JPH04225252A - 半導体装置の検査方法および装置 - Google Patents
半導体装置の検査方法および装置Info
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- JPH04225252A JPH04225252A JP41453290A JP41453290A JPH04225252A JP H04225252 A JPH04225252 A JP H04225252A JP 41453290 A JP41453290 A JP 41453290A JP 41453290 A JP41453290 A JP 41453290A JP H04225252 A JPH04225252 A JP H04225252A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の検査技術
に関し、特に、半導体記憶装置の不良メモリセルの外観
検査技術および検査結果に基づく不良解析技術に利用し
て有効な技術に関するものである。
に関し、特に、半導体記憶装置の不良メモリセルの外観
検査技術および検査結果に基づく不良解析技術に利用し
て有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】DRAMやSRAM等の半導体記憶装置
の製造工程においては、製造工程中または製造工程後に
不良メモリセルについての外観不良検査およびその解析
が実施されており、製造プロセスにおける歩留りが高め
られている。
の製造工程においては、製造工程中または製造工程後に
不良メモリセルについての外観不良検査およびその解析
が実施されており、製造プロセスにおける歩留りが高め
られている。
【0003】通常、半導体記憶装置の不良メモリセルに
ついての外観不良検査は、メモリテスタやプローブ検査
装置が用いられて半導体記憶装置に対して実施される電
気的特性試験に基づき、不良メモリセル(フェイルビッ
ト)が検出されることから始まる。この不良メモリセル
の検出作業に際しては、まず、半導体ウエハ上に複数配
列された半導体記憶装置(後のダイシング工程で個々の
ペレットに分割される。)のうち、不良メモリセルが存
在する半導体記憶装置が特定される。この後、特定され
た半導体記憶装置のメモリマットに配列されたメモリセ
ルのうち、不良メモリセルが特定される。そして、この
特定された不良メモリセルについて金属顕微鏡等の不良
セル観察装置が使用されることにより汚れ、色むら、パ
ターンの欠け、ショート、変色、異物の存在等の欠陥状
態が観察され、不良原因が解析されることになる。
ついての外観不良検査は、メモリテスタやプローブ検査
装置が用いられて半導体記憶装置に対して実施される電
気的特性試験に基づき、不良メモリセル(フェイルビッ
ト)が検出されることから始まる。この不良メモリセル
の検出作業に際しては、まず、半導体ウエハ上に複数配
列された半導体記憶装置(後のダイシング工程で個々の
ペレットに分割される。)のうち、不良メモリセルが存
在する半導体記憶装置が特定される。この後、特定され
た半導体記憶装置のメモリマットに配列されたメモリセ
ルのうち、不良メモリセルが特定される。そして、この
特定された不良メモリセルについて金属顕微鏡等の不良
セル観察装置が使用されることにより汚れ、色むら、パ
ターンの欠け、ショート、変色、異物の存在等の欠陥状
態が観察され、不良原因が解析されることになる。
【0004】これら一連の外観不良検査は、検査マニア
ルに基づき、作業者の手作業により行われる。本発明者
が開発中の半導体記憶装置は4〔Mbit〕の大容量を
有するDRAMである。このような大容量の半導体記憶
装置の不良メモリセルに対する外観不良検査は1枚当た
りの半導体ウエハにおいて1〜2週間を要する。そして
、外観不良検査に要する時間の約8割は不良メモリセル
の位置の特定に費やされる。このため、特に、大容量を
有する半導体記憶装置の不良メモリセルについての外観
不良検査に要する時間は長くなる。
ルに基づき、作業者の手作業により行われる。本発明者
が開発中の半導体記憶装置は4〔Mbit〕の大容量を
有するDRAMである。このような大容量の半導体記憶
装置の不良メモリセルに対する外観不良検査は1枚当た
りの半導体ウエハにおいて1〜2週間を要する。そして
、外観不良検査に要する時間の約8割は不良メモリセル
の位置の特定に費やされる。このため、特に、大容量を
有する半導体記憶装置の不良メモリセルについての外観
不良検査に要する時間は長くなる。
【0005】従来、この種の外観不良検査に要する時間
を短縮する技術として、特開昭62−252145号公
報および特開昭63−174330号公報に開示されて
いる技術がある。この技術は、プローブ検査装置で検出
された半導体記憶装置の不良メモリセルの位置情報をC
PUの論理アドレス空間に記憶(ロジカル配列表示)し
、この記憶情報に基づき走査型電子顕微鏡(SEM)の
視野内に実際の半導体記憶装置の不良メモリセルを自動
的に配置する技術である。
を短縮する技術として、特開昭62−252145号公
報および特開昭63−174330号公報に開示されて
いる技術がある。この技術は、プローブ検査装置で検出
された半導体記憶装置の不良メモリセルの位置情報をC
PUの論理アドレス空間に記憶(ロジカル配列表示)し
、この記憶情報に基づき走査型電子顕微鏡(SEM)の
視野内に実際の半導体記憶装置の不良メモリセルを自動
的に配置する技術である。
【0006】なお、半導体記憶装置の外観不良検査技術
を述べてある例としては、前記以外に、特開昭62−1
69342号公報、特開平2−7538号公報および特
開平2−52446号公報、がある。
を述べてある例としては、前記以外に、特開昭62−1
69342号公報、特開平2−7538号公報および特
開平2−52446号公報、がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
外観不良検査技術について検討した結果、本発明者は次
の問題点を見出した。
外観不良検査技術について検討した結果、本発明者は次
の問題点を見出した。
【0008】■ 本発明者が開発中の半導体記憶装置
は、情報アクセスタイムの高速化を図る目的でメモリマ
ットが、例えば4個に分割される(4マット構成)。4
個に分割されたうちの2個のメモリマット間、および、
他の2個のメモリマット間のそれぞれには、デコーダ回
路等の周辺回路が配置される。この周辺回路を中心とす
る2個のメモリマットは、一方に対して他方のメモリセ
ルおよびその配列がミラー反転パターン等で形成される
。このような半導体記憶装置のメモリマット配列および
メモリセル配列は、前述の公報に開示された技術におけ
る論理アドレス空間のメモリマット配列およびメモリセ
ル配列と異なる。
は、情報アクセスタイムの高速化を図る目的でメモリマ
ットが、例えば4個に分割される(4マット構成)。4
個に分割されたうちの2個のメモリマット間、および、
他の2個のメモリマット間のそれぞれには、デコーダ回
路等の周辺回路が配置される。この周辺回路を中心とす
る2個のメモリマットは、一方に対して他方のメモリセ
ルおよびその配列がミラー反転パターン等で形成される
。このような半導体記憶装置のメモリマット配列および
メモリセル配列は、前述の公報に開示された技術におけ
る論理アドレス空間のメモリマット配列およびメモリセ
ル配列と異なる。
【0009】つまり、論理アドレス空間にはX方向アド
レス空間、Y方向アドレス空間のそれぞれに一方向で、
メモリマットおよびメモリセルが順次配列されている。 これに対し、前記開発中の半導体記憶装置におけるメモ
リマットのメモリセル配列は、ミラー反転パターン等で
形成されているため、論理アドレス空間に配置されたメ
モリマットのメモリセル配列と異なる。このため、論理
アドレス空間に記憶された不良メモリセルの位置情報と
、実際の半導体記憶装置の不良メモリセルの位置とは一
致しない。その結果、不良メモリセルについての外観不
良検査に際して、走査型電子顕微鏡の視野内に不良メモ
リセルが配置されないことになる。したがって、手動に
より前記視野内に不良メモリセルを再度配置する必要が
発生するため、外観不良検査時間およびその解析時間が
長くなるという問題がある。
レス空間、Y方向アドレス空間のそれぞれに一方向で、
メモリマットおよびメモリセルが順次配列されている。 これに対し、前記開発中の半導体記憶装置におけるメモ
リマットのメモリセル配列は、ミラー反転パターン等で
形成されているため、論理アドレス空間に配置されたメ
モリマットのメモリセル配列と異なる。このため、論理
アドレス空間に記憶された不良メモリセルの位置情報と
、実際の半導体記憶装置の不良メモリセルの位置とは一
致しない。その結果、不良メモリセルについての外観不
良検査に際して、走査型電子顕微鏡の視野内に不良メモ
リセルが配置されないことになる。したがって、手動に
より前記視野内に不良メモリセルを再度配置する必要が
発生するため、外観不良検査時間およびその解析時間が
長くなるという問題がある。
【0010】■ 実際の半導体記憶装置においては、
容量の増加や品種毎にメモリセルサイズやメモリマット
構成が変更されるため、メモリマット配列、メモリセル
配列、周辺回路の配列が変化する。このため、前述の論
理アドレス空間のメモリマット配列およびメモリセル配
列と、実際の半導体記憶装置のそれらとがさらに一致し
なくなるので、外観不良検査時間およびその解析時間が
長くなるばかりか、品種毎に半導体記憶装置の外観不良
検査を行えないという問題がある。
容量の増加や品種毎にメモリセルサイズやメモリマット
構成が変更されるため、メモリマット配列、メモリセル
配列、周辺回路の配列が変化する。このため、前述の論
理アドレス空間のメモリマット配列およびメモリセル配
列と、実際の半導体記憶装置のそれらとがさらに一致し
なくなるので、外観不良検査時間およびその解析時間が
長くなるばかりか、品種毎に半導体記憶装置の外観不良
検査を行えないという問題がある。
【0011】■ 前記実際の半導体記憶装置のメモリ
マット配列およびメモリセル配列に対応させるため、ホ
ストCPUに論理アドレス空間のメモリマット配列およ
びメモリセル配列を実体アドレス空間(フィジカル配列
表示)に変換するプログラムを入力することが考えられ
る。
マット配列およびメモリセル配列に対応させるため、ホ
ストCPUに論理アドレス空間のメモリマット配列およ
びメモリセル配列を実体アドレス空間(フィジカル配列
表示)に変換するプログラムを入力することが考えられ
る。
【0012】しかし、単に実体アドレス空間に変換した
だけでは、メモリマットと各メモリマット間の周辺回路
との区別を認識することができないため、不良メモリセ
ルの位置情報と、実際の半導体記憶装置の不良メモリセ
ルの位置とが一致しない。したがって、実体アドレス空
間に変換する場合には、実体アドレス空間にメモリマッ
ト配列情報、メモリセル配列情報、メモリセルサイズ、
周辺回路の配列情報等を含むすべてのレイアウト情報を
入力する必要がある。このため、ホストCPUの実体ア
ドレス空間の容量が大幅に増大し、ホストCPUの処理
速度が長くなるので、外観不良検査時間およびその解析
時間が長くなるという問題がある。
だけでは、メモリマットと各メモリマット間の周辺回路
との区別を認識することができないため、不良メモリセ
ルの位置情報と、実際の半導体記憶装置の不良メモリセ
ルの位置とが一致しない。したがって、実体アドレス空
間に変換する場合には、実体アドレス空間にメモリマッ
ト配列情報、メモリセル配列情報、メモリセルサイズ、
周辺回路の配列情報等を含むすべてのレイアウト情報を
入力する必要がある。このため、ホストCPUの実体ア
ドレス空間の容量が大幅に増大し、ホストCPUの処理
速度が長くなるので、外観不良検査時間およびその解析
時間が長くなるという問題がある。
【0013】本発明の第1の目的は、半導体装置の検査
技術において、検査時間を短縮することが可能な技術を
提供することにある。
技術において、検査時間を短縮することが可能な技術を
提供することにある。
【0014】本発明の第2の目的は、半導体装置の検査
技術において、検査精度および解析精度を向上すること
が可能な技術を提供することにある。
技術において、検査精度および解析精度を向上すること
が可能な技術を提供することにある。
【0015】本発明の第3の目的は、半導体装置の検査
技術において、検査精度および解析精度を均一化するこ
とが可能な技術を提供することにある。
技術において、検査精度および解析精度を均一化するこ
とが可能な技術を提供することにある。
【0016】本発明の第4の目的は、検査に際して作業
性(使い易さ)を高めることができる技術を提供するこ
とにある。
性(使い易さ)を高めることができる技術を提供するこ
とにある。
【0017】本発明の第5の目的は、半導体装置の製造
ライン等で得られた異物付着位置および外観欠陥位置と
