JPH04115409A - 非還元性誘電体磁器組成物 - Google Patents
非還元性誘電体磁器組成物Info
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- JPH04115409A JPH04115409A JP2236481A JP23648190A JPH04115409A JP H04115409 A JPH04115409 A JP H04115409A JP 2236481 A JP2236481 A JP 2236481A JP 23648190 A JP23648190 A JP 23648190A JP H04115409 A JPH04115409 A JP H04115409A
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Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は非還元性誘電体磁器組成物に関し、特にたと
えば積層セラミックコンデンサなどに用いられる非還元
性誘電体磁器組成物に関する。
えば積層セラミックコンデンサなどに用いられる非還元
性誘電体磁器組成物に関する。
(従来技術)
積層セラミックコンデンサを製造するには、まず、その
表面に内部電極となる電極材料を塗布したシート状の誘
電体材料が準備される。この誘電体材料としては、たと
えばBa T i Osを主成分とする材料などが用い
られる。この電極材料を塗布した誘電体材料を積層して
熱圧着し、一体化したものを自然雰囲気中において12
50〜1350℃で焼成して、内部電極を有する誘電体
磁器が得られる。そして、この誘電体磁器の端面に、内
部電極と導通する外部電極を焼き付けて、積層セラミッ
クコンデンサが製造される。
表面に内部電極となる電極材料を塗布したシート状の誘
電体材料が準備される。この誘電体材料としては、たと
えばBa T i Osを主成分とする材料などが用い
られる。この電極材料を塗布した誘電体材料を積層して
熱圧着し、一体化したものを自然雰囲気中において12
50〜1350℃で焼成して、内部電極を有する誘電体
磁器が得られる。そして、この誘電体磁器の端面に、内
部電極と導通する外部電極を焼き付けて、積層セラミッ
クコンデンサが製造される。
したがって、内部電極の材料としては、次のような条件
を満たす必要がある。
を満たす必要がある。
(a) 誘電体磁器と内部電極とが同時に焼成される
ので、誘電体磁器が焼成される温度以上の融点を有する
こと。
ので、誘電体磁器が焼成される温度以上の融点を有する
こと。
Cb)酸化性の高温雰囲気中においても酸化されず、し
かも誘電体と反応しないこと。
かも誘電体と反応しないこと。
このような条件を満足する電極材料としては、白金、金
、パラジウムあるいはこれらの合金などのような貴金属
が用いられていた。
、パラジウムあるいはこれらの合金などのような貴金属
が用いられていた。
しかしながら、これらの電極材料は優れた特性を有する
反面、高価であった。そのため、積層セラミックコンデ
ンサに占める電極材料費の割合は30〜70%にも達し
、製造コストを上昇させる最大の要因となっていた。
反面、高価であった。そのため、積層セラミックコンデ
ンサに占める電極材料費の割合は30〜70%にも達し
、製造コストを上昇させる最大の要因となっていた。
貴金属以外に高融点をもつものとしてNi、Fe、Co
、W、MOなどの卑金属があるが、これらの卑金属は高
温の酸化性雰囲気中では容易に酸化されてしまい、電極
としての役目を果たさなくなってしまう。そのため、こ
れらの卑金属を積層セラミックコンデンサの内部電極と
して使用するためには、誘電体磁器とともに中性または
還元性雰囲気中で焼成される必要がある。しかしながら
、従来の誘電体磁器材料では、このような還元性雰囲気
中で焼成すると著しく還元されてしまい、半導体化して
しまうという欠点があった。
、W、MOなどの卑金属があるが、これらの卑金属は高
温の酸化性雰囲気中では容易に酸化されてしまい、電極
