by sending an input data signal to each column access circuit 28 via one of the first set 52 of input data lines.
activating the second set 26 of bit lines connected to the access circuit 28 by activating the bit lines 28 and sending an input data signal to each column access circuit 28 via one of the second set 54 of input data lines. It is made to be.

【0014】カラムアクセス回路28の構成を例示すれ
ば、カラムアクセス回路28は破線で示す構成要素を含
んでおり、これら構成要素はセル14の書込み後のビツ
トライン22上の電圧を等しくする再記憶回路56、セ
ル14のデータをビツトライン22経由で読み出して当
該読み出したデータをライン36を介して出力する検出
回路58及びビツトライン22に電流を流してセル14
の状態を変化させることによりセルの書込みを遂行する
駆動回路60である。
Illustrating the structure of column access circuit 28, column access circuit 28 includes components shown in dashed lines, including a restoring circuit that equalizes the voltage on bit line 22 after writing to cell 14. 56, a detection circuit 58 which reads out the data of the cell 14 via the bit line 22 and outputs the read data via the line 36;
This is a drive circuit 60 that performs cell writing by changing the state of the cell.

【0015】カラムアクセス回路28にはビツトライン
26と共に使用するための対応する構成要素セツト、す
なわちセル14の書込み後のビツトライン26上の電圧
を等しくする再記憶回路62、セル14のデータをビツ
トライン26を介して読み出して当該読み出したデータ
をライン38を介して出力する検出回路64及びビツト
ライン26に電流を流してセル14の状態を変化させる
ことによりセルの書込みを遂行する駆動回路66を含む
Column access circuit 28 includes a corresponding set of components for use with bit line 26; The bit line 26 includes a detection circuit 64 for reading data through the bit line 26 and outputting the read data over the line 38, and a drive circuit 66 for writing the cell 14 by passing current through the bit line 26 to change the state of the cell 14.

【0016】図2は図1のメモリセル14のうちの1つ
の詳細な構成を示し、各セル14は同じ構成を有する。 図2において、端子40及び46を介してワードライン
20及び24がセル14に接続し、端子42及び44を
介してビツトライン22L及び22Rがセル14に接続
し、端子48及び50を介してビツトライン26L及び
26Rがセル14に接続する。セル14は2つのNPN
バイポーラトランジスタ68及び70、2つのPNPバ
イポーラトランジスタ72及び74並びに4つのN形F
ET76、78、80及び82を含む。トランジスタ6
8及び70のベース端子84及び86並びにコレクタ端
子88及び90が相互に接続されることにより双安定フ
リツプフロツプ92を形成する。トランジスタ72及び
74のベース端子及びコレクタ端子が同様に相互に接続
されることによりフリツプフロツプを形成し、しかもト
ランジスタ68及び70に接続されることによりフリツ
プフロツプ92の交番可能な2つの状態を安定化するよ
うになされている。トランジスタ70のコレクタ電流は
トランジスタ72のコレクタを介して流れ、トランジス
タ68のコレクタ電流はトランジスタ74のコレクタを
介して流れる。トランジスタ72のコレクタ端子94は
トランジスタ68のベース端子及びトランジスタ70の
コレクタ端子に接続され、トランジスタ72のベース端
子96はトランジスタ68のコレクタ端子及びトランジ
スタ70のベース端子に接続される。同様に、トランジ
スタ74のコレクタ端子98はトランジスタ70のベー
ス端子及びトランジスタ68のコレクタ端子に接続され
、トランジスタ74のベース端子100はトランジスタ
70のコレクタ端子及びトランジスタ68のベース端子
に接続される。FET76及びFET78はセル14の
2つのポートセツトのうちの第1のポートセツトを構成
し、それぞれビツトライン22L及びセル14間、ビツ
トライン22R及びセル14間の信号をカツプリングす
る転送デバイスすなわちパスデバイスとして動作する。 FET80及びFET82はセル14の2つのポートセ
ツトのうちの第2のポートセツトを構成し、それぞれビ
ツトライン26L及びセル14間、ビツトライン26R
及びセル14間の信号をカツプリングする転送デバイス
すなわちパスデバイスとして動作する。
FIG. 2 shows a detailed configuration of one of the memory cells 14 of FIG. 1, with each cell 14 having the same configuration. In FIG. 2, word lines 20 and 24 connect to cell 14 through terminals 40 and 46, bit lines 22L and 22R connect to cell 14 through terminals 42 and 44, and bit line 26L through terminals 48 and 50. and 26R connect to cell 14. Cell 14 has two NPN
bipolar transistors 68 and 70, two PNP bipolar transistors 72 and 74 and four N type F
Including ET76, 78, 80 and 82. transistor 6
Base terminals 84 and 86 and collector terminals 88 and 90 of 8 and 70 are interconnected to form a bistable flip-flop 92. The base and collector terminals of transistors 72 and 74 are similarly connected together to form a flip-flop and are connected to transistors 68 and 70 to stabilize the two alternating states of flip-flop 92. is being done. The collector current of transistor 70 flows through the collector of transistor 72 and the collector current of transistor 68 flows through the collector of transistor 74. A collector terminal 94 of transistor 72 is connected to a base terminal of transistor 68 and a collector terminal of transistor 70, and a base terminal 96 of transistor 72 is connected to a collector terminal of transistor 68 and a base terminal of transistor 70. Similarly, the collector terminal 98 of transistor 74 is connected to the base terminal of transistor 70 and the collector terminal of transistor 68, and the base terminal 100 of transistor 74 is connected to the collector terminal of transistor 70 and the base terminal of transistor 68. FET 76 and FET 78 constitute the first of two port sets of cell 14 and operate as transfer or pass devices for coupling signals between bit line 22L and cell 14 and between bit line 22R and cell 14, respectively. . FET 80 and FET 82 constitute the second of the two port sets of cell 14, and are connected to bit line 26L and between cell 14 and bit line 26R, respectively.
It operates as a transfer device, ie, a pass device, that couples signals between the cells 14 and 14.