、不良セル位置とを照合し、不良解析精度および効率を
高めることができる技術を提供することにある。本発明
の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書
の記述および添付図面から明らかになるであろう。
ライン等で得られた異物付着位置および外観欠陥位置と
、不良セル位置とを照合し、不良解析精度および効率を
高めることができる技術を提供することにある。本発明
の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書
の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【0018】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
【0019】半導体装置の規則的に配列された複数個の
セルのうち、不良セルを検査する半導体装置の検査装置
において、前記半導体装置について電気的特性検査が実
施され不良セルが検出されるとともに、その不良セルの
位置が論理アドレス配列による位置情報により特定され
る不良セル検出装置と、前記半導体装置についてのレイ
アウト情報のうち、セル配列の原点情報、この原点から
の各セルの位置情報、および、各セルの配列方向情報に
よる簡易レイアウト情報を生成する簡易レイアウト情報
生成装置と、この簡易レイアウト情報に基づき、前記セ
ル群のレイアウト情報が作成されるセル群レイアウト情
報作成手段と、前記簡易レイアウト情報に基づき、前記
不良セルの論理アドレス配列による位置情報が実体アド
レス配列による位置情報に変換される不良セル位置情報
変換手段と、セル群の模擬画像を画面上に表示するため
のセル群画像表示装置と、前記セル群レイアウト情報に
基づき、前記半導体装置のセル群の模擬画像を前記セル
群画像表示装置の画面上に表示するための情報が作成さ
れ、この情報に基づきセル群の模擬画像を前記セル群画
像表示装置の画面上に表示させるセル群画像表示情報作
成手段と、前記不良セル位置情報変換手段による情報に
基づき、不良セルの模擬画像を前記セル群画像表示装置
の画面上に表示するための情報が作成され、この情報に
基づき不良セルの模擬画像を前記セル群の模擬画像が表
示された前記セル群画像表示装置の画面上に重ね合わせ
されて表示させる不良セル画像表示作成手段と、を備え
ていることを特徴とする。
セルのうち、不良セルを検査する半導体装置の検査装置
において、前記半導体装置について電気的特性検査が実
施され不良セルが検出されるとともに、その不良セルの
位置が論理アドレス配列による位置情報により特定され
る不良セル検出装置と、前記半導体装置についてのレイ
アウト情報のうち、セル配列の原点情報、この原点から
の各セルの位置情報、および、各セルの配列方向情報に
よる簡易レイアウト情報を生成する簡易レイアウト情報
生成装置と、この簡易レイアウト情報に基づき、前記セ
ル群のレイアウト情報が作成されるセル群レイアウト情
報作成手段と、前記簡易レイアウト情報に基づき、前記
不良セルの論理アドレス配列による位置情報が実体アド
レス配列による位置情報に変換される不良セル位置情報
変換手段と、セル群の模擬画像を画面上に表示するため
のセル群画像表示装置と、前記セル群レイアウト情報に
基づき、前記半導体装置のセル群の模擬画像を前記セル
群画像表示装置の画面上に表示するための情報が作成さ
れ、この情報に基づきセル群の模擬画像を前記セル群画
像表示装置の画面上に表示させるセル群画像表示情報作
成手段と、前記不良セル位置情報変換手段による情報に
基づき、不良セルの模擬画像を前記セル群画像表示装置
の画面上に表示するための情報が作成され、この情報に
基づき不良セルの模擬画像を前記セル群の模擬画像が表
示された前記セル群画像表示装置の画面上に重ね合わせ
されて表示させる不良セル画像表示作成手段と、を備え
ていることを特徴とする。
【0020】
【作用】前記した手段によれば、以下の作用が奏される
。半導体装置の規則的に配列された複数個のセルのうち
、不良セルを検査する半導体装置の検査作業に際して、
まず、不良セル検出装置において、検査対象になる半導
体装置について電気的特性検査が実施され不良セルが検
出されるとともに、その不良セルの位置が論理アドレス
配列による位置情報により特定される。一方、簡易レイ
アウト情報生成装置において、前記半導体装置について
のレイアウト情報のうち、セル配列の原点情報、この原
点からの各セルの位置情報、および、各セルの配列方向
情報により、簡易レイアウト情報が予め生成される。続
いて、セル群レイアウト情報作成手段において、この簡
易レイアウト情報に基づき、前記セル群のレイアウト情
報が作成される。また、不良セル位置情報変換手段にお
いて、前記簡易レイアウト情報に基づき、前記不良セル
の論理アドレス配列による位置情報が実体アドレス配列
による位置情報に変換される。次いで、セル群レイアウ
ト情報に基づき、前記半導体装置のセル群の模擬画像を
セル群画像表示装置の画面上に表示するための情報が作
成され、この情報に基づきセル群の画像がセル群画像表
示装置の画面上に表示される。また、前記不良セル位置
情報変換工程による位置情報に基づき、不良セルをセル
群画像表示装置の画面上に表示するための情報が作成さ
れ、この情報に基づき不良セルの模擬画像が前記セル群
の模擬画像が表示されたセル群画像表示装置の画面上に
重ね合わせされて表示される。
。半導体装置の規則的に配列された複数個のセルのうち
、不良セルを検査する半導体装置の検査作業に際して、
まず、不良セル検出装置において、検査対象になる半導
体装置について電気的特性検査が実施され不良セルが検
出されるとともに、その不良セルの位置が論理アドレス
配列による位置情報により特定される。一方、簡易レイ
アウト情報生成装置において、前記半導体装置について
のレイアウト情報のうち、セル配列の原点情報、この原
点からの各セルの位置情報、および、各セルの配列方向
情報により、簡易レイアウト情報が予め生成される。続
いて、セル群レイアウト情報作成手段において、この簡
易レイアウト情報に基づき、前記セル群のレイアウト情
報が作成される。また、不良セル位置情報変換手段にお
いて、前記簡易レイアウト情報に基づき、前記不良セル
の論理アドレス配列による位置情報が実体アドレス配列
による位置情報に変換される。次いで、セル群レイアウ
ト情報に基づき、前記半導体装置のセル群の模擬画像を
セル群画像表示装置の画面上に表示するための情報が作
成され、この情報に基づきセル群の画像がセル群画像表
示装置の画面上に表示される。また、前記不良セル位置
情報変換工程による位置情報に基づき、不良セルをセル
群画像表示装置の画面上に表示するための情報が作成さ
れ、この情報に基づき不良セルの模擬画像が前記セル群
の模擬画像が表示されたセル群画像表示装置の画面上に
重ね合わせされて表示される。
【0021】
【実施例】図1は本発明の一実施例である半導体記憶装
置の不良メモリセル外観検査装置を示すブロック図、で
ある。
置の不良メモリセル外観検査装置を示すブロック図、で
ある。
【0022】本実施例において、半導体記憶装置の不良
メモリセル外観検査装置1は、大型コンピュータ(ホス
トCPU)2と、このホストCPU2に接続されている
補助記憶装置3と、検査対象である半導体記憶装置につ
いて電気的特性検査が実施され不良メモリセル(以下、
不良セルという。)が検出されるとともに、その不良セ
ルの位置が論理アドレス配列による位置情報により特定
される不良セル検出装置4と、前記半導体記憶装置につ
いてのレイアウト情報のうち、セル配列の原点情報、こ
の原点からの各セルの位置情報、および、各セルの配列
方向情報による簡易レイアウト情報を生成する簡易レイ
アウト情報生成装置5と、この簡易レイアウト情報に基
づき、前記セル群のレイアウト情報が作成されるセル群
レイアウト情報作成手段6と、前記簡易レイアウト情報
に基づき、前記不良セルの論理アドレス配列による位置
情報が実体アドレス配列による位置情報に変換される不
良セル位置情報変換手段7と、セル群の模擬画像を画面
上に表示するためのセル群画像表示装置8と、前記セル
群レイアウト情報に基づき、前記半導体記憶装置のセル
群の模擬画像を前記セル群画像表示装置8の画面上に表
示するための情報が作成され、この情報に基づきセル群
の画像を前記セル群画像表示装置8の画面上に表示させ
るセル群画像表示情報作成手段9と、前記不良セル位置
情報変換手段7による情報に基づき、不良セルの画像を
前記セル群画像表示装置8の画面上に表示するための情
報が作成され、この情報に基づき不良セルの模擬画像を
前記セル群画像が表示された前記セル群画像表示装置8
の画面上に重ね合わせて表示させる不良セル画像表示情
報作成手段10と、を備えている。
メモリセル外観検査装置1は、大型コンピュータ(ホス
トCPU)2と、このホストCPU2に接続されている
補助記憶装置3と、検査対象である半導体記憶装置につ
いて電気的特性検査が実施され不良メモリセル(以下、
不良セルという。)が検出されるとともに、その不良セ
ルの位置が論理アドレス配列による位置情報により特定
される不良セル検出装置4と、前記半導体記憶装置につ
いてのレイアウト情報のうち、セル配列の原点情報、こ
の原点からの各セルの位置情報、および、各セルの配列
方向情報による簡易レイアウト情報を生成する簡易レイ
アウト情報生成装置5と、この簡易レイアウト情報に基
づき、前記セル群のレイアウト情報が作成されるセル群
レイアウト情報作成手段6と、前記簡易レイアウト情報
に基づき、前記不良セルの論理アドレス配列による位置
情報が実体アドレス配列による位置情報に変換される不
良セル位置情報変換手段7と、セル群の模擬画像を画面
上に表示するためのセル群画像表示装置8と、前記セル
群レイアウト情報に基づき、前記半導体記憶装置のセル
群の模擬画像を前記セル群画像表示装置8の画面上に表
示するための情報が作成され、この情報に基づきセル群
の画像を前記セル群画像表示装置8の画面上に表示させ
るセル群画像表示情報作成手段9と、前記不良セル位置
情報変換手段7による情報に基づき、不良セルの画像を
前記セル群画像表示装置8の画面上に表示するための情
報が作成され、この情報に基づき不良セルの模擬画像を
前記セル群画像が表示された前記セル群画像表示装置8
の画面上に重ね合わせて表示させる不良セル画像表示情
報作成手段10と、を備えている。
【0023】さらに、この不良メモリセル外観検査装置
1は、セル群の模擬画像が表示されたセル群画像表示装
置8の画面上に不良セルの模擬画像が重ね合わされて表
示された後、この表示画面において、前記セル群の模擬
画像における不良セルの模擬画像の位置を指示する指示
装置11と、この指示に従って指示された不良セルの実
体像を、前記不良セル位置情報変換手段7による情報に
基づき、不良セル観察装置13の視野内に自動的に配置
させる不良セル自動配置手段12と、を備えている。
1は、セル群の模擬画像が表示されたセル群画像表示装
置8の画面上に不良セルの模擬画像が重ね合わされて表
示された後、この表示画面において、前記セル群の模擬
画像における不良セルの模擬画像の位置を指示する指示
装置11と、この指示に従って指示された不良セルの実
体像を、前記不良セル位置情報変換手段7による情報に
基づき、不良セル観察装置13の視野内に自動的に配置
させる不良セル自動配置手段12と、を備えている。
【0024】そして、これらホストCPU2、不良セル
検出装置4、簡易レイアウト情報生成装置5、セル群レ
イアウト情報作成手段6、不良セル位置情報変換手段7
、セル群画像表示装置8、セル群画像表示情報作成手段
9、不良セル画像表示情報作成手段10、指示装置11
、不良セル自動配置手段12、不良セル観察装置13は
、イーサネット(Ethernet)回路等の通信回線
(図示せず)により相互に電気的に連結されている。 但し、場合によっては磁気テープや磁気ディスク等の磁
気媒体により磁気的に連係するように構築してもよい。
検出装置4、簡易レイアウト情報生成装置5、セル群レ
イアウト情報作成手段6、不良セル位置情報変換手段7
、セル群画像表示装置8、セル群画像表示情報作成手段
9、不良セル画像表示情報作成手段10、指示装置11
、不良セル自動配置手段12、不良セル観察装置13は
、イーサネット(Ethernet)回路等の通信回線
(図示せず)により相互に電気的に連結されている。 但し、場合によっては磁気テープや磁気ディスク等の磁
気媒体により磁気的に連係するように構築してもよい。
【0025】前記ホストCPU2には補助記憶装置3が
内蔵または連結されている。補助記憶装置3には、検査
対象である半導体記憶装置の開発設計において作成され
た既存のレイアウト情報(後記される。)が全て記憶さ
れている。この補助記憶装置3に記憶されたレイアウト
情報の一部は、後述するようにホストCPU2により適
宜読出されるようになっている。