としての役目を果たさなくなってしまう。そのため、こ
れらの卑金属を積層セラミックコンデンサの内部電極と
して使用するためには、誘電体磁器とともに中性または
還元性雰囲気中で焼成される必要がある。しかしながら
、従来の誘電体磁器材料では、このような還元性雰囲気
中で焼成すると著しく還元されてしまい、半導体化して
しまうという欠点があった。
このような欠点を克服するために、たとえば特公昭57
−42588号公報に示されるように、チタン酸バリウ
ム固溶体において、バリウムサイト/チタンサイトの比
を化学量論比より過剰にした誘電体材料が考え出された
。このような誘電体材料を使用することによって、還元
性雰囲気中で焼成しても半導体化しない誘電体磁器を得
ることができ、内部電極としてニッケルなどの卑金属を
使用した積層セラミックコンデンサの製造が可能となっ
た。
−42588号公報に示されるように、チタン酸バリウ
ム固溶体において、バリウムサイト/チタンサイトの比
を化学量論比より過剰にした誘電体材料が考え出された
。このような誘電体材料を使用することによって、還元
性雰囲気中で焼成しても半導体化しない誘電体磁器を得
ることができ、内部電極としてニッケルなどの卑金属を
使用した積層セラミックコンデンサの製造が可能となっ
た。
(発明が解決しようとする課題)
近年のエレクトロニクスの発展に伴い電子部品の小型化
が急速に進行し、積層セラミンクコンデンサも小型化の
傾向が顕著になってきた。積層セラミックコンデンサを
小型化する方法としては、−船釣に誘電体層を薄膜化す
ることが知られているが、10μm以下のような薄膜に
なると、1つの層中に存在する結晶粒の数が減少し、信
軌性が低下してしまう。
が急速に進行し、積層セラミンクコンデンサも小型化の
傾向が顕著になってきた。積層セラミックコンデンサを
小型化する方法としては、−船釣に誘電体層を薄膜化す
ることが知られているが、10μm以下のような薄膜に
なると、1つの層中に存在する結晶粒の数が減少し、信
軌性が低下してしまう。
そこで、特開昭61−101459号公報に示されるよ
うに、チタン酸バリウム固溶体にLa。
うに、チタン酸バリウム固溶体にLa。
Nd、Sm、Dyなどの希土類元素を添加し、結晶粒径
の小さい非還元性誘電体磁器が得られている。このよう
に、結晶粒径を小さくすることによって、1つの層中に
存在する結晶粒の数を増やすことができ、信軌性の低下
を防ぐことができる。
の小さい非還元性誘電体磁器が得られている。このよう
に、結晶粒径を小さくすることによって、1つの層中に
存在する結晶粒の数を増やすことができ、信軌性の低下
を防ぐことができる。
しかしながら、希土類元素を添加した場合1.焼成する
ときに還元されやすくなり、特性の面で問題があった。
ときに還元されやすくなり、特性の面で問題があった。
それゆえに、この発明の主たる目的は、還元性雰囲気中
で焼成しても半導体化せず、しかもこれを用いることに
よって積層セラミックコンデンサを小型化することがで
きる、非還元性誘電体磁器組成物を提供することである
。
で焼成しても半導体化せず、しかもこれを用いることに
よって積層セラミックコンデンサを小型化することがで
きる、非還元性誘電体磁器組成物を提供することである
。
(課題を解決するための手段)
この発明は、その主成分がBaO,CaO,Mgo、S
rOおよびZrO□からなり、次の一般式(33a +
−g−am−n−0Srg Ca、 Ml+ Mx、
)p (Tit−q−r ZrqMyi )03で表さ
れ、MXはLa、Pr、Nd、Sm、Dy、Erの中か
ら選ばれる1種類からなり、MyはNb、Ta。
rOおよびZrO□からなり、次の一般式(33a +
−g−am−n−0Srg Ca、 Ml+ Mx、
)p (Tit−q−r ZrqMyi )03で表さ
れ、MXはLa、Pr、Nd、Sm、Dy、Erの中か
ら選ばれる1種類からなり、MyはNb、Ta。
Wの中から選ばれる1種類からなり、1.m、no、p
、qおよびSが、0.05≦l≦0.30.0.005
≦m≦0.22.0.0005≦n≦0.05.0.0
005≦0≦0.02.1002≦p≦1.03、O<