【0017】動作時、セル14の2つのポートセツトの
うちの第1のポートセツトに関わるFET76及びFE
T78のゲート端子はセル14の端子40を介してワー
ドライン20に接続する。FET76のソース端子及び
ドレイン端子並びに端子42を介して、左ビツトライン
22Lからトランジスタ72のベース端子に接続される
。FET78のソース端子及びドレイン端子並びに端子
44を介して、右ビツトライン22Rからトランジスタ
74のベース端子に接続される。セル14の2つのポー
トセツトのうちの第2のポートセツトに関してFET8
0及びFET82のゲート端子はセル14の端子46を
介してワードライン24に接続する。FET80のソー
ス端子及びドレイン端子並びに端子48を介して、左ビ
ツトライン26Lからトランジスタ72のベース端子に
接続される。FET82のソース端子及びドレイン端子
並びに端子50を介して、右ビツトライン26Rからト
ランジスタ74のベース端子に接続される。
In operation, FET 76 and FE associated with the first of the two port sets of cell 14
The gate terminal of T78 is connected to word line 20 via terminal 40 of cell 14. The left bit line 22L is connected to the base terminal of transistor 72 through the source and drain terminals of FET 76 and terminal 42. It is connected from the right bit line 22R to the base terminal of transistor 74 via the source and drain terminals of FET 78 and terminal 44. FET 8 for the second of the two port sets of cell 14
0 and the gate terminal of FET 82 are connected to word line 24 via terminal 46 of cell 14. The left bit line 26L is connected to the base terminal of transistor 72 via the source and drain terminals of FET 80 and terminal 48. It is connected from the right bit line 26R to the base terminal of transistor 74 through the source and drain terminals of FET 82 and terminal 50.