内蔵または連結されている。補助記憶装置3には、検査
対象である半導体記憶装置の開発設計において作成され
た既存のレイアウト情報(後記される。)が全て記憶さ
れている。この補助記憶装置3に記憶されたレイアウト
情報の一部は、後述するようにホストCPU2により適
宜読出されるようになっている。
【0026】この不良メモリセル外観検査装置1に投入
される段階において、半導体記憶装置60は多数個が図
2に示されているように、実際上の検査対象ワークであ
る半導体ウエハ(以下、単にウエハという。)50に縦
横に配列された長方形板形状のペレット内に作り込まれ
た状態になっている。
される段階において、半導体記憶装置60は多数個が図
2に示されているように、実際上の検査対象ワークであ
る半導体ウエハ(以下、単にウエハという。)50に縦
横に配列された長方形板形状のペレット内に作り込まれ
た状態になっている。
【0027】このウエハ50において半導体記憶装置6
0群のそれぞれは図3に示されているように、平面長方
形の板形状のペレットに構成されている。半導体記憶装
置60の周辺部分には複数個の外部端子(ボンディング
パッド)55が配列されている。半導体記憶装置60の
中央部分には、例えば、4〔Mbit〕の大容量を有す
るメモリマット(メモリセルアレイ〕が配列されている
。このメモリマットは第1メモリマット51〜第4メモ
リマット54に4分割されている。そして、4分割され
た各メモリマットのそれぞれは1〔Mbit〕の容量に
構成されている。第1メモリマット51と第2メモリマ
ット52との間には、デコーダ回路を含む周辺回路56
が配置されている。同様に、第3メモリマット53と第
4メモリマット54との間にも、周辺回路56が配置さ
れている。
0群のそれぞれは図3に示されているように、平面長方
形の板形状のペレットに構成されている。半導体記憶装
置60の周辺部分には複数個の外部端子(ボンディング
パッド)55が配列されている。半導体記憶装置60の
中央部分には、例えば、4〔Mbit〕の大容量を有す
るメモリマット(メモリセルアレイ〕が配列されている
。このメモリマットは第1メモリマット51〜第4メモ
リマット54に4分割されている。そして、4分割され
た各メモリマットのそれぞれは1〔Mbit〕の容量に
構成されている。第1メモリマット51と第2メモリマ
ット52との間には、デコーダ回路を含む周辺回路56
が配置されている。同様に、第3メモリマット53と第
4メモリマット54との間にも、周辺回路56が配置さ
れている。
【0028】さらに、第1メモリマット51においては
、メモリセル(以下、セルということがある。)70が
多数個、図3に示されているように、図中左側から右側
に向かう横正方向Xa、および、図中下側から上側に向
かう縦正方向Yのそれぞれに順次配列されている。第2
メモリマット52においてはセル70群が、周辺回路5
6が介在されて、図中右側から左側に向かう横逆方向X
b、および縦正方向Yのそれぞれに順次配列されている
。すなわち、第2メモリマット52において、セル70
群は第1メモリマット51のミラー反転パターンに構成
されている。そして、第3メモリマット53は第1メモ
リマット51と同様に、また、第4メモリマット54は
第2メモリマット52と同様に、セル70群がそれぞれ
順次配列されている。
、メモリセル(以下、セルということがある。)70が
多数個、図3に示されているように、図中左側から右側
に向かう横正方向Xa、および、図中下側から上側に向
かう縦正方向Yのそれぞれに順次配列されている。第2
メモリマット52においてはセル70群が、周辺回路5
6が介在されて、図中右側から左側に向かう横逆方向X
b、および縦正方向Yのそれぞれに順次配列されている
。すなわち、第2メモリマット52において、セル70
群は第1メモリマット51のミラー反転パターンに構成
されている。そして、第3メモリマット53は第1メモ
リマット51と同様に、また、第4メモリマット54は
第2メモリマット52と同様に、セル70群がそれぞれ
順次配列されている。
【0029】前記補助記憶装置3に記憶されるレイアウ
ト情報としては、ウエハにおける半導体記憶装置群の配
列情報、各半導体記憶装置のメモリマット群の配列情報
、メモリセル群の配列情報、メモリセルのサイズ情報、
周辺回路の配列情報、半導体記憶装置間の接続配線情報
等々があり、これらのレイアウト情報は半導体記憶装置
の開発段階で全てが使用されるため、全てが補助記憶装
置3に記憶されていることになる。
ト情報としては、ウエハにおける半導体記憶装置群の配
列情報、各半導体記憶装置のメモリマット群の配列情報
、メモリセル群の配列情報、メモリセルのサイズ情報、
周辺回路の配列情報、半導体記憶装置間の接続配線情報
等々があり、これらのレイアウト情報は半導体記憶装置
の開発段階で全てが使用されるため、全てが補助記憶装
置3に記憶されていることになる。
【0030】補助記憶装置3に記憶されたレイアウト情
報のうち、ホストCPU2を通じて簡易レイアウト情報
生成装置5に呼び出されるレイアウト情報は、半導体記
憶装置、メモリマット群およびメモリセル群の画像をセ
ル群画像表示装置8に段階的に拡大して表示させるのに
最低限必要な情報、および、この表示に基づいて不良セ
ルの実体像を不良セル観察装置13の視野内に配置させ
るのに最低限必要な情報であり、次の通りである。
報のうち、ホストCPU2を通じて簡易レイアウト情報
生成装置5に呼び出されるレイアウト情報は、半導体記
憶装置、メモリマット群およびメモリセル群の画像をセ
ル群画像表示装置8に段階的に拡大して表示させるのに
最低限必要な情報、および、この表示に基づいて不良セ
ルの実体像を不良セル観察装置13の視野内に配置させ
るのに最低限必要な情報であり、次の通りである。
【0031】まず、ウエハ50における半導体記憶装置
(以下、ペレットということがある。)60の配列に関
する情報を図2を参照にして示せば、ウエハ径61、ペ
レット60のXおよびY方向サイズ62X、62Y、各
ペレット60のXおよびY方向の配列番号63X、63
Yによりそれぞれ特定される各ペレット60についての
仮想原点64からペレット原点65までのXおよびY方
向の距離66X、66Y、に関する座標および寸法デー
タ、となる。
(以下、ペレットということがある。)60の配列に関
する情報を図2を参照にして示せば、ウエハ径61、ペ
レット60のXおよびY方向サイズ62X、62Y、各
ペレット60のXおよびY方向の配列番号63X、63
Yによりそれぞれ特定される各ペレット60についての
仮想原点64からペレット原点65までのXおよびY方
向の距離66X、66Y、に関する座標および寸法デー
タ、となる。
【0032】次に、メモリセル70に関する情報を図3
を参照にして示せば、各メモリセル70の基準点71の
位置をそれぞれ特定するための座標データであって、各
メモリセル70群のXおよびY方向配列番号72X、7
2Y、各メモリセル配列番号72X、72Yによってそ
れぞれ指定される各メモリセル70についてのペレット
原点65からメモリセル基準点71までのXおよびY方
向の距離73X、73Y、となる。ここで、メモリセル
70群のXおよびY方向の配列番号情報は、各セルの配
列方向情報に相当する。特に、各メモリセル70のX方
向についての配列番号72Xは、第2メモリマット52
および第4メモリマット54において、前述した通りミ
ラー反転パターンになるようにそれぞれ逆方向に送られ
ている(図3の番号参照)。そして、簡易レイアウト情
報生成装置5において、これらの情報により簡易レイア
ウト情報が作成される。
を参照にして示せば、各メモリセル70の基準点71の
位置をそれぞれ特定するための座標データであって、各
メモリセル70群のXおよびY方向配列番号72X、7
2Y、各メモリセル配列番号72X、72Yによってそ
れぞれ指定される各メモリセル70についてのペレット
原点65からメモリセル基準点71までのXおよびY方
向の距離73X、73Y、となる。ここで、メモリセル
70群のXおよびY方向の配列番号情報は、各セルの配
列方向情報に相当する。特に、各メモリセル70のX方
向についての配列番号72Xは、第2メモリマット52
および第4メモリマット54において、前述した通りミ
ラー反転パターンになるようにそれぞれ逆方向に送られ
ている(図3の番号参照)。そして、簡易レイアウト情
報生成装置5において、これらの情報により簡易レイア
ウト情報が作成される。
【0033】簡易レイアウト情報生成装置5にはセル群
レイアウト情報作成手段6が接続されており、セル群レ
イアウト情報作成手段6は簡易レイアウト情報生成装置
5により生成された簡易レイアウト情報に基づき、セル
70群のレイアウト情報を作成するように構成されてい
る。セル群レイアウト情報作成手段6にはセル群の模擬
画像を表示するための画像表示情報作成手段9が接続さ
れており、このセル群画像表示情報作成手段9はセル群
レイアウト情報作成手段6により作成されたセル群レイ
アウト情報に基づいて、各ペレット60内におけるセル
70群の模擬画像をセル群画像表示装置8の画面上に表
示するための情報を作成し、この画像情報をセル群画像
表示装置8の入力部に送信し、セル70群の模擬画像を
セル群画像表示装置8の画面上に表示させるように構成
されている。
レイアウト情報作成手段6が接続されており、セル群レ
イアウト情報作成手段6は簡易レイアウト情報生成装置
5により生成された簡易レイアウト情報に基づき、セル
70群のレイアウト情報を作成するように構成されてい
る。セル群レイアウト情報作成手段6にはセル群の模擬
画像を表示するための画像表示情報作成手段9が接続さ
れており、このセル群画像表示情報作成手段9はセル群
レイアウト情報作成手段6により作成されたセル群レイ
アウト情報に基づいて、各ペレット60内におけるセル
70群の模擬画像をセル群画像表示装置8の画面上に表
示するための情報を作成し、この画像情報をセル群画像
表示装置8の入力部に送信し、セル70群の模擬画像を
セル群画像表示装置8の画面上に表示させるように構成
されている。
【0034】他方、不良セル検出装置4はメモリテスタ
およびまたはウエハプローバ等の電気特性検査装置(図
示せず)を備えており、ウエハに作り込まれ各ペレット
について電気的特性検査を実施し、不良セルを検出する
ように構成されているとともに、その不良セルの位置を
論理アドレス配列による位置情報により特定するように
構成されている。
およびまたはウエハプローバ等の電気特性検査装置(図
示せず)を備えており、ウエハに作り込まれ各ペレット
について電気的特性検査を実施し、不良セルを検出する
ように構成されているとともに、その不良セルの位置を
論理アドレス配列による位置情報により特定するように
構成されている。
【0035】この不良セル検出装置4には不良セル位置
情報変換手段7が接続されており、この不良セル位置情
報変換手段7は前記簡易レイアウト情報生成装置5によ
り生成された簡易レイアウト情報に基づき、不良セル検
出装置4により検出された不良セルの論理アドレス配列
による位置情報を実体アドレス配列による位置情報に変
換するように構成されている。
情報変換手段7が接続されており、この不良セル位置情
報変換手段7は前記簡易レイアウト情報生成装置5によ
り生成された簡易レイアウト情報に基づき、不良セル検
出装置4により検出された不良セルの論理アドレス配列
による位置情報を実体アドレス配列による位置情報に変
換するように構成されている。
【0036】不良セル位置情報変換手段7には不良セル
画像表示情報作成手段10が接続されており、この不良
セル画像表示情報作成手段10は不良セル位置情報変換
手段7により変換された位置情報に基づき、不良セル7
0Aの模擬画像をセル群画像表示装置8の画面上に表示
するための情報を作成し、この画像情報をセル群画像表
示装置8の入力部に送信し、不良セル70Aの模擬画像
を前記セル群の模擬画像が表示された前記表示装置8の
画面上に重ね合わせて表示させるように構成されている
。
画像表示情報作成手段10が接続されており、この不良
セル画像表示情報作成手段10は不良セル位置情報変換
手段7により変換された位置情報に基づき、不良セル7
0Aの模擬画像をセル群画像表示装置8の画面上に表示
するための情報を作成し、この画像情報をセル群画像表
示装置8の入力部に送信し、不良セル70Aの模擬画像
を前記セル群の模擬画像が表示された前記表示装置8の
画面上に重ね合わせて表示させるように構成されている
。
【0037】セル群画像表示装置8はCRT等の適当な
ディスプレイ装置が用いられて構成されている。セル群
画像表示装置8にはマウス装置またはペンライト装置等
が用いられて構成されている指示装置11が接続されて
おり、この指示装置11には不良セル自動配置手段12
が接続されている。
ディスプレイ装置が用いられて構成されている。セル群
画像表示装置8にはマウス装置またはペンライト装置等