q≦0.20.0.0005≦S≦0.01の関係を満
足する、非還元性誘電体磁器組成物である。
、qおよびSが、0.05≦l≦0.30.0.005
≦m≦0.22.0.0005≦n≦0.05.0.0
005≦0≦0.02.1002≦p≦1.03、O<
q≦0.20.0.0005≦S≦0.01の関係を満
足する、非還元性誘電体磁器組成物である。
さらに、必要に応じて、上記組成物に、Mn。
Fe Cr、Coの各酸化物をMnO2+ F ”
20.、Crz 03 、Cooと表したとき、各酸化
物の中から選ばれる少なくとも1種類を0.02〜26
0モル%添加してもよい。
20.、Crz 03 、Cooと表したとき、各酸化
物の中から選ばれる少なくとも1種類を0.02〜26
0モル%添加してもよい。
(発明の効果)
この発明によれば、還元性雰囲気中で焼成しても還元さ
れず、半導体化しない非還元性誘電体磁器組成物を得る
ことができる。したがって、この非還元性誘電体磁器組
成物を用いて磁器積層コンデンサを製造すれば、電極材
料として卑金属を用いることができ、積層セラミックコ
ンデンサのコストダウンを図ることができる。
れず、半導体化しない非還元性誘電体磁器組成物を得る
ことができる。したがって、この非還元性誘電体磁器組
成物を用いて磁器積層コンデンサを製造すれば、電極材
料として卑金属を用いることができ、積層セラミックコ
ンデンサのコストダウンを図ることができる。
また、この非還元性誘電体磁器組成物を用いた磁器では
、従来の誘電体組成物を用いた場合に比べて、その結晶
粒径を小さくすることができる。
、従来の誘電体組成物を用いた場合に比べて、その結晶
粒径を小さくすることができる。
したがって、積層セラミックコンデンサを製造するとき
に、誘電体層を薄膜化しても、従来の積層セラミックコ
ンデンサのように層中に存在する結晶粒の量が少なくな
らない。したがって、信転性が高く、しかも小型化可能
な積層セラミックコンデンサを得ることができる。
に、誘電体層を薄膜化しても、従来の積層セラミックコ
ンデンサのように層中に存在する結晶粒の量が少なくな
らない。したがって、信転性が高く、しかも小型化可能
な積層セラミックコンデンサを得ることができる。
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点
は、以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう
。
は、以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう
。
(実施例)
まず、原料として、純度99.8%以上のBaCO3,
5rCO,、、CaC01、MgC0z 。
5rCO,、、CaC01、MgC0z 。
Lag O3,pr20.、Nd、03.Sm、03+
D)’z Ox、 ErzOs、Nbz O5+
Taz Os 、WOx 、TiO2、Zr0z 、M
n0z、Fex o、、Crot、Cooを準備した。
D)’z Ox、 ErzOs、Nbz O5+
Taz Os 、WOx 、TiO2、Zr0z 、M
n0z、Fex o、、Crot、Cooを準備した。
これらの原料を(B a l−1!−a−n−03rg
Ca2 Mgn Mxo ) p (T t +−@
−1Z r es M y @ ) 02の組成式で表
され、l、m、n、o、p、q、sが表1に示す割合と
なるように配合して、配合原料を得た。ここで、MXは
、La、Pr、Nd、Sm、Dy、Erの中の1種類で
あり、Myは、Nb、Ta、Wの中の1種類である。
Ca2 Mgn Mxo ) p (T t +−@
−1Z r es M y @ ) 02の組成式で表
され、l、m、n、o、p、q、sが表1に示す割合と
なるように配合して、配合原料を得た。ここで、MXは
、La、Pr、Nd、Sm、Dy、Erの中の1種類で
あり、Myは、Nb、Ta、Wの中の1種類である。
この配合原料をボールミルで湿式混合し、粉砕したのち
乾燥し、空気中において1100℃で2時間仮焼して仮
焼物を得た。この仮焼物に有機バインダ、分散剤および