【0018】4つのトランジスタ72、74、68及び
70からなる構成物は電源の2つの端子の電圧間に接続
し、電源の2つの電圧のうち高い方(一段とポジテイブ
な方)を+Vで示し、2つの電圧のうち低い方(一段と
ネガテイブな方)を−Vで示す。トランジスタ72及び
トランジスタ74のエミツタ端子は電源の+V端子と接
続し、トランジスタ68及びトランジスタ70のエミツ
タ端子は電源の−V端子と接続する。セル14の2つの
ポートセツトのうちの第1のポートセツト76、78に
関して、ワードライン20上の相対的に高い電圧は各F
ET76及びFET78を導通状態にし、セル14の内
容の読出しのためにトランジスタ68及び70のコレク
タ端子に電圧を与え、しかもセル14の書込み中にフリ
ツプフロツプ92を所望の状態にセツトするためにトラ
ンジスタ70又はトランジスタ68のベースに十分な電
圧を与える。セル14の2つのポートセツトのうちの第
2のポートセツト80、82に関して、ワードライン2
4上の相対的に高い電圧は各FET80及びFET82
を導通状態にし、セル14の内容の読出しのためにトラ
ンジスタ68及び70のコレクタ端子に電圧を与え、し
かもセル14の書込み中にフリツプフロツプ92を所望
の状態にセツトするためにトランジスタ70又はトラン
ジスタ68のベースに十分な電圧を与える。
A composition of four transistors 72, 74, 68 and 70 is connected between the voltages of two terminals of the power supply, with the higher (more positive) of the two voltages of the power supply being designated +V; The lower (more negative) of the two voltages is indicated by -V. The emitter terminals of transistor 72 and transistor 74 are connected to the +V terminal of the power supply, and the emitter terminals of transistor 68 and transistor 70 are connected to the -V terminal of the power supply. For the first of the two port sets 76, 78 of the cell 14, the relatively high voltage on the word line 20 is
ET 76 and FET 78 to conduct, energize the collector terminals of transistors 68 and 70 for reading the contents of cell 14, and to set flip-flop 92 to the desired state during writing of cell 14. Apply sufficient voltage to the base of transistor 68. For the second of the two port sets 80, 82 of cell 14, word line 2
The relatively high voltage on each FET 80 and FET 82
conduction, energizing the collector terminals of transistors 68 and 70 for reading the contents of cell 14, and setting flip-flop 92 to the desired state during writing of cell 14. Apply sufficient voltage to the base.

【0019】図3は図2に示したセル14の他の実施例
であるセル14Aの構成を詳細に示す。セル14AはP
NPバイポーラトランジスタ72A及び74Aを含んで
おり、これらは図2のトランジスタ72及び74に置き
替わるものである。さらにセル14AはNPNバイポー
ラトランジスタ68A及び70Aを含んでおり、これら
は図2のトランジスタ68及び70に置き替わるもので
ある。図3において、4つのトランジスタ72A、74
A、68A及び70Aからなる構成物は電源の2つの端
子の電圧間に接続し、電源の2つの電圧のうち高い方(
一段とポジテイブな方)を+Vで示し、2つの電圧のう
ち低い方(一段とネガテイブな方)を−Vで示す。これ
ら4つのトランジスタ72A、74A、68A及び70
Aは逆モードで動作する。PNPトランジスタ72A及
び74Aのコレクタ端子は電源の+V端子と接続し、N
PNトランジスタ68A及び70Aのコレクタ端子は電
源の−V端子と接続する。2つのトランジスタ68A及
び70Aの構成が、図2のフリツプフロツプ90と同様
に機能するフリツプフロツプ92Aを形成する。2つの
トランジスタ72A及び74Aは相互に接続されること
によりフリツプフロツプを形成し、しかもトランジスタ
68A及び70Aに接続することにより、フリツプフロ
ツプ92Aの2つの交番可能な状態を安定化するための
電流ステアリングトランジスタとして動作する。トラン
ジスタ70Aのエミツタ端子102を介してトランジス
タ72Aのエミツタ端子104から電流が流れ、トラン
ジスタ68Aのエミツタ端子106を介してトランジス
タ74Aのエミツタ端子108から電流が流れる。
FIG. 3 shows in detail the structure of a cell 14A, which is another embodiment of the cell 14 shown in FIG. Cell 14A is P
It includes NP bipolar transistors 72A and 74A, which replace transistors 72 and 74 of FIG. Additionally, cell 14A includes NPN bipolar transistors 68A and 70A, which replace transistors 68 and 70 of FIG. In FIG. 3, four transistors 72A, 74
The composition consisting of A, 68A and 70A is connected between the voltages of the two terminals of the power supply and the higher of the two voltages of the power supply (
The one that is more positive) is indicated by +V, and the lower of the two voltages (one that is more negative) is indicated by -V. These four transistors 72A, 74A, 68A and 70
A operates in reverse mode. The collector terminals of PNP transistors 72A and 74A are connected to the +V terminal of the power supply, and the N
The collector terminals of PN transistors 68A and 70A are connected to the -V terminal of the power supply. The configuration of two transistors 68A and 70A forms flip-flop 92A, which functions similarly to flip-flop 90 of FIG. Two transistors 72A and 74A are connected together to form a flip-flop and are connected to transistors 68A and 70A to act as current steering transistors to stabilize the two alternating states of flip-flop 92A. do. Current flows from the emitter terminal 104 of transistor 72A via emitter terminal 102 of transistor 70A, and current flows from emitter terminal 108 of transistor 74A via emitter terminal 106 of transistor 68A.