が用いられて構成されている指示装置11が接続されて
おり、この指示装置11には不良セル自動配置手段12
が接続されている。
【0038】不良セル自動配置手段12は他方において
前記不良セル情報変換手段7および不良セル観察装置1
3に接続されている。そして、セル70群の模擬画像が
表示されたセル群画像表示装置8の画面上に不良セル7
0Aの模擬画像が重ね合わされて表示された後、この表
示画面において、指示装置11が前記セル群70の模擬
画像における不良セル70Aの模擬画像の位置を指示す
ると、この指示に従って、不良セル自動配置手段12は
前記不良セル位置情報変換手段7による実体アドレス位
置情報に基づき、指示された不良セル70Aの実体像を
不良セル観察装置13の視野内に自動的に配置させるよ
うに構成されている。
前記不良セル情報変換手段7および不良セル観察装置1
3に接続されている。そして、セル70群の模擬画像が
表示されたセル群画像表示装置8の画面上に不良セル7
0Aの模擬画像が重ね合わされて表示された後、この表
示画面において、指示装置11が前記セル群70の模擬
画像における不良セル70Aの模擬画像の位置を指示す
ると、この指示に従って、不良セル自動配置手段12は
前記不良セル位置情報変換手段7による実体アドレス位
置情報に基づき、指示された不良セル70Aの実体像を
不良セル観察装置13の視野内に自動的に配置させるよ
うに構成されている。
【0039】不良セル観察装置13は、防振台14、X
Yステージ15、試料台16、ステージ制御部17、金
属顕微鏡18、レーザ顕微鏡19および不良セル実体像
表示装置20を備えている。試料台16は実際上の検査
対象ワークであるウエハ50が搭載されるように構成さ
れている。ステージ制御部17には不良セル自動配置手
段12が接続されており、ステージ制御部17は不良セ
ル自動配置手段12からの不良メモリセル70Aについ
ての位置情報に基づいてXYステージ15を移動させ、
試料台16上に搭載されたウエハ50におけるペレット
60の不良メモリセル70Aを金属顕微鏡18またはレ
ーザ顕微鏡19の視野内に移動させるように構成されて
いる。不良セル実体像表示装置20は工業用テレビカメ
ラおよびテレビ受像機等から構成されており、金属顕微
鏡18またはレーザ顕微鏡19の視野内の実体像をテレ
ビ画像をもって映し出すようになっている。
Yステージ15、試料台16、ステージ制御部17、金
属顕微鏡18、レーザ顕微鏡19および不良セル実体像
表示装置20を備えている。試料台16は実際上の検査
対象ワークであるウエハ50が搭載されるように構成さ
れている。ステージ制御部17には不良セル自動配置手
段12が接続されており、ステージ制御部17は不良セ
ル自動配置手段12からの不良メモリセル70Aについ
ての位置情報に基づいてXYステージ15を移動させ、
試料台16上に搭載されたウエハ50におけるペレット
60の不良メモリセル70Aを金属顕微鏡18またはレ
ーザ顕微鏡19の視野内に移動させるように構成されて
いる。不良セル実体像表示装置20は工業用テレビカメ
ラおよびテレビ受像機等から構成されており、金属顕微
鏡18またはレーザ顕微鏡19の視野内の実体像をテレ
ビ画像をもって映し出すようになっている。
【0040】次に、本発明の一実施例である半導体記憶
装置の不良メモリセル外観検査方法を、前記構成に係る
半導体記憶装置の不良メモリセル外観検査装置1が使用
される場合について、図1および図4を参照にして説明
する。
装置の不良メモリセル外観検査方法を、前記構成に係る
半導体記憶装置の不良メモリセル外観検査装置1が使用
される場合について、図1および図4を参照にして説明
する。
【0041】予め、簡易レイアウト情報生成装置5には
補助記憶装置3に記憶された全てのレイアウト情報のう
ち、前述した通り簡易レイアウトの作成に必要な前記情
報がホストCPU2を通じてインプットされる。そして
、簡易レイアウト情報生成装置5はインプットされた情
報により、簡易レイアウト情報を生成する。
補助記憶装置3に記憶された全てのレイアウト情報のう
ち、前述した通り簡易レイアウトの作成に必要な前記情
報がホストCPU2を通じてインプットされる。そして
、簡易レイアウト情報生成装置5はインプットされた情
報により、簡易レイアウト情報を生成する。
【0042】簡易レイアウト情報生成装置5において生
成された簡易レイアウト情報は、一方において、セル群
レイアウト情報作成手段6に供給される。このセル群レ
イアウト情報作成手段6においては簡易レイアウト情報
生成装置5により生成された簡易レイアウト情報に基づ
き、セル70群のレイアウト情報が作成される。
成された簡易レイアウト情報は、一方において、セル群
レイアウト情報作成手段6に供給される。このセル群レ
イアウト情報作成手段6においては簡易レイアウト情報
生成装置5により生成された簡易レイアウト情報に基づ
き、セル70群のレイアウト情報が作成される。
【0043】セル群レイアウト情報作成手段6において
作成されたセル群のレイアウト情報は、セル群画像表示
情報作成手段9に供給される。このセル群画像表示情報
作成手段9においてはセル群レイアウト情報に基づいて
、ウエハ50およびペレット60群におけるセル70群
の模擬画像をセル群画像表示装置8の画面上に表示する
ための情報が作成される。そして、この画像情報はセル
群画像表示情報作成手段9からセル群画像表示装置8の
入力部に適時供給される。
作成されたセル群のレイアウト情報は、セル群画像表示
情報作成手段9に供給される。このセル群画像表示情報
作成手段9においてはセル群レイアウト情報に基づいて
、ウエハ50およびペレット60群におけるセル70群
の模擬画像をセル群画像表示装置8の画面上に表示する
ための情報が作成される。そして、この画像情報はセル
群画像表示情報作成手段9からセル群画像表示装置8の
入力部に適時供給される。
【0044】セル群画像表示装置8においては、セル7
0群の模擬画像がその画面上に適時表示させるように準
備されていることになる。
0群の模擬画像がその画面上に適時表示させるように準
備されていることになる。
【0045】そして、半導体記憶装置の不良メモリセル
外観検査方法が実際に実施される際には、まず、実際上
の検査対象ワークであるウエハ50に対して不良セル検
出装置4により、ウエハ50に作り込まれたペレットに
ついて電気的特性検査が実施され、検査すべき不良セル
が検出かつ特定される。この際、検査対象ワークとして
のウエハ50には、例えば、実際上の半導体記憶装置の
製造ラインにおいて不良メモリセルが頻発したウエハ等
が選定され、これから実施される半導体記憶装置の不良
メモリセル外観検査方法により得られた検査データが、
実際の製造ラインにおける不良発生原因の究明等に利用
されることになる。この不良セル検出装置4による不良
セルの位置は、前述した通り論理アドレス配列による情
報により特定される。
外観検査方法が実際に実施される際には、まず、実際上
の検査対象ワークであるウエハ50に対して不良セル検
出装置4により、ウエハ50に作り込まれたペレットに
ついて電気的特性検査が実施され、検査すべき不良セル
が検出かつ特定される。この際、検査対象ワークとして
のウエハ50には、例えば、実際上の半導体記憶装置の
製造ラインにおいて不良メモリセルが頻発したウエハ等
が選定され、これから実施される半導体記憶装置の不良
メモリセル外観検査方法により得られた検査データが、
実際の製造ラインにおける不良発生原因の究明等に利用
されることになる。この不良セル検出装置4による不良
セルの位置は、前述した通り論理アドレス配列による情
報により特定される。
【0046】この不良セル検出装置4には不良セル位置
情報変換手段7が接続されており、この不良セル位置情
報変換手段7は前記簡易レイアウト情報生成装置5によ
り生成された簡易レイアウト情報に基づき、前記不良セ
ルの論理アドレス配列による位置情報を実体アドレス配
列による位置情報に変換する。このとき、簡易レイアウ
ト情報中、各メモリセル70群のX方向の配列番号72
Xは、第2メモリマット52および第4メモリマット5
4において、前述したように、ミラー反転パターンにな
るようにそれぞれ設定されているため、不良セル検出装
置4からの論理アドレス配列による不良セルの位置情報
は、実体アドレス配列による位置情報に変換されること
になる。
情報変換手段7が接続されており、この不良セル位置情
報変換手段7は前記簡易レイアウト情報生成装置5によ
り生成された簡易レイアウト情報に基づき、前記不良セ
ルの論理アドレス配列による位置情報を実体アドレス配
列による位置情報に変換する。このとき、簡易レイアウ
ト情報中、各メモリセル70群のX方向の配列番号72
Xは、第2メモリマット52および第4メモリマット5
4において、前述したように、ミラー反転パターンにな
るようにそれぞれ設定されているため、不良セル検出装
置4からの論理アドレス配列による不良セルの位置情報
は、実体アドレス配列による位置情報に変換されること
になる。
【0047】不良セル位置情報変換手段7には不良セル
画像表示情報作成手段10が接続されており、この不良
セル画像表示情報作成手段10は不良セル位置情報変換
手段7により変換された位置情報に基づき、不良セルの
模擬画像をセル群画像表示装置8の画面上に表示するた
めの情報を作成し、この画像情報をセル群画像表示装置
8の入力部に適時供給する。
画像表示情報作成手段10が接続されており、この不良
セル画像表示情報作成手段10は不良セル位置情報変換
手段7により変換された位置情報に基づき、不良セルの
模擬画像をセル群画像表示装置8の画面上に表示するた
めの情報を作成し、この画像情報をセル群画像表示装置
8の入力部に適時供給する。
【0048】セル群画像表示装置8において、不良画像
表示情報作成手段10から不良セルの模擬画像情報が供
給されるとともに、前記セル群画像表示情報作成手段9
からセル群の模擬画像情報が供給されると、不良セル7
0Aの模擬画像がセル群の模擬画像上に重ね合わされて
表示される。
表示情報作成手段10から不良セルの模擬画像情報が供
給されるとともに、前記セル群画像表示情報作成手段9
からセル群の模擬画像情報が供給されると、不良セル7
0Aの模擬画像がセル群の模擬画像上に重ね合わされて
表示される。
【0049】このとき、セル群の模擬画像および不良セ
ルの模擬画像は段階的に拡大して表示して行くことが可
能である。例えば、第1段階においては、図5に示され
ているように、ウエハ50の模擬画像50’が表示され
、このウエハ模擬画像50’に配列されている全ペレッ
ト60の模擬画像60’が表示される。このとき、ペレ
ット模擬画像60’群中にある不良セルを含むペレット
模擬画像60A’(通常、複数個である。以下、同じ。 )の位置が、網掛け表示等の適当な手段により明示され
る。第2段階においては、明示された不良セルを含むペ
レット模擬画像60A’が指定されることにより、第1
〜第4メモリマット模擬画像51’〜54’が図6に示
されているように、拡大表示される。このとき、このペ
レット模擬画像60A’における第1〜第4メモリマッ
ト模擬画像51’〜54’中にある不良セルを含むメモ
リマット模擬画像54A’の位置が、網掛け表示等の適
当な手段により明示される。第3段階においては、明示
された不良セルを含むメモリマット模擬画像54A’が
指定されることにより、メモリセル模擬画像70’群が
図7に示されているように、拡大表示される。 このとき、この不良メモリマット模擬画像54A’にお
けるメモリセル模擬画像70’群中にある不良セル模擬
画像70A’の位置が、網掛け表示等の適当な手段によ
り明示される。
ルの模擬画像は段階的に拡大して表示して行くことが可
能である。例えば、第1段階においては、図5に示され
ているように、ウエハ50の模擬画像50’が表示され
、このウエハ模擬画像50’に配列されている全ペレッ
ト60の模擬画像60’が表示される。このとき、ペレ
ット模擬画像60’群中にある不良セルを含むペレット
模擬画像60A’(通常、複数個である。以下、同じ。 )の位置が、網掛け表示等の適当な手段により明示され
る。第2段階においては、明示された不良セルを含むペ
レット模擬画像60A’が指定されることにより、第1
〜第4メモリマット模擬画像51’〜54’が図6に示
されているように、拡大表示される。このとき、このペ
レット模擬画像60A’における第1〜第4メモリマッ
ト模擬画像51’〜54’中にある不良セルを含むメモ
リマット模擬画像54A’の位置が、網掛け表示等の適
当な手段により明示される。第3段階においては、明示
された不良セルを含むメモリマット模擬画像54A’が
指定されることにより、メモリセル模擬画像70’群が
図7に示されているように、拡大表示される。 このとき、この不良メモリマット模擬画像54A’にお
けるメモリセル模擬画像70’群中にある不良セル模擬
画像70A’の位置が、網掛け表示等の適当な手段によ
り明示される。