消泡剤よりなる混合水溶液を15重量%添加し、50重
量%の水とともに、ボールミルで混合、粉砕してスラリ
ーを調整した。
乾燥し、空気中において1100℃で2時間仮焼して仮
焼物を得た。この仮焼物に有機バインダ、分散剤および
消泡剤よりなる混合水溶液を15重量%添加し、50重
量%の水とともに、ボールミルで混合、粉砕してスラリ
ーを調整した。
このスラリーをドクターブレードに流して、グリーンシ
ートを成形した。このグリーンシートを積み重ね、熱圧
着後打ち抜いて、直径10鶴、厚さ1顛の円板を得た。
ートを成形した。このグリーンシートを積み重ね、熱圧
着後打ち抜いて、直径10鶴、厚さ1顛の円板を得た。
得られた円板を空気中において500℃まで加熱して有
機バインダを燃焼させたのち、酸素分圧が3 X 10
−’〜3 X 10−”atmのH,−N、−空気ガス
からなる還元雰囲気炉中において1250〜1350℃
で2時間焼成し焼結体を得た。得られた焼結体の両生面
にIn−Ga合金を塗布して特性測定用試料とした。
機バインダを燃焼させたのち、酸素分圧が3 X 10
−’〜3 X 10−”atmのH,−N、−空気ガス
からなる還元雰囲気炉中において1250〜1350℃
で2時間焼成し焼結体を得た。得られた焼結体の両生面
にIn−Ga合金を塗布して特性測定用試料とした。
得られた試料について、静電容量(C)および誘電正接
(tanδ)を自動ブリッジを用いて1kHz、 I
Vrmsの条件で測定した。また、絶縁抵抗(R)は、
高絶縁計によって500■の直流電圧を2分間印加した
のちの値を測定した。絶縁抵抗は、25℃および85℃
の値を測定し、それぞれの抵抗率の対数(l ogρ)
を算出した。さらに、試料の結晶粒径は、試料表面の電
子顕微鏡観察によって評価した。そして、これらの測定
結果を表2に示した。
(tanδ)を自動ブリッジを用いて1kHz、 I
Vrmsの条件で測定した。また、絶縁抵抗(R)は、
高絶縁計によって500■の直流電圧を2分間印加した
のちの値を測定した。絶縁抵抗は、25℃および85℃
の値を測定し、それぞれの抵抗率の対数(l ogρ)
を算出した。さらに、試料の結晶粒径は、試料表面の電
子顕微鏡観察によって評価した。そして、これらの測定
結果を表2に示した。
次に、各組成の限定理由について説明する。
(B a +−t−11−1%−0Sjg Ca、Mg
lIMxo)、(T l+−q−r Zr、Myi )
03において、試料番号1のように、ストロンチウム量
lが0.05未満の場合、磁器の焼結性が悪く、誘電率
が6000以下と小さくなる。また、試料番号24のよ
うに、ストロンチウム量lが0.30を超えると、焼結
性が極度に悪くなり好ましくない。
lIMxo)、(T l+−q−r Zr、Myi )
03において、試料番号1のように、ストロンチウム量
lが0.05未満の場合、磁器の焼結性が悪く、誘電率
が6000以下と小さくなる。また、試料番号24のよ
うに、ストロンチウム量lが0.30を超えると、焼結
性が極度に悪くなり好ましくない。
さらに、試料番号2のように、カルシウム量mが0.0
05未満であれば、磁器の焼結性が悪く、誘電率が60
00以下となり、誘電正接が5.0%を超える。一方、
試料番号23のように、カルシウム量mが0.22を超
えると、焼結性が極度に悪くなり好ましくない。
05未満であれば、磁器の焼結性が悪く、誘電率が60
00以下となり、誘電正接が5.0%を超える。一方、
試料番号23のように、カルシウム量mが0.22を超
えると、焼結性が極度に悪くなり好ましくない。
また、試料番号3のように、マグネシウム量nが0.0
005未満であれば、磁器の焼結性が悪く、誘電率が6
000以下と小さくなる。一方、試料番号22のように
、マグネシウム量nが0゜05を超えると、誘電率が1
000以下と小さくなる。
005未満であれば、磁器の焼結性が悪く、誘電率が6
000以下と小さくなる。一方、試料番号22のように
、マグネシウム量nが0゜05を超えると、誘電率が1
000以下と小さくなる。
試料番号4のように、La、Pr、Nd、SmD’1.