【0020】図2のセル14においては4つのトランジ
スタ72、74、68及び70の4つのエミツタ端子の
すべてが電源の端子にコンタクトし、一方、図3のセル
14Aにおいては4つのトランジスタ72A、74A、
68A及び70Aの4つのコレクタ端子すべてが電源の
端子にコンタクトする。セル14及びセル14Aのいず
れにおいても回路は半導体チツプ上に構成され、これは
一般的に多数のセル及びそれに付随する制御回路を含む
。こうしたチツプはセルの動作を妨げるおそれがあるア
ルフア粒子に対する有意感度を呈するようになる十分な
大きさである。アルフア粒子は例えば、トランジスタ6
8Aのコレクタ領域に移動して、トランジスタ68Aの
コレクタ端子及びベース端子間に瞬時のシヤント電流経
路を作るおそれがある。逆モードの動作におけるベース
−コレクタ接合はベース−エミツタ接合として機能する
ので、接合両端の電圧はほんの小さなものになる。従つ
て瞬時シヤント電流経路は、ベース−コレクタ接合を挟
んで僅かな電圧変化しか起こすことができず、この電圧
変化はセル14Aの論理状態を反転させるには小さ過ぎ
る変化である。図3のセル14Aの構成は、コレクタ端
子及び電源端子の接続がトランジスタ72A、74A、
68A及び70Aにおけるアルフア粒子の存在の可能性
に対するセル14Aの動作の感度を低下させることによ
り、セル14Aの適切な動作を確実なものにするので有
利である。
In cell 14 of FIG. 2, all four emitter terminals of four transistors 72, 74, 68 and 70 contact the power supply terminal, while in cell 14A of FIG. ,
All four collector terminals of 68A and 70A contact the power supply terminals. The circuitry in both cell 14 and cell 14A is constructed on a semiconductor chip, which typically includes a large number of cells and associated control circuitry. These chips are large enough to exhibit significant sensitivity to alpha particles that can interfere with cell operation. Alpha particles are, for example, transistor 6
8A into the collector region, creating an instantaneous shunt current path between the collector and base terminals of transistor 68A. Since the base-collector junction in the reverse mode of operation functions as a base-emitter junction, the voltage across the junction is only small. Therefore, the instantaneous shunt current path can cause only a small voltage change across the base-collector junction, which is too small a change to reverse the logic state of cell 14A. In the configuration of the cell 14A in FIG. 3, the collector terminal and power supply terminal are connected to transistors 72A, 74A,
Advantageously, reducing the sensitivity of cell 14A operation to the possible presence of alpha particles at 68A and 70A ensures proper operation of cell 14A.