【0050】次に、セル群画像表示装置8の画面上に表
示された不良セル模擬画像70A’の実体像70Aが観
察したい場合、まず、その不良セル70Aを含む実際上
の検査対象ワークであるウエハ50が不良セル観察装置
13の試料台16の上に搭載される。次いで、前述した
ようにして不良セル70Aの模擬画像70A’がセル群
画像表示装置8に表示された後に、このセル群画像表示
装置8に接続されている指示装置11により、所望の不
良セル模擬画像70A’が指示されると、指示された不
良セル模擬画像70A’の実体像70Aが不良セル観察
装置13における金属顕微鏡18またはレーザ顕微鏡1
9の視野内に自動的に配置される。
示された不良セル模擬画像70A’の実体像70Aが観
察したい場合、まず、その不良セル70Aを含む実際上
の検査対象ワークであるウエハ50が不良セル観察装置
13の試料台16の上に搭載される。次いで、前述した
ようにして不良セル70Aの模擬画像70A’がセル群
画像表示装置8に表示された後に、このセル群画像表示
装置8に接続されている指示装置11により、所望の不
良セル模擬画像70A’が指示されると、指示された不
良セル模擬画像70A’の実体像70Aが不良セル観察
装置13における金属顕微鏡18またはレーザ顕微鏡1
9の視野内に自動的に配置される。
【0051】すなわち、指示装置11には不良セル自動
配置手段12が接続されており、不良セル自動配置手段
12は他方において前記不良セル情報変換手段7および
不良セル観察装置13に接続されている。そして、セル
70群の模擬画像70’が表示されたセル群画像表示装
置8の画面上に不良セル70Aの模擬画像70A’が重
ね合わされて表示された後、この表示画面において、指
示装置11が前記セル群70の模擬画像70’における
不良セル70Aの模擬画像70A’の位置を指示すると
、この指示に従って、不良セル自動配置手段12は指示
された不良セル70Aについての前記不良セル位置情報
変換手段7による実体アドレス位置情報を呼び出し、そ
の実体アドレス位置情報に基づいて不良セル観察装置1
3における金属顕微鏡18またはレーザ顕微鏡19の視
野内に不良セル70Aの実体像を自動的に配置させる。
配置手段12が接続されており、不良セル自動配置手段
12は他方において前記不良セル情報変換手段7および
不良セル観察装置13に接続されている。そして、セル
70群の模擬画像70’が表示されたセル群画像表示装
置8の画面上に不良セル70Aの模擬画像70A’が重
ね合わされて表示された後、この表示画面において、指
示装置11が前記セル群70の模擬画像70’における
不良セル70Aの模擬画像70A’の位置を指示すると
、この指示に従って、不良セル自動配置手段12は指示
された不良セル70Aについての前記不良セル位置情報
変換手段7による実体アドレス位置情報を呼び出し、そ
の実体アドレス位置情報に基づいて不良セル観察装置1
3における金属顕微鏡18またはレーザ顕微鏡19の視
野内に不良セル70Aの実体像を自動的に配置させる。
【0052】つまり、不良セル観察装置13において、
ステージ制御部17には不良セル自動配置手段12が接
続されており、このステージ制御部17は不良セル自動
配置手段12からの不良メモリセル70Aについての位
置情報に基づいてXYステージ15を移動させ、試料台
16上に搭載されたウエハ50におけるペレット60の
不良メモリセル70Aの実体像を金属顕微鏡18または
レーザ顕微鏡19の視野内に移動させる。
ステージ制御部17には不良セル自動配置手段12が接
続されており、このステージ制御部17は不良セル自動
配置手段12からの不良メモリセル70Aについての位
置情報に基づいてXYステージ15を移動させ、試料台
16上に搭載されたウエハ50におけるペレット60の
不良メモリセル70Aの実体像を金属顕微鏡18または
レーザ顕微鏡19の視野内に移動させる。
【0053】さらに、不良メモリセル70Aの実体像を
不良セル実体像表示装置20によって観察したい場合に
は、金属顕微鏡18またはレーザ顕微鏡19の視野内の
実体像が適当な操作によってテレビ画像として映し出さ
れることになる。
不良セル実体像表示装置20によって観察したい場合に
は、金属顕微鏡18またはレーザ顕微鏡19の視野内の
実体像が適当な操作によってテレビ画像として映し出さ
れることになる。
【0054】次に、金属顕微鏡18またはレーザ顕微鏡
19の視野内、さらには、不良セル実体像表示装置20
の画面に映し出された不良メモリセル70Aの観察に基
づいて、その不良メモリセル70Aについての解析およ
び分析が適宜実行される。この解析および分析は、不良
メモリセルのパターンの欠け、ショート、変色、周囲の
状況、異物の存在等に関する観察によって実行される。
19の視野内、さらには、不良セル実体像表示装置20
の画面に映し出された不良メモリセル70Aの観察に基
づいて、その不良メモリセル70Aについての解析およ
び分析が適宜実行される。この解析および分析は、不良
メモリセルのパターンの欠け、ショート、変色、周囲の
状況、異物の存在等に関する観察によって実行される。
【0055】以降、前記作業が繰り返されることにより
、ペレット60の全て不良メモリセル70Aについての
解析および分析が実行される。さらには、半導体ウエハ
50の不良メモリセル70Aが存在する全てのペレット
60について、同様の解析および分析が実行される。
、ペレット60の全て不良メモリセル70Aについての
解析および分析が実行される。さらには、半導体ウエハ
50の不良メモリセル70Aが存在する全てのペレット
60について、同様の解析および分析が実行される。
【0056】次に、ペレット60の配線層、メセリセル
70の素子形成層、素子分離層等全ての層について、前
述の解析および分析が適宜実行される。ここで、解析お
よび分析する層が変更される際には、一旦、不良セル観
察装置13から検査対象ウエハ50が取り出され、この
ウエハ50の所定の層がエッチング工程により除去され
る。その後、再度、このウエハ50が試料台16にセッ
トされる。
70の素子形成層、素子分離層等全ての層について、前
述の解析および分析が適宜実行される。ここで、解析お
よび分析する層が変更される際には、一旦、不良セル観
察装置13から検査対象ウエハ50が取り出され、この
ウエハ50の所定の層がエッチング工程により除去され
る。その後、再度、このウエハ50が試料台16にセッ
トされる。
【0057】また、以上の解析および分析作業において
、前段の層の解析および分析により不良発生原因が判明
した不良メモリセルについては、検査時間を短縮化する
ために、次段の層の解析および分析時に、再度、解析お
よび分析が実行されないように、不良メモリセルの検出
時にジャンプ移動(通過移動)させる制御が自動的に実
施される。
、前段の層の解析および分析により不良発生原因が判明
した不良メモリセルについては、検査時間を短縮化する
ために、次段の層の解析および分析時に、再度、解析お
よび分析が実行されないように、不良メモリセルの検出
時にジャンプ移動(通過移動)させる制御が自動的に実
施される。
【0058】以上のようにして、検査ワークとしてのウ
エハ50のすべての層の解析および分析作業が終了する
と、ウエハ50は不良セル観察装置13から取り出され
る。そして、前記不良メモリセルのすべての解析および
分析の情報は、不良セル観察装置13に設備された専用
のCPU(図示せず)または前記ホストCPU2におい
て整理され、その結果がそれらのCPUにより適宜出力
される。
エハ50のすべての層の解析および分析作業が終了する
と、ウエハ50は不良セル観察装置13から取り出され
る。そして、前記不良メモリセルのすべての解析および
分析の情報は、不良セル観察装置13に設備された専用
のCPU(図示せず)または前記ホストCPU2におい
て整理され、その結果がそれらのCPUにより適宜出力
される。
【0059】前記実施例によれば次の効果が得られる。
■ 半導体記憶装置60の開発設計で作成した既存の
レイアウト情報を使用し、メモリセル70の配列、メモ
リセル70以外の回路配列を含めた実体アドレス空間上
の不良メモリセル70Aの位置と、実際の半導体記憶装
置60のメモリセル70の配列中の不良メモリセル70
Aの位置とを即座に一致させることができるため、実際
の半導体記憶装置60のメモリセル70群内における不
良メモリセル70Aの外観不良検査時間およびその解析
時間を短縮化することができる。
レイアウト情報を使用し、メモリセル70の配列、メモ
リセル70以外の回路配列を含めた実体アドレス空間上
の不良メモリセル70Aの位置と、実際の半導体記憶装
置60のメモリセル70の配列中の不良メモリセル70
Aの位置とを即座に一致させることができるため、実際
の半導体記憶装置60のメモリセル70群内における不
良メモリセル70Aの外観不良検査時間およびその解析
時間を短縮化することができる。
【0060】■ 実際の半導体記憶装置60のメモリ
セル70群中における各不良メモリセル70Aについて
の外観不良検査時間および解析時間を短縮できるので、
不良メモリセル70Aの解析情報を増加することができ
、不良メモリセル70Aの解析精度を向上させることが
できる。
セル70群中における各不良メモリセル70Aについて
の外観不良検査時間および解析時間を短縮できるので、
不良メモリセル70Aの解析情報を増加することができ
、不良メモリセル70Aの解析精度を向上させることが
できる。
【0061】■ 実体アドレス空間上における不良メ
モリセル70Aの位置と、実際の半導体記憶装置60の
メモリセル70群中における不良メモリセル70Aの位
置とを一致させることができるため、不良メモリセル7
0Aについての外観不良検査精度および解析精度(作業
者レベル)を均一化することができる。
モリセル70Aの位置と、実際の半導体記憶装置60の
メモリセル70群中における不良メモリセル70Aの位
置とを一致させることができるため、不良メモリセル7
0Aについての外観不良検査精度および解析精度(作業
者レベル)を均一化することができる。
【0062】■ 実体アドレス空間上での不良メモリ
セル70Aの位置情報を、半導体記憶装置60の開発設
計で作成した既存のレイアウト情報から作成することが
できるため、新たにレイアウト情報を作成することなく
、この新たなレイアウト情報の作成に相当する分、不良
メモリセル70Aについての外観不良検査時間および解
析時間を短縮化することができる。
セル70Aの位置情報を、半導体記憶装置60の開発設
計で作成した既存のレイアウト情報から作成することが
できるため、新たにレイアウト情報を作成することなく
、この新たなレイアウト情報の作成に相当する分、不良
メモリセル70Aについての外観不良検査時間および解
析時間を短縮化することができる。
【0063】■ メモリセル容量の増減や品種変更を
行っても、常時、実体アドレス空間上における不良メモ
リセル70Aの位置情報を半導体記憶装置60の開発設
計時に作成した既存のレイアウト情報に基づいて作成す
ることができるため、多品種の半導体記憶装置60の不
良メモリセル70Aについての外観不良検査および解析
を実施することができる。
行っても、常時、実体アドレス空間上における不良メモ
リセル70Aの位置情報を半導体記憶装置60の開発設
計時に作成した既存のレイアウト情報に基づいて作成す
ることができるため、多品種の半導体記憶装置60の不
良メモリセル70Aについての外観不良検査および解析
を実施することができる。
【0064】■ 半導体記憶装置60の開発設計で作
成した既存のレイアウト情報のうち、ペレット原点の情
報、メモリセル原点の情報およびメモリセル70の配列
方向情報の少ない情報に基づき、実体アドレス空間上に
おける不良メモリセル70Aについての位置情報を作成
することができるため、ホストCPU2における処理速
度(計算速度)を速くし、不良メモリセル70Aについ
ての外観不良検査時間および解析時間を短縮化すること
ができる。
成した既存のレイアウト情報のうち、ペレット原点の情
報、メモリセル原点の情報およびメモリセル70の配列
方向情報の少ない情報に基づき、実体アドレス空間上に
おける不良メモリセル70Aについての位置情報を作成
することができるため、ホストCPU2における処理速
度(計算速度)を速くし、不良メモリセル70Aについ
ての外観不良検査時間および解析時間を短縮化すること
ができる。
【0065】■ セル群画像表示装置8において、セ
ル70群の模擬画像70’群中に不良セル70Aの位置
を模擬的に表示させることができるため、不良セル観察
装置13に所望の不良メモリセル70Aの実体像を自動
的に配置されるに際して、正確かつ迅速に表示させるこ
とができる。
ル70群の模擬画像70’群中に不良セル70Aの位置
を模擬的に表示させることができるため、不良セル観察
装置13に所望の不良メモリセル70Aの実体像を自動
的に配置されるに際して、正確かつ迅速に表示させるこ
とができる。