ErO中から選ばれる1種類であるMxの量0が0.0
005未満であれば、磁器の結晶粒径が3μmを超えて
しまい、積層セラミックコンデンサにした場合、誘電体
層を薄膜化することができず好ましくない。一方、試料
番号21のように、MxO量0が0.02を超えると、
還元性雰囲気中で焼成したとき磁器が還元され、半導体
化して絶縁抵抗が大幅に低下し好ましくない。
ErO中から選ばれる1種類であるMxの量0が0.0
005未満であれば、磁器の結晶粒径が3μmを超えて
しまい、積層セラミックコンデンサにした場合、誘電体
層を薄膜化することができず好ましくない。一方、試料
番号21のように、MxO量0が0.02を超えると、
還元性雰囲気中で焼成したとき磁器が還元され、半導体
化して絶縁抵抗が大幅に低下し好ましくない。
試料番号5のように、ジルコニウム量qが0の場合、誘
電正接が5.0%以上と大きくなる。−方、試料番号2
0のように、ジルコニウムIqが0.20を超えると焼
結性が低下し、誘電率が6000以下、誘電正接が5.
0%以上となって好ましくない。
電正接が5.0%以上と大きくなる。−方、試料番号2
0のように、ジルコニウムIqが0.20を超えると焼
結性が低下し、誘電率が6000以下、誘電正接が5.
0%以上となって好ましくない。
試料番号8のように、Nb、Ta、Wの中から選ばれる
1種類であるMyO量Sが0.0005未満では、誘電
正接が5.0%以上と大きくなる。
1種類であるMyO量Sが0.0005未満では、誘電
正接が5.0%以上と大きくなる。
一方、試料番号17のように、MyO量Sが0゜01を
超えると、85℃での絶縁抵抗が小さくなり、高温での
長時間使用における信較性が低下する。
超えると、85℃での絶縁抵抗が小さくなり、高温での
長時間使用における信較性が低下する。
試料番号6のように、(Ba +−i−m−n−0Sr
I2Ca @ M g n M x 。)のモル比pが
1.002未満では、還元性雰囲気中で焼成したときに
磁器が還元され、絶縁抵抗が低下してしまう。一方、試
料番号19のように、モル比pが1.03を超えると、
焼結性が悪くなり好ましくない。
I2Ca @ M g n M x 。)のモル比pが
1.002未満では、還元性雰囲気中で焼成したときに
磁器が還元され、絶縁抵抗が低下してしまう。一方、試
料番号19のように、モル比pが1.03を超えると、
焼結性が悪くなり好ましくない。
また、試料番号7のように、添加物としてのMnow
、Fex 03 、Crt ()+ 、Cooの添加量
が0.02モル%未満の場合、85℃以上での絶縁抵抗
が小さくなり、高温中における長時間使用の信鯨性が低
下する。一方、試料番号18のように、これらの添加物
の量が2.0モル%を超えると、誘電正接が5.0%以
上となって好ましくない。
、Fex 03 、Crt ()+ 、Cooの添加量
が0.02モル%未満の場合、85℃以上での絶縁抵抗
が小さくなり、高温中における長時間使用の信鯨性が低
下する。一方、試料番号18のように、これらの添加物
の量が2.0モル%を超えると、誘電正接が5.0%以
上となって好ましくない。
それに対して、この発明の非還元性誘電体磁器組成物を
用いれば、還元性雰囲気中で焼成しても還元されず、絶
縁抵抗の劣化の少ない誘電体磁器を得ることができる。
用いれば、還元性雰囲気中で焼成しても還元されず、絶
縁抵抗の劣化の少ない誘電体磁器を得ることができる。
したがって、内部電極の材料としてニッケルなどの卑金
属を使用することができ、積層セラミックコンデンサの
コストダウンを図ることができる。
属を使用することができ、積層セラミックコンデンサの
コストダウンを図ることができる。
さらに、結晶粒径が3μm以下と小さく、誘電体層を薄
膜化しても誘電体層間に結晶粒が多く存在するため、信
韻性の高い誘電体磁器を得ることができる。また、誘電
体磁器を薄膜化することができるため、積層セラミック
コンデンサを小型化することができる。
膜化しても誘電体層間に結晶粒が多く存在するため、信
韻性の高い誘電体磁器を得ることができる。また、誘電
体磁器を薄膜化することができるため、積層セラミック
コンデンサを小型化することができる。
特許出願人 株式会社 村田製作所
代理人 弁理士 岡 1) 全 啓
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 その主成分がBaO,CaO,MgO,SrOおよ
びZrO_2からなり、次の一般式(Ba_1_−_l
_−_m_−_n_−_oSr_lCa_mMg_nM
x_o)_p(Ti_1_−_q_−_rZr_qMy
_s)O_3で表され、 MxはLa,Pr,Nd,Sm,Dy,Erの中から選
ばれる1種類からなり、 MyはNb,Ta,Wの中から選ばれる1種類からなり
、 l,m,n,o,p,qおよびsが、 0.05≦l≦0.30 0.005≦m≦0.22 0.0005≦n≦0.05 0.0005≦o≦0.02 1.002≦p≦1.03 0<q≦0.20 0.0005≦s≦0.01 の関係を満足する、非還元性誘電体磁器組成物。 2 さらに、Mn,Fe,Cr,Coの各酸化物をMn
O_2,Fe_2O_3,Cr_2O_3,CoOと表
したとき、各酸化物の中から選ばれる少なくとも1種類
を0.02〜2.0モル%添加した、特許請求の範囲第
1項記載の非還元性誘電体磁器組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2236481A JPH0734327B2 (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2236481A JPH0734327B2 (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04115409A true JPH04115409A (ja) | 1992-04-16 |
JPH0734327B2 JPH0734327B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=17001373