【0021】セル14Aの回路要素の相互接続及び動作
は、上述のコレクタ端子及びエミツタ端子が入れ換つた
以外はセル14の接続及び動作と同様である。かくして
、図3のセル14Aにおけるトランジスタ68Aのエミ
ツタ端子は、ノード110を経てトランジスタ72Aの
ベース端子、トランジスタ70Aのベース端子及びトラ
ンジスタ74Aのエミツタ端子と接続する。トランジス
タ70Aのエミツタ端子は、ノード112を経てトラン
ジスタ74Aのベース端子、トランジスタ68Aのベー
ス端子及びトランジスタ72Aのエミツタ端子と接続す
る。ノード110は、FET76及び端子42を経てビ
ツトライン22Lに接続すると共に、FET80及び端
子48を経てビツトライン26Lに接続する。ノード1
12は、FET78及び端子44を経てビツトライン2
2Rに接続すると共に、FET82及び端子50を経て
ビツトライン26Rに接続する。FET76及びFET
78は、セル14Aの2つのポートセツトのうちの第1
のポートセツトを構成しており、それぞれビツトライン
22L及びセル14A間、ビツトライン22R及びセル
14A間の信号をカツプリングする転送デバイスすなわ
ちパスデバイスとして動作する。FET80及びFET
82は、セル14Aの2つのポートセツトのうちの第2
のポートセツトを構成しており、それぞれビツトライン
26L及びセル14A間、ビツトライン26R及びセル
14A間の信号をカツプリングする転送デバイスすなわ
ちパスデバイスとして動作する。
The interconnections and operation of the circuit elements of cell 14A are similar to those of cell 14, except that the collector and emitter terminals described above have been interchanged. Thus, the emitter terminal of transistor 68A in cell 14A of FIG. 3 is connected via node 110 to the base terminal of transistor 72A, the base terminal of transistor 70A, and the emitter terminal of transistor 74A. The emitter terminal of transistor 70A is connected via node 112 to the base terminal of transistor 74A, the base terminal of transistor 68A, and the emitter terminal of transistor 72A. Node 110 is connected to bit line 22L through FET 76 and terminal 42, and to bit line 26L through FET 80 and terminal 48. node 1
12 is connected to bit line 2 via FET 78 and terminal 44.
2R and, via FET 82 and terminal 50, to bit line 26R. FET76 and FET
78 is the first of two port sets in cell 14A.
The bit line 22L and the cell 14A each operate as a transfer device, that is, a pass device, for coupling signals between the bit line 22L and the cell 14A, and between the bit line 22R and the cell 14A. FET80 and FET
82 is the second of the two port sets of cell 14A.
The bit line 26L and the cell 14A each operate as a transfer device, that is, a pass device, for coupling signals between the bit line 26L and the cell 14A, and between the bit line 26R and the cell 14A.

【0022】セル14Aの2つのポートセツトのうちの
第1のポートセツトに関して、ワードライン20上の相
対的に高い電圧は各FET76及びFET78を導通状
態にし、セル14Aの内容の読出しのためにトランジス
タ68A及び70Aのエミツタ端子に電圧を与え、セル
14Aの書込み中にフリツプフロツプ92Aを所望の状
態にセツトするためにトランジスタ70A又はトランジ
スタ68Aのベースに十分な電圧を与える。セル14A
の2つのポートセツトのうちの第2のポートセツトに関
して、ワードライン24上の相対的に高い電圧は各FE
T80及びFET82を導通状態に置き、セル14Aの
内容の読出しのためにトランジスタ68A及び70Aの
エミツタ端子に電圧を与え、セル14Aの書込み中にフ
リツプフロツプ92Aを所望の状態にセツトするために
トランジスタ70A又はトランジスタ68Aのベースに
十分な電圧を与える。
For the first of the two portsets of cell 14A, the relatively high voltage on word line 20 causes each FET 76 and FET 78 to become conductive, causing the transistors to read out the contents of cell 14A. Voltage is applied to the emitter terminals of 68A and 70A to provide sufficient voltage to the base of transistor 70A or transistor 68A to set flip-flop 92A to the desired state during writing of cell 14A. Cell 14A
With respect to the second of the two port sets, the relatively high voltage on word line 24
T80 and FET 82 are placed in a conductive state, energizing the emitter terminals of transistors 68A and 70A for reading the contents of cell 14A, and transistor 70A or 70A for setting flip-flop 92A to the desired state during writing of cell 14A. Apply sufficient voltage to the base of transistor 68A.