【0066】■ 前記■において、不良メモリセル7
0Aの位置を模擬的に表示させるに際して、ウエハ模擬
画像50’、ペレット模擬画像60’およびセル模擬画
像70’と段階的に拡大表示させて行くことにより、不
良メモリセル70Aの実体位置を具体的に認識すること
ができるとともに、不良メモリセル70Aの実体像自動
配置が実行し易くなる。
0Aの位置を模擬的に表示させるに際して、ウエハ模擬
画像50’、ペレット模擬画像60’およびセル模擬画
像70’と段階的に拡大表示させて行くことにより、不
良メモリセル70Aの実体位置を具体的に認識すること
ができるとともに、不良メモリセル70Aの実体像自動
配置が実行し易くなる。
【0067】■ 前記■において、セル群画像表示装
置8に表示された不良セル70Aの模擬画像70A’が
指示装置11によって指示されると、その指示された不
良セル70Aの実体像が不良セル観察装置13の視野内
に自動的に配置されるように構成することにより、不良
セルについての外観検査時間および解析時間をより一層
短縮化することができる。
置8に表示された不良セル70Aの模擬画像70A’が
指示装置11によって指示されると、その指示された不
良セル70Aの実体像が不良セル観察装置13の視野内
に自動的に配置されるように構成することにより、不良
セルについての外観検査時間および解析時間をより一層
短縮化することができる。
【0068】図8は本発明の実施例2である半導体記憶
装置の不良セル観察装置を示すブロック図、である。本
実施例2が前記実施例1と異なる点は、半導体記憶装置
についての製造ラインにおける異物検査データおよびウ
エハ外観欠陥検査データを、不良セルの外観検査および
解析に利用し得るように構成されている点、にある。
装置の不良セル観察装置を示すブロック図、である。本
実施例2が前記実施例1と異なる点は、半導体記憶装置
についての製造ラインにおける異物検査データおよびウ
エハ外観欠陥検査データを、不良セルの外観検査および
解析に利用し得るように構成されている点、にある。
【0069】すなわち、ホストCPU2には製造ライン
にそれぞれ設備されている異物検査装置21およびウエ
ハ外観欠陥検査装置22が接続されており、ホストCP
U2はこれら異物検査装置21およびウエハ外観欠陥検
査装置22からの検査データを補助記憶装置3に適宜記
憶するようになっている。異物検査装置21は半導体記
憶装置の製造ラインにおける所謂前工程に適宜設備され
ており、各プロセスにおいてウエハの表面に付着した異
物を光学的に検出し、その異物のウエハ上における存在
位置を実体アドレス配列による位置情報により特定する
とともに、その大きさも特定するように構成されている
。また、ウエハ外観欠陥検査装置22は同様に、ウエハ
上に形成されたパターンについての欠陥を光学的に検出
し、その欠陥のウエハ上における存在位置を実体アドレ
ス配列による位置情報により特定するとともに、その大
きさも特定するように構成されている。そして、これら
異物位置および欠陥の情報は実体アドレス配列であるた
め、セル群についての位置情報と一致するようになって
いる。
にそれぞれ設備されている異物検査装置21およびウエ
ハ外観欠陥検査装置22が接続されており、ホストCP
U2はこれら異物検査装置21およびウエハ外観欠陥検
査装置22からの検査データを補助記憶装置3に適宜記
憶するようになっている。異物検査装置21は半導体記
憶装置の製造ラインにおける所謂前工程に適宜設備され
ており、各プロセスにおいてウエハの表面に付着した異
物を光学的に検出し、その異物のウエハ上における存在
位置を実体アドレス配列による位置情報により特定する
とともに、その大きさも特定するように構成されている
。また、ウエハ外観欠陥検査装置22は同様に、ウエハ
上に形成されたパターンについての欠陥を光学的に検出
し、その欠陥のウエハ上における存在位置を実体アドレ
ス配列による位置情報により特定するとともに、その大
きさも特定するように構成されている。そして、これら
異物位置および欠陥の情報は実体アドレス配列であるた
め、セル群についての位置情報と一致するようになって
いる。
【0070】なお、図8において、23は異物欠陥画像
表示情報作成手段であり、異物・欠陥の位置情報および
大きさ情報に基づいて異物および欠陥の画像を模擬的に
表示するための画像表示情報を作成し、セル群画像表示
装置8に適宜供給するように構成されている。
表示情報作成手段であり、異物・欠陥の位置情報および
大きさ情報に基づいて異物および欠陥の画像を模擬的に
表示するための画像表示情報を作成し、セル群画像表示
装置8に適宜供給するように構成されている。
【0071】次に、本発明の実施例2である半導体記憶
装置の不良メモリセル外観検査方法を、前記構成に係る
半導体記憶装置の不良メモリセル外観検査装置1Aが使
用される場合について、図8および図9を参照にして説
明する。但し、本実施例2が前記実施例1と異なる点は
、半導体記憶装置についての製造ラインにおける異物検
査データおよび外観欠陥検査データを不良メモリセルの
外観検査および解析に利用する点にあるので、その点に
ついて特に説明する。
装置の不良メモリセル外観検査方法を、前記構成に係る
半導体記憶装置の不良メモリセル外観検査装置1Aが使
用される場合について、図8および図9を参照にして説
明する。但し、本実施例2が前記実施例1と異なる点は
、半導体記憶装置についての製造ラインにおける異物検
査データおよび外観欠陥検査データを不良メモリセルの
外観検査および解析に利用する点にあるので、その点に
ついて特に説明する。
【0072】今、図10に示されているように、セル群
画像表示装置8にセル70群の模擬画像70’が表示さ
れるとともに、不良セル70Aの模擬画像70A’が重
ね合わせて表示された際、予め異物検査装置21および
ウエハ外観欠陥検査装置22により収集されて、補助記
憶装置3に記憶されている異物および欠陥についての位
置情報が、ホストCPUを通じて呼び出され、異物欠陥
画像表示情報作成手段23に送信される。この作成手段
23は入力された情報に基づいて異物および欠陥(以下
、欠陥という。)70Bの模擬画像(以下、欠陥模擬画
像という。)70B’を表示するための情報を作成し、
セル群画像表示装置8へ供給する。これにより、セル群
画像表示装置8においては、セル模擬画像70’、不良
セル模擬画像70A’に欠陥模擬画像70Bが重ね合わ
されて表示される。このとき、セル群模擬画像、不良セ
ル模擬画像および異物欠陥模擬画像は、図11および図
12に示されているように、前記実施例1と同様に段陥
的に拡大表示して行くことが可能である。
画像表示装置8にセル70群の模擬画像70’が表示さ
れるとともに、不良セル70Aの模擬画像70A’が重
ね合わせて表示された際、予め異物検査装置21および
ウエハ外観欠陥検査装置22により収集されて、補助記
憶装置3に記憶されている異物および欠陥についての位
置情報が、ホストCPUを通じて呼び出され、異物欠陥
画像表示情報作成手段23に送信される。この作成手段
23は入力された情報に基づいて異物および欠陥(以下
、欠陥という。)70Bの模擬画像(以下、欠陥模擬画
像という。)70B’を表示するための情報を作成し、
セル群画像表示装置8へ供給する。これにより、セル群
画像表示装置8においては、セル模擬画像70’、不良
セル模擬画像70A’に欠陥模擬画像70Bが重ね合わ
されて表示される。このとき、セル群模擬画像、不良セ
ル模擬画像および異物欠陥模擬画像は、図11および図
12に示されているように、前記実施例1と同様に段陥
的に拡大表示して行くことが可能である。
【0073】次に、セル群画像表示装置8の画面上に表
示された不良セル70Aの実体像が観察される際、ホス
トCPU2による欠陥70Bの呼び出し対象となり、か
つ、不良セル検出装置4によって不良セル70Aの検出
が実行された同一のウエハ50が不良セル観察装置13
の試料台16の上に搭載される。つまり、不良セル70
Aと欠陥70Bとのデータ整合が確保される。この整合
は品種、工程、ロット番号、ウエハ番号、検査日付、検
査時間等に基づいて補助記憶装置3に記憶されている所
定ウエハのデータがホストCPU2を通じて呼び出され
ることにより、簡単に保てる。
示された不良セル70Aの実体像が観察される際、ホス
トCPU2による欠陥70Bの呼び出し対象となり、か
つ、不良セル検出装置4によって不良セル70Aの検出
が実行された同一のウエハ50が不良セル観察装置13
の試料台16の上に搭載される。つまり、不良セル70
Aと欠陥70Bとのデータ整合が確保される。この整合
は品種、工程、ロット番号、ウエハ番号、検査日付、検
査時間等に基づいて補助記憶装置3に記憶されている所
定ウエハのデータがホストCPU2を通じて呼び出され
ることにより、簡単に保てる。
【0074】続いて、不良セル模擬画像70A’および
欠陥の模擬画像70B’が同時にセル群画像表示装置8
に表示された後に、このセル群画像表示装置8に接続さ
れている指示装置11により、不良セルの模擬画像70
A’と欠陥の模擬画像70B’とが重複する所望の不良
セル70Aの模擬画像70A’が指示される。この指示
により、指示された不良セル70Aの実体像が不良セル
観察装置13における金属顕微鏡18またはレーザ顕微
鏡19の視野内に自動的に配置される。この不良セル7
0Aの実体像は所定の段階において異物およびパターン
の欠陥を表示することになるため、不良セル70Aの外
観検査および解析、並びにそれに基づく不良原因や致命
欠陥の究明が迅速かつやり易くなる。
欠陥の模擬画像70B’が同時にセル群画像表示装置8
に表示された後に、このセル群画像表示装置8に接続さ
れている指示装置11により、不良セルの模擬画像70
A’と欠陥の模擬画像70B’とが重複する所望の不良
セル70Aの模擬画像70A’が指示される。この指示
により、指示された不良セル70Aの実体像が不良セル
観察装置13における金属顕微鏡18またはレーザ顕微
鏡19の視野内に自動的に配置される。この不良セル7
0Aの実体像は所定の段階において異物およびパターン
の欠陥を表示することになるため、不良セル70Aの外
観検査および解析、並びにそれに基づく不良原因や致命
欠陥の究明が迅速かつやり易くなる。
【0075】本実施例2によれば、不良セル検出装置4
によって検出された不良セル70Aと、異物検査装置2
1およびウエハ外観欠陥検査装置22によって検出され
た欠陥70Bとを、同一のウエハ上で照合させることが
できるため、不良セル70Aの外観欠陥検査時間および
その解析時間をより一層短縮化することができるととも
に、不良原因や致命欠陥の発生原因等の究明を迅速かつ
容易化することができる。
によって検出された不良セル70Aと、異物検査装置2
1およびウエハ外観欠陥検査装置22によって検出され
た欠陥70Bとを、同一のウエハ上で照合させることが
できるため、不良セル70Aの外観欠陥検査時間および
その解析時間をより一層短縮化することができるととも
に、不良原因や致命欠陥の発生原因等の究明を迅速かつ
容易化することができる。
【0076】なお、前記実施例2においては、不良セル
模擬画像70A’および欠陥模擬画像70B’をセル群
の模擬画像70’に模擬的に表示するように構成した場
合につき説明したが、模擬表示せずに直接的に不良セル
70Aの実体位置と欠陥70Bの実体位置とが重なり合
った不良セル70Aの実体像が不良セル観察装置13の
視野内に自動的に配置されるように構成してもよい。
模擬画像70A’および欠陥模擬画像70B’をセル群
の模擬画像70’に模擬的に表示するように構成した場
合につき説明したが、模擬表示せずに直接的に不良セル
70Aの実体位置と欠陥70Bの実体位置とが重なり合
った不良セル70Aの実体像が不良セル観察装置13の
視野内に自動的に配置されるように構成してもよい。
【0077】すなわち、この半導体記憶装置の不良メモ
リセル外観検査装置は、前記半導体記憶装置について異
物検査が実施され異物が検出されるとともに、その異物
の半導体記憶装置における位置が実体アドレス配列によ
る位置情報により特定される異物検査装置と、前記半導
体記憶装置について外観欠陥検査が実施され外観欠陥が
検出されるとともに、その外観欠陥の半導体記憶装置に
おける位置が実体アドレス配列による位置情報により特
定される外観欠陥検査装置と、前記半導体記憶装置につ
いて電気的特性検査が実施され不良セルが検出されると
ともに、その不良セルの位置が論理アドレス配列による
位置情報により特定される不良セル検出装置と、前記半
導体記憶装置についてのレイアウト情報のうち、セル配
列の原点情報、この原点からの各セルの位置情報、およ
び、各セルの配列方向情報による簡易レイアウト情報を
生成する簡易レイアウト情報生成装置と、この簡易レイ
アウト情報に基づき、前記不良セルの論理アドレス配列
による位置情報が実体アドレス配列による位置情報に変
換される不良セル位置情報変換手段と、この不良セルの