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2236481A Expired - Lifetime JPH0734327B2 (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0734327B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0652718A (ja) * | 1992-07-31 | 1994-02-25 | Taiyo Yuden Co Ltd | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
JPH06203634A (ja) * | 1992-12-29 | 1994-07-22 | Taiyo Yuden Co Ltd | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
JPH06203632A (ja) * | 1992-12-29 | 1994-07-22 | Taiyo Yuden Co Ltd | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
JPH06203635A (ja) * | 1992-12-29 | 1994-07-22 | Taiyo Yuden Co Ltd | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
JPH06203633A (ja) * | 1992-12-29 | 1994-07-22 | Taiyo Yuden Co Ltd | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
EP0630032A1 (en) * | 1993-06-15 | 1994-12-21 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Non-reducible dielectric ceramic composition |
EP0812021A2 (en) * | 1996-06-07 | 1997-12-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Dielectric thin film capacitor element and manufacturing method of the same |
-
1990
- 1990-09-05 JP JP2236481A patent/JPH0734327B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0652718A (ja) * | 1992-07-31 | 1994-02-25 | Taiyo Yuden Co Ltd | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
JP2915217B2 (ja) * | 1992-07-31 | 1999-07-05 | 太陽誘電株式会社 | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
JPH06203634A (ja) * | 1992-12-29 | 1994-07-22 | Taiyo Yuden Co Ltd | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
JPH06203632A (ja) * | 1992-12-29 | 1994-07-22 | Taiyo Yuden Co Ltd | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
JPH06203635A (ja) * | 1992-12-29 | 1994-07-22 | Taiyo Yuden Co Ltd | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
JPH06203633A (ja) * | 1992-12-29 | 1994-07-22 | Taiyo Yuden Co Ltd | 誘電体磁器及び磁器コンデンサ |
EP0630032A1 (en) * | 1993-06-15 | 1994-12-21 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Non-reducible dielectric ceramic composition |
US5510305A (en) * | 1993-06-15 | 1996-04-23 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Non-reducible dielectric ceramic composition |
EP0812021A2 (en) * | 1996-06-07 | 1997-12-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Dielectric thin film capacitor element and manufacturing method of the same |
EP0812021A3 (en) * | 1996-06-07 | 1997-12-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Dielectric thin film capacitor element and manufacturing method of the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0734327B2 (ja) | 1995-04-12 |
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