【0023】上述の通り本発明をその最適な実施例に基
づいて特定的に図示、説明したが、本発明の精神及び範
囲から脱することなく形式及び詳細構成の双方について
、種々の変更を加えてもよい。
While the invention has been particularly illustrated and described in accordance with the best preferred embodiment thereof, as noted above, various changes may be made in both form and detail without departing from the spirit and scope of the invention. It's okay.

【0024】[0024]

【発明の効果】図2のセル14と図3のセル14Aとの
双方において、それぞれ、アクセスポートのセツトが2
つだけ存在している。しかしながら本発明に従えば、さ
らに多くのFETのペアをノード110及びノード11
2に接続して、FETの各ペアを付加的なビツトライン
のペアに接続し、付加的なワードラインによつてアドレ
ス指定するようにすることにより、さらに多くのポート
を設けることができる。
Effects of the Invention In both the cell 14 in FIG. 2 and the cell 14A in FIG.
Only one exists. However, according to the present invention, more pairs of FETs are used at node 110 and node 11.
More ports can be provided by connecting each pair of FETs to an additional pair of bit lines and addressing them by an additional word line.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】図1はそれぞれ複数のポートを有するメモリセ
ルのアレイを含むメモリシステムの接続図である。
FIG. 1 is a connection diagram of a memory system including an array of memory cells each having a plurality of ports.

【図2】図2は本発明の第1実施例に従つた図1のシス
テムのメモリセルの概略を示す接続図である。
FIG. 2 is a connection diagram schematically showing the memory cells of the system of FIG. 1 according to a first embodiment of the present invention.