位置情報と、前記異物および外観欠陥についての各位置
情報とを照合し、異物および外観欠陥の位置と同一位置
のまたは異なる位置の不良セルの実体像を、不良セルの
位置情報に基づいて不良セル観察装置の視野内に自動的
に配置させ、この不良セルにつき外観検査が実際に実施
される不良セル観察装置と、を備えている。
リセル外観検査装置は、前記半導体記憶装置について異
物検査が実施され異物が検出されるとともに、その異物
の半導体記憶装置における位置が実体アドレス配列によ
る位置情報により特定される異物検査装置と、前記半導
体記憶装置について外観欠陥検査が実施され外観欠陥が
検出されるとともに、その外観欠陥の半導体記憶装置に
おける位置が実体アドレス配列による位置情報により特
定される外観欠陥検査装置と、前記半導体記憶装置につ
いて電気的特性検査が実施され不良セルが検出されると
ともに、その不良セルの位置が論理アドレス配列による
位置情報により特定される不良セル検出装置と、前記半
導体記憶装置についてのレイアウト情報のうち、セル配
列の原点情報、この原点からの各セルの位置情報、およ
び、各セルの配列方向情報による簡易レイアウト情報を
生成する簡易レイアウト情報生成装置と、この簡易レイ
アウト情報に基づき、前記不良セルの論理アドレス配列
による位置情報が実体アドレス配列による位置情報に変
換される不良セル位置情報変換手段と、この不良セルの
位置情報と、前記異物および外観欠陥についての各位置
情報とを照合し、異物および外観欠陥の位置と同一位置
のまたは異なる位置の不良セルの実体像を、不良セルの
位置情報に基づいて不良セル観察装置の視野内に自動的
に配置させ、この不良セルにつき外観検査が実際に実施
される不良セル観察装置と、を備えている。
【0078】そして、この半導体記憶装置の不良メモリ
セル外観検査装置による不良メモリセル外観検査方法は
、前記半導体記憶装置について異物検査が実施され異物
が検出されるとともに、その異物の半導体記憶装置にお
ける位置が実体アドレス配列による位置情報により特定
される異物検査工程と、前記半導体記憶装置について外
観欠陥検査が実施され外観欠陥が検出されるとともに、
その外観欠陥の半導体記憶装置における位置が実体アド
レス配列による位置情報により特定される外観欠陥検査
工程と、前記半導体記憶装置について電気的特性検査が
実施され不良セルが検出されるとともに、その不良セル
の位置が論理アドレス配列による位置情報により特定さ
れる不良セル検出工程と、前記半導体記憶装置について
のレイアウト情報のうち、セル配列の原点情報、この原
点からの各セルの位置情報、および、各セルの配列方向
情報による簡易レイアウト情報を生成する簡易レイアウ
ト情報生成工程と、この簡易レイアウト情報に基づき、
前記不良セルの論理アドレス配列による位置情報が実体
アドレス配列による位置情報に変換される不良セル位置
情報変換工程と、この不良セルの位置情報と、前記異物
および外観欠陥についての各位置情報とを照合し、異物
および外観欠陥の位置と同一位置の、または異なる位置
の不良セルの実体像を、不良セルの位置情報に基づいて
不良セル観察装置の視野内に自動的に配置させ、この不
良セルにつき外観検査が実際に実施される不良セル外観
検査工程と、を備えることになる。
セル外観検査装置による不良メモリセル外観検査方法は
、前記半導体記憶装置について異物検査が実施され異物
が検出されるとともに、その異物の半導体記憶装置にお
ける位置が実体アドレス配列による位置情報により特定
される異物検査工程と、前記半導体記憶装置について外
観欠陥検査が実施され外観欠陥が検出されるとともに、
その外観欠陥の半導体記憶装置における位置が実体アド
レス配列による位置情報により特定される外観欠陥検査
工程と、前記半導体記憶装置について電気的特性検査が
実施され不良セルが検出されるとともに、その不良セル
の位置が論理アドレス配列による位置情報により特定さ
れる不良セル検出工程と、前記半導体記憶装置について
のレイアウト情報のうち、セル配列の原点情報、この原
点からの各セルの位置情報、および、各セルの配列方向
情報による簡易レイアウト情報を生成する簡易レイアウ
ト情報生成工程と、この簡易レイアウト情報に基づき、
前記不良セルの論理アドレス配列による位置情報が実体
アドレス配列による位置情報に変換される不良セル位置
情報変換工程と、この不良セルの位置情報と、前記異物
および外観欠陥についての各位置情報とを照合し、異物
および外観欠陥の位置と同一位置の、または異なる位置
の不良セルの実体像を、不良セルの位置情報に基づいて
不良セル観察装置の視野内に自動的に配置させ、この不
良セルにつき外観検査が実際に実施される不良セル外観
検査工程と、を備えることになる。
【0079】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば、不
良セル観察装置13には、金属顕微鏡およびレーザ顕微
鏡の他に走査型電子顕微鏡やX線検出器等を設備するよ
うに構成してもよい。
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば、不
良セル観察装置13には、金属顕微鏡およびレーザ顕微
鏡の他に走査型電子顕微鏡やX線検出器等を設備するよ
うに構成してもよい。
【0080】また、検査対象は半導体記憶装置のメモリ
セルに限定されず、論理回路が規則的に多数配列された
半導体集積回路装置のセル等にも適用することができる
。
セルに限定されず、論理回路が規則的に多数配列された
半導体集積回路装置のセル等にも適用することができる
。
【0081】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものの概要を説明すれば、次の通りである。セル群
画像表示装置において、セル群の模擬画像中に不良セル
の位置を模擬的に表示させることにより、作業者に不良
セルの半導体装置における実際上の具体的位置を視覚的
に認識させることができるため、不良セル観察装置の視
野内に所望の不良セルを自動的に配置させるに際して、
所望の位置の不良セルを正確かつ迅速に配置させること
ができる。
的なものの概要を説明すれば、次の通りである。セル群
画像表示装置において、セル群の模擬画像中に不良セル
の位置を模擬的に表示させることにより、作業者に不良
セルの半導体装置における実際上の具体的位置を視覚的
に認識させることができるため、不良セル観察装置の視
野内に所望の不良セルを自動的に配置させるに際して、
所望の位置の不良セルを正確かつ迅速に配置させること
ができる。
【図1】本発明の一実施例である半導体記憶装置の不良
メモリセル外観検査装置を示すブロック図である。
メモリセル外観検査装置を示すブロック図である。
【図2】ウエハ内のレイアウトを示す概略平面図である
。
。
【図3】ペレット内のレイアウトを示す概略平面図であ
る。
る。
【図4】本発明の一実施例である半導体記憶装置の不良
セル外観検査方法を示す工程図である。
セル外観検査方法を示す工程図である。
【図5】セル群画像表示装置のウエハ模擬画像表示画面
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図6】セル群画像表示装置のペレット模擬画像表示画
面を示す説明図である。
面を示す説明図である。
【図7】セル群画像表示装置の不良セル模擬画像表示画
面を示す説明図である。
面を示す説明図である。
【図8】本発明の他の実施例である半導体記憶装置の不
良メモリセル外観検査装置を示すブロック図である。
良メモリセル外観検査装置を示すブロック図である。
【図9】本発明の他の実施例である半導体記憶装置の不
良メモリセル外観検査方法を示す工程図である。
良メモリセル外観検査方法を示す工程図である。
【図10】セル群画像表示装置のウエハ模擬画像表示画
面を示す説明図である。
面を示す説明図である。
【図11】セル群画像表示装置のウエハ模擬画像表示画
面を示す説明図である。
面を示す説明図である。
【図12】セル群画像表示装置のペレット模擬画像表示
画面を示す説明図である。
画面を示す説明図である。
1、1A…半導体記憶装置の不良セル観察装置(半導体
装置の検査装置)、2…ホストCPU、3…補助記憶装
置、4…不良セル検出装置、5…簡易レイアウト情報生
成装置、6…セル群レイアウト情報作成手段、7…不良
セル位置情報変換手段、8…セル群画像表示装置、9…
セル群画像表示情報作成手段、10…不良セル画像表示
情報作成手段、11…指示装置、12…不良セル自動配
置手段、13…不良セル観察装置、14…防振台、15
…XYステージ、16…試料台、17…ステージ制御部
、18…金属顕微鏡、19…レーザ顕微鏡、20…不良
セル実体像表示装置、21…異物検査装置、22…ウエ
ハ外観欠陥装置、23…異物欠陥画像表示情報作成手段
、50…半導体ウエハ、51〜54…メモリマット、5
5…ボンディングパッド、56…周辺回路、60…半導
体記憶装置(ペレット)、61…ウエハ径、62X、6
2Y…ペレットのサイズ、63X、63Y…ペレットの
配列番号、64…ペレットの仮想原点、65…ペレット
原点、66X、66Y…ペレットの仮想原点からペレッ
ト原点までの距離、70…メモリセル、70A…不良メ
モリセル、71…メモリセルの基準点、72X、72Y
…メモリセルの配列番号、73X、73Y…ペレット原
点からメモリセル基準点までの距離。
装置の検査装置)、2…ホストCPU、3…補助記憶装
置、4…不良セル検出装置、5…簡易レイアウト情報生
成装置、6…セル群レイアウト情報作成手段、7…不良
セル位置情報変換手段、8…セル群画像表示装置、9…
セル群画像表示情報作成手段、10…不良セル画像表示
情報作成手段、11…指示装置、12…不良セル自動配
置手段、13…不良セル観察装置、14…防振台、15
…XYステージ、16…試料台、17…ステージ制御部
、18…金属顕微鏡、19…レーザ顕微鏡、20…不良
セル実体像表示装置、21…異物検査装置、22…ウエ
ハ外観欠陥装置、23…異物欠陥画像表示情報作成手段
、50…半導体ウエハ、51〜54…メモリマット、5
5…ボンディングパッド、56…周辺回路、60…半導
体記憶装置(ペレット)、61…ウエハ径、62X、6
2Y…ペレットのサイズ、63X、63Y…ペレットの
配列番号、64…ペレットの仮想原点、65…ペレット
原点、66X、66Y…ペレットの仮想原点からペレッ
ト原点までの距離、70…メモリセル、70A…不良メ
モリセル、71…メモリセルの基準点、72X、72Y
…メモリセルの配列番号、73X、73Y…ペレット原
点からメモリセル基準点までの距離。
Claims (9)
- 【請求項1】 半導体装置の規則的に配列された複数
個のセルのうち、不良セルを検査する半導体装置の検査
方法において、前記半導体装置について電気的特性検査
が実施され不良セルが検出されるとともに、その不良セ
ルの位置が論理アドレス配列による位置情報により特定
される不良セル検出工程と、前記半導体装置についての
レイアウト情報のうち、セル配列の原点情報、この原点
からの各セルの位置情報、および、各セルの配列方向情
報による簡易レイアウト情報を生成する簡易レイアウト
情報生成工程と、この簡易レイアウト情報に基づき、前
記セル群のレイアウト情報が作成されるセル群レイアウ
ト情報作成工程と、前記簡易レイアウト情報に基づき、
前記不良セルの論理アドレス配列による位置情報が実体
アドレス配列による位置情報に変換される不良セル位置
情報変換工程と、前記セル群レイアウト情報に基づき、
前記半導体装置のセル群の模擬画像を表示装置の画面上
に表示するための情報が作成され、この情報に基づきセ
ル群の模擬画像が表示装置の画面上に表示されるセル群
画像表示工程と、前記不良セル位置情報変換工程による
情報に基づき、不良セルの模擬画像をセル群画像表示装
置の画面上に表示するための情報が作成され、この情報
に基づき不良セルの模擬画像が前記セル群の模擬画像が
表示されたセル群画像表示装置の画面上に重ね合わせさ
れて表示される模擬画像表示工程と、を備えていること
を特徴とする半導体装置の検査方法。 - 【請求項2】 前記請求項1の半導体装置の検査方法
であって、セル群の模擬画像が表示されたセル群画像表
示装置の画面上に不良セルの模擬画像が重ね合わされて
表示された後、この表示画面において、前記セル群の模
擬画像における不良セルの模擬画像の位置を指示する指
示工程と、この指示に従って指示された不良セルの実体
像を、前記不良セル位置情報変換工程による情報に基づ
き、不良セル観察装置の視野内に自動的に配置させ、こ
の不良セルにつき外観検査が実際に実施される外観検査
工程と、を備えていることを特徴とする半導体装置の検
査方法。 - 【請求項3】 前記半導体装置のセル群の模擬画像お
よび不良セルの模擬画像の表示が段階的に拡大表示され
ることを特徴とする請求項1または請求項2の半導体装
置の検査方法。 - 【請求項4】 半導体装置の規則的に配列された複数