【図3】図3は本発明の第2実施例に従つた図1のシス
テムのメモリセルの概略を示す接続図である。
FIG. 3 is a connection diagram schematically showing the memory cells of the system of FIG. 1 according to a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10……メモリシステム、12……アレイ、14、14
A……メモリセル、16……ロウ、18……カラム、2
0……ワードラインの第1セツト、22……ビツトライ
ンペアの第1セツト、24……ワードラインの第2セツ
ト、26……ビツトラインペアの第2セツト、28……
カラムアクセス回路、30……カラムアドレスラインの
第1セツト、32……カラムアドレスラインの第2セツ
ト、34……メモリコントローラ、36、38……出力
データライン、40、42、44、46、48、50…
…端子、52……入力データラインの第1セツト、54
……入力データラインの第2セツト、56、62……再
記憶回路、58、64……検出回路、60、66……駆
動回路、68、68A、70、70A……NPNバイポ
ーラトランジスタ、72、72A、74、74A……P
NPバイポーラトランジスタ、76、78、80、82
……N形FET、84、86、96、100……ベース
端子、88、90、94、98……コレクタ端子、92
、92A……双安定フリツプフロツプ、102、104
、106、108……エミツタ端子、110、112…
…ノード。
10...Memory system, 12...Array, 14, 14
A...Memory cell, 16...Row, 18...Column, 2
0...first set of word lines, 22...first set of bit line pairs, 24...second set of word lines, 26...second set of bit line pairs, 28...
Column access circuit, 30...first set of column address lines, 32...second set of column address lines, 34...memory controller, 36, 38...output data lines, 40, 42, 44, 46, 48 ,50...
... terminals, 52 ... first set of input data lines, 54
. . . second set of input data lines, 56, 62 . . . restorage circuit, 58, 64 . . . detection circuit, 60, 66 . 72A, 74, 74A...P
NP bipolar transistor, 76, 78, 80, 82
... N-type FET, 84, 86, 96, 100 ... Base terminal, 88, 90, 94, 98 ... Collector terminal, 92
, 92A... Bistable flip-flop, 102, 104
, 106, 108... emitter terminal, 110, 112...
…node.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】第1、第2、第3及び第4バイポーラトラ
ンジスタと、第1ノード及び第2ノードと、第1、第2
、第3及び第4電界効果トランジスタ(FET)と、を
具え、上記第1及び上記第2トランジスタは相互に接続
されることによりフリツプフロツプを形成し、上記第3
及び上記第4トランジスタはフリツプフロツプのトラン
ジスタへの電流を調整することにより、フリツプフロツ
プの動作状態を安定化させ、上記各トランジスタはベー
ス端子及び2つの末端端子を有し、上記末端端子のうち
の一方はエミツタ端子でありかつ末端端子の他方はコレ
クタ端子であり、上記第1ノードは上記第2トランジス
タのベース端子を上記第1トランジスタ及び上記第4ト
ランジスタの末端端子に接続し、上記第2ノードは上記
第1トランジスタのベース端子を上記第2トランジスタ
及び上記第3トランジスタの末端端子に接続し、上記第
1及び上記第2FETはそれぞれ上記第1ノード及び上
記第2ノードに接続されることにより、上記メモリセル
にアクセスする第1ポートを形成し、上記第3及び上記
第4FETはそれぞれ上記第1ノード及び上記第2ノー
ドに接続されることにより、上記メモリセルにアクセス
する第2ポートを形成することを特徴とするメモリセル
回路。
1. First, second, third and fourth bipolar transistors, a first node and a second node, and a first and second bipolar transistor.
, third and fourth field effect transistors (FETs), wherein the first and second transistors are interconnected to form a flip-flop;
and the fourth transistor stabilizes the operating state of the flip-flop by adjusting current to the transistor of the flip-flop, each transistor having a base terminal and two terminal terminals, one of the terminal terminals being The other of the emitter terminals and the terminal terminals is a collector terminal, the first node connects the base terminal of the second transistor to the terminal terminals of the first transistor and the fourth transistor, and the second node connects the base terminal of the second transistor to the terminal terminals of the first transistor and the fourth transistor. The base terminal of the first transistor is connected to the terminal terminals of the second transistor and the third transistor, and the first and second FETs are connected to the first node and the second node, respectively, so that the memory forming a first port for accessing the memory cell; and the third and fourth FETs are connected to the first node and the second node, respectively, thereby forming a second port for accessing the memory cell. Characteristic memory cell circuit.
【請求項2】上記第1及び上記第4バイポーラトランジ
スタのコレクタ端子は上記第1ノードに接続され、上記
第2及び上記第3バイポーラトランジスタのコレクタ端
子は上記第2ノードに接続されることを特徴とする請求
項1に記載のメモリセル回路。
2. Collector terminals of the first and fourth bipolar transistors are connected to the first node, and collector terminals of the second and third bipolar transistors are connected to the second node. The memory cell circuit according to claim 1.
【請求項3】上記第1及び上記第4バイポーラトランジ
スタのエミツタ端子は上記第1ノードに接続され、上記
第2及び上記第3バイポーラトランジスタのエミツタ端
子は上記第2ノードに接続されることを特徴とする請求
項1に記載のメモリセル回路。
3. Emitter terminals of the first and fourth bipolar transistors are connected to the first node, and emitter terminals of the second and third bipolar transistors are connected to the second node. The memory cell circuit according to claim 1.
【請求項4】ロウ及びカラムに配列されたメモリセルの
アレイを具えるメモリシステムにおいて、上記各セルは
第1アクセスポート及び第2アクセスポートと、当該ロ
ウのセル内の上記第1ポート及び上記第2ポートをそれ
ぞれアドレス指定する上記各ロウ内に配置される第1ワ
ードライン及び第2ワードラインと、上記ワードライン
の1つによりアドレス指定されるポートを経由するセル
の読出し及び書込みを提供するために当該カラムのセル
内のそれぞれ上記第1ポート及び上記第2ポートと接続
するように上記各カラム内に配置される第1及び第2ビ
ツトラインとを有し、上記各メモリセルは、第1、第2
、第3及び第4バイポーラトランジスタと、第1ノード
及び第2ノードと、第1、第2、第3及び第4の電界効
果トランジスタ(FET)とを具え、上記第1及び上記
第2トランジスタは相互に接続されることにより第1フ
リツプフロツプを形成し、上記第3及び上記第4トラン
ジスタは相互に接続されることにより第2フリツプフロ
ツプを形成しかつ上記第1フリツプフロツプのトランジ
スタへの電流を調整することにより上記第1フリツプフ
ロツプの動作状態を安定化させ、上記各トランジスタは
ベース端子及び2つの末端端子を有し、上記末端端子の
うちの一方はエミツタ端子でありかつ末端端子の他方は
コレクタ端子であり、上記第1ノードは上記第2トラン
ジスタのベース端子を上記第1及び上記第4トランジス
タの末端端子に接続し、上記第2ノードは上記第1トラ
ンジスタのベース端子を上記第2及び上記第3トランジ
スタの末端端子に接続し、上記第1及び上記第2FET
はそれぞれ上記第1ノード及び上記第2ノードに接続さ
れることにより上記第1ポートを形成し、上記第3及び
上記第4FETはそれぞれ上記第1ノード及び上記第2
ノードに接続されることにより上記第2ポートを形成す
るようになされていることを特徴とするメモリシステム
4. A memory system comprising an array of memory cells arranged in rows and columns, each cell having a first access port and a second access port; a first word line and a second word line disposed within each said row respectively addressing a second port and providing for reading and writing cells via a port addressed by one of said word lines; a first bit line and a second bit line arranged in each column so as to be connected to the first port and the second port in the cell of the column, respectively; , second
, third and fourth bipolar transistors, first nodes and second nodes, and first, second, third and fourth field effect transistors (FETs), the first and second transistors comprising: the third and fourth transistors being interconnected to form a first flip-flop; and the third and fourth transistors being interconnected to form a second flip-flop and regulating current to the transistors of the first flip-flop. to stabilize the operating state of the first flip-flop, each transistor having a base terminal and two terminal terminals, one of the terminal terminals being an emitter terminal and the other of the terminal terminals being a collector terminal; , the first node connects the base terminal of the second transistor to the terminal terminals of the first and fourth transistors, and the second node connects the base terminal of the first transistor to the second and third transistors. connected to the terminal terminals of the first and second FETs.
are connected to the first node and the second node, respectively, to form the first port, and the third and fourth FETs are connected to the first node and the second node, respectively.
A memory system configured to form the second port by being connected to a node.
【請求項5】上記各メモリセルにおいて、上記第1及び
上記第4バイポーラトランジスタのコレクタ端子は上記
第1ノードに接続され、上記第2及び上記第3バイポー
ラトランジスタのコレクタ端子は上記第2ノードに接続
されることを特徴とする請求項4に記載のメモリシステ
ム。
5. In each of the memory cells, collector terminals of the first and fourth bipolar transistors are connected to the first node, and collector terminals of the second and third bipolar transistors are connected to the second node. The memory system according to claim 4, characterized in that the memory system is connected.
【請求項6】上記各メモリセルにおいて、上記第1及び
上記第4バイポーラトランジスタのエミツタ端子は上記
第1ノードに接続され、上記第2及び上記第3バイポー
ラトランジスタのエミツタ端子は上記第2ノードに接続
されることを特徴とする請求項4に記載のメモリシステ
ム。
6. In each of the memory cells, emitter terminals of the first and fourth bipolar transistors are connected to the first node, and emitter terminals of the second and third bipolar transistors are connected to the second node. The memory system according to claim 4, characterized in that the memory system is connected.
JP4023234A 1991-02-13 1992-01-13 Memory cell circuit Pending JPH04318395A (en)

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US07/654782 1991-02-13

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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5015445A (en) * 1973-04-25 1975-02-18
JPS5183740A (en) * 1974-12-19 1976-07-22 Ibm
JPS5724093A (en) * 1980-07-18 1982-02-08 Nec Corp Memory cell
JPS60236188A (en) * 1984-05-09 1985-11-22 Nec Corp Multi-port register cell
JPS61148866A (en) * 1984-12-18 1986-07-07 アドバンスト・マイクロ・デイバイシズ・インコーポレーテツド Improved emitter coupled type logical circuit bipolar memorycell

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