個のセルのうち、不良セルを検査する半導体装置の検査
方法において、前記半導体装置について異物検査が実施
され異物が検出されるとともに、その異物の半導体装置
における位置が実体アドレス配列による位置情報により
特定される異物検査工程と、前記半導体装置について外
観欠陥検査が実施され外観欠陥が検出されるとともに、
その外観欠陥の半導体装置における位置が実体アドレス
配列による位置情報により特定される外観欠陥検査工程
と、前記半導体装置について電気的特性検査が実施され
不良セルが検出されるとともに、その不良セルの位置が
論理アドレス配列による位置情報により特定される不良
セル検出工程と、前記半導体装置についてのレイアウト
情報のうち、セル配列の原点情報、この原点からの各セ
ルの位置情報、および、各セルの配列方向情報による簡
易レイアウト情報を生成する簡易レイアウト情報生成工
程と、この簡易レイアウト情報に基づき、前記不良セル
の論理アドレス配列による位置情報が実体アドレス配列
による位置情報に変換される不良セル位置情報変換工程
と、この不良セルの位置情報と、前記異物および外観欠
陥についての各位置情報とを照合し、異物および外観欠
陥の位置と同一位置の、または異なる位置の不良セルの
実体像を、不良セルの位置情報に基づいて不良セル観察
装置の視野内に自動的に配置させ、この不良セルにつき
外観検査が実際に実施される不良セル外観検査工程と、
を備えていることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 【請求項5】 半導体装置の規則的に配列された複数
個のセルのうち、不良セルを検査する半導体装置の検査
方法において、前記半導体装置について異物検査が実施
され異物が検出されるとともに、その異物の半導体装置
における位置が実体アドレス配列による位置情報により
特定される異物検査工程と、前記半導体装置について外
観欠陥検査が実施され外観欠陥が検出されるとともに、
その外観欠陥の半導体装置における位置が実体アドレス
配列による位置情報により特定される外観欠陥検査工程
と、前記半導体装置について電気的特性検査が実施され
不良セルが検出されるとともに、その不良セルの位置が
論理アドレス配列による情報により特定される不良セル
検出工程と、前記半導体装置についてのレイアウト情報
のうち、セル配列の原点情報、この原点からの各セルの
位置情報、および、各セルの配列方向情報による簡易レ
イアウト情報を生成する簡易レイアウト情報生成工程と
、この簡易レイアウト情報に基づき、前記セル群のレイ
アウト情報が作成されるセル群レイアウト情報作成工程
と、前記簡易レイアウト情報に基づき、前記不良セルの
論理アドレス配列による位置情報が実体アドレス配列に
よる位置情報に変換される不良セル位置情報変換工程と
、前記セル群レイアウト情報に基づき、前記半導体装置
のセル群の模擬画像をセル群画像表示装置の画面上に表
示するための情報が作成され、この情報に基づきセル群
の模擬画像がセル群画像表示装置の画面上に表示される
セル群画像表示工程と、前記不良セル位置情報変換工程
による情報に基づいて不良セルの模擬画像をセル群画像
表示装置の画面上に表示するための情報が作成され、こ
の情報に基づき不良セルの模擬画像が前記セル群の模擬
画像が表示されたセル群画像表示装置の画面上に重ね合
わせされて表示されるとともに、前記異物および外観欠
陥についての各位置情報に基づいて異物および外観欠陥
の模擬画像をセル群画像表示装置の画面上に表示するた
めの情報が作成され、この情報に基づき異物および外観
欠陥の模擬画像が、前記セル群の模擬画像および不良セ
ルの模擬画像が表示されたセル群画像表示装置に重ね合
わされて表示される模擬画像表示工程と、を備えている
ことを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 【請求項6】 半導体装置の規則的に配列された複数
個のセルのうち、不良セルを検査する半導体装置の検査
装置において、前記半導体装置について電気的特性検査
が実施され不良セルが検出されるとともに、その不良セ
ルの位置が論理アドレス配列による位置情報により特定
される不良セル検出装置と、前記半導体装置についての
レイアウト情報のうち、セル配列の原点情報、この原点
からの各セルの位置情報、および、各セルの配列方向情
報による簡易レイアウト情報を生成する簡易レイアウト
情報生成装置と、この簡易レイアウト情報に基づき、前
記セル群のレイアウト情報が作成されるセル群レイアウ
ト情報作成手段と、前記簡易レイアウト情報に基づき、
前記不良セルの論理アドレス配列による位置情報が実体
アドレス配列による位置情報に変換される不良セル位置
情報変換手段と、セル群の模擬画像を画面上に表示する
ためのセル群画像表示装置と、前記セル群レイアウト情
報に基づき、前記半導体装置のセル群の模擬画像を前記
セル群画像表示装置の画面上に表示するための情報が作
成され、この情報に基づきセル群の模擬画像を前記セル
群画像表示装置の画面上に表示させるセル群画像表示情
報作成手段と、前記不良セル位置情報変換手段による情
報に基づき、不良セルの模擬画像を前記セル群画像表示
装置の画面上に表示するための情報が作成され、この情
報に基づき不良セルの模擬画像を前記セル群の模擬画像
が表示された前記セル群画像表示装置の画面上に重ね合
わせて表示させる不良セル画像表示情報作成手段と、を
備えていることを特徴とする半導体装置の検査装置。 - 【請求項7】 前記請求項4の半導体装置の検査装置
であって、セル群の模擬画像が表示されたセル群画像表
示装置の画面上に不良セルの模擬画像が重ね合わされて
表示された後、このセル群画像表示画面において、前記
セル群の模擬画像における不良セルの模擬画像の位置を
指示する指示装置と、この指示に従って指示された不良
セル実体像を、前記不良セル位置情報変換手段による情
報に基づき、不良セル観察装置の視野内に自動的に配置
させる不良セル自動配置手段と、を備えていることを特
徴とする半導体装置の検査装置。 - 【請求項8】 半導体装置の規則的に配列された複数
個のセルのうち、不良セルを検査する半導体装置の検査
装置において、前記半導体装置について異物検査が実施
され異物が検出されるとともに、その異物の半導体装置
における位置が実体アドレス配列による位置情報により
特定される異物検査装置と、前記半導体装置について外
観欠陥検査が実施され外観欠陥が検出されるとともに、
その外観欠陥の半導体装置における位置が実体アドレス
配列による位置情報により特定される外観欠陥検査装置
と、前記半導体装置について電気的特性検査が実施され
不良セルが検出されるとともに、その不良セルの位置が
論理アドレス配列による位置情報により特定される不良
セル検出装置と、前記半導体装置についてのレイアウト
情報のうち、セル配列の原点情報、この原点からの各セ
ルの位置情報、および、各セルの配列方向情報による簡
易レイアウト情報を生成する簡易レイアウト情報生成装
置と、この簡易レイアウト情報に基づき、前記不良セル
の論理アドレス配列による位置情報が実体アドレス配列
による位置情報に変換される不良セル位置情報変換手段
と、この不良セルの位置情報と、前記異物および外観欠
陥についての各位置情報とを照合し、異物および外観欠
陥の位置と同一位置のまたは異なる位置の不良セルの実
体像を、不良セルの位置情報に基づいて不良セル観察装
置の視野内に自動的に配置させ、この不良セルにつき外
観検査が実際に実施される不良セル観察装置と、を備え
ていることを特徴とする半導体装置の検査装置。 - 【請求項9】 半導体装置の規則的に配列された複数
個のセルのうち、不良セルを検査する半導体装置の検査
装置において、前記半導体装置について異物検査が実施
され異物が検出されるとともに、その異物の半導体装置
における位置が実体アドレス配列による位置情報により
特定される異物検査装置と、前記半導体装置について外
観欠陥検査が実施され外観欠陥が検出されるとともに、
その外観欠陥の半導体装置における位置が実体アドレス
配列による位置情報により特定される外観欠陥検査装置
と、前記半導体装置について電気的特性検査が実施され
不良セルが検出されるとともに、その不良セルの位置が
論理アドレス配列による情報により特定される不良セル
検出装置と、前記半導体装置についてのレイアウト情報
のうち、セル配列の原点情報、この原点からの各セルの
位置情報、および、各セルの配列方向情報による簡易レ
イアウト情報を生成する簡易レイアウト情報生成装置と
、この簡易レイアウト情報に基づき、前記セル群のレイ
アウト情報が作成されるセル群レイアウト情報作成手段
と、前記簡易レイアウト情報に基づき、前記不良セルの
論理アドレス配列による位置情報が実体アドレス配列に
よる位置情報に変換される不良セル位置情報変換手段と
、セル群の模擬画像を画面上に表示するためのセル群画
像表示装置と、前記セル群レイアウト情報に基づき、前
記半導体装置のセル群の模擬画像をセル群画像表示装置
の画面上に表示するための情報が作成され、この情報に
基づきセル群の模擬画像をセル群画像表示装置の画面上
に表示させるセル群画像表示情報作成手段と、前記不良
セル位置情報変換手段による情報に基づき、不良セルの
模擬画像を前記セル群画像表示装置の画面上に表示する
ための情報が作成され、この情報に基づき不良セルの画
像を前記セル群画像が表示された前記セル群画像表示装
置の画面上に重ね合わせて表示させるとともに、前記異
物および外観欠陥についての各位置情報に基づいて異物
および外観欠陥の模擬画像をセル群画像表示装置の画面
上に表示するための情報が作成され、この情報に基づき
異物および外観欠陥の模擬画像を、前記セル群の模擬画
像および不良セルの模擬画像が表示されたセル群画像表
示装置に重ね合わされて表示させる模擬画像表示情報作
成手段と、を備えていることを特徴とする半導体装置の
検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP41453290A JP2938584B2 (ja) | 1990-12-26 | 1990-12-26 | 半導体装置の検査方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP41453290A JP2938584B2 (ja) | 1990-12-26 | 1990-12-26 | 半導体装置の検査方法および装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04225252A true JPH04225252A (ja) | 1992-08-14 |
JP2938584B2 JP2938584B2 (ja) | 1999-08-23 |
Family
ID=18522997
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP41453290A Expired - Fee Related JP2938584B2 (ja) | 1990-12-26 | 1990-12-26 | 半導体装置の検査方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2938584B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0521601A (ja) * | 1991-06-21 | 1993-01-29 | Mitsubishi Electric Corp | レイアウトパターン発生装置 |
US5994913A (en) * | 1995-03-28 | 1999-11-30 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Method for analyzing defects in a semiconductor |
-
1990
- 1990-12-26 JP JP41453290A patent/JP2938584B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0521601A (ja) * | 1991-06-21 | 1993-01-29 | Mitsubishi Electric Corp | レイアウトパターン発生装置 |
US5994913A (en) * | 1995-03-28 | 1999-11-30 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Method for analyzing defects in a semiconductor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2938584B2 (ja) | 1999-08-23 |